JPH11161429A - Coordinate measuring instrument of touch panel - Google Patents
Coordinate measuring instrument of touch panelInfo
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- JPH11161429A JPH11161429A JP33928497A JP33928497A JPH11161429A JP H11161429 A JPH11161429 A JP H11161429A JP 33928497 A JP33928497 A JP 33928497A JP 33928497 A JP33928497 A JP 33928497A JP H11161429 A JPH11161429 A JP H11161429A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、ディジタイザに
係り、特に、アナログ式タッチパネルの座標測定装置に
関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a digitizer, and more particularly to a coordinate measuring device for an analog touch panel.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来から、タッチパネルは、小型入力装
置として、各種の情報処理装置で広く使用されている。
まず、従来のアナログ式タッチパネルについて、構成と
動作を図によって説明する。2. Description of the Related Art Conventionally, touch panels have been widely used in various information processing devices as small input devices.
First, the configuration and operation of a conventional analog touch panel will be described with reference to the drawings.
【0003】図2は、従来のアナログ式タッチパネルに
ついて、その概略構造の一例を示す斜視図である。図に
おいて、1はフィルム基材、2はY透明導電膜、3はガ
ラス基材、4はX透明導電膜、5はスペーサ、xLはx
L電極、xRはxR電極、yUはyU電極、yLはyL
電極を示す。FIG. 2 is a perspective view showing an example of a schematic structure of a conventional analog touch panel. In the figure, 1 is a film substrate, 2 is a Y transparent conductive film, 3 is a glass substrate, 4 is an X transparent conductive film, 5 is a spacer, xL is x
L electrode, xR is xR electrode, yU is yU electrode, yL is yL
2 shows an electrode.
【0004】この図2に示すように、タッチパネルは、
ある有限な抵抗値を有する2枚の透明導電膜2,4を備
えている。この透明導電膜2,4は、少なくとも一方は
可撓性基材上に形成されており、例えばフィルム基材1
の内側にY透明導電膜2が設けられる。そして、このY
透明導電膜2の端部には、検出用の電極として、yU電
極とyL電極とが取り付けられている(Uは上側、Lは
下側)。図2の場合には、他方の透明導電膜(IT
O)、すなわち、X透明導電膜4はガラス基材3の上面
(Y透明導電膜2と対向する側)に形成されている。[0004] As shown in FIG.
It has two transparent conductive films 2 and 4 having a certain finite resistance value. At least one of the transparent conductive films 2 and 4 is formed on a flexible base material.
, A Y transparent conductive film 2 is provided. And this Y
At the end of the transparent conductive film 2, a yU electrode and a yL electrode are attached as detection electrodes (U is on the upper side and L is on the lower side). In the case of FIG. 2, the other transparent conductive film (IT
O), that is, the X transparent conductive film 4 is formed on the upper surface of the glass substrate 3 (the side facing the Y transparent conductive film 2).
【0005】このX透明導電膜4の端部には、検出用の
電極として、xL電極とxR電極とが取り付けられてい
る(Lは左側、Rは右側)。また、これらの透明導電膜
2,4が対向する膜間に微小な空間を保持するために、
例えば高さが3〜10μm程度のスペーサ5が設けられ
ている。このタッチパネルは、通常何らかの表示装置、
例えば液晶表示装置LCD等と組み合わせて使用され、
その表示に従って打鍵面を押下することによって、その
座標位置が入力され、所定の動作が実行される。[0005] At the end of the X transparent conductive film 4, an xL electrode and an xR electrode are attached as electrodes for detection (L is left side, R is right side). In order to maintain a small space between the films facing the transparent conductive films 2 and 4,
For example, a spacer 5 having a height of about 3 to 10 μm is provided. This touch panel is usually some kind of display device,
For example, used in combination with a liquid crystal display device LCD, etc.
By pressing the keying surface according to the display, the coordinate position is input, and a predetermined operation is performed.
【0006】図3は、図2に示したタッチパネルについ
て、動作時の変形状態を説明する略側面図で、(1) は打
鍵待ちの状態、(2) は打鍵面が押下された状態を示す。
図の符号は図2と同様であり、矢印Aは押下方向を示
す。FIG. 3 is a schematic side view for explaining a deformation state of the touch panel shown in FIG. 2 during operation, wherein (1) shows a state of waiting for key tapping, and (2) shows a state of pressing down a key tapping surface. .
The reference numerals in the figure are the same as those in FIG. 2, and the arrow A indicates the pressing direction.
【0007】打鍵面が人の指先やペン等によって矢印A
の方向に押下されると、図3(2) に示すように、可撓性
基材であるフィルム基材1が変形し、透明導電膜2,4
同志が接触する。逆に、この押下力を取り去る(指先や
ペン等を離す)と、可撓性基材であるフィルム基材1の
形状が復帰し、図3(1) に示したように、透明導電膜
2,4は非接触の状態に戻る。[0007] The key touching surface is indicated by an arrow A using a fingertip of a person or a pen.
When pressed in the direction shown in FIG. 3, as shown in FIG.
Comrades come in contact. Conversely, when the pressing force is removed (the fingertip, the pen or the like is released), the shape of the film substrate 1 which is a flexible substrate is restored, and as shown in FIG. , 4 return to the non-contact state.
【0008】図4は、図2に示したタッチパネルの打鍵
位置を検出する打鍵位置検出回路の一例を示す機能ブロ
ック図である。図の符号は図2と同様であり、6はタッ
チパネル、IC1とIC2はボルテージフォロワ、IC
3はコンパレータ、IC4はA/D変換器(アナログ/
デジタル変換器)、LPF1とLPF2はローパスフィ
ルタ、ASW1〜ASW4はアナログスイッチ、S0と
S1はアナログスイッチASW2の各端子、D1とD2
はダイオード、R1〜R7は抵抗器、C1とC2はコン
デンサを示し、VthはコンパレータIC3のしきい値電
圧を示す。FIG. 4 is a functional block diagram showing an example of a keying position detecting circuit for detecting a keying position of the touch panel shown in FIG. The reference numerals in the figure are the same as those in FIG. 2, 6 is a touch panel, IC1 and IC2 are voltage followers, IC
3 is a comparator, IC4 is an A / D converter (analog /
Digital converter), LPF1 and LPF2 are low-pass filters, ASW1 to ASW4 are analog switches, S0 and S1 are each terminal of analog switch ASW2, D1 and D2
Represents a diode, R1 to R7 represent resistors, C1 and C2 represent capacitors, and Vth represents a threshold voltage of the comparator IC3.
【0009】この図4に示す打鍵位置検出回路は、先の
図2に示したタッチパネルの打鍵位置を電気信号として
検出する機能を有している。タッチパネル6は、その等
価回路で、互いに直交するタッチパネルの2組の電極x
L,xR(以下適宜、xL電極,xR電極という)と、
電極yU,yL(以下適宜、yU電極,yL電極とい
う)とが設けられている。そして、一方の1組のxL,
xR電極には、それぞれアナログスイッチASW2,A
SW4が接続されている。同様に、他方の1組のyU,
yL電極には、それぞれアナログスイッチASW1,A
SW3が接続されている。The keying position detecting circuit shown in FIG. 4 has a function of detecting the keying position of the touch panel shown in FIG. 2 as an electric signal. The touch panel 6 has, in an equivalent circuit thereof, two pairs of electrodes x of the touch panel orthogonal to each other.
L, xR (hereinafter referred to as xL electrode and xR electrode as appropriate)
The electrodes yU and yL (hereinafter, appropriately referred to as yU electrodes and yL electrodes) are provided. And one set of xL,
Analog switches ASW2, ASW
SW4 is connected. Similarly, the other set of yU,
The analog switches ASW1, ASW1
SW3 is connected.
【0010】先ず、打鍵待ちの状態では、アナログスイ
ッチASW1およびASW3は開放状態である。アナロ
グスイッチASW2は、端子S0側が閉じた状態、アナ
ログスイッチASW4は閉じた状態である。すなわち、
xL電極,xR電極は一定電位に保持され、yU電極,
yL電極はアナログスイッチASW1,ASW3が開放
状態であるから、その電位は負荷抵抗R3、ローパスフ
ィルタLPF1を介してコンパレータIC3およびボル
テージフォロワIC2へ導かれる。この状態で打鍵され
ると、X透明導電膜(図2の4)の電位は接触部分を通
してY透明導電膜(図2の2)に伝わり、コンパレータ
IC3の入力へ伝わる。コンパレータIC3のしきい値
電圧Vth(ほぼ3V)は、タッチパネル6のバイアス電
圧の約半分程度に設定されているので、コンパレータI
C3は反転し、打鍵信号を発生する。ここで、ダイオー
ドD1,D2は、リミッタとして作用する。この打鍵信
号の発生後、アナログスイッチASW2が端子S1側に
切り換えられると、ボルテージフォロワIC2から出力
されるx信号は、抵抗器R1の分割比であるnに比例し
た電位となる。このx信号を、A/D変換器IC4によ
ってA/D変換(アナログ/デジタル変換)すると、x
座標が求められる。First, in the state of waiting for key input, the analog switches ASW1 and ASW3 are open. The analog switch ASW2 is in a state where the terminal S0 is closed, and the analog switch ASW4 is in a closed state. That is,
The xL and xR electrodes are held at a constant potential, and the yU and
Since the analog switches ASW1 and ASW3 of the yL electrode are open, the potential is guided to the comparator IC3 and the voltage follower IC2 via the load resistor R3 and the low-pass filter LPF1. When a key is pressed in this state, the potential of the X transparent conductive film (4 in FIG. 2) is transmitted to the Y transparent conductive film (2 in FIG. 2) through the contact portion and transmitted to the input of the comparator IC3. Since the threshold voltage Vth (approximately 3 V) of the comparator IC3 is set to about half of the bias voltage of the touch panel 6, the comparator I3
C3 is inverted to generate a keystroke signal. Here, the diodes D1 and D2 function as limiters. When the analog switch ASW2 is switched to the terminal S1 after the generation of the keying signal, the x signal output from the voltage follower IC2 has a potential proportional to n, which is the division ratio of the resistor R1. When this x signal is A / D converted (analog / digital converted) by the A / D converter IC4, x
The coordinates are determined.
【0011】次に、アナログスイッチASW1とASW
3を閉じ、アナログスイッチASW2とASW4を開放
すると、ボルテージフォロワIC1から出力されるy信
号はmに比例した電位となる。すなわち、y座標に比例
した電位となり、このy信号をA/D変換すると、y座
標が求められる。以上のように、従来のアナログタッチ
パネルは、打鍵検出→x座標測定→y座標測定の
3段階の動作を行うことにより、x,y座標の測定を行
う。また、座標を連続して読む場合には、上記→→
の動作を繰り返すことによって、連続的に測定を行う
ことができる。Next, the analog switches ASW1 and ASW
3 is closed and the analog switches ASW2 and ASW4 are opened, the y signal output from the voltage follower IC1 has a potential proportional to m. That is, the potential becomes proportional to the y-coordinate. When the y-signal is A / D-converted, the y-coordinate is obtained. As described above, the conventional analog touch panel measures the x and y coordinates by performing a three-stage operation of keying detection → x coordinate measurement → y coordinate measurement. To read coordinates continuously,
By repeating the above operation, the measurement can be continuously performed.
【0012】[0012]
【発明が解決しようとする課題】従来の技術で述べたよ
うに、x,y座標を測定するためには、打鍵検出→
x座標測定→y座標測定の3つの状態を経由する必要
がある。一方、測定に必要な時間は、抵抗器R4とコン
デンサC1で形成されたローパスフィルタLPF1の応
答時間で制限される。このローパスフィルタLPF1
は、アナログタッチパネルと組み合わせて使用される表
示装置(例えば、液晶表示装置LCD)から誘導される
ノイズを軽減するために付加されている。このローパス
フィルタLPF1の応答時間は、時定数で表わされる
が、通常信号が安定するのには時定数の3倍以上を必要
とするので、高速動作の妨げになっている。As described in the prior art, in order to measure the x and y coordinates, it is necessary to detect keying →
It is necessary to go through three states of x coordinate measurement → y coordinate measurement. On the other hand, the time required for the measurement is limited by the response time of the low-pass filter LPF1 formed by the resistor R4 and the capacitor C1. This low-pass filter LPF1
Is added to reduce noise induced from a display device (for example, a liquid crystal display device LCD) used in combination with an analog touch panel. The response time of the low-pass filter LPF1 is represented by a time constant. However, a stable signal usually requires three times or more the time constant, which hinders high-speed operation.
【0013】通常この時間には、例えば5msec程度
必要であるから、x,y座標を測定するのに必要な時間
は、打鍵検出を含めて15msec程度となり、約67
サンプル/秒のサンプリング速度となる。この速度は、
実用上は充分な高速とは言えず、高速にサンプリングす
る方式が望まれている。この発明では、簡単な構成によ
って、測定速度の向上を可能にしたタッチパネルの座標
測定装置を提供することを課題とする。Usually, this time requires, for example, about 5 msec. Therefore, the time required for measuring the x and y coordinates is about 15 msec including the keying detection, and is about 67 msec.
A sampling rate of samples / second results. This speed is
It cannot be said that the speed is high enough for practical use, and a method of sampling at high speed is desired. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a touch panel coordinate measuring device that can improve the measuring speed with a simple configuration.
【0014】[0014]
【課題を解決するための手段】請求項1の発明では、対
向した配置された一方または両方が可撓性の基材と、基
材の内側にそれぞれ形成された有限の電気抵抗を有する
導電膜と、それぞれの導電膜の端部に形成され、互いに
直交する2組のタッチパネル電極xL,xRおよびタッ
チパネル電極yU,yLと、2つの基材間に絶縁性のス
ペーサとを具備するタッチパネルにおいて、タッチパネ
ルの2組の電極xL,xRおよび電極yU,yLの回路
切り換えを行う回路切り換え手段と、所定のしきい値に
よって出力が反転するコンパレータとを設け、打鍵待ち
状態をx座標測定状態と兼用するようにしている。According to the first aspect of the present invention, one or both of opposingly disposed flexible substrates and a conductive film having a finite electric resistance formed inside the substrates, respectively. And two sets of touch panel electrodes xL and xR and touch panel electrodes yU and yL formed at the ends of the respective conductive films and orthogonal to each other, and an insulating spacer between the two base materials. Circuit switching means for switching the circuits of the two sets of electrodes xL, xR and electrodes yU, yL, and a comparator whose output is inverted by a predetermined threshold value, so that the key tapping wait state is also used as the x coordinate measurement state. I have to.
【0015】請求項2の発明では、請求項1の座標測定
装置において、コンパレータ出力をダイオードスイッチ
およびダンピング抵抗を介してタッチパネル電極xLま
たは電極xRに接続し、打鍵検出特性を安定化してい
る。According to a second aspect of the present invention, in the coordinate measuring device of the first aspect, the comparator output is connected to the touch panel electrode xL or the electrode xR via a diode switch and a damping resistor to stabilize the keying detection characteristic.
【0016】請求項3の発明では、請求項1の座標測定
装置において、コンパレータ出力をダイオードスイッチ
およびダンピング抵抗を介してタッチパネル電極xLま
たは電極xRに接続し、電極xLまたは電極xRの電位
を引き下げることによって、コンパレータのしきい値に
対して雑音余裕度を向上させている。According to a third aspect of the present invention, in the coordinate measuring device of the first aspect, the comparator output is connected to the touch panel electrode xL or the electrode xR via a diode switch and a damping resistor to lower the potential of the electrode xL or the electrode xR. This improves the noise margin with respect to the threshold value of the comparator.
【0017】請求項4の発明では、対向した配置された
一方または両方が可撓性の基材と、基材の内側にそれぞ
れ形成された有限の電気抵抗を有する導電膜と、それぞ
れの導電膜の端部に形成され、互いに直交する2組のタ
ッチパネル電極xL,xRおよびタッチパネル電極y
U,yLと、2つの基材間に絶縁性のスペーサとを具備
するタッチパネルにおいて、タッチパネルの2組の電極
xL,xRおよび電極yU,yLの回路切り換えを行う
回路切り換え手段と、所定のしきい値によって出力が反
転するコンパレータとを設け、打鍵待ち状態をy座標測
定状態と兼用するようにしている。According to the fourth aspect of the present invention, one or both of the opposing ones are a flexible base material, a conductive film having a finite electric resistance formed inside the base material, and the respective conductive films. And two sets of touch panel electrodes xL and xR and a touch panel electrode y which are formed at right angles to each other.
In a touch panel including U, yL and an insulating spacer between two substrates, a circuit switching means for switching a circuit between two sets of electrodes xL, xR and electrodes yU, yL of the touch panel, and a predetermined threshold A comparator whose output is inverted depending on the value is provided so that the key input waiting state is also used as the y coordinate measurement state.
【0018】請求項5の発明では、請求項4の座標測定
装置において、コンパレータ出力をダイオードスイッチ
およびダンピング抵抗を介してタッチパネル電極yUま
たは電極yLに接続し、打鍵検出特性を安定化してい
る。According to a fifth aspect of the present invention, in the coordinate measuring apparatus of the fourth aspect, the comparator output is connected to the touch panel electrode yU or the electrode yL via a diode switch and a damping resistor to stabilize the keying detection characteristic.
【0019】請求項6の発明では、請求項4の座標測定
装置において、コンパレータ出力をダイオードスイッチ
およびダンピング抵抗を介してタッチパネル電極yUま
たは電極yLに接続し、電極yUまたは電極yLの電位
を引き下げることによって、コンパレータのしきい値に
対して雑音余裕度を向上させている。According to a sixth aspect of the present invention, in the coordinate measuring device of the fourth aspect, the comparator output is connected to the touch panel electrode yU or the electrode yL via a diode switch and a damping resistor to lower the potential of the electrode yU or the electrode yL. This improves the noise margin with respect to the threshold value of the comparator.
【0020】[0020]
【発明の実施の形態】この発明の座標測定装置では、状
態数を従来の3状態から2状態に減らすことによって、
座標測定速度を向上させた点に特徴を有している(請求
項1と請求項4の発明)。また、コンパレータ出力をダ
イオードスイッチおよびダンピング抵抗を介して電極x
Lまたは電極xRに接続し、打鍵検出特性を安定化させ
る(請求項2と請求項5の発明)。さらに、コンパレー
タ出力をダイオードスイッチおよびダンピング抵抗を介
して電極xLまたは電極xRに接続し、電極xLまたは
電極xRの電位を引き下げることによって、しきい値電
位から離すことができるようにしている(請求項3と請
求項6の発明)。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In a coordinate measuring apparatus according to the present invention, the number of states is reduced from the conventional three states to two states.
The feature is that the coordinate measuring speed is improved (the inventions of claims 1 and 4). Also, the comparator output is connected to the electrode x via a diode switch and a damping resistor.
It is connected to L or the electrode xR to stabilize the keying detection characteristic (the invention of claims 2 and 5). Furthermore, the output of the comparator is connected to the electrode xL or the electrode xR via a diode switch and a damping resistor so that the potential of the electrode xL or the electrode xR can be lowered so as to be separated from the threshold potential. 3 and the invention of claim 6).
【0021】図1は、この発明の座標測定装置におい
て、タッチパネルの打鍵位置を検出する打鍵位置検出回
路の実施の形態の一例を示す機能ブロック図である。図
の符号は図4と同様であり、D3はダイオード、R8は
ダンピング抵抗を示す。FIG. 1 is a functional block diagram showing an example of an embodiment of a keying position detecting circuit for detecting a keying position on a touch panel in the coordinate measuring device of the present invention. The reference numerals in the figure are the same as those in FIG. 4, where D3 is a diode and R8 is a damping resistor.
【0022】この図1に示したこの発明の座標測定装置
は、先の図4に示した従来の座標測定装置と、次の4点
で異なっている。第1に、打鍵検出を廃止し、x座標測
定動作またはy座標測定動作で兼用する(請求項1と請
求項4の発明)。第2に、コンパレータIC3のしきい
値電圧Vthを、座標(0,0)打鍵時の信号電圧と0V
の間に設定する。第3に、アナログスイッチASW2
は、従来は+5V、開放、接地の3状態をとったが、こ
の発明では、開放、接地の2状態のみとする。第4に、
ダイオードリミッタD1,D2の出力を、ダイオードD
3とダンピング抵抗R8を通してyU電極の信号へ接続
する(請求項2,3と請求項5,6の発明)。The coordinate measuring apparatus of the present invention shown in FIG. 1 is different from the conventional coordinate measuring apparatus shown in FIG. 4 in the following four points. First, key detection is abolished, and the x-coordinate measurement operation or the y-coordinate measurement operation is also used (the invention of claims 1 and 4). Second, the threshold voltage Vth of the comparator IC3 is set to 0 V with the signal voltage at the time of keying the coordinates (0, 0).
Set between. Third, the analog switch ASW2
Conventionally, three states of +5 V, open and ground are taken, but in the present invention, there are only two states of open and ground. Fourth,
The outputs of the diode limiters D1 and D2 are
3 and the signal of the yU electrode through the damping resistor R8 (the inventions of claims 2 and 3 and claims 5 and 6).
【0023】次に、図1に示した座標測定装置の動作に
ついて説明する。打鍵待ちの状態は、x座標測定の状態
と同じになる。すなわち、アナログスイッチASW2
は、端子S1側に接続され、アナログスイッチASW4
は閉じている。また、他方のアナログスイッチASW
1,ASW3は開放状態である。この状態では、yU電
極は接地電位になり、コンパレータIC3の出力は負に
なっている。そのため、リミッタ用のダイオードD2は
導通状態であり、−0.6V程度の電位となる。この電
位では、ダイオードD3も導通状態となり、yU電極の
負荷抵抗は、抵抗器R3とR8の並列合成抵抗となる。Next, the operation of the coordinate measuring device shown in FIG. 1 will be described. The key tapping wait state is the same as the x coordinate measurement state. That is, the analog switch ASW2
Is connected to the terminal S1 and the analog switch ASW4
Is closed. Also, the other analog switch ASW
1, ASW3 is open. In this state, the yU electrode is at the ground potential, and the output of the comparator IC3 is negative. Therefore, the limiter diode D2 is in a conductive state and has a potential of about -0.6V. At this potential, the diode D3 also becomes conductive, and the load resistance of the yU electrode becomes the parallel combined resistance of the resistors R3 and R8.
【0024】次に、打鍵状態となると、yU電極の電位
は上昇するが、その上昇は抵抗器R8によってダンピン
グされる。しかし、yU電極の電位はさらに上昇を続
け、コンパレータIC3のしきい値Vth(≒0.5V)
を越えるので、コンパレータIC3が反転し、A/D変
換器IC4に割り込み信号を与えると共に、ダイオード
スイッチD3を遮断状態として、ダンピング抵抗R8を
切り離す。この状態は、x座標測定状態となるので、バ
ウンス・チャタリング時間待った後、A/D変換を行っ
てx座標を測定する(請求項2と請求項5の発明)。Next, when the key is hit, the potential of the yU electrode rises, but the rise is damped by the resistor R8. However, the potential of the yU electrode continues to rise further, and the threshold value Vth of the comparator IC3 (コ ン パ レ ー タ 0.5 V)
Is exceeded, the comparator IC3 is inverted, an interrupt signal is given to the A / D converter IC4, the diode switch D3 is cut off, and the damping resistor R8 is disconnected. Since this state is the x coordinate measurement state, after waiting for the bounce chattering time, A / D conversion is performed to measure the x coordinate (the inventions of claims 2 and 5).
【0025】その後、一方のアナログスイッチASW
1,ASW3を閉じ、他方のアナログスイッチASW
2,ASW4を開放とする。この状態は、y座標測定状
態となるので、ローパスフィルタLPF2の応答時間だ
け待った後に、A/D変換を行ってy座標を測定する。
その後は、再び、x座標測定状態に戻る。もし、打鍵が
持続していた場合には、コンパレータIC3は、そのま
まの状態で打鍵検出信号を出力し続けるが、打鍵が終了
すると、yU電極の電位は接地電位に戻り、コンパレー
タIC3も反転するので打鍵信号の発生も停止する。Then, one analog switch ASW
1, ASW3 is closed and the other analog switch ASW
2. Open ASW4. Since this state is a y-coordinate measurement state, after waiting for the response time of the low-pass filter LPF2, A / D conversion is performed to measure the y-coordinate.
Thereafter, the state returns to the x coordinate measurement state again. If the key input has been continued, the comparator IC3 continues to output the key input detection signal as it is. However, when the key input is completed, the potential of the yU electrode returns to the ground potential, and the comparator IC3 is also inverted. The generation of the tap signal is also stopped.
【0026】以上のように、この発明のタッチパネルの
座標測定装置では、タッチパネルの2組の電極xL,x
Rおよび電極yU,yLの回路切り換えを行う回路切り
換え手段(アナログスイッチASW1〜ASW4)と、
所定のしきい値によって出力が反転するコンパレータ
(コンパレータIC3)とを設け、打鍵待ち状態をx座
標測定状態と兼用するようにしている。このように、状
態数を従来の3状態から2状態に減らすことによって、
座標測定速度を向上させることができる(請求項1の発
明)。また、打鍵待ち状態をy座標測定状態と兼用する
こともできるので、同様に、座標測定速度を向上させる
ことができる(請求項2の発明)。As described above, in the coordinate measuring apparatus for a touch panel according to the present invention, two pairs of electrodes xL and x of the touch panel are provided.
Circuit switching means (analog switches ASW1 to ASW4) for performing circuit switching of R and electrodes yU and yL;
A comparator (comparator IC3), whose output is inverted by a predetermined threshold value, is provided so that the key input waiting state is also used as the x coordinate measurement state. Thus, by reducing the number of states from the conventional three states to two states,
The coordinate measurement speed can be improved (the invention of claim 1). Further, since the key input waiting state can be used also as the y coordinate measurement state, the coordinate measurement speed can be similarly improved (the invention of claim 2).
【0027】[0027]
【発明の効果】請求項1のタッチパネルの座標測定装置
では、従来行われていた打鍵検出→x座標測定→
y座標測定という3段階に代えて、x座標測定(打鍵
検出)→y座標測定という2段階で、x座標とy座標
の測定を可能にしている。したがって、測定速度が向上
される。According to the coordinate measuring apparatus for a touch panel of the first aspect, the keying detection → x coordinate measurement →
The x-coordinate and the y-coordinate can be measured in two steps of x-coordinate measurement (key detection) → y-coordinate measurement instead of three steps of y-coordinate measurement. Therefore, the measurement speed is improved.
【0028】請求項2のタッチパネルの座標測定装置で
は、請求項1の座標測定装置において、コンパレータ出
力をダイオードスイッチおよびダンピング抵抗を介して
xL電極またはxR電極に接続し、打鍵開始直後に発生
する接触不安定領域(ハイインピーダンス領域)におい
てダンピングを行っている。したがって、請求項1の座
標測定装置による効果に加えて、打鍵検出時には安定領
域となり、打鍵検出測定を安定化させることができる。According to a second aspect of the present invention, in the coordinate measuring apparatus according to the first aspect, the comparator output is connected to the xL electrode or the xR electrode via a diode switch and a damping resistor, and a contact generated immediately after the start of keying. Damping is performed in an unstable region (high impedance region). Therefore, in addition to the effect of the coordinate measuring device of the first aspect, a stable area is provided at the time of keying detection, and keying detection measurement can be stabilized.
【0029】請求項3のタッチパネルの座標測定装置で
は、請求項1の座標測定装置において、コンパレータ出
力をダイオードスイッチおよびダンピング抵抗を介して
xL電極またはxR電極に接続し、打鍵状態でのxL電
極またはxR電極の電位を引き下げることによって、コ
ンパレータのしきい値電位から離すことができるように
している。したがって、請求項1の座標測定装置による
効果に加えて、雑音余裕度を向上させることができる。According to a third aspect of the present invention, in the coordinate measuring apparatus according to the first aspect, the comparator output is connected to the xL electrode or the xR electrode via a diode switch and a damping resistor, and the xL electrode or the key in the key pressed state is connected. By lowering the potential of the xR electrode, it can be separated from the threshold potential of the comparator. Therefore, in addition to the effect of the coordinate measuring device of the first aspect, the noise margin can be improved.
【0030】請求項4のタッチパネルの座標測定装置で
は、従来行われていた打鍵検出→x座標測定→y
座標測定という3段階に代えて、y座標測定(打鍵検
出)→x座標測定という2段階で、x座標とy座標の
測定を可能にしている。したがって、請求項1の座標測
定装置と同様に、測定速度を向上させることが可能にな
る。In the coordinate measuring apparatus for a touch panel according to the fourth aspect, keying detection → x coordinate measurement → y
Instead of the three steps of coordinate measurement, the x and y coordinates can be measured in two steps of y coordinate measurement (keystroke detection) → x coordinate measurement. Therefore, similarly to the coordinate measuring device of the first aspect, the measuring speed can be improved.
【0031】請求項5のタッチパネルの座標測定装置で
は、請求項4の座標測定装置において、打鍵開始直後に
発生する接触不安定領域において、ダンピングを行うよ
うにしている。したがって、請求項4の座標測定装置に
よる効果に加えて、打鍵検出時には安定領域となり、打
鍵検出測定を安定化できる。According to a fifth aspect of the present invention, in the coordinate measuring apparatus of the fourth aspect, damping is performed in a contact unstable area generated immediately after the start of keying. Therefore, in addition to the effect of the coordinate measuring device according to the fourth aspect, a stable area is provided at the time of keying detection, and keying detection measurement can be stabilized.
【0032】請求項6のタッチパネルの座標測定装置で
は、請求項4の座標測定装置において、コンパレータ出
力をダイオードスイッチおよびダンピング抵抗を介して
yU電極またはyL電極に接続し、打鍵状態でのyU電
極またはyL電極の電位を引き下げることによって、コ
ンパレータのしきい値電位から離すことができるように
している。したがって、請求項4の座標測定装置による
効果に加えて、雑音余裕度を向上させることができる。According to a sixth aspect of the present invention, in the coordinate measuring apparatus of the fourth aspect, the comparator output is connected to the yU electrode or the yL electrode via a diode switch and a damping resistor, and the yU electrode or the yU electrode in a key-pressed state is connected. By lowering the potential of the yL electrode, the potential of the yL electrode can be separated from the threshold potential of the comparator. Therefore, in addition to the effect of the coordinate measuring device according to the fourth aspect, the noise margin can be improved.
【図1】この発明の座標測定装置において、タッチパネ
ルの打鍵位置を検出する打鍵位置検出回路の実施の形態
の一例を示す機能ブロック図である。FIG. 1 is a functional block diagram showing an example of an embodiment of a keying position detecting circuit for detecting a keying position of a touch panel in a coordinate measuring device according to the present invention.
【図2】従来のアナログ式タッチパネルについて、その
概略構造の一例を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing an example of a schematic structure of a conventional analog touch panel.
【図3】図2に示したタッチパネルについて、動作時の
変形状態を説明する略側面図である。FIG. 3 is a schematic side view illustrating a deformation state of the touch panel shown in FIG. 2 during operation.
【図4】図2に示したタッチパネルの打鍵位置を検出す
る打鍵位置検出回路の一例を示す機能ブロック図であ
る。FIG. 4 is a functional block diagram illustrating an example of a keying position detection circuit that detects a keying position on the touch panel illustrated in FIG. 2;
IC1とIC2……ボルテージフォロワ、IC3……コ
ンパレータ、IC4……A/D変換器、LPF1とLP
F2……ローパスフィルタ、ASW1〜ASW4……ア
ナログスイッチ、D1〜D3……ダイオード、R1〜R
8……抵抗器、C1とC2……コンデンサIC1 and IC2: Voltage follower, IC3: Comparator, IC4: A / D converter, LPF1 and LP
F2: Low-pass filter, ASW1 to ASW4: Analog switch, D1 to D3: Diode, R1 to R
8 ... resistor, C1 and C2 ... capacitor
Claims (6)
撓性の基材と、前記基材の内側にそれぞれ形成された有
限の電気抵抗を有する導電膜と、前記それぞれの導電膜
の端部に形成され、互いに直交する2組のタッチパネル
電極xL,xRおよびタッチパネル電極yU,yLと、
前記2つの基材間に絶縁性のスペーサとを具備するタッ
チパネルにおいて、 タッチパネルの2組の電極xL,xRおよび電極yU,
yLの回路切り換えを行う回路切り換え手段と、 所定のしきい値によって出力が反転するコンパレータと
を備え、 打鍵待ち状態をx座標測定状態と兼用することを特徴と
する座標測定装置。1. A substrate, one or both of which are opposed to each other, a flexible substrate, a conductive film having a finite electric resistance formed inside the substrate, and an end of each of the conductive films. And two sets of touch panel electrodes xL and xR and touch panel electrodes yU and yL, which are orthogonal to each other,
A touch panel comprising an insulating spacer between the two base materials, wherein two sets of electrodes xL, xR and electrodes yU,
A coordinate measuring apparatus comprising: a circuit switching means for switching a circuit of yL; and a comparator whose output is inverted by a predetermined threshold value, wherein a key tapping wait state is also used as an x coordinate measurement state.
ンピング抵抗を介してタッチパネル電極xLまたは電極
xRに接続し、打鍵検出特性を安定化したことを特徴と
する座標測定装置。2. The coordinate measuring device according to claim 1, wherein the comparator output is connected to a touch panel electrode xL or an electrode xR via a diode switch and a damping resistor to stabilize a keying detection characteristic. measuring device.
ンピング抵抗を介してタッチパネル電極xLまたは電極
xRに接続し、電極xLまたは電極xRの電位を引き下
げることによって、前記コンパレータのしきい値に対し
て雑音余裕度を向上させたことを特徴とする座標測定装
置。3. The coordinate measuring apparatus according to claim 1, wherein the comparator output is connected to the touch panel electrode xL or xR via a diode switch and a damping resistor, and the potential of the electrode xL or xR is reduced, thereby reducing the potential of the electrode xL or xR. A coordinate measuring device having an improved noise margin with respect to a threshold value of a comparator.
撓性の基材と、前記基材の内側にそれぞれ形成された有
限の電気抵抗を有する導電膜と、前記それぞれの導電膜
の端部に形成され、互いに直交する2組のタッチパネル
電極xL,xRおよびタッチパネル電極yU,yLと、
前記2つの基材間に絶縁性のスペーサとを具備するタッ
チパネルにおいて、 タッチパネルの2組の電極xL,xRおよび電極yU,
yLの回路切り換えを行う回路切り換え手段と、 所定のしきい値によって出力が反転するコンパレータと
を備え、 打鍵待ち状態をy座標測定状態と兼用することを特徴と
する座標測定装置。4. A substrate, one or both of which are opposed to each other, a flexible substrate, a conductive film having a finite electric resistance formed inside the substrate, and an end of each of the conductive films And two sets of touch panel electrodes xL and xR and touch panel electrodes yU and yL, which are orthogonal to each other,
A touch panel comprising an insulating spacer between the two base materials, wherein two sets of electrodes xL, xR and electrodes yU,
A coordinate measuring apparatus comprising: a circuit switching means for switching a circuit of yL; and a comparator whose output is inverted by a predetermined threshold value, wherein a key tapping wait state is also used as a y coordinate measurement state.
ンピング抵抗を介してタッチパネル電極yUまたは電極
yLに接続し、打鍵検出特性を安定化したことを特徴と
する座標測定装置。5. The coordinate measuring device according to claim 4, wherein the comparator output is connected to a touch panel electrode yU or an electrode yL via a diode switch and a damping resistor to stabilize a keying detection characteristic. .
ンピング抵抗を介してタッチパネル電極yUまたは電極
yLに接続し、電極yUまたは電極yLの電位を引き下
げることによって、前記コンパレータのしきい値に対し
て雑音余裕度を向上させたことを特徴とする座標測定装
置。6. The coordinate measuring device according to claim 4, wherein the comparator output is connected to a touch panel electrode yU or an electrode yL via a diode switch and a damping resistor, and the potential of the electrode yU or the electrode yL is reduced, whereby the potential of the electrode yU or the electrode yL is reduced. A coordinate measuring device having an improved noise margin with respect to a threshold value of a comparator.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33928497A JP3869099B2 (en) | 1997-11-25 | 1997-11-25 | Touch panel coordinate measuring device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP33928497A JP3869099B2 (en) | 1997-11-25 | 1997-11-25 | Touch panel coordinate measuring device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPH11161429A true JPH11161429A (en) | 1999-06-18 |
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JP33928497A Expired - Fee Related JP3869099B2 (en) | 1997-11-25 | 1997-11-25 | Touch panel coordinate measuring device |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3869099B2 (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002069124A1 (en) * | 2001-02-28 | 2002-09-06 | A. Touch Co.,Ltd. | Pressure sensing structure and method in touch panel |
US7800025B2 (en) | 2007-01-19 | 2010-09-21 | Holtek Semiconductor Inc. | Apparatus for controlling an electrical cooker and related method thereof |
WO2010123191A1 (en) * | 2009-04-22 | 2010-10-28 | 에이디반도체 주식회사 | Multi-touch recognition resistive touch screen for recognizing multi-touch coordinates through capacitor charging time |
CN108616278A (en) * | 2016-12-12 | 2018-10-02 | 中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所 | A kind of discrete magnitude, analog quantity normalization Acquisition Circuit and method |
-
1997
- 1997-11-25 JP JP33928497A patent/JP3869099B2/en not_active Expired - Fee Related
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---|---|---|---|---|
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CN108616278A (en) * | 2016-12-12 | 2018-10-02 | 中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所 | A kind of discrete magnitude, analog quantity normalization Acquisition Circuit and method |
CN108616278B (en) * | 2016-12-12 | 2021-09-14 | 中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所 | Discrete quantity and analog quantity normalized acquisition circuit and method |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP3869099B2 (en) | 2007-01-17 |
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