KR20090115156A - Wafer level phosphor coating method and devices fabricated utilizing method - Google Patents

Wafer level phosphor coating method and devices fabricated utilizing method Download PDF

Info

Publication number
KR20090115156A
KR20090115156A KR1020097017405A KR20097017405A KR20090115156A KR 20090115156 A KR20090115156 A KR 20090115156A KR 1020097017405 A KR1020097017405 A KR 1020097017405A KR 20097017405 A KR20097017405 A KR 20097017405A KR 20090115156 A KR20090115156 A KR 20090115156A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
coating
led
led chip
leds
substrate
Prior art date
Application number
KR1020097017405A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101398655B1 (en
Inventor
아샤이 치트니스
제임스 이벳슨
아팬 차크라보티
에릭 제이 타샤
베른트 켈러
제임스 세루토
얀쿤 푸
Original Assignee
크리, 인코포레이티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 크리, 인코포레이티드 filed Critical 크리, 인코포레이티드
Publication of KR20090115156A publication Critical patent/KR20090115156A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101398655B1 publication Critical patent/KR101398655B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/62Arrangements for conducting electric current to or from the semiconductor body, e.g. lead-frames, wire-bonds or solder balls
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/44Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/508Wavelength conversion elements having a non-uniform spatial arrangement or non-uniform concentration, e.g. patterned wavelength conversion layer, wavelength conversion layer with a concentration gradient of the wavelength conversion material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3107Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
    • H01L23/3114Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed the device being a chip scale package, e.g. CSP
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • H01L2933/0041Processes relating to semiconductor body packages relating to wavelength conversion elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/38Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape
    • H01L33/387Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes with a particular shape with a plurality of electrode regions in direct contact with the semiconductor body and being electrically interconnected by another electrode layer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/501Wavelength conversion elements characterised by the materials, e.g. binder
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/507Wavelength conversion elements the elements being in intimate contact with parts other than the semiconductor body or integrated with parts other than the semiconductor body

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Led Device Packages (AREA)

Abstract

Methods for fabricating light emitting diode (LED) chips comprising providing a plurality of LEDs typically on a substrate. Pedestals are deposited on the LEDs with each of the pedestals in electrical contact with one of the LEDs. A coating is formed over the LEDs with the coating burying at least some of the pedestals. The coating is then planarized to expose at least some of the buried pedestals while leaving at least some of said coating on said LEDs. The exposed pedestals can then be contacted such as by wire bonds. The present invention discloses similar methods used for fabricating LED chips having LEDs that are flip-chip bonded on a carrier substrate and for fabricating other semiconductor devices. LED chip wafers and LED chips are also disclosed that are fabricated using the disclosed methods.

Description

웨이퍼 레벨 형광체 코팅 방법 및 이 방법을 이용하여 제조된 소자{WAFER LEVEL PHOSPHOR COATING METHOD AND DEVICES FABRICATED UTILIZING METHOD}Wafer Level Phosphor Coating Method and Device Fabricated Using the Method {WAFER LEVEL PHOSPHOR COATING METHOD AND DEVICES FABRICATED UTILIZING METHOD}

본 발명은 USAF 05-2-5507 계약에 따라 정부 지원으로 발명되었다. 정부는 본 발명에 대해 일정한 권리를 갖는다.The invention was invented with government support under the USAF 05-2-5507 contract. The government has certain rights in the invention.

본 발명은 반도체 소자 제조 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 발광다이오드의 웨이퍼 레벨 코팅 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor device, and more particularly, to a wafer level coating method of a light emitting diode.

발광다이오드(LED)는 전기적 에너지를 광으로 변환하는 고체 상태 소자이며, 일반적으로 반대로 도핑된 층들 사이에 개재된(sandwiched) 하나 이상의 반도체 재료의 활성(active) 층을 포함한다. 이 도핑 층들을 가로질러 바이어스가 인가되는 경우, 정공과 전자가 이 활성 층에 주입되고 이 활성 층에서 정공과 전자는 재결합하여 광을 발생시킨다. 이 광은 활성 층과 LED의 모든 표면들로부터 방출된다.Light emitting diodes (LEDs) are solid state devices that convert electrical energy into light and generally comprise an active layer of one or more semiconductor materials sandwiched between oppositely doped layers. When a bias is applied across these doped layers, holes and electrons are injected into this active layer and holes and electrons in this active layer recombine to generate light. This light is emitted from the active layer and all the surfaces of the LED.

종래의 LED들은 그들의 활성 층으로부터 백색광을 발생시킬 수 없다. 청색 발광 LED로부터의 광은, LED를 황색 형광체(phosphor), 폴리머 또는 염료(dye)로 둘러쌈으로써 백색광으로 변환되는데, 통상적인 형광체는 세륨 도핑된 이트륨 알루미늄 석류석(garnet)(Ce:YAG)이다(Nichia Corp. white LED, Part No. NSPW300BS, NSPW312BS 등을 참조; Lowrey의 미국특허 제5959316호, 발명의 명칭 "Multiple Encapulation of Phosphor-LED Devices" 또한 참조). 둘러싸는 형광체의 재료는 LED의 청색광 일부의 파장을 "하향 변환"하여, LED 광의 색을 황색으로 변화시킨다. 이 청색광의 일부는 변화되지 않고 형광체를 통과하지만, 광의 상당 부분은 황색으로 하향 변환된다. LED는 청색광과 황색광을 방출하며, 이 광들은 결합하여 백색광을 제공한다. 다른 접근 방식에서는, LED를 다색 형광체나 또는 염료로 둘러쌈으로써 보라색 또는 자외선 방출 LED로부터의 광이 백색광으로 변환된다.Conventional LEDs cannot generate white light from their active layer. Light from blue light emitting LEDs is converted to white light by enclosing the LEDs with yellow phosphors, polymers or dyes, a typical phosphor being cerium doped yttrium aluminum garnet (Ce: YAG). (See Nichia Corp. white LED, Part No. NSPW300BS, NSPW312BS, etc .; see also US Pat. No. 5,959,316 to Lowrey, entitled “Multiple Encapulation of Phosphor-LED Devices”). The material of the surrounding phosphor "turns down" the wavelength of some of the blue light of the LED, changing the color of the LED light to yellow. Some of this blue light passes through the phosphor unchanged, but a substantial portion of the light is downconverted to yellow. LEDs emit blue and yellow light, which combine to provide white light. In another approach, light from a purple or ultraviolet emitting LED is converted to white light by surrounding the LED with a multicolor phosphor or dye.

LED를 형광체 층으로 코팅하기 위한 한 가지 종래의 방법은, 에폭시 수지 또는 실리콘 폴리머와 혼합된 형광체를 LED 위로 주입하기 위해 주사기(syringe) 또는 노즐을 이용한다. 그러나 이 방법을 이용하면, 형광체 층의 기하구조와 두께를 제어하는 것이 어려울 수 있다. 결과적으로, 상이한 각도에서 LED로부터 방출되는 광은 상이한 양의 변환 재료를 통과할 수 있으며, 이는 시야각의 함수로서 불균일한 색온도를 갖는 LED를 만들 수 있다. 기하구조 및 두께를 제어하기 어렵기 때문에, 동일한 또는 유사한 방출 특성을 갖는 LED들을 일관되게 재생산하는 것 또한 어려울 수 있다.One conventional method for coating an LED with a phosphor layer uses a syringe or nozzle to inject a phosphor mixed with an epoxy resin or silicone polymer onto the LED. However, using this method, it can be difficult to control the geometry and thickness of the phosphor layer. As a result, light emitted from the LEDs at different angles can pass through different amounts of conversion material, which can produce LEDs with non-uniform color temperature as a function of viewing angle. Since the geometry and thickness are difficult to control, it can also be difficult to consistently reproduce LEDs having the same or similar emission characteristics.

LED를 코팅하기 위한 다른 종래의 방법은, Lowery의 유럽 특허 출원 제EP1198016 A2호에 개시된 스텐실 프린팅에 의한 방법이다. 복수의 발광 반도체 소자들이 인접한 LED들 간에 원하는 거리를 두고 기판 상에 배치된다. LED와 정렬된 개구부를 가진 스텐실이 제공되는데, 이 홀들은 LED보다 약간 더 크며 스텐실은 LED보다 두껍다. 스텐실은 기판 상에 배치되며, LED 각각은 스텐실의 각각의 개구부 내에 위치된다. 그 다음, 스텐실 개구부에는 소정의 조성물이 증착되어 LED를 피복하는데, 통상적인 조성물은 열 또는 광에 의해 경화될 수 있는 실리콘 폴리머의 형광체이다. 이 홀들이 충전된 후에 스텐실은 기판으로부터 제거되고 스텐실 조성물은 고체 상태로 경화된다.Another conventional method for coating LEDs is by stencil printing disclosed in European Patent Application EP1198016 A2 to Lowery. A plurality of light emitting semiconductor elements are disposed on the substrate at a desired distance between adjacent LEDs. Stencils with openings aligned with the LEDs are provided, which are slightly larger than the LEDs and the stencils are thicker than the LEDs. The stencil is disposed on a substrate, and each of the LEDs is located within each opening of the stencil. Next, a predetermined composition is deposited on the stencil openings to coat the LED, which is a phosphor of a silicone polymer that can be cured by heat or light. After these holes are filled, the stencil is removed from the substrate and the stencil composition is cured to a solid state.

상기 주사기 방법과 마찬가지로, 스텐실 방법을 이용하는 것 또한 형광체 함유 중합체의 기하구조와 층 두께를 제어하기 어려울 수 있다. 스텐실 조성물은 스텐실 개구부를 완전히 충전하지 못할 수 있으며, 결과적으로 층은 균일하지 못할 수 있다. 형광체 함유 조성물은 스텐실 개구부에 고착될 수도 있으며, 이는 LED 상에 남아 있는 조성물의 양을 감소시킨다. 스텐실 개구부는 또한 LED와 정렬되지 않을 수 있다. 이러한 문제들은 LED가 불균일한 색온도를 갖게 하고 LED를 동일한 또는 유사한 방출 특성을 갖고 일관되게 재생산하는 것을 어렵게 하는 것을 야기한다.Like the syringe method, using the stencil method can also be difficult to control the geometry and layer thickness of the phosphor-containing polymer. The stencil composition may not be able to completely fill the stencil openings and consequently the layers may not be uniform. The phosphor containing composition may stick to the stencil openings, which reduces the amount of composition remaining on the LED. The stencil openings may also not be aligned with the LEDs. These problems cause the LEDs to have non-uniform color temperatures and make it difficult to reproduce them consistently with the same or similar emission characteristics.

스핀 코팅, 스프레이 코팅, 정전기 증착 (ESD, electrostatic deposition) 및 전기영동 증착(EPD, electrophoretic deposition)을 포함하여 다양한 LED 코팅 공정이 고려되어 왔다. 스핀 코팅 또는 스프레이 코팅과 같은 공정은 통상적으로 형광체 증착 동안에 바인더 재료를 이용하지만, 다른 공정들은 형광체의 입자/파우더를 안정화시키기 위하여 그 형광체의 입자/파우더의 증착 후에 곧바로 바인더를 추가할 것을 요구한다.Various LED coating processes have been considered, including spin coating, spray coating, electrostatic deposition (ESD) and electrophoretic deposition (EPD). Processes such as spin coating or spray coating typically use a binder material during phosphor deposition, but other processes require the addition of a binder immediately after deposition of the particles / powders of the phosphor to stabilize the particles / powders of the phosphor.

이러한 접근 방식들에서, 주요 과제는 코팅 공정 후에 소자 상의 와이어 본드 패드에 접근하는 것이다. 표준 웨이퍼 제조 기술로 와이어 본드 패드에 접근하는 것은, 에폭시 또는 유리와 같은 다른 바인더 재료뿐만 아니라 통상적인 실리콘 바인딩 재료로는 어려운 일이다. 실리콘은 일부 현상제(developer)뿐만 아니라 아세톤, 및 레지스트 스트리퍼와 같은 흔히 사용되는 웨이퍼 제조 재료와 양립하지 못한다. 이는 특정 실리콘 또는 공정 단계에 대한 옵션 및 선택을 제한할 수 있다. 또한 실리콘은 흔히 사용되는 포토레지스트의 유리 전이 온도를 넘는 고온(150℃보다 큰 온도)에서 경화된다. 형광체를 갖는 경화된 실리콘 막은 에칭하기 어렵고 염소 및 CF4 플라즈마에서는 매우 낮은 에칭 속도를 가지며, 경화된 실리콘의 습식 에칭은 통상적으로 비효율적다.In these approaches, the main challenge is to access the wire bond pads on the device after the coating process. Accessing wire bond pads with standard wafer fabrication techniques is difficult with conventional silicon binding materials as well as other binder materials such as epoxy or glass. Silicon is incompatible with some developer as well as commonly used wafer fabrication materials such as acetone, and resist stripper. This may limit the options and choices for a particular silicon or process step. Silicon is also cured at high temperatures (temperatures greater than 150 ° C.) beyond the glass transition temperatures of commonly used photoresists. Cured silicon films with phosphors are difficult to etch and have very low etch rates in chlorine and CF 4 plasmas, and wet etching of cured silicon is typically inefficient.

본 발명은 LED 칩과 같은 반도체 소자를 웨이퍼 레벨에서 제조하는 새로운 방법을 개시하고, 이 방법을 이용하여 제조된 LED 칩 및 LED 칩 웨이퍼를 개시한다. 본 발명에 따라 발광다이오드(LED) 칩을 제조하는 한 가지 방법은, 통상적으로 기판 상에 복수의 LED를 제공하는 단계를 포함한다. LED 상에는 페데스탈(pedestal)들이 형성되는데, 이 페데스탈 각각은 LED들 중 하나와 전기적으로 접촉한다. 상기 LED 위에는 코팅이 형성되는데, 이 코팅은 페데스탈들 중 적어도 일부를 매립한다. 그런 다음, 코팅은 상기 코팅 재료의 일부는 상기 LED 상에 남기면서 동시에 상기 매립된 페데스탈들 중 적어도 일부는 노출시키면서 평탄화되어, 그 매립된 페테스탈들 중 적어도 일부를 접촉하는 것을 가능하게 한다. 본 발명은 캐리어 기판 상에 장착된 LED 플립 칩을 포함하는 LED 칩을 제조하는데 사용되는 유사한 방법을 개시한다. 본 발명에 따른 유사한 방법은, 다른 반도체 소자를 제조하는데 또한 이용될 수 있다.The present invention discloses a novel method for manufacturing semiconductor devices such as LED chips at the wafer level, and discloses LED chips and LED chip wafers fabricated using this method. One method of manufacturing a light emitting diode (LED) chip in accordance with the present invention typically includes providing a plurality of LEDs on a substrate. Pedestals are formed on the LEDs, each of which is in electrical contact with one of the LEDs. A coating is formed over the LED, which coats at least some of the pedestals. The coating is then planarized while leaving a portion of the coating material on the LED while simultaneously exposing at least some of the embedded pedestals, making it possible to contact at least some of the embedded pedestals. The present invention discloses a similar method used to fabricate an LED chip comprising an LED flip chip mounted on a carrier substrate. Similar methods according to the invention can also be used to fabricate other semiconductor devices.

본 발명에 따른 방법을 이용하여 제조된 발광다이오드(LED) 칩 웨이퍼의 일 실시예는, 기판 웨이퍼 상의 복수의 LED, 및 LED들 중 하나와 각각 전기적으로 접촉하는 복수의 페데스탈들을 포함한다. 코팅은 LED를 적어도 부분적으로 피복하며, 페데스탈들 중 적어도 일부는 상기 코팅을 통과하여 코딩 표면에까지 확장된다. 페테스탈들은 코팅의 표면에서 노출된다.One embodiment of a light emitting diode (LED) chip wafer fabricated using the method according to the invention comprises a plurality of LEDs on a substrate wafer and a plurality of pedestals in electrical contact with one of the LEDs, respectively. The coating at least partially covers the LED, with at least some of the pedestals extending through the coating to the coding surface. Petestals are exposed at the surface of the coating.

본 발명에 따른 방법을 이용하여 제조된 발광다이오드(LED) 칩의 일 실시예는, 기판 상의 LED, 및 LED와 전기적으로 접촉하는 페데스탈을 포함한다. 코팅은 LED를 적어도 피복하며, 페데스탈은 코팅을 통과하여 코딩 표면에까지 확장되고 코팅의 표면에서 노출된다.One embodiment of a light emitting diode (LED) chip fabricated using the method according to the invention comprises an LED on a substrate and a pedestal in electrical contact with the LED. The coating at least covers the LED, the pedestal extends through the coating to the coding surface and exposed at the surface of the coating.

본 발명의 특정 양태들에 따라, 코팅은 백색광을 발생시키기 위해 LED 칩의 활성 영역으로부터 방출된 광의 적어도 일부를 하향 변환하는 형광체의 입자들을 포함함으로써, 백색 LED 칩을 생성할 수 있다.In accordance with certain aspects of the present invention, the coating may produce a white LED chip by including particles of phosphor down converting at least some of the light emitted from the active region of the LED chip to generate white light.

본 발명의 이러 저러한 양태들 및 이점들은, 후속하는 상세한 설명과 본 발명의 특징들을 예시적으로 나타내는 첨부 도면들로부터 명백해질 것이다.These and other aspects and advantages of the present invention will become apparent from the following detailed description and the accompanying drawings which illustrate by way of example the features of the invention.

도 1a 내지 도 1e는 본 발명에 따른 방법의 제조 단계들에서의 LED 칩 웨이퍼의 일 실시예의 단면도이다.1A-1E are cross-sectional views of one embodiment of an LED chip wafer at the manufacturing steps of the method according to the invention.

도 2는 반사층을 갖는, 본 발명에 따른 LED 칩 웨이퍼의 다른 실시예의 단면도이다.2 is a cross-sectional view of another embodiment of an LED chip wafer in accordance with the present invention having a reflective layer.

도 3a 내지 도 3e는 본 발명에 따른 다른 방법의 제조 단계들에서의 플립 웨이퍼 본딩 LED 칩 웨이퍼의 일 실시예의 단면도이다.3A-3E are cross-sectional views of one embodiment of a flip wafer bonded LED chip wafer at fabrication steps of another method in accordance with the present invention.

도 4는 반사층을 갖는, 본 발명에 따른 LED 칩 웨이퍼의 또 다른 실시예의 단면도이다.4 is a cross-sectional view of another embodiment of an LED chip wafer according to the present invention having a reflective layer.

도 5a 내지 도 5d는 본 발명에 따른 예비 제조 코팅을 이용하는 방법의 제조 단계들에서의 LED 칩 웨이퍼의 다른 실시예의 단면도이다.5A-5D are cross-sectional views of another embodiment of an LED chip wafer at manufacturing steps of a method using a prefabricated coating in accordance with the present invention.

도 6a 내지 도 6c는 코팅에 오목부(recess)를 갖는, 본 발명에 따른 방법의 제조 단계들에서의 LED 칩 웨이퍼의 다른 실시예의 단면도이다.6A-6C are cross-sectional views of another embodiment of an LED chip wafer in the manufacturing steps of the method according to the invention, having a recess in the coating.

도 7은 본 발명에 따른 LED 칩 웨이퍼의 또 다른 실시예의 단면도이다.7 is a cross-sectional view of another embodiment of an LED chip wafer according to the present invention.

도 8은 본 발명에 따른 LED 칩 웨이퍼의 또 다른 실시예의 단면도이다.8 is a cross-sectional view of another embodiment of an LED chip wafer according to the present invention.

도 9는 본 발명에 따른 LED 어레이의 일 실시예의 단면도이다.9 is a cross-sectional view of one embodiment of an LED array in accordance with the present invention.

도 10은 본 발명에 따른 LED 어레이의 다른 실시예의 단면도이다.10 is a cross-sectional view of another embodiment of an LED array in accordance with the present invention.

도 11은 투명 기판을 갖는, 본 발명에 따른 LED 칩 웨이퍼의 일 실시예의 단면도이다.11 is a cross-sectional view of one embodiment of an LED chip wafer in accordance with the present invention having a transparent substrate.

도 12는 투명 기판을 갖는, 본 발명에 따른 LED 칩 웨이퍼의 다른 실시예의 단면도이다.12 is a cross-sectional view of another embodiment of an LED chip wafer according to the present invention having a transparent substrate.

도 13은 본 발명에 따른 플립 칩 LED 칩 웨이퍼의 다른 실시예의 단면도이다.13 is a cross-sectional view of another embodiment of a flip chip LED chip wafer according to the present invention.

도 14는 형광체 로딩 캐리어 기판을 갖는 LED 칩의 다른 실시예의 단면도이다.14 is a cross-sectional view of another embodiment of an LED chip having a phosphor loading carrier substrate.

도 15a 내지 도 15d는 본 발명에 따른 트렌치 기판을 이용하는 방법의 제조 단계들에서의 LED 칩 웨이퍼의 다른 실시예의 단면도이다.15A-15D are cross-sectional views of another embodiment of an LED chip wafer at fabrication steps of a method using a trench substrate in accordance with the present invention.

본 발명은 특히 LED와 같은 반도체 소자의 웨이퍼 레벨 코팅에 적용될 수 있는 제조 방법을 제공한다. 본 발명은 또한 이 방법을 이용하여 제조된 LED와 같은 반도체 소자를 제공한다. 본 발명은, 다운 컨버터 층(예컨대 형광체가 로딩된 실리콘)으로 웨이퍼 레벨에서의 LED 코팅을 허용하면서, 와이어 본딩을 위한 하나 이상의 접촉부들로의 접근을 허용한다. 본 발명의 일 양태에 따라, LED가 웨이퍼 레벨에 있는 동안 LED 접촉부(본딩 패드)들 중 하나 또는 양자 모두 상에는 전기 전도성 페데스탈/기둥(pedestal/post)이 형성된다. 이 페데스탈은 전기도금, 무전해 도금, 스터드 범핑(stud bumping) 또는 진공 증착과 같은 공지된 기술들을 이용하여 제조될 수 있다. 그 다음, 웨이퍼는 다운 컨버터 코팅 층으로 블랭킷 코팅되어, LED, 접촉부 및 페데스탈을 매립할 수 있다. 페데스탈 각각은 그 접촉부의 수직형 확장부로서 기능하며, 다운 컨버터 코팅을 이용한 블링킷 코팅은 일시적으로 페데스탈을 피복하지만, 이 코팅은 페데스탈의 상부 표면 또는 상단을 노출시키도록 평탄화되고 박막화될 수 있다. 페데스탈은 원하는 최종 코팅 두께를 통과하여 돌출할 만큼 충분히 높아야 한다(10 내지 100 ㎛). 평탄화 후에 페데스탈은 와이어 본딩에 의한 것과 같은 외부 접속을 위해 노출된다. 이러한 공정은 웨이퍼 레벨에서 후속 제조 단계로서 실시되며, 개개의 LED 칩은 공지되어 있는 공정을 이용하여 웨이퍼로부터 분리/싱귤레이팅될 수 있다.The present invention particularly provides a manufacturing method that can be applied to wafer level coating of semiconductor devices such as LEDs. The present invention also provides a semiconductor device such as an LED manufactured using this method. The present invention allows access to one or more contacts for wire bonding, while allowing LED coating at the wafer level with a down converter layer (eg, silicon loaded with phosphor). According to one aspect of the invention, an electrically conductive pedestal / post is formed on one or both of the LED contacts (bonding pads) while the LED is at the wafer level. This pedestal can be manufactured using known techniques such as electroplating, electroless plating, stud bumping or vacuum deposition. The wafer can then be blanket coated with a down converter coating layer to bury the LEDs, contacts and pedestals. Each pedestal functions as a vertical extension of its contact, while a bling kit coating with a down converter coating temporarily covers the pedestal, but the coating can be flattened and thinned to expose the top surface or top of the pedestal. The pedestal should be high enough to protrude through the desired final coating thickness (10-100 μm). After planarization the pedestal is exposed for external connection such as by wire bonding. This process is carried out as a subsequent manufacturing step at the wafer level, and individual LED chips can be separated / singulated from the wafer using known processes.

본 발명은 블랭킷 코팅 후에 와이어 본딩 패드에 접근하기 위한 복잡한 웨이퍼 제조 공정을 제거한다. 대신 간단하고 비용 효율적인 접근 방식이 이용된다. 이 방식은, 정렬할 필요가 없는 반도체 소자의 웨이퍼 레벨 코팅을 허용한다. 형광체가 로딩된 실리콘 혼합물의 스핀 코팅, 또는 실리콘 또는 다른 바인딩 재료의 블랭킷 코팅이 후속하는 형광체의 전기영동 증착과 같은, 광범위한 코팅 기술들이 이용될 수 있다. 기계적 평탄화는 웨이퍼의 두께 균일성을 허용하며, 넓은 두께 범위(예컨대, 1 내지 100 ㎛)에 대해 코팅제(coat)의 두께 균일성이 달성될 수 있다. 백색 LED 칩 색점(color point)은 반복적인 접근방식(예컨대, 그라인딩, 테스트, 그라인딩 등)을 이용하는 것을 포함하여, 최종 코팅제 두께를 제어함으로써 미세 조정될 수 있으며, 이는 비닝된 백색 LED을 가져올 것이다. 이러한 접근방식은 또한 대형 웨이퍼 크기로 스케일링 가능하다.The present invention eliminates the complex wafer fabrication process for accessing the wire bonding pads after blanket coating. Instead, a simple and cost effective approach is used. This approach allows wafer level coating of semiconductor devices without the need for alignment. A wide range of coating techniques can be used, such as spin coating of a silicon mixture loaded with phosphor, or electrophoretic deposition of phosphor followed by a blanket coating of silicon or other binding material. Mechanical planarization allows thickness uniformity of the wafer, and thickness uniformity of the coat can be achieved over a wide thickness range (eg, 1-100 μm). White LED chip color points can be fine tuned by controlling the final coating thickness, including using an iterative approach (eg, grinding, testing, grinding, etc.), which will result in binned white LEDs. This approach is also scalable to large wafer sizes.

본 발명은 본 명세서에서 특정 실시예를 참조하여 기술되지만, 본 발명은 많은 상이한 형태로 구체화될 수 있으며, 본 명세서에 기술된 실시예들로 한정되는 것으로 해석되어서는 안된다는 것을 이해해야 한다. 특히, 본 발명은 통상적으로 형광체가 로딩된 바인더를 포함하는 다운 컨버터 코팅("형광체/바인더 코팅")을 이용한 LED 코팅에 관하여 아래에서 기술되지만, 본 발명은 하향 변환, 보호, 광 추출 또는 산란을 위해 다른 재료로 LED를 코팅하는데 이용될 수 있다는 것을 이해해야 한다. 형광체 바인더는 산란 또는 광 추출 입자 또는 재료를 가질 수 있으며, 코팅은 전기적으로 활성일 수 있다는 것 또한 이해해야 한다. 본 발명에 따른 방법은 또한, 상이한 재료로 다른 반도체 소자를 코팅하는데 이용될 수 있다. 추가로, LED 상에는 단일 또는 복수의 코팅 및/또는 층이 형성될 수 있다. 코팅은 형광체를 포함하지 않을 수 있고, 하나 이상의 형광체, 산란 입자 및/또는 다른 재료를 포함할 수 있다. 코팅은 또한, 하향 변환을 제공하는 유기 염료와 같은 재료를 포함할 수 있다. 복수의 코팅 및/또는 층 각각은, 다른 층 및/또는 코팅과 비교하여, 상이한 형광체, 상이한 산란 입자, 투명도, 굴절율과 같은 상이한 광학적 특성, 및/또는 상이한 물리적 특성을 포함할 수 있다.While the invention has been described herein with reference to specific embodiments, it should be understood that the invention can be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. In particular, the present invention is described below with respect to LED coatings using down converter coatings ("phosphor / binder coatings"), which typically include a binder loaded with phosphors, but the present invention is directed to downconversion, protection, light extraction or scattering. It should be understood that it can be used to coat the LED with other materials. It should also be understood that the phosphor binder may have scattering or light extracting particles or materials, and that the coating may be electrically active. The method according to the invention can also be used to coat other semiconductor devices with different materials. In addition, single or multiple coatings and / or layers may be formed on the LEDs. The coating may not include phosphors, and may include one or more phosphors, scattering particles, and / or other materials. The coating may also include a material, such as an organic dye, to provide down conversion. Each of the plurality of coatings and / or layers may comprise different phosphors, different scattering particles, different optical properties such as transparency, refractive index, and / or different physical properties compared to other layers and / or coatings.

층, 영역, 또는 기판과 같은 요소가 다른 요소 "상"에 있다고 언급되는 경우, 그 요소는 다른 요소 바로 위에 있거나 또는 개재 요소도 존재할 수도 있다는 것 또한 이해해야 한다. 또한, "내측", "외측", "상부", "위", "하부", "밑" 및 "아래"와 같은 상대적인 용어 및 그와 유사한 용어는, 본 명세서에서 하나의 층 또는 다른 영역의 관계를 기술하기 위해 사용될 수 있다. 이러한 용어들은 도면에 도시된 방위와 더불어 소자의 상이한 방위를 포함하는 것으로 의도된 것임을 이해해야 한다.It is also to be understood that when an element such as a layer, area, or substrate is referred to as being "on" another element, the element may be directly above another element or an intervening element may also be present. Also, relative terms such as "inner", "outer", "top", "up", "bottom", "bottom" and "bottom" and similar terms are used herein to refer to one layer or other area. Can be used to describe a relationship. It is to be understood that these terms are intended to include different orientations of the elements in addition to the orientation depicted in the figures.

제1, 제2 등과 같은 용어는 본 명세서에서 다양한 요소, 컴포넌트, 영역, 층 및/또는 섹션을 기술하기 위해 사용될 수 있지만, 이러한 요소, 컴포넌트, 영역, 층 및/또는 섹션은 이러한 용어들에 의해 한정되어서는 안된다. 이러한 용어들은 오직 한 요소, 컴포넌트, 영역, 층 또는 섹션을 다른 영역, 층 또는 섹션과 구분하기 위해 사용된다. 따라서, 아래에서 논의되는 제1 요소, 컴포넌트, 영역, 층 또는 섹션은, 본 발명의 교시에서 벗어나지 않고 제2 요소, 컴포넌트, 영역, 층 또는 섹션이라 불릴 수도 있다.Terms such as first, second, etc. may be used herein to describe various elements, components, regions, layers, and / or sections, although such elements, components, regions, layers, and / or sections are defined by these terms. It should not be limited. These terms are only used to distinguish one element, component, region, layer or section from another region, layer or section. Thus, the first element, component, region, layer or section discussed below may be referred to as a second element, component, region, layer or section without departing from the teachings of the present invention.

본 발명의 실시예들은 본 발명의 이상적인 실시예들을 개략적으로 도시한 단면도들을 참조하여 본 명세서에 기술된다. 그렇게 함으로써, 예컨대 결과적으로 제조 기술 및/또는 공차에 대한 실례의 형상으로부터의 변형이 예상된다. 본 발명의 실시예들은 본 명세서에 예시된 영역들의 특정 형상으로 한정되는 것으로 해석해서는 안되며, 예컨대 제조 결과 생기는 형상의 편차를 포함한다. 정사각형 또는 직사각형으로 예시되거나 또는 기술되는 영역은 통상적으로, 정규 제조 공차에 기인하는 둥글거나 또는 구부러진 형상을 가질 것이다. 따라서, 도면들에 예시된 영역들은 사실상 개략적인 것이며 영역들의 형상은 소자의 영역의 정확한 형상을 예시하려고 의도된 것은 아니며 본 발명의 범위를 한정하고자 의도된 것도 아니다.Embodiments of the present invention are described herein with reference to cross-sectional views schematically illustrating ideal embodiments of the present invention. In so doing, for example, deformations from example shapes for manufacturing techniques and / or tolerances are consequently expected. Embodiments of the invention should not be construed as limited to the particular shapes of the regions illustrated herein, but include, for example, variations in shape resulting from manufacturing. Areas illustrated or described by squares or rectangles will typically have a rounded or curved shape due to normal manufacturing tolerances. Accordingly, the regions illustrated in the figures are schematic in nature and the shape of the regions is not intended to illustrate the exact shape of the regions of the device and is not intended to limit the scope of the invention.

도 1a 내지 도 1e는 본 발명에 따른 방법을 이용하여 제조된 웨이퍼 레벨 LED 칩(10)의 일 실시예을 보여준다. 이제 도 1a를 참조하면, LED 칩(10)들은 그 제조 공정의 웨이퍼 레벨에 있는 것으로 도시되어 있다. 즉, LED 칩(10)들은, 웨이퍼로부터 개개의 LED 칩으로 분리/싱귤레이팅되기 전에 필요한 모든 단계들을 거치지 않았다. LED 칩들(10)들과 후속하는 추가 제조 단계들 사이의 분리 또는 다이싱 선을 나타내기 위해 가상 선(phantom line)이 포함되며, 도 1e에 도시된 바와 같이, LED 칩들은 개개의 소자들로 분리될 수 있다. 도 1a 내지 1e는 또한 웨이퍼 레벨에서 오직 2개의 소자만을 도시하지만, 단일 웨이퍼로부터 훨씬 더 많은 LED 칩들이 형성될 수 있다는 것이 이해되어야 한다. 예컨대, 1 밀리미터(mm) 정사각형 크기를 가진 LED 칩을 제조하는 경우에 3인치 웨이퍼 상에 최대 4500개까지의 LED 칩이 제조될 수 있다.1A-1E show one embodiment of a wafer level LED chip 10 fabricated using the method according to the present invention. Referring now to FIG. 1A, the LED chips 10 are shown as being at the wafer level of their fabrication process. That is, the LED chips 10 did not go through all the necessary steps before being separated / singulated from the wafer into individual LED chips. A phantom line is included to represent the dicing or dicing line between the LED chips 10 and subsequent further manufacturing steps, and as shown in FIG. 1E, the LED chips are divided into individual elements. Can be separated. 1A-1E also show only two devices at the wafer level, it should be understood that much more LED chips can be formed from a single wafer. For example, up to 4500 LED chips can be fabricated on 3-inch wafers when manufacturing LED chips with a 1 millimeter (mm) square size.

LED 칩(10) 각각은 상이한 방식으로 정렬되는 많은 상이한 반도체 층들을 가질 수 있는 반도체 LED(12)를 포함한다. LED의 제조 및 동작은 일반적으로 당업계에 알려져 있으며 본 명세서에는 간략하게만 설명하겠다. LED(10)의 층은 금속 유기 화학 기상 증착(MOCVD)을 이용하여 제조되는 것처럼 적당한 공정 프로세스를 갖는 공지된 공정을 이용하여 제조될 수 있다. LED(12)의 층은 일반적으로, 모두 기판(20) 상에 연속적으로 형성되어 있고 반대로 도핑된 제1 에피택셜 층 및 제2 에피택셜 층(16, 18) 사이에 개재된 활성 층/영역(14)을 포함한다. 이 실시예에서, LED(12)는 기판(20) 상의 별도의 소자로서 도시된다. LED들(12) 사이의 개방 영역을 형성하기 위해 활성 영역(14)과 도핑층(16, 18)의 일부를 기판(20)을 향하여 아래로 에칭되게 함으로써 이러한 분리가 달성될 수 있다. 다른 실시예에서, 아래에 더 상세히 기술되는 바와 같이, 활성층(14)과 도핑층(16, 18)은 기판(20) 상의 연속 층으로서 유지될 수 있으며, LED 칩들이 싱귤레이팅될 때 개개의 소자로 분리될 수 있다.Each of the LED chips 10 includes a semiconductor LED 12 that can have many different semiconductor layers aligned in different ways. The manufacture and operation of LEDs are generally known in the art and will be described briefly herein. The layer of LED 10 may be manufactured using known processes having suitable process processes, such as those made using metal organic chemical vapor deposition (MOCVD). The layers of the LEDs 12 are generally all continuous on the substrate 20 and oppositely doped with an active layer / area interposed between the doped first and second epitaxial layers 16, 18. 14). In this embodiment, the LED 12 is shown as a separate device on the substrate 20. This separation can be achieved by having the active region 14 and portions of the doped layers 16, 18 etched down towards the substrate 20 to form an open region between the LEDs 12. In another embodiment, as described in more detail below, the active layer 14 and the doped layers 16, 18 can be maintained as a continuous layer on the substrate 20, with individual devices as the LED chips are singulated. Can be separated.

LED(12)에는, 광 추출 층 및 요소들뿐만 아니라, 버퍼 층, 핵생성(nucleation) 층, 접촉 층, 및 전류 확산을 포함하는 추가의 층 및 요소들이 포함될 수 있지만, 상기의 층들로 한정되는 것은 아니다. 활성 영역(14)은 단일 양자 우물(SQW, single quantum well), 복수의 양자 우물(MQW, multiple quantum well), 이중 헤터로 구조물 또는 초격자(super lattice) 구조물을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 제1 에피택셜 층(16)은 n-타입 도핑층이고, 제2 에피택셜층(18)은 p-타입 도핑층이지만, 다른 실시예에서는 제1 층(16)이 p-타입 도핑될 수 있고, 제2 층(18)은 n-타입 도핑될 수 있다. 이후부터 제1 에피택셜 층 및 제2 에피택셜 층(16, 18) 각각은 n-타입 층 및 p-타입 층으로 각각 언급된다.The LED 12 may include light extraction layers and elements, as well as additional layers and elements including buffer layers, nucleation layers, contact layers, and current spreading, but are limited to the above layers. It is not. The active region 14 may include a single quantum well (SQW), a plurality of quantum wells (MQW), a double hetero structure or a super lattice structure. In one embodiment, the first epitaxial layer 16 is an n-type doped layer and the second epitaxial layer 18 is a p-type doped layer, but in other embodiments the first layer 16 is p- Type doped, and second layer 18 may be n-type doped. Hereinafter, each of the first epitaxial layer and the second epitaxial layer 16, 18 is referred to as an n-type layer and a p-type layer, respectively.

LED(12)의 영역(14)과 층들(16, 18)은 상이한 재료계(material system)로부터 제조될 수 있는데, 바람직한 재료계는 III족 질화물 기반의 재료계이다. III족 질화물은 질소와, 통상적으로 알루미늄(Al), 갈륨(Ga) 및 인듐(In)과 같은 주기율표의 III족에 있는 원소 사이에 형성된 반도체 화합물을 말한다. 이 용어는 또한, 알루미늄 갈륨 질화물(AlGaN)과 알루미늄 인듐 갈륨 질화물(AlInGaN)과 같은 3원 및 4원 화합물을 말한다. 바람직한 실시예에서, n-타입 층 및 p-타입 층(16, 18)은 갈륨 질화물(GaN)이며, 활성 영역(14)은 InGaN이다. 대안적인 실시예에서, n-타입 및 p-타입 층(16, 18)은 AlGaN, 알루미늄 갈륨 비소(AlGaAs) 또는 알루미늄 갈륨 인듐 비소 인화물(AlGaInAsP)일 수 있다.Regions 14 and layers 16, 18 of LED 12 may be fabricated from different material systems, with a preferred material system being a III-nitride based material system. Group III nitrides refer to semiconductor compounds formed between nitrogen and elements typically in Group III of the periodic table, such as aluminum (Al), gallium (Ga), and indium (In). The term also refers to ternary and quaternary compounds such as aluminum gallium nitride (AlGaN) and aluminum indium gallium nitride (AlInGaN). In a preferred embodiment, the n-type and p-type layers 16, 18 are gallium nitride (GaN) and the active region 14 is InGaN. In alternative embodiments, the n-type and p-type layers 16, 18 may be AlGaN, aluminum gallium arsenide (AlGaAs) or aluminum gallium indium arsenide phosphide (AlGaInAsP).

기판(20)은 사파이어, 실리콘 탄화물, 알루미늄 질화물(AlN), GaN과 같은 많은 재료로 만들어 질 수 있은데, 적합한 기판은 실리콘 탄화물의 4H 폴리타입이지만, 3C, 6H 및 15R 폴리타입을 포함하는 다른 실리콘 탄화물 폴리타입 또한 사용될 수 있다. 실리콘 탄화물은 사파이어보다 결정 격자가 III족 질화물에 더 잘 매치되는 것과 같은 특정한 이점을 가지며, 고품질의 III족 질화물 막을 가져올 수 있다. 또한 실리콘 탄화물은 열전도율이 매우 높아 실리콘 탄화물 상의 III족 잘화물 소자의 총 출력 전력은, (사파이어 상에 형성된 일부 소자의 경우에서와 같은) 기판의 열 소산(thermal dissipation)에 의해 제한받지 않는다. SiC 기판은 노스 캐롤라이나 더럼 소재의 Cree Research, Inc로부터 입수할 수 있으며, 이러한 기판을 제조하는 방법은 미국특허 제34,861호, 제4,946,547호 및 제5,200,022호뿐만 아니라 과학 문헌에도 기술되어 있다. 예시된 실시예에서, 기판(20)은 웨이퍼 레벨에 있으며, 복수의 LED(12)가 웨이퍼 기판(20) 상에 형성되어 있다.Substrate 20 can be made from many materials, such as sapphire, silicon carbide, aluminum nitride (AlN), GaN. Suitable substrates are 4H polytypes of silicon carbide, but other substrates include 3C, 6H, and 15R polytypes. Silicon carbide polytypes may also be used. Silicon carbide has certain advantages, such as better crystal lattice matching Group III nitride than sapphire, and can result in high quality Group III nitride films. In addition, silicon carbide has a very high thermal conductivity, so that the total output power of the group III well-illuminated device on silicon carbide is not limited by thermal dissipation of the substrate (as in the case of some devices formed on sapphire). SiC substrates are available from Cree Research, Inc., Durham, NC, and methods for making such substrates are described in the scientific literature as well as in US Pat. Nos. 34,861, 4,946,547 and 5,200,022. In the illustrated embodiment, the substrate 20 is at the wafer level and a plurality of LEDs 12 are formed on the wafer substrate 20.

LED(12) 각각은 제1 및 제2 접촉부(22, 24)를 가질 수 있다. 도시된 실시예에서, LED는 기판(20) 상의 제1 접촉부(22) 및 p-타입 층(18) 상의 제2 접촉부(24)를 갖는 수직형 기하구조를 갖는다. 제1 접촉부(22)는 기판 상에 하나의 층으로서 도시되었지만, LED 칩들이 웨이퍼로부터 싱귤레이팅될 때, 각각의 LED 칩(10)이 제1 접촉부(22) 중 자기 자신의 부분을 갖도록, 이 제1 접촉부(22) 또한 분리될 것이다. 제1 접촉부(22)에 인가된 전기 신호는 n-타입 층(16)으로 확산되며, 제2 접촉부(24)에 인가된 신호는 p-타입 층(18)으로 확산된다. III족 질화물 소자의 경우, 얇은 반투명 전류 확산 층이 통상적으로 p-타입 층(18)의 일부 또는 전부를 피복한다는 것은 잘 알려져 있다. 제2 접촉부(24)는, 통상적으로 백금(Pt)과 같은 금속 또는 인듐 주석 산화물(ITO)과 같은 투명 전도성 산화물인 이와 같은 층을 포함할 수 있다는 것이 이해될 것이다. 이후부터, 제1 및 제2 접촉부(22, 24)는 n-타입 접촉부 및 p-타입 접촉부로서 각각 언급된다.Each of the LEDs 12 may have first and second contacts 22, 24. In the illustrated embodiment, the LED has a vertical geometry with a first contact 22 on the substrate 20 and a second contact 24 on the p-type layer 18. The first contact 22 is shown as a layer on the substrate, but when the LED chips are singulated from the wafer, this means that each LED chip 10 has its own portion of the first contact 22. The first contact 22 will also be separated. The electrical signal applied to the first contact 22 is spread to the n-type layer 16, and the signal applied to the second contact 24 is spread to the p-type layer 18. For group III nitride devices, it is well known that a thin translucent current spreading layer typically covers some or all of the p-type layer 18. It will be appreciated that the second contact 24 may comprise such a layer, which is typically a metal such as platinum (Pt) or a transparent conductive oxide such as indium tin oxide (ITO). From now on, the first and second contacts 22, 24 are referred to as n-type contacts and p-type contacts, respectively.

본 발명에는 또한, 양 접촉부가 LED의 상단에 있는 측면 기하구조를 가진 LED가 사용될 수 있다. p-타입 층(18)과 활성 영역의 일부는, n-타입 층(16) 상의 접촉 메사(mesa)를 노출시키기 위해 에칭과 같은 기술에 의해 제거된다. 활성 영역(14)과 p-타입 층(18)의 제거된 부분의 경계는 수직 가상선(25)으로 표시된다. n-타입 층(16)의 메사 상에는 제2 측면 n-타입 접촉부(26)(역시 가상으로 도시됨) 가 제공된다. 접촉부들은 알려진 증착 기술을 이용하여 증착된 알려진 재료를 포함할 수 있다.In the present invention, an LED having a side geometry in which both contacts are on top of the LED can also be used. The p-type layer 18 and some of the active regions are removed by techniques such as etching to expose the contact mesas on the n-type layer 16. The boundary between the active region 14 and the removed portion of the p-type layer 18 is indicated by a vertical virtual line 25. On the mesa of n-type layer 16 is provided a second side n-type contact 26 (also shown virtually). The contacts can include known materials deposited using known deposition techniques.

이제 도 1b를 참조하면, 본 발명에 따라, LED(12)의 코팅 후에 p-타입 접촉부(24)와의 전기적 접촉을 만드는데 이용되는 p-타입 접촉 페데스탈(28)이 p-타입 접촉부(24) 상에 형성된다. 페데스탈(28)은 많은 상이한 전기 전도성 재료로 형성될 수 있으며, 전기 도금, 무전해 도금, 또는 스터드 범핑과 같은 많은 상이한 공지된 물리적 또는 화학적 증착 공정을 이용하여 형성될 수 있는데, 바람직한 접촉 페데스탈은 금(Au)이며, 스터드 범핑을 이용하여 형성된다. 이 방법은 통상적으로 가장 쉬우면서 가장 비용 효율적인 접근 방식이다. 페데스탈(28)은 구리(Cu) 또는 니켈(Ni) 또는 인듐 또는 이들의 조합과 같은 Au 외의 다른 전도성 재료로 만들어질 수 있다.Referring now to FIG. 1B, in accordance with the present invention, the p-type contact pedestal 28 used to make electrical contact with the p-type contact 24 after coating of the LED 12 is formed on the p-type contact 24. Is formed. Pedestal 28 may be formed of many different electrically conductive materials and may be formed using many different known physical or chemical deposition processes, such as electroplating, electroless plating, or stud bumping, with the preferred contact pedestal being gold. (Au), which is formed using stud bumping. This method is usually the easiest and most cost effective approach. Pedestal 28 may be made of a conductive material other than Au, such as copper (Cu) or nickel (Ni) or indium or a combination thereof.

스터드 범프를 형성하는 공정은 일반적으로 공지되어 있으며, 본 명세서에서는 간략하게만 설명하겠다. 스터드 범프는 종래의 와이어 본딩에서 사용되는 "볼 본딩" 공정을 수정함으로써 접촉부(본드 패드) 상에 배치된다. 볼 본딩에서, 본드 와이어의 팁(tip)이 용해되어 구를 형성한다. 와이어 본딩 도구는 기계적 힘, 열 및/또는 초음파 에너지를 가하면서 이 구를 접촉부에 대해 압착하여 금속 접속부를 생성한다. 다음으로, 와이어 본딩 도구는, 보드, 기판 또는 리드 프레임 상의 접속 패드에까지 금 와이어를 연장하고, 그 패드에 대한 "스티치" 본드를 만들며, 다른 사이클을 시작하기 위해 그 본드 와이어를 끊어 마무리한다. 스터드 범핑에 대해, 제1 볼 본드가 기술된 바와 같이 만들어지며, 그 다음 와이어가 볼 위의 가까이에 서 끊어진다. 결과의 금 볼, 즉 "스터드 범프"는 접촉부 상에 남게 되며 하부 접촉부 금속으로의 영구적이고 신뢰할 수 있는 접속을 제공한다. 그 다음, 스터드 범프는 기계적 압력에 의해 평탄하게 (또는 "압인가공(coined)") 되어 더욱 평탄한 상부 표면과 더욱 균일한 범프 높이를 제공할 수 있으며, 동시에 임의의 남아있는 와이어를 볼 쪽으로 가압한다.Processes for forming stud bumps are generally known and will be described briefly herein. Stud bumps are placed on contacts (bond pads) by modifying the "ball bonding" process used in conventional wire bonding. In ball bonding, the tips of the bond wires dissolve to form a sphere. The wire bonding tool compresses the sphere against the contact while applying mechanical force, heat and / or ultrasonic energy to create a metal connection. Next, the wire bonding tool extends the gold wire to the connection pad on the board, substrate, or lead frame, creates a “stitch” bond to that pad, and finishes breaking the bond wire to start another cycle. For stud bumping, a first ball bond is made as described, and the wire is then broken near the ball. The resulting gold ball, or “stud bump”, remains on the contact and provides a permanent and reliable connection to the bottom contact metal. The stud bumps can then be flattened (or “coined”) by mechanical pressure to provide a flatter top surface and more uniform bump height, while simultaneously pressing any remaining wire towards the ball. .

페데스탈(28)의 높이는 형광체가 로딩된 바인더 코팅의 원하는 두께에 따라 변할 수 있으며, LED로부터 형광체가 로딩된 바인더 코팅의 상부 표면 위로 확장되거나 또는 그에 매치될 만큼 충분히 높아야 한다. 이 높이는 200 ㎛를 초과할 수 있는데, 통상적인 페데스탈의 높이는 20 내지 60㎛의 범위이다. 일부 실시예에서, 하나보다 많은 스터드 범프가 적층되어 원하는 페데스탈의 높이를 달성할 수 있다. 스터드 범프 또는 다른 형태의 페데스탈(28)은 또한 반사층을 가질 수 있거나, 또는 반사 재료로 만들어져 광 손실을 최소화할 수 있다.The height of the pedestal 28 may vary depending on the desired thickness of the phosphor-loaded binder coating and should be high enough to extend from or match the top surface of the phosphor-coated binder coating from the LED. This height may exceed 200 μm, with typical pedestal heights ranging from 20 to 60 μm. In some embodiments, more than one stud bump can be stacked to achieve the desired pedestal height. Stud bumps or other forms of pedestal 28 may also have a reflective layer, or may be made of reflective material to minimize light loss.

도시된 수직형 기하구조 타입의 LED(12)에 대해, p-타입 접촉부(24)를 위해서는 오직 하나의 페데스탈(28)이 필요하다. 대안적인 측면 기하구조의 LED에 대해서는, 제2 n-타입 페데스탈(30)(가상으로 도시됨)이 측면 기하구조의 n-타입 접촉부(26) 상에 형성되는데, 통상적으로 p-타입 페데스탈(28)과 동일한 재료로, 실질적으로 동일한 높이로, 동일한 공정을 이용하여 형성된다.For the vertical geometry type LED 12 shown, only one pedestal 28 is needed for the p-type contact 24. For an alternative side geometry LED, a second n-type pedestal 30 (shown virtually) is formed on the side geometry n-type contact 26, typically a p-type pedestal 28. Are formed using the same process, at substantially the same height.

이제 도 1c를 참조하면, 웨이퍼는, 각각의 LED(12) 및 그것의 접촉부(22)를 피복하고 페데스탈(28)을 피복하고/매립할 정도의 두께를 갖는 형광체/바인더 코팅(32)에 의해 뒤덮힌다. 측면 기하구조의 소자에 대해, 접촉부(26) 및 페데스 탈(30) 또한 매립된다. 본 발명은, 특정 소자 또는 특징부(feature)에 대해 정렬할 필요없이 웨이퍼 레벨에서 LED(12) 위로 형광체 코팅을 증착하는 이점을 제공한다. 대신에, 전체 웨이퍼가 피복되며, 이는 더욱 간단하고 더욱 비용 효과적인 제조 공정을 제공한다. 스핀 코팅, 전기영동 증착, 정전기 증착, 프린팅, 제트 프린팅, 또는 스크린 프린팅과 같은 상이한 공정들을 이용하여 형광체 코팅이 도포될 수 있다.Referring now to FIG. 1C, the wafer is covered by a phosphor / binder coating 32 having a thickness that covers each LED 12 and its contacts 22 and covers / embedded the pedestal 28. Covered For elements of lateral geometry, contacts 26 and pedestals 30 are also embedded. The present invention provides the advantage of depositing a phosphor coating over the LEDs 12 at the wafer level without having to align for a particular device or feature. Instead, the entire wafer is coated, which provides a simpler and more cost effective manufacturing process. The phosphor coating can be applied using different processes such as spin coating, electrophoretic deposition, electrostatic deposition, printing, jet printing, or screen printing.

바람직한 실시예에서, 형광체는 스핀 코팅을 이용하여 형광체/바인더 혼합물로 웨이퍼 위에 증착될 수 있다. 스핀 코팅은 일반적으로 당업계에 공지되어 있으며, 일반적으로 원하는 양의 바인더와 형광체의 혼합물을 기판의 중심에서 증착하고 그 기판을 고속으로 스피닝하는 것을 포함한다. 원심력(원심 가속도)는 그 혼합물로 하여금 기판으로 확산되어 종국에는 기판의 가장자리까지 확산되기 한다. 최종적인 층 두께와 다른 특성들은 혼합물의 특징(점성, 건조 속도, 형광체의 퍼센티지, 표면 장력 등) 및 스핀 공정을 위해 선택된 파라미터에 의존한다. 대형 웨이퍼의 경우, 기판을 고속으로 스피닝하기 전에 기판 위로 형광체/바인더 혼합물을 분배하는 것이 유용할 수 있다.In a preferred embodiment, the phosphor can be deposited onto the wafer in a phosphor / binder mixture using spin coating. Spin coating is generally known in the art and generally involves depositing a desired amount of a mixture of binder and phosphor at the center of the substrate and spinning the substrate at high speed. Centrifugal force (central acceleration) causes the mixture to diffuse into the substrate and eventually to the edge of the substrate. The final layer thickness and other properties depend on the characteristics of the mixture (viscosity, drying rate, percentage of phosphor, surface tension, etc.) and the parameters selected for the spin process. For large wafers, it may be useful to dispense the phosphor / binder mixture over the substrate before spinning the substrate at high speed.

다른 실시예에서, 형광체는 공지되어 있는 전기 영동 증착법을 이용하여 웨이퍼 상에 증착된다. 웨이퍼 및 웨이퍼의 LED는 소정의 액체 내에 부유하는 형광체 입자들을 함유하는 용액에 노출된다. 이 용액과 LED 사이에는 전기적 신호가 인가되어 전기장을 발생시키고, 이 전기장은 형광체 입자로 하여금 LED로 이동하여 그 위에 증착되게 한다. 이 공정은 통상적으로 LED 위에 뒤덮인 형광체를 분말 형태로 둔다. 그 다음, 코팅(32)을 형성하기 위해 바인더는, 바인더 내에 가라앉아 있는 형광체 입자들을 갖는 형광체 위로 증착될 수 있다. 바인더 코팅은 공지되어 있는 많은 방법들을 이용하여 도포될 수 있으며, 일 실시예에서, 바인더 코팅은 스핀 코팅을 이용하여 도포된다.In another embodiment, the phosphor is deposited on a wafer using known electrophoretic deposition. The wafer and the LEDs of the wafer are exposed to a solution containing phosphor particles suspended in a given liquid. An electrical signal is applied between the solution and the LED to generate an electric field, which causes the phosphor particles to migrate to the LED and be deposited thereon. This process typically leaves the phosphor covered over the LED in powder form. A binder can then be deposited over the phosphor with phosphor particles settling in the binder to form the coating 32. The binder coating can be applied using many known methods, and in one embodiment, the binder coating is applied using spin coating.

그 다음, 형광체/바인더 코팅(32)은, 사용된 바인더의 종류와 같은 상이한 인자에 따라 많은 상이한 경화 방법을 이용하여 경화될 수 있다. 상이한 경화 방법들은 열경화, 자외선(UV) 경화, 적외선(IR) 경화, 공기 경화를 포함하지만, 이들로 한정되는 것은 아니다.The phosphor / binder coating 32 can then be cured using many different curing methods, depending on different factors such as the type of binder used. Different curing methods include, but are not limited to, thermal curing, ultraviolet (UV) curing, infrared (IR) curing, air curing.

이들로 한정되는 것은 아니지만, 형광체 입자의 크기, 형광체 로딩 퍼센티지, 바인더 재료의 종류, 형광체의 종류와 발광의 파장 간의 매치율, 및 형광체/바인딩 층의 두께를 포함하는 상이한 인자들이 최종 LED 칩의 형광체/바인더 코팅에 의해 흡수될 LED 광량을 결정한다. 이들 상이한 인자들은 본 발명에 따른 LED 칩의 방출 파장을 제어하기 위해 제어될 수 있다.Although not limited to these, different factors including the size of the phosphor particles, the phosphor loading percentage, the type of binder material, the match rate between the type of phosphor and the wavelength of luminescence, and the thickness of the phosphor / binding layer are the phosphors of the final LED chip. Determine the amount of LED light to be absorbed by the binder coating. These different factors can be controlled to control the emission wavelength of the LED chip according to the invention.

바인더를 위해 상이한 재료들이 사용될 수 있는데, 경화 후에도 강건(robust)하고 가시적 파장 스펙트럼에서 실질적으로 투명한 재료가 바람직하다. 적당한 재료는, 실리콘, 에폭시, 유리, 스핀 온 유리(spin-on glass), BCB, 폴리이미드 및 중합체를 포함하는데, 고전력 LED에서의 높은 투명도와 신뢰성 때문에 실리콘이 바람직한 재료이다. 적당한 페닐 기반의 실리콘 및 메틸 기반의 실리콘은 Dow® Chemical로부터 상업적으로 입수할 수 있다. 다른 실시예들에서, 바인더 재료는, 인덱스가 칩(반도체 재료) 및 성장 기판과 같은 특징부와 매치되도록 처리될 수 있으며, 이는 내부 전반사(TIR, total internal reflection)를 감소킬 수 있고 광 추출을 개선할 수가 있다.Different materials may be used for the binder, with materials that are robust after curing and substantially transparent in the visible wavelength spectrum. Suitable materials include silicon, epoxy, glass, spin-on glass, BCB, polyimide and polymers, with silicon being the preferred material because of its high transparency and reliability in high power LEDs. Suitable phenyl based silicones and methyl based silicones are commercially available from Dow® Chemical. In other embodiments, the binder material may be treated so that the index matches features such as chips (semiconductor materials) and growth substrates, which may reduce total internal reflection (TIR) and reduce light extraction. It can be improved.

본 발명에 따라 코팅(32)에는 많은 상이한 형광체가 사용될 수 있다. 본 발명은, 특히 백색광을 방출하는 LED 칩에 적합하다. 본 발명에 따른 일 실시예에서, LED(12)는 청색 파장 스펙트럼의 광을 방출하며, 형광체는 그 청색광 중 일부를 흡수하고 황색광을 재방출한다. LED 칩(10)은 청색광과 황색광이 결합된 백색광을 방출한다. 일 실시예에서, 형광체는 상업적으로 입수할 수 있는 YAG:Ce를 포함하지만, Y3Al5O12:Ce (YAG)와 같은 (Gd,Y)3(Al,Ga)5O12:Ce계 기반의 형광체로 만들어진 변환 입자를 이용하는 전 범위의 광범위한 황색 스펙트럼 방출이 가능하다. 백색 발광 LED 칩에 사용될 수 있는 다른 황색 형광체로는,Many different phosphors can be used in the coating 32 according to the present invention. The present invention is particularly suitable for LED chips that emit white light. In one embodiment according to the present invention, the LED 12 emits light in the blue wavelength spectrum, and the phosphor absorbs some of the blue light and re-emits yellow light. The LED chip 10 emits white light in which blue light and yellow light are combined. In one embodiment, the phosphor comprises commercially available YAG: Ce, but based on (Gd, Y) 3 (Al, Ga) 5 O 12 : Ce such as Y 3 Al 5 O 12 : Ce (YAG) A full range of yellow spectral emission is possible using transformed particles made of phosphor based phosphors. Other yellow phosphors that can be used on white light emitting LED chips,

Tb3-xRExO12:Ce(TAG); RE=Y, Gd, La, Lu; 또는Tb 3-x RE x O 12 : Ce (TAG); RE = Y, Gd, La, Lu; or

Sr2-x-yBaxCaySiO4:Eu가 있다.Sr 2-xy Ba x Ca y SiO 4 : Eu.

상이한 백색조(white hue)(온백색)의 보다 높은 CRI 백색을 위해 제1 형광체와 제2 형광체, 즉 황색 형광체와 적색 형광체가 결합될 수 있다. 이하의 것들을 포함하여 상이한 적색 형광체들이 사용될 수 있다:The first phosphor and the second phosphor, ie the yellow phosphor and the red phosphor, can be combined for higher CRI whites of different white hue (warm white). Different red phosphors can be used including the following:

SrxCa1-xS:Eu, Y; Y=할로겐화물(halide);Sr x Ca 1-x S: Eu, Y; Y = halide;

CaSiAlN3:Eu; 또는CaSiAlN 3 : Eu; or

Sr2-yCaySiO4:Eu.Sr 2-y Ca y SiO 4 : Eu.

다른 형광체를 사용하여 실질적으로 모든 광을 특정 색으로 변환함으로써 포화색 방출을 만들어낼 수 있다. 예컨대, 아래의 형광체들을 사용하여 녹색 포화 광을 발생시킬 수 있다:Other phosphors can be used to produce substantially saturated color emission by converting virtually all of the light into a particular color. For example, the following phosphors can be used to generate green saturated light:

SrGa2S4:Eu;SrGa 2 S 4 : Eu;

Sr2-yBaySiO4:Eu; 또는Sr 2-y Ba y SiO 4 : Eu; or

SrSi2O2N2:Eu.SrSi 2 O 2 N 2 : Eu.

다른 물질도 사용될 수는 있지만, LED 칩(10)의 변환 입자로서 사용되는 몇몇 추가의 적당한 형광체를 아래에 열거하였다. 각각은 청색 및/또는 UV 방출 스펙트럼에서의 여기(excitation)를 나타내고, 바람직한 피크 방출을 제공하며, 효율적인 광 변환을 갖고, 수용 가능한 스토크스 이동(Stokes shift)을 갖는다.Some other suitable phosphors used as conversion particles of the LED chip 10 are listed below, although other materials may also be used. Each exhibits excitation in the blue and / or UV emission spectrum, provides the desired peak emission, has an efficient light conversion, and has an acceptable Stokes shift.

황색/녹색Yellow / green

(Sr,Ca,Ba)(Al,Ga)2S4:Eu2+ (Sr, Ca, Ba) (Al, Ga) 2 S 4 : Eu 2+

Ba2(Mg,Zn)Si2O7:Eu2+ Ba 2 (Mg, Zn) Si 2 O 7 : Eu 2+

Gd0.46Sr0.31Al1.23OxF1.38:Eu2+ 0.06 Gd 0.46 Sr 0.31 Al 1.23 O x F 1.38 : Eu 2+ 0.06

(Ba1-x-ySrxCay)SiO4:Eu(Ba 1-xy Sr x Ca y ) SiO 4 : Eu

Ba2SiO4:Eu2+ Ba 2 SiO 4 : Eu 2+

적색Red

Lu2O3:Eu3+ Lu 2 O 3 : Eu 3+

(Sr2-xLax)(Ce1-xEux)O4 (Sr 2-x La x ) (Ce 1-x Eu x ) O 4

Sr2Ce1-xEuxO4 Sr 2 Ce 1-x Eu x O 4

Sr2-xEuxCeO4 Sr 2-x Eu x CeO 4

SrTiO3:Pr3+,Ga3+ SrTiO 3 : Pr 3+ , Ga 3+

CaAlSiN3:Eu2+ CaAlSiN 3 : Eu 2+

Sr2Si5N8:Eu2+ Sr 2 Si 5 N 8 : Eu 2+

상이한 크기의 형광체 입자들, 예컨대 10-100 나노미터(nm) 크기의 입자들 내지 20-30㎛ 크기의 입자들, 또는 그 이상의 크기의 입자들이 사용될 수 있지만, 이러한 크기들로 한정되는 것은 아니다. 통상적으로 더 작은 크기의 입자가 더 큰 크기의 입자보다 색을 더 잘 산란시키고 혼합하여 더욱 균일한 광을 제공한다. 통상적으로 큰 입자들은 작은 입자들과 비교하여 광 변환시 더욱 효율적이지만, 덜 균일한 광을 방출한다. 일 실시예에서, 입자 크기는 2-5㎛ 범위이다. 다른 실시예에서, 코팅(32)은 상이한 종류의 형광체를 포함할 수 있거나, 단색 또는 다색 광원을 위한 다중 형광체 코팅을 포함할 수 있다.Different sizes of phosphor particles, such as 10-100 nanometer (nm) sized particles to 20-30 μm sized particles, or larger sized particles may be used, but are not limited to these sizes. Typically, smaller size particles scatter and mix colors better than larger size particles to provide more uniform light. Typically larger particles are more efficient in light conversion compared to smaller particles, but emit less uniform light. In one embodiment, the particle size is in the range of 2-5 μm. In other embodiments, the coating 32 may include different kinds of phosphors, or may include multiple phosphor coatings for mono or multicolor light sources.

코팅(32)은 또한, 바인더 내에 형광체 재료의 상이한 농도 또는 상이한 로딩을 가질 수 있는데, 통상적인 농도는 중량으로 30 내지 70% 범위이다. 일 실시예에서, 형광체 농도는 중량으로 약 65%이며, 바람직하게 바인더 전반에 균일하게 분산된다. 또 다른 실시예에서, 코팅은 상이한 농도를 갖는 종류의 형광체의 복수의 층들을 포함하거나 또는 제1 클리어 실리콘 코팅제가 증착되고 후속하여 형광체 로딩 층이 증착될 수 있다.The coating 32 may also have different concentrations or different loadings of phosphor material in the binder, with typical concentrations ranging from 30 to 70% by weight. In one embodiment, the phosphor concentration is about 65% by weight, and is preferably uniformly dispersed throughout the binder. In another embodiment, the coating may comprise a plurality of layers of phosphors of a kind having different concentrations, or a first clear silicon coating may be deposited followed by a phosphor loading layer.

전술한 바와 같이, 페데스탈(28) (및 측면 소자용 페데스탈(30))은 코팅(32)에 의해 매립되는데, 이는 LED 칩(10)이 정렬될 필요없이 코팅될 수 있도록 허용한다. LED 칩의 초기 코팅 후, 페데스탈(28)을 노출시키기 위한 추가 공정이 필요하다. 이제 도 1d를 참조하면, 페데스탈(28)이 코팅의 상부 표면을 통해 노출되도록, 코팅(32)은 박막화되거나 또는 평탄화된다. 바인더가가 경화된 후, 그라인딩, 랩핑(lapping) 또는 폴리싱(polishing)과 같은 알려진 기계적 공정을 포함하여 많은 상이한 박막화 공정이 이용될 수 있다. 다른 제조 방법들은 경화되기 전에 코팅을 박막화 하기 위해 스퀴지(squeegee)를 포함하거나, 또는 그 코팅이 경화되기 전에 가압 평탄화가 또한 이용될 수 있다. 또 다른 실시예에서, 물리적 또는 화학적 에칭 또는 박리(ablation)를 이용하여 코팅이 박막화 될 수 있다. 이 박막화 공정은 페데스탈을 노출시킬 뿐만 아니라, 코팅의 평탄화 및 코팅의 최종 두께의 제어를 허용한다. As mentioned above, pedestal 28 (and pedestal 30 for the side elements) is embedded by coating 32, which allows the LED chip 10 to be coated without the need for alignment. After the initial coating of the LED chip, an additional process is needed to expose the pedestal 28. Referring now to FIG. 1D, the coating 32 is thinned or planarized such that the pedestal 28 is exposed through the top surface of the coating. After the binder has cured, many different thinning processes can be used, including known mechanical processes such as grinding, lapping or polishing. Other manufacturing methods include a squeegee to thin the coating before curing, or pressure planarization may also be used before the coating is cured. In yet another embodiment, the coating may be thinned using physical or chemical etching or ablation. This thinning process not only exposes the pedestal, but also allows flattening of the coating and control of the final thickness of the coating.

평탄화에 후속하여, 코팅의 제곱 평균 제곱근 표면 거칠기(roughness)는 대략 10 nm이하가 되어야 하지만, 표면은 다른 표면 거칠기 측정치를 가질 수 있다. 일부 실시예에서, 표면은 평탄화 중에 텍스처링 될 수 있다. 다른 실시예에서, 평탄화 후에 코팅 또는 다른 표면은, 레이저 텍스처링, 기계적 성형, 에칭(화학적 또는 플라즈마), 또는 다른 공정과 같은 것을 이용하여 텍스처링되어, 광 추출을 향상시킬 수 있다. 텍스처링 결과, 표면 특징부는 0.1-5㎛, 바람직하게는 0.2-1㎛ 높이 또는 깊이를 갖는다. 다른 실시예에서, LED(12)의 표면 또한, 광 추출을 향상시키기 위하여 텍스처링 또는 성형될 수 있다.Following planarization, the root mean square surface roughness of the coating should be approximately 10 nm or less, but the surface may have other surface roughness measurements. In some embodiments, the surface may be textured during planarization. In other embodiments, after planarization the coating or other surface may be textured using such things as laser texturing, mechanical molding, etching (chemical or plasma), or other processes to enhance light extraction. As a result of the texturing, the surface features have a height or depth of 0.1-5 μm, preferably 0.2-1 μm. In another embodiment, the surface of the LED 12 may also be textured or shaped to improve light extraction.

이제 도 1e를 참조하면, 개개의 LED 칩(10)은, 다이싱, 스크라이브 및 절단, 또는 에칭과 같은 공지되어 있는 방법을 이용하여 웨이퍼로부터 싱귤레이팅될 수 있다. 싱귤레이팅 공정은 LED 칩(10) 각각을 실질적으로 동일한 두께의 코팅(32)을 갖도록, 결과적으로 실질적으로 동일한 양의 형광체 및 방출 특성을 갖도록 분리한다. 이는 유사한 방출 특성을 갖는 LED 칩(10)의 신뢰할 수 있고 일관된 제조를 허용한다. 싱귤레이팅에 후속하여, LED 칩은 형광체를 첨가하는 추가 공정의 필요없이, 패키지 내에 장착되거나 또는, 서브마운트 또는 인쇄 회로 기판(PCB)에 장착될 수 있다. 일 실시예에서, 패키지/서브마운트/PCB는, 페데스탈이 리드에 전기적으로 접속되는 종래의 패키지 리드를 가질 수 있다. 그 다음, LED 칩 및 전기 접속부 주위에 캡슐화(encapsulation)가 진행된다. 다른 실시예에서, LED 칩은 대기압에서 또는 대기압 아래에서 LED 칩을 둘러싸는 불활성 분위기(inert atmosphere)로 밀폐하여 밀봉된 커버에 의해 둘러싸여질 수 있다.Referring now to FIG. 1E, individual LED chips 10 may be singulated from a wafer using known methods such as dicing, scribing and cutting, or etching. The singulating process separates each of the LED chips 10 to have a coating 32 of substantially the same thickness, and consequently to have substantially the same amount of phosphor and emission characteristics. This allows for reliable and consistent manufacture of LED chips 10 with similar emission characteristics. Following singulation, the LED chip may be mounted in a package or mounted on a submount or printed circuit board (PCB), without the need for an additional process of adding phosphors. In one embodiment, the package / submount / PCB may have a conventional package lead to which the pedestal is electrically connected to the lead. Then encapsulation takes place around the LED chip and the electrical connections. In another embodiment, the LED chip may be surrounded by a sealed cover that is sealed with an inert atmosphere surrounding the LED chip at or below atmospheric pressure.

LED 칩(10)에 대해, 기판(20)을 향해 방출되는 LED(12)로부터의 광은, 형광체/바인더 코팅(32)을 통과하지 않고 기판을 통해 LED 칩(10) 밖으로 전달될 수 있 다. 이는 광의 특정한 색 또는 색조를 발생시키기 위해 수용될 수 있다. 이러한 기판 발광이 방지되거나 또는 최소화되는 실시예에서, LED(12)로부터 기판(20)을 향해 방출되는 광이 차단 또는 흡수되어, LED 칩(10)으로부터 방출되는 대부분의 광이 코팅(32)을 통과하는 광으로부터 비롯될 수 있도록, 기판(20)은 불투명할 수 있다.For the LED chip 10, light from the LED 12 emitted towards the substrate 20 can be transmitted out of the LED chip 10 through the substrate without passing through the phosphor / binder coating 32. . This can be accommodated to generate a particular color or hue of light. In embodiments where such substrate luminescence is prevented or minimized, the light emitted from the LED 12 toward the substrate 20 is blocked or absorbed such that most of the light emitted from the LED chip 10 may cause the coating 32 to dissipate. Substrate 20 may be opaque so that it can originate from light passing through it.

도 2는 도 1a 내지 1e에 도시되어 있고 상술되어 있는 LED 칩(10)과 유사하지만, LED 칩(40)의 상단을 향하는 LED 칩 광의 방출을 촉진하고 광이 기판(20)으로 향하는 것을 최소화하기 위한 추가의 특징부를 갖는, LED 칩(40)의 다른 실시예를 도시한다. LED 칩(10)에 있는 것들과 유사한 특징부들에 대해, 동일한 참조번호가 본 명세서에서 사용될 것이다. LED 칩(40) 각각은, 기판(20) 상에 연속적으로 형성되어 있는 n-타입 층(16), 활성 영역(14), 및 p-타입 층(18)을 갖고 기판(20) 상에 형성되어 있는 LED(12)를 포함한다. LED 칩(40)은 n-타입 접촉부(22), p-타입 접촉부(24), p-타입 페데스탈(28), 및 코팅(32)을 더 포함한다. 코팅(32)은 페데스탈(28)을 노출시키기 위해 평탄화된다. LED 칩(40)은 대안적으로 추가 페데스탈(30)을 갖는 측면 기하구조를 가질 수 있다.FIG. 2 is similar to the LED chip 10 shown in FIGS. 1A-1E and described above, but to facilitate the emission of LED chip light directed towards the top of the LED chip 40 and to minimize the light directed to the substrate 20. Another embodiment of an LED chip 40 is shown, with additional features for it. For features similar to those in the LED chip 10, the same reference numerals will be used herein. Each of the LED chips 40 is formed on the substrate 20 with an n-type layer 16, an active region 14, and a p-type layer 18 formed continuously on the substrate 20. LED 12 is included. The LED chip 40 further includes an n-type contact 22, a p-type contact 24, a p-type pedestal 28, and a coating 32. Coating 32 is planarized to expose pedestal 28. The LED chip 40 may alternatively have a side geometry with an additional pedestal 30.

LED 칩(40)은 또한, 활성 영역으로부터 기판(20)을 향해 방출되고 다시 LED 칩(40)의 상단을 향해 방출되는 광을 반사시키도록 구성되는 반사 층(42)을 포함한다. 이러한 반사 층(42)은, 기판(20)을 통과하는 것과 같이 LED 칩(40)으로부터 방출되기 전에 종래의 재료를 통과하지 않는 LED(12)로부터의 광의 방출은 감소시키고 LED 칩(40)의 상단을 향하는 코팅(32)을 통한 광의 방출은 촉진시킨다.The LED chip 40 also includes a reflective layer 42 configured to reflect light emitted from the active region toward the substrate 20 and back toward the top of the LED chip 40. This reflective layer 42 reduces the emission of light from the LED 12 that does not pass through conventional materials before being emitted from the LED chip 40, such as through the substrate 20, and reduces the The emission of light through the coating 32 facing upwards is facilitated.

반사 층(42)은 상이한 방식으로, LED 칩(40)의 상이한 위치에 배치될 수 있는데, 층(42)은 n-타입 층(16)과 기판(20) 사이에 배치된 것으로 도시되어 있다. 층은 또한 LED 칩(12)의 수직형 에지를 너머 기판(20) 상에서 확장될 수 있다. 다른 실시예에서, 반사 층은 오직 n-타입 층(16)과 기판 사이에만 존재한다. 층(42)은, 분산형 브래그 반사기(DBR, distributed Bragg reflector)와 같은 금속 또는 반도체 반사기를 포함하는 상이한 재료들을 포함할 수 있지만, 이에 한정되는 것은 아니다. Reflective layer 42 may be disposed at different locations of LED chip 40 in different ways, with layer 42 being shown disposed between n-type layer 16 and substrate 20. The layer may also extend on the substrate 20 beyond the vertical edge of the LED chip 12. In other embodiments, the reflective layer is only between the n-type layer 16 and the substrate. Layer 42 may include, but is not limited to, different materials, including metal or semiconductor reflectors, such as a distributed Bragg reflector (DBR).

전술한 바와 같이, 일부 실시예에서, 활성 영역(14)과 n-타입 및 p-타입층(16, 18)은 LED들(12) 사이의 가상선으로 도시된 바와 같이 기판(20) 상의 연속층일 수 있다. 이러한 실시예에서, LED는, LED 칩(50)이 싱귤레이팅되는 단계까지 분리되지 않는다. 이에 따라, 결과의 LED 칩은 LED의 상부 표면 위의 코팅(32) 층을 가질 수 있다. 이는 LED(12)의 측면의 바깥으로 활성 영역 광의 방출을 허용하지만, 주위의 특징부들에 관하여 이러한 LED를 이용하는 실시예에서, 형광체의 재료와 직면하지 않는 광의 방출은 형광체의 재료를 통과하는 광의 양과 비교하여 최소화될 수 있다.As noted above, in some embodiments, the active region 14 and the n-type and p-type layers 16, 18 are continuous on the substrate 20 as shown by imaginary lines between the LEDs 12. It may be a layer. In this embodiment, the LEDs are not separated until the LED chip 50 is singulated. Accordingly, the resulting LED chip may have a layer of coating 32 over the top surface of the LED. This allows for the emission of active area light out of the side of the LED 12, but in an embodiment using such an LED with respect to surrounding features, the emission of light that does not face the material of the phosphor is dependent on the amount of light passing through the material of the phosphor. Can be minimized in comparison.

본 발명에 따른 방법은 다른 상이한 소자 및 LED를 코팅하는데 이용될 수 있다. 도 3a 내지 3e는 전술한 도 1a 내지 도 1e에 도시된 LED 칩(10)과 상이한 구조를 갖는 상이한 LED 칩(60)을 도시한다. 먼저 도 3a를 참조하면, LED 칩(60) 또한 웨이퍼 레벨에 있으며, 싱귤레이팅 전의 상태가 도시되어 있다. LED 칩(60)은 성장 기판 상에 있지는 않지만 대신 캐리어 기판(64)에 플립 웨이퍼 본딩된 LED(62)를 포함한다. 이 실시예에서, 성장 기판은 도 1a 내지 도 1e의 성장 기판(20)을 위해 전술한 재료를 포함할 수 있지만, 이 실시예에서 성장 기판은 플립 웨이퍼 본딩 후에 (또는 전에), 공지되어 있는 그라인딩 및/또는 에칭 공정을 이용하여 제거된다. LED(62)는, 통상적으로 하나 이상의 본드/금속 층이고, 또한 자신에게 입사하는 광을 반사시키는 역할을 하는 층(66)에 의해 캐리어 기판(64)에 장착된다. 다른 실시예에서, 성장 기판 또는 이것의 적어도 일부는 그대로 남아 있다. 성장 기판 또는 남아 있는 부분은 LED(62)로부터의 광 추출을 향상시키기 위해 성형 또는 텍스처링될 수 있다.The method according to the invention can be used to coat other different devices and LEDs. 3A to 3E show different LED chips 60 having a different structure from the LED chip 10 shown in FIGS. 1A to 1E described above. Referring first to FIG. 3A, the LED chip 60 is also at the wafer level and the state prior to singulation is shown. LED chip 60 includes LEDs 62 that are not on the growth substrate but instead flip wafer bonded to carrier substrate 64. In this embodiment, the growth substrate may comprise the materials described above for the growth substrate 20 of FIGS. 1A-1E, but in this embodiment the growth substrate is known grinding after (or before) flip wafer bonding. And / or removed using an etching process. The LED 62 is typically mounted to the carrier substrate 64 by a layer 66 which is one or more bond / metal layers and also serves to reflect light incident upon it. In other embodiments, the growth substrate or at least a portion thereof remains intact. The growth substrate or remaining portion may be molded or textured to enhance light extraction from the LED 62.

LED를 위해 많은 상이한 재료계가 이용될 수 있는데, 바람직한 재료계는 전술한 공지의 공정들을 이용하여 성장된 III족 질화물 재료계이다. 도 1 내지 5의 LED(12)와 마찬가지로, LED(62) 각각은 일반적으로, n-타입 에픽택셜 층(70)과 p-타입 에피택셜층(72) 사이에 개재된 활성 영역(68)을 포함하지만, 다른 층 또한 포함될 수 있다. LED(62)가 플립 웨이퍼 본딩되기 때문에, 최상위 층은 n-타입 층(70)이고, p-타입 층(72)은 활성 영역(68)과 본드/금속 층(66) 사이에 배치된 최하위 층이다. 캐리어 기판은 많은 상이한 공지의 재료로 형성될 수 있으며, 적당한 재료는 실리콘이다.Many different material systems can be used for LEDs, with the preferred material system being a group III nitride material system grown using known processes described above. Like the LEDs 12 of FIGS. 1-5, each of the LEDs 62 generally has an active region 68 interposed between the n-type epitaxial layer 70 and the p-type epitaxial layer 72. However, other layers may also be included. Since the LEDs 62 are flip wafer bonded, the top layer is the n-type layer 70 and the p-type layer 72 is the bottom layer disposed between the active region 68 and the bond / metal layer 66. to be. The carrier substrate can be formed from many different known materials, and a suitable material is silicon.

수직형 기하구조의 LED 칩(60)에 대해, n-타입 접촉부(74)는 LED 각각의 상부 표면 상에 포함될 수 있고, p-타입 접촉부(76)는 캐리어 기판(64) 상에 형성될 수 있다. n-타입 및 p-타입 접촉부(74, 76) 또한, 전술한 도 1a 내지 1e에 도시된 제1 및 제2 접촉부(22, 24)와 유사한, 공지된 기술을 이용하여 증착된 종래의 전도 성 재료로 만들어질 수 있다. 또한 전술한 바와 같이, LED는 LED의 상단 위에 n-타입 및 p-타입 접촉부를 가진 측면 기하구조를 가질 수 있다.For the vertical geometry LED chip 60, n-type contacts 74 may be included on the top surface of each of the LEDs, and p-type contacts 76 may be formed on the carrier substrate 64. have. The n-type and p-type contacts 74, 76 are also conventional conductivity deposited using known techniques similar to the first and second contacts 22, 24 shown in Figures 1A-1E described above. It can be made of materials. As also mentioned above, the LED may have a side geometry with n-type and p-type contacts on top of the LED.

이제 도 3b를 참조하면, LED 칩(60) 각각은 자신의 제1 접촉부(70) 상에 형성된 페데스탈(78)을 가질 수 있으며, 각각의 페데스탈은 도 1b 내지 1e의 페데스탈(28)에 대해 전술한 것과 동일한 방법을 이용하여 동일한 재료로 형성된다. 도 3c에 도시된 바와 같이, 그 다음 LED 칩 웨이퍼는, 바람직하게 형광체가 로딩된 바인더를 포함하는 블랭킷 코팅(80)에 의해 피복될 수 있다. 전술한 도 1c 내지 1e에 도시된 코팅(32)에 대한 것과 동일한 형광체 및 바인더가 사용될 수 있으며, 동일한 방법을 이용하여 증착될 수 있다. 코팅(80)은 LED(62), LED(62)의 제1 접촉부(74) 및 페데스탈(78)을 피복 및 매립하고, 코팅(80)은 정렬 단계 없이 증착된다.Referring now to FIG. 3B, each of the LED chips 60 may have a pedestal 78 formed on its first contact 70, each pedestal being described above with respect to the pedestal 28 of FIGS. 1B-1E. It is formed of the same material using the same method as that used. As shown in FIG. 3C, the LED chip wafer can then be covered by a blanket coating 80, preferably comprising a binder loaded with phosphors. The same phosphors and binders as for the coatings 32 shown in FIGS. 1C-1E described above can be used and can be deposited using the same method. The coating 80 covers and embeds the LED 62, the first contacts 74 and the pedestal 78 of the LED 62, and the coating 80 is deposited without the alignment step.

이제 도 3d를 참조하면, 전술한 방법을 이용하여 페테스탈(78)을 노출시키고 코팅(80)의 두께를 제어하기 위하여 코팅(80)은 평탄화되거나 또는 박막화될 수 있다. 이제 도 3e를 참조하면, 개개의 LED 칩(60)은 전술한 방법을 이용하여 웨이퍼로부터 싱귤레이팅될 수 있다. 그 다음, 이러한 소자들은 서브마운트 또는 PCB에 패키징되거나 또는 장착될 수 있다. 다른 실시예에서, 캐리어 기판이 제거될 수 있고, 그러면 서브마운트 또는 PCB에 패키징되거나 또는 장착될 수 있는 코팅된 LED가 남게 된다.Referring now to FIG. 3D, the coating 80 may be planarized or thinned to expose the pedestal 78 and control the thickness of the coating 80 using the methods described above. Referring now to FIG. 3E, individual LED chips 60 may be singulated from a wafer using the method described above. These devices can then be packaged or mounted in a submount or PCB. In another embodiment, the carrier substrate can be removed, leaving a coated LED that can be packaged or mounted on a submount or PCB.

플립 웨이퍼 본딩된 LED는 또한, 원하는 방향으로의 발광을 촉진하기 위해 반사성 소자 또는 층을 가질 수 있다. 도 4는 전술한 도 3a 내지 3e에 도시된 LED 칩(60)과 유사한 웨이퍼 레벨의 LED 칩(90)을 도시한다. 본 명세서에서 유사한 특징부에 대해 동일한 참조번호가 사용되며, LED 칩(90)이 수직형 기하구조의 LED(62)를 갖는 것으로 도시되어 있지만, 측면 기하구조의 LED 또한 사용될 수 있다는 것이 이해될 것이다. LED 칩(90)은 캐리어 기판 또는 성장 기판일 수 있는 기판(64)에 장착된 LED(62)를 포함한다. LED(62) 각각은 전술한 바와 같이 활성 층(68), n-타입 층(70), p-타입 층(72), p-타입 접촉부(76), n-타입 접촉부(74), 및 페데스탈(78)을 포함하며, 형광체가 로딩된 바인더 코팅(80)은 전술한 바와 같이 LED 위에 형성된다. 그러나, 이 실시예에서, 반사층(92)이 LED(62)와 기판(64) 사이에 포함되며, 반사층(92)은 DBR과 같은 고반사성 금속 또는 고반사성 반도체 구조를 포함할 수 있다. 반사층(92)은 기판(64)을 향해 방출되는 LED광을 반사하고, 광이 기판을 통과하는 것을 방지하는데 도움을 주는데, 여기서 광의 적어도 일부는 기판(64)에 의해 흡수될 수 있다. 이는 또한 LED 칩(90)으로부터 LED 칩(90)의 상단을 향하는 발광을 촉진한다. 특히 기판(64)이 캐리어 기판인 실시예에서는 반사층 아래에 또는 다른 위치에 본드/금속 층(도시 안됨) 또한 포함될 수 있다는 것이 이해될 것이다. LED 칩(90)은 아래의 층으로의 옴 접촉(ohmic contact)을 촉진하기 위하여 p-타입 층(72)에 인접한 p-접촉 층 또한 포함할 수 있다.Flip wafer bonded LEDs may also have reflective elements or layers to facilitate light emission in a desired direction. FIG. 4 shows a wafer level LED chip 90 similar to the LED chip 60 shown in FIGS. 3A-3E described above. Although the same reference numerals are used herein for similar features and the LED chip 90 is shown having a vertical geometry LED 62, it will be understood that the LED of the side geometry may also be used. . The LED chip 90 includes an LED 62 mounted to a substrate 64 which may be a carrier substrate or a growth substrate. Each of the LEDs 62 has an active layer 68, an n-type layer 70, a p-type layer 72, a p-type contact 76, an n-type contact 74, and a pedestal as described above. And a binder coating 80 loaded with phosphor is formed over the LED as described above. However, in this embodiment, a reflective layer 92 is included between the LED 62 and the substrate 64, and the reflective layer 92 may comprise a highly reflective metal or a highly reflective semiconductor structure, such as a DBR. Reflective layer 92 reflects the LED light emitted towards substrate 64 and helps to prevent light from passing through the substrate, where at least some of the light may be absorbed by substrate 64. This also promotes light emission from the LED chip 90 toward the top of the LED chip 90. In particular, it will be appreciated that in embodiments where the substrate 64 is a carrier substrate, a bond / metal layer (not shown) may also be included beneath the reflective layer or at other locations. The LED chip 90 may also include a p-contact layer adjacent to the p-type layer 72 to facilitate ohmic contact to the underlying layer.

도 5a 내지 5d는 전술한 도 3a 내지 3e에 도시된 LED 칩(60)과 유사한, 본 발명에 따라 제조된 LED 칩(100)의 다른 실시예를 도시한다. 그러나, 이 방법 또한, 전술한 도 1a 내지 도 1e에 도시된 실시예와 같은 비 플립 웨이퍼 본딩 실시예에 사용될 수 있다는 것이 이해될 것이다. 먼저 도 5a를 참조하면, LED 칩(100)은, 이러한 경우 캐리어 기판인 기판(64)에 장착된 수직형 LED(62)를 포함한다. 측면 LED 또한 전술한 바와 같이 사용될 수 있다는 것이 이해될 것이다. LED(62) 각각은 전술한 바와 같이 활성 층(68), n-타입 층(70), p-타입 층(72), p-타입 접촉부(76), n-타입 접촉부(74) 및 페데스탈(78)을 포함한다. 그러나, LED 칩(100)은 전술한 재료로 만들어진 바인더에 고정된, 또한 전술한 형광체(및 기타 다른물질) 재료를 가질 수 있는 미리 제조된 코팅 층(102)에 의해 피복된다.5A-5D show another embodiment of an LED chip 100 fabricated in accordance with the present invention, similar to the LED chip 60 shown in FIGS. 3A-3E described above. However, it will be appreciated that this method may also be used in non-flip wafer bonding embodiments, such as the embodiments shown in Figures 1A-1E described above. Referring first to FIG. 5A, the LED chip 100 includes a vertical LED 62 mounted to a substrate 64, which in this case is a carrier substrate. It will be appreciated that the side LEDs can also be used as described above. Each of the LEDs 62 has an active layer 68, an n-type layer 70, a p-type layer 72, a p-type contact 76, an n-type contact 74 and a pedestal as described above. 78). However, the LED chip 100 is covered by a prefabricated coating layer 102 which may be fixed to a binder made of the above-mentioned material and may also have the above-described phosphor (and other materials) material.

이제 도 5b를 참조하면, 컨포멀(conformal) 코팅을 제공하기 위해, 층(102)이 LED(62) 및 LED(62)의 페데스탈(78) 위에 배치되어 이들을 피복한다. 일 실시예에서, 본딩 재료가 부착을 위해 층(102)과 LED 칩(100) 사이에 포함될 수 있으며, 통상적인 접착제로는 실리콘이나 또는 에폭시가 이용된다. 컨포멀 코팅을 더 촉진하기 위해서, 층(102)이 가열되거나, 또는 층(102)을 LED 칩(100) 위로 끌어내리기 위해 진공 상태가 가해질 수 있다. 층(102)은 또한, 층(102)이 LED 칩에 더욱 용이하게 합치되도록 바인더가 완전히 경화되지 않은 상태에서 제공될 수 있다. 층(102)의 컨포멀 배치에 후속하여, 바인더는 자신의 최종 경화를 위해 노출될 수 있다.Referring now to FIG. 5B, a layer 102 is disposed over and covers the LEDs 62 and the pedestals 78 of the LEDs 62 to provide a conformal coating. In one embodiment, a bonding material may be included between the layer 102 and the LED chip 100 for adhesion, and conventional adhesives include silicone or epoxy. To further facilitate the conformal coating, layer 102 may be heated, or a vacuum may be applied to pull layer 102 onto LED chip 100. Layer 102 may also be provided with the binder not fully cured so that layer 102 more easily conforms to the LED chip. Subsequent to the conformal placement of layer 102, the binder can be exposed for its final curing.

이제 도 5c를 참조하면, 층(102)은 페데스탈(78)을 노출시켜 그 페테스탈(78)들을 접촉에 이용 가능하게 만들기 위하여 전술한 방법을 이용하여 평탄화될 수 있다. 그 다음, 도 5d에 도시된 바와 같이, LED 칩(100)은 전술한 방법을 이용하여 싱귤레이팅될 수 있다.Referring now to FIG. 5C, layer 102 may be planarized using the method described above to expose pedestal 78 and make the pedestals 78 available for contact. Then, as shown in FIG. 5D, the LED chip 100 may be singulated using the method described above.

LED 칩(100)에 대한 제조 방법은, 층(102)의 두께를 제어함으로써 형광체/바 인더의 두께가 정확하게 제어되도록 허용한다. 이 방법은 또한, LED 칩(130)의 상이한 원하는 방출 특성을 위해 상이한 층 두께와 조성의 이용을 허용한다.The manufacturing method for the LED chip 100 allows the thickness of the phosphor / binder to be accurately controlled by controlling the thickness of the layer 102. This method also allows the use of different layer thicknesses and compositions for the different desired emission characteristics of the LED chip 130.

도 6a 내지 6c는 LED 칩(60)과 유사한, 본 발명에 따른 LED 칩(110)의 또 다른 실시예를 도시한다. 먼저 도 6a를 참조하면, LED 칩(110) 각각은, 캐리어 기판 또는 성장 기판인 기판(64)에 장착된 수직형 LED(62)를 갖는다. LED(62) 각각은 전술한 바와 같이 활성 층(68), n-타입 층(70), p-타입 층(72), p-타입 접촉부(76), n-타입 접촉부(74) 및 페데스탈(78)을 포함한다. 전술한 재료로 만들어진 코팅(112)은 LED(62) 위에 포함되어 페데스탈(78)을 매립한다.6A-6C show another embodiment of the LED chip 110 according to the present invention, similar to the LED chip 60. Referring first to FIG. 6A, each of the LED chips 110 has a vertical LED 62 mounted to a substrate 64 that is a carrier substrate or a growth substrate. Each of the LEDs 62 has an active layer 68, an n-type layer 70, a p-type layer 72, a p-type contact 76, an n-type contact 74 and a pedestal as described above. 78). A coating 112 made of the aforementioned material is included over the LED 62 to bury the pedestal 78.

도 6b를 참조하면, 이 실시예에서, 코팅(112)은 페데스탈(78)을 노출시키기 위해 평탄화되지 않는다. 대신 코팅은 페데스탈보다 높은 레벨에서 유지되며, 페데스탈(78)을 매립하는 코팅(112)의 일부가 제거되어, 코팅(112) 내에 오목한 부분(114)이 남는다. 페데스탈(78)은 접촉을 위해 이 오목한 부분(114)을 통해 노출된다. 종래의 패터닝 또는 에칭 공정과 같은, 코팅을 제거하는데 이용될 수 있는 많은 상이한 방법들이 이용될 수 있다. 이제 도 6c를 참조하면, 그 다음, LED 칩(110)은 전술한 방법을 사용하여 싱귤레이팅될 수 있다.Referring to FIG. 6B, in this embodiment, the coating 112 is not planarized to expose the pedestal 78. Instead, the coating is maintained at a higher level than the pedestal, and the portion of the coating 112 that embeds the pedestal 78 is removed, leaving a recess 114 in the coating 112. Pedestal 78 is exposed through this recessed portion 114 for contact. Many different methods can be used that can be used to remove the coating, such as conventional patterning or etching processes. Referring now to FIG. 6C, the LED chip 110 may then be singulated using the method described above.

오목한 부분(114)을 형성하기 위한 이러한 방법은, 코팅(112)의 평탄화와 함께 사용될 수 있다. 층(112)은, LED 칩(110)의 원하는 방출 특성을 제공하는 레벨로 평탄화될 수 있으며, 페데스탈(78) 위에 존재할 수 있다. 그 다음, 오목한 부분(114)이 페데스탈에 접근하도록 형성될 수 있다. 이는 페데스탈을 코팅보다 낮은 감소된 높이로 형성하는 것을 허용하며, 이는 페데스탈(78)을 형성하는 것과 관련 된 제조 비용을 절감할 수 있다. 이 공정은 오목한 부분 형성과의 약간의 정렬을 필요로 할 수 있지만, 코팅(112)은 여전히 정렬이 필요없이 도포된다.This method for forming the recessed portion 114 can be used with the planarization of the coating 112. Layer 112 may be planarized to a level that provides the desired emission characteristics of LED chip 110 and may reside above pedestal 78. Concave portion 114 may then be formed to access the pedestal. This allows forming the pedestal to a reduced height lower than the coating, which can reduce the manufacturing costs associated with forming the pedestal 78. This process may require some alignment with the indentation, but the coating 112 is still applied without the need for alignment.

상기 LED 칩 실시예에서의 페데스탈은, Au, Cu, Ni 또는 In과 같은 전도성 재료를 포함하는 것으로 기술되고, 바람직하게는 스터드 범핑 공정을 이용하여 형성된다. 대안적으로, 페데스탈은 상이한 재료로 만들어질 수 있으며 상이한 방법을 이용하여 형성될 수 있다. 도 7은 캐리어 기판(124) 상에 플립 웨이퍼 본딩된 LED(122)를 포함하는, LED 칩(120)의 다른 실시예를 도시한다. 이 실시예에서, 페데스탈(136)은 일반적으로 페데스탈(136)의 형상으로 형성된 반도체 재료(138)를 포함한다. 반도체 재료(138)는 제1 접촉부 상에 있을 수 있거나, 또는 도시된 바와 같이 제1 에피택셜 층(130) 상에 있을 수 있다. 전도성 재료의 페데스탈 층(140)은 반도체 재료(138)의 상부 표면 상에 포함되고 제1 에피택셜 층(130)의 상부 표면에까지 연장되어 n-타입 접촉부를 형성한다.The pedestal in the LED chip embodiment is described as including a conductive material such as Au, Cu, Ni or In, and is preferably formed using a stud bumping process. Alternatively, the pedestal may be made of different materials and formed using different methods. FIG. 7 illustrates another embodiment of an LED chip 120, including an LED 122 that is flip wafer bonded on a carrier substrate 124. In this embodiment, pedestal 136 generally includes semiconductor material 138 formed in the shape of pedestal 136. The semiconductor material 138 may be on the first contact or may be on the first epitaxial layer 130 as shown. Pedestal layer 140 of conductive material is included on the top surface of semiconductor material 138 and extends to the top surface of first epitaxial layer 130 to form n-type contacts.

반도체 재료(138)는 많은 상이한 방식으로 형성될 수 있으며, LED 에피택셜층을 구성하는 재료 또는 예컨대 GaN, SiC, 사파이어, Si 등과 같은 성장 기판 재료와 같은 많은 상이한 재료를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 반도체 재료(138)는 에피택셜층으로부터 에칭된 다음, 페데스탈 층(162)으로 코팅될 수 있다. 다른 실시예에서, 성장 기판을 LED(122)로부터 제거하는 동안 성장 기판의 일부가 에피택셜 층 상에 남아 있을 수 있다. 그 다음, 남아 있는 성장 기판 일부는 페데스탈 층(140)에 의해 피복될 수 있다.The semiconductor material 138 may be formed in many different ways, and may include many different materials, such as materials constituting the LED epitaxial layer, or growth substrate materials such as, for example, GaN, SiC, sapphire, Si, and the like. In one embodiment, the semiconductor material 138 may be etched from the epitaxial layer and then coated with the pedestal layer 162. In another embodiment, a portion of the growth substrate may remain on the epitaxial layer while removing the growth substrate from the LED 122. Then, some of the remaining growth substrate may be covered by the pedestal layer 140.

도 8은 여전히 도 7의 LED 칩(120)과 유사한 웨이퍼 형태의 LED 칩(150)의 다른 실시예를 도시하는데, 여기서 유사한 특징부에 대해서는 동일한 참조 번호가 사용된다. LED 칩(150)은 본드/금속 층(126)에 의해 캐리어 기판(124) 상에 플립 웨이퍼 본딩된 LED(122)를 포함한다. 페데스탈(154)은 각각의 LED(122) 상에, 바람직하게는 n-타입 접촉부(155) 상에 형성된다. 페데스탈(154)은 제1 접촉부(152)에까지 연장되는 전도성 재료의 페데스탈 층(158)으로 피복되는 페데스탈(154)의 형상과 실질적으로 유사한 형상으로 패터닝 가능한 재료(156)를 포함한다. 패터닝 가능한 재료(156)는, BCB, 폴리이미드, 및 유전체와 같은, LED 제조 및 동작과 양립할 수 있는 상이한 재료를 포함할 수 있다. 이러한 재료들은 공지된 공정을 이용하여 LED(112) 상에 형성될 수 있다. 대안으로서, 페데스탈(154)은, 은 에폭시 또는 프린트 가능한 잉크와 같은 패터닝 가능한 전기 전도성 재료를 이용하여 형성될 수 있는데, 이러한 경우, 층(158)은 필요하지 않을 수 있다. 페데스탈을 제조하기 위한 다른 방법 및 접근 방식이 사용될 수 있으며, 그 중 일부는 Khon Lau의 "플립 칩 기술(Flip-Chip Technologies)"(McGraw Hill, 1996)에 기술되어 있다.8 still shows another embodiment of an LED chip 150 in the form of a wafer similar to the LED chip 120 of FIG. 7, where like reference numerals are used for similar features. LED chip 150 includes an LED 122 that is flip wafer bonded on carrier substrate 124 by a bond / metal layer 126. Pedestal 154 is formed on each LED 122, preferably on n-type contacts 155. Pedestal 154 includes patternable material 156 in a shape substantially similar to that of pedestal 154 covered with pedestal layer 158 of conductive material extending to first contact 152. Patternable material 156 may include different materials that are compatible with LED fabrication and operation, such as BCB, polyimide, and dielectric. Such materials may be formed on the LED 112 using known processes. Alternatively, pedestal 154 may be formed using a patternable electrically conductive material, such as silver epoxy or printable ink, in which case layer 158 may not be necessary. Other methods and approaches for manufacturing pedestals can be used, some of which are described in Khon Lau's "Flip-Chip Technologies" (McGraw Hill, 1996).

상기 실시예들과 같이, LED 칩(120 및 150)을 포함하는 웨이퍼는 코팅 재료층에 의해 뒤덮여, LED 칩 및 LED 칩의 페데스탈을 매립할 수 있다. 코팅 재료는, 전술한 형광체 및 바인더를 포함할 수 있으며, 코팅 재료를 통해 페데스탈을 노출시키기 위해 전술한 방법을 이용하여 박막화될 수 있다. 그 다음, LED 칩은 전술한 방법을 이용하여 싱귤레이팅될 수 있다.As with the above embodiments, the wafer including the LED chips 120 and 150 may be covered by a coating material layer to fill the LED chips and pedestals of the LED chips. The coating material may comprise the aforementioned phosphor and binder, and may be thinned using the method described above to expose the pedestal through the coating material. The LED chip can then be singulated using the method described above.

본 발명은 또한, 웨이퍼 레벨 이미터(emitter) 어레이를 제조하는데 이용될 수 있다. 도 9는 본드/금속 층(176)에 의해 캐리어 기판(174) 상에 플립 웨이퍼 본 딩된 LED(172)를 포함하는 웨이퍼 레벨 LED 어레이(170)의 일 실시예를 도시한다. LED는 제1 에피택셜층(180)과 제2 에피택셜층(182) 사이에 활성 영역(178)을 포함하며, 제1 에피택셜층(180) 상에는 제1 접촉부(184)가 존재한다. 페데스탈(186)은 제1 접촉부(184) 상에 포함되며, 형광체가 로딩된 바인더 코팅의 코팅(188)은 LED(172), 접촉부(184) 및 페데스탈(186)을 덮으며, 코팅은 페데스탈(186)의 상단을 노출시키도록 박막화 된다. 그러나, LED 어레이(180)에 대해, 개개의 LED 칩은 싱귤레이팅되지 않는다. 대신, 페데스탈(186)의 노출된 상단들을 병렬로 상호접속시키는 상호접속 금속 패드(190)가 LED 어레이(172)의 표면 상에 포함된다. 금속 패드(190)에 인가된 전기 신호는, 금속 패드(190)에 결합된 페데스탈(186)을 갖는 LED로 전달되어, 어레이 내의 LED를 조명하게 한다. LED 어레이는 금속 패드(190)에 의해 상호접속되는 LED에 따라, 예컨대 일렬로 또는 블록으로 정렬되는 것과 같이, 상이한 방식으로 정렬된 많은 상이한 개수의 LED를 포함할 수 있다는 것이 이해될 것이다.The invention may also be used to fabricate wafer level emitter arrays. 9 illustrates one embodiment of a wafer level LED array 170 including an LED 172 flip wafer bonded on a carrier substrate 174 by a bond / metal layer 176. The LED includes an active region 178 between the first epitaxial layer 180 and the second epitaxial layer 182, and a first contact 184 is present on the first epitaxial layer 180. A pedestal 186 is included on the first contact 184, a coating 188 of phosphor loaded binder coating covers the LED 172, the contact 184 and the pedestal 186, wherein the coating is a pedestal ( 186 is thinned to expose the top. However, for the LED array 180, the individual LED chips are not singulated. Instead, an interconnect metal pad 190 is included on the surface of the LED array 172 that interconnects the exposed tops of the pedestal 186 in parallel. The electrical signal applied to the metal pad 190 is transmitted to an LED having a pedestal 186 coupled to the metal pad 190 to illuminate the LEDs in the array. It will be appreciated that the LED array may include many different numbers of LEDs arranged in different ways, depending on the LEDs interconnected by the metal pad 190, for example aligned in line or in blocks.

도 10은 캐리어 기판(204)에 플립 웨이퍼 본딩된 LED(202)를 또한 갖는, 본 발명에 따른 LED 어레이(200)의 다른 실시예를 도시하는데, 상기 LED(202) 각각은 제1 에피택셜 층(210)과 제2 에피택셜 층(212) 사이에 활성 영역(208)을 포함한다. 제1 접촉부(214)는 제1 에피택셜 층(210) 상에 있고, 페데스탈(216)은 제1 접촉부(214) 상에 형성된다. 형광체가 로딩된 바인더 코팅(218)은 LED(202), 제1 접촉부(214) 및 페데스탈(216) 위에 포함되어 있으며, 페데스탈(216)의 상부 표면은 노출된다. LED(202)는 전기적 절연 본드 층(220)에 의해 캐리어 기판(204)에 장착되 고, p-접촉부(222)는 각각의 LED(202)와 절연 본드 층(220) 사이에 있다. 전도성 비아(224)는 p-접촉부와 LED들(202) 간의 코팅(218)의 표면 사이로 이어지며, 각각의 금속 패드(226)는 각각의 포스트(224)와 각각의 인접 페데스탈(216) 사이의 코팅(118)의 표면 상으로 이어진다. 이러한 배열은 LED(202)가 직렬 어레이로 접속되도록 LED들(202)들 사이에 전도성 경로를 제공하며, 상기 LED들 사이의 전도성 경로는 절연 본드 층(220)에 의해 기판으로부터 절연된다. 금속 패드에 인가된 전기 신호는 LED 각각을 통해 진행되어 LED들이 어레이에서 광을 방출하게 한다. LED 어레이(200)는 금속 패드(226)에 의해 상호접속된 LED에 따라, 예컨대 일렬로 또는 블록으로 배열되는 것과 같이, 상이한 방식으로 배열된 많은 상이한 개수의 LED를 포함할 수 있다는 것이 이해될 것이다.10 shows another embodiment of an LED array 200 according to the present invention, which also has an LED 202 flip wafer bonded to a carrier substrate 204, wherein each of the LEDs 202 has a first epitaxial layer. An active region 208 between 210 and second epitaxial layer 212. The first contact 214 is on the first epitaxial layer 210, and the pedestal 216 is formed on the first contact 214. Phosphor loaded binder coating 218 is included over LED 202, first contact 214 and pedestal 216, with the top surface of pedestal 216 exposed. The LED 202 is mounted to the carrier substrate 204 by an electrically insulating bond layer 220, and the p-contact 222 is between each LED 202 and the insulating bond layer 220. Conductive vias 224 run between the p-contact and the surface of the coating 218 between the LEDs 202, with each metal pad 226 between each post 224 and each adjacent pedestal 216. On the surface of the coating 118. This arrangement provides a conductive path between the LEDs 202 such that the LEDs 202 are connected in a series array, the conductive paths between the LEDs being insulated from the substrate by an insulating bond layer 220. Electrical signals applied to the metal pads travel through each of the LEDs, causing the LEDs to emit light from the array. It will be appreciated that the LED array 200 may include many different numbers of LEDs arranged in different ways, depending on the LEDs interconnected by the metal pads 226, for example arranged in a line or in blocks. .

본 발명에 따라 상이한 구조를 가진 많은 상이한 LED 칩들이 제조될 수 있다. 도 11은 전술한 도 1a 내지 도 1e에 도시된 LED 칩(10)과 유사하게 배치된, 본 발명에 따른 LED 칩(350)의 다른 실시예를 도시하는데, 여기서 유사한 특징부들에 대해 동일한 참조 번호가 사용된다. LED 칩(350)은 수직형 기하구조를 가지며, 각각 n-타입 에피택셜 층(16)과 p-타입 에피택셜 층(18) 사이에 활성 영역(14)을 포함하는 LED(12)를 포함한다. 페데스탈(28)은 p-타입 접촉부(24) 상에 형성되며, 형광체가 로딩된 바인더 코팅(32)은 LED(12)를 피복한다. 그러나, 이 실시예에서, LED(12)는 투명 기판(352) 상에 있으며, 이는 LED(12)에 대향하는 기판(352) 상에 반사층(354)이 형성되는 것을 허용한다. LED(12)로부터의 광은, 손실을 최소화하면서, 기판(352)을 통과하고 반사층(354)으로부터 다시 반사된다. 반사층(354)은 접 촉부(22)와 기판(352) 사이에 있는 것으로 도시되어 있지만, 반사층(354)과 기판(352) 사이에 접촉부(22)가 있어 반사층(354)이 최하부 층이 되는 것처럼 상이하게 배치될 수 있다는 것이 이해될 것이다.Many different LED chips with different structures can be manufactured according to the present invention. FIG. 11 shows another embodiment of an LED chip 350 according to the invention, arranged similarly to the LED chip 10 shown in FIGS. 1A-1E described above, wherein like reference numerals refer to like features. Is used. LED chip 350 has a vertical geometry and includes an LED 12 that includes an active region 14 between n-type epitaxial layer 16 and p-type epitaxial layer 18, respectively. . A pedestal 28 is formed on the p-type contact 24, and a phosphor coated binder coating 32 covers the LEDs 12. However, in this embodiment, the LED 12 is on a transparent substrate 352, which allows the reflective layer 354 to be formed on the substrate 352 opposite the LED 12. Light from the LED 12 passes through the substrate 352 and is reflected back from the reflective layer 354 with minimal loss. The reflective layer 354 is shown as being between the contact 22 and the substrate 352, but as there is a contact 22 between the reflective layer 354 and the substrate 352 such that the reflective layer 354 becomes the bottom layer. It will be appreciated that they may be arranged differently.

도 12는 또한 도 1a 내지 도 1e의 LED 칩과 유사하게 또한 배치된, 본 발명에 따른 LED 칩(370)의 다른 실시예를 도시한다. 이 실시예에서, LED 칩(370)은 측면 기하구조를 가지며, 각각 n-타입 에피택셜 층(16)과 p-타입 에피택셜 층(18) 사이에 활성 영역(14)을 포함하는 LED(12)를 포함한다. p-타입 층(18)과 활성 영역(14)의 일부가 에칭되어, n-타입 층(16)이 드러나고, p-타입 층(18) 상에는 p-타입 접촉부(24)가 존재하고 n-타입 층(16) 상에는 n-타입 접촉부(26)가 존재한다. p-타입 페데스탈(28)은 p-타입 접촉부(24) 상에 있고, n-타입 페데스탈(30)은 n-타입 접촉부(26) 상에 있다. 형광체가 로딩된 바인더 코팅(32)은 LED(12)를 피복하는데, 페데스탈(28, 30)은 코팅(32)을 통해 노출된다. LED(12)는 투명 기판(372)과, LED(12)에 대향하는 기판(372) 상에 포함된 반사층(374) 상에 있다. LED(12)는, LED(12) 각각의 상단에 p-타입 접촉부(24)와 p-타입 페데스탈(28)을 갖는 측면 기하구조를 갖는다. 반사층(374)은 또한 LED로부터의 광을 반사시키고 기판(372)을 통과하는 광은 손실이 최소화된다.12 also shows another embodiment of the LED chip 370 according to the present invention, which is also arranged similarly to the LED chip of FIGS. 1A-1E. In this embodiment, the LED chip 370 has a side geometry and includes an LED 12 comprising an active region 14 between the n-type epitaxial layer 16 and the p-type epitaxial layer 18, respectively. ). The p-type layer 18 and a portion of the active region 14 are etched to reveal the n-type layer 16, the p-type contact 24 being present on the p-type layer 18 and the n-type There is n-type contact 26 on layer 16. The p-type pedestal 28 is on the p-type contact 24 and the n-type pedestal 30 is on the n-type contact 26. Phosphor loaded binder coating 32 covers LED 12, with pedestals 28, 30 being exposed through coating 32. The LED 12 is on a transparent substrate 372 and a reflective layer 374 included on the substrate 372 opposite the LED 12. The LED 12 has a side geometry with a p-type contact 24 and a p-type pedestal 28 on top of each of the LEDs 12. Reflective layer 374 also reflects light from the LED and light passing through substrate 372 is minimized in loss.

본 발명에 따라 많은 상이한 변형이 행해진 LED 칩이 제조될 수 있으며, 도 13은 성장 기판(404) 상의 n-타입 층(406)과 p-타입 층(408) 사이에 활성 영역(405)을 가진 LED(402)를 가진 LED 칩(400)의 다른 실시예를 도시한다. 성장 기판이 박막화되어 있거나 또는 성장 기판이 제거된 후의 LED(402)가 또한 제공될 수 있다는 것이 이해될 것이다. LED는 또한 n-타입 및 p-타입 접촉부들(407, 409)을 갖는다. LED(402)는 다이싱되거나 또는 싱귤레이팅되고, 서브마운트/캐리어 웨이퍼(410)에 플립 칩이 본딩된다. 서브마운트/캐리어 웨이퍼(410) 상에는 전도성 트레이스(412)가 형성되고, 트레이스(412) 상에는 각각의 LED(402)가 장착되며, 제1 트레이스(412a)는 n-타입 층(406)과 전기적으로 접촉하고, 제2 트레이스(412b)는 p-타입 층(408)과 접촉한다. 스퍼터링과 같은 종래의 기술을 이용하여 증착된 알루미늄(Al) 또는 Au를 포함하는 종래의 트레이스가 이용될 수 있다. LED(402)는 Au와 같은 알려진 재료, 또는 금/주석 솔더 범프나 스터드 범프를 이용하여 종래의 방식대로 배치될 수 있는 플립 칩 본드(413)에 의해 트레이스(412)에 장착될 수 있다.LED chips with many different modifications can be made in accordance with the present invention, and FIG. 13 shows an active region 405 between the n-type layer 406 and the p-type layer 408 on the growth substrate 404. Another embodiment of an LED chip 400 with an LED 402 is shown. It will be appreciated that the LED 402 may also be provided after the growth substrate is thinned or after the growth substrate is removed. The LED also has n-type and p-type contacts 407, 409. The LED 402 is diced or singulated, and flip chips are bonded to the submount / carrier wafer 410. A conductive trace 412 is formed on the submount / carrier wafer 410, each LED 402 is mounted on the trace 412, and the first trace 412a is electrically connected to the n-type layer 406. And the second trace 412b is in contact with the p-type layer 408. Conventional traces comprising aluminum (Al) or Au deposited using conventional techniques such as sputtering can be used. LED 402 may be mounted to trace 412 by a known material, such as Au, or flip chip bond 413, which may be placed in a conventional manner using gold / tin solder bumps or stud bumps.

도 13 및 전술한 실시예, 그리고 후술되는 실시예에서의 페데스탈은 또한 전도성 층에 의해 코팅된 절연 재료로 만들어질 수 있다는 것이 또한 이해될 것이다. 일 실시예에서, 페데스탈은 기판 재료 또는 서브마운트/캐리어 웨이퍼 재료를 포함할 수 있다. LED 칩(400)에 있어서, 서브마운트/캐리어 웨이퍼는 페데스탈을 갖도록 제조될 수 있는데, LED 각각은 페데스탈들 사이에 장착된다. 전도성 층은 전도성 트레이스와 접촉하여 또는 다른 배열을 이용해서 LED와 접촉하여 페데스탈 위에 형성될 수 있다. 페데스탈은 많은 상이한 형상 및 크기를 가질 수 있으며, 일 실시예에서는, LED가 장착된 반사 컵(reflective cup)을 포함할 수 있다는 것이 이해될 것이다. 이 반사 컵은 전도성 트레이스 또는 다른 배열을 이용하여 LED와 접촉하는 전도성 층으로 코팅될 수 있다. 형광체 바인더 코팅의 평탄화 동안, 반사 컵의 상단은 접촉을 위해 노출될 수 있다. 또 다른 실시예에서, 반사 컵은 평탄화 동안에 노출될 수 있는 자기 자신의 페데스탈을 가질 수 있다.It will also be appreciated that the pedestals in FIGS. 13 and the foregoing embodiments, and in the embodiments described below, may also be made of an insulating material coated by a conductive layer. In one embodiment, the pedestal may comprise a substrate material or a submount / carrier wafer material. In the LED chip 400, the submount / carrier wafer can be made to have a pedestal, each of which is mounted between the pedestals. The conductive layer can be formed on the pedestal in contact with the conductive trace or in contact with the LED using another arrangement. It will be appreciated that the pedestal may have many different shapes and sizes, and in one embodiment, may include a reflective cup with an LED mounted thereon. This reflective cup can be coated with a conductive layer in contact with the LED using conductive traces or other arrangements. During planarization of the phosphor binder coating, the top of the reflective cup can be exposed for contact. In yet another embodiment, the reflective cup can have its own pedestal that can be exposed during planarization.

n-타입 페데스탈(414)은 제1 트레이스(412a) 상에 형성되고, p-타입 페데스탈(416)은 제2 트레이스(412b) 상에 형성되는데, 양 페데스탈 모두 전술한 방법을 이용하여 형성된다. 형광체/결합제 코팅(418)은 LED(402) 위에 포함되어, 페데스탈들(414, 416)을 매립한다. 그 다음, 코팅(418)은 접촉을 위해 페데스탈들(414, 416)을 노출시키도록 평탄화될 수 있거나, 또는 다른 실시예에서는 페데스탈들(414, 416)을 노출시키기 위해 코팅 내에 오목부가 형성될 수 있다. 그 다음, LED 칩은 전술한 공정을 이용하여 싱귤레이팅될 수 있다.An n-type pedestal 414 is formed on the first trace 412a and a p-type pedestal 416 is formed on the second trace 412b, both of which are formed using the method described above. A phosphor / binder coating 418 is included over the LED 402 to embed the pedestals 414 and 416. The coating 418 may then be planarized to expose the pedestals 414 and 416 for contact, or in other embodiments a recess may be formed in the coating to expose the pedestals 414 and 416. have. The LED chip can then be singulated using the process described above.

LED 칩(400)과 관련하여 기술된 제조 방법은, 웨이퍼(404)로의 장착을 위해 선택될 원하는 방출 특성을 가진 양호한 품질의 싱귤레이팅된 LED(402)의 이용을 허용한다. 이러한 배열은 또한, 공간들을 형성하기 위한 재료들의 에칭을 통해 귀중한 에피택셜 재료를 낭비하지 않으면서, LED들(402) 사이에 더 큰 공간을 갖는 웨이퍼에 LED(402)를 장착하는 것을 허용한다.The manufacturing method described in connection with the LED chip 400 allows the use of a good quality singulated LED 402 with the desired emission characteristics to be selected for mounting onto the wafer 404. This arrangement also allows mounting the LED 402 to a wafer with a larger space between the LEDs 402 without wasting valuable epitaxial material through etching the materials to form the spaces.

도 14는 캐리어 기판에 창착된 싱귤레이팅된 측면 기하구조의 LED(502)를 갖는, 본 발명에 따른 LED 칩(500)의 또 다른 실시예를 도시한다. LED(502) 각각은 성장 기판(510) 상에 연속적으로 형성된 n-타입 층(506)과 p-타입 층(508) 사이에 활성 영역(504)을 포함한다. 기판(510)은 많은 상이한 재료로 만들어질 수 있는데, 바람직한 기판은 사파이어와 같은 투명 재료로 만들어진 것이다. LED(502)는 성장 기판(510) 중 적어도 일부를 남기고 싱귤레이팅된다.14 shows another embodiment of an LED chip 500 according to the present invention having a LED 502 of singulated side geometry mounted to a carrier substrate. Each of the LEDs 502 includes an active region 504 between an n-type layer 506 and a p-type layer 508 formed successively on the growth substrate 510. The substrate 510 may be made of many different materials, with the preferred substrate being made of a transparent material such as sapphire. The LED 502 is singulated leaving at least some of the growth substrate 510.

그 다음, LED(502)는 캐리어 기판(512)을 아래로 한 상태에서 캐리어 기 판(512)에 장착된다. 캐리어 기판(512)은 투명 기판(516) 상에 제1 형광체/바인더 코팅(514)을 포함한다. 제1 코팅(514)은 LED(502)를 고정하기 위한 접착제일 수 있거나, 또는 추가 접착성 재료가 사용될 수 있다.The LED 502 is then mounted to the carrier substrate 512 with the carrier substrate 512 down. The carrier substrate 512 includes a first phosphor / binder coating 514 on the transparent substrate 516. The first coating 514 can be an adhesive for securing the LED 502, or additional adhesive material can be used.

p-타입 접촉부(518)가 p-타입 층(508) 상에 제공되고, n-타입 접촉부(520)는 n-타입 층(506) 상에 제공된다. 접촉부들(518, 520)은 많은 상이한 재료를 포함할 수 있는데, 반사성 재료가 바람직하다. 접촉부들(518, 520)은 반사성을 가짐으로써 활성 영역 광을 반사시켜, 캐리어 기판(512)이 주 방출 표면이 되게 한다. 전술한 바와 같이 p-타입 페데스탈(522)은 p-타입 접촉부(518) 상에 형성되고, n-타입 페데스탈(524)은 n-타입 접촉부(520) 상에 형성된다. 제2 형광체/바인더 코팅(526)은 LED(502) 위에 형성되어, 페데스탈들(522, 524)을 매립한다. 그 다음, 전술한 바와 같이, 페데스탈들(522, 524)을 드러내도록 제2 코팅(526)이 평탄화될 수 있다.P-type contact 518 is provided on p-type layer 508 and n-type contact 520 is provided on n-type layer 506. Contacts 518 and 520 may comprise many different materials, with reflective material being preferred. Contacts 518 and 520 are reflective to reflect active area light, causing carrier substrate 512 to be the primary emitting surface. As described above, p-type pedestal 522 is formed on p-type contact 518 and n-type pedestal 524 is formed on n-type contact 520. A second phosphor / binder coating 526 is formed over the LED 502 to bury the pedestals 522 and 524. Then, as described above, the second coating 526 can be planarized to reveal the pedestals 522, 524.

그 다음, LED 칩(500)이 싱귤레이팅될 수 있으며, 이러한 배열은 제1 및 제2 코팅(514, 526)에 의해 제공된 형광체 층으로 둘러싸인 LED(502)를 갖는 LED 칩(500)을 제공한다. 싱귤레이팅된 LED 칩(500)은, 추가 형광체 처리없이 백색 발광 LED 플립 칩을 제공하는 제1 및 제2 코팅을 제외하고, 종래의 플립 칩 소자로서 패키징될 수 있다. 이 실시예는, 결과의 LED 칩(502)이 양호한 품질을 갖도록, 캐리어 웨이퍼(512)에 장착하기 위해 원하는 방출 특성을 가진 양호한 품질의 싱귤레이팅된 LED(502)를 이용하는 기능의 추가 이점을 제공한다. LED(502)는 또한, 공간을 형성하기 위한 재료의 에칭을 통해 귀중한 에피택셜 재료를 낭비하지 않으면서, LED(502)들 사이에 더 큰 공간을 갖는 웨이퍼에 장착될 수 있다.The LED chip 500 can then be singulated, and this arrangement provides the LED chip 500 with the LEDs 502 surrounded by phosphor layers provided by the first and second coatings 514, 526. . The singulated LED chip 500 can be packaged as a conventional flip chip device except for the first and second coatings that provide a white light emitting LED flip chip without further phosphor treatment. This embodiment provides the additional advantage of the ability to use a good quality singulated LED 502 with the desired emission characteristics for mounting on the carrier wafer 512 so that the resulting LED chip 502 has a good quality. do. The LED 502 can also be mounted to a wafer with a larger space between the LEDs 502 without wasting valuable epitaxial material through etching of the material to form the space.

도 15a 내지 도 15d는 본 발명에 따른 LED 칩(600)의 또 다른 실시예를 도시한다. 먼저 도 15a를 참조하면, LED 칩 각각은 LED(602)를 포함하는데, 이 LED(602) 각각은, 바람직하게는 사파이어와 같은 투명 재료로 된 성장 기판(610) 상에 모두 연속적으로 형성된 n-타입 층(606)과 p-타입 층(608) 사이에 활성 영역(604)을 갖는다. LED(602)는 n-타입 층(606) 상에 반사성 n-타입 접촉부(612)를 갖고 p-타입 층(608) 상에 반사성 p-타입 접촉부(614)를 갖는 측면 기하구조를 갖는다. n-타입 페데스탈(616)은 n-타입 접촉부(612) 상에 형성되고, p-타입 페데스탈(618)은 p-타입 접촉부(614) 상에 형성된다. 제1 형광체/바인더 코팅(620)은 LED(602) 위에 형성되어, 초기에 페데스탈들(616, 618)을 매립하고, 그 다음 페데스탈들이 드러나도록 코팅이 평탄화된다.15A-15D show another embodiment of an LED chip 600 in accordance with the present invention. Referring first to FIG. 15A, each of the LED chips includes an LED 602, each of which is formed successively on the growth substrate 610, preferably made of a transparent material such as sapphire. There is an active region 604 between the type layer 606 and the p-type layer 608. LED 602 has a side geometry with reflective n-type contacts 612 on n-type layer 606 and reflective p-type contacts 614 on p-type layer 608. N-type pedestal 616 is formed on n-type contact 612, and p-type pedestal 618 is formed on p-type contact 614. A first phosphor / binder coating 620 is formed over the LED 602, initially embedding the pedestals 616, 618, and then flattening the coating so that the pedestals are exposed.

이제 도 15b를 참조하면, 트렌치(622)는 기판(610)을 통과하여 부분적으로 코팅(620) 내에 형성되며, LED(602)들 사이에 배치된다. 트렌치(622)는 에칭 또는 절단과 같은 많은 상이한 방법을 이용하여 형성될 수 있다. 이제 도 15c를 참조하면, 기판(610)의 트렌치 측면 위에 제2 형광체/바인더 코팅(624)이 형성되어, 트렌치(622)를 충전할 수 있다. 그 다음, 제2 코팅이 원하는 대로 평탄화될 수 있다. 도 15d를 참조하면, LED 칩(600)이 싱귤레이팅될 수 있고, LED(602)는 제1 및 제2 코팅(620, 624)에 의해 제공된 형광체 층으로 둘러싸인다. LED 칩(600)은 도 14의 LED 칩(500)과 같은 이점들을 제공하며, 추가 형광체 처리없이 백색 발광을 제공할 수 있는 양호한 품질의 플립 칩 소자를 제공한다.Referring now to FIG. 15B, trench 622 is formed partially in coating 620 through substrate 610 and is disposed between LEDs 602. Trench 622 may be formed using many different methods, such as etching or cutting. Referring now to FIG. 15C, a second phosphor / binder coating 624 may be formed on the trench side of the substrate 610 to fill the trench 622. The second coating can then be planarized as desired. Referring to FIG. 15D, the LED chip 600 may be singulated, and the LED 602 is surrounded by phosphor layers provided by the first and second coatings 620 and 624. The LED chip 600 provides the same advantages as the LED chip 500 of FIG. 14 and provides a good quality flip chip device capable of providing white light emission without further phosphor treatment.

다시 도 15a 및 15b를 참조하면, 트렌치(622)를 형성하는 것에 대한 대안으 로서, n-타입 층(606)의 하부 표면을 노출시키기 위해 성장 기판(610)이 전체적으로 제거될 수 있다. 그 다음, 제2 형광체/바인더 코팅(624)이 그 노출된 n-타입 층 위에 형성되고, 원하는 대로 평탄화될 수 있다.Referring again to FIGS. 15A and 15B, as an alternative to forming the trench 622, the growth substrate 610 may be removed entirely to expose the bottom surface of the n-type layer 606. A second phosphor / binder coating 624 may then be formed over the exposed n-type layer and planarized as desired.

본 발명은 또한, LED가 LED 칩 웨이퍼에 형성되게 하는 것 대신에 개개의 LED를 피복하는데 이용될 수도 있다. 이러한 실시예에서, LED 칩은 싱귤레이팅된 다음, 패키지에 장착되거나 또는 서브마운트 또는 PCB에 장착될 수 있다. 그 다음, LED 칩은 접촉을 위해 페데스탈(들)을 노출시키기 위해 본 발명에 따라 코팅되고 평탄화될 수 있다.The invention may also be used to coat individual LEDs instead of allowing LEDs to be formed on the LED chip wafer. In such embodiments, the LED chip may be singulated and then mounted in a package or mounted in a submount or PCB. The LED chip can then be coated and planarized in accordance with the present invention to expose the pedestal (s) for contact.

비록 본 발명이 특정한 바람직한 구성을 참조하여 상세하게 기술되었지만, 다른 버전도 가능하다. 따라서, 본 발명이 정신 및 범위는 상술한 버전으로 한정되어서는 안된다.Although the present invention has been described in detail with reference to certain preferred configurations, other versions are possible. Therefore, the spirit and scope of the present invention should not be limited to the above-described version.

Claims (79)

발광다이오드(LED, light emitting diode) 칩들을 제조하는 방법에 있어서,In the method of manufacturing light emitting diode (LED) chips, 복수의 LED들을 제공하는 단계;Providing a plurality of LEDs; 상기 LED들 중 하나와 각각 전기적으로 접촉하는 페데스탈(pedestal)들을 상기 LED들 상에 증착하는 단계;Depositing pedestals on the LEDs, each in electrical contact with one of the LEDs; 상기 페데스탈들 중 적어도 일부를 매립하는 코팅을 상기 LED들 위에 형성하는 단계; 및Forming a coating over the LEDs filling the at least some of the pedestals; And 상기 매립된 페데스탈들 중 적어도 일부를 노출시키면서 상기 LED들 상에 상기 코팅 중 적어도 일부를 남겨 놓도록 상기 코팅을 평탄화하는 단계Planarizing the coating to leave at least a portion of the coating on the LEDs while exposing at least some of the buried pedestals 를 포함하는 LED 제조 방법. LED manufacturing method comprising a. 제1항에 있어서, 상기 LED 칩들은 백색광을 방출하는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein the LED chips emit white light. 제1항에 있어서, 각각의 상기 LED 상에 접촉부를 증착하는 단계를 더 포함하고, 상기 페데스탈들은 상기 접촉부들 상에 형성되는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, further comprising depositing contacts on each of the LEDs, wherein the pedestals are formed on the contacts. 제1항에 있어서, 상기 LED들은 성장 기판(growth substrate) 상에 제공되는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein the LEDs are provided on a growth substrate. 제1항에 있어서, 상기 LED들은 캐리어 기판 상에 장착되는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein the LEDs are mounted on a carrier substrate. 제5항에 있어서, 상기 캐리어 기판은 형광체(phosphor) 층을 포함하는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 5, wherein the carrier substrate comprises a phosphor layer. 제1항에 있어서, 상기 LED들은 성장 기판의 적어도 일부를 포함하는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein the LEDs comprise at least a portion of a growth substrate. 제7항에 있어서, 상기 기판은 성형되거나 또는 텍스처링되는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 7, wherein the substrate is molded or textured. 제1항에 있어서, 상기 LED들 위에 코팅을 형성하는 단계는, 미리 제조된 코팅 층을 제공하고 상기 미리 제조된 코팅 층을 상기 LED들 위에 배치하는 단계를 포함하는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein forming a coating over the LEDs comprises providing a prefabricated coating layer and disposing the prefabricated coating layer over the LEDs. 제1항에 있어서, 상기 LED들은 기판 상에 제공되며, 상기 기판에 트렌치들을 형성하고 상기 트렌치들을 충전하는 제2 코팅을 형성하는 단계를 더 포함하는 LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein the LEDs are provided on a substrate, further comprising forming a second coating in the substrate to form trenches and fill the trenches. 제1항에 있어서, 평탄화 이전에 상기 코팅을 경화시키는 단계를 더 포함하는 LED 제조 방법.The method of claim 1, further comprising curing the coating prior to planarization. 제1항에 있어서, 평탄화에 후속하여 상기 코팅을 경화시키는 단계를 더 포함하는 LED 제조 방법.The method of claim 1, further comprising curing the coating following planarization. 제1항에 있어서, 상기 코팅 상에 표면 텍스처를 형성하는 단계를 더 포함하는 LED 제조 방법.The method of claim 1, further comprising forming a surface texture on the coating. 제13항에 있어서, 상기 표면 텍스처는 상기 평탄화 중에 형성되는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 13, wherein the surface texture is formed during the planarization. 제13항에 있어서, 상기 표면 텍스처는 레이저 텍스처링에 의해 형성되는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 13, wherein the surface texture is formed by laser texturing. 제1항에 있어서, 상기 LED들을 싱귤레이팅하는 단계를 더 포함하는 LED 제조 방법.The method of claim 1, further comprising singulating the LEDs. 제1항에 있어서, 상기 코팅은 형광체가 로딩된 바인더를 포함하는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein the coating comprises a binder loaded with phosphors. 제17항에 있어서, 상기 형광체가 로딩된 바인더는 복수의 형광체들을 포함하는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 17, wherein the phosphor loaded binder comprises a plurality of phosphors. 제1항에 있어서, 상기 코팅은 산란 입자들을 포함하는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein the coating comprises scattering particles. 제1항에 있어서, 상기 코팅은 상이한 조성물을 갖는 복수의 층들을 포함하는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein the coating comprises a plurality of layers having different compositions. 제17항에 있어서, 상기 바인더는 실리콘, 에폭시, 유리, 스핀 온 유리, BCB, 폴리이미드, 및 중합체로 구성된 그룹으로부터의 재료들 중 하나를 포함하는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 17, wherein the binder comprises one of materials from the group consisting of silicone, epoxy, glass, spin on glass, BCB, polyimide, and polymer. 제17항에 있어서, 상기 형광체는 YAG:Ce를 포함하는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 17, wherein the phosphor comprises YAG: Ce. 제17항에 있어서, 상기 형광체는 Y3Al5O12:Ce (YAG), Tb3-xRExO12:Ce (TAG); RE=Y, Gd, La, Lu, 및 Sr2-x-yBaxCaySiO4:Eu로 구성된 그룹으로부터의 재료를 포함하는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 17, wherein the phosphor is Y 3 Al 5 O 12 : Ce (YAG), Tb 3-x RE x O 12 : Ce (TAG); And a material from the group consisting of RE = Y, Gd, La, Lu, and Sr 2-xy Ba x Ca y SiO 4 : Eu. 제1항에 있어서, 상기 평탄화는 그라인딩, 랩핑, 및 폴리싱으로 구성된 그룹으로부터의 방법들 중 하나를 포함하는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein the planarization comprises one of the methods from the group consisting of grinding, lapping, and polishing. 제1항에 있어서, 상기 평탄화는 스퀴지(squeegee), 가압 평탄화, 에칭 및 박리(ablation)로 구성된 그룹으로부터의 하나 이상의 방법들을 포함하는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein the planarization comprises one or more methods from the group consisting of squeegee, pressure planarization, etching, and ablation. 제1항에 있어서, 상기 코팅은 스핀 코팅, 전기영동 증착, 정전기 증착, 프린팅, 제트 프린팅, 및 스크린 프린팅으로 구성된 그룹으로부터의 방법들 중 하나에 의해 상기 LED들을 피복하는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein the coating covers the LEDs by one of methods from the group consisting of spin coating, electrophoretic deposition, electrostatic deposition, printing, jet printing, and screen printing. 제1항에 있어서, 상기 페데스탈들은 스터드 범핑(stud bumping)을 이용하여 형성되는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein the pedestals are formed using stud bumping. 제1항에 있어서, 상기 LED들 중 적어도 일부의 주위에 제2 코팅을 형성하는 단계를 더 포함하는 LED 제조 방법.The method of claim 1, further comprising forming a second coating around at least some of the LEDs. 제28항에 있어서, 상기 제2 코팅은 상기 코팅과 상이한 조성물을 갖는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 28, wherein the second coating has a different composition than the coating. 제28항에 있어서, 상기 제2 코팅을 평탄화하는 단계를 더 포함하는 LED 제조 방법.29. The method of claim 28, further comprising planarizing the second coating. 제1항에 있어서, LED 어레이를 형성하기 위해 상기 페데스탈들 중 적어도 일부를 상호접속하는 상기 평탄화된 코팅 상에 금속 패드를 증착하는 단계를 더 포함하는 LED 제조 방법.The method of claim 1, further comprising depositing a metal pad on the planarized coating that interconnects at least some of the pedestals to form an LED array. 제16항에 있어서, 상기 싱귤레이팅된 LED들 중 하나를 캡슐화제(encapsulant)로 밀봉하는 단계를 더 포함하는 LED 제조 방법.17. The method of claim 16, further comprising sealing one of the singulated LEDs with an encapsulant. 제16항에 있어서, 상기 LED들 중 하나를 서브마운트 또는 인쇄 회로 기판(PCB)에 장착하는 단계를 더 포함하는 LED 제조 방법.17. The method of claim 16, further comprising mounting one of the LEDs to a submount or a printed circuit board (PCB). 제1항에 있어서, 상기 평탄화는 균일한 코팅 두께를 가져오는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein the planarization results in a uniform coating thickness. 제1항에 있어서, 상기 코팅은 평균 코팅 두께의 50% 미만의 총 두께 변화를 갖는 것인, LED 제조 방법.The method of claim 1, wherein the coating has a total thickness change of less than 50% of the average coating thickness. LED 칩들의 제조 방법에 있어서,In the method of manufacturing the LED chips, 캐리어 기판 상에 복수의 LED들을 플립 칩 본딩하는 단계;Flip chip bonding a plurality of LEDs on a carrier substrate; 각각의 상기 LED와 전기적으로 접촉하는 전도성 페데스탈을 형성하는 단계;Forming a conductive pedestal in electrical contact with each of the LEDs; 상기 페데스탈들 중 적어도 일부를 매립하는 블랭킷 코팅을 상기 LED들 상에 형성하는 단계; 및Forming a blanket coating on the LEDs filling the at least some of the pedestals; And 상기 매립된 페데스탈들 중 적어도 일부를 노출시키기 위해 상기 코팅을 평탄화하는 단계Planarizing the coating to expose at least some of the buried pedestals 를 포함하는 LED 칩 제조 방법. LED chip manufacturing method comprising a. 제36항에 있어서, 상기 캐리어 기판은 전기 트레이스들을 포함하고, 상기 LED들은 상기 전기 트레이스들과 접촉하여 장착되는 것인, LED 칩 제조 방법. The method of claim 36, wherein the carrier substrate comprises electrical traces and the LEDs are mounted in contact with the electrical traces. 제37항에 있어서, 상기 페데스탈들은 상기 전기 트레이스들 상에 형성되는 것인, LED 칩 제조 방법.38. The method of claim 37, wherein the pedestals are formed on the electrical traces. 제36항에 있어서, 상기 LED 칩들은 백색광을 방출하는 것인, LED 칩 제조 방법.37. The method of claim 36 wherein the LED chips emit white light. 코팅된 반도체 소자들을 제조하는 방법에 있어서,A method of manufacturing coated semiconductor devices, 기판 상에 복수의 반도체 소자들을 제공하는 단계;Providing a plurality of semiconductor devices on a substrate; 상기 반도체 소자들 중 하나와 각각 전기적으로 접촉하는 페데스탈들을 상기 반도체 소자들 상에 증착하는 단계;Depositing pedestals on each of the semiconductor devices in electrical contact with one of the semiconductor devices; 상기 페데스탈들 중 적어도 일부를 매립하는 블랭킷 코팅을 상기 반도체 소자들 위에 형성하는 단계; 및Forming a blanket coating over the semiconductor devices, the blanket coating filling at least some of the pedestals; And 접촉을 위해 상기 매립된 페데스탈들 중 적어도 일부를 노출시키면서 상기 반도체 소자들 상에 상기 코팅 재료 중 적어도 일부를 남겨 놓도록 상기 코팅을 평탄화하는 단계Planarizing the coating to leave at least some of the coating material on the semiconductor devices while exposing at least some of the buried pedestals for contacting 를 포함하는 반도체 소자 제조 방법.Semiconductor device manufacturing method comprising a. 발광다이오드(LED) 칩 웨이퍼에 있어서,In a light emitting diode (LED) chip wafer, 복수의 LED들;A plurality of LEDs; 상기 LED들 중 하나와 각각 전기적으로 접촉하는 복수의 페데스탈들; 및A plurality of pedestals in electrical contact with one of the LEDs, respectively; And 상기 LED들을 적어도 부분적으로 피복하는 코팅으로서, 상기 페데스탈들 중 적어도 일부는 상기 코팅을 통과하여 상기 코팅의 표면에까지 확장되며 상기 코팅의 표면에서 노출되는 것인, 상기 코팅A coating at least partially covering the LEDs, wherein at least some of the pedestals extend through the coating to the surface of the coating and are exposed at the surface of the coating 을 포함하는 LED 칩 웨이퍼.LED chip wafer comprising a. 제41항에 있어서, 상기 LED들은 기판 웨이퍼 상에 있는 것인, LED 칩 웨이퍼.The LED chip wafer of claim 41, wherein the LEDs are on a substrate wafer. 제41항에 있어서, 각각 상기 LED들 중 하나 상에 있는 것인 복수의 접촉부들 을 더 포함하고, 상기 페데스탈들 중 적어도 일부는 상기 접촉부들 상에 형성되는 것인, LED 칩 웨이퍼.42. The LED chip wafer of claim 41, further comprising a plurality of contacts, each on one of the LEDs, wherein at least some of the pedestals are formed on the contacts. 제41항에 있어서, 상기 기판 웨이퍼는 LED 칩들로 분리될 수 있는 것인, LED 칩 웨이퍼.The LED chip wafer of claim 41, wherein the substrate wafer can be separated into LED chips. 제41항에 있어서, 상기 코팅은 균일한 두께를 갖는 것인, LED 칩 웨이퍼.The LED chip wafer of claim 41, wherein the coating has a uniform thickness. 제41항에 있어서, 상기 코팅은 평균 코팅 두께의 50% 미만의 총 두께 변화를 갖는 것인, LED 칩 웨이퍼.The LED chip wafer of claim 41, wherein the coating has a total thickness change of less than 50% of the average coating thickness. 제41항에 있어서, 상기 코팅은 텍스처링된 표면을 갖는 것인, LED 칩 웨이퍼.The LED chip wafer of claim 41, wherein the coating has a textured surface. 제41항에 있어서, 상기 코팅은 복수의 형광체들을 포함하는 것인, LED 칩 웨이퍼.42. The LED chip wafer of claim 41, wherein the coating comprises a plurality of phosphors. 제41항에 있어서, 상기 코팅은 산란 입자들을 포함하는 것인, LED 칩 웨이퍼.The LED chip wafer of claim 41, wherein the coating comprises scattering particles. 제41항에 있어서, 상기 코팅은 형광체가 로딩된 바인더를 포함하는 것인, LED 칩 웨이퍼.The LED chip wafer of claim 41, wherein the coating comprises a binder loaded with phosphors. 제50항에 있어서, 상기 바인더는 실리콘, 에폭시, 유리, 스핀 온 유리, BCB, 폴리이미드, 및 중합체로 구성된 그룹으로부터의 재료들 중 하나를 포함하는 것인, LED 칩 웨이퍼.51. The LED chip wafer of claim 50, wherein the binder comprises one of materials from the group consisting of silicon, epoxy, glass, spin on glass, BCB, polyimide, and a polymer. 제50항에 있어서, 상기 형광체는 YAG:Ce를 포함하는 것인, LED 칩 웨이퍼.51. The LED chip wafer of claim 50, wherein said phosphor comprises YAG: Ce. 제41항에 있어서, 상기 페데스탈들은 하나 이상의 스터드 범프들을 포함하는 것인, LED 칩 웨이퍼.42. The LED chip wafer of claim 41, wherein the pedestals comprise one or more stud bumps. 제41항에 있어서, 상기 LED들은 III족 질화물 재료계로부터의 재료들로 만들어지는 것인, LED 칩 웨이퍼.42. The LED chip wafer of claim 41, wherein the LEDs are made of materials from a group III nitride material system. 제42항에 있어서, 상기 기판 웨이퍼는 성장 기판을 포함하는 것인, LED 칩 웨이퍼.43. The LED chip wafer of claim 42, wherein the substrate wafer comprises a growth substrate. 제42항에 있어서, 상기 기판 웨이퍼는 캐리어 기판을 포함하는 것인, LED 칩 웨이퍼.43. The LED chip wafer of claim 42, wherein the substrate wafer comprises a carrier substrate. 제41항에 있어서, 상기 LED들은 LED 어레이 내에서 상호접속되는 것인, LED 칩 웨이퍼.42. The LED chip wafer of claim 41, wherein the LEDs are interconnected in an LED array. 제41항에 있어서, LED 어레이를 형성하기 위해 상기 노출된 페데스탈들 중 적어도 일부를 상호접속하는 상기 코팅의 표면 상의 금속 패드를 더 포함하는 LED 칩 웨이퍼.42. The LED chip wafer of claim 41, further comprising a metal pad on the surface of the coating interconnecting at least some of the exposed pedestals to form an LED array. 제41항에 있어서, 상기 기판 웨이퍼에 일체로 형성된 반사 층을 더 포함하는 LED 칩 웨이퍼.42. The LED chip wafer of claim 41, further comprising a reflective layer integrally formed on said substrate wafer. 제42항에 있어서, 상기 기판 웨이퍼는 형광체가 로딩된 바인더 층을 포함하는 것인, LED 칩 웨이퍼.43. The LED chip wafer of claim 42, wherein the substrate wafer comprises a binder layer loaded with phosphors. 제41항에 있어서, 상기 LED들은 성장 기판의 적어도 일부를 포함하는 것인, LED 칩 웨이퍼.The LED chip wafer of claim 41, wherein the LEDs include at least a portion of a growth substrate. 제41항에 있어서, 상기 LED들이 기판 상에 제공되고, 상기 기판의 트렌치들 및 상기 트렌치들을 충전하는 제2 코팅을 더 포함하는 것인, LED 칩 웨이퍼.42. The LED chip wafer of claim 41, wherein the LEDs are provided on a substrate and further comprise a second coating filling the trenches and the trenches of the substrate. 제41항에 있어서, 상기 코팅은 상이한 조성물들을 갖는 복수의 층들을 포함하는 것인, LED 칩 웨이퍼.42. The LED chip wafer of claim 41, wherein the coating comprises a plurality of layers having different compositions. 제41항에 있어서, 상기 LED들 중 적어도 일부의 주위에 형성되는 제2 코팅을 더 포함하는 LED 칩 웨이퍼.42. The LED chip wafer of claim 41, further comprising a second coating formed around at least some of the LEDs. 제64항에 있어서, 상기 제2 코팅은 상기 코팅과 상이한 조성물을 갖는 것인, LED 칩 웨이퍼.65. The LED chip wafer of claim 64, wherein the second coating has a different composition than the coating. 제41항에 있어서, 상기 LED들 및 코팅으로부터 백색광이 방출될 수 있는 것인, LED 칩 웨이퍼. 42. The LED chip wafer of claim 41, wherein white light can be emitted from the LEDs and the coating. 발광다이오드(LED) 칩에 있어서,In the light emitting diode (LED) chip, LED;LED; 상기 LED와 전기적으로 접촉하는 페데스탈; 및A pedestal in electrical contact with the LED; And 상기 LED를 적어도 부분적으로 피복하는 코팅A coating at least partially covering the LED 을 포함하고, 상기 페데스탈은 상기 코팅을 통과하여 상기 코팅의 표면에까지 확장되며 상기 코팅의 표면에서 노출되는 것인, LED 칩.Wherein the pedestal extends through the coating to the surface of the coating and is exposed at the surface of the coating. 제67항에 있어서, 상기 LED는 백색광을 방출하는 것인, LED 칩.The LED chip of claim 67, wherein the LED emits white light. 제67항에 있어서, 상기 LED는 기판 상에 있는 것인, LED 칩.The LED chip of claim 67, wherein the LED is on a substrate. 제67항에 있어서, 상기 LED 상에 접촉부를 더 포함하고, 상기 페데스탈은 상기 접촉부 상에 형성되는 것인, LED 칩.68. The LED chip of claim 67, further comprising a contact on the LED, wherein the pedestal is formed on the contact. 제67항에 있어서, 상기 코팅은 형광체가 로딩된 바인더를 포함하는 것인, LED 칩.The LED chip of claim 67, wherein the coating comprises a binder loaded with phosphors. 제67항에 있어서, 상기 페데스탈은 하나 이상의 스터드 범프들을 포함하는 것인, LED 칩.The LED chip of claim 67, wherein the pedestal comprises one or more stud bumps. 제67항에 있어서, 상기 LED는 III족 질화물 재료계로부터의 재료들을 포함하는 것인, LED 칩.68. The LED chip of claim 67, wherein the LED comprises materials from a group III nitride material system. 제69항에 있어서, 상기 기판은 성장 기판을 포함하는 것인, LED 칩.70. The LED chip of claim 69, wherein said substrate comprises a growth substrate. 제67항에 있어서, 상기 기판 웨이퍼는 캐리어 기판을 포함하는 것인, LED 칩.The LED chip of claim 67, wherein the substrate wafer comprises a carrier substrate. 제67항에 있어서, 상기 기판에 일체로 형성된 반사 층을 더 포함하는 LED 칩.68. The LED chip of claim 67, further comprising a reflective layer integrally formed on said substrate. 발광다이오드(LED) 패키지에 있어서,In the light emitting diode (LED) package, LED 칩;LED chip; 상기 LED 칩과 전기적으로 접촉하는 페데스탈;A pedestal in electrical contact with the LED chip; 상기 LED 칩을 적어도 부분적으로 피복하는 코팅으로서, 상기 페데스탈은 상기 코팅을 통과하여 상기 코팅의 표면에까지 확장되며 상기 코팅의 표면에서 노출되는 것인, 상기 코팅;A coating at least partially covering the LED chip, the pedestal extending through the coating to the surface of the coating and exposed at the surface of the coating; 패키지 리드로서, 상기 페데스탈은 상기 패키지 리드 중 하나와 전기적으로 접속하는 것인, 상기 패키지 리드; 및A package lead, wherein the pedestal is in electrical connection with one of the package leads; And 상기 LED 칩 및 전기 접속들을 둘러싸는 인캡슐레이션(encapsulation)Encapsulation surrounding the LED chip and electrical connections 을 포함하는 LED 패키지.LED package comprising a. 발광다이오드(LED) 패키지에 있어서,In the light emitting diode (LED) package, LED 칩;LED chip; 상기 LED 칩과 전기적으로 접촉하는 페데스탈;A pedestal in electrical contact with the LED chip; 상기 LED 칩을 적어도 부분적으로 피복하는 코팅으로서, 상기 페데스탈은 상기 코팅을 통과하여 상기 코팅의 표면에까지 확장되며 상기 코팅의 표면에서 노출되는 것인, 상기 코팅; 및A coating at least partially covering the LED chip, the pedestal extending through the coating to the surface of the coating and exposed at the surface of the coating; And 패키지 리드로서, 상기 페데스탈은 상기 패키지 리드 중 하나와 전기적으로 접속하는 것인, 상기 패키지 리드A package lead, wherein the pedestal is in electrical connection with one of the package leads 를 포함하고, 상기 칩은 밀폐하여 밀봉된 커버에 의해 둘러싸여지는 것인, LED 패키지.Wherein the chip is surrounded by a hermetically sealed cover. 제78항에 있어서, 불활성 분위기(inert atmosphere)가 대기압에 있는 LED 칩 또는 대기압 이하의 기압에 있는 LED 칩을 에워싸는 것인, LED 패키지.79. The LED package of claim 78, wherein an inert atmosphere surrounds the LED chip at atmospheric pressure or the LED chip at atmospheric pressure below atmospheric pressure.
KR1020097017405A 2007-01-22 2007-11-20 Wafer level phosphor coating method and devices fabricated utilizing method KR101398655B1 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/656,759 2007-01-22
US11/656,759 US9024349B2 (en) 2007-01-22 2007-01-22 Wafer level phosphor coating method and devices fabricated utilizing method
PCT/US2007/024367 WO2008115213A2 (en) 2007-01-22 2007-11-20 Wafer level phosphor coating method and devices fabricated utilizing method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20090115156A true KR20090115156A (en) 2009-11-04
KR101398655B1 KR101398655B1 (en) 2014-06-19

Family

ID=39640364

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020097017405A KR101398655B1 (en) 2007-01-22 2007-11-20 Wafer level phosphor coating method and devices fabricated utilizing method

Country Status (7)

Country Link
US (1) US9024349B2 (en)
EP (1) EP2111649B1 (en)
JP (1) JP2010517290A (en)
KR (1) KR101398655B1 (en)
CN (3) CN101663767A (en)
TW (1) TWI485877B (en)
WO (1) WO2008115213A2 (en)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101028612B1 (en) * 2010-09-15 2011-04-11 (주)더리즈 Light-emitting device
WO2011145794A1 (en) * 2010-05-18 2011-11-24 서울반도체 주식회사 Light emitting diode chip having wavelength conversion layer and manufacturing method thereof, and package including same and manufacturing method thereof
KR20120049161A (en) * 2011-12-21 2012-05-16 서울반도체 주식회사 Light emitting diode chip having wavelength converting layer, method of fabricating the same and package having the same
US8350283B2 (en) 2010-06-07 2013-01-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor light emitting device and method for manufacturing same
KR101230619B1 (en) * 2010-05-18 2013-02-06 서울반도체 주식회사 Light emitting diode chip having wavelength converting layer, method of fabricating the same and package having the same
WO2013024916A1 (en) * 2011-08-17 2013-02-21 삼성전자주식회사 Wavelength conversion chip for a light emitting diode, and method for manufacturing same
US9236304B2 (en) 2013-01-15 2016-01-12 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor light emitting device and method of manufacturing the same
US9269878B2 (en) 2011-05-27 2016-02-23 Lg Innotek Co., Ltd. Light emitting device and light emitting apparatus
KR20160024522A (en) * 2014-08-26 2016-03-07 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device and array including the device
KR20160037964A (en) * 2013-07-24 2016-04-06 쿨레지 라이팅 인크. Light-emitting dies incorporating wavelength-conversion materials and related methods
KR20160077700A (en) * 2014-12-24 2016-07-04 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device, light emitting package and lighting system
KR20160106146A (en) * 2014-01-08 2016-09-09 코닌클리케 필립스 엔.브이. Wavelength converted semiconductor light emitting device
KR20170122450A (en) * 2016-04-27 2017-11-06 루미마이크로 주식회사 Lighting device

Families Citing this family (407)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8999736B2 (en) 2003-07-04 2015-04-07 Epistar Corporation Optoelectronic system
US7915085B2 (en) 2003-09-18 2011-03-29 Cree, Inc. Molded chip fabrication method
US9070850B2 (en) 2007-10-31 2015-06-30 Cree, Inc. Light emitting diode package and method for fabricating same
US9412926B2 (en) * 2005-06-10 2016-08-09 Cree, Inc. High power solid-state lamp
US8441179B2 (en) 2006-01-20 2013-05-14 Cree, Inc. Lighting devices having remote lumiphors that are excited by lumiphor-converted semiconductor excitation sources
US9780268B2 (en) 2006-04-04 2017-10-03 Cree, Inc. Submount based surface mount device (SMD) light emitter components and methods
US8969908B2 (en) 2006-04-04 2015-03-03 Cree, Inc. Uniform emission LED package
USD738832S1 (en) 2006-04-04 2015-09-15 Cree, Inc. Light emitting diode (LED) package
US9335006B2 (en) * 2006-04-18 2016-05-10 Cree, Inc. Saturated yellow phosphor converted LED and blue converted red LED
US10295147B2 (en) 2006-11-09 2019-05-21 Cree, Inc. LED array and method for fabricating same
US9196799B2 (en) * 2007-01-22 2015-11-24 Cree, Inc. LED chips having fluorescent substrates with microholes and methods for fabricating
US9024349B2 (en) 2007-01-22 2015-05-05 Cree, Inc. Wafer level phosphor coating method and devices fabricated utilizing method
US9159888B2 (en) * 2007-01-22 2015-10-13 Cree, Inc. Wafer level phosphor coating method and devices fabricated utilizing method
US8232564B2 (en) 2007-01-22 2012-07-31 Cree, Inc. Wafer level phosphor coating technique for warm light emitting diodes
JP2008300665A (en) * 2007-05-31 2008-12-11 Toyoda Gosei Co Ltd Light emitting device
US7843060B2 (en) * 2007-06-11 2010-11-30 Cree, Inc. Droop-free high output light emitting devices and methods of fabricating and operating same
US10505083B2 (en) * 2007-07-11 2019-12-10 Cree, Inc. Coating method utilizing phosphor containment structure and devices fabricated using same
US9401461B2 (en) 2007-07-11 2016-07-26 Cree, Inc. LED chip design for white conversion
US7701049B2 (en) * 2007-08-03 2010-04-20 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit packaging system for fine pitch substrates
JP4871413B2 (en) * 2007-08-08 2012-02-08 エージェンシー フォー サイエンス,テクノロジー アンド リサーチ ELECTRO-OPTICAL DEVICE AND ELECTRO-OPTICAL DEVICE MANUFACTURING METHOD
TWI396298B (en) * 2007-08-29 2013-05-11 Everlight Electronics Co Ltd Phosphor coating method for light emmitting semiconductor device and applications thereof
US9082921B2 (en) 2007-10-31 2015-07-14 Cree, Inc. Multi-die LED package
US9666762B2 (en) 2007-10-31 2017-05-30 Cree, Inc. Multi-chip light emitter packages and related methods
US10256385B2 (en) 2007-10-31 2019-04-09 Cree, Inc. Light emitting die (LED) packages and related methods
US9172012B2 (en) 2007-10-31 2015-10-27 Cree, Inc. Multi-chip light emitter packages and related methods
US9461201B2 (en) 2007-11-14 2016-10-04 Cree, Inc. Light emitting diode dielectric mirror
US7915629B2 (en) 2008-12-08 2011-03-29 Cree, Inc. Composite high reflectivity layer
US8167674B2 (en) 2007-12-14 2012-05-01 Cree, Inc. Phosphor distribution in LED lamps using centrifugal force
US9041285B2 (en) 2007-12-14 2015-05-26 Cree, Inc. Phosphor distribution in LED lamps using centrifugal force
DE102007061261A1 (en) * 2007-12-19 2009-07-02 Bayer Materialscience Ag Luminaire with LED DIEs and their manufacture
US10008637B2 (en) 2011-12-06 2018-06-26 Cree, Inc. Light emitter devices and methods with reduced dimensions and improved light output
US20090221106A1 (en) * 2008-03-01 2009-09-03 Goldeneye, Inc. Article and method for color and intensity balanced solid state light sources
US8637883B2 (en) 2008-03-19 2014-01-28 Cree, Inc. Low index spacer layer in LED devices
US8269336B2 (en) * 2008-03-25 2012-09-18 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader and signal post
US8148747B2 (en) * 2008-03-25 2012-04-03 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base/cap heat spreader
US20110163348A1 (en) * 2008-03-25 2011-07-07 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with bump/base heat spreader and inverted cavity in bump
US20100181594A1 (en) * 2008-03-25 2010-07-22 Lin Charles W C Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader and cavity over post
US8110446B2 (en) * 2008-03-25 2012-02-07 Bridge Semiconductor Corporation Method of making a semiconductor chip assembly with a post/base heat spreader and a conductive trace
US8212279B2 (en) * 2008-03-25 2012-07-03 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader, signal post and cavity
US8378372B2 (en) * 2008-03-25 2013-02-19 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader and horizontal signal routing
US8324723B2 (en) 2008-03-25 2012-12-04 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with bump/base heat spreader and dual-angle cavity in bump
US20090284932A1 (en) * 2008-03-25 2009-11-19 Bridge Semiconductor Corporation Thermally Enhanced Package with Embedded Metal Slug and Patterned Circuitry
US20100052005A1 (en) * 2008-03-25 2010-03-04 Lin Charles W C Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader and conductive trace
US8067784B2 (en) * 2008-03-25 2011-11-29 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader and substrate
US8525214B2 (en) * 2008-03-25 2013-09-03 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader with thermal via
US8288792B2 (en) * 2008-03-25 2012-10-16 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base/post heat spreader
US8415703B2 (en) * 2008-03-25 2013-04-09 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base/flange heat spreader and cavity in flange
US8354688B2 (en) 2008-03-25 2013-01-15 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with bump/base/ledge heat spreader, dual adhesives and cavity in bump
US8129742B2 (en) * 2008-03-25 2012-03-06 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader and plated through-hole
US8207553B2 (en) * 2008-03-25 2012-06-26 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with base heat spreader and cavity in base
US20110156090A1 (en) * 2008-03-25 2011-06-30 Lin Charles W C Semiconductor chip assembly with post/base/post heat spreader and asymmetric posts
US8314438B2 (en) * 2008-03-25 2012-11-20 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with bump/base heat spreader and cavity in bump
US8232576B1 (en) 2008-03-25 2012-07-31 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader and ceramic block in post
US8310043B2 (en) * 2008-03-25 2012-11-13 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader with ESD protection layer
US9018667B2 (en) * 2008-03-25 2015-04-28 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader and dual adhesives
US8531024B2 (en) * 2008-03-25 2013-09-10 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader and multilevel conductive trace
US8193556B2 (en) * 2008-03-25 2012-06-05 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader and cavity in post
US20110278638A1 (en) 2008-03-25 2011-11-17 Lin Charles W C Semiconductor chip assembly with post/dielectric/post heat spreader
US8203167B2 (en) * 2008-03-25 2012-06-19 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with post/base heat spreader and adhesive between base and terminal
US8329510B2 (en) * 2008-03-25 2012-12-11 Bridge Semiconductor Corporation Method of making a semiconductor chip assembly with a post/base heat spreader with an ESD protection layer
US8877524B2 (en) 2008-03-31 2014-11-04 Cree, Inc. Emission tuning methods and devices fabricated utilizing methods
TWI416755B (en) * 2008-05-30 2013-11-21 Epistar Corp Light source module, related light bar and related liquid crystal display
KR20110039313A (en) * 2008-07-07 2011-04-15 글로 에이비 A nanostructured led
US8525200B2 (en) * 2008-08-18 2013-09-03 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Light-emitting diode with non-metallic reflector
TW201015743A (en) * 2008-10-01 2010-04-16 Formosa Epitaxy Inc LED and manufacturing method thereof
US8858032B2 (en) * 2008-10-24 2014-10-14 Cree, Inc. Lighting device, heat transfer structure and heat transfer element
US8853712B2 (en) 2008-11-18 2014-10-07 Cree, Inc. High efficacy semiconductor light emitting devices employing remote phosphor configurations
US8748905B2 (en) 2008-11-18 2014-06-10 Cree, Inc. High efficacy semiconductor light emitting devices employing remote phosphor configurations
US8004172B2 (en) * 2008-11-18 2011-08-23 Cree, Inc. Semiconductor light emitting apparatus including elongated hollow wavelength conversion tubes and methods of assembling same
US9052416B2 (en) 2008-11-18 2015-06-09 Cree, Inc. Ultra-high efficacy semiconductor light emitting devices
US8017963B2 (en) * 2008-12-08 2011-09-13 Cree, Inc. Light emitting diode with a dielectric mirror having a lateral configuration
JP4799606B2 (en) * 2008-12-08 2011-10-26 株式会社東芝 Optical semiconductor device and method for manufacturing optical semiconductor device
JP4724222B2 (en) * 2008-12-12 2011-07-13 株式会社東芝 Method for manufacturing light emitting device
KR101533817B1 (en) * 2008-12-31 2015-07-09 서울바이오시스 주식회사 Light emitting device having plurality of non-polar light emitting cells and method of fabricating the same
US8247886B1 (en) 2009-03-09 2012-08-21 Soraa, Inc. Polarization direction of optical devices using selected spatial configurations
TWI470766B (en) * 2009-03-10 2015-01-21 Advanced Semiconductor Eng Chip structure, wafer structure and process of fabricating chip
US7994531B2 (en) * 2009-04-02 2011-08-09 Visera Technologies Company Limited White-light light emitting diode chips and fabrication methods thereof
US9093293B2 (en) 2009-04-06 2015-07-28 Cree, Inc. High voltage low current surface emitting light emitting diode
US8476668B2 (en) * 2009-04-06 2013-07-02 Cree, Inc. High voltage low current surface emitting LED
US8529102B2 (en) * 2009-04-06 2013-09-10 Cree, Inc. Reflector system for lighting device
US8096671B1 (en) 2009-04-06 2012-01-17 Nmera, Llc Light emitting diode illumination system
US8791499B1 (en) 2009-05-27 2014-07-29 Soraa, Inc. GaN containing optical devices and method with ESD stability
US9035328B2 (en) 2011-02-04 2015-05-19 Cree, Inc. Light-emitting diode component
US7989824B2 (en) * 2009-06-03 2011-08-02 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of forming a dielectric layer on a semiconductor light emitting device
TWI392127B (en) * 2009-06-26 2013-04-01 Yu Nung Shen Light emitting diode package and its packaging method
JP2011009572A (en) * 2009-06-26 2011-01-13 Citizen Electronics Co Ltd Flip-chip packaging type led and method for manufacturing flip-chip packaging type led
US8547009B2 (en) 2009-07-10 2013-10-01 Cree, Inc. Lighting structures including diffuser particles comprising phosphor host materials
TWI591845B (en) * 2009-07-21 2017-07-11 晶元光電股份有限公司 Optoelectronic system
US8324653B1 (en) 2009-08-06 2012-12-04 Bridge Semiconductor Corporation Semiconductor chip assembly with ceramic/metal substrate
DE102009036621B4 (en) * 2009-08-07 2023-12-21 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Optoelectronic semiconductor component
CN101996892B (en) * 2009-08-17 2013-03-27 晶元光电股份有限公司 System level photoelectric structure and manufacturing method thereof
US9000466B1 (en) 2010-08-23 2015-04-07 Soraa, Inc. Methods and devices for light extraction from a group III-nitride volumetric LED using surface and sidewall roughening
DE102009039890A1 (en) * 2009-09-03 2011-03-10 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic component with a semiconductor body, an insulating layer and a planar conductive structure and method for its production
US9293644B2 (en) 2009-09-18 2016-03-22 Soraa, Inc. Power light emitting diode and method with uniform current density operation
DE102009042205A1 (en) * 2009-09-18 2011-03-31 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic module
US8933644B2 (en) 2009-09-18 2015-01-13 Soraa, Inc. LED lamps with improved quality of light
US9583678B2 (en) 2009-09-18 2017-02-28 Soraa, Inc. High-performance LED fabrication
US8963178B2 (en) 2009-11-13 2015-02-24 Seoul Viosys Co., Ltd. Light emitting diode chip having distributed bragg reflector and method of fabricating the same
JP5349260B2 (en) 2009-11-19 2013-11-20 株式会社東芝 Semiconductor light emitting device and manufacturing method thereof
JP4991834B2 (en) * 2009-12-17 2012-08-01 シャープ株式会社 Vehicle headlamp
US8511851B2 (en) * 2009-12-21 2013-08-20 Cree, Inc. High CRI adjustable color temperature lighting devices
US9006754B2 (en) 2010-01-26 2015-04-14 Lightizer Korea Co. Multichip light emitting diode (LED) and method of manufacture
US8587187B2 (en) 2010-12-06 2013-11-19 Byoung GU Cho Light diffusion of visible edge lines in a multi-dimensional modular display
US8227274B2 (en) * 2010-01-26 2012-07-24 Lightizer Korea Co. Light emitting diode (LED) and method of manufacture
US20110186874A1 (en) * 2010-02-03 2011-08-04 Soraa, Inc. White Light Apparatus and Method
US10147850B1 (en) 2010-02-03 2018-12-04 Soraa, Inc. System and method for providing color light sources in proximity to predetermined wavelength conversion structures
US8905588B2 (en) 2010-02-03 2014-12-09 Sorra, Inc. System and method for providing color light sources in proximity to predetermined wavelength conversion structures
JP5232815B2 (en) * 2010-02-10 2013-07-10 シャープ株式会社 Vehicle headlamp
US8716038B2 (en) 2010-03-02 2014-05-06 Micron Technology, Inc. Microelectronic workpiece processing systems and associated methods of color correction
US8931933B2 (en) 2010-03-03 2015-01-13 Cree, Inc. LED lamp with active cooling element
US9275979B2 (en) 2010-03-03 2016-03-01 Cree, Inc. Enhanced color rendering index emitter through phosphor separation
US9057511B2 (en) 2010-03-03 2015-06-16 Cree, Inc. High efficiency solid state lamp and bulb
US9500325B2 (en) * 2010-03-03 2016-11-22 Cree, Inc. LED lamp incorporating remote phosphor with heat dissipation features
US8562161B2 (en) 2010-03-03 2013-10-22 Cree, Inc. LED based pedestal-type lighting structure
US8632196B2 (en) 2010-03-03 2014-01-21 Cree, Inc. LED lamp incorporating remote phosphor and diffuser with heat dissipation features
US9062830B2 (en) 2010-03-03 2015-06-23 Cree, Inc. High efficiency solid state lamp and bulb
US20110227102A1 (en) * 2010-03-03 2011-09-22 Cree, Inc. High efficacy led lamp with remote phosphor and diffuser configuration
US9625105B2 (en) * 2010-03-03 2017-04-18 Cree, Inc. LED lamp with active cooling element
US10359151B2 (en) * 2010-03-03 2019-07-23 Ideal Industries Lighting Llc Solid state lamp with thermal spreading elements and light directing optics
US9316361B2 (en) 2010-03-03 2016-04-19 Cree, Inc. LED lamp with remote phosphor and diffuser configuration
US8882284B2 (en) 2010-03-03 2014-11-11 Cree, Inc. LED lamp or bulb with remote phosphor and diffuser configuration with enhanced scattering properties
US9310030B2 (en) 2010-03-03 2016-04-12 Cree, Inc. Non-uniform diffuser to scatter light into uniform emission pattern
US9024517B2 (en) 2010-03-03 2015-05-05 Cree, Inc. LED lamp with remote phosphor and diffuser configuration utilizing red emitters
US8508127B2 (en) * 2010-03-09 2013-08-13 Cree, Inc. High CRI lighting device with added long-wavelength blue color
CN102194744B (en) * 2010-03-18 2014-05-07 亿光电子工业股份有限公司 Method for manufacturing LED (light emitting diode) wafers with fluorescent powder layer
TWI492422B (en) * 2010-03-18 2015-07-11 Everlight Electronics Co Ltd Fabrication method of light emitting diode chip having phosphor coating layer
CN103915381B (en) * 2010-03-18 2017-12-19 亿光电子工业股份有限公司 The preparation method of LED wafer with phosphor powder layer
US8017417B1 (en) 2010-03-31 2011-09-13 Lightizer Korea Co. Light emitting diode having a wavelength shift layer and method of manufacture
US9105824B2 (en) 2010-04-09 2015-08-11 Cree, Inc. High reflective board or substrate for LEDs
TWI476959B (en) 2010-04-11 2015-03-11 Achrolux Inc Method for transferring a uniform phosphor layer on an article and light-emitting structure fabricated by the method
US8232117B2 (en) 2010-04-30 2012-07-31 Koninklijke Philips Electronics N.V. LED wafer with laminated phosphor layer
US8329482B2 (en) 2010-04-30 2012-12-11 Cree, Inc. White-emitting LED chips and method for making same
US8733996B2 (en) 2010-05-17 2014-05-27 Sharp Kabushiki Kaisha Light emitting device, illuminating device, and vehicle headlamp
CN102313166B (en) * 2010-05-17 2015-01-14 夏普株式会社 Light emitting element, light emitting device, illuminating device, and vehicle headlamp
CN103003966B (en) * 2010-05-18 2016-08-10 首尔半导体株式会社 There is light emitting diode chip and the manufacture method thereof of wavelength conversion layer, and include its packaging part and manufacture method thereof
CN102263181B (en) * 2010-05-29 2014-04-30 比亚迪股份有限公司 Substrate, light-emitting diode (LED) epitaxial wafer with substrate, chip and luminous device
JP5390472B2 (en) * 2010-06-03 2014-01-15 株式会社東芝 Semiconductor light emitting device and manufacturing method thereof
JP5426484B2 (en) * 2010-06-07 2014-02-26 株式会社東芝 Manufacturing method of semiconductor light emitting device
JP5449039B2 (en) * 2010-06-07 2014-03-19 株式会社東芝 Semiconductor light emitting device and manufacturing method thereof
JP5759790B2 (en) * 2010-06-07 2015-08-05 株式会社東芝 Manufacturing method of semiconductor light emitting device
US9450143B2 (en) 2010-06-18 2016-09-20 Soraa, Inc. Gallium and nitrogen containing triangular or diamond-shaped configuration for optical devices
US20110309393A1 (en) 2010-06-21 2011-12-22 Micron Technology, Inc. Packaged leds with phosphor films, and associated systems and methods
TW201201419A (en) * 2010-06-29 2012-01-01 Semileds Optoelectronics Co Wafer-type light emitting device having precisely coated wavelength-converting layer
TW201201409A (en) * 2010-06-29 2012-01-01 Semileds Optoelectronics Co Chip-type light emitting device having precisely coated wavelength-converting layer and packaged structure thereof
US9159892B2 (en) * 2010-07-01 2015-10-13 Citizen Holdings Co., Ltd. LED light source device and manufacturing method for the same
US10546846B2 (en) * 2010-07-23 2020-01-28 Cree, Inc. Light transmission control for masking appearance of solid state light sources
US9831393B2 (en) 2010-07-30 2017-11-28 Cree Hong Kong Limited Water resistant surface mount device package
US10451251B2 (en) 2010-08-02 2019-10-22 Ideal Industries Lighting, LLC Solid state lamp with light directing optics and diffuser
US8764224B2 (en) 2010-08-12 2014-07-01 Cree, Inc. Luminaire with distributed LED sources
CN102376848A (en) * 2010-08-27 2012-03-14 璨圆光电股份有限公司 Manufacturing method of light-emitting device
WO2012036486A2 (en) * 2010-09-15 2012-03-22 (주)라이타이저코리아 Light-emitting diode and method for producing same
DE102010046257A1 (en) * 2010-09-22 2012-03-22 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for manufacturing LED chip mounted on circuit board, involves providing carrier with adhesive surface, applying molding material on adhesive film, and cutting molding material between semiconductor chips
TWI446590B (en) * 2010-09-30 2014-07-21 Everlight Electronics Co Ltd Light emitting diode package structure and manufacturing method thereof
US9627361B2 (en) 2010-10-07 2017-04-18 Cree, Inc. Multiple configuration light emitting devices and methods
US9816677B2 (en) 2010-10-29 2017-11-14 Sharp Kabushiki Kaisha Light emitting device, vehicle headlamp, illumination device, and laser element
KR101767100B1 (en) * 2010-11-10 2017-08-10 삼성전자주식회사 Light emitting device and manufacturing method of the same
US8896235B1 (en) 2010-11-17 2014-11-25 Soraa, Inc. High temperature LED system using an AC power source
US8564000B2 (en) 2010-11-22 2013-10-22 Cree, Inc. Light emitting devices for light emitting diodes (LEDs)
USD721339S1 (en) 2010-12-03 2015-01-20 Cree, Inc. Light emitter device
USD707192S1 (en) 2010-11-18 2014-06-17 Cree, Inc. Light emitting device
USD712850S1 (en) 2010-11-18 2014-09-09 Cree, Inc. Light emitter device
US8575639B2 (en) 2011-02-16 2013-11-05 Cree, Inc. Light emitting devices for light emitting diodes (LEDs)
US9490235B2 (en) 2010-11-22 2016-11-08 Cree, Inc. Light emitting devices, systems, and methods
US9000470B2 (en) 2010-11-22 2015-04-07 Cree, Inc. Light emitter devices
US9300062B2 (en) 2010-11-22 2016-03-29 Cree, Inc. Attachment devices and methods for light emitting devices
US8624271B2 (en) 2010-11-22 2014-01-07 Cree, Inc. Light emitting devices
US10267506B2 (en) 2010-11-22 2019-04-23 Cree, Inc. Solid state lighting apparatuses with non-uniformly spaced emitters for improved heat distribution, system having the same, and methods having the same
JP5733961B2 (en) * 2010-11-26 2015-06-10 株式会社ディスコ Processing method of optical device wafer
US20120138874A1 (en) 2010-12-02 2012-06-07 Intematix Corporation Solid-state light emitting devices and signage with photoluminescence wavelength conversion and photoluminescent compositions therefor
KR20120061376A (en) * 2010-12-03 2012-06-13 삼성엘이디 주식회사 Method of applying phosphor on semiconductor light emitting device
USD706231S1 (en) 2010-12-03 2014-06-03 Cree, Inc. Light emitting device
US8556469B2 (en) 2010-12-06 2013-10-15 Cree, Inc. High efficiency total internal reflection optic for solid state lighting luminaires
US10309627B2 (en) 2012-11-08 2019-06-04 Cree, Inc. Light fixture retrofit kit with integrated light bar
US9822951B2 (en) 2010-12-06 2017-11-21 Cree, Inc. LED retrofit lens for fluorescent tube
KR101883839B1 (en) * 2010-12-07 2018-08-30 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device module and bcklight unit including the same
US11101408B2 (en) 2011-02-07 2021-08-24 Creeled, Inc. Components and methods for light emitting diode (LED) lighting
KR101769075B1 (en) * 2010-12-24 2017-08-18 서울바이오시스 주식회사 Light emitting diode chip and method of fabricating the same
KR101748334B1 (en) 2011-01-17 2017-06-16 삼성전자 주식회사 Apparatus and method of fabricating white light emitting device
US8786053B2 (en) 2011-01-24 2014-07-22 Soraa, Inc. Gallium-nitride-on-handle substrate materials and devices and method of manufacture
US9166126B2 (en) * 2011-01-31 2015-10-20 Cree, Inc. Conformally coated light emitting devices and methods for providing the same
US9786811B2 (en) 2011-02-04 2017-10-10 Cree, Inc. Tilted emission LED array
US9583681B2 (en) 2011-02-07 2017-02-28 Cree, Inc. Light emitter device packages, modules and methods
US9068701B2 (en) 2012-01-26 2015-06-30 Cree, Inc. Lamp structure with remote LED light source
US9234655B2 (en) 2011-02-07 2016-01-12 Cree, Inc. Lamp with remote LED light source and heat dissipating elements
KR20120092000A (en) * 2011-02-09 2012-08-20 서울반도체 주식회사 Light emitting device having wavelength converting layer
US8809880B2 (en) 2011-02-16 2014-08-19 Cree, Inc. Light emitting diode (LED) chips and devices for providing failure mitigation in LED arrays
US10098197B2 (en) 2011-06-03 2018-10-09 Cree, Inc. Lighting devices with individually compensating multi-color clusters
USD702653S1 (en) 2011-10-26 2014-04-15 Cree, Inc. Light emitting device component
US8455908B2 (en) 2011-02-16 2013-06-04 Cree, Inc. Light emitting devices
US11251164B2 (en) 2011-02-16 2022-02-15 Creeled, Inc. Multi-layer conversion material for down conversion in solid state lighting
US9041046B2 (en) 2011-03-15 2015-05-26 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method and apparatus for a light source
US10147853B2 (en) 2011-03-18 2018-12-04 Cree, Inc. Encapsulant with index matched thixotropic agent
US8680556B2 (en) 2011-03-24 2014-03-25 Cree, Inc. Composite high reflectivity layer
US8957438B2 (en) 2011-04-07 2015-02-17 Cree, Inc. Methods of fabricating light emitting devices including multiple sequenced luminophoric layers
JP5670249B2 (en) * 2011-04-14 2015-02-18 日東電工株式会社 Light emitting element transfer sheet manufacturing method, light emitting device manufacturing method, light emitting element transfer sheet, and light emitting device
US9263636B2 (en) 2011-05-04 2016-02-16 Cree, Inc. Light-emitting diode (LED) for achieving an asymmetric light output
US8921875B2 (en) 2011-05-10 2014-12-30 Cree, Inc. Recipient luminophoric mediums having narrow spectrum luminescent materials and related semiconductor light emitting devices and methods
CN102208499A (en) * 2011-05-12 2011-10-05 深圳市瑞丰光电子股份有限公司 Manufacturing process of white-light LED chip and product thereof
CN102231378B (en) * 2011-05-25 2013-05-29 映瑞光电科技(上海)有限公司 Light-emitting diode (LED) packaging structure and preparation method thereof
US8906263B2 (en) 2011-06-03 2014-12-09 Cree, Inc. Red nitride phosphors
US8814621B2 (en) 2011-06-03 2014-08-26 Cree, Inc. Methods of determining and making red nitride compositions
US8729790B2 (en) 2011-06-03 2014-05-20 Cree, Inc. Coated phosphors and light emitting devices including the same
US8747697B2 (en) 2011-06-07 2014-06-10 Cree, Inc. Gallium-substituted yttrium aluminum garnet phosphor and light emitting devices including the same
CN102299234A (en) * 2011-06-13 2011-12-28 协鑫光电科技(张家港)有限公司 Light emitting diode (LED) and manufacturing method thereof
US8686429B2 (en) 2011-06-24 2014-04-01 Cree, Inc. LED structure with enhanced mirror reflectivity
US12002915B2 (en) 2011-06-24 2024-06-04 Creeled, Inc. Multi-segment monolithic LED chip
US10243121B2 (en) 2011-06-24 2019-03-26 Cree, Inc. High voltage monolithic LED chip with improved reliability
US9728676B2 (en) 2011-06-24 2017-08-08 Cree, Inc. High voltage monolithic LED chip
USD700584S1 (en) 2011-07-06 2014-03-04 Cree, Inc. LED component
US10842016B2 (en) 2011-07-06 2020-11-17 Cree, Inc. Compact optically efficient solid state light source with integrated thermal management
US8684569B2 (en) 2011-07-06 2014-04-01 Cree, Inc. Lens and trim attachment structure for solid state downlights
US10211380B2 (en) 2011-07-21 2019-02-19 Cree, Inc. Light emitting devices and components having improved chemical resistance and related methods
US10686107B2 (en) 2011-07-21 2020-06-16 Cree, Inc. Light emitter devices and components with improved chemical resistance and related methods
WO2013013154A2 (en) 2011-07-21 2013-01-24 Cree, Inc. Light emitter device packages, components, and methods for improved chemical resistance and related methods
US8952395B2 (en) 2011-07-26 2015-02-10 Micron Technology, Inc. Wafer-level solid state transducer packaging transducers including separators and associated systems and methods
US8686431B2 (en) 2011-08-22 2014-04-01 Soraa, Inc. Gallium and nitrogen containing trilateral configuration for optical devices
US8497146B2 (en) * 2011-08-25 2013-07-30 Micron Technology, Inc. Vertical solid-state transducers having backside terminals and associated systems and methods
US8558252B2 (en) 2011-08-26 2013-10-15 Cree, Inc. White LEDs with emission wavelength correction
US9897276B2 (en) 2011-08-26 2018-02-20 Cree, Inc. Reduced phosphor lighting devices
US9488324B2 (en) 2011-09-02 2016-11-08 Soraa, Inc. Accessories for LED lamp systems
CN103782403B (en) 2011-09-06 2017-06-30 克利公司 Optical transmitting set packaging part and device and correlation technique with improved wire bonding
US20130056749A1 (en) * 2011-09-07 2013-03-07 Michael Tischler Broad-area lighting systems
USD705181S1 (en) 2011-10-26 2014-05-20 Cree, Inc. Light emitting device component
CN104081112B (en) 2011-11-07 2016-03-16 克利公司 High voltage array light-emitting diode (LED) device, equipment and method
KR20130052825A (en) * 2011-11-14 2013-05-23 삼성전자주식회사 Light emitting device
US10043960B2 (en) 2011-11-15 2018-08-07 Cree, Inc. Light emitting diode (LED) packages and related methods
US8912025B2 (en) 2011-11-23 2014-12-16 Soraa, Inc. Method for manufacture of bright GaN LEDs using a selective removal process
US9496466B2 (en) 2011-12-06 2016-11-15 Cree, Inc. Light emitter devices and methods, utilizing light emitting diodes (LEDs), for improved light extraction
EP2607449B1 (en) * 2011-12-22 2014-04-02 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Preparation of yttrium-cerium-aluminum garnet phosphor
US9335531B2 (en) 2011-12-30 2016-05-10 Cree, Inc. LED lighting using spectral notching
US9318669B2 (en) 2012-01-30 2016-04-19 Cree, Inc. Methods of determining and making red nitride compositions
US9786825B2 (en) 2012-02-07 2017-10-10 Cree, Inc. Ceramic-based light emitting diode (LED) devices, components, and methods
US8895998B2 (en) 2012-03-30 2014-11-25 Cree, Inc. Ceramic-based light emitting diode (LED) devices, components and methods
US9806246B2 (en) 2012-02-07 2017-10-31 Cree, Inc. Ceramic-based light emitting diode (LED) devices, components, and methods
US9343441B2 (en) 2012-02-13 2016-05-17 Cree, Inc. Light emitter devices having improved light output and related methods
US9240530B2 (en) 2012-02-13 2016-01-19 Cree, Inc. Light emitter devices having improved chemical and physical resistance and related methods
US8803185B2 (en) * 2012-02-21 2014-08-12 Peiching Ling Light emitting diode package and method of fabricating the same
JP2015509669A (en) 2012-03-06 2015-03-30 ソラア インコーポレーテッドSoraa Inc. Light emitting diode with low refractive index material layer to reduce guided light effect
CN102593332A (en) * 2012-03-09 2012-07-18 晶科电子(广州)有限公司 LED (light-emitting diode) luminescent device and manufacturing method thereof
CN102544329A (en) * 2012-03-14 2012-07-04 连云港陆亿建材有限公司 Wafer level light emitting diode encapsulation structure and manufacturing process thereof
CN102593327A (en) * 2012-03-19 2012-07-18 连云港陆亿建材有限公司 Inverted packaging technology for wafer-level LED
US9488359B2 (en) 2012-03-26 2016-11-08 Cree, Inc. Passive phase change radiators for LED lamps and fixtures
US9735198B2 (en) 2012-03-30 2017-08-15 Cree, Inc. Substrate based light emitter devices, components, and related methods
US9538590B2 (en) 2012-03-30 2017-01-03 Cree, Inc. Solid state lighting apparatuses, systems, and related methods
US10134961B2 (en) 2012-03-30 2018-11-20 Cree, Inc. Submount based surface mount device (SMD) light emitter components and methods
US9188290B2 (en) 2012-04-10 2015-11-17 Cree, Inc. Indirect linear fixture
US8985794B1 (en) 2012-04-17 2015-03-24 Soraa, Inc. Providing remote blue phosphors in an LED lamp
US8878204B2 (en) 2012-05-04 2014-11-04 Cree, Inc. Submount based light emitter components and methods
CN203277485U (en) 2012-05-29 2013-11-06 璨圆光电股份有限公司 Light-emitting device, light-emitting diode chip for forming multi-directional light emission and sapphire substrate thereof
US9166116B2 (en) 2012-05-29 2015-10-20 Formosa Epitaxy Incorporation Light emitting device
US10439112B2 (en) 2012-05-31 2019-10-08 Cree, Inc. Light emitter packages, systems, and methods having improved performance
US9349929B2 (en) 2012-05-31 2016-05-24 Cree, Inc. Light emitter packages, systems, and methods
USD749051S1 (en) 2012-05-31 2016-02-09 Cree, Inc. Light emitting diode (LED) package
US9590155B2 (en) 2012-06-06 2017-03-07 Cree, Inc. Light emitting devices and substrates with improved plating
US9147816B2 (en) 2012-08-24 2015-09-29 Luminus Devices, Inc. Wavelength converting material deposition methods and associated articles
JP6003402B2 (en) * 2012-08-28 2016-10-05 住友大阪セメント株式会社 Optical semiconductor light emitting device, lighting fixture, and display device
KR101350159B1 (en) * 2012-08-31 2014-02-13 한국광기술원 Method for manufacturing white light emitting diode
DE102012109460B4 (en) * 2012-10-04 2024-03-07 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Method for producing a light-emitting diode display and light-emitting diode display
US9978904B2 (en) 2012-10-16 2018-05-22 Soraa, Inc. Indium gallium nitride light emitting devices
KR101977278B1 (en) * 2012-10-29 2019-09-10 엘지이노텍 주식회사 A light emitting device
US9482396B2 (en) 2012-11-08 2016-11-01 Cree, Inc. Integrated linear light engine
US10788176B2 (en) 2013-02-08 2020-09-29 Ideal Industries Lighting Llc Modular LED lighting system
US9494304B2 (en) 2012-11-08 2016-11-15 Cree, Inc. Recessed light fixture retrofit kit
US9441818B2 (en) 2012-11-08 2016-09-13 Cree, Inc. Uplight with suspended fixture
US9437788B2 (en) 2012-12-19 2016-09-06 Cree, Inc. Light emitting diode (LED) component comprising a phosphor with improved excitation properties
US9761763B2 (en) 2012-12-21 2017-09-12 Soraa, Inc. Dense-luminescent-materials-coated violet LEDs
US8802471B1 (en) 2012-12-21 2014-08-12 Soraa, Inc. Contacts for an n-type gallium and nitrogen substrate for optical devices
US9316382B2 (en) 2013-01-31 2016-04-19 Cree, Inc. Connector devices, systems, and related methods for connecting light emitting diode (LED) modules
US9345091B2 (en) 2013-02-08 2016-05-17 Cree, Inc. Light emitting device (LED) light fixture control systems and related methods
US9030103B2 (en) 2013-02-08 2015-05-12 Cree, Inc. Solid state light emitting devices including adjustable scotopic / photopic ratio
US9039746B2 (en) 2013-02-08 2015-05-26 Cree, Inc. Solid state light emitting devices including adjustable melatonin suppression effects
US9565782B2 (en) 2013-02-15 2017-02-07 Ecosense Lighting Inc. Field replaceable power supply cartridge
US8916896B2 (en) 2013-02-22 2014-12-23 Cree, Inc. Light emitter components and methods having improved performance
US10295124B2 (en) 2013-02-27 2019-05-21 Cree, Inc. Light emitter packages and methods
US8876312B2 (en) * 2013-03-05 2014-11-04 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Lighting device and apparatus with spectral converter within a casing
US8928219B2 (en) 2013-03-05 2015-01-06 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Lighting device with spectral converter
US9874333B2 (en) 2013-03-14 2018-01-23 Cree, Inc. Surface ambient wrap light fixture
USD738026S1 (en) 2013-03-14 2015-09-01 Cree, Inc. Linear wrap light fixture
US10584860B2 (en) 2013-03-14 2020-03-10 Ideal Industries, Llc Linear light fixture with interchangeable light engine unit
USD733952S1 (en) 2013-03-15 2015-07-07 Cree, Inc. Indirect linear fixture
US9435492B2 (en) 2013-03-15 2016-09-06 Cree, Inc. LED luminaire with improved thermal management and novel LED interconnecting architecture
US9897267B2 (en) 2013-03-15 2018-02-20 Cree, Inc. Light emitter components, systems, and related methods
US9215792B2 (en) 2013-03-15 2015-12-15 Cree, Inc. Connector devices, systems, and related methods for light emitter components
DE102013103226A1 (en) * 2013-03-28 2014-10-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Semiconductor device and method for manufacturing a semiconductor device
US9219202B2 (en) 2013-04-19 2015-12-22 Cree, Inc. Semiconductor light emitting devices including red phosphors that exhibit good color rendering properties and related red phosphors
USD738542S1 (en) 2013-04-19 2015-09-08 Cree, Inc. Light emitting unit
JP6273945B2 (en) * 2013-04-26 2018-02-07 日亜化学工業株式会社 Light emitting device
USD739565S1 (en) 2013-06-27 2015-09-22 Cree, Inc. Light emitter unit
USD740453S1 (en) 2013-06-27 2015-10-06 Cree, Inc. Light emitter unit
CN103367606B (en) * 2013-07-09 2016-06-01 北京半导体照明科技促进中心 Manufacture the method for light-emitting diode chip for backlight unit
US8994033B2 (en) 2013-07-09 2015-03-31 Soraa, Inc. Contacts for an n-type gallium and nitrogen substrate for optical devices
JP5837006B2 (en) * 2013-07-16 2015-12-24 株式会社東芝 Manufacturing method of optical semiconductor device
US9589852B2 (en) * 2013-07-22 2017-03-07 Cree, Inc. Electrostatic phosphor coating systems and methods for light emitting structures and packaged light emitting diodes including phosphor coating
US9461024B2 (en) 2013-08-01 2016-10-04 Cree, Inc. Light emitter devices and methods for light emitting diode (LED) chips
USD758976S1 (en) 2013-08-08 2016-06-14 Cree, Inc. LED package
KR102075749B1 (en) * 2013-08-08 2020-03-02 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device package
TWI570350B (en) * 2013-08-29 2017-02-11 晶元光電股份有限公司 Illumination device
US10074781B2 (en) 2013-08-29 2018-09-11 Cree, Inc. Semiconductor light emitting devices including multiple red phosphors that exhibit good color rendering properties with increased brightness
US9206958B2 (en) 2013-09-16 2015-12-08 Osram Sylvania Inc. Thin film wavelength converters and methods for making the same
US9240528B2 (en) 2013-10-03 2016-01-19 Cree, Inc. Solid state lighting apparatus with high scotopic/photopic (S/P) ratio
US10900653B2 (en) 2013-11-01 2021-01-26 Cree Hong Kong Limited LED mini-linear light engine
US9419189B1 (en) 2013-11-04 2016-08-16 Soraa, Inc. Small LED source with high brightness and high efficiency
US10612747B2 (en) 2013-12-16 2020-04-07 Ideal Industries Lighting Llc Linear shelf light fixture with gap filler elements
US10100988B2 (en) 2013-12-16 2018-10-16 Cree, Inc. Linear shelf light fixture with reflectors
USD750308S1 (en) 2013-12-16 2016-02-23 Cree, Inc. Linear shelf light fixture
CN104752571A (en) * 2013-12-31 2015-07-01 晶能光电(江西)有限公司 Cutting method of wafer grade white-light LED chip
US9360188B2 (en) 2014-02-20 2016-06-07 Cree, Inc. Remote phosphor element filled with transparent material and method for forming multisection optical elements
CN103805196B (en) * 2014-02-27 2016-09-28 昆山开威电子有限公司 A kind of composite construction based on Ce:YAG wafer and manufacture method
US10234119B2 (en) 2014-03-24 2019-03-19 Cree, Inc. Multiple voltage light emitter packages, systems, and related methods
USD757324S1 (en) 2014-04-14 2016-05-24 Cree, Inc. Linear shelf light fixture with reflectors
US9685101B2 (en) 2014-04-23 2017-06-20 Cree, Inc. Solid state light-emitting devices with improved contrast
US9593812B2 (en) 2014-04-23 2017-03-14 Cree, Inc. High CRI solid state lighting devices with enhanced vividness
US9241384B2 (en) 2014-04-23 2016-01-19 Cree, Inc. Solid state lighting devices with adjustable color point
US9960322B2 (en) 2014-04-23 2018-05-01 Cree, Inc. Solid state lighting devices incorporating notch filtering materials
US9215761B2 (en) 2014-05-15 2015-12-15 Cree, Inc. Solid state lighting devices with color point non-coincident with blackbody locus
US9691949B2 (en) 2014-05-30 2017-06-27 Cree, Inc. Submount based light emitter components and methods
US9534741B2 (en) 2014-07-23 2017-01-03 Cree, Inc. Lighting devices with illumination regions having different gamut properties
CN106716003B (en) * 2014-09-02 2020-03-10 飞利浦照明控股有限公司 Method of applying a lighting arrangement to a surface and a lighting surface
USD790486S1 (en) 2014-09-30 2017-06-27 Cree, Inc. LED package with truncated encapsulant
KR102224848B1 (en) * 2014-10-06 2021-03-08 삼성전자주식회사 Method for fabricating light emitting device package
US10477636B1 (en) 2014-10-28 2019-11-12 Ecosense Lighting Inc. Lighting systems having multiple light sources
US9219201B1 (en) 2014-10-31 2015-12-22 Cree, Inc. Blue light emitting devices that include phosphor-converted blue light emitting diodes
US10453825B2 (en) 2014-11-11 2019-10-22 Cree, Inc. Light emitting diode (LED) components and methods
US9826581B2 (en) 2014-12-05 2017-11-21 Cree, Inc. Voltage configurable solid state lighting apparatuses, systems, and related methods
US10431568B2 (en) 2014-12-18 2019-10-01 Cree, Inc. Light emitting diodes, components and related methods
KR102345751B1 (en) * 2015-01-05 2022-01-03 삼성전자주식회사 Semiconductor light emitting device package and method for manufacturing the same
US10658546B2 (en) 2015-01-21 2020-05-19 Cree, Inc. High efficiency LEDs and methods of manufacturing
US9869450B2 (en) 2015-02-09 2018-01-16 Ecosense Lighting Inc. Lighting systems having a truncated parabolic- or hyperbolic-conical light reflector, or a total internal reflection lens; and having another light reflector
US11306897B2 (en) 2015-02-09 2022-04-19 Ecosense Lighting Inc. Lighting systems generating partially-collimated light emissions
USD777122S1 (en) 2015-02-27 2017-01-24 Cree, Inc. LED package
US9568665B2 (en) 2015-03-03 2017-02-14 Ecosense Lighting Inc. Lighting systems including lens modules for selectable light distribution
US9651227B2 (en) 2015-03-03 2017-05-16 Ecosense Lighting Inc. Low-profile lighting system having pivotable lighting enclosure
US9746159B1 (en) 2015-03-03 2017-08-29 Ecosense Lighting Inc. Lighting system having a sealing system
US9651216B2 (en) 2015-03-03 2017-05-16 Ecosense Lighting Inc. Lighting systems including asymmetric lens modules for selectable light distribution
CN113130725B (en) 2015-03-31 2024-09-24 科锐Led公司 Light emitting diode with encapsulation and method
US10683971B2 (en) 2015-04-30 2020-06-16 Cree, Inc. Solid state lighting components
USD783547S1 (en) 2015-06-04 2017-04-11 Cree, Inc. LED package
DE102015109413A1 (en) * 2015-06-12 2016-12-15 Osram Opto Semiconductors Gmbh Process for the production of optoelectronic conversion semiconductor chips and combination of conversion semiconductor chips
WO2017004145A1 (en) 2015-06-30 2017-01-05 Cree, Inc. Stabilized quantum dot structure and method of making a stabilized quantum dot structure
USD785218S1 (en) 2015-07-06 2017-04-25 Ecosense Lighting Inc. LED luminaire having a mounting system
US10074635B2 (en) 2015-07-17 2018-09-11 Cree, Inc. Solid state light emitter devices and methods
USD782093S1 (en) 2015-07-20 2017-03-21 Ecosense Lighting Inc. LED luminaire having a mounting system
USD782094S1 (en) 2015-07-20 2017-03-21 Ecosense Lighting Inc. LED luminaire having a mounting system
US9651232B1 (en) 2015-08-03 2017-05-16 Ecosense Lighting Inc. Lighting system having a mounting device
CN105185774A (en) * 2015-09-15 2015-12-23 华南师范大学 High-response-rate communication light-emitting device
CN105679890A (en) * 2016-02-29 2016-06-15 中山大学 Preparation method for semiconductor thin film type device
US10193031B2 (en) * 2016-03-11 2019-01-29 Rohinni, LLC Method for applying phosphor to light emitting diodes and apparatus thereof
US11156907B2 (en) * 2016-05-24 2021-10-26 Sony Corporation Light source apparatus and projection display apparatus
WO2018022456A1 (en) 2016-07-26 2018-02-01 Cree, Inc. Light emitting diodes, components and related methods
WO2018052902A1 (en) 2016-09-13 2018-03-22 Cree, Inc. Light emitting diodes, components and related methods
FR3055948B1 (en) * 2016-09-15 2018-09-07 Valeo Vision METHOD FOR MOUNTING A MATRIX ELECTROLUMINESCENT COMPONENT ON A SUPPORT
USD823492S1 (en) 2016-10-04 2018-07-17 Cree, Inc. Light emitting device
US10804251B2 (en) 2016-11-22 2020-10-13 Cree, Inc. Light emitting diode (LED) devices, components and methods
EP3568873B1 (en) * 2017-01-13 2023-11-08 Massachusetts Institute of Technology A method of forming a multilayer structure for a pixelated display and a multilayer structure for a pixelated display
TWI646651B (en) 2017-01-26 2019-01-01 宏碁股份有限公司 Light-emitting diode display and manufacturing method thereof
TWI663724B (en) * 2017-01-26 2019-06-21 宏碁股份有限公司 Light emitting diode display and fabricating method thereof
CN108428713A (en) * 2017-02-13 2018-08-21 宏碁股份有限公司 Light emitting diode indicator and its manufacturing method
US10439114B2 (en) 2017-03-08 2019-10-08 Cree, Inc. Substrates for light emitting diodes and related methods
WO2018183341A1 (en) 2017-03-27 2018-10-04 Firouzeh Sabri Light weight flexible temperature sensor kit
JP6297741B1 (en) 2017-03-31 2018-03-20 旭化成エレクトロニクス株式会社 Optical device and manufacturing method thereof
US10410997B2 (en) 2017-05-11 2019-09-10 Cree, Inc. Tunable integrated optics LED components and methods
US10672957B2 (en) 2017-07-19 2020-06-02 Cree, Inc. LED apparatuses and methods for high lumen output density
US11107857B2 (en) 2017-08-18 2021-08-31 Creeled, Inc. Light emitting diodes, components and related methods
US11101248B2 (en) 2017-08-18 2021-08-24 Creeled, Inc. Light emitting diodes, components and related methods
EP3545561B1 (en) 2017-08-25 2022-10-26 Cree Huizhou Solid State Lighting Company Ltd. Multiple led light source integrated package
US10361349B2 (en) 2017-09-01 2019-07-23 Cree, Inc. Light emitting diodes, components and related methods
US10546843B2 (en) 2017-11-03 2020-01-28 Ideal Industries Lighting Llc White light emitting devices having high luminous efficiency and improved color rendering that include pass-through violet emissions
US10741730B2 (en) 2017-11-10 2020-08-11 Cree, Inc. Stabilized luminescent nanoparticles comprising a perovskite semiconductor and method of fabrication
US10347799B2 (en) 2017-11-10 2019-07-09 Cree, Inc. Stabilized quantum dot composite and method of making a stabilized quantum dot composite
US10541353B2 (en) 2017-11-10 2020-01-21 Cree, Inc. Light emitting devices including narrowband converters for outdoor lighting applications
CN107731864B (en) * 2017-11-20 2020-06-12 开发晶照明(厦门)有限公司 Micro light emitting diode display and method of manufacture
US10734560B2 (en) 2017-11-29 2020-08-04 Cree, Inc. Configurable circuit layout for LEDs
US20190189682A1 (en) * 2017-12-20 2019-06-20 Lumileds Llc Monolithic segmented led array architecture with transparent common n-contact
US11961875B2 (en) 2017-12-20 2024-04-16 Lumileds Llc Monolithic segmented LED array architecture with islanded epitaxial growth
US10957736B2 (en) 2018-03-12 2021-03-23 Cree, Inc. Light emitting diode (LED) components and methods
US10573543B2 (en) 2018-04-30 2020-02-25 Cree, Inc. Apparatus and methods for mass transfer of electronic die
CN208385406U (en) * 2018-05-25 2019-01-15 深圳市瑞丰光电子股份有限公司 A kind of LED module
US11121298B2 (en) 2018-05-25 2021-09-14 Creeled, Inc. Light-emitting diode packages with individually controllable light-emitting diode chips
US10453827B1 (en) 2018-05-30 2019-10-22 Cree, Inc. LED apparatuses and methods
US11101410B2 (en) 2018-05-30 2021-08-24 Creeled, Inc. LED systems, apparatuses, and methods
US10608148B2 (en) 2018-05-31 2020-03-31 Cree, Inc. Stabilized fluoride phosphor for light emitting diode (LED) applications
DK3776674T3 (en) 2018-06-04 2024-08-19 Creeled Inc LED DEVICES AND METHOD
US10964866B2 (en) 2018-08-21 2021-03-30 Cree, Inc. LED device, system, and method with adaptive patterns
DE102018120584A1 (en) * 2018-08-23 2020-02-27 Osram Opto Semiconductors Gmbh OPTOELECTRONIC SEMICONDUCTOR COMPONENT AND METHOD FOR PRODUCING AN OPTOELECTRONIC SEMICONDUCTOR COMPONENT
US11233183B2 (en) 2018-08-31 2022-01-25 Creeled, Inc. Light-emitting diodes, light-emitting diode arrays and related devices
US11335833B2 (en) 2018-08-31 2022-05-17 Creeled, Inc. Light-emitting diodes, light-emitting diode arrays and related devices
KR20200106695A (en) * 2019-03-05 2020-09-15 주식회사 루멘스 Led array package and manufacturing method thereof
JP7004948B2 (en) 2019-04-27 2022-01-21 日亜化学工業株式会社 Manufacturing method of light emitting module
US11101411B2 (en) 2019-06-26 2021-08-24 Creeled, Inc. Solid-state light emitting devices including light emitting diodes in package structures
CN110484129B (en) * 2019-07-02 2022-01-25 昆山联滔电子有限公司 Product with protective coating and preparation method thereof
US11777059B2 (en) 2019-11-20 2023-10-03 Lumileds Llc Pixelated light-emitting diode for self-aligned photoresist patterning
US11848402B2 (en) 2020-03-11 2023-12-19 Lumileds Llc Light emitting diode devices with multilayer composite film including current spreading layer
US11735695B2 (en) 2020-03-11 2023-08-22 Lumileds Llc Light emitting diode devices with current spreading layer
US11569415B2 (en) 2020-03-11 2023-01-31 Lumileds Llc Light emitting diode devices with defined hard mask opening
US11942507B2 (en) 2020-03-11 2024-03-26 Lumileds Llc Light emitting diode devices
TWI719866B (en) * 2020-03-25 2021-02-21 矽品精密工業股份有限公司 Electronic package, supporting structure and manufacturing method thereof
JP7119283B2 (en) 2020-03-30 2022-08-17 日亜化学工業株式会社 Method for manufacturing light emitting device
US11626538B2 (en) 2020-10-29 2023-04-11 Lumileds Llc Light emitting diode device with tunable emission
US11901491B2 (en) 2020-10-29 2024-02-13 Lumileds Llc Light emitting diode devices
US12040432B2 (en) 2020-10-30 2024-07-16 Lumileds Llc Light emitting diode devices with patterned TCO layer including different thicknesses
US11955583B2 (en) 2020-12-01 2024-04-09 Lumileds Llc Flip chip micro light emitting diodes
US11705534B2 (en) 2020-12-01 2023-07-18 Lumileds Llc Methods of making flip chip micro light emitting diodes
US11600656B2 (en) 2020-12-14 2023-03-07 Lumileds Llc Light emitting diode device
CN112635630B (en) * 2020-12-31 2022-05-03 深圳第三代半导体研究院 Light emitting diode and manufacturing method thereof
CN117203770A (en) * 2021-03-25 2023-12-08 应用材料公司 micro-LED with reduced sub-pixel interference and method of manufacture
WO2023146765A1 (en) * 2022-01-28 2023-08-03 Lumileds Llc Phosphor-converted light emitting diodes (leds) color tuning
WO2023192370A1 (en) * 2022-03-30 2023-10-05 Lumileds Llc Semiconductor structure and methods of manufacturing the same

Family Cites Families (282)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US34861A (en) * 1862-04-01 Improved washing-machine
US3780357A (en) 1973-02-16 1973-12-18 Hewlett Packard Co Electroluminescent semiconductor display apparatus and method of fabricating the same
JPS5939124A (en) 1982-08-27 1984-03-03 Toshiba Corp Cmos logical circuit
US4576796A (en) 1984-01-18 1986-03-18 Pelam, Inc. Centrifugal tissue processor
US4733335A (en) 1984-12-28 1988-03-22 Koito Manufacturing Co., Ltd. Vehicular lamp
US4866005A (en) 1987-10-26 1989-09-12 North Carolina State University Sublimation of silicon carbide to produce large, device quality single crystals of silicon carbide
US4935665A (en) 1987-12-24 1990-06-19 Mitsubishi Cable Industries Ltd. Light emitting diode lamp
DE68916070T2 (en) 1988-03-16 1994-10-13 Mitsubishi Rayon Co Phosphorus paste compositions and coatings obtained therewith.
US5027168A (en) 1988-12-14 1991-06-25 Cree Research, Inc. Blue light emitting diode formed in silicon carbide
US4918497A (en) 1988-12-14 1990-04-17 Cree Research, Inc. Blue light emitting diode formed in silicon carbide
JPH0286150U (en) 1988-12-22 1990-07-09
US4966862A (en) 1989-08-28 1990-10-30 Cree Research, Inc. Method of production of light emitting diodes
US4946547A (en) 1989-10-13 1990-08-07 Cree Research, Inc. Method of preparing silicon carbide surfaces for crystal growth
US5210051A (en) 1990-03-27 1993-05-11 Cree Research, Inc. High efficiency light emitting diodes from bipolar gallium nitride
US5200022A (en) 1990-10-03 1993-04-06 Cree Research, Inc. Method of improving mechanically prepared substrate surfaces of alpha silicon carbide for deposition of beta silicon carbide thereon and resulting product
FR2704690B1 (en) 1993-04-27 1995-06-23 Thomson Csf Method for encapsulating semiconductor wafers, device obtained by this process and application to the interconnection of wafers in three dimensions.
US5416342A (en) 1993-06-23 1995-05-16 Cree Research, Inc. Blue light-emitting diode with high external quantum efficiency
US5338944A (en) 1993-09-22 1994-08-16 Cree Research, Inc. Blue light-emitting diode with degenerate junction structure
US5393993A (en) 1993-12-13 1995-02-28 Cree Research, Inc. Buffer structure between silicon carbide and gallium nitride and resulting semiconductor devices
US5604135A (en) 1994-08-12 1997-02-18 Cree Research, Inc. Method of forming green light emitting diode in silicon carbide
US5523589A (en) 1994-09-20 1996-06-04 Cree Research, Inc. Vertical geometry light emitting diode with group III nitride active layer and extended lifetime
US5631190A (en) 1994-10-07 1997-05-20 Cree Research, Inc. Method for producing high efficiency light-emitting diodes and resulting diode structures
DE19509262C2 (en) 1995-03-15 2001-11-29 Siemens Ag Semiconductor component with plastic sheathing and method for its production
US5614131A (en) 1995-05-01 1997-03-25 Motorola, Inc. Method of making an optoelectronic device
US5739554A (en) 1995-05-08 1998-04-14 Cree Research, Inc. Double heterojunction light emitting diode with gallium nitride active layer
US6056421A (en) 1995-08-25 2000-05-02 Michael Brian Johnson Architectural lighting devices with photosensitive lens
US5766987A (en) 1995-09-22 1998-06-16 Tessera, Inc. Microelectronic encapsulation methods and equipment
DE19536438A1 (en) 1995-09-29 1997-04-03 Siemens Ag Semiconductor device and manufacturing process
US6201587B1 (en) 1996-02-13 2001-03-13 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Apparatus having a rewritable display portion
JP2947156B2 (en) 1996-02-29 1999-09-13 双葉電子工業株式会社 Phosphor manufacturing method
US6001671A (en) 1996-04-18 1999-12-14 Tessera, Inc. Methods for manufacturing a semiconductor package having a sacrificial layer
US5803579A (en) 1996-06-13 1998-09-08 Gentex Corporation Illuminator assembly incorporating light emitting diodes
DE29724848U1 (en) * 1996-06-26 2004-09-30 Osram Opto Semiconductors Gmbh Light-emitting semiconductor component with luminescence conversion element
DE19638667C2 (en) 1996-09-20 2001-05-17 Osram Opto Semiconductors Gmbh Mixed-color light-emitting semiconductor component with luminescence conversion element
JP3751587B2 (en) 1996-07-12 2006-03-01 富士通株式会社 Manufacturing method of semiconductor device
TW383508B (en) 1996-07-29 2000-03-01 Nichia Kagaku Kogyo Kk Light emitting device and display
JP3065258B2 (en) 1996-09-30 2000-07-17 日亜化学工業株式会社 Light emitting device and display device using the same
JP3448441B2 (en) 1996-11-29 2003-09-22 三洋電機株式会社 Light emitting device
US5833903A (en) 1996-12-10 1998-11-10 Great American Gumball Corporation Injection molding encapsulation for an electronic device directly onto a substrate
US6274890B1 (en) 1997-01-15 2001-08-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor light emitting device and its manufacturing method
JP3492178B2 (en) 1997-01-15 2004-02-03 株式会社東芝 Semiconductor light emitting device and method of manufacturing the same
US6333522B1 (en) * 1997-01-31 2001-12-25 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Light-emitting element, semiconductor light-emitting device, and manufacturing methods therefor
US6583444B2 (en) 1997-02-18 2003-06-24 Tessera, Inc. Semiconductor packages having light-sensitive chips
JP3246386B2 (en) 1997-03-05 2002-01-15 日亜化学工業株式会社 Light emitting diode and color conversion mold member for light emitting diode
JP3351706B2 (en) 1997-05-14 2002-12-03 株式会社東芝 Semiconductor device and method of manufacturing the same
US5813753A (en) 1997-05-27 1998-09-29 Philips Electronics North America Corporation UV/blue led-phosphor device with efficient conversion of UV/blues light to visible light
FR2764111A1 (en) 1997-06-03 1998-12-04 Sgs Thomson Microelectronics METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR PACKAGES INCLUDING AN INTEGRATED CIRCUIT
JPH1126741A (en) * 1997-07-04 1999-01-29 Toshiba Corp Solid-state image pick-up device
JP3920461B2 (en) 1998-06-15 2007-05-30 大日本印刷株式会社 Lens and manufacturing method thereof
US6340824B1 (en) 1997-09-01 2002-01-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor light emitting device including a fluorescent material
JPH1187778A (en) 1997-09-02 1999-03-30 Toshiba Corp Semiconductor light emitting element, semiconductor light emitting device and manufacture thereof
CN2310925Y (en) 1997-09-26 1999-03-17 陈兴 Structure of light emitting diode
US6201262B1 (en) 1997-10-07 2001-03-13 Cree, Inc. Group III nitride photonic devices on silicon carbide substrates with conductive buffer interlay structure
US6495083B2 (en) 1997-10-29 2002-12-17 Hestia Technologies, Inc. Method of underfilling an integrated circuit chip
TW408497B (en) 1997-11-25 2000-10-11 Matsushita Electric Works Ltd LED illuminating apparatus
EP0926744B8 (en) 1997-12-15 2008-05-21 Philips Lumileds Lighting Company, LLC. Light emitting device
US6252254B1 (en) 1998-02-06 2001-06-26 General Electric Company Light emitting device with phosphor composition
US6580097B1 (en) 1998-02-06 2003-06-17 General Electric Company Light emitting device with phosphor composition
JPH11276932A (en) 1998-03-30 1999-10-12 Japan Tobacco Inc Centrifugal separator
US6329224B1 (en) 1998-04-28 2001-12-11 Tessera, Inc. Encapsulation of microelectronic assemblies
US6504180B1 (en) 1998-07-28 2003-01-07 Imec Vzw And Vrije Universiteit Method of manufacturing surface textured high-efficiency radiating devices and devices obtained therefrom
US5959316A (en) 1998-09-01 1999-09-28 Hewlett-Packard Company Multiple encapsulation of phosphor-LED devices
US7026448B2 (en) * 1998-09-01 2006-04-11 Genentech, Inc. Secreted and transmembrane polypeptides and nucleic acids encoding the same
JP3724620B2 (en) 1998-09-29 2005-12-07 シャープ株式会社 Manufacturing method of light emitting diode
US6404125B1 (en) 1998-10-21 2002-06-11 Sarnoff Corporation Method and apparatus for performing wavelength-conversion using phosphors with light emitting diodes
US6366018B1 (en) 1998-10-21 2002-04-02 Sarnoff Corporation Apparatus for performing wavelength-conversion using phosphors with light emitting diodes
US5988925A (en) * 1998-10-26 1999-11-23 Baggett; R. Sherman Stacked paper fastener
US6184465B1 (en) 1998-11-12 2001-02-06 Micron Technology, Inc. Semiconductor package
US6307218B1 (en) 1998-11-20 2001-10-23 Lumileds Lighting, U.S., Llc Electrode structures for light emitting devices
JP3775081B2 (en) 1998-11-27 2006-05-17 松下電器産業株式会社 Semiconductor light emitting device
US6429583B1 (en) 1998-11-30 2002-08-06 General Electric Company Light emitting device with ba2mgsi2o7:eu2+, ba2sio4:eu2+, or (srxcay ba1-x-y)(a1zga1-z)2sr:eu2+phosphors
JP4256968B2 (en) 1999-01-14 2009-04-22 スタンレー電気株式会社 Manufacturing method of light emitting diode
WO2000059036A1 (en) 1999-03-26 2000-10-05 Hitachi, Ltd. Semiconductor module and method of mounting
JP3494586B2 (en) 1999-03-26 2004-02-09 アピックヤマダ株式会社 Resin sealing device and resin sealing method
JP2000299334A (en) 1999-04-14 2000-10-24 Apic Yamada Corp Resin-sealing apparatus
DE19918370B4 (en) 1999-04-22 2006-06-08 Osram Opto Semiconductors Gmbh LED white light source with lens
US6257737B1 (en) 1999-05-20 2001-07-10 Philips Electronics Na Low-profile luminaire having a reflector for mixing light from a multi-color linear array of LEDs
JP3337000B2 (en) 1999-06-07 2002-10-21 サンケン電気株式会社 Semiconductor light emitting device
EP1059678A2 (en) 1999-06-09 2000-12-13 Sanyo Electric Co., Ltd. Hybrid integrated circuit device
JP3675234B2 (en) 1999-06-28 2005-07-27 豊田合成株式会社 Manufacturing method of semiconductor light emitting device
US6696703B2 (en) 1999-09-27 2004-02-24 Lumileds Lighting U.S., Llc Thin film phosphor-converted light emitting diode device
US6338813B1 (en) 1999-10-15 2002-01-15 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Molding method for BGA semiconductor chip package
KR20010044907A (en) 1999-11-01 2001-06-05 김순택 Phosphor screen representing high brightness in a low voltage and manufacturing method thereof
DE19955747A1 (en) * 1999-11-19 2001-05-23 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optical semiconductor device with multiple quantum well structure, e.g. LED, has alternate well layers and barrier layers forming super-lattices
US6406991B2 (en) * 1999-12-27 2002-06-18 Hoya Corporation Method of manufacturing a contact element and a multi-layered wiring substrate, and wafer batch contact board
DE19964252A1 (en) 1999-12-30 2002-06-06 Osram Opto Semiconductors Gmbh Surface mount component for an LED white light source
DE10010638A1 (en) 2000-03-03 2001-09-13 Osram Opto Semiconductors Gmbh Making light emitting semiconducting body with luminescence conversion element involves applying suspension with solvent, adhesive, luminescent material
US6793371B2 (en) 2000-03-09 2004-09-21 Mongo Light Co. Inc. LED lamp assembly
US6522065B1 (en) 2000-03-27 2003-02-18 General Electric Company Single phosphor for creating white light with high luminosity and high CRI in a UV led device
JP4810746B2 (en) 2000-03-31 2011-11-09 豊田合成株式会社 Group III nitride compound semiconductor device
WO2001075954A1 (en) 2000-03-31 2001-10-11 Toyoda Gosei Co., Ltd. Method for dicing semiconductor wafer into chips
US6653765B1 (en) 2000-04-17 2003-11-25 General Electric Company Uniform angular light distribution from LEDs
JP4403631B2 (en) 2000-04-24 2010-01-27 ソニー株式会社 Manufacturing method of chip-shaped electronic component and manufacturing method of pseudo wafer used for manufacturing the same
US6501100B1 (en) 2000-05-15 2002-12-31 General Electric Company White light emitting phosphor blend for LED devices
US6621211B1 (en) 2000-05-15 2003-09-16 General Electric Company White light emitting phosphor blends for LED devices
GB0013394D0 (en) 2000-06-01 2000-07-26 Microemissive Displays Ltd A method of creating a color optoelectronic device
JP2002009097A (en) 2000-06-22 2002-01-11 Oki Electric Ind Co Ltd Semiconductor device and method of manufacturing the same
DE10033502A1 (en) 2000-07-10 2002-01-31 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelectronic module, process for its production and its use
US6468832B1 (en) 2000-07-19 2002-10-22 National Semiconductor Corporation Method to encapsulate bumped integrated circuit to create chip scale package
JP3589187B2 (en) * 2000-07-31 2004-11-17 日亜化学工業株式会社 Method for forming light emitting device
JP2002050799A (en) 2000-08-04 2002-02-15 Stanley Electric Co Ltd Led lamp and manufacturing method therefor
JP2002076196A (en) 2000-08-25 2002-03-15 Nec Kansai Ltd Chip type semiconductor device and its manufacturing method
JP2002076445A (en) 2000-09-01 2002-03-15 Sanken Electric Co Ltd Semiconductor light emitting device
US6614103B1 (en) 2000-09-01 2003-09-02 General Electric Company Plastic packaging of LED arrays
JP2002101147A (en) 2000-09-26 2002-04-05 Hitachi Kokusai Electric Inc Communication system
US6650044B1 (en) 2000-10-13 2003-11-18 Lumileds Lighting U.S., Llc Stenciling phosphor layers on light emitting diodes
DE10051242A1 (en) 2000-10-17 2002-04-25 Philips Corp Intellectual Pty Light-emitting device with coated phosphor
US20020063520A1 (en) 2000-11-29 2002-05-30 Huei-Che Yu Pre-formed fluorescent plate - LED device
JP3614776B2 (en) 2000-12-19 2005-01-26 シャープ株式会社 Chip component type LED and its manufacturing method
JP5110744B2 (en) 2000-12-21 2012-12-26 フィリップス ルミレッズ ライティング カンパニー リミテッド ライアビリティ カンパニー Light emitting device and manufacturing method thereof
JP2002280607A (en) 2001-01-10 2002-09-27 Toyoda Gosei Co Ltd Light emitting device
US6734571B2 (en) 2001-01-23 2004-05-11 Micron Technology, Inc. Semiconductor assembly encapsulation mold
MY145695A (en) 2001-01-24 2012-03-30 Nichia Corp Light emitting diode, optical semiconductor device, epoxy resin composition suited for optical semiconductor device, and method for manufacturing the same
US6891200B2 (en) 2001-01-25 2005-05-10 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Light-emitting unit, light-emitting unit assembly, and lighting apparatus produced using a plurality of light-emitting units
US6791119B2 (en) 2001-02-01 2004-09-14 Cree, Inc. Light emitting diodes including modifications for light extraction
TW516247B (en) 2001-02-26 2003-01-01 Arima Optoelectronics Corp Light emitting diode with light conversion using scattering optical media
JP4081985B2 (en) 2001-03-02 2008-04-30 日亜化学工業株式会社 Light emitting device and manufacturing method thereof
US6661167B2 (en) 2001-03-14 2003-12-09 Gelcore Llc LED devices
JP2002319704A (en) 2001-04-23 2002-10-31 Matsushita Electric Works Ltd Led chip
EP1386357A1 (en) 2001-04-23 2004-02-04 Plasma Ireland Limited Illuminator
EP1398839B1 (en) * 2001-04-23 2012-03-28 Panasonic Corporation Light emitting device comprising light emitting diode chip
US6686676B2 (en) 2001-04-30 2004-02-03 General Electric Company UV reflectors and UV-based light sources having reduced UV radiation leakage incorporating the same
US6958497B2 (en) 2001-05-30 2005-10-25 Cree, Inc. Group III nitride based light emitting diode structures with a quantum well and superlattice, group III nitride based quantum well structures and group III nitride based superlattice structures
US6642652B2 (en) 2001-06-11 2003-11-04 Lumileds Lighting U.S., Llc Phosphor-converted light emitting device
CN101834245B (en) 2001-06-15 2013-05-22 克里公司 GaN based LED formed on a SiC substrate
JP4114331B2 (en) 2001-06-15 2008-07-09 豊田合成株式会社 Light emitting device
WO2003001612A1 (en) 2001-06-20 2003-01-03 Nichia Corporation Semiconductor device and its fabriction method
JP4529319B2 (en) 2001-06-27 2010-08-25 日亜化学工業株式会社 Semiconductor chip and manufacturing method thereof
DE10131698A1 (en) * 2001-06-29 2003-01-30 Osram Opto Semiconductors Gmbh Surface-mountable radiation-emitting component and method for its production
JP4147755B2 (en) 2001-07-31 2008-09-10 日亜化学工業株式会社 Light emitting device and manufacturing method thereof
TW511303B (en) 2001-08-21 2002-11-21 Wen-Jr He A light mixing layer and method
WO2003021668A1 (en) 2001-08-31 2003-03-13 Hitachi Chemical Co.,Ltd. Wiring board, semiconductor device and method for producing them
AU2002331809A1 (en) 2001-08-31 2004-03-19 Semitool, Inc. Apparatus and method for deposition of an electrophoretic emulsion
JP2006080565A (en) 2001-09-03 2006-03-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method of manufacturing semiconductor light emitting device
JP3749243B2 (en) 2001-09-03 2006-02-22 松下電器産業株式会社 Semiconductor light emitting device, light emitting apparatus, and method for manufacturing semiconductor light emitting device
US6759266B1 (en) 2001-09-04 2004-07-06 Amkor Technology, Inc. Quick sealing glass-lidded package fabrication method
JP3925137B2 (en) 2001-10-03 2007-06-06 日亜化学工業株式会社 Method for manufacturing light emitting device
JP3948650B2 (en) 2001-10-09 2007-07-25 アバゴ・テクノロジーズ・イーシービーユー・アイピー(シンガポール)プライベート・リミテッド Light emitting diode and manufacturing method thereof
TW517356B (en) 2001-10-09 2003-01-11 Delta Optoelectronics Inc Package structure of display device and its packaging method
US6531328B1 (en) 2001-10-11 2003-03-11 Solidlite Corporation Packaging of light-emitting diode
ATE525755T1 (en) * 2001-10-12 2011-10-15 Nichia Corp LIGHT-EMITTING COMPONENT AND METHOD FOR THE PRODUCTION THEREOF
CN100349929C (en) 2001-11-27 2007-11-21 巴塞尔聚烯烃意大利有限公司 Clear and flexible propylene polymer compositions
JP4055405B2 (en) 2001-12-03 2008-03-05 ソニー株式会社 Electronic component and manufacturing method thereof
JP2003170465A (en) 2001-12-04 2003-06-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for manufacturing semiconductor package and sealing mold therefor
TW518775B (en) 2002-01-29 2003-01-21 Chi-Hsing Hsu Immersion cooling type light emitting diode and its packaging method
JP2003234511A (en) 2002-02-06 2003-08-22 Toshiba Corp Semiconductor light-emitting device and manufacturing method thereof
US6924514B2 (en) 2002-02-19 2005-08-02 Nichia Corporation Light-emitting device and process for producing thereof
JP4269709B2 (en) 2002-02-19 2009-05-27 日亜化学工業株式会社 Light emitting device and manufacturing method thereof
JP3801931B2 (en) 2002-03-05 2006-07-26 ローム株式会社 Structure and manufacturing method of light emitting device using LED chip
US6756186B2 (en) 2002-03-22 2004-06-29 Lumileds Lighting U.S., Llc Producing self-aligned and self-exposed photoresist patterns on light emitting devices
JP3823870B2 (en) * 2002-04-22 2006-09-20 セイコーエプソン株式会社 Wiring board manufacturing method and electronic device manufacturing method
US6949389B2 (en) 2002-05-02 2005-09-27 Osram Opto Semiconductors Gmbh Encapsulation for organic light emitting diodes devices
US6841802B2 (en) 2002-06-26 2005-01-11 Oriol, Inc. Thin film light emitting diode
JP2004031856A (en) 2002-06-28 2004-01-29 Sumitomo Electric Ind Ltd ZnSe-BASED LIGHT EMITTING DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD
KR101030068B1 (en) 2002-07-08 2011-04-19 니치아 카가쿠 고교 가부시키가이샤 Method of Manufacturing Nitride Semiconductor Device and Nitride Semiconductor Device
DE10237084A1 (en) 2002-08-05 2004-02-19 Osram Opto Semiconductors Gmbh Electrically conductive frame with a semiconductor light diode, to illuminate a mobile telephone keypad, has a layered structure with the electrical connections and an encapsulated diode chip in very small dimensions
KR20040017926A (en) 2002-08-22 2004-03-02 웬-치 호 Light-mixing layer and method
US20040038442A1 (en) 2002-08-26 2004-02-26 Kinsman Larry D. Optically interactive device packages and methods of assembly
CN100421266C (en) 2002-08-29 2008-09-24 首尔半导体股份有限公司 Light-emitting device having light-emitting elements
JP2004095765A (en) 2002-08-30 2004-03-25 Nichia Chem Ind Ltd Light emitting device and method for manufacturing the same
US7078737B2 (en) * 2002-09-02 2006-07-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Light-emitting device
US7264378B2 (en) 2002-09-04 2007-09-04 Cree, Inc. Power surface mount light emitting die package
EP1540747B1 (en) 2002-09-19 2012-01-25 Cree, Inc. Phosphor-coated light emitting diodes including tapered sidewalls, and fabrication methods therefor
JP2004134699A (en) 2002-10-15 2004-04-30 Toyoda Gosei Co Ltd Light emitting device
EP1556904B1 (en) * 2002-10-30 2018-12-05 OSRAM Opto Semiconductors GmbH Method for producing a light source provided with electroluminescent diodes and comprising a luminescence conversion element
JP4072632B2 (en) 2002-11-29 2008-04-09 豊田合成株式会社 Light emitting device and light emitting method
JP4292794B2 (en) 2002-12-04 2009-07-08 日亜化学工業株式会社 Light emitting device, method for manufacturing light emitting device, and method for adjusting chromaticity of light emitting device
US6744196B1 (en) * 2002-12-11 2004-06-01 Oriol, Inc. Thin film LED
DE10258193B4 (en) 2002-12-12 2014-04-10 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for producing light-emitting diode light sources with luminescence conversion element
US6917057B2 (en) 2002-12-31 2005-07-12 Gelcore Llc Layered phosphor coatings for LED devices
JP3858829B2 (en) 2003-02-06 2006-12-20 日亜化学工業株式会社 Method for forming light emitting diode
US7042020B2 (en) 2003-02-14 2006-05-09 Cree, Inc. Light emitting device incorporating a luminescent material
JP4254266B2 (en) 2003-02-20 2009-04-15 豊田合成株式会社 LIGHT EMITTING DEVICE AND LIGHT EMITTING DEVICE MANUFACTURING METHOD
US7423296B2 (en) 2003-02-26 2008-09-09 Avago Technologies Ecbu Ip Pte Ltd Apparatus for producing a spectrally-shifted light output from a light emitting device utilizing thin-film luminescent layers
JP4131178B2 (en) 2003-02-28 2008-08-13 豊田合成株式会社 Light emitting device
JP4303550B2 (en) 2003-09-30 2009-07-29 豊田合成株式会社 Light emitting device
JP3900093B2 (en) 2003-03-11 2007-04-04 日立電線株式会社 Mold and method for manufacturing semiconductor device using the same
US7038370B2 (en) 2003-03-17 2006-05-02 Lumileds Lighting, U.S., Llc Phosphor converted light emitting device
US7176501B2 (en) 2003-05-12 2007-02-13 Luxpia Co, Ltd Tb,B-based yellow phosphor, its preparation method, and white semiconductor light emitting device incorporating the same
JP2004363380A (en) * 2003-06-05 2004-12-24 Sanyo Electric Co Ltd Optical semiconductor device and its fabricating process
JP4415572B2 (en) 2003-06-05 2010-02-17 日亜化学工業株式会社 Semiconductor light emitting device and manufacturing method thereof
US6921929B2 (en) 2003-06-27 2005-07-26 Lockheed Martin Corporation Light-emitting diode (LED) with amorphous fluoropolymer encapsulant and lens
US7200009B2 (en) 2003-07-01 2007-04-03 Nokia Corporation Integrated electromechanical arrangement and method of production
JP4277617B2 (en) 2003-08-08 2009-06-10 日立電線株式会社 Manufacturing method of semiconductor light emitting device
US7675075B2 (en) 2003-08-28 2010-03-09 Panasonic Corporation Semiconductor light emitting device, light emitting module, lighting apparatus, display element and manufacturing method of semiconductor light emitting device
US7183587B2 (en) 2003-09-09 2007-02-27 Cree, Inc. Solid metal block mounting substrates for semiconductor light emitting devices
US7029935B2 (en) 2003-09-09 2006-04-18 Cree, Inc. Transmissive optical elements including transparent plastic shell having a phosphor dispersed therein, and methods of fabricating same
US7915085B2 (en) 2003-09-18 2011-03-29 Cree, Inc. Molded chip fabrication method
KR100587328B1 (en) 2003-10-16 2006-06-08 엘지전자 주식회사 Light Emitting Diode a front optical source
KR101127314B1 (en) 2003-11-19 2012-03-29 니치아 카가쿠 고교 가부시키가이샤 Semiconductor device
JP2005167079A (en) 2003-12-04 2005-06-23 Toyoda Gosei Co Ltd Light emitting device
CN1317775C (en) 2003-12-10 2007-05-23 玄基光电半导体股份有限公司 Packaging structure of LED and packaging method thereof
JP2005197369A (en) 2004-01-05 2005-07-21 Toshiba Corp Optical semiconductor device
JP2005252222A (en) 2004-02-03 2005-09-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor light-emitting device, lighting module, lighting device, display device, and method of manufacturing semiconductor light-emitting device
JP4357311B2 (en) 2004-02-04 2009-11-04 シチズン電子株式会社 Light emitting diode chip
US7246923B2 (en) 2004-02-11 2007-07-24 3M Innovative Properties Company Reshaping light source modules and illumination systems using the same
CN1918263A (en) 2004-02-18 2007-02-21 昭和电工株式会社 Phosphor, production method thereof and light-emitting device using the phosphor
US7569863B2 (en) 2004-02-19 2009-08-04 Panasonic Corporation Semiconductor light emitting device
US7250715B2 (en) 2004-02-23 2007-07-31 Philips Lumileds Lighting Company, Llc Wavelength converted semiconductor light emitting devices
US6924233B1 (en) 2004-03-19 2005-08-02 Agilent Technologies, Inc. Phosphor deposition methods
JP4516337B2 (en) 2004-03-25 2010-08-04 シチズン電子株式会社 Semiconductor light emitting device
KR100486177B1 (en) 2004-03-25 2005-05-06 에피밸리 주식회사 Ⅲ-Nitride Compound Semiconductor Light Emitting Device
US20050211991A1 (en) 2004-03-26 2005-09-29 Kyocera Corporation Light-emitting apparatus and illuminating apparatus
US7517728B2 (en) 2004-03-31 2009-04-14 Cree, Inc. Semiconductor light emitting devices including a luminescent conversion element
US7419912B2 (en) 2004-04-01 2008-09-02 Cree, Inc. Laser patterning of light emitting devices
US20050280894A1 (en) 2004-04-02 2005-12-22 David Hartkop Apparatus for creating a scanning-column backlight in a scanning aperture display device
US7868343B2 (en) 2004-04-06 2011-01-11 Cree, Inc. Light-emitting devices having multiple encapsulation layers with at least one of the encapsulation layers including nanoparticles and methods of forming the same
CN1942997B (en) 2004-04-15 2011-03-23 皇家飞利浦电子股份有限公司 Electrically controllable color conversion cell
KR20070058380A (en) 2004-04-23 2007-06-08 라이트 프리스크립션즈 이노베이터즈, 엘엘씨 Optical manifold for light-emitting diodes
US7391060B2 (en) 2004-04-27 2008-06-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Phosphor composition and method for producing the same, and light-emitting device using the same
JP4471729B2 (en) 2004-04-30 2010-06-02 シチズン電子株式会社 Light emitting device with liquid crystal lens
TWI241034B (en) 2004-05-20 2005-10-01 Lighthouse Technology Co Ltd Light emitting diode package
US7278760B2 (en) 2004-05-24 2007-10-09 Osram Opto Semiconductor Gmbh Light-emitting electronic component
EP1601030B1 (en) 2004-05-24 2019-04-03 OSRAM OLED GmbH Light-emitting electronic component
WO2005116521A1 (en) 2004-05-28 2005-12-08 Tir Systems Ltd. Luminance enhancement apparatus and method
WO2005121641A1 (en) 2004-06-11 2005-12-22 Koninklijke Philips Electronics N.V. Illumination system
DE102004031603B4 (en) * 2004-06-30 2008-04-17 Eads Deutschland Gmbh Method for shaping signal spectra and circuit for carrying out the method
US7534633B2 (en) 2004-07-02 2009-05-19 Cree, Inc. LED with substrate modifications for enhanced light extraction and method of making same
US7271420B2 (en) * 2004-07-07 2007-09-18 Cao Group, Inc. Monolitholic LED chip to emit multiple colors
JP4932144B2 (en) 2004-07-12 2012-05-16 株式会社朝日ラバー LED lamp
JP4747726B2 (en) 2004-09-09 2011-08-17 豊田合成株式会社 Light emitting device
JP3802911B2 (en) 2004-09-13 2006-08-02 ローム株式会社 Semiconductor light emitting device
US7217583B2 (en) 2004-09-21 2007-05-15 Cree, Inc. Methods of coating semiconductor light emitting elements by evaporating solvent from a suspension
US8174037B2 (en) 2004-09-22 2012-05-08 Cree, Inc. High efficiency group III nitride LED with lenticular surface
US8513686B2 (en) 2004-09-22 2013-08-20 Cree, Inc. High output small area group III nitride LEDs
US7737459B2 (en) 2004-09-22 2010-06-15 Cree, Inc. High output group III nitride light emitting diodes
US7259402B2 (en) 2004-09-22 2007-08-21 Cree, Inc. High efficiency group III nitride-silicon carbide light emitting diode
US7372198B2 (en) 2004-09-23 2008-05-13 Cree, Inc. Semiconductor light emitting devices including patternable films comprising transparent silicone and phosphor
JP4756841B2 (en) 2004-09-29 2011-08-24 スタンレー電気株式会社 Manufacturing method of semiconductor light emitting device
DE102004060358A1 (en) 2004-09-30 2006-04-13 Osram Opto Semiconductors Gmbh Method for producing luminescence diode chips and luminescence diode chip
JP2006114637A (en) 2004-10-13 2006-04-27 Toshiba Corp Semiconductor light-emitting device
US8134292B2 (en) 2004-10-29 2012-03-13 Ledengin, Inc. Light emitting device with a thermal insulating and refractive index matching material
EP1806035A2 (en) 2004-10-29 2007-07-11 O'BRIEN, Peter An illuminator and manufacturing method
JP4802533B2 (en) 2004-11-12 2011-10-26 日亜化学工業株式会社 Semiconductor device
US7671529B2 (en) 2004-12-10 2010-03-02 Philips Lumileds Lighting Company, Llc Phosphor converted light emitting device
JP2006165416A (en) 2004-12-10 2006-06-22 Stanley Electric Co Ltd White-color displaying device, and manufacturing method thereof
KR100646093B1 (en) 2004-12-17 2006-11-15 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device package
US8288942B2 (en) 2004-12-28 2012-10-16 Cree, Inc. High efficacy white LED
KR100638666B1 (en) * 2005-01-03 2006-10-30 삼성전기주식회사 Nitride based semiconductor light emitting device
US7195944B2 (en) * 2005-01-11 2007-03-27 Semileds Corporation Systems and methods for producing white-light emitting diodes
US7221044B2 (en) 2005-01-21 2007-05-22 Ac Led Lighting, L.L.C. Heterogeneous integrated high voltage DC/AC light emitter
US7932111B2 (en) 2005-02-23 2011-04-26 Cree, Inc. Substrate removal process for high light extraction LEDs
JP2006245020A (en) 2005-02-28 2006-09-14 Sharp Corp Light emitting diode element and manufacturing method thereof
JP4601464B2 (en) 2005-03-10 2010-12-22 株式会社沖データ Semiconductor device, print head, and image forming apparatus using the same
JP4961799B2 (en) 2005-04-08 2012-06-27 日亜化学工業株式会社 Light emitting device having a silicone resin layer formed by screen printing
KR101047683B1 (en) 2005-05-17 2011-07-08 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device packaging method that does not require wire bonding
US8669572B2 (en) 2005-06-10 2014-03-11 Cree, Inc. Power lamp package
US20070001182A1 (en) * 2005-06-30 2007-01-04 3M Innovative Properties Company Structured phosphor tape article
KR100665219B1 (en) 2005-07-14 2007-01-09 삼성전기주식회사 Wavelengt-converted light emitting diode package
JP2007063538A (en) 2005-08-03 2007-03-15 Shin Etsu Chem Co Ltd Addition curing-type silicone resin composition for light emitting diode
US7365371B2 (en) 2005-08-04 2008-04-29 Cree, Inc. Packages for semiconductor light emitting devices utilizing dispensed encapsulants
US8563339B2 (en) * 2005-08-25 2013-10-22 Cree, Inc. System for and method for closed loop electrophoretic deposition of phosphor materials on semiconductor devices
JP2007087973A (en) 2005-09-16 2007-04-05 Rohm Co Ltd Manufacture of nitride semiconductor device, method for manufacturing nitride semiconductor device, and nitride semiconductor light-emitting device obtained by the same
DE102005062514A1 (en) 2005-09-28 2007-03-29 Osram Opto Semiconductors Gmbh Multi-purpose light emitting diode incorporates selective wavelength trap
KR101278415B1 (en) 2005-10-24 2013-06-24 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 Method of making light emitting device having a molded encapsulant
US7344952B2 (en) 2005-10-28 2008-03-18 Philips Lumileds Lighting Company, Llc Laminating encapsulant film containing phosphor over LEDs
US7564070B2 (en) 2005-11-23 2009-07-21 Visteon Global Technologies, Inc. Light emitting diode device having a shield and/or filter
DE102005058127A1 (en) 2005-11-30 2007-06-06 Schefenacker Vision Systems Germany Gmbh Vehicle lamp e.g. motor vehicle rear lamp, has translucent mediums that are nontransparent in radiating direction of light which is transmitted from illuminants in translucent manner and in opposite direction of light
KR100732849B1 (en) 2005-12-21 2007-06-27 삼성에스디아이 주식회사 Organic light emitting display device
KR100723247B1 (en) 2006-01-10 2007-05-29 삼성전기주식회사 Chip coating type light emitting diode package and fabrication method thereof
KR200412776Y1 (en) 2006-01-19 2006-03-31 주식회사 닥터코리아 Cotton for Bedclothes Containing Wormwood
US7682850B2 (en) 2006-03-17 2010-03-23 Philips Lumileds Lighting Company, Llc White LED for backlight with phosphor plates
KR200417926Y1 (en) 2006-03-21 2006-06-02 황성민 a boundary stone for No entering
WO2007107903A1 (en) 2006-03-23 2007-09-27 Koninklijke Philips Electronics N.V. Led-based lighting device with colour control
US20070269586A1 (en) 2006-05-17 2007-11-22 3M Innovative Properties Company Method of making light emitting device with silicon-containing composition
TWI308401B (en) 2006-07-04 2009-04-01 Epistar Corp High efficient phosphor-converted light emitting diode
BRPI0714026A2 (en) 2006-07-06 2012-12-18 Tir Technology Lp lighting device packaging
KR200429313Y1 (en) 2006-08-03 2006-10-20 (주)에코청진 A revetment block for staircase type
US7714348B2 (en) 2006-10-06 2010-05-11 Ac-Led Lighting, L.L.C. AC/DC light emitting diodes with integrated protection mechanism
JP2008129043A (en) 2006-11-16 2008-06-05 Toyoda Gosei Co Ltd Led light emission display device
US20080121911A1 (en) 2006-11-28 2008-05-29 Cree, Inc. Optical preforms for solid state light emitting dice, and methods and systems for fabricating and assembling same
EP1935452A1 (en) 2006-12-19 2008-06-25 Koninklijke Philips Electronics N.V. Electrochromic device and photodynamic treatment device comprising such an electrochromic device
US9024349B2 (en) 2007-01-22 2015-05-05 Cree, Inc. Wafer level phosphor coating method and devices fabricated utilizing method
JP2008218511A (en) 2007-02-28 2008-09-18 Toyoda Gosei Co Ltd Semiconductor light emitting device and method formanufacturing the same
DE102007022090A1 (en) 2007-05-11 2008-11-13 Osram Opto Semiconductors Gmbh Light emitting component for lamp, has light source e.g. organic LED, emitting electromagnetic radiation of specific wavelength range, and adjustable transparent element arranged between light source and conversion unit
US7588351B2 (en) 2007-09-27 2009-09-15 Osram Sylvania Inc. LED lamp with heat sink optic
US7915627B2 (en) 2007-10-17 2011-03-29 Intematix Corporation Light emitting device with phosphor wavelength conversion
ES2370758T3 (en) 2007-11-09 2011-12-22 Koninklijke Philips Electronics N.V. LIGHT OUTPUT DEVICE
US20090268461A1 (en) 2008-04-28 2009-10-29 Deak David G Photon energy conversion structure
US8159131B2 (en) 2008-06-30 2012-04-17 Bridgelux, Inc. Light emitting device having a transparent thermally conductive layer
US8432500B2 (en) 2008-09-23 2013-04-30 Koninklijke Philips Electronics N.V. Lighting device with thermally variable reflecting element
US20120043886A1 (en) 2010-08-18 2012-02-23 Hua Ji Integrated Heat Conductive Light Emitting Diode (LED) White Light Source Module

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9419186B2 (en) 2010-05-18 2016-08-16 Seoul Semiconductor Co., Ltd. Light emitting diode chip having wavelength converting layer and method of fabricating the same, and package having the light emitting diode chip and method of fabricating the same
WO2011145794A1 (en) * 2010-05-18 2011-11-24 서울반도체 주식회사 Light emitting diode chip having wavelength conversion layer and manufacturing method thereof, and package including same and manufacturing method thereof
US9793448B2 (en) 2010-05-18 2017-10-17 Seoul Semiconductor Co., Ltd. Light emitting diode chip having wavelength converting layer and method of fabricating the same, and package having the light emitting diode chip and method of fabricating the same
KR101230619B1 (en) * 2010-05-18 2013-02-06 서울반도체 주식회사 Light emitting diode chip having wavelength converting layer, method of fabricating the same and package having the same
US10043955B2 (en) 2010-05-18 2018-08-07 Seoul Semiconductor Co., Ltd. Light emitting diode chip having wavelength converting layer and method of fabricating the same, and package having the light emitting diode chip and method of fabricating the same
US8664635B2 (en) 2010-05-18 2014-03-04 Seoul Semiconductor Co., Ltd. Light emitting diode chip having wavelength converting layer and method of fabricating the same, and package having the light emitting diode chip and method of fabricating the same
US8350283B2 (en) 2010-06-07 2013-01-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor light emitting device and method for manufacturing same
KR101228682B1 (en) * 2010-06-07 2013-01-31 가부시끼가이샤 도시바 Semiconductor light emitting device and method for manufacturing same
KR101028612B1 (en) * 2010-09-15 2011-04-11 (주)더리즈 Light-emitting device
US9269878B2 (en) 2011-05-27 2016-02-23 Lg Innotek Co., Ltd. Light emitting device and light emitting apparatus
US9673366B2 (en) 2011-05-27 2017-06-06 Lg Innotek Co., Ltd. Light emitting device and light emitting apparatus
WO2013024916A1 (en) * 2011-08-17 2013-02-21 삼성전자주식회사 Wavelength conversion chip for a light emitting diode, and method for manufacturing same
KR20120049161A (en) * 2011-12-21 2012-05-16 서울반도체 주식회사 Light emitting diode chip having wavelength converting layer, method of fabricating the same and package having the same
US9236304B2 (en) 2013-01-15 2016-01-12 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor light emitting device and method of manufacturing the same
KR20160037964A (en) * 2013-07-24 2016-04-06 쿨레지 라이팅 인크. Light-emitting dies incorporating wavelength-conversion materials and related methods
KR20160106146A (en) * 2014-01-08 2016-09-09 코닌클리케 필립스 엔.브이. Wavelength converted semiconductor light emitting device
KR20160024522A (en) * 2014-08-26 2016-03-07 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device and array including the device
KR20160077700A (en) * 2014-12-24 2016-07-04 엘지이노텍 주식회사 Light emitting device, light emitting package and lighting system
KR20170122450A (en) * 2016-04-27 2017-11-06 루미마이크로 주식회사 Lighting device

Also Published As

Publication number Publication date
TW200840092A (en) 2008-10-01
EP2111649A2 (en) 2009-10-28
EP2111649B1 (en) 2017-09-27
US20080173884A1 (en) 2008-07-24
WO2008115213A3 (en) 2008-12-18
CN102544267A (en) 2012-07-04
CN101663767A (en) 2010-03-03
CN101627481A (en) 2010-01-13
WO2008115213A8 (en) 2009-04-30
CN102544267B (en) 2015-01-28
TWI485877B (en) 2015-05-21
CN101627481B (en) 2012-03-21
KR101398655B1 (en) 2014-06-19
JP2010517290A (en) 2010-05-20
WO2008115213A2 (en) 2008-09-25
US9024349B2 (en) 2015-05-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101398655B1 (en) Wafer level phosphor coating method and devices fabricated utilizing method
KR101548022B1 (en) Wafer level phosphor coating method and devices fabricated utilizing method
US8878219B2 (en) Flip-chip phosphor coating method and devices fabricated utilizing method
US10505083B2 (en) Coating method utilizing phosphor containment structure and devices fabricated using same
US8232564B2 (en) Wafer level phosphor coating technique for warm light emitting diodes
JP5918221B2 (en) LED chip manufacturing method
US8101443B2 (en) LEDs using single crystalline phosphor and methods of fabricating same
EP2325906B1 (en) Semiconductor light-emitting device and method for manufacturing same
US9196799B2 (en) LED chips having fluorescent substrates with microholes and methods for fabricating
US8193544B2 (en) Color correction for wafer level white LEDs
US9324926B2 (en) Wavelength converted light emitting device
US9391247B2 (en) High power LEDs with non-polymer material lenses and methods of making the same
TWI492412B (en) Wafer level phosphor coating method and devices fabricated utilizing method

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170420

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180417

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190417

Year of fee payment: 6