JPS62176706U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS62176706U JPS62176706U JP6524986U JP6524986U JPS62176706U JP S62176706 U JPS62176706 U JP S62176706U JP 6524986 U JP6524986 U JP 6524986U JP 6524986 U JP6524986 U JP 6524986U JP S62176706 U JPS62176706 U JP S62176706U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- laser beam
- film
- measuring device
- optical splitter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
第1図はこの考案の一実施例を示す構成図、第
2図はこの考案の他の実施例を示す構成図、第3
図及び第4図は従来の膜厚測定装置の構成図であ
る。 図において、1は回転軸、2は遮光板、3は被
測定部材、4a,5aはレーザ光、6は反射ミラ
ー、17はハーフミラー、18は全反射ミラーで
ある。なお、各図中同一符号は同一、または相当
部分を示す。
2図はこの考案の他の実施例を示す構成図、第3
図及び第4図は従来の膜厚測定装置の構成図であ
る。 図において、1は回転軸、2は遮光板、3は被
測定部材、4a,5aはレーザ光、6は反射ミラ
ー、17はハーフミラー、18は全反射ミラーで
ある。なお、各図中同一符号は同一、または相当
部分を示す。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 被測定膜がシートに塗布された被測定部材
を回転軸で密着支持しながら走行させ、上記回転
軸の面から所定の距離をあけて上記回転軸と平行
に遮光板を設けて、上記被測定膜の表面と上記遮
光板との間を第1のレーザ光を使つて反射ミラー
で走査し、上記回転軸の表面と上記遮光板との間
を第2のレーザ光を使つて反射ミラーで走査して
上記被測定物膜の膜厚を測定するものにおいて、
上記第1のレーザ光及び上記第2のレーザ光は1
つのレーザ発振器から出たものを光分岐器で2つ
に分岐したものであることを特徴とする膜厚測定
装置。 (2) 光分岐器はレーザ発振器と反射ミラーとの
間に配置されていることを特徴とする実用新案登
録請求の範囲第1項記載の膜厚測定装置。 (3) 光分岐器は反射ミラーで反射されたレーザ
光を分岐するように配置されていることを特徴と
する実用新案登録請求の範囲第1項記載の膜厚測
定装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6524986U JPS62176706U (ja) | 1986-04-29 | 1986-04-29 | |
KR1019870003914A KR900003208B1 (ko) | 1986-04-29 | 1987-04-23 | 막(膜)두께의 측정장치 |
CA000535948A CA1292803C (en) | 1986-04-29 | 1987-04-28 | Film thickness measuring device |
EP87106268A EP0243961B1 (en) | 1986-04-29 | 1987-04-29 | Film thickness measuring device |
DE8787106268T DE3777232D1 (de) | 1986-04-29 | 1987-04-29 | Vorrichtung zum messen der schichtdicke. |
US07/043,711 US4748331A (en) | 1986-04-29 | 1987-04-29 | Film thickness measuring device with signal averaging to compensate for roller eccentricity |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6524986U JPS62176706U (ja) | 1986-04-29 | 1986-04-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62176706U true JPS62176706U (ja) | 1987-11-10 |
Family
ID=30902145
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6524986U Pending JPS62176706U (ja) | 1986-04-29 | 1986-04-29 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62176706U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01259206A (ja) * | 1988-04-08 | 1989-10-16 | Mitsubishi Electric Corp | 膜厚測定装置 |
-
1986
- 1986-04-29 JP JP6524986U patent/JPS62176706U/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01259206A (ja) * | 1988-04-08 | 1989-10-16 | Mitsubishi Electric Corp | 膜厚測定装置 |
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