JP4255682B2 - 反射体自動追尾装置 - Google Patents

反射体自動追尾装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4255682B2
JP4255682B2 JP2002339345A JP2002339345A JP4255682B2 JP 4255682 B2 JP4255682 B2 JP 4255682B2 JP 2002339345 A JP2002339345 A JP 2002339345A JP 2002339345 A JP2002339345 A JP 2002339345A JP 4255682 B2 JP4255682 B2 JP 4255682B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reflector
image
light receiving
area
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002339345A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004170354A (ja
Inventor
薫 熊谷
政宏 斉藤
伸二 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP2002339345A priority Critical patent/JP4255682B2/ja
Priority to US10/718,231 priority patent/US6957493B2/en
Priority to EP03090395.9A priority patent/EP1422498B1/en
Publication of JP2004170354A publication Critical patent/JP2004170354A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4255682B2 publication Critical patent/JP4255682B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
    • G01C15/002Active optical surveying means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、反射体に向けて測定光を照射し、その反射体により反射された測定光の到来方向を求めて、反射体を自動追尾する反射体自動追尾装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来から、反射体自動追尾装置には、反射体としてのコーナキューブを視準する視準部と、反射体までの距離を測距する測距部と、反射体を水平方向、垂直方向に走査して測量機本体を自動追尾するものが知られている(例えば、特許文献1参照。)。
【特許文献1】
特開平05−322569号公報(段落番号0002、図3)
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、近時、低価格化の要請から、反射体に向けて測定光を照射する照射部と前記反射体に向けて照射された測定光の反射光像を受光するためのCCD等の画像センサを有する受光部とが測量機本体に設けられた反射体自動追尾装置が開発されつつある。
【0004】
ところが、この種の自動追尾装置では、画像センサに反射体からの反射光像以外に、車のヘッドライトや太陽光のガラスによる光像が受光されることがあり、いずれも光像が丸いために反射体からの反射光像と区別をつけ難く、周囲環境によってこのような反射光像以外のノイズ光像が画像センサに混入すると、反射体の追尾に支障を生じる。
【0005】
本発明は、上記の事情に鑑みて為されたもので、その目的は、反射体に向けて測定光を照射する照射部と、反射体に向けて照射された測定光の反射光像を受光する画像センサを有する受光部とが測量機本体に設けられた反射体自動追尾装置であっても、追尾を支障なく行うことのできる反射体自動追尾装置を提供することにある。
【0006】
請求項1に記載の反射体自動追尾装置は、測量機本体に設けられて反射体に向けて測定光を照射する照射部と、前記測量機本体に設けられて前記反射体に向けて照射された測定光の反射光像を受光するための画像センサを有する受光部と、前記反射体からの反射光像の前記画像センサのエリア内での位置を演算する演算手段と、前記演算手段により求められた位置に基づき前記受光部の受光光軸上に前記反射体が位置するように前記測量機本体を回動させる回動機構とを備え、前記画像センサのエリア内には、該画像センサのエリア面積よりも小さい面積でかつ前記受光光軸を中心とする受光エリアが設けられ、
前記受光エリアが第1の受光エリアと該第1の受光エリアよりも面積が広くて該第1の受光エリアを包囲する第2の受光エリアとからなり、
前記受光エリアの面積が、距離が近い場合には面積が大きくなるようにかつ距離が遠い場合には面積が小さくなるように前記反射体から装置本体までの距離に応じて変更され、
前記演算手段は、前記反射光像の位置と前記反射光像以外による光像の位置とを記憶すると共に前記反射光像の大きさ及び形状を記憶する記憶部を有し、前記反射光像以外の光像が前記第2の受光エリア内にあるときに、前記反射光像の位置と前記反射光像以外の光像の位置とを識別すると共に、前記位置と共に前記反射光像の大きさ及び形状に基づき反射体を特定することを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】
(発明の実施の形態1)
図1において、1は測量台、2は測点に設置の反射体としてのコーナキューブである。この測量台1には測量機3が備えつけられる。この測量機3は固定台4と水平回動部5とを有する。固定台4には水平回動部5を回動させる公知の回動機構(図示を略す)が設けられている。
【0014】
水平回動部5は、図2に示すように、固定台4に対して矢印A方向に回動される。その水平回動部5は支持部(托架部)6を有する。その支持部6には垂直方向回動軸7が設けられ、支持部6の内部には垂直方向回動軸7を回動させる公知の回動機構(図示を略す)が設けられている。その垂直方向回動軸7には、測量機本体8が設けられている。測量機本体8は、水平回動部5の回転により水平方向に回動されると共に、垂直方向回動軸7の回転により図1に矢印Bで示すように垂直方向に回転される。
【0015】
その測量機本体8には、図3に示すように、視準光学部9、測距光学部10、照射部11、受光部12が設けられている。視準光学部9はコーナーキューブ2を視準するためのものであり、対物レンズ13、光路合成プリズム14、光路分割プリズム15、合焦レンズ16、ポロプリズム17、焦点鏡18、接眼レンズ19を有する。
【0016】
対物レンズ13は貫通部20を有する。光路合成プリズム14は照射部11の一部を構成している。照射部11は、レーザーダイオード21、コリメータレンズ22、反射プリズム23、24を有する。レーザーダイオード21は測定光として赤外レーザー光(波長900ナノメータ)を射出し、コリメータレンズ22はその赤外レーザー光を平行光束にする。
【0017】
光路合成プリズム14は、照射部11の光軸O1を対物レンズ13の光軸Oに合致させるためのものであり、反射面14aを有する。赤外レーザー光は、反射プリズム23、24により反射され、対物レンズ13に導かれ、その貫通部20を通じて外部に出射され、コーナキューブ2に向けて照射される。図4はそのレーザー光Pの照射範囲Q1を示す。
【0018】
コーナーキューブ2により反射された赤外レーザー光Pは対物レンズ13の全領域により集光されて光路分割プリズム15に導かれる。光路分割プリズム15は反射面15a、15bを有する。
【0019】
反射面15aは受光部12に向けて赤外レーザー光Pを反射する。その受光部12は画像センサ27を有する。その受光部12の光軸O2は対物レンズ13の光軸Oに合致されている。
【0020】
測距部10は投光系29と受光系30とからなり、投光系28はレーザー光源31を有し、受光系29は受光素子33を有する。その投光系29と受光系30との間には三角プリズム32が設けられている。レーザー光源31は測距光束としての赤外レーザー光波を出射する。その赤外レーザー光波の波長は800ナノメーターであり、赤外レーザー光Pの波長とは異なる。
【0021】
その赤外レーザー光波は三角プリズム32の反射面32aによって反射されて光路分割プリズム15の反射面15bに導かれる。この反射面15bは可視領域の光を透過し、波長800ナノメーターの光を含む赤外領域の光を反射する。
【0022】
その反射面15bに導かれた赤外レーザー光波は反射面15aを透過して対物レンズ13の下半分の領域34を通過して測量機本体8の外部に平面波として出射される。その赤外レーザー光波はコーナーキューブ2により反射され、対物レンズ13に戻り、対物レンズ13の上半分の領域35によって集光され、光路分割プリズム15の反射面15aを透過して反射面15bに導かれ、この反射面15bにより三角プリズム32の反射面32bに導かれ、この反射面32bにより反射されて受光素子33に収束される。
【0023】
その受光素子33の受光出力は公知の計測回路36に入力され、計測回路36は測量機本体8からコーナーキューブ2までの距離を演算し、これにより、コーナキューブ2までの距離が測距される。
【0024】
可視領域の光束は、対物レンズ13、光路分割プリズム15、合焦レンズ16、ポロプリズム17を介して焦点鏡18に導かれ、コーナーキューブ2の近傍を含めてその近傍の像が合焦レンズ16を調節することにより焦点鏡18に形成され、測定者はその焦点鏡18に結像された可視像を接眼レンズ19を介して覗くことによりコーナーキューブ2を視準できる。
【0025】
画像センサ27は、図5に示すエリアQ2を有し、このエリアQ2内に多数の画素が設けられている。その画像センサ27は、図3に示す演算手段37によって走査されるもので、図6に示す発光タイミングパルス信号P1によりレーザーダイオード21が発光されると、画像センサ27の各画像素子が垂直同期信号V1、垂直同期信号V1間の水平同期信号H1に基づき走査され、その垂直同期信号V1から若干遅れて転送ゲートパルス信号P2が出力され、これにより、各画像素子の受光信号が演算手段37に読み込まれる。
【0026】
画像センサ27には、そのエリアQ2内にエリアQ2の面積よりも小さな面積の受光エリアQ3が設けられている。この受光エリアQ3は受光部12の光軸O2を中心として設けられている。この受光エリアQ3は第1の円形状の受光エリアQ4とこの第1の受光エリアQ4よりも面積が大きくてこの受光エリアQ4を包囲する第2の矩形状の受光エリアQ5とから構成されている。演算手段37はその画像センサ27の受光エリアQ4、Q5を設定する役割を有する。
【0027】
その受光エリアQ4、Q5の面積は、測量機本体8からコーナーキューブ2までの距離に応じて変更されるもので、演算手段37には計測回路36からの測距データが入力され、演算手段37はその計測回路36の測距データに基づきその受光エリアQ4、Q5の面積が可変される。
【0028】
また、計測回路36からの測距データを用いず、Q4に相当する受光像の大きさから距離を判断し、受光エリアQ5の大きさを設定することも可能である。
【0029】
画像センサ27には、図7に示すように、環境条件によって、コーナーキューブ2からの反射光像M0以外に、ヘッドライトによる投射光像M1、自動車等による太陽光の反射光像M2が受光され、反射光像M0とそれ以外の光像M1、M2等との区別がつけ難い場合があるが、追尾対象としての反射体、すなわち、コーナーキューブ2からの反射光像は追尾中にはほぼ光軸O2上にあると想定され、従って、受光エリアQ4、Q5の範囲内で走査を行って反射体からの反射光像を検出すれば、反射体による反射光像以外の光像を追尾対象と誤認識するのを防止できる。
【0030】
演算手段37はその受光エリアQ4、Q5を設定する機能、それらの面積を距離に応じて変更する機能を有する。その受光エリアQ4の面積は反射体の面積よりも若干大きめに設定するのが望ましい。その受光エリアQ5の横方向の幅、縦方向の幅は、画像センサ27による一フィールド画像を得るための走査時間内(1/60秒)に回動機構により測量機本体8が水平方向、又は垂直方向に回動するのに要する角度内に設定するのが望ましい。
【0031】
すなわち、図5に示すように、測量機本体8の水平方向の回転角速度をω1、垂直方向の回転角速度をω2、追尾受光系12の焦点距離をfとすると、
その受光エリアQ5の横方向の幅W3は、縦方向の幅W4は、
W3=f・ω1/60
W4=f・ω2/60
このように、受光エリアQ5のエリアを限ったのは、回動機構による測量機本体8の回動角速度ωに限界があり、この測量機本体8の回動角速度ωよりも早い速度で移動する反射体は追尾できず、追尾の無駄を省いて追尾効率の向上を図ることにしたからである。
【0032】
その反射体による反射光像M0は、1フィールド毎に演算手段37を用いて、図8に示すように、画像センサ27の各画素を水平方向に走査して、各水平走査ラインL1〜Lnについてその反射光像M0の始端エッジLa、終端エッジLbを検出し、画像センサ27の各走査ラインについて、これらの位置と始端エッジLaから終端エッジLbまでの各水平走査ライン毎の幅Wとを記憶部38に記憶させ、演算手段27により反射光像M0の中心位置O’を求める。
【0033】
反射光像M0の位置は概略求めることもでき、例えば、始端エッジLaから終端エッジLbまでの各水平走査ライン毎の幅Wのうち最大幅W’を垂直方向Vについて中心位置O’v、水平方向Hについての中心位置O’hをその最大幅W’の2分の1の位置に設定すれば良い。
【0034】
演算手段37は、複数個の反射体が画像センサ27のエリア内に存在する場合には、受光エリアQ4内に存在する光像を反射体からの反射光像とみなして反射光像の位置を検出し、これを追尾する。受光エリアQ4内に反射光像が存在しない場合には、レーザー光源をオン/オフして、フィールド間の差違から反射体の検出を行う等により(特開平7−198383号公報参照)、受光エリアQ5内に存在する光像を反射体からの反射光像による像とみなして反射体の位置を検出し、これを追尾する。受光エリアQ3内に反射光像が存在しない場合には、画像センサ27のエリアQ2内に存在する光像を反射体からの反射光像とみなして反射体の位置を検出し、これを追尾する。
【0035】
以下、反射体の追尾手順を図9に示すフローチャートに従って説明する。
演算手段37は、反射体追尾フローに入ると、まず、反射体からの反射光像が画像センサ27のエリアQ2内の一水平走査線に存在するか否かを判断する(S.1)。
【0036】
このエリアQ2内の一水平走査線に反射光像が存在するか否かを一フィールドについて行い、一フィールド内に反射体からの反射光像が存在しない場合には反射体検出処理を一フィールド毎に繰り返し、一フィールド内に反射光像が存在する場合には、受光エリアQ4内に反射光像が存在するか否かを判断し(S.2)、反射光像が受光エリアQ4内にある場合には、反射光像が画像中心CQ(図5参照)に位置するように測量機本体8を追尾回動させ(S.3)、反射光像が受光エリアQ4内に存在しないときには、受光エリアQ5内に反射光像が存在するか否かを判断し(S.4)、受光エリアQ5内に反射光像が存在するときには、反射光像が画像中心CQに位置するように測量機本体8を追尾回動させ(S.3)、受光エリアQ5内に反射光像が存在しないときには、画像センサ27のエリアQ2内に反射光像が存在するか否かを判断し(S.5)、画像センサ27のエリアQ2内に反射光像が存在するときには、測量機の最大加速度を超えた可能性があるため、反射体2かどうかの検定を行い(S.5’)、反射体2の場合には反射光像が画像中心CQに位置するように測量機本体8を追尾回動させる。反射体でない場合には、ウエイト又はサーチ動作に進む。
【0037】
画像センサ27のエリアQ2内に反射光像が存在しないときには、ウエイト(追尾停止)するか又は反射体探索を行う(S.6)。なお、反射光像が画像センサ27のエリアQ2内に存在しないような状態としては、反射体と測量機本体との間を遮光物が横切った場合とか、反射体が測量機本体の回動角速度以上で移動した場合が考えられる。
【0038】
このような追尾処理を行うことによって、反射体の追尾効率を高めることができると共に、反射体の誤認識を避けることができる。
(発明の実施の形態2)
この発明の実施の形態では、記憶部38には、図10に示すように、画像センサ27のエリアQ2内に存在する反射体以外の光像M1、M2、M3等の位置と反射光像M0の大きさ及びその形状とを記憶させ、演算手段37により、反射光像M0の位置と反射光像M0以外の光像M1〜M3等の位置関係とから、又は、反射光像M0の形状及び大きさから反射体を特定するようにしたものである。
このように構成すれば、以下のような利点がある。
【0039】
例えば、反射体の追尾途中で、反射体が遮光物により遮断され、その間に反射体が移動すると、受光エリアQ5内にヘッドライトや電灯M3等の反射体以外のものが存在すると、そのヘッドライトや電灯M3等を追尾対象としての反射体と誤認識する可能性があるが、反射体の位置と反射体以外のものとの位置関係、反射体の形状、大きさとにより、反射体を特定できるので、反射体以外のものを反射体として誤認識する可能性を低減できる。
【0040】
特に、受光エリアQ4内に存在するときの反射体からの反射光像M0の形状と大きさとを記憶部38に記憶させ、演算手段37により、記憶部38に記憶されている形状及び大きさと、画像センサ27のエリアQ2内、Q5内で検出された各種の光像及び大きさとを比較して判断することにすれば、反射体以外のものを反射体と認識する誤りを低減できることになる。
【0041】
【発明の効果】
請求項1に記載の発明によれば、正確に反射体に対する追尾を行うことができるという効果を奏する。
特に、測量機本体から反射体までの距離に応じて受光エリアの面積を変更するので、すなわち、距離が近い場合には受光エリアの面積を大きくし、距離が遠い場合には受光エリアの面積を小さくするので、しかも、演算手段は、反射光像の位置と反射光像以外による光像の位置とを記憶すると共に反射光像の大きさ及び形状を記憶する記憶部を有し、反射光像以外の光像が第2の受光エリア内にあるときに、反射光像の位置と反射光像以外の光像の位置とを識別すると共に、位置と共に前記反射光像の大きさ及び形状に基づき反射体を特定するので、反射体からの反射光像以外の光像を誤って反射体として認識する確率が小さくなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係わる反射体自動追尾装置の設置状態を示す側面図である。
【図2】 本発明に係わる反射体自動追尾装置の設置状態を示す平面図である。
【図3】 本発明に係わる反射体自動追尾装置の光学部を示す説明図である。
【図4】 本発明に係わる照射部による測定光の照射範囲の一例を示す図である。
【図5】 本発明に係わる画像センサの一例を示す説明図である。
【図6】 本発明に係わる画像センサからの信号の取り出しタイミングを説明するためのタイミングチャートである。
【図7】 画像センサに取り込まれる各種光像の一例を示す説明図である。
【図8】 画像センサに映っている反射光像の検出方法の一例を示す説明図である。
【図9】 本発明に係わる反射体自動追尾装置の追尾フローを説明するためのフローチャートである。
【図10】 画像センサに映っている反射光像の大きさ及び形状、その位置、及びそれ以外の光像の位置を説明するための説明図である。
【符号の説明】
2…コーナーキューブ(反射体)
8…測量機本体
11…照射部
12…受光部
27…画像センサ
37…演算手段
Q2…エリア
Q3…受光エリア

Claims (1)

  1. 測量機本体に設けられて反射体に向けて測定光を照射する照射部と、前記測量機本体に設けられて前記反射体に向けて照射された測定光の反射光像を受光するための画像センサを有する受光部と、前記反射体からの反射光像の前記画像センサのエリア内での位置を演算する演算手段と、前記演算手段により求められた位置に基づき前記受光部の受光光軸上に前記反射体が位置するように前記測量機本体を回動させる回動機構とを備え、前記画像センサのエリア内には、該画像センサのエリア面積よりも小さい面積でかつ前記受光光軸を中心とする受光エリアが設けられ、
    前記受光エリアが第1の受光エリアと該第1の受光エリアよりも面積が広くて該第1の受光エリアを包囲する第2の受光エリアとからなり、
    前記受光エリアの面積が、距離が近い場合には面積が大きくなるようにかつ距離が遠い場合には面積が小さくなるように前記反射体から装置本体までの距離に応じて変更され、
    前記演算手段は、前記反射光像の位置と前記反射光像以外による光像の位置とを記憶すると共に前記反射光像の大きさ及び形状を記憶する記憶部を有し、前記反射光像以外の光像が前記第2の受光エリア内にあるときに、前記反射光像の位置と前記反射光像以外の光像の位置とを識別すると共に、前記位置と共に前記反射光像の大きさ及び形状に基づき反射体を特定することを特徴とする反射体自動追尾装置。
JP2002339345A 2002-11-22 2002-11-22 反射体自動追尾装置 Expired - Fee Related JP4255682B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002339345A JP4255682B2 (ja) 2002-11-22 2002-11-22 反射体自動追尾装置
US10/718,231 US6957493B2 (en) 2002-11-22 2003-11-20 Automatic tracking apparatus for reflector
EP03090395.9A EP1422498B1 (en) 2002-11-22 2003-11-20 Automatic reflector tracking apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002339345A JP4255682B2 (ja) 2002-11-22 2002-11-22 反射体自動追尾装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004170354A JP2004170354A (ja) 2004-06-17
JP4255682B2 true JP4255682B2 (ja) 2009-04-15

Family

ID=32212138

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002339345A Expired - Fee Related JP4255682B2 (ja) 2002-11-22 2002-11-22 反射体自動追尾装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6957493B2 (ja)
EP (1) EP1422498B1 (ja)
JP (1) JP4255682B2 (ja)

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7408572B2 (en) * 2002-07-06 2008-08-05 Nova Research, Inc. Method and apparatus for an on-chip variable acuity imager array incorporating roll, pitch and yaw angle rates measurement
JP2004144629A (ja) * 2002-10-25 2004-05-20 Pentax Precision Co Ltd 測量機
JP4936818B2 (ja) * 2006-08-07 2012-05-23 株式会社 ソキア・トプコン ダイクロイックプリズムによる光分割した測量機
US8928459B2 (en) * 2007-06-15 2015-01-06 Worcester Polytechnic Institute Precision location methods and systems
CN101821583B (zh) * 2007-10-10 2013-08-14 特里伯耶拿有限公司 用于跟踪和测量目标的测量装置
JP5150229B2 (ja) 2007-12-07 2013-02-20 株式会社トプコン 測量システム
JP5150234B2 (ja) 2007-12-14 2013-02-20 株式会社トプコン 測量装置
JP5469894B2 (ja) 2008-07-05 2014-04-16 株式会社トプコン 測量装置及び自動追尾方法
KR101659719B1 (ko) * 2008-07-08 2016-09-26 코닌클리케 필립스 엔.브이. Led 조명 장치의 상대 위치를 결정하는 방법 및 장치
US9482755B2 (en) 2008-11-17 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Measurement system having air temperature compensation between a target and a laser tracker
JP5469899B2 (ja) 2009-03-31 2014-04-16 株式会社トプコン 自動追尾方法及び測量装置
US9772394B2 (en) 2010-04-21 2017-09-26 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker
US9400170B2 (en) 2010-04-21 2016-07-26 Faro Technologies, Inc. Automatic measurement of dimensional data within an acceptance region by a laser tracker
US8619265B2 (en) 2011-03-14 2013-12-31 Faro Technologies, Inc. Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker
US8724119B2 (en) 2010-04-21 2014-05-13 Faro Technologies, Inc. Method for using a handheld appliance to select, lock onto, and track a retroreflector with a laser tracker
US9377885B2 (en) 2010-04-21 2016-06-28 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for locking onto a retroreflector with a laser tracker
US8422034B2 (en) 2010-04-21 2013-04-16 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
US8537371B2 (en) 2010-04-21 2013-09-17 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for using gestures to control a laser tracker
GB2511236B (en) 2011-03-03 2015-01-28 Faro Tech Inc Target apparatus and method
US9164173B2 (en) 2011-04-15 2015-10-20 Faro Technologies, Inc. Laser tracker that uses a fiber-optic coupler and an achromatic launch to align and collimate two wavelengths of light
JP2014516409A (ja) 2011-04-15 2014-07-10 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド レーザトラッカの改良位置検出器
US9482529B2 (en) 2011-04-15 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
US9686532B2 (en) 2011-04-15 2017-06-20 Faro Technologies, Inc. System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices
DE112013000727T5 (de) 2012-01-27 2014-11-06 Faro Technologies, Inc. Prüfverfahren mit Strichcode-Kennzeichnung
DE102012223929A1 (de) * 2012-12-20 2014-06-26 Hilti Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der zweidimensionalen Ortskoordinaten eines Zielobjektes
US9041914B2 (en) 2013-03-15 2015-05-26 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
US9395174B2 (en) 2014-06-27 2016-07-19 Faro Technologies, Inc. Determining retroreflector orientation by optimizing spatial fit
US10067234B2 (en) * 2015-02-17 2018-09-04 Honeywell International Inc. Projected beam detector with imaging device
EP3640677B1 (en) 2018-10-17 2023-08-02 Trimble Jena GmbH Tracker of a surveying apparatus for tracking a target
EP3640590B1 (en) 2018-10-17 2021-12-01 Trimble Jena GmbH Surveying apparatus for surveying an object
EP3640678B1 (en) * 2018-10-17 2022-11-09 Trimble Jena GmbH Tracker, surveying apparatus and method for tracking a target
EP3696498A1 (en) 2019-02-15 2020-08-19 Trimble Jena GmbH Surveying instrument and method of calibrating a survey instrument
US10852158B1 (en) 2019-09-27 2020-12-01 Kitty Hawk Corporation Distance sensor test system

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3076949A (en) * 1958-11-17 1963-02-05 Infrared Ind Inc Photoconductive cell
US3700905A (en) * 1964-11-04 1972-10-24 Sanders Associates Inc Multiple element sensing apparatus
US4107530A (en) * 1966-01-26 1978-08-15 Lockheed Aircraft Corporation Infrared acquisition device
US4724313A (en) * 1985-02-21 1988-02-09 The Boeing Company Dual resolution sensor for signal tracking and the like
US4713533A (en) * 1986-01-03 1987-12-15 Westinghouse Electric Corp. Concentric detector array and associated hybrid signal processing for coarse and fine electro-optical tracking
US5216480A (en) * 1987-12-26 1993-06-01 Asahi Kogaku Kogyo K.K. Surveying instrument
SE500856C2 (sv) * 1989-04-06 1994-09-19 Geotronics Ab Arrangemang att användas vid inmätnings- och/eller utsättningsarbete
US5175694A (en) * 1990-02-08 1992-12-29 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Centroid target tracking system utilizing parallel processing of digital data patterns
JP2793740B2 (ja) 1992-05-21 1998-09-03 株式会社トプコン 測量機
JP3268608B2 (ja) * 1993-02-12 2002-03-25 株式会社トプコン 測量装置
JP3604781B2 (ja) * 1995-06-19 2004-12-22 キヤノン株式会社 光学機器
DE19528465C2 (de) * 1995-08-03 2000-07-06 Leica Geosystems Ag Verfahren und Vorrichtung zur schnellen Erfassung der Lage einer Zielmarke
US6455831B1 (en) * 1998-09-11 2002-09-24 The Research Foundation Of Suny At Buffalo CMOS foveal image sensor chip
JP2000111340A (ja) * 1998-10-08 2000-04-18 Topcon Corp 測量機の光通信装置
JP4320099B2 (ja) * 1999-03-26 2009-08-26 株式会社トプコン 測量装置
JP2001021354A (ja) * 1999-07-09 2001-01-26 Topcon Corp 光学位置検出装置
DE10020986B4 (de) * 2000-04-28 2010-02-04 Trimble Jena Gmbh Fernrohr für geodätische Geräte, insbesondere für Videotachymeter
JP4492901B2 (ja) * 2000-10-04 2010-06-30 ルネサスエレクトロニクス株式会社 固体撮像装置およびそれを用いた指紋照合装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP1422498A2 (en) 2004-05-26
US6957493B2 (en) 2005-10-25
EP1422498B1 (en) 2016-03-23
US20040101163A1 (en) 2004-05-27
EP1422498A3 (en) 2008-11-05
JP2004170354A (ja) 2004-06-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4255682B2 (ja) 反射体自動追尾装置
JP4127503B2 (ja) 反射体自動追尾装置
JP4088906B2 (ja) 測量機の受光装置
JP5016245B2 (ja) 物体の六つの自由度を求めるための測定システム
JP2004170355A (ja) 反射体自動追尾装置
US11913786B2 (en) Surveying instrument
JPS58167902A (ja) 物体検出装置
JP2020056746A (ja) 角度検出システム
JPH11257917A (ja) 反射型光式センサ
KR100351018B1 (ko) 목표물 탐지용 배열체
US20050275830A1 (en) Surveying apparatus
US5033845A (en) Multi-direction distance measuring method and apparatus
JP3351374B2 (ja) レーザ式測距装置
JP7324097B2 (ja) 3次元測量装置、3次元測量方法および3次元測量プログラム
EP0943892B1 (en) Laser beam emitting apparatus
JP3504293B2 (ja) 移動体の位置方位測定装置
JPH0783657A (ja) 測量機
JP2565748B2 (ja) 自動追尾方式の光波距離計測装置
JPH0610615B2 (ja) 多方向距離測定装置
JP3805099B2 (ja) 反射光識別方法とその装置および反射光識別装置を使用した移動体の位置検出装置
JP3387961B2 (ja) 自動追尾式測量機
JP2021063678A (ja) 測量装置
WO2021019903A1 (ja) レーザレーダ
JPH0563773B2 (ja)
JPH10246627A (ja) 反射レーザ光を用いた距離測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051121

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071106

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080507

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080701

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080916

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081015

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20081120

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090127

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090128

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4255682

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130206

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140206

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees