JPH0140334B2 - - Google Patents
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- JPH0140334B2 JPH0140334B2 JP55118922A JP11892280A JPH0140334B2 JP H0140334 B2 JPH0140334 B2 JP H0140334B2 JP 55118922 A JP55118922 A JP 55118922A JP 11892280 A JP11892280 A JP 11892280A JP H0140334 B2 JPH0140334 B2 JP H0140334B2
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- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/08—Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
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-
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- G03B7/099—Arrangement of photoelectric elements in or on the camera
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- G03B7/0997—Through the lens [TTL] measuring
- G03B7/09979—Multi-zone light measuring
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は複写界を複数の領域に分割して測光
し、該複数の領域に夫々に対応した複数の光電出
力から画面全体の適正露出を決定するための適正
測光出力を演算抽出するマルチ測光装置等に関す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention measures the photometry by dividing the reproduction field into a plurality of areas, and determines the appropriate photometry output for determining the appropriate exposure of the entire screen from a plurality of photoelectric outputs corresponding to the plurality of areas. This invention relates to a multi-photometering device that calculates and extracts
上述したマルチ測光装置は種々提案されてい
る。その中で一例として特開昭52―12828号があ
げられる。 Various types of multi-photometering devices described above have been proposed. One example of this is JP-A-52-12828.
従来のこの種の分割測光装置において提案され
ていたのは、複数の測光情報から如何に演算して
適正露出値を算出するかという点に関してであつ
た。 What has been proposed in this type of conventional split photometry device is how to calculate an appropriate exposure value from a plurality of pieces of photometry information.
しかしながら、このマルチ測光装置を実際のカ
メラにおいて使用可能とする時には、次のような
問題がある。即ち、被写界(以下画面と称す)の
中の、測光出力としての光電出力の分布と、フイ
ルム面照度の分布との間に差があるため、光電出
力をそのまま測光出力として用いることはできな
い点である。特にTTL開放測光の場合は開放測
光時の光電出力分布と実際に使用される撮影絞り
値でのフイルム面照度分布との差が顕著であり、
無視することは不可能であつた。 However, when this multi-photometering device can be used in an actual camera, there are the following problems. In other words, there is a difference between the distribution of photoelectric output as a photometric output in the field of view (hereinafter referred to as the screen) and the distribution of illuminance on the film surface, so the photoelectric output cannot be used as it is as a photometric output. It is a point. Especially in the case of TTL aperture metering, there is a noticeable difference between the photoelectric output distribution during aperture metering and the film surface illuminance distribution at the aperture value actually used.
It was impossible to ignore.
従来の単一の光電素子出力による測光装置の場
合は受光素子光電出力及びフイルム面照度の双方
に対し、レンズの絞り値に関する比例性のよい画
面中央部を主として測光対象としていたので、上
記の分布の差の影響をそれぼど受けず、露出誤差
となつて現われることは比較的少なかつた。しか
しながらマルチ測光装置の場合には画面の周辺部
をも独立して測光しているので上記の両分布の差
が無視できなくなる。 In the case of conventional photometers using a single photoelectric element output, the photometry target was mainly the center of the screen, which had good proportionality to the aperture value of the lens, for both the photoelectric output of the photodetector and the film surface illuminance. It was not affected by the difference in image quality, and exposure errors were relatively rare. However, in the case of a multi-photometry device, since the peripheral portion of the screen is also independently photometered, the difference between the two distributions described above cannot be ignored.
例えば、第1図で示すように受光素子P11〜P46
によつて4×6のマトリツクス状に画面を分割し
て測光する場合を考えてみる。被写体が均一な輝
度面のとき、第1図の画面における部分A―
A′における光電出力はレンズのビグネツテイン
グやコサインン四乗則により画面周辺部において
出力レベルの落ちた第2図aのような分布を示
す。(この第2図では横軸は画面中央を0とした
画面内位置を表わす。)しかし、実際に絞り込ん
だときのフイルム面上の照度分布はビグネツテイ
ングの影響がなくなり、光電出力は第2図bのよ
うにかなりフラツトに近くなる。この差の考慮が
ないと画面周辺部は実際より暗く測光してしまう
ことになる。 For example, as shown in FIG .
Let us consider the case where the screen is divided into a 4×6 matrix and photometry is performed. When the subject is on a uniform brightness surface, part A on the screen in Figure 1
The photoelectric output at A' exhibits a distribution as shown in Figure 2a, where the output level drops at the periphery of the screen due to lens vignetting and the cosine fourth law. (In Figure 2, the horizontal axis represents the position within the screen with the center of the screen set to 0.) However, when the image is actually stopped down, the illuminance distribution on the film surface is no longer affected by vignetting, and the photoelectric output is as shown in Figure 2b. It becomes quite flat, like this. If this difference is not taken into consideration, the peripheral area of the screen will be measured darker than it actually is.
本件出願人は、レンズの設定情報によつて、得
られた光電出力を実際に絞込んで撮影するときの
フイルム面の照度に近づくように補正することを
提案している(特願昭54―151467号)。しかしな
がらシヤツタ優先モード、プログラムモードの場
合、レンズは一般に最小絞になつているが、実際
に制御される絞は開放の場合もあり得るわけであ
り、これらのモードで使用する場合、不都合を生
じた。即ち、開放付近で補正しなければならない
のに、レンズからカメラには最小絞り値の情報し
か伝達されていないので、制御される絞り値が開
放のときには補正ができないという欠点があつ
た。 The applicant has proposed correcting the obtained photoelectric output using lens setting information so that it approaches the illuminance on the film surface when actually stopping down and photographing (Patent Application No. 1983- No. 151467). However, in the case of shutter priority mode and program mode, the lens is generally set to the minimum aperture, but the aperture that is actually controlled may be wide open, which may cause some inconvenience when used in these modes. . That is, although correction must be made near the maximum aperture, since only information about the minimum aperture value is transmitted from the lens to the camera, there is a drawback that correction cannot be performed when the aperture value to be controlled is at the maximum aperture value.
本発明は、シヤツタ優先モード或いはプログラ
ム制御モードで絞りを自動的に制御するカメラに
て光電出力の補正に露出演算回路からの制御すべ
き絞り値に対応した信号を導入することによつ
て、これらの欠点を解決し、最小絞に絞つてあつ
ても開放状態を検出して、補正出来るようにし
た。 The present invention corrects photoelectric output in a camera that automatically controls the aperture in shutter priority mode or program control mode by introducing a signal corresponding to the aperture value to be controlled from the exposure calculation circuit. This problem has been solved and the aperture can be detected and corrected even when the aperture is set to the minimum aperture.
第3図は本発明のマルチ測光装置の基本的構成
を示すブロツク図で、これによつて絞り優先・シ
ヤツタ速度自動制御の場合における信号の流れを
説明する。 FIG. 3 is a block diagram showing the basic configuration of the multi-photometering device of the present invention, and the flow of signals in the case of aperture priority/automatic shutter speed control will be explained using this block diagram.
以下の説明において、BVは被写体輝度、AV
は絞り値、SVはフイルム感度、TVはシヤツタ
速度のアペツクス値とする。1は測光回路、2は
マルチ測光処理回路、3はアペツクス演算回路、
4aは絞制御回路、4bはシヤツター制御回路、
5は情報設定部、6は表示回路である。測光回路
1からは、第1図のような分割を行なつた場合、
それぞれの位置に対応して光電出力P11(=BV11
―AV0:TTL開放測光のため、以下同)、R12(=
BV12−AV0),……,P46(=BV46−AV0)を得
る。なお、各受光素子の番号と各光電出力の番号
とは対応づけを明確にするため同一としているこ
の出力はマルチ測光処理回路2へ入力し、一連の
演算処理を行ない適正露出の推測値として一つの
演算手力P100=BVaos−AV0を演算る。一例とし
ては特開昭52―12828、又本件出願人による特願
昭54―23019、同54―23020等がある。アペツクス
演算回路3には情報設定部5からのフイルム感度
情報P101=SV、開放絞情報P102=AV0、設定絞
情報P103=(AV−AV0)M、シヤツタ速度情報
P104=TVM、モード情報P105及びマルチ測光処理
回路2の算出した輝度に関する演算出力P1001=
BVaos−AV0が入力され、次のようなアペツクス
演算がなされる(尚添字Mは設定値を表わす)。
例えばモード情報P105によつて絞優先モードが選
択された場合、絞制御回路4aに対して絞制御信
号
P107=P103=(AV−AV0)M (1−1)
を出力し、設定絞値まで絞られる。又、シヤツタ
制御回路4bに対してシヤツタ速度制御信号
P106=P100+P101−P103
=(BVaos−AV0)+SV
−(AV−AV0)M=TV (1−2)
を出力し、この値でシヤツタを制御する。表示回
路6には表示信号
P108=P106=TV (1−3)
を出力し、シヤツタ速度を表示する。 In the following explanation, BV is subject brightness, AV
is the aperture value, SV is the film sensitivity, and TV is the apex value of the shutter speed. 1 is a photometric circuit, 2 is a multi-photometric processing circuit, 3 is an apex calculation circuit,
4a is an aperture control circuit, 4b is a shutter control circuit,
5 is an information setting section, and 6 is a display circuit. From the photometric circuit 1, if the division is performed as shown in Figure 1,
Photoelectric output P 11 (=BV 11
- AV 0 : For TTL open metering, the same applies hereafter), R 12 (=
BV 12 −AV 0 ), ..., P 46 (=BV 46 −AV 0 ) are obtained. Note that the number of each photodetector and the number of each photoelectric output are the same in order to make the correspondence clear. This output is input to the multi-photometering processing circuit 2, where it undergoes a series of arithmetic processing and is unified as an estimated value of appropriate exposure. Compute the calculation power P 100 = BV aos −AV 0 . Examples include Japanese Patent Application Laid-Open No. 52-12828, and Japanese Patent Applications No. 54-23019 and No. 54-23020 filed by the applicant. The apex calculation circuit 3 receives film sensitivity information P 101 =SV from the information setting section 5, open aperture information P 102 =AV 0 , set aperture information P 103 =(AV-AV 0 )M, and shutter speed information.
P 104 = TV M , mode information P 105 , and calculation output regarding brightness calculated by the multi-photometry processing circuit 2 P 1001 =
BV aos -AV 0 is input, and the following apex calculation is performed (the subscript M represents a set value).
For example, when the aperture priority mode is selected by the mode information P105 , the aperture control signal P107 = P103 = (AV- AV0 ) M (1-1) is output to the aperture control circuit 4a, and the setting is made. The image is stopped down to the aperture value. Also, the shutter speed control signal P 106 = P 100 + P 101 − P 103 = (BV aos − AV 0 ) + SV − (AV − AV 0 ) M = TV (1-2) is output to the shutter control circuit 4b. , this value controls the shutter. A display signal P 108 =P 106 =TV (1-3) is output to the display circuit 6 to display the shutter speed.
モード情報P105によつてシヤツタ速度優先モー
ドが選択されている場合絞制御回路4aに対して
は絞制御信号
P107=P100+P101−P104
=(BVaos−AV0)+SV−TVM
=(AV−AV0) (1−4)
を出力し、この値に従つて絞を制御する。又、シ
ヤツタ制御回路4bに対してはシヤツタ制御信号
P106=P104=TVM (1−5)
を出力し設定シヤツタ速度で制御される。表示回
路6には表示信号は
P108=P102+P107
=AV0+(AV−AV0)=AV (1−6)
を出力し、制御絞値を表示する。 When the shutter speed priority mode is selected by the mode information P 105 , the diaphragm control signal for the diaphragm control circuit 4a is P 107 =P 100 +P 101 −P 104 =(BV aos −AV 0 )+SV−TV M =(AV- AV0 ) (1-4) is output, and the aperture is controlled according to this value. Further, a shutter control signal P 106 =P 104 =TV M (1-5) is output to the shutter control circuit 4b, and the shutter speed is controlled at the set shutter speed. The display signal P108 = P102 + P107 = AV0 +(AV- AV0 )=AV (1-6) is outputted to the display circuit 6 to display the control aperture value.
第4図は第3図の回路に本発明を適用したマル
チ測光装置のブロツク図であり、第3図と比較し
て補正演算回路及び補正値算出回路8が加わつて
いる。補正値算出回路8はアペツクス演算部3か
ら絞制御信号P107=AV−AV0、情報設定部5か
ら入力される開放絞径情報P102=AV0、及びレン
ズの光学系に起因する特性を示す信号P109=Lに
よつてそれぞれの位置の光電出力P11…Pij…P46に
対応する補正値δ11…δij…δ46を算出する。一般式
で書くとδijは
δij=fij(AV−AV0,AV0,L) (2)
で求まる。この式は実験により求まる。 FIG. 4 is a block diagram of a multi-photometering device in which the present invention is applied to the circuit of FIG. 3, and a correction calculation circuit and a correction value calculation circuit 8 are added compared to FIG. The correction value calculation circuit 8 receives the aperture control signal P 107 =AV−AV 0 from the apex calculation unit 3, the open aperture diameter information P 102 =AV 0 input from the information setting unit 5, and the characteristics due to the optical system of the lens. Correction values δ 11 ...δ ij ...δ 46 corresponding to the photoelectric outputs P 11 ...P ij ... P 46 at the respective positions are calculated based on the signal P 109 =L shown. Written as a general formula, δ ij can be found as δ ij = f ij (AV−AV 0 , AV 0 , L) (2). This formula can be determined by experiment.
補正演算回路7は測光回路1の出力P11,…Pij
…P46と補正値算出回路8の出力δ11…δij…δ46の
各々の出力との加算P11+δ11,…,Pij+δij,…,
P46+δ46を行なう加算回路711,…7ij,…746から
成立つている。 The correction calculation circuit 7 uses the outputs P 11 ,...P ij of the photometry circuit 1
…P 46 and the output of each of the outputs δ 11 …δ ij …δ 46 of the correction value calculation circuit 8 are added P 11 +δ 11 ,…, P ij +δ ij ,…,
It consists of adder circuits 711 ,... 7ij ,... 746 that perform P46 + δ46 .
測光回路の光電圧力を
とし、補正値算出回路の出力を、
とマトリツクスの形で表わすと、補正演算回路8
は、
のマトリツクス演算をしていることになる。ここ
でB′ij−AV0は補正後の光電出力を意味している。
結局、補正演算回路7から補正された光電出力
P111=BV11′−AV0,…P146=BV′46−AV0がマル
チ測光処理回路2入力され、ここで適正露出値
P100′=BV′aos−AV0が算出される。この値は補
正された光電出力に基づくものなのでより正確で
ある。以下のシーケンスは第3図と同様である。 The photovoltage power of the photometric circuit The output of the correction value calculation circuit is When expressed in matrix form, the correction calculation circuit 8
teeth, This means that we are performing matrix operations. Here, B′ ij −AV 0 means the photoelectric output after correction.
In the end, the photoelectric output corrected from the correction calculation circuit 7
P 111 = BV 11 ′−AV 0 ,…P 146 = BV′ 46 −AV 0 is input to the multi-photometry processing circuit 2, where the appropriate exposure value is determined.
P 100 ′=BV′ aos −AV 0 is calculated. This value is more accurate because it is based on corrected photoelectric output. The following sequence is similar to that in FIG.
次に実際にどのような補正が必要になるかにつ
いて述べる。 Next, we will discuss what kind of correction is actually required.
第5図は開放絞り値の異なる同一焦点距離のレ
ンズで、均一な輝度面を撮影する場合の例であ
る。横軸は画面中央をOとする位置を表わし、縦
軸は第5図a:光電出力、第5図b:フイルム面
照度、第5図c:補正値を表わしている。第5図
aにおいて開放絞f/1.4のレンズとf/2.8のレ
ンズを例にとつて考えてみる。f/1.4レンズで
測光するときの方が光電電力は当然大きくなる
が、大口径レンズにおいて特に顕著なビグネツテ
イングのために周辺部の光電出力はかなり低下し
ている。一方両者のレンズでf/8に絞つて撮影
するとき、フイルム面の照度分布は第5図bのよ
うにどちらかの場合でもほぼフラツトになる。す
なわちマルチ測光処理においては、第5図aのよ
うな分布を、第5図bの分布に変換して処理しな
ければならない。 FIG. 5 is an example of a case where a uniform brightness surface is photographed using lenses having the same focal length and different open aperture values. The horizontal axis represents the position with O being the center of the screen, and the vertical axis represents the photoelectric output in FIG. 5a, the film surface illuminance in FIG. 5b, and the correction value in FIG. 5c. Let us consider, as an example, a lens with an open aperture of f/1.4 and a lens with an open aperture of f/2.8 in FIG. 5a. Naturally, the photoelectric power is larger when photometry is performed with an f/1.4 lens, but the photoelectric output in the peripheral area is considerably lower due to vignetting, which is particularly noticeable with large-diameter lenses. On the other hand, when photographing with both lenses apertured to f/8, the illuminance distribution on the film surface becomes almost flat in either case, as shown in FIG. 5b. That is, in multi-photometry processing, the distribution shown in FIG. 5a must be converted into the distribution shown in FIG. 5b before processing.
これを解決するためには、まず基準レンズ(例
えばf/2.8)を決めてしまい、その基準レンズ
について光電出力とフイルム面照度の出力の差、
すなわち第5図aとbとの差を求めておく。この
差は基準量となる。次に開放絞り値による違いを
補正するために、第5図aにおいて2本のレンズ
による光電出力差を求める。すると、第5図cの
ように、大口径のレンズに対して画面周辺側の出
電出力に大きな補正値を加えるような補正値分布
が得られる。ただし、第5図cにおいて中央付近
がOでないのは、中央部においても光電出力とフ
イルム面照度の関係が、開放絞り値の称呼段数差
通りでないことを示している。 To solve this problem, first decide on a reference lens (for example, f/2.8), and then calculate the difference between the photoelectric output and the film surface illumination output for that reference lens.
That is, the difference between a and b in FIG. 5 is determined. This difference becomes the reference amount. Next, in order to correct the difference due to the open aperture value, the difference in photoelectric output between the two lenses is determined in FIG. 5a. Then, as shown in FIG. 5c, a correction value distribution is obtained in which a large correction value is added to the output power on the peripheral side of the screen for a large-diameter lens. However, the fact that the area near the center in FIG. 5c is not O indicates that the relationship between the photoelectric output and the film surface illuminance is not according to the nominal step difference in the open aperture value even in the center area.
さて、この補正の適用は、第4図における情報
設定部5からの周放絞り値情報P102=AV0の大小
判別によつて行なう。大口径レンズであれば周辺
側の補正量は大きくなる。 Now, this correction is applied by determining the size of the peripheral aperture value information P 102 =AV 0 from the information setting section 5 in FIG. 4. If the lens has a large aperture, the amount of correction on the peripheral side will be large.
第6図は同一のレンズで均一な輝度面を絞りを
変えて撮影するときのa光電出力分布bフイルム
面照度分布c補正値分布である。横軸は第5図と
同様に画面内の位置を表表わす。同一のレンズで
あるから、開放測光するときの光電出力の分布は
第6図aのように一つに定まる。しかし実際に撮
影する時は、使用する絞り値によつてビグネツテ
イングの影響が異なる。特に開放付近ではフイル
ム面照度分布の、画面周辺部での低下が第6図b
のように大きくなる。通常はある小絞り値以下に
絞り込んで撮影することが多いので、この小絞り
値を基準として、レンズが開放付近で撮影される
場合は第6図cのように画面周辺部の光電出力を
マイナスする補正を行なわなくてはならない。 FIG. 6 shows a photoelectric output distribution, b film surface illuminance distribution, and c correction value distribution when photographing a uniform brightness surface with the same lens by changing the aperture. The horizontal axis represents the position within the screen as in FIG. Since the lenses are the same, the distribution of photoelectric output during open photometry is determined to be the same as shown in FIG. 6a. However, when actually photographing, the effect of vignetting differs depending on the aperture value used. Particularly near the aperture, the illuminance distribution on the film surface decreases at the periphery of the screen as shown in Figure 6b.
become bigger like. Normally, we often shoot with the aperture stopped down to a certain small aperture value or less, so if we use this small aperture value as a reference and shoot with the lens close to its maximum aperture, we will reduce the photoelectric output at the periphery of the screen as shown in Figure 6c. corrections must be made.
この補正の適用は第4図におけるアペツクス演
算部3からの絞制御信号P107=AV−AV0の大小
判別によつて行なう。 This correction is applied by determining the magnitude of the aperture control signal P 107 =AV-AV 0 from the apex calculation unit 3 in FIG.
第7図は同一開放絞り値で異なる光学系を持つ
レンズを用いて、同一の絞り値で均一な輝度面の
撮影する場合のa光電出力分布bフイルム面照度
分布c補正値分布である。横軸は第5図と同じく
画面内の位置を表わす。レンズの開放状態におけ
る光電出力分布では、第7図aのように照点距離
の長いレンズと基準レンズとの間にあまり差はみ
られない。しかし絞り込んだ状態のフイルム面照
度分布は基準レンズがコサイン四乗則により周辺
部のフイルム面照度がかなり低下するのに対して
照点距離の長いレンズはかなりフラツトなフイル
ム面照度分布となる(第7図b)。 FIG. 7 shows a photoelectric output distribution, b film surface illuminance distribution, and c correction value distribution when a uniform brightness surface is photographed at the same aperture value using lenses with different optical systems at the same open aperture value. The horizontal axis represents the position within the screen as in FIG. In the photoelectric output distribution in the open state of the lens, there is not much difference between the lens with a long illumination distance and the reference lens as shown in FIG. 7a. However, with respect to the film surface illuminance distribution when stopped down, the reference lens has a considerably lower film surface illuminance at the periphery due to the cosine fourth law, whereas the lens with a long illumination distance has a fairly flat film surface illuminance distribution ( Figure 7 b).
よつてこのようなレンズに対して絞りが開放以
外の時画面周辺部の光電出力に対して第7図のa
とbの差だけプラス側に補正しなければならない
(第7図c)。この補正の適用は情報設定部5から
レンズ特有の特性を示す信号P109=Lによつて判
別する。AV0(=P101)やAV−AV0(=P107)で
示すことの出来ない補正量を、この信号L=P109
(例えばレンズの焦点距離や射出瞳距離に応じた
もの)によつて補正値算出回路8に算出させる。 Therefore, for such a lens, when the aperture is not wide open, the photoelectric output at the periphery of the screen is expressed as a in Figure 7.
The difference between and b must be corrected to the positive side (Figure 7c). Application of this correction is determined based on a signal P 109 =L from the information setting unit 5 that indicates characteristics specific to the lens. The amount of correction that cannot be expressed by AV 0 (=P 101 ) or AV−AV 0 (=P 107 ) is expressed by this signal L=P 109
The correction value calculation circuit 8 is caused to calculate the correction value (according to the focal length and exit pupil distance of the lens, for example).
単純に測光だけのことを考えれば信号L(=
P109)はレンズの測光上の補正量を伝達すればよ
いのだが、カメラで種々の自動化を考えた場合必
要な信号はかなりの数になる。本件出願人らはこ
の点に着目し焦点距離の大小に応じた信号でほぼ
補正目的を達成することを確かめた。L=(P109)
を焦点距離信号とした場合は測光以外の用途にも
使うことができるので有利である。 If we simply consider photometry, the signal L (=
P 109 ), it is sufficient to transmit the photometric correction amount of the lens, but if various types of automation are considered in the camera, a considerable number of signals will be required. The applicants of the present invention have focused on this point and have confirmed that the correction objective can be almost achieved by using signals according to the size of the focal length. L = (P 109 )
It is advantageous to use this as a focal length signal because it can be used for purposes other than photometry.
以上に述べてきた実施例において受光素子P11
〜P46によつて画面を4×6の24分割する場合算
出しなければならない補正値はδ11〜δ46の24個に
なる。しかし、レンズの結像特性として光軸を中
心とした同心円上では同一の性質を持つので、中
心から等距離にある部分については同一の補正量
と見なすことができる。そこで、測光系も撮影レ
ンズ光軸を中心とした同心円上では同一の測光特
性を有しているとみなされる場合は、補正量は第
8図のように、
とδ0…δ4の5つに代表させることが出来る。又こ
の間には第5図c、第6図c、第7図cからわか
るように
δ0≧δ1≧δ2≧δ3≧δ4又は
δ0≧δ1≧δ2≧3δ4 (7)
が成立つことも着目すべき点である。但し測光系
が画面に関し左右にのみ対称な測光特性を有して
いる場合は代表させる補正値も左右対称で上下は
非対称型となる。 In the embodiments described above, the light receiving element P 11
When dividing the screen into 24 parts of 4×6 by P 46 , the number of correction values that must be calculated is 24, δ 11 to δ 46 . However, since the imaging characteristics of the lenses are the same on concentric circles centered on the optical axis, it can be considered that portions equidistant from the center have the same amount of correction. Therefore, if the photometric system is considered to have the same photometric characteristics on a concentric circle centered on the optical axis of the photographing lens, the amount of correction will be as shown in Figure 8. and δ 0 ... δ 4 . Also, during this period, as can be seen from Figures 5c, 6c, and 7c, δ 0 ≧δ 1 ≧δ 2 ≧δ 3 ≧δ 4 or δ 0 ≧δ 1 ≧δ 2 ≧ 3 δ 4 ( It is also worth noting that 7) holds true. However, if the photometric system has photometric characteristics that are symmetrical only horizontally with respect to the screen, the representative correction values will also be symmetrical horizontally and asymmetrical vertically.
以上の特徴を利用して、第4図の実施例を簡略
化したのが第9図である。補正値算出回路8はア
ペツクス演算部3から絞制御信号情報設定部5か
らの開放絞径情報AV0(=P102)、レンズ信号L
(=P109)によつて補正値δ0,δ1,…δ4を算出す
る。 FIG. 9 shows a simplified version of the embodiment shown in FIG. 4 by utilizing the above features. The correction value calculation circuit 8 receives the aperture diameter information AV 0 (=P 102 ) from the aperture control signal information setting unit 5 from the apex calculation unit 3 and the lens signal L.
(=P 109 ), the correction values δ 0 , δ 1 , ... δ 4 are calculated.
補正演算回路7において、P23,P24,P33,P34
にはδ0が、P13,P14,P22,P25,P32,P35,P44,
P44にはδ1が、P12,P15,P42,P45にはδ2が、P21,
P26,P31,P36にはδ3が、そしてP11,P16,P41,
P46にはδ4がそれぞれ加算される。 In the correction calculation circuit 7, P 23 , P 24 , P 33 , P 34
δ 0 is P 13 , P 14 , P 22 , P 25 , P 32 , P 35 , P 44 ,
P 44 has δ 1 , P 12 , P 15 , P 42 , P 45 has δ 2 , P 21 ,
P 26 , P 31 , P 36 have δ 3 , and P 11 , P 16 , P 41 ,
δ 4 is added to P 46 , respectively.
なお、レンズから情報設定部5に伝達する情報
AV0,AV―AV0,Lについては、レンズ鏡筒や
絞り環等に設けたピンなどに代表される機械的伝
達手段、又はレンズ鏡筒内に設けられた電気信号
発生手段等を用いて伝達すればよい。いずれも公
知の方法であるので、ここでは説明を省略する。 Note that the information transmitted from the lens to the information setting section 5
AV 0 , AV−AV 0 , and L can be determined using mechanical transmission means such as pins installed in the lens barrel or aperture ring, or electrical signal generation means installed inside the lens barrel. All you have to do is communicate it. Since both methods are well known, their explanations will be omitted here.
第10図は本発明のさらに詳しい実施例であ
る。1は測光回路で、OPアンプOPij、フオトダ
イオードPDij、対数圧縮ダイオードLDijを1つの
測光ブロツクとし、分割数だけ集まつて出来てい
る。OPアンプOPijの同相入力にはE0の基準バア
イスがかつている。フオトダイオードPDijに生じ
た測光電流ILijは対数圧縮ダイオードLDijによつ
て対数圧縮され出力は
V(Pij)=E0+kT/qInILij/IS (8)
となる。 FIG. 10 shows a more detailed embodiment of the present invention. 1 is a photometric circuit, which is made up of an OP amplifier OP ij , a photodiode PD ij , and a logarithmic compression diode LD ij as one photometric block, which are assembled as many times as the number of divisions. The common mode input of the OP amplifier OP ij has a reference bias of E 0 . The photometric current IL ij generated in the photodiode PD ij is logarithmically compressed by the logarithmic compression diode LD ij , and the output becomes V(P ij )=E 0 +kT/qInIL ij /IS (8).
8は補正値算出回路で、アペツクス演算回路よ
り絞制御信号P107=AV−AV0を受取り情報設定
部5より開放絞径情報P102=AV0、及びレンズ信
号P109=Lを受け取る。 Reference numeral 8 denotes a correction value calculation circuit which receives an aperture control signal P 107 =AV-AV 0 from the apex calculation circuit and receives open aperture diameter information P 102 =AV 0 and lens signal P 109 =L from the information setting section 5.
AV0はコンパレータC1,AV―AV0はコンパ
レータC2、信号LはコンパレータC3のそれぞ
れの同相入力端子に入力する。抵抗R15,R1
6には定電流源I0から電流I0が流れ、そしてコン
パレータC1、C3の反転入力端子にはI0(R15
+R16)の電圧が、またコンパレータC2の反転
入力端子にはI0R16の電圧が印加されている。コ
ンパレータC1は
AJ0≧AV0th(=I0(R15+R16)) (9)
のとき出力を論値値“1”とする。コンパレータ
C2は
(AV−AV0)≧(AV−AV0)
th(=I0R16) (10)
のとき出力は1となり、反転回路NOTによつて
反転される。コンパレータC3は
L≧Lth(=I0(R15+R16) (11)
のとき出力は“1”となり、コンパレータC2,
C3の出力が共に“1”のときナンド回路
NANDの出力は論理値“0”となる。 AV 0 is input to the comparator C1, AV-AV 0 is input to the comparator C2, and the signal L is input to the in-phase input terminal of the comparator C3. Resistance R15, R1
A current I 0 flows from a constant current source I 0 to the inverting input terminal of the comparators C1 and C3, and I 0 (R15
+R16) and the voltage I 0 R 16 is applied to the inverting input terminal of the comparator C2. Comparator C1 outputs a logic value "1" when AJ 0 ≧AV 0 th (=I 0 (R 15 + R 16 )) (9). Comparator C2 is (AV−AV 0 )≧(AV−AV 0 )
When th(=I 0 R 16 ) (10), the output becomes 1 and is inverted by the inverting circuit NOT. Comparator C3 outputs “1” when L≧Lth(=I 0 (R 15 + R 16 ) (11), and comparator C2,
When both outputs of C3 are “1”, NAND circuit
The output of NAND becomes a logical value "0".
言葉を変えて言うと、ある一定値(AV0)th以
下の開放絞り値を持つレンズのときコンパレータ
C1の出力は“0”となり、絞込む段数がある一
定値(AV―AV0)th以下すなわち開放絞り付近
の補正が必要なとき、ノツト回路NOT出力は
“1”となる。 In other words, when the lens has an open aperture value below a certain value (AV 0 )th, the output of comparator C1 is "0", and the number of stops is below a certain value (AV - AV 0 )th. That is, when correction near the open aperture is required, the NOT output from the NOT circuit becomes "1".
また、信号Lを焦点距離信号とすると、ある一
定値以上の焦点距離を持ち、絞りは開放付近にな
いときすなわちレンズの違いによる補正が必要な
ときナンド回路NANDの出力は“0”となる。 Further, if the signal L is a focal length signal, the output of the NAND circuit NAND will be "0" when the focal length is greater than a certain value and the aperture is not near its maximum opening, that is, when correction is required due to the difference in lenses.
トランジスタTR3のベース・エミツタ間及び
抵抗R14の間に基準電圧E0が印加されており、
トランジスタTR3のコレクタ電流は一定であ
る。そのめ抵抗R13の両端の電圧は一定であ
る。この電圧をE1とする。 A reference voltage E 0 is applied between the base and emitter of the transistor TR3 and between the resistor R14,
The collector current of transistor TR3 is constant. Therefore, the voltage across the resistor R13 is constant. Let this voltage be E1.
よつてOPアンプOP1,OP2の同相入力端子
にはVc.c.からE1低下した電圧が印加されている
ことになる。OPアンプOP1,OP2の出力端子
はトランジスタTR1,TR2のベースに、反転
入力端子にはエミツタがそれぞれ接続されてい
る。トランジスタTR1のエミツタとVc.c.の間に
は、抵抗R7、及び抵抗R8とFET1の直列に
接続されたものが並列的に接続され、又、トラン
ジスタTR1のコレクタとGNDの間には抵抗R1
が接続されている。同様にトランジスタTR2の
エミツタとVc.c.の間には抵抗R10とFET2,
R11とFET3,R12とFET4のそれぞれの
直列接続回路と抵抗R9とがそれぞれ並列的に接
続されている。トランジスタTR2のコレクタと
GNDの間には抵抗R2が接続されている。 Therefore, a voltage E1 lower than Vc.c. is applied to the common-mode input terminals of the OP amplifiers OP1 and OP2. The output terminals of the OP amplifiers OP1 and OP2 are connected to the bases of the transistors TR1 and TR2, and the emitters are connected to the inverting input terminals, respectively. A resistor R7 and a series connection of resistor R8 and FET1 are connected in parallel between the emitter of the transistor TR1 and Vc.c., and a resistor R1 is connected between the collector of the transistor TR1 and GND.
is connected. Similarly, a resistor R10 and FET2 are connected between the emitter of transistor TR2 and Vc.c.
The series connection circuits of R11 and FET3, R12 and FET4, and the resistor R9 are respectively connected in parallel. collector of transistor TR2 and
A resistor R2 is connected between GND.
OPアンプの特性によりトランジスタTR1及
びTR2のエミツタとVc.c.の間の電圧は常にE1
に保たれている。今、補正をしない状態において
コンパレータC1の出力は“1”でFET1はON
状態になる。よつてトランジスタTR1のエミツ
タ電流は(E1/R7+E1/R8)となりhfeが高けれ
ばコレクタ電流に等しくなるのでR1の両端の電
圧をV(R1)で表わすと
V(R1)=V(R1)normal=R1(1/R7+1/R8)E1
…補正なし(12)
となり、この電圧が補正をしないとき中央部の光
電出力に加わるバイアス電圧になる。一方大口径
レンズのときコンパレータC1の出力が“0”に
なるとFET1はOFFになり、トランジスタTR1
のコレクタ電流はE1/R7のみとなる。すなわち
V(R1)=R1/R7E1=V(R1)normal−R1/R8E1=V
(R1)normal−Vfp cpnp1大口径補正時(13)
であり、第2項は大口径時の中央部の補正項と
なる。 Due to the characteristics of the OP amplifier, the voltage between the emitters of transistors TR1 and TR2 and Vc.c. is always E1.
is maintained. Now, when no correction is performed, the output of comparator C1 is “1” and FET1 is ON.
become a state. Therefore, the emitter current of transistor TR1 is (E 1 /R 7 +E 1 /R 8 ), and if h fe is high, it becomes equal to the collector current, so if the voltage across R 1 is expressed as V (R1), then V (R1) =V(R1)normal= R1 (1/ R7 +1/ R8 ) E1
...No correction (12), and this voltage becomes the bias voltage applied to the photoelectric output in the center when no correction is made. On the other hand, when the output of comparator C1 becomes "0" in the case of a large-diameter lens, FET1 turns OFF, and transistor TR1
The collector current of is only E 1 /R 7 . That is, V(R 1 )=R 1 /R 7 E 1 =V(R1)normal−R 1 /R 8 E 1 =V
(R1) normal−V fp cpnp1 at the time of large aperture correction (13), and the second term is the correction term for the central portion at the time of large aperture.
一方周辺部に関して補正なしの状態において、
コンパレータC1の出力は“1”である他に、
NOTの出力は“0”,NANDの出力は“1”で、
FET2およびFET4はON状態にありFET3は
OFF状態にある。 On the other hand, when there is no correction regarding the peripheral area,
In addition to the output of comparator C1 being “1”,
The output of NOT is “0”, the output of NAND is “1”,
FET2 and FET4 are in ON state and FET3 is
It is in the OFF state.
よつてトランジスタTR2のコレクタ電流は
(1/R9+1/R10+1/R12)E1となり抵抗R2
の両端の電圧をV(R2)とすると
V(R2)=V(R2)normal=R2(1/R9+1/R10+
1/R12)E1…補正なし(14)
となり、この電圧が補正なしのときの周辺部のバ
イアス電圧となる。大口径レンズの補正をすると
きコンパレータC1の出力は“0”となりFET
2はOFFとなり
V(R2)=R2(1/R9+1/R12)E1=V(R2)norma
l−R2/R10E1=V(R2)normal
―Vfp,COnp2…大口径補正時 (15)
となり、第2項が大口径時の周辺部の補正項であ
る。 Therefore, the collector current of transistor TR2 is (1/R 9 + 1/R 10 + 1/R 12 )E 1 and resistor R2
If the voltage across both ends is V(R2), then V(R2)=V(R2)normal=R 2 (1/R 9 +1/R 10 +
1/R 12 )E 1 ...no correction (14), and this voltage becomes the peripheral bias voltage when no correction is made. When correcting a large aperture lens, the output of comparator C1 becomes “0” and the FET
2 is OFF, V(R2) = R 2 (1/R 9 + 1/R 12 ) E 1 = V(R2) norma
l−R 2 /R 10 E 1 = V(R2)normal −V fp,COnp2 ...at the time of large aperture correction (15), and the second term is the correction term for the peripheral part at the time of large aperture.
開放時の補正をするときNOTの出力は“1”
となり、FET3はONになり、
V(R2)=R2(1/R9+1/R10+1/R11+1/R12
)E1=V(R2)normal
+R2/R11E1=V(R2)normal+Vf-fp,cpnp開放補
正時(16)
となり、第2項が開放時の補正項であつて画面周
辺部のみに加わつている。 When correcting when open, NOT output is “1”
Then, FET3 turns on, V(R2)=R 2 (1/R 9 +1/R 10 +1/R 11 +1/R 12
) E 1 = V (R2) normal + R 2 / R 11 E 1 = V (R2) normal + V f-fp, cpnp when correcting the aperture (16), and the second term is the correction term when the aperture is open, and it is the correction term for the peripheral area of the screen. It is joining only.
レンズの光学系の違いによる補正が必要なと
き、NANDAの出力は“0”となりFET4が
OFFになり、
V(R2)=R2(1/R9+1/R10)E1=V(R2)norma
l−R2/R12E1V(R2)normal
−VL,cpnp…光学系補正時 (17)
となり、第2項がレンズの違いによる補正項であ
る。これも画面周辺部のみにかかつている。 When correction is required due to a difference in the optical system of the lens, the output of NANDA becomes “0” and FET4
OFF, V(R2) = R 2 (1/R 9 + 1/R 10 ) E 1 = V(R2) norma
l−R 2 /R 12 E 1 V (R 2 ) normal −V L,cpnp ...when correcting the optical system (17), and the second term is the correction term due to the difference in lenses. This also applies only to the periphery of the screen.
OPアンプOP3及びOP4はボルテージフオロ
ア回路を構成しており、入力のV(R1),V(R2)
がそのまま出力になる。 OP amplifiers OP3 and OP4 constitute a voltage follower circuit, and the input V(R1), V(R2)
will be output as is.
OPアンプOP3とOP4の出力端子の間には抵
抗R3,R4,R5,R6が直列に接続されてい
る。それぞれの端子電圧を順にV(δ0),V(δ1),
…V(δ4)とすると次式のようになる。 Resistors R3, R4, R5, and R6 are connected in series between the output terminals of the OP amplifiers OP3 and OP4. The respective terminal voltages are V(δ 0 ), V(δ 1 ),
...V(δ 4 ), the following equation is obtained.
V(δ0)=V(R1) (18)
V(δ1)=V(R1)+R3/R3+R4+R5+R6{V(R2
)−V(R1)}(19)
V(δ2)=V(R1)+R3+R4/R3+R4+R5+R6{V
(R2)−V(R1)}(20)
V(δ3)=V(R1)R3+R4+R5/R3+R4+R5+R6{
V(R2)−V(R1)}(21)
V(δ4)=V(R2) (22)
このV(δ0)…V(δ4)が第9図のブロツク図の
δ0…δ4に対応する補正値算出回路の出力となる。
第11図は横軸を画面中心からの距離にとり縦軸
に補正値δをつた図である。この図からも明らか
なように補正値δは曲線的に変化している。補正
の内容によつては点線で示す曲線のように種々に
変化する。しかしながら、k1,k2,k3を定数とす
るとき
δ1−δ0:δ2−δ0:δ3−δ0
:δ4−δ0=k1:k2:k3:1 (23)
の関係がほどんど常に成立つている。そこで
R3/(R3+R4+R5+R6)=k1 (24)
(R3+R4)/R3+R4+R5+R6)=k2 (25)
(R3+R4+R5)
/(R3+R4+R5+R6)=k3 (26)
と定めると、
V(δ0)=V(R1) (18)
V(δi)=V(R1)+ki{V(R2)
−V(R1)}(i=1.2.3)(27)
V(δ4)=V(R2) (22)
となり、前記の補正を行なうことができる。 V(δ 0 )=V(R1) (18) V(δ 1 )=V(R1)+R 3 /R 3 +R 4 +R 5 +R 6 {V(R2
)−V(R1)}(19) V(δ 2 )=V(R1)+R 3 +R 4 /R 3 +R 4 +R 5 +R 6 {V
(R2)−V(R1)}(20) V(δ 3 )=V(R1)R 3 +R 4 +R 5 /R 3 +R 4 +R 5 +R 6 {
V(R2)-V(R1)}(21) V(δ 4 )=V(R2) (22) This V(δ 0 )...V(δ 4 ) is δ 0 ...δ in the block diagram of FIG. This is the output of the correction value calculation circuit corresponding to 4 .
FIG. 11 is a diagram in which the horizontal axis represents the distance from the center of the screen and the vertical axis represents the correction value δ. As is clear from this figure, the correction value δ changes in a curved manner. Depending on the content of the correction, it changes in various ways as shown by the curve shown by the dotted line. However, when k 1 , k 2 , and k 3 are constants, δ 1 − δ 0 : δ 2 − δ 0 : δ 3 − δ 0
: δ 4 − δ 0 = k 1 : k 2 : k 3 : 1 (23) The following relationship almost always holds true. Therefore, R 3 / (R 3 + R 4 + R 5 + R 6 ) = k 1 (24) (R 3 + R 4 ) / R 3 + R 4 + R 5 + R 6 ) = k 2 (25) (R 3 + R 4 + R 5 )
/ (R 3 + R 4 + R 5 + R 6 ) = k 3 (26), then V (δ 0 ) = V (R1) (18) V (δi) = V (R1) + ki {V (R2)
−V(R1)}(i=1.2.3)(27) V(δ 4 )=V(R2) (22) The above correction can be performed.
さて、第10図に戻つて、7は補正演算回路で
あり、各々のブロツク(723,734等)は1個の
OPアンプ(OP1ij)、1個のトランジスタ
(Tr1ij)及び2個の抵抗(R1ij,R2ij)から成つ
ている。以下光電出力P23についての演算を例
にして説明する。OPアンプOP123の同相入力
端子に補正値算出回路8の出力V(δ0)が印加さ
れるとトランジスタTR123のエミツタ電位は
V(δ0)になる。一方抵抗R123のもう一端に
は測光回路1のOPアンプOP23の出力V(P23)
印加されている。よつて抵抗R123に流れる電
流は{V(δ0)−V(P23)}/R123であり、ト
ランジスタTR123のhfeが高ければエミツタ電
流≒コレクタ電流となり、抵抗R223に流れる
電流に等しい。よつてR123=R223とすれ
ば抵抗R223の両端の電圧V23は
V23=V(δ0)−V(P23) (28)
となる。以下同様に
V24=V(δ0)−V(P24) (29)
V33=V(δ0)−V(P33) (30)
V34=V(δ0)−V(P34) (31)
V13=V(δ1)−V(P13) (32)
〓
〓
V46=V(δ4)−V(P46) (33)
となる。これは(5)式とは符号が逆になつている
が、回路構造上の理由によるものである。 Now, returning to Figure 10, 7 is a correction calculation circuit, and each block (723, 734, etc.) is one block.
It consists of an OP amplifier (OP1ij), one transistor (Tr1ij), and two resistors (R1ij, R2ij). The calculation for the photoelectric output P23 will be explained below as an example. When the output V (δ 0 ) of the correction value calculation circuit 8 is applied to the in-phase input terminal of the OP amplifier OP123, the emitter potential of the transistor TR123 becomes V (δ 0 ). On the other hand, the output V (P23) of the OP amplifier OP23 of the photometry circuit 1 is connected to the other end of the resistor R123.
is being applied. Therefore, the current flowing through the resistor R123 is {V(δ 0 )−V(P23)}/R123, and if h fe of the transistor TR123 is high, the emitter current≈collector current is equal to the current flowing through the resistor R223. Therefore, if R123=R223, the voltage V23 across the resistor R223 becomes V23=V(δ 0 )−V(P23) (28). Similarly, V 24 = V (δ 0 ) − V (P24) (29) V 33 = V (δ 0 ) − V (P33) (30) V 34 = V (δ 0 ) − V (P34) (31 ) V 13 = V (δ 1 ) − V (P13) (32) 〓 〓 V 46 = V (δ 4 ) − V (P46) (33). This has the opposite sign from equation (5), but this is due to the circuit structure.
次に実際の補正の仕方について述べる。 Next, the actual method of correction will be described.
先ず補正の必要ない場合、(12),(14)式が成立ち
V(δ0)=V(R1)normal (34)
V(δ4)=V(R2)normal (35)
となるが、必ずしも両者は等しくない。光電出力
の初期シフトの項のかなりの部分を、
V(R1)normal,V(R2)normalに持たせる
ことが出来るからである。また暗電流や温度補償
項も加えることが出来る。このとき、他の部分も
(28)式から
V(δi)=V(R1)normal+ki{V(R1)normal−
V(R2)normal}
(i=1,2,3) (36)
のように求まるが変化は少しずつあり予盾しな
い。これらの出力は測光出力V(Pij)と共に補正
演算回路7に入力する。補正演算回路の出力は
V23V(R1)normal−V(P23) (37)
V13=V(R1)normal+k1{V(R2)normal−V(R1
)normal}−V(P13)(38)
〓
V46=V(R2)normal−V(P46) (39)
となる。 First, if there is no need for correction, equations (12) and (14) hold, and V (δ 0 ) = V (R1) normal (34) V (δ 4 ) = V (R2) normal (35), but The two are not necessarily equal. This is because V(R1)normal and V(R2)normal can contain a considerable part of the term for the initial shift of the photoelectric output. Dark current and temperature compensation terms can also be added. At this time, the other parts are also obtained from equation (28): V(δi)=V(R1)normal+k i {V(R1)normal−
V(R2)normal} (i=1,2,3) (36) However, the changes are gradual and cannot be predicted. These outputs are input to the correction calculation circuit 7 together with the photometric output V (Pij). The output of the correction calculation circuit is V 23 V (R1) normal - V (P23) (37) V 13 = V (R1) normal + k 1 {V (R2) normal - V (R1
)normal}−V(P13)(38) 〓 V 46 =V(R2)normal−V(P46) (39).
今大口径レンズの補正が必要になつたとき補正
値算出回路8はコンパレータC1によつて検出
し、(13),(15)式による出力を生じる。 When correction of the large aperture lens is now required, the correction value calculation circuit 8 detects this using the comparator C1, and produces outputs according to equations (13) and (15).
すなわち、
V(δ0)=V(R1)normal−Vfp cpnp1(40)
V(δi)=V(R1)normal+ki{V(R2)normal−
V(R1)normal}
−Vfp,cpnp1−Ki(Vfp cpnp2−Vfp cpnp1)(i=
1,2,3)(41)
V(δ4)=V(R2)normal−Vfp cpnp2 (42)
を得る。そして補正演算回路7の出力は
V23=V(R1)normal−V(P23)−Vfp cpnp1(
43)
V13=V(R1)normal+k1{V(R2)normal−V(R1
)normal}
−V(P13)−Vfp cpnp1−k1(Vfp cpnp2−Vfp cpn
p1})(44)
〓
V46=V(R2)normal−V(P46)−Vfp cpnp2(45)
となる。それぞれバイアス項を除けば補正生と
V(P23)←→V(P23)+Vfp cpnp1 (46)
V(P13)Z←→V(P13)+(1−k1)Vfp cpnp1+k
1Vfp cpnp2(47)
V(P46)←→V(P46)+Vfp cpnp2 (48)
の対応関係がある。ここで右辺の第2項以下が各
部の補正項になる。Vfp cpnp1は従来の単一の光
電出力による測光方式である中央部重点測光方式
においても行なわれていた補正項で、大口径レン
ズの場合の中央分光電出力の低下を補うためのも
のであり最も距離のある部分の光電出力を補正す
るものなので値は大きくなる。(第5図c参照)。
また、中間の位置についてはそれぞれ中間の補正
値が加えられ、その値は周辺に行くに従つて多く
なる。以上のようにして、補正された光電出力情
報がマルチ測光処理回路2に伝えられる。That is, V(δ 0 )=V(R1)normal−V fp cpnp1 (40)
V(δi)=V(R1)normal+k i {V(R2)normal−
V (R1) normal} −V fp,cpnp1 −K i (V fp cpnp2 −V fp cpnp1 ) (i=
1, 2, 3) (41) V(δ 4 )=V(R2)normal−V fp cpnp2 (42) is obtained. The output of the correction calculation circuit 7 is V 23 =V(R1)normal−V(P23)−V fp cpnp1 (
43) V 13 = V (R1) normal + k 1 {V (R2) normal - V (R1
)normal} −V(P13)−V fp cpnp1 −k 1 (V fp cpnp2 −V fp cpn
p1 })(44) 〓 V 46 =V(R2)normal−V(P46)−V fp cpnp2 (45)
becomes. If the bias term is removed, the corrected raw and V(P23)←→V(P23)+V fp cpnp1 (46) V(P13)Z←→V(P13)+(1−k 1 )V fp cpnp1 +k
1 V fp cpnp2 (47) There is a correspondence relationship of V (P46)←→V (P46) + V fp cpnp2 (48). Here, the second term and subsequent terms on the right side are correction terms for each part. V fp cpnp1 is a correction term that was also used in the center-weighted photometry method, which is a conventional photometry method using a single photoelectric output, and is intended to compensate for the decrease in central spectral photoelectric output when using a large aperture lens. The value is large because it corrects the photoelectric output at the part that is the farthest away. (See Figure 5c).
Also, intermediate correction values are added to intermediate positions, and the values increase as you move toward the periphery. In the manner described above, the corrected photoelectric output information is transmitted to the multi-photometry processing circuit 2.
さて、次に、開放時の補正をする場合を考えて
みる。絞が開放付近にある状態はコンパレータC
2及びNOTによつて検出され、補正値算出回路
8の出力は(12),(16)式に基づく値となる。すなわ
ち、
V(δ0)=V(R1)normal (34)
V(δi)=V(R1)normal+ki{V(R2)normal−
V(R1)normal}
+kiVf-fp,cpnp(i=1,2,3) (49)
V(δ4)=V(R2)normal+Vf-fp,cpnp (50)
を得る。よつて補正演算回路7の出力は
V23=V(R1)normal−V(P23) (37)
V13=V(R1)normal+k1{V(R2)normal−V(R1
)normal}
−V(P13)+k1Vf-fp,cpnp(i=1,2,3)(51
)
V46=V(R2)normal−V(P46)+Vf-fp cpnp(52)
となる。それぞれバイアス項を除けば補正前と
V(P23)←→V(P23) (53)
V(P13)←→V(P13)−k1Vf-fp,cpnp (54)
V(P46)←→V(P46)−Vf-fp,cpnp (55)
の対応関係がある。画面中央部の光電出力は変わ
らないが、画面周辺部に行くに従つて減ずる補正
値が多くなつている。すなわち第6図cの補正が
行なわれている。 Now, let's consider the case where correction is made when the lens is opened. When the aperture is close to open, comparator C
2 and NOT, and the output of the correction value calculation circuit 8 becomes a value based on equations (12) and (16). That is, V(δ 0 )=V(R1)normal (34) V(δi)=V(R1)normal+k i {V(R2)normal−
V(R1)normal} +k i V f-fp,cpnp (i=1,2,3) (49) V(δ 4 )=V(R2)normal+V f-fp,cpnp (50) is obtained. Therefore, the output of the correction calculation circuit 7 is V 23 = V (R1) normal - V (P23) (37) V 13 = V (R1) normal + k 1 {V (R2) normal - V (R1
)normal} -V(P13)+k 1 V f-fp,cpnp (i=1,2,3)(51
) V 46 = V (R2) normal - V (P46) + V f-fp cpnp (52)
becomes. If the bias term is excluded, the difference between before correction and V(P23)←→V(P23) (53) V(P13)←→V(P13)−k 1 V f-fp,cpnp (54) V(P46)←→ There is a correspondence relationship of V(P46)−V f-fp,cpnp (55). The photoelectric output at the center of the screen remains the same, but the correction value decreases as you move toward the periphery of the screen. That is, the correction shown in FIG. 6c is performed.
最後にレンズの光学系の違いによる補正につい
て述べる。補正が必要なレンズの場合、コンパレ
ータC3によつて検出され、絞が開放付近にない
ことがコンパレータC2によつて検出され両条件
を満足する時NAND出力によつて補正の必要な
状態として検出される。このとき補正値算出回路
8は(12),(17)式に基づく値を出力する。すなわ
ち、
V(δ0)=V(R1)normal (34)
V(δi)=V(R1)normal+ki{V(R2)nor
mal−V(R1)normal}
−kiVL,cpnp(i=1,2,3) (56)
V(δ4)=V(R2)normal−VL,cpnp(57)
を得る。よつて補正演算回路の出力は
V23=V(R1)normal−V(P23) (37)
V13=V(R1)normal+k1{V(R2)normal−
V(R1)normal}
−V(P13)−k1VL,cpnp(i=1,2,3)
(58)
V46=V(R2)normal−V(P46)−VL,cpnp(59
)
となる。それぞれバイアス項を除けば補正前と
V(P23)←→V(P23) (53)
V(P13)←→V(P13)+k1VL,cpnp (60)
V(P46)←→V(P46)+VL,cpnp (61)
の対応関係がある。画面中央部の光電出力は変わ
らないが、画面周辺部に行くに従つて加算する補
正量が多くなつている。すなわち第7図cの補正
が行なわれている。 Finally, we will discuss corrections due to differences in lens optical systems. In the case of a lens that requires correction, it is detected by comparator C3, and if the aperture is not close to its maximum opening, it is detected by comparator C2, and when both conditions are satisfied, it is detected as a state requiring correction by NAND output. Ru. At this time, the correction value calculation circuit 8 outputs values based on equations (12) and (17). That is, V(δ 0 )=V(R1)normal (34) V(δi)=V(R1)normal+k i {V(R2)nor
mal−V(R1)normal} −k i V L,cpnp (i=1,2,3) (56) V(δ 4 )=V(R2)normal−V L,cpnp (57)
get. Therefore, the output of the correction calculation circuit is V 23 = V (R1) normal - V (P23) (37) V 13 = V (R1) normal + k 1 {V (R2) normal -
V(R1)normal} −V(P13)−k 1 V L,cpnp (i=1,2,3)
(58) V 46 = V (R2) normal - V (P46) - V L,cpnp (59
) becomes. If the bias term is excluded, the difference between before correction and V(P23)←→V(P23) (53) V(P13)←→V(P13)+k 1 V L,cpnp (60) V(P46)←→V(P46 ) + V L,cpnp (61). Although the photoelectric output at the center of the screen remains the same, the amount of correction added increases toward the periphery of the screen. That is, the correction shown in FIG. 7c is performed.
以上、それぞれのの補正を独立に説明したが、
大口径レンズを開放で撮影する場合は次のような
対応関係になる。すなわち、
V(P23)←→V(P23)+Vfp,cpnp1(46)
V(P13)←→V(P13)+(1−k1)Vfp cpnp1
+k1Vfp cpnp2−k1Vf-fp cpnp(61)
V(46)←→V(P46)+Vfp cpnp2−Vf-fp cp
np(62)
のように打ち消す方向に働く。これはビグネツテ
イングの影響の強いレンズを開放絞付近で用いる
のは通常のレンズの普通絞で用いるのとは等価的
になるということである。 Above, each correction was explained independently, but
When shooting with a large aperture lens wide open, the following relationship will occur: That is, V(P23)←→V(P23)+V fp,cpnp1 (46)
V(P13)←→V(P13)+(1− k1 )V fp cpnp1
+k 1 V fp cpnp2 −k 1 V f-fp cpnp (61) V(46)←→V(P46)+V fp cpnp2 −V f-fp cp
It works in the direction of cancellation like np (62). This means that using a lens with a strong influence of vignetting near its maximum aperture is equivalent to using a normal lens at a normal aperture.
以上の説明ではアペツクス演算部3及び情報設
定部5より補正値算出回路8入力する諸情報をそ
れぞれ基準レベルは1つで、2分類した例だけで
あつたが、基準レベルを増やすことによつて、よ
り誤差の少ない補正が可能となる。 In the above explanation, the various information input from the apex calculation section 3 and the information setting section 5 to the correction value calculation circuit 8 were classified into two, each with one reference level, but by increasing the reference level, , correction with fewer errors becomes possible.
第12図は受光学系の一例である。331は第
1図に示した複数個の光電素子であり、332は
撮影レンズ、333はミラー、334はフイルム
面、335はフアインダースクリーン、336は
フアインダースクリーンに結像した被写体像を受
光素子面に再結像させるためのレンズである。 FIG. 12 shows an example of a receiving optical system. 331 is a plurality of photoelectric elements shown in FIG. 1; 332 is a photographing lens; 333 is a mirror; 334 is a film surface; 335 is a finder screen; This is a lens for re-imaging.
以上の構成により、撮影するシーンの各部の明
るさを測定することが出来、独立な複数の測光情
報をとりだせる。これまでの説明においては、開
放測光を中心にして述べてきたが、絞込測光にお
いても同様な理由による測光誤差が特に画面周辺
部に存在する。そして、その補正にも本発明は有
効である。 With the above configuration, the brightness of each part of the scene to be photographed can be measured, and a plurality of independent photometric information can be extracted. In the explanation so far, we have focused on wide-open photometry, but photometry errors for the same reason exist especially in the periphery of the screen even in stop-down photometry. The present invention is also effective in correcting this.
尚実施例では、アペツクス演算部3は絞制御回
路4aと補正値算出回路8に対して同一の絞制御
信号(AV−AV0)で制御を行なつているが、こ
れは必ずしも同一である必要はない。すなわち、
補正値算出回路8に対しては開放絞付近かどうか
の情報を伝えればよく、絞制御回路4aに対して
は制御方式によつては異なつた情報で制御する場
合があるからである。例えばレリーズ後光量をモ
ニタしながら光量(BV−AV)がある一定値に
達した時絞を停止する方式の場合、絞制御回路に
送り出す信号はTV−SVとなる。すなわち、
BV−AV≡TV−SV (62)
が成立した時が適正となるものである。 In the embodiment, the aperture calculation section 3 controls the aperture control circuit 4a and the correction value calculation circuit 8 using the same aperture control signal (AV-AV 0 ), but it is not necessary that they are the same. There isn't. That is,
This is because information on whether the aperture is close to the open aperture may be transmitted to the correction value calculation circuit 8, and the aperture control circuit 4a may be controlled using different information depending on the control method. For example, in the case of a system in which the aperture is stopped when the light amount (BV-AV) reaches a certain value while monitoring the light amount after release, the signal sent to the aperture control circuit is TV-SV. In other words, it is appropriate when BV−AV≡TV−SV (62) holds.
本発明によればレンズの特性(実施例では、開
放絞値、焦点距離等によつて表わされる)や、そ
の絞り値などに起因するマルチ測光等における測
光誤差、特に画面の周辺部の測光誤差を実用上充
分に補正出来る利点がある。又、絞が最小絞まで
絞込まれていても、絞が開放に制御される場合を
検出出来、補正し得る。これらの補正を行なうこ
とによつてマルチ測光処理等の結果がより適正露
出値に近くなる。 According to the present invention, photometry errors in multi-photometry etc. caused by lens characteristics (in the embodiment, expressed by the open aperture value, focal length, etc.) and the aperture value, etc., especially photometry errors in the peripheral area of the screen. This has the advantage of being able to sufficiently correct for practical purposes. Further, even if the aperture is narrowed down to the minimum aperture, it is possible to detect and correct the case where the aperture is controlled to be opened. By performing these corrections, the results of multi-photometry processing etc. become closer to the appropriate exposure value.
第1図は画面の分割例を示す図、第2図a光電
出力分布を示す図、第2図bはフイルム面照度分
布を示す図、第3図は従来のマルチ測光装置のブ
ロツク図、第4図は本発明によるマルチ測光装置
のブロツク図、第5図は開放絞径による補正が必
要なことを示す図、第6図は撮影絞径による補正
が必要なことを示す図、第7図はレンズの光学系
の違いによる補正が必要なことを示す図、第8図
は補正値のまとめ方を示す図、第9図は本発明に
よるマルチ測光装置の別のブロツク図、第10図
は本発明によるマルチ測光装置の測光回路、補正
値算出回路、補正演算回路のより詳細な図、第1
1図は補正値曲線を示す図、および第12図は受
光学系の一例を示す図である。
主要部分の符号の説明、測光手段……1、演算
手段……2,3、補正情報出力手段……8、補正
手段……7。
Figure 1 is a diagram showing an example of screen division, Figure 2a is a diagram showing photoelectric output distribution, Figure 2b is a diagram showing film surface illuminance distribution, Figure 3 is a block diagram of a conventional multi-photometer, and Figure 3 is a diagram showing a photoelectric output distribution. Figure 4 is a block diagram of the multi-photometering device according to the present invention, Figure 5 is a diagram showing that correction is required based on the open aperture diameter, Figure 6 is a diagram showing that correction is required based on the shooting aperture diameter, and Figure 7 is a diagram showing the necessity of correction based on the shooting aperture diameter. is a diagram showing that correction is required due to differences in the optical system of lenses, FIG. 8 is a diagram showing how to summarize correction values, FIG. 9 is another block diagram of the multi-photometering device according to the present invention, and FIG. 10 is a diagram showing how to summarize correction values. More detailed diagram of the photometry circuit, correction value calculation circuit, and correction calculation circuit of the multi-photometering device according to the present invention, 1st
FIG. 1 is a diagram showing a correction value curve, and FIG. 12 is a diagram showing an example of a receiving optical system. Explanation of the symbols of the main parts: Photometric means...1, Calculation means...2, 3, Correction information output means...8, Correction means...7.
Claims (1)
画面の中央領域とそのまわりの周辺領域とを分割
して測光し、各領域に対応した複数の測光出力を
発生する測光手段と、 前記複数の測光出力に基づき被写界の状態に応
じた適正露出を演算し、該適正露出を得るために
制御すべき絞り値を求める演算手段と、 使用されるレンズの特性に関する信号を出力す
る出力手段と、 前記演算手段の制御すべき絞り値に関する信号
と前記出力手段のレンズの特性に関する信号とを
受け、前記中央領域と前記周辺領域のそれぞれに
ついて、絞り開放の状態から前記制御すべき絞り
値に絞りを制御した時の予測される光量変化に関
する情報を出力する補正情報出力手段と、 前記複数の測光出力に、前記補正情報出力手段
の対応する出力をそれぞれ印加し、前記複数の測
光出力を、絞りが制御された状態に対応するよう
にそれぞれ補正して前記演算手段に伝達する補正
手段とを有し、 前記演算手段は該補正手段の出力に基づき被写
界の状態に応じた適正露出を演算し露光量を決定
することを特徴とするマルチ測光装置。 2 特許請求の範囲第1項に記載のマルチ測光装
置において、 前記レンズの特性に関する信号は、レンズの開
放絞り値及び/又は焦点距離に応じて変化する信
号であることを特徴であることを特徴とするマル
チ測光装置。 3 特許請求の範囲第1項に記載のマルチ測光装
置において、 前記周辺領域は複数に分割されており、前記測
光手段は前記中央領域と複数の周辺領域とに関し
てそれぞれ測光出力を発生することを特徴とする
マルチ測光装置。[Scope of Claims] 1. Receives light passing through an aperture in an open state, divides the central area of the field screen and peripheral areas around it, and measures the light to generate a plurality of photometric outputs corresponding to each area. a calculation means for calculating an appropriate exposure according to the state of the subject based on the plurality of photometry outputs and determining an aperture value to be controlled to obtain the appropriate exposure; and characteristics of the lens used. output means for outputting a signal related to the aperture value to be controlled by the arithmetic means, and a signal related to the lens characteristics of the output means, for each of the central region and the peripheral region, from an open aperture state to correction information output means for outputting information regarding a predicted change in light amount when the aperture is controlled to the aperture value to be controlled; and applying corresponding outputs of the correction information output means to the plurality of photometric outputs, respectively; and a correction means for correcting each of the plurality of photometric outputs so as to correspond to a state in which the aperture is controlled, and transmitting the corrected values to the calculation means, and the calculation means calculates the field of view based on the output of the correction means. A multi-photometering device that calculates the appropriate exposure according to the situation and determines the exposure amount. 2. The multi-photometering device according to claim 1, wherein the signal related to the characteristics of the lens is a signal that changes depending on the open aperture value and/or focal length of the lens. Multi-photometering device. 3. The multi-photometering device according to claim 1, wherein the peripheral area is divided into a plurality of areas, and the photometric means generates photometric outputs for each of the central area and the plurality of peripheral areas. Multi-photometering device.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55118922A JPS5742028A (en) | 1980-08-28 | 1980-08-28 | Corrector of multiphotometric device |
US06/208,039 US4306787A (en) | 1979-11-22 | 1980-11-18 | Exposure control apparatus for camera provided with multi metering device |
DE19803043989 DE3043989A1 (en) | 1979-11-22 | 1980-11-21 | DEVICE FOR CONTROLLING THE EXPOSURE FOR A CAMERA PROVIDED WITH A MULTIPLE MEASURING DEVICE |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55118922A JPS5742028A (en) | 1980-08-28 | 1980-08-28 | Corrector of multiphotometric device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5742028A JPS5742028A (en) | 1982-03-09 |
JPH0140334B2 true JPH0140334B2 (en) | 1989-08-28 |
Family
ID=14748501
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP55118922A Granted JPS5742028A (en) | 1979-11-22 | 1980-08-28 | Corrector of multiphotometric device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5742028A (en) |
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1980
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Also Published As
Publication number | Publication date |
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JPS5742028A (en) | 1982-03-09 |
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