JP3574186B2 - 磁気抵抗効果素子 - Google Patents
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Description
【産業上の利用分野】
本発明は、磁気抵抗効果素子に関し、より詳しくは、磁気センサや磁気ヘッド等に使用されるスピンバルブMR膜を有する磁気抵抗効果素子に関する。
【0002】
【従来の技術】
磁気センサ或いは磁気ヘッドでは、磁性材料としてNiFeを用いた磁気抵抗効果層が使用されている。そして、磁気センサや磁気ヘッドのより一層の高感度化の要求に伴い、大きな読み出し信号が得られるGMR膜(巨大磁気抵抗効果膜)が注目されている。その中でもスピンバルブ磁気抵抗効果膜(スピンバルブMR膜)は比較的容易に作成でき、低磁場での電気抵抗の変化率も従来よりも大きいために最近特に注目されている。
【0003】
スピン・バルブ磁気抵抗効果を利用した素子は例えば特開平4−358310号公報において提案され、例えば図6(a),(b) に示すような構造を有している。図において、シリコン基板1の上には、特定の大きさの磁場の雰囲気中でスパッタ法により、基板側から順に下地層2、第一の磁性層3、非磁性金属層4、第二の磁性層5、反強磁性層6が形成され、また、下地層2から反強磁性層6までの各層は平面が長方形になるようにパターニングされている。また、反強磁性層6上には、その長手方向に間隔をおいて一対の引出電極7a,7bが形成されている。
【0004】
それらの層を構成する材料として、例えば下地層2にはタンタル(Ta)、第一及び第二の磁性層3,5には鉄ニッケル(NiFe)、非磁性金属層4には銅(Cu)、反強磁性層6には鉄マンガン(FeMn)が使用される。
これによりスピン・バルブ磁気抵抗効果型素子が構成される。
第一の磁性層3は、長方形の長手方向の磁化Ma を有している。また、第二の磁性層5は反強磁性層6と交換結合することにより磁化され、その磁化Mb の方向は長方形の短辺の一方向である。なお、磁気記録媒体からの信号磁界Hsig は、各層の短辺方向に発生する。
【0005】
そのような磁気抵抗効果型トランスジューサに信号磁界Hsig がかかると、その信号磁界Hsig の強さ、方向に応じた大きさに第一の磁性層3の磁化Ma の方向が傾く。
第一の磁性層3の磁化Ma のうち第二の磁性層5の磁化Mb と反対向きの成分は、それらの層を通る電子を散乱させる要因となり、層全体の電気抵抗を増加させる。これに対して、第一の磁性層2の磁化Ma のうち第二の磁性層5の磁化Mb と同じ方向の成分は、層全体を通る電子を散乱させないので、層全体の電気抵抗が減少する。
【0006】
センス電流領域の電気抵抗は、第一の磁性層3の磁化Ma と第二の磁性層5の磁化Mb との相対的な角度θの余弦、即ちcos θに比例して変化する。
なお、信号磁界が零の状態で、第一の磁性層3の磁化Ma と第二の磁性層5の磁化Mb を直交させる目的は、磁気記録媒体からの信号磁界Hsig に対する電気抵抗を線形に変化させるためである。信号磁界Hsig は第二の磁性層5の磁化方向、即ち固定磁化方向と同じか逆の方向に印加される。
【0007】
磁気記録媒体からの信号磁界Hsig を電気信号に変換する場合には、一対の引出電極7a,7bの間に定電流を流すことにより、信号磁界Hsig による電気抵抗の変化を電圧の変化に変える。その電圧の変化が再生用電気信号となる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、スピンバルブ磁気抵抗効果が生じる磁性層の材料としてNiFeを用いた素子は信号磁界による電気抵抗の変化率が2.5%と小さく、高感度の磁気センサや磁気ヘッド等に用いるには不十分であった。
本発明はこのような問題に鑑みてなされたものであって、信号磁界に対してより大きな磁気抵抗の変化率が得られる磁気抵抗効果素子を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
上記した課題は、図1に例示するように、軟磁性材よりなる第一の強磁性層13と、ニッケルを5〜40atms%、コバルトを30〜95atms%(但し、95 atms %は除く)の割合で含有しているコバルト・ニッケル・鉄合金よりなる第二の強磁性層15と、第一の強磁性層13と第二の強磁性層15の間に形成された非磁性金属層14と、第二の強磁性層15に接して形成された反強磁性層16とを有し、コバルト・ニッケル・鉄合金は磁歪が零であることを特徴とする磁気抵抗効果素子によって解決する。
【0010】
前記磁気抵抗効果素子において、第一の強磁性層13を構成する軟磁性材は、ニッケルを5〜40atms%、コバルトを30〜95atms%(但し、95 atms %は除く)の割合で含有しているコバルト・ニッケル・鉄合金であることを特徴とする。
【0011】
または、上記した課題は、図4に例示するように、第一のコバルト・ニッケル・鉄合金よりなる第一の強磁性層23と、第一のコバルト・ニッケル・鉄合金と組成の異なる第二のコバルト・ニッケル・鉄合金又は鉄コバルトよりなる第二の強磁性層25と、前記第一の強磁性層23と前記第二の強磁性層25の間に形成された非磁性金属層26と、前記第二の強磁性層に接して形成された反強磁性層26とを有することを特徴とする磁気抵抗効果素子によって解決する。
【0012】
前記磁気抵抗効果素子において、前記第一のコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトを40〜50atoms %、ニッケルを24〜35atoms %の割合で含有し、且つ前記第二のコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトを80〜90atoms %、ニッケルを20atoms %以下の割合で含有していることを特徴とする。
前記磁気抵抗効果素子において、前記第一のコバルト・ニッケル・鉄合金の保磁力は10Oeよりも小さいことを特徴とする。
【0013】
前記磁気抵抗効果素子において、前記第二のコバルト・ニッケル・鉄合金の保磁力は、前記反強磁性層による異方性磁界よりも大きいことを特徴とする。
前記磁気抵抗効果素子において、前記第一及び第二の強磁性層23,25の結晶構造はともに面心立方格子であることを特徴とする。
または、図5に例示するように、コバルト・ニッケル・鉄合金の軟磁性材よりなる第一の強磁性層33と、コバルト・ニッケル・鉄合金又は鉄コバルト合金又はコバルトの硬磁性材から形成された第二の強磁性層35と、前記第一の強磁性層33と前記第二の強磁性層35の間に形成された非磁性金属層34とを有することを特徴とする磁気抵抗効果素子によって解決する。
【0014】
前記磁気抵抗効果素子において、前記軟磁性材料の保磁力は10Oeよりも小さいことを特徴とする。
前記磁気抵抗効果素子において、前記硬磁性材を構成するコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトを65atoms %以上、ニッケルを35atoms %以下の割合で含有し、且つ前記軟磁性材を構成するコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトを40〜50atoms %、ニッケルを24〜35atoms %の割合で含有していることを特徴とする。
【0015】
【作 用】
本発明によれば、少なくとも反強磁性層に接する側の強磁性層をコバルト・ニッケル・鉄合金から形成し、且つそのコバルト・ニッケル・鉄合金でのニッケル含有量を5〜40atoms %、コバルト含有量を30〜95atoms %としている。これによれば、スピンバルブ磁気抵抗効果による電気抵抗の変化率が従来よりも大きくなった。この場合、反強磁性体層に接しない側の強磁性体層もコバルト・ニッケル・鉄合金から形成すると、さらに電気抵抗の変化率が大きくなる。これは、コバルト・ニッケル・鉄合金が鉄ニッケル合金よりも電気抵抗の変化率が大きいからである。
【0016】
磁歪が零のコバルト・ニッケル・鉄合金を採用すると、反強磁性層との交換相互作用を損なうことはない。
また、本発明の磁気抵抗効果素子は、非磁性金属層を挟んで形成される第一及び第二の強磁性層を構成する材料として、互いに組成の異なるコバルト・ニッケル・鉄合金を用いている。
【0017】
これによれば、スピンバルブ磁気抵抗効果による電気抵抗の変化率が従来よりも大きくなる。しかも、反強磁性層に接しない第一の強磁性層を構成する材料を信号磁界により容易に回転する組成にすることにより適正な読みだし動作が行われる。
この場合、第一の強磁性層を構成するコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトが40〜50atoms %、ニッケルが24〜35atoms %の割合で含有され、且つ第二の強磁性層を構成するコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトが80〜90atoms %、ニッケルが20atoms %以下の割合で含有される材料を選択することが望ましい。
【0018】
また、第一の強磁性層の保磁力を10Oe以下としているので、その磁化方向は信号磁界により容易に回転する。また、少なくとも第二の強磁性層の結晶構造を面心立方格子とすることにより反強磁性層の形成が容易になる。
本発明の別の磁気抵抗効果素子は、コバルト・ニッケル・鉄合金の軟磁性材よりなる第一の強磁性層と、コバルト・ニッケル・鉄合金又は鉄コバルト合金又はコバルトの硬磁性材から形成された第二の強磁性層と、第一及び第二の強磁性体層の間に形成された非磁性金属層から構成されている。
【0019】
例えば、硬磁性材を構成するコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトを65atoms %以上、ニッケルを35atoms %以下の割合で含有させ、且つ軟磁性材を構成するコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトを40〜50atoms %、ニッケルを24〜35atoms %の割合で含有させる。
これによれば、スピンバルブ磁気抵抗効果による電気抵抗の変化率が従来よりも大きくなる。しかも、第二の強磁性層は硬磁性であるので保磁力が大きく、信号磁界によって変化せず反強磁性層は不要になりスループットが向上する。しかも、反強磁性層は一般に腐食性の大きな鉄マンガンから構成されているので、本発明によれば耐腐食性が向上する。
【0020】
また、第一の強磁性層の保磁力を10Oe以下としているので、その磁化方向は信号磁界によって容易に回転する。
【0021】
【実施例】
そこで、以下に本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
(第1実施例)
図1は、本発明の第1実施例の層構造を示す側面図である。
図において、シリコン基板11の(110)面上には、スパッタ法により約30Oe(oersted) の磁場の雰囲気中で、下地層12としてタンタル(Ta)が60Å、第一の強磁性層13としてニッケル鉄(NiFe)が90Å、非磁性金属層14として銅(Cu)が20Å、第二の強磁性層15としてニッケル鉄コバルト(CoNiFe)が40Å、反強磁性層16として鉄マンガン(FeMn)が120Åの厚さで順に形成されている。なお、第一の強磁性層13を構成するCoNiFeは、例えばニッケルを10atoms %、鉄を25atoms %、コバルトを65atoms %の割合で含む合金であり、この合金を以下にCo65Ni10Fe25として表す。
【0022】
また、下地層12から反強磁性層16までの各層は平面が長方形になるようにパターニングされている。また、反強磁性層16上には、その長手方向に間隔をおいて一対の引出電極17a,17bが形成されている。
外部磁界が零の状態において、第一の強磁性層13の磁化の方向は長手方向であり、第一の強磁性層13と第二の強磁性層15のそれぞれの磁化の方向は互いに直交している。
【0023】
以上の構成を有するスピンバルブ磁気抵抗効果型素子によれば、電気抵抗の変化率が4%程度となり、従来に比べて大きくなった。
このように、反強磁性層16に接する第二の強磁性層15をCo65Ni10Fe25から形成したことによって大きな抵抗変化率が得られたのは次の理由による。
Cuよりなる非磁性金属層と、NiFeよりなる磁性薄膜層を交互に30層ずつ積層した試料と、Cuよりなる非磁性金属層と、NiCoよりなる磁性薄膜層を交互に30層ずつ積層した試料のそれらの電気抵抗(比抵抗)の変化率を図2に示す。この特性図は次の文献〔1〕に基づくものである。
【0024】
〔1〕M. Sato, S. Ishio and T. Miyazaki, J. Magn. Magn, Mater 126 (1993) 462
図2から明らかなように、強磁性層としてNiFeを用いた場合の比抵抗の変化率は最大で15%程度となっている。これに対して、コバルト系磁性材料であるNiCoを用いた場合の比抵抗の変化率は、合金の電子数がコバルト単体の電子数27に近づくにつれて上昇し、最大で35%となっている。
【0025】
一方、急冷薄帯でのCoNiFeの組成比の違いによる磁歪の大きさは、例えば次の文献〔2〕に報告があり、図3に示すようになっている。
〔2〕大森隆宏,石尾俊二,宮崎照宣、第17回日本応用磁気学会学術講演概要集(1993)20
反強磁性層16に接する第二の強磁性層15の材料としては、反強磁性層16による交換結合を考慮して保磁力(Hc ) が小さい方がが好ましく、保磁力を小さくするためには磁歪を零にすることが近道である。図3によると、CoNiFe合金で磁歪が0となる組成は2系列あり、それぞれ図中(i) ,(ii)で示している。
【0026】
この場合、図2において比抵抗の変化率の大きな組成比を考慮すると、図3では、(i) 系列の組成よりも(ii)系列の組成の方がコバルトの割合が多く、(ii)系列の組成が高い抵抗変化率を示す。(i) 及び(ii)系列の組成は、共に結晶構造が面心立方格子である。
従って、第二の強磁性層15の構成材料は、コバルトを30〜95atoms %、ニッケルを5〜40atoms %の範囲で含有するCoNiFe合金を用いると、磁歪が零又は零に極めて近く且つ高比抵抗変化率を有することになる。上記したCo65Ni10Fe25はそのようなCoNiFe合金の一例である。
【0027】
なお、反強磁性層16に接する第二の強磁性層15だけでなく、第一の強磁性層13についてもニッケルを5〜40atoms %、コバルトを30〜95atoms %の範囲で含有する組成のCoNiFe合金から形成してもよい。これによれば、第二の強磁性層15だけをCoNiFe合金から形成した場合よりもさらに高い電気抵抗変化率が得られる。
(第2実施例)
図4(a) は、本発明の第2実施例に係るスピンバルブ磁気抵抗効果素子の層構造を示す側面図である。
【0028】
図において、シリコン基板21の(110)面上には、約30Oeの磁場の雰囲気中でスパッタ法によって、下地層22としてタンタル(Ta)が60Å、第一の強磁性層23としてニッケル鉄コバルト(CoNiFe)が90Å、非磁性金属層24として銅(Cu)が22Å、第二の強磁性層25としてCoNiFeが40Å、反強磁性層26として鉄マンガン(FeMn)が120Åの厚さに順に形成されている。第一の強磁性層23を構成するCoNiFeは、例えばニッケルを26atoms %、鉄を32atoms %、コバルトを42atoms %の割合で含む合金であり、この合金を以下にCo42Ni26Fe32と表す。また、第二の強磁性層25を構成するCoNiFeは、コバルトを90atoms %、ニッケルを3atoms %、鉄を7atoms %の割合で含む合金であり、この合金を以下にCo90Ni3Fe7と表す。
【0029】
また、下地層22から反強磁性層26までの各層は平面が長方形になるようにパターニングされている。また、反強磁性層26上には、その長手方向に間隔をおいて一対の引出電極27a,27bが形成されている。
外部磁界が零の状態において、第一の強磁性層23の磁化の方向は長手方向であり、第一の強磁性層23と第二の強磁性層25のそれぞれの磁化の方向は互いに直交している。
【0030】
以上の構成を有するスピンバルブ磁気抵抗効果型素子によれば、電気抵抗の変化率が8%となり従来の3倍程度の値を得ることができた。
このように、第一の強磁性層23と第二の強磁性層25のそれぞれを構成するCoNiFeの組成比を異ならせたのは次の理由による。
第一の強磁性層23の磁化の方向は、磁気記録媒体からの信号磁界によって容易に回転する必要があるので、第一の強磁性層23を保磁力の小さな軟磁性体から構成する必要がある。しかし、第二の強磁性層25の磁化の方向は反強磁性層26との交換結合により固定されるので、第一の強磁性層23よりも保磁力の条件は緩やかである。
【0031】
従って、第一の強磁性層26を構成するCoNiFeの保磁力を小さくするためには磁歪が零となるのが好ましい。また、第一の強磁性層26の電気抵抗の変化率を大きくするために、図2に従ってコバルトを含む材料により第一の強磁性層26を形成するのが好ましい。これにより選択されるCoNiFeの組成は、第1実施例で説明した図3に示す(ii)系列の組成比のライン上を選択することが考えられる。なぜなら、磁歪が小さいほど保磁力も小さくなるからである。
【0032】
そこで、本発明者等は、図3に示す(ii)系列の組成比と(ii)系列付近の組成比のCoNiFeについて保磁力Hc を調べたところ、図4(b) に例示したような結果がえられた。図4(b) において、(ii)系列の組成比を示す破線のラインと保磁力Hc の小さいラインとが僅かであるが一致しなかったが、これは製造方法が異なることにより生じた差である。(ii)系列の組成比を示す破線のラインは急冷薄帯により形成した膜であり、保磁力Hc の小さい一点鎖線のラインはスパッタ法により形成したCoNiFeである。磁気抵抗効果素子を構成する膜は一般にスパッタ法によって形成されるために、スパッタ法による保磁力を考慮する必要がある。
【0033】
第一の強磁性層26を構成する軟磁性材料の保磁力Hc1は10より小さいことが望まれる(Hc1<10)。
実験によれば、保磁力Hc が10より小さくなるCoNiFeの組成は、コバルトを40〜50atoms %、ニッケルを24〜35atoms %とした場合であった。上記したCo42Ni26Fe32はその組成の一例である。
【0034】
一方、第二の強磁性層25を構成するCoNiFeの保磁力Hc2は、既に述べたように第一の強磁性層23よりも条件が緩やかである。しかし、反強磁性層26により生じる異方性磁界HUAが第二の強磁性層25の保磁力Hc2より小さくなると、第二の強磁性層25の磁化方向が外部磁界によって反転し易くなり、この反転が生じるとスピンバルブ磁気抵抗効果が得られなくなる。なお、異方性磁界HUAは、保磁力と磁束密度の関係を示す曲線(B−H曲線)の中心を保磁力軸に沿って移動させる磁界である。
【0035】
これにより、第二の強磁性層25の保磁力Hc2と反強磁性層26による異方性磁界HUAは式(1)の関係が要求される。ただし、Hc2>0である。
Hc2 < HUA ……(1)
このように第二の強磁性層25の材料を選択する場合に異方性磁界HUAを考慮するだけでなく、第二の強磁性層25の結晶構造が面心立方格子となる材料を選択しなけらばならない。第二の強磁性層25の結晶構造が面心立方格子でなければ、FeMnが反強磁性体とならないからである。
【0036】
それらの条件を考慮すると、第二の強磁性層25を構成するCoNiFeは、ニッケルを0〜20atoms %、コバルトを80〜90atoms %の範囲で含有し、残りを鉄とした組成にする必要がある。上記したCo90Ni3Fe7はその一例である。なお、ニッケルが0atoms %の場合には第二の強磁性層25はコバルト鉄から構成されることになる。
(第3実施例)
図5(a) は、本発明の第1実施例の層構造を示す側面図である。
【0037】
図において、シリコン基板31の(110)面上には、約30Oeの磁場の雰囲気中でスパッタ法によって、下地層32としてタンタル(Ta)が60Å、第一の強磁性層33としてニッケル鉄コバルト(CoNiFe)が90Å、非磁性金属層34として銅(Cu)が20Å、第二の強磁性層35としてCoNiFeが40Åの厚さに順に形成されている。第一の強磁性層33を構成するCoNiFeは、ニッケルを26atoms %、鉄を32atoms %、コバルトを42atoms %の割合で含む合金であり、以下にCo42Ni26Fe32と表す。また、第二の強磁性層35を構成するCoNiFeは、コバルトを80atoms %、ニッケルを15atoms %、鉄を5atoms %の割合で含む合金であり、以下にCo80 Ni15Fe5と表す。
【0038】
また、下地層32から第二の強磁性層35までの各層は平面が長方形になるようにパターニングされている。また、第二の強磁性層35上には、その長手方向に間隔をおいて一対の引出電極36a,36bが形成されている。
外部磁界が零の状態において、第一の強磁性層33の磁化の方向は長手方向であり、第一の強磁性層33と第二の強磁性層35のそれぞれの磁化の方向は互いに直交している。
【0039】
以上の構成を有するスピンバルブ磁気抵抗効果型素子によれば、電気抵抗の変化率が8%となり従来の3倍程度の値を得ることができた。
ところで、本実施例のスピンバルブ磁気抵抗効果型素子では、第2実施例で述べた理由により第一の強磁性層33は第2実施例の第一の強磁性層23と同じ組成のCoNiFeが選択する。第一の強磁性層33は、図5(b) に示すように保磁力Hc1が10Oeよりも小さい範囲でコバルト、鉄、ニッケルの比を選択する。
【0040】
これに対して、第二の強磁性層35の組成は第2実施例と相違させている。この実施例の第二の強磁性層35を構成するCoNiFeは、その磁化が外部磁界によって変化せず、しかも電気抵抗の変化率が大きい組成が選ばれる。
これにより反強磁性層は不要になり、第二の強磁性層35を構成するCoNiFeの組成を決定するに際して、反磁性層を考慮した結晶状態や反強磁性層による異方磁界や反強磁性層との交換相互作用から拘束されなくなる。
【0041】
従って、第二の強磁性層35の磁歪は零である必要はなく、磁化方向固定のために硬磁性であり、高電気抵抗変化率を得るためにコバルトがリッチであればよく、コバルトが65〜100atoms %、ニッケルが0〜35atoms %であるCoNiFe合金又はCo単体又はFeCo合金のいずれかを選択すればよい。
これにより第一及び第二の強磁性層33,35に容易に磁化の反平行状態を作ることができ、大きい電気抵抗変化率が得られ、より大きな出力が得られる。
【0042】
また、FeMnよりなる反強磁性体を必要としないので、スピンバルブ磁気抵抗効果素子を製造する工程においてFeMnの腐食性が問題となることがなく、耐腐食性が向上する。しかも、層構造が1層少なくなるのでスループットが向上する。
なお、第1〜第3実施例の磁気抵抗効果素子では、各層を第一の強磁性層から反強磁性層までを1組、又は第一の強磁性層〜第二の強磁性層を1組形成しているが、それらを複数組積層した構造を採用してもよい。
【0043】
【発明の効果】
以上述べたように本発明によれば、少なくとも反強磁性層に接する側の強磁性層をコバルト・ニッケル・鉄合金から形成し、且つそのコバルト・ニッケル・鉄合金でのニッケル含有量を5〜40atoms %、コバルト含有量を30〜95atoms %としているので、スピンバルブ磁気抵抗効果による電気抵抗の変化率を従来よりも大きくできる。この場合、反強磁性体層に接しない側の強磁性体層もコバルト・ニッケル・鉄合金から形成すると、さらに電気抵抗の変化率を大きくできる。
【0044】
磁歪が零のコバルト・ニッケル・鉄合金を採用すると、反強磁性層との交換相互作用を損なうことを防止できる。
また、本発明の磁気抵抗効果素子は、非磁性金属層を挟んで形成される第一及び第二の強磁性層を構成する材料として、互いに組成の異なるコバルト・ニッケル・鉄合金を用いているので、これによっても、スピンバルブ磁気抵抗効果による電気抵抗の変化率が従来よりも大きくなる。しかも、反強磁性層に接する第二の強磁性層を構成する材料を外部磁界により容易に反転しない組成にする一方で、反強磁性層に接しない第一の強磁性層を構成する材料を信号磁界により容易に回転する組成にすることにより適正な読みだし動作を行うことができる。
【0045】
この場合、第一の強磁性層を構成するコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトが40〜50atoms %、ニッケルが24〜35atoms %の割合で含有され、且つ第二の強磁性層を構成するコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトが80〜90atoms %、ニッケルが20atoms %以下の割合で含有される材料を選択することが望ましい。
【0046】
また、第一の強磁性層の保磁力を10Oe以下としているので、その磁化方向を信号磁界により容易に回転できる。また、少なくとも第二の強磁性層の結晶構造を面心立方格子としているので、反強磁性層を容易に形成できる。
本発明の別の磁気抵抗効果素子は、コバルト・ニッケル・鉄合金の軟磁性材よりなる第一の強磁性層と、コバルト・ニッケル・鉄合金又は鉄コバルト合金又はコバルトの硬磁性材から形成された第二の強磁性層と、第一及び第二の強磁性体層の間に形成された非磁性金属層から構成されているので、これによっても、スピンバルブ磁気抵抗効果による電気抵抗の変化率を従来よりも大きくできる。
【0047】
例えば、硬磁性材を構成するコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトを65atoms %以上、ニッケルを35atoms %以下の割合で含有させ、且つ軟磁性材を構成するコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトを40〜50atoms %、ニッケルを24〜35atoms %の割合で含有させる。
しかも、第二の強磁性層は硬磁性であるので保磁力が大きく、信号磁界によって変化せず腐食性の大きな反強磁性層は不要になるので、スループットを向上できるとともに、耐腐食性が改善される。
【0048】
また、第一の強磁性層の保磁力を10Oe以下としているので、その磁化方向を信号磁界によって容易に回転できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明の第1実施例の磁気抵抗効果素子を示す側面図である。
【図2】図2は、非磁性金属層として銅、磁性薄膜層としてニッケル・鉄又はニッケル・コバルトを用い、非磁性金属層と磁性薄膜層を30層ずつ積層した場合の合金の単位当たりの電子数と電気抵抗の変化率を示す特性図である。
【図3】図3は、コバルト・ニッケル・鉄の組成と磁歪との関係を示す図である。
【図4】図4(a) は、本発明の第1実施例の磁気抵抗効果素子を示す側面図、図4(b) は、コバルト・ニッケル・鉄の組成と磁歪、保磁力との関係を示す図である。
【図5】図5(a) は、本発明の第1実施例の磁気抵抗効果素子を示す側面図、図5(b) は、コバルト・ニッケル・鉄の組成と保磁力との関係を示す図である。
【図6】図6(a) は、従来のスピンバルブ磁気抵抗効果素子を示す側面図、図6(b) はその一部を切り欠いた斜視図である。
【符号の説明】
11、21、31 シリコン基板
12、22、32 下地層
13、23、33 第一の強磁性層
14、24、34 非磁性金属層
15、25、35 第二の強磁性層
16、26 反強磁性層
17a,17b、27a,27b、36a,36b 引出電極
Claims (9)
- 軟磁性材よりなる第一の強磁性層と、
ニッケルを5〜40atms%、コバルトを30〜95atms%(但し、95 atms %は除く)の割合で含有しているコバルト・ニッケル・鉄合金よりなる第二の強磁性層と、
前記第一の強磁性層と第二の強磁性層の間に形成された非磁性金属層と、
前記第二の強磁性層に接して形成された反強磁性層と
を有し、
前記コバルト・ニッケル・鉄合金は磁歪が零であることを特徴とする磁気抵抗効果素子。 - 前記第一の強磁性層を構成する軟磁性材は、ニッケルを5〜40atms%、コバルトを30〜95atms%(但し、95 atms %は除く)の割合で含有しているコバルト・ニッケル・鉄合金であることを特徴とする請求項1記載の磁気抵抗効果素子。
- 第一のコバルト・ニッケル・鉄合金よりなる第一の強磁性層と、
第一のコバルト・ニッケル・鉄合金と組成の異なる第二のコバルト・ニッケル・鉄合金又は鉄コバルトよりなる第二の強磁性層と、
前記第一の強磁性層と第二の強磁性層の間に形成された非磁性金属層と、
前記第二の強磁性層に接して形成された反強磁性層と
を有することを特徴とする磁気抵抗効果素子。 - 前記第一のコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトを40〜50atms%、ニッケルを24〜35atms%の割合で含有し、且つ前記第二のコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトを80〜90atms%、ニッケルを20atms%以下の割合で含有していることを特徴とする請求項3記載の磁気抵抗効果素子。
- 前記第一のコバルト・ニッケル・鉄合金の保磁力は10Oeよりも小さいことを特徴とする請求項3又は4記載の磁気抵抗効果素子。
- 前記第二のコバルト・ニッケル・鉄合金の保磁力は前記反強磁性層による異方性磁界よりも大きいことを特徴とする請求項3記載の磁気抵抗効果素子。
- 前記第一及び第二の強磁性層の結晶構造はともに面心立方格子であることを特徴とする請求項3記載の磁気抵抗効果素子。
- コバルト・ニッケル・鉄合金の軟磁性材よりなる第一の強磁性層と、
コバルト・ニッケル・鉄合金又は鉄コバルト合金又はコバルトの硬磁性材から形成された第二の強磁性層と、
前記第一の強磁性層と第二の強磁性層の間に形成された非磁性金属層と
を有し、
前記硬磁性材を構成するコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトを65 atms %以上、ニッケルを35 atms %以下の割合で含有し、且つ前記軟磁性材を構成するコバルト・ニッケル・鉄合金は、コバルトを40〜50 atms %、ニッケルを24〜35 atms %の割合で含有していることを特徴とする磁気抵抗効果素子。 - 前記軟磁性材の保磁力は10Oeよりも小さいことを特徴とする請求項8記載の磁気抵抗効果素子。
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US6340886B1 (en) * | 1997-08-08 | 2002-01-22 | Nonvolatile Electronics, Incorporated | Magnetic field sensor with a plurality of magnetoresistive thin-film layers having an end at a common surface |
JP3263016B2 (ja) * | 1997-10-20 | 2002-03-04 | アルプス電気株式会社 | スピンバルブ型薄膜素子 |
DE19949713C2 (de) * | 1999-10-15 | 2001-08-16 | Bosch Gmbh Robert | Magnetoresistives Schichtsystem |
US6683761B2 (en) | 2000-11-09 | 2004-01-27 | Seagate Technology Llc | Magnetoresistive sensor with laminate electrical interconnect |
US6778357B2 (en) | 2000-11-10 | 2004-08-17 | Seagate Technology Llc | Electrodeposited high-magnetic-moment material at writer gap pole |
US6665155B2 (en) | 2001-03-08 | 2003-12-16 | International Business Machines Corporation | Spin valve sensor with free layer structure having a cobalt niobium (CoNb) or cobalt niobium hafnium (CoNbHf) layer |
JP2003198002A (ja) * | 2001-12-25 | 2003-07-11 | Fujitsu Ltd | 磁気抵抗効果膜および強磁性積層構造体 |
US6674617B2 (en) | 2002-03-07 | 2004-01-06 | International Business Machines Corporation | Tunnel junction sensor with a multilayer free-layer structure |
AU2003266512A1 (en) * | 2002-09-13 | 2004-04-30 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magnetoresistance effect element and production method and application method therefor |
US6870716B2 (en) * | 2002-09-24 | 2005-03-22 | Hitachi Global Storage Technologies Netherland B.V. | Free layer and design for higher areal density |
CA2619509C (en) | 2005-08-12 | 2015-01-06 | Modumetal, Llc. | Compositionally modulated composite materials and methods for making the same |
EP3009532A1 (en) | 2009-06-08 | 2016-04-20 | Modumetal, Inc. | Electrodeposited nanolaminate coatings and claddings for corrosion protection |
US8449948B2 (en) * | 2009-09-10 | 2013-05-28 | Western Digital (Fremont), Llc | Method and system for corrosion protection of layers in a structure of a magnetic recording transducer |
WO2014145771A1 (en) * | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Modumetal, Inc. | Electrodeposited compositions and nanolaminated alloys for articles prepared by additive manufacturing processes |
EA201500947A1 (ru) | 2013-03-15 | 2016-03-31 | Модьюметл, Инк. | Устройство и способ электроосаждения нанослоистого покрытия |
EA032264B1 (ru) | 2013-03-15 | 2019-05-31 | Модьюметл, Инк. | Способ нанесения покрытия на изделие, изделие, полученное вышеуказанным способом, и труба |
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CA2961508C (en) | 2014-09-18 | 2024-04-09 | Modumetal, Inc. | A method and apparatus for continuously applying nanolaminate metal coatings |
AR102068A1 (es) | 2014-09-18 | 2017-02-01 | Modumetal Inc | Métodos de preparación de artículos por electrodeposición y procesos de fabricación aditiva |
AR109584A1 (es) | 2016-09-08 | 2018-12-26 | Modumetal Inc | Procesos para proveer recubrimientos laminados sobre piezas de trabajo, y los artículos que se obtienen con los mismos |
AR109648A1 (es) | 2016-09-14 | 2019-01-09 | Modumetal Inc | Sistema confiable, de alta capacidad, para la generación de campos eléctricos complejos, y método para producir recubrimientos con los mismos |
US12076965B2 (en) | 2016-11-02 | 2024-09-03 | Modumetal, Inc. | Topology optimized high interface packing structures |
EP3601641B1 (en) | 2017-03-24 | 2024-11-06 | Modumetal, Inc. | Lift plungers with electrodeposited coatings, and systems and methods for producing the same |
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US4663685A (en) * | 1985-08-15 | 1987-05-05 | International Business Machines | Magnetoresistive read transducer having patterned longitudinal bias |
CA1338255C (en) * | 1987-06-30 | 1996-04-23 | Kazuhiko Hayashi | Soft magnetic thin film |
US5206590A (en) * | 1990-12-11 | 1993-04-27 | International Business Machines Corporation | Magnetoresistive sensor based on the spin valve effect |
JP2690623B2 (ja) * | 1991-02-04 | 1997-12-10 | 松下電器産業株式会社 | 磁気抵抗効果素子 |
US5159513A (en) * | 1991-02-08 | 1992-10-27 | International Business Machines Corporation | Magnetoresistive sensor based on the spin valve effect |
EP0506433B2 (en) * | 1991-03-29 | 2007-08-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetoresistance effect element |
US5304975A (en) * | 1991-10-23 | 1994-04-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetoresistance effect element and magnetoresistance effect sensor |
JP3022023B2 (ja) * | 1992-04-13 | 2000-03-15 | 株式会社日立製作所 | 磁気記録再生装置 |
US5549978A (en) * | 1992-10-30 | 1996-08-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetoresistance effect element |
US5373238A (en) * | 1992-11-06 | 1994-12-13 | International Business Machines Corporation | Four layer magnetoresistance device and method for making a four layer magnetoresistance device |
JPH0766033A (ja) * | 1993-08-30 | 1995-03-10 | Mitsubishi Electric Corp | 磁気抵抗素子ならびにその磁気抵抗素子を用いた磁性薄膜メモリおよび磁気抵抗センサ |
JP2860233B2 (ja) * | 1993-09-09 | 1999-02-24 | 株式会社日立製作所 | 巨大磁気抵抗効果型磁気ヘッドおよびそれを用いた磁気記録再生装置 |
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