JP5702988B2 - 半導体パワーモジュール及びそれが搭載される電力変換装置並びに半導体パワーモジュール搭載用水路形成体の製造方法 - Google Patents
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Description
前記水路形成は、鋳造により一体成型された後、前記入口パイプと出口パイプ及び前記半導体パワーモジュールを締結するためのボルト穴が機械加工され、1゜以上の抜き勾配を持つ壁面を有することを特徴とする。
図1は、本発明の実施形態1に係る電力変換装置の回路ブロック構成の例を示した図である。図1に示すように、電力変換装置1000は、ブレード(回転羽根)500と変圧器600とに接続され、風の力によって回転するブレード500と、ブレード500によって得た回転力から交流電流を発生させる発電機400と、発電機400から供給される交流電流を直流に変換するコンバータモジュール300と、前記コンバータモジュール300から供給される直流電流を安定化し、平滑化するためのコンデンサモジュール200と、直流電流から所定の周波数の交流電流を生成するためのインバータモジュール100を含んで構成される。電力変換装置から得た交流電流は、前記変圧器600により所定の電圧に変換され、外部電力系統700へ供給される。
図11は、フィンなしヒートシンクを実装した場合の単相分インバータモジュールのC−C′断面を示す図である。第1の実施例と比較し、ヒートシンクフィン4bをなくした分、伝熱面積が小さくなり冷却性能は劣るが、冷却対象である電力用半導体素子が必要量冷却されているのであれば、ヒートシンク4の形状を単純化できるため、低コスト化が見込める。この場合、ヒートシンクベース4aと水路形成体101との間の距離109bは、ゴミ詰まり防止やキャビテーション腐食防止を考慮し、0.5mm以上であることが好ましい。例えば、流路幅が30mmであり、流量が1.0L/minの場合、ヒートシンクベース4aと水路形成体101との間の距離109bが0.5mmであれば、平均流速は約1.1m/sとなり、一般に知られる許容流速(1.5m/s)よりも小さくとなるため、キャビテーション腐食が発生する心配はない(〔参考文献〕“Anti corrosion duide for copper pipes used in building pipe lines” (建築配管用銅管腐食対策指針), Jpn. Copp. Develop. Assoc.. p.15 (1987))。
図12は、フィンなしヒートシンクを実装し、かつ流速増加用部材を設けた場合の単相分インバータモジュールのC−C′断面を示す図である。本実施例(第3の変形例)は、実施形態の第2の変形例に追加して流速増加用部材5を設けることにより、レイノルズ数が2000以上となる乱流の状態で熱伝達が可能となり、冷却性能を向上させることができる。
図13は2つ以上の半導体モジュールを搭載した水路形成体および3分岐3合流する冷媒の進行方向の例を示した図であり、図14は、図13の水路形成体および冷媒の進行方向の例を模式的に示した上面図である。
図15は2つ以上の半導体モジュールを搭載した水路形成体および2分岐2合流する冷媒の進行方向の例を模式的に示した上面図である。冷媒は、入口パイプ101aから入口パイプ内冷媒進行方向150aに従い水路形成体101に流入し、入口パイプから繋がる半導体パワーモジュールの下層を流れる流路内の冷媒進行方向151に従い半導体パワーモジュールの下層を流れ2つに分岐し、半導体パワーモジュール100のヒートシンク4が挿入されている水路開口部101cへ向かって下から上へ流れ出し、ヒートシンク内冷媒進行方向150cに従い進行し、水路形成体の開口部間を繋ぐ流路106を水路形成体の開口部間を繋ぐ流路内冷媒進行方向150dに従い進行方向を変え、1つ目のヒートシンク内冷媒進行方向150cに対向する方向に、2つ目の半導体パワーモジュール100のヒートシンク4が挿入されている水路開口部101c内をヒートシンク内冷媒進行方向150eに従い進行し、さらに水路形成体の開口部間を繋ぐ流路106を水路形成体の開口部間を繋ぐ流路内冷媒進行方向150dに従い進行方向を変え、2つ目のヒートシンク内冷媒進行方向150eに対向する方向に、3つ目の半導体パワーモジュール100のヒートシンク4が挿入されている水路開口部101c内をヒートシンク内冷媒進行方向150fに従い進行し、出口パイプへ繋がる半導体パワーモジュールの下層を流れる流路内の冷媒進行方向152に従い半導体パワーモジュールの下層を流れ2流路から合流し、出口パイプ101bから出口パイプ内冷媒進行方向150bに従い水路形成体101から流出する。本構造は実施形態の第4の変形例と比較し、分岐数を少なくしたため、流量を各流路に均等に分配することが容易となり、かつ半導体パワーモジュール100のヒートシンク4が挿入されている部位での流速を上げることができるため熱抵抗を低減させることができる。
図16は2つ以上の半導体モジュールを搭載した水路形成体および分岐合流しない冷媒の進行方向の例を模式的に示した上面図である。冷媒は、入口パイプ101aから入口パイプ内冷媒進行方向150aに従い水路形成体101に流入し、入口パイプから繋がる半導体パワーモジュールの下層を流れる流路内の冷媒進行方向151に従い半導体パワーモジュールの下層を流れ、入口パイプ101aや出口パイプ101bが設けられている面から一番離れた場所に位置する半導体パワーモジュール100のヒートシンク4が挿入されている水路開口部101cへ向かって下から上へ流れ出し、ヒートシンク内冷媒進行方向150cに従い進行し、水路形成体の開口部間を繋ぐ流路106を水路形成体の開口部間を繋ぐ流路内冷媒進行方向150dに従い進行方向を変え、1つ目のヒートシンク内冷媒進行方向150cに対向する方向に、2つ目の半導体パワーモジュール100のヒートシンク4が挿入されている水路開口部101c内をヒートシンク内冷媒進行方向150eに従い進行し、さらに水路形成体の開口部間を繋ぐ流路106を水路形成体の開口部間を繋ぐ流路内冷媒進行方向150dに従い進行方向を変え、2つ目のヒートシンク内冷媒進行方向150eに対向する方向に、3つ目の半導体パワーモジュール100のヒートシンク4が挿入されている水路開口部101c内をヒートシンク内冷媒進行方向150fに従い進行し、この繰り返しにより、4つ目・5つ目・6つ目の半導体パワーモジュール100のヒートシンク4が挿入されている水路開口部101c内を隣り合うヒートシンク内冷媒進行方向150に対向する方向に冷媒を流し、最終的に出口パイプへ繋がる半導体パワーモジュールの下層を流れる流路内の冷媒進行方向152に従い半導体パワーモジュールの下層を流れ、出口パイプ101bから出口パイプ内冷媒進行方向150bに従い水路形成体101から流出する。本構造は実施形態の第4や第5の変形例と比較し、分岐合流せず全ての半導体パワーモジュールを一筆書き流路で繋げることを特徴とする。分岐合流させないことにより、流量均一分配の心配をしなくてすみ、分岐合流させる他の実施例と比べ半導体パワーモジュール100のヒートシンク4が挿入されている部位での流速を最大することができるため熱抵抗を低減させることができる。
図17は6つの半導体モジュールを搭載した水路形成体および6分岐6合流する冷媒の進行方向の例を模式的に示した上面図である。冷媒は、入口パイプ101aから入口パイプ内冷媒進行方向150aに従い水路形成体101に流入し、入口パイプから繋がる半導体パワーモジュールの下層を流れる流路内の冷媒進行方向151に従い半導体パワーモジュールの下層を流れ全てのモジュール(6つ)に分岐し、半導体パワーモジュール100のヒートシンク4が挿入されている水路開口部101cへ向かって下から上へ流れ出し、ヒートシンク内冷媒進行方向150cに従い進行し、出口パイプへ繋がる半導体パワーモジュールの下層を流れる流路内の冷媒進行方向152に従い半導体パワーモジュールの下層を流れ6流路から合流し、出口パイプ101bから出口パイプ内冷媒進行方向150bに従い水路形成体101から流出する。本実施例は、モジュールの数と分岐合流する流路の数が同じであることを特徴とし、特にモジュールの数が多い場合には、液温上昇の影響をモジュールごとに、ばらつかせない様にすることができるため好適である。さらに、水路形成体の開口部間を繋ぐ流路106は冷媒の進行方向を変えずに繋げることができ、実施形態6に比べ半導体パワーモジュール100のヒートシンク4が挿入されている部位での流速を小さくすることができるため圧力損失を低減させることができる。
2 電力用半導体素子
2a IGBT
2b ダイオード
3 絶縁基板
4 ヒートシンク
4a ヒートシンクベース
4b ヒートシンクフィン
5 流速増加用部材
100 インバータモジュール
101 水路形成体
101a 入口パイプ
101b 出口パイプ
101c 水路開口部
102 Oリング用溝
103 半導体パワーモジュール固定用ボルト穴
104 水路形成体底面空間
105 機械加工用チャック
106 水路形成体の開口部間を繋ぐ流路
107a 入口/出口パイプ水路断面積
107b ノズル最小部水路断面積
107c モジュール間水路断面積
107d 開口部水路断面積
108a 水路形成体抜き勾配
108b 抜き勾配が存在する部位の壁面厚さ
109 ヒートシンクと水路形成体との間の距離
109a ヒートシンクフィン先端と水路形成体との間の距離(クリアランス)
109b ヒートシンクベースと水路形成体との間の距離
110 半導体パワーモジュール
111a 正極直流端子
111b 負極直流端子
111c 交流端子
112 弱電系(ゲート信号,温度検知信号,エミッタ信号)の電極
113 積層平板
113a,202b,203b 負極導体板
113b,113d 絶縁材
113c,202a,203a 正極導体板
113e 交流導体板
114 ゲル面の高さ
115 正極導体板と負極導体板の沿面距離が短くなる部位の高さ
116 半円状に曲率がついた導体板
117a 正極直流端子を正極導体板に繋げる部位
117b 負極直流端子を負極導体板に繋げる部位
118 正極直流端子を正極導体板に繋げる部位の最小くびれ部分の板幅
120 交流電流供給用導体板
130 Oリング
150a 入口パイプ内冷媒進行方向(流入方向)
150b 出口パイプ内冷媒進行方向(吐出方向)
150c,150e,150f,150g,150h,150i ヒートシンク内冷媒進行方向
150d 水路形成体の開口部間を繋ぐ流路内冷媒進行方向
151 入口パイプから繋がる半導体パワーモジュールの下層を流れる流路内の冷媒進行方向
152 出口パイプへ繋がる半導体パワーモジュールの下層を流れる流路内の冷媒進行方向
200 コンデンサモジュール
201 コンデンサセル
300 コンバータモジュール
400 発電機
500 ブレード(回転羽根)
600 変圧器
700 外部電力系統
800 コンバータモジュール用ドライバ回路
810 インバータモジュール用ドライバ回路
900 コンバータモジュール用制御回路
910 インバータモジュール用制御回路
1000 電力変換装置
Claims (9)
- コンデンサモジュールに接続される直流端子を備えると共に、冷却用の水路形成体と組み合わせて使用する半導体パワーモジュールであって、
前記直流端子は前記水路形成体よりも前記コンデンサモジュール側に突出しており、
更に前記水路形成体内の冷媒と接触することで該複数の電力用半導体素子から発生する熱を放熱するヒートシンクと、交流端子を備え、
前記直流端子及び前記交流端子は半導体パワーモジュール本体から突出し、
前記ヒートシンクは前記半導体パワーモジュール本体のうち、前記半導体パワーモジュールが前記水路形成体と組み合わせる側に配置されており、
前記直流端子は前記半導体モジュールの外周の1辺に設けられ、
前記交流端子は前記直流端子とは反対側の辺に設けられ、
更に前記直流端子と前記交流端子の間に設けられる積層平板と、前記直流端子と前記交流端子が設けられる辺とは別の辺に設けられる弱電系の電極とを備え、
前記直流端子と前記積層平板との接触位置には、曲率を有する導体板が設けられ、
前記半導体パワーモジュールの内側にはゲルが封止されており、該ゲルは前記積層平板の最上部導体板の底面以上に封入されている
ことを特徴とする半導体パワーモジュール。 - 請求項1に記載の半導体パワーモジュールと、前記水路形成体とを備えるインバータモジュールまたはコンバータモジュール。
- 請求項1または請求項2に記載の半導体パワーモジュールと、前記直流端子で前記半導体パワーモジュールと接続される前記コンデンサモジュールとを備えた電力変換装置であって、
前記ヒートシンクは放熱フィンが形成されるベースを備えており、
前記電力変換装置は筐体壁に前記水路形成体を設けており、
前記半導体パワーモジュールは、複数の電力用半導体素子が搭載された絶縁基板を備えていると共に、該絶縁基板と前記ヒートシンクとは、前記ヒートシンクの前記ベースの前記放熱フィンが形成された面とは反対側の面に接合され、
かつ、前記放熱フィンが前記水路形成体の開口部に水没するように、前記筐体壁に取り付けられており、
前記コンデンサモジュールは前記半導体パワーモジュールと略同一平面上に配置されていると共に、前記コンデンサモジュールは、前記半導体パワーモジュールに隣接して配置されており、
前記水路形成体は入口パイプと出口パイプを備えており、
前記水路形成体のうち前記入口パイプと前記出口パイプを除く部分の床面積が、前記半導体パワーモジュールの床面積と同等もしくはそれ以下である
ことを特徴とする電力変換装置。 - 請求項3に記載の電力変換装置であって、
前記入口パイプと前記出口パイプは前記水路形成体の片側の面に設けられていると共に、複数の半導体パワーモジュールが搭載される部位に複数の開口部が設けられ、該複数の開口部の各開口部には半導体パワーモジュールが搭載されると共に、
前記入口パイプから各前記半導体パワーモジュールへ冷媒を供給する流路と、各半導体パワーモジュールから出口パイプへ冷媒を排出する流路とを備えている
ことを特徴とする電力変換装置。 - 請求項4に記載の電力変換装置であって、
前記入口パイプから各半導体パワーモジュールへ冷媒を供給する流路と前記各半導体パワーモジュールから出口パイプへ冷媒を排出する流路が、前記半導体パワーモジュールが搭載される開口部の下層に位置する
ことを特徴とする電力変換装置。 - 請求項5に記載の電力変換装置であって、
前記入口パイプから各半導体パワーモジュールへ冷媒を供給する複数の流路と前記各半導体パワーモジュールから出口パイプへ冷媒を排出する複数の流路が、前記半導体パワーモジュールが搭載される開口部の下層で分岐合流する
ことを特徴とする電力変換装置。 - 請求項6に記載の電力変換装置であって、
前記入口パイプまたは前記出口パイプが設けられている面から最も離れた場所に位置する半導体パワーモジュールから前記入口パイプや前記出口パイプが設けられている面に向かって、複数の半導体パワーモジュールを搭載される全ての開口部を繋ぐように流路が構成されている
ことを特徴とする電力変換装置。 - 請求項3ないし請求項7のいずれか一つに記載の電力変換装置であって、
前記直流端子及び前記交流端子直下には、前記水路形成体の開口部間を繋ぐ流路が設けられている
ことを特徴とする電力変換装置。 - 請求項3ないし請求項8のいずれか一つに記載の電力変換装置であって、
前記水路形成体と前記ヒートシンクには表面処理が設けられている
ことを特徴とする電力変換装置。
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