JP2006033091A - Sensor unit and sensor signal processing circuit - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン、圧力センサ、セキュリティ・センサ、高低差センサ、加速度センサ、生体信号センサなど、静電容量型のセンサ素子を用いたセンサユニット及びこのようなセンサユニットに付加されるセンサ信号処理回路に関する。 The present invention is added to a sensor unit using a capacitive sensor element such as an electric condenser microphone, a pressure sensor, a security sensor, a height difference sensor, an acceleration sensor, a biological signal sensor, and such a sensor unit. The present invention relates to a sensor signal processing circuit.
エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニットのような、静電容量型のセンサ素子のセンサユニットは、従来、例えば特許文献1に示すように、接合型電界効果トランジスタ(FET:Field Effect Transistor)のゲートとソース間に、センサ素子と、ダイオードと、ゲート抵抗とを接続し、FETのゲートとソースからそれぞれ端子を導出するように構成されている。
A sensor unit of an electrostatic capacitance type sensor element such as an electric condenser microphone unit has conventionally been a gate and source of a junction field effect transistor (FET) as shown in
図9は、従来のエレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット101の一例を示すものである。この例では、センサ素子として、ECM(エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン)エレメントを用いている。ECMは、音圧による圧力の変化を静電容量の変化として受け、音圧信号を出力する。なお、同様の原理を用いたセンサとしては、圧力センサ、セキュリティ・センサ、高低差センサ、加速度センサ、生体信号センサ等がある。
FIG. 9 shows an example of a conventional electric
図9において、FET111のゲートとソース間に、ECMエレメント113と、抵抗114と、ダイオード115とが接続される。FET111のドレインから、端子121が導出される。FET111のソースから、端子123が導出される。
In FIG. 9, an
このような従来のエレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット101を使用する場合には、図10に示すように、端子121が負荷抵抗130を介して電源VDDに接続され、端子121と負荷抵抗130との接続点から出力端子131を導出する。そして、端子123が接地される。
When such a conventional electric
図10において、ECMエレメント113に音圧が与えられると、ECMエレメント113は、音圧による圧力の変化を容量の変化として受け、音圧信号を出力する。この音圧信号は、FET111からなるソース接地型増幅回路により増幅され、出力端子131から出力される。
In FIG. 10, when a sound pressure is applied to the
なお、抵抗114はFET111のゲートにバイアスを与えるためのゲート抵抗、ダイオード115はゲートに印可される過大信号をバイパスさせるための保護用ダイオードである。
The
このように、従来のエレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット101は、ECMエレメント113の圧力の変化を容量の変化としてFET111のゲートに印加し、FET111によりソース接地接合型FET増幅回路を構成し、FET111のゲート電圧の変化をドレイン電流の変化として出力するようにしている。
As described above, the conventional electric
ソース接地接合型FETの増幅回路の電圧増幅率は、FET111の相互コンダクタンスgmを用いて、式(1)で現すことができる。相互コンダクタンスgmは、接合型FETのゲート・ソース間電圧VGSの変化に対するドレイン電流IDの変化である。接合型FETのVGS−ID特性は、図11のような二次曲線特性となる。相互コンダクタンスgmは、このゲート・ソース間電圧VGSとドレイン電流IDとの二次曲線特性における傾き値となる。ここで、IDSSはVGS=0の時の最大飽和電流、Vpはゲートピンチオフ電圧である。
The voltage amplification factor of the amplifying circuit of the common source junction FET can be expressed by Equation (1) using the mutual conductance g m of the
静電容量型のセンサ素子を用いてセンサ出力を得る際に、所望の増幅率が得られ、然も、消費電力を低減させることが望まれる。ところが、上述の従来のエレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット101では、ソース接地型の増幅回路の構成になり、電圧増幅率を上げると、消費電力が大きくなるという問題がある。また、負荷抵抗130の抵抗値を大きくして電圧増幅率を上げると、ダイナミックレンジが狭くなるという問題が生じてくる。
When obtaining a sensor output using a capacitive sensor element, it is desired to obtain a desired amplification factor and to reduce power consumption. However, the above-described conventional electric
つまり、ソース接地型FET増幅回路では、(1)式から、任意の電圧増幅率を得るために変更することが可能なパラメータは、負荷抵抗130の抵抗値RLの値と相互コンダクタンスgmの値となる。
In other words, in the common source FET amplifier circuit, the parameter that can be changed to obtain an arbitrary voltage amplification factor from the equation (1) is the value of the resistance value RL of the
(1)式より、増幅率を大きくするためには、相互コンダクタンスgmの値を大きくすればよいが、相互コンダクタンスgmは接合型FETの特性値であり、任意の設定は不可能である。また、一般に、コンダクタンスgmが大きなFETは、飽和電流IDSSも大きい傾向がある。このため、増幅率を大きくするために、相互コンダクタンスgmの大きなFETを用いると、消費電流が増大するという問題が生じる。 (1) from the equation, in order to increase the amplification factor, may be increasing the value of the transconductance g m, the transconductance g m is the characteristic value of the junction FET, is any setting impossible . In general, an FET having a large conductance g m tends to have a large saturation current I DSS . Therefore, in order to increase the amplification factor, the use of large FET transconductance g m, there is a problem that current consumption increases.
また、(1)式より、増幅率を大きくするためには、負荷抵抗130の抵抗値RLの値を大きくすればよいが、負荷抵抗RLを大きくすると、出力直流電圧が下がることになり、出力ダイナミックレンジが狭くなるという問題がある。
Further, from equation (1), in order to increase the amplification factor, the resistance value RL of the
つまり、FET111を流れるバイアス電流をI0と置くと、(4)式に示すように、出力直流電圧は負荷抵抗RLの値の関数となる。(4)式より、負荷抵抗130の抵抗値RLを大きくすると、出力直流電圧が下がり、出力ダイナミックレンジの低下を招く。
That is, when the bias current flowing through the
センサ出力回路としては、電圧増幅率の設定と出力直流電圧の設定が独立して行えることが要求されるが、この従来の回路では、電圧増幅率を上げると出力直流電圧が下がり、電圧増幅率の設定と出力直流電圧の設定が独立して行えない。 The sensor output circuit is required to be able to set the voltage amplification factor and output DC voltage independently, but in this conventional circuit, increasing the voltage amplification factor lowers the output DC voltage, resulting in a voltage amplification factor. And output DC voltage cannot be set independently.
そこで、図12に示すように、次段にインターフェース回路を設ける場合、カップリングコンデンサ141を介して信号成分のみを取り出した後に、直流バイアス電圧をリファレンス電圧Vrefに揃える必要が生じる。
Therefore, as shown in FIG. 12, when an interface circuit is provided in the next stage, it is necessary to align the DC bias voltage with the reference voltage V ref after extracting only the signal component via the
つまり、図12に示すように、インターフェース回路のバッファとなる演算増幅回路142の出力端子と反転入力端子との間に、フィードバック抵抗144を接続し、抵抗130と端子121の接続点から得られる電圧出力を、カップリングコンデンサ141を介して、演算増幅回路142の非反転入力端子に供給する。また、演算増幅回路142の非反転入力端子に、抵抗143を介して、リファレンス電圧Vrefを与え、直流バイアス電圧をリファレンス電圧Vrefに揃える。
That is, as shown in FIG. 12, the
しかしながら、カップリングコンデンサ141を設けると、カップリングコンデンサ141の静電容量C1とバッファの入力抵抗143の抵抗値R1とから、遮断周波数1/(2πC1・R1)の高域通過フィルタが形成されため、低周波数成分を含んだセンサ信号が遮断されるという問題が生じる。特に、圧力センサのような低周信号成分を多く含む場合には、低周波数成分を含んだセンサ信号が遮断されることは、大きな問題となる。
However, when the
本発明は、上述の課題を鑑み、所定の増幅率が得られると共に、消費電流を抑えることができ、然も、周波数特性が改善でき、十分なダイナミックレンジを確保できるようにしたセンサユニット及びセンサ信号処理回路を提供することを目的とする。 In view of the above-described problems, the present invention provides a sensor unit and a sensor capable of obtaining a predetermined amplification factor, suppressing current consumption, improving frequency characteristics, and ensuring a sufficient dynamic range. An object is to provide a signal processing circuit.
上述の課題を解決するために、第1の発明は、第1の電界効果トランジスタのゲートと接地ライン間に、静電容量型のセンサ素子を接続し、第1の電界効果トランジスタのドレインから第1の端子を導出し、第1の電界効果トランジスタのソースから第2の端子を導出し、接地ラインから第3の端子を導出するようにしたことを特徴とする。 In order to solve the above-described problem, the first invention is configured such that a capacitive sensor element is connected between the gate of the first field effect transistor and the ground line, and the drain of the first field effect transistor is connected to the first field effect transistor. The first terminal is derived, the second terminal is derived from the source of the first field effect transistor, and the third terminal is derived from the ground line.
第2の発明は、第1の電界効果トランジスタのゲートと接地ライン間に、静電容量型のセンサ素子を接続し、第1の電界効果トランジスタのドレインから第1の端子を導出し、第1の電界効果トランジスタのソースから第2の端子を導出し、接地ラインから第3の端子を導出してセンサユニットを構成し、第2の端子に第2の電界効果トランジスタのソースを接続し、第1の電界効果トランジスタと第2の電界効果トランジスタとにより差動増幅回路を構成し、センサ素子の出力を差動増幅回路により増幅させて出力させるようにしたことを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, a capacitive sensor element is connected between the gate of the first field effect transistor and the ground line, the first terminal is derived from the drain of the first field effect transistor, The second terminal is derived from the source of the field effect transistor, the third terminal is derived from the ground line to constitute a sensor unit, the source of the second field effect transistor is connected to the second terminal, A differential amplifier circuit is constituted by one field effect transistor and a second field effect transistor, and the output of the sensor element is amplified by the differential amplifier circuit and output.
第3の発明は、第2の発明において、第1の電界効果トランジスタのソースと第2の電界効果トランジスタのソースとの接続点と接地間に抵抗を接続するようにしたことを特徴とする。 According to a third invention, in the second invention, a resistor is connected between a connection point between the source of the first field effect transistor and the source of the second field effect transistor and the ground.
第4の発明は、第2の発明において、第1の電界効果トランジスタのソースと第2の電界効果トランジスタのソースとの接続点と接地間に定電流源を接続するようにしたことを特徴とする。 According to a fourth invention, in the second invention, a constant current source is connected between a connection point between the source of the first field effect transistor and the source of the second field effect transistor and the ground. To do.
第5の発明は、第2の発明において、第1の電界効果トランジスタ及び/又は第2の電界効果トランジスタのドレインに負荷抵抗を接続し、負荷抵抗により差動増幅回路の出力を電圧で取り出すようにしたことを特徴とする。 According to a fifth invention, in the second invention, a load resistor is connected to the drains of the first field effect transistor and / or the second field effect transistor, and the output of the differential amplifier circuit is extracted as a voltage by the load resistor. It is characterized by that.
第6の発明は、第5の発明において、差動増幅回路の電圧出力からカップリングコンデンサにより信号電圧を取り出し、バッファ回路に送るようにしたことを特徴とする。 A sixth invention is characterized in that, in the fifth invention, the signal voltage is extracted from the voltage output of the differential amplifier circuit by a coupling capacitor and is sent to the buffer circuit.
第7の発明は、第1の電界効果トランジスタ及び第2の電界効果トランジスタのドレインに、第1のカレントミラー回路及び第2のカレントミラー回路からなる能動負荷を接続し、第1のカレントミラー回路により第1の電界効果トランジスタを流れる電流を取り出し、第2のカレントミラー回路により第2の電界効果トランジスタを流れる電流を取り出し、第1のカレントミラー回路の出力電流と第2のカレントミラー回路の出力電流の差電流を差動増幅回路のシングル出力電流として取り出すようにしたことを特徴とする。 In a seventh aspect of the present invention, an active load comprising a first current mirror circuit and a second current mirror circuit is connected to the drains of the first field effect transistor and the second field effect transistor, and the first current mirror circuit is provided. To extract the current flowing through the first field effect transistor, and the second current mirror circuit to extract the current flowing through the second field effect transistor. The output current of the first current mirror circuit and the output of the second current mirror circuit It is characterized in that the current difference current is taken out as a single output current of the differential amplifier circuit.
第8の発明は、第7の発明において、差動増幅回路のシングル出力電流を信号電圧に変換し、バッファ回路に送るようにしたことを特徴とする。 The eighth invention is characterized in that, in the seventh invention, the single output current of the differential amplifier circuit is converted into a signal voltage and sent to the buffer circuit.
第9の発明は、第1の電界効果トランジスタのゲートと接地ライン間に、静電容量型のセンサ素子を接続し、第1の電界効果トランジスタのドレインから第1の端子を導出し、第1の電界効果トランジスタのソースから第2の端子を導出し、接地ラインから第3の端子を導出してセンサユニットを構成し、第1の端子に電流増幅型のカレントミラー回路を接続し、第2の端子と第3の端子との間にソース抵抗を接続し、センサ素子の出力を電流増幅型のカレントミラー回路により電流増幅させて出力させるようにしたことを特徴とする。 According to a ninth aspect of the present invention, a capacitive sensor element is connected between the gate of the first field effect transistor and the ground line, the first terminal is derived from the drain of the first field effect transistor, The second terminal is derived from the source of the field effect transistor, the third terminal is derived from the ground line to constitute a sensor unit, a current amplification type current mirror circuit is connected to the first terminal, and the second terminal A source resistor is connected between the first terminal and the third terminal, and the output of the sensor element is output by amplifying the current with a current amplification type current mirror circuit.
第10の発明は、第9の発明において、電流増幅型のカレントミラー回路からの電流出力を電流電圧変換回路により信号電圧に変換し、バッファ回路に送るようにしたことを特徴とする。 According to a tenth aspect, in the ninth aspect, the current output from the current amplification type current mirror circuit is converted into a signal voltage by a current-voltage conversion circuit and sent to a buffer circuit.
第1の発明によれば、第1の電界効果トランジスタのゲートと接地ライン間に、静電容量型のセンサ素子を接続し、第1の電界効果トランジスタのドレインから第1の端子を導出し、第1の電界効果トランジスタのソースから第2の端子を導出し、接地ラインから第3の端子を導出するようにしているので、第1の電界効果トランジスタのゲートと、接地とを、それぞれ分離して出力することができ、付加回路を接続して、消費電流の低減を図り、ダイナミックレンジを低下させることなく、電圧増幅率を上げることができる。 According to the first invention, a capacitive sensor element is connected between the gate of the first field effect transistor and the ground line, and the first terminal is derived from the drain of the first field effect transistor, Since the second terminal is derived from the source of the first field effect transistor and the third terminal is derived from the ground line, the gate of the first field effect transistor and the ground are separated from each other. By connecting an additional circuit, the current consumption can be reduced, and the voltage amplification factor can be increased without lowering the dynamic range.
第2の発明によれば、第1の電界効果トランジスタのゲートと接地ライン間に、静電容量型のセンサ素子を接続し、第1の電界効果トランジスタのドレインから第1の端子を導出し、第1の電界効果トランジスタのソースから第2の端子を導出し、接地ラインから第3の端子を導出してセンサユニットを構成し、第2の端子に第2の電界効果トランジスタのソースを接続し、第1の電界効果トランジスタと第2の電界効果トランジスタとにより差動増幅回路を構成し、センサ素子の出力を差動増幅回路により増幅させて出力させるようにしているので、電圧増幅率を上げ、消費電流の低減を図ることができる。 According to the second invention, the capacitive sensor element is connected between the gate of the first field effect transistor and the ground line, and the first terminal is derived from the drain of the first field effect transistor, The second terminal is derived from the source of the first field effect transistor, the third terminal is derived from the ground line to constitute a sensor unit, and the source of the second field effect transistor is connected to the second terminal. Since the first field effect transistor and the second field effect transistor constitute a differential amplifier circuit, and the output of the sensor element is amplified by the differential amplifier circuit, the voltage amplification factor is increased. Thus, current consumption can be reduced.
第3の発明によれば、第1の電界効果トランジスタのソースと第2の電界効果トランジスタのソースとの接続点と接地間に抵抗を接続することで、第1の電界効果トランジスタのソースと第2の電界効果トランジスタとからなる差動増幅回路に定電流を流すことができる。 According to the third invention, the resistance is connected between the connection point between the source of the first field effect transistor and the source of the second field effect transistor and the ground, so that the source of the first field effect transistor and the second field effect transistor are connected. A constant current can be passed through a differential amplifier circuit composed of two field effect transistors.
第4の発明によれば、第1の電界効果トランジスタのソースと第2の電界効果トランジスタのソースとの接続点と接地間に定電流源を接続することで、第1の電界効果トランジスタのソースと第2の電界効果トランジスタとからなる差動増幅回路に定電流を流すことができる。 According to the fourth invention, the source of the first field effect transistor is connected by connecting the constant current source between the connection point between the source of the first field effect transistor and the source of the second field effect transistor and the ground. And a second field effect transistor, a constant current can be passed through the differential amplifier circuit.
第5の発明によれば、第1の電界効果トランジスタ及び/又は第2の電界効果トランジスタのドレインに負荷抵抗を接続し、負荷抵抗により差動増幅回路の出力電圧を取り出すことで、差動増幅器の電圧出力を取り出すことができる。 According to the fifth aspect of the present invention, the load resistance is connected to the drain of the first field effect transistor and / or the second field effect transistor, and the output voltage of the differential amplifier circuit is taken out by the load resistance, so that the differential amplifier Voltage output can be taken out.
第6の発明によれば、差動増幅回路の電圧出力からカップリングコンデンサにより信号電圧を取り出し、バッファ回路に送るようにしたことを特徴とする。 According to a sixth aspect of the invention, the signal voltage is extracted from the voltage output of the differential amplifier circuit by the coupling capacitor and sent to the buffer circuit.
第7の発明によれば、第1の電界効果トランジスタ及び第2の電界効果トランジスタのドレインに、第1のカレントミラー回路及び第2のカレントミラー回路からなる能動負荷を接続し、第1のカレントミラー回路により第1の電界効果トランジスタを流れる電流を取り出し、第2のカレントミラー回路により第2の電界効果トランジスタを流れる電流を取り出し、第1のカレントミラー回路の出力電流と第2のカレントミラー回路の出力電流の差電流を差動増幅回路のシングル出力電流として取り出すようにしているので、差動増幅器の電流出力を取り出すことができる。 According to the seventh invention, the active load comprising the first current mirror circuit and the second current mirror circuit is connected to the drains of the first field effect transistor and the second field effect transistor, and the first current The current flowing through the first field effect transistor is extracted by the mirror circuit, the current flowing through the second field effect transistor is extracted by the second current mirror circuit, the output current of the first current mirror circuit and the second current mirror circuit Since the difference current between the output currents is taken out as a single output current of the differential amplifier circuit, the current output of the differential amplifier can be taken out.
第8の発明によれば、差動増幅回路のシングル出力電流を得るようにして信号電圧を次段のバッファ回路に送ることで、カップリングコンデンサを用いずに、信号電圧を次段のバッファ回路に送ることができ、周波数特性が改善される。 According to the eighth invention, the signal voltage is sent to the next stage buffer circuit so as to obtain the single output current of the differential amplifier circuit, so that the signal voltage can be sent to the next stage buffer circuit without using the coupling capacitor. The frequency characteristics are improved.
第9の発明によれば、第1の電界効果トランジスタのゲートと接地ライン間に、静電容量型のセンサ素子を接続し、第1の電界効果トランジスタのドレインから第1の端子を導出し、第1の電界効果トランジスタのソースから第2の端子を導出し、接地ラインから第3の端子を導出してセンサユニットを構成し、第1の端子に電流増幅型のカレントミラー回路を接続し、第2の端子と第3の端子との間にソース抵抗を接続し、センサ素子の出力を電流増幅型のカレントミラー回路により電流増幅させて出力させるようにしているので、電圧増幅率を下げることなく、消費電流の低減を図ることができる。 According to the ninth invention, a capacitive sensor element is connected between the gate of the first field effect transistor and the ground line, and the first terminal is derived from the drain of the first field effect transistor, A second terminal is derived from the source of the first field-effect transistor, a third terminal is derived from the ground line to constitute a sensor unit, and a current amplification type current mirror circuit is connected to the first terminal; Since the source resistance is connected between the second terminal and the third terminal, and the output of the sensor element is output by amplifying the current with a current amplification type current mirror circuit, the voltage amplification factor is lowered. In addition, current consumption can be reduced.
第10の発明によれば、電流増幅型のカレントミラー回路からの電流出力を電流電圧変換回路により信号電圧に変換し、バッファ回路に送るようにすることで、カップリングコンデンサを用いずに、信号電圧を次段のバッファ回路に送ることができ、周波数特性が改善できる。 According to the tenth aspect of the present invention, the current output from the current amplification type current mirror circuit is converted into the signal voltage by the current-voltage conversion circuit and sent to the buffer circuit, so that the signal can be output without using the coupling capacitor. The voltage can be sent to the next buffer circuit, and the frequency characteristics can be improved.
第1実施形態.
以下、本発明の実施形態について図面を参照しながら説明する。図1は、本発明の第1実施形態のエレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1を示すものである。本発明が適用されたエレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1では、図1に示すように、電界効果トランジスタ11のゲートと接地ライン12との間に、ECM(エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン)エレメント13と、ゲート抵抗14と、ダイオード15とが接続される。FET11のドレインが端子21に接続され、FET11のソースが端子22に接続され、接地ライン12が端子23に接続される。
First embodiment.
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 shows an electric
ECMエレメント13は、音圧による圧力の変化を静電容量の変化として受け、音圧信号を出力する。なお、同様の原理を用いたセンサとしては、圧力センサ、セキュリティ・センサ、高低差センサ、加速度センサ、生体信号センサ等がある。この例では、センサ素子としてECMエレメント13を用い、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1の構成としているが、他の静電容量型のセンサユニットも同様に構成できる。
The
抵抗14はFET11のゲートにバイアスを与えるためのゲート抵抗、ダイオード15はゲートに印可される過大信号をバイパスさせるための保護用ダイオードである。
The
本発明が適用されたエレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1は、このように、FET11のソースと、接地ライン12とを離し、FET11のソースと接地ライン12とから端子22及び端子23をそれぞれ別々に導出するようにしている。このように、FET11のソースから導出される端子22と、接地ライン12から導出される端子23とを別々に設けることにより、以下に述べるような付加回路を付加して、消費電力の低減を図り、所望の増幅度を得ることが可能になる。図1に示すエレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1に付加回路を接続した実施形態について、以下に説明する。
In this way, the electric
第2実施形態.
図2は、本発明の第2実施形態のセンサ信号処理回路を示すものである。この例では、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1内のFET11と同様な特性のFET31を外部から付加し、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1内のFET11と、外部から付加したFET31とから、差動増幅回路を構成するようにしている。本発明が適用されたエレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1は、上述のように、FET11のソースと接地ライン12とから端子22及び端子23をそれぞれ別々に導出しているので、このように、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1内のFET11に、外部のFET31を付加して、差動増幅回路を構成することが可能となる。
Second embodiment.
FIG. 2 shows a sensor signal processing circuit according to a second embodiment of the present invention. In this example, an
図2において、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1の端子22は、FET31のソースに接続されると共に、抵抗33を介して接地される。抵抗33は、差動増幅回路の定電流源を作るためのものである。端子23は接地される。端子21は、抵抗32を介して、電源VDDに接続される。
In FIG. 2, the
FET31のゲートと接地間に、抵抗34が接続される。抵抗34はバイアスを与えるためのゲート抵抗であり、抵抗34の抵抗値は、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1内の抵抗14と同様のものが用いられる。FET31のドレインは、抵抗35を介して電源VDDに接続される。端子21と抵抗32の接続点から出力端子36が導出され、FET31のドレインと抵抗35の接続点から出力端子37が導出される。
A
このように、この実施形態では、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1内のFET11と同様な特性のFET31を用意し、このFET31のソースを端子22に接続することで、FET11及びFET31からなる差動増幅回路を構成するようにしている。ECMエレメント13の出力は、FET11及びFET31からなる差動増幅回路により増幅されて、出力端子36及び37から出力される。なお、この例では、FET11及びFET31からなる差動増幅回路の出力は、出力端子36及び37から、差動の電圧出力で出力される。
As described above, in this embodiment, the
このような構成では、FET11とFET31とが差動増幅回路として動作するので、電圧増幅率は以下のようになる。相互コンダクタンスgmは、(6)式で表すことができる。VTは熱電圧であり、この熱電圧VTは、電荷量qと、ボルツマン定数k、絶対温度Tを用いて(7)式で表すことができる。
In such a configuration, since the
第3実施形態.
なお、上述の例では、FET11及びFET31のソースと接地間に抵抗33を接続し、この抵抗33を、FET11とFET31とからなる差動増幅回路のエミッタの定電流源としていたが、図3に示すように、FET11のソースと接地間に定電流源38を接続するようにしてもよい。
Third embodiment.
In the above example, the
第4実施形態.
図4は本発明の第4実施形態を示すものである。この実施形態は、図2に示すセンサ信号処理回路の次段にインターフェース回路を設けるようにしたものである。なお、図4において、図2と同一部分については、同一符号を付し、その説明を省略する。
Fourth embodiment.
FIG. 4 shows a fourth embodiment of the present invention. In this embodiment, an interface circuit is provided at the next stage of the sensor signal processing circuit shown in FIG. 4 that are the same as those in FIG. 2 are assigned the same reference numerals, and descriptions thereof are omitted.
図4において、抵抗32と端子21との接続点からは、FET11とFET31とからなる差動増幅回路の電圧出力が得られる。この抵抗32と端子21との接続点は、カップリングコンデンサ41を介して、演算増幅回路42の非反転入力端子に接続される。また、演算増幅回路42の非反転入力端子には、抵抗43を介して、リファレンス電圧Vrefが与えられる。演算増幅回路42の出力端子と反転入力端子との間に、フィードバック抵抗44が接続される。演算増幅回路42の出力端子から、出力端子45が導出される。
In FIG. 4, the voltage output of the differential amplifier circuit composed of the
図2に示すセンサ信号処理回路では、FET11とFET31とが差動増幅回路として動作するので、抵抗32の抵抗値を大きくしなくても、十分な利得を得ることができる。このため、出力直流電圧が下がらず、ダイナミックを広くとることができる。
In the sensor signal processing circuit shown in FIG. 2, since the
第5実施形態.
図5は本発明の第5実施形態のセンサ信号処理回路を示すものである。この例では、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1内のFET11と同様な特性のFET51を外部から付加し、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1内のFET11と、外部から付加したFET51とから、差動増幅回路を構成するようにしている。そして、この差動増幅回路に対する負荷回路として、カレントミラー回路を用いたアクティブ負荷を接続し、更に、差動出力をシングル出力に変換して、電流で出力させるようにしている。
Fifth embodiment.
FIG. 5 shows a sensor signal processing circuit according to a fifth embodiment of the present invention. In this example, an
図5において、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1の端子22には、FET51のソースが接続される。FET51のソースと接地間に、定電流源53が接続される。端子23は接地される。FET51のゲートと接地間には、抵抗54が接続される。抵抗54はバイアスを与えるためのゲート抵抗であり、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1内の抵抗14の抵抗値と同様のものが用いられる。
In FIG. 5, the source of the
端子21は、PNP型トランジスタ61のコレクタに接続される。トランジスタ61のベースとそのコレクタとが接続され、トランジスタ61のベースとPNP型トランジスタ62のベースとが共通接続され、トランジスタ61及びトランジスタ62によりカレントミラー回路が構成される。トランジスタ61及び62のエミッタは電源Vccに接続される。
FET51のドレインは、PNP型トランジスタ63のコレクタに接続される。トランジスタ63のベースとそのコレクタとが接続され、トランジスタ63のベースとPNP型トランジスタ64のベースとが共通接続され、トランジスタ63及びトランジスタ64によりカレントミラー回路が構成される。トランジスタ63及び64のエミッタは電源Vccに接続される。
The drain of the
トランジスタ64のコレクタは、NPN型トランジスタ65のコレクタに接続される。トランジスタ62のコレクタは、NPN型トランジスタ66のコレクタに接続される。
The collector of the
トランジスタ65のベースとそのコレクタとが接続され、トランジスタ65のベースとトランジスタ66のベースとが共通接続され、トランジスタ65及びトランジスタ66によりカレントミラー回路が構成される。トランジスタ65及びトランジスタ66のエミッタは接地される。
The base of the
トランジスタ62のコレクタとトランジスタ66のコレクタとの接続点から、電流出力端子67が導出される。
A
図5に示すセンサ信号処理回路では、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1内のFET11と、外部から付加したFET51とから、差動増幅回路が構成される。この差動増幅回路に対して、トランジスタ61及びトランジスタ62からなるカレントミラー回路と、トランジスタ63及びトランジスタ64からなるカレントミラー回路とがアクティブ負荷として接続される。そして、トランジスタ62と、トランジスタ66とを直列に接続し、トランジスタ62とトランジスタ66の接続点から出力端子67を導出することにより、この差動出力をシングル出力に変換して、電流で出力させるようにしている。
In the sensor signal processing circuit shown in FIG. 5, a differential amplifier circuit is constituted by the
つまり、定電流源53の電流をIとし、信号電流をiとすると、FET11には(I/2+i)なる電流が流れ、FET51には(I/2−i)なる電流が流れる。
That is, when the current of the constant
FET11に(I/2+i)なる電流が流れると、FET11に直列に接続されているトランジスタ61に、(I/2+i)なる電流が流れる。トランジスタ61とトランジスタ62はカレントミラー回路を構成しているので、トランジスタ61に(I/2+i)なる電流が流れると、トランジスタ62には、それと同様の(I/2+i)なる電流が流れる。
When a current (I / 2 + i) flows through the
FET51に(I/2−i)なる電流が流れると、FET51に直列に接続されているトランジスタ63に、(I/2−i)なる電流が流れる。トランジスタ63とトランジスタ64はカレントミラー回路を構成しているので、トランジスタ63に(I/2−i)なる電流が流れると、トランジスタ64には、それと同様の(I/2−i)なる電流が流れる。トランジスタ64とトランジスタ65とは直列に接続されているので、トランジスタ64に(I/2−i)なる電流が流れると、トランジスタ65には、(I/2−i)なる電流が流れる。
When a current (I / 2-i) flows through the
トランジスタ65とトランジスタ66はカレントミラー回路を構成しているので、トランジスタ65に(I/2−i)なる電流が流れると、トランジスタ66に(I/2−i)なる電流が流れる。
Since the
トランジスタ62を流れる電流は、電流出力端子67から出力される電流Ioutと、トランジスタ66を流れる電流との和になる。トランジスタ62を流れる電流は(I/2+i)であり、トランジスタ66を流れる電流は(I/2−i)であるから、
(I/2+i)=Iout+(I/2−i)
となり、出力電流Ioutは、
Iout=(I/2+i)−(I/2−i)=2i
となる。
The current flowing through the
(I / 2 + i) = I out + (I / 2−i)
And the output current I out is
I out = (I / 2 + i) − (I / 2−i) = 2i
It becomes.
このように、図5に示すセンサ信号処理回路では、電流出力端子67からは、FET11及びFET51からなる差動増幅回路の出力は、シングル出力に変換され、電流出力で出力される。
As described above, in the sensor signal processing circuit shown in FIG. 5, the output of the differential amplifier circuit composed of the
なお、上述の例では、バイポーラトランジスタを用いた一般的なカレントミラー回路を用いているが、FETのカレントミラー回路や、ウィルソン型のカレントミラー回路を用いるようにしてもよい。 In the above example, a general current mirror circuit using a bipolar transistor is used, but a current mirror circuit of FET or a Wilson type current mirror circuit may be used.
第6実施形態.
図6は本発明の第6実施形態を示すものである。この実施形態は、図5に示すセンサ信号処理回路の次段にインターフェース回路を設けるようにしたものである。なお、図6において、図5と同一部分については、同一符号を付し、その説明を省略する。
Sixth embodiment.
FIG. 6 shows a sixth embodiment of the present invention. In this embodiment, an interface circuit is provided at the next stage of the sensor signal processing circuit shown in FIG. 6 that are the same as those in FIG. 5 are given the same reference numerals, and descriptions thereof are omitted.
図6において、トランジスタ62とトランジスタ66との接続点からは、差動増幅回路の出力が電流で得られる。トランジスタ62とトランジスタ66との接続点は、演算増幅回路72の非反転入力端子に接続されると共に、抵抗73を介して、リファレンス電圧Vrefが与えられる。演算増幅回路72の出力端子と反転入力端子との間に、フィードバック抵抗74が接続される。演算増幅回路72の出力端子から出力端子75が導出される。
In FIG. 6, the output of the differential amplifier circuit is obtained as a current from the connection point between the
前述したように、図5に示すセンサ信号処理回路では、FET11及びFET51からなる差動増幅回路の出力は、シングル出力に変換され、電流で出力される。この電流出力は、図6において、抵抗73により電流−電圧変換され、バッファとなる演算増幅回路72に送られる。トランジスタ62とトランジスタ63との接続点からの出力は、信号電流のみであるから、カップリングコンデンサは不要である。カップリングコンデンサが不要であるから、低域の周波数特性が改善される。
As described above, in the sensor signal processing circuit shown in FIG. 5, the output of the differential amplifier circuit composed of the
また、この構成では、電圧増幅率は、電流出力を電圧に変換する抵抗73の値により決まる。そして、中心電圧は、リファレンス電圧Vrefにより設定される。よって、任意の中心電圧を設定して、任意の電圧増幅率のセンサ出力を得ることができる。また、電圧増幅率を大きくするために、抵抗73の値を大きくしても、電源電圧の低下は生じない。このことから、電源電圧の降下によるダイナミックレンジの低下をもたらすことがない。
In this configuration, the voltage amplification factor is determined by the value of the
第7実施形態.
図7は本発明の第7実施形態のセンサ信号処理回路を示すものである。この例では、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1内のFET11のソースと接地間に電流制限抵抗81を接続して、消費電流の低減を図るようにしている。本発明が適用されたエレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1は、前述したように、FET11のソースと接地ライン12とから端子22及び端子23をそれぞれ別々に導出しているので、このように、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1内のFET11のソースと接地間に、電流制限用の抵抗81を接続することが可能となる。
Seventh embodiment.
FIG. 7 shows a sensor signal processing circuit according to a seventh embodiment of the present invention. In this example, a current limiting
図7において、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット1の端子22と端子23との間に、抵抗81が接続される。端子23は接地される。
In FIG. 7, a
端子21と電源Vccとの間に、定電流源82が接続されると共に、PNP型トランジスタ83が接続される。トランジスタ83のベースとそのコレクタとが接続されると共に、トランジスタ83のベースは、N個のPNP型トランジスタ84−1〜84−nのベースに接続される。トランジスタ84−1〜84−nのベースは電源Vccに接続される。トランジスタ84−1〜84−nのコレクタは、電流出力端子85に接続される。
A constant current source 82 and a
この例では、FET11からなるソース接地型の増幅回路で、ECMエレメント13の出力を増幅するようにしている。FET11のソースと接地間には、電流制限用の抵抗81が接続されるため、消費電力の低下が図れる。また、抵抗81が接続されるため、FET11を流れる電流値が小さくなり、(2)式より、相互コンダクタンスgmの値が小さくなり、その結果、電圧増幅率が低下する。そこで、この例では、カレントミラー回路を構成するトランジスタの比をN倍にすることで、電流増幅させるようにしている。
In this example, the output of the
つまり、定電流源82とトランジスタ83とは並列に接続されており、FET11には、定電流源82を流れる電流I1とトランジスタ83を流れる電流iとの和電流(I1+1)が流れる。定電流源82は定電流I1であるから、トランジスタ83に流れる電流は信号電流iのみになる。すなわち、定電流源82とトランジスタ83とを並列に接続することで、トランジスタ83に信号電流のみを流すことができる。
That is, the constant current source 82 and the
トランジスタ83と、トランジスタ84−1〜84−nとはカレントミラー回路を構成しているので、トランジスタ83に信号電流iが流れると、トランジスタ84−1〜84−nには、(n×i)の電流が流れる。このように、トランジスタ84−1〜84−nには、信号電流iのn倍の電流を流すことができる。この電流が出力電流として、電流出力端子85から得られる。なお、ここでは、n個のトランジスタ84−1〜84−nとしているが、トランジスタ83のn倍のサイズのトランジスタ84を用いるようにしてもよい。
Since the
第8実施形態.
図8は本発明の第8実施形態を示すものである。この実施形態は、図7に示すセンサ信号処理回路の次段にインターフェース回路を設けるようにしたものである。なお、図8において、図7と同一部分については、同一符号を付し、その説明を省略する。
Eighth embodiment.
FIG. 8 shows an eighth embodiment of the present invention. In this embodiment, an interface circuit is provided at the next stage of the sensor signal processing circuit shown in FIG. 8 that are the same as those in FIG. 7 are given the same reference numerals, and descriptions thereof are omitted.
図8において、トランジスタ84−1〜84−nのコレクタからは、FET11からなるソース接地型増幅回路の出力が電流で得られる。トランジスタ84−1〜84−nのコレクタは、演算増幅回路92の非反転入力端子に接続されると共に、抵抗93を介して、リファレンス電圧Vrefが与えられる。演算増幅回路92の出力端子と反転入力端子との間に、フィードバック抵抗94が接続される。演算増幅回路92の出力端子から出力端子95が導出される。
In FIG. 8, the output of the common source amplifier circuit composed of the
図8に示すセンサ信号処理回路では、トランジスタ84−1〜84−nのコレクタからは、FET11からなるソース接地型増幅回路の出力が電流で得られ、この電流出力は、抵抗93により電流−電圧変換され、バッファとなる演算増幅回路92に送られる。トランジスタ84−1〜84−nのコレクタからの出力は信号電流のみであるから、カップリングコンデンサは不要である。カップリングコンデンサが不要であるから、低域の周波数特性が改善される。
In the sensor signal processing circuit shown in FIG. 8, the output of the common-source amplifier circuit composed of the
また、この構成では、電圧増幅率は、電流出力を電圧に変換する抵抗93の値により決まる。そして、中心電圧は、リファレンス電圧Vrefにより設定される。よって、任意の中心電圧を設定して、任意の電圧増幅率のセンサ出力を得ることができる。また、電圧増幅率を大きくするために、抵抗93の値を大きくしても、電源電圧の低下は生じない。このことから、電源電圧の降下によるダイナミックレンジの低下をもたらすことがない。 In this configuration, the voltage amplification factor is determined by the value of the resistor 93 that converts the current output into a voltage. The center voltage is set by the reference voltage Vref . Therefore, an arbitrary center voltage can be set and a sensor output having an arbitrary voltage amplification factor can be obtained. Further, even if the value of the resistor 93 is increased in order to increase the voltage amplification factor, the power supply voltage does not decrease. For this reason, the dynamic range is not lowered due to the drop of the power supply voltage.
本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲内で様々な変形や応用が可能である。 The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications and applications can be made without departing from the gist of the present invention.
本発明は、エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン、圧力センサ、セキュリティ・センサ、高低差センサ、加速度センサ、生体信号センサなど、静電容量型のセンサ素子に用いることができる。 The present invention can be used for electrostatic capacitance type sensor elements such as an electric condenser microphone, a pressure sensor, a security sensor, a height difference sensor, an acceleration sensor, and a biological signal sensor.
1 エレクトリック・コンデンサ・マイクロフォン・ユニット
11 FET
12 接地ライン
13 ECMエレメント
14 抵抗
15 ダイオード
21〜23 端子
32 抵抗
31 FET
33〜35 抵抗
36、37 出力端子
38 定電流源
41 カップリングコンデンサ
42 演算増幅回路
45 出力端子
51 FET
53 定電流源
54 抵抗
61〜66 トランジスタ
67 電流出力端子
72 演算増幅回路
81 電流制限抵抗
82 定電流源
83、84 トランジスタ
85 電流出力端子
92 演算増幅回路
1 Electric
12
33 to 35
53 Constant
Claims (10)
前記第1の電界効果トランジスタのドレインから第1の端子を導出し、
前記第1の電界効果トランジスタのソースから第2の端子を導出し、
前記接地ラインから第3の端子を導出する
ようにしたことを特徴とするセンサユニット。 A capacitive sensor element is connected between the gate of the first field effect transistor and the ground line;
Deriving a first terminal from the drain of the first field effect transistor;
Deriving a second terminal from the source of the first field effect transistor;
A sensor unit, wherein a third terminal is derived from the ground line.
前記第2の端子に第2の電界効果トランジスタのソースを接続し、前記第1の電界効果トランジスタと前記第2の電界効果トランジスタとにより差動増幅回路を構成し、前記センサ素子の出力を前記差動増幅回路により増幅させて出力させるようにしたことを特徴とするセンサ信号処理回路。 A capacitance type sensor element is connected between the gate of the first field effect transistor and the ground line, a first terminal is derived from the drain of the first field effect transistor, and the first field effect transistor A second terminal is derived from the source of the first and a third terminal is derived from the ground line to constitute a sensor unit;
A source of a second field effect transistor is connected to the second terminal, a differential amplifier circuit is configured by the first field effect transistor and the second field effect transistor, and an output of the sensor element is A sensor signal processing circuit characterized in that it is amplified by a differential amplifier circuit and output.
前記第1のカレントミラー回路により前記第1の電界効果トランジスタを流れる電流を取り出し、前記第2のカレントミラー回路により前記第2の電界効果トランジスタを流れる電流を取り出し、
前記第1のカレントミラー回路の出力電流と前記第2のカレントミラー回路の出力電流の差電流を前記差動増幅回路のシングル出力電流として取り出すようにしたことを特徴とする請求項2に記載のセンサ信号処理回路。 An active load comprising a first current mirror circuit and a second current mirror circuit is connected to the drains of the first field effect transistor and the second field effect transistor;
A current flowing through the first field effect transistor is extracted by the first current mirror circuit; a current flowing through the second field effect transistor is extracted by the second current mirror circuit;
The differential current between the output current of the first current mirror circuit and the output current of the second current mirror circuit is extracted as a single output current of the differential amplifier circuit according to claim 2. Sensor signal processing circuit.
前記第1の端子に電流増幅型のカレントミラー回路を接続し、
前記第2の端子と前記第3の端子との間にソース抵抗を接続し、
前記センサ素子の出力を前記電流増幅型のカレントミラー回路により電流増幅させて出力させるようにしたことを特徴とするセンサ信号処理回路。 A capacitance type sensor element is connected between the gate of the first field effect transistor and the ground line, a first terminal is derived from the drain of the first field effect transistor, and the first field effect transistor A second terminal is derived from the source of the first and a third terminal is derived from the ground line to constitute a sensor unit;
A current amplification type current mirror circuit is connected to the first terminal;
A source resistor is connected between the second terminal and the third terminal;
A sensor signal processing circuit characterized in that an output of the sensor element is output after being amplified by the current amplification type current mirror circuit.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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ID=35898959
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2004205072A Pending JP2006033091A (en) | 2004-07-12 | 2004-07-12 | Sensor unit and sensor signal processing circuit |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2006033091A (en) |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070604 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091008 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20091016 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091020 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091208 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100622 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20101019 |