JP5452180B2 - 顕微鏡装置 - Google Patents
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Description
本発明は、同一の標本の画像を取得可能な複数の観察光学系と、いずれかの前記観察光学系により取得される参照用画像上で他の前記観察光学系により取得する観察用画像の取得領域を指定する領域指定手段と、前記参照用画像上に前記他の観察光学系の最大視野範囲を表す表示を重ね合わせて表示する視野範囲表示手段と、前記観察光学系の光路を合成する複数の光路合成部と、前記光路に前記光路合成部を選択的に挿脱可能な切替手段と、前記光路合成部ごとの前記光路間におけるオフセット量を記憶するオフセット量記憶手段とを備え、前記視野範囲表示手段が、前記切替手段により切り替えられた前記光路合成部の前記オフセット量に基づいて、前記他の観察光学系の前記最大視野範囲を表す表示を、位置を補正して表示する顕微鏡装置を提供する。
このように構成することで、フィッティング手段により、参照用画像上から観察用画像の取得領域として指定できない不要な範囲を除くことができる。
上記発明においては、前記参照用画像の取得領域を前記共通視野範囲に一致させるフィッティング手段を備えることとしてもよい。
標本の観察用画像を1度に取得できれば、標本の観察用画像を複数回にわたって取得する場合と比較して作業効率を向上することができる。したがって、視野範囲表示手段により、1度に取得可能な最大の観察用画像の大きさを表す表示を表示することで、観察に適した大きさの標本を簡易かつ確実に探すことができ、観察用画像の取得領域の指定し直しを回避することができる。
このように構成することで、視野範囲表示手段により表示された最小の観察用画像の大きさを表す表示に基づき、観察用画像の取得領域をより詳細に指定することができる。例えば、特に倍率の大きい参照用画像上において観察用画像の取得領域を指定する場合に有効となる。
このように構成することで、走査手段の走査速度が走査方向に応じて異なる場合に、観察用画像の取得領域を走査手段の走査速度が遅い方向に小さく設定することにより、フレームレートを上げて観察時間の短縮を図ることができる。
このように構成することで、観察用画像の取得領域を画素の配列方向のいずれかの方向に小さく設定し、限られた領域内の画素に対応する画像データのみ転送する部分転送(サブアレイ転送)におけるライン数を減らすことで、フレームレートを上げて観察時間の短縮を図ることができる。
このように構成することで、フィッティング手段により、画像上から刺激領域として指定できない不要な範囲を除くことができる。
上記発明においては、前記画像の取得領域を前記共通視野範囲に一致させるフィッティング手段を備えることとしてもよい。
標本を1度に刺激できれば、複数回にわたって刺激する場合と比較して作業効率を向上することができる。したがって、視野範囲表示手段により、1度に刺激可能な最大の範囲の大きさを表す表示を表示することで、刺激するのに適した大きさの標本を簡易かつ確実に探すことができ、刺激領域の指定し直しを回避することができる。
このように構成することで、刺激可能な最小の範囲の大きさを表す表示に基づいて、領域指定手段により刺激領域を詳細に指定することができる。
このように構成することで、走査手段の走査速度が走査方向に応じて異なる場合に、刺激領域を走査速度が遅い方向に小さく設定することにより、フレームレートを上げて時間短縮を図ることができる。
本実施形態に係る顕微鏡装置100は、図1に示すように、標本Sを目視観察する顕微鏡10と、標本Sを共焦点観察する共焦点観察ユニット(観察光学系、刺激光学系)50と、標本Sを光刺激する刺激ユニット(刺激光学系)70と、標本Sの2次元画像を取得する撮影ユニット(観察光学系)110と、顕微鏡10とこれら共焦点観察ユニット50、刺激ユニット70および撮影ユニット110とを光学的に接続する顕微鏡接続装置120とを備えている。以下、共焦点観察ユニット50、刺激ユニット70および撮影ユニット110を合わせて、単に「ユニット50,70,110」という。
PMT69A,69B,69Cは、蛍光を検出して得られた画素ごとの検出信号をPC154へ出力するようになっている。これにより、PC154において検出信号に基づき2次元画像が構築され、モニタ156に表示される。
励起フィルタ77は、刺激ユニットフィルタターレット78に設けられ、波長特性に応じて切り替え可能となっている。
本実施形態に係る顕微鏡装置100を用いて、共焦点観察ユニット50により標本Sの参照用画像171を取得し、参照用画像171上で刺激ユニット70により標本Sを刺激したり撮影ユニット110により標本Sの観察用画像を取得したりするROIを指定して刺激または観察を行う場合について説明する。
まず、PC154により接続ユニットフィルタターレット128A,128Bが制御され、顕微鏡10と刺激ユニット70との間の光路間に適切な波長特性の第1光路合成部127Cおよび第2光路合成部127Dが配置される。
まず、PC154により接続ユニットフィルタターレット128A,128Bが制御され、顕微鏡10と撮影ユニット110との間の光路間に適切な波長特性の第1光路合成部127Eが配置される。この場合においても、視野範囲表示部163の作動により、メモリ156に記憶されている光路合成部127Eのオフセット量に基づいて最大制限表示F1の位置が補正される。
なお、制御部165により、ROIをY方向に小さく設定することとしてもよい。このようにすることで、フレームレートを上げて時間短縮を図ることができる。
例えば、本実施形態においては、視野範囲表示部163が、参照用画像171上にユニット110、50、70の最大視野範囲を表す最大制限表示F1を重ね合わせて表示することとしたが、視野範囲表示部163が、例えば、図16(a),(b)に示すように、光路合成部127A,127B,127C,127D,127Eのオフセット量に基づいてユニット50、70、110の全てに共通する共通視野範囲を表す共通制限表示F2を表示することとしてもよい。
例えば、ON/OFFを切り替えることにより、参照用画像171上に最大制限表示F1または共通制限表示F2を表示させたり表示させなかったりすることができることとしてもよい。
また、上記実施形態においては、顕微鏡接続装置120に共焦点観察ユニット50、刺激ユニット70、撮影ユニット110を接続することとしたが、顕微鏡接続装置120が2つのユニット接続ポートを備え、顕微鏡10に観察光学系または刺激光学系を接続することとしてもよい。また、顕微鏡接続装置120が3以上のユニット接続ポートを備え、顕微鏡10に3以上の観察光学系や刺激光学系を接続することとしてもよい。
57 観察ユニットGS(走査手段)
58 共振GS(走査手段)
70 刺激ユニット(刺激光学系)
110 撮影ユニット(観察光学系)
111 CCD(撮像素子)
127A,127B,127C,127D,127E 光路合成部
128A,128B 接続ユニットフィルタターレット(切替手段)
161 領域指定部(領域指定手段)
163 視野範囲表示部(視野範囲表示手段)
167 メモリ(オフセット量記憶手段)
170 ROI(取得領域、刺激領域)
F1 最大制限表示(最大視野範囲を表す表示)
F2 共通制限表示(共通視野範囲を表す表示)
S 標本
Claims (8)
- 同一の標本の画像を取得可能な複数の観察光学系と、
いずれかの前記観察光学系により取得される参照用画像上で他の前記観察光学系により取得する観察用画像の取得領域を指定する領域指定手段と、
前記参照用画像上に前記他の観察光学系の最大視野範囲を表す表示を重ね合わせて表示する視野範囲表示手段と、
前記観察光学系の光路を合成する複数の光路合成部と、
前記光路に前記光路合成部を選択的に挿脱可能な切替手段と、
前記光路合成部ごとの前記光路間におけるオフセット量を記憶するオフセット量記憶手段とを備え、
前記視野範囲表示手段が、前記切替手段により切り替えられた前記光路合成部の前記オフセット量に基づいて、前記他の観察光学系の前記最大視野範囲を表す表示を、位置を補正して表示する顕微鏡装置。 - 前記参照用画像の取得領域を前記他の観察光学系の前記最大視野範囲に一致させるフィッティング手段を備える請求項1に記載の顕微鏡装置。
- 同一の標本の画像を取得可能な複数の観察光学系と、
いずれかの前記観察光学系により取得される参照用画像上で他の前記観察光学系により取得する観察用画像の取得領域を指定する領域指定手段と、
前記観察光学系の光路を合成する複数の光路合成部と、
前記光路に前記光路合成部を選択的に挿脱可能な切替手段と、
前記光路合成部ごとの前記光路間におけるオフセット量を記憶するオフセット量記憶手段と、
各前記光路合成部のオフセット量に基づいて全ての前記観察光学系に共通する共通視野範囲を表す表示を表示する視野範囲表示手段とを備える顕微鏡装置。 - 前記参照用画像の取得領域を前記共通視野範囲に一致させるフィッティング手段を備える請求項3に記載の顕微鏡装置。
- 前記視野範囲表示手段が、前記他の観察光学系により1度に取得可能な最大の前記観察用画像の大きさを表す表示を前記参照用画像上に重ね合わせて表示する請求項1から請求項4のいずれかに記載の顕微鏡装置。
- 前記視野範囲表示手段が、前記他の観察光学系により取得可能な最小の前記観察用画像の大きさを表す表示を前記参照用画像上に重ね合わせて表示する請求項1から請求項5のいずれかに記載の顕微鏡装置。
- 前記他の観察光学系が、前記標本上で光を2次元的に走査する走査手段を備え、
前記視野範囲表示手段が、前記走査手段による走査方向を前記参照用画像上に表示する請求項1から請求項6のいずれかに記載の顕微鏡装置。 - 前記他の観察光学系が、2次元的に配列された複数の画素を有する撮像素子を備え、
前記視野範囲表示手段が、前記画素の配列方向を前記参照用画像上に表示する請求項1から請求項6のいずれかに記載の顕微鏡装置。
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JPS63116348A (ja) * | 1986-10-31 | 1988-05-20 | Jeol Ltd | 電子線装置の視野対応装置 |
US5655029A (en) * | 1990-11-07 | 1997-08-05 | Neuromedical Systems, Inc. | Device and method for facilitating inspection of a specimen |
JP3007540B2 (ja) * | 1994-10-17 | 2000-02-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像表示装置 |
JP3642812B2 (ja) * | 1994-11-17 | 2005-04-27 | 株式会社町田製作所 | 医療用観察装置 |
EP1003429B1 (en) * | 1997-03-19 | 2008-09-24 | Lucid, Inc. | Cellular surgery utilizing confocal microscopy |
JPH1152252A (ja) * | 1997-08-06 | 1999-02-26 | Nikon Corp | 蛍光顕微鏡 |
JP3896196B2 (ja) | 1997-09-18 | 2007-03-22 | オリンパス株式会社 | 走査型顕微鏡 |
US6081371A (en) * | 1998-01-06 | 2000-06-27 | Olympus Optical Co., Ltd. | Surgical microscope including a first image and a changing projection position of a second image |
US20010055062A1 (en) * | 2000-04-20 | 2001-12-27 | Keiji Shioda | Operation microscope |
DE10043992B4 (de) * | 2000-09-05 | 2013-12-24 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren zur Untersuchung einer Probe und konfokales Scan-Mikroskop |
JP4932076B2 (ja) * | 2000-10-30 | 2012-05-16 | オリンパス株式会社 | 走査型レーザ顕微鏡 |
US7194118B1 (en) * | 2000-11-10 | 2007-03-20 | Lucid, Inc. | System for optically sectioning and mapping surgically excised tissue |
AU2002336277B2 (en) * | 2001-03-09 | 2006-06-08 | Lucid, Inc. | System and method for macroscopic and confocal imaging of tissue |
JP2002296508A (ja) | 2001-03-30 | 2002-10-09 | Nikon Corp | 顕微鏡システム |
JP2002350320A (ja) * | 2001-05-25 | 2002-12-04 | Olympus Optical Co Ltd | 走査型プローブ顕微鏡 |
JP4156851B2 (ja) | 2002-03-22 | 2008-09-24 | オリンパス株式会社 | マイクロダイセクション装置 |
US7223986B2 (en) * | 2002-08-29 | 2007-05-29 | Olympus Optical Co., Ltd. | Laser scanning microscope |
JP4468684B2 (ja) * | 2003-12-05 | 2010-05-26 | オリンパス株式会社 | 走査型共焦点顕微鏡装置 |
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US7792338B2 (en) * | 2004-08-16 | 2010-09-07 | Olympus America Inc. | Method and apparatus of mechanical stage positioning in virtual microscopy image capture |
JP4708752B2 (ja) * | 2004-09-28 | 2011-06-22 | キヤノン株式会社 | 情報処理方法および装置 |
JP2006119347A (ja) * | 2004-10-21 | 2006-05-11 | Olympus Corp | レーザ走査型顕微鏡 |
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US7864996B2 (en) * | 2006-02-17 | 2011-01-04 | Lucid, Inc. | System for macroscopic and confocal imaging of tissue |
JP4912737B2 (ja) * | 2006-05-11 | 2012-04-11 | オリンパス株式会社 | レーザ走査型顕微鏡および顕微鏡観察方法 |
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EP1862838B1 (en) * | 2006-05-29 | 2009-08-19 | Olympus Corporation | Laser scanning microscope and microscopic observing method |
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