JPH0595126A - 薄膜太陽電池およびその製造方法 - Google Patents
薄膜太陽電池およびその製造方法Info
- Publication number
- JPH0595126A JPH0595126A JP3252640A JP25264091A JPH0595126A JP H0595126 A JPH0595126 A JP H0595126A JP 3252640 A JP3252640 A JP 3252640A JP 25264091 A JP25264091 A JP 25264091A JP H0595126 A JPH0595126 A JP H0595126A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- amorphous silicon
- light incident
- incident side
- film solar
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/548—Amorphous silicon PV cells
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】複数のa−Sipin接合構造を積層したタンデ
ムセルにおいて、i層の次のセル側にある層を光が通過
する際の光吸収ロスを低減して変換効率を向上させる。 【構成】i層の次のセル側にある層を、SiH4 、C
O2 、H2 およびドーピング用ガスの混合ガスの分解に
よって生ずるアモルファスシリコンオキサイドで形成す
る。この際、酸素量を多くすると光吸収ロスが低下する
が、多くなりすぎると光導電率が低下するためバルク抵
抗が大きくなり、直列抵抗成分が増加してフィルファク
タが低下するので、a−Si(1-x) Ox で表わしたときの
xを0.2 未満に抑える。
ムセルにおいて、i層の次のセル側にある層を光が通過
する際の光吸収ロスを低減して変換効率を向上させる。 【構成】i層の次のセル側にある層を、SiH4 、C
O2 、H2 およびドーピング用ガスの混合ガスの分解に
よって生ずるアモルファスシリコンオキサイドで形成す
る。この際、酸素量を多くすると光吸収ロスが低下する
が、多くなりすぎると光導電率が低下するためバルク抵
抗が大きくなり、直列抵抗成分が増加してフィルファク
タが低下するので、a−Si(1-x) Ox で表わしたときの
xを0.2 未満に抑える。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、アモルファスシリコン
(以下a−Siと略す) を主材料としたpin接合構造を
複数積層してなる薄膜太陽電池およびその製造方法に関
する。
(以下a−Siと略す) を主材料としたpin接合構造を
複数積層してなる薄膜太陽電池およびその製造方法に関
する。
【0002】
【従来の技術】シラン系ガスを用いてプラズマCVD法
や光CVD法により形成されるa−Si太陽電池は薄膜、
大面積化が容易という特長をもち、低コスト太陽電池と
して期待されている。一方、a−Si太陽電池には長期間
の光照射で特性が劣化する、いわゆる "光劣化現象" が
あり、実用化の上で大きな問題となっている。この問題
を解決する一つの方法として、図1に示すようにpin
接合構造を二層積層化することがあげられる。この太陽
電池は二層タンデムセルと呼ばれ、通常のpin接合の
一つからなるシングルセルと比べて光劣化が半分程度に
抑えられる。二層タンデムセルは以下のように作製され
る。
や光CVD法により形成されるa−Si太陽電池は薄膜、
大面積化が容易という特長をもち、低コスト太陽電池と
して期待されている。一方、a−Si太陽電池には長期間
の光照射で特性が劣化する、いわゆる "光劣化現象" が
あり、実用化の上で大きな問題となっている。この問題
を解決する一つの方法として、図1に示すようにpin
接合構造を二層積層化することがあげられる。この太陽
電池は二層タンデムセルと呼ばれ、通常のpin接合の
一つからなるシングルセルと比べて光劣化が半分程度に
抑えられる。二層タンデムセルは以下のように作製され
る。
【0003】まず、ガラス基板1の上に、SnO2 等の透
明電極2を形成し、その上にSiH4、CH4 を主ガスと
し、H2 を希釈ガス、B2 H6 をドーピングガスとして
アモルファスシリコンカーバイド (a−SiC) の第一p
層3を100 〜150 Åの厚さに形成する。つづいてSiH4
を主ガス、H2 を希釈ガスとしてa−Siの第一i層4を
500 〜800 Åの厚さに形成し、さらにSiH4 を主ガス、
H2 を希釈ガス、PH 3 をドーピングガスとしてa−Si
の第一n層5を100 〜150 Åの厚さに形成する。次に、
第二p、i、n層6、7、8を同じ要領でそれぞれ、10
0 〜150 Å、3000〜5000Å、100 〜150 Åの厚さに形成
し、裏面電極12を形成することにより作製される。ま
た、二つのセル間のn/p接合部がオーミック接合にな
るように、第一n層5と第二p層6の間に、必要に応じ
てnあるいはp型のマイクロクリスタルシリコン (μc
−Si) 層が形成される。
明電極2を形成し、その上にSiH4、CH4 を主ガスと
し、H2 を希釈ガス、B2 H6 をドーピングガスとして
アモルファスシリコンカーバイド (a−SiC) の第一p
層3を100 〜150 Åの厚さに形成する。つづいてSiH4
を主ガス、H2 を希釈ガスとしてa−Siの第一i層4を
500 〜800 Åの厚さに形成し、さらにSiH4 を主ガス、
H2 を希釈ガス、PH 3 をドーピングガスとしてa−Si
の第一n層5を100 〜150 Åの厚さに形成する。次に、
第二p、i、n層6、7、8を同じ要領でそれぞれ、10
0 〜150 Å、3000〜5000Å、100 〜150 Åの厚さに形成
し、裏面電極12を形成することにより作製される。ま
た、二つのセル間のn/p接合部がオーミック接合にな
るように、第一n層5と第二p層6の間に、必要に応じ
てnあるいはp型のマイクロクリスタルシリコン (μc
−Si) 層が形成される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】a−Si太陽電池ではp
層およびn層はデッドレイヤになっており、これらの層
における光吸収は発電ロスにつながる。このため、窓層
にあたるp層の光学ギャップを大きくして光吸収を小さ
くすることが考えられ、例えば特開昭56−64476号公報
で公知のように、p層にa−SiCを適用し、光吸収ロス
の低減を図っている。二層タンデムセルの場合、このほ
かにセル間のn/p接合部での光吸収ロスが生じる。こ
の部分はシングルセルの金属電極側のn層とは異なり、
通過する光の強度が入射光の半分程度あることから光吸
収が大きな問題になっていた。n層中での短絡電流密度
Jscのロスに換算して3〜5%もあることがシミュレ
ーションによりわかっている。
層およびn層はデッドレイヤになっており、これらの層
における光吸収は発電ロスにつながる。このため、窓層
にあたるp層の光学ギャップを大きくして光吸収を小さ
くすることが考えられ、例えば特開昭56−64476号公報
で公知のように、p層にa−SiCを適用し、光吸収ロス
の低減を図っている。二層タンデムセルの場合、このほ
かにセル間のn/p接合部での光吸収ロスが生じる。こ
の部分はシングルセルの金属電極側のn層とは異なり、
通過する光の強度が入射光の半分程度あることから光吸
収が大きな問題になっていた。n層中での短絡電流密度
Jscのロスに換算して3〜5%もあることがシミュレ
ーションによりわかっている。
【0005】本発明の目的は、上述の問題を解決し、積
層されるセルの中間での光吸収ロスを低減した薄膜太陽
電池およびその製造方法を提供することにある。
層されるセルの中間での光吸収ロスを低減した薄膜太陽
電池およびその製造方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明は、a−Siを主材料としてpin接合構造
を複数積層してなる薄膜太陽電池において、光の入射す
る側から最も遠くにあるpin接合構造を除く各pin
接合構造のi層の反光入射側にあるp層あるいはn層
が、一般式a−Si(1-x) Ox で表わされ、xが0.2 未満
であるアモルファスシリコンオキサイドからなるものと
する。そして、i層の反光入射側にあるa−SiO層の光
学ギャップが1.9eV ないし2.1eV の範囲にあるか、ある
いはその光導電率が1×10-6s/cm以上であることが有
効である。また、本発明は、a−Siを主材料としたpi
n接合構造を複数積層する薄膜太陽電池の製造方法にお
いて、光の入射する側から最も遠いpin接合構造を除
く各pin接合のi層の反光入射側にあるp層あるいは
n層を、SiH4 、CO2 、H2 およびドーピング用の不
純物を含むガスの混合ガスを分解することにより生ずる
a−SiOで形成するものとする。そして、分解をグロー
放電分解によることが有効である。
めに、本発明は、a−Siを主材料としてpin接合構造
を複数積層してなる薄膜太陽電池において、光の入射す
る側から最も遠くにあるpin接合構造を除く各pin
接合構造のi層の反光入射側にあるp層あるいはn層
が、一般式a−Si(1-x) Ox で表わされ、xが0.2 未満
であるアモルファスシリコンオキサイドからなるものと
する。そして、i層の反光入射側にあるa−SiO層の光
学ギャップが1.9eV ないし2.1eV の範囲にあるか、ある
いはその光導電率が1×10-6s/cm以上であることが有
効である。また、本発明は、a−Siを主材料としたpi
n接合構造を複数積層する薄膜太陽電池の製造方法にお
いて、光の入射する側から最も遠いpin接合構造を除
く各pin接合のi層の反光入射側にあるp層あるいは
n層を、SiH4 、CO2 、H2 およびドーピング用の不
純物を含むガスの混合ガスを分解することにより生ずる
a−SiOで形成するものとする。そして、分解をグロー
放電分解によることが有効である。
【0007】
【作用】a−Si膜中の酸素の量を増加させることにより
光学ギャップEgが1.9eV 以上に大きくなりi層を出た光
の次のp−i−n接合へ入るまでの吸収ロスが減少し、
短絡電流が増大する。しかし、さらに酸素量が増加し、
a−Si(1-x) Ox のxが0.16を超え、0.21に近くなると
a−SiO膜の光導電率σphが低下によりバルク抵抗が大
きくなり、直列抵抗成分が増加して、フィルファクタが
低下する。そこでσphを1×10-6s/cm以上の範囲にす
ることが有効でその際Egは2.1eV になる。そして、SiH
4 、CO2 、H2 の混合ガスの分解により形成されるa
−SiO膜は、SiH4 、O2 等によりa−SiO膜を形成す
るときのようにSiH4 とO2 の激しい反応のために膜に
欠陥が生ずることがないため、良質の膜が得られる。
光学ギャップEgが1.9eV 以上に大きくなりi層を出た光
の次のp−i−n接合へ入るまでの吸収ロスが減少し、
短絡電流が増大する。しかし、さらに酸素量が増加し、
a−Si(1-x) Ox のxが0.16を超え、0.21に近くなると
a−SiO膜の光導電率σphが低下によりバルク抵抗が大
きくなり、直列抵抗成分が増加して、フィルファクタが
低下する。そこでσphを1×10-6s/cm以上の範囲にす
ることが有効でその際Egは2.1eV になる。そして、SiH
4 、CO2 、H2 の混合ガスの分解により形成されるa
−SiO膜は、SiH4 、O2 等によりa−SiO膜を形成す
るときのようにSiH4 とO2 の激しい反応のために膜に
欠陥が生ずることがないため、良質の膜が得られる。
【0008】
【実施例】図1の構造をもつ本発明の一実施例の薄膜太
陽電池を次のようにして製造した。まずガラス基板1の
上に、SnO2 等の透明電極2を形成し、その上にa−Si
Cからなる第一p層3、a−Siからなる第一i層4およ
びa−SiOからなる第一n層5をそれぞれ120 Å、700
Å、100 Åの厚さに形成した。つづいてa−SiCからな
る第二p層6、a−Siからなる第二i層7および第二n
層8をそれぞれ120Å、3000Å、150 Åの厚さに形成
し、Ag等の金属電極12を形成した。このうち、本発明に
よる第一n層5は以下の方法で成膜される。
陽電池を次のようにして製造した。まずガラス基板1の
上に、SnO2 等の透明電極2を形成し、その上にa−Si
Cからなる第一p層3、a−Siからなる第一i層4およ
びa−SiOからなる第一n層5をそれぞれ120 Å、700
Å、100 Åの厚さに形成した。つづいてa−SiCからな
る第二p層6、a−Siからなる第二i層7および第二n
層8をそれぞれ120Å、3000Å、150 Åの厚さに形成
し、Ag等の金属電極12を形成した。このうち、本発明に
よる第一n層5は以下の方法で成膜される。
【0009】すでに透明電極2、第一p層3、第一i層
4を形成したガラス基板1を収容した成膜室に原料ガス
としてシラン (SiH4 ),二酸化炭素 (CO2 ) 、水素
(H2 ) およびドーピングガスとしてのホスフィン (P
H3 ) を導入する。各ガスは、流量比でH2 /SiH4 =
20、CO2 /SiH4 =0.1 〜4、PH3 /SiH4 =0.01
となるように混合し、ガス全体の圧力を0.5 Torrにす
る。基板温度を150 ℃に保ち、高周波電力を電極間に印
加してグロー放電分解によりa−SiO膜を形成する。a
−SiO膜の組成はSiH4 およびCO2 のガス比を変える
ことにより、変化させることができる。ここで、a−Si
(1-x) Ox で表わしたn層の膜組成xを変化させたとき
の光学ギャップEgと導電率σph、さらに、その膜を適用
して作製した二層タンデムセルの太陽電池特性を表1に
示す。n層の膜組成はX線光電子分光法 (XPS) によ
り分析した値であり、太陽電池特性は、AM1.5 、100mW
/cm2の擬似太陽光下で測定した値である。
4を形成したガラス基板1を収容した成膜室に原料ガス
としてシラン (SiH4 ),二酸化炭素 (CO2 ) 、水素
(H2 ) およびドーピングガスとしてのホスフィン (P
H3 ) を導入する。各ガスは、流量比でH2 /SiH4 =
20、CO2 /SiH4 =0.1 〜4、PH3 /SiH4 =0.01
となるように混合し、ガス全体の圧力を0.5 Torrにす
る。基板温度を150 ℃に保ち、高周波電力を電極間に印
加してグロー放電分解によりa−SiO膜を形成する。a
−SiO膜の組成はSiH4 およびCO2 のガス比を変える
ことにより、変化させることができる。ここで、a−Si
(1-x) Ox で表わしたn層の膜組成xを変化させたとき
の光学ギャップEgと導電率σph、さらに、その膜を適用
して作製した二層タンデムセルの太陽電池特性を表1に
示す。n層の膜組成はX線光電子分光法 (XPS) によ
り分析した値であり、太陽電池特性は、AM1.5 、100mW
/cm2の擬似太陽光下で測定した値である。
【0010】
【表1】
【0011】表1からわかるように、膜中酸素量を増加
させることにより光学ギャップEgが増加し、これにとも
ない短絡電流密度Jscが向上している。Jscの向上は最
大で約3%となっており、シミュレーションの結果と良
い対応が得られている。一方、フィルファクタFFに着
目するとX≦0.16の範囲でほぼ一定になっているが、そ
れよりも大きくなると減少することがわかる。これは、
光導電率σphの低下により、n層のバルク抵抗が増加
し、直列抵抗成分が増加したためである。従って、σph
≧1×10-6s/cmの範囲のa−SiO膜をn層に用いれ
ば、FFが低下することなくJscが向上し、変換効率η
が向上することが分かった。
させることにより光学ギャップEgが増加し、これにとも
ない短絡電流密度Jscが向上している。Jscの向上は最
大で約3%となっており、シミュレーションの結果と良
い対応が得られている。一方、フィルファクタFFに着
目するとX≦0.16の範囲でほぼ一定になっているが、そ
れよりも大きくなると減少することがわかる。これは、
光導電率σphの低下により、n層のバルク抵抗が増加
し、直列抵抗成分が増加したためである。従って、σph
≧1×10-6s/cmの範囲のa−SiO膜をn層に用いれ
ば、FFが低下することなくJscが向上し、変換効率η
が向上することが分かった。
【0012】図2は本発明の別の実施例の三層タンデム
セルを示し、図1と共通の部分には同一の符号が付され
ている。この場合は、第二のn/p接合を作る第二n層
8もσph≧1×106 s/cmの条件を満たすa−SiOによ
って形成して二層タンデムセルと同様の効果を得た。な
お、第三p層9をa−SiCにより、第三n層11をa−Si
により形成することは、図1における第二層セルと同様
であるが、第三i層10にアモルファスシリコンゲルマニ
ウムを適用して長波長感度の向上を図っている。
セルを示し、図1と共通の部分には同一の符号が付され
ている。この場合は、第二のn/p接合を作る第二n層
8もσph≧1×106 s/cmの条件を満たすa−SiOによ
って形成して二層タンデムセルと同様の効果を得た。な
お、第三p層9をa−SiCにより、第三n層11をa−Si
により形成することは、図1における第二層セルと同様
であるが、第三i層10にアモルファスシリコンゲルマニ
ウムを適用して長波長感度の向上を図っている。
【0013】
【発明の効果】本発明によれば、タンデムセルのセル間
にあるn/pあるいはp/n接合部の光入射側の層に酸
素量を調整したa−SiOを適用することにより、i層の
背後にあるn層あるいはp層での光吸収ロスが減少し、
短絡電流密度の向上が達せられる。これによって、従来
の方法により製造されたタンデムセルよりも高い変換効
率を示す薄膜太陽電池を得ることができた。
にあるn/pあるいはp/n接合部の光入射側の層に酸
素量を調整したa−SiOを適用することにより、i層の
背後にあるn層あるいはp層での光吸収ロスが減少し、
短絡電流密度の向上が達せられる。これによって、従来
の方法により製造されたタンデムセルよりも高い変換効
率を示す薄膜太陽電池を得ることができた。
【図1】本発明の実施される二層のタンデムセルの断面
図
図
【図2】本発明の実施される三層タンデムセルの断面図
1 ガラス基板 2 透明電極 3 第一p層 4 第一i層 5 第一n層 6 第二p層 7 第二i層 8 第二n層 9 第三p層 10 第三i層 11 第三n層 12 金属電極
Claims (5)
- 【請求項1】アモルファスシリコンを主材料としてpi
n接合構造を複数積層してなるものにおいて、光の入射
する側から最も遠くにあるpin接合構造を除く各pi
n接合構造のi層の反光入射側にあるp層あるいはn層
が、一般式a−Si(1-x) Ox で表わされ、xが0.2 未満
であるアモルファスシリコンオキサイドからなることを
特徴とする薄膜太陽電池。 - 【請求項2】i層の反光入射側にあるアモルファスシリ
コンオキサイド層の光学ギャップが1.9eV ないし2.1eV
の範囲にある請求項1記載の薄膜太陽電池。 - 【請求項3】i層の反光入射側にあるアモルファスシリ
コンオキサイド層の光導電率が1×10-6s/cm以上であ
る請求項1あるいは2記載の薄膜太陽電池。 - 【請求項4】アモルファスシリコンを主材料としたpi
n接合構造を複数積層する薄膜太陽電池の製造方法にお
いて、光の入射する側から最も遠いpin接合構造を除
く各pin接合構造のi層の反光入射側にあるp層ある
いはn層を、モノシラン、二酸化炭素、水素およびドー
ピング用の不純物を含むガスの混合ガスを分解すること
により生ずるアモルファスシリコンオキサイドで形成す
ることを特徴とする薄膜太陽電池の製造方法。 - 【請求項5】分解をグロー放電分解による請求項4記載
の薄膜太陽電池の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3252640A JPH0595126A (ja) | 1991-10-01 | 1991-10-01 | 薄膜太陽電池およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3252640A JPH0595126A (ja) | 1991-10-01 | 1991-10-01 | 薄膜太陽電池およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0595126A true JPH0595126A (ja) | 1993-04-16 |
Family
ID=17240166
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3252640A Pending JPH0595126A (ja) | 1991-10-01 | 1991-10-01 | 薄膜太陽電池およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0595126A (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5507881A (en) * | 1991-09-30 | 1996-04-16 | Fuji Electric Co., Ltd. | Thin-film solar cell and method of manufacturing same |
WO2005011001A1 (ja) * | 2003-07-24 | 2005-02-03 | Kaneka Corporation | 積層型光電変換装置 |
JP2005135987A (ja) * | 2003-10-28 | 2005-05-26 | Kaneka Corp | 積層型光電変換装置及びその製造方法 |
WO2007074683A1 (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Kaneka Corporation | 積層型光電変換装置 |
CN100420039C (zh) * | 2003-07-24 | 2008-09-17 | 株式会社钟化 | 层积型光电变换装置 |
WO2010104041A1 (ja) * | 2009-03-12 | 2010-09-16 | 三菱電機株式会社 | 薄膜太陽電池およびその製造方法 |
EP2834856A4 (en) * | 2012-04-03 | 2015-12-09 | Lg Electronics Inc | THIN-FILM SOLAR CELL |
US9640955B2 (en) | 2013-08-09 | 2017-05-02 | Autonetworks Technologies, Ltd. | Wire harness and connector |
US9698523B2 (en) | 2013-08-09 | 2017-07-04 | Autonetworks Technologies, Ltd. | Connector and wire harness |
WO2017130654A1 (ja) * | 2016-01-25 | 2017-08-03 | 長州産業株式会社 | 光発電素子 |
JP2020505786A (ja) * | 2017-01-18 | 2020-02-20 | エネル グリーン パワー エス.ピー.エー.Enel Green Power S.P.A. | シングル型、タンデム型ならびにヘテロ接合型太陽電池装置およびその形成方法 |
-
1991
- 1991-10-01 JP JP3252640A patent/JPH0595126A/ja active Pending
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5507881A (en) * | 1991-09-30 | 1996-04-16 | Fuji Electric Co., Ltd. | Thin-film solar cell and method of manufacturing same |
WO2005011001A1 (ja) * | 2003-07-24 | 2005-02-03 | Kaneka Corporation | 積層型光電変換装置 |
CN100420039C (zh) * | 2003-07-24 | 2008-09-17 | 株式会社钟化 | 层积型光电变换装置 |
US7550665B2 (en) | 2003-07-24 | 2009-06-23 | Kaneka Corporation | Stacked photoelectric converter |
JP2005135987A (ja) * | 2003-10-28 | 2005-05-26 | Kaneka Corp | 積層型光電変換装置及びその製造方法 |
JP5180590B2 (ja) * | 2005-12-26 | 2013-04-10 | 株式会社カネカ | 積層型光電変換装置 |
WO2007074683A1 (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-05 | Kaneka Corporation | 積層型光電変換装置 |
US7851695B2 (en) | 2005-12-26 | 2010-12-14 | Kaneka Corporation | Stacked-type photoelectric conversion device |
WO2010104041A1 (ja) * | 2009-03-12 | 2010-09-16 | 三菱電機株式会社 | 薄膜太陽電池およびその製造方法 |
JP5197845B2 (ja) * | 2009-03-12 | 2013-05-15 | 三菱電機株式会社 | 薄膜太陽電池およびその製造方法 |
EP2834856A4 (en) * | 2012-04-03 | 2015-12-09 | Lg Electronics Inc | THIN-FILM SOLAR CELL |
US9640955B2 (en) | 2013-08-09 | 2017-05-02 | Autonetworks Technologies, Ltd. | Wire harness and connector |
US9698523B2 (en) | 2013-08-09 | 2017-07-04 | Autonetworks Technologies, Ltd. | Connector and wire harness |
WO2017130654A1 (ja) * | 2016-01-25 | 2017-08-03 | 長州産業株式会社 | 光発電素子 |
JP2020505786A (ja) * | 2017-01-18 | 2020-02-20 | エネル グリーン パワー エス.ピー.エー.Enel Green Power S.P.A. | シングル型、タンデム型ならびにヘテロ接合型太陽電池装置およびその形成方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5942049A (en) | Increasing stabilized performance of amorphous silicon based devices produced by highly hydrogen diluted lower temperature plasma deposition | |
JP4257332B2 (ja) | シリコン系薄膜太陽電池 | |
US6368892B1 (en) | Monolithic multi-junction solar cells with amorphous silicon and CIS and their alloys | |
US4638111A (en) | Thin film solar cell module | |
US8648251B2 (en) | Tandem thin-film silicon solar cell and method for manufacturing the same | |
AU2005200023B2 (en) | Photovoltaic device | |
JPS6249672A (ja) | アモルフアス光起電力素子 | |
JPS59205770A (ja) | 光起電力装置およびその製造方法 | |
JP3047666B2 (ja) | シリコンオキサイド半導体膜の成膜方法 | |
JPH06151916A (ja) | 多接合光電デバイスおよびその製造法 | |
JPH0738454B2 (ja) | 太陽電池 | |
US5419783A (en) | Photovoltaic device and manufacturing method therefor | |
JPH11317538A (ja) | 光導電性薄膜および光起電力素子 | |
JPH0595126A (ja) | 薄膜太陽電池およびその製造方法 | |
JP3248227B2 (ja) | 薄膜太陽電池およびその製造方法 | |
JP2008283075A (ja) | 光電変換装置の製造方法 | |
JPH065765B2 (ja) | 光電変換装置 | |
JPH11274527A (ja) | 光起電力装置 | |
JP3245962B2 (ja) | 薄膜太陽電池の製造方法 | |
JP2775460B2 (ja) | 非晶質太陽電池の製造方法 | |
JP2003142705A (ja) | 光起電力素子 | |
JP2000150935A (ja) | 光起電力素子 | |
JPWO2005093856A1 (ja) | 薄膜光電変換装置の製造方法 | |
JPH0685291A (ja) | 半導体装置およびその製造法 | |
JPS6284571A (ja) | 多層構造型アモルフアス太陽電池 |