실버 베헤나이트
Silver behenate이름 | |
---|---|
IUPAC 이름 도코사노화 은 | |
기타 이름 은도코사노아이트, 베헤닌산 은염 | |
식별자 | |
| |
3D 모델(JSmol) | |
켐스파이더 | |
ECHA InfoCard | 100.017.857 |
펍켐 CID | |
유니 | |
CompTox 대시보드 (EPA) | |
| |
| |
특성. | |
아그초22432 | |
어금질량 | 447.2287 g/19987 |
달리 명시된 경우를 제외하고, 표준 상태(25°C [77°F], 100 kPa)의 재료에 대한 데이터가 제공된다. | |
이버라이시 (?) | |
Infobox 참조 자료 | |
실버 베헤네이트는 롱체인 지방산 베헤닉산의 은염이다. 분말 회절 기법을 이용해 특징지어졌던 저각 회절 가능성 표준이다.
설명
국립표준기술원의 표준 기준 물질 실리콘을 내부 표준으로 하여, 은베헤네이트의 긴 간격은 프로파일 장착 싱크로트론 회절 피크를 통해 정확히 결정되었는데, d001 = 58.380(3) å(5.8380(3)nm)이었다. 이 결과는 CuKα 패턴에서 얻은 결과와 일치했다. 은베헤네이트 봉우리들의 종단 폭은 실리콘 봉우리들의 종단 폭보다 한결 더 큰 것으로 밝혀져 은베헤네이트의 경우 상당한 선이 넓어졌음을 알 수 있다. 은베헤네이트의 장공간 방향을 따라 평균 결정체 크기는 스크러 방정식을 사용하여 추정되었으며, D(평균) = 900(50) ((85–95 nm)을 나타냈다.[1]
1.54 å 싱크로트론과 CuKα 방사선으로 얻은 회절 패턴은 1.5° ~ 20.0°의 2㎛ 범위에서 13개의 반사를 보였는데, 이는 이 화합물이 저각 회절의 각도 교정 표준으로 사용하기에 적합함을 시사한다. 단, 라인 확대로 인해 은베헤네이트를 피크 프로파일 교정 표준으로 사용하려면 주의해야 한다.[2]
참조
- ^ T.N. Blanton, T.C. Huang, H. Toraya, C.R. Hubbard, S.B. Robie, D. Louer, H.E. Gobel, G. Will, R. Gilles and T. Raftery (1995). "JCPDS - International Centre for Diffraction Data round robin study of silver behenate. A possible low-angle X-ray diffraction calibration standard". Powder Diffraction. 10: 91–95. doi:10.1017/S0885715600014421.
{{cite journal}}
: CS1 maint : 복수이름 : 작성자 목록(링크) - ^ T.N. Blanton, C.L. Barnes & M. Lelental (2000). "Preparation of silver behenate coatings to provide low- to mid-angle diffraction calibration". J. Appl. Crystallogr. 33: 172–173. doi:10.1107/S0021889899012388.
- F.W. Matthews; G.G. Warren; J.H. Michell (1950). "Derivatives of Fatty Acids - Identification By X-Ray Diffraction Power Patterns". Analytical Chemistry. 22: 514–519. doi:10.1021/ac60040a002.