JP3142662B2 - 光磁気ディスク試行記録装置 - Google Patents
光磁気ディスク試行記録装置Info
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- JP3142662B2 JP3142662B2 JP04271592A JP27159292A JP3142662B2 JP 3142662 B2 JP3142662 B2 JP 3142662B2 JP 04271592 A JP04271592 A JP 04271592A JP 27159292 A JP27159292 A JP 27159292A JP 3142662 B2 JP3142662 B2 JP 3142662B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はエッジ記録再生方式にお
いて適正な長さのマークを記録するための試行記録を行
う光磁気ディスク試行記録装置に関する。
いて適正な長さのマークを記録するための試行記録を行
う光磁気ディスク試行記録装置に関する。
【０００２】光磁気ディスクは、近年急速に発展するマ
ルチメディア化の中で、中核となるメモリ装置として脚
光を浴びており、更に大容量化が要望されるようになっ
てきた。
ルチメディア化の中で、中核となるメモリ装置として脚
光を浴びており、更に大容量化が要望されるようになっ
てきた。
【０００３】このため、記録の高密度化の一つの手段と
してエッジ記録再生方式の実用化が急務となっている。
してエッジ記録再生方式の実用化が急務となっている。
【０００４】
【従来の技術】光磁気ディスクは、初期状態において磁
化の向きが一方向（消去方向）にそろっているが、
「０」と「１」が任意に配列された記録データを書き込
む際には、記録データに応じて発光／消光する記録用レ
ーザビームで光磁気ディスクをキュリー点まで加熱し、
この加熱部分に外部磁界を加えることによって磁化の方
向が消去方向と反対方向に向く概略楕円形状のマーク列
を形成している。
化の向きが一方向（消去方向）にそろっているが、
「０」と「１」が任意に配列された記録データを書き込
む際には、記録データに応じて発光／消光する記録用レ
ーザビームで光磁気ディスクをキュリー点まで加熱し、
この加熱部分に外部磁界を加えることによって磁化の方
向が消去方向と反対方向に向く概略楕円形状のマーク列
を形成している。
【０００５】このマークの記録方法には、記録データの
「１」に対応してマークを記録するマークポジション方
式と、記録データの「１」に対応してマークの前エッジ
又は後エッジが位置するようにマークを形成するエッジ
記録方式（マーク長記録方式）とがある。
「１」に対応してマークを記録するマークポジション方
式と、記録データの「１」に対応してマークの前エッジ
又は後エッジが位置するようにマークを形成するエッジ
記録方式（マーク長記録方式）とがある。
【０００６】マークポジション方式は、記録データをそ
のまま磁化の向きに対応させた記録方式であるので、高
密度化という要請には対応しがたい面があるが、エッジ
記録方式は、記録データの「１」をマークのエッジに対
応させるといった圧縮方式なので、記録密度が大幅に向
上する利点がある。
のまま磁化の向きに対応させた記録方式であるので、高
密度化という要請には対応しがたい面があるが、エッジ
記録方式は、記録データの「１」をマークのエッジに対
応させるといった圧縮方式なので、記録密度が大幅に向
上する利点がある。
【０００７】図１１を参照してエッジ記録再生方式を説
明する。エッジ記録は、図１１（Ａ）に示す２／７方式
による記録データの「１」に対応して得られる図１１
（Ｂ）に示すパルス信号に応じてレーザーダイオード
（ＬＤ）を発光／消光させる。これによって、図１１
（Ｃ）に示すように記録トラックＴ上に記録データの
「１」と対応する位置がエッジとなるようにマークＭを
記録するものである。
明する。エッジ記録は、図１１（Ａ）に示す２／７方式
による記録データの「１」に対応して得られる図１１
（Ｂ）に示すパルス信号に応じてレーザーダイオード
（ＬＤ）を発光／消光させる。これによって、図１１
（Ｃ）に示すように記録トラックＴ上に記録データの
「１」と対応する位置がエッジとなるようにマークＭを
記録するものである。
【０００８】このようにして記録されたマークＭのエッ
ジを再生する場合は、再生用レーザビームのスポットを
光磁気ディスクのトラックＴに照射し、磁気光学的効果
により図１１（Ｄ）に示すように磁化の向きに応じた波
形の再生信号Ｓ１を得る。
ジを再生する場合は、再生用レーザビームのスポットを
光磁気ディスクのトラックＴに照射し、磁気光学的効果
により図１１（Ｄ）に示すように磁化の向きに応じた波
形の再生信号Ｓ１を得る。
【０００９】そして、再生信号Ｓ１のピークとボトムと
の中点を閾値Ｌとし、この閾値Ｌと再生信号Ｓ１との交
点からマークＭの前エッジと後エッジとを検出し、この
前後エッジに基づいて図１１（Ｅ）に示す再生データを
得る。
の中点を閾値Ｌとし、この閾値Ｌと再生信号Ｓ１との交
点からマークＭの前エッジと後エッジとを検出し、この
前後エッジに基づいて図１１（Ｅ）に示す再生データを
得る。
【００１０】ところで、このようなエッジ記録再生方式
では、光磁気ディスクが熱磁気記録媒体であるために、
記録データ通りにＬＤを発光させて記録マークを形成し
ても、必ずしも正しい位置にマークのエッジが形成され
ないことがある。これをエッジシフトと呼んでいる。
では、光磁気ディスクが熱磁気記録媒体であるために、
記録データ通りにＬＤを発光させて記録マークを形成し
ても、必ずしも正しい位置にマークのエッジが形成され
ないことがある。これをエッジシフトと呼んでいる。
【００１１】エッジシフトが生じた場合、即ち、マーク
が正確に所定長で記録されていない場合は、復調された
再生データと記録データとが一致しなくなる。エッジシ
フトには、パターンシフト、サーマルシフト、及び定常
シフトがある。
が正確に所定長で記録されていない場合は、復調された
再生データと記録データとが一致しなくなる。エッジシ
フトには、パターンシフト、サーマルシフト、及び定常
シフトがある。
【００１２】パターンシフトは、長いマークを形成しよ
うとするほど熱がマークの後方に溜まりマークの後エッ
ジが後方にシフトする現象であり、その特性例を図１２
に示す。
うとするほど熱がマークの後方に溜まりマークの後エッ
ジが後方にシフトする現象であり、その特性例を図１２
に示す。
【００１３】図１２は５．５ｍＷ、６．５ｍＷ、７．５
ｍＷ、８．５ｍＷの４種類のライトパワーのレーザ光で
マークを記録した場合に生じる後エッジのシフトを示す
ものである。
ｍＷ、８．５ｍＷの４種類のライトパワーのレーザ光で
マークを記録した場合に生じる後エッジのシフトを示す
ものである。
【００１４】例えば□で示すライトパワーが６．５ｍＷ
の場合では、マーク長が長くなる程に、即ち、ＬＤを発
光させるための記録パルス長（μｍ）が１．０μｍ、
１．５μｍ、…、２．５μｍと長くなる程に後エッジの
シフト量（μｍ）が増加していることが分かる。これ
は、他のライトパワーの場合も同様である。
の場合では、マーク長が長くなる程に、即ち、ＬＤを発
光させるための記録パルス長（μｍ）が１．０μｍ、
１．５μｍ、…、２．５μｍと長くなる程に後エッジの
シフト量（μｍ）が増加していることが分かる。これ
は、他のライトパワーの場合も同様である。
【００１５】サーマルシフトは、直前のマークを形成し
たときの熱が伝わり次のマークの前エッジが前方にシフ
トする現象であり、その特性例を図１３に示す。図１３
は５．５ｍＷ〜８．５ｍＷの４種類のライトパワーのレ
ーザ光でマークを記録した場合に生じる前エッジのシフ
トを示すものである。
たときの熱が伝わり次のマークの前エッジが前方にシフ
トする現象であり、その特性例を図１３に示す。図１３
は５．５ｍＷ〜８．５ｍＷの４種類のライトパワーのレ
ーザ光でマークを記録した場合に生じる前エッジのシフ
トを示すものである。
【００１６】例えば□で示すライトパワーが６．５ｍＷ
の場合では、マークとマークとの間隔が短くなる程に、
即ち、ＬＤを発光させるための記録パルス間隔（μｍ）
が２．５μｍ、２．０μｍ、…、１．０μｍと短くなる
程に前エッジのシフト量（μｍ）が増加していることが
分かる。これは、他のライトパワーの場合も同様であ
る。
の場合では、マークとマークとの間隔が短くなる程に、
即ち、ＬＤを発光させるための記録パルス間隔（μｍ）
が２．５μｍ、２．０μｍ、…、１．０μｍと短くなる
程に前エッジのシフト量（μｍ）が増加していることが
分かる。これは、他のライトパワーの場合も同様であ
る。
【００１７】定常シフトは、レーザ光のライトパワーが
変わることによってエッジ位置がシフトする現象であ
る。ライトパワーが変わることは、環境温度が変化した
り、光磁気記録媒体の感度が変わることと同等と見なせ
る。
変わることによってエッジ位置がシフトする現象であ
る。ライトパワーが変わることは、環境温度が変化した
り、光磁気記録媒体の感度が変わることと同等と見なせ
る。
【００１８】図１２に示す０からパターンシフトの最低
値の幅Ｃ１が定常シフト量である。これらのエッジシフ
トに対しては、記録データのパターンに応じてＬＤの発
光タイミング、消光タイミングを変えて正しく再生でき
るように記録を行う記録補償が行われている。
値の幅Ｃ１が定常シフト量である。これらのエッジシフ
トに対しては、記録データのパターンに応じてＬＤの発
光タイミング、消光タイミングを変えて正しく再生でき
るように記録を行う記録補償が行われている。
【００１９】これは、サーマルシフトに対しては発光タ
イミングを補償し、パターンシフトに対しては消光タイ
ミングを補償すれば良いことが既に電子情報通信学会に
おいて報告されている。
イミングを補償し、パターンシフトに対しては消光タイ
ミングを補償すれば良いことが既に電子情報通信学会に
おいて報告されている。
【００２０】また、媒体間感度バラツキに対しては、デ
ィスクの半径方向の複数のテスト領域に対して、消去、
記録、再生の光パワーをパラメータとして試行記録を行
い、再生したときのエラー個数が最も少ない光パワーの
組み合わせを用いて以後の記録再生を行うことが提案さ
れている。
ィスクの半径方向の複数のテスト領域に対して、消去、
記録、再生の光パワーをパラメータとして試行記録を行
い、再生したときのエラー個数が最も少ない光パワーの
組み合わせを用いて以後の記録再生を行うことが提案さ
れている。
【００２１】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したエ
ッジ記録再生方式においては、単に媒体間感度バラツキ
だけでなく、媒体のエッジシフト特性のバラツキないし
は、異なるエッジシフト特性の媒体との互換性をも考慮
しなければならない。
ッジ記録再生方式においては、単に媒体間感度バラツキ
だけでなく、媒体のエッジシフト特性のバラツキないし
は、異なるエッジシフト特性の媒体との互換性をも考慮
しなければならない。
【００２２】しかし、上述した従来の試行記録では３つ
のエッジシフト特性に対する記録補償量の試行決定が成
されていないため、適正なマークを記録することができ
ないといった問題がある。
のエッジシフト特性に対する記録補償量の試行決定が成
されていないため、適正なマークを記録することができ
ないといった問題がある。
【００２３】本発明は、このような点に鑑みてなされた
ものであり、エッジ記録再生方式により光磁気ディスク
にマークを記録する際に、パターンシフト、サーマルシ
フト、及び定常シフトの３つのエッジシフト特性に対す
る記録補償量の試行決定を行い、適正なマークを記録す
ることができる光磁気ディスク試行記録装置を提供する
ことを目的としている。
ものであり、エッジ記録再生方式により光磁気ディスク
にマークを記録する際に、パターンシフト、サーマルシ
フト、及び定常シフトの３つのエッジシフト特性に対す
る記録補償量の試行決定を行い、適正なマークを記録す
ることができる光磁気ディスク試行記録装置を提供する
ことを目的としている。
【００２４】
【課題を解決するための手段】図１に本発明の原理図を
示す。この図に示す光磁気ディスク試行記録装置は、光
磁気ディスク上に、記録データに応じた光ビームにより
記録されるマークのエッジが、記録データと対応するよ
うに、データの記録に先立って試行記録を行い記録補償
量を決定するものである。
示す。この図に示す光磁気ディスク試行記録装置は、光
磁気ディスク上に、記録データに応じた光ビームにより
記録されるマークのエッジが、記録データと対応するよ
うに、データの記録に先立って試行記録を行い記録補償
量を決定するものである。
【００２５】図中、１１は２値化手段であり、マークの
再生信号Ｓ１１を２値化信号Ｓ１２に変換するものであ
る。１５は積分手段であり、２値化信号Ｓ１２を積分し
て積分信号Ｓ１３を出力するものである。
再生信号Ｓ１１を２値化信号Ｓ１２に変換するものであ
る。１５は積分手段であり、２値化信号Ｓ１２を積分し
て積分信号Ｓ１３を出力するものである。
【００２６】１９はシフト量演算手段であり、積分信号
Ｓ１３よりパターンシフト量Ｄａ、サーマルシフト量Ｄ
ｂ、及び定常シフト量Ｄｃを求めるものである。２１は
第１乗算手段であり、エッジシフト量Ｄａとパターンシ
フト補間関数ｘ１とを乗算することにより、パターンシ
フトの大きさと傾きを示す補間パターンシフトデータＤ
ａ１を出力するものである。
Ｓ１３よりパターンシフト量Ｄａ、サーマルシフト量Ｄ
ｂ、及び定常シフト量Ｄｃを求めるものである。２１は
第１乗算手段であり、エッジシフト量Ｄａとパターンシ
フト補間関数ｘ１とを乗算することにより、パターンシ
フトの大きさと傾きを示す補間パターンシフトデータＤ
ａ１を出力するものである。
【００２７】２２はパターンシフト補償量演算手段であ
り、補間パターンシフトデータＤａ１よりパターンシフ
トを打ち消す補償量を求め、これをパターンシフト補償
信号Ｓａとして出力するものである。
り、補間パターンシフトデータＤａ１よりパターンシフ
トを打ち消す補償量を求め、これをパターンシフト補償
信号Ｓａとして出力するものである。
【００２８】２４は第２乗算手段であり、サーマルシフ
ト量Ｄｂとサーマルシフト補間関数ｘ２とを乗算するこ
とにより、サーマルシフトによるエッジシフトの大きさ
と傾きを示す補間サーマルシフトデータＤｂ１を出力す
るものである。
ト量Ｄｂとサーマルシフト補間関数ｘ２とを乗算するこ
とにより、サーマルシフトによるエッジシフトの大きさ
と傾きを示す補間サーマルシフトデータＤｂ１を出力す
るものである。
【００２９】２５はサーマルシフト補償量演算手段であ
り、補間サーマルシフトデータＤｂ１より該サーマルシ
フトを打ち消す補償量を求め、これをサーマルシフト補
償信号Ｓｂとして出力するものである。
り、補間サーマルシフトデータＤｂ１より該サーマルシ
フトを打ち消す補償量を求め、これをサーマルシフト補
償信号Ｓｂとして出力するものである。
【００３０】また、前記した試行記録を行うための記録
データのパターンに、最長マーク長と最長マーク間隔の
繰り返しパターンと、最長マーク長と最短マーク間隔と
の繰り返しパターンと、最短マーク長と最長マーク間隔
との繰り返しパターンが含まれるようにすることが好ま
しい。
データのパターンに、最長マーク長と最長マーク間隔の
繰り返しパターンと、最長マーク長と最短マーク間隔と
の繰り返しパターンと、最短マーク長と最長マーク間隔
との繰り返しパターンが含まれるようにすることが好ま
しい。
【００３１】
【作用】試行記録を行うためのデータのパターンのＤＣ
成分Ｓ0 と、そのパターンから得られる再生信号を２値
化し、更に積分して得られる積分値Ｓm との差は、エッ
ジシフトの大きさΔｌに比例して次式のようになる。
成分Ｓ0 と、そのパターンから得られる再生信号を２値
化し、更に積分して得られる積分値Ｓm との差は、エッ
ジシフトの大きさΔｌに比例して次式のようになる。
【００３２】 Δｌ＝ＫＴ（Ｓm −Ｓ0 ）／２ 式 但し、Ｔはデータパターンの周期、Ｋは積分器（積分手
段１５）の検出感度を表す。
段１５）の検出感度を表す。
【００３３】従って、最低３種類のデータパターンにつ
いて試行記録を行い積分出力を比較すれば、定常シフ
ト、パターンシフト、及びサーマルシフトの大きさを知
ることが出来る。
いて試行記録を行い積分出力を比較すれば、定常シフ
ト、パターンシフト、及びサーマルシフトの大きさを知
ることが出来る。
【００３４】他のパターンについては補間関数を仮定し
て大きさを決めることにすればエッジシフト特性を知る
ことができる。記録光パワー、記録光の発光／消光タイ
ミング補償量は、エッジシフト特性から次のようにして
求まる。
て大きさを決めることにすればエッジシフト特性を知る
ことができる。記録光パワー、記録光の発光／消光タイ
ミング補償量は、エッジシフト特性から次のようにして
求まる。
【００３５】まず、定常シフトの大きさから記録光パワ
ーが求まる。次に、サーマルシフトは発光タイミング、
パターンシフトは消光タイミングで補償できるので、図
２（Ａ）に示すように、本来のデータの記録パルス間隔
をｌｇ、記録パルス長をｌｍとし、（Ｃ）に示すよう
に、発光タイミング補償量をΔｌｇ、消光タイミング補
償量をΔｌｍとし、（Ｂ）に示すように、前エッジの伸
び（シフト量）をａ（ｌｇ）、後エッジの伸びをｂ（ｌ
ｍ）とする。
ーが求まる。次に、サーマルシフトは発光タイミング、
パターンシフトは消光タイミングで補償できるので、図
２（Ａ）に示すように、本来のデータの記録パルス間隔
をｌｇ、記録パルス長をｌｍとし、（Ｃ）に示すよう
に、発光タイミング補償量をΔｌｇ、消光タイミング補
償量をΔｌｍとし、（Ｂ）に示すように、前エッジの伸
び（シフト量）をａ（ｌｇ）、後エッジの伸びをｂ（ｌ
ｍ）とする。
【００３６】データパターンのうち最短のｌｇと最長の
ｌｇに対応するａ（ｌｇ）の差が図１３に示すサーマル
シフト、最短のｌｍと最長のｌｍに対応するｂ（ｌｍ）
の差が図１２に示すパターンシフトである。
ｌｇに対応するａ（ｌｇ）の差が図１３に示すサーマル
シフト、最短のｌｍと最長のｌｍに対応するｂ（ｌｍ）
の差が図１２に示すパターンシフトである。
【００３７】発光／消光タイミングの補償があるときは
図２（Ｄ）に示すように、補償量Δｌｇ，Δｌｍと、シ
フト量ａ（ｌｇ），ｂ（ｌｍ）との合計ａ（ｌｇ＋Δｌ
ｇ），ｂ（ｌｍ＋Δｌｍ）になるので、これが零となる
ように補償量Δｌｇ，Δｌｍを決めればよい。
図２（Ｄ）に示すように、補償量Δｌｇ，Δｌｍと、シ
フト量ａ（ｌｇ），ｂ（ｌｍ）との合計ａ（ｌｇ＋Δｌ
ｇ），ｂ（ｌｍ＋Δｌｍ）になるので、これが零となる
ように補償量Δｌｇ，Δｌｍを決めればよい。
【００３８】前エッジのシフト量ａ（ｌｇ）の補償量Δ
ｌｇは、ａ（ｌｇ）を次のように線型近似することによ
り、 ａ（ｌｇ＋Δｌｇ）＝ａ（ｌｇ）＋ａ′（ｌｇ）・Δｌｇ＝Δｌｇ 式 Δｌｇ＝ａ（ｌｇ）／〔１−ａ′（ｌｇ）〕 式 で求まる。
ｌｇは、ａ（ｌｇ）を次のように線型近似することによ
り、 ａ（ｌｇ＋Δｌｇ）＝ａ（ｌｇ）＋ａ′（ｌｇ）・Δｌｇ＝Δｌｇ 式 Δｌｇ＝ａ（ｌｇ）／〔１−ａ′（ｌｇ）〕 式 で求まる。
【００３９】同様に、後エッジのシフト量ｂ（ｌｍ）の
補償量Δｌｍは、 Δｌｍ＝−ｂ（ｌｍ）／〔１−ｂ′（ｌｍ）〕 式 である。
補償量Δｌｍは、 Δｌｍ＝−ｂ（ｌｍ）／〔１−ｂ′（ｌｍ）〕 式 である。
【００４０】
【実施例】以下、図面を参照して本発明について説明す
る。図３は本発明の一実施例による光磁気ディスク試行
記録装置の主要部分のブロック構成図である。
る。図３は本発明の一実施例による光磁気ディスク試行
記録装置の主要部分のブロック構成図である。
【００４１】図３に示す再生信号Ｓ１１は、図示せぬ光
磁気ディスクに記録されたマーク列に、図示せぬＬＤか
らの再生用レーザ光を照射して得られるものであり、そ
の波形の一例を図４（Ａ）に示す。
磁気ディスクに記録されたマーク列に、図示せぬＬＤか
らの再生用レーザ光を照射して得られるものであり、そ
の波形の一例を図４（Ａ）に示す。
【００４２】試行記録において、マークを記録する場合
にＬＤを発光させるための試行記録データのパターン
は、そのデータパターンに応じたレーザ光でマークを記
録した場合に、パターンシフト、サーマルシフト、及び
定常シフトが典型的に現れるものが望ましい。
にＬＤを発光させるための試行記録データのパターン
は、そのデータパターンに応じたレーザ光でマークを記
録した場合に、パターンシフト、サーマルシフト、及び
定常シフトが典型的に現れるものが望ましい。
【００４３】例えば、２／７変調符号の場合には、図５
（Ａ）に示すように最長マーク長４τと最長マーク間隔
４τの繰り返し、（Ｂ）に示すように最長マーク長４τ
と最短マーク間隔１．５τの繰り返し、（Ｃ）に示すよ
うに最短マーク長１．５τと最長マーク間隔４τの繰り
返しとなるように記録されるのがよい。
（Ａ）に示すように最長マーク長４τと最長マーク間隔
４τの繰り返し、（Ｂ）に示すように最長マーク長４τ
と最短マーク間隔１．５τの繰り返し、（Ｃ）に示すよ
うに最短マーク長１．５τと最長マーク間隔４τの繰り
返しとなるように記録されるのがよい。
【００４４】図５（Ｃ）のマークパターンは、マーク長
が最短なので最もパターンシフトが起こりにくく、ま
た、マーク間隔が最長なので最もサーマルシフトが起こ
りにくいケースである。従って、このパターンから得ら
れる基準値の０からのエッジシフト量をΔｃとすると、
このΔｃは、レーザ光のパワー変化による典型的な定常
シフトによるものとなる。
が最短なので最もパターンシフトが起こりにくく、ま
た、マーク間隔が最長なので最もサーマルシフトが起こ
りにくいケースである。従って、このパターンから得ら
れる基準値の０からのエッジシフト量をΔｃとすると、
このΔｃは、レーザ光のパワー変化による典型的な定常
シフトによるものとなる。
【００４５】図５（Ａ）のマークパターンは、マーク長
が最長なのでマーク記録時の熱が最も後方に溜まるケー
スであり、マークの後エッジが最も後方にシフトする。
また、マーク間隔は最も長いので、直前のマーク記録に
よる熱が次のマークには影響しない。ここではレーザ光
のパワー変化による定常シフトも含まれるので、このパ
ターンで得られるシフト量をΔａとして、ΔａからΔｃ
を引くことによって、典型的なパターンシフトが得られ
る。
が最長なのでマーク記録時の熱が最も後方に溜まるケー
スであり、マークの後エッジが最も後方にシフトする。
また、マーク間隔は最も長いので、直前のマーク記録に
よる熱が次のマークには影響しない。ここではレーザ光
のパワー変化による定常シフトも含まれるので、このパ
ターンで得られるシフト量をΔａとして、ΔａからΔｃ
を引くことによって、典型的なパターンシフトが得られ
る。
【００４６】図５（Ｂ）のマークパターンは、マーク長
が最長であり、しかもマーク間隔が最短であることか
ら、直前のマーク記録時の熱が次のマークに最も影響す
るケースである。ここでは、マーク長が最長であること
からパターンシフトも含まれ、かつ定常シフトも含まれ
るので、このパターンで得られるシフト量をΔｂとし
て、ΔｂからΔａとΔｃを引くことによって、マークの
前エッジが最も前方にシフトする典型的なサーマルシフ
トが得られる。
が最長であり、しかもマーク間隔が最短であることか
ら、直前のマーク記録時の熱が次のマークに最も影響す
るケースである。ここでは、マーク長が最長であること
からパターンシフトも含まれ、かつ定常シフトも含まれ
るので、このパターンで得られるシフト量をΔｂとし
て、ΔｂからΔａとΔｃを引くことによって、マークの
前エッジが最も前方にシフトする典型的なサーマルシフ
トが得られる。
【００４７】このような図５（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）に示す
３つのパターンのマーク列を連続して記録し、この再生
信号Ｓ１１を図３の回路に入力する。図３において、１
１は２値化部であり、ピークボトム検出部１２と、閾値
検出部１３と、２値化処理部１４とを有して構成されて
いる。
３つのパターンのマーク列を連続して記録し、この再生
信号Ｓ１１を図３の回路に入力する。図３において、１
１は２値化部であり、ピークボトム検出部１２と、閾値
検出部１３と、２値化処理部１４とを有して構成されて
いる。
【００４８】１５は積分部であり、積分回路１６と、収
束判断部１７と、サンプルホールド部１８とを有して構
成されている。１９はシフト量演算部、２０は第１メモ
リ部であり、パターンシフト補間関数が記憶されてい
る。２１は第１乗算部、２２はパターンシフト補償量演
算部である。
束判断部１７と、サンプルホールド部１８とを有して構
成されている。１９はシフト量演算部、２０は第１メモ
リ部であり、パターンシフト補間関数が記憶されてい
る。２１は第１乗算部、２２はパターンシフト補償量演
算部である。
【００４９】２３は第２メモリ部であり、サーマルシフ
ト補間関数が記憶されている。２４は第２乗算部、２５
はサーマルシフト補償量演算部である。２６は第３メモ
リ部であり、定常シフト上限・下限基準値が記憶されて
いる。２７は比較判定部である。
ト補間関数が記憶されている。２４は第２乗算部、２５
はサーマルシフト補償量演算部である。２６は第３メモ
リ部であり、定常シフト上限・下限基準値が記憶されて
いる。２７は比較判定部である。
【００５０】まず、ピークボトム検出部１２によって再
生信号Ｓ１１の振幅レベルのピークとボトムを検出し、
その中点を閾値検出部１３で求めることにより図４
（Ａ）に示す閾値Ｌ１を検出する。
生信号Ｓ１１の振幅レベルのピークとボトムを検出し、
その中点を閾値検出部１３で求めることにより図４
（Ａ）に示す閾値Ｌ１を検出する。
【００５１】そして、２値化処理部１４により再生信号
Ｓ１１と閾値Ｌ１との交点を検出すると共に、再生信号
Ｓ１１の閾値Ｌ１よりも大きいレベル部分／小さいレベ
ル部分を検出することによって、図４（Ｂ）に示すよう
に、交点を立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジと
し、かつ閾値Ｌ１よりも大きいレベルを「Ｈ」レベル、
小さいレベルを「Ｌ」レベルとする矩形波の２値化信号
Ｓ１２を出力する。
Ｓ１１と閾値Ｌ１との交点を検出すると共に、再生信号
Ｓ１１の閾値Ｌ１よりも大きいレベル部分／小さいレベ
ル部分を検出することによって、図４（Ｂ）に示すよう
に、交点を立ち上がりエッジ又は立ち下がりエッジと
し、かつ閾値Ｌ１よりも大きいレベルを「Ｈ」レベル、
小さいレベルを「Ｌ」レベルとする矩形波の２値化信号
Ｓ１２を出力する。
【００５２】積分回路１６は、２値化信号Ｓ１２を積分
して出力するが、回路自体が時定数を持っており、ある
時間経過しないと求める積分値に収束しないので、収束
判断部１７でその積分値に収束したかどうかを判断し、
サンプルホールド部１８で、収束したと判断された積分
値をサンプリングし、かつホールドして出力する。この
結果、図４（Ｃ）に示す波形の積分信号Ｓ１３が出力さ
れる。
して出力するが、回路自体が時定数を持っており、ある
時間経過しないと求める積分値に収束しないので、収束
判断部１７でその積分値に収束したかどうかを判断し、
サンプルホールド部１８で、収束したと判断された積分
値をサンプリングし、かつホールドして出力する。この
結果、図４（Ｃ）に示す波形の積分信号Ｓ１３が出力さ
れる。
【００５３】シフト量演算部１９は、積分信号Ｓ１３を
前述の〔作用〕の所で説明した式に応じて演算処理す
ることによりエッジシフトの大きさ、即ち上述したシフ
ト量Δａ、Δｂ、Δｃを求め、更に、Δｃから定常シフ
トデータＤｃを求め、Δａ−Δｃからパターンシフトデ
ータＤａを求め、Δｂ−（Δａ＋Δｃ）からサーマルシ
フトデータＤｃを求めて出力する。
前述の〔作用〕の所で説明した式に応じて演算処理す
ることによりエッジシフトの大きさ、即ち上述したシフ
ト量Δａ、Δｂ、Δｃを求め、更に、Δｃから定常シフ
トデータＤｃを求め、Δａ−Δｃからパターンシフトデ
ータＤａを求め、Δｂ−（Δａ＋Δｃ）からサーマルシ
フトデータＤｃを求めて出力する。
【００５４】第１メモリ部２０に記憶されたパターンシ
フト補間関数ｘ１は、図６に符号３１及び３２で示すマ
ーク長が最短及び最長の場合のパターンシフトの大きさ
からその傾きを求めるためのものである。但し、補間関
数ｘ１は、予め基準となる光磁気ディスク媒体でシフト
特性を測定することにより求めておく。
フト補間関数ｘ１は、図６に符号３１及び３２で示すマ
ーク長が最短及び最長の場合のパターンシフトの大きさ
からその傾きを求めるためのものである。但し、補間関
数ｘ１は、予め基準となる光磁気ディスク媒体でシフト
特性を測定することにより求めておく。
【００５５】即ち、第１乗算部２１でパターンシフト補
間関数ｘ１とパターンシフトデータＤａとが乗算される
ことにより、マーク長が最短及び最長の場合のパターン
シフトの大きさ〔図２（Ｂ）に示すｂ（ｌｍ）〕及び傾
きが求められて出力されることになる。この出力データ
を補間パターンシフトデータＤａ１とする。
間関数ｘ１とパターンシフトデータＤａとが乗算される
ことにより、マーク長が最短及び最長の場合のパターン
シフトの大きさ〔図２（Ｂ）に示すｂ（ｌｍ）〕及び傾
きが求められて出力されることになる。この出力データ
を補間パターンシフトデータＤａ１とする。
【００５６】パターンシフト補償量演算部２２は、補完
パターンシフトデータＤａ１を前述の〔作用〕の所で説
明した式に応じて演算処理することにより、補償量Δ
ｌｍを求めるものである。この補償量Δｌｍをパターン
シフト補償信号Ｓａとする。
パターンシフトデータＤａ１を前述の〔作用〕の所で説
明した式に応じて演算処理することにより、補償量Δ
ｌｍを求めるものである。この補償量Δｌｍをパターン
シフト補償信号Ｓａとする。
【００５７】このパターンシフト補償信号Ｓａに応じ
て、後エッジシフトが生じないようにレーザ光を出力す
るＬＤの消光タイミングが調整される。第２メモリ部２
３に記憶されたサーマルシフト補間関数ｘ２は、図７に
符号３３及び３４で示すマーク間隔が最短及び最長の場
合のサーマルシフトの大きさからその傾きを求めるため
のものである。但し、補間関数ｘ２は、予め基準となる
光磁気ディスク媒体でシフト特性を測定することにより
求めておく。
て、後エッジシフトが生じないようにレーザ光を出力す
るＬＤの消光タイミングが調整される。第２メモリ部２
３に記憶されたサーマルシフト補間関数ｘ２は、図７に
符号３３及び３４で示すマーク間隔が最短及び最長の場
合のサーマルシフトの大きさからその傾きを求めるため
のものである。但し、補間関数ｘ２は、予め基準となる
光磁気ディスク媒体でシフト特性を測定することにより
求めておく。
【００５８】即ち、第２乗算部２４でサーマルシフト補
間関数ｘ２とサーマルシフトデータＤｂとが乗算される
ことにより、マーク間隔が最短及び最長の場合のサーマ
ルシフトの大きさ〔図２（Ｂ）に示すａ（ｌｇ）〕及び
傾きが求められて出力されることになる。この出力デー
タを補間サーマルシフトデータＳｂとする。
間関数ｘ２とサーマルシフトデータＤｂとが乗算される
ことにより、マーク間隔が最短及び最長の場合のサーマ
ルシフトの大きさ〔図２（Ｂ）に示すａ（ｌｇ）〕及び
傾きが求められて出力されることになる。この出力デー
タを補間サーマルシフトデータＳｂとする。
【００５９】サーマルシフト補償量演算部２５は、補完
サーマルシフトデータＤｂ１を前述の〔作用〕の所で説
明した式に応じて演算処理することにより、補償量Δ
ｌｇを求めるものである。この補償量Δｌｇをサーマル
シフト補償信号Ｄｂ２とする。
サーマルシフトデータＤｂ１を前述の〔作用〕の所で説
明した式に応じて演算処理することにより、補償量Δ
ｌｇを求めるものである。この補償量Δｌｇをサーマル
シフト補償信号Ｄｂ２とする。
【００６０】このサーマルシフト補償信号Ｓｂに応じ
て、前エッジシフトが生じないようにレーザ光を出力す
るＬＤの発光タイミングが調整される。第３メモリ部２
６に記憶された定常シフト上限・下限基準値ｘ３，ｘ４
は、定常シフトによるエッジシフトの大きさが適正かど
うかを判定するためのものである。
て、前エッジシフトが生じないようにレーザ光を出力す
るＬＤの発光タイミングが調整される。第３メモリ部２
６に記憶された定常シフト上限・下限基準値ｘ３，ｘ４
は、定常シフトによるエッジシフトの大きさが適正かど
うかを判定するためのものである。
【００６１】即ち、比較判定部２７で、定常シフトデー
タＤｃの大きさと上限・下限基準値ｘ３，ｘ４とが比較
され、その大きさが上限・下限基準値ｘ３，ｘ４の間に
入っているかどうかが判定され、この判定結果に応じた
発光パワー変更信号Ｓｃが出力される。
タＤｃの大きさと上限・下限基準値ｘ３，ｘ４とが比較
され、その大きさが上限・下限基準値ｘ３，ｘ４の間に
入っているかどうかが判定され、この判定結果に応じた
発光パワー変更信号Ｓｃが出力される。
【００６２】判定において、定常シフトデータＤｃの大
きさが上限基準値ｘ３よりも大きい場合は、マーク記録
レーザ光のパワーを小さくする発光パワー変更信号Ｓｃ
が出力され、下限基準値ｘ４よりも小さい場合は、レー
ザ光のパワーを大きくする信号Ｓｃが出力される。
きさが上限基準値ｘ３よりも大きい場合は、マーク記録
レーザ光のパワーを小さくする発光パワー変更信号Ｓｃ
が出力され、下限基準値ｘ４よりも小さい場合は、レー
ザ光のパワーを大きくする信号Ｓｃが出力される。
【００６３】即ち、発光パワー変更信号Ｓｃに応じて定
常シフトが生じないようにレーザ光のパワーが調整され
る。また、補間の精度を良くするには、例えば図８
（Ａ）に示すようなマーク長２τとマーク間隔４τの繰
り返しパターン、（Ｂ）に示すマーク長４τとマーク間
隔２τの繰り返しパターンを図５（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）に
示すパターン以外に加えて記録する。
常シフトが生じないようにレーザ光のパワーが調整され
る。また、補間の精度を良くするには、例えば図８
（Ａ）に示すようなマーク長２τとマーク間隔４τの繰
り返しパターン、（Ｂ）に示すマーク長４τとマーク間
隔２τの繰り返しパターンを図５（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）に
示すパターン以外に加えて記録する。
【００６４】そして、図９に符号３６、図１０に符号３
７で示すように、パターンシフト及びサーマルシフトに
よるエッジシフト量の点数を増やし、即ち補間関数ｘ
１，ｘ２にフィッティングさせるためのデータ数を増や
すようにすればよい。
７で示すように、パターンシフト及びサーマルシフトに
よるエッジシフト量の点数を増やし、即ち補間関数ｘ
１，ｘ２にフィッティングさせるためのデータ数を増や
すようにすればよい。
【００６５】このようにすれば、より正確なシフト特性
を得ることができるので、単にパターンシフト、サーマ
ルシフトの大きさの違いだけでなくシフト特性の形その
ものが異なる光磁気ディスク媒体に対しても互換性のあ
るものとなる。
を得ることができるので、単にパターンシフト、サーマ
ルシフトの大きさの違いだけでなくシフト特性の形その
ものが異なる光磁気ディスク媒体に対しても互換性のあ
るものとなる。
【００６６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
エッジ記録再生方式により光磁気ディスクにマークを記
録する際に、パターンシフト、サーマルシフト、及び定
常シフトの３つのエッジシフト特性に対する記録補償量
の試行決定を行うことができるので、光磁気ディスク媒
体間のエッジシフト特性のバラツキ、及び異なるエッジ
シフト特性の媒体との互換が可能となり、適正なマーク
を記録することができる効果がある。
エッジ記録再生方式により光磁気ディスクにマークを記
録する際に、パターンシフト、サーマルシフト、及び定
常シフトの３つのエッジシフト特性に対する記録補償量
の試行決定を行うことができるので、光磁気ディスク媒
体間のエッジシフト特性のバラツキ、及び異なるエッジ
シフト特性の媒体との互換が可能となり、適正なマーク
を記録することができる効果がある。
【図１】本発明の原理図である。
【図２】記録補償量説明図である。
【図３】本発明の一実施例による光磁気ディスク試行記
録装置の主要回路のブロック構成図である。
録装置の主要回路のブロック構成図である。
【図４】図３に示す回路で得られる再生信号、２値化信
号、積分信号の波形の一例を示す図である。
号、積分信号の波形の一例を示す図である。
【図５】試行記録パターンの例を示す図である。
【図６】パターンシフト補間の説明図である。
【図７】サーマルシフト補間の説明図である。
【図８】他の試行記録パターンの一例を示す図である。
【図９】他のパターンシフト補間の説明図である。
【図１０】他のサーマルシフト補間の説明図である。
【図１１】エッジ記録再生方式の説明図である。
【図１２】パターンシフト特性図である。
【図１３】サーマルシフト特性図である。
１１ ２値化手段 １５ 積分手段 １９ シフト量演算手段 ２１ 第１乗算手段 ２２ パターンシフト補償量演算手段 ２４ 第２乗算手段 ２５ サーマルシフト補償量演算手段 Ｓ１１ 再生信号 Ｓ１２ ２値化信号 Ｓ１３ 積分信号 Ｄａ パターンシフト量 Ｄｂ サーマルシフト量 Ｄｃ 定常シフト量 ｘ１ パターンシフト補間関数 ｘ２ サーマルシフト補間関数 Ｄａ１ 補間パターンシフトデータ Ｄｂ１ 補間サーマルシフトデータ Ｓａ パターンシフト補償信号 Ｓｂ サーマルシフト補償信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平５−290437（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−120682（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−52547（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−76401（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−266481（ＪＰ，Ａ) 特開 平４−310649（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G11B 11/105
Claims (3)
- 【請求項１】 光磁気ディスク上に、記録データに応じ
た光ビームにより記録されるマークのエッジが、該記録
データと対応するように、データの記録に先立って試行
記録を行い記録補償量を決定する光磁気ディスク試行記
録装置において、 前記マークの再生信号(S11) を２値化信号(S12) に変換
する２値化手段(11)と、 該２値化信号(S12) を積分して積分信号(S13) を出力す
る積分手段(15)と、 該積分信号(S13) よりパターンシフト量(Da)、サーマル
シフト量(Db)、及び定常シフト量(Dc)を求めるシフト量
演算手段(19)と、 該エッジシフト量(Da)とパターンシフト補間関数(x1)と
を乗算することにより、パターンシフトの大きさと傾き
を示す補間パターンシフトデータ(Da1) を出力する第１
乗算手段(21)と、 該補間パターンシフトデータ(Da1) より該パターンシフ
トを打ち消す補償量を求め、これをパターンシフト補償
信号(Sa)として出力するパターンシフト補償量演算手段
(22)と、 該サーマルシフト量(Db)とサーマルシフト補間関数(x2)
とを乗算することにより、サーマルシフトによるエッジ
シフトの大きさと傾きを示す補間サーマルシフトデータ
(Db1) を出力する第２乗算手段(24)と、 該補間サーマルシフトデータ(Db1) より該サーマルシフ
トを打ち消す補償量を求め、これをサーマルシフト補償
信号(Sb)として出力するサーマルシフト補償量演算手段
(25)とを具備して構成されることを特徴とする光磁気デ
ィスク試行記録装置。 - 【請求項２】 前記試行記録を行うための前記記録デー
タのパターンが、最長マーク長と最長マーク間隔の繰り
返しパターンと、最長マーク長と最短マーク間隔との繰
り返しパターンと、最短マーク長と最長マーク間隔との
繰り返しパターンを含むことを特徴とする請求項１記載
の光磁気ディスク試行記録装置。 - 【請求項３】 前記定常シフト量(Dc)と定常シフト上限
・下限基準値とを比較し、該定常シフト量(Dc)が、該定
常シフト上限基準値よりも大きい場合は前記光ビームの
パワーを小さくする信号を出力し、該定常シフト下限基
準値よりも小さい場合は該レーザ光のパワーを大きくす
る発光パワー変更信号を出力する比較判定手段(27)を設
けたことを特徴とする請求項１又は２記載の光磁気ディ
スク試行記録装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04271592A JP3142662B2 (ja) | 1992-10-09 | 1992-10-09 | 光磁気ディスク試行記録装置 |
| US08/004,865 US5347505A (en) | 1992-01-20 | 1993-01-19 | Optical medium recording method and apparatus employing pulse width delay and/or advancement |
| EP93300384A EP0552936B1 (en) | 1992-01-20 | 1993-01-20 | Optical medium recording apparatus and method |
| DE69309508T DE69309508T2 (de) | 1992-01-20 | 1993-01-20 | Vorrichtung und Verfahren zum Aufzeichnen auf einem optischen Aufzeichnungsträger |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04271592A JP3142662B2 (ja) | 1992-10-09 | 1992-10-09 | 光磁気ディスク試行記録装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06124493A JPH06124493A (ja) | 1994-05-06 |
| JP3142662B2 true JP3142662B2 (ja) | 2001-03-07 |
Family
ID=17502227
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04271592A Expired - Fee Related JP3142662B2 (ja) | 1992-01-20 | 1992-10-09 | 光磁気ディスク試行記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3142662B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6807134B2 (en) | 1999-12-28 | 2004-10-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Asymmetry detection apparatus, jitter detection apparatus, and recording/reproduction apparatus |
-
1992
- 1992-10-09 JP JP04271592A patent/JP3142662B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06124493A (ja) | 1994-05-06 |
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