JP5150234B2 - 測量装置 - Google Patents

測量装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5150234B2
JP5150234B2 JP2007323117A JP2007323117A JP5150234B2 JP 5150234 B2 JP5150234 B2 JP 5150234B2 JP 2007323117 A JP2007323117 A JP 2007323117A JP 2007323117 A JP2007323117 A JP 2007323117A JP 5150234 B2 JP5150234 B2 JP 5150234B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
tracking
solid
image
state
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2007323117A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009145207A (ja
Inventor
薫 熊谷
政宏 齊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP2007323117A priority Critical patent/JP5150234B2/ja
Priority to EP08170484A priority patent/EP2071283A3/en
Priority to US12/315,287 priority patent/US8184267B2/en
Priority to CN2008101855092A priority patent/CN101458081B/zh
Publication of JP2009145207A publication Critical patent/JP2009145207A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5150234B2 publication Critical patent/JP5150234B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
    • G01C15/002Active optical surveying means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/66Tracking systems using electromagnetic waves other than radio waves

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Telescopes (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

本発明は測量装置、特に追尾機能を有する測量装置に関するものである。
従来より距離測定、水平角、鉛直角の測定を行う測量装置として、追尾機能を有する測量装置があり、斯かる測量装置では、該測量装置が具備する視準望遠鏡によりコーナキューブ等の対象反射体(ターゲット)を視準し、視準望遠鏡から追尾光を射出し、ターゲットが移動した場合には、ターゲットからの反射光を受光する様にして、ターゲットを自動的に追尾する様になっている。
通常、追尾機能を有する測量装置では測量装置側は無人で、ターゲットを測量作業者が支持し、又測定点毎に測量作業者がターゲットを移動させているが、ターゲットの移動速度が測量装置の追従速度を超え、視準望遠鏡の視野からターゲットが外れてしまったり、或は測量装置とターゲットとの間に一時的に木、車、人等の障害物が入り、障害物が視準望遠鏡の光路を遮断した場合には、測量装置はターゲットからの反射光を受光することができず、自動追尾が中断することがある。
これは、一般的な視準望遠鏡では、画角(視野角)が約1°と小さい為であり、自動追尾の為の反射光の検出範囲が小さいことに起因している。
追尾が中断すると、測量装置はターゲットを探索(サーチ)する動作を開始するが、探索動作は追尾光を射出した状態で視準望遠鏡を上下方向、左右方向に所定範囲回転させることで走査し、ターゲットを検出する。
上記した様に、視準望遠鏡の視野角は小さいので、ターゲットを再検出するには、走査ピッチを細かくし、走査回数を多くする必要がある。
この為、追尾が中断した場合には、再度ターゲットを検出し、追尾が開始できる様になるには多大な時間を要していた。更に、障害物による光路の遮断が頻繁に生じる作業環境では、測定の作業効率が著しく低下するという問題があった。
尚、追尾機能を有する測量装置としては、特許文献1、特許文献2、特許文献3に示されるものがある。
特開平7−198383号公報
特開2000−346645号公報
特開2004−170354号公報
本発明は斯かる実情に鑑み、追尾機能を有する測量装置に於いて、対象反射体を見失い、自動追尾不能な状態となった場合に、対象反射体の再検出が迅速に行え、自動追尾に復帰する時間を短縮して測定作業の効率を向上させるものである。
本発明は、追尾機能を有する測量装置に於いて、第1固体撮像素子を具備する第1撮像手段と、第2固体撮像素子を具備する第2撮像手段と、前記第1撮像手段、第2撮像手段の撮像状態を制御する撮像制御装置と、前記第1固体撮像素子で得たターゲット像信号又は前記第2固体撮像素子で得たターゲット像信号に基づきターゲットの追尾を制御する制御部とを具備し、前記第1撮像手段は前記第2撮像手段より広範囲の像を取得可能であり、前記撮像制御装置はターゲット像が前記第2固体撮像素子のターゲット受光範囲を外れた場合に前記第1撮像手段によりターゲット像を取得し、前記第1固体撮像素子が受光するターゲット像が所定範囲内の場合に前記第2撮像手段によりターゲット像を取得する様制御する測量装置に係り、又前記制御部は、前記第1固体撮像素子で得たターゲット像信号に基づきターゲットの探索を行い、前記第2固体撮像素子で得たターゲット像信号に基づき測定の為の視準を行う測量装置に係り、又前記第2撮像手段の光軸を含む所要範囲を設定し、前記第2固体撮像素子によるターゲット受光位置が前記所要範囲に含まれる場合は、該所要範囲の受光信号を取得する様に前記第2固体撮像素子についてマスク処理をし、前記所要範囲の受光信号に基づき追尾を行う測量装置に係り、更に又前記ターゲット受光位置が前記所要範囲を外れた場合は、マスク処理を解除し、前記第2固体撮像素子からの受光信号に基づき追尾を行う測量装置に係るものである。
本発明によれば、追尾機能を有する測量装置に於いて、第1固体撮像素子を具備する第1撮像手段と、第2固体撮像素子を具備する第2撮像手段と、前記第1撮像手段、第2撮像手段の撮像状態を制御する撮像制御装置と、前記第1固体撮像素子で得たターゲット像信号又は前記第2固体撮像素子で得たターゲット像信号に基づきターゲットの追尾を制御する制御部とを具備し、前記第1撮像手段は前記第2撮像手段より広範囲の像を取得可能であり、前記撮像制御装置はターゲット像が前記第2固体撮像素子のターゲット受光範囲を外れた場合に前記第1撮像手段によりターゲット像を取得し、前記第1固体撮像素子が受光するターゲット像が所定範囲内の場合に前記第2撮像手段によりターゲット像を取得する様制御するので、追尾可能な範囲が増大し、ターゲットが高速で移動した場合にも対応が可能となり、又ターゲットを見失い、自動追尾不能な状態となった場合にも、対象反射体の再検出が迅速に行え、自動追尾に復帰する時間を短縮して測定作業の効率を向上させる。
又、本発明によれば、前記制御部は、前記第1固体撮像素子で得たターゲット像信号に基づきターゲットの探索を行い、前記第2固体撮像素子で得たターゲット像信号に基づき測定の為の視準を行うので、ターゲット探索については広角な第1撮像手段が用いられ広範囲で迅速な探索が可能であり、追尾、測定については狭角の第2撮像手段が用いられるので、高精度が維持される。
又、本発明によれば、前記第2撮像手段の光軸を含む所要範囲を設定し、前記第2固体撮像素子によるターゲット受光位置が前記所要範囲に含まれる場合は、該所要範囲の受光信号を取得する様に前記第2固体撮像素子についてマスク処理をし、前記所要範囲の受光信号に基づき追尾を行うので、ノイズの取込みが少なくなり誤動作を防止でき、又データ処理量が少なくなり、データ処理の負担が軽減すると共に処理速度が増大する。
又、本発明によれば、前記ターゲット受光位置が前記所要範囲を外れた場合は、マスク処理を解除し、前記第2固体撮像素子からの受光信号に基づき追尾を行うので、誤動作の防止、データ処理の効率化を図りつつ、マスク処理をしたことによる追尾範囲の減少を防止できるという優れた効果を発揮する。
以下、図面を参照しつつ本発明を実施する為の最良の形態を説明する。
先ず、図1〜図3に於いて、本発明が実施される測量装置の概略を説明する。
図1は本発明が実施される測定装置1を示している。尚、用いられる測量装置1は、例えばトータルステーションであり、測定点についてパルスレーザ光線を照射し、測定点からのパルス反射光を受光して、各パルス毎に測距を行い、測距結果を平均化して高精度の距離測定を行うものである。
前記測定装置1は主に、図示しない三脚に取付けられる整準部2、該整準部2に設けられた基盤部3、該基盤部3に鉛直軸心を中心に回転可能に設けられた托架部4、該托架部4に水平軸心を中心に回転可能に設けられた望遠鏡部5から構成されている。
前記托架部4は表示部6、操作入力部7を具備し、前記望遠鏡部5は、測定対象物を視準する第2望遠鏡11と該第2望遠鏡11の光学系を通して視準方向の画像を取得する第2撮像手段37(後述)を有し、更に前記第2望遠鏡11より低倍率で広範囲な視野を有する第1望遠鏡8と該第1望遠鏡8の光学系を介して視準方向、或は略視準方向の画像を取得する第1撮像手段40(後述)を具備している。前記第1撮像手段40、前記第2撮像手段19には撮像画像をデジタル画像信号として出力する、例えばデジタルカメラが用いられる。
前記第1望遠鏡8、前記第2望遠鏡11が有する撮像素子は、例えば画素の集合体であるCCD、CMOS等であり、受光する画素の位置が特定でき、又該画素の位置から画角が求められる様になっている。
図2は本発明に係る測量装置の光学系の概略構成を示している。
先ず、前記第2望遠鏡11について説明する。
該第2望遠鏡11の第2光軸14上に対物レンズ15、赤外光を反射し、可視光を透過するダイクロイックミラー16、可視光に対して一部を反射し一部を透過する第2ハーフミラー17、集光レンズ18、CCD或はCMOS等の第2固体撮像素子19が配設される。
第2追尾用光源27(後述)、集光レンズ26(後述)、前記第2ハーフミラー17、前記対物レンズ15、前記集光レンズ18等は、第2追尾光学系を構成し、該第2追尾光学系及び前記第2固体撮像素子19は第2撮像手段37を構成する。
前記ダイクロイックミラー16と対峙した位置に3角ミラー21を配設し、該3角ミラー21を挾み対峙した一方の位置に発光部22が配設され、集光レンズ23、又他方の位置に受光素子24、集光レンズ25を配設する。前記発光部22は測距光28として、変調光、例えば近赤外光の変調光を点滅して発する。
前記3角ミラー21、前記発光部22、前記集光レンズ23、前記受光素子24、前記集光レンズ25、前記対物レンズ15、前記ダイクロイックミラー16等は測距光学系を構成する。尚、測距光学系と前記第2追尾光学系とは、前記第2光軸14、前記対物レンズ15を共有している。
前記第2ハーフミラー17と対峙して前記集光レンズ26が配置され、該集光レンズ26の光軸上に前記第2追尾用光源27が配設され、該第2追尾用光源27は前記ダイクロイックミラー16を透過する波長の光を第2追尾光29として発する。
前記測距光、前記第2追尾光は、前記対物レンズ15より平行光束として射出される。
次に、前記第1望遠鏡8を説明する。
該第1望遠鏡8は前記第2光軸14と平行な第1光軸30を有し、該第1光軸30上に対物レンズ31、第1ハーフミラー32、CCD或はCMOS等の第1固体撮像素子33が配設され、又前記第1ハーフミラー32に対峙して第1追尾用光源34が配設される。
該第1追尾用光源34は第1追尾光35を前記対物レンズ31を通して射出され、該対物レンズ31を通して射出される前記第1追尾光35は、前記第2追尾光29よりは大きな、所要の広がり角を持っている。即ち、前記第1望遠鏡8は、前記第2望遠鏡11よりも大きい視野角を持っており、前記第2望遠鏡11よりも広範囲の像を撮像可能となっている。
前記第1追尾用光源34、前記第1ハーフミラー32、前記対物レンズ31等は、第1追尾光学系を構成し、該第1追尾光学系及び前記第1固体撮像素子33は第1撮像手段40を構成する。
以下、作動の概略を説明する。
前記第1望遠鏡8によりターゲット36が探査され、該ターゲット36が前記第1固体撮像素子33によって検出されると、該第1固体撮像素子33上のターゲット像から前記第1光軸30に関する鉛直角、水平角が演算され、演算結果を基に前記望遠鏡部5が鉛直回転、水平回転され、前記ターゲット36が前記第2望遠鏡11により追尾可能な範囲に設定される。即ち、前記ターゲット36の像が、前記第2固体撮像素子19に結像される様に前記第2光軸14の方向が設定される。
前記第2追尾用光源27より前記第2追尾光29が射出され、前記ターゲット36により反射された反射第2追尾光29′が前記第2ハーフミラー17を透過し、前記集光レンズ18を経て前記第2固体撮像素子19にターゲット像が結像される。前記第2固体撮像素子19上のターゲット像の位置が前記第2光軸14に合致する様に、前記望遠鏡部5が回転される。
前記第2固体撮像素子19上でターゲット像の位置が前記第2光軸14に合致すると、前記発光部22から前記測距光28が射出され、測距が開始される。前記測距光28は、前記3角ミラー21、前記ダイクロイックミラー16で反射され、前記対物レンズ15で平行光束とされ、射出される。前記ターゲット36で反射された反射測距光28′は、前記対物レンズ15から入射し、前記3角ミラー21で反射され、前記集光レンズ25を介して前記受光素子24で受光される。
前記反射測距光28′と内部参照光(図示せず)との位相差の差によりターゲット迄の距離が測定される。
図3により、前記測定装置1の基本構成について説明する。
前記望遠鏡部5は、前記測距光学系を有する測距部20を内蔵し、上述した様に、該測距部20は測距光を射出すると共に前記ターゲット36からの反射光を受光して該ターゲット36迄の光波距離測定を行う。
前記托架部4には、該托架部4を水平方向に回転させる為の水平駆動部38が設けられると共に前記托架部4の前記基盤部3に対する水平回転角を検出し、視準方向の水平角を検出する水平測角部39が設けられる。又前記托架部4には、水平軸心を中心に前記望遠鏡部5を回転する鉛直駆動部41が設けられると共に前記望遠鏡部5の鉛直角を検出し、視準方向の鉛直角を測角する鉛直測角部42が設けられる。
前記托架部4には制御装置43が内蔵され、該制御装置43は、前記水平駆動部38、前記鉛直駆動部41の駆動を制御して前記托架部4、前記望遠鏡部5を回転して該望遠鏡部5を所定の方向に向け、又所定の範囲を走査し、前記第1望遠鏡8、前記第2望遠鏡11の切替えを制御して、所要の倍率の画像を取得し、更に前記測距部20を制御してターゲット36迄の測距を行う。
前記制御装置43は、主に制御演算部44、記憶部45、画像処理部46、撮像制御部47、画像記憶部48、表示部6、操作入力部7等から構成されている。
前記記憶部45には、各種プログラムを格納するプログラム格納領域と、測定結果等のデータを格納するデータ格納領域とを有し、前記プログラム格納領域には測定に必要な計算プログラム、或は後述する画像処理を行う為の画像処理プログラム、処理された画像から測定点を選択し、選択された測定点(ターゲット)について測距を実行し、又測定点を追尾するシーケンスプログラム、測定を開始する際に、又ターゲットを見失った場合にターゲット36を探索する為のサーチプログラム等のプログラムが格納されている。
又、前記制御演算部44には前記測距部20、前記水平測角部39、前記鉛直測角部42からの測定結果が入力され、距離測定、水平角、鉛直角の測定が行われ、測定結果は前記制御演算部44を介して前記記憶部45に格納されると共に前記表示部6に表示される様になっている。
前記第1望遠鏡8は前記第1固体撮像素子33及び第1電子シャッタ52を具備し、該第1電子シャッタ52は前記撮像制御部47によって前記第1追尾用光源34の点滅と同期して駆動され、該第1追尾用光源34が点灯した状態と、消灯した状態の画像を取得可能となっている。又、前記第2望遠鏡11は前記第2固体撮像素子19と第2電子シャッタ53とを具備し、該第2電子シャッタ53は前記撮像制御部47によって前記第2追尾用光源27の点滅と同期して駆動され、該第2追尾用光源27が点灯した状態と、消灯した状態の画像を取得可能となっている。
前記画像記憶部48は、前記第1固体撮像素子33、前記第2固体撮像素子19で取得された画像データの記憶領域として第1記憶部55、第2記憶部56、第3記憶部57を有している。
前記画像処理部46は、前記画像記憶部48に格納された画像より、前記ターゲット36の像のみを抽出し、画像中心を求め、前記第1固体撮像素子33、前記第2固体撮像素子19上のターゲット像の位置を求め、更に前記ターゲット36の方向を演算する。
次に、図4、図5、図6を参照して本発明の作動について説明する。
STEP:01 測定点にターゲット36を設置し、前記第1望遠鏡8により前記ターゲット36を視準し、該ターゲット36が前記第1望遠鏡8の画角に入っていることを確認して、測定、追尾を開始する。尚、図6(A)は前記第1望遠鏡8の画角Aと前記第2望遠鏡11の画角Bを示し、図中36′はターゲット像を示している。
STEP:02 前記ターゲット像36′が画角A内にあることが確認されると、前記第1撮像手段40により撮像される。該第1撮像手段40の像の取得は前記第1追尾用光源34が点灯した状態の画像と、消灯した状態の画像とが取得される。点灯した状態の画像と、消灯した状態の画像は、前記第1追尾用光源34の点滅と前記第1電子シャッタ52のON/OFFを同期させることで得られる。点灯した状態の画像データは、前記第1記憶部55に格納され、消灯した状態の画像データは前記第2記憶部56に格納される。
STEP:03 前記画像処理部46は、前記第1記憶部55の点灯時の画像データから前記第2記憶部56の消灯時の画像データを減算処理し、前記ターゲット像36′のみを取得する。取得された該ターゲット像36′の画像データは前記第3記憶部57に格納される。尚、減算処理して前記ターゲット像36′を取得することについては、特許文献1に示されている。
STEP:04 前記ターゲット像36′の重心を求め、該重心の前記第1固体撮像素子33上の位置を求め、該重心位置に対応する画素から画角が求められる。尚、前記第1固体撮像素子33に於ける1画素は、例えば30秒の画角に相当する。
尚、以下に述べるSTEPで、前記第1撮像手段40が取得した画像から前記ターゲット像36′を求めること、該ターゲット像36′の画角を求めることは同様に行われる。
STEP:05 該画角は前記第1光軸30に対する前記ターゲット36方向の角度のズレと対応するので、前記画角から修正すべき前記第1光軸30の角度が演算され、演算結果に基づき前記水平駆動部38、前記鉛直駆動部41が駆動され、前記望遠鏡部5の視準方向が修正される。
STEP:06 視準方向の修正後、前記ターゲット像36′が前記画角B内にあるかどうかが判断され、範囲外であると、STEP:05に戻り更に視準方向が修正される。
STEP:07 範囲内であると判断されると、前記撮像制御部47により撮像手段の切替えが行われ、前記第2撮像手段37により画像の取得が行われる。
STEP:08 前記撮像制御部47により前記第2電子シャッタ53のON/OFFと前記第2追尾用光源27の点滅の同期制御が行われ、該第2追尾用光源27の点灯時と消灯時の画像が取得され、点灯した状態の画像データは、前記第1記憶部55に格納され、消灯した状態の画像データは前記第2記憶部56に格納される。
STEP:09、STEP:10 前記画像処理部46は、前記第1記憶部55の点灯時の画像データから前記第2記憶部56の消灯時の画像データを減算処理し、前記ターゲット像36′のみを取得する。該ターゲット像36′の重心が求められ、該重心の前記第2固体撮像素子19上の位置を求め、該重心位置に対応する画素から画角が求められる。尚、前記第2固体撮像素子19に於ける1画素は前記第1固体撮像素子33に於ける1画素の角度に対して小さく、例えば5秒の画角に相当する。即ち、前記第2固体撮像素子19で得られる検出精度は前記第1固体撮像素子33で得られる検出精度に対して高精度となっている。
STEP:11 前記画角は前記第2光軸14に対する前記ターゲット36方向の角度のズレと対応するので、前記画角から修正すべき前記第2光軸14の角度が演算され、演算結果に基づき前記水平駆動部38、前記鉛直駆動部41が駆動され、前記望遠鏡部5の視準方向が修正される。
尚、以下に述べるSTEPで、前記第2撮像手段37が取得した画像から前記ターゲット像36′を求めること、該ターゲット像36′の画角を求めることは同様に行われる。
STEP:12、STEP:13 前記ターゲット像36′の位置が前記第2光軸14に合致しているかどうかが判断され、合致していない場合は、更に視準方向が修正され、視準方向が前記ターゲット36に合致、又は略合致すると、距離測定が繰返し行われる。尚、水平角、鉛直角の測定は測距が行われている、いないに拘わらず常に実行される。
STEP:14 前記第2光軸14が前記ターゲット36に合致、又は略合致すると、距離測定が行われると同時に、或は距離測定の開始前に前記第2固体撮像素子19の受光信号に対してマスク処理がなされる。
図6(B)に示す様に、マスク処理は、前記第2固体撮像素子19からの画像データの取得を前記第2光軸14を中心とした範囲Cに限定するものであり、処理データ量を減少させ、前記制御演算部44の負担を軽減し、又処理速度を増大させる。又、マスク処理をすることで、外乱を低減し、追尾動作に於ける誤作動を防止できる。
尚、範囲Cは、円、又は水平方向に長い楕円で規定され、大きさは前記ターゲット36の移動速度、測距距離等によって設定され、又測距距離に対応する等、測定条件に応じて範囲Cの大きさを変更できる様にしてもよい。
STEP:15 前記ターゲット36に対して常に追尾動作を行う。又、追尾中は継続して距離測定が行われている。
STEP:16、STEP:17 前記ターゲット像36′が前記範囲Cにあるかどうかが判断され、該範囲Cにあると判断された場合、視準方向が修正され、前記第2望遠鏡11の視準方向が前記ターゲット36に合致、又は略合致すると該ターゲット36についての測定データが取得される。
STEP:18 追尾の続行の可否が判断され、追尾終了命令を受取ると、追尾を終了させる。又、追尾終了命令を受取らないと、STEP:15に戻り、追尾が継続される。
STEP:21 前記STEP:16に於いて、前記ターゲット像36′が前記範囲Cに無いと判断された場合、前記マスク処理が排除される。
STEP:22、STEP:23 前記ターゲット像36′が前記画角Bにあるかどうかが判断され、該画角B内にある場合は、前記ターゲット像36′についての画角が求められ、該画角より視準方向が修正される。
STEP:24 視準方向が前記範囲C内であると判断されると、STEP:17へ移行する。
STEP:25、STEP:26 前記STEP:22に於いて、前記ターゲット像36′が前記画角Bにあるかどうかが判断され、該画角Bに無い、即ち、画角B外と判断された場合は、前記撮像制御部47により撮像手段の切替えが実行され、STEP:02に戻り、前記第1撮像手段40により広画角の画像が取得される。
広画角により広範囲でターゲット36が撮像されるので、前記画角Bからターゲット36が外れた場合にも、再度探索をすることなく、直ちにターゲット36を検出することができる。
更に、取得された画像から前記ターゲット像36′、該ターゲット像36′の位置、画角が求められる等、STEP:03以降の工程が実行される。
本発明によれば、前記ターゲット36の通常の移動に対しては、測量装置1の追尾機能が応答し得る前記範囲Cの小さな画像処理で対応するので、画像処理に要する負担が軽減し、処理速度が向上し、又ノイズによる誤動作が防止できる。更に、前記ターゲット36が前記画角Bを外れた場合は、前記第1撮像手段40により広範囲の画像を取得し、前記ターゲット36を検出するので、ターゲットの探索を行うことなく、直ちに追尾に復帰でき、再サーチ時間が短縮でき、測定作業の効率が向上し、作業時間の短縮が図れる。
図7は第2の実施の形態を示すものである。
図7中、図2中で示したものと同等のものには同符号を付してある。
第2の実施の形態では、第1望遠鏡8の光軸を第2望遠鏡11の光軸と同一としたものであり、第2光軸14上に光軸分岐ミラー59を配設し、第1追尾用光源34からの第1追尾光35を前記光軸分岐ミラー59を経て前記第2光軸14上に射出し、前記対物レンズ15を経て入射した反射第1追尾光35′を前記光軸分岐ミラー59で反射して第1固体撮像素子33に導く様にしたものである。
本発明が実施される測量装置の一例を示す斜視図である。 本発明の第1の実施の形態に於ける光学系の概略構成図である。 本発明の実施の形態の基本構成図である。 本発明の実施の形態の作動を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態の作動を示すフローチャートである。 (A)、(B)は本発明の実施の形態に於ける第1固体撮像素子、第2固体撮像素子と撮像エリアとの関係を示す説明図である。 本発明の第2の実施の形態に於ける光学系の概略構成図である。
符号の説明
1 測定装置
5 望遠鏡部
6 表示部
8 第1望遠鏡
11 第2望遠鏡
14 第2光軸
19 第2固体撮像素子
20 測距部
27 第2追尾用光源
29 第2追尾光
33 第1固体撮像素子
34 第1追尾用光源
36 ターゲット
37 第2撮像手段
40 第1撮像手段
43 制御装置
44 制御演算部
46 画像処理部
47 撮像制御部
48 画像記憶部
52 第1電子シャッタ
53 第2電子シャッタ

Claims (4)

  1. 鉛直方向及び水平方向の追尾機能を有する測量装置に於いて、第1追尾光学系及び第1固体撮像素子を具備する第1撮像手段と、第2追尾光学系及び第2固体撮像素子を具備する第2撮像手段と、前記第1撮像手段、第2撮像手段の撮像状態を制御する撮像制御装置と、前記第1固体撮像素子で得たターゲット像信号又は前記第2固体撮像素子で得たターゲット像信号に基づきターゲットの追尾を制御する制御部とを具備し、
    前記第1追尾光学系は前記第2追尾光学系よりも大きい視野角を有し、前記第2撮像手段は前記第2追尾光学系を介して第2追尾光を射出し、前記第1撮像手段は前記第1追尾光学系を介して前記第2追尾光よりも大きい広がり角の第1追尾光を射出し、
    前記第1撮像手段は前記第2撮像手段より広範囲の像を取得可能であり、前記撮像制御装置はターゲット像が前記第2固体撮像素子のターゲット受光範囲を外れた場合に前記第1撮像手段によりターゲット像を取得し、前記第1固体撮像素子が受光するターゲット像が所定範囲内の場合に前記第2撮像手段によりターゲット像を取得する様制御することを特徴とする測量装置。
  2. 前記制御部は、前記第1固体撮像素子で得たターゲット像信号に基づきターゲットの探索を行い、前記第2固体撮像素子で得たターゲット像信号に基づき測定の為の視準を行う請求項1の測量装置。
  3. 前記第2撮像手段の光軸を含む所要範囲を設定し、前記第2固体撮像素子によるターゲット受光位置が前記所要範囲に含まれる場合は、該所要範囲の受光信号を取得する様に前記第2固体撮像素子についてマスク処理をし、前記所要範囲の受光信号に基づき追尾を行う請求項1又は請求項2の測量装置。
  4. 前記ターゲット受光位置が前記所要範囲を外れた場合は、マスク処理を解除し、前記第2固体撮像素子からの受光信号に基づき追尾を行う請求項3の測量装置。
JP2007323117A 2007-12-14 2007-12-14 測量装置 Active JP5150234B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007323117A JP5150234B2 (ja) 2007-12-14 2007-12-14 測量装置
EP08170484A EP2071283A3 (en) 2007-12-14 2008-12-02 Surveying Instrument
US12/315,287 US8184267B2 (en) 2007-12-14 2008-12-02 Surveying instrument
CN2008101855092A CN101458081B (zh) 2007-12-14 2008-12-12 测量装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007323117A JP5150234B2 (ja) 2007-12-14 2007-12-14 測量装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009145207A JP2009145207A (ja) 2009-07-02
JP5150234B2 true JP5150234B2 (ja) 2013-02-20

Family

ID=40548973

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007323117A Active JP5150234B2 (ja) 2007-12-14 2007-12-14 測量装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8184267B2 (ja)
EP (1) EP2071283A3 (ja)
JP (1) JP5150234B2 (ja)
CN (1) CN101458081B (ja)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2446300B1 (de) * 2009-06-23 2016-10-12 Leica Geosystems AG Tracking-verfahren und messsystem mit lasertracker
US8772719B2 (en) 2009-06-23 2014-07-08 Leica Geosystems Ag Coordinate measuring device
US8860809B2 (en) 2010-02-11 2014-10-14 Trimble Ab Dual transmitter tracker
EP2381269A1 (de) * 2010-04-13 2011-10-26 Leica Geosystems AG Koordinatenmessgerät mit automatischer Zielerfassung
US9772394B2 (en) 2010-04-21 2017-09-26 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker
JP5698480B2 (ja) * 2010-09-02 2015-04-08 株式会社トプコン 測定方法及び測定装置
GB2483439A (en) * 2010-09-07 2012-03-14 Witold Marian Gamski Surveying tool for property maintenance and/or construction
US9482529B2 (en) 2011-04-15 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
US9686532B2 (en) 2011-04-15 2017-06-20 Faro Technologies, Inc. System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices
JP2014516409A (ja) 2011-04-15 2014-07-10 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド レーザトラッカの改良位置検出器
US9222771B2 (en) 2011-10-17 2015-12-29 Kla-Tencor Corp. Acquisition of information for a construction site
EP2602641B1 (de) * 2011-12-06 2014-02-26 Leica Geosystems AG Lasertracker mit positionssensitiven Detektoren zur Suche eines Ziels
US9541382B2 (en) * 2011-12-19 2017-01-10 Kabushiki Kaisha Topcon Rotation angle detecting apparatus and surveying instrument
JP6129475B2 (ja) * 2012-02-29 2017-05-17 三菱重工業株式会社 監視装置及び監視方法
JP6211261B2 (ja) * 2012-11-27 2017-10-11 株式会社ニコン・トリンブル 測距装置
DE102012223929A1 (de) * 2012-12-20 2014-06-26 Hilti Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der zweidimensionalen Ortskoordinaten eines Zielobjektes
US9041914B2 (en) 2013-03-15 2015-05-26 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
US20140267772A1 (en) * 2013-03-15 2014-09-18 Novatel Inc. Robotic total station with image-based target re-acquisition
CN103245322B (zh) * 2013-04-10 2015-11-11 南京航空航天大学 一种基于双目立体视觉的测距方法及系统
EP2801841B1 (de) * 2013-05-10 2018-07-04 Leica Geosystems AG Lasertracker mit einer Zielerfassungseinheit für eine Zielverfolgung und eine Orientierungserkennung
FR3011922B1 (fr) * 2013-10-11 2016-01-01 Thales Sa Systeme optique pour detection de posture comprenant une source de lumiere a balayage et un coin de cube
JP2017072709A (ja) * 2015-10-07 2017-04-13 株式会社トプコン 結像光学部材及び測量機の光学系
JP6732442B2 (ja) * 2015-12-15 2020-07-29 株式会社トプコン 光波距離測定装置
JP6892734B2 (ja) * 2015-12-15 2021-06-23 株式会社トプコン 光波距離測定装置
CN105716582B (zh) * 2016-02-15 2018-08-28 中林信达(北京)科技信息有限责任公司 摄像机视场角的测量方法、装置以及摄像机视场角测量仪
JP6867244B2 (ja) * 2017-06-28 2021-04-28 株式会社トプコン 測量機の通信管理システム
JP7148255B2 (ja) * 2018-03-30 2022-10-05 株式会社トプコン 電子レベル

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3857639A (en) * 1973-12-21 1974-12-31 New Hampshire Ball Bearings Electronic target
JPS5853709A (ja) 1981-09-25 1983-03-30 Mitsubishi Electric Corp 光学追尾装置
SE500856C2 (sv) * 1989-04-06 1994-09-19 Geotronics Ab Arrangemang att användas vid inmätnings- och/eller utsättningsarbete
JPH05306907A (ja) * 1992-04-30 1993-11-19 Suzuki Motor Corp レンズ計測制御システム
US5361217A (en) * 1992-05-07 1994-11-01 Fuji Photo Optical Co., Ltd. Position measuring/plotting apparatus
DE69327220T2 (de) * 1992-10-09 2000-06-21 Sony Corp., Tokio/Tokyo Erzeugung und Aufzeichnung von Bildern
JP3621123B2 (ja) * 1993-12-28 2005-02-16 株式会社トプコン 測量機
JPH07332978A (ja) 1994-06-07 1995-12-22 Nikon Corp 電子式測量機の視準装置
JP3741477B2 (ja) * 1996-03-18 2006-02-01 株式会社トプコン 測量システム
US5988862A (en) * 1996-04-24 1999-11-23 Cyra Technologies, Inc. Integrated system for quickly and accurately imaging and modeling three dimensional objects
JP4059948B2 (ja) * 1997-01-08 2008-03-12 フジノン株式会社 位置計測作図装置の自動追尾装置
US6057537A (en) * 1997-09-29 2000-05-02 Eastman Kodak Company Optical scanner feedback system having a reflected cylinder lens
JP4320099B2 (ja) * 1999-03-26 2009-08-26 株式会社トプコン 測量装置
JP4175736B2 (ja) * 1999-05-13 2008-11-05 フジノン株式会社 位置計測作図用自動追尾装置
JP4175739B2 (ja) * 1999-05-31 2008-11-05 フジノン株式会社 位置計測作図用自動追尾装置
JP4229350B2 (ja) 1999-09-28 2009-02-25 ケミカルグラウト株式会社 推進機の軌道修正装置
JP3718411B2 (ja) * 2000-05-30 2005-11-24 ペンタックス株式会社 Af測量機
US6611664B2 (en) * 2000-06-26 2003-08-26 Kabushiki Kaisha Topcon Stereo image photographing system
JP4593730B2 (ja) * 2000-06-26 2010-12-08 株式会社トプコン ステレオ画像の測定装置
JP4298155B2 (ja) * 2000-11-17 2009-07-15 本田技研工業株式会社 距離測定装置、及び距離測定方法
JP4356050B2 (ja) * 2000-12-28 2009-11-04 株式会社トプコン 測量装置と電子的記憶媒体
JP3626141B2 (ja) * 2001-08-10 2005-03-02 株式会社ソキア 撮像装置を備えた自動視準測量機
JP2003149342A (ja) 2001-11-09 2003-05-21 Penta Ocean Constr Co Ltd 衛星測位と光波測位方式を用いた移動体測位方法及び装置
JP3816812B2 (ja) 2002-02-14 2006-08-30 株式会社ソキア トータルステーション
JP4004316B2 (ja) * 2002-03-20 2007-11-07 株式会社トプコン 測量装置及び測量装置を用いて画像データを取得する方法
JP2003279352A (ja) 2002-03-25 2003-10-02 Sokkia Co Ltd 自動視準測量機
JP3937154B2 (ja) * 2002-06-28 2007-06-27 株式会社トプコン 位置検出装置
JP4228131B2 (ja) 2002-10-11 2009-02-25 株式会社トプコン 位置測定装置
JP4255682B2 (ja) * 2002-11-22 2009-04-15 株式会社トプコン 反射体自動追尾装置
JP4568009B2 (ja) * 2003-04-22 2010-10-27 パナソニック株式会社 カメラ連携による監視装置
JP4522754B2 (ja) * 2004-06-14 2010-08-11 株式会社トプコン 測量機
EP1971821B1 (de) * 2006-01-13 2013-07-17 Leica Geosystems AG Koordinatenmessgerät
CN101821583B (zh) * 2007-10-10 2013-08-14 特里伯耶拿有限公司 用于跟踪和测量目标的测量装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP2071283A3 (en) 2013-01-16
JP2009145207A (ja) 2009-07-02
CN101458081A (zh) 2009-06-17
EP2071283A2 (en) 2009-06-17
US20090153667A1 (en) 2009-06-18
CN101458081B (zh) 2012-08-01
US8184267B2 (en) 2012-05-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5150234B2 (ja) 測量装置
JP5469894B2 (ja) 測量装置及び自動追尾方法
EP0661519B1 (en) Surveying instrument
JP4228132B2 (ja) 位置測定装置
US8681317B2 (en) Tracking method and measuring system having a laser tracker
US8164626B2 (en) Monitoring camera device
JP3953103B2 (ja) 標的マークの位置を敏速に検出するための方法及び装置
EP3640678B1 (en) Tracker, surveying apparatus and method for tracking a target
EP1519146A1 (en) Position detector
JP2009156772A (ja) 測量システム
JP2003279351A (ja) 測量装置及び測量装置を用いて画像データを取得する方法
US20120081509A1 (en) Optical instrument system and method
CN105318865B (zh) 测量装置
FR2641871A1 (fr) Systeme de determination de la position d'au moins une cible par triangulation
EP2808661A1 (en) Spectral image acquiring device and spectral image acquiring method
CN105277181B (zh) 测量装置
US20060187333A1 (en) Still image pickup device
US10895456B1 (en) Three-dimensional survey apparatus, three-dimensional survey method, and three-dimensional survey program
KR100758205B1 (ko) 영상에 대한 좌표 인식이 가능한 교량점검 시스템
JP6101037B2 (ja) 追尾式レーザー装置、及び測定装置
CN112556663B (zh) 测量装置和测量装置系统
CN117630874A (zh) 具有tof传感器的测量设备
CN117630876A (zh) 具有tof传感器的测量设备
JP2024088392A (ja) 撮像装置及びその制御方法、プログラム、記憶媒体

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101203

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120705

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120717

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120912

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121106

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121203

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5150234

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151207

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250