JP3297006B2 - Multilayer printed wiring board - Google Patents
Multilayer printed wiring boardInfo
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- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、多層プリント配線
板に関し、特に、直径 100μm未満のバイアホールおよ
びファインパターンを形成でき、しかもバイアホール内
の現像残りを効果的に除去できる多層プリント配線板に
ついて提案する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board, and more particularly to a multilayer printed wiring board capable of forming a via hole and a fine pattern having a diameter of less than 100 .mu.m and effectively removing the development residue in the via hole. suggest.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、多層配線基板の高密度化という要
請から、いわゆるビルドアップ多層配線基板が注目され
ている。このビルドアップ多層配線基板は、例えば特公
平4−55555 号公報に開示されているような方法により
製造される。即ち、コア基板上に、感光性の無電解めっ
き用接着剤を塗布し、これを乾燥したのち露光、現像す
ることにより、バイアホール用開口を有する層間樹脂絶
縁層を形成し、次いで、この層間樹脂絶縁層の表面を酸
化剤等による処理にて粗化したのち、その粗化面にめっ
きレジストを設け、その後、レジスト非形成部分に無電
解めっきを施してバイアホールを含む導体回路パターン
を形成し、このような工程を複数回繰り返すことによ
り、多層化したビルドアップ配線基板が得られる。2. Description of the Related Art In recent years, so-called build-up multilayer wiring boards have been receiving attention due to a demand for higher density of the multilayer wiring boards. This build-up multilayer wiring board is manufactured by a method disclosed in, for example, Japanese Patent Publication No. 4-55555. That is, on the core substrate, a photosensitive adhesive for electroless plating is applied, dried, exposed, and developed to form an interlayer resin insulating layer having a via hole opening. After the surface of the resin insulation layer is roughened by treatment with an oxidizing agent, a plating resist is provided on the roughened surface, and then electroless plating is performed on the non-resist-formed portion to form a conductor circuit pattern including via holes. By repeating such a process a plurality of times, a multilayered build-up wiring board can be obtained.
【0003】このようなビルドアップ配線基板の層間樹
脂絶縁層に使用される無電解めっき用接着剤としては、
特開昭63-158156 号公報や特開平2−188992号公報(U
SP5,055,321号、USP 5,589,255号) に記載されて
いるような、平均粒径2〜10μmの粗粒子と平均粒径2
μm以下の微粒子からなる溶解可能な樹脂粒子を難溶性
の耐熱性樹脂マトリックス中に分散したものがある。As an adhesive for electroless plating used for an interlayer resin insulating layer of such a build-up wiring board,
JP-A-63-158156 and JP-A-2-188992 (U.S. Pat.
SP 5,055,321, US Pat. No. 5,589,255), as described in US Pat. No. 5,589,255).
There is a type in which dissolvable resin particles composed of fine particles having a size of μm or less are dispersed in a hardly heat-resistant resin matrix.
【0004】また、特開昭61-276875 号公報(USP
4,752,499号、USP 5,021,472号)には、平均粒径 1.6
μmに破砕したエポキシ樹脂粉末を難溶性の耐熱性樹脂
マトリックス中に分散したものが開示されている。さら
に、特開平7−34048 号公報(USP 5,519,177号) に
は、強靱なエポキシ−ポリエーテルスルフォン(PE
S)樹脂複合体を樹脂マトリックスとして使用した無電
解めっき用接着剤が開示されている。Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 61-276875 (USP)
No. 4,752,499, USP 5,021,472) have an average particle size of 1.6.
It discloses that an epoxy resin powder crushed to μm is dispersed in a hardly heat-resistant resin matrix. Further, JP-A-7-34048 (US Pat. No. 5,519,177) discloses a tough epoxy-polyether sulfone (PE
S) An adhesive for electroless plating using a resin composite as a resin matrix is disclosed.
【0005】ところが、このようなビルドアップ多層プ
リント配線板を実際に製造し、ICチップを搭載すると、
めっきレジストと導体回路の界面の密着性がないので、
めっきレジストと導体回路の熱膨張率差に起因して、こ
れらの界面を起点として層間樹脂絶縁層にクラックが発
生するという新たな問題を知見するに到った。However, when such a build-up multilayer printed wiring board is actually manufactured and an IC chip is mounted,
Since there is no adhesion at the interface between the plating resist and the conductor circuit,
A new problem has been discovered in that a crack is generated in the interlayer resin insulating layer from the interface between the plating resist and the conductor circuit due to the difference in thermal expansion coefficient between the plating resist and the conductor circuit.
【0006】これに対し、上記クラックの発生を防止す
る方法として、めっきレジストを除去して導体回路の側
面を粗化処理することにより、導体回路と層間樹脂絶縁
層との密着を改善する方法が採用される。On the other hand, as a method of preventing the occurrence of cracks, there is a method of improving the adhesion between the conductor circuit and the interlayer resin insulation layer by removing the plating resist and roughening the side surface of the conductor circuit. Adopted.
【0007】このようなめっきレジストを除去して配線
板を製造する方法としては、セミアディティブ法が最も
現実的な方法である。このセミアディティブ法は、層間
樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層)の表面を粗化
し、無電解めっきを全面に薄く施し、めっきレジストを
形成し、電解めっきを行い、めっきレジスト間に厚く電
解めっき膜を設け、めっきレジストを除去してめっきレ
ジスト下の無電解めっき膜を溶解除去して導体パターン
を形成する方法である。As a method for manufacturing a wiring board by removing such a plating resist, a semi-additive method is the most realistic method. In this semi-additive method, the surface of an interlayer resin insulating layer (adhesive layer for electroless plating) is roughened, electroless plating is applied thinly on the entire surface, a plating resist is formed, electrolytic plating is performed, and a thicker layer is formed between the plating resists. In this method, a conductive pattern is formed by providing an electrolytic plating film, removing the plating resist, and dissolving and removing the electroless plating film under the plating resist.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記セ
ミアディティブ法では、めっきレジスト下の無電解めっ
き膜を溶解除去する必要がある。このため、層間樹脂絶
縁層表面に形成した粗化面のアンカーが深い場合には、
そのアンカー内に導体が残りやすく、線間絶縁抵抗値低
下の原因となってしまう。また、そのアンカーが深い場
合には、無電解めっき膜のエッチングを過剰に行うこと
になるため、L/S=25/25μmのようなファインパタ
ーンを形成しようとすると、その過剰なエッチングによ
り導体回路の断線が発生してしまう。従って、アンカー
内の導体を過剰なエッチング処理を施すことなく除去す
るためには、アンカーを形成する耐熱性樹脂粒子の粒径
を小さくしその配合量を少なくすることにより、粗化面
のアンカーを浅くすることが望ましい。However, in the semi-additive method, it is necessary to dissolve and remove the electroless plating film under the plating resist. Therefore, when the anchor of the roughened surface formed on the interlayer resin insulating layer surface is deep,
A conductor is likely to remain in the anchor, which causes a reduction in insulation resistance between wires. If the anchor is deep, the electroless plating film will be excessively etched. Therefore, if a fine pattern such as L / S = 25/25 μm is to be formed, the conductor circuit will be excessively etched. Disconnection occurs. Therefore, in order to remove the conductor in the anchor without performing excessive etching treatment, the anchor on the roughened surface is reduced by reducing the particle size of the heat-resistant resin particles forming the anchor and decreasing the blending amount thereof. It is desirable to make it shallow.
【0009】一方で、層間樹脂絶縁層に 100μmφ未満
の微細なバイアホール形成用の開口を設けようとする
と、現像液が充分に回り込まず現像残りが発生して、バ
イアホール形成用の開口底部に樹脂が残りやすくなる。
このような樹脂残りは、無電解めっき用接着剤層の粗化
処理時に溶解除去することができる。というのは、樹脂
残りの中にも酸化剤などに溶解する耐熱性樹脂粒子が存
在するからである。しかしながら、アンカー内の導体を
有利に除去するために、前述のように耐熱性樹脂粒子の
粒径を小さくしその配合量を減らすことにより、粗化面
のアンカーを浅くすると、酸化剤などによる粗化能力が
低下するので、かかる粗化処理ではバイアホール底部の
樹脂残りを除去しきれないという問題が発生してしま
う。従って、開口底部の樹脂残りを除去するためには、
耐熱性樹脂粒子の粒径を大きくしその配合量を多くする
ことが望ましい。On the other hand, if an attempt is made to provide a fine opening for forming a via hole of less than 100 μmφ in the interlayer resin insulating layer, the developer does not sufficiently flow and residual development occurs, and the bottom of the opening for forming the via hole is formed. Resin tends to remain.
Such resin residue can be dissolved and removed during the roughening treatment of the adhesive layer for electroless plating. This is because heat-resistant resin particles that dissolve in an oxidizing agent and the like also exist in the resin residue. However, in order to advantageously remove the conductor in the anchor, as described above, by reducing the particle size of the heat-resistant resin particles and reducing the blending amount thereof, if the anchor on the roughened surface is made shallow, the rough surface due to an oxidizing agent or the like may be obtained. However, such a roughening treatment causes a problem that the resin residue at the bottom of the via hole cannot be completely removed. Therefore, to remove the resin residue at the bottom of the opening,
It is desirable to increase the particle size of the heat-resistant resin particles and increase the amount thereof.
【0010】本発明は、上述した相反する2つの要請を
同時に満足する層間樹脂絶縁層の構成を導き、これによ
って、微細なバイアホールおよびファインパターンを形
成でき、しかもバイアホール内の現像残りもない信頼性
に優れる多層プリント配線板を提供することを目的とす
る。The present invention derives a configuration of an interlayer resin insulating layer that simultaneously satisfies the two conflicting requirements described above, whereby fine via holes and fine patterns can be formed, and there is no development residue in the via holes. An object is to provide a multilayer printed wiring board having excellent reliability.
【0011】[0011]
【課題を解決するための手段】発明者らは、上記目的の
実現に向け鋭意研究した。その結果、無電解めっき用接
着剤層の内層側(基板側)の耐熱性樹脂粒子量を多く
し、粗化面が形成される側(基板の反対側)の耐熱性樹
脂粒子量を少なくすることにより、前述の課題が解決し
得ることを新たに知見した。Means for Solving the Problems The present inventors have made intensive studies to realize the above object. As a result, the amount of heat-resistant resin particles on the inner layer side (substrate side) of the adhesive layer for electroless plating is increased, and the amount of heat-resistant resin particles on the side where the roughened surface is formed (opposite to the substrate) is reduced. As a result, it has been newly found that the above-mentioned problem can be solved.
【0012】本発明は、このような知見に基づくもので
あり、その要旨構成は以下のとおりである。 (1) 導体回路が形成された基板上に、酸あるいは酸化剤
に難溶性の硬化処理された耐熱性樹脂マトリックス中に
酸あるいは酸化剤に可溶性の硬化処理された耐熱性樹脂
粒子が分散した無電解めっき用接着剤層が形成され、そ
の無電解めっき用接着剤層表面には、耐熱性樹脂粒子が
溶解除去されて形成された粗化面を有し、その粗化面上
に上層側の導体回路が形成されている多層プリント配線
板において、前記無電解めっき用接着剤層は2層からな
り、基板側の無電解めっき用接着剤層中の耐熱性樹脂粒
子の配合量は、耐熱性樹脂マトリックスの固形分に対し
て20〜50重量%であり、他方の無電解めっき用接着
剤層中の耐熱性樹脂粒子の配合量は、耐熱性樹脂マトリ
ックスの固形分に対して5重量%以上20重量%未満で
あることを特徴とする多層プリント配線板である。The present invention is based on such knowledge, and the gist configuration thereof is as follows. (1) On a substrate on which a conductive circuit is formed, a cured heat-resistant resin particle that is soluble in an acid or an oxidant is dispersed in a cured heat-resistant resin matrix that is hardly soluble in an acid or an oxidant. An adhesive layer for electrolytic plating is formed, and the surface of the adhesive layer for electroless plating has a roughened surface formed by dissolving and removing heat-resistant resin particles, and an upper layer side is formed on the roughened surface. In a multilayer printed wiring board on which a conductor circuit is formed, the adhesive layer for electroless plating is composed of two layers.
Heat-resistant resin particles in the adhesive layer for electroless plating on the substrate side.
The blending amount of the particles is based on the solid content of the heat-resistant resin matrix
20 to 50% by weight, the other being for electroless plating
The amount of heat-resistant resin particles in the agent layer depends on the heat-resistant resin matrix.
5% by weight or more and less than 20% by weight based on the solid content of
There is provided a multilayer printed wiring board.
【0013】[0013]
【0014】上記(1) に記載の多層プリント配線板にお
いて、前記耐熱性樹脂粒子は、平均粒径 0.1〜1.0 μm
であることが好ましい。前記無電解めっき用接着剤の耐
熱性樹脂マトリックスは、エポキシ樹脂とPESの複合
体からなり、その複合体中のPESの量が耐熱性樹脂マ
トリックスの固形分に対して30重量%未満であることが
好ましい。前記無電解めっき用接着剤層には、直径 100
μm未満のバイアホールが形成されていることが好まし
い。前記導体回路は、無電解めっき膜と電解めっき膜か
らなることが好ましい。前記基板上の導体回路には、そ
の表面の少なくとも一部に粗化層が形成されていること
が好ましい。In the multilayer printed wiring board according to the above (1), the heat-resistant resin particles have an average particle size of 0.1 to 1.0 μm.
It is preferable that The heat-resistant resin matrix of the adhesive for electroless plating is composed of a composite of an epoxy resin and PES, and the amount of PES in the composite is less than 30% by weight based on the solid content of the heat-resistant resin matrix. Is preferred. The adhesive layer for electroless plating has a diameter of 100
It is preferable that a via hole of less than μm is formed. The conductor circuit preferably includes an electroless plating film and an electrolytic plating film. It is preferable that a roughening layer is formed on at least a part of the surface of the conductor circuit on the substrate.
【0015】[0015]
【発明の実施の形態】本発明の多層プリント配線板は、
層間樹脂絶縁層を構成する無電解めっき用接着剤層にお
ける耐熱性樹脂粒子の配合量を、粗化面が形成される側
を少なくし、その反対側(基板側)を多くした点に特徴
がある。すなわち、本発明における前記無電解めっき用
接着剤層は2層からなり、基板側(下層側)の無電解め
っき用接着剤層中の耐熱性樹脂粒子の配合量は、耐熱性
樹脂マトリックスの固形分に対して20〜50重量%で
あり、他方(上層側)の無電解めっき用接着剤層中の耐
熱性樹脂粒子の配合量は、耐熱性樹脂マトリックスの固
形分に対して5重量%以上20重量%未満であることが
特徴である。ここで、下層における耐熱性樹脂粒子の配
合量は、粗化処理時に樹脂残りを除去でき、しかもバイ
アホールの底部内壁が粗化処理によって大きくなりすぎ
ないような範囲であり、上層における耐熱性樹脂粒子の
配合量は、ピール強度を低下させすぎないように粗化面
のアンカーを浅くできる範囲である。したがって、この
ような層間樹脂絶縁層の構成によれば、浅い粗化面と高
い粗化能力を同時に実現してファインパターンと微細な
バイアホールを兼ね備えた多層プリント配線板を提供す
ることができる。 DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The multilayer printed wiring board of the present invention
The feature is that the amount of heat-resistant resin particles in the adhesive layer for electroless plating constituting the interlayer resin insulation layer is reduced on the side where the roughened surface is formed and increased on the opposite side (substrate side). is there. That is, for the electroless plating in the present invention
The adhesive layer consists of two layers, and the substrate side (lower side) is electroless
The amount of heat-resistant resin particles in the adhesive layer
20 to 50% by weight based on the solid content of the resin matrix
Yes, the other (upper side) of the adhesive layer for electroless plating
The amount of the heat-resistant resin particles depends on the solidity of the heat-resistant resin matrix.
Not less than 5% by weight and less than 20% by weight
It is a feature. Here, the compounding amount of the heat-resistant resin particles in the lower layer is such that the resin residue can be removed during the roughening treatment, and the inner wall at the bottom of the via hole is not too large by the roughening treatment. The blending amount of the particles is within a range where the anchor on the roughened surface can be made shallow so as not to excessively lower the peel strength. So this
According to the structure of the interlayer resin insulating layer as described above, the shallow rough surface and the high
Fine pattern and fine
Providing multilayer printed wiring boards with via holes
Can be
【0016】このような本発明において、耐熱性樹脂粒
子の平均粒径は 0.1〜1.0 μmとすることが好ましい。
この理由は、耐熱性樹脂粒子の平均粒径が上記範囲内に
あれば、粗化面のアンカーが浅く、線間の導体残りを防
止でき、ファインパターン(L/S=25/25μm)を実
現できるからである。また粗化処理により、バイアホー
ル径が大きくならず、現像残りを除去する能力が失われ
ないからである。In the present invention, the heat-resistant resin particles preferably have an average particle size of 0.1 to 1.0 μm.
The reason is that if the average particle size of the heat-resistant resin particles is within the above range, the anchor on the roughened surface is shallow, the conductor between the lines can be prevented, and a fine pattern (L / S = 25/25 μm) is realized. Because you can. Also, the roughening treatment does not increase the diameter of the via hole and does not lose the ability to remove the undeveloped portion.
【0017】[0017]
【0018】なお、この耐熱性樹脂粒子は予め硬化処理
されていることが必要である。この理由は、耐熱性樹脂
粒子は、硬化されていないと樹脂マトリックスを溶解さ
せる溶剤に溶解して、樹脂マトリックスと均一混合さ
れ、該樹脂粒子のみを選択的に酸や酸化剤で溶解除去で
きなくなるからである。It is necessary that the heat-resistant resin particles have been previously cured. The reason is that the heat-resistant resin particles are dissolved in a solvent that dissolves the resin matrix when not cured, are uniformly mixed with the resin matrix, and the resin particles alone cannot be selectively dissolved and removed with an acid or an oxidizing agent. Because.
【0019】耐熱性樹脂マトリックスとしては、熱硬化
性樹脂(熱硬化基の一部を感光化したものも含む)もし
くは感光性樹脂、またはこれらの樹脂と熱可塑性樹脂の
複合体を使用することができる。熱硬化性樹脂として
は、エポキシ樹脂やフェノール樹脂、ポリイミド樹脂な
どを用いることができる。この熱硬化性樹脂を感光化す
る場合は、熱硬化基をメタクリル酸やアクリル酸などと
アクリル化反応させる。特にエポキシ樹脂のアクリレー
トが最適である。エポキシ樹脂としては、ノボラック型
エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂などを用いることが
できる。熱可塑性樹脂としては、ポリエーテルスルフォ
ン、ポリスルフォン、ポリフェニレンスルフォン、ポリ
フェニレンサルファイド、ポリフェニルエーテル、ポリ
エーテルイミドなどを使用できる。As the heat-resistant resin matrix, it is possible to use a thermosetting resin (including one obtained by sensitizing a part of the thermosetting group), a photosensitive resin, or a composite of these resins and a thermoplastic resin. it can. As the thermosetting resin, an epoxy resin, a phenol resin, a polyimide resin, or the like can be used. When sensitizing the thermosetting resin, the thermosetting group is subjected to an acrylate reaction with methacrylic acid, acrylic acid, or the like. Particularly, acrylate of epoxy resin is most suitable. As the epoxy resin, a novolak type epoxy resin, an alicyclic epoxy resin, or the like can be used. As the thermoplastic resin, polyether sulfone, polysulfone, polyphenylene sulfone, polyphenylene sulfide, polyphenyl ether, polyether imide and the like can be used.
【0020】本発明では、前記耐熱性樹脂マトリックス
として特に、エポキシ樹脂(エポキシ樹脂のアクリレー
トを含む)とポリーテルスルフォン(PES)の複合体
を用いることが望ましい。高靱化が可能だからである。
この場合、PESの量は、耐熱性樹脂マトリックスの固
形分に対して30重量%未満が望ましく、15〜25重量%が
より好適である。この理由は、PES量を多くすると、
バイアホール径を小さくした場合に、PESがバイアホ
ール底部に残存して、粗化処理によっても除去すること
が困難になるからである。In the present invention, it is particularly preferable to use a composite of epoxy resin (including acrylate of epoxy resin) and polytersulfone (PES) as the heat-resistant resin matrix. This is because toughening is possible.
In this case, the amount of PES is preferably less than 30% by weight, more preferably 15 to 25% by weight, based on the solid content of the heat resistant resin matrix. The reason is that if the amount of PES is increased,
This is because, when the diameter of the via hole is reduced, PES remains at the bottom of the via hole, and it is difficult to remove the PES by roughening.
【0021】耐熱性樹脂粒子としては、アミノ樹脂(メ
ラミン樹脂、尿素樹脂、グアナミン樹脂など)、エポキ
シ樹脂、ビスマレイミド−トリアジン樹脂などがよい。
なお、エポキシ樹脂は、酸や酸化剤に溶解するもの、あ
るいは酸や酸化剤に難溶解性のものを、オリゴマーや硬
化剤の種類を適宜選択することにより、任意に調製でき
る点で有利である。例えば、ビスフェノールA型エポキ
シ樹脂をアミン系硬化剤で硬化させた樹脂はクロム酸に
非常によく溶けるが、クレゾールノボラック型エポキシ
樹脂をイミダゾール硬化剤で硬化させた樹脂は、クロム
酸に溶解しにくい。As the heat resistant resin particles, amino resin (melamine resin, urea resin, guanamine resin, etc.), epoxy resin, bismaleimide-triazine resin and the like are preferable.
The epoxy resin is advantageous in that it can be arbitrarily prepared by dissolving in an acid or an oxidizing agent or hardly dissolving in an acid or an oxidizing agent by appropriately selecting the type of the oligomer or the curing agent. . For example, a resin obtained by curing a bisphenol A type epoxy resin with an amine-based curing agent is very soluble in chromic acid, whereas a resin obtained by curing a cresol novolac type epoxy resin with an imidazole curing agent is hardly dissolved in chromic acid.
【0022】本発明の無電解めっき用接着剤は、ガラス
布などの繊維質基体に含浸させてBステージ状態にした
り、あるいはフィルム状に成形してあってもよい。さら
に、基板状に成形してあってもよい。本発明の無電解め
っき用接着剤は、構成樹脂をハロゲン化して難燃化して
もよく、また、色素、顔料、紫外線吸収剤を添加しても
よい。さらに繊維状のフィラーや無機フィラーを充填し
て靱性や熱膨張率を調整してもよい。The adhesive for electroless plating of the present invention may be impregnated into a fibrous substrate such as a glass cloth to form a B-stage state, or may be formed into a film. Further, it may be formed into a substrate shape. In the adhesive for electroless plating of the present invention, the constituent resin may be halogenated to make it flame-retardant, or a dye, a pigment, or an ultraviolet absorber may be added. Further, a fibrous filler or an inorganic filler may be filled to adjust the toughness and the coefficient of thermal expansion.
【0023】本発明の無電解めっき用接着剤を使用した
プリント配線板は、粗化面のアンカ−深さがRmax =1
〜5μmとなる。このアンカー深さは、従来の接着剤で
形成されている粗化面のアンカー深さRmax =10μmの
1/2程度であり、めっきレジスト下の無電解めっき膜
を溶解除去してもめっき残さが残らず、めっきレジスト
下のパラジウム触媒核の量も少なくできる。In the printed wiring board using the adhesive for electroless plating of the present invention, the roughened surface has an anchor depth of Rmax = 1.
55 μm. This anchor depth is about 1/2 of the anchor depth Rmax = 10 μm of the roughened surface formed by the conventional adhesive, and even if the electroless plating film under the plating resist is dissolved and removed, the plating residue remains. In addition, the amount of palladium catalyst nuclei under the plating resist can be reduced.
【0024】本発明の多層プリント配線板では、無電解
めっき用接着剤層との密着性を改善するために、基板上
に形成された導体回路の表面には、粗化層が形成されて
いることが望ましい。この粗化層は、基板がフルアディ
ティブ法により形成されている場合は、導体回路の上面
に、またサブトラクティブ法により形成されている場合
は、導体回路の側面または全面に形成されていることが
望ましい。このような粗化層により、無電解めっき用接
着剤層との密着性が改善され、ヒートサイクル時におけ
る導体回路と無電解めっき用接着剤との熱膨張率差に起
因するクラックを抑制することができる。In the multilayer printed wiring board of the present invention, a roughened layer is formed on the surface of the conductor circuit formed on the substrate in order to improve the adhesion with the adhesive layer for electroless plating. It is desirable. This roughened layer may be formed on the upper surface of the conductor circuit when the substrate is formed by the full additive method, and may be formed on the side surface or the entire surface of the conductor circuit when the substrate is formed by the subtractive method. desirable. By such a roughened layer, the adhesiveness with the adhesive layer for electroless plating is improved, and cracks caused by a difference in thermal expansion coefficient between the conductor circuit and the adhesive for electroless plating during a heat cycle are suppressed. Can be.
【0025】このように導体回路の表面に粗化層が形成
されている場合、無電解めっき用接着剤層にバイアホー
ル形成用の開口を形成する際に、その開口底部の粗化層
に現像しきれない樹脂が残存しやすい。この点、本発明
では、このような残存樹脂を無電解めっき用接着剤層の
粗化処理時に除去できるため有利である。In the case where the roughened layer is formed on the surface of the conductor circuit, when the opening for forming the via hole is formed in the adhesive layer for electroless plating, the roughened layer at the bottom of the opening is developed. Unsatisfactory resin tends to remain. In this regard, the present invention is advantageous because such residual resin can be removed during the roughening treatment of the adhesive layer for electroless plating.
【0026】さらに、この粗化層は、無電解めっき用接
着剤の粗化面上に形成される導体回路の上面、側面、あ
るいは全面に形成されていてもよい。この理由は、導体
回路を被覆するソルダーレジストや上層の層間樹脂絶縁
層との密着性を改善してヒートサイクル時に発生するク
ラックを抑制できるからである。Further, the roughened layer may be formed on the upper surface, the side surface, or the entire surface of the conductor circuit formed on the roughened surface of the adhesive for electroless plating. The reason for this is that cracks that occur during a heat cycle can be suppressed by improving the adhesion to the solder resist that covers the conductor circuit and the upper interlayer resin insulation layer.
【0027】次に、本発明にかかるプリント配線板を製
造する方法をセミアディティブ法を例に挙げて説明す
る。 (1) まず、基板にドリルで貫通孔を明け、貫通孔の壁面
および銅箔表面に無電解めっきを施してスルーホールを
形成する。基板としては、ガラスエポキシ基板やポリイ
ミド基板、ビスマレイミド−トリアジン樹脂基板、フッ
素樹脂基板などの樹脂基板、あるいはこれらの樹脂の銅
張積層板、セラミック基板、金属基板などを用いること
ができる。特に、誘電率を考慮する場合は、両面銅張フ
ッ素樹脂(ポリテトラフルオロエチレン等)基板を用い
ることが好ましい。この基板は、片面が粗化された銅箔
をフッ素樹脂基板に熱圧着したものである。無電解めっ
きとしては銅めっきがよい。フッ素樹脂基板のようにめ
っきのつきまわりが悪い基板の場合は、有機酸などから
なる前処理液(商品名:テトラエッチ)を用いた処理、
プラズマ処理などの表面改質を行う。Next, a method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention will be described by taking a semi-additive method as an example. (1) First, a through hole is drilled in the substrate, and a through hole is formed by applying electroless plating to the wall surface of the through hole and the surface of the copper foil. As the substrate, a resin substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a bismaleimide-triazine resin substrate, a fluororesin substrate, or a copper-clad laminate of these resins, a ceramic substrate, a metal substrate, or the like can be used. In particular, when the dielectric constant is considered, it is preferable to use a double-sided copper-clad fluororesin (polytetrafluoroethylene or the like) substrate. This substrate is obtained by thermocompression bonding copper foil having one surface roughened to a fluororesin substrate. Copper plating is preferred as the electroless plating. In the case of a substrate with poor plating coverage, such as a fluororesin substrate, a treatment using a pretreatment liquid (trade name: tetra-etch) composed of an organic acid or the like,
Perform surface modification such as plasma treatment.
【0028】(2) 次に、厚付けのために電解めっきを行
う。この電解めっきとしては銅めっきがよい。そしてさ
らに、スルーホール内壁および電解めっき膜表面を粗化
処理して粗化層を設けてもよい。この粗化層には、黒化
(酸化)−還元処理によるもの、有機酸と第二銅錯体の
混合水溶液をスプレー処理(エッチング処理)して形成
したもの、あるいは銅−ニッケル−リン針状合金めっき
によるものがある。(2) Next, electrolytic plating is performed for thickening. Copper plating is preferable as the electrolytic plating. Further, a roughening layer may be provided by roughening the inner wall of the through hole and the surface of the electrolytic plating film. The roughened layer may be formed by a blackening (oxidation) -reduction treatment, by a spray treatment (etching treatment) of a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, or by a copper-nickel-phosphorus needle-like alloy. Some are by plating.
【0029】これらの処理のなかで、無電解めっきによ
り粗化層を形成する場合は、銅イオン濃度、ニッケルイ
オン濃度、次亜リン酸イオン濃度が、それぞれ 2.2×10
-2〜4.1×10-2 mol/l、 2.2×10-3〜4.1 ×10-3 mol
/l、0.20〜0.25 mol/lである組成のめっき水溶液を
用いることが望ましい。この範囲で析出する被膜の結晶
構造は針状構造になり、アンカー効果に優れるからであ
る。この無電解めっき水溶液には、上記化合物に加えて
錯化剤や添加剤を加えてもよい。また、0.01〜10g/l
の界面活性剤を加えてもよい。この界面活性剤として
は、例えば、日信化学工業製のサーフィノール440 、46
5 、485 などのアセチレン含有ポリオキシエチレン系界
面活性剤を用いることが望ましい。即ち、無電解めっき
により粗化層を形成する場合は、硫酸銅1〜40g/l、
硫酸ニッケル 0.1〜6.0 g/l、クエン酸10〜20g/
l、次亜リン酸塩10〜100 g/l、ホウ酸10〜40g/
l、界面活性剤0.01〜10g/lからなる液組成のめっき
水溶液を用いることが望ましい。When a roughened layer is formed by electroless plating in these treatments, the copper ion concentration, nickel ion concentration and hypophosphite ion concentration are each 2.2 × 10 4
-2 to 4.1 × 10 -2 mol / l, 2.2 × 10 -3 to 4.1 × 10 -3 mol
/ L, an aqueous plating solution having a composition of 0.20 to 0.25 mol / l is desirably used. This is because the crystal structure of the film deposited in this range has a needle-like structure and is excellent in anchor effect. To this aqueous electroless plating solution, a complexing agent or an additive may be added in addition to the above compounds. In addition, 0.01 to 10 g / l
May be added. Examples of the surfactant include Surfynol 440 and 46 manufactured by Nissin Chemical Industry.
It is desirable to use an acetylene-containing polyoxyethylene surfactant such as 5,485. That is, when a roughened layer is formed by electroless plating, copper sulfate 1 to 40 g / l,
Nickel sulfate 0.1-6.0 g / l, citric acid 10-20 g /
l, hypophosphite 10-100 g / l, boric acid 10-40 g /
It is desirable to use an aqueous plating solution having a solution composition of 0.01 to 10 g / l of a surfactant.
【0030】酸化還元処理により粗化層を形成する場合
は、NaOH(10g/l)、NaClO2(40g/l)、Na3PO
4(6g/l)を酸化浴とし、NaOH(10g/l)、NaBH
4 (5g/l)を還元浴とすることが望ましい。When a roughened layer is formed by redox treatment, NaOH (10 g / l), NaClO 2 (40 g / l), Na 3 PO
4 (6 g / l) as an oxidation bath, NaOH (10 g / l), NaBH
4 (5 g / l) is desirably used as the reducing bath.
【0031】有機酸と第二銅錯体の混合水溶液を用いる
エッチング処理により粗化層を形成する場合は、メック
(株)製のCZ8100液に代表されるが、液中に含まれる2
価の銅の酸化力を利用して銅表面を凹凸にする。When a roughened layer is formed by etching using a mixed aqueous solution of an organic acid and a cupric complex, a CZ8100 solution manufactured by Mec Co., Ltd. is typically used.
The copper surface is made uneven using the oxidizing power of copper.
【0032】粗化層は、イオン化傾向が銅より大きくチ
タン以下である金属あるいは貴金属の層で被覆されてい
てもよい。この理由は、前記金属あるいは貴金属の層
は、粗化層を被覆し、層間絶縁層を粗化処理する際に導
体回路の局部電極反応を防止してその導体回路の溶解を
防止するからである。この層の厚さは0.01〜2μmがよ
い。The roughened layer may be covered with a layer of a metal or a noble metal having an ionization tendency larger than copper and equal to or smaller than titanium. The reason for this is that the metal or noble metal layer covers the roughened layer and prevents local electrode reaction of the conductor circuit when roughening the interlayer insulating layer, thereby preventing the conductor circuit from melting. . The thickness of this layer is preferably 0.01 to 2 μm.
【0033】このような金属としては、チタン、アルミ
ニウム、亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバルト、
ニッケル、スズ、鉛、ビスマスから選ばれる少なくとも
1種がある。また、貴金属としては、金、銀、白金、パ
ラジウムがある。なかでも、スズは、無電解置換めっき
により薄い層を形成でき、粗化層に追従できるため有利
である。このスズの場合は、ホウフッ化スズ−チオ尿
素、塩化スズ−チオ尿素液を使用し、Cu−Snの置換反応
により0.01〜2μm程度のSn層が形成される。一方、貴
金属の場合は、スパッタや蒸着などの方法が採用され
る。Examples of such metals include titanium, aluminum, zinc, iron, indium, thallium, cobalt,
There is at least one selected from nickel, tin, lead, and bismuth. The noble metals include gold, silver, platinum and palladium. Among them, tin is advantageous because it can form a thin layer by electroless displacement plating and can follow a roughened layer. In the case of tin, a Sn layer having a thickness of about 0.01 to 2 μm is formed by a replacement reaction of Cu—Sn using tin borofluoride-thiourea or tin chloride-thiourea liquid. On the other hand, in the case of a noble metal, a method such as sputtering or vapor deposition is adopted.
【0034】(3) 次に、スルーホール内に金属粒子ペー
ストを充填する。具体的には、金属粒子ペーストは、ス
ルーホール部分に開口を設けたマスクを載置した基板上
に、印刷法にて塗布することによりスルーホール内に充
填され、充填後、乾燥、硬化させる。この金属粒子ペー
ストは、金属粒子と樹脂からなり、必要に応じて溶剤を
添加してもよい。金属粒子としては、Cu、Au、Ag、Al、
Ni、Pd、Pt、Ti、Cr、Sn/Pbなどが使用できる。この金
属粒子の粒子径は、 1.0〜10μmがよい。また、使用さ
れる樹脂としては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポ
リイミド樹脂、ポリテトラフルオロエチレン(PTF
E)等のフッ素樹脂、ビスマレイミドトリアジン(B
T)樹脂、FEP、PFA、PPS、PEN、PES、
ナイロン、アラミド、PEEK、PEKK、PETなど
が使用できる。また、溶剤としては、NMP(ノルマル
メチルピロリドン)、DMDG(ジエチレングリコール
ジメチルエーテル)、グリセリン、水、1−又は2−又
は3−のシクロヘキサノール、シクロヘキサノン、メチ
ルセロソルブ、メチルセロソルブアセテート、メタノー
ル、エタノール、ブタノール、プロパノール、ビスフェ
ノールA型,F型のエポキシなどが使用できる。(3) Next, a metal particle paste is filled in the through holes. Specifically, the metal particle paste is filled in the through-hole by being applied by a printing method on a substrate on which a mask having an opening formed in the through-hole is placed, and after filling, dried and cured. This metal particle paste is composed of metal particles and a resin, and a solvent may be added as necessary. As metal particles, Cu, Au, Ag, Al,
Ni, Pd, Pt, Ti, Cr, Sn / Pb, etc. can be used. The particle size of the metal particles is preferably 1.0 to 10 μm. The resins used are epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, polytetrafluoroethylene (PTF).
E) and other fluororesins, bismaleimide triazine (B
T) Resin, FEP, PFA, PPS, PEN, PES,
Nylon, aramid, PEEK, PEKK, PET and the like can be used. Examples of the solvent include NMP (normal methyl pyrrolidone), DMDG (diethylene glycol dimethyl ether), glycerin, water, 1- or 2- or 3-cyclohexanol, cyclohexanone, methyl cellosolve, methyl cellosolve acetate, methanol, ethanol, butanol, Propanol, bisphenol A type, F type epoxy and the like can be used.
【0035】この金属粒子ペーストには、金属粒子と樹
脂の密着力を上げるために、シランカップリング剤など
の金属表面改質剤を添加してもよい。また、その他の添
加剤として、アクリル系消泡剤やシリコン系消泡剤など
の消泡剤、シリカやアルミナ、タルクなどの無機充填剤
を添加してもよい。In order to increase the adhesion between the metal particles and the resin, a metal surface modifier such as a silane coupling agent may be added to the metal particle paste. Further, as other additives, an antifoaming agent such as an acrylic antifoaming agent or a silicon-based antifoaming agent, or an inorganic filler such as silica, alumina, or talc may be added.
【0036】特に、この金属粒子ペーストの最適組成と
しては、重量比で7:3のCu粉と無溶剤エポキシの混合
物と硬化剤の組合せ、あるいは重量比で7:3:3のCu
粉とPPSとNMPの組合せが好ましい。In particular, the optimum composition of the metal particle paste is a combination of a mixture of a 7: 3 weight ratio of Cu powder and a solventless epoxy and a curing agent, or a 7: 3: 3 weight ratio of a Cu powder.
A combination of flour, PPS and NMP is preferred.
【0037】さらに、スルーホールからはみ出した金属
粒子ペーストおよび基板の電解めっき膜表面の粗化層を
研磨により除去して、基板表面を平坦化する。研磨は、
ベルトサンダーやバフ研磨がよい。この研磨により、金
属粒子の一部が表面に露出し、この露出した部分の金属
粒子と導体層のめっき皮膜が一体化して、良好な密着性
が発現する。Further, the metal particle paste protruding from the through-hole and the roughened layer on the surface of the electrolytic plating film of the substrate are removed by polishing to flatten the substrate surface. Polishing is
Belt sander and buffing are good. As a result of this polishing, a part of the metal particles is exposed on the surface, and the metal particles in the exposed portion are integrated with the plating film of the conductor layer, thereby exhibiting good adhesion.
【0038】(4) 前記(3) で平坦化した基板の表面に触
媒核を付与した後、無電解めっき、電解めっきを施し、
さらにエッチングレジストを形成し、レジスト非形成部
分をエッチングすることにより、導体回路部分および金
属粒子ペーストを覆う導体層部分を形成する。そのエッ
チング液としては、硫酸−過酸化水素の水溶液、過硫酸
アンモニウムや過硫酸ナトリウム、過硫酸カリウムなど
の過硫酸塩水溶液、塩化第二鉄や塩化第二銅の水溶液が
よい。(4) After providing a catalyst nucleus on the surface of the substrate planarized in the above (3), electroless plating and electrolytic plating are performed.
Further, an etching resist is formed, and a portion where the resist is not formed is etched to form a conductor layer portion covering the conductor circuit portion and the metal particle paste. As the etchant, an aqueous solution of sulfuric acid-hydrogen peroxide, an aqueous solution of persulfate such as ammonium persulfate, sodium persulfate, or potassium persulfate, or an aqueous solution of ferric chloride or cupric chloride is preferable.
【0039】(5) そして、エッチングレジストを剥離し
て、独立した導体回路および導体層とした後、その導体
回路および導体層の表面に、粗化層を形成する。導体回
路および金属粒子ペーストを覆う導体層の表面に粗化層
を形成すると、その導体は、層間樹脂絶縁層との密着性
に優れるので、導体回路および金属粒子ペーストを覆う
導体層の側面と樹脂絶縁層との界面を起点とするクラッ
クが発生しない。また一方で、金属粒子ペーストを覆う
導体層は、電気的に接続されるバイアホールとの密着性
が改善される。この粗化層の形成方法は、前述したとお
りであり、黒化(酸化)−還元処理、針状合金めっき、
あるいはエッチングして形成する方法などがある。さら
に、粗化後に、導体回路間に樹脂を充填し、表面を研磨
して平滑化してもよい。このときの充填樹脂としては、
ビスフェノールF型エポキシ樹脂、イミダゾール硬化剤
および無機粒子からなる組成物がよい。(5) Then, after the etching resist is peeled off to form independent conductor circuits and conductor layers, a roughened layer is formed on the surfaces of the conductor circuits and conductor layers. If a roughened layer is formed on the surface of the conductor layer covering the conductor circuit and the metal particle paste, the conductor has excellent adhesion to the interlayer resin insulation layer. No crack originating from the interface with the insulating layer. On the other hand, the conductor layer covering the metal particle paste has improved adhesion to via holes that are electrically connected. The method of forming the roughened layer is as described above, and includes blackening (oxidation) -reduction treatment, needle-like alloy plating,
Alternatively, there is a method of forming by etching. Further, after the roughening, a resin may be filled between the conductor circuits, and the surface may be polished and smoothed. At this time, as the filling resin,
A composition comprising a bisphenol F type epoxy resin, an imidazole curing agent and inorganic particles is preferred.
【0040】(6) このようにして作製した配線基板の上
に、層間樹脂絶縁層を形成する。層間樹脂絶縁層として
は、前述の無電解めっき用接着剤が採用される。具体的
には、基板に近い側の無電解めっき用接着剤層は、耐熱
性樹脂粒子の配合量を耐熱性樹脂マトリックスの固形分
に対して20〜50重量%とし、一方、他方側の無電解めっ
き用接着剤層は、耐熱性樹脂粒子の配合量を耐熱性樹脂
マトリックスの固形分に対して5重量%以上20重量%未
満とすることが望ましい。このような2種類の無電解め
っき用接着剤は、ロールコータやカーテンコータなどを
用いて基板上にそれぞれ塗布し乾燥される。(6) An interlayer resin insulation layer is formed on the wiring board thus manufactured. As the interlayer resin insulating layer, the above-described adhesive for electroless plating is employed. Specifically, in the adhesive layer for electroless plating on the side close to the substrate, the compounding amount of the heat-resistant resin particles is 20 to 50% by weight based on the solid content of the heat-resistant resin matrix, while In the adhesive layer for electrolytic plating, it is desirable that the amount of the heat-resistant resin particles is 5% by weight or more and less than 20% by weight based on the solid content of the heat-resistant resin matrix. These two types of adhesives for electroless plating are respectively applied to a substrate using a roll coater or a curtain coater and dried.
【0041】(7) 前記層間樹脂絶縁層を硬化し、バイア
ホール形成用の開口を設ける。硬化処理は、無電解めっ
き用接着剤の樹脂マトリックスが熱硬化性樹脂の場合
は、熱硬化により、また感光性樹脂の場合は、紫外線な
どの露光により行う。バイアホール形成用の開口は、無
電解めっき用接着剤の樹脂マトリックスが熱硬化性樹脂
の場合は、レーザ光や酸素プラズマなどにより、また感
光性樹脂の場合は、露光現像処理により形成する。特
に、露光現像処理の場合は、前述したバイアホール形成
のための円パターンが描画されたフォトマスク(ガラス
基板がよい)を感光性の層間樹脂絶縁層に密着させて載
置し、露光、現像処理する。(7) The interlayer resin insulation layer is cured to provide an opening for forming a via hole. The curing treatment is performed by thermosetting when the resin matrix of the adhesive for electroless plating is a thermosetting resin, and by exposure to ultraviolet rays or the like when the resin matrix is a photosensitive resin. The opening for forming the via hole is formed by laser light or oxygen plasma when the resin matrix of the adhesive for electroless plating is a thermosetting resin, or by exposure and development when the resin matrix is a photosensitive resin. In particular, in the case of exposure and development processing, a photomask (preferably a glass substrate) on which the above-described circular pattern for forming a via hole is drawn is placed in close contact with the photosensitive interlayer resin insulating layer, and is exposed and developed. To process.
【0042】前記無電解めっき用接着剤層の厚さは、45
μm以下、より好ましくは20〜45μmとすることが望ま
しい。この理由は、45μmを超えると、バイアホールを
小径化できず、 100μm未満のバイアホールが得られな
いからである。なお、無電解めっき用接着剤層の厚さを
45μm以下にした場合、耐熱性樹脂粒子の平均粒子径が
2μmを超えるようなものを使用すると、粗化処理によ
り層間が連通してしまう。この点、本発明で使用される
耐熱性樹脂粒子の平均粒径は 0.1〜1.0 μmと微小であ
るため、このような問題を解消できる。The adhesive layer for electroless plating has a thickness of 45
μm or less, more preferably 20 to 45 μm. The reason is that if it exceeds 45 μm, the diameter of the via hole cannot be reduced, and a via hole of less than 100 μm cannot be obtained. In addition, the thickness of the adhesive layer for electroless plating
When the average particle diameter of the heat-resistant resin particles is set to 45 μm or less and the average particle diameter of the heat-resistant resin particles exceeds 2 μm, the layers are communicated by the roughening treatment. In this regard, since the average particle size of the heat-resistant resin particles used in the present invention is as small as 0.1 to 1.0 μm, such a problem can be solved.
【0043】(8) 前記(7) で開口を形成した層間樹脂絶
縁層(無電解めっき用接着剤層)の表面を粗化する。無
電解めっき用接着剤を使用する本発明では、その接着剤
の表面に存在する樹脂粒子を酸あるいは酸化剤によって
溶解除去し、接着剤層表面を粗化処理する。この粗化に
よるアンカーの深さは、1〜5μm程度がよい。上記酸
としては、リン酸、塩酸、硫酸、あるいは蟻酸や酢酸な
どの有機酸があるが、特に有機酸を用いることが望まし
い。粗化処理した場合に、バイアホールから露出する金
属導体層を腐食させにくいからである。上記酸化剤とし
ては、クロム酸、過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウ
ムなど)を用いることが望ましい。(8) The surface of the interlayer resin insulation layer (adhesive layer for electroless plating) in which the openings are formed in (7) is roughened. In the present invention using an adhesive for electroless plating, resin particles present on the surface of the adhesive are dissolved and removed with an acid or an oxidizing agent, and the surface of the adhesive layer is roughened. The depth of the anchor by this roughening is preferably about 1 to 5 μm. Examples of the acid include phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, and organic acids such as formic acid and acetic acid, and it is particularly preferable to use an organic acid. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded. As the oxidizing agent, it is desirable to use chromic acid or permanganate (such as potassium permanganate).
【0044】(9) 前記層間樹脂絶縁層の粗化面に触媒核
を付与する。触媒核の付与には、貴金属イオンや貴金属
コロイドなどを用いることが望ましく、一般的には、塩
化パラジウムやパラジウムコロイドを使用する。なお、
触媒核を固定するために加熱処理を行うことが望まし
い。このような触媒核としてはパラジウムがよい。(9) A catalyst nucleus is provided on the roughened surface of the interlayer resin insulating layer. It is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid for providing the catalyst nucleus, and generally, palladium chloride or a palladium colloid is used. In addition,
It is desirable to perform a heat treatment to fix the catalyst core. Palladium is preferred as such a catalyst core.
【0045】(10)次に、層間樹脂絶縁層の粗化面に無電
解めっきを施し、全面に無電解めっき膜を形成する。こ
の無電解めっき膜の厚みは 0.1〜5μm、より望ましく
は 0.2〜2.0 μmである。無電解めっきは、無電解銅め
っきがよい。そのめっき液としては、常法のものを使用
でき、例えば、29g/lの硫酸銅、25g/lの炭酸ナト
リウム、 140g/lの酒石酸塩、40g/lの水酸化ナト
リウム、37%ホルムアルデヒド 150ml、pH=11.5か
らなる組成のものがよい。(10) Next, electroless plating is performed on the roughened surface of the interlayer resin insulating layer, and an electroless plated film is formed on the entire surface. The thickness of the electroless plating film is 0.1 to 5 μm, more preferably 0.2 to 2.0 μm. The electroless plating is preferably an electroless copper plating. As the plating solution, a conventional plating solution can be used. For example, 29 g / l copper sulfate, 25 g / l sodium carbonate, 140 g / l tartrate, 40 g / l sodium hydroxide, 37% formaldehyde 150 ml, A composition having a pH of 11.5 is preferred.
【0046】(11)前記(10)で形成した無電解めっき膜上
に、感光性樹脂フィルム(ドライフィルム)をラミネー
トし、その感光性樹脂フィルムにめっきレジストパター
ンが描画されたフォトマスク(ガラス基板がよい)を密
着させて載置し、露光、現像処理することにより、めっ
きレジストパターンを形成する。(11) A photosensitive resin film (dry film) is laminated on the electroless plating film formed in (10), and a photomask (glass substrate) on which a plating resist pattern is drawn on the photosensitive resin film. Are placed in close contact with each other, and exposed and developed to form a plating resist pattern.
【0047】(12)めっきレジスト非形成部に電解めっき
を施し、導体回路部分、ならびにバイアホールを設け
る。ここで、上記電解めっきとしては、銅めっきを用い
ることが望ましい。また、その厚みは、10〜20μmがよ
い。前記バイアホール内には、電解めっき膜を充填して
いわゆるフィルドビアを形成することが望ましい。この
理由は、層間樹脂絶縁層の平坦性を確保できるからであ
る。バイアホールは、基板に設けたスルーホールの直上
に形成されていてもよい。高密度化のためである。(12) Electroplating is applied to the portion where the plating resist is not formed to provide a conductor circuit portion and a via hole. Here, it is desirable to use copper plating as the electrolytic plating. The thickness is preferably 10 to 20 μm. It is preferable that an electrolytic plating film is filled in the via hole to form a so-called filled via. This is because the flatness of the interlayer resin insulating layer can be ensured. The via hole may be formed immediately above the through hole provided in the substrate. This is for higher density.
【0048】(13)めっきレジストを除去した後、そのめ
っきレジスト下の無電解めっき膜を、硫酸と過酸化水素
の混合液や過硫酸ナトリウム、過硫酸アンモニウム、塩
化第二鉄、塩化第二銅などのエッチング液で溶解除去
し、独立した導体回路とする。さらに、露出した粗化面
上のパラジウム触媒核をクロム酸などで溶解除去する。(13) After removing the plating resist, the electroless plating film under the plating resist is removed by using a mixture of sulfuric acid and hydrogen peroxide, sodium persulfate, ammonium persulfate, ferric chloride, cupric chloride, etc. Dissolves and removes with an etching solution of the above to form an independent conductor circuit. Further, the palladium catalyst nuclei on the exposed roughened surface are dissolved and removed with chromic acid or the like.
【0049】(14)そして、この基板上に前述の工程を繰
り返してさらに上層の導体回路を設けることができる。
以下、実施例に基づいて説明する。(14) The above steps can be repeated on this substrate to provide a further upper layer conductive circuit.
Hereinafter, description will be made based on embodiments.
【0050】[0050]
EDTA 150 g/l 硫酸銅 20 g/l HCHO 30 ml/l NaOH 40 g/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l PEG 0.1 g/l 〔無電解めっき条件〕 70℃の液温度で30分 EDTA 150 g / l Copper sulfate 20 g / l HCHO 30 ml / l NaOH 40 g / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.1 g / l [Electroless plating conditions] 30 minutes at a liquid temperature of 70 ° C.
【0051】ついで、以下の条件で電解銅めっきを施
し、厚さ15μmの電解銅めっき膜を形成した(図1(c)
参照)。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤(アトテックジャパン製、商品名:カパラシドGL) 1 ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 1A/dm2 時間 30分 温度 室温Then, electrolytic copper plating was performed under the following conditions to form an electrolytic copper plating film having a thickness of 15 μm (FIG. 1 (c)).
reference). [Electroplating aqueous solution] Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive (manufactured by Atotech Japan, trade name: Capparaside GL) 1 ml / l [Electroplating conditions] Current density 1 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature Room temperature
【0052】(2) 全面に無電解銅めっき膜と電解銅めっ
き膜からなる導体(スルーホールを含む)を形成した基
板を、水洗いし、乾燥した後、NaOH(10g/l)、NaCl
O2(40g/l)、Na3PO4(6g/l)を酸化浴(黒化
浴)、NaOH(10g/l)、NaBH4(6g/l)を還元浴
とする酸化還元処理に供し、そのスルーホール3を含む
導体の全表面に粗化層4を設けた(図1(d) 参照)。(2) A substrate having a conductor (including through holes) formed of an electroless copper plating film and an electrolytic copper plating film formed on the entire surface is washed with water, dried, and then washed with NaOH (10 g / l), NaCl
O 2 (40 g / l) and Na 3 PO 4 (6 g / l) are subjected to an oxidation-reduction treatment using an oxidation bath (blackening bath), NaOH (10 g / l), and NaBH 4 (6 g / l) as a reduction bath. A roughened layer 4 was provided on the entire surface of the conductor including the through hole 3 (see FIG. 1 (d)).
【0053】(3) 次に、平均粒径15μmの銅粒子を含む
金属粒子ペースト(タツタ電線製、DDペースト:非導
電性穴埋め銅ペースト)5を、スルーホール3内にスク
リーン印刷によって充填し、 100℃で30分、 180℃で2
時間の条件で乾燥、硬化させた。そして、導体上面の粗
化面およびスルーホール3からはみ出した金属粒子ペー
スト5を、#400 のベルト研磨紙(三共理化学製)を用
いたベルトサンダー研磨により除去し、さらに、このベ
ルトサンダー研磨による傷を取り除くために、アルミナ
研粒やSiC研粒によるバフ研磨を行い、基板表面を平坦
化した(図1(e)参照)。(3) Next, a metal particle paste 5 containing copper particles having an average particle diameter of 15 μm (manufactured by Tsuta Electric Wire Co., Ltd., DD paste: non-conductive filled copper paste) 5 is filled into the through hole 3 by screen printing. 30 minutes at 100 ℃, 2 at 180 ℃
It was dried and cured under the conditions of time. Then, the metal particle paste 5 protruding from the roughened surface on the upper surface of the conductor and the through hole 3 is removed by belt sanding using # 400 belt abrasive paper (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd.). In order to remove this, the substrate surface was flattened by buffing using alumina granulation or SiC granulation (see FIG. 1 (e)).
【0054】(4) 前記(3) で平坦化した基板表面に、パ
ラジウム触媒(アトテック製)を付与し、常法に従って
無電解銅めっきを施すことにより、厚さ 0.6μmの無電
解銅めっき膜6を形成した(図1(f) 参照)。(4) An electroless copper plating film having a thickness of 0.6 μm is formed by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the substrate surface flattened in the above (3) and performing electroless copper plating according to a conventional method. 6 was formed (see FIG. 1 (f)).
【0055】(5) ついで、以下の条件で電解銅めっきを
施し、厚さ15μmの電解銅めっき膜7を形成し、導体回
路9となる部分の厚付け、およびスルーホール3に充填
された金属粒子ペースト5を覆う導体層10となる部分を
形成した。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤(アトテックジャパン製、商品名:カパラシドGL) 1 ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 1A/dm2 時間 30分 温度 室温(5) Next, electrolytic copper plating is performed under the following conditions to form an electrolytic copper plating film 7 having a thickness of 15 μm, a portion to be a conductor circuit 9 is thickened, and a metal filled in the through hole 3 is formed. A portion to be the conductor layer 10 covering the particle paste 5 was formed. [Electroplating aqueous solution] Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive (manufactured by Atotech Japan, trade name: Capparaside GL) 1 ml / l [Electroplating conditions] Current density 1 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature Room temperature
【0056】(6) 導体回路9および導体層10となる部分
を形成した基板の両面に、市販の感光性ドライフィルム
を張り付け、マスク載置して、100 mJ/cm2 で露光、0.
8 %炭酸ナトリウムで現像処理し、厚さ15μmのエッチ
ングレジスト8を形成した(図2(a) 参照)。(6) A commercially available photosensitive dry film is stuck on both sides of the substrate on which the portions to be the conductor circuits 9 and the conductor layers 10 are formed, a mask is placed, and exposure is performed at 100 mJ / cm 2 .
The film was developed with 8% sodium carbonate to form an etching resist 8 having a thickness of 15 μm (see FIG. 2A).
【0057】(7) そして、エッチングレジスト8を形成
してない部分のめっき膜を、硫酸と過酸化水素の混合液
を用いるエッチングにて溶解除去し、さらに、エッチン
グレジスト8を5%KOHで剥離除去して、独立した導
体回路9および金属粒子ペースト5を覆う導体層10を形
成した(図2(b) 参照)。さらに、酸化還元処理して導
体表面を粗化処理した。(7) Then, the plating film in the portion where the etching resist 8 is not formed is dissolved and removed by etching using a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide, and the etching resist 8 is stripped with 5% KOH. After removal, a conductor layer 10 covering the independent conductor circuit 9 and the metal particle paste 5 was formed (see FIG. 2 (b)). Further, the conductor surface was roughened by an oxidation-reduction treatment.
【0058】〔樹脂充填剤の調製〕 ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル
製、分子量 310、YL983U)100重量部、表面にシランカ
ップリング剤がコーティングされた平均粒径1.6μmのS
iO2 球状粒子(アドマテック製、CRS 1101−CE、ここ
で、最大粒子の大きさは後述する内層銅パターンの厚み
(15μm)以下とする) 170重量部、レベリング剤(サ
ンノプコ製、ペレノールS4)1.5 重量部を3本ロール
にて混練して、その混合物の粘度を23±1℃で45,000〜
49,000cps に調整した。 イミダゾール硬化剤(四国化成製、2E4MZ-CN)6.5 重
量部。これらを混合して樹脂充填剤12aを調製した。[Preparation of Resin Filler] 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell, molecular weight: 310, YL983U), S having an average particle size of 1.6 μm and having a surface coated with a silane coupling agent
iO 2 spherical particles (manufactured by Admatech, CRS 1101-CE, where the maximum particle size is not more than the thickness (15 μm) of the inner layer copper pattern described below) 170 parts by weight, leveling agent (manufactured by San Nopco, Perenol S4) 1.5 The weight of the mixture is kneaded with three rolls and the viscosity of the mixture is 45,000 ~ at 23 ± 1 ° C.
Adjusted to 49,000cps. 6.5 parts by weight of imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals). These were mixed to prepare a resin filler 12a.
【0059】(8) 調製した樹脂充填剤12aを、基板の片
面にロールコータを用いて塗布することにより、導体回
路9または導体層10の間に充填し、70℃, 20分間で乾燥
させ、他方の面についても同様にして樹脂充填剤12aを
導体回路9または導体層10の間に充填し、70℃,20分間
で加熱乾燥させた。(8) The prepared resin filler 12a is applied to one surface of the substrate using a roll coater to fill the space between the conductor circuits 9 or the conductor layers 10 and dried at 70 ° C. for 20 minutes. Similarly, the other surface was filled with the resin filler 12a between the conductor circuit 9 or the conductor layer 10, and dried by heating at 70 ° C. for 20 minutes.
【0060】(9) 前記の処理を終えた基盤の片面を、#
600 のベルト研磨紙(三共理化学製)を用いたベルトサ
ンダー研磨により、内層銅パターン9,10の表面に樹脂
充填剤12aが残らないように研磨し、次いで、前記ベル
トサンダー研磨による傷を取り除くためのバフ研磨を行
った。このような一連の研磨を基板の他方の面について
も同様に行った。次いで、 100℃で1時間、 120℃で3
時間、 150℃で1時間、 180℃で7時間の加熱処理を行
って樹脂充填剤12aを硬化した。(9) Replace one side of the substrate after the above processing with #
Belt sanding using 600 belt polishing papers (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd.) so that the resin filler 12a does not remain on the surface of the inner layer copper patterns 9 and 10, and then to remove the scratches caused by the belt sanding. Was buffed. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate. Then at 100 ° C for 1 hour and at 120 ° C for 3 hours.
Heat treatment was performed for 1 hour at 150 ° C. and for 7 hours at 180 ° C. to cure the resin filler 12a.
【0061】(10)次に、導体回路9および金属粒子ペー
スト5を覆う導体層10の表面にCu−Ni−P合金からなる
厚さ 2.5μmの粗化層(凹凸層)11を形成し、さらにこ
の粗化層11の表面に厚さ0.05μmのSn層を形成した(図
2(c) 参照、Sn層については図示しない)。その形成方
法は以下のようである。即ち、基板を酸性脱脂してソフ
トエッチングし、次いで、塩化パラジウムと有機酸から
なる触媒溶液で処理して、Pd触媒を付与し、この触媒を
活性化した後、硫酸銅8g/l、硫酸ニッケル 0.6g/
l、クエン酸15g/l、次亜リン酸ナトリウム29g/
l、ホウ酸31g/l、界面活性剤 0.1g/l、pH=9
からなる無電解めっき浴にてめっきを施し、銅導体回路
の全表面にCu−Ni−P合金からなる厚さ 2.5μmの粗化
層11(凹凸層)を形成した。さらに0.1mol/lホウふっ
化スズ−1.0mol/lチオ尿素液からなる無電解スズ置換
めっき浴に50℃で1時間浸漬し、前記粗化層の表面に厚
さ0.05μmのスズ置換めっき層を設けた。(10) Next, on the surface of the conductor layer 10 covering the conductor circuit 9 and the metal particle paste 5, a 2.5 μm-thick roughened layer (irregular layer) 11 made of a Cu—Ni—P alloy is formed. Further, a Sn layer having a thickness of 0.05 μm was formed on the surface of the roughened layer 11 (see FIG. 2C, the Sn layer is not shown). The formation method is as follows. That is, the substrate was acid-degreased and soft-etched, and then treated with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid to provide a Pd catalyst. After activating this catalyst, copper sulfate 8 g / l, nickel sulfate 0.6g /
l, citric acid 15 g / l, sodium hypophosphite 29 g /
1, boric acid 31 g / l, surfactant 0.1 g / l, pH = 9
The surface of the copper conductor circuit was formed with a 2.5 μm-thick roughened layer 11 (concavo-convex layer) on the entire surface of the copper conductor circuit. Further, it was immersed in an electroless tin displacement plating bath composed of 0.1 mol / l tin borofluoride-1.0 mol / l thiourea solution at 50 ° C. for 1 hour, and a 0.05 μm thick tin displacement plating layer was formed on the surface of the roughened layer. Was provided.
【0062】(11)無電解めっき用接着剤を次のように調
製した。 〔基板に近い側(下層)の接着剤〕 .クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬
製、分子量2500)の25%アクリル化物を35重量部(固形
分80%)、感光性モノマー(東亜合成製、商品名:アロ
ニックスM315 )4重量部、消泡剤(サンノプコ製、商
品名:S−65)0.5重量部、NMPを3.6 重量部を攪拌
混合した。 .ポリエーテルスルフォン(PES)8重量部、エポ
キシ樹脂粒子(三洋化成製、商品名:ポリマーポール)
の平均粒径 0.5μmのものを14.49 重量部、を混合した
後、さらにNMP20重量部を添加し、攪拌混合した。 .イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名:2E4MZ-
CN)2重量部、光開始剤(チバガイギー製、商品名:イ
ルガキュア I−907 )2重量部、光増感剤(日本化薬
製、商品名:DETX-S) 0.2重量部、NMP 1.5重量部を
攪拌混合した。これらを混合して無電解めっき用接着剤
を得た。(11) An adhesive for electroless plating was prepared as follows. [Adhesive on side (lower layer) close to substrate] 35 parts by weight (solid content: 80%) of 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight: 2500), 4 parts by weight of photosensitive monomer (manufactured by Toa Gosei, trade name: Aronix M315), defoaming 0.5 part by weight of an agent (manufactured by San Nopco, trade name: S-65) and 3.6 parts by weight of NMP were mixed with stirring. . 8 parts by weight of polyethersulfone (PES), epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemicals, trade name: polymer pole)
Was mixed with 14.49 parts by weight of an average particle size of 0.5 μm, and then 20 parts by weight of NMP was further added thereto, followed by stirring and mixing. . Imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-
2 parts by weight of CN), 2 parts by weight of photoinitiator (manufactured by Ciba Geigy, trade name: Irgacure I-907), 0.2 parts by weight of photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku, trade name: DETX-S), 1.5 parts by weight of NMP Was mixed with stirring. These were mixed to obtain an adhesive for electroless plating.
【0063】〔基板の反対側(上層)の接着剤〕 .クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬
製、分子量2500)の25%アクリル化物を35重量部(固形
分80%)、感光性モノマー(東亜合成製、商品名:アロ
ニックスM315 )4重量部、消泡剤(サンノプコ製、商
品名:S−65)0.5重量部、NMPを 3.6重量部を攪拌
混合した。 .ポリエーテルスルフォン(PES)8重量部、エポ
キシ樹脂粒子(三洋化成製、商品名:ポリマーポール)
の平均粒径0.5 μmのものを7.245 重量部、を混合した
後、さらにNMP20重量部を添加し攪拌混合した。 .イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名:2E4MZ-
CN)2重量部、光開始剤(チバガイギー製、商品名:イ
ルガキュア I−907 )2重量部、光増感剤(日本化薬
製、商品名:DETX-S) 0.2重量部、NMP1.5 重量部を
攪拌混合した。これらを混合して無電解めっき用接着剤
を得た。[Adhesive on Opposite Side (Upper Layer) of Substrate] 35 parts by weight (solid content: 80%) of 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight: 2500), 4 parts by weight of photosensitive monomer (manufactured by Toa Gosei, trade name: Aronix M315), defoaming 0.5 part by weight of an agent (manufactured by San Nopco, trade name: S-65) and 3.6 parts by weight of NMP were mixed with stirring. . 8 parts by weight of polyethersulfone (PES), epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemicals, trade name: polymer pole)
Was mixed with 7.245 parts by weight of a powder having an average particle size of 0.5 μm, and then 20 parts by weight of NMP was further added and mixed with stirring. . Imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-
2 parts by weight of CN), 2 parts by weight of photoinitiator (manufactured by Ciba-Geigy, trade name: Irgacure I-907), 0.2 parts by weight of photosensitizer (manufactured by Nippon Kayaku, trade name: DETX-S), 1.5 parts by weight of NMP Parts were stirred and mixed. These were mixed to obtain an adhesive for electroless plating.
【0064】(12)前記(11)で調製した感光性の接着剤溶
液を、基板の両面に、順次ロールコータを用いて塗布
し、水平状態で20分間放置してから、60℃で30分間の乾
燥を行い、厚さ60μmの接着剤層12b(2層構造)を形
成した(図2(d) 参照)。さらに、この接着剤層12b上
に粘着剤を介してポリエチレンテレフタレートフィルム
を貼付した。(12) The photosensitive adhesive solution prepared in the above (11) was sequentially applied to both sides of the substrate by using a roll coater, left in a horizontal state for 20 minutes, and then left at 60 ° C. for 30 minutes. Was dried to form an adhesive layer 12b (two-layer structure) having a thickness of 60 μm (see FIG. 2 (d)). Further, a polyethylene terephthalate film was stuck on the adhesive layer 12b via an adhesive.
【0065】(13)前記接着剤層12bを形成した基板の両
面に、厚さ5μmの遮光インクによってバイアホールと
同形の円パターン(マスクパターン)が描画された厚さ
5mmのソーダライムガラス基板を円パターンが描画され
た側を接着剤層12bに密着させて載置し、紫外線を照射
して露光した。(13) A 5 mm-thick soda lime glass substrate on which a circular pattern (mask pattern) having the same shape as the via hole is drawn on both sides of the substrate on which the adhesive layer 12b is formed, with a light-shielding ink having a thickness of 5 μm. The side on which the circular pattern was drawn was placed in close contact with the adhesive layer 12b, and was exposed to ultraviolet light.
【0066】(14)露光した基板をDMTG(トリエチレ
ングリコールジメチルエーテル)溶液でスプレー現像す
ることにより、接着剤層12bに80μmφのバイアホール
となる開口を形成した。さらに、当該基板を超高圧水銀
灯にて3000mJ/cm2 で露光し、100℃で1時間、その後
150℃で5時間にて加熱処理することにより、フォトマ
スクフィルムに相当する寸法精度に優れた開口(バイア
ホール形成用開口13)を有する厚さ35μmの接着剤層12
bを形成した(図2(e) 参照)。なお、バイアホールと
なる開口には、粗化層を部分的に露出させる。(14) The exposed substrate was spray-developed with a DMTG (triethylene glycol dimethyl ether) solution to form an opening serving as a 80 μmφ via hole in the adhesive layer 12b. Further, the substrate is exposed at 3000 mJ / cm 2 using an ultra-high pressure mercury lamp, and is exposed at 100 ° C. for 1 hour.
By performing the heat treatment at 150 ° C. for 5 hours, an adhesive layer 12 having a thickness of 35 μm having openings (opening 13 for forming via holes) having excellent dimensional accuracy corresponding to a photomask film.
b was formed (see FIG. 2 (e)). Note that the roughened layer is partially exposed in the opening serving as the via hole.
【0067】(15)前記バイアホール形成用開口13を形成
した基板を、クロム酸に10分間浸漬し、接着剤層表面に
存在するエポキシ樹脂粒子を溶解除去して、当該接着剤
層の表面を粗化し、その後、中和溶液(シプレイ社製)
に浸漬してから水洗した。(15) The substrate on which the via hole forming openings 13 are formed is immersed in chromic acid for 10 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the adhesive layer, thereby removing the surface of the adhesive layer. Roughened, then neutralized solution (Shipley)
And then washed with water.
【0068】(16)前記粗面化処理(粗化深さ5μm)を
行った基板に対し、パラジウム触媒(アトテック製)を
付与することにより、接着剤層12bおよびバイアホール
用開口13の表面に触媒核を付与した。(16) A palladium catalyst (manufactured by Atotech) is applied to the substrate that has been subjected to the surface roughening treatment (roughening depth: 5 μm), so that the surface of the adhesive layer 12 b and the surface of the via hole opening 13 are formed. A catalyst core was provided.
【0069】(17)以下に示す組成の無電解銅めっき水溶
液中に基板を浸漬して、粗面全体に厚さ 0.6μmの無電
解銅めっき膜14を形成した(図3(a) 参照)。〔無電解
めっき水溶液〕 EDTA 150 g/l 硫酸銅 20 g/l HCHO 30 ml/l NaOH 40 g/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l PEG 0.1 g/l 〔無電解めっき条件〕 70℃の液温度で30分(17) The substrate was immersed in an aqueous electroless copper plating solution having the following composition to form an electroless copper plating film 14 having a thickness of 0.6 μm on the entire rough surface (see FIG. 3A). . [Electroless plating aqueous solution] EDTA 150 g / l Copper sulfate 20 g / l HCHO 30 ml / l NaOH 40 g / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.1 g / l [Electroless plating conditions] 70 ° C. 30 minutes at liquid temperature
【0070】(18)市販の感光性樹脂フィルム(ドライフ
ィルム)を無電解銅めっき膜14に熱圧着して張り付ける
ともに、クロム層によって、めっきレジスト非形成部分
がマスクパターンとして描画された厚さ5mmのソーダラ
イムガラス基板を、クロム層が形成された側を感光性樹
脂フィルムに密着させて、110 mJ/cm2 で露光、0.8 %
炭酸ナトリウムで現像処理し、L/S=25/25μmで厚
さ15μmのめっきレジスト16のパターンを設けた(図3
(b) 参照)。(18) A commercially available photosensitive resin film (dry film) is thermocompression-bonded to the electroless copper plating film 14 and the thickness of the chromium layer in which the plating resist non-formed portion is drawn as a mask pattern A 5 mm soda lime glass substrate is contacted with the photosensitive resin film on the side on which the chromium layer is formed, and exposed at 110 mJ / cm 2 , 0.8%
After developing with sodium carbonate, a pattern of a plating resist 16 having a thickness of 15 μm with L / S = 25/25 μm was provided (FIG. 3).
(b)).
【0071】(19)ついで、以下の条件で電解銅めっきを
施し、厚さ15μmの電解銅めっき膜15を形成した(図3
(c) 参照)。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤(アトテックジャパン製、商品名:カパラシドGL) 1 ml/l 〔電解めっき条件〕 電流密度 1.2 A/dm2 時間 30分 温度 室温(19) Then, electrolytic copper plating was performed under the following conditions to form an electrolytic copper plating film 15 having a thickness of 15 μm (FIG. 3).
(c)). [Electroplating aqueous solution] Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive (manufactured by Atotech Japan, trade name: Capparaside GL) 1 ml / l [Electroplating conditions] Current density 1.2 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature Room temperature
【0072】(20)めっきレジスト16を5%KOHをスプ
レーして剥離除去した後、そのめっきレジスト16下の無
電解めっき膜14を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチン
グ処理して溶解除去し、無電解銅めっき膜14と電解銅め
っき膜15からなる厚さ18μmでL/S=25/25μmの内
層導体回路9(バイアホール17を含む)を形成した(図
3(d) 参照)。さらに、粗化面に残っているPdをクロム
酸(800 g/l)に1〜10分浸漬して除去した。(20) After the plating resist 16 is removed by spraying 5% KOH, the electroless plating film 14 under the plating resist 16 is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide. Then, an inner conductor circuit 9 (including via holes 17) having an L / S of 25/25 μm and a thickness of 18 μm comprising the electroless copper plating film 14 and the electrolytic copper plating film 15 was formed (see FIG. 3D). Further, Pd remaining on the roughened surface was immersed in chromic acid (800 g / l) for 1 to 10 minutes and removed.
【0073】(21)前記(20)で導体回路9(バイアホール
17を含む)を形成した基板を、硫酸銅8g/l、硫酸ニ
ッケル 0.6g/l、クエン酸15g/l、次亜リン酸ナト
リウム29g/l、ホウ酸31g/l、界面活性剤 0.1g/
lからなるpH=9の無電解めっき液に浸漬し、該導体
回路の表面に厚さ3μmの銅−ニッケル−リンからなる
粗化層11を形成した。このとき、粗化層11をEPMA
(蛍光X線分析)で分析したところ、Cu 98mol%、Ni
1.5mol %、P 0.5 mol%の組成比を示した。そしてさ
らに、その基板を水洗いし、0.1mol/lホウふっ化スズ
−1.0mol/lチオ尿素液からなる無電解スズ置換めっき
浴に50℃で1時間浸漬し、前記粗化層11の表面に厚さ0.
05μmのスズ置換めっき層を形成した(但し、スズ置換
めっき層については図示しない)。(21) In the above (20), the conductor circuit 9 (via hole)
17 g), copper sulfate 8 g / l, nickel sulfate 0.6 g / l, citric acid 15 g / l, sodium hypophosphite 29 g / l, boric acid 31 g / l, surfactant 0.1 g /
1 was immersed in an electroless plating solution having a pH of 9 to form a roughened layer 11 made of copper-nickel-phosphorus having a thickness of 3 μm on the surface of the conductor circuit. At this time, the roughened layer 11 is
(Fluorescence X-ray analysis) showed that 98 mol% of Cu,
The composition ratio was 1.5 mol% and P 0.5 mol%. Further, the substrate is washed with water, immersed in an electroless tin displacement plating bath composed of 0.1 mol / l tin borofluoride-1.0 mol / l thiourea solution at 50 ° C. for 1 hour, and the surface of the roughened layer 11 is Thickness 0.
A tin-substituted plating layer of 05 μm was formed (however, the tin-substituted plating layer is not shown).
【0074】(22)前記 (11) 〜(21)の工程を繰り返すこ
とにより、さらに上層の層間樹脂絶縁層12bと導体回路
9(バイアホール17を含む)を設け、多層配線基板を得
た(図4(a) 参照)。なお、ここでは、導体回路の表面
に銅−ニッケル−リンからなる粗化層11を設けるが、こ
の粗化層表面にはスズ置換めっき層を形成しない。(22) By repeating the above steps (11) to (21), an upper interlayer resin insulating layer 12b and a conductor circuit 9 (including via holes 17) are further provided to obtain a multilayer wiring board. (See FIG. 4 (a)). Here, the roughened layer 11 made of copper-nickel-phosphorus is provided on the surface of the conductor circuit, but the tin-substituted plating layer is not formed on the roughened layer surface.
【0075】(23)一方、DMDGに溶解させた60重量%
のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製)
のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオリゴ
マー(分子量4000)を 46.67重量部、メチルエチルケト
ンに溶解させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ
樹脂(油化シェル製、商品名:エピコート1001)15.0重
量部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名:2E4M
Z-CN)1.6 重量部、感光性モノマーである多価アクリル
モノマー(日本化薬製、商品名:R604 )3重量部、同
じく多価アクリルモノマー(共栄社化学製、商品名:DP
E6A ) 1.5重量部、分散系消泡剤(サンノプコ社製、商
品名:S−65)0.71重量部を混合し、さらにこの混合物
に対して光開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学
製)を2重量部、光増感剤としてのミヒラーケトン(関
東化学製)0.2 重量部を加えて、粘度を25℃で 2.0Pa・
sに調整したソルダーレジスト組成物を得た。なお、粘
度測定は、B型粘度計(東京計器、 DVL-B型)で 60rpm
の場合はローターNo.4、6rpm の場合はローターNo.3に
よった。(23) On the other hand, 60% by weight dissolved in DMDG
Cresol novolak epoxy resin (Nippon Kayaku)
14.6% bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell Co., trade name: Epikote 1001) in which 46.67 parts by weight of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylate of 50% of epoxy groups of the above is dissolved in methyl ethyl ketone 15.0 Parts by weight, imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, trade name: 2E4M
1.6 parts by weight of Z-CN), 3 parts by weight of a photosensitive acrylic monomer (manufactured by Nippon Kayaku, trade name: R604), and also a polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical, trade name: DP)
E6A) 1.5 parts by weight, 0.71 part by weight of a dispersion antifoaming agent (manufactured by San Nopco, trade name: S-65), and 2 parts by weight of benzophenone (manufactured by Kanto Kagaku) as a photoinitiator based on the mixture. Parts, 0.2 parts by weight of Michler's ketone (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) as a photosensitizer, and added a viscosity of 2.0 Pa ·
s was obtained. The viscosity was measured at 60 rpm using a B-type viscometer (Tokyo Keiki, DVL-B type).
In the case of No. 4, the rotor No. 4 was used, and in the case of 6 rpm, the rotor No. 3 was used.
【0076】(24)前記(22)で得られた多層配線基板の両
面に、上記ソルダーレジスト組成物を20μmの厚さで塗
布した。次いで、70℃で20分間、70℃で30分間の乾燥処
理を行った後、クロム層によってソルダーレジスト開口
部の円パターン(マスクパターン)が描画された厚さ5
mmのソーダライムガラス基板を、クロム層が形成され
た側をソルダーレジスト層に密着させて1000mJ/cm2 の
紫外線で露光し、DMTG現像処理した。さらに、80℃で1
時間、 100℃で1時間、 120℃で1時間、 150℃で3時
間の条件で加熱処理し、はんだパッドの上面、バイアホ
ールおよびランド部分を開口した(開口径 200μm)ソ
ルダーレジストパターン層18(厚み20μm)を形成し
た。(24) The solder resist composition was applied to both sides of the multilayer wiring board obtained in the above (22) in a thickness of 20 μm. Next, after performing a drying process at 70 ° C. for 20 minutes and a temperature of 70 ° C. for 30 minutes, a thickness 5 on which a circular pattern (mask pattern) of the solder resist opening is drawn by the chromium layer
A soda lime glass substrate having a thickness of 2 mm was exposed to ultraviolet light of 1000 mJ / cm 2 with the side on which the chromium layer was formed in close contact with the solder resist layer, and subjected to DMTG development treatment. In addition, at 80 ° C
Heat treatment at 100 ° C. for 1 hour, 120 ° C. for 1 hour, and 150 ° C. for 3 hours. The solder resist pattern layer 18 (opening diameter: 200 μm) with openings on the upper surface of the solder pads, via holes and lands (opening diameter: 200 μm) (Thickness: 20 μm).
【0077】(25)次に、ソルダーレジストパターン層18
を形成した基板を、塩化ニッケル30g/l、次亜リン酸
ナトリウム10g/l、クエン酸ナトリウム10g/lから
なるpH=5の無電解ニッケルめっき液に20分間浸漬し
て、開口部に厚さ5μmのニッケルめっき層19を形成し
た。さらに、その基板を、シアン化金カリウム2g/
l、塩化アンモニウム75g/l、クエン酸ナトリウム50
g/l、次亜リン酸ナトリウム10g/lからなる無電解
金めっき液に93℃の条件で23秒間浸漬して、ニッケルめ
っき層19上に厚さ0.03μmの金めっき層20を形成した。(25) Next, the solder resist pattern layer 18
The substrate on which was formed was immersed in an electroless nickel plating solution having a pH of 5 consisting of 30 g / l of nickel chloride, 10 g / l of sodium hypophosphite, and 10 g / l of sodium citrate for 20 minutes, and the thickness of the opening was measured. A nickel plating layer 19 of 5 μm was formed. Further, the substrate was treated with 2 g of potassium potassium cyanide /
l, ammonium chloride 75 g / l, sodium citrate 50
A gold plating layer 20 having a thickness of 0.03 μm was formed on the nickel plating layer 19 by immersion in an electroless gold plating solution consisting of g / l and sodium hypophosphite 10 g / l at 93 ° C. for 23 seconds.
【0078】(26)そして、ソルダーレジストパターン層
18の開口部に、はんだペーストを印刷して 200℃でリフ
ローすることによりはんだバンプ(はんだ体)21を形成
し、はんだバンプ21を有する多層プリント配線板を製造
した(図4(b) 参照)。(26) Solder resist pattern layer
Solder paste (printed solder paste) was printed in the opening 18 and reflowed at 200 ° C. to form a solder bump (solder body) 21 to manufacture a multilayer printed wiring board having the solder bump 21 (see FIG. 4B). .
【0079】(比較例1)無電解めっき用接着剤層を1
層とし、すべて上層側の条件で調製したものを使用した
こと以外は、実施例1と同様にしてはんだバンプを有す
る多層プリント配線板を製造した。(Comparative Example 1) The adhesive layer for electroless plating was 1
A multilayer printed wiring board having solder bumps was manufactured in the same manner as in Example 1, except that the layers were all prepared under the conditions of the upper layer side.
【0080】(比較例2)無電解めっき用接着剤層を1
層とし、すべて下層側の条件で調製したものを使用した
こと以外は、実施例1と同様にしてはんだバンプを有す
る多層プリント配線板を製造した。(Comparative Example 2) The adhesive layer for electroless plating was 1
A multilayer printed wiring board having solder bumps was manufactured in the same manner as in Example 1, except that the layers were all prepared under the lower layer conditions.
【0081】このようにして製造した多層プリント配線
板について、以下に示す評価を行った。その結果を表1
に示す。 (評価)L/S=25/25μmの配線パターンを形成
し、断線の有無を調べた。 (評価)粗化処理後のバイアホール底部の樹脂残りの
有無を電子顕微鏡で観察した。The multilayer printed wiring board thus manufactured was evaluated as described below. Table 1 shows the results.
Shown in (Evaluation) A wiring pattern of L / S = 25/25 μm was formed, and the presence or absence of disconnection was examined. (Evaluation) The presence or absence of resin residue at the bottom of the via hole after the roughening treatment was observed with an electron microscope.
【0082】[0082]
【表1】 [Table 1]
【0083】[0083]
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、微
細なバイアホールおよびファインパターンを形成でき、
しかもバイアホール底部の現像残りもない信頼性に優れ
る多層プリント配線板を提供することができる。As described above, according to the present invention, fine via holes and fine patterns can be formed.
Moreover, it is possible to provide a multilayer printed wiring board having excellent reliability without developing residue at the bottom of the via hole.
【図1】(a)〜(f) は、本発明の多層プリント配線板を
製造する工程の一部を示す図である。1 (a) to 1 (f) are views showing a part of a process for manufacturing a multilayer printed wiring board of the present invention.
【図2】(a)〜(e) は、本発明の多層プリント配線板を
製造する工程の一部を示す図である。2 (a) to 2 (e) are views showing a part of a process for manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図3】(a)〜(d) は、本発明の多層プリント配線板を
製造する工程の一部を示す図である。FIGS. 3 (a) to 3 (d) are views showing a part of a process of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図4】(a), (b) は、本発明の多層プリント配線板を
製造する工程の一部を示す図である。FIGS. 4A and 4B are diagrams illustrating a part of a process of manufacturing a multilayer printed wiring board according to the present invention.
1 基板 2 銅箔 3 スルーホール 4,11 粗化層 5 金属粒子ペースト 6,14 無電解めっき膜 7,15 電解めっき膜 8 エッチングレジスト 9 導体回路 10 導体層 12a 樹脂充填剤 12b 層間樹脂絶縁層 13 バイアホール用開口 16 めっきレジスト 17 バイアホール 18 ソルダーレジスト層 19 ニッケルめっき層 20 金めっき層 21 はんだバンプ(はんだ体) DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Copper foil 3 Through hole 4,11 Roughened layer 5 Metal particle paste 6,14 Electroless plating film 7,15 Electrolytic plating film 8 Etching resist 9 Conductor circuit 10 Conductive layer 12a Resin filler 12b Interlayer resin insulating layer 13 Via hole opening 16 Plating resist 17 Via hole 18 Solder resist layer 19 Nickel plating layer 20 Gold plating layer 21 Solder bump (solder)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI H05K 3/18 H05K 3/18 K 3/38 3/38 A (56)参考文献 特開 平9−266375(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H05K 3/46 C09J 163/00 C23C 18/20 H05K 3/18 H05K 3/38 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI H05K 3/18 H05K 3/18 K 3/38 3/38 A (56) References JP-A-9-266375 (JP, A) (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) H05K 3/46 C09J 163/00 C23C 18/20 H05K 3/18 H05K 3/38
Claims (5)
いは酸化剤に難溶性の硬化処理された耐熱性樹脂マトリ
ックス中に酸あるいは酸化剤に可溶性の硬化処理された
耐熱性樹脂粒子が分散した無電解めっき用接着剤層が形
成され、その無電解めっき用接着剤層表面には、耐熱性
樹脂粒子が溶解除去されて形成された粗化面を有し、そ
の粗化面上に上層側の導体回路が形成されている多層プ
リント配線板において、 前記無電解めっき用接着剤層は2層からなり、基板側の
無電解めっき用接着剤層中の耐熱性樹脂粒子の配合量
は、耐熱性樹脂マトリックスの固形分に対して20〜5
0重量%であり、他方の無電解めっき用接着剤層中の耐
熱性樹脂粒子の配合量は、耐熱性樹脂マトリックスの固
形分に対して5重量%以上20重量%未満であることを
特徴とする多層プリント配線板。1. A heat-resistant resin matrix hardly soluble in an acid or an oxidant is dispersed in a heat-resistant resin matrix hardened in an acid or an oxidant on a substrate on which a conductive circuit is formed. The adhesive layer for electroless plating is formed, and the surface of the adhesive layer for electroless plating has a roughened surface formed by dissolving and removing the heat-resistant resin particles, and an upper layer is formed on the roughened surface. In the multilayer printed wiring board on which the conductive circuit on the side is formed, the adhesive layer for electroless plating is composed of two layers,
Amount of heat-resistant resin particles in adhesive layer for electroless plating
Is 20 to 5 with respect to the solid content of the heat-resistant resin matrix.
0% by weight, and the resistance of the other electroless plating adhesive layer
The amount of the heat-resistant resin particles depends on the solidity of the heat-resistant resin matrix.
A multilayer printed wiring board characterized in that the content is 5% by weight or more and less than 20% by weight based on the shape component.
0.1〜1.0μmである請求項1に記載の多層プリン
ト配線板。2. The heat-resistant resin particles have an average particle size.
The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the thickness is 0.1 to 1.0 m.
マトリックスは、エポキシ樹脂とPESの複合体からな
り、その複合体中のPESの量が耐熱性樹脂マトリック
スの固形分に対して30重量%未満である請求項1に記
載の多層プリント配線板。3. The heat-resistant resin matrix of the adhesive for electroless plating comprises a composite of an epoxy resin and PES, and the amount of PES in the composite is 30% by weight based on the solid content of the heat-resistant resin matrix. %. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the amount is less than 0.1%.
めっき膜からなる請求項1に記載の多層プリント配線
板。4. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein said conductive circuit is formed of an electroless plating film and an electrolytic plating film.
少なくとも一部に粗化層が形成されている請求項1に記
載の多層プリント配線板。5. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein a roughened layer is formed on at least a part of the surface of the conductive circuit on the substrate.
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