JP7338534B2 - 表示制御装置及び制御プログラム - Google Patents
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Description
図1は、本発明の一実施形態に係る表示制御装置を含む鋳造システム1を概略的に示す構成図である。鋳造システム1は、搬送路にそって搬送される複数の鋳型2に注湯することによって鋳物を製造するシステムである。鋳造システム1は、表示制御装置10、検査装置20、入出力装置30、造型機40、ラインコントローラ50、注湯機60、搬送装置70、及び型合わせ装置110を備える。
図7は、鋳造システム1における鋳物の製造工程を示す工程図である。造型工程S01において、ラインコントローラ50は、造型機40に造型を指示する旨の制御信号及び位置Pの鋳型情報を送信する。造型機40は、ラインコントローラ50から受信される鋳型情報に含まれるパターンコードで示される種類の鋳型2を製造する。
本発明の他の実施形態について説明する。この実施形態が上述した実施形態1と異なる点は、表示制御装置が行う鋳型の特定処理(図8のステップS103の処理)の内容が異なる点である。なお、説明の便宜上、上記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。
本発明の他の実施形態について説明する。なお、説明の便宜上、上記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。この実施形態において、表示制御装置10は例えば、作業者により携帯されるスマートフォン又はタブレット端末である。上述の実施形態1では、表示制御装置10の特定部13は、鋳型情報に含まれる位置情報により、ディスプレイ31に検査結果を表示する鋳型2を特定した。それに対しこの実施形態では、表示制御装置10の特定部13は、鋳型2(又は鋳枠)に付された識別情報を用いて、ディスプレイ31に表示する検査結果を特定する。なお、実施形態3では、鋳型2の検査結果は、表示制御装置10には記憶されておらず、ラインコントローラ50の鋳型管理テーブルに記憶されている。
本発明の他の実施形態について説明する。この実施形態が上述の実施形態1と異なる点は、表示制御装置10が行う検査結果の表示制御処理の内容が異なる点である。なお、説明の便宜上、上記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。
本発明の他の実施形態について説明する。なお、説明の便宜上、上記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。
本発明の他の実施形態について説明する。なお、説明の便宜上、上記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を繰り返さない。
図16は、本実施形態に係る鋳造システム1Cの概略構成を示す図である。図16の例では、1つの工場の中に複数の鋳造ラインL1、L2、L3、…が併設されている。鋳造ラインL1、L2、L3、…はそれぞれ、図2に示した鋳造システム1を含む。特に、鋳造ラインL1、L2、L3、…はそれぞれ、表示制御装置10、入出力装置30、ラインコントローラ50、及びゲートウェイGWを含む。表示制御装置10、入出力装置30、及びラインコントローラ50は、上述の実施形態1のそれらと同様である。
図17は、本実施形態に係る鋳造システム1Dの概略構成を示す図である。鋳造システム1Dは、1つの工場8の中に複数の鋳造ラインが併設された鋳造システム1Cを、複数備える。各鋳造システム1Cでは、鋳造ライン毎に管理が行われる。各鋳造システム1Cの管理サーバ5は、ネットワーク4を介して統合監視サーバ7と接続される。統合監視サーバ7は、複数の管理サーバ5からデータを受信し、データの整理及び管理を行う。
上述の各実施形態では、表示制御装置10は、鋳型2を撮影した撮像画像と予め登録された基準画像との差分を表す差分画像を生成し、生成した差分画像内の塊を検出することにより、欠陥部分を特定する処理を行った。表示制御装置10が行う検査処理の内容は上述した実施形態で示したものに限られない。例えば、表示制御装置10(又は他の装置)が、機械学習により鋳型2の検査を行ってもよい。この場合、表示制御装置10(又は他の装置)は、鋳型2を撮影した画像を表す撮影データと、撮影データに対応する検査結果との組を用いて、撮影データと検査結果との相関関係を機械学習させた学習済モデルを生成する。その後、表示制御装置10(又は他の装置)は、生成した学習済モデルを用いて検査結果を推定する。学習済モデルは例えば、CNN(Convolution al Neural Network、畳み込みニューラルネットワーク)構造を有するモデルで実現可能である。
表示制御装置10、検査装置20、入出力装置30、造型機40、ラインコントローラ50、注湯機60、及び搬送装置70の制御ブロック(特に取得部11、記憶処理部12、特定部13、表示制御部14、及び出力部15)は、集積回路(ICチップ)等に形成された論理回路(ハードウェア)によって実現してもよいし、ソフトウェアによって実現してもよい。
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能である。上述した実施形態に含まれる個々の技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても、本発明の技術的範囲に含まれる。
2 鋳型
10、10A、10B 表示制御装置
11 取得部
12 記憶処理部
13 特定部
14 表示制御部
15 出力部
20 検査装置
21 センサ
30 入出力装置
31 ディスプレイ
32 第2のディスプレイ
40 造型機
50 ラインコントローラ
60 注湯機
70 搬送装置
101、301 プロセッサ
102、302 主メモリ
103、303 補助メモリ
104、304 入力インタフェース
105、305 出力インタフェース
306 読取装置
A1 中子セット場
f1~f3 矩形画像
G1 画面
P1~P19 位置
R1~R4 部分領域
Claims (7)
- コントローラを備え、
前記コントローラは、
搬送路に沿って搬送される複数の鋳型の各々の欠陥をその鋳型を被写体として含む画像データに基づいて検査した検査結果を、メモリに記憶する記憶処理と、
ディスプレイの位置を特定する位置特定処理と、
前記搬送路に沿って搬送される前記複数の鋳型の中から、前記位置特定処理において特定した前記ディスプレイの位置との位置関係が所定の条件を満たす鋳型を特定する特定処理と、
(i)前記画像データに含まれる複数の部分領域のそれぞれについて、各部分領域に欠陥を有する鋳型を用いて鋳物を生成した場合に当該鋳物が修復可能であるかを示す修復可否情報と、(ii)前記特定処理により特定された鋳型の検査結果と、に基づき、前記特定された鋳型への注湯の可否を示す情報を前記ディスプレイに表示させる表示制御処理と、を実行する、
ことを特徴とする表示制御装置。 - 前記メモリには、各鋳型を識別する識別情報が該鋳型の前記搬送路における位置を表す位置情報と対応付けて記憶されており、
前記コントローラは、前記搬送路において前記複数の鋳型が移動される度に、各鋳型の識別情報に対応付ける位置情報を更新する更新処理を更に実行し、
前記コントローラは、前記特定処理において、前記ディスプレイの近傍を表す位置情報が対応付けられた鋳型を、前記所定の条件を満たす鋳型として特定する、
請求項1に記載の表示制御装置。 - 前記コントローラは、前記ディスプレイの近傍に位置する鋳型に付された識別情報を取得する取得処理を更に実行し、
前記コントローラは、前記特定処理において、前記取得処理にて取得した識別情報が付された鋳型を、前記所定の条件を満たす鋳型として特定する、
ことを特徴とする請求項1に記載の表示制御装置。 - 前記コントローラは、
前記メモリに記憶された前記鋳型毎の検査結果の全部又は一部を、前記ディスプレイと異なるディスプレイに出力する出力処理、を更に実行する、
請求項1~3のいずれか1項に記載の表示制御装置。 - 前記検査結果は、前記画像データを解析することにより前記鋳型の型落ちを検査した検査結果であり、
前記コントローラは、前記画像データの表す画像において、前記型落ちが検出された領域が予め設定された部分領域に含まれている場合に、当該鋳型を用いて形成される鋳物が修復不能であると判定する、
請求項1~4のいずれか1項に記載の表示制御装置。 - 前記コントローラは、
予め定められたプログラムに従って前記各処理を実行する少なくとも1つのプロセッサと、
前記プログラムを格納した少なくとも1つのメモリと、を備えている、
ことを特徴とする請求項1~5までの何れか1項に記載の表示制御装置。 - 請求項1~6の何れか1項に記載の表示制御装置を制御する制御プログラムであって、
前記コントローラに前記各処理を実行させることを特徴とする制御プログラム。
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