JP2003198002A - 磁気抵抗効果膜および強磁性積層構造体 - Google Patents
磁気抵抗効果膜および強磁性積層構造体Info
- Publication number
- JP2003198002A JP2003198002A JP2001391047A JP2001391047A JP2003198002A JP 2003198002 A JP2003198002 A JP 2003198002A JP 2001391047 A JP2001391047 A JP 2001391047A JP 2001391047 A JP2001391047 A JP 2001391047A JP 2003198002 A JP2003198002 A JP 2003198002A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- ferromagnetic
- cobalt
- alloy layer
- film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 title claims abstract description 99
- 230000000694 effects Effects 0.000 title claims abstract description 25
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims abstract description 106
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 claims abstract description 26
- 230000005290 antiferromagnetic effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 229910001030 Iron–nickel alloy Inorganic materials 0.000 claims description 42
- KGWWEXORQXHJJQ-UHFFFAOYSA-N [Fe].[Co].[Ni] Chemical compound [Fe].[Co].[Ni] KGWWEXORQXHJJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 33
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 25
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 23
- 229910001313 Cobalt-iron alloy Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims description 10
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 8
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 abstract description 49
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 abstract description 48
- 229910003321 CoFe Inorganic materials 0.000 abstract description 25
- 230000008859 change Effects 0.000 abstract description 11
- 230000009467 reduction Effects 0.000 abstract description 6
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 232
- 239000010408 film Substances 0.000 description 114
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 11
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 11
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 11
- 230000009471 action Effects 0.000 description 10
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 10
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 8
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 7
- 230000005381 magnetic domain Effects 0.000 description 7
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 6
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 6
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 3
- 229910002441 CoNi Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910000640 Fe alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 2
- VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N chromium nickel Chemical compound [Cr].[Ni] VNNRSPGTAMTISX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 2
- 229910001120 nichrome Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018979 CoPt Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910015136 FeMn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910019041 PtMn Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- FQMNUIZEFUVPNU-UHFFFAOYSA-N cobalt iron Chemical compound [Fe].[Co].[Co] FQMNUIZEFUVPNU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000005307 ferromagnetism Effects 0.000 description 1
- UGKDIUIOSMUOAW-UHFFFAOYSA-N iron nickel Chemical compound [Fe].[Ni] UGKDIUIOSMUOAW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910000623 nickel–chromium alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 230000000452 restraining effect Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/39—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/39—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
- G11B5/3903—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y25/00—Nanomagnetism, e.g. magnetoimpedance, anisotropic magnetoresistance, giant magnetoresistance or tunneling magnetoresistance
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/39—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
- G11B5/3903—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
- G11B5/3906—Details related to the use of magnetic thin film layers or to their effects
- G11B5/3909—Arrangements using a magnetic tunnel junction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F10/00—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
- H01F10/32—Spin-exchange-coupled multilayers, e.g. nanostructured superlattices
- H01F10/324—Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F10/00—Thin magnetic films, e.g. of one-domain structure
- H01F10/32—Spin-exchange-coupled multilayers, e.g. nanostructured superlattices
- H01F10/324—Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer
- H01F10/3268—Exchange coupling of magnetic film pairs via a very thin non-magnetic spacer, e.g. by exchange with conduction electrons of the spacer the exchange coupling being asymmetric, e.g. by use of additional pinning, by using antiferromagnetic or ferromagnetic coupling interface, i.e. so-called spin-valve [SV] structure, e.g. NiFe/Cu/NiFe/FeMn
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10T428/12—All metal or with adjacent metals
- Y10T428/12465—All metal or with adjacent metals having magnetic properties, or preformed fiber orientation coordinate with shape
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
- Thin Magnetic Films (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
性を確立することができる強磁性積層構造体を提供す
る。 【解決手段】 磁気抵抗効果膜41は、固定側強磁性層
53と、自由側強磁性層57と、固定側強磁性層53お
よび自由側強磁性層57の間に挟み込まれる中間層56
とを備える。固定側強磁性層53の磁化方向は反強磁性
層52の働きで固定される。自由側強磁性層57は、C
oFe合金層57aとCoNiFe合金層57bとで構
成される。自由側強磁性層57の膜厚の減少にも拘わら
ずCoNiFe合金層57bの働きで自由側強磁性層5
7の一軸磁気異方性は確実に確立される。磁気抵抗効果
膜41の抵抗変化量は増大する。こうして磁気抵抗効果
読み取り素子では再生出力の増大は実現される。
Description
と、自由側強磁性層と、固定側強磁性層および自由側強
磁性層の間に挟み込まれる中間層と、固定側強磁性層に
張り合わせられる磁化方向拘束層(例えば反強磁性層)
とを備える磁気抵抗効果膜に関する。
(HDD)といった磁気記録媒体駆動装置では磁気情報
の読み出しにあたって磁気抵抗効果素子が用いられる。
磁気抵抗効果素子では、例えばスピンバルブ膜といった
磁気抵抗効果膜が利用される。スピンバルブ膜では、自
由側強磁性層の磁化方向の回転に応じて電気抵抗は変化
する。こういった電気抵抗の変化に基づき磁気情報は読
み出される。
は、ニッケル鉄(NiFe)合金層と、このニッケル鉄
合金層に重ね合わせられるコバルト鉄(CoFe)合金
層とを備える。ニッケル鉄合金層の働きで、コバルト鉄
合金層中の一軸磁気異方性は確立されると考えられる。
こうして一軸磁気異方性が確立される結果、磁気記録媒
体から作用する磁界に基づき自由側強磁性層の磁化方向
は確実に回転することができる。磁気情報は誤りなく読
み出されることができる。
進むにつれて、磁気抵抗効果素子では再生出力の増大が
求められる。再生出力の増大は例えば自由側強磁性層の
膜厚の減少に基づき実現されることができる。しかしな
がら、前述の自由側強磁性層では、ニッケル鉄合金層の
膜厚が減少するにつれて自由側強磁性層の一軸磁気異方
性は失われていく。一軸磁気異方性が失われる結果、磁
気情報は正確に読み取られることができなくなってしま
う。
で、膜厚の減少にも拘わらず確実に一軸磁気異方性を確
立することができる強磁性積層構造体を提供することを
目的とする。
に、本発明によれば、コバルトニッケル鉄合金層と、コ
バルトニッケル鉄合金層に重ね合わせられるコバルト鉄
合金層とを備えることを特徴とする強磁性積層構造体が
提供される。
ッケル鉄合金層の働きで確実にコバルト鉄合金層内でも
一軸磁気異方性は確立されることができるが確認され
た。しかも、コバルトニッケル鉄合金層やコバルト鉄合
金層の膜厚が縮小されても、強磁性積層構造体の一軸磁
気異方性は確実に維持されることが確認された。
ードディスク駆動装置(HDD)といった磁気記録媒体
駆動装置で磁気情報の読み出しにあたって利用される磁
気抵抗効果膜の自由側強磁性層に利用されることができ
る。こういった磁気抵抗効果膜は、例えば、固定側強磁
性層と、前述の強磁性積層構造体で構成される自由側強
磁性層と、固定側強磁性層および自由側強磁性層の間に
挟み込まれる中間層と、固定側強磁性層に張り合わせら
れる磁化方向拘束層とを備える。中間層は導電体であっ
てもよく絶縁体であってもよい。磁化方向拘束層は反強
磁性層であってもよく特定の硬磁性金属材料層であって
もよい。
えば次式に基づき、
ルと、z原子%の鉄とを含めばよい。こういったコバル
トニッケル鉄合金層によれば、自由側強磁性層で膜厚が
縮小されても、自由側強磁性層で確実に一軸磁気異方性
は確立されることができる。同様に、コバルトニッケル
鉄合金層は、次式に基づき、
ルと、z原子%の鉄とを含んでもよい。このとき、コバ
ルト鉄合金層の膜厚は1.0nm未満に設定されればよ
い。
化容易軸方向の保磁力は800A/m以下に設定される
ことが望まれる。また、コバルトニッケル鉄合金層で
は、磁化困難軸方向の保磁力Hc(hard)と磁化容易軸方
向の保磁力Hc(easy)との比Hc(hard)/Hc(easy)は
0.7以下に設定されることが望まれる。さらに、コバ
ルトニッケル鉄合金層は1.7T以上の飽和磁束密度B
sを有することが望まれる。これらの3条件が満足され
ると、コバルトニッケル鉄合金層は自由側強磁性層の膜
厚の減少に大いに貢献することができる。
磁気抵抗効果膜に適用される必要はない。
明の一実施形態を説明する。
なわちハードディスク駆動装置(HDD)11の内部構
造を概略的に示す。このHDD11は、例えば平たい直
方体の内部空間を区画する箱形の筐体本体12を備え
る。収容空間には、記録媒体としての1枚以上の磁気デ
ィスク13が収容される。磁気ディスク13はスピンド
ルモータ14の回転軸に装着される。スピンドルモータ
14は、例えば4200rpm〜7200rpmや10
000rpmといった高速度で磁気ディスク13を回転
させることができる。筐体本体12には、筐体本体12
との間で収容空間を密閉する蓋体すなわちカバー(図示
されず)が結合される。
回りで揺動するキャリッジ16がさらに収容される。こ
のキャリッジ16は、支軸15から水平方向に延びる剛
体の揺動アーム17と、この揺動アーム17の先端に取
り付けられて揺動アーム17から前方に延びる弾性サス
ペンション18とを備える。周知の通り、弾性サスペン
ション18の先端では、いわゆるジンバルばね(図示さ
れず)の働きで浮上ヘッドスライダ19は片持ち支持さ
れる。浮上ヘッドスライダ19には、磁気ディスク13
の表面に向かって弾性サスペンション18から押し付け
力が作用する。磁気ディスク13の回転に基づき磁気デ
ィスク13の表面で生成される気流の働きで浮上ヘッド
スライダ19には浮力が作用する。弾性サスペンション
18の押し付け力と浮力とのバランスで磁気ディスク1
3の回転中に比較的に高い剛性で浮上ヘッドスライダ1
9は浮上し続けることができる。
に、キャリッジ16が支軸15回りで揺動すると、浮上
ヘッドスライダ19は半径方向に磁気ディスク13の表
面を横切ることができる。こうした移動に基づき浮上ヘ
ッドスライダ19は磁気ディスク13上の所望の記録ト
ラックに位置決めされる。このとき、キャリッジ16の
揺動は例えばボイスコイルモータ(VCM)といったア
クチュエータ21の働きを通じて実現されればよい。周
知の通り、複数枚の磁気ディスク13が筐体本体12内
に組み込まれる場合には、隣接する磁気ディスク13同
士の間で1本の揺動アーム17に対して2つの弾性サス
ペンション18が搭載される。
を示す。この浮上ヘッドスライダ19は、平たい直方体
に形成されるAl2 O3 −TiC(アルチック)製のス
ライダ本体22と、このスライダ本体22の空気流出端
に接合されて、読み出し書き込みヘッド23を内蔵する
Al2 O3 (アルミナ)製のヘッド素子内蔵膜24とを
備える。スライダ本体22およびヘッド素子内蔵膜24
には、磁気ディスク13に対向する媒体対向面すなわち
浮上面25が規定される。磁気ディスク13の回転に基
づき生成される気流26は浮上面25に受け止められ
る。
端に向かって延びる2筋のレール27が形成される。各
レール27の頂上面にはいわゆるABS(空気軸受け
面)28が規定される。ABS28では気流26の働き
に応じて前述の浮力が生成される。ヘッド素子内蔵膜2
4に埋め込まれた読み出し書き込みヘッド23は、後述
されるように、ABS28で前端を露出させる。ただ
し、ABS28の表面には、読み出し書き込みヘッド2
3の前端に覆い被さるDLC(ダイヤモンドライクカー
ボン)保護膜が形成されてもよい。なお、浮上ヘッドス
ライダ19の形態はこういった形態に限られるものでは
ない。
み出し書き込みヘッド23はいわゆる複合薄膜磁気ヘッ
ドとして構成される。すなわち、読み出し書き込みヘッ
ド23は、磁気抵抗効果(MR)読み取り素子31と誘
導書き込みヘッド素子すなわち薄膜磁気ヘッド32とを
併せ持つ。MR読み取り素子31は、周知の通り、磁気
ディスク13から作用する磁界に応じて変化する抵抗に
基づき2値情報を検出することができる。誘導書き込み
ヘッド素子32は、例えば導電コイルパターン(図示さ
れず)で生起される磁界を利用して磁気ディスク13に
2値情報を書き込むことができる。
ギャップ層33、34に挟み込まれる。非磁性ギャップ
層33、34は例えばAl2 O3 (アルミナ)で構成さ
れればよい。こうして非磁性ギャップ層33、34に挟
み込まれたMR読み取り素子31は上部および下部シー
ルド層35、36に挟み込まれる。上部および下部シー
ルド層35、36は例えばFeNやNiFeから構成さ
れればよい。下部シールド層36は、前述のヘッド素子
内蔵膜24の下側半層すなわちアンダーコート膜を構成
するAl2 O3 (アルミナ)膜37の表面に沿って広が
る。
ルド層35の表面に沿って広がる非磁性ギャップ層38
を備える。非磁性ギャップ層38は例えばAl2 O
3 (アルミナ)で構成されればよい。上部シールド層3
5には、この非磁性ギャップ層38を挟んで上部磁極層
39が向き合う。上部磁極層39は例えばNiFeから
構成されればよい。上部磁極層39は、非磁性ギャップ
層38の表面に沿って広がるAl2 O3 (アルミナ)膜
40に覆われる。Al2 O3 膜40は前述のAl2O3
膜との間にMR読み取り素子31および誘導書き込みヘ
ッド素子32を挟み込む。すなわち、このAl2 O3 膜
40はヘッド素子内蔵膜24の上側半層すなわちオーバ
ーコート膜を構成する。
は協働して誘導書き込みヘッド素子32の磁性コアを構
成する。すなわち、MR読み取り素子31の上部シール
ド層35は誘導書き込みヘッド素子32の下部磁極層と
して機能する。導電コイルパターンで磁界が生起される
と、非磁性ギャップ層38の働きで、上部磁極層39と
上部シールド層35とを行き交う磁束流は浮上面25か
ら漏れ出る。こうして漏れ出る磁束流に基づき書き込み
磁界(ギャップ磁界)は形成される。なお、MR読み取
り素子31の上部シールド層35と誘導書き込みヘッド
素子32の下部磁極層とは個別に形成されてもよい。
MR読み取り素子31は、1平面すなわち非磁性ギャッ
プ層34の表面上でABS28に沿って延びる磁気抵抗
効果(MR)膜すなわちスピンバルブ膜41を備える。
このスピンバルブ膜41には、非磁性ギャップ層34の
表面に交差する区画面で仕切られた1対の端面が規定さ
れる。これら端面は非磁性ギャップ層34の表面に対し
てテーパ角θで傾斜する。
ップ層34の表面にはABS28に沿って延びる1対の
磁区制御ハード膜42が形成される。これらの磁区制御
ハード膜42は非磁性ギャップ層34の表面でABS2
8に沿ってスピンバルブ膜41を挟み込む。各磁区制御
ハード膜42の先端はスピンバルブ膜41の端面に接続
される。磁区制御ハード膜42は例えばCoPtやCo
CrPtといった硬磁性金属材料から形成されればよ
い。
し導電層すなわちリード層43が広がる。引き出し導電
層43は磁区制御ハード膜42と上部シールド層35と
の間に挟み込まれる。各引き出し導電層43の前端は、
磁区制御ハード膜42の介在を通じてスピンバルブ膜4
1の各端面に接続される。スピンバルブ膜41には引き
出し導電層43からセンス電流が供給される。引き出し
導電層43は例えばCuといった導電率の高い材料から
形成されればよい。
層43は、ABS28で露出する前端から非磁性ギャッ
プ層34の表面に沿って後方に広がる。各引き出し導電
層43の後端には個別に端子パッド44が連結される。
こういった端子パッド44は引き出し導電層43の表面
に沿って広がればよい。これらの端子パッド44は、浮
上ヘッドスライダ19が弾性サスペンション18に固定
される際に、例えばAuボール(図示されず)などを通
じて弾性サスペンション18側の端子パッド(図示され
ず)に接続される。
1を示す。このスピンバルブ膜41はいわゆる逆積層構
造に構成される。すなわち、スピンバルブ膜41は、非
磁性ギャップ層34の表面に積層される下地層51を備
える。この下地層51は例えばニッケルクロム合金層
(NiCr層)から構成されればよい。
が積層される。この磁化方向拘束層52は、例えばPd
PtMnやFeMnといった反強磁性合金材料から形成
されてもよく、任意の硬磁性材料から形成されてもよ
い。磁化方向拘束層52の表面には固定側強磁性層53
が積層される。固定側強磁性層53は、磁化方向拘束層
52の表面に沿って順番に重ね合わせられる例えば第
1、第2および第3CoFe合金強磁性層53a、53
b、53cを備える。第1および第2CoFe合金強磁
性層53a、53bの間にはRu結合層54が挟み込ま
れる。第2および第3CoFe合金強磁性層53b、5
3cの間にはスペキュラー膜すなわち酸化層55が挟み
込まれる。ただし、固定側強磁性層53の構造はこうい
った構造に限られるものではない。磁化方向拘束層52
の働きに応じて固定側強磁性層53の磁化方向は固定さ
れる。
層56が積層される。非磁性中間層56は例えばCuと
いった導電金属材料から形成されればよい。非磁性中間
層56の表面には自由側強磁性層57が積層される。自
由側強磁性層57は、非磁性中間層56の表面に広がる
CoFe合金層57aと、このCoFe合金層57aの
表面に広がるCoNiFe合金層57bとで構成されれ
ばよい。自由側強磁性層57の表面は保護層58で覆わ
れる。保護層58は、Cu層58aと、このCu層58
a上に形成されるキャップ層すなわちTa層58bとで
構成されればよい。
り素子31が磁気ディスク13の表面に向き合わせられ
ると、スピンバルブ膜41では、周知の通り、磁気ディ
スク13から作用する磁界の向きに応じて自由側強磁性
層57の磁化方向は回転する。こうして自由側強磁性層
57の磁化方向が回転すると、スピンバルブ膜41の電
気抵抗は大きく変化する。したがって、引き出し導電層
43からスピンバルブ膜41にセンス電流が供給される
と、電気抵抗の変化に応じて、端子パッド44から取り
出される電気信号の電圧値は変化する。この電圧値の変
化に応じて2値情報は読み取られることができる。
1では、前述のCoNiFe合金層57bの働きで自由
側強磁性層57の一軸磁気異方性は確実に確立される。
こうして一軸磁気異方性が確立される結果、磁気ディス
ク13から作用する磁界に基づき自由側強磁性層57の
磁化方向は確実に回転することができる。磁気情報は誤
りなく読み出されることができる。しかも、前述の自由
側強磁性層57では、CoFe合金層57aやCoNi
Fe合金層57bの膜厚が減少しても、自由側強磁性層
57の一軸磁気異方性は確実に維持されることができ
る。スピンバルブ膜41の抵抗変化量は増大する。抵抗
変化量の増大は、端子パッド44から取り出される電圧
値の変化量すなわち振幅を増大させる。こうして再生出
力は増大する。
性を検証した。この検証にあたって本発明者は、真空空
間内で任意のウェハー上に順番に膜厚6.0nmのNi
Cr層、膜厚15.0nmのPdPtMn層と、膜厚
1.5nmの第1CoFe合金強磁性層53aと、膜厚
0.85nmのRu結合層54と、膜厚1.0nmの第
2CoFe合金強磁性層53bとを堆積させた。堆積に
あたってスパッタリングが用いられた。第2CoFe合
金強磁性層53bの堆積後に真空空間内には70秒間に
わたって酸素が導入された。酸素の働きで、第2CoF
e合金強磁性層53bの表面には酸化層55が形成され
た。酸化層55の形成後、再び真空空間は確立された。
その後、本発明者は、ウェハー上に順番に膜厚1.5n
mの第3CoFe合金強磁性層53c、膜厚2.1nm
のCu層、膜厚0.5nmのCoFe合金層57a、膜
厚1.7nmのCoNiFe合金層57b、膜厚1.2
nmのCu層および膜厚3.0nmのTa層を堆積させ
た。これらの堆積にあたって同様にスパッタリングが用
いられた。各CoFe合金層53a、53b、53c、
57aにはCo90Fe10合金(原子%)が用いられた。
CoNiFe合金層57bにはCo41Fe24Ni35合金
(原子%)が用いられた。堆積の完了後、PdPtMn
層は熱処理に基づき規則化された。こうしてスピンバル
ブ膜41の第1具体例は作成された。作成されたスピン
バルブ膜41の磁気抵抗効果(MR)比[%]、電気抵
抗値(いわゆるシート抵抗)ρ/t[Ω]、抵抗変化量
Δρ/t[Ω]、磁気結合磁界Hin[A/m]および
磁気結合磁界(いわゆるピン止め磁界)Hua[kA/
m]は測定された。
用意した。この比較例では、前述と同様にスピンバルブ
膜は積層形成された。ただし、自由側強磁性層には、前
述のCoFe合金層57aおよびCoNiFe合金層5
7bに代えて、膜厚1.0nmのCoFe合金層および
膜厚2.0nmのNiFe層が用いられた。PdPtM
n層の熱処理後に、比較例に係るスピンバルブ膜で、同
様に、磁気抵抗効果(MR)比[%]、電気抵抗値(い
わゆるシート抵抗)ρ/t[Ω]、抵抗変化量Δρ/t
[Ω]、磁気結合磁界Hin[A/m]および磁気結合
磁界(いわゆるピン止め磁界)Hua[kA/m]は測
定された。
1具体例に係るスピンバルブ膜41では、比較例に係る
スピンバルブ膜に比べてMR比は相当程度に改善した。
抵抗変化量Δρ/tは著しく増大した。しかも、図6
(a)から明らかなように、第1具体例に係るスピンバ
ルブ膜41では膜厚の減少にも拘わらず一軸磁気異方性
の確立は確認された。その一方で、図6(b)から明ら
かなように、比較例に係るスピンバルブ膜では、一軸磁
気異方性の喪失が確認された。
ンバルブ膜41を用意した。この第2具体例の形成にあ
たって、本発明者は、真空空間内で任意のウェハー上に
順番に膜厚6.0nmのNiCr層、膜厚15.0nm
のPdPtMn層と、膜厚1.2nmの第1CoFe合
金強磁性層53aと、膜厚0.85nmのRu結合層5
4と、膜厚1.2nmの第2CoFe合金強磁性層53
bとを堆積させた。堆積にあたってスパッタリングが用
いられた。第2CoFe合金強磁性層53bの堆積後に
真空空間内には90秒間にわたって酸素が導入された。
酸素の働きで、第2CoFe合金強磁性層53bの表面
には酸化層55が形成された。酸化層55の形成後、再
び真空空間は確立された。その後、本発明者は、ウェハ
ー上に順番に膜厚1.7nmの第3CoFe合金強磁性
層53c、膜厚2.1nmのCu層、膜厚0.5nmの
CoFe合金層57a、膜厚1.7nmのCoNiFe
合金層57b、膜厚0.6nmのAu層を堆積させた。
これらの堆積にあたって同様にスパッタリングが用いら
れた。各CoFe合金層53a、53b、53c、57
aにはCo60Fe40合金(原子%)が用いられた。Co
NiFe合金層57bにはCo41Fe24Ni35合金(原
子%)が用いられた。堆積の完了後、PdPtMn層は
熱処理に基づき規則化された。作成されたスピンバルブ
膜41の磁気抵抗効果(MR)比[%]、電気抵抗値
(いわゆるシート抵抗)ρ/t[Ω]、抵抗変化量Δρ
/t[Ω]、磁気結合磁界Hin[A/m]および磁気
結合磁界(いわゆるピン止め磁界)Hua[kA/m]
は測定された。
して比較例を用意した。この比較例では、自由側強磁性
層に、前述のCoFe合金層57aおよびCoNiFe
合金層57bに代えて、膜厚1.0nmのCoFe合金
層および膜厚2.0nmのNiFe層が用いられた。P
dPtMn層の熱処理後に、比較例に係るスピンバルブ
膜で、同様に、磁気抵抗効果(MR)比[%]、電気抵
抗値(いわゆるシート抵抗)ρ/t[Ω]、抵抗変化量
Δρ/t[Ω]、磁気結合磁界Hin[A/m]および
磁気結合磁界(いわゆるピン止め磁界)Hua[kA/
m]は測定された。
2具体例に係るスピンバルブ膜41では、比較例に係る
スピンバルブ膜に比べてMR比は相当程度に改善した。
抵抗変化量Δρ/tは著しく増大した。しかも、第2具
体例に係るスピンバルブ膜41では膜厚の減少にも拘わ
らず一軸磁気異方性の確立は確認された。
bの磁気特性を検証した。本発明者は、CoNiFe合
金層の組成を変化させつつ飽和磁束密度Bs[T]、磁
化容易軸方向の保磁力Hc(easy)[A/m]および磁化
困難軸方向の保磁力Hc(har d)[A/m]を測定した。
その結果、[表3]から明らかなように、特定の組成で
構成されるCoNiFe合金層では確実に一軸磁気異方
性が確立されることが確認された。
て、例えば図7から明らかなように、CoNiFe合金
層は、次式に基づき、
ルと、z原子%の鉄とを含めばよい。その他、CoNi
Fe合金層は、次式に基づき、
ルと、z原子%の鉄とを含んでもよい。ただし、これら
の組成比にはプラスマイナス2[原子%]程度の測定誤
差が見込まれる。特に、磁化容易軸方向の保磁力Hc
(easy)が800[A/m]以下であること、磁化困難軸
方向の保磁力Hc(hard)と磁化容易軸方向の保磁力Hc
(e asy)との比Hc(hard)/Hc(easy)は0.7以下であ
ること、並びに、飽和磁束密度Bsが1.7[T]以上
であることといった特定の条件がCoNiFe合金層で
確立されると、自由側強磁性層57の膜厚の縮小に大い
に貢献することが容易に想像される。
ば図8に示されるように、いわゆるCPP(Curre
nt−Perpendicular−to−the−P
lane)構造MR読み取り素子31aに利用されても
よい。このCPP構造MR読み取り素子31aでは、ス
ピンバルブ膜41は上下の電極層43a、43bに挟み
込まれる。スピンバルブ膜41は前述の積層構造を備え
ればよい。このとき、電極層43a、43bが導電性の
磁性体で構成されれば、電極層43a、43bは同時に
CPP構造MR読み取り素子31aの上下シールド層と
して機能することができる。その他、前述のMR読み取
り素子31と同様な機能や作用を発揮する構成には同一
の参照符号が付される。こういったCPP構造MR読み
取り素子31aでは、自由側強磁性層57の膜厚の減少
に応じて上下シールド層同士の間隔は狭められることが
できる。記録トラックの線方向に磁気情報の解像度は高
められることができる。
前述のスピンバルブ膜41に代えていわゆるトンネル接
合磁気抵抗効果(TMR)膜が用いられてもよい。前述
の自由側強磁性層57は、例えば図9に示されるよう
に、TMR膜41b内に組み込まれればよい。このTM
R膜41bでは、前述の導電体の非磁性中間層56に代
えて絶縁体の非磁性中間層61が用いられる。その他、
前述のスピンバルブ膜41と同様な作用機能を発揮する
構成には同一の参照符号が付される。こうして前述の自
由側強磁性層57がTMR膜41bに組み込まれれば、
前述のCPP構造MR読み取り素子31aと同様に、自
由側強磁性層57の膜厚の減少に応じて上下シールド層
同士の間隔は狭められることができる。記録トラックの
線方向に磁気情報の解像度は高められることができる。
膜41bはいわゆる順積層構造に構成されてもよい。
ニッケル鉄合金層およびコバルト鉄合金層で構成される
自由側強磁性層と、固定側強磁性層および自由側強磁性
層の間に挟み込まれる中間層と、固定側強磁性層に張り
合わせられる磁化方向拘束層とを備えることを特徴とす
る磁気抵抗効果膜。
膜において、前記中間層は導電体であることを特徴とす
る磁気抵抗効果膜。
抵抗効果膜において、前記磁化方向拘束層は反強磁性層
であることを特徴とする磁気抵抗効果膜。
の磁気抵抗効果膜において、前記コバルトニッケル鉄合
金層では、磁化容易軸方向の保磁力は800A/m以下
に設定されることを特徴とする磁気抵抗効果膜。
膜において、前記コバルトニッケル鉄合金層では、磁化
困難軸方向の保磁力Hc(hard)と磁化容易軸方向の保磁
力Hc(easy)との比Hc(hard)/Hc(easy)は0.7以
下に設定されることを特徴とする磁気抵抗効果膜。
膜において、前記コバルトニッケル鉄合金層は1.7T
以上の飽和磁束密度Bsを有することを特徴とする磁気
抵抗効果膜。
膜において、前記コバルトニッケル鉄合金層は、次式に
基づき、
ルと、z原子%の鉄とを含むことを特徴とする磁気抵抗
効果膜。
膜において、前記コバルトニッケル鉄合金層は、次式に
基づき、
ルと、z原子%の鉄とを含むことを特徴とする磁気抵抗
効果膜。
抵抗効果膜において、前記コバルト鉄合金層の膜厚は
1.0nm未満に設定されることを特徴とする磁気抵抗
効果膜。
と、コバルトニッケル鉄合金層に重ね合わせられるコバ
ルト鉄合金層とを備えることを特徴とする強磁性積層構
造体。
層構造体において、前記コバルトニッケル鉄合金層で
は、磁化容易軸方向の保磁力は800A/m以下に設定
されることを特徴とする強磁性積層構造体。
層構造体において、前記コバルトニッケル鉄合金層で
は、磁化困難軸方向の保磁力Hc(hard)と磁化容易軸方
向の保磁力Hc(easy)との比Hc(hard)/Hc(easy)は
0.7以下に設定されることを特徴とする強磁性積層構
造体。
層構造体において、前記コバルトニッケル鉄合金層は
1.7T以上の飽和磁束密度Bsを有することを特徴と
する強磁性積層構造体。
層構造体において、前記コバルトニッケル鉄合金層は、
次式に基づき、
ルと、z原子%の鉄とを含むことを特徴とする強磁性積
層構造体。
層構造体において、前記コバルトニッケル鉄合金層は、
次式に基づき、
ルと、z原子%の鉄とを含むことを特徴とする強磁性積
層構造体。
の強磁性積層構造体において、前記コバルト鉄合金層の
膜厚は1.0nm未満に設定されることを特徴とする強
磁性積層構造体。
少にも拘わらず確実に一軸磁気異方性を確立することが
できる強磁性積層構造体が提供される。
造を概略的に示す平面図である。
視図である。
の様子を概略的に示す正面図である。
面図である。
に示す拡大正面図である。
バルブ膜、および(b)比較例に係るスピンバルブ膜の
BH特性を示すグラフである。
の関係を示すグラフである。
ある。
大平面図である。
磁気抵抗効果膜としてのトンネル接合磁気抵抗効果
(TMR)膜、52 磁化方向拘束層、53 固定側強
磁性層、56 導電体の中間層、57 自由側強磁性
層、57a コバルト鉄合金層、57b コバルトニッ
ケル鉄合金層、61 絶縁体の中間層。
Claims (10)
- 【請求項1】 固定側強磁性層と、コバルトニッケル鉄
合金層およびコバルト鉄合金層で構成される自由側強磁
性層と、固定側強磁性層および自由側強磁性層の間に挟
み込まれる中間層と、固定側強磁性層に張り合わせられ
る磁化方向拘束層とを備えることを特徴とする磁気抵抗
効果膜。 - 【請求項2】 請求項1に記載の磁気抵抗効果膜におい
て、前記中間層は導電体であることを特徴とする磁気抵
抗効果膜。 - 【請求項3】 請求項1または2に記載の磁気抵抗効果
膜において、前記磁化方向拘束層は反強磁性層であるこ
とを特徴とする磁気抵抗効果膜。 - 【請求項4】 コバルトニッケル鉄合金層と、コバルト
ニッケル鉄合金層に重ね合わせられるコバルト鉄合金層
とを備えることを特徴とする強磁性積層構造体。 - 【請求項5】 請求項4に記載の強磁性積層構造体にお
いて、前記コバルトニッケル鉄合金層では、磁化容易軸
方向の保磁力は800A/m以下に設定されることを特
徴とする強磁性積層構造体。 - 【請求項6】 請求項5に記載の強磁性積層構造体にお
いて、前記コバルトニッケル鉄合金層では、磁化困難軸
方向の保磁力Hc(hard)と磁化容易軸方向の保磁力Hc
(easy)との比Hc(hard)/Hc(easy)は0.7以下に設
定されることを特徴とする強磁性積層構造体。 - 【請求項7】 請求項6に記載の強磁性積層構造体にお
いて、前記コバルトニッケル鉄合金層は1.7T以上の
飽和磁束密度Bsを有することを特徴とする強磁性積層
構造体。 - 【請求項8】 請求項7に記載の強磁性積層構造体にお
いて、前記コバルトニッケル鉄合金層は、次式に基づ
き、 【数1】 x原子%のコバルトと、y原子%のニッケルと、z原子
%の鉄とを含むことを特徴とする強磁性積層構造体。 - 【請求項9】 請求項7に記載の強磁性積層構造体にお
いて、前記コバルトニッケル鉄合金層は、次式に基づ
き、 【数2】 x原子%のコバルトと、y原子%のニッケルと、z原子
%の鉄とを含むことを特徴とする強磁性積層構造体。 - 【請求項10】 請求項8または9に記載の強磁性積層
構造体において、前記コバルト鉄合金層の膜厚は1.0
nm未満に設定されることを特徴とする強磁性積層構造
体。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001391047A JP2003198002A (ja) | 2001-12-25 | 2001-12-25 | 磁気抵抗効果膜および強磁性積層構造体 |
EP02258894A EP1324356B1 (en) | 2001-12-25 | 2002-12-23 | Magnetoresistive film |
DE60211109T DE60211109T2 (de) | 2001-12-25 | 2002-12-23 | Magnetoresistives Element |
US10/328,437 US7292415B2 (en) | 2001-12-25 | 2002-12-23 | Ferromagnetic layered material having reliable uniaxial anisotropy |
KR1020020083101A KR100849430B1 (ko) | 2001-12-25 | 2002-12-24 | 자기저항효과막 |
CNB021588325A CN1225725C (zh) | 2001-12-25 | 2002-12-25 | 具有可靠的单轴各向异性的铁磁叠层材料 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001391047A JP2003198002A (ja) | 2001-12-25 | 2001-12-25 | 磁気抵抗効果膜および強磁性積層構造体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003198002A true JP2003198002A (ja) | 2003-07-11 |
Family
ID=19188478
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001391047A Pending JP2003198002A (ja) | 2001-12-25 | 2001-12-25 | 磁気抵抗効果膜および強磁性積層構造体 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7292415B2 (ja) |
EP (1) | EP1324356B1 (ja) |
JP (1) | JP2003198002A (ja) |
KR (1) | KR100849430B1 (ja) |
CN (1) | CN1225725C (ja) |
DE (1) | DE60211109T2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006005356A (ja) * | 2004-06-15 | 2006-01-05 | Headway Technologies Inc | 磁気トンネル接合素子およびその形成方法、磁気メモリ構造ならびにトンネル磁気抵抗効果型再生ヘッド |
JP2006019743A (ja) * | 2004-06-30 | 2006-01-19 | Headway Technologies Inc | 磁気メモリ構造およびトンネル磁気抵抗効果型再生ヘッドならびにそれらの製造方法 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4822680B2 (ja) * | 2004-08-10 | 2011-11-24 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子の製造方法 |
JP2006060044A (ja) * | 2004-08-20 | 2006-03-02 | Canon Anelva Corp | 磁気抵抗効果素子の製造方法 |
JP2006261454A (ja) * | 2005-03-17 | 2006-09-28 | Fujitsu Ltd | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッド、および磁気記憶装置 |
US8449948B2 (en) * | 2009-09-10 | 2013-05-28 | Western Digital (Fremont), Llc | Method and system for corrosion protection of layers in a structure of a magnetic recording transducer |
US9034150B2 (en) * | 2012-11-29 | 2015-05-19 | Seagate Technology Llc | Thin film with tuned anisotropy and magnetic moment |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3921218A (en) * | 1973-12-26 | 1975-11-18 | Honeywell Inf Systems | Thin film magnetoresistive transducers with rotated magnetic easy axis |
US4847584A (en) * | 1988-10-14 | 1989-07-11 | Honeywell Inc. | Magnetoresistive magnetic sensor |
JPH0729735A (ja) | 1993-07-09 | 1995-01-31 | Tohoku Tokushuko Kk | 強磁性磁気抵抗効果合金膜 |
JP3574186B2 (ja) * | 1994-09-09 | 2004-10-06 | 富士通株式会社 | 磁気抵抗効果素子 |
JPH08212512A (ja) * | 1995-02-03 | 1996-08-20 | Hitachi Ltd | 磁気記憶装置及びそれに用いる薄膜磁気ヘッドとその製造方法 |
US5896252A (en) | 1995-08-11 | 1999-04-20 | Fujitsu Limited | Multilayer spin valve magneto-resistive effect magnetic head with free magnetic layer including two sublayers and magnetic disk drive including same |
JP3461999B2 (ja) * | 1996-03-28 | 2003-10-27 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子 |
JP2924825B2 (ja) * | 1996-10-31 | 1999-07-26 | 日本電気株式会社 | 磁気抵抗効果素子及びこれを用いた磁気抵抗効果センサ |
US5768069A (en) * | 1996-11-27 | 1998-06-16 | International Business Machines Corporation | Self-biased dual spin valve sensor |
JPH10241123A (ja) * | 1997-02-28 | 1998-09-11 | Nec Corp | 磁気抵抗効果ヘッド |
JPH10294217A (ja) | 1997-04-21 | 1998-11-04 | Victor Co Of Japan Ltd | スピンバルブ型磁気抵抗効果膜及びこれを有する磁気ヘッド |
JP2970590B2 (ja) * | 1997-05-14 | 1999-11-02 | 日本電気株式会社 | 磁気抵抗効果素子並びにこれを用いた磁気抵抗効果センサ、磁気抵抗検出システム及び磁気記憶システム |
US5774394A (en) | 1997-05-22 | 1998-06-30 | Motorola, Inc. | Magnetic memory cell with increased GMR ratio |
WO1999001778A1 (en) | 1997-07-01 | 1999-01-14 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Magnetic field sensor |
US6245450B1 (en) | 1997-11-17 | 2001-06-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Exchange coupling film magnetoresistance effect device magnetoresistance effective head and method for producing magnetoresistance effect device |
JPH11161921A (ja) * | 1997-12-01 | 1999-06-18 | Nec Corp | 磁気抵抗効果素子およびその製造方法 |
JP3114683B2 (ja) * | 1998-01-22 | 2000-12-04 | 日本電気株式会社 | 磁気抵抗効果素子およびその製造方法、ならびにこの磁気抵抗効果素子を用いた磁気抵抗効果センサ,磁気抵抗検出システムおよび磁気記憶システム |
US5930164A (en) * | 1998-02-26 | 1999-07-27 | Motorola, Inc. | Magnetic memory unit having four states and operating method thereof |
JPH11316919A (ja) * | 1998-04-30 | 1999-11-16 | Hitachi Ltd | スピントンネル磁気抵抗効果型磁気ヘッド |
US6356420B1 (en) * | 1998-05-07 | 2002-03-12 | Seagate Technology Llc | Storage system having read head utilizing GMR and AMr effects |
US6567246B1 (en) * | 1999-03-02 | 2003-05-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magnetoresistance effect element and method for producing the same, and magnetoresistance effect type head, magnetic recording apparatus, and magnetoresistance effect memory element |
JP2002183909A (ja) * | 2000-12-07 | 2002-06-28 | Hitachi Ltd | 薄膜磁気ヘッドの製造方法及び薄膜磁気ヘッドとそれを搭載した磁気ディスク装置 |
JP2002309353A (ja) * | 2001-04-13 | 2002-10-23 | Fujitsu Ltd | 軟磁性膜及びこれを用いる記録用の磁気ヘッド |
JP2003157509A (ja) * | 2001-11-19 | 2003-05-30 | Hitachi Ltd | 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法、並びにそれを搭載した磁気ディスク装置 |
-
2001
- 2001-12-25 JP JP2001391047A patent/JP2003198002A/ja active Pending
-
2002
- 2002-12-23 EP EP02258894A patent/EP1324356B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-12-23 US US10/328,437 patent/US7292415B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-12-23 DE DE60211109T patent/DE60211109T2/de not_active Expired - Lifetime
- 2002-12-24 KR KR1020020083101A patent/KR100849430B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2002-12-25 CN CNB021588325A patent/CN1225725C/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006005356A (ja) * | 2004-06-15 | 2006-01-05 | Headway Technologies Inc | 磁気トンネル接合素子およびその形成方法、磁気メモリ構造ならびにトンネル磁気抵抗効果型再生ヘッド |
JP2006019743A (ja) * | 2004-06-30 | 2006-01-19 | Headway Technologies Inc | 磁気メモリ構造およびトンネル磁気抵抗効果型再生ヘッドならびにそれらの製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1324356B1 (en) | 2006-05-03 |
DE60211109D1 (de) | 2006-06-08 |
US7292415B2 (en) | 2007-11-06 |
CN1225725C (zh) | 2005-11-02 |
KR20030057336A (ko) | 2003-07-04 |
DE60211109T2 (de) | 2006-09-07 |
US20030128484A1 (en) | 2003-07-10 |
EP1324356A1 (en) | 2003-07-02 |
KR100849430B1 (ko) | 2008-07-30 |
CN1430205A (zh) | 2003-07-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4184668B2 (ja) | Cpp構造磁気抵抗効果素子 | |
US6985338B2 (en) | Insulative in-stack hard bias for GMR sensor stabilization | |
JP3712933B2 (ja) | スピン・バルブ・センサ用3層シード層構造体 | |
JP3648504B2 (ja) | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドおよび磁気再生装置 | |
JP3995072B2 (ja) | Cpp構造スピンバルブヘッド | |
JP2004103769A (ja) | Cpp構造磁気抵抗効果素子 | |
JP2003152239A (ja) | 磁気抵抗効果素子、及び、それを有する読み取りヘッド並びにドライブ | |
JP2000215415A (ja) | 磁気抵抗効果素子 | |
JP4011355B2 (ja) | 軟磁性膜および薄膜磁気ヘッド | |
JP2013004166A (ja) | ハードバイアスのシード構造を有する磁気センサ | |
KR20000076835A (ko) | 거대 자기저항을 구비한 역평행 피고정 판독 헤드 | |
JP2004103806A (ja) | 交換結合膜、スピンバルブ膜、薄膜磁気ヘッド、磁気ヘッド装置及び磁気記録再生装置 | |
JP4316508B2 (ja) | Cpp構造磁気抵抗効果素子およびヘッドスライダ | |
JP3787403B2 (ja) | 磁気抵抗効果型ヘッド | |
KR100849430B1 (ko) | 자기저항효과막 | |
JP2002185059A (ja) | 磁気抵抗効果素子 | |
JP2003218424A (ja) | 磁気抵抗効果膜 | |
JP2008042103A (ja) | 交換結合膜、磁気抵抗効果素子、薄膜磁気ヘッド、ヘッドジンバルアセンブリ、ヘッドアームアセンブリおよび磁気ディスク装置 | |
US7079344B2 (en) | Magnetic recording disk drive with data written and read as cross-track magnetizations | |
US6731478B2 (en) | Magnetoresistive effect head | |
JP3683577B1 (ja) | 磁気抵抗効果素子、薄膜磁気ヘッド、ヘッドジンバルアセンブリおよび磁気ディスク装置 | |
JP3818592B2 (ja) | 磁気抵抗効果装置およびその製造方法、薄膜磁気ヘッド、ヘッドジンバルアセンブリならびにハードディスク装置 | |
JP4000114B2 (ja) | Cpp構造磁気抵抗効果素子 | |
US7375932B2 (en) | Disk drive read head for reading cross-track magnetizations | |
US7394619B2 (en) | Disk drive write head for writing cross-track magnetizations |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041208 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070831 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080325 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080523 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20081209 |