KR100778514B1 - 유기 발광 표시 장치 - Google Patents
유기 발광 표시 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100778514B1 KR100778514B1 KR1020060075177A KR20060075177A KR100778514B1 KR 100778514 B1 KR100778514 B1 KR 100778514B1 KR 1020060075177 A KR1020060075177 A KR 1020060075177A KR 20060075177 A KR20060075177 A KR 20060075177A KR 100778514 B1 KR100778514 B1 KR 100778514B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- transistor
- electrode
- voltage
- electrically connected
- light emitting
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 73
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 claims description 24
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 claims description 20
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 19
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 19
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 19
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 10
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 239000000565 sealant Substances 0.000 claims description 8
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 7
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 claims description 4
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 238000005224 laser annealing Methods 0.000 claims description 4
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims description 4
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 claims description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 9
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 21
- 230000008569 process Effects 0.000 description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910004205 SiNX Inorganic materials 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 3
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920005601 base polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 239000013013 elastic material Substances 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 238000013008 moisture curing Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 1
- 229920001021 polysulfide Polymers 0.000 description 1
- 239000005077 polysulfide Substances 0.000 description 1
- 150000008117 polysulfides Polymers 0.000 description 1
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/10—Apparatus or processes specially adapted to the manufacture of electroluminescent light sources
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
- H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
- H01L27/1259—Multistep manufacturing methods
- H01L27/1296—Multistep manufacturing methods adapted to increase the uniformity of device parameters
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
- H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
- H01L27/1255—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs integrated with passive devices, e.g. auxiliary capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
- H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
- H01L27/1259—Multistep manufacturing methods
- H01L27/127—Multistep manufacturing methods with a particular formation, treatment or patterning of the active layer specially adapted to the circuit arrangement
- H01L27/1274—Multistep manufacturing methods with a particular formation, treatment or patterning of the active layer specially adapted to the circuit arrangement using crystallisation of amorphous semiconductor or recrystallisation of crystalline semiconductor
- H01L27/1277—Multistep manufacturing methods with a particular formation, treatment or patterning of the active layer specially adapted to the circuit arrangement using crystallisation of amorphous semiconductor or recrystallisation of crystalline semiconductor using a crystallisation promoting species, e.g. local introduction of Ni catalyst
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
- H05B33/00—Electroluminescent light sources
- H05B33/12—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
- H05B33/26—Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the composition or arrangement of the conductive material used as an electrode
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Control Of El Displays (AREA)
- Recrystallisation Techniques (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
Description
Claims (30)
- 데이터전압을 인가하는 데이터 라인;스캔전압을 인가하는스캔 라인;유기전계발광소자;제1전원전압을 공급하는 제1전원전압부;초기화전압을 공급하는 초기화전압부;상기 유기전계발광소자에 전류를 공급하는 제1트랜지스터;상기 제1트랜지스터를 다이오드 연결시키는 제2트랜지스터;상기 데이터 라인에 제1 전극이 연결되고, 상기 제1트랜지스터의 제1전극에 제2 전극이 연결되는 제3트랜지스터;상기 제1전원전압부와 초기화전압부에 전기적으로 연결되는 제1용량성소자;상기 제1용량성소자에 제1전극이 전기적으로 연결되고, 상기 초기화전압부에 제2전극이 전기적으로 연결되는 제4트랜지스터;상기 제1전원전압부에 제1전극에 연결되고, 상기 제2트랜지스터의 제1전극에 제2 전극이 전기적으로 연결되는 제5트랜지스터;상기 제1트랜지스터의 제1전극에 제1 전극이 전기적으로 연결되고, 상기 유기전계발광소자의 제1전극에 제2 전극이 전기적으로 연결되는 제6트랜지스터; 및상기 제3트랜지스터의 제어전극과 제1트랜지스터의 제어전극에 전기적으로 연결되는 제2용량성소자를 포함하며,상기 제1용량성소자의 제1전극 또는 제2전극은 진성반도체인 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
- 제1항에 있어서,상기 제1트랜지스터는 구동트랜지스터인 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
- 제2항에있어서,상기 제1 트랜지스터는 P 채널 타입의 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치
- 제3항에 있어서,상기 P 채널 타입의 트랜지스터의 불순물은 Sb(animony), P(phosphorus) 및 As(arsenic) 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치
- 제3항에 있어서,상기 제6트랜지스터의 제어전극에 전기적으로 연결되는 발광제어선을 더 포함하는 유기 발광 표시 장치
- 제5항에 있어서,상기 제5트랜지스터는 상기 발광제어선에 제어 전극이 연결되어 있고, 상기 발광제어선의 신호에 응답하여, 상기 제1전원전압을 상기 제1 트랜지스터의 제2 전극에 인가하는 유기 발광 표시 장치.
- 제6항에 있어서,상기 제3트랜지스터는 스위칭 트랜지스터이며, 상기 스캔전압에 응답하여 상기 데이터 전압을 상기 제1 트랜지스터의 제1 전극에 전달하는 유기 발광 표시 장치.
- 제7항에 있어서,상기 제2트랜지스터는,상기 스캔 전압에 응답하여 턴온되어, 상기 제1 트랜지스터를 다이오드 연결시키는 유기 발광 표시 장치.
- 제8항에 있어서,상기 제4트랜지스터는,상기 스캔전압이 제어전극에 인가되며, 상기 스캔전압에 응답하여, 상기 초기화전압부의 전압을 상기 제1 용량성 소자에 인가하는 유기 발광 표시 장치.
- 제3항에 있어서,진성반도체로 이루어지는 상기 제1용량성소자의 제1전극 또는 제2전극은 엑시머 레이저 어닐링(eximer laser annealing, ELA)법에 의해 결정화된 다결정 반도체인 유기 발광 표시 장치.
- 제3항에 있어서,진성반도체로 이루어지는 상기 제1용량성소자의 제1전극 또는 제2전극은 고상 결정화법(solid phase crystallization, SPC)에 의해 결정화된 다결정 반도체인 유기 발광 표시 장치.
- 제3항에 있어서,진성반도체로 이루어지는 상기 제1용량성소자의 제1전극 또는 제2전극은 금속유도 결정화법(metal induced crystallization, MIC)에 의해 결정화된 다결정 반도체인 유기 발광 표시 장치.
- 제3항에 있어서,진성반도체로 이루어지는 상기 제1용량성소자의 제1전극 또는 제2전극은 금속유도 측면결정화법(metal induced lateral crystallization, MILC)에 의해 결정화된 다결정 반도체인 유기 발광 표시 장치.
- 제3항에 있어서,진성반도체로 이루어지는 상기 제1용량성소자의 제1전극 또는 제2전극은 금속매개 결정화법(metal induced crystallization through a cap, MICC)에 의해 결정화된 다결정 반도체인 유기 발광 표시 장치.
- 데이터전압을 인가하는 데이터 라인;스캔전압을 인가하는 스캔 라인;유기전계발광소자;제1전원전압을 공급하는 제1전원전압부;초기화전압을 공급하는 초기화전압부;상기 유기전계발광소자에 전류를 공급하는 제1트랜지스터;상기 제1트랜지스터를 다이오드 연결시키는 제2트랜지스터;상기 데이터 라인에 제1 전극이 연결되고, 상기 제1트랜지스터의 제1전극에 제2 전극이 연결되는 제3트랜지스터;상기 제1전원전압부와 초기화전압부에 전기적으로 연결되는 제1용량성소자;상기 제1용량성소자에 제1 전극이 전기적으로 연결되고, 상기 초기화전압부에 제2전극이 전기적으로 연결되는 제4트랜지스터;상기 제1전원전압부에 제1전극에 연결되고, 상기 제2트랜지스터의 제1전극에 제2 전극이 전기적으로 연결되는 제5트랜지스터;상기 제1트랜지스터의 제1전극에 제1 전극이 전기적으로 연결되고, 상기 유기전계발광소자의 제1전극에 제2 전극이 전기적으로 연결되는 제6트랜지스터 및상기 제3트랜지스터의 제어전극과 제1트랜지스터의 제어전극에 전기적으로 연결되는 제2용량성소자를 포함하며,상기 제1용량성소자의 제1전극 또는 제2전극은 진성반도체이고,탄성 재질의 실런트(sealant)에 의해 밀봉되는 구조로 형성되는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
- 제15항에 있어서,상기 제1트랜지스터는 구동트랜지스터이며, P 채널 타입의 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
- 제16항에 있어서,상기 P 채널 타입의 트랜지스터의 불순물은 Sb(animony), P(phosphorus) 및 As(arsenic) 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치
- 제16항에 있어서,상기 제6트랜지스터의 제어전극에 전기적으로 연결되는 발광제어선을 더 포함하는 유기 발광 표시 장치
- 제18항에 있어서,상기 제5트랜지스터는 상기 발광제어선에 제어 전극이 연결되어 있고, 상기 발광제어선의 신호에 응답하여, 상기 제1전원전압을 상기 제1 트랜지스터의 제2 전극에 인가하는 유기 발광 표시 장치.
- 제19항에 있어서,상기 제3트랜지스터는 스위칭 트랜지스터이며, 상기 스캔전압에 응답하여 상기 데이터 전압을 상기 제1 트랜지스터의 제1 전극에 전달하는 유기 발광 표시 장치.
- 제20항에 있어서,상기 제2트랜지스터는,상기 스캔 전압에 응답하여 턴온되어, 상기 제1 트랜지스터를 다이오드 연결시키는 유기 발광 표시 장치.
- 제21항에 있어서,상기 제4트랜지스터는,상기 스캔전압이 제어전극에 인가되며, 상기 스캔전압에 응답하여, 상기 초기화전압부의 전압을 상기 제1 용량성 소자에 인가하는 유기 발광 표시 장치.
- 데이터전압을 인가하는 데이터 라인;스캔전압을 인가하는 스캔 라인;유기전계발광소자;제1전원전압을 공급하는 제1전원전압부;초기화전압을 공급하는 초기화전압부;;상기 유기전계발광소자에 전류를 공급하는 제1트랜지스터;상기 제1트랜지스터를 다이오드 연결시키는 제2트랜지스터;상기 데이터 라인에 제1 전극이 연결되고, 상기 제1트랜지스터의 제1전극에 제2 전극이 연결되는 제3트랜지스터;상기 제1전원전압부와 초기화전압부에 전기적으로 연결되는 제1용량성소자;상기 제1용량성소자에 제1전극이 전기적으로 연결되고, 상기 초기화전압부에 제2전극이 전기적으로 연결되는 제4트랜지스터;상기 제1전원전압부에 제1전극에 연결되고, 상기 제2트랜지스터의 제1전극에 제2 전극이 전기적으로 연결되는 제5트랜지스터;상기 제1트랜지스터의 제1전극에 제1 전극이 전기적으로 연결되고, 상기 유기전계발광소자의 제1전극에 제2 전극이 전기적으로 연결되는 제6트랜지스터; 및상기 제3트랜지스터의 제어전극과 제1트랜지스터의 제어전극에 전기적으로 연결되는 제2용량성소자를 포함하며,상기 제1용량성소자의 제1전극 또는 제2전극은 진성반도체이고,실리콘 산화물(SiO2)을 함유하는 프릿(Frit)에 의해 밀봉되는 구조로 형성되는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
- 제23항에 있어서,상기 제1트랜지스터는 구동트랜지스터이며, P 채널 타입의 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치.
- 제24항에 있어서,상기 P 채널 타입의 트랜지스터의 불순물은 Sb(animony), P(phosphorus) 및 As(arsenic) 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치
- 제24항에 있어서,상기 제6트랜지스터의 제어전극에 전기적으로 연결되는 발광제어선을 더 포함하는 유기 발광 표시 장치
- 제26항에 있어서,상기 제5트랜지스터는 상기 발광제어선에 제어 전극이 연결되어 있고, 상기 발광제어선의 신호에 응답하여, 상기 제1전원전압을 상기 제1 트랜지스터의 제2 전극에 인가하는 유기 발광 표시 장치.
- 제27항에 있어서,상기 제3트랜지스터는 스위칭 트랜지스터이며, 상기 스캔전압에 응답하여 상기 데이터 전압을 상기 제1 트랜지스터의 제1 전극에 전달하는 유기 발광 표시 장 치.
- 제28항에 있어서,상기 제2트랜지스터는,상기 스캔 전압에 응답하여 턴온되어, 상기 제1 트랜지스터를 다이오드 연결시키는 유기 발광 표시 장치.
- 제29항에 있어서,상기 제4트랜지스터는,상기 스캔전압이 제어전극에 인가되며, 상기 스캔전압에 응답하여, 상기 초기화전압부의 전압을 상기 제1 용량성 소자에 인가하는 유기 발광 표시 장치.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060075177A KR100778514B1 (ko) | 2006-08-09 | 2006-08-09 | 유기 발광 표시 장치 |
US11/783,710 US7777700B2 (en) | 2006-08-09 | 2007-04-11 | Pixel having intrinsic semiconductor as an electrode and electroluminescent displays employing such a pixel |
CN200710102147A CN100590881C (zh) | 2006-08-09 | 2007-04-29 | 以本征半导体为电极的像素和采用其的电致发光显示器 |
JP2007164810A JP5030682B2 (ja) | 2006-08-09 | 2007-06-22 | 有機発光表示装置 |
EP07252804A EP1887625A3 (en) | 2006-08-09 | 2007-07-13 | Pixel having intrinsic semiconductor as electrode and electroluminescent displays employing such a pixel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060075177A KR100778514B1 (ko) | 2006-08-09 | 2006-08-09 | 유기 발광 표시 장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100778514B1 true KR100778514B1 (ko) | 2007-11-22 |
Family
ID=38668993
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060075177A KR100778514B1 (ko) | 2006-08-09 | 2006-08-09 | 유기 발광 표시 장치 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7777700B2 (ko) |
EP (1) | EP1887625A3 (ko) |
JP (1) | JP5030682B2 (ko) |
KR (1) | KR100778514B1 (ko) |
CN (1) | CN100590881C (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8674346B2 (en) | 2011-01-10 | 2014-03-18 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light-emitting display device and method of manufacturing the same |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI443629B (zh) | 2008-12-11 | 2014-07-01 | Sony Corp | 顯示裝置、其驅動方法及電子設備 |
JP5309946B2 (ja) * | 2008-12-12 | 2013-10-09 | ソニー株式会社 | 表示装置および電子機器 |
KR101064452B1 (ko) * | 2010-02-17 | 2011-09-14 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 화소 및 이를 이용한 유기전계발광 표시장치 |
JP2011175103A (ja) * | 2010-02-24 | 2011-09-08 | Sony Corp | 画素回路、表示装置およびその駆動方法ならびに電子機器 |
KR102051103B1 (ko) * | 2012-11-07 | 2019-12-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 |
JP6042187B2 (ja) * | 2012-11-30 | 2016-12-14 | 株式会社ジャパンディスプレイ | Oled表示装置 |
KR101993334B1 (ko) * | 2013-04-01 | 2019-06-27 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치, 유기 발광 표시 장치의 리페어 방법 및 유기 발광 표시 장치의 구동 방법 |
US9911799B2 (en) | 2013-05-22 | 2018-03-06 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light-emitting display apparatus and method of repairing the same |
KR102175811B1 (ko) | 2014-09-17 | 2020-11-09 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
CN104318897B (zh) | 2014-11-13 | 2017-06-06 | 合肥鑫晟光电科技有限公司 | 一种像素电路、有机电致发光显示面板及显示装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060087885A (ko) * | 2005-01-31 | 2006-08-03 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전면발광 유기전계발광표시장치 |
KR100624314B1 (ko) | 2005-06-22 | 2006-09-19 | 삼성에스디아이 주식회사 | 발광표시장치 및 박막트랜지스터 |
KR100674243B1 (ko) | 2005-09-07 | 2007-01-25 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 유기 전계발광 표시장치 |
Family Cites Families (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0817238B2 (ja) * | 1991-07-12 | 1996-02-21 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
JPH05251702A (ja) * | 1992-03-05 | 1993-09-28 | Fujitsu Ltd | 薄膜トランジスタ及びそれを用いた液晶表示装置 |
JP3949639B2 (ja) * | 1993-09-07 | 2007-07-25 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
JP2000068205A (ja) * | 1993-09-07 | 2000-03-03 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置の作製方法 |
JPH07209666A (ja) * | 1994-01-12 | 1995-08-11 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置 |
JP3556307B2 (ja) | 1995-02-01 | 2004-08-18 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | アクティブマトリクス表示装置 |
JPH09283443A (ja) * | 1996-04-15 | 1997-10-31 | Casio Comput Co Ltd | 半導体薄膜の製造方法 |
JPH1117185A (ja) * | 1997-06-20 | 1999-01-22 | Hitachi Ltd | 液晶表示装置及びその製造方法 |
JPH11135796A (ja) | 1997-10-30 | 1999-05-21 | Sharp Corp | 液晶表示装置 |
US6593592B1 (en) * | 1999-01-29 | 2003-07-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device having thin film transistors |
JP2000228368A (ja) * | 1999-02-05 | 2000-08-15 | Sony Corp | 基板の製造方法および半導体装置の製造方法 |
JP4968996B2 (ja) * | 2000-09-01 | 2012-07-04 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
JP3449363B2 (ja) | 2001-05-07 | 2003-09-22 | 株式会社日立製作所 | アクティブマトリクス型表示装置 |
JP3870755B2 (ja) * | 2001-11-02 | 2007-01-24 | 松下電器産業株式会社 | アクティブマトリクス型表示装置及びその駆動方法 |
US7145543B2 (en) * | 2002-02-06 | 2006-12-05 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Image display unit |
JP2003228346A (ja) * | 2002-02-06 | 2003-08-15 | Mitsubishi Electric Corp | 液晶表示装置ならびにそれを備える携帯電話機および携帯情報端末機器 |
JP3972359B2 (ja) * | 2002-06-07 | 2007-09-05 | カシオ計算機株式会社 | 表示装置 |
US7109952B2 (en) * | 2002-06-11 | 2006-09-19 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Light emitting display, light emitting display panel, and driving method thereof |
KR20040078646A (ko) * | 2002-10-11 | 2004-09-10 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 표시장치 |
KR100497247B1 (ko) * | 2003-04-01 | 2005-06-23 | 삼성에스디아이 주식회사 | 발광 표시 장치 및 그 표시 패널과 구동 방법 |
KR101006439B1 (ko) * | 2003-11-12 | 2011-01-06 | 삼성전자주식회사 | 박막 트랜지스터 표시판의 제조 방법 |
JP2005175257A (ja) * | 2003-12-12 | 2005-06-30 | Sharp Corp | 結晶性膜の製造方法 |
GB2411758A (en) * | 2004-03-04 | 2005-09-07 | Seiko Epson Corp | Pixel circuit |
KR100611886B1 (ko) * | 2004-06-25 | 2006-08-11 | 삼성에스디아이 주식회사 | 개량된 구조의 트랜지스터를 구비한 화소 회로 및 유기발광 표시장치 |
KR100592641B1 (ko) * | 2004-07-28 | 2006-06-26 | 삼성에스디아이 주식회사 | 화소 회로 및 그것을 채용한 유기 발광 표시 장치 |
US7557369B2 (en) * | 2004-07-29 | 2009-07-07 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | Display and method for manufacturing the same |
US7589707B2 (en) * | 2004-09-24 | 2009-09-15 | Chen-Jean Chou | Active matrix light emitting device display pixel circuit and drive method |
WO2006038174A2 (en) * | 2004-10-01 | 2006-04-13 | Chen-Jean Chou | Light emitting device display and drive method thereof |
JP2006156035A (ja) * | 2004-11-26 | 2006-06-15 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 表示装置 |
KR101112549B1 (ko) * | 2005-01-31 | 2012-06-12 | 삼성전자주식회사 | 박막 트랜지스터 표시판 |
US8044891B2 (en) * | 2005-08-05 | 2011-10-25 | Chimei Innolux Corporation | Systems and methods for providing threshold voltage compensation of pixels |
US7636074B2 (en) * | 2006-06-28 | 2009-12-22 | Eastman Kodak Company | Active matrix display compensating apparatus |
-
2006
- 2006-08-09 KR KR1020060075177A patent/KR100778514B1/ko active IP Right Grant
-
2007
- 2007-04-11 US US11/783,710 patent/US7777700B2/en active Active
- 2007-04-29 CN CN200710102147A patent/CN100590881C/zh active Active
- 2007-06-22 JP JP2007164810A patent/JP5030682B2/ja active Active
- 2007-07-13 EP EP07252804A patent/EP1887625A3/en not_active Ceased
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060087885A (ko) * | 2005-01-31 | 2006-08-03 | 삼성에스디아이 주식회사 | 전면발광 유기전계발광표시장치 |
KR100624314B1 (ko) | 2005-06-22 | 2006-09-19 | 삼성에스디아이 주식회사 | 발광표시장치 및 박막트랜지스터 |
KR100674243B1 (ko) | 2005-09-07 | 2007-01-25 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 유기 전계발광 표시장치 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8674346B2 (en) | 2011-01-10 | 2014-03-18 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light-emitting display device and method of manufacturing the same |
USRE46935E1 (en) | 2011-01-10 | 2018-07-03 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light emitting display device and method of manufacturing the same |
USRE48708E1 (en) | 2011-01-10 | 2021-08-24 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light emitting display device and method of manufacturing the same |
USRE49891E1 (en) | 2011-01-10 | 2024-03-26 | Samsung Display Co., Ltd. | Organic light emitting display device and method of manufacturing the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20080035931A1 (en) | 2008-02-14 |
JP5030682B2 (ja) | 2012-09-19 |
US7777700B2 (en) | 2010-08-17 |
JP2008040478A (ja) | 2008-02-21 |
CN100590881C (zh) | 2010-02-17 |
EP1887625A3 (en) | 2011-04-27 |
EP1887625A2 (en) | 2008-02-13 |
CN101123266A (zh) | 2008-02-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100778514B1 (ko) | 유기 발광 표시 장치 | |
US20240177676A1 (en) | Pixel driving circuit and driving method therefor, display substrate, and display device | |
US11030953B2 (en) | Pixel and organic light emitting display device having the same | |
US7839364B2 (en) | Pixel circuit of organic light emitting display | |
US20190259785A1 (en) | Pixel circuit of active-matrix light-emitting diode comprising oxide semiconductor transistor and silicon semiconductor transistor and display panel having the same | |
US8212247B2 (en) | Organic light emitting display device and fabricating method thereof | |
US7812796B2 (en) | Pixel circuit of organic light emitting display | |
US7859491B2 (en) | Pixel circuit of organic light emitting display | |
US20210383752A1 (en) | Pixel circuit, driving method thereof and display device | |
KR101458373B1 (ko) | 유기전계 발광 디스플레이 장치 | |
US20190304368A1 (en) | Pixel circuitry, driving method thereof and display device | |
US20110273419A1 (en) | Pixel circuit of a flat panel display device and method of driving the same | |
CN111771283A (zh) | 具有金属氧化物开关的小型存储电容器的薄膜晶体管 | |
CN102473737B (zh) | 发光显示装置及其制造方法 | |
CN108807375B (zh) | 微型显示装置和显示集成电路 | |
KR20180127598A (ko) | 다채널 박막 트랜지스터 및 이를 포함하는 화소 | |
CN107369412B (zh) | 一种像素电路及其驱动方法、显示装置 | |
US20170236469A1 (en) | Pixel compensation circuit and display device | |
CN106652910B (zh) | 像素电路及其驱动方法和有机发光显示器 | |
KR20240152795A (ko) | 박막 트랜지스터 어레이 기판 및 표시장치 | |
US7274036B2 (en) | Gate shorted to body thin film transistor, manufacturing method thereof, and display including the same | |
KR100878066B1 (ko) | 평판 표시 장치 | |
US7420554B2 (en) | Display and semiconductor device | |
US12022691B2 (en) | Organic light emitting display device with shielding pattern configured to improve light transmittance | |
KR20140062862A (ko) | 유기발광 디스플레이 장치와 이의 제조방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121102 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131031 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141030 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151030 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171101 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181101 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191028 Year of fee payment: 13 |