JP5055721B2 - Vibration sensor type differential pressure / pressure transmitter - Google Patents
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Description
本発明は、基準クロックを高速化することなく、被測定信号の周波数を高速・高分解能で測定することができる周波数測定回路を利用した振動センサ式差圧・圧力伝送器に関するものである。
The present invention has thus speeding the reference clock, to a vibration sensor type differential pressure-pressure transmitter using a frequency measuring circuit which can measure the frequency of the signal to be measured at high speed and high resolution.
図4は、従来の振動センサ式差圧・圧力伝送器で用いられている周波数測定回路の基本構成を示す機能ブロック図である。振動式圧力・差圧センサ1は、測定圧力または差圧に対応した周波数を有する被測定信号Fpを出力する。2は基準クロック発生器であり、被測定信号Fpの周波数よりも高い周波数の基準クロックCLKを発生する。
FIG. 4 is a functional block diagram showing a basic configuration of a frequency measurement circuit used in a conventional vibration sensor type differential pressure / pressure transmitter. The vibration type pressure / differential pressure sensor 1 outputs a measured signal Fp having a frequency corresponding to the measurement pressure or the differential pressure. A
被測定信号Fpは、周波数カウンタ3の同期回路31に入力され、基準クロックCLKの立ち上がりに同期した信号Fsに変換される。この信号Fsおよび基準クロックCLKは、カウンタ32に入力される。カウンタ32は、基準クロックCLKを信号Fsの1周期またはその整数倍の期間カウントして、被測定信号Fpの周波数を測定する。この周波数データは、CPUの機能で実現される演算回路4に入力され、差圧あるいは圧力が演算される。5は、CPUの内部バスである。
The signal to be measured Fp is input to the
図5は、同期回路31のタイムチャートである。(A)に示す基準クロックCLKは、一定の周波数を有するパルス信号である。(B)に示す被測定信号Fpは、この基準クロックCLKよりかなり低い周波数の信号であり、かつ基準クロックに同期していない。同期回路31は、基準クロックCLKの立ち上がりで被測定信号Fpをサンプリングする。そのため、同期回路31の出力Fsは、(C)に示すように基準クロックCLKの立ち上がりに同期して変化する。ゲート時間はカウンタ32が信号Fs及び基準クロックCLKをカウントする単位期間を表している。
FIG. 5 is a time chart of the
このような基本構成において、伝送器の高速化を図る目的でゲート時間を短くした場合には、同一の分解能を確保するためには基準クロックCLKの周波数を高くしなければならない。周波数を高くすると消費電力が増加するので、2線式の差圧・圧力伝送器に適用することは困難である。図3は、特許文献1に開示されている周波数測定回路の機能ブロック図である。この回路の特徴は、基準クロックCLKの周波数を高くすることなく、高速化を実現したものである。 In such a basic configuration, when the gate time is shortened for the purpose of speeding up the transmitter, the frequency of the reference clock CLK must be increased in order to ensure the same resolution. Since the power consumption increases when the frequency is increased, it is difficult to apply to a two-wire differential pressure / pressure transmitter. FIG. 3 is a functional block diagram of the frequency measurement circuit disclosed in Patent Document 1. In FIG. The feature of this circuit is that high speed is realized without increasing the frequency of the reference clock CLK.
同期回路6は、図4における同期回路31と同一機能を有する。7は時間差検出回路であり、振動式圧力・差圧センサ1の被測定信号Fp及び同期回路6の出力Fsが入力され、被測定信号Fpの立ち上がりで低レベルになり、その次の出力Fsの立ち上がりで高レベルになる信号Tinを出力する。即ち、時間差検出回路7の出力Tinは、被測定信号FpとFsの時間差のパルス幅を有する信号である。
The
8は時間幅拡大回路であり、時間差検出回路7の出力Tinが入力され、この出力Tinのパルス幅、すなわち低レベル期間を所定の倍率だけ拡大したパルス幅を有する信号Toutを出力する。
9は第1カウンタであり、出力Fsの1周期またはその整数倍の間基準クロックCLKをカウントする。即ち、このカウンタ9は、図4で説明したカウンタ32と同じ動作をする。
Reference numeral 9 denotes a first counter, which counts the reference clock CLK for one period of the output Fs or an integral multiple thereof. That is, the counter 9 performs the same operation as the
10は第2カウンタであり、時間幅拡大回路8の出力Toutおよび基準クロックCLKが入力され、出力Toutのパルス幅、即ち、Toutが低レベルの期間に基準クロックCLKをカウントする。CPU機能で実現される演算回路4は、バス5を介して第1カウンタ9及び第2カウンタ10のカウント値を取得する。
演算回路4は、第2カウンタ10のカウント値を時間幅拡大回路8が入力信号のパルス幅を拡大する倍率により除算し、この除算結果を第1カウンタ9のカウント値に加算することによって、振動式圧力・差圧センサ1の被測定信号Fpの周波数を演算する。また、この周波数から圧力値を演算する。
The arithmetic circuit 4 divides the count value of the
周波数測定回路及びそれを用いた振動センサ式差圧・圧力伝送器に関連する先行技術文献としては、次のようなものがある。 Prior art documents related to a frequency measurement circuit and a vibration sensor type differential pressure / pressure transmitter using the frequency measurement circuit include the following.
従来技術による構成では、次のような問題点がある。
(1)図4に示す基本構成では、高速化するために基準クロックの周波数を高くした場合には、消費電力が増加し2線式の差圧・圧力伝送器に適用することは困難である。
The configuration according to the prior art has the following problems.
(1) In the basic configuration shown in FIG. 4, when the frequency of the reference clock is increased in order to increase the speed, the power consumption increases and it is difficult to apply to a two-wire differential pressure / pressure transmitter. .
(2)図3に示す構成では、基準クロックの周波数を高くすることなく測定を高速化することが可能である。しかしながら、高速化に伴ないゲート時間が短くなることで、被測定信号に重畳するノイズ及びジッタが測定精度を悪化させる影響が大きくなるが、この影響を抑制することができない。 (2) With the configuration shown in FIG. 3, it is possible to speed up the measurement without increasing the frequency of the reference clock. However, since the gate time is shortened as the speed is increased, noise and jitter superimposed on the signal under measurement increase the influence of deteriorating measurement accuracy, but this influence cannot be suppressed.
従って本発明が解決しようとする課題は、基準クロックの周波数を高くすることなく、被測定信号の周波数測定分解能を向上させると共に、高速化に伴ない発生するノイズやジッタの影響を抑制することが可能な周波数測定回路を用いた振動センサ式差圧・圧力伝送器を実現することにある。
Therefore, the problem to be solved by the present invention is to improve the frequency measurement resolution of the signal under measurement without increasing the frequency of the reference clock, and to suppress the influence of noise and jitter that accompany the increase in speed. It is to realize a vibration sensor type differential pressure-pressure transmitter using a frequency measuring circuit capable.
(1)振動式差圧・圧力センサからの被測定信号の周波数に対して近接した周波数の比較信号を発生する比較信号発生回路と、
前記被測定信号と前記比較信号を入力し、両者の差分周波数信号を生成するヘテロダイン回路と、
前記差分周波数信号でゲートされる基準クロックをカウントする周波数カウンタと、
この周波数カウンタのカウント値と前記比較信号の周波数に基づいて前記被測定信号の周波数を演算する演算回路とを備え、
この演算回路は、個々の前記振動式差圧・圧力センサからの被測定信号の周波数スパンに基づいて、前記周波数スパンの下限周波数より低く、かつ前記下限周波数に近接した周波数の前記比較信号を発生させるための予め設定された分周比の指令を前記比較信号発生回路に与え、
前記比較信号発生回路は、前記基準クロックを前記指令された分周比で分周した前記比較信号を発生する、
ことを特徴とする振動センサ式差圧・圧力伝送器。
( 1 ) a comparison signal generation circuit for generating a comparison signal having a frequency close to the frequency of the signal under measurement from the vibration type differential pressure / pressure sensor;
A heterodyne circuit that inputs the signal under measurement and the comparison signal and generates a differential frequency signal of both;
A frequency counter that counts a reference clock gated with the differential frequency signal;
An arithmetic circuit that calculates the frequency of the signal under measurement based on the count value of the frequency counter and the frequency of the comparison signal;
The arithmetic circuit generates the comparison signal having a frequency lower than the lower limit frequency of the frequency span and close to the lower limit frequency based on the frequency span of the signal under measurement from each of the vibration type differential pressure / pressure sensors. Giving a command of a preset division ratio to the comparison signal generating circuit,
The comparison signal generation circuit generates the comparison signal obtained by dividing the reference clock by the commanded division ratio.
This is a vibration sensor type differential pressure / pressure transmitter.
(2)前記ヘテロダイン回路は、ローパスフィルタを備えることを特徴とする(1)に記載の振動センサ式差圧・圧力伝送器。
( 2 ) The vibration sensor type differential pressure / pressure transmitter according to (1) , wherein the heterodyne circuit includes a low-pass filter.
以上説明したことから明らかなように、本発明によれば次のような効果がある。
(1)ヘテロダイン回路を用いて、被測定信号の周波数と、個々の前記振動式差圧・圧力センサからの被測定信号の周波数スパンに基づいて、前記周波数スパンの下限周波数より低くかつ前記下限周波数に近接した周波数の前記比較信号の周波数との差分周波数信号を生成し、この差分周波数信号でゲートされる基準クロックをカウントした値と比較信号の周波数に基づいて被測定信号の周波数を演算することで、基準クロックの周波数を高くすることなく、高速・高分解能を実現できる。
As is apparent from the above description, the present invention has the following effects.
(1) using a heterodyne circuit, the frequency of the signal under measurement, based on the frequency span of the measured signal from each said vibratory differential-pressure sensor, lower than the minimum frequency of the frequency span and the lower limit frequency generates a difference frequency signal between the frequency of said comparison signal having a frequency close to calculate the frequency of the signal to be measured based on the frequency of the comparison signal with the value obtained by counting the reference clock gated by the difference frequency signal that the Thus, high speed and high resolution can be realized without increasing the frequency of the reference clock.
(2)ノイズやジッタに関しては、ヘテロダイン回路内にあるローパスフィルタによってジッタの高周波成分を除くことができるため、被測定信号に重畳するノイズ及びジッタが測定精度を悪化させる影響を抑制することができる。 (2) With respect to noise and jitter, the high-frequency component of jitter can be removed by a low-pass filter in the heterodyne circuit, so that the influence of noise and jitter superimposed on the signal under measurement deteriorating measurement accuracy can be suppressed. .
(3)比較信号の周波数は、基準クロックを所定比率で分周することにより正確な周波数信号を生成することが可能であり、演算精度を確保することができる。 (3) As for the frequency of the comparison signal, it is possible to generate an accurate frequency signal by dividing the reference clock by a predetermined ratio, and it is possible to ensure calculation accuracy.
以下、本発明を図面により詳細に説明する。図1は本発明を適用した周波数測定回路及びそれを用いた振動センサ式差圧・圧力伝送器の一実施形態を示す機能ブロック図である。図4で説明した従来回路と同一要素には同一符号を付して説明を省略する。以下、本発明の特徴部につき説明する。 Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of a frequency measuring circuit to which the present invention is applied and a vibration sensor type differential pressure / pressure transmitter using the same. The same elements as those in the conventional circuit described with reference to FIG. Hereinafter, the characteristic part of the present invention will be described.
図1において、100は、本発明の特徴部を形成するヘテロダイン回路である。このヘテロダイン回路は、乗算器101と、ローパスフィルタ102と、2値化器103を備えている。
In FIG. 1,
200は比較信号発生回路であり、この実施形態では分周回路201を備え、基準クロックCLKを所定の分周比nで分周した周波数CLK/nの比較信号Fcを生成してヘテロダイン回路100に出力している。
ヘテロダイン回路100の乗算器101は、被測定信号Fpと比較信号Fcを入力し、両者の周波数の和成分(Fp+Fc)及び差成分(Fp−Fc)を生成する。この乗算器101への入力はディジタル信号であるので、乗算器101は排他的論理和演算の素子からなる。
The
乗算器101の出力は、ローパスフィルタ102に入力される。ローパスフィルタ102は、乗算器101によって生成される周波数の和成分と差成分のうち、差成分のみを抽出するためのアナログフィルタである。
The output of the
このローパスフィルタ102で抽出されアナログ信号の差成分は、2値化器103で再びディジタル信号へ戻される。2値化器103は、コンパレータであり、その出力信号の周波数を差分周波数Fd、信号Fs及びFcの周波数をFs及びFcとすれば、差分周波数Fdは、Fd=(Fp−Fc)である。この差分周波数Fdが、周波数カウンタ3に入力される。
The difference component of the analog signal extracted by the low-
周波数カウンタ3は、図4で説明した従来回路と同じ機能であり、差分周波数Fdを同期回路31により基準クロックCLKで同期化し、その同期化信号で基準クロックCLKの通過を規制してカウンタ32で基準クロックCLKをカウントする。そのカウント結果は、バス5を通じて演算回路(CPU)4に取り込まれる。
The
比較信号発生回路200の分周回路201は、実施形態のように、基準クロックCLKを分周してヘテロダイン回路100に入力される比較信号Fcを生成する構成を採用する場合には、分周比nはCPU4からバス5を通じて指令される。分周比nは、個々のセンサからの被測定信号Fpの周波数スパンに基づいて所定の差分周波数Fdとなるように予め設定される。
When the
演算回路(CPU)4は、分周回路201に分周比nの指令を与えると共に、周波数カウンタ3からのデータを取り込んで計算されるヘテロダイン回路100差分周波数Fdと、比較信号発生回路200の比較信号の周波数Fcとから、被測定信号の周波数Fpを、Fp=(Fd+Fc)で計算する。
The arithmetic circuit (CPU) 4 gives a command of the frequency division ratio n to the
一般に、周波数カウンタ3によって測定できる周波数は、周波数カウンタ3の時間分解能と測定時間で決まる。基準クロックCLKの周波数が周波数カウンタ3の入力周波数よりも充分高ければ、入力周波数によらず測定結果の有効桁数は一定とみなすことができる。
In general, the frequency that can be measured by the
このことは、周波数が低い信号ほどより小さい桁まで測定可能であることを意味する。従って、ヘテロダイン回路100を通って元の信号周波数Fpよりも周波数が低い差分周波数Fdを測定した周波数カウンタの測定結果と、既知の周波数Fcとを足し合わせて求められる元の被測定信号の周波数Fpは、ヘテロダイン回路を用いない時よりも測定結果の有効桁数が増え、結果として周波数分解能が向上することになる。
This means that a signal having a lower frequency can be measured to a smaller order. Therefore, the frequency Fp of the original signal under measurement obtained by adding the measurement result of the frequency counter that has measured the differential frequency Fd that is lower than the original signal frequency Fp through the
被測定信号Fpの周波数スパンが120〜130kHzのとき、比較信号Fcの周波数を110kHzに選定した場合には、差分周波数Fdは、10〜20kHzとなる。このときに期待される分解能の向上効果は、略10倍乃至5倍となる。 When the frequency span of the signal under measurement Fp is 120 to 130 kHz, when the frequency of the comparison signal Fc is selected to be 110 kHz, the differential frequency Fd is 10 to 20 kHz. The resolution improvement effect expected at this time is approximately 10 to 5 times.
図2は、本発明の他の実施形態の構成を示す機能ブロック図である。この構成の特徴は、図1で説明した本発明のヘテロダイン回路100の差分周波数Fdを、図3で説明した特許文献1に開示された周波数測定回路の入力とした、組み合わせ構成にある。このような組み合わせ構成により、分解能を更に向上させることが可能である。
FIG. 2 is a functional block diagram showing the configuration of another embodiment of the present invention. The feature of this configuration is a combination configuration in which the differential frequency Fd of the
本発明で導入される、ヘテロダイン回路100におけるローパスフィルタ102の機能は、乗算器101によって生成される周波数の和成分と差成分のうち、差成分のみを抽出するためのアナログフィルタとしての機能に加えて、高速化に伴ない発生するノイズ及びジッタの影響を抑制する機能を有し、図3で説明した特許文献1に開示された従来技術の問題点を解消することができる。
The function of the low-
図1の実施形態では、比較信号Fcを生成する手段として基準クロックCLKを分周する分周回路201を例示したが、この構成に限定されるものではなく既知の周波数信号を出力する安定した発振回路を採用することも可能である。
In the embodiment of FIG. 1, the
1 振動式圧力・差圧センサ
2 基準クロック発生器
3 周波数カウンタ
31 同期回路
32 カウンタ
4 演算回路(CPU)
5 内部バス
100 ヘテロダイン回路
101 乗算器
102 ローパスフィルタ
103 2値化器
200 比較信号発生回路
201 分周回路
1 Vibrating Pressure /
5
Claims (2)
前記被測定信号と前記比較信号を入力し、両者の差分周波数信号を生成するヘテロダイン回路と、
前記差分周波数信号でゲートされる基準クロックをカウントする周波数カウンタと、
この周波数カウンタのカウント値と前記比較信号の周波数に基づいて前記被測定信号の周波数を演算する演算回路とを備え、
この演算回路は、個々の前記振動式差圧・圧力センサからの被測定信号の周波数スパンに基づいて、前記周波数スパンの下限周波数より低く、かつ前記下限周波数に近接した周波数の前記比較信号を発生させるための予め設定された分周比の指令を前記比較信号発生回路に与え、
前記比較信号発生回路は、前記基準クロックを前記指令された分周比で分周した前記比較信号を発生する、
ことを特徴とする振動センサ式差圧・圧力伝送器。 A comparison signal generation circuit for generating a comparison signal having a frequency close to the frequency of the signal under measurement from the vibration type differential pressure / pressure sensor;
A heterodyne circuit that inputs the signal under measurement and the comparison signal and generates a differential frequency signal of both;
A frequency counter that counts a reference clock gated with the differential frequency signal;
An arithmetic circuit that calculates the frequency of the signal under measurement based on the count value of the frequency counter and the frequency of the comparison signal;
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This is a vibration sensor type differential pressure / pressure transmitter.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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---|---|---|---|
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
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JP5055721B2 true JP5055721B2 (en) | 2012-10-24 |
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JP (1) | JP5055721B2 (en) |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101008 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111018 |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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