KR20030078307A - Synchronous Memory Device with block for controlling data strobe signal - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A synchronous memory device including a data strobe signal control part for low latency read is provided, which operates without a delay time at a low latency read operation. CONSTITUTION: A phase comparison part(300) for preamble signal compares a timing of an active signal(ACTIVE) with that of a phase synchronized clock signal(FCLK). A data strobe signal control part(100) controls an enable timing of a preamble signal(PREAMBLE) according to an output of the phase comparison part for preamble signal and then outputs it. And an output buffer(200) receives the preamble signal being output from the data strobe signal control part and then converts a data strobe signal into a preamble state, and outputs it.

Description

로우 레이턴시 리드를 위한 데이터 스토로브 신호 제어부를 포함하는 동기식 메모리장치{Synchronous Memory Device with block for controlling data strobe signal}Synchronous Memory Device with block for controlling data strobe signal

본 발명은 차세대 메모리 장치인 DDR(Double Data Rate) 동기식(Synchronous) 메모리 장치에 관한 것으로, 특히 로우 레이턴시(Low latency) 억세스(access)가 가능한 디디알 동기식 메모리 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a double data rate (DDR) synchronous memory device, which is a next generation memory device, and more particularly, to a dial-synchronous memory device capable of low latency access.

잘 알려진 바와 같이, 반도체 메모리 장치는 동작 속도 향상을 위하여 외부의 시스템 클럭에 동기되어 동작하는 싱크로너스 메모리 장치(이하, 동기식 메모리 장치)이 널리 사용되고 있다. 통상의 동기식 메모리 장치은 클럭의 라이징(rising) 에지(edge)에 동기시켜 클럭의 한 주기에 걸쳐 하나의 데이터를 입출력하는 소자인데 반하여, 디디알 동기식 메모리 장치은 클럭 라이징 및 폴링(falling) 에지에 동기되어 연속적으로 두 개의 데이터가 입출력될 수 있다. 따라서, 클럭의 주파수를 증가시키지 않더라도 종래의 동기식 메모리 장치에 비해 최소한 두 배 이상의 동작속도를 구현할 수 있어 차세대 메모리 장치으로서 크게 각광받고 있다. 한편, 출력되는 데이터들의 정확한 타이밍을 메모리 장치 외부의 중앙처리장치(CPU)나 제어기(Controller)에 알려주고, 메모리 칩셋(Chip Set)에서의 각 칩들 간에 발생되는 타임스큐(Time Skew)를 최소화하기 위하여, 메모리 칩은 읽기 구동시 칩 외부로 데이터와 함께 데이터 스트로브 신호(Data Strobe Signal : 이하 DQS신호라 함)를 출력한다.As is well known, a synchronous memory device (hereinafter, referred to as a synchronous memory device) that operates in synchronization with an external system clock is widely used for semiconductor memory devices. A conventional synchronous memory device is a device that inputs and outputs one data over a period of a clock in synchronization with a rising edge of a clock, whereas a digital synchronous memory device is continuously synchronized with a clock rising and falling edge. Two data can be input and output. Therefore, even if the clock frequency is not increased, at least twice the operating speed can be realized compared to the conventional synchronous memory device, and thus, it has gained much attention as a next generation memory device. On the other hand, in order to inform the CPU or the controller of the correct timing of the output data, and to minimize the time skew generated between the chips in the memory chipset (Chip Set) The memory chip outputs a data strobe signal (DQS signal hereinafter) as well as data to the outside of the chip during read driving.

도1은 통상적인 디디알 동기식 메모리 장치에서 DQS신호를 생성하는 블럭 구성도이다.FIG. 1 is a block diagram for generating a DQS signal in a conventional digital synchronous memory device.

도1을 참조하여 살펴보면, DQS신호를 생성하는 블럭구성은 외부에서 클럭신호(CLK, CLKB)를 입력받아 지연고정루프로 출력하는 클럭버퍼(10)와, 클럭버퍼의 출력을 입력받아 데이터 및 DQS 출력이 외부클럭 대비 지연이 없는 상태로 만들어 주기 위한 기능을 하는 지연고정루프(Delay locked loop,DLL)(20)와,외부의 명령어(/CS,/RAS,/CAS,/WE)를 입력받아 내부에서 사용하는 신호로 변환하는 명령어 버퍼(30)와, 명령어 버퍼(30)의 출력신호(READ)와 지연고정루프(20)의 출력신호(RCLK/FCLK)를 입력받아 DQS 신호 출력버퍼를 제어하는 DQS신호 제어부(40)와, DQS신호 제어부(40)의 제어에 따라 DQS 신호를 출력하는 DQS신호 출력버퍼(50)로 구성된다.Referring to FIG. 1, a block configuration for generating a DQS signal includes a clock buffer 10 that receives clock signals CLK and CLKB from an external source and outputs the delay locked loop, and receives data and a DQS output from the clock buffer. Delay locked loop (DLL) 20, which functions to make the output have no delay compared to external clock, and external commands (/ CS, / RAS, / CAS, / WE) Controls the DQS signal output buffer by receiving the command buffer 30 for converting the signal to be used internally, the output signal READ of the command buffer 30, and the output signal RCLK / FCLK of the delay lock loop 20. And a DQS signal output buffer 50 for outputting a DQS signal under the control of the DQS signal controller 40.

도2는 도1에서 DQS 신호 제어부의 블럭 구성도이다.FIG. 2 is a block diagram of the DQS signal controller of FIG. 1.

도2를 참조하여 살펴보면, DQS 신호 제어부(40)는 리드 명령어(READ command), 카스 레이턴시(CAS latency, CL), 버스터 길이(Burst length control, BL), 지연고정루프(20)의 출력신호(RCLK/FCLK)를 입력으로 하여 DQS 출력의 프리앰블 상태를 유지하기위한 프리앰블 신호(PREAMBLE)를 출력하는 프리앰블 제어부(41)와, CL 및 BL에 따라 DQS 데이터 신호(DQS_DATA)를 제어하는 DQS 데이터 생성기(42)와, DQS 신호를 하이임피던스(High impedance, Hi-Z) 상태로 제어하기 위한 DQS Hi-Z 제어부(43)으로 구성된다.Referring to FIG. 2, the DQS signal controller 40 includes a read command, a CAS latency (CL), a burst length control (BL), and an output signal of the delay lock loop 20. RCLK / FCLK) as input and a preamble control unit 41 for outputting a preamble signal (PREAMBLE) for maintaining the preamble state of the DQS output, and a DQS data generator (DQS data generator) for controlling the DQS data signal (DQS_DATA) in accordance with CL and BL. 42) and a DQS Hi-Z control section 43 for controlling the DQS signal in a high impedance (Hi-Z) state.

도3은 여기서 CL=1.5일 때, 리드 명령어 입력시 DQS 신호 타이밍을 나타내는 파형도이다.FIG. 3 is a waveform diagram showing DQS signal timing when a read command is input when CL = 1.5.

먼저 디디알 동기식 메모리 장치에서는 출력되는 데이터(DQ)는 클럭(CLK)의 하강 에지 및 상승 에지에 동기되어 하나의 클럭 주기 내에 두 개의 데이터가 연속하여 출력된다. DQS는 리드 명령이 입력되기 전에는 하이임프던스 상태(A구간)를 유지하다가, 리드 명령이 입력된 때로부터 0.5주기 후에 "로우(Low)"가 된다.First, in the digital synchronous memory device, the output data DQ is synchronized with the falling edge and the rising edge of the clock CLK, and two data are successively output within one clock period. The DQS maintains a high impedance state (section A) before the read command is input, and then becomes " low " 0.5 cycles after the read command is input.

이렇게 데이터 출력 전에 상기 데이터스트로브신호 DQS가 "로우"로 되는 것을 "프리앰블(preamble)상태"(B구간)라 한다. 이어서, 데이터가 출력되면, DQS 신호는 최초에 출력되는 데이터에 동기되어 프리앰블 상태에서 "하이(High)"로 전이되고, 다시 다음 데이터가 출력됨에 따라 토글(toggle)되어(C구간) "로우"로 전이된다. 만약 데이터가 더 출력되는 경우(즉, 버스트 길이가 2보다 큰 경우)에는 DQS신호가 다시 토글 되어 "하이"로 전이되는 과정을 반복한다. 데이터의 출력이 완료되면 DQS신호는 다시 하이 임피던스상태로 복귀하여 데이터가 출력되지 않음을 외부의 장치에 알린다.In this way, the data strobe signal DQS goes "low" before data output is called "preamble state" (Section B). Subsequently, when data is output, the DQS signal is shifted from the preamble state to "High" in synchronization with the data initially output, and then toggled as the next data is output (Section C) to "low". Transition to. If more data is output (i.e., the burst length is greater than 2), the DQS signal is toggled again and the process of transitioning to "high" is repeated. When the output of the data is completed, the DQS signal returns to the high impedance state to inform the external device that the data is not output.

즉, 리드 명령어 입력후 DQS 동작은 크게 하이 임피던스 상태, 프리앰블(Preamble) 상태, 토글링(Toggling) 상태, 포스터앰블(Postamble) 상태, 다시 하이 입피던스로 진행되는 것이다.That is, the DQS operation after the read command is largely performed in a high impedance state, a preamble state, a toggling state, a postamble state, and a high impedance.

도4는 정상동작일 때 도1의 디디알 동기식 메모리 장치의 동작을 나타내는 파형도이다.FIG. 4 is a waveform diagram illustrating an operation of the digital synchronous memory device of FIG. 1 in normal operation. FIG.

먼저 리드명령어(RD)가 입력되면 이에 따라 리드신호(READ)가 출력되고, 리드신호(READ)에 따라 DQS 출력 인에이블 신호(DQS_OE) 및 프리앰블 신호(PREAMBLE)가 하이로 인에이블 된다. 이어서 프리앰블 신호(PREAMBLE)에 따라 DQS 신호가 프리앰블 상태(tPRE)가 된다 한클럭동안 프리앰블 상태가 지속되고 나서 DQS신호가 지연고정루프의 출력신호(RCLK, FCLK)에 따라 토글링 상태로 되고 버스트 길이에 해당하는 데이터가 출력된다.First, when the read command RD is input, the read signal READ is output accordingly, and the DQS output enable signal DQS_OE and the preamble signal PREAMBLE are enabled high according to the read signal READ. Subsequently, the DQS signal becomes the preamble state (tPRE) according to the preamble signal (PREAMBLE). After the preamble state continues for one clock, the DQS signal is toggled according to the output signals RCLK and FCLK of the delay lock loop. Corresponding data is output.

도5는 이상동작일 때 도1의 디디알 동기식 메모리 장치의 동작을 나타내는 파형도이다.FIG. 5 is a waveform diagram illustrating an operation of the digital synchronous memory device of FIG. 1 during abnormal operation.

도4에 도시된 바와 같이 CL=1.5같이 로우 레이턴시일 때는 리드명령어(RD)가 입력되고 나서 리드신호(READ) 및 DQS 출력 인에이블 신호(DQS_OE)가 지연고정루프의 출력신호(FCLK, RCLK)보다 뒤지게 될 경우 프리앰블 신호가 시간 지연을 가지고 출력하게 된다.As shown in Fig. 4, when the low latency such as CL = 1.5, the read signal READ and the DQS output enable signal DQS_OE are output signals FCLK and RCLK of the delay locked loop after the read command RD is input. If it lags behind, the preamble signal will output with a time delay.

따라서 종래에는 디디알 동기식 메모리 장치을 로우 카스 레이턴시(CL)로 동작시킬 때에는 필연적으로 동작초반에 지연시간을 가지도 동작하도록 되어 있었다.Therefore, in the related art, when the digital synchronous memory device is operated at low cascade latency CL, it is inevitably operated to have a delay time at the beginning of the operation.

본 발명은 로우 레이턴시이 리드 동작에서도 지연시간이 없이 동작하는 동기식 메모리 장치을 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a synchronous memory device in which low latency operates without a delay time even in a read operation.

도1은 통상적인 디디알 동기식 메모리 장치에서 DQS신호를 생성하는 블럭 구성도이다.FIG. 1 is a block diagram for generating a DQS signal in a conventional digital synchronous memory device.

도2는 도1의 디디알 동기식 메모리 장치에서 DQS 신호 제어부의 블럭 구성도.FIG. 2 is a block diagram of a DQS signal controller in the digital synchronous memory device of FIG.

도3은 DQS 신호 타이밍을 나타내는 파형도.3 is a waveform diagram showing DQS signal timing.

도4는 정상동작일 때 도1의 디디알 동기식 메모리 장치의 동작을 나타내는 파형도.FIG. 4 is a waveform diagram showing the operation of the digital synchronous memory device of FIG. 1 in normal operation; FIG.

도5는 이상동작일 때 도1의 디디알 동기식 메모리 장치의 동작을 나타내는 파형도.Fig. 5 is a waveform diagram showing the operation of the digital synchronous memory device of Fig. 1 in the abnormal operation.

도6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동기식 메모리 장치에서 DQS 신호 에 관한 블럭 구성도.6 is a block diagram illustrating a DQS signal in a synchronous memory device according to a preferred embodiment of the present invention.

도7은 도6에서 프리앰블 신호용 위상비교부를 나타내는 블럭구성도.FIG. 7 is a block diagram showing a phase comparator for a preamble signal in FIG. 6; FIG.

도8은 도6에서 프리앰블 신호 제어부를 나타내는 블럭구성도.FIG. 8 is a block diagram illustrating a preamble signal controller in FIG. 6; FIG.

도9는 도6의 메모리 장치의 동작을 나타내는 파형도.FIG. 9 is a waveform diagram showing an operation of the memory device of FIG.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명은 액티브 신호와 위상동기된 클럭신호의 타이밍을 비교하기 위한 프리앰블 신호용 위상비교부; 상기 프리앰블 신호용 위상비교부의 출력에 따라 프리앰블 신호의 인에이블 타이밍을 조절하여 출력하기 위한 데이터 스트로브 신호 제어부; 상기 데이터 스트로브 신호 제어부에서 출력되는 프리앰블 신호를 입력받아 데이터 스트로브 신호를 프리앰블 상태로 변환하여 위한 출력버퍼를 구비하는 동기식 메모리 장치가 제공된다.According to an aspect of the present invention, there is provided a phase comparator for comparing a timing of an active signal and a phase locked clock signal. A data strobe signal controller for controlling and outputting an enable timing of the preamble signal according to an output of the preamble signal phase comparator; A synchronous memory device having an output buffer for receiving a preamble signal output from the data strobe signal controller and converting the data strobe signal into a preamble state is provided.

이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시 할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.Hereinafter, the most preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art can easily implement the technical idea of the present invention. do.

도6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 동기식 메모리 장치에서 DQS 신호 에 관한 블럭 구성도이다.6 is a block diagram illustrating a DQS signal in a synchronous memory device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도6을 참조하여 살펴보면, 본 실시예에 따른 동기식 메모리 장치의 DQS 신호 에 관한 블럭은 액티브 신호(ACTIVE)와 위상동기된 클럭신호(FCLK)의 타이밍을 비교하기 위한 프리앰블 신호용 위상비교부(300)와, 프리앰블 신호용 위상비교부(300)의 출력신호(FAST_PRE<0:i>)에 따라 프리앰블 신호(PREAMBLE)의 인에이블 타이밍을 조절하기 위한 데이터 스트로브 신호 제어부(100)와, 데이터 스트로브 신호 제어부(100)에서 출력되는 프리앰블 신호(PREAMBLE)를 입력받아 DQS 신호(DQS)를 프리앰블 상태로 변환하기 위한 DQS 출력버퍼(200)로 구성된다.Referring to FIG. 6, the block related to the DQS signal of the synchronous memory device according to the present embodiment is a phase comparator 300 for preamble signal for comparing the timing of the active signal ACTIVE and the phase-locked clock signal FCLK. And a data strobe signal controller 100 for adjusting an enable timing of the preamble signal PREMBLE according to the output signal FAST_PRE <0: i> of the phase comparator 300 for the preamble signal, and a data strobe signal controller ( It is composed of a DQS output buffer 200 for receiving the preamble signal (PREAMBLE) output from the 100 to convert the DQS signal (DQS) to a preamble state.

또한, 데이터 스트로브 신호 제어부(100) 내부에는 리드 명령어(READ), 카스 레이턴시(CL), 버스터 길이(BL), 지연고정루프의 출력신호(RCLK/FCLK)를 입력으로하여 DQS 출력의 프리앰블 상태를 유지하기위한 프리앰블 신호(PREAMBLE)를 출력하는 프리앰블 제어부(110)와, 카스레이턴시 및 버스터 길이에 따라 DQS 데이터 신호(DQS_DATA)를 제어하는 DQS 데이터 생성기(120)와, DQS 신호를 하이임피던스(High impedance, Hi-Z) 상태로 제어하기 위한 DQS Hi-Z 제어부(130)로 구성되어 있다.In addition, the data strobe signal controller 100 inputs a read command READ, a cascade latency CL, a buster length BL, and an output signal RCLK / FCLK of a delay locked loop to input a preamble state of the DQS output. The preamble control unit 110 outputs a preamble signal (PREAMBLE) for maintaining, the DQS data generator 120 for controlling the DQS data signal DQS_DATA according to the cascade latency and the buster length, and the high impedance of the DQS signal. , Hi-Z) DQS Hi-Z control unit 130 for controlling.

도7은 도6에서 프리앰블 신호용 위상비교부를 나타내는 블럭구성도이다.FIG. 7 is a block diagram illustrating a phase comparator for a preamble signal in FIG. 6.

도7을 참조하여 살펴보면, 프리앰블 신호용 위상비교부(300)는 액티브 신호(ACTIVE)를 입력받아 더미 리드 명령어(DUM_READ)를 생성하는 더미 리드명령어 생성기(310)와, 위상동기된 클럭(FCLK)을 입력받아 소정 시간동안 지연된 클럭(D_FCLK)을 생성하는 딜레이(320)와, 지연된 클럭(D_FCLK)이 더미 리드 명령어(DUM_READ)보다 빨리 생성되면, 그 타이밍에 관한 정보를 출력(FAST_PRE<0:i>하는 위상비교기(330)으로 구성된다.Referring to FIG. 7, the phase comparator 300 for the preamble signal receives the active signal ACTIVE to generate a dummy read command generator 310 for generating a dummy read command DUM_READ and a phase-locked clock FCLK. When the delay 320 generating the delayed clock D_FCLK for a predetermined time and the delayed clock D_FCLK are generated earlier than the dummy read command DUM_READ, information on the timing is output (FAST_PRE <0: i>). It consists of a phase comparator 330.

도8은 도6에서 프리앰블 신호 제어부를 나타내는 블럭구성도이다.FIG. 8 is a block diagram illustrating a preamble signal controller of FIG. 6.

상기 프리앰블 신호 제어부(110)는 위상비교기(330)의 출력신호(FAST_PRE<0:i>)에 따라 리드명령어(READ)의 전달 지연시간을 조절하여 제1 프리앰블 신호(A)를 생성하기 위한 제1 프리앰블 신호 생성부(112)와, 위상동기된 클럭(FCLK)에 따라 리드명령어(READ)를 제2 프리앰블 신호(B)로 생성하여 위한 제2 프리앰블 신호 생성부(113)와, 위상비교기(330)의 출력신호(FAST_PRE<0:i>)에 따라 인에이블 신호(FAST_PRE)를 출력하는 신호합성기(111)와, 인에이블 신호(FAST_PRE)에 따라 제1 및 제2 프리앰블 신호(A,B)를 선택해서 프리앰블신호(PREAMBLE)로 출력하는 멀티플렉스(114)로 구성된다.The preamble signal controller 110 adjusts the propagation delay time of the read command READ according to the output signal FAST_PRE <0: i> of the phase comparator 330 to generate a first preamble signal A. The first preamble signal generator 112, the second preamble signal generator 113 for generating the read command READ as the second preamble signal B according to the phase-locked clock FCLK, and the phase comparator ( A signal synthesizer 111 for outputting the enable signal FAST_PRE according to the output signal FAST_PRE <0: i> of the 330 and the first and second preamble signals A and B according to the enable signal FAST_PRE. ) Is selected and output as a preamble signal (PREAMBLE).

도9는 도6의 메모리 장치의 동작을 나타내는 파형도이다. 이하 도6 내지 도9를 참조하여 전술한 데이터 스트로브 신호를 생성하는 반도체 장치의 동작에 대해서 설명한다.FIG. 9 is a waveform diagram illustrating an operation of the memory device of FIG. 6. Hereinafter, an operation of the semiconductor device for generating the data strobe signal described above will be described with reference to FIGS. 6 to 9.

먼저, 프리앰블 신호용 위상비교부(300)에서 액티브신호(ACTIVE)가 입력되면 더미 리드 명령어 생성기(310)에서 더미 리드 명령어(DUM_READ)가 생성되어 위상비교기(330)로 출력되고, 한편으로 위상동기된 클럭(FCLK)이 딜레이(320)를 통과하여 지연된 클럭(D_CLK)으로 위상비교기(330)로 출력된다. 위상비교기(330)에서는 지연된 클럭(D_CLK)이 더미 리드 명령어(DUM_READ) 보다 얼마나 빨리 생성되는지를 체크하여 빨리 생성된다면 빨리 생성되는 타이밍에 관한 정보를 출력한다.First, when the active signal ACTIVE is input from the phase comparator 300 for the preamble signal, the dummy read command generator 310 generates a dummy read command DUM_READ and outputs the phase comparator 330 to the phase comparator. The clock FCLK is output to the phase comparator 330 as the delayed clock D_CLK after passing through the delay 320. The phase comparator 330 checks how soon the delayed clock D_CLK is generated than the dummy read command DUM_READ, and outputs information on the timing that is generated quickly if it is generated quickly.

예컨대 지연된 클럭(D_CLK)이 더미 리드 명령어(DUM_READ)보다 빨리 생성되면 위상비교기의 출력신호(FAST_PRE<0:i>)중 하나가 하이로 출력되며, 지연된 클럭(D_CLK)이 더미 리드 명령어(DUM_READ) 보다 늦게 생성되면 위상비교기의 출력신호(FAST_PRE<0:i>)는 모두 로우상태를 유지하게 되는 것이다.For example, if the delayed clock D_CLK is generated earlier than the dummy read command DUM_READ, one of the output signals FAST_PRE <0: i> of the phase comparator is output high, and the delayed clock D_CLK is the dummy read command DUM_READ. If it is generated later, the output signals FAST_PRE <0: i> of the phase comparator are all kept low.

위상비교기의 출력신호(FAST_PRE<0:i>)가 모두 로우상태를 유지하게 되면, 프리앰블 신호 제어부(110)의 신호합성기(111)의 출력신호(FAST_PRE)에 따라 멀티플렉스(114)가 제2 프리앰블 신호 생성부(113)의 출력신호(B)가 프리앰블 신호(PREAMBLE)로 출력되도록 한다.When the output signals FAST_PRE <0: i> of the phase comparator remain low, the multiplex 114 performs a second operation according to the output signal FAST_PRE of the signal synthesizer 111 of the preamble signal controller 110. The output signal B of the preamble signal generator 113 is output as a preamble signal PREAMBLE.

한편으로 위상비교기의 출력신호(FAST_PRE<0:i>)중 하나가 하이를 유지하면 신호합성기(111)의 출력신호(FAST_PRE)에 따라, 멀티플렉스(114)가 제1 프리앰블신호 생성부(112)의 출력신호(A)가 프리앰블 신호(PREAMBLE)로 출력되도록 한다.On the other hand, when one of the output signals FAST_PRE <0: i> of the phase comparator remains high, the multiplex 114 generates the first preamble signal generator 112 according to the output signal FAST_PRE of the signal synthesizer 111. Output signal A is output as a preamble signal PREAMBLE.

위상비교기의 출력신호(FAST_PRE<0:i>)가 다수 비트인 것은 지연된 클럭(D_CLK)이 더미 리드 명령어(DUM_READ)보다 얼마나 빨리 생성되는지 정보를 저장하기 위한것이고 이 정보에 따라 제1 프리앰블 신호 생성부(112)의 지연값이 정해지게 되고, 신호합성부(111)에서는 위상비교기의 출력신호(FAST_PRE<0:i>)가 다수 비트중에서 하나만 하이가 되도 출력신호(FAST_PRE)를 하이로 인에이블 시킨다.The output signal FAST_PRE <0: i> of the phase comparator has a plurality of bits to store information about how quickly the delayed clock D_CLK is generated than the dummy read command DUM_READ and generate the first preamble signal according to the information. The delay value of the unit 112 is determined, and the signal synthesizer 111 enables the output signal FAST_PRE to be high even if only one of the plurality of bits of the phase comparator output signal FAST_PRE <0: i> becomes high. Let's do it.

따라서 로우 레이턴시(예컨대 CL=1.5)일 때에 지연된 클럭(D_CLK)이 더미 리드 명령어(DUM_READ)보다 빨리 생성되더라도 제1 프리앰블 신호 생성부에 의해 프리앰블 신호(PREAMBLE)가 지연시간없이 생성되도록 할 수 있다. 결국, 로우 레이턴시(예컨대 CL=1.5)일 때에 프리앰플 신호(PREAMBLE)가 지연시간없이 생성되므로서 데이터출력을 보다 고속으로 할 수 있어 동기식 메모리 성능향상을 기대할 수 있다.Therefore, even when the delayed clock D_CLK is generated earlier than the dummy read command DUM_READ when the low latency (eg, CL = 1.5), the preamble signal PREAMBLE may be generated without a delay time by the first preamble signal generator. As a result, when the low latency (e.g., CL = 1.5), the preamplifier signal (PREAMBLE) is generated without a delay time, so that the data output can be made faster, and the synchronous memory performance can be improved.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and various substitutions, modifications, and changes are possible in the art without departing from the technical spirit of the present invention. It will be clear to those of ordinary knowledge.

본 발명에 의해 로우 레이턴시상태에서도 정확한 타이밍에 데이터를 출력할 수 있어 동기식 메모리 소자의 성능 향상을 기대할 수 있다.According to the present invention, data can be output at an accurate timing even in a low latency state, and the performance of the synchronous memory device can be expected to be improved.

Claims (3)

액티브 신호와 위상동기된 클럭신호의 타이밍을 비교하기 위한 프리앰블 신호용 위상비교부;A phase comparator for preamble signal for comparing the timing of the active signal and the phase-locked clock signal; 상기 프리앰블 신호용 위상비교부의 출력에 따라 프리앰블 신호의 인에이블 타이밍을 조절하여 출력하기 위한 데이터 스트로브 신호 제어부;A data strobe signal controller for controlling and outputting an enable timing of the preamble signal according to an output of the preamble signal phase comparator; 상기 데이터 스트로브 신호 제어부에서 출력되는 프리앰블 신호를 입력받아 데이터 스트로브 신호를 프리앰블 상태로 변환하여 출력하기 위한 출력버퍼를 구비하는 동기식 메모리 장치.And an output buffer configured to receive a preamble signal output from the data strobe signal controller, convert the data strobe signal into a preamble state, and output the converted signal. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 프리앰블 신호용 위상비교부는,The phase comparison unit for the preamble signal, 상기 액티브 신호를 입력받아 더미 리드 명령어를 생성하는 더미 리드명령어 생성기;A dummy read command generator configured to receive the active signal and generate a dummy read command; 상기 위상동기된 클럭을 입력받아 소정 시간동안 지연된 클럭을 생성하는 딜레이; 및A delay for receiving the phase locked clock and generating a clock delayed for a predetermined time; And 상기 지연된 클럭이 상기 더미 리드 명령어보다 빨리 생성되면, 그 타이밍에 관한 정보를 출력하는 위상비교기를 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치.And a phase comparator for outputting information on timing when the delayed clock is generated earlier than the dummy read command. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 데이터 스트로브 신호 제어부는The data strobe signal controller 상기 위상비교기의 출력신호에 따라 리드명령어의 전달 지연시간을 조절하여 제1 프리앰블 신호를 생성하기 위한 제1 프리앰블 신호 생성부;A first preamble signal generator for generating a first preamble signal by adjusting a propagation delay time of a read command according to the output signal of the phase comparator; 상기 위상동기된 클럭에 따라 상기 리드명령어를 제2 프리앰블 신호로 생성하여 위한 제2 프리앰블 신호 생성부;A second preamble signal generator for generating the read command as a second preamble signal according to the phase-locked clock; 상기 위상비교기의 출력신호에 따라 인에이블 신호를 출력하는 신호합성기; 및A signal synthesizer for outputting an enable signal according to the output signal of the phase comparator; And 상기 인에이블 신호에 따라 상기 제1 및 제2 프리앰블 신호를 선택해서 프리앰블 신호로 출력하는 멀티플렉스를 구비하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치.And a multiplex for selecting the first preamble signal and the second preamble signal according to the enable signal and outputting the preamble signal.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100738966B1 (en) * 2006-06-29 2007-07-12 주식회사 하이닉스반도체 Dll circuit and method for controlling the same
KR100805004B1 (en) * 2006-06-15 2008-02-20 주식회사 하이닉스반도체 Data strobe signal generator for generating data strobe signal based on adjustable preamble value and semiconductor memory device with the same
KR100818709B1 (en) * 2006-10-19 2008-04-01 주식회사 하이닉스반도체 Circuit for controlling preamble region
US7362648B2 (en) 2004-10-19 2008-04-22 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory system, memory device, and output data strobe signal generating method
KR100839488B1 (en) * 2006-08-30 2008-06-19 삼성전자주식회사 Clock Data Recovery Circuit Absent Reference Clock
US7453745B2 (en) 2005-05-03 2008-11-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device and latency signal generating method thereof
KR101040242B1 (en) * 2008-10-13 2011-06-09 주식회사 하이닉스반도체 Data Strobe Signal Generating Device and Semiconductor Memory Apparatus using the same
KR101043725B1 (en) * 2009-07-01 2011-06-24 주식회사 하이닉스반도체 Data strobe signal generating circuit and generating method thereof
US7982511B2 (en) 2006-02-09 2011-07-19 Hynix Semiconductor Inc. DLL circuit and method of controlling the same

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3139434B2 (en) * 1997-12-25 2001-02-26 日本電気株式会社 DPLL circuit
KR20000056166A (en) * 1999-02-13 2000-09-15 김영환 Phase delay compensation circuit and method for semiconductor memory

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7362648B2 (en) 2004-10-19 2008-04-22 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory system, memory device, and output data strobe signal generating method
US8004911B2 (en) 2004-10-19 2011-08-23 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory system, memory device, and output data strobe signal generating method
US7733715B2 (en) 2004-10-19 2010-06-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory system, memory device, and output data strobe signal generating method
US7778094B2 (en) 2005-05-03 2010-08-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device and latency signal generating method thereof
US7453745B2 (en) 2005-05-03 2008-11-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device and latency signal generating method thereof
US7982511B2 (en) 2006-02-09 2011-07-19 Hynix Semiconductor Inc. DLL circuit and method of controlling the same
US8564341B2 (en) 2006-02-09 2013-10-22 Hynix Semiconductor Inc. DLL circuit and method of controlling the same
US7606089B2 (en) 2006-06-15 2009-10-20 Hynix Semiconductor Inc. Data strobe signal generator for generating data strobe signal based on adjustable preamble value and semiconductor memory device with the same
KR100805004B1 (en) * 2006-06-15 2008-02-20 주식회사 하이닉스반도체 Data strobe signal generator for generating data strobe signal based on adjustable preamble value and semiconductor memory device with the same
KR100738966B1 (en) * 2006-06-29 2007-07-12 주식회사 하이닉스반도체 Dll circuit and method for controlling the same
KR100839488B1 (en) * 2006-08-30 2008-06-19 삼성전자주식회사 Clock Data Recovery Circuit Absent Reference Clock
KR100818709B1 (en) * 2006-10-19 2008-04-01 주식회사 하이닉스반도체 Circuit for controlling preamble region
US8509005B2 (en) 2008-10-13 2013-08-13 SK Hynix Inc. Data strobe signal generating device and a semiconductor memory apparatus using the same
KR101040242B1 (en) * 2008-10-13 2011-06-09 주식회사 하이닉스반도체 Data Strobe Signal Generating Device and Semiconductor Memory Apparatus using the same
US8031553B2 (en) 2008-10-13 2011-10-04 Hynix Semiconductor Inc. Data strobe signal generating device and a semiconductor memory apparatus using the same
KR101043725B1 (en) * 2009-07-01 2011-06-24 주식회사 하이닉스반도체 Data strobe signal generating circuit and generating method thereof
US8009492B2 (en) 2009-07-01 2011-08-30 Hynix Semiconductor Inc. Circuit for generating data strobe signal and method

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