JPS62106102U - - Google Patents

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JPS62106102U
JPS62106102U JP19887585U JP19887585U JPS62106102U JP S62106102 U JPS62106102 U JP S62106102U JP 19887585 U JP19887585 U JP 19887585U JP 19887585 U JP19887585 U JP 19887585U JP S62106102 U JPS62106102 U JP S62106102U
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reflective film
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の厚さ測定装置の一実施例を示
す構成図、第2図〜第5図は第1図の厚さ測定装
置の測定動作を示す説明図、第6図は一般的な光
デイスクの構造を示す構成図、第7図は従来の厚
さ測定装置の一例を示す構成図、第8図および第
9図は第7図の厚さ測定装置の測定動作を示す説
明図である。 1……光デイスク、2……スピンドルモータ、
3……集光レンズ、4……変位検出器、5……レ
ーザ光源、6……光アイソレータ、7,10……
合焦状態検出器、8……サーボアンプ、9……ハ
ーフミラー、11……切換えスイツチ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 光デイスクの反射膜面上に焦点が合つているか
    否かを検出する合焦状態検出器とこの合焦状態検
    出器の出力を受けその出力が零(合焦状態)とな
    るように集光レンズの位置を制御するサーボアン
    プとを有する厚さ測定装置において、前記第1の
    合焦状態検出器と共通の反射光を受ける第2の合
    焦状態検出器と、前記第1および第2の合焦状態
    検出器の出力を選択的に前記サーボアンプに供給
    する切換えスイツチとを具備するとともに、前記
    第2の合焦状態検出器を屈折率および厚さが既知
    の光デイスクの反射膜面上に焦点を合わせた状態
    においてこの光デイスクにおける透明デイスク側
    表面からの反射光のみに感度を持ちその出力が零
    となるように構成してなる厚さ測定装置。
JP19887585U 1985-12-24 1985-12-24 Expired JPH04246Y2 (ja)

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JP19887585U JPH04246Y2 (ja) 1985-12-24 1985-12-24

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JP19887585U JPH04246Y2 (ja) 1985-12-24 1985-12-24

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Publication Number Publication Date
JPS62106102U true JPS62106102U (ja) 1987-07-07
JPH04246Y2 JPH04246Y2 (ja) 1992-01-07

Family

ID=31159972

Family Applications (1)

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JP19887585U Expired JPH04246Y2 (ja) 1985-12-24 1985-12-24

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04246Y2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006153851A (ja) * 2004-11-08 2006-06-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 共焦点光学装置及び球面収差補正方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006153851A (ja) * 2004-11-08 2006-06-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 共焦点光学装置及び球面収差補正方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04246Y2 (ja) 1992-01-07

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