JPH11330190A - Carrying method and processing system of substrate - Google Patents

Carrying method and processing system of substrate

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JPH11330190A
JPH11330190A JP6512199A JP6512199A JPH11330190A JP H11330190 A JPH11330190 A JP H11330190A JP 6512199 A JP6512199 A JP 6512199A JP 6512199 A JP6512199 A JP 6512199A JP H11330190 A JPH11330190 A JP H11330190A
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博己 谷山
Hiroyuki Yasutaka
博之 安高
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Abstract

The wafer is conveyed by conveyor (3) configured with arms (20-22). The wafer is conveyed to processing unit (8) by arm (21). The wafers are classified as odd and even corresponding to predetermined processing procedure and the wafers are taken out by the arm (22). - Processing units (6-11) are provided with shutter (30) which opens or closes the conveyance openings (6a-11a) such that the wafers are piled up at cleaning process unit for processing according to predetermined procedure. An independent claim is also included for substrate processing system.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は,例えばLCD基板
や半導体ウェハのような基板を搬送する基板の搬送方法
及び処理システムに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate transfer method and a processing system for transferring substrates such as LCD substrates and semiconductor wafers.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体デバイスの製造工程においては,
例えば半導体ウェハ(以下,「ウェハ」という)の基板
の表面を清浄な状態にすることが極めて重要である。そ
のため,ウェハの表面に付着したパーティクル,有機汚
染物,金属不純物等のコンタミネーションを除去するた
めに洗浄処理システムが使用されている。ウェハを洗浄
する洗浄処理システムの一つして,枚葉型の処理装置を
用いた洗浄処理システムが知られている。
2. Description of the Related Art In a semiconductor device manufacturing process,
For example, it is extremely important to keep the surface of a substrate of a semiconductor wafer (hereinafter, referred to as “wafer”) clean. Therefore, a cleaning system is used to remove contamination such as particles, organic contaminants, and metal impurities attached to the surface of the wafer. As one of the cleaning processing systems for cleaning a wafer, a cleaning processing system using a single-wafer processing apparatus is known.

【0003】この洗浄処理システムには,ウェハを25
枚収納できるキャリアを数個載置し,洗浄前のウェハW
をキャリアから取り出すと共に,洗浄後のウェハをキャ
リアに収納する構成になっている取出収納部と,ウェハ
に対して所定の洗浄処理,乾燥処理を行う各処理装置を
備えた洗浄処理部とが備えられている。このような洗浄
処理システムにおける取出収納部,洗浄処理部の各処理
装置間のウェハの搬送は,ウェハを保持する第1のアー
ム,第2のアーム及び第3のアームを上から順に重ねる
ように配置した搬送装置によって行われている。
In this cleaning processing system, 25 wafers are stored.
Place several carriers that can hold a wafer
And a cleaning unit provided with a processing unit for performing a predetermined cleaning process and a drying process on the wafer. Have been. In such a cleaning system, the transfer of the wafer between the processing units of the take-out storage unit and the cleaning processing unit is performed by stacking the first arm, the second arm, and the third arm holding the wafer in order from the top. This is performed by the transport device arranged.

【0004】この搬送装置は,中段の第2のアーム及び
下段の第3のアームで,取出収納部に載置されたキャリ
アから洗浄前のウェハを取り出し,各処理装置に搬送す
る動作を行う。一方,予定していた処理工程が終了する
と,ウェハの清浄度の維持から,上からパーティクルが
落ちてくる心配のない上段の第1のアームで,最後に処
理を施す処理装置からウェハを搬出し,取出収納部に載
置されたキャリアに収納する動作を行う。このように第
1のアームと,第2のアーム及び第3のアームとを,処
理工程の前後で使い分けている。
[0004] In this transfer device, an unwashed wafer is taken out of a carrier placed in a take-out / storage unit by a second arm in the middle stage and a third arm in the lower stage, and the wafer is transferred to each processing unit. On the other hand, when the scheduled processing step is completed, the wafer is unloaded from the processing apparatus that performs the last processing by the first arm at the upper stage where there is no fear of particles falling from above in order to maintain the cleanliness of the wafer. , And performs an operation of storing in the carrier mounted on the unloading storage section. Thus, the first arm, the second arm, and the third arm are selectively used before and after the processing step.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで,図18に示
すように,従来の搬送装置100の搬送工程では,最後
に処理を施す処理装置101からウェハWを搬出するの
は,第1のアーム102と決まっているものの,この処
理装置101にウェハWを搬入するのは,第2のアーム
103又は第3のアーム104のどちらか特に決まって
いない。しかしながら,処理装置101から洗浄処理後
のウェハを搬出し,処理装置101に洗浄処理前のウェ
ハを搬入する入れ替え時に,近接した第1のアーム10
2及び第2のアーム103だけでなく,隔離した第1の
アーム102及び第3のアーム104でも交互に使用で
きるように,ウェハWの搬入出口105の開口面積が広
くなっている。これにより,ウェハの搬入出の際には,
処理装置101の内部雰囲気と外部雰囲気とが連通しや
すくなり,処理装置101の気密性を低下させる。
As shown in FIG. 18, in the transfer process of the conventional transfer device 100, the first arm 102 unloads the wafer W from the processing device 101 which performs the processing last. However, it is not specified whether the second arm 103 or the third arm 104 is to carry the wafer W into the processing apparatus 101. However, when the wafer after the cleaning process is unloaded from the processing apparatus 101 and the wafer before the cleaning processing is loaded into the processing apparatus 101, the first arm 10 close to the first arm 10 is replaced.
The opening area of the loading / unloading port 105 for the wafer W is widened so that not only the second arm 103 and the second arm 103 but also the isolated first arm 102 and the third arm 104 can be used alternately. As a result, when loading and unloading wafers,
The internal atmosphere and the external atmosphere of the processing apparatus 101 are easily communicated with each other, and the airtightness of the processing apparatus 101 is reduced.

【0006】また,この処理装置101において,搬入
出口105が第1のアーム102,第2のアーム103
及び第3のアーム104の3段分の高さに対応できるだ
けの,縦幅を有しているため,洗浄処理中には搬入出口
105を塞ぎ,洗浄処理前後は搬入出口105を開放す
るシャッタ106の昇降距離が,長くなる。これによ
り,シャッタ106の昇降移動に時間がかかる。通常,
処理装置101の躯体構造等は,量産し易いように規格
化されており,洗浄処理部に備えられた他の処理装置の
搬入出口も同様の縦幅になっており,従来の処理装置1
01が有している問題点は,洗浄処理部に備えられたそ
の他処理装置も同様に有することになる。洗浄処理シス
テム全体で観ると,かなりのスループットの損失となり
改善が望まれている。
In the processing apparatus 101, the loading / unloading port 105 is connected to the first arm 102 and the second arm 103.
And the third arm 104 has a vertical width enough to cope with the height of three steps. Therefore, the shutter 106 closes the loading / unloading port 105 during the cleaning process and opens the loading / unloading port 105 before and after the cleaning process. The ascent / descent distance becomes longer. Thus, it takes time to move the shutter 106 up and down. Normal,
The structure of the processing apparatus 101 is standardized so that it can be easily mass-produced, and the loading / unloading ports of other processing apparatuses provided in the cleaning processing unit have the same vertical width.
The problem of 01 is that it also has other processing devices provided in the cleaning processing unit. Looking at the entire cleaning processing system, a considerable loss of throughput is required, and improvement is desired.

【0007】そして,処理装置100内にウェハWを搬
入出する際において,第2のアーム103によってウェ
ハWを処理装置100に搬入し,第1のアーム102に
よってウェハWを処理装置100から搬出する搬送工程
に比べ,第3のアーム104によってウェハWを処理装
置100に搬入し,第1のアーム102によってウェハ
Wを処理装置100から搬出する搬送工程は,全体的に
搬送装置100の上下方向の移動距離が長くなり,スル
ープットの低下を招くおそれがある。
When the wafer W is loaded and unloaded into the processing apparatus 100, the wafer W is loaded into the processing apparatus 100 by the second arm 103 and the wafer W is unloaded from the processing apparatus 100 by the first arm 102. Compared to the transfer step, the transfer step of loading the wafer W into the processing apparatus 100 by the third arm 104 and unloading the wafer W from the processing apparatus 100 by the first arm 102 is entirely performed in the vertical direction of the transfer apparatus 100. There is a possibility that the moving distance becomes longer and the throughput is reduced.

【0008】従って本発明は,従来の処理装置が有する
上記問題点に鑑みてなされたものであり,その目的は,
処理装置における基板の搬入出に係る時間を短縮し,所
定の手順で最後の処理装置に対しては第2のアーム及び
第1のアームで基板の搬入出を行う,基板の搬送方法及
び処理システムを提供することにある。
[0008] Accordingly, the present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the conventional processing apparatus, and has as its object
A substrate transfer method and a processing system, wherein a time required for loading and unloading a substrate in a processing apparatus is reduced, and a substrate is loaded and unloaded by a second arm and a first arm with respect to a last processing apparatus in a predetermined procedure. Is to provide.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
めに,請求項1の発明は,基板が取り出されると共に,
基板が収納される取出収納部と,基板の搬入出口を開閉
する開閉機構を備えた処理装置を所定の手順に従って基
板を処理できるように複数配置した処理部との間で,上
から順に重ねるように配置された第1のアーム,第2の
アーム,第3のアームによって基板を搬送する搬送方法
において,所定の手順に必要な処理装置の数が全部で奇
数個の場合には,前記第2のアームによって前記取出収
納部から基板を取り出し,所定の手順で奇数番目の処理
装置へは前記第2のアームによって基板を搬入し,所定
の手順で最後の処理装置を除いた奇数番目の処理装置か
らは第3のアームによって基板を搬出し,所定の手順で
偶数番目の処理装置へは前記第3のアームによって基板
を搬入し,所定の手順で偶数番目の処理装置からは前記
第2のアームによって基板を搬出し,所定の手順で最後
の処理装置からは前記第1のアームによって基板を搬出
し,前記取出収納部に収納する工程に切り換え,所定の
手順に必要な処理装置の数が全部で偶数個の場合には,
前記第3のアームによって前記取出収納部から基板を取
り出し,所定の手順で奇数番目の処理装置へは前記第3
のアームによって基板を搬入し,所定の手順で奇数番目
の処理装置からは前記第2のアームによって基板を搬出
し,所定の手順で偶数番目の処理装置へは前記第2のア
ームによって基板を搬入し,所定の手順で最後の処理装
置を除いた偶数番目の処理装置からは前記第3のアーム
によって基板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置か
らは前記第1のアームによって基板を搬出し,前記取出
収納部に収納する工程に切り換えることを特徴とする。
Means for Solving the Problems To solve the above-mentioned problems, the invention of claim 1 provides a method for removing a substrate,
A processing unit provided with an opening / closing mechanism for opening / closing the substrate loading / unloading unit for storing the substrate and a processing unit having a plurality of processing units arranged so as to process the substrate in accordance with a predetermined procedure are stacked in order from the top. In the transfer method for transferring a substrate by the first arm, the second arm, and the third arm arranged in the second step, if the total number of processing apparatuses required for a predetermined procedure is an odd number, the second The substrate is taken out of the take-out / storage section by the arm of the above, the substrate is carried into the odd-numbered processing device by a predetermined procedure by the second arm, and the odd-numbered processing device excluding the last processing device by the predetermined procedure. The substrate is carried out by a third arm from the third arm, the substrate is carried into the even-numbered processing device by a predetermined procedure, and the second arm is carried out by the third arm from a predetermined procedure. By Then, the substrate is unloaded by a predetermined procedure, and the substrate is unloaded from the last processing apparatus by the first arm and switched to the step of storing the substrate in the unloading storage section. In the case of even number,
The third arm takes out the substrate from the take-out / storage unit and sends the substrate to the odd-numbered processing apparatus in a predetermined procedure.
The substrate is carried in by the predetermined arm, the substrate is carried out from the odd-numbered processing device by the second arm in a predetermined procedure, and the substrate is carried into the even-numbered processing device by the second arm in a predetermined procedure. Then, the substrate is unloaded by the third arm from the even-numbered processing device except for the last processing device in a predetermined procedure, and the substrate is unloaded by the first arm from the last processing device in a predetermined procedure. Then, the process is switched to a process of storing the product in the removal storage unit.

【0010】かかる方法によれば,所定の手順に必要な
処理装置の数が全部で奇数個の場合には,最初に第2の
アームによって取出収納部から基板を取り出し,1番目
の処理装置に基板を搬入する。1番目の処理装置で所定
の処理が終了した後,第3のアームによって,1番目の
処理装置から基板を搬出し,2番目の処理装置に基板を
搬入する。そして,2番目の処理装置で所定の処理が終
了した後,再び第2のアームによって,2番目の処理装
置から基板を搬出し,以後,奇数番目の処理装置と偶数
番目の処理装置とで,上記の如く搬送工程が繰り返され
ることになる。そして,最後の処理装置は必然的に奇数
番目の処理装置になるので,第2のアームによって基板
を搬入することになる。最後の処理装置で所定の処理が
終了した後,第1のアームによって,最後の処理装置か
ら基板を搬出し,取出収納部に基板を収納する。
According to this method, when the number of processing devices required for a predetermined procedure is odd in total, the substrate is first taken out of the unloading and storing section by the second arm, and the substrate is transferred to the first processing device. The substrate is loaded. After the predetermined processing is completed in the first processing apparatus, the substrate is carried out of the first processing apparatus by the third arm and is carried in to the second processing apparatus. Then, after the predetermined processing is completed in the second processing apparatus, the substrate is again carried out from the second processing apparatus by the second arm, and thereafter, the odd-numbered processing apparatus and the even-numbered processing apparatus perform the processing. The transport process is repeated as described above. Since the last processing device is necessarily an odd-numbered processing device, the substrate is loaded by the second arm. After the predetermined processing is completed in the last processing apparatus, the substrate is unloaded from the last processing apparatus by the first arm and is stored in the unloading storage unit.

【0011】一方,所定の手順に必要な処理装置の数が
全部で偶数個の場合には,最初に第3のアームによって
取出収納部から基板を取り出し,1番目の処理装置に基
板を搬入する。1番目の処理装置で所定の処理が終了し
た後,第2のアームによって,1番目の処理装置から基
板を搬出し,2番目の処理装置に基板を搬入する。そし
て,2番目の処理装置で所定の処理が終了した後,再び
第3のアームによって,2番目の処理装置から基板を搬
出し,以後,奇数番目の処理装置と偶数番目の処理装置
とで,上記の如く搬送工程が繰り返されることになる。
そして,最後の処理装置は必然的に偶数番目の処理装置
になるので,第2のアームによって基板を搬入すること
になる。最後の処理装置で所定の処理が終了した後,第
1のアームによって,最後の処理装置から基板を搬出
し,取出収納部へ基板を収納する。こうして,所定の手
順に必要な処理装置の数が奇数又は偶数にかかわらず,
所定の手順で最後の処理装置を除いた処理装置では,第
2のアーム及び第3のアームを交互に使用してウェハの
搬入出を行い,所定の手順で最後の処理装置では,第1
のアーム及び第2のアームを交互に使用してウェハの搬
入出を行う。そして,これらのことは,基板の搬入出口
を,アーム2段分の高さに対応できるだけの縦幅にすれ
ば,十分な基板の搬入出を行えることを意味する。従っ
て,例えば,搬入出口を開閉する開閉機構は,従来に比
べて,搬入出口を速やかに開閉することができるように
なり,処理装置におけるウェハの搬入出に係る時間を短
縮することができる。また,搬入出口の開口面積は小さ
くなり,例えば,薬液成分を含んだ処理装置の内部雰囲
気が外部雰囲気に拡散したり,外部のパーティクル等が
処理装置の内部に侵入することを最小限に押さえること
ができる。また,最後の処理装置では,常に,第2のア
ーム及び第1のアームのアーム2段分の移動距離で済む
ようになる。
On the other hand, when the number of processing devices required for the predetermined procedure is an even number in total, the substrate is first taken out of the take-out / storage section by the third arm, and the substrate is carried into the first processing device. . After the predetermined processing is completed in the first processing apparatus, the substrate is carried out of the first processing apparatus by the second arm, and is carried in to the second processing apparatus. Then, after the predetermined processing is completed in the second processing device, the substrate is again carried out from the second processing device by the third arm, and thereafter, the odd-numbered processing device and the even-numbered processing device perform the processing. The transport process is repeated as described above.
Since the last processing device is necessarily an even-numbered processing device, the substrate is loaded by the second arm. After the predetermined processing is completed in the last processing apparatus, the substrate is unloaded from the last processing apparatus by the first arm and stored in the unloading and storing section. Thus, regardless of whether the number of processing units required for a given procedure is odd or even,
In the processing apparatus except for the last processing apparatus in the predetermined procedure, the second arm and the third arm are used alternately to load and unload the wafer, and in the predetermined processing procedure, the first processing apparatus performs the first processing apparatus.
The wafer is loaded and unloaded by alternately using the second arm and the second arm. These facts mean that sufficient loading / unloading of the substrate can be performed by setting the loading / unloading port of the substrate to a vertical width that can correspond to the height of two arms. Therefore, for example, an opening / closing mechanism for opening / closing the loading / unloading port can open / close the loading / unloading port more quickly than before, and the time required for loading / unloading the wafer in the processing apparatus can be shortened. In addition, the opening area of the loading / unloading port is reduced, for example, minimizing the diffusion of the internal atmosphere of the processing equipment containing chemical components into the external atmosphere and the intrusion of external particles and the like into the processing equipment. Can be. Further, in the last processing apparatus, the movement distance of two steps of the second arm and the first arm is always sufficient.

【0012】請求項2の発明は,基板が取り出されると
共に,基板が収納される取出収納部と,基板の搬入出口
を開閉する開閉機構を備えた処理装置を所定の手順に従
って基板を処理できるように複数配置した処理部との間
で,上から順に重ねるように配置された第1のアーム,
第2のアーム,第3のアームと,上から順に重ねるよう
に配置された第4のアーム,第5のアームとによって基
板を搬送する搬送方法において,所定の手順に必要な処
理装置の数が全部で奇数個の場合には,前記第5のアー
ムによって前記取出収納部から基板を取り出し,その後
に前記第2のアームに受け渡し,所定の手順で奇数番目
の処理装置へは前記第2のアームによって基板を搬入
し,所定の手順で最後の処理装置を除いた奇数番目の処
理装置からは第3のアームによって基板を搬出し,所定
の手順で偶数番目の処理装置へは前記第3のアームによ
って基板を搬入し,所定の手順で偶数番目の処理装置か
らは前記第2のアームによって基板を搬出し,所定の手
順で最後の処理装置からは前記第1のアームによって基
板を搬出し,その後に前記第4のアームに受け渡し,前
記第4のアームによって前記取出収納部に基板を収納す
る工程に切り換え,所定の手順に必要な処理装置の数が
全部で偶数個の場合には,前記第5のアームによって前
記取出収納部から基板を取り出し,その後に前記第3の
アームに受け渡し,所定の手順で奇数番目の処理装置へ
は前記第3のアームによって基板を搬入し,所定の手順
で奇数番目の処理装置からは前記第2のアームによって
基板を搬出し,所定の手順で偶数番目の処理装置へは前
記第2のアームによって基板を搬入し,所定の手順で最
後の処理装置を除いた偶数番目の処理装置からは前記第
3のアームによって基板を搬出し,所定の手順で最後の
処理装置からは前記第1のアームによって基板を搬出
し,その後に前記第4のアームに受け渡し,前記第4の
アームによって前記取出収納部に基板を収納する工程に
切り換えることを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, a substrate is taken out, and a processing apparatus provided with an unloading and storing section for storing the substrate and an opening / closing mechanism for opening and closing the substrate loading / unloading port can process the substrate according to a predetermined procedure. A first arm disposed so as to be overlapped in order from the top with a plurality of processing units disposed in
In the transfer method for transferring a substrate by the second arm, the third arm, and the fourth arm and the fifth arm arranged so as to be sequentially stacked from the top, the number of processing apparatuses required for a predetermined procedure is reduced. In the case of an odd number in total, the fifth arm takes out the substrate from the take-out / storing section, and then transfers the substrate to the second arm, and sends the second arm to the odd-numbered processing device in a predetermined procedure. The substrate is carried in by a predetermined procedure, and the substrate is carried out by a third arm from an odd-numbered processing apparatus except for the last processing apparatus in a predetermined procedure, and is transferred to an even-numbered processing apparatus by a predetermined procedure. The substrate is carried in by a predetermined procedure, the substrate is carried out from the even-numbered processing apparatus by the second arm in a predetermined procedure, and the substrate is carried out by the first arm from the last processing apparatus in a predetermined procedure. The process is transferred to the fourth arm, and the process is switched to the process of storing the substrate in the unloading and storing section by the fourth arm. If the total number of processing devices required for a predetermined procedure is an even number, the fifth process is performed. The substrate is taken out of the unloading and storing section by the arm, and then transferred to the third arm. The substrate is loaded into the odd-numbered processing device by the third arm in a predetermined procedure, and the odd-numbered substrate is processed by the third arm. The substrate is unloaded from the processing apparatus by the second arm, the substrate is loaded into the even-numbered processing apparatus by the second arm in a predetermined procedure, and the even-numbered processing apparatus is removed by the predetermined procedure except for the last processing apparatus. The substrate is carried out of the third processing apparatus by the third arm, the substrate is carried out of the last processing apparatus by the first arm in a predetermined procedure, and then transferred to the fourth arm. Characterized in that the switching to the step of storing the substrate to the takeout housing part by said fourth arm.

【0013】かかる方法によれば,第5のアームによっ
て取出収納部から処理前の基板を取り出すと共に,第4
のアームによって取出収納部に処理後の基板を収納し,
第1のアーム,第2のアーム及び第3のアームによっ
て,所定の手順で処理装置に対して基板を搬入出するの
で,請求項1と同様にスループットを向上させ,薬液雰
囲気の拡散やパーティクル等の侵入を最小限に押さえる
ことができる。
According to this method, the unprocessed substrate is taken out of the take-out and storage section by the fifth arm, and the fourth arm is used.
The processed substrate is stored in the unloading storage section by the arm of
The first arm, the second arm, and the third arm carry the substrate in and out of the processing apparatus in a predetermined procedure, so that the throughput is improved as in the case of the first embodiment, and the diffusion of the chemical solution atmosphere, particles, etc. Intrusion can be minimized.

【0014】請求項2に記載の搬送方法において,請求
項3に記載したように,前記第1のアーム,第2のアー
ム,第3のアームと,前記第4のアーム,第5のアーム
との間の基板の受け渡しをバッファ部を介して行っても
良い。
According to a second aspect of the present invention, the first arm, the second arm and the third arm, and the fourth arm and the fifth arm are connected to each other. May be transferred via the buffer unit.

【0015】請求項4に記載したように,前記処理装置
においては,基板の表面を処理することが好ましい。な
お,基板の表面とは,基板の上面と下面の一方又は両方
のことを意味するものとする。
According to a fourth aspect of the present invention, in the processing apparatus, it is preferable to process a surface of the substrate. The surface of the substrate means one or both of the upper surface and the lower surface of the substrate.

【0016】また,請求項5の発明は,基板が取り出さ
れると共に,基板が収納される取出収納部と,基板の搬
入出口を開閉する開閉機構を備えた処理装置を所定の手
順に従って基板を処理できるように複数配置した処理部
と,上から順に重ねるように配置された第1のアーム,
第2のアーム,第3のアームによって基板を搬送する搬
送装置とを備えた基板の処理システムにおいて,所定の
手順に必要な処理装置の数が全部で奇数個の場合には,
前記第2のアームによって前記取出収納部から基板を取
り出し,所定の手順で奇数番目の処理装置へは前記第2
のアームによって基板を搬入し,所定の手順で最後の処
理装置を除いた奇数番目の処理装置からは前記第3のア
ームによって基板を搬出し,所定の手順で偶数番目の処
理装置へは前記第3のアームによって基板を搬入し,所
定の手順で偶数番目の処理装置からは前記第2のアーム
によって基板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置か
らは前記第1のアームによって基板を搬出し,前記取出
収納部に収納するように前記搬送装置を構成し,所定の
手順に必要な処理装置の数が全部で偶数個の場合には,
前記第3のアームによって前記取出収納部から基板を取
り出し,所定の手順で奇数番目の処理装置へは前記第3
のアームによって基板を搬入し,所定の手順で奇数番目
の処理装置からは前記第2のアームによって基板を搬出
し,所定の手順で偶数番目の処理装置へは前記第2のア
ームによって基板を搬入し,所定の手順で最後の処理装
置を除いた偶数番目の処理装置からは前記第3のアーム
によって基板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置か
らは前記第1のアームによって基板を搬出し,前記取出
収納部に収納するように前記搬送装置を構成したことを
特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a processing apparatus having a take-out / reception part for taking out a substrate and storing the substrate, and an opening / closing mechanism for opening / closing a substrate loading / unloading port. A plurality of processing units arranged so as to be capable of being arranged, and a first arm arranged so as to be overlapped in order from the top,
In a substrate processing system including a transfer device for transferring a substrate by the second arm and the third arm, if the total number of processing devices required for a predetermined procedure is an odd number,
The second arm takes out the substrate from the take-out / storage unit and sends the substrate to the odd-numbered processing apparatus in a predetermined procedure.
The substrate is carried in by the third arm, the substrate is carried out by the third arm from the odd-numbered processing apparatus except for the last processing apparatus in a predetermined procedure, and the substrate is carried out to the even-numbered processing apparatus by the predetermined procedure. The substrate is carried in by the third arm, the substrate is carried out by the second arm from the even-numbered processing device in a predetermined procedure, and the substrate is carried out by the first arm from the last processing device in the predetermined procedure. When the transfer device is configured to be stored in the unloading storage unit and the number of processing devices required for a predetermined procedure is an even number in total,
The third arm takes out the substrate from the take-out / storage unit and sends the substrate to the odd-numbered processing apparatus in a predetermined procedure.
The substrate is carried in by the predetermined arm, the substrate is carried out from the odd-numbered processing device by the second arm in a predetermined procedure, and the substrate is carried into the even-numbered processing device by the second arm in a predetermined procedure. Then, the substrate is unloaded by the third arm from the even-numbered processing device except for the last processing device in a predetermined procedure, and the substrate is unloaded by the first arm from the last processing device in a predetermined procedure. The transfer device is configured to be stored in the removal storage unit.

【0017】かかる構成によれば,請求項1に記載の搬
送方法を好適に実施することができる。これにより,所
定の手順に必要な処理装置の数が奇数又は偶数にかかわ
らず,最後の処理装置では,搬送装置の昇降動作は,ア
ーム2段分の移動距離で済む。従って,搬送装置の高耐
久性や処理システムの省力エネルギー化を実現できる。
また,上段の第1のアームによって基板を取出収納部に
収納するので,例えばアームによる発塵が基板に対して
上から落下することがない。従って,搬送装置は,清浄
度を保ちながら例えば処理後の基板を取出収納部に収納
することができる。
According to this configuration, the transfer method according to the first aspect can be suitably implemented. Thus, regardless of whether the number of processing devices required for the predetermined procedure is an odd number or an even number, in the last processing device, the lifting / lowering operation of the transfer device can be performed only by the movement distance of two arms. Therefore, high durability of the transfer device and energy saving of the processing system can be realized.
Further, since the substrate is stored in the take-out storage section by the first arm at the upper stage, dust generated by the arm, for example, does not drop from above the substrate. Therefore, the transfer device can, for example, store the processed substrate in the storage unit while maintaining the cleanliness.

【0018】請求項6の発明は,基板が取り出されると
共に,基板が収納される取出収納部と,基板の搬入出口
を開閉する開閉機構を備えた処理装置を所定の手順に従
って基板を処理できるように複数配置した処理部と,上
から順に重ねるように配置された第1のアーム,第2の
アーム,第3のアームによって基板を搬送する第1の搬
送装置と,上から順に重ねるように配置された第4のア
ーム,第5のアームによって基板を搬送する第2の搬送
装置とを備えた基板の処理システムにおいて,所定の手
順に必要な処理装置の数が全部で奇数個の場合には,前
記第5のアームによって前記取出収納部から基板を取り
出し,その後に前記第2のアームに受け渡し,所定の手
順で奇数番目の処理装置へは前記第2のアームによって
基板を搬入し,所定の手順で最後の処理装置を除いた奇
数番目の処理装置からは前記第3のアームによって基板
を搬出し,所定の手順で偶数番目の処理装置へは前記第
3のアームによって基板を搬入し,所定の手順で偶数番
目の処理装置からは前記第2のアームによって基板を搬
出し,所定の手順で最後の処理装置からは前記第1のア
ームによって基板を搬出し,その後に前記第4のアーム
に受け渡し,前記第4のアームによって前記取出収納部
に基板を収納するように前記第1の搬送装置及び第2の
搬送装置を構成し,所定の手順に必要な処理装置の数が
全部で偶数個の場合には,前記第5のアームによって前
記取出収納部から基板を取り出し,その後に前記第3の
アームに受け渡し,所定の手順で奇数番目の処理装置へ
は前記第3のアームによって基板を搬入し,所定の手順
で奇数番目の処理装置からは前記第2のアームによって
基板を搬出し,所定の手順で偶数番目の処理装置へは前
記第2のアームによって基板を搬入し,所定の手順で最
後の処理装置を除いた偶数番目の処理装置からは前記第
3のアームによって基板を搬出し,所定の手順で最後の
処理装置からは前記第1のアームによって基板を搬出
し,その後に前記第4のアームに受け渡し,前記第4の
アームによって前記取出収納部に基板を収納するように
前記第1の搬送装置及び第2の搬送装置を構成したこと
を特徴とする。
According to a sixth aspect of the present invention, a substrate is taken out, and a processing apparatus having an unloading and storing portion for storing the substrate and an opening / closing mechanism for opening and closing the substrate loading / unloading port can process the substrate according to a predetermined procedure. A plurality of processing units, and a first transfer device for transferring a substrate by a first arm, a second arm, and a third arm arranged so as to be sequentially stacked from the top, and a processing unit arranged so as to be sequentially stacked from the top. In a substrate processing system provided with a fourth transfer device and a second transfer device for transferring a substrate by the fifth arm, if the total number of processing devices required for a predetermined procedure is an odd number, The substrate is taken out of the take-out / storage section by the fifth arm, and then transferred to the second arm, and the substrate is loaded into the odd-numbered processing apparatus by the second arm in a predetermined procedure. The substrate is carried out by the third arm from the odd-numbered processing device except for the last processing device in the procedure described above, and the substrate is carried into the even-numbered processing device by the third arm in a predetermined procedure. The substrate is carried out of the even-numbered processing apparatus by the second arm in a predetermined procedure, and the substrate is carried out of the last processing apparatus by the first arm in a predetermined procedure. And the first transfer device and the second transfer device are configured to store the substrate in the unloading storage section by the fourth arm, and the total number of processing devices required for a predetermined procedure is an even number. In the case of a single unit, the substrate is taken out of the take-out / storage unit by the fifth arm and then transferred to the third arm, and the substrate is transferred to the odd-numbered processing apparatus by the third arm in a predetermined procedure. Then, the substrate is carried out from the odd-numbered processing device by the second arm in a predetermined procedure, and the substrate is carried into the even-numbered processing device by the second arm in a predetermined procedure. The substrate is unloaded by the third arm from the even-numbered processing device excluding the last processing device, and the substrate is unloaded by the first arm from the last processing device in a predetermined procedure. The first transfer device and the second transfer device are configured so as to transfer the substrate to a fourth arm and store the substrate in the unloading storage section by the fourth arm.

【0019】かかる構成によれば,請求項2に記載の搬
送方法を好適に実施することができる。また,第1の搬
送装置の高耐久性や処理システムの省力エネルギー化を
実現できる。また,上段の第4のアームによって基板を
取出収納部に収納するので,第2の搬送装置は,清浄度
を保ちながら例えば処理後の基板を取出収納部に収納す
ることができる。
According to this configuration, the transfer method according to the second aspect can be suitably implemented. Further, high durability of the first transfer device and energy saving of the processing system can be realized. In addition, since the substrate is stored in the removal storage unit by the fourth arm at the upper stage, the second transfer device can store, for example, the processed substrate in the removal storage unit while maintaining the cleanliness.

【0020】請求項7に記載したように,前記第1の搬
送装置と前記第2の搬送装置との間の基板の受け渡しを
介するバッファ部を設けても良い。
According to a seventh aspect of the present invention, a buffer unit may be provided for transferring the substrate between the first transfer device and the second transfer device.

【0021】請求項8に記載したように,前記処理装置
においては,基板の表面を処理することが好ましい。な
お,基板の表面とは,請求項4と同様に,基板の上面と
下面の一方又は両方のことを意味するものとする。
In the processing apparatus, it is preferable that the surface of the substrate is processed. The surface of the substrate means one or both of the upper surface and the lower surface of the substrate, as in the fourth aspect.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】以下,本発明の好ましい実施の形
態を,基板の一例としてウェハを洗浄処理する処理装置
を複数備えた洗浄処理システムに基づいて説明する。図
1は,洗浄処理システム1の平面図であり,図2は,そ
の斜視図である。この洗浄処理システム1は,キャリア
C単位でウェハWを搬入し,ウェハWの表面を一枚ずつ
洗浄,乾燥を行い,キャリアC単位でウェハWを搬出す
る構成になっている。なお,ここでウェハWの表面と
は,ウェハWの上面と下面の一方又は両方のことを意味
するものとする。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described based on a cleaning system provided with a plurality of processing apparatuses for cleaning a wafer as an example of a substrate. FIG. 1 is a plan view of the cleaning processing system 1, and FIG. 2 is a perspective view thereof. The cleaning processing system 1 is configured to carry in the wafer W in units of the carrier C, clean and dry the surface of the wafer W one by one, and carry out the wafer W in units of the carrier C. Here, the front surface of the wafer W means one or both of the upper surface and the lower surface of the wafer W.

【0023】この洗浄処理システム1は,ウェハWを収
納するキャリアCを載置する取出収納部2と,取出収納
部2に載置されたキャリアCから処理工程前の一枚ずつ
ウェハWを取り出すと共に,処理工程後のウェハWをキ
ャリアC内に一枚ずつ収納する搬送装置3と,ウェハW
に対して所定の洗浄処理,乾燥処理を行う各処理装置6
〜11を備えた洗浄処理部4とを備えている。
In the cleaning processing system 1, a take-out storage unit 2 on which a carrier C for storing a wafer W is placed, and a wafer W before a processing step is taken out from the carrier C mounted on the take-out storage unit 2. And a transfer device 3 for storing the wafers W after the processing step one by one in a carrier C,
Each processing device 6 that performs a predetermined cleaning process and drying process on the
And a cleaning processing unit 4 provided with the cleaning processing unit 11.

【0024】取出収納部2は,ウェハWを25枚収納し
たキャリアCを2個載置できる構成になっている。図1
に示すように,さらに,取出収納部2は,取出領域12
と収納領域13とに区画されている。取出領域12は,
洗浄処理システム1外から搬送されてきた洗浄前のウェ
ハWを25枚収納したキャリアCを載置し,収納領域1
3は,洗浄処理システム1内で洗浄処理されたウェハW
を収納可能なキャリアCを載置する構成になっている。
こうして取出収納部2において,洗浄前のウェハWをキ
ャリアC単位で洗浄処理システム1に搬入して洗浄に付
するまでの動作が行われ,また,洗浄処理部4で洗浄,
乾燥されたウェハWをキャリアCに装填後キャリアC単
位で搬出するようになっている。
The unloading and storing section 2 has a configuration in which two carriers C storing 25 wafers W can be placed. FIG.
Further, as shown in FIG.
And a storage area 13. The extraction area 12
A carrier C containing 25 wafers W before cleaning carried from outside the cleaning system 1 is placed in the storage area 1.
3 is a wafer W cleaned in the cleaning system 1
Is configured to mount a carrier C capable of storing the information.
In the unloading and storing section 2, the operation from loading the wafer W before cleaning into the cleaning processing system 1 in units of carriers C and applying the cleaning to the cleaning processing system 1 is performed.
After the dried wafer W is loaded into the carrier C, it is carried out in units of the carrier C.

【0025】搬送装置3は,洗浄処理システム1では,
取出領域12のキャリアCから取り出したウェハWを所
定の手順に従って処理装置6〜8の間で搬送した後に,
収納領域13のキャリアCにウェハWを収納するまでの
搬送工程を行うように構成されている。
In the cleaning system 1, the transfer device 3
After transferring the wafer W taken out of the carrier C in the take-out area 12 between the processing devices 6 to 8 according to a predetermined procedure,
The transfer process until the wafer W is stored in the carrier C in the storage area 13 is performed.

【0026】洗浄処理部4には,処理装置6,7,8
が,所定の手順に従って処理を行えるように横並びに配
置されている。これらの下方には,処理装置9,10,
11が,処理装置6〜8と同様に,所定の手順に従って
処理を行えるように横並びに配置されている。そして,
処理装置6〜8及び処理装置9〜11では同時に処理が
進行できる構成になっている。なお,以下で処理装置6
〜8について述べることは,特に断りが無ければ,処理
装置9〜11にも該当するものとし,処理装置9〜11
の重複説明を省略する。
The cleaning unit 4 includes processing units 6, 7, 8
Are arranged side by side so that processing can be performed according to a predetermined procedure. Below these, the processing units 9, 10,
Like the processing devices 6 to 8, 11 are arranged side by side so that processing can be performed according to a predetermined procedure. And
The processing devices 6 to 8 and the processing devices 9 to 11 are configured so that processing can proceed simultaneously. The processing device 6 will be described below.
Unless otherwise specified, the description of the processing devices 9 to 11 also applies to the processing devices 9 to 11, and the processing devices 9 to 11
Is omitted.

【0027】なお以上の配列,これら処理装置の組合わ
せは,ウェハWに対する洗浄処理の種類によって任意に
組み合わせることができる。例えば,ある処理装置を減
じたり,逆にさらに他の処理装置を付加してもよい。さ
らに,この洗浄処理システム1は,所定の手順に従い,
ウェハWを処理するのに必要な処理装置の数を1個,2
個又は3個に変更できるようになっている。例えば,処
理装置7,8のみでウェハWの洗浄処理を行ってもよい
し,処理装置6〜8を用いてウェハWの洗浄処理を行っ
てもよい。
The above arrangement and the combination of these processing apparatuses can be arbitrarily combined depending on the type of the cleaning process for the wafer W. For example, one processing device may be reduced, or conversely, another processing device may be added. Further, the cleaning processing system 1 follows a predetermined procedure,
The number of processing devices required to process the wafer W is one, two
It can be changed to three or three. For example, the cleaning process of the wafer W may be performed only by the processing devices 7 and 8, or the cleaning process of the wafer W may be performed by using the processing devices 6 to 8.

【0028】ここで,搬送装置3の構成についてさらに
詳しく説明すると,図3に示すように,搬送装置3は,
上から順に第1のアーム20,第2のアーム21及び第
3のアーム22を基台23の上方で重ねて配置してい
る。これら第1のアーム20,第2のアーム21及び第
3のアーム22は,それぞれの基部に移動機構20a,
21a,22aを取り付け,基台23の長手方向(Y方
向)に沿って移動できるように構成されている。また,
基台23の下面は,支持部材24によって支持されてお
り,この支持部材24に内蔵された回転昇降機構(図示
ぜず)により,回転(θ方向)及び上下方向(Z方向)
に移動できるように構成されている。さらに,図2に示
すように,支持部材24は,レール25により処理装置
6〜8に沿って左右方向(X方向)に移動する搬送ベー
ス26の上面に取り付けられている。
Here, the structure of the transfer device 3 will be described in more detail. As shown in FIG.
A first arm 20, a second arm 21, and a third arm 22 are arranged above the base 23 in order from the top. The first arm 20, the second arm 21, and the third arm 22 have a moving mechanism 20a,
21a and 22a are attached, and are configured to be movable along the longitudinal direction (Y direction) of the base 23. Also,
The lower surface of the base 23 is supported by a support member 24, and is rotated (θ direction) and vertically (Z direction) by a rotation elevating mechanism (not shown) built in the support member 24.
It is configured to be able to move to. Further, as shown in FIG. 2, the support member 24 is attached to the upper surface of a transfer base 26 that moves in the left-right direction (X direction) along the processing devices 6 to 8 by rails 25.

【0029】搬送装置3は,処理装置6〜8で行われる
一連の処理工程を終了したウェハWの清浄度を維持する
ために,第1のアーム20,第2のアーム21及び第3
のアーム22を使い分けている。即ち,取出領域12の
キャリアCからウェハWを取り出し,処理装置6へのウ
ェハWの搬入及び処理装置6からのウェハWの搬出,処
理装置7へのウェハWの搬入及び処理装置7からのウェ
ハWの搬出,処理装置8へのウェハWの搬入までを,第
2のアーム21及び第3のアーム22のみで行い,処理
装置8から搬出したウェハWを収納領域12のキャリア
Cに収納するまでを,上からパーティクルが落下してく
る心配がない第1のアーム20によって行うように構成
されている。
The transfer device 3 includes a first arm 20, a second arm 21, and a third arm 21 for maintaining the cleanliness of the wafer W after the series of processing steps performed by the processing devices 6 to 8.
Arm 22 is properly used. That is, the wafer W is taken out from the carrier C in the take-out area 12, loaded with the wafer W into and out of the processing device 6, loaded with the wafer W into the processing device 7, and loaded with the wafer from the processing device 7. Unloading of the W and loading of the wafer W into the processing apparatus 8 are performed only by the second arm 21 and the third arm 22 until the wafer W unloaded from the processing apparatus 8 is stored in the carrier C in the storage area 12. Is performed by the first arm 20 which does not have a fear of particles falling from above.

【0030】ここで,所定の手順に必要な処理装置が,
処理装置6〜8であれば,その数は3個,すなわち奇数
個となる。この場合,搬送装置3は,最初に第2のアー
ム21によって,取出領域12のキャリアCからウェハ
Wを取り出すようになっている。そして,所定の手順で
奇数番目(1番目,3番目)の処理装置6,8へは第2
のアーム21によってウェハWを搬入し,最後の処理装
置8を除き処理装置6からは第3のアーム22によって
ウェハWを搬出し,所定の手順で偶数番目(2番目)の
処理装置7へは第3のアーム22によってウェハWを搬
入し,処理装置7からは第2のアーム21によってウェ
ハWを搬出するようになっている。
Here, a processing device required for a predetermined procedure is as follows.
In the case of the processing devices 6 to 8, the number is three, that is, an odd number. In this case, the transfer device 3 first takes out the wafer W from the carrier C in the take-out area 12 by the second arm 21. The odd-numbered (first and third) processing devices 6 and 8 are given a second
The wafer W is carried in by the third arm 22, and the wafer W is carried out of the processing unit 6 except for the last processing unit 8 by the third arm 22, and is transferred to the even-numbered (second) processing unit 7 in a predetermined procedure. The wafer W is carried in by the third arm 22, and the wafer W is carried out of the processing device 7 by the second arm 21.

【0031】一方,所定の手順に必要な処理装置が,処
理装置6,8又は処理装置7,8であれば,その数は2
個,いわゆる偶数個となる。この場合,搬送装置3は,
最初に第3のアーム22によって,取出領域12のキャ
リアCからウェハWを取り出すようになっている。そし
て,所定の手順で奇数番目(1番目)の処理装置6又は
7へは第3のアーム22によってウェハWを搬入し,処
理装置6又は7からは第2のアーム21によってウェハ
Wを搬出し,所定の手順で偶数番目(2番目)の処理装
置8へは第2のアーム21によってウェハWを搬入する
ようになっている。そして,所定の手順に必要な処理装
置の数にかかわらず,搬送装置3は,処理装置6〜8に
対して,ウェハWの搬入出を行い,各処理装置6〜8内
のウェハWを,所定の洗浄処理が済んだものから未だ所
定の洗浄処理が行われていないものに,適宜に入れ替え
ていくようになっている。
On the other hand, if the processing devices required for the predetermined procedure are the processing devices 6 and 8 or the processing devices 7 and 8, the number is 2
Number, so-called even number. In this case, the transport device 3
First, the wafer W is taken out of the carrier C in the take-out area 12 by the third arm 22. Then, the wafer W is loaded into the odd-numbered (first) processing device 6 or 7 by the third arm 22 in a predetermined procedure, and is unloaded by the second arm 21 from the processing device 6 or 7. The second arm 21 carries the wafer W into the even-numbered (second) processing device 8 in a predetermined procedure. Then, irrespective of the number of processing devices required for the predetermined procedure, the transfer device 3 carries in / out the wafers W to / from the processing devices 6 to 8, and transfers the wafers W in the processing devices 6 to 8 to / from the processing devices 6 to 8. The predetermined cleaning process has been completed, and the one that has not been subjected to the predetermined cleaning process is appropriately replaced.

【0032】また,洗浄処理部4に備えられた各処理装
置6〜8の構成について,図4,5を参照にして説明す
る。まず,図4は,処理装置6〜8の要部を拡大した斜
視図であり,図5は,その側面図である。処理装置6〜
8は,前面側に搬入出口6a〜8aを形成している。前
述したように搬入出口6a〜8aの縦幅は,異なるアー
ムによってウェハWの搬入出ができるように,アーム2
段分の高さを有している。即ち,例えば,図5に示すよ
うに,搬入出口6aの縦幅は,図示の如く搬送装置3が
対面した場合に,少なくとも第2のアーム21及び第3
のアーム22の2つのアームが,伸長しても処理装置6
内に侵入できるだけの必要最小限の縦幅を有している。
これにより,ウェハWの搬入出を行う場合でも,処理装
置6の内部雰囲気と外部雰囲気とが連通し難くなるよう
になっている。
The configuration of each of the processing units 6 to 8 provided in the cleaning unit 4 will be described with reference to FIGS. First, FIG. 4 is an enlarged perspective view of a main part of the processing devices 6 to 8, and FIG. 5 is a side view thereof. Processing device 6-
8 has loading / unloading ports 6a to 8a on the front side. As described above, the vertical width of the loading / unloading ports 6a to 8a is set so that the wafer W can be loaded / unloaded by different arms.
It has the height of a step. That is, for example, as shown in FIG. 5, the vertical width of the loading / unloading port 6a is such that at least the second arm 21 and the third
Even if the two arms of the arm 22 are extended, the processing device 6
It has the minimum necessary vertical width that can penetrate inside.
This makes it difficult for the internal atmosphere of the processing apparatus 6 to communicate with the external atmosphere even when the wafer W is loaded and unloaded.

【0033】図4に示すように,搬入出口6a〜8aの
いずれの下方には,図示しない駆動機構によって昇降自
在なシャッタ30が各々設けられている。この場合,シ
ャッタ30は,アーム2段分の移動距離しか昇降移動し
ないので,駆動機構に負担がかからず,昇降時間を短く
済ますことができる構成になっている。
As shown in FIG. 4, shutters 30 which can be moved up and down by a drive mechanism (not shown) are provided below each of the loading / unloading ports 6a to 8a. In this case, since the shutter 30 moves up and down only by the moving distance of two steps of the arm, no load is applied to the drive mechanism, and the up / down time can be shortened.

【0034】また,図4で実線で示したシャッタ30
は,図示しない駆動手段によって,搬入出口6a〜8a
を開放できるまで下方に,下降移動した状態を示してい
る。このようにシャッタ30を下降させた場合,搬送装
置3によって,処理装置6〜11にウェハWを搬入及び
処理装置6〜11からウェハWを搬出できる状態とな
る。また,図4中の二点鎖線で示したシャッタ30’
は,図示しない駆動手段によって,搬入出口6a〜8a
を塞ぐまで上方に,上昇移動した状態を示している。こ
のようにシャッタ30を上昇させた場合,装置内にウェ
ハWが収納されていれば,処理装置6〜8内を密封で
き,ウェハWを洗浄処理できる状態となる。なお,その
他処理装置9〜11も,処理装置6〜8も同様の構成を
有しており,シャッタ30によって搬入出口9a〜11
aを開閉自在にできるように構成されている。
The shutter 30 shown by a solid line in FIG.
Are driven by driving means (not shown) to carry-in / out ports 6a to 8a.
Shows a state in which it has been moved downward until it can be released. When the shutter 30 is lowered in this manner, the transport device 3 is in a state where the wafer W can be loaded into the processing devices 6 to 11 and unloaded from the processing devices 6 to 11. Also, a shutter 30 'indicated by a two-dot chain line in FIG.
Are driven by driving means (not shown) to carry-in / out ports 6a to 8a.
It shows a state in which it has moved upward until it closes. When the shutter 30 is raised in this way, if the wafer W is stored in the apparatus, the inside of the processing apparatuses 6 to 8 can be sealed and the wafer W can be cleaned. The other processing units 9 to 11 and the processing units 6 to 8 also have the same configuration.
a can be opened and closed freely.

【0035】次に,以上のように構成された本実施の形
態にかかる洗浄処理システム1で行われる作用について
説明する。まず,前述の洗浄処理システム1における一
連の処理工程において,図1に示したように,図示しな
い搬送ロボットが未だ洗浄されていないウェハWを例え
ば25枚ずつ収納したキャリアCを洗浄処理システム1
に搬送し取出収納部2に載置する。そして,この取出収
納部2に載置されたキャリアCからウェハWが取り出さ
れ,搬送装置3によってウェハWは洗浄処理部4に搬送
され,所定の手順に従った処理工程がウェハWに対して
行われる。
Next, the operation performed in the cleaning system 1 according to the present embodiment configured as described above will be described. First, in a series of processing steps in the above-described cleaning processing system 1, as shown in FIG. 1, a transfer robot (not shown) removes a carrier C containing, for example, 25 wafers W that have not been cleaned yet.
And placed in the unloading and storing section 2. Then, the wafer W is taken out from the carrier C placed in the take-out / storage section 2, the wafer W is transferred to the cleaning processing section 4 by the transfer device 3, and the processing step according to a predetermined procedure is performed on the wafer W. Done.

【0036】ここで,代表して処理装置6〜8での搬送
工程について説明する。処理装置6〜8の全を処理工程
で使用する場合,即ち,所定の手順に必要な処理装置6
〜8の数が全部で奇数個の場合について,図6〜11に
基づいて説明すると,取出収納部2から,第2のアーム
21によってウェハを取り出す。図6に示したように,
予め1番目の処理装置6のシャッタ30を下降移動させ
搬入出口6aを開放させて,処理装置6にウェハを搬入
する。第2アーム21を処理装置6内から退出させた
後,処理装置6のシャッタ30を上昇移動させ,搬入出
口6aを塞ぎ,処理装置6内に収納されたウェハに対し
て所定の洗浄,乾燥処理を施す。その間,取出収納部2
から,第2のアーム21によって次の新しいウェハを予
め取り出しておく。そして,処理装置6で所定の洗浄,
乾燥処理が終了した後,処理装置6のシャッタ30を下
降移動させ,搬入出口6aを開放する。図7に示したよ
うに,第3のアーム22を処理装置6内に侵入させ,第
3のアーム22によって,処理装置6からウェハを搬出
する。そして,処理装置6で次に洗浄,乾燥処理される
新しいウェハを,第2のアーム21によって処理装置6
に搬入する。
Here, the transport process in the processing devices 6 to 8 will be described as a representative. When all of the processing units 6 to 8 are used in the processing step, that is, the processing units 6 necessary for a predetermined procedure are used.
The case where the total number of .about.8 is an odd number will be described with reference to FIGS. 6 to 11. The second arm 21 takes out the wafer from the take-out storage section 2. As shown in FIG.
The wafer 30 is loaded into the processing device 6 by moving the shutter 30 of the first processing device 6 in advance to open the loading / unloading port 6a. After the second arm 21 is withdrawn from the processing apparatus 6, the shutter 30 of the processing apparatus 6 is moved up to close the loading / unloading port 6a, and the wafer stored in the processing apparatus 6 is subjected to a predetermined cleaning and drying process. Is applied. Meanwhile, take-out storage unit 2
Then, the next new wafer is taken out by the second arm 21 in advance. Then, predetermined cleaning by the processing device 6 is performed.
After the drying process is completed, the shutter 30 of the processing device 6 is moved downward to open the carry-in / out port 6a. As shown in FIG. 7, the third arm 22 is caused to enter the inside of the processing apparatus 6, and the third arm 22 unloads the wafer from the processing apparatus 6. Then, a new wafer to be subsequently cleaned and dried by the processing device 6 is transferred to the processing device 6 by the second arm 21.
Carry in.

【0037】そして,2番目の処理装置7のシャッタ3
0を下降移動させ搬入出口7aを開放させる。図8に示
したように,第3のアーム22を処理装置7内に侵入さ
せ,処理装置7にウェハを搬入する。第3のアーム22
を処理装置7内から退出させた後,処理装置7のシャッ
タ30を上昇移動させ,搬入出口7aを塞ぎ,処理装置
7内に収納されたウェハに対して所定の洗浄,乾燥処理
を施す。処理装置7で所定の洗浄,乾燥処理が終了した
後,処理装置7のシャッタ30を下降移動させ,搬入出
口7aを開放する。図9に示したように,第2のアーム
21を処理装置7内に侵入させ,処理装置7からウェハ
を搬出する。また,処理装置6から搬出され処理装置7
で次に洗浄,乾燥処理される新しいウェハを,第3のア
ーム22が既に保持している場合には,このウェハWを
処理装置7に搬入する。
Then, the shutter 3 of the second processing unit 7
0 is moved downward to open the carry-in / out port 7a. As shown in FIG. 8, the third arm 22 is made to enter the inside of the processing device 7, and a wafer is carried into the processing device 7. Third arm 22
After leaving the processing apparatus 7, the shutter 30 of the processing apparatus 7 is moved up to close the loading / unloading port 7a, and the wafer stored in the processing apparatus 7 is subjected to predetermined cleaning and drying processing. After a predetermined washing and drying process is completed in the processing device 7, the shutter 30 of the processing device 7 is moved down to open the loading / unloading port 7a. As shown in FIG. 9, the second arm 21 is caused to enter the inside of the processing device 7, and the wafer is unloaded from the processing device 7. Further, the processing device 7 is carried out of the processing device 6 and
If the third arm 22 already holds a new wafer to be subsequently cleaned and dried, the wafer W is carried into the processing apparatus 7.

【0038】そして,最後の処理装置8のシャッタ30
を下降移動させ搬入出口8aを開放させる。図10に示
したように,処理装置8は必然的に奇数番目(3番目)
の処理装置となり,第2のアーム21によってウェハを
搬入することになる。第2のアーム21を処理装置8内
から退出させた後,処理装置8のシャッタ30を上昇移
動させ,搬入出口8aを塞ぎ,処理装置8内に収納され
たウェハに対して所定の洗浄,乾燥処理を施す。処理装
置8で所定の洗浄,乾燥処理が終了した後,処理装置8
のシャッタ30を下降移動させ,搬入出口8aを開放す
る。図11に示したように,最後に第1のアーム20に
よって,処理装置8からウェハを搬出する。また,処理
装置7から搬出され処理装置8で次に洗浄,乾燥処理さ
れる新しいウェハを,第2のアーム21が既に保持して
いる場合には,このウェハを処理装置8に搬入する。そ
して,取出収納部2のキャリアCに,洗浄処理部4での
処理工程が終了したウェハを,第1のアーム21によっ
て搬入する。
Then, the shutter 30 of the last processing unit 8
Is moved downward to open the loading / unloading port 8a. As shown in FIG. 10, the processing device 8 is necessarily an odd-numbered (third)
And the wafer is carried in by the second arm 21. After the second arm 21 is withdrawn from the inside of the processing apparatus 8, the shutter 30 of the processing apparatus 8 is moved up to close the loading / unloading port 8a, and the wafer stored in the processing apparatus 8 is subjected to predetermined cleaning and drying. Perform processing. After the predetermined cleaning and drying processes are completed in the processing device 8, the processing device 8
The shutter 30 is moved downward to open the carry-in / out port 8a. As shown in FIG. 11, the wafer is finally unloaded from the processing device 8 by the first arm 20. If the second arm 21 already holds a new wafer carried out of the processing device 7 and subsequently cleaned and dried by the processing device 8, the new wafer is carried into the processing device 8. Then, the wafer, for which the processing step in the cleaning processing unit 4 has been completed, is carried into the carrier C of the unloading and storing unit 2 by the first arm 21.

【0039】一方,処理装置7,8のみを処理工程で使
用する場合,即ち,所定の手順に必要な処理装置の数が
全部で偶数個の場合について,図12〜15に基づいて
説明すると,最初に第3のアーム22によって取出収納
部2からウェハを取り出す。図12に示したように,予
め1番目の処理装置7のシャッタ30を下降移動させ搬
入出口7aを開放させて,処理装置7にウェハを搬入す
る。第3のアーム22を処理装置7内から退出させた
後,処理装置7のシャッタ30を上昇移動させ,搬入出
口7aを塞ぎ,処理装置7内に収納されたウェハに対し
て所定の洗浄,乾燥処理を施す。その間,取出収納部2
から,第3のアーム22によって次の新しいウェハを予
め取り出しておく。処理装置7で所定の洗浄,乾燥処理
が終了した後,処理装置7のシャッタ30を下降移動さ
せ,搬入出口7aを開放する。図13に示したように,
第2のアーム21を処理装置7内に侵入させ,第2のア
ーム21によって,処理装置7からウェハを搬出する。
そして,処理装置7で次に洗浄,乾燥処理される新しい
ウェハを,第3のアーム22によって処理装置7に搬入
する。
On the other hand, a case where only the processing devices 7 and 8 are used in the processing step, that is, a case where the number of processing devices required for a predetermined procedure is an even number in total, will be described with reference to FIGS. First, the wafer is taken out of the take-out storage section 2 by the third arm 22. As shown in FIG. 12, the shutter 30 of the first processing apparatus 7 is moved down in advance to open the loading / unloading port 7a, and the wafer is loaded into the processing apparatus 7. After the third arm 22 is withdrawn from the inside of the processing apparatus 7, the shutter 30 of the processing apparatus 7 is moved up to close the loading / unloading port 7a, and the wafer stored in the processing apparatus 7 is subjected to predetermined cleaning and drying. Perform processing. Meanwhile, take-out storage unit 2
Then, the next new wafer is previously taken out by the third arm 22. After a predetermined washing and drying process is completed in the processing device 7, the shutter 30 of the processing device 7 is moved down to open the loading / unloading port 7a. As shown in FIG.
The second arm 21 is caused to enter the inside of the processing device 7, and the wafer is unloaded from the processing device 7 by the second arm 21.
Then, a new wafer to be subsequently cleaned and dried by the processing device 7 is carried into the processing device 7 by the third arm 22.

【0040】そして,最後の処理装置8のシャッタ30
を下降移動させ搬入出口8aを開放させる。図14に示
したように,処理装置8は必然的に偶数番目(2番目)
の処理装置となり,第2のアーム21によってウェハを
搬入することになる。第2のアーム21を処理装置8内
から退出させた後,処理装置8のシャッタ30を上昇移
動させ,搬入出口8aを塞ぎ,処理装置8内に収納され
たウェハに対して所定の洗浄,乾燥処理を施す。処理装
置8で所定の洗浄,乾燥処理が終了した後,処理装置8
のシャッタ30を下降移動させ,搬入出口8aを開放す
る。図15に示したように,最後に第1のアーム20に
よって,処理装置8からウェハを搬出する。また,処理
装置7から搬出され処理装置8で次に洗浄,乾燥処理さ
れる新しいウェハを,第2のアーム21が既に保持して
いる場合には,このウェハを処理装置8に搬入する。そ
して,取出収納部2のキャリアCに,洗浄処理部4での
洗浄処理が終了したウェハを,第1のアーム21によっ
て搬入する。
Then, the shutter 30 of the last processing unit 8
Is moved downward to open the loading / unloading port 8a. As shown in FIG. 14, the processing device 8 is necessarily an even-numbered (second)
And the wafer is carried in by the second arm 21. After the second arm 21 is withdrawn from the inside of the processing apparatus 8, the shutter 30 of the processing apparatus 8 is moved up to close the loading / unloading port 8a, and the wafer stored in the processing apparatus 8 is subjected to predetermined cleaning and drying. Perform processing. After the predetermined cleaning and drying processes are completed in the processing device 8, the processing device 8
The shutter 30 is moved downward to open the carry-in / out port 8a. As shown in FIG. 15, the wafer is finally unloaded from the processing device 8 by the first arm 20. If the second arm 21 already holds a new wafer carried out of the processing device 7 and subsequently cleaned and dried by the processing device 8, the new wafer is carried into the processing device 8. Then, the wafer that has been subjected to the cleaning processing by the cleaning processing unit 4 is carried into the carrier C of the unloading and storing unit 2 by the first arm 21.

【0041】こうして,所定の手順に必要な処理装置の
数が奇数又は偶数にかかわらず,処理装置6,7では,
第2のアーム21及び第3のアーム22を交互に使用し
てウェハの搬入出を行い,最後の処理装置8では,第1
のアーム20及び第2のアーム21を交互に使用してウ
ェハの搬入出を行う。そして,これらのことは,ウェハ
Wの搬入出口6a〜8aを,アーム2段分の高さに対応
できるだけの縦幅にすれば,十分なウェハWの搬入出を
行えることを意味する。従って,シャッタ30の移動距
離は短縮され,シャッタ30は,従来に比べて,これら
搬入出口6a〜8aを速やかに開閉することができる。
また,搬入出口6a〜8aの開口面積は小さくなり,ウ
ェハWの搬入出の際においても,薬液成分を含んだ処理
装置6〜8の内部雰囲気が外部雰囲気に拡散したり,外
部のパーティクル等が処理装置の内部に侵入することを
最小限に押さえることができる。従って,洗浄処理を安
定して行うことができる。また,ウェハWの搬入出する
際には,いずれの処理装置6〜8のおいても,搬送装置
3の昇降動作は,アーム2段分の移動距離で済む。これ
により,搬送装置3及び洗浄処理システム1に負担がか
からない。
Thus, regardless of whether the number of processing units required for a predetermined procedure is odd or even, the processing units 6 and 7
Wafers are loaded and unloaded using the second arm 21 and the third arm 22 alternately.
The wafers are loaded and unloaded by alternately using the second arm 20 and the second arm 21. These facts indicate that if the loading / unloading ports 6a to 8a of the wafer W are set to have a vertical width which can correspond to the height of two steps of the arm, sufficient loading / unloading of the wafer W can be performed. Therefore, the moving distance of the shutter 30 is shortened, and the shutter 30 can open and close these loading / unloading ports 6a to 8a more quickly than in the related art.
Further, the opening areas of the loading / unloading ports 6a to 8a are reduced, and even when loading / unloading the wafer W, the internal atmosphere of the processing apparatus 6 to 8 containing the chemical solution component is diffused into the external atmosphere, and external particles and the like are removed. It is possible to minimize intrusion into the inside of the processing device. Therefore, the cleaning process can be performed stably. Further, when carrying in / out the wafer W, in any of the processing devices 6 to 8, the lifting / lowering operation of the transfer device 3 can be performed by the moving distance of two arms. As a result, no burden is placed on the transport device 3 and the cleaning processing system 1.

【0042】所定の手順に従って処理工程が行われた後
に,搬送装置3によって洗浄処理部4から搬出され,ウ
ェハは再びキャリアCに収納される。続いて,残りの2
4枚のウェハに対しても一枚ずつ同様な処理が行われて
いく。こうして,25枚のウェハの処理が終了すると,
キャリアC単位で洗浄処理システム1外に搬出される。
After the processing steps are performed in accordance with a predetermined procedure, the wafer is unloaded from the cleaning section 4 by the transfer device 3 and the wafer is stored again in the carrier C. Then, the remaining 2
Similar processing is performed on each of the four wafers one by one. Thus, when the processing of 25 wafers is completed,
The carrier C is carried out of the cleaning system 1 in units.

【0043】かくして,本実施の形態によれば,ウェハ
Wの搬入出口6a〜8aを,搬送装置3に備えられたア
ーム2段分の高さに対応できるだけの縦幅にすれば,十
分なウェハの搬入出を行える。従って,シャッタ30
は,従来に比べて,これら搬入出口6a〜8aを速やか
に開閉することができ,処理装置6〜8におけるウェハ
Wの搬入出に係る時間を短縮することができる。その結
果,洗浄処理システム1のスループットを向上させるこ
とが可能となる。また,搬入出口6a〜8aの開口面積
は小さくなり,ウェハWの搬入出の際においても,薬液
雰囲気の拡散やパーティクル等の侵入を最小限に押さえ
ることができる。従って,洗浄処理を安定して行うこと
ができる。また,最後の処理装置8では,搬送装置3の
昇降動作は,アーム2段分の移動距離で済む。従って,
搬送装置3の高耐久性や洗浄処理システム1の省力エネ
ルギー化を実現できる。また,上段の第1のアーム20
によって洗浄後のウェハWを取出収納部2に収納するの
で,例えばアームによる発塵がウェハWに対して上から
落下することがない。従って,搬送装置3は,清浄度を
保ちながら例えば洗浄後のウェハWを取出収納部2に収
納することができる。
Thus, according to the present embodiment, if the loading / unloading ports 6a to 8a of the wafer W are set to have a vertical width which can correspond to the height of two arms provided in the transfer device 3, a sufficient wafer can be provided. Can be loaded and unloaded. Therefore, the shutter 30
The opening and closing of the loading / unloading ports 6a to 8a can be promptly opened and closed, and the time required for loading and unloading the wafer W in the processing apparatuses 6 to 8 can be shortened as compared with the related art. As a result, the throughput of the cleaning system 1 can be improved. Further, the opening areas of the loading / unloading ports 6a to 8a are reduced, so that even when the wafer W is loaded / unloaded, diffusion of the chemical solution atmosphere and intrusion of particles and the like can be minimized. Therefore, the cleaning process can be performed stably. In addition, in the last processing device 8, the lifting and lowering operation of the transfer device 3 requires only the moving distance of two steps of the arm. Therefore,
High durability of the transfer device 3 and energy saving of the cleaning system 1 can be realized. In addition, the upper first arm 20
As a result, the wafer W after cleaning is stored in the removal storage section 2, so that dust generated by the arm, for example, does not fall on the wafer W from above. Therefore, the transfer device 3 can store, for example, the washed wafer W in the unloading storage unit 2 while maintaining the cleanliness.

【0044】次に,図16を参照にしながら他の実施の
形態にかかる洗浄処理システム40について説明する。
この洗浄処理システム40は,カセット部41と,第2
の搬送装置42と,第1の搬送装置43と,洗浄処理部
44と,バッファ部45とを備えている。カセット部4
1は,ウェハWを収納するキャリアCを載置できる構成
となっている。
Next, a cleaning system 40 according to another embodiment will be described with reference to FIG.
The cleaning system 40 includes a cassette section 41 and a second
, A first transfer device 43, a cleaning unit 44, and a buffer unit 45. Cassette unit 4
1 has a configuration in which a carrier C for accommodating a wafer W can be placed.

【0045】図17に示すように,第2の搬送装置42
は,ウェハWを保持する第4のアーム46,第5のアー
ム47を基台48の上方に重ねて配置している。これら
第4のアーム46,第5のアーム47は,移動機構46
a,47aによって基台48の長手方向(Y方向)に移
動でき,基台48は,基台48を支持する支持部材49
に内蔵された回転昇降機構(図示せず)によって回転
(θ),上下方向(Z方向)に移動でき,さらに支持部
材49は,左右方向(図16中のX方向)に移動できる
ように構成されている。そして,第2の搬送装置42
は,第5のアーム47によってキャリアCから洗浄前の
ウェハWを取り出すと共に,第4のアーム46によって
キャリアCに洗浄後のウェハWを収納する。特に上段の
第4のアーム46では,上からパーティクルが落下する
心配がないので,清浄度を保ちながら洗浄後のウェハW
をキャリアCに収納することが可能となっている。
As shown in FIG. 17, the second transfer device 42
Has a fourth arm 46 and a fifth arm 47 for holding the wafer W, which are arranged above a base 48 so as to overlap each other. The fourth arm 46 and the fifth arm 47 are provided with a moving mechanism 46.
The base 48 can be moved in the longitudinal direction (Y direction) of the base 48 by a and 47a.
The rotating member (not shown) incorporated in the device can rotate (θ) and move in the vertical direction (Z direction), and the support member 49 can move in the left and right direction (X direction in FIG. 16). Have been. Then, the second transfer device 42
The wafer W before cleaning is taken out of the carrier C by the fifth arm 47 and the cleaned wafer W is stored in the carrier C by the fourth arm 46. In particular, in the fourth arm 46 in the upper stage, there is no risk of particles falling from above, so that the wafer W
Can be stored in the carrier C.

【0046】洗浄処理部44には,処理装置50,5
1,52,53,54,55が配置されている。処理装
置50,53は,処理装置51,54は,処理装置5
2,55はそれぞれ上下2段に配置され,処理装置5
0,53は上記処理装置6と,処理装置51,54は上
記処理装置7と,処理装置52,55は上記処理装置8
と実質的に同じである。
The cleaning unit 44 includes processing units 50 and 5
1, 52, 53, 54 and 55 are arranged. The processing devices 50 and 53 are the processing devices 51 and 54, and the processing device 5 is the
2 and 55 are respectively arranged in upper and lower tiers,
Reference numerals 0 and 53 denote the processing device 6, the processing devices 51 and 54 the processing device 7, and the processing devices 52 and 55 the processing device 8
Is substantially the same as

【0047】第1の搬送装置43は,洗浄処理部44の
搬送エリア56内に設けられている。第1の搬送装置4
3は,第1のアーム57,第2のアーム58,第3のア
ーム59を基台(図示せず)の上方で重ねて配置してい
る。そして,第1のアーム57,第2アーム58,第3
のアーム59をそれぞれ前進又は後退させる進退駆動機
構(図示せず)と,基台を上昇させるZ軸駆動機構(図
示せず)と,基台をZ軸まわりに回転させるθ回転機構
(図示せず)とを備えている。
The first transfer device 43 is provided in a transfer area 56 of the cleaning section 44. First transfer device 4
In No. 3, a first arm 57, a second arm 58, and a third arm 59 are arranged so as to overlap each other above a base (not shown). Then, the first arm 57, the second arm 58, the third arm
A reciprocating drive mechanism (not shown) for moving the arm 59 forward or backward, a Z-axis drive mechanism (not shown) for raising the base, and a θ rotation mechanism (not shown) for rotating the base about the Z-axis. Zu).

【0048】第1の搬送装置43を取り囲むようにして
処理装置50〜55及びバッファ部45が配置されてい
る。バッファ部45は,搬送エリア46と搬送エリア5
6との間に設けられ,このバッファ部45を介して第2
の搬送装置42と第1の搬送装置43との間でウェハW
が受け渡される。従って,第1の搬送装置43は,バッ
ファ部45から洗浄前のウェハWを取り出すと共に,バ
ッファ部45に洗浄後のウェハWを収納し,前記搬送装
置3と同様に所定の手順に従って,バッファ部45と洗
浄処理部44との間でウェハWを搬送するように構成さ
れている。かかる構成によれば,前述した洗浄処理シス
テム1と同様に,スループットを向上させ,薬液雰囲気
の拡散やパーティクル等の侵入を最小限に押さえること
ができる。
The processing units 50 to 55 and the buffer unit 45 are arranged so as to surround the first transfer unit 43. The buffer unit 45 includes a transfer area 46 and a transfer area 5.
6 and the second buffer section 45
Between the transfer device 42 and the first transfer device 43
Is passed. Therefore, the first transfer device 43 takes out the unwashed wafer W from the buffer unit 45, stores the washed wafer W in the buffer unit 45, and follows the buffer unit 45 according to a predetermined procedure in the same manner as the transfer device 3. The wafer W is transported between the cleaning processing unit 45 and the cleaning processing unit 44. According to this configuration, similarly to the above-described cleaning processing system 1, it is possible to improve the throughput and minimize the diffusion of the chemical solution atmosphere and the invasion of particles and the like.

【0049】なお,バッファ部45を介することなく,
第2の搬送装置42と第1の搬送装置43との間でウェ
ハWを直接受け渡すようにし,第2の搬送装置42,第
1の搬送装置43を用いて,カセット部41と洗浄処理
部44との間でウェハWを搬送するように構成してもよ
い。このように構成すると,ウェハWの受け渡し時間が
短縮され,さらにスループットが向上する。
Note that, without going through the buffer unit 45,
The wafer W is directly transferred between the second transfer device 42 and the first transfer device 43, and the cassette unit 41 and the cleaning unit are used by using the second transfer device 42 and the first transfer device 43. The wafer W may be transported between the wafer W and the wafer 44. With this configuration, the delivery time of the wafer W is reduced, and the throughput is further improved.

【0050】なお,本発明の実施の形態の複数の例につ
いて説明したが,本発明は,これらの例に限定されず種
々の様態を採りうるものである。例えば,所定の手順に
必要な処理装置の数が5個,7個と増加しても,最後の
処理装置を除いた奇数番目の処理装置と偶数番目の処理
装置とで,上記の奇数個の場合の如く搬送工程を繰り返
せばよい。また,所定の手順に必要な処理装置の数が4
個,6個と増加しても,奇数番目の処理装置と最後の処
理装置を除いた偶数番目の処理装置とで,上記の偶数個
の場合の如く搬送工程を繰り返せばよい。
Although a plurality of examples of the embodiment of the present invention have been described, the present invention is not limited to these examples and can take various forms. For example, even if the number of processing units required for a predetermined procedure is increased to five or seven, the odd-numbered processing units except for the last processing unit and the even-numbered processing units are used for the odd-numbered processing units. The transporting step may be repeated as in the case. Also, the number of processing units required for a given procedure is four.
Even if the number is increased to six, even if the odd-numbered processing device and the even-numbered processing device excluding the last processing device are used, the transfer process may be repeated as in the case of the even-numbered processing device.

【0051】[0051]

【発明の効果】かくして,請求項1〜4の発明によれ
ば,基板の搬入出口を,アーム2段分の高さに対応でき
るだけの縦幅にすれば,十分な基板の搬入出を行える。
従って,例えば,処理装置の搬入出口を開閉する開閉機
構は,従来に比べて,搬入出口を速やかに開閉すること
ができるようになり,処理装置におけるウェハの搬入出
に係る時間を短縮することができる。その結果,この搬
送方法を用いた処理システム等では,そのスループット
を向上させることができる。また,搬入出口の開口面積
は小さくなり,基板の搬入出の際においても,薬液雰囲
気の拡散やパーティクル等の侵入を最小限に押さえるこ
とができる。従って,処理を安定して行うことができ
る。
As described above, according to the first to fourth aspects of the present invention, if the loading / unloading port of the substrate is made to have a vertical width which can correspond to the height of two steps of the arm, a sufficient loading / unloading of the substrate can be performed.
Therefore, for example, an opening / closing mechanism for opening / closing the loading / unloading port of the processing apparatus can open / close the loading / unloading port more quickly than before, and the time required for loading / unloading the wafer in the processing apparatus can be reduced. it can. As a result, in a processing system or the like using this transport method, the throughput can be improved. In addition, the opening area of the loading / unloading port is reduced, so that the diffusion of the chemical liquid atmosphere and the intrusion of particles and the like can be minimized even when loading / unloading the substrate. Therefore, the processing can be performed stably.

【0052】請求項5,8の発明によれば,請求項1,
4に記載の搬送方法を,請求項6,7,8の発明によれ
ば,請求項2,3,4に記載の搬送方法をそれぞれ好適
に実施することができる。これにより,所定の手順に必
要な処理装置の数が奇数又は偶数にかかわらず,最後の
処理装置では,搬送装置の昇降動作は,アーム2段分の
移動距離で済む。従って,搬送装置の高耐久性や処理シ
ステムの省力エネルギー化を実現できる。
According to the fifth and eighth aspects of the present invention,
According to the transfer method described in the fourth aspect, the transfer method described in the second, third, and fourth aspects can be suitably implemented. Thus, regardless of whether the number of processing devices required for the predetermined procedure is an odd number or an even number, in the last processing device, the lifting / lowering operation of the transfer device can be performed only by the movement distance of two arms. Therefore, high durability of the transfer device and energy saving of the processing system can be realized.

【0053】特に請求項5の搬送装置では,上段の第1
のアームによって基板を取出収納部に収納し,請求項6
の第2の搬送装置では,上段の第4のアームによって処
理後の基板を取出収納部に収納するので,清浄度を保ち
ながら例えば処理後の基板を取出収納部に収納すること
ができる。また,処理装置に対して基板を搬入出する際
には,請求項5の搬送装置及び請求項6の第1の搬送装
置の昇降動作は,アーム2段分の移動距離だけで済むの
で,スループットを向上させることができる。
In particular, in the transfer device according to the fifth aspect, the upper first
7. The substrate is stored in the take-out storage section by the arm.
In the second transfer device, since the processed substrate is stored in the removal storage portion by the upper fourth arm, for example, the processed substrate can be stored in the removal storage portion while maintaining the cleanliness. Further, when loading and unloading a substrate to and from the processing apparatus, the lifting and lowering operations of the transfer device of claim 5 and the first transfer device of claim 6 require only a movement distance of two steps of the arm, so that throughput is reduced. Can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本実施の形態にかかる洗浄処理システムの平面
図である。
FIG. 1 is a plan view of a cleaning system according to an embodiment.

【図2】本実施の形態にかかる洗浄処理システムの斜視
図である。
FIG. 2 is a perspective view of the cleaning processing system according to the embodiment;

【図3】搬送装置の斜視図である。FIG. 3 is a perspective view of a transport device.

【図4】処理装置の一群の斜視図である。FIG. 4 is a perspective view of a group of processing apparatuses.

【図5】処理装置に搬送装置が対面した場合の様子を説
明する側面図である。
FIG. 5 is a side view illustrating a state in which a transport device faces a processing device.

【図6】所定の手順に必要な処理装置の数が奇数個の場
合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れを
示す説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a flow of a wafer transfer process using a transfer device when the number of processing devices required for a predetermined procedure is an odd number.

【図7】所定の手順に必要な処理装置の数が奇数個の場
合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れを
示す説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a flow of a wafer transfer process using a transfer device when the number of processing devices required for a predetermined procedure is an odd number.

【図8】所定の手順に必要な処理装置の数が奇数個の場
合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れを
示す説明図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing a flow of a wafer transfer process using a transfer device when the number of processing devices required for a predetermined procedure is an odd number.

【図9】所定の手順に必要な処理装置の数が奇数個の場
合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れを
示す説明図である。
FIG. 9 is an explanatory diagram showing a flow of a wafer transfer process using a transfer device when the number of processing devices required for a predetermined procedure is an odd number.

【図10】所定の手順に必要な処理装置の数が奇数個の
場合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れ
を示す説明図である。
FIG. 10 is an explanatory diagram showing a flow of a wafer transfer process using a transfer device when the number of processing devices required for a predetermined procedure is an odd number.

【図11】所定の手順に必要な処理装置の数が奇数個の
場合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れ
を示す説明図である。
FIG. 11 is an explanatory diagram showing a flow of a wafer transfer process using a transfer device when the number of processing devices required for a predetermined procedure is an odd number.

【図12】所定の手順に必要な処理装置の数が偶数個の
場合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れ
を示す説明図である。
FIG. 12 is an explanatory diagram showing a flow of a wafer transfer process using a transfer device when the number of processing devices required for a predetermined procedure is an even number.

【図13】所定の手順に必要な処理装置の数が偶数個の
場合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れ
を示す説明図である。
FIG. 13 is an explanatory diagram showing a flow of a wafer transfer process using a transfer device when the number of processing devices required for a predetermined procedure is an even number.

【図14】所定の手順に必要な処理装置の数が偶数個の
場合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れ
を示す説明図である。
FIG. 14 is an explanatory diagram showing a flow of a wafer transfer process using a transfer device when the number of processing devices required for a predetermined procedure is an even number.

【図15】所定の手順に必要な処理装置の数が偶数個の
場合における搬送装置を用いたウェハの搬送工程の流れ
を示す説明図である。
FIG. 15 is an explanatory diagram showing a flow of a wafer transfer process using a transfer device when the number of processing devices required for a predetermined procedure is an even number.

【図16】他の実施の形態にかかる洗浄処理システムの
平面図である。
FIG. 16 is a plan view of a cleaning processing system according to another embodiment.

【図17】第2の搬送装置の側面図である。FIG. 17 is a side view of the second transfer device.

【図18】従来の処理装置に搬送装置が対面した場合の
様子を説明する側面図である。
FIG. 18 is a side view illustrating a state in which a transfer device faces a conventional processing device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 洗浄処理システム 2 取出収納部 3 搬送装置 4 洗浄処理部 6,7,8,9,10,11 処理装置 6a,7a,8a,9a,10a,11a 搬入出口 20 第1のアーム 21 第2のアーム 22 第3のアーム 30 シャッタ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Cleaning processing system 2 Take-out storage part 3 Conveying device 4 Cleaning processing part 6,7,8,9,10,11 Processing apparatus 6a, 7a, 8a, 9a, 10a, 11a Loading / unloading port 20 1st arm 21 2nd Arm 22 Third arm 30 Shutter

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板が取り出されると共に,基板が収納
される取出収納部と,基板の搬入出口を開閉する開閉機
構を備えた処理装置を所定の手順に従って基板を処理で
きるように複数配置した処理部との間で,上から順に重
ねるように配置された第1のアーム,第2のアーム,第
3のアームによって基板を搬送する搬送方法において,
所定の手順に必要な処理装置の数が全部で奇数個の場合
には,前記第2のアームによって前記取出収納部から基
板を取り出し,所定の手順で奇数番目の処理装置へは前
記第2のアームによって基板を搬入し,所定の手順で最
後の処理装置を除いた奇数番目の処理装置からは第3の
アームによって基板を搬出し,所定の手順で偶数番目の
処理装置へは前記第3のアームによって基板を搬入し,
所定の手順で偶数番目の処理装置からは前記第2のアー
ムによって基板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置
からは前記第1のアームによって基板を搬出し,前記取
出収納部に収納する工程に切り換え,所定の手順に必要
な処理装置の数が全部で偶数個の場合には,前記第3の
アームによって前記取出収納部から基板を取り出し,所
定の手順で奇数番目の処理装置へは前記第3のアームに
よって基板を搬入し,所定の手順で奇数番目の処理装置
からは前記第2のアームによって基板を搬出し,所定の
手順で偶数番目の処理装置へは前記第2のアームによっ
て基板を搬入し,所定の手順で最後の処理装置を除いた
偶数番目の処理装置からは前記第3のアームによって基
板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置からは前記第
1のアームによって基板を搬出し,前記取出収納部に収
納する工程に切り換えることを特徴とする,基板の搬送
方法。
1. A processing apparatus in which a plurality of processing apparatuses each having an unloading and storing unit for unloading a substrate and storing a substrate and an opening / closing mechanism for opening and closing a loading / unloading port of the substrate are arranged so that the substrate can be processed according to a predetermined procedure. A first arm, a second arm, and a third arm, which are arranged so as to be overlapped in order from the top with respect to the substrate, to transfer the substrate,
If the number of processing devices required for the predetermined procedure is an odd number in total, the substrate is taken out of the take-out / storage section by the second arm, and the second processing device sends the substrate to the odd-numbered processing device in the predetermined procedure. The substrate is carried in by the arm, the substrate is carried out by the third arm from the odd-numbered processing device except for the last processing device in a predetermined procedure, and the third substrate is transferred to the even-numbered processing device in the predetermined procedure. The substrate is loaded by the arm,
The substrate is unloaded by the second arm from the even-numbered processing device in a predetermined procedure, and the substrate is unloaded by the first arm from the last processing device in the predetermined procedure and stored in the unloading storage unit. If the number of processing devices required for the predetermined procedure is an even number in total, the substrate is taken out of the take-out / storage section by the third arm, and the substrate is transferred to the odd-numbered processing device in the predetermined procedure. The substrate is carried in by the third arm, the substrate is carried out by the second arm from the odd-numbered processing device in a predetermined procedure, and the substrate is carried out by the second arm in the predetermined procedure to the even-numbered processing device. The substrate is carried in, and the substrate is carried out by the third arm from the even-numbered processing apparatus except for the last processing apparatus in a predetermined procedure, and is transferred from the last processing apparatus to the first arm in a predetermined procedure. Yo The substrate is carried out, and wherein the switching to the step of storing said takeout housing part, the transport method of the substrate.
【請求項2】 基板が取り出されると共に,基板が収納
される取出収納部と,基板の搬入出口を開閉する開閉機
構を備えた処理装置を所定の手順に従って基板を処理で
きるように複数配置した処理部との間で,上から順に重
ねるように配置された第1のアーム,第2のアーム,第
3のアームと,上から順に重ねるように配置された第4
のアーム,第5のアームとによって基板を搬送する搬送
方法において,所定の手順に必要な処理装置の数が全部
で奇数個の場合には,前記第5のアームによって前記取
出収納部から基板を取り出し,その後に前記第2のアー
ムに受け渡し,所定の手順で奇数番目の処理装置へは前
記第2のアームによって基板を搬入し,所定の手順で最
後の処理装置を除いた奇数番目の処理装置からは第3の
アームによって基板を搬出し,所定の手順で偶数番目の
処理装置へは前記第3のアームによって基板を搬入し,
所定の手順で偶数番目の処理装置からは前記第2のアー
ムによって基板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置
からは前記第1のアームによって基板を搬出し,その後
に前記第4のアームに受け渡し,前記第4のアームによ
って前記取出収納部に基板を収納する工程に切り換え,
所定の手順に必要な処理装置の数が全部で偶数個の場合
には,前記第5のアームによって前記取出収納部から基
板を取り出し,その後に前記第3のアームに受け渡し,
所定の手順で奇数番目の処理装置へは前記第3のアーム
によって基板を搬入し,所定の手順で奇数番目の処理装
置からは前記第2のアームによって基板を搬出し,所定
の手順で偶数番目の処理装置へは前記第2のアームによ
って基板を搬入し,所定の手順で最後の処理装置を除い
た偶数番目の処理装置からは前記第3のアームによって
基板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置からは前記
第1のアームによって基板を搬出し,その後に前記第4
のアームに受け渡し,前記第4のアームによって前記取
出収納部に基板を収納する工程に切り換えることを特徴
とする,基板の搬送方法。
2. A processing apparatus, comprising: a plurality of processing devices having a take-out / reception part for taking out a substrate and storing the substrate and an opening / closing mechanism for opening / closing a substrate loading / unloading mechanism so that the substrate can be processed according to a predetermined procedure. A first arm, a second arm, and a third arm, which are arranged so as to be sequentially stacked from the top, and a fourth arm which is arranged so as to be sequentially stacked from the top.
In the transfer method for transferring a substrate by the fifth arm and the fifth arm, if the total number of processing devices required for a predetermined procedure is an odd number in total, the fifth arm transfers the substrate from the unloading and storing section. The odd-numbered processing device is taken out and then transferred to the second arm, and the substrate is loaded into the odd-numbered processing device by the second arm in a predetermined procedure, and the last processing device is removed in a predetermined procedure. From the third arm, the substrate is carried into the even-numbered processing apparatus by the third arm in a predetermined procedure,
The substrate is carried out of the even-numbered processing apparatus by the second arm in a predetermined procedure, and the substrate is carried out of the last processing apparatus by the first arm in a predetermined procedure. To the step of storing the substrate in the unloading storage section by the fourth arm,
When the number of processing devices required for the predetermined procedure is an even number in total, the substrate is taken out of the take-out storage unit by the fifth arm, and then transferred to the third arm.
The substrate is carried into the odd-numbered processing apparatus by the third arm in a predetermined procedure, the substrate is carried out from the odd-numbered processing apparatus by the second arm in a predetermined procedure, and the even-numbered substrate is carried out by a predetermined procedure. The substrate is carried in by the second arm by the second arm, and the substrate is carried out by the third arm from the even-numbered processing device except for the last processing device in a predetermined procedure, and the substrate is finally carried out by a predetermined procedure. The substrate is unloaded from the processing apparatus by the first arm, and then the
Transferring the substrate to a step of storing the substrate in the unloading storage section by the fourth arm.
【請求項3】 前記第1のアーム,第2のアーム,第3
のアームと,前記第4のアーム,第5のアームとの間の
基板の受け渡しをバッファ部を介して行うことを特徴と
する,請求項2に記載の基板の搬送方法。
3. The first arm, the second arm, and the third arm.
3. The method according to claim 2, wherein the transfer of the substrate between the first arm and the fourth arm and the fifth arm is performed via a buffer unit.
【請求項4】 前記処理装置においては,基板の表面を
処理することを特徴とする,請求項1,2又は3に記載
の基板の搬送方法。
4. The method of transferring a substrate according to claim 1, wherein the processing device processes the surface of the substrate.
【請求項5】 基板が取り出されると共に,基板が収納
される取出収納部と,基板の搬入出口を開閉する開閉機
構を備えた処理装置を所定の手順に従って基板を処理で
きるように複数配置した処理部と,上から順に重ねるよ
うに配置された第1のアーム,第2のアーム,第3のア
ームによって基板を搬送する搬送装置とを備えた基板の
処理システムにおいて,所定の手順に必要な処理装置の
数が全部で奇数個の場合には,前記第2のアームによっ
て前記取出収納部から基板を取り出し,所定の手順で奇
数番目の処理装置へは前記第2のアームによって基板を
搬入し,所定の手順で最後の処理装置を除いた奇数番目
の処理装置からは前記第3のアームによって基板を搬出
し,所定の手順で偶数番目の処理装置へは前記第3のア
ームによって基板を搬入し,所定の手順で偶数番目の処
理装置からは前記第2のアームによって基板を搬出し,
所定の手順で最後の処理装置からは前記第1のアームに
よって基板を搬出し,前記取出収納部に収納するように
前記搬送装置を構成し,所定の手順に必要な処理装置の
数が全部で偶数個の場合には,前記第3のアームによっ
て前記取出収納部から基板を取り出し,所定の手順で奇
数番目の処理装置へは前記第3のアームによって基板を
搬入し,所定の手順で奇数番目の処理装置からは前記第
2のアームによって基板を搬出し,所定の手順で偶数番
目の処理装置へは前記第2のアームによって基板を搬入
し,所定の手順で最後の処理装置を除いた偶数番目の処
理装置からは前記第3のアームによって基板を搬出し,
所定の手順で最後の処理装置からは前記第1のアームに
よって基板を搬出し,前記取出収納部に収納するように
前記搬送装置を構成したことを特徴とする,基板の処理
システム。
5. A processing apparatus in which a plurality of processing apparatuses each having an unloading storage section for unloading a substrate and storing the substrate and an opening / closing mechanism for opening and closing the loading / unloading port of the substrate are arranged so that the substrate can be processed according to a predetermined procedure. Processing required for a predetermined procedure in a substrate processing system including a unit and a transfer device configured to transfer a substrate by a first arm, a second arm, and a third arm arranged so as to be sequentially stacked from the top. When the number of apparatuses is an odd number in total, the substrate is taken out of the take-out / storage section by the second arm, and the substrate is carried into the odd-numbered processing apparatus by the second arm in a predetermined procedure. The substrate is unloaded by the third arm from the odd-numbered processing device except for the last processing device in a predetermined procedure, and the substrate is transferred by the third arm to the even-numbered processing device in a predetermined procedure. The substrate is carried in, and the substrate is carried out from the even-numbered processing device by the second arm in a predetermined procedure.
The transfer device is configured to carry out the substrate from the last processing device by the first arm in a predetermined procedure and store the substrate in the unloading storage unit. In the case of an even number, the substrate is taken out of the take-out / storage section by the third arm, the substrate is carried into the odd-numbered processing device by a predetermined procedure by the third arm, and the odd-numbered substrate is carried out by the predetermined procedure. The substrate is unloaded from the processing apparatus by the second arm, the substrate is loaded into the even-numbered processing apparatus by the second arm in a predetermined procedure, and the even-numbered processing apparatus is removed by the predetermined procedure except for the last processing apparatus. The substrate is carried out of the third processing apparatus by the third arm,
A substrate processing system, wherein the transfer device is configured to carry out a substrate from a last processing device by a first arm by a predetermined procedure and store the substrate in the removal storage portion.
【請求項6】 基板が取り出されると共に,基板が収納
される取出収納部と,基板の搬入出口を開閉する開閉機
構を備えた処理装置を所定の手順に従って基板を処理で
きるように複数配置した処理部と,上から順に重ねるよ
うに配置された第1のアーム,第2のアーム,第3のア
ームによって基板を搬送する第1の搬送装置と,上から
順に重ねるように配置された第4のアーム,第5のアー
ムによって基板を搬送する第2の搬送装置とを備えた基
板の処理システムにおいて,所定の手順に必要な処理装
置の数が全部で奇数個の場合には,前記第5のアームに
よって前記取出収納部から基板を取り出し,その後に前
記第2のアームに受け渡し,所定の手順で奇数番目の処
理装置へは前記第2のアームによって基板を搬入し,所
定の手順で最後の処理装置を除いた奇数番目の処理装置
からは前記第3のアームによって基板を搬出し,所定の
手順で偶数番目の処理装置へは前記第3のアームによっ
て基板を搬入し,所定の手順で偶数番目の処理装置から
は前記第2のアームによって基板を搬出し,所定の手順
で最後の処理装置からは前記第1のアームによって基板
を搬出し,その後に前記第4のアームに受け渡し,前記
第4のアームによって前記取出収納部に基板を収納する
ように前記第1の搬送装置及び第2の搬送装置を構成
し,所定の手順に必要な処理装置の数が全部で偶数個の
場合には,前記第5のアームによって前記取出収納部か
ら基板を取り出し,その後に前記第3のアームに受け渡
し,所定の手順で奇数番目の処理装置へは前記第3のア
ームによって基板を搬入し,所定の手順で奇数番目の処
理装置からは前記第2のアームによって基板を搬出し,
所定の手順で偶数番目の処理装置へは前記第2のアーム
によって基板を搬入し,所定の手順で最後の処理装置を
除いた偶数番目の処理装置からは前記第3のアームによ
って基板を搬出し,所定の手順で最後の処理装置からは
前記第1のアームによって基板を搬出し,その後に前記
第4のアームに受け渡し,前記第4のアームによって前
記取出収納部に基板を収納するように前記第1の搬送装
置及び第2の搬送装置を構成したことを特徴とする,基
板の処理システム。
6. A processing apparatus in which a plurality of processing apparatuses provided with an unloading storage section for unloading a substrate and storing a substrate and an opening / closing mechanism for opening and closing a loading / unloading port of the substrate are arranged so that the substrate can be processed according to a predetermined procedure. , A first transfer device for transferring a substrate by a first arm, a second arm, and a third arm arranged so as to be stacked in order from the top, and a fourth transfer device arranged so as to be stacked in order from the top. In a substrate processing system including an arm and a second transfer device for transferring a substrate by a fifth arm, if the total number of processing devices required for a predetermined procedure is an odd number, the fifth The substrate is taken out of the unloading and storing section by the arm, and then transferred to the second arm. The substrate is carried into the odd-numbered processing device by the second arm in a predetermined procedure, and the last processing is performed in the predetermined procedure. The substrate is unloaded by the third arm from the odd-numbered processing device excluding the processing device, the substrate is loaded by the third arm into the even-numbered processing device in a predetermined procedure, and the even-numbered processing is performed in a predetermined procedure. The substrate is unloaded from the second processing device by the second arm, the substrate is unloaded from the last processing device by the first arm in a predetermined procedure, and then transferred to the fourth arm. The first transfer device and the second transfer device are configured so that the substrate is stored in the unloading storage unit by the arm of No. 4 and when the total number of processing devices required for a predetermined procedure is an even number, The fifth arm takes out the substrate from the take-out / storage section, and then transfers the substrate to the third arm, and carries the substrate into the odd-numbered processing device by the third arm in a predetermined procedure. procedure From odd-numbered processor unloads the substrate by the second arm,
The substrate is carried into the even-numbered processing apparatus by the second arm in a predetermined procedure, and the substrate is carried out by the third arm from the even-numbered processing apparatus excluding the last processing apparatus in the predetermined procedure. The substrate is unloaded from the last processing apparatus by the first arm in a predetermined procedure, and then transferred to the fourth arm, and the substrate is stored in the unloading storage unit by the fourth arm. A substrate processing system comprising a first transfer device and a second transfer device.
【請求項7】 前記第1の搬送装置と前記第2の搬送装
置との間の基板の受け渡しを介するバッファ部を設けた
ことを特徴とする,請求項6に記載の基板の処理システ
ム。
7. The substrate processing system according to claim 6, further comprising a buffer unit for transferring the substrate between the first transfer device and the second transfer device.
【請求項8】 前記処理装置においては,基板の表面を
処理することを特徴とする,請求項4,5又は6に記載
の基板の処理システム。
8. The substrate processing system according to claim 4, wherein the processing device processes the surface of the substrate.
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