JPS6236541A - Particle analyzer - Google Patents
Particle analyzerInfo
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- JPS6236541A JPS6236541A JP17650985A JP17650985A JPS6236541A JP S6236541 A JPS6236541 A JP S6236541A JP 17650985 A JP17650985 A JP 17650985A JP 17650985 A JP17650985 A JP 17650985A JP S6236541 A JPS6236541 A JP S6236541A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、フローサイトメータ等において、フローセル
の姿勢の判定を可能とした粒子解析装置に関するもので
ある。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Field of Application] The present invention relates to a particle analysis device that is capable of determining the attitude of a flow cell in a flow cytometer or the like.
[従来の技術]
フローサイトメータ等に用いられる従来の粒子解析装置
では、フローセルの中央部の例えば200 pmX 2
00 JLmの微小な断面を有する流通部内を、シース
液に包まれて通過する血球細胞などの検体に照射光を照
射し、その結果生ずる前方及び側方散乱光により、検体
の形状・大きさ・屈折率等の粒子的性質を得ることが可
能である。[Prior Art] In a conventional particle analysis device used in a flow cytometer or the like, a particle size of, for example, 200 pm
Irradiation light is irradiated onto a specimen such as blood cells wrapped in sheath liquid and passing through a flow section with a minute cross section of 00 JLm, and the resulting forward and side scattered light is used to determine the shape, size, and shape of the specimen. It is possible to obtain particle-like properties such as refractive index.
また、蛍光剤により染色され得る検体に対しては、照射
光とほぼ直角方向の側方散乱光から検体の蛍光を検出す
ることにより、検体を解析するための重要な情報を求め
ることができる。Further, for a specimen that can be stained with a fluorescent agent, important information for analyzing the specimen can be obtained by detecting the fluorescence of the specimen from side scattered light in a direction substantially perpendicular to the irradiation light.
フローサイトメータにおいて正確な測定を行うためには
、フローセルが照射光軸及び側方散乱光光軸に対してそ
れぞれ垂直な姿勢に保持されていなければならない。第
5図(a)はフローセルの回転及び倒れの説明図であり
、照射光りの光軸01及び側方散乱光の光軸02に対す
るフローセル1の傾きは、検体粒子の流れFの方向に対
し垂直な面内における流れFを軸としたA−A’で示し
た回転と、流れFの方向に対する前方散乱光側への倒れ
B−B’ と、流れFの方向に対する側方散乱光側への
倒れc−c’ とが考えられる。In order to perform accurate measurements with a flow cytometer, the flow cell must be held perpendicular to the irradiation optical axis and the side scattered light optical axis. FIG. 5(a) is an explanatory diagram of rotation and inclination of the flow cell, and the inclination of the flow cell 1 with respect to the optical axis 01 of the irradiation light and the optical axis 02 of the side scattered light is perpendicular to the direction of the flow F of the sample particles. The rotation shown by A-A' around the flow F in the plane, the tilting towards the forward scattered light side with respect to the direction of the flow F, and the tilting towards the side scattered light side with respect to the direction of the flow F. It is considered that the fall is cc'.
第5図(b)はフローセル1が検体粒子の流れFの方向
に対して垂直な面内でA−A’力方向回転している場合
の光路のシフトの説明図であり、フローセル1への入射
光りはフローセルlが回転しているために屈折し、フロ
ーセル1を出射する際にはLo となり、Δpだけシフ
トすることを示している。側方散乱光側に対しても、散
乱光は同様に屈折し光路のシフトを生ずることになる。FIG. 5(b) is an explanatory diagram of the shift of the optical path when the flow cell 1 is rotated in the direction of the A-A' force in a plane perpendicular to the direction of the flow F of sample particles. The incident light is refracted because the flow cell 1 is rotating, and becomes Lo when exiting the flow cell 1, indicating that it is shifted by Δp. On the side scattered light side, the scattered light is similarly refracted, causing a shift in the optical path.
また、B−B″、c−c’力方向倒れがあれば、同様に
光路のシフトが生ずることになり、正確な測定を行うこ
とが困難となる。Furthermore, if there is a tilt in the B-B'' or c-c' force direction, the optical path will similarly shift, making it difficult to perform accurate measurements.
フローセル1を垂直に保持するために、従来装置におい
ては照射光源の射出面に小孔を有する遮蔽板を配し、フ
ローセル1により反射される小孔の像を操作者が目視で
観察することによりフローセル1の回転を調整し、更に
フローセル1の上部から水滴を流通部を通して1滴落下
させ、その位置に印をつけた後に水流を流し、水流がそ
の印に当るように繰り返し調整することにより、フロー
セル1の倒れの調整を行っているのが現状であり、操作
が煩雑な上に操作者によって個人差が生じ、十分に正確
な調整を行うことが困難である。In order to hold the flow cell 1 vertically, in conventional devices, a shielding plate having small holes is arranged on the exit surface of the irradiation light source, and the operator visually observes the image of the small holes reflected by the flow cell 1. By adjusting the rotation of the flow cell 1, letting a drop of water fall from the top of the flow cell 1 through the flow section, marking that position, flowing a water stream, and repeatedly adjusting so that the water stream hits the mark, At present, the inclination of the flow cell 1 is adjusted, but the operation is complicated and there are individual differences between operators, making it difficult to perform sufficiently accurate adjustment.
[発明の目的]
本発明の目的は、フローセル表面による反射光の位置関
係を検出することにより、フローセルの姿勢の調整を容
易にかつ正確に行い得る粒子解析装置を提供することに
ある。[Object of the Invention] An object of the present invention is to provide a particle analysis device that can easily and accurately adjust the attitude of a flow cell by detecting the positional relationship of light reflected by the surface of the flow cell.
[発明の概要]
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、フローセ
ル内の流通部を流れる検体粒子に光ビームを照射する$
1の照射光学系と、該光ビームが検体粒子によって散乱
された散乱光を測定する測、 先光学系と、前記
フローセル表面に光束を投射する第2の照射光学系と、
前記光束の前記フローセル表面による反射光を検出する
分割型受光素子から成る光電検出器を含む検出手段とを
具備することを特徴とする粒子解析装置である。[Summary of the Invention] The gist of the present invention for achieving the above-mentioned object is to irradiate a light beam onto sample particles flowing through a flow section in a flow cell.
a second irradiation optical system that projects a light beam onto the flow cell surface;
The particle analysis apparatus is characterized in that it comprises a detection means including a photoelectric detector made of a split type light receiving element that detects the reflected light of the light beam by the surface of the flow cell.
[発明の実施例]
本発明を第1図〜第4図に図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。[Embodiments of the Invention] The present invention will be described in detail based on embodiments illustrated in FIGS. 1 to 4.
第1図は基本構成図であり、フローセル1の中央部の紙
面に垂直な流通部2内を、高速層流となったシース液に
包まれて流体力学的焦点合わせが行われた検体粒子が通
過し、この流れと直交する方向にレーザ光源3が配置さ
れている。このレーザ光源3から出射されたレーザ光り
を流通部2に導光するために、光軸01上に結像光学系
4が配置されている。また、検体粒子によって散乱され
たレーザ光りの前方散乱光側には、集光レンズ5、絞り
6、光電検出器7が順次に配列されており、結像レンズ
4を介して流通部2で照射されたレーザ光りは検体粒子
により散乱され、集光レンズ5、絞り6を経て光電検出
器7に至り、主に検体粒子の大きさの情報が得られるよ
うになっている。また、検体粒子の流れの中心軸とレー
ザ光りの光軸O1とにそれぞれほぼ直交する方向の光軸
02上には、側方散乱光用集光レンズ5゛、絞り6゛、
光電検出器7゛が順次に配列されており、検体粒子によ
るレーザ光りの90″方向の散乱光が計測され、主に検
体粒子の顆粒性が観測できるようになっている。なお、
検体粒子に蛍光標識を施して生化学的解析を行う場合に
は、図示しない波長選別手段を光軸02上に設置するこ
とにより測定が可能である。更に、フローセル1を挟ん
で光軸02と反対側の光軸03上に集光レンズ8.ハー
フミラ−9、分割受光素子10が順次に配され、光軸0
3に対して斜設されたハーフミラ−9の反射光路上には
、開口11.光源12が順次に配されている。また、光
軸01上のフローセル1と結像光学系4との間には1図
示しない切換可能なミラーが配され、そのミラーの反射
側には、集光レンズ8から光源12までと同様の図示し
ない光学部材8′〜12′によって構成された検出光学
系■と同様の検出光学系■が配置されている。Figure 1 is a basic configuration diagram, in which sample particles are hydrodynamically focused and surrounded by a sheath liquid in a high-speed laminar flow inside the flow section 2 in the center of the flow cell 1 perpendicular to the plane of the paper. A laser light source 3 is arranged in a direction perpendicular to this flow. An imaging optical system 4 is arranged on the optical axis 01 in order to guide the laser light emitted from the laser light source 3 to the flow section 2. In addition, a condenser lens 5, an aperture 6, and a photoelectric detector 7 are sequentially arranged on the forward scattered light side of the laser light scattered by the sample particles. The generated laser light is scattered by the specimen particles, passes through a condensing lens 5 and an aperture 6, and reaches a photoelectric detector 7, where information mainly on the size of the specimen particles can be obtained. Further, on the optical axis 02 in the direction substantially perpendicular to the central axis of the flow of sample particles and the optical axis O1 of the laser beam, there is a condensing lens for side scattered light 5゜, an aperture 6゜,
Photoelectric detectors 7'' are arranged in sequence, and the scattered light of the laser beam by the sample particles in the 90'' direction is measured, so that the granularity of the sample particles can mainly be observed.
When biochemical analysis is performed by fluorescently labeling specimen particles, measurement can be performed by installing a wavelength selection means (not shown) on the optical axis 02. Further, a condenser lens 8 is placed on the optical axis 03 on the opposite side of the optical axis 02 with the flow cell 1 in between. A half mirror 9 and a divided light receiving element 10 are arranged in sequence, and the optical axis is 0.
An aperture 11.3 is provided on the reflected optical path of the half mirror 9, which is obliquely disposed relative to the half mirror 9.3. The light sources 12 are arranged one after the other. Further, a switchable mirror (not shown) is disposed between the flow cell 1 and the imaging optical system 4 on the optical axis 01, and a switchable mirror (not shown) is provided on the reflection side of the mirror, which is similar to that from the condenser lens 8 to the light source 12. A detection optical system (2) similar to the detection optical system (2) constituted by optical members 8' to 12' (not shown) is arranged.
第2図は検出光学系Iの斜視図であり、光源12かう出
射した光束は開口11を通過し、ハーフミラ−9によっ
て偏向され集光レンズ8を介してフローセル1に投影さ
れるようになっている。FIG. 2 is a perspective view of the detection optical system I, in which the light beam emitted from the light source 12 passes through the aperture 11, is deflected by the half mirror 9, and is projected onto the flow cell 1 via the condenser lens 8. There is.
そして、フローセルlの表面における反射光は、再び集
光レンズ8を介してノ\−フミラー9を透過し分割受光
素子10上に結像されることになり、回転A−A’ 、
倒れc−c’が検出されるようになっている。Then, the reflected light on the surface of the flow cell l passes through the nof mirror 9 via the condensing lens 8 again and is imaged on the divided light receiving element 10, and the rotation A-A',
A fall cc' is detected.
図示しない検出光学系■についても、切換えミラーを介
して検出光学系Iと同様に開口11′を通過した光源1
2゛からの光束が/\−フミラー9”、集光レンズ8″
によりフローセル1に投影され、その反射光は切換ミラ
ーを介して集光レンズ8′、ハーフミラ−9′を通過し
分割受光素子10°上に結像され、回転A−A”、倒れ
B−Boが検出されるようになっている。As for the detection optical system (not shown), the light source 1 passes through the aperture 11' via the switching mirror in the same way as the detection optical system I.
The luminous flux from 2゛ is /\-Fumirror 9", condenser lens 8"
The reflected light is projected onto the flow cell 1 via a switching mirror, passes through a condenser lens 8' and a half mirror 9', and is imaged on the divided light receiving element 10°, and rotates A-A'' and tilts B-Bo. is now detected.
このようにしてフローセル1の表面反射光を検出する分
割受光素子10.10’としては、4面の光電検出面a
1〜a4で構成された4分割受光素子が使用されている
。第3図はこの光電検出面a1〜a4上の開口11.1
1′のフローセル1における反射像の結像図であり、フ
ローセルlがレーザ光源3及び側方散乱光の測光光学系
のそれぞれに垂直に保持されている場合には、第3図(
a)に示すように分割受光素子10、lO”の検出面a
1〜a4に同一の大きさで結像され、各検出面a1、a
2゜a3、a4からのそれぞれの出力v1、v2、v3
、v4は等しくなる。The divided light receiving element 10.10' that detects the surface reflected light of the flow cell 1 in this way has four photoelectric detection surfaces a.
A four-segment light-receiving element composed of elements 1 to a4 is used. Figure 3 shows the apertures 11.1 on the photoelectric detection surfaces a1 to a4.
1' is a formed diagram of a reflected image in the flow cell 1, and when the flow cell 1 is held perpendicular to the laser light source 3 and the side scattered light photometry optical system, the image shown in FIG.
As shown in a), the detection surface a of the divided light-receiving element 10, lO''
1 to a4 with the same size, each detection surface a1, a
2゜Respective outputs v1, v2, v3 from a3 and a4
, v4 are equal.
第3図(b)はフローセル1がBoの方向に倒れた時の
検出光学系■の分割受光素子lO°上の結像図、又はフ
ローセル1がCoの方向に倒れた際の検出光学系■の分
割受光素子10上の結像図であり、この際には分割受光
素子10等を横割りにした上下の検出面a1、a2とa
3. a4からの出力、即ち(Vt◆V2)と(V3+
V4)に差が生じ、出力の関係はm+V2) >(V3
.V4) トナル、 *り、第3図(C) t*フロー
セル1がBの方向に倒れた際の検出光学系■の分割受光
素子10′上の結像図、又はフローセル1がCの方向に
倒れた際の検出光学系Iの分割受光素子10上の結像図
であり、この際には1分割受光素子10等の出力の関係
は(Vl−V2)< (V3+V4)となる。FIG. 3(b) is an image formed on the divided light-receiving element lO° of the detection optical system (■) when the flow cell 1 falls in the direction of Bo, or an image of the detection optical system (■) when the flow cell 1 falls in the direction of Co. is an image formation diagram on the divided light receiving element 10, in which upper and lower detection surfaces a1, a2 and a are obtained by dividing the divided light receiving element 10, etc. horizontally.
3. Output from a4, that is (Vt◆V2) and (V3+
A difference occurs in V4), and the output relationship is m + V2) > (V3
.. V4) Tonal, *ri, Fig. 3 (C) t* Image formation diagram on the split light receiving element 10' of the detection optical system (■) when the flow cell 1 falls in the direction of B, or when the flow cell 1 falls in the direction of C. This is an image formed on the divided light-receiving element 10 of the detection optical system I when it falls down, and in this case, the relationship between the outputs of the one-divided light-receiving element 10, etc. is (Vl-V2)<(V3+V4).
第3図(d)はフローセル1がA′丈方向回転した際の
検出光学系■及び■の分割受光素子10.10′上の結
像図であり、4分割受光素子1O110”の検出面at
−a4等を縦割りにした左右の検出面al、 a4とa
2、a3からの出力、即ち(V1+V4)と(V2+V
3)に差が生じ、m+V4) >(V2+V3)となる
、第3図(e)はフローセル1がA方向に回転した際の
検出光学系■及び■の分割受光素子10.10°上の結
像図であり、(VL+V4) <(V2.V3)となる
。FIG. 3(d) is an image formed on the divided light-receiving elements 10 and 10' of the detection optical systems 1 and 2 when the flow cell 1 rotates in the A' length direction, and the detection surface at of the 4-part light-receiving element 1O110''
- Left and right detection surfaces al, a4 and a, vertically divided into a4, etc.
2. Output from a3, i.e. (V1+V4) and (V2+V
3), and m + V4) > (V2 + V3). Figure 3 (e) shows the result on the split light receiving element 10.10° of the detection optical system (■) and (2) when the flow cell 1 rotates in the A direction. This is an image diagram, and (VL+V4) < (V2.V3).
第3図(f)はフローセル1が回転と同時に倒れている
場合の分割受光素子1O110’上の結像図であり、フ
ローセルlがCの方向に倒れ、かつA゛の方向に回転し
ている場合の分割受光素子10上の結像図、又はフ、ロ
ーセル1がBの方向に倒れ、かつ八°の方向に回転して
いる場合の検出光学系■の分割受光素子lO“上の結像
図を例示している。このように倒れと回転とが合成され
た場合には、4分割受光素子10.10゛の検出面a!
〜a4のそれぞれの出力v1〜v4の全てに差が生ずる
ことになる。FIG. 3(f) is an image formed on the divided light receiving element 1O110' when the flow cell 1 is tilted at the same time as it rotates, and the flow cell 1 is tilted in the direction C and rotated in the direction A''. The image formed on the divided light receiving element 10 in the case of FIG. The figure is an example. When tilting and rotation are combined in this way, the detection surface a! of the four-divided light receiving element 10.10゛!
There will be a difference in all of the outputs v1 to v4 of ~a4.
このように、分割受光素子10.10″の4分割検出面
a1〜a4からの出力v1〜v4が、それぞれ等しいと
きにはフローセル1がレーザ光軸01及び側方散乱光光
軸02のそれぞれに対して垂直に保持されていることに
なるので、各分割受光素子1O110°の4つの出力が
等しくなるようにフローセル1を移動させることにより
、フローセル1を光i01及び02にそれぞれ垂直な姿
勢に保持することができる。In this way, when the outputs v1 to v4 from the four-divided detection surfaces a1 to a4 of the divided light receiving element 10.10'' are equal, the flow cell 1 is directed to each of the laser optical axis 01 and the side scattered light optical axis 02. Since it is held vertically, by moving the flow cell 1 so that the four outputs of each divided light receiving element 1O110° are equal, the flow cell 1 is held perpendicular to the lights i01 and 02, respectively. I can do it.
第4図はフローセル1の姿勢を自動的に正常に保持する
ための制御機構の構成図であり、フローセル1にはモー
タ13が接続され、分割受光素子10の出力側にサーボ
回路14、モータドライブ回路15が順次に接続され、
ドライブ回路15はモータ13に接続されており、分割
受光素子10の出力信号によってモータ13が駆動され
るようになっている。なお、検出光学系■についても全
く同様の構成を有している。FIG. 4 is a configuration diagram of a control mechanism for automatically maintaining the normal posture of the flow cell 1. A motor 13 is connected to the flow cell 1, and a servo circuit 14 and a motor drive are connected to the output side of the divided light receiving element 10. The circuits 15 are connected in sequence,
The drive circuit 15 is connected to the motor 13, and the motor 13 is driven by the output signal of the divided light receiving element 10. Note that the detection optical system (2) also has a completely similar configuration.
このように分割受光素子10等の出力信号によって駆動
される機構を設け、分割受光素子lO等の4分割検出面
a1〜a4に開口像がそれぞれ等しく結像され、検出面
al”a4からの出力Vl−V4がそれぞれ等しくなる
までフローセル1の姿勢を探索駆動し、分割受光素子1
0等からの各出力の同値信号によって駆動機構を停止さ
せるようにすれば、自動的にフローセルlが光軸01及
び02のそれぞれに垂直に保持され、更に操作性を向上
させることが可能となる。In this way, a mechanism driven by the output signal of the divided light-receiving element 10, etc. is provided, and aperture images are equally imaged on the four-divided detection surfaces a1 to a4 of the divided light-receiving element lO, etc., and the output from the detection surface al''a4 is The orientation of the flow cell 1 is searched and driven until Vl-V4 become equal, and the split light receiving element 1
If the drive mechanism is stopped by the same value signal of each output from 0, etc., the flow cell l will be automatically held perpendicular to each of the optical axes 01 and 02, making it possible to further improve operability. .
また、分割受光素子10等の所定の位置に、開口11等
の開口像が結像したことを知らせる垂直合致信号を表示
する手段を設けることも可能であり、この垂直合致信号
が出力された時点で検体粒子に対する測定を行うように
すると、更に操作が容易となる。Further, it is also possible to provide means for displaying a vertical coincidence signal at a predetermined position of the split light receiving element 10 etc. to notify that an aperture image of the aperture 11 etc. has been formed, and when this vertical coincidence signal is output. If the measurement is performed on the sample particles, the operation becomes even easier.
なお、光源12の波長は70−セル1内での散乱光等の
測定に影響を及ぼさないように、レーザ光源3の波長や
蛍光の波長と分離していることが好ましく、赤外光源を
使用することが好適である。また、測定時には光源12
のスイッチが自動的に切れるようにしておけば、測定に
影響を及ぼす心配がなく正確な測定値を得ることができ
る。Note that the wavelength of the light source 12 is preferably separated from the wavelength of the laser light source 3 and the wavelength of fluorescence so as not to affect the measurement of scattered light, etc. within the 70-cell 1, and an infrared light source is used. It is preferable to do so. Also, during measurement, the light source 12
By setting the switch to turn off automatically, you can obtain accurate measured values without worrying about it affecting the measurement.
[発明の効果]
以上説明したように本発明に係る粒子解析装置は、フロ
ーセル面に光束を投影し、その反射光を分割受光素子上
に結像させ、この分割受光素子面における出力を比較す
る検出手段を設けることにより、ブローセルの姿勢の調
整を容易にかつ正確に行うことを可能とし、測定精度を
向上させることができる。また所望により、検出手段の
出力信号によって駆動する機構を設けることによって、
全自動的にフローセルの姿勢の調整を行うことも可能と
なり、更に測定操作を容易とすることもできる。[Effects of the Invention] As explained above, the particle analysis device according to the present invention projects a light beam onto the flow cell surface, images the reflected light on the divided light receiving elements, and compares the outputs on the divided light receiving element surfaces. By providing the detection means, the attitude of the blow cell can be adjusted easily and accurately, and measurement accuracy can be improved. Also, if desired, by providing a mechanism driven by the output signal of the detection means,
It is also possible to fully automatically adjust the attitude of the flow cell, and furthermore, the measurement operation can be made easier.
図面第1図〜第4図は本発明に係る粒子解析装置の実施
例を示し、第1図は光学系の構成図、第2図は検出光学
系の斜視図、第3図(a)〜(f)は分割受光素子上の
光像分布の説明図、ftIJ’j図はフローセル駆動機
構の構成図であり、第5図はフローセルの回転及び倒れ
の説明図であって、(a)は回転及び倒れの方向の説明
図、(b)は回転時の光路のシフトの説明図である。
符号1はフローセル、2は流通部、3はレーザ光源、6
は絞り、7は光電検出器、9はハーフミラ−110は分
割受光素子、11は開口、12は光源、13はモータ、
14はサーボ回路、15はモータドライブ回路である。Drawings 1 to 4 show an embodiment of a particle analysis device according to the present invention, in which FIG. 1 is a configuration diagram of an optical system, FIG. 2 is a perspective view of a detection optical system, and FIGS. 3(a) to 4. (f) is an explanatory diagram of the light image distribution on the divided light-receiving element, ftIJ'j is a configuration diagram of the flow cell drive mechanism, FIG. 5 is an explanatory diagram of the rotation and tilting of the flow cell, and (a) is An explanatory diagram of the directions of rotation and inclination, and (b) is an explanatory diagram of the shift of the optical path during rotation. 1 is a flow cell, 2 is a flow section, 3 is a laser light source, 6
is an aperture, 7 is a photoelectric detector, 9 is a half mirror, 110 is a divided light receiving element, 11 is an aperture, 12 is a light source, 13 is a motor,
14 is a servo circuit, and 15 is a motor drive circuit.
Claims (1)
を照射する第1の照射光学系と、該光ビームが検体粒子
によって散乱された散乱光を測定する測光光学系と、前
記フローセル表面に光束を投射する第2の照射光学系と
、前記光束の前記フローセル表面による反射光を検出す
る分割型受光素子から成る光電検出器を含む検出手段と
を具備することを特徴とする粒子解析装置。 2、前記第2の照射光学系は前記フローセル表面に2方
向から投射するために2組設け、これら第2の照射光学
系に対応する前記検出手段を備えた特許請求の範囲第1
項に記載の粒子解析装置。 3、前記光電検出器の複数個の検出面で得られる前記第
2の照射光学系の光束の前記フローセル表面による反射
像の位置関係により前記フローセルの姿勢を検出するよ
うにした特許請求の範囲第1項に記載の粒子解析装置。 4、前記第2の照射光学系は前記第1の照射光学系で使
用する波長領域外の波長域の光を使用するようにした特
許請求の範囲第1項に記載の粒子解析装置。 5、前記検出手段からの信号により、前記フローセルの
姿勢の正常状態表示手段を設けた特許請求の範囲第1項
に記載の粒子解析装置。 6、前記検出手段の出力により前記フローセルの姿勢が
正常状態に至るまで、前記フローセルを自動的に探索移
動させる駆動機構を設けた特許請求の範囲第1項に記載
の粒子解析装置。[Scope of Claims] 1. A first irradiation optical system that irradiates a light beam to sample particles flowing through a flow section in a flow cell; and a photometric optical system that measures scattered light from the light beam scattered by the sample particles. , comprising: a second irradiation optical system that projects a light beam onto the surface of the flow cell; and a detection means including a photoelectric detector comprising a split-type light receiving element that detects light reflected by the surface of the flow cell of the light beam. particle analysis device. 2. The second irradiation optical system is provided in two sets in order to project onto the flow cell surface from two directions, and the detection means corresponding to these second irradiation optical systems are provided.
The particle analysis device described in Section 1. 3. The attitude of the flow cell is detected based on the positional relationship of reflected images of the light beam of the second irradiation optical system on the flow cell surface obtained by a plurality of detection surfaces of the photoelectric detector. The particle analysis device according to item 1. 4. The particle analysis apparatus according to claim 1, wherein the second irradiation optical system uses light in a wavelength range outside the wavelength range used by the first irradiation optical system. 5. The particle analysis apparatus according to claim 1, further comprising means for displaying a normal state of the attitude of the flow cell based on a signal from the detection means. 6. The particle analysis apparatus according to claim 1, further comprising a drive mechanism that automatically searches and moves the flow cell until the attitude of the flow cell reaches a normal state based on the output of the detection means.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17650985A JPS6236541A (en) | 1985-08-09 | 1985-08-09 | Particle analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP17650985A JPS6236541A (en) | 1985-08-09 | 1985-08-09 | Particle analyzer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JPS6236541A true JPS6236541A (en) | 1987-02-17 |
Family
ID=16014872
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP17650985A Pending JPS6236541A (en) | 1985-08-09 | 1985-08-09 | Particle analyzer |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPS6236541A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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1985
- 1985-08-09 JP JP17650985A patent/JPS6236541A/en active Pending
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