JP5150234B2 - 測量装置 - Google Patents
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Description
5 望遠鏡部
6 表示部
8 第1望遠鏡
11 第2望遠鏡
14 第2光軸
19 第2固体撮像素子
20 測距部
27 第2追尾用光源
29 第2追尾光
33 第1固体撮像素子
34 第1追尾用光源
36 ターゲット
37 第2撮像手段
40 第1撮像手段
43 制御装置
44 制御演算部
46 画像処理部
47 撮像制御部
48 画像記憶部
52 第1電子シャッタ
53 第2電子シャッタ
Claims (4)
- 鉛直方向及び水平方向の追尾機能を有する測量装置に於いて、第1追尾光学系及び第1固体撮像素子を具備する第1撮像手段と、第2追尾光学系及び第2固体撮像素子を具備する第2撮像手段と、前記第1撮像手段、第2撮像手段の撮像状態を制御する撮像制御装置と、前記第1固体撮像素子で得たターゲット像信号又は前記第2固体撮像素子で得たターゲット像信号に基づきターゲットの追尾を制御する制御部とを具備し、
前記第1追尾光学系は前記第2追尾光学系よりも大きい視野角を有し、前記第2撮像手段は前記第2追尾光学系を介して第2追尾光を射出し、前記第1撮像手段は前記第1追尾光学系を介して前記第2追尾光よりも大きい広がり角の第1追尾光を射出し、
前記第1撮像手段は前記第2撮像手段より広範囲の像を取得可能であり、前記撮像制御装置はターゲット像が前記第2固体撮像素子のターゲット受光範囲を外れた場合に前記第1撮像手段によりターゲット像を取得し、前記第1固体撮像素子が受光するターゲット像が所定範囲内の場合に前記第2撮像手段によりターゲット像を取得する様制御することを特徴とする測量装置。 - 前記制御部は、前記第1固体撮像素子で得たターゲット像信号に基づきターゲットの探索を行い、前記第2固体撮像素子で得たターゲット像信号に基づき測定の為の視準を行う請求項1の測量装置。
- 前記第2撮像手段の光軸を含む所要範囲を設定し、前記第2固体撮像素子によるターゲット受光位置が前記所要範囲に含まれる場合は、該所要範囲の受光信号を取得する様に前記第2固体撮像素子についてマスク処理をし、前記所要範囲の受光信号に基づき追尾を行う請求項1又は請求項2の測量装置。
- 前記ターゲット受光位置が前記所要範囲を外れた場合は、マスク処理を解除し、前記第2固体撮像素子からの受光信号に基づき追尾を行う請求項3の測量装置。
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