JP2022179731A - Slit lamp microscope and ophthalmologic system - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide high quality slit lamp microscopic examinations widely.
SOLUTION: A slit lamp microscope includes an illumination system, an imaging system, a moving image capturing system, a moving mechanism, and a control part. The illumination system radiates slit light to the anterior eye part of an eye to be examined. The imaging system includes an optical system for guiding the light from the anterior eye part to which the slit light is radiated, and an image pickup device for receiving the light guided by the optical system on an imaging surface. An object surface along an optical axis of the illumination system, the optical system, and the imaging surface satisfy a shine proof condition. The moving image capturing system captures a moving image of the anterior eye part. The moving mechanism moves the illumination system and the imaging system without moving the moving image capturing system. In parallel with capturing of the moving image of the anterior eye part from a fixed position by the moving image capturing system, the control part executes, in parallel, control of the moving mechanism for moving the illumination system and the imaging system, and control of the imaging system for acquiring a plurality of images by repeatedly imaging the anterior eye part.
SELECTED DRAWING: Figure 5
COPYRIGHT: (C)2023,JPO&INPIT

Description

本発明は、スリットランプ顕微鏡及び眼科システムに関する。 The present invention relates to slit lamp microscopes and ophthalmic systems.

眼科分野において画像診断は重要な位置を占める。画像診断では、各種の眼科撮影装置が用いられる。眼科撮影装置には、スリットランプ顕微鏡、眼底カメラ、走査型レーザー検眼鏡(SLO)、光干渉断層計(OCT)などがある。また、レフラクトメータ、ケラトメータ、眼圧計、スペキュラーマイクロスコープ、ウェーブフロントアナライザ、マイクロペリメータなどの各種の検査装置や測定装置にも、前眼部や眼底を撮影する機能が搭載されている。 Image diagnosis occupies an important position in the field of ophthalmology. Various types of ophthalmological imaging devices are used in image diagnosis. Ophthalmic imaging equipment includes slit lamp microscopes, fundus cameras, scanning laser ophthalmoscopes (SLO), optical coherence tomography (OCT), and the like. Various inspection and measurement devices such as refractometers, keratometers, tonometers, specular microscopes, wavefront analyzers, and microperimeters are also equipped with functions for photographing the anterior segment of the eye and the fundus.

これら様々な眼科装置のうち最も広く且つ頻繁に使用される装置の一つがスリットランプ顕微鏡である。スリットランプ顕微鏡は、スリット光で被検眼を照明し、照明された断面を側方から顕微鏡で観察したり撮影したりするための眼科装置である(例えば、特許文献1、2を参照)。 One of the most widely and frequently used of these various ophthalmic instruments is the slit lamp microscope. A slit lamp microscope is an ophthalmologic apparatus for illuminating an eye to be inspected with slit light, and observing or photographing an illuminated cross section from the side with a microscope (see Patent Documents 1 and 2, for example).

角膜や水晶体など前眼部の観察や診断には、一般的にスリットランプ顕微鏡が用いられる。例えば、医師は、スリット光による照明野やフォーカス位置を移動させつつ診断部位全体を観察して異常の有無を判断する。また、コンタクトレンズのフィッティング状態の確認など、視力補正器具の処方において、スリットランプ顕微鏡が用いられることもある。更に、オプトメトリストのように医師以外の資格を持つ者や、眼鏡店の店員などが、眼疾患のスクリーニング等の目的でスリットランプ顕微鏡を用いることもある。 A slit lamp microscope is generally used for observation and diagnosis of the anterior segment of the eye such as the cornea and lens. For example, a doctor observes the entire diagnostic region while moving the illumination field and focus position of the slit light to determine the presence or absence of an abnormality. In addition, a slit lamp microscope is sometimes used in the prescription of a vision correction device, such as confirmation of the fitting state of contact lenses. In addition, optometrists who are not qualified as medical doctors, eyeglass store clerks, and the like sometimes use slit lamp microscopes for purposes such as screening for eye diseases.

ところで、近年の情報通信技術の進歩を受けて、遠隔医療技術に関する研究開発が発展を見せている。遠隔医療とは、インターネット等の情報技術を利用して、遠隔地に居る患者に対して診療を行う行為である。特許文献3、4にはスリットランプ顕微鏡を遠隔地から操作するための技術が開示されている。 By the way, in response to recent advances in information communication technology, research and development on telemedicine technology is progressing. Telemedicine is the practice of providing medical care to patients in remote locations using information technology such as the Internet. Patent Documents 3 and 4 disclose techniques for remotely operating a slit lamp microscope.

しかしながら、スリットランプを用いて良好な画像を得るには、照明角度や撮影角度の調整など、微細で煩雑な操作が必要とされる。特許文献3、4に開示された技術では、目の前に居る被検者の眼を観察する場合でも難しい操作を、遠隔地に居る検者が実施しなければならないため、検査時間が長くなったり、良好な画像が得られなかったりといった問題が生じる。 However, in order to obtain a good image using a slit lamp, fine and complicated operations such as adjustment of illumination angle and photographing angle are required. With the techniques disclosed in Patent Documents 3 and 4, an examiner at a remote location has to perform difficult operations even when observing the eyes of a subject in front of the examinee, resulting in a long examination time. There arises a problem that a good image cannot be obtained.

また、上記のようにスリットランプ顕微鏡はスクリーニング等の検査に有効であるが、同装置に関する専門技術の保持者が不足しており、高品質な検査を多くの人に提供することができないという現状がある。 As mentioned above, slit lamp microscopes are effective for inspections such as screening, but there is a shortage of people with expertise in this equipment, and the current situation is that high-quality inspections cannot be provided to many people. There is

特開2016-159073号公報JP 2016-159073 A 特開2016-179004号公報JP 2016-179004 A 特開2000-116732号公報JP-A-2000-116732 特開2008-284273号公報JP 2008-284273 A

本発明の目的は、高品質なスリットランプ顕微鏡検査を広く提供することを可能にすることにある。 It is an object of the present invention to make it possible to widely provide high quality slit lamp microscopy.

例示的な実施形態の第1の態様は、被検眼の前眼部にスリット光を照射する照明系と、前記スリット光が照射されている前記前眼部からの光を導く光学系と前記光学系により導かれた前記光を撮像面で受光する撮像素子とを含む撮影系と、前記照明系及び前記撮影系を移動する移動機構とを含み、前記照明系の光軸に沿う物面と前記光学系と前記撮像面とがシャインプルーフの条件を満足し、前記撮影系は、前記移動機構による前記照明系及び前記撮影系の移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより前記前眼部の複数の画像を取得することを特徴とするスリットランプ顕微鏡である。 A first aspect of exemplary embodiments includes an illumination system that irradiates an anterior segment of an eye to be inspected with slit light, an optical system that guides light from the anterior segment that is irradiated with the slit light, and the optical system. a photographing system including an imaging device for receiving the light guided by the system on an imaging surface; The optical system and the imaging surface satisfy the Scheimpflug condition, and the photographing system repeats photographing in parallel with the movement of the illumination system and the photographing system by the movement mechanism, thereby capturing a plurality of images of the anterior ocular segment. It is a slit lamp microscope characterized by acquiring an image of .

例示的な実施形態の第2の態様は、第1の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記撮影系は、前記スリット光が照射されている前記前眼部からの光を導く第1光学系と、前記第1光学系により導かれた前記光を第1撮像面で受光する第1撮像素子とを含み、前記移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより第1画像群を取得する第1撮影系と、前記スリット光が照射されている前記前眼部からの光を導く第2光学系と、前記第2光学系により導かれた前記光を第2撮像面で受光する第2撮像素子とを含み、前記移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより第2画像群を取得する第2撮影系とを含み、前記第1光学系の光軸と前記第2光学系の光軸とは、互いに異なる向きに配置されており、前記物面と前記第1光学系と前記第1撮像面とがシャインプルーフの条件を満足し、且つ、前記物面と前記第2光学系と前記第2撮像面とがシャインプルーフの条件を満足することを特徴とする。 A second aspect of the exemplary embodiment is the slit lamp microscope of the first aspect, wherein the imaging system is a first optical system that guides light from the anterior segment irradiated with the slit light. and a first imaging device that receives the light guided by the first optical system on a first imaging surface, and acquires a first image group by repeatedly photographing in parallel with the movement. an imaging system, a second optical system that guides light from the anterior segment irradiated with the slit light, and a second imaging device that receives the light guided by the second optical system on a second imaging surface. and a second photographing system for acquiring a second group of images by repeatedly photographing in parallel with the movement, wherein the optical axis of the first optical system and the optical axis of the second optical system are , the object plane, the first optical system, and the first imaging plane satisfy the Scheimpflug condition, and the object plane, the second optical system, and the second It is characterized in that the imaging surface satisfies the Scheimpflug condition.

例示的な実施形態の第3の態様は、第2の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記第1光学系の光軸と前記第2光学系の光軸とは、前記照明系の光軸に対して互いに反対の方向に傾斜して配置されており、前記第1撮影系及び前記第2撮影系により実質的に同時に取得された2つの画像のいずれかにアーティファクトが含まれるか判定し、前記2つの画像のうちの一方の画像にアーティファクトが含まれると判定されたときに他方の画像を選択する画像選択部を更に含むことを特徴とする。 A third aspect of the exemplary embodiment is the slit lamp microscope of the second aspect, wherein the optical axis of the first optical system and the optical axis of the second optical system are the optical axis of the illumination system. Determining whether any of the two images obtained substantially simultaneously by the first imaging system and the second imaging system includes an artifact, The method further includes an image selection unit that selects the other image when it is determined that one of the two images contains an artifact.

例示的な実施形態の第4の態様は、第3の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記画像選択部により前記第1画像群及び前記第2画像群から選択された画像を含む画像群に基づいて3次元画像を構築する3次元画像構築部を更に含むことを特徴とする。 A fourth aspect of the exemplary embodiment is the slit lamp microscope of the third aspect, wherein the image group including the images selected from the first image group and the second image group by the image selection unit A three-dimensional image constructing unit for constructing a three-dimensional image based on the image is further included.

例示的な実施形態の第5の態様は、第2の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記第1撮影系及び前記第2撮影系により実質的に同時に取得された2つの画像を比較することにより前記2つの画像のいずれかにアーティファクトが含まれるか判定し、前記2つの画像のいずれかにアーティファクトが含まれると判定されたときに当該アーティファクトを除去するアーティファクト除去部を更に含むことを特徴とする。 A fifth aspect of the exemplary embodiment is the slit lamp microscope of the second aspect, comprising comparing two images acquired substantially simultaneously by said first imaging system and said second imaging system. determining whether any of the two images includes an artifact by do.

例示的な実施形態の第6の態様は、第5の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記アーティファクト除去部によりアーティファクトが除去された画像を含む画像群に基づいて3次元画像を構築する3次元画像構築部を更に含むことを特徴とする。 A sixth aspect of the exemplary embodiment is the slit lamp microscope of the fifth aspect, wherein the 3D microscope constructs a 3D image based on a group of images including images with artifacts removed by the artifact remover. It is characterized by further comprising an image construction unit.

例示的な実施形態の第7の態様は、第1の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記撮影系により取得された前記複数の画像に基づいて3次元画像を構築する3次元画像構築部を更に含むことを特徴とする。 A seventh aspect of the exemplary embodiment is the slit lamp microscope of the first aspect, further comprising a three-dimensional image construction unit that constructs a three-dimensional image based on the plurality of images acquired by the imaging system. It is characterized by further comprising:

例示的な実施形態の第8の態様は、第4、6及び7の態様のいずれかのスリットランプ顕微鏡であって、前記移動機構は、前記照明系の光軸を回転軸として前記照明系及び前記撮影系を一体的に回転する回転機構を含み、前記照明系及び前記撮影系が第1回転位置に配置されているときに、前記撮影系は、前記複数の画像を取得し、前記第1回転位置と異なる第2回転位置に前記照明系及び前記撮影系が配置されているときに、前記撮影系は、前記照明系によりスリット光が照射されている前記前眼部の画像を取得し、前記3次元画像構築部は、前記第2回転位置において取得された前記画像に基づいて前記複数の画像の相対位置を決定する画像位置決定部を含むことを特徴とする。 An eighth aspect of exemplary embodiments is the slit lamp microscope according to any one of the fourth, sixth and seventh aspects, wherein the moving mechanism rotates the optical axis of the illumination system and A rotation mechanism integrally rotating the imaging system is included, and when the illumination system and the imaging system are arranged at a first rotation position, the imaging system acquires the plurality of images, and performs the first rotation. when the illumination system and the imaging system are arranged at a second rotational position different from the rotational position, the imaging system acquires an image of the anterior segment irradiated with slit light from the illumination system; The three-dimensional image constructing section includes an image position determining section that determines the relative positions of the plurality of images based on the image acquired at the second rotational position.

例示的な実施形態の第9の態様は、第4、6~8の態様のいずれかのスリットランプ顕微鏡であって、前記3次元画像構築部は、前記複数の画像のそれぞれから、前記スリット光の照射領域に対応する画像領域を抽出する画像領域抽出部と、前記画像領域抽出部により前記複数の画像からそれぞれ抽出された複数の画像領域を合成して3次元画像を構築する画像合成部とを含むことを特徴とする。 A ninth aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope of any one of the fourth, sixth to eighth aspects, wherein the three-dimensional image constructing unit extracts the slit light from each of the plurality of images. an image region extracting unit for extracting an image region corresponding to the irradiation region of the image region extracting unit; characterized by comprising

例示的な実施形態の第10の態様は、第9の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記画像領域抽出部は、前記複数の画像のそれぞれから、前記スリット光の照射領域及び前記前眼部の所定部位の双方に対応する画像領域を抽出することを特徴とする。 A tenth aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope according to the ninth aspect, wherein the image region extraction unit extracts the irradiation region of the slit light and the anterior ocular segment from each of the plurality of images. and extracting an image region corresponding to both of the predetermined parts of .

例示的な実施形態の第11の態様は、第10の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記所定部位は、角膜前面及び水晶体後面により画成される部位であることを特徴とする。 An eleventh aspect of the exemplary embodiment is the slit lamp microscope of the tenth aspect, wherein the predetermined portion is a portion defined by the anterior corneal surface and the posterior surface of the lens.

例示的な実施形態の第12の態様は、第4、6~11の態様のいずれかのスリットランプ顕微鏡であって、前記3次元画像をレンダリングしてレンダリング画像を構築するレンダリング部を更に含むことを特徴とする。 A twelfth aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope of any of the fourth, sixth to eleventh aspects, further comprising a rendering section that renders the three-dimensional image to construct a rendered image. characterized by

例示的な実施形態の第13の態様は、第12の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記3次元画像に対して断面が指定されたとき、前記レンダリング部は、前記3次元画像を当該断面で切断して3次元部分画像を構築することを特徴とする。 A thirteenth aspect of the exemplary embodiment is the slit lamp microscope according to the twelfth aspect, wherein when a cross section is specified for the three-dimensional image, the rendering unit converts the three-dimensional image to the cross section , to construct a three-dimensional partial image.

例示的な実施形態の第14の態様は、第12の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記3次元画像に対して断面が指定されたとき、前記レンダリング部は、当該断面を表す2次元断面画像を構築することを特徴とする。 A fourteenth aspect of the exemplary embodiment is the slit lamp microscope of the twelfth aspect, wherein when a cross-section is designated for the three-dimensional image, the rendering unit renders a two-dimensional cross-section representing the cross-section. It is characterized by constructing an image.

例示的な実施形態の第15の態様は、第12の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記3次元画像に対してスライスが指定されたとき、前記レンダリング部は、当該スライスに対応する3次元スライス画像を構築することを特徴とする。 A fifteenth aspect of the exemplary embodiment is the slit lamp microscope according to the twelfth aspect, wherein when a slice is designated for the three-dimensional image, the rendering unit renders a three-dimensional image corresponding to the slice. It is characterized by constructing a slice image.

例示的な実施形態の第16の態様は、第1~15の態様のいずれかのスリットランプ顕微鏡であって、前記照明系の光軸と前記撮影系の光軸とがなす角度である光軸角度に起因する歪みを補正するための処理を、前記複数の画像のうちの少なくとも1つに適用する歪み補正部を更に含むことを特徴とする。 A sixteenth aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope of any one of the first to fifteenth aspects, wherein the optical axis is an angle between the optical axis of the illumination system and the optical axis of the imaging system. The method further includes a distortion correction unit that applies processing for correcting distortion due to an angle to at least one of the plurality of images.

例示的な実施形態の第17の態様は、第16の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記撮影系に含まれる前記光学系の光軸は、前記照明系の光軸に対して、前記照明系の光軸に沿う第1方向及び前記スリット光の長手方向に沿う第2方向の双方に直交する第3方向に傾斜して配置されており、前記歪み補正部は、前記第1方向及び前記第2方向の双方を含む平面における歪みを補正するための処理を実行することを特徴とする。 A seventeenth aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope according to the sixteenth aspect, wherein the optical axis of the optical system included in the imaging system is aligned with the optical axis of the illumination system. The distortion correction section is arranged to be inclined in a third direction orthogonal to both a first direction along the optical axis of the system and a second direction along the longitudinal direction of the slit light, and the distortion correction section is arranged in the first direction and the It is characterized by performing processing for correcting distortion in a plane containing both of the second directions.

例示的な実施形態の第18の態様は、第16又は17の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記歪み補正部は、所定の基準角度と前記光軸角度とに基づき設定された補正係数を予め記憶しており、当該補正係数に基づいて前記歪みを補正するための処理を実行することを特徴とする。 An eighteenth aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope according to the sixteenth or seventeenth aspect, wherein the distortion corrector adjusts a correction coefficient set based on a predetermined reference angle and the optical axis angle. It is characterized in that processing for correcting the distortion is executed based on the correction coefficient stored in advance.

例示的な実施形態の第19の態様は、第1~18の態様のいずれかのスリットランプ顕微鏡であって、前記撮影系により取得された前記複数の画像のうちの少なくとも1つを解析することにより所定の計測値を求める第1計測部を更に含むことを特徴とする。 A nineteenth aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope of any one of the first to eighteenth aspects, wherein analyzing at least one of the plurality of images acquired by the imaging system It is characterized by further including a first measuring unit that obtains a predetermined measured value.

例示的な実施形態の第20の態様は、第4、6~15の態様のいずれかのスリットランプ顕微鏡であって、前記3次元画像構築部により構築された前記3次元画像を解析することにより所定の計測値を求める第2計測部を更に含むことを特徴とする。 A twentieth aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope of any of the fourth, sixth to fifteenth aspects, wherein by analyzing the three-dimensional image constructed by the three-dimensional image construction unit It is characterized by further including a second measuring unit that obtains a predetermined measured value.

例示的な実施形態の第21の態様は、第1~20の態様のいずれかのスリットランプ顕微鏡であって、前記照明系及び前記撮影系は、少なくとも角膜前面及び水晶体後面により画成される部位に前記撮影系のピントが合うように構成されていることを特徴とする。 A twenty-first aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope of any one of the first to twentieth aspects, wherein the illumination system and the imaging system are defined by at least the anterior corneal surface and the posterior surface of the lens. It is characterized in that the photographing system is configured to be focused on.

例示的な実施形態の第22の態様は、第1~21の態様のいずれかのスリットランプ顕微鏡であって、前記照明系は、被検者の体軸方向を長手方向とするスリット光を前記前眼部に照射し、前記移動機構は、前記体軸方向に直交する方向に前記照明系及び前記撮影系を移動することを特徴とする。 A twenty-second aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope according to any one of the first to twenty-first aspects, wherein the illumination system emits slit light whose longitudinal direction is the body axis direction of the subject. The anterior segment is irradiated with the light, and the movement mechanism moves the illumination system and the imaging system in a direction orthogonal to the body axis direction.

例示的な実施形態の第23の態様は、第22の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記スリット光の長さは、前記体軸方向における角膜径以上であり、前記移動機構による前記照明系及び前記撮影系の移動距離は、前記体軸方向に直交する方向における角膜径以上であることを特徴とする。 A twenty-third aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope according to the twenty-second aspect, wherein the length of the slit light is equal to or longer than the corneal diameter in the body axis direction, and the illumination system by the moving mechanism and a moving distance of the imaging system is equal to or greater than a corneal diameter in a direction orthogonal to the body axis direction.

例示的な実施形態の第24の態様は、第1~23の態様のいずれかのスリットランプ顕微鏡であって、前記撮影系に含まれる前記光学系は、前記スリット光が照射されている前記前眼部からの光であって、前記照明系の光軸から離れる方向に進行する光を、前記照明系の光軸に近づく方向に反射する反射器と、前記反射器により反射された前記光を前記撮像面に結像させる1以上のレンズとを含むことを特徴とする。 A twenty-fourth aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope according to any one of the first to twenty-third aspects, wherein the optical system included in the imaging system comprises the front end irradiated with the slit light. a reflector that reflects light from the eye that travels away from the optical axis of the illumination system in a direction that approaches the optical axis of the illumination system; and a reflector that reflects the light reflected by the reflector. and one or more lenses for forming an image on the imaging surface.

例示的な実施形態の第25の態様は、第1~24の態様のいずれかのスリットランプ顕微鏡であって、撮影系による前記複数の画像の取得と並行して前記前眼部を固定位置から動画撮影する動画撮影系を更に含むことを特徴とする。 A twenty-fifth aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope of any one of the first to twenty-fourth aspects, wherein the anterior ocular segment is captured from a fixed position in parallel with acquisition of the plurality of images by an imaging system. It is characterized by further including a moving image capturing system for capturing moving images.

例示的な実施形態の第26の態様は、第25の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記動画撮影系により取得される動画像を解析して前記被検眼の運動を検出する運動検出部を更に含むことを特徴とする。 A twenty-sixth aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope of the twenty-fifth aspect, further comprising a motion detection unit that analyzes the moving image acquired by the moving image capturing system and detects the motion of the subject's eye. It is characterized by further comprising:

例示的な実施形態の第27の態様は、第26の態様のスリットランプ顕微鏡であって、前記運動検出部からの出力に基づいて前記移動機構を制御する移動制御部を更に含むことを特徴とする。 A twenty-seventh aspect of the exemplary embodiment is the slit lamp microscope of the twenty-sixth aspect, further comprising a movement control section that controls the movement mechanism based on an output from the movement detection section. do.

例示的な実施形態の第28の態様は、第1~27の態様のいずれかのスリットランプ顕微鏡であって、前記前眼部について取得された画像を情報処理装置に向けて送信する通信部を更に含むことを特徴とする。 A twenty-eighth aspect of the exemplary embodiments is the slit lamp microscope of any one of the first to twenty-seventh aspects, further comprising a communication unit that transmits the acquired image of the anterior segment to an information processing device. It is characterized by further comprising:

例示的な実施形態の第29の態様は、スリットランプ顕微鏡と、通信回線を介して前記スリットランプ顕微鏡に接続されており、前記スリットランプ顕微鏡により取得された被検眼の前眼部の画像を処理する情報処理装置とを含む眼科システムである。前記スリットランプ顕微鏡は、被検眼の前眼部にスリット光を照射する照明系と、前記スリット光が照射されている前記前眼部からの光を導く光学系と前記光学系により導かれた前記光を撮像面で受光する撮像素子とを含む撮影系と、前記照明系及び前記撮影系を移動する移動機構とを含む。前記照明系の光軸に沿う物面と前記光学系と前記撮像面とは、シャインプルーフの条件を満足する。前記撮影系は、前記移動機構による前記照明系及び前記撮影系の移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより前記前眼部の複数の画像を取得する。 A twenty-ninth aspect of the exemplary embodiment is a slit lamp microscope and connected to said slit lamp microscope via a communication line for processing an image of an anterior segment of an eye to be examined obtained by said slit lamp microscope. an ophthalmic system including an information processing device that The slit lamp microscope comprises an illumination system for irradiating an anterior segment of an eye to be inspected with slit light, an optical system for guiding light from the anterior segment irradiated with the slit light, and an optical system guided by the optical system. It includes an imaging system including an imaging element that receives light on an imaging surface, and a moving mechanism that moves the illumination system and the imaging system. An object plane along the optical axis of the illumination system, the optical system, and the imaging plane satisfy the Scheimpflug condition. The imaging system acquires a plurality of images of the anterior segment by repeatedly performing imaging in parallel with the movement of the illumination system and the imaging system by the moving mechanism.

例示的な実施形態の第30の態様は、第29の態様の眼科システムであって、前記スリットランプ顕微鏡の前記撮影系は、前記スリット光が照射されている前記前眼部からの光を導く第1光学系と、前記第1光学系により導かれた前記光を第1撮像面で受光する第1撮像素子とを含み、前記移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより第1画像群を取得する第1撮影系と、前記スリット光が照射されている前記前眼部からの光を導く第2光学系と、前記第2光学系により導かれた前記光を第2撮像面で受光する第2撮像素子とを含み、前記移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより第2画像群を取得する第2撮影系とを含み、前記第1光学系の光軸と前記第2光学系の光軸とは、互いに異なる向きに配置されており、前記物面と前記第1光学系と前記第1撮像面とがシャインプルーフの条件を満足し、且つ、前記物面と前記第2光学系と前記第2撮像面とがシャインプルーフの条件を満足することを特徴とする。 A thirtieth aspect of the exemplary embodiment is the ophthalmologic system of the twenty-ninth aspect, wherein the imaging system of the slit lamp microscope guides light from the anterior segment irradiated with the slit light. including a first optical system and a first imaging device that receives the light guided by the first optical system on a first imaging surface, and repeatedly photographing in parallel with the movement to obtain a first image group; a first imaging system for acquisition, a second optical system for guiding light from the anterior segment irradiated with the slit light, and a second imaging surface for receiving the light guided by the second optical system a second imaging device, and a second imaging system that obtains a second group of images by repeatedly performing imaging in parallel with the movement, wherein the optical axis of the first optical system and the second optical system The optical axes are arranged in directions different from each other, the object surface, the first optical system, and the first imaging surface satisfy the Scheimpflug condition, and the object surface and the second optical system and the second imaging surface satisfy the Scheimpflug condition.

例示的な実施形態の第31の態様は、第30の態様の眼科システムであって、前記第1光学系の光軸と前記第2光学系の光軸とは、前記照明系の光軸に対して互いに反対の方向に傾斜して配置されており、前記情報処理装置は、前記第1撮影系及び前記第2撮影系により実質的に同時に取得された2つの画像のいずれかにアーティファクトが含まれるか判定し、前記2つの画像のうちの一方の画像にアーティファクトが含まれると判定されたときに他方の画像を選択する画像選択部を含むことを特徴とする。 A thirty-first aspect of the exemplary embodiment is the ophthalmic system of the thirtieth aspect, wherein the optical axis of the first optical system and the optical axis of the second optical system are aligned with the optical axis of the illumination system. and the information processing device includes an artifact in any of the two images obtained substantially simultaneously by the first imaging system and the second imaging system. and an image selection unit that, when it is determined that one of the two images contains an artifact, selects the other image.

例示的な実施形態の第32の態様は、第31の態様の眼科システムであって、前記情報処理装置は、前記画像選択部により前記第1画像群及び前記第2画像群から選択された画像を含む画像群に基づいて3次元画像を構築する3次元画像構築部を含むことを特徴とする。 A thirty-second aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmologic system according to the thirty-first aspect, wherein the information processing device selects images selected from the first image group and the second image group by the image selection unit. and a three-dimensional image construction unit for constructing a three-dimensional image based on an image group including

例示的な実施形態の第33の態様は、第30の態様の眼科システムであって、前記情報処理装置は、前記第1撮影系及び前記第2撮影系により実質的に同時に取得された2つの画像を比較することにより前記2つの画像のいずれかにアーティファクトが含まれるか判定し、前記2つの画像のいずれかにアーティファクトが含まれると判定されたときに当該アーティファクトを除去するアーティファクト除去部を含むことを特徴とする。 A thirty-third aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmologic system of the thirtieth aspect, wherein the information processing device comprises two images acquired substantially simultaneously by the first imaging system and the second imaging system. An artifact removal unit that determines whether any of the two images includes an artifact by comparing the images, and removes the artifact when it is determined that any of the two images includes the artifact. It is characterized by

例示的な実施形態の第34の態様は、第33の態様の眼科システムであって、前記情報処理装置は、前記アーティファクト除去部によりアーティファクトが除去された画像を含む画像群に基づいて3次元画像を構築する3次元画像構築部を含むことを特徴とする。 A thirty-fourth aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmologic system according to the thirty-third aspect, wherein the information processing device generates a three-dimensional image based on an image group including an image from which the artifact has been removed by the artifact removal unit. and a three-dimensional image constructing unit for constructing the .

例示的な実施形態の第35の態様は、第29の態様の眼科システムであって、前記情報処理装置は、前記撮影系により取得された前記複数の画像に基づいて3次元画像を構築する3次元画像構築部を含むことを特徴とする。 A thirty-fifth aspect of the exemplary embodiment is the ophthalmologic system of the twenty-ninth aspect, wherein the information processing device constructs a three-dimensional image based on the plurality of images acquired by the imaging system. It is characterized by including a dimensional image construction unit.

例示的な実施形態の第36の態様は、第32、34及び35の態様のいずれかの眼科システムであって、前記移動機構は、前記照明系の光軸を回転軸として前記照明系及び前記撮影系を一体的に回転する回転機構を含み、前記照明系及び前記撮影系が第1回転位置に配置されているときに、前記撮影系は、前記複数の画像を取得し、前記第1回転位置と異なる第2回転位置に前記照明系及び前記撮影系が配置されているときに、前記撮影系は、前記照明系によりスリット光が照射されている前記前眼部の画像を取得し、前記3次元画像構築部は、前記第2回転位置において取得された前記画像に基づいて前記複数の画像の相対位置を決定する画像位置決定部を含むことを特徴とする。 A thirty-sixth aspect of the exemplary embodiment is the ophthalmologic system of any one of the thirty-second, thirty-fourth, and thirty-fifth aspects, wherein the moving mechanism rotates about the optical axis of the illumination system and rotates the illumination system and the a rotation mechanism for integrally rotating an imaging system, wherein when the illumination system and the imaging system are arranged at a first rotation position, the imaging system acquires the plurality of images and performs the first rotation; When the illumination system and the imaging system are arranged at a second rotational position different from the position of the The three-dimensional image constructing section includes an image position determining section that determines the relative positions of the plurality of images based on the images acquired at the second rotational positions.

例示的な実施形態の第37の態様は、第32、34~36の態様のいずれかの眼科システムであって、前記3次元画像構築部は、前記複数の画像のそれぞれから、前記スリット光の照射領域に対応する画像領域を抽出する画像領域抽出部と、前記画像領域抽出部により前記複数の画像からそれぞれ抽出された複数の画像領域を合成して3次元画像を構築する画像合成部とを含むことを特徴とする。 A thirty-seventh aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmologic system of any one of the thirty-second, thirty-fourth to thirty-sixth aspects, wherein the three-dimensional image constructing unit extracts slit light from each of the plurality of images. An image region extraction unit for extracting an image region corresponding to an irradiation region, and an image synthesis unit for constructing a three-dimensional image by synthesizing a plurality of image regions respectively extracted from the plurality of images by the image region extraction unit. characterized by comprising

例示的な実施形態の第38の態様は、第37の態様の眼科システムであって、前記画像領域抽出部は、前記複数の画像のそれぞれから、前記スリット光の照射領域及び前記前眼部の所定部位の双方に対応する画像領域を抽出することを特徴とする。 A thirty-eighth aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmologic system according to the thirty-seventh aspect, wherein the image region extracting unit extracts the irradiation region of the slit light and the anterior segment from each of the plurality of images. It is characterized by extracting image regions corresponding to both of the predetermined parts.

例示的な実施形態の第39の態様は、第38の態様の眼科システムであって、前記所定部位は、角膜前面及び水晶体後面により画成される部位であることを特徴とする。 A thirty-ninth aspect of the exemplary embodiment is the ophthalmic system of the thirty-eighth aspect, wherein the predetermined portion is a portion defined by the anterior corneal surface and the posterior surface of the lens.

例示的な実施形態の第40の態様は、第32、34~39の態様のいずれかの眼科システムであって、前記情報処理装置は、前記3次元画像をレンダリングしてレンダリング画像を構築するレンダリング部を含むことを特徴とする。 A fortieth aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmologic system of any one of the thirty-second, thirty-fourth to thirty-ninth aspects, wherein the information processing device renders the three-dimensional image to construct a rendered image. It is characterized by including a part.

例示的な実施形態の第41の態様は、第40の態様の眼科システムであって、前記3次元画像に対して断面が指定されたとき、前記レンダリング部は、前記3次元画像を当該断面で切断して3次元部分画像を構築することを特徴とする。 A forty-first aspect of the exemplary embodiment is the ophthalmologic system of the fortieth aspect, wherein when a cross-section is designated for the three-dimensional image, the rendering unit renders the three-dimensional image with the cross-section It is characterized by constructing a three-dimensional partial image by cutting.

例示的な実施形態の第42の態様は、第40の態様の眼科システムであって、前記3次元画像に対して断面が指定されたとき、前記レンダリング部は、当該断面を表す2次元断面画像を構築することを特徴とする。 A forty-second aspect of the exemplary embodiment is the ophthalmologic system of the fortieth aspect, wherein when a cross-section is designated for the three-dimensional image, the rendering unit generates a two-dimensional cross-sectional image representing the cross-section. characterized by constructing

例示的な実施形態の第43の態様は、第40の態様の眼科システムであって、前記3次元画像に対してスライスが指定されたとき、前記レンダリング部は、当該スライスに対応する3次元スライス画像を構築することを特徴とする。 A forty-third aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmologic system of the fortieth aspect, wherein when a slice is specified for the three-dimensional image, the rendering unit creates a three-dimensional slice corresponding to the slice. It is characterized by constructing an image.

例示的な実施形態の第44の態様は、第29~43の態様のいずれかの眼科システムであって、前記情報処理装置は、前記照明系の光軸と前記撮影系の光軸とがなす角度である光軸角度に起因する歪みを補正するための処理を、前記複数の画像のうちの少なくとも1つに適用する歪み補正部を含むことを特徴とする。 A forty-fourth aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmologic system according to any one of the twenty-ninth to forty-third aspects, wherein the information processing device comprises an optical axis formed by an optical axis of the illumination system and an optical axis of the imaging system. It is characterized by including a distortion correction unit that applies processing for correcting distortion caused by an optical axis angle, which is an angle, to at least one of the plurality of images.

例示的な実施形態の第45の態様は、第44の態様の眼科システムであって、前記撮影系に含まれる前記光学系の光軸は、前記照明系の光軸に対して、前記照明系の光軸に沿う第1方向及び前記スリット光の長手方向に沿う第2方向の双方に直交する第3方向に傾斜して配置されており、前記歪み補正部は、前記第1方向及び前記第2方向の双方を含む平面における歪みを補正するための処理を実行することを特徴とする。 A forty-fifth aspect of the exemplary embodiment is the ophthalmologic system of the forty-fourth aspect, wherein an optical axis of the optical system included in the imaging system is offset with respect to an optical axis of the illumination system. and a third direction perpendicular to both the first direction along the optical axis of the slit light and the second direction along the longitudinal direction of the slit light. It is characterized by executing processing for correcting distortion in a plane containing both of the two directions.

例示的な実施形態の第46の態様は、第44又は45の態様の眼科システムであって、前記歪み補正部は、所定の基準角度と前記光軸角度とに基づき設定された補正係数を予め記憶しており、当該補正係数に基づいて前記歪みを補正するための処理を実行することを特徴とする。 A forty-sixth aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmologic system of the forty-fourth or forty-fifth aspect, wherein the distortion correction section pre-sets a correction coefficient based on a predetermined reference angle and the optical axis angle. It is characterized in that processing for correcting the distortion is executed based on the correction coefficient.

例示的な実施形態の第47の態様は、第29~46の態様のいずれかの眼科システムであって、前記情報処理装置は、前記撮影系により取得された前記複数の画像のうちの少なくとも1つを解析することにより所定の計測値を求める第1計測部を含むことを特徴とする。 A forty-seventh aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmologic system according to any one of the twenty-ninth to forty-sixth aspects, wherein the information processing device extracts at least one of the plurality of images acquired by the imaging system. It is characterized by including a first measuring unit that obtains a predetermined measured value by analyzing one.

例示的な実施形態の第48の態様は、第32、34~43の態様のいずれかの眼科システムであって、前記情報処理装置は、前記3次元画像構築部により構築された前記3次元画像を解析することにより所定の計測値を求める第2計測部を含むことを特徴とする。 A forty-eighth aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmologic system according to any one of the thirty-second, thirty-fourth to forty-third aspects, wherein the information processing device constructs the three-dimensional image constructed by the three-dimensional image constructing unit. is characterized by including a second measuring unit that obtains a predetermined measured value by analyzing .

例示的な実施形態の第49の態様は、第29~48の態様のいずれかの眼科システムであって、前記照明系及び前記撮影系は、少なくとも角膜前面及び水晶体後面により画成される部位に前記撮影系のピントが合うように構成されていることを特徴とする。 A forty-ninth aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmic system of any of the twenty-ninth to forty-eighth aspects, wherein the illumination system and the imaging system are positioned at a region defined by at least the anterior corneal surface and the posterior surface of the lens. It is characterized in that the photographing system is configured to be in focus.

例示的な実施形態の第50の態様は、第29~49の態様のいずれかの眼科システムであって、前記照明系は、被検者の体軸方向を長手方向とするスリット光を前記前眼部に照射し、前記移動機構は、前記体軸方向に直交する方向に前記照明系及び前記撮影系を移動することを特徴とする。 A fiftieth aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmologic system according to any one of the twenty-ninth to forty-ninth aspects, wherein the illumination system emits slit light whose longitudinal direction is the body axis direction of the subject. The eye is irradiated with the light, and the moving mechanism moves the illumination system and the photographing system in a direction orthogonal to the body axis direction.

例示的な実施形態の第51の態様は、第50の態様の眼科システムであって、前記スリット光の長さは、前記体軸方向における角膜径以上であり、前記移動機構による前記照明系及び前記撮影系の移動距離は、前記体軸方向に直交する方向における角膜径以上であることを特徴とする。 A fifty-first aspect of the exemplary embodiment is the ophthalmologic system of the fiftieth aspect, wherein the length of the slit light is equal to or longer than the corneal diameter in the body axis direction, and the illumination system and the A movement distance of the imaging system is equal to or greater than a corneal diameter in a direction orthogonal to the body axis direction.

例示的な実施形態の第52の態様は、第29~51の態様のいずれかの眼科システムであって、前記撮影系に含まれる前記光学系は、前記スリット光が照射されている前記前眼部からの光であって、前記照明系の光軸から離れる方向に進行する光を、前記照明系の光軸に近づく方向に反射する反射器と、前記反射器により反射された前記光を前記撮像面に結像させる1以上のレンズとを含むことを特徴とする。 A fifty-second aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmologic system according to any one of the twenty-ninth to fifty-first aspects, wherein the optical system included in the imaging system is arranged in the anterior eye illuminated with the slit light. a reflector that reflects light, which is light from a part and travels in a direction away from the optical axis of the illumination system, in a direction approaching the optical axis of the illumination system; and one or more lenses for forming an image on an imaging surface.

例示的な実施形態の第53の態様は、第29~52の態様のいずれかの眼科システムであって、前記スリットランプ顕微鏡は、撮影系による前記複数の画像の取得と並行して前記前眼部を固定位置から動画撮影する動画撮影系を含むことを特徴とする。 A fifty-third aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmic system of any of the twenty-ninth to fifty-second aspects, wherein the slit lamp microscope is configured to scan the anterior eye in parallel with acquiring the plurality of images by an imaging system. It is characterized by including a moving image capturing system for capturing a moving image from a fixed position of the unit.

例示的な実施形態の第54の態様は、第53の態様の眼科システムであって、前記スリットランプ顕微鏡は、前記動画撮影系により取得される動画像を解析して前記被検眼の運動を検出する運動検出部を含むことを特徴とする。 A fifty-fourth aspect of the exemplary embodiment is the ophthalmologic system of the fifty-third aspect, wherein the slit lamp microscope analyzes the moving image acquired by the moving image capturing system to detect the movement of the subject's eye. It is characterized by including a motion detection unit that

例示的な実施形態の第55の態様は、第54の態様の眼科システムであって、前記スリットランプ顕微鏡は、前記運動検出部からの出力に基づいて前記移動機構を制御する移動制御部を含むことを特徴とする。 A fifty-fifth aspect of the exemplary embodiments is the ophthalmic system of the fifty-fourth aspect, wherein the slit lamp microscope includes a movement controller that controls the movement mechanism based on output from the motion detector It is characterized by

例示的な実施形態によれば、高品質なスリットランプ顕微鏡検査を広く提供することが可能になる。 Exemplary embodiments enable high quality slit lamp microscopy to be widely available.

例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の構成を表す概略図である。1 is a schematic diagram representing the configuration of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; FIG. 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の動作を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the operation of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の動作を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the operation of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の動作を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the operation of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を表すフローチャートである。4 is a flow chart representing the use of a slit lamp microscope in accordance with an exemplary embodiment; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の構成を表す概略図である。1 is a schematic diagram representing the configuration of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; FIG. 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の構成の変形例を表す概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram representing a variation of the configuration of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の構成を表す概略図である。1 is a schematic diagram representing the configuration of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; FIG. 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の動作を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the operation of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の構成を表す概略図である。1 is a schematic diagram representing the configuration of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; FIG. 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の構成を表す概略図である。1 is a schematic diagram representing the configuration of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; FIG. 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の構成を表す概略図である。1 is a schematic diagram representing the configuration of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; FIG. 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の動作を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the operation of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の構成を表す概略図である。1 is a schematic diagram representing the configuration of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; FIG. 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の構成を表す概略図である。1 is a schematic diagram representing the configuration of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; FIG. 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の構成を表す概略図である。1 is a schematic diagram representing the configuration of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; FIG. 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の構成を表す概略図である。1 is a schematic diagram representing the configuration of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; FIG. 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の構成を表す概略図である。1 is a schematic diagram representing the configuration of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; FIG. 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining how the slit lamp microscope according to the exemplary embodiment is used; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining how the slit lamp microscope according to the exemplary embodiment is used; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining how the slit lamp microscope according to the exemplary embodiment is used; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining a usage pattern of a slit lamp microscope according to an exemplary embodiment; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining how the slit lamp microscope according to the exemplary embodiment is used; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining how the slit lamp microscope according to the exemplary embodiment is used; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining how the slit lamp microscope according to the exemplary embodiment is used; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining how the slit lamp microscope according to the exemplary embodiment is used; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining how the slit lamp microscope according to the exemplary embodiment is used; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining how the slit lamp microscope according to the exemplary embodiment is used; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining how the slit lamp microscope according to the exemplary embodiment is used; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining how the slit lamp microscope according to the exemplary embodiment is used; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining how the slit lamp microscope according to the exemplary embodiment is used; 例示的な実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の使用形態を説明するための概略図である。FIG. 4 is a schematic diagram for explaining how the slit lamp microscope according to the exemplary embodiment is used; 例示的な実施形態に係る眼科システムの構成を表す概略図である。1 is a schematic diagram representing the configuration of an ophthalmic system according to an exemplary embodiment; FIG. 例示的な実施形態に係る眼科システムの構成を表す概略図である。1 is a schematic diagram representing the configuration of an ophthalmic system according to an exemplary embodiment; FIG. 例示的な実施形態に係る眼科システムの構成を表す概略図である。1 is a schematic diagram representing the configuration of an ophthalmic system according to an exemplary embodiment; FIG.

例示的な実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本明細書にて引用した文献に開示された事項などの任意の公知技術を実施形態に組み合わせることができる。 Exemplary embodiments are described in detail with reference to the drawings. It should be noted that any known technology such as the matters disclosed in the documents cited in this specification can be combined with the embodiments.

実施形態に係るスリットランプ顕微鏡は、例えば、眼鏡店や医療施設に設置されてもよいし、可搬型であってもよい。実施形態に係るスリットランプ顕微鏡は、典型的には、同装置に関する専門技術保持者が側にいない状況や環境で使用される。なお、実施形態に係るスリットランプ顕微鏡は、専門技術保持者が側にいる状況や環境で使用されてもよいし、専門技術保持者が遠隔地から監視、指示、操作することが可能な状況や環境で使用されてもよい。 The slit lamp microscope according to the embodiment may be installed, for example, in an optician or medical facility, or may be portable. Embodiments of slit lamp microscopes are typically used in situations and environments where no one with expertise in the equipment is available. In addition, the slit lamp microscope according to the embodiment may be used in a situation or an environment where the expert is nearby, or in a situation where the expert is remotely monitored, instructed, or operated. environment may be used.

実施形態に係る眼科システムは、1以上のスリットランプ顕微鏡と、1以上の情報処理装置とを含み、例えば遠隔医療に使用可能である。情報処理装置は、スリットランプ顕微鏡により取得された画像を受けてこれを処理する。情報処理装置は、スリットランプ顕微鏡や他の情報処理装置にデータを送信可能であってよい。情報処理装置の用途は、例えば、画像解析、画像処理、読影などであってよい。 An ophthalmic system according to an embodiment includes one or more slit lamp microscopes and one or more information processing devices, and can be used for telemedicine, for example. The information processing device receives and processes the images acquired by the slit lamp microscope. The information processing device may be capable of transmitting data to a slit lamp microscope or other information processing device. The use of the information processing apparatus may be, for example, image analysis, image processing, image interpretation, and the like.

実施形態の眼科システムが遠隔医療に用いられる場合、スリットランプ顕微鏡により取得された画像の読影を、このスリットランプ顕微鏡が設置された施設から離れた遠隔地にいる者が行う。読影者は、典型的には医師であり、スリットランプ顕微鏡に関する専門技術の保持者である。また、情報処理技術(例えば、人工知能、画像解析、画像処理)を利用したコンピュータによる読影支援を採用することも可能である。 When the ophthalmologic system of the embodiment is used for telemedicine, an image obtained by a slit lamp microscope is interpreted by a person at a remote location away from the facility where the slit lamp microscope is installed. The reader is typically a medical doctor and possesses expertise in slit lamp microscopy. It is also possible to employ computer-assisted image interpretation using information processing technology (for example, artificial intelligence, image analysis, and image processing).

スリットランプ顕微鏡が設置される施設の例として、眼鏡店、オプトメトリスト、医療機関、健康診断会場、検診会場、患者の自宅、福祉施設、公共施設、検診車などがある。 Examples of facilities where slit lamp microscopes are installed include opticians, optometrists, medical institutions, health checkup venues, examination venues, patient's homes, welfare facilities, public facilities, and examination vehicles.

実施形態に係るスリットランプ顕微鏡は、少なくともスリットランプ顕微鏡としての機能を有する眼科撮影装置であり、他の撮影機能(モダリティ)を更に備えていてもよい。他のモダリティの例として、眼底カメラ、SLO、OCTなどがある。実施形態に係るスリットランプ顕微鏡は、被検眼の特性を測定する機能を更に備えていてもよい。測定機能の例として、視力測定、屈折測定、眼圧測定、角膜内皮細胞測定、収差測定、視野測定などがある。実施形態に係るスリットランプ顕微鏡は、撮影画像や測定データを解析するためのアプリケーションを更に備えていてもよい。実施形態に係るスリットランプ顕微鏡は、治療や手術のための機能を更に備えていてもよい。その例として光凝固治療や光線力学的療法がある。 The slit lamp microscope according to the embodiment is an ophthalmic imaging apparatus that has at least a function as a slit lamp microscope, and may further include other imaging functions (modalities). Examples of other modalities include fundus camera, SLO, OCT, and the like. The slit lamp microscope according to the embodiment may further have a function of measuring characteristics of an eye to be examined. Examples of measurement functions include visual acuity measurements, refraction measurements, intraocular pressure measurements, corneal endothelial cell measurements, aberration measurements, and perimetry. The slit lamp microscope according to the embodiment may further include an application for analyzing captured images and measurement data. The slit lamp microscope according to the embodiment may further have functions for treatment and surgery. Examples include photocoagulation and photodynamic therapy.

以下、様々な例示的な実施形態について説明する。これら実施形態のうちのいずれか2つ又はそれ以上を組み合わせることが可能である。また、これら実施形態のそれぞれ又は2以上の組み合わせに任意の公知技術に基づく変形(付加、置換等)を施すことが可能である。 Various exemplary embodiments are described below. Any two or more of these embodiments can be combined. Also, each of these embodiments or a combination of two or more thereof can be modified (addition, replacement, etc.) based on any known technique.

以下に例示する実施形態において、「プロセッサ」は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)、プログラマブル論理デバイス(例えば、SPLD(Simple Programmable Logic Device)、CPLD(Complex Programmable Logic Device)、FPGA(Field Programmable Gate Array))等の回路を意味する。プロセッサは、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムやデータを読み出し実行することで、その実施形態に係る機能を実現する。 In the embodiments illustrated below, the “processor” includes, for example, a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphics Processing Unit), an ASIC (Application Specific Integrated Circuit), a programmable logic device (e.g., SPLD (Simple Programmable Logic) Device , CPLD (Complex Programmable Logic Device), FPGA (Field Programmable Gate Array)) or the like. The processor implements the functions according to the embodiment by, for example, reading and executing programs and data stored in a storage circuit or storage device.

〈第1実施形態〉
第1実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の例を図1に示す。
<First Embodiment>
FIG. 1 shows an example of a slit lamp microscope according to the first embodiment.

スリットランプ顕微鏡1は、被検眼Eの前眼部撮影に用いられ、照明系2と、撮影系3と、移動機構6と、制御部7と、データ処理部8と、通信部9とを含む。なお、符号Cは角膜を示し、符号CLは水晶体を示す。 A slit lamp microscope 1 is used for imaging the anterior segment of an eye E to be examined, and includes an illumination system 2, an imaging system 3, a moving mechanism 6, a control section 7, a data processing section 8, and a communication section 9. . In addition, the code|symbol C shows a cornea, and the code|symbol CL shows a lens.

スリットランプ顕微鏡1は、単一の装置であってもよいし、2以上の装置を含むシステムであってもよい。後者の例として、スリットランプ顕微鏡1は、照明系2、撮影系3、及び移動機構6を含む本体装置と、制御部7、データ処理部8、及び通信部9を含むコンピュータと、本体装置とコンピュータとの間の通信を担う通信デバイスとを含む。コンピュータは、例えば、本体装置とともに設置されてもよいし、ネットワーク上に設置されていてもよい。 The slit lamp microscope 1 may be a single device or a system including two or more devices. As an example of the latter, the slit lamp microscope 1 includes a main unit including an illumination system 2, an imaging system 3, and a moving mechanism 6, a computer including a control unit 7, a data processing unit 8, and a communication unit 9, and a main unit. and a communication device responsible for communicating with the computer. The computer, for example, may be installed together with the main unit, or may be installed on the network.

[照明系2]
照明系2は、被検眼Eの前眼部にスリット光を照射する。符号2aは、照明系2の光軸(照明光軸)を示す。照明系2は、従来のスリットランプ顕微鏡の照明系と同様の構成を備えていてよい。例えば、図示は省略するが、照明系2は、被検眼Eから遠い側から順に、照明光源と、正レンズと、スリット形成部と、対物レンズとを含む。
[Illumination system 2]
The illumination system 2 irradiates the anterior segment of the eye E to be examined with slit light. Reference numeral 2a denotes the optical axis of the illumination system 2 (illumination optical axis). The illumination system 2 may have a configuration similar to that of a conventional slit lamp microscope illumination system. For example, although illustration is omitted, the illumination system 2 includes an illumination light source, a positive lens, a slit forming section, and an objective lens in order from the far side from the eye E to be examined.

照明光源は照明光を出力する。照明系2は複数の照明光源を備えていてよい。例えば、照明系2は、連続光を出力する照明光源と、フラッシュ光を出力する照明光源とを含んでいてよい。また、照明系2は、前眼部用照明光源と後眼部用照明光源とを含んでいてよい。また、照明系2は、出力波長が異なる2以上の照明光源を含んでいてよい。典型的な照明系2は、照明光源として可視光源を含む。照明系2は、赤外光源を含んでいてもよい。照明光源から出力された照明光は、正レンズを通過してスリット形成部に投射される。 The illumination light source outputs illumination light. The illumination system 2 may comprise a plurality of illumination sources. For example, the illumination system 2 may include an illumination light source that outputs continuous light and an illumination light source that outputs flash light. In addition, the illumination system 2 may include an anterior segment illumination light source and a posterior segment illumination light source. Also, the illumination system 2 may include two or more illumination light sources with different output wavelengths. A typical illumination system 2 includes a visible light source as the illumination source. Illumination system 2 may include an infrared light source. The illumination light output from the illumination light source passes through the positive lens and is projected onto the slit forming portion.

スリット形成部は、照明光の一部を通過させてスリット光を生成する。典型的なスリット形成部は、一対のスリット刃を有する。これらスリット刃の間隔(スリット幅)を変更することで照明光が通過する領域(スリット)の幅を変更し、これによりスリット光の幅が変更される。また、スリット形成部は、スリット光の長さを変更可能に構成されてもよい。スリット光の長さとは、スリット幅に対応するスリット光の断面幅方向に直交する方向におけるスリット光の断面寸法である。スリット光の幅やスリット光の長さは、典型的には、スリット光の前眼部への投影像の寸法として表現される。 The slit forming part passes a part of the illumination light to generate slit light. A typical slitting section has a pair of slitting blades. By changing the interval (slit width) between these slit blades, the width of the region (slit) through which the illumination light passes is changed, thereby changing the width of the slit light. Also, the slit forming section may be configured to change the length of the slit light. The length of the slit light is the cross-sectional dimension of the slit light in the direction orthogonal to the cross-sectional width direction of the slit light corresponding to the slit width. The width of the slit light and the length of the slit light are typically expressed as dimensions of the projected image of the slit light onto the anterior segment of the eye.

スリット形成部により生成されたスリット光は、対物レンズにより屈折されて被検眼Eの前眼部に照射される。 The slit light generated by the slit forming section is refracted by the objective lens and irradiated to the anterior segment of the eye E to be examined.

照明系2は、スリット光のフォーカス位置を変更するための合焦機構を更に含んでいてもよい。合焦機構は、例えば、対物レンズを照明光軸2aに沿って移動させる。対物レンズの移動は、自動及び/又は手動で実行可能である。なお、対物レンズとスリット形成部との間の照明光軸2a上の位置に合焦レンズを配置し、この合焦レンズを照明光軸2aに沿って移動させることによってスリット光のフォーカス位置を変更可能としてもよい。 The illumination system 2 may further include a focusing mechanism for changing the focus position of the slit light. The focusing mechanism, for example, moves the objective lens along the illumination optical axis 2a. Movement of the objective lens can be performed automatically and/or manually. A focusing lens is arranged at a position on the illumination optical axis 2a between the objective lens and the slit forming part, and the focus position of the slit light is changed by moving the focusing lens along the illumination optical axis 2a. It may be possible.

なお、図1は上面図であり、同図に示すように、本実施形態では、被検眼Eの軸に沿う方向をZ方向とし、これに直交する方向のうち被検者にとって左右の方向をX方向とし、X方向及びZ方向の双方に直交する方向をY方向とする。典型的には、X方向は左眼と右眼との配列方向であり、Y方向は被検者の体軸に沿う方向(体軸方向)である。また、本実施形態では、照明光軸2aが被検眼Eの軸に一致するように、より広義には、照明光軸2aが被検眼Eの軸に平行に配置されるようにスリットランプ顕微鏡1のアライメントが実行される。アライメントについては後述する。 Note that FIG. 1 is a top view, and as shown in the same figure, in the present embodiment, the direction along the axis of the eye E to be examined is the Z direction, and the left and right directions for the subject among the directions orthogonal to this are the Z directions. Let the X direction be the direction, and let the direction perpendicular to both the X direction and the Z direction be the Y direction. Typically, the X direction is the direction in which the left and right eyes are arranged, and the Y direction is the direction along the body axis of the subject (body axis direction). In the present embodiment, the slit lamp microscope 1 is arranged so that the illumination optical axis 2a coincides with the axis of the eye E to be inspected, or in a broader sense, the illumination optical axis 2a is arranged parallel to the axis of the eye E to be inspected. alignment is performed. Alignment will be described later.

[撮影系3]
撮影系3は、照明系2からのスリット光が照射されている前眼部を撮影する。符号3aは、撮影系3の光軸(撮影光軸)を示す。本実施形態の撮影系3は、光学系4と、撮像素子5とを含む。
[Shooting system 3]
The photographing system 3 photographs the anterior segment illuminated by the slit light from the illumination system 2 . Reference numeral 3a denotes an optical axis (photographing optical axis) of the photographing system 3. As shown in FIG. The imaging system 3 of this embodiment includes an optical system 4 and an imaging device 5 .

光学系4は、スリット光が照射されている被検眼Eの前眼部からの光を撮像素子5に導く。撮像素子5は、光学系4により導かれた光を撮像面にて受光する。 The optical system 4 guides the light from the anterior segment of the subject's eye E irradiated with the slit light to the imaging device 5 . The imaging device 5 receives the light guided by the optical system 4 on its imaging surface.

光学系4により導かれる光(つまり、被検眼Eの前眼部からの光)は、前眼部に照射されているスリット光の戻り光を含み、他の光を更に含んでいてよい。戻り光の例として、反射光、散乱光、蛍光がある。他の光の例として、スリットランプ顕微鏡1の設置環境からの光(室内光、太陽光など)がある。前眼部全体を照明するための前眼部照明系が照明系2とは別に設けられている場合、この前眼部照明光の戻り光が、光学系4により導かれる光に含まれてもよい。 The light guided by the optical system 4 (that is, the light from the anterior segment of the subject's eye E) includes return light of the slit light irradiated to the anterior segment, and may further include other light. Examples of returned light include reflected light, scattered light, and fluorescence. Another example of light is light from the installation environment of the slit lamp microscope 1 (indoor light, sunlight, etc.). When an anterior segment illumination system for illuminating the entire anterior segment is provided separately from the illumination system 2, even if the return light of the anterior segment illumination light is included in the light guided by the optical system 4 good.

撮像素子5は、2次元の撮像エリアを有するエリアセンサであり、例えば、電荷結合素子(CCD)イメージセンサや相補型金属酸化膜半導体(CMOS)イメージセンサであってよい。 The imaging element 5 is an area sensor having a two-dimensional imaging area, and may be, for example, a charge coupled device (CCD) image sensor or a complementary metal oxide semiconductor (CMOS) image sensor.

光学系4は、例えば、従来のスリットランプ顕微鏡の撮影系と同様の構成を備えていてよい。例えば、光学系4は、被検眼Eに近い側から順に、対物レンズと、変倍光学系と、結像レンズとを含む。スリット光が照射されている被検眼Eの前眼部からの光は、対物レンズ及び変倍光学系を通過し、結像レンズにより撮像素子5の撮像面に結像される。 The optical system 4 may have, for example, a configuration similar to that of an imaging system of a conventional slit lamp microscope. For example, the optical system 4 includes, in order from the side closer to the subject's eye E, an objective lens, a variable magnification optical system, and an imaging lens. Light from the anterior segment of the subject's eye E irradiated with the slit light passes through the objective lens and the variable magnification optical system, and is imaged on the imaging surface of the imaging device 5 by the imaging lens.

撮影系3は、例えば、第1撮影系と第2撮影系とを含んでいてよい。典型的には、第1撮影系と第2撮影系とは同じ構成を有する。撮影系3が第1撮影系と第2撮影系とを含む場合については他の実施形態において説明する。 The imaging system 3 may include, for example, a first imaging system and a second imaging system. Typically, the first imaging system and the second imaging system have the same configuration. A case where the imaging system 3 includes the first imaging system and the second imaging system will be described in another embodiment.

撮影系3は、そのフォーカス位置を変更するための合焦機構を更に含んでいてもよい。合焦機構は、例えば、対物レンズを撮影光軸3aに沿って移動させる。対物レンズの移動は、自動及び/又は手動で実行可能である。なお、対物レンズと結像レンズとの間の撮影光軸3a上の位置に合焦レンズを配置し、この合焦レンズを撮影光軸3aに沿って移動させることによってフォーカス位置を変更可能としてもよい。 The imaging system 3 may further include a focusing mechanism for changing its focus position. The focusing mechanism, for example, moves the objective lens along the photographing optical axis 3a. Movement of the objective lens can be performed automatically and/or manually. Even if a focusing lens is arranged at a position on the photographing optical axis 3a between the objective lens and the imaging lens, and the focus position can be changed by moving the focusing lens along the photographing optical axis 3a. good.

照明系2及び撮影系3は、シャインプルーフカメラとして機能する。すなわち、照明光軸2aに沿う物面と、光学系4と、撮像素子5の撮像面とが、いわゆるシャインプルーフの条件を満足するように、照明系2及び撮影系3が構成される。より具体的には、照明光軸2aを通るYZ面(物面を含む)と、光学系4の主面と、撮像素子5の撮像面とが、同一の直線上にて交差する。これにより、物面内の全ての位置(照明光軸2aに沿う方向における全ての位置)にピントを合わせて撮影を行うことができる。 The illumination system 2 and the photographing system 3 function as a Scheimpflug camera. That is, the illumination system 2 and the photographing system 3 are configured such that the object surface along the illumination optical axis 2a, the optical system 4, and the imaging surface of the imaging element 5 satisfy the so-called Scheimpflug condition. More specifically, the YZ plane (including the object plane) passing through the illumination optical axis 2a, the principal plane of the optical system 4, and the imaging plane of the imaging device 5 intersect on the same straight line. Thereby, all positions in the object plane (all positions in the direction along the illumination optical axis 2a) can be focused and photographed.

本実施形態では、少なくとも角膜Cの前面及び水晶体CLの後面により画成される部位に撮影系3のピントが合うように、照明系2及び撮影系3が構成される。つまり、図1に示す角膜Cの前面の頂点(Z=Z1)から水晶体CLの後面の頂点(Z=Z2)までの範囲全体に撮影系3のピントが合っている状態で、撮影を行うことが可能である。なお、Z=Z0は、照明光軸2aと撮影光軸3aとの交点のZ座標を示す。 In this embodiment, the illumination system 2 and the imaging system 3 are configured so that the imaging system 3 is focused on at least a region defined by the anterior surface of the cornea C and the posterior surface of the crystalline lens CL. That is, photographing is performed in a state in which the photographing system 3 is focused on the entire range from the vertex (Z=Z1) of the anterior surface of the cornea C shown in FIG. 1 to the vertex (Z=Z2) of the posterior surface of the crystalline lens CL. is possible. Z=Z0 indicates the Z coordinate of the intersection of the illumination optical axis 2a and the photographing optical axis 3a.

このような条件は、典型的には、照明系2に含まれる要素の構成及び配置、撮影系3に含まれる要素の構成及び配置、並びに、照明系2と撮影系3との相対位置によって実現される。照明系2と撮影系3との相対位置を示すパラメータは、例えば、照明光軸2aと撮影光軸3aとがなす角度θを含む。角度θは、例えば、17.5度、30度、又は45度に設定される。なお、角度θは可変であってもよい。 Such conditions are typically realized by the configuration and arrangement of the elements included in the illumination system 2, the configuration and arrangement of the elements included in the imaging system 3, and the relative positions of the illumination system 2 and the imaging system 3. be done. Parameters indicating the relative positions of the illumination system 2 and the imaging system 3 include, for example, the angle θ between the illumination optical axis 2a and the imaging optical axis 3a. The angle θ is set to 17.5 degrees, 30 degrees, or 45 degrees, for example. Note that the angle θ may be variable.

[移動機構6]
移動機構6は、照明系2及び撮影系3を移動する。本実施形態において、移動機構6は、照明系2及び撮影系3を一体的にX方向に移動する。
[Moving mechanism 6]
A moving mechanism 6 moves the illumination system 2 and the imaging system 3 . In this embodiment, the moving mechanism 6 integrally moves the illumination system 2 and the imaging system 3 in the X direction.

例えば、移動機構6は、照明系2及び撮影系3が搭載された可動ステージと、制御部7から入力される制御信号にしたがって動作するアクチュエータと、このアクチュエータにより発生された駆動力に基づき可動ステージを移動する機構とを含む。他の例において、移動機構6は、照明系2及び撮影系3が搭載された可動ステージと、図示しない操作デバイスに印加された力に基づき可動ステージを移動する機構とを含む。操作デバイスは、例えばレバーである。可動ステージは、少なくともX方向に移動可能であり、更にY方向及び/又はZ方向に移動可能であってよい。 For example, the moving mechanism 6 includes a movable stage on which the illumination system 2 and the imaging system 3 are mounted, an actuator that operates according to a control signal input from the control unit 7, and a movable stage based on the driving force generated by this actuator. and a mechanism for moving the In another example, the moving mechanism 6 includes a movable stage on which the illumination system 2 and the imaging system 3 are mounted, and a mechanism that moves the movable stage based on force applied to an operation device (not shown). The operating device is, for example, a lever. The movable stage is movable at least in the X direction and may be movable in the Y and/or Z directions.

[制御部7]
制御部7は、スリットランプ顕微鏡1の各部を制御する。例えば、制御部7は、照明系2の要素(照明光源、スリット形成部、合焦機構など)、撮影系3の要素(合焦機構、撮像素子など)、移動機構6、データ処理部8、通信部9などを制御する。また、制御部7は、照明系2と撮影系3との相対位置を変更するための制御を実行可能であってもよい。
[Control unit 7]
The controller 7 controls each part of the slit lamp microscope 1 . For example, the control unit 7 controls elements of the illumination system 2 (illumination light source, slit forming unit, focusing mechanism, etc.), elements of the imaging system 3 (focusing mechanism, imaging device, etc.), moving mechanism 6, data processing unit 8, It controls the communication unit 9 and the like. Also, the control unit 7 may be capable of executing control for changing the relative positions of the illumination system 2 and the imaging system 3 .

制御部7は、プロセッサ、主記憶装置、補助記憶装置などを含む。補助記憶装置には、制御プログラム等が記憶されている。制御プログラム等は、スリットランプ顕微鏡1がアクセス可能なコンピュータや記憶装置に記憶されていてもよい。制御部7の機能は、制御プログラム等のソフトウェアと、プロセッサ等のハードウェアとの協働によって実現される。 The control unit 7 includes a processor, a main storage device, an auxiliary storage device, and the like. Control programs and the like are stored in the auxiliary storage device. The control program and the like may be stored in a computer or storage device accessible by the slit lamp microscope 1 . The functions of the control unit 7 are realized by cooperation between software such as a control program and hardware such as a processor.

制御部7は、被検眼Eの前眼部の3次元領域をスリット光でスキャンするために、照明系2、撮影系3及び移動機構6に対して次のような制御を適用することができる。 The control unit 7 can apply the following control to the illumination system 2, the imaging system 3, and the movement mechanism 6 in order to scan the three-dimensional region of the anterior segment of the eye E to be examined with slit light. .

まず、制御部7は、照明系2及び撮影系3を所定のスキャン開始位置に配置するように移動機構6を制御する(アライメント制御)。スキャン開始位置は、例えば、X方向における角膜Cの端部(第1端部)に相当する位置、又は、それよりも被検眼Eの軸から離れた位置である。図2Aにおける符号X0は、X方向における角膜Cの第1端部に相当するスキャン開始位置を示している。また、図2Bの符号X0’は、X方向における角膜Cの第1端部に相当する位置よりも被検眼Eの軸EAから離れたスキャン開始位置を示している。 First, the control unit 7 controls the moving mechanism 6 so as to place the illumination system 2 and the imaging system 3 at predetermined scan start positions (alignment control). The scan start position is, for example, a position corresponding to the end (first end) of the cornea C in the X direction, or a position further away from the axis of the eye E to be examined. Symbol X0 in FIG. 2A indicates a scan start position corresponding to the first end of the cornea C in the X direction. Reference X0' in FIG. 2B indicates a scan start position that is farther from the axis EA of the subject's eye E than the position corresponding to the first end of the cornea C in the X direction.

制御部7は、照明系2を制御して、被検眼Eの前眼部に対するスリット光の照射を開始させる(スリット光照射制御)。なお、アライメント制御の実行前に、又は、アライメント制御の実行中に、スリット光照射制御を行ってもよい。照明系2は、典型的には連続光をスリット光として照射するが、断続光(パルス光)をスリット光として照射してもよい。また、照明系2は、典型的には可視光をスリット光として照射するが、赤外光をスリット光として照射してもよい。 The control unit 7 controls the illumination system 2 to start irradiating the anterior segment of the eye E to be examined with slit light (slit light irradiation control). Note that the slit light irradiation control may be performed before the execution of the alignment control or during the execution of the alignment control. The illumination system 2 typically irradiates continuous light as slit light, but may irradiate intermittent light (pulse light) as slit light. The illumination system 2 typically irradiates visible light as slit light, but may irradiate infrared light as slit light.

制御部7は、撮影系3を制御して、被検眼Eの前眼部の動画撮影を開始させる(撮影制御)。なお、アライメント制御の実行前に、又は、アライメント制御の実行中に、撮影制御を行ってもよい。典型的には、スリット光照射制御と同時に、又は、スリット光照射制御よりも後に、撮影制御が実行される。 The control unit 7 controls the imaging system 3 to start moving image imaging of the anterior segment of the subject's eye E (imaging control). In addition, you may perform imaging|photography control before execution of alignment control, or during execution of alignment control. Typically, shooting control is executed simultaneously with slit light irradiation control or after slit light irradiation control.

アライメント制御、スリット光照射制御、及び撮影制御の実行後、制御部7は、移動機構6を制御して、照明系2及び撮影系3の移動を開始する(移動制御)。移動制御により、照明系2及び撮影系3が一体的に移動される。つまり、照明系2と撮影系3との相対位置(角度θなど)を維持しつつ照明系2及び撮影系3が移動される。照明系2及び撮影系3の移動は、前述したスキャン開始位置から所定のスキャン終了位置まで行われる。スキャン終了位置は、例えば、スキャン開始位置と同様に、X方向において第1端部の反対側の角膜Cの端部(第2端部)に相当する位置、又は、それよりも被検眼Eの軸から離れた位置である。このような場合、スキャン開始位置からスキャン終了位置までの範囲がスキャン範囲となる。 After executing alignment control, slit light irradiation control, and photographing control, the control unit 7 controls the moving mechanism 6 to start moving the illumination system 2 and the photographing system 3 (movement control). The movement control moves the illumination system 2 and the imaging system 3 integrally. That is, the illumination system 2 and the imaging system 3 are moved while maintaining the relative position (angle θ, etc.) between the illumination system 2 and the imaging system 3 . The movement of the illumination system 2 and the imaging system 3 is performed from the above-described scan start position to a predetermined scan end position. The scan end position is, for example, a position corresponding to the end (second end) of the cornea C on the opposite side of the first end in the X direction, or a position closer to the subject's eye E, similar to the scan start position. A position away from the axis. In such a case, the scan range is the range from the scan start position to the scan end position.

典型的には、X方向を幅方向とし且つY方向を長手方向とするスリット光を前眼部に照射しつつ、且つ、照明系2及び撮影系3をX方向に移動しつつ、撮影系3による動画撮影が実行される。 Typically, while irradiating the anterior segment with slit light having the X direction as the width direction and the Y direction as the longitudinal direction, and moving the illumination system 2 and the imaging system 3 in the X direction, the imaging system 3 is executed.

ここで、スリット光の長さ(つまり、Y方向におけるスリット光の寸法)は、例えば、被検眼Eの表面において角膜Cの径以上に設定されている。すなわち、スリット光の長さは、Y方向における角膜径以上に設定されている。また、前述のように、移動機構6による照明系2及び撮影系3の移動距離(つまり、スキャン範囲)は、X方向における角膜径以上に設定されている。これにより、少なくとも角膜C全体をスリット光でスキャンすることができる。 Here, the length of the slit light (that is, the dimension of the slit light in the Y direction) is set to be equal to or larger than the diameter of the cornea C on the surface of the eye E to be examined, for example. That is, the length of the slit light is set to be equal to or longer than the corneal diameter in the Y direction. Further, as described above, the moving distance (that is, scanning range) of the illumination system 2 and the imaging system 3 by the moving mechanism 6 is set to be equal to or larger than the corneal diameter in the X direction. Thereby, at least the entire cornea C can be scanned with the slit light.

このようなスキャンにより、スリット光の照射位置が異なる複数の前眼部画像が得られる。換言すると、スリット光の照射位置がX方向に移動する様が描写された動画像が得られる。このような複数の前眼部画像(つまり、動画像を構成するフレーム群)の例を図3に示す。 Through such scanning, a plurality of images of the anterior segment are obtained with different irradiation positions of the slit light. In other words, a moving image is obtained in which the irradiation position of the slit light is depicted to move in the X direction. FIG. 3 shows an example of such a plurality of anterior segment images (that is, a group of frames forming a moving image).

図3は、複数の前眼部画像(フレーム群)F1、F2、F3、・・・、FNを示す。これら前眼部画像Fn(n=1、2、・・・、N)の添字nは、時系列順序を表している。つまり、第n番目に取得された前眼部画像が符号Fnで表される。前眼部画像Fnには、スリット光照射領域Anが含まれている。図3に示すように、スリット光照射領域A1、A2、A3、・・・、ANは、時系列に沿って右方向に移動している。図3に示す例では、スキャン開始位置及びスキャン終了位置は、X方向における角膜Cの両端に対応する。なお、スキャン開始位置及び/又はスキャン終了位置は本例に限定されず、例えば、角膜端部よりも被検眼Eの軸から離れた位置であってよい。また、スキャンの向きや回数についても任意に設定することが可能である。 FIG. 3 shows a plurality of anterior segment images (frame groups) F1, F2, F3, . . . , FN. The suffix n of these anterior segment images Fn (n=1, 2, . . . , N) represents the chronological order. That is, the n-th acquired anterior segment image is denoted by Fn. The anterior segment image Fn includes a slit light irradiation area An. As shown in FIG. 3, the slit light irradiation areas A1, A2, A3, . In the example shown in FIG. 3, the scan start position and scan end position correspond to both ends of the cornea C in the X direction. Note that the scan start position and/or the scan end position are not limited to this example, and may be, for example, positions further from the axis of the subject's eye E than the end of the cornea. In addition, it is possible to arbitrarily set the direction and number of scans.

[データ処理部8]
データ処理部8は、各種のデータ処理を実行する。処理されるデータは、スリットランプ顕微鏡1により取得されたデータ、及び、外部から入力されたデータのいずれでもよい。例えば、データ処理部8は、照明系2及び撮影系3によって取得された画像を処理することができる。なお、データ処理部8の構成や機能については他の実施形態において説明する。
[Data processing unit 8]
The data processing unit 8 executes various data processing. Data to be processed may be either data acquired by the slit lamp microscope 1 or data input from the outside. For example, the data processing unit 8 can process images acquired by the illumination system 2 and the imaging system 3 . The configuration and functions of the data processing unit 8 will be described in another embodiment.

データ処理部8は、プロセッサ、主記憶装置、補助記憶装置などを含む。補助記憶装置には、データ処理プログラム等が記憶されている。データ処理プログラム等は、スリットランプ顕微鏡1がアクセス可能なコンピュータや記憶装置に記憶されていてもよい。データ処理部8の機能は、データ処理プログラム等のソフトウェアと、プロセッサ等のハードウェアとの協働によって実現される。 The data processing unit 8 includes a processor, a main storage device, an auxiliary storage device, and the like. A data processing program and the like are stored in the auxiliary storage device. The data processing program and the like may be stored in a computer or storage device accessible by the slit lamp microscope 1 . The functions of the data processing unit 8 are realized by cooperation between software such as a data processing program and hardware such as a processor.

[通信部9]
通信部9は、スリットランプ顕微鏡1と他の装置との間におけるデータ通信を行う。すなわち、通信部9は、他の装置へのデータの送信と、他の装置から送信されたデータの受信とを行う。
[Communication part 9]
The communication unit 9 performs data communication between the slit lamp microscope 1 and other devices. That is, the communication unit 9 transmits data to other devices and receives data transmitted from other devices.

通信部9が実行するデータ通信の方式は任意である。例えば、通信部9は、インターネットに準拠した通信インターフェイス、専用線に準拠した通信インターフェイス、LANに準拠した通信インターフェイス、近距離通信に準拠した通信インターフェイスなど、各種の通信インターフェイスのうちの1以上を含む。データ通信は有線通信でも無線通信でもよい。 The method of data communication executed by the communication unit 9 is arbitrary. For example, the communication unit 9 includes one or more of various communication interfaces such as a communication interface conforming to the Internet, a communication interface conforming to a leased line, a communication interface conforming to a LAN, and a communication interface conforming to short-distance communication. . Data communication may be wired communication or wireless communication.

通信部9により送受信されるデータは暗号化されていてよい。その場合、例えば、制御部7及び/又はデータ処理部8は、通信部9により送信されるデータを暗号化する暗号化処理部、及び、通信部9により受信されたデータを復号化する復号化処理部の少なくとも一方を含む。 Data transmitted and received by the communication unit 9 may be encrypted. In that case, for example, the control unit 7 and/or the data processing unit 8 include an encryption processing unit that encrypts data transmitted by the communication unit 9 and a decryption processing unit that decrypts data received by the communication unit 9. At least one of the processing units is included.

[他の要素]
図1に示す要素に加え、スリットランプ顕微鏡1は、表示デバイスや操作デバイスを備えていてよい。或いは、表示デバイスや操作デバイスは、スリットランプ顕微鏡1の周辺機器であってもよい。
[other elements]
In addition to the elements shown in FIG. 1, the slit lamp microscope 1 may comprise a display device and an operating device. Alternatively, the display device and the operation device may be peripheral devices of the slit lamp microscope 1 .

表示デバイスは、制御部7の制御を受けて各種の情報を表示する。表示デバイスは、液晶ディスプレイ(LCD)などのフラットパネルディスプレイを含んでいてよい。 The display device displays various information under the control of the control section 7 . The display device may include a flat panel display such as a liquid crystal display (LCD).

操作デバイスは、スリットランプ顕微鏡1を操作するためのデバイスや、情報を入力するためのデバイスを含む。操作デバイスは、例えば、ボタン、スイッチ、レバー、ダイアル、ハンドル、ノブ、マウス、キーボード、トラックボール、操作パネルなどを含む。 The operation device includes a device for operating the slit lamp microscope 1 and a device for inputting information. Operation devices include, for example, buttons, switches, levers, dials, handles, knobs, mice, keyboards, trackballs, operation panels, and the like.

タッチスクリーンのように、表示デバイスと操作デバイスとが一体化したデバイスを用いてもよい。 A device such as a touch screen in which a display device and an operation device are integrated may be used.

被検者や補助者は、表示デバイス及び操作デバイスを用いることで、スリットランプ顕微鏡1の操作を行うことができる。 A subject and an assistant can operate the slit lamp microscope 1 by using the display device and the operation device.

[アライメント]
被検眼Eに対するスリットランプ顕微鏡1のアライメントについて説明する。一般に、アライメントは、被検眼Eの撮影や測定のために好適な位置に装置光学系を配置させる動作である。本実施形態のアライメントは、図3に示すような動画像を取得するために好適な位置に照明系2及び撮影系3を配置させる動作である。
[alignment]
Alignment of the slit lamp microscope 1 with respect to the eye E to be examined will be described. In general, alignment is an operation of arranging the apparatus optical system at a suitable position for photographing and measuring the eye E to be examined. Alignment in the present embodiment is an operation of arranging the illumination system 2 and the imaging system 3 at suitable positions for acquiring a moving image as shown in FIG.

眼科装置のアライメントには様々な手法がある。以下、幾つかのアライメント手法を例示するが、本実施形態に適用可能な手法はこれらに限定されない。 There are various techniques for aligning ophthalmic equipment. Several alignment methods are exemplified below, but methods applicable to the present embodiment are not limited to these.

本実施形態に適用可能なアライメント手法としてステレオアライメントがある。ステレオアライメントは、2以上の異なる方向から前眼部を撮影可能な眼科装置において適用可能であり、その具体的な手法は、本出願人による特開2013-248376号公報などに開示されている。ステレオアライメントは、例えば次の工程を含む:2以上の前眼部カメラが前眼部を異なる方向から撮影して2以上の撮影画像を取得する工程;プロセッサがこれら撮影画像を解析して被検眼の3次元位置を求める工程;求められた3次元位置に基づいてプロセッサが光学系の移動制御を行う工程。これにより、光学系(本例では照明系2及び撮影系3)が、被検眼に対して好適な位置に配置される。典型的なステレオアライメントでは、被検眼の瞳孔(瞳孔の中心又は重心)の位置が基準とされる。 Stereo alignment is available as an alignment method applicable to this embodiment. Stereo alignment can be applied to an ophthalmologic apparatus capable of imaging the anterior segment from two or more different directions, and a specific method thereof is disclosed in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2013-248376 by the present applicant. Stereo alignment includes, for example, the following steps: two or more anterior eye cameras photographing the anterior eye from different directions to acquire two or more photographed images; a step of obtaining the three-dimensional position of; a step of having the processor control the movement of the optical system based on the obtained three-dimensional position. As a result, the optical system (illumination system 2 and imaging system 3 in this example) is arranged at a suitable position with respect to the subject's eye. In a typical stereo alignment, the position of the pupil of the subject's eye (the center of the pupil or the center of gravity) is used as a reference.

このようなステレオアライメントの他にも、アライメント光により得られるプルキンエ像を利用した手法や、光テコを利用した手法など、任意の公知のアライメント手法を採用することが可能である。プルキンエ像を利用した手法や光テコを利用した手法では、被検眼の角膜頂点の位置が基準とされる。 In addition to such stereo alignment, it is possible to adopt any known alignment method such as a method using a Purkinje image obtained by alignment light, a method using an optical lever, or the like. In the method using the Purkinje image and the method using the optical lever, the position of the corneal vertex of the subject's eye is used as a reference.

なお、以上の例示を含む従来の典型的なアライメント手法は、被検眼の軸と光学系の光軸とを一致させることを目的として行われるが、本実施形態では、スキャン開始位置に対応する位置に照明系2及び撮影系3を配置させるようにアライメントを実行することが可能である。 Conventional typical alignment methods including the above examples are performed for the purpose of aligning the axis of the subject's eye with the optical axis of the optical system. Alignment can be performed to place the illumination system 2 and the imaging system 3 at .

本実施形態におけるアライメントの第1の例として、上記したアライメント手法のいずれかを適用して被検眼Eの瞳孔又は角膜頂点を基準としたアライメントを行った後、予め設定された角膜半径の標準値に相当する距離だけ照明系2及び撮影系3を(X方向に)移動することができる。なお、標準値を用いる代わりに、被検眼Eの角膜半径の測定値を用いてもよい。 As a first example of alignment in the present embodiment, after performing alignment with reference to the pupil or corneal vertex of the eye to be inspected E by applying any of the above-described alignment methods, a preset standard value of the corneal radius The illumination system 2 and the imaging system 3 can be moved (in the X direction) by a distance corresponding to . A measured value of the corneal radius of the subject's eye E may be used instead of using the standard value.

第2の例として、上記したアライメント手法のいずれかを適用して被検眼Eの瞳孔又は角膜頂点を基準としたアライメントを行った後、被検眼Eの前眼部の画像を解析して角膜半径を測定し、この測定値に相当する距離だけ照明系2及び撮影系3を(X方向に)移動することができる。本例で解析される前眼部の画像は、例えば、撮影系3により得られた前眼部画像、又は、他の画像である。他の画像は、前眼部カメラにより得られた画像、前眼部OCTにより得られた画像など、任意の画像であってよい。 As a second example, after performing alignment with reference to the pupil or corneal vertex of the eye E to be examined by applying any of the alignment methods described above, the image of the anterior segment of the eye E to be examined is analyzed to determine the corneal radius can be measured, and the illumination system 2 and the imaging system 3 can be moved (in the X direction) by a distance corresponding to this measured value. The anterior segment image analyzed in this example is, for example, the anterior segment image obtained by the imaging system 3 or other images. The other image may be any image, such as an image obtained by an anterior segment camera, an image obtained by anterior segment OCT.

第3の例として、ステレオアライメント用の前眼部カメラ又は撮影系3により得られた前眼部の画像を解析して角膜の第1端部を求め、ステレオアライメントを適用してこの第1端部に対応する位置に照明系2及び撮影系3を移動することができる。 As a third example, the image of the anterior segment obtained by the anterior segment camera or imaging system 3 for stereo alignment is analyzed to determine the first edge of the cornea, and the stereo alignment is applied to determine the first edge of the cornea. The illumination system 2 and the imaging system 3 can be moved to positions corresponding to the parts.

なお、上記したアライメント手法のいずれかを適用して被検眼Eの瞳孔又は角膜頂点を基準としたアライメントを実行し、これにより決定された位置からスリット光による前眼部スキャンを開始するようにしてもよい。この場合においても、角膜Cの全体をスキャンするようにスキャンシーケンスを設定することができる。例えば、当該アライメントにより決定された位置から左方にスキャンを行った後、右方にスキャンを行うように、スキャンシーケンスが設定される。 Any of the alignment methods described above is applied to perform alignment with the pupil or corneal vertex of the eye E to be inspected as a reference, and the anterior segment scanning by the slit light is started from the position thus determined. good too. Also in this case, the scan sequence can be set so that the entire cornea C is scanned. For example, the scan sequence is set such that after scanning leftward from the position determined by the alignment, scanning is performed rightward.

[その他の事項]
スリットランプ顕微鏡1は、被検眼Eを固視させるための光(固視光)を出力する固視系を備えていてよい。固視系は、典型的には、少なくとも1つの可視光源(固視光源)、又は、風景チャートや固視標等の画像を表示する表示デバイスを含む。固視系は、例えば、照明系2又は撮影系3と同軸又は非同軸に配置される。
[Other Matters]
The slit lamp microscope 1 may include a fixation system that outputs light (fixation light) for fixing the eye E to be examined. A fixation system typically includes at least one visible light source (the fixation light source) or a display device that displays an image such as a landscape chart or a fixation target. The fixation system is arranged coaxially or non-coaxially with the illumination system 2 or the imaging system 3, for example.

スリットランプ顕微鏡1により取得可能な画像の種別は、前述した前眼部の動画像(複数の前眼部画像)に限定されない。例えば、スリットランプ顕微鏡1は、この動画像に基づく3次元画像、この3次元画像に基づくレンダリング画像、徹照像、被検眼に装用されたコンタクトレンズの動きを表す動画像、蛍光剤適用によるコンタクトレンズと角膜表面との隙間を表す画像などがある。レンダリング画像については他の実施形態において説明する。徹照像は、照明光の網膜反射を利用して眼内の混濁や異物を描出する徹照法により得られる画像である。なお、眼底撮影、角膜内皮細胞撮影、マイボーム腺撮影などが可能であってもよい。 The types of images that can be acquired by the slit lamp microscope 1 are not limited to the aforementioned moving images of the anterior segment (a plurality of anterior segment images). For example, the slit lamp microscope 1 can display a three-dimensional image based on this moving image, a rendered image based on this three-dimensional image, a retroillumination image, a moving image representing the movement of the contact lens worn on the subject's eye, and a contact lens by applying a fluorescent agent. For example, an image representing the gap between the lens and the corneal surface. Rendered images are described in other embodiments. A retro-illumination image is an image obtained by a retro-illumination method in which intraocular opacities and foreign substances are visualized using retinal reflection of illumination light. Fundus photography, corneal endothelial cell photography, meibomian gland photography, and the like may be possible.

[使用形態]
スリットランプ顕微鏡1(これを含むシステム)の使用形態を説明する。図4は使用形態の例を示す。
[Usage form]
A mode of use of the slit lamp microscope 1 (a system including this) will be described. FIG. 4 shows an example of usage.

図示は省略するが、任意の段階で、被検者又は補助者は、スリットランプ顕微鏡1に被検者情報を入力する。入力された被検者情報は、制御部7に保存される。被検者情報は、典型的には、被検者の識別情報(被検者ID)を含む。 Although illustration is omitted, the subject or an assistant inputs subject information to the slit lamp microscope 1 at an arbitrary stage. The input subject information is stored in the control unit 7 . The subject information typically includes subject identification information (subject ID).

更に、背景情報の入力を行うことができる。背景情報は、被検者に関する任意の情報であって、その例として、被検者の問診情報、所定のシートに被検者が記入した情報、被検者の電子カルテに記録された情報などがある。典型的には、背景情報は、性別、年齢、身長、体重、疾患名、候補疾患名、検査結果(視力値、眼屈折力値、眼圧値など)、屈折矯正具(眼鏡、コンタクトレンズなど)の装用歴や度数、検査歴、治療歴などがある。これらは例示であって、背景情報はこれらに限定されない。 Additionally, background information can be entered. The background information is arbitrary information about the subject, and examples include interview information of the subject, information written by the subject on a predetermined sheet, information recorded in the electronic medical record of the subject, etc. There is Typically, the background information includes sex, age, height, weight, disease name, candidate disease name, test results (visual acuity value, eye refractive power value, intraocular pressure value, etc.), refractive orthotics (glasses, contact lenses, etc.). ) wearing history and frequency, examination history, treatment history, etc. These are examples and the background information is not limited to these.

(S1:テーブル、イス、顎受け台を調整)
まず、スリットランプ顕微鏡1が設置されているテーブル、被検者が座るイス、スリットランプ顕微鏡1の顎受け台の調整が行われる(いずれも図示を省略する)。例えば、テーブル、イス、顎受け台の高さ調整が行われる。これらの調整は、例えば、被検者自身によって行われる。或いは、補助者がこれら調整のいずれかを行ってもよい。なお、顎受け台には、被検者の顔を安定配置させるための顎受け部及び額当てが設けられている。
(S1: Adjust the table, chair, and chin rest)
First, the table on which the slit lamp microscope 1 is installed, the chair on which the subject sits, and the chin rest of the slit lamp microscope 1 are adjusted (not shown). For example, height adjustment of tables, chairs, and chinrests is performed. These adjustments are made, for example, by the subject himself/herself. Alternatively, an assistant may make any of these adjustments. The chin rest is provided with a chin rest and a forehead rest for stably arranging the subject's face.

(S2:撮影開始を指示)
ステップS1の調整が完了したら、被検者は、イスに腰掛け、顎受けに顎を載せ、額当てに額を当接させる。これらの動作の前又は後に、被検者又は補助者は、被検眼の撮影開始の指示操作を行う。この操作は、例えば、図示しない撮影開始トリガーボタンの押下である。
(S2: Instruction to start shooting)
After the adjustment in step S1 is completed, the examinee sits on a chair, puts his chin on the chin rest, and brings his forehead into contact with the forehead rest. Before or after these operations, the subject or the assistant performs an instruction operation to start imaging the subject's eye. This operation is, for example, pressing of a shooting start trigger button (not shown).

(S3:アライメント)
ステップS2の指示を受けて、スリットランプ顕微鏡1は、前述した要領で、被検眼Eに対するアライメントを行う。アライメントの完了後にフォーカス調整を行うようにしてもよい。
(S3: Alignment)
Upon receiving the instruction in step S2, the slit lamp microscope 1 performs alignment with respect to the subject's eye E in the manner described above. Focus adjustment may be performed after completion of alignment.

(S4:前眼部をスキャン)
スリットランプ顕微鏡1は、前述した要領で、照明系2によるスリット光の照射と、撮影系3による動画撮影と、移動機構6による照明系2及び撮影系3の移動とを組み合わせることで、被検眼Eの前眼部をスキャンする。これにより、例えば、図3に示す複数の前眼部画像F1~FNが得られる。
(S4: scan the anterior segment)
The slit lamp microscope 1 combines the irradiation of slit light by the illumination system 2, the moving image shooting by the imaging system 3, and the movement of the illumination system 2 and the imaging system 3 by the moving mechanism 6 in the above-described manner, so that the eye to be examined Scan the anterior segment of E. As a result, for example, a plurality of anterior segment images F1 to FN shown in FIG. 3 are obtained.

データ処理部8は、前眼部画像F1~FNの少なくともいずれかを処理することができる。例えば、他の実施形態で説明するように、データ処理部8は、前眼部画像F1~FNに基づいて3次元画像を構築することができる。また、所定の画像処理や所定の画像解析を行うことも可能である。 The data processing unit 8 can process at least one of the anterior segment images F1 to FN. For example, as described in other embodiments, the data processing unit 8 can construct a three-dimensional image based on the anterior segment images F1-FN. It is also possible to perform predetermined image processing and predetermined image analysis.

(S5:画像を送信)
制御部7は、通信部9を制御して、スリットランプ顕微鏡1により取得された前眼部の画像(前眼部画像F1~FN、前眼部画像F1~FNの一部、前眼部画像F1~FNに基づく3次元画像など)を他の装置に送信する。
(S5: Send image)
The control unit 7 controls the communication unit 9 to obtain an anterior segment image (anterior segment images F1 to FN, a part of the anterior segment images F1 to FN, an anterior segment image 3D images based on F1-FN) to other devices.

他の装置の例として情報処理装置や記憶装置がある。情報処理装置は、例えば、広域回線上のサーバ、LAN上のサーバ、コンピュータ端末などである。記憶装置は、広域回線上に設けられた記憶装置、LAN上に設けられた記憶装置などである。 Examples of other devices include information processing devices and storage devices. The information processing device is, for example, a server on a wide area network, a server on a LAN, a computer terminal, or the like. The storage device may be a storage device provided on a wide area network, a storage device provided on a LAN, or the like.

前眼部の画像とともに背景情報を送信することができる。また、前眼部の画像とともに被検者の識別情報が送信される。この識別情報は、スリットランプ顕微鏡1に入力された被検者ID(前述)でもよいし、被検者IDに基づき生成された識別情報でもよい。後者の例として、スリットランプ顕微鏡1が設置されている施設内での個人識別に用いられる被検者ID(内部識別情報)を、当該施設外にて用いられる外部識別情報に変換することができる。これにより、前眼部の画像や背景情報などの個人情報に関する情報セキュリティの向上を図ることが可能である。 Background information can be sent with the image of the anterior segment. In addition, identification information of the subject is transmitted together with the image of the anterior segment. This identification information may be the subject ID (described above) input to the slit lamp microscope 1, or may be identification information generated based on the subject ID. As an example of the latter, the subject ID (internal identification information) used for personal identification within the facility where the slit lamp microscope 1 is installed can be converted into external identification information used outside the facility. . This makes it possible to improve information security regarding personal information such as an image of the anterior segment and background information.

(S6:観察及び診断)
ステップS5でスリットランプ顕微鏡1から送信された被検眼Eの前眼部の画像(及び、被検者の識別情報、背景情報など)は、直接的又は間接的に、例えば医師(又はオプトメトリスト)が使用する情報処理装置に送られる。
(S6: observation and diagnosis)
The image of the anterior segment of the eye to be examined E (and identification information of the subject, background information, etc.) transmitted from the slit lamp microscope 1 in step S5 is directly or indirectly sent by, for example, a doctor (or an optometrist). ) is sent to the information processing device used.

医師(又はオプトメトリスト)は、被検眼Eの前眼部の画像を観察することができる。このとき、例えば、前眼部画像F1~FNを所定数枚ずつ表示させることや、前眼部画像F1~FNを一覧表示することや、前眼部画像F1~FNをスライドショー表示することや、前眼部画像F1~FNから3次元画像を構築することや、3次元画像のレンダリング画像を表示することが可能である。 A doctor (or an optometrist) can observe an image of the anterior segment of the eye E to be examined. At this time, for example, displaying a predetermined number of anterior segment images F1 to FN, displaying a list of the anterior segment images F1 to FN, displaying the anterior segment images F1 to FN in a slide show, It is possible to construct a three-dimensional image from the anterior segment images F1 to FN and to display a rendered image of the three-dimensional image.

医師(又はオプトメトリスト)は、被検眼Eの前眼部の画像を観察することで画像診断(読影)を行うことができる。医師(又はオプトメトリスト)は、読影で得た情報が記録されたレポートを作成することができる。レポートは、例えば、スリットランプ顕微鏡1が設置されている施設に送信される。或いは、被検者が登録したアドレス情報(電子メールアドレス、住所など)にレポートを送信してもよい。以上で、本例に係る処理は終了となる。 A doctor (or an optometrist) can perform image diagnosis (interpretation) by observing an image of the anterior segment of the eye E to be examined. A physician (or optometrist) can create a report that records the information obtained from the interpretation. The report is sent, for example, to the facility where the slit lamp microscope 1 is installed. Alternatively, the report may be sent to the address information (e-mail address, street address, etc.) registered by the subject. With this, the processing according to this example ends.

[効果]
本実施形態により奏される効果を説明する。
[effect]
Effects achieved by this embodiment will be described.

スリットランプ顕微鏡1は、照明系2と、撮影系3と、移動機構6とを含む。照明系2は、被検眼Eの前眼部にスリット光を照射する。撮影系3は、スリット光が照射されている前眼部からの光を導く光学系4と、光学系4により導かれた光を撮像面で受光する撮像素子5とを含む。移動機構6は、照明系2及び撮影系3を移動する。 A slit lamp microscope 1 includes an illumination system 2 , an imaging system 3 and a moving mechanism 6 . The illumination system 2 irradiates the anterior segment of the eye E to be examined with slit light. The imaging system 3 includes an optical system 4 that guides light from the anterior segment irradiated with the slit light, and an imaging device 5 that receives the light guided by the optical system 4 on an imaging surface. A moving mechanism 6 moves the illumination system 2 and the imaging system 3 .

照明系2の光軸(照明光軸)2aに沿う物面と、光学系4と、撮像素子5の撮像面とが、シャインプルーフの条件を満足するように、照明系2及び撮影系3が構成されている。 The illumination system 2 and the imaging system 3 are arranged so that the object surface along the optical axis (illumination optical axis) 2a of the illumination system 2, the optical system 4, and the imaging surface of the imaging element 5 satisfy the Scheimpflug condition. It is configured.

撮影系3は、移動機構6による照明系2及び撮影系3の移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより、被検眼Eの前眼部の複数の画像を取得する。典型的には、この繰り返し撮影は動画撮影であり、それにより、複数の前眼部画像からなる動画像が取得される。 The imaging system 3 acquires a plurality of images of the anterior ocular segment of the subject's eye E by repeatedly performing imaging in parallel with the movement of the illumination system 2 and the imaging system 3 by the moving mechanism 6 . Typically, this repetitive imaging is moving image imaging, whereby a moving image composed of a plurality of anterior segment images is obtained.

このようなスリットランプ顕微鏡1によれば、照明系2及び撮影系3を移動することにより、被検眼Eの前眼部の3次元領域をスリット光でスキャンすることができ、当該3次元領域を表す画像を取得することができる。したがって、医師やオプトメトリストは、スリットランプ顕微鏡1によって取得された画像を観察して前眼部の所望の部位の状態を把握することが可能である。 According to such a slit lamp microscope 1, by moving the illumination system 2 and the imaging system 3, the three-dimensional region of the anterior segment of the eye to be examined E can be scanned with slit light, and the three-dimensional region can be scanned. A representative image can be obtained. Therefore, a doctor or an optometrist can observe the image acquired by the slit lamp microscope 1 and grasp the state of a desired portion of the anterior segment.

また、スリットランプ顕微鏡1により取得された画像を、遠隔地にいる医師やオプトメトリストに提供することができる。典型的には、スリットランプ顕微鏡1は、通信部9により、被検眼Eの前眼部について取得された画像を、医師やオプトメトリストが使用する情報処理装置に向けて送信することができる。なお、通信部9を設けることは任意的である。スリットランプ顕微鏡1により取得された画像の提供方法は、このようなデータ通信に限定されず、画像が記録された記録媒体や印刷媒体を提供するなどの方法であってもよい。記録媒体への記録は当該記録媒体に準拠した記録デバイス(データライタ)により行われ、印刷媒体への記録は印刷装置により行われる。 In addition, an image acquired by the slit lamp microscope 1 can be provided to a doctor or optometrist at a remote location. Typically, the slit lamp microscope 1 can transmit an image of the anterior segment of the eye to be examined E to an information processing device used by a doctor or an optometrist through the communication unit 9 . Note that providing the communication unit 9 is optional. The method of providing the image acquired by the slit lamp microscope 1 is not limited to such data communication, and may be a method of providing a recording medium or printing medium on which the image is recorded. Recording on a recording medium is performed by a recording device (data writer) conforming to the recording medium, and recording on a print medium is performed by a printer.

また、スリットランプ顕微鏡1は、照明光軸2aに沿う物面と光学系4と撮像素子5の撮像面とがシャインプルーフの条件を満足するように構成されているので、深さ方向(Z方向)の広い範囲にピントを合わせることが可能である。例えば、照明系2及び撮影系3は、少なくとも角膜前面及び水晶体後面により画成される部位に撮影系3のピントが合うように構成される。これにより、スリットランプ顕微鏡検査の対象となる前眼部の主要な部位の全体を高精細に画像化することが可能になる。なお、ピントが合う範囲は、角膜前面及び水晶体後面により画成される領域に限定されず、任意に設定可能である。 The slit lamp microscope 1 is constructed so that the object surface along the illumination optical axis 2a, the optical system 4, and the imaging surface of the imaging device 5 satisfy the Scheimpflug condition. ) can be brought into focus. For example, the illumination system 2 and the imaging system 3 are configured so that the imaging system 3 is focused on at least a region defined by the anterior corneal surface and the posterior surface of the lens. This enables high-definition imaging of the entire major regions of the anterior segment that are subject to slit lamp microscopy. Note that the focused range is not limited to the region defined by the anterior corneal surface and the posterior surface of the lens, and can be set arbitrarily.

シャインプルーフの条件を満足しない構成が適用される場合において、深さ方向の広い範囲にピントを合わせて3次元領域を撮影するには、前眼部の各箇所にピントを合わせつつ、角膜前面の形状に応じた曲線状の経路に沿って照明系及び撮影系を移動させる必要があるが、このような操作や制御は煩雑であり、実用的とは言えない。 When a configuration that does not satisfy the Scheimpflug condition is applied, in order to photograph a three-dimensional region by focusing on a wide range in the depth direction, while focusing on each point of the anterior segment, the front surface of the cornea is Although it is necessary to move the illumination system and the imaging system along a curved path corresponding to the shape, such operations and controls are complicated and cannot be said to be practical.

また、照明系2は、被検者の体軸方向(Y方向)を長手方向とするスリット光を前眼部に照射されていてよい。更に、移動機構6は、被検者の体軸方向に直交する方向(X方向)に照明系2及び撮影系3を移動可能に構成されていてよい。なお、スリット光の向きや移動方向はこれらに限定されず、任意に設定可能であるが、典型的には移動方向はスリット光の幅方向に設定される。 In addition, the illumination system 2 may irradiate the anterior segment with slit light whose longitudinal direction is the body axis direction (Y direction) of the subject. Further, the moving mechanism 6 may be configured to move the illumination system 2 and the imaging system 3 in a direction (X direction) orthogonal to the subject's body axis direction. The orientation and moving direction of the slit light are not limited to these and can be set arbitrarily, but typically the moving direction is set in the width direction of the slit light.

体軸方向を長手方向とするスリット光が照射され、且つ、体軸方向に直交する方向に照明系2及び撮影系3が移動される場合において、スリット光の長さ(体軸方向におけるスリット光の寸法)が体軸方向における角膜径以上になるように、照明系2を構成することができる。加えて、移動機構6による照明系2及び撮影系3の移動距離が、体軸方向に直交する方向(X方向)における角膜径以上であるように、移動機構6を構成することができる。この角膜径は、被検眼Eの角膜径でもよいし、標準的な角膜径でもよい。なお、スリット光の長さや移動距離はこれらに限定されず、任意に設定可能である。 When a slit light having a longitudinal direction in the body axis direction is irradiated and the illumination system 2 and the imaging system 3 are moved in a direction orthogonal to the body axis direction, the length of the slit light (the slit light in the body axis direction ) is greater than or equal to the corneal diameter in the body axis direction. In addition, the movement mechanism 6 can be configured such that the movement distance of the illumination system 2 and the imaging system 3 by the movement mechanism 6 is equal to or greater than the corneal diameter in the direction perpendicular to the body axis direction (X direction). This corneal diameter may be the corneal diameter of the eye to be examined E or a standard corneal diameter. Note that the length of the slit light and the moving distance are not limited to these, and can be set arbitrarily.

このような構成によれば、角膜全体について画像を取得することができる。更に、シャインプルーフの条件を満足する構成と組み合わせることで、角膜全体を表すとともに十分な深さ範囲を表す画像を取得することが可能になる。 With such a configuration, it is possible to acquire an image of the entire cornea. Furthermore, in combination with a configuration that satisfies the Scheimpflug condition, it becomes possible to obtain an image that represents the entire cornea and a sufficient depth range.

以上のように、スリットランプ顕微鏡1によれば、専門技術の保持者が微細で煩雑な操作を行わなくとも、前眼部の広い範囲(3次元領域)を表す高品質の画像を自動で取得することができる。読影者は、スリットランプ顕微鏡1により取得された画像の提供を受けて観察や診断を行うことが可能である。 As described above, according to the slit lamp microscope 1, a high-quality image representing a wide range (three-dimensional area) of the anterior segment of the eye can be automatically acquired without a person having specialized skills performing detailed and complicated operations. can do. A radiologist can receive an image acquired by the slit lamp microscope 1 and perform observation and diagnosis.

したがって、専門技術保持者が不足しているという問題の解消を図ることができ、高品質なスリットランプ顕微鏡検査を広く提供することが可能となる。例えば、このようなスリットランプ顕微鏡1は、前眼部疾患などのスクリーニングにおいて有効と言える。 Therefore, it is possible to solve the problem of a shortage of specialists, and to widely provide high-quality slit lamp microscopy. For example, such a slit lamp microscope 1 can be said to be effective in screening for diseases of the anterior segment of the eye.

以下、スリットランプ顕微鏡1に組み合わせることが可能な例示的機能及び例示的構成について説明する。以下の実施形態において、第1実施形態と同様の要素を同じ符号で示すことがある。また、以下の実施形態において示す図において、第1実施形態と同様の要素を省略することがある。 Exemplary functions and exemplary configurations that can be combined with the slit lamp microscope 1 are described below. In the following embodiments, elements similar to those of the first embodiment may be denoted by the same reference numerals. Also, in the drawings shown in the following embodiments, elements similar to those in the first embodiment may be omitted.

〈第2実施形態〉
本実施形態では、第1実施形態のスリットランプ顕微鏡1に適用可能な光学系の構成について説明する。その一例を図5に示す。なお、図5に示す要素群に加えて、他の実施形態に示す要素が設けられていてよい。例えば、第1の実施形態の制御部7、データ処理部8、通信部9などが設けられていてよい。
<Second embodiment>
In this embodiment, the configuration of an optical system applicable to the slit lamp microscope 1 of the first embodiment will be described. An example is shown in FIG. In addition to the element group shown in FIG. 5, elements shown in other embodiments may be provided. For example, the control unit 7, the data processing unit 8, the communication unit 9, etc. of the first embodiment may be provided.

図5に示す照明系20は第1実施形態の照明系2の例であり、左撮影系30L及び右撮影系30Rは撮影系3の例である。符号20aは照明系20の光軸(照明光軸)を示し、符号30Laは左撮影系30Lの光軸(左撮影光軸)を示し、符号30Raは右撮影系30Rの光軸(右撮影光軸)を示す。左撮影光軸30Laと右撮影光軸30Raとは、互いに異なる向きに配置されている。照明光軸20aと左撮影光軸30Laとがなす角度をθLで示し、照明光軸20aと右撮影光軸30Raとがなす角度をθRで示す。角度θLと角度θRとは、互いに等しくてもよいし異なってもよい。照明光軸20aと左撮影光軸30Laと右撮影光軸30Raとは、一点で交差する。図1と同様に、この交点のZ座標をZ0で示す。 An illumination system 20 shown in FIG. 5 is an example of the illumination system 2 of the first embodiment, and a left imaging system 30L and a right imaging system 30R are examples of the imaging system 3. As shown in FIG. Reference numeral 20a indicates the optical axis (illumination optical axis) of the illumination system 20, reference numeral 30La indicates the optical axis (left imaging optical axis) of the left imaging system 30L, and reference numeral 30Ra indicates the optical axis (right imaging optical axis) of the right imaging system 30R. axis). The left imaging optical axis 30La and the right imaging optical axis 30Ra are arranged in different directions. The angle between the illumination optical axis 20a and the left imaging optical axis 30La is denoted by θL, and the angle between the illumination optical axis 20a and the right imaging optical axis 30Ra is denoted by θR. The angles θL and θR may be equal to or different from each other. The illumination optical axis 20a, the left imaging optical axis 30La, and the right imaging optical axis 30Ra intersect at one point. As in FIG. 1, the Z coordinate of this intersection point is denoted by Z0.

移動機構6は、照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rを、矢印49で示す方向(X方向)に移動可能である。典型的には、照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rは、少なくともX方向に移動可能なステージ上に載置されており、且つ、移動機構6は、制御部7からの制御信号にしたがって、この可動ステージを移動させる。 The moving mechanism 6 can move the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R in the direction indicated by the arrow 49 (X direction). Typically, the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R are mounted on a stage movable at least in the X direction, and the movement mechanism 6 receives a control signal from the control unit 7. This movable stage is moved in accordance with.

照明系20は、被検眼Eの前眼部にスリット光を照射する。照明系20は、従来のスリットランプ顕微鏡の照明系と同様に、被検眼Eから遠い側から順に、照明光源21と、正レンズ22と、スリット形成部23と、対物レンズ群24及び25とを含む。 The illumination system 20 irradiates the anterior segment of the eye E to be examined with slit light. Like the illumination system of a conventional slit lamp microscope, the illumination system 20 includes an illumination light source 21, a positive lens 22, a slit forming section 23, and objective lens groups 24 and 25 in order from the far side from the eye E to be examined. include.

照明光源21から出力された照明光(典型的には可視光)は、正レンズ22により屈折されてスリット形成部23に投射される。投射された照明光の一部は、スリット形成部23が形成するスリットを通過してスリット光となる。生成されたスリット光は、対物レンズ群24及び25により屈折された後、ビームスプリッタ47により反射され、被検眼Eの前眼部に照射される。 Illumination light (typically visible light) output from the illumination light source 21 is refracted by the positive lens 22 and projected onto the slit forming portion 23 . A part of the projected illumination light passes through the slit formed by the slit forming part 23 and becomes slit light. The generated slit light is refracted by the objective lens groups 24 and 25, reflected by the beam splitter 47, and irradiated to the anterior segment of the eye E to be examined.

左撮影系30Lは、反射器31Lと、結像レンズ32Lと、撮像素子33Lとを含む。反射器31L及び結像レンズ32Lは、照明系20によりスリット光が照射されている前眼部からの光(左撮影系30Lの方向に進行する光)を撮像素子33Lに導く。 The left imaging system 30L includes a reflector 31L, an imaging lens 32L, and an imaging device 33L. The reflector 31L and the imaging lens 32L guide light from the anterior segment irradiated with the slit light from the illumination system 20 (light traveling in the direction of the left imaging system 30L) to the imaging device 33L.

前眼部から左撮影系30Lの方向に進行する光は、スリット光が照射されている前眼部からの光であって、照明光軸20aから離れる方向に進行する光である。反射器31Lは、当該光を照明光軸20aに近づく方向に反射する。結像レンズ32Lは、反射器31Lにより反射された光を屈折して撮像素子33Lの撮像面34Lに結像する。撮像素子33Lは、当該光を撮像面34Lにて受光する。 The light traveling from the anterior segment toward the left imaging system 30L is light from the anterior segment irradiated with the slit light and traveling away from the illumination optical axis 20a. The reflector 31L reflects the light in a direction approaching the illumination optical axis 20a. The imaging lens 32L refracts the light reflected by the reflector 31L and forms an image on the imaging surface 34L of the imaging device 33L. The imaging element 33L receives the light on the imaging surface 34L.

第1実施形態と同様に、左撮影系30Lは、移動機構6による照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rの移動と並行して繰り返し撮影を行う。これにより複数の前眼部画像が得られる。 As in the first embodiment, the left imaging system 30L repeatedly performs imaging in parallel with the movement of the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R by the movement mechanism 6. FIG. A plurality of anterior segment images are thus obtained.

第1実施形態と同様に、照明光軸20aに沿う物面と、反射器31L及び結像レンズ32Lを含む光学系と、撮像面34Lとは、シャインプルーフの条件を満足する。より具体的には、反射器31Lによる撮影系30Lの光路の偏向を考慮すると、照明光軸20aを通るYZ面(物面を含む)と、結像レンズ32Lの主面と、撮像面34Lとが、同一の直線上にて交差する。これにより、左撮影系30Lは、物面内の全ての位置(例えば、角膜前面から水晶体後面までの範囲)にピントを合わせて撮影を行うことができる。 As in the first embodiment, the object surface along the illumination optical axis 20a, the optical system including the reflector 31L and the imaging lens 32L, and the imaging surface 34L satisfy the Scheimpflug condition. More specifically, considering the deflection of the optical path of the imaging system 30L by the reflector 31L, the YZ plane (including the object plane) passing through the illumination optical axis 20a, the principal plane of the imaging lens 32L, and the imaging plane 34L. intersect on the same straight line. As a result, the left imaging system 30L can perform imaging while focusing on all positions within the object plane (for example, the range from the anterior surface of the cornea to the posterior surface of the lens).

右撮影系30Rは、反射器31Rと、結像レンズ32Rと、撮像素子33Rとを含む。左撮影系30Lと同様に、右撮影系30Rは、照明系20によりスリット光が照射されている前眼部からの光を、反射器31R及び結像レンズ32Rによって、撮像素子33Rの撮像面34Rに導く。更に、左撮影系30Lと同様に、右撮影系30Rは、移動機構6による照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rの移動と並行して繰り返し撮影を行うことで、複数の前眼部画像を取得する。左撮影系30Lと同様に、照明光軸20aに沿う物面と、反射器31R及び結像レンズ32Rを含む光学系と、撮像面34Rとは、シャインプルーフの条件を満足する。 The right imaging system 30R includes a reflector 31R, an imaging lens 32R, and an imaging device 33R. Similar to the left imaging system 30L, the right imaging system 30R directs light from the anterior segment of the eye irradiated with slit light from the illumination system 20 to the imaging surface 34R of the imaging element 33R by the reflector 31R and the imaging lens 32R. lead to Further, similarly to the left imaging system 30L, the right imaging system 30R repeats imaging in parallel with the movement of the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R by the moving mechanism 6, thereby obtaining a plurality of anterior eye images. Get a partial image. Similar to the left imaging system 30L, the object plane along the illumination optical axis 20a, the optical system including the reflector 31R and the imaging lens 32R, and the imaging surface 34R satisfy the Scheimpflug condition.

制御部7は、左撮影系30Lによる繰り返し撮影と、右撮影系30Rによる繰り返し撮影とを同期させることができる。これにより、左撮影系30Lにより得られた複数の前眼部画像と、右撮影系30Rにより得られた複数の前眼部画像との間の対応関係が得られる。この対応関係は、時間的な対応関係であり、より具体的には、実質的に同時に取得された画像同士をペアリングするものである。 The control unit 7 can synchronize repeated imaging by the left imaging system 30L and repeated imaging by the right imaging system 30R. As a result, the correspondence between the multiple anterior segment images obtained by the left imaging system 30L and the multiple anterior segment images obtained by the right imaging system 30R is obtained. This correspondence is a temporal correspondence, more specifically, a pairing of images acquired substantially at the same time.

或いは、制御部7又はデータ処理部8は、左撮影系30Lにより得られた複数の前眼部画像と、右撮影系30Rにより得られた複数の前眼部画像との間の対応関係を求める処理を実行することができる。例えば、制御部7又はデータ処理部8は、左撮影系30Lから逐次に入力される前眼部画像と、右撮影系30Rから逐次に入力される前眼部画像とを、それらの入力タイミングによってペアリングすることができる。 Alternatively, the control unit 7 or the data processing unit 8 obtains the correspondence relationship between the multiple anterior segment images obtained by the left imaging system 30L and the multiple anterior segment images obtained by the right imaging system 30R. Processing can be performed. For example, the control unit 7 or the data processing unit 8 can generate an anterior segment image sequentially input from the left imaging system 30L and an anterior segment image sequentially input from the right imaging system 30R according to their input timing. can be paired.

本実施形態は、動画撮影系40を更に含む。動画撮影系40は、左撮影系30L及び右撮影系30Rによる撮影と並行して、被検眼Eの前眼部を固定位置から動画撮影する。「固定位置から動画撮影」とは、照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rと異なり、動画撮影系40が移動機構6により移動されないことを表す。 This embodiment further includes a moving image capturing system 40 . In parallel with the imaging by the left imaging system 30L and the right imaging system 30R, the moving image capturing system 40 captures moving images of the anterior segment of the subject's eye E from a fixed position. “Recording a moving image from a fixed position” means that the moving mechanism 6 does not move the moving image capturing system 40 unlike the illumination system 20, the left capturing system 30L, and the right capturing system 30R.

本実施形態の動画撮影系40は、照明系20と同軸に配置されているが、その配置はこれに限定されない。例えば、照明系20と非同軸に動画撮影系を配置することができる。また、動画撮影系40が感度を有する帯域の照明光で前眼部を照明する光学系が設けられていてもよい。 The moving image capturing system 40 of the present embodiment is arranged coaxially with the illumination system 20, but the arrangement is not limited to this. For example, a moving image capturing system can be arranged non-coaxially with the illumination system 20 . Further, an optical system may be provided that illuminates the anterior segment with illumination light in a band to which the moving image capturing system 40 has sensitivity.

ビームスプリッタ47を透過した光は、反射器48により反射されて動画撮影系40に入射する。動画撮影系40に入射した光は、対物レンズ41により屈折された後、結像レンズ42によって撮像素子43の撮像面に結像される。撮像素子43はエリアセンサである。 The light transmitted through the beam splitter 47 is reflected by the reflector 48 and enters the moving image capturing system 40 . The light incident on the moving image capturing system 40 is refracted by the objective lens 41 and then imaged on the imaging surface of the imaging device 43 by the imaging lens 42 . The imaging element 43 is an area sensor.

動画撮影系40が設けられている場合、被検眼Eの動きをモニタすることや、トラッキングを行うことができる。トラッキングは、被検眼Eの動きに光学系を追従させるための処理である。このような処理については他の実施形態で説明する。 When the moving image capturing system 40 is provided, it is possible to monitor the movement of the subject's eye E and perform tracking. Tracking is processing for causing the optical system to follow the movement of the eye E to be examined. Such processing will be described in another embodiment.

照明系20の出力波長及び動画撮影系40の検出波長に応じ、ビームスプリッタ47は、例えばダイクロイックミラー又はハーフミラーである。 Depending on the output wavelength of the illumination system 20 and the detection wavelength of the motion picture recording system 40, the beam splitter 47 is, for example, a dichroic mirror or a half mirror.

本実施形態により奏される効果を説明する。 Effects achieved by this embodiment will be described.

本実施形態は、第1実施形態の撮影系3の例であり、左撮影系30Lと右撮影系30Rとを含む。左撮影系30Lと右撮影系30Rとの組み合わせは、第1撮影系と第2撮影系との組み合わせの例である。 This embodiment is an example of the imaging system 3 of the first embodiment, and includes a left imaging system 30L and a right imaging system 30R. A combination of the left imaging system 30L and the right imaging system 30R is an example of a combination of the first imaging system and the second imaging system.

左撮影系30Lは、スリット光が照射されている前眼部からの光を導く反射器31L及び結像レンズ32L(第1光学系)と、導かれた光を撮像面34L(第1撮像面)で受光する撮像素子33L(第1撮像素子)とを含む。同様に、右撮影系30Rは、スリット光が照射されている前眼部からの光を導く反射器31R及び結像レンズ32R(第2光学系)と、導かれた光を撮像面34R(第2撮像面)で受光する撮像素子33R(第2撮像素子)とを含む。 The left imaging system 30L includes a reflector 31L and an imaging lens 32L (first optical system) that guide light from the anterior segment irradiated with slit light, and an imaging surface 34L (first imaging surface) that receives the guided light. ) and an imaging device 33L (first imaging device) that receives light. Similarly, the right imaging system 30R includes a reflector 31R and an imaging lens 32R (second optical system) that guide light from the anterior segment irradiated with slit light, and an imaging surface 34R (second 2 imaging surface) and an imaging device 33R (second imaging device) that receives light.

左撮影系30Lの光軸(左撮影光軸30La)と右撮影系30Rの光軸(右撮影光軸30Ra)とは、互いに異なる向きに配置されている。更に、照明系20の光軸(照明光軸20a)に沿う物面と、反射器31L及び結像レンズ32Lと、撮像面34Lとは、シャインプルーフの条件を満足する。同様に、当該物面と、反射器31L及び結像レンズ32Lと、撮像面34Lとは、シャインプルーフの条件を満足する。 The optical axis of the left imaging system 30L (left imaging optical axis 30La) and the optical axis of the right imaging system 30R (right imaging optical axis 30Ra) are arranged in different directions. Furthermore, the object plane along the optical axis (illumination optical axis 20a) of the illumination system 20, the reflector 31L, the imaging lens 32L, and the imaging surface 34L satisfy the Scheimpflug condition. Similarly, the object plane, reflector 31L and imaging lens 32L, and imaging plane 34L satisfy the Scheimpflug condition.

左撮影系30Lは、移動機構6による照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rの移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより第1画像群を取得する。同様に、右撮影系30Rは、移動機構6による照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rの移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより第2画像群を取得する。 The left imaging system 30L acquires the first image group by repeatedly performing imaging in parallel with the movement of the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R by the moving mechanism 6. FIG. Similarly, the right imaging system 30R obtains a second image group by repeatedly performing imaging in parallel with the movement of the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R by the moving mechanism 6. FIG.

このような構成によれば、スリット光が照射されている前眼部を、互いに異なる方向からそれぞれ動画撮影することができる。一方の撮影系により取得された画像にアーティファクトが含まれる場合であっても、他方の撮影系により当該画像と実質的に同時に取得された画像にはアーティファクトが含まれない場合がある。また、双方の撮影系により実質的に同時に取得された一対の画像の双方にアーティファクトが含まれる場合であって、一方の画像中のアーティファクトが注目領域(例えばスリット光照射領域)に重なっている場合でも、他方の画像中のアーティファクトが注目領域に重なっていない場合がある。したがって、好適な画像を取得できる可能性が高まる。実質的に同時に取得された一対の画像から好適な画像を取得する処理については後述する。 According to such a configuration, moving images of the anterior segment irradiated with the slit light can be captured from different directions. Even if an image acquired by one imaging system contains an artifact, an image acquired by the other imaging system at substantially the same time as that image may not contain the artifact. Also, when artifacts are included in both of a pair of images obtained substantially simultaneously by both imaging systems, and artifacts in one of the images overlap a region of interest (for example, a slit light irradiation region). However, artifacts in the other image may not overlap the region of interest. Therefore, the possibility of obtaining a suitable image increases. Processing for acquiring a suitable image from a pair of images acquired substantially simultaneously will be described later.

なお、撮影系3は、第1撮影系及び第2撮影系に加え、同様の構成の第3撮影系、・・・、第K撮影系(Kは3以上の整数)を含んでいてもよい。 In addition to the first imaging system and the second imaging system, the imaging system 3 may include a third imaging system, . .

本実施形態の左撮影系30Lは、反射器31Lと結像レンズ32Lとを含む。反射器31Lは、スリット光が照射されている前眼部からの光であって、照明光軸20aから離れる方向に進行する光を、照明光軸20aに近づく方向に反射する。更に、結像レンズ32Lは、反射器31Lにより反射された光を撮像面34Lに結像させる。ここで、結像レンズ32Lは、1以上のレンズを含む。 The left imaging system 30L of this embodiment includes a reflector 31L and an imaging lens 32L. The reflector 31L reflects the light from the anterior segment irradiated with the slit light, which travels in the direction away from the illumination optical axis 20a, in the direction approaching the illumination optical axis 20a. Further, the imaging lens 32L forms an image of the light reflected by the reflector 31L on the imaging surface 34L. Here, the imaging lens 32L includes one or more lenses.

同様に、右撮影系30Rは、反射器31Rと結像レンズ32Rとを含む。反射器31Rは、スリット光が照射されている前眼部からの光であって、照明光軸20aから離れる方向に進行する光を、照明光軸20aに近づく方向に反射する。更に、結像レンズ32Rは、反射器31Rにより反射された光を撮像面34Rに結像させる。ここで、結像レンズ32Rは、1以上のレンズを含む。 Similarly, the right imaging system 30R includes a reflector 31R and an imaging lens 32R. The reflector 31R reflects the light from the anterior segment irradiated with the slit light, which travels in the direction away from the illumination optical axis 20a, in the direction approaching the illumination optical axis 20a. Further, the imaging lens 32R forms an image of the light reflected by the reflector 31R on the imaging surface 34R. Here, the imaging lens 32R includes one or more lenses.

このような構成によれば、装置の小型化を図ることが可能である。すなわち、撮像素子33L(33R)により取得された画像は、撮像面34L(34R)の反対側の面から延びるケーブルを通じて出力されるが、本構成によれば、照明光軸20aに比較的近接して位置する撮像素子33L(33R)の背面から被検眼Eとは反対方向に向かって、ケーブルを配置することができる。したがって、ケーブルの引き回しを好適に行うことができ、装置の小型化を図ることが可能になる。 With such a configuration, it is possible to reduce the size of the device. That is, the image acquired by the imaging device 33L (33R) is output through a cable extending from the surface opposite to the imaging surface 34L (34R). A cable can be arranged from the back surface of the imaging device 33L (33R) positioned in the direction opposite to the eye E to be examined. Therefore, the cable can be routed appropriately, and the size of the device can be reduced.

また、本構成によれば、角度θL及び角度θRを大きく設定することが可能となるため、一方の撮影系により取得された画像にアーティファクトが含まれる場合において、他方の撮影系により当該画像と実質的に同時に取得された画像にアーティファクトが含まれない可能性を高めることができる。また、双方の撮影系により実質的に同時に取得された一対の画像の双方にアーティファクトが含まれる場合であって、一方の画像中のアーティファクトが注目領域(例えばスリット光照射領域)に重なっている場合において、他方の画像中のアーティファクトが注目領域に重なっている可能性を低減することができる。 In addition, according to this configuration, it is possible to set the angles θL and θR to be large. This increases the likelihood that images acquired at the same time will not contain artifacts. Also, when artifacts are included in both of a pair of images obtained substantially simultaneously by both imaging systems, and artifacts in one of the images overlap a region of interest (for example, a slit light irradiation region). , the possibility that an artifact in the other image overlaps the region of interest can be reduced.

本実施形態は、動画撮影系40を含む。左撮影系30L及び右撮影系30Rは、移動機構6による照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rの移動と並行して、前眼部を繰り返し撮影する。この繰り返し撮影と並行して、動画撮影系40は、前眼部を固定位置から動画撮影する。 This embodiment includes a moving image capturing system 40 . The left imaging system 30L and the right imaging system 30R repeatedly photograph the anterior segment in parallel with the movement of the illumination system 20, the left imaging system 30L and the right imaging system 30R by the moving mechanism 6. FIG. In parallel with this repeated imaging, the moving image capturing system 40 captures moving images of the anterior segment from a fixed position.

このような構成によれば、スリット光による前眼部のスキャンと並行して固定位置(例えば正面)から動画撮影を行うことで、スキャン中における被検眼Eの状態を把握することや、被検眼Eの状態に応じた制御を行うことが可能である。その例については他の実施形態にて説明する。 According to such a configuration, by performing moving image shooting from a fixed position (for example, the front) in parallel with scanning of the anterior segment with slit light, it is possible to grasp the state of the eye to be inspected E during scanning, It is possible to perform control according to the state of E. Examples thereof will be described in other embodiments.

図5に示す構成の代わりに適用可能な光学系の例を図6に示す。なお、要素毎の符号は省略する。本例に係る光学系の左撮影系30L’において、反射器は、スリット光が照射されている前眼部からの光であって、照明光軸20a’から離れる方向に進行する光を、照明光軸20aから更に離れる方向に反射する。更に、結像レンズは、反射器により反射された光を撮像素子の撮像面に結像させる。 FIG. 6 shows an example of an optical system that can be applied instead of the configuration shown in FIG. In addition, the code|symbol for every element is abbreviate|omitted. In the left imaging system 30L' of the optical system according to the present example, the reflector is light from the anterior segment irradiated with the slit light, which travels in a direction away from the illumination optical axis 20a'. It is reflected in a direction away from the optical axis 20a. Further, the imaging lens forms an image of the light reflected by the reflector on the imaging surface of the imaging device.

このような構成を採用することも可能であるが、照明光軸20a’から比較的遠くに位置する撮像素子の背面から側方(又は被検眼Eに向かう方向)にケーブルが配置されるため、ケーブルの引き回しを好適に行えないという問題が伴う。 Although it is possible to adopt such a configuration, since the cable is arranged laterally (or in the direction toward the subject's eye E) from the rear surface of the imaging device located relatively far from the illumination optical axis 20a', This entails the problem that the cable cannot be properly routed.

〈第3実施形態〉
本実施形態では、第1実施形態のスリットランプ顕微鏡1に適用可能な処理系の構成について説明する。なお、本実施形態の撮影系3においては、例えば第2実施形態で説明した図5のように、左撮影光軸30Laと右撮影光軸30Raとが照明光軸20aに対して互いに反対の方向に傾斜して配置されている。本実施形態の処理系は、次のようなアーティファクトに係る処理を実行する。
<Third embodiment>
In this embodiment, the configuration of a processing system applicable to the slit lamp microscope 1 of the first embodiment will be described. In the imaging system 3 of the present embodiment, the left imaging optical axis 30La and the right imaging optical axis 30Ra are arranged in opposite directions with respect to the illumination optical axis 20a, for example, as shown in FIG. 5 described in the second embodiment. are arranged at an angle to the The processing system of this embodiment executes the following artifact-related processing.

図7に示すデータ処理部8Aは、第1実施形態のデータ処理部8の例である。データ処理部8Aは画像選択部81を含む。 A data processing unit 8A shown in FIG. 7 is an example of the data processing unit 8 of the first embodiment. The data processing section 8A includes an image selection section 81 .

画像選択部81は、左撮影系30L及び右撮影系30Rにより実質的に同時に取得された2つの画像のいずれかにアーティファクトが含まれるか判定する。アーティファクト判定は、所定の画像解析を含み、典型的には、画素に割り当てられた輝度情報に関する閾値処理を含む。 The image selection unit 81 determines whether any of the two images obtained substantially simultaneously by the left imaging system 30L and the right imaging system 30R contains an artifact. Artifact determination involves routine image analysis, typically including thresholding on the luminance information assigned to the pixels.

この閾値処理では、例えば、予め設定された閾値を超える輝度値が割り当てられた画素が特定される。典型的には、閾値は、画像中のスリット光照射領域の輝度値よりも高く設定される。この場合、画像選択部81は、スリット光の照射領域をアーティファクトとして判定せず、且つ、それよりも明るい像(例えば正反射像)をアーティファクトとして判定する。 In this threshold processing, for example, pixels assigned luminance values exceeding a preset threshold are specified. Typically, the threshold is set higher than the luminance value of the slit light irradiation area in the image. In this case, the image selection unit 81 does not determine the irradiation area of the slit light as an artifact, and determines a brighter image (for example, a regular reflection image) as an artifact.

画像選択部81は、アーティファクト判定のために、例えば、パターン認識、セグメンテーション、エッジ検出など、閾値処理以外の任意の画像解析を実行してもよい。一般に、画像解析、画像処理、人工知能、コグニティブ・コンピューティングなど、任意の情報処理技術を、アーティファクト判定に適用することが可能である。 For artifact determination, the image selection unit 81 may perform any image analysis other than threshold processing, such as pattern recognition, segmentation, and edge detection. In general, any information processing technology, such as image analysis, image processing, artificial intelligence, cognitive computing, etc., can be applied to artifact determination.

アーティファクト判定の結果、左撮影系30L及び右撮影系30Rにより実質的に同時に取得された2つの画像の一方の画像にアーティファクトが含まれると判定されたとき、画像選択部81は、他方の画像を選択する。つまり、画像選択部81は、これら2つの画像のうち、アーティファクトが含まれると判定された画像ではない方の画像を選択する。 As a result of the artifact determination, when it is determined that one of the two images obtained substantially simultaneously by the left imaging system 30L and the right imaging system 30R includes an artifact, the image selection unit 81 selects the other image. select. In other words, the image selection unit 81 selects the image that is not the image determined to include the artifact from these two images.

双方の画像にアーティファクトが含まれる場合、画像選択部81は、例えば、アーティファクトが観察や診断に与える悪影響を評価し、悪影響が小さい側の画像を選択することができる。この評価は、例えば、アーティファクトの大きさ及び/又は位置に基づき行われる。典型的には、含まれるアーティファクトが大きい画像は悪影響が大きいと評価され、スリット光照射領域などの注目領域やその近傍にアーティファクトが位置している画像は悪影響が大きいと評価される。 If both images contain artifacts, the image selection unit 81 can, for example, evaluate the adverse effects of the artifacts on observation and diagnosis, and select the image with the smaller adverse effects. This evaluation is based, for example, on the size and/or position of the artifact. Typically, an image containing large artifacts is evaluated to have a large adverse effect, and an image in which the artifact is located in or near a target area such as a slit light irradiation area is evaluated to have a large adverse effect.

なお、双方の画像にアーティファクトが含まれる場合、第4実施形態で説明するアーティファクト除去を適用してもよい。 If both images contain artifacts, the artifact removal described in the fourth embodiment may be applied.

第2実施形態で説明したように、左撮影系30Lは、移動機構6による照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rの移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより第1画像群を取得する。同様に、右撮影系30Rは、移動機構6による照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rの移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより第2画像群を取得する。繰り返し撮影は典型的には動画撮影であり、第1画像群及び第2画像群のそれぞれは、動画像を構成するフレーム群である。また、前述したように、第1画像群及び第2画像群のうち実質的に同時に取得された画像同士がペアリングされている。 As described in the second embodiment, the left imaging system 30L repeats imaging in parallel with the movement of the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R by the movement mechanism 6, thereby capturing the first image group. get. Similarly, the right imaging system 30R obtains a second image group by repeatedly performing imaging in parallel with the movement of the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R by the moving mechanism 6. FIG. Repeated shooting is typically moving image shooting, and each of the first image group and the second image group is a group of frames forming a moving image. Further, as described above, the images of the first image group and the second image group that are obtained substantially simultaneously are paired.

画像選択部81は、ペアリングされた2つの画像(第1画像群からの画像と第2画像群からの画像との組み合わせ)のうちの1つを選択する。これにより、例えば、複数の画像ペアのそれぞれから1つの画像が選択され、実質的にアーティファクトを含まない複数の画像が選択される。 The image selection unit 81 selects one of the paired two images (a combination of an image from the first image group and an image from the second image group). This selects, for example, one image from each of a plurality of image pairs to select a plurality of images that are substantially free of artifacts.

データ処理部8Aは、3次元画像構築部82を更に含む。3次元画像構築部82は、画像選択部81により第1画像群及び第2画像群から選択された画像を含む画像群に基づいて3次元画像を構築する。この画像群は、画像選択部81により第1画像群及び第2画像群から選択された複数の画像のいずれかのみを含んでいてもよいし、これら以外の画像を更に含んでいてもよい。 The data processing section 8A further includes a three-dimensional image constructing section 82 . The three-dimensional image construction unit 82 constructs a three-dimensional image based on the image group including the images selected from the first image group and the second image group by the image selection unit 81 . This group of images may include only one of the plurality of images selected from the first group of images and the second group of images by the image selection unit 81, or may further include images other than these.

なお、3次元画像は、3次元座標系によって画素の位置が定義された画像(画像データ)である。3次元画像の例として、スタックデータやボリュームデータがある。スタックデータは、複数の2次元画像をそれらの位置関係に応じて単一の3次元座標系に埋め込むことで構築される。ボリュームデータは、ボクセルデータとも呼ばれ、例えば、スタックデータにボクセル化を適用することで構築される。 A three-dimensional image is an image (image data) in which the positions of pixels are defined by a three-dimensional coordinate system. Stack data and volume data are examples of three-dimensional images. Stacked data is constructed by embedding multiple two-dimensional images into a single three-dimensional coordinate system according to their positional relationship. Volume data, also called voxel data, is constructed, for example, by applying voxelization to stack data.

3次元画像を構築する処理の例を説明する。3次元画像構築が適用される画像群は、図3に示す複数の前眼部画像(フレーム群)F1、F2、F3、・・・、FNであるとする。前眼部画像Fnにはスリット光照射領域Anが含まれている(n=1、2、・・・、N)。 An example of processing for constructing a three-dimensional image will be described. Assume that the image group to which the three-dimensional image construction is applied is a plurality of anterior segment images (frame group) F1, F2, F3, . . . , FN shown in FIG. The anterior segment image Fn includes slit light irradiation areas An (n=1, 2, . . . , N).

3次元画像構築部82は、前眼部画像Fnを解析してスリット光照射領域Anを抽出する。スリット光照射領域Anの抽出は、画素に割り当てられた輝度情報を参照して行われ、典型的には閾値処理を含む。これにより、スリット光照射領域An(のみ)が描出されたスリット光照射領域画像Gnが得られる(n=1、2、・・・、N)。図8は、複数の前眼部画像F1~FNから構築された複数のスリット光照射領域画像G1~GNの例を示す。 The three-dimensional image constructing unit 82 analyzes the anterior segment image Fn and extracts the slit light irradiation area An. Extraction of the slit light irradiation area An is performed with reference to luminance information assigned to pixels, and typically includes threshold processing. As a result, a slit light irradiation area image Gn in which (only) the slit light irradiation area An is depicted is obtained (n=1, 2, . . . , N). FIG. 8 shows an example of a plurality of slit light irradiation region images G1 to GN constructed from a plurality of anterior segment images F1 to FN.

スリット光照射領域画像Gnにアーティファクトが含まれている場合、例えば公知の画像処理又は他の実施形態に係る画像処理によって、スリット光照射領域画像Gnからアーティファクトを除去することができる。また、他の実施形態で説明する歪み補正を前眼部画像Fn又はスリット光照射領域画像Gnに適用することができる。 If the slit light irradiation area image Gn contains artifacts, the artifacts can be removed from the slit light irradiation area image Gn by, for example, known image processing or image processing according to another embodiment. Also, the distortion correction described in other embodiments can be applied to the anterior segment image Fn or the slit light irradiation region image Gn.

3次元画像構築部82は、複数のスリット光照射領域画像G1~GNの少なくとも一部に基づいて3次元画像を構築する。3次元画像やその構築の詳細については、他の実施形態で説明する。 A three-dimensional image construction unit 82 constructs a three-dimensional image based on at least part of the plurality of slit light irradiation area images G1 to GN. Details of the three-dimensional image and its construction are described in other embodiments.

本実施形態により奏される効果を説明する。 Effects achieved by this embodiment will be described.

本実施形態では、例えば図5に示すように、左撮影光軸30Laと右撮影光軸30Raとが、照明光軸20aに対して互いに反対の方向に傾斜して配置されている。本実施形態のデータ処理部8Aは画像選択部81を含む。画像選択部81は、左撮影系30L及び右撮影系30Rにより実質的に同時に取得された2つの画像のいずれかにアーティファクトが含まれるか判定する。2つの画像のうちの一方の画像にアーティファクトが含まれると判定された場合、画像選択部81は、2つの画像のうちの他方の画像、つまりアーティファクトが含まれていない画像、を選択する。 In this embodiment, for example, as shown in FIG. 5, the left imaging optical axis 30La and the right imaging optical axis 30Ra are arranged to be inclined in opposite directions with respect to the illumination optical axis 20a. The data processing section 8A of this embodiment includes an image selection section 81 . The image selection unit 81 determines whether any of the two images obtained substantially simultaneously by the left imaging system 30L and the right imaging system 30R contains an artifact. When it is determined that one of the two images contains an artifact, the image selection unit 81 selects the other image of the two images, that is, the image that does not contain the artifact.

このような構成によれば、観察や診断の妨げになるアーティファクト(正反射像など)を含まない画像を選択することが可能である。 According to such a configuration, it is possible to select an image that does not contain artifacts (specular reflection image, etc.) that hinder observation and diagnosis.

更に、本実施形態のデータ処理部8Aは3次元画像構築部82を含む。3次元画像構築部82は、左撮影系30Lにより取得された複数の画像及び右撮影系30Rにより取得された複数の画像のうちから画像選択部81によって選択された画像を含む画像群に基づいて、被検眼Eの前眼部を表す3次元画像を構築する。 Further, the data processing section 8A of this embodiment includes a three-dimensional image constructing section 82 . The three-dimensional image constructing unit 82 selects the image selected by the image selecting unit 81 from among the plurality of images acquired by the left imaging system 30L and the plurality of images acquired by the right imaging system 30R, based on the group of images. , to construct a three-dimensional image representing the anterior segment of the eye E to be examined.

このような構成によれば、観察や診断の妨げになるアーティファクトを含まない画像群に基づいて、前眼部の3次元画像を構築することが可能である。 According to such a configuration, it is possible to construct a three-dimensional image of the anterior segment based on an image group that does not contain artifacts that hinder observation or diagnosis.

〈第4実施形態〉
本実施形態では、第1実施形態のスリットランプ顕微鏡1に適用可能な処理系の構成について説明する。
<Fourth embodiment>
In this embodiment, the configuration of a processing system applicable to the slit lamp microscope 1 of the first embodiment will be described.

本実施形態の撮影系3においては、第2実施形態で説明した図5のように、左撮影光軸30Laと右撮影光軸30Raとが照明光軸20aに対して互いに反対の方向に傾斜して配置されていてもよいし、或いは、2つの撮影光軸が照明光軸に対して同じ方向に配置されていてもよい。後者の場合、2つの撮影光軸のうちの一方の撮影光軸と照明光軸とがなす角度と、他方の撮影光軸と照明光軸とがなす角度とは、互いに異なる。また、いずれの場合においても、照明光軸に対する一方の撮影光軸の位置と、照明光軸に対する他方の撮影光軸の位置とは、互いに異なる。本実施形態の処理系は、次のようなアーティファクトに係る処理を実行する。 In the imaging system 3 of the present embodiment, the left imaging optical axis 30La and the right imaging optical axis 30Ra are inclined in opposite directions with respect to the illumination optical axis 20a, as shown in FIG. 5 described in the second embodiment. Alternatively, the two photographing optical axes may be arranged in the same direction with respect to the illumination optical axis. In the latter case, the angle formed by one of the two photographing optical axes and the illumination optical axis is different from the angle formed by the other photographing optical axis and the illumination optical axis. In either case, the position of one imaging optical axis with respect to the illumination optical axis and the position of the other imaging optical axis with respect to the illumination optical axis are different from each other. The processing system of this embodiment executes the following artifact-related processing.

図9に示すデータ処理部8Bは、第1実施形態のデータ処理部8の例である。データ処理部8Bはアーティファクト除去部83を含む。 A data processing unit 8B shown in FIG. 9 is an example of the data processing unit 8 of the first embodiment. The data processing unit 8B includes an artifact removal unit 83. FIG.

アーティファクト除去部83は、左撮影系30L及び右撮影系30Rにより実質的に同時に取得された2つの画像を比較することにより、これら2つの画像のいずれかにアーティファクトが含まれるか判定する。ここで、左撮影系30L及び右撮影系30Rにより実質的に同時に取得された2つの画像は、例えば、前述した画像のペアリングによって互いに対応付けられたものである。 The artifact remover 83 compares the two images obtained substantially simultaneously by the left imaging system 30L and the right imaging system 30R to determine whether any of these two images contains an artifact. Here, the two images obtained substantially simultaneously by the left imaging system 30L and the right imaging system 30R are associated with each other, for example, by the image pairing described above.

前述したように、本実施形態では、照明光軸に対する一方の撮影光軸の位置と、照明光軸に対する他方の撮影光軸の位置とが、互いに異なっている。したがって、一方の撮影系(例えば左撮影系30L)により取得された画像におけるアーティファクトの位置と、他方の撮影系(例えば右撮影系30R)により取得された画像におけるアーティファクトの位置とが、互いに異なる。或いは、比較される2つの画像のうち一方の画像にのみアーティファクトが含まれる。 As described above, in this embodiment, the position of one imaging optical axis with respect to the illumination optical axis and the position of the other imaging optical axis with respect to the illumination optical axis are different from each other. Therefore, the position of the artifact in the image acquired by one imaging system (eg, the left imaging system 30L) differs from the position of the artifact in the image acquired by the other imaging system (eg, the right imaging system 30R). Alternatively, only one of the two images being compared contains artifacts.

アーティファクト除去部83は、これら2つの画像のそれぞれを解析してアーティファクトを含むか判定する。アーティファクト判定は、例えば第3実施形態の画像選択部81と同じ要領で実行される。 Artifact remover 83 analyzes each of these two images to determine if they contain artifacts. Artifact determination is performed, for example, in the same manner as the image selection unit 81 of the third embodiment.

2つの画像の一方にのみアーティファクトが含まれている場合、アーティファクト除去部83がこのアーティファクトを除去するか、或いは第3実施形態のようにアーティファクトが含まれない画像を選択することができる。なお、2つの画像の一方にアーティファクトが含まれ、且つ、他方にアーティファクトが含まれないと判定することは、2つの画像の比較に相当する。 If only one of the two images contains an artifact, the artifact remover 83 can remove this artifact, or an image containing no artifact can be selected as in the third embodiment. Note that determining that one of two images contains an artifact and the other does not contain an artifact corresponds to comparing the two images.

2つの画像の双方にアーティファクトが含まれている場合、アーティファクト除去部83は、2つの画像の一方又は双方を処理してアーティファクトを除去する。 If artifacts are included in both of the two images, the artifact remover 83 processes one or both of the two images to remove the artifacts.

アーティファクト除去部83は、アーティファクトが除去された画像領域に、他の画像の部分領域を貼り付けることができる。前述したように、比較される2つの画像におけるアーティファクトの位置が異なるか、或いは、これら2つの画像の一方にしかアーティファクトは含まれないので、一方の画像からアーティファクトが除去された場合、他方の画像における対応領域はアーティファクトではない。アーティファクト除去部83は、この対応領域を他方の画像から抽出し、これをアーティファクトが除去された箇所に貼り付ける。 The artifact removing unit 83 can paste a partial area of another image onto the image area from which the artifact has been removed. As mentioned above, the locations of the artifacts in the two images being compared are different, or only one of the two images contains the artifacts, so if the artifacts are removed from one image, the other image is The corresponding region in is not an artifact. The artifact removal unit 83 extracts this corresponding region from the other image and pastes it to the location where the artifact has been removed.

或いは、第2実施形態の動画撮影系40のように他の撮影系が設けられている場合、それにより取得された前眼部の画像における対応領域を抽出し、これをアーティファクトが除去された箇所に貼り付けることが可能である。 Alternatively, if another imaging system is provided, such as the moving image imaging system 40 of the second embodiment, the corresponding region in the image of the anterior segment acquired by it is extracted, and the region from which the artifact has been removed is extracted. can be pasted on.

第2実施形態で説明したように、左撮影系30Lは、移動機構6による照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rの移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより第1画像群を取得する。同様に、右撮影系30Rは、移動機構6による照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rの移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより第2画像群を取得する。繰り返し撮影は典型的には動画撮影であり、第1画像群及び第2画像群のそれぞれは、動画像を構成するフレーム群である。また、前述したように、第1画像群及び第2画像群のうち実質的に同時に取得された画像同士がペアリングされている。アーティファクト除去部83は、複数の画像ペアのそれぞれについて、上記のようなアライメント除去を適用する。 As described in the second embodiment, the left imaging system 30L repeats imaging in parallel with the movement of the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R by the movement mechanism 6, thereby capturing the first image group. get. Similarly, the right imaging system 30R obtains a second image group by repeatedly performing imaging in parallel with the movement of the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R by the moving mechanism 6. FIG. Repeated shooting is typically moving image shooting, and each of the first image group and the second image group is a group of frames forming a moving image. Further, as described above, the images of the first image group and the second image group that are obtained substantially simultaneously are paired. The artifact removal unit 83 applies alignment removal as described above to each of the plurality of image pairs.

データ処理部8Bは、3次元画像構築部84を更に含む。3次元画像構築部84は、アーティファクト除去部83によりアーティファクトが除去された画像を含む画像群に基づいて3次元画像を構築する。この画像群は、アーティファクト除去部83により処理された複数の画像のいずれかのみを含んでいてもよいし、これら以外の画像を更に含んでいてもよい。3次元画像やその構築の詳細については、他の実施形態で説明する。 The data processing section 8B further includes a three-dimensional image constructing section 84 . The three-dimensional image constructing unit 84 constructs a three-dimensional image based on the image group including the images from which the artifacts have been removed by the artifact removing unit 83 . This group of images may include only one of the plurality of images processed by the artifact removal section 83, or may further include images other than these. Details of the three-dimensional image and its construction are described in other embodiments.

本実施形態により奏される効果を説明する。 Effects achieved by this embodiment will be described.

本実施形態のデータ処理部8Bはアーティファクト除去部83を含む。アーティファクト除去部83は、左撮影系30L及び右撮影系30Rにより実質的に同時に取得された2つの画像を比較することにより、これら2つの画像のいずれかにアーティファクトが含まれるか判定する。いずれかの画像にアーティファクトが含まれると判定された場合、アーティファクト除去部83は、このアーティファクトの除去を実行する。 The data processing unit 8B of this embodiment includes an artifact removing unit 83. FIG. The artifact remover 83 compares the two images obtained substantially simultaneously by the left imaging system 30L and the right imaging system 30R to determine whether any of these two images contains an artifact. If it is determined that any image contains an artifact, the artifact removal unit 83 removes this artifact.

このような構成によれば、観察や診断の妨げになるアーティファクト(正反射像など)を含まない画像を構築することが可能である。 According to such a configuration, it is possible to construct an image that does not contain artifacts (specular reflection image, etc.) that hinder observation and diagnosis.

更に、本実施形態のデータ処理部8Bは3次元画像構築部84を含む。3次元画像構築部84は、アーティファクト除去部83によりアーティファクトが除去された画像を含む画像群に基づいて、被検眼Eの前眼部を表す3次元画像を構築する。 Further, the data processing section 8B of this embodiment includes a three-dimensional image constructing section 84 . The three-dimensional image constructing unit 84 constructs a three-dimensional image representing the anterior segment of the subject's eye E based on an image group including images from which artifacts have been removed by the artifact removing unit 83 .

このような構成によれば、観察や診断の妨げになるアーティファクトを含まない画像群に基づいて、前眼部の3次元画像を構築することが可能である。 According to such a configuration, it is possible to construct a three-dimensional image of the anterior segment based on an image group that does not contain artifacts that hinder observation or diagnosis.

〈第5実施形態〉
本実施形態では、第1実施形態のスリットランプ顕微鏡1に適用可能な処理系の構成について説明する。第3実施形態及び第4実施形態では、典型的には、第1撮影系及び第2撮影系により実質的に同時に取得された2つの画像に対してアーティファクトに関する処理を適用し、アーティファクトを含まない画像群に基づいて3次元画像を構築している。一方、アーティファクトに関する処理を経ることなく3次元画像を構築することも可能である。本実施形態は、このような場合に適用可能である。
<Fifth Embodiment>
In this embodiment, the configuration of a processing system applicable to the slit lamp microscope 1 of the first embodiment will be described. In the third and fourth embodiments, typically, artifact-free processing is applied to two images acquired substantially simultaneously by the first imaging system and the second imaging system. A three-dimensional image is constructed based on the images. On the other hand, it is also possible to construct a three-dimensional image without going through any processing related to artifacts. This embodiment can be applied in such a case.

図10に示すデータ処理部8Cは、第1実施形態のデータ処理部8の例である。データ処理部8Cは3次元画像構築部85を含む。 A data processing unit 8C shown in FIG. 10 is an example of the data processing unit 8 of the first embodiment. The data processing section 8C includes a three-dimensional image constructing section 85. FIG.

本実施形態の第1の例では、第1実施形態で説明したように、撮影系3が、移動機構6による照明系2及び撮影系3の移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより、被検眼Eの前眼部の複数の画像を取得する。 In the first example of the present embodiment, as described in the first embodiment, the photographing system 3 repeats photographing in parallel with the movement of the illumination system 2 and the photographing system 3 by the movement mechanism 6, thereby A plurality of images of the anterior segment of eye examination E are acquired.

3次元画像構築部85は、撮影系3により取得された複数の画像に基づいて3次元画像を構築することができる。3次元画像構築に用いられる画像群は、撮影系3により取得された複数の画像のいずれかのみを含んでいてもよいし、これら以外の画像を更に含んでいてもよい。3次元画像やその構築の詳細については、他の実施形態で説明する。 The three-dimensional image constructing section 85 can construct a three-dimensional image based on a plurality of images acquired by the imaging system 3 . The image group used for constructing the three-dimensional image may include only one of the plurality of images acquired by the imaging system 3, or may further include images other than these. Details of the three-dimensional image and its construction are described in other embodiments.

本実施形態の第2の例では、第2実施形態で説明したように、左撮影系30Lが、移動機構6による照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rの移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより第1画像群を取得する。同様に、右撮影系30Rが、移動機構6による照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rの移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより第2画像群を取得する。第1画像群及び第2画像群のうち実質的に同時に取得された画像同士はペアリングされている。 In the second example of the present embodiment, as described in the second embodiment, the left imaging system 30L is repeatedly moved in parallel with the movement of the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R by the movement mechanism 6. A first image group is obtained by photographing. Similarly, the right imaging system 30R acquires a second image group by repeatedly performing imaging in parallel with the movement of the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R by the moving mechanism 6. FIG. Images of the first image group and the second image group that are acquired substantially simultaneously are paired.

3次元画像構築部85は、左撮影系30Lにより取得された第1画像群に基づいて3次元画像を構築することができる。この3次元画像の構築に用いられる画像群は、第1画像群のいずれかのみを含んでいてもよいし、これら以外の画像を更に含んでいてもよい。同様に、3次元画像構築部85は、右撮影系30Rにより取得された第2画像群に基づいて3次元画像を構築することができる。この3次元画像の構築に用いられる画像群は、第2画像群のいずれかのみを含んでいてもよいし、これら以外の画像を更に含んでいてもよい。3次元画像やその構築の詳細については、他の実施形態で説明する。 The three-dimensional image constructing section 85 can construct a three-dimensional image based on the first image group acquired by the left imaging system 30L. The image group used to construct this three-dimensional image may include only any one of the first image group, or may further include images other than these. Similarly, the three-dimensional image construction section 85 can construct a three-dimensional image based on the second image group acquired by the right imaging system 30R. The image group used to construct this three-dimensional image may include only one of the second image groups, or may further include images other than these. Details of the three-dimensional image and its construction are described in other embodiments.

本実施形態により奏される効果を説明する。 Effects achieved by this embodiment will be described.

本実施形態のデータ処理部8Cは3次元画像構築部85を含む。3次元画像構築部85は、撮影系3により取得された複数の画像に基づいて3次元画像を構築する。撮影系3は、左撮影系30L及び右撮影系30Rの双方を含んでいてもよいし、これらの一方に対応する単一の撮影系のみを含んでいてもよい。 The data processing unit 8C of this embodiment includes a three-dimensional image constructing unit 85. FIG. A three-dimensional image construction unit 85 constructs a three-dimensional image based on a plurality of images acquired by the imaging system 3 . The imaging system 3 may include both the left imaging system 30L and the right imaging system 30R, or may include only a single imaging system corresponding to one of them.

このような構成によれば、被検眼Eの前眼部における3次元領域を表す3次元画像を構築することが可能である。3次元画像は観察や診断に有用である。 According to such a configuration, it is possible to construct a three-dimensional image representing a three-dimensional region in the anterior segment of the eye E to be examined. Three-dimensional images are useful for observation and diagnosis.

〈第6実施形態〉
本実施形態は、第3~第5実施形態のように前眼部の3次元画像を構築可能である場合に適用可能である。
<Sixth Embodiment>
This embodiment can be applied when a three-dimensional image of the anterior segment can be constructed like the third to fifth embodiments.

前述したように、3次元画像は、スリット光のスキャンによって逐次に得られた複数の画像から構築される。複数の画像から3次元画像を構築するには複数の画像を配列する必要があるが、複数の画像は異なるタイミングで得られたものであるため、高い確度、高い精度で複数の画像を配列することは困難である。本実施形態は、このような問題を解決すべく考案されたものである。 As described above, a three-dimensional image is constructed from a plurality of images sequentially obtained by scanning slit light. To construct a 3D image from multiple images, it is necessary to arrange multiple images, but since the multiple images were obtained at different times, the multiple images are arranged with high accuracy and high accuracy. is difficult. The present embodiment is devised to solve such problems.

図11に示す制御部7は第1実施形態のそれと同様である。移動機構6Aは、第1実施形態の移動機構6の例であり、平行移動機構61と回転機構62とを含む。データ処理部8Dは3次元画像構築部86を含む。3次元画像構築部86は、第3実施形態の3次元画像構築部82の例であり、第4実施形態の3次元画像構築部84の例であり、且つ、第5実施形態の3次元画像構築部85の例である。3次元画像構築部86は画像位置決定部87を含む。 The controller 7 shown in FIG. 11 is the same as that of the first embodiment. The moving mechanism 6A is an example of the moving mechanism 6 of the first embodiment, and includes a parallel moving mechanism 61 and a rotating mechanism 62. The data processing section 8D includes a three-dimensional image constructing section 86. FIG. The 3D image construction unit 86 is an example of the 3D image construction unit 82 of the third embodiment, an example of the 3D image construction unit 84 of the fourth embodiment, and the 3D image construction unit 86 of the fifth embodiment. It is an example of the construction unit 85 . The three-dimensional image constructing portion 86 includes an image position determining portion 87 .

第1実施形態の図1に示す構成が適用される場合、平行移動機構61は、スリット光で前眼部をスキャンするために、照明系2及び撮影系3を一体的にX方向に移動する。 When the configuration shown in FIG. 1 of the first embodiment is applied, the translation mechanism 61 integrally moves the illumination system 2 and the imaging system 3 in the X direction in order to scan the anterior segment with slit light. .

第2実施形態の図5に示す構成が適用される場合、平行移動機構61は、スリット光で前眼部をスキャンするために、照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rを一体的にX方向に移動する。 When the configuration shown in FIG. 5 of the second embodiment is applied, the translation mechanism 61 integrates the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R in order to scan the anterior segment with slit light. to move in the X direction.

第1実施形態の図1に示す構成が適用される場合、回転機構62は、照明光軸2aを回転軸として照明系2及び撮影系3を一体的に回転する。 When the configuration shown in FIG. 1 of the first embodiment is applied, the rotation mechanism 62 integrally rotates the illumination system 2 and the imaging system 3 with the illumination optical axis 2a as a rotation axis.

第2実施形態の図5に示す構成が適用される場合、回転機構62は、照明光軸20aを回転軸として照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rを一体的に回転する。 When the configuration shown in FIG. 5 of the second embodiment is applied, the rotation mechanism 62 integrally rotates the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R around the illumination optical axis 20a as a rotation axis.

これにより、被検眼Eの前眼部に照射されるスリット光の向きを回転することができ、且つ、スリット光の向きの回転と同じ角度だけ撮影方向も回転する。 As a result, the direction of the slit light that irradiates the anterior segment of the eye E to be examined can be rotated, and the photographing direction is also rotated by the same angle as the rotation of the direction of the slit light.

第1実施形態の図1に示す構成が適用される場合、照明系2及び撮影系3が第1回転位置に配置されているときにスリット光による前眼部スキャンが実行されて撮影系3により複数の画像が取得される。 When the configuration shown in FIG. 1 of the first embodiment is applied, when the illumination system 2 and the imaging system 3 are arranged at the first rotation position, the anterior segment scan is performed with slit light, and the imaging system 3 Multiple images are acquired.

第2実施形態の図5に示す構成が適用される場合、照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rが第1回転位置に配置されているときにスリット光による前眼部スキャンが実行され、左撮影系30Lにより第1画像群が取得され、且つ、右撮影系30Rにより第2画像群が取得される。 When the configuration shown in FIG. 5 of the second embodiment is applied, an anterior segment scan is performed using slit light when the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R are arranged at the first rotation position. A first image group is acquired by the left imaging system 30L, and a second image group is acquired by the right imaging system 30R.

第1回転位置は、例えば、前眼部に投射されるスリット光の長手方向が被検者の体軸方向(Y方向)に一致するような回転位置である。 The first rotational position is, for example, a rotational position such that the longitudinal direction of the slit light projected onto the anterior eye coincides with the body axis direction (Y direction) of the subject.

第1実施形態の図1に示す構成が適用される場合、第1回転位置と異なる第2回転位置に照明系2及び撮影系3が配置されているときに、撮影系3は、照明系20によりスリット光が照射されている前眼部の画像を取得する。 In the case where the configuration shown in FIG. 1 of the first embodiment is applied, when the illumination system 2 and the imaging system 3 are arranged at the second rotational position different from the first rotational position, the imaging system 3 is positioned at the illumination system 20 acquires an image of the anterior segment irradiated with slit light.

第2実施形態の図5に示す構成が適用される場合、第1回転位置と異なる第2回転位置に照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rが配置されているときに、左撮影系30L及び右撮影系30Rのそれぞれは、照明系20によりスリット光が照射されている前眼部の画像を取得する。 When the configuration shown in FIG. 5 of the second embodiment is applied, when the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R are arranged at the second rotational position different from the first rotational position, the left imaging Each of the system 30L and the right imaging system 30R acquires an image of the anterior segment illuminated by the slit light from the illumination system 20 .

第2回転位置は、例えば、前眼部に投射されるスリット光の長手方向が左右方向(X方向)に一致するような回転位置である。これにより、第1回転位置にて行われる前眼部スキャンとは別に、1回以上の撮影が行われる。この付加的な撮影において、スリット光の向きは、前眼部スキャン時のそれと異なる。典型的には、前眼部スキャンにおける全てのスリット光照射領域を通過するように、スリット光の向きを設定することができる。 The second rotational position is, for example, a rotational position such that the longitudinal direction of the slit light projected onto the anterior segment coincides with the horizontal direction (X direction). Thereby, one or more imagings are performed separately from the anterior segment scan performed at the first rotation position. In this additional imaging, the direction of the slit light is different from that during the anterior segment scan. Typically, the direction of the slit light can be set so as to pass through all the slit light irradiation regions in the anterior segment scan.

画像位置決定部87は、第2回転位置において取得された前眼部の画像に基づいて、第1回転位置において取得された前眼部の複数の画像の相対位置を決定する。この画像位置決定は、第2回転位置にて得られた画像を参照して、第1回転位置にて得られた複数の画像の配列を調整するものである。 The image position determining unit 87 determines the relative positions of the plurality of images of the anterior segment acquired at the first rotational position based on the image of the anterior segment acquired at the second rotational position. This image position determination refers to the image obtained at the second rotation position and adjusts the arrangement of the plurality of images obtained at the first rotation position.

画像位置決定部87は、例えば、第1回転位置にて得られた各画像と、第2回転位置にて得られた画像とを解析して両者の共通領域を特定する。更に、画像位置決定部87は、特定された共通領域を基準として、第1回転位置にて得られた各画像と、第2回転位置にて得られた画像との相対位置を決定する。 The image position determination unit 87, for example, analyzes each image obtained at the first rotation position and the image obtained at the second rotation position, and specifies a common area between the two. Further, the image position determination unit 87 determines the relative positions of the images obtained at the first rotation position and the images obtained at the second rotation position with reference to the specified common area.

第1回転位置にて得られた全ての画像に対してこのような処理を適用することにより、第2回転位置にて得られた画像を基準として、第1回転位置にて得られた全ての画像が配列される。すなわち、第2回転位置にて得られた画像を媒介して、第1回転位置にて得られた全ての画像の相対位置が決定される。 By applying such processing to all images obtained at the first rotation position, all images obtained at the first rotation position are obtained with reference to the image obtained at the second rotation position. The images are arranged. That is, the relative positions of all the images obtained at the first rotation position are determined through the images obtained at the second rotation position.

画像位置決定部87が実行する処理は、例えば、画像相関処理、セグメンテーション、パターンマッチング、人工知能を利用した処理、コグニティブ・コンピューティングを利用した処理など、任意の情報処理を含んでいてよい。 The processing executed by the image position determination unit 87 may include arbitrary information processing such as image correlation processing, segmentation, pattern matching, processing using artificial intelligence, processing using cognitive computing, and the like.

3次元画像構築部86は、画像位置決定部87により決定された相対位置に基づいて、第1回転位置にて得られた複数の画像を単一の3次元座標系に配列し、3次元画像を形成する。 The three-dimensional image construction unit 86 arranges the plurality of images obtained at the first rotation position in a single three-dimensional coordinate system based on the relative positions determined by the image position determination unit 87, and constructs a three-dimensional image. to form

図12は、本実施形態におけるスリット光の照射位置の例を示す。図12は、前眼部を正面から見た状態を表している。照明系2及び撮影系3が第1回転位置に配置されているとき、前眼部スキャンにおける複数のスリット光照射領域は、Y方向を長手方向とし且つX方向に配列された複数のストリップ状領域に相当する。本例の前眼部スキャンでは、これらストリップ状領域に対し、矢印11により示された順序で、順次にスリット光が照射される。各ストリップ状領域にスリット光が照射されているときに、少なくとも1回の撮影が行われる。 FIG. 12 shows an example of irradiation positions of slit light in this embodiment. FIG. 12 shows the front view of the anterior segment of the eye. When the illumination system 2 and the imaging system 3 are arranged at the first rotation position, the plurality of slit light irradiation regions in the anterior segment scan are a plurality of strip-shaped regions arranged in the X direction with the Y direction as the longitudinal direction. corresponds to In the anterior segment scan of this example, these strip-shaped regions are sequentially irradiated with slit light in the order indicated by the arrow 11 . At least one photographing is performed while each strip-like region is irradiated with the slit light.

一方、符号12は、照明系2及び撮影系3が第2回転位置に配置されているときに前眼部に照射されるスリット光の位置を示す。第2回転位置に対応するスリット光照射領域12は、X方向を長手方向とするストリップ状領域である。つまり、本例では、第1回転位置にて前眼部に照射されるスリット光の向きと、第2回転位置にて前眼部に照射されるスリット光の向きとが互いに直交している。なお、第1回転位置にて前眼部に照射されるスリット光の向きと、第2回転位置にて前眼部に照射されるスリット光の向きとの関係は、これに限定されず、双方の向きが異なっていれば十分である。 On the other hand, reference numeral 12 indicates the position of the slit light irradiated to the anterior segment when the illumination system 2 and imaging system 3 are arranged at the second rotational position. The slit light irradiation area 12 corresponding to the second rotation position is a strip-shaped area having the X direction as the longitudinal direction. That is, in this example, the direction of the slit light irradiated to the anterior segment at the first rotational position and the direction of the slit light irradiated to the anterior segment at the second rotational position are orthogonal to each other. Note that the relationship between the direction of the slit light irradiated to the anterior segment at the first rotational position and the direction of the slit light irradiated to the anterior segment at the second rotational position is not limited to this. It is sufficient if the orientations of the

ここでは、照明系2及び撮影系3が適用される場合について説明したが、照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rが適用される場合などにおいても同様である。 Although the case where the illumination system 2 and the imaging system 3 are applied has been described here, the same applies to the case where the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R are applied.

本例では、第1回転位置での前眼部スキャンと、第2回転位置での撮影との双方が実行されるが、これらを実施するタイミングは任意であってよい。例えば、第2回転位置での撮影を行った後に第1回転位置での前眼部スキャンを行うことや、第1回転位置での前眼部スキャンの後に第2回転位置での撮影を行うことや、第1回転位置での前眼部スキャンの途中段階で第2回転位置での撮影を行うことが可能である。 In this example, both the anterior segment scanning at the first rotational position and the imaging at the second rotational position are executed, but the timing of these executions may be arbitrary. For example, after imaging at the second rotational position, the anterior segment scan is performed at the first rotational position, or after the anterior segment scan at the first rotational position, imaging is performed at the second rotational position. Alternatively, it is possible to perform imaging at the second rotational position in the middle of scanning the anterior segment at the first rotational position.

本実施形態により奏される効果を説明する。 Effects achieved by this embodiment will be described.

本実施形態の移動機構6Aは、照明光軸2a(20a)を回転軸として照明系2(20)及び撮影系3(30L、30R)を一体的に回転する回転機構62を含む。照明系2(20)及び撮影系3(30L、30R)が第1回転位置に配置されているときに、撮影系3(30L、30R)は、スリット光が照射されている前眼部の複数の画像を取得する。更に、第1回転位置と異なる第2回転位置に照明系2(20)及び撮影系3(30L、30R)が配置されているときに、撮影系3(30L、30R)は、照明系2(20)によりスリット光が照射されている前眼部の画像を取得する。画像位置決定部87は、第2回転位置において取得された画像に基づいて、第1回転位置において取得された複数の画像の相対位置を決定する。3次元画像構築部86は、決定された相対位置に基づき複数の画像の間の位置合わせを行って3次元画像を構築する。 The moving mechanism 6A of this embodiment includes a rotating mechanism 62 that integrally rotates the illumination system 2 (20) and the imaging system 3 (30L, 30R) about the illumination optical axis 2a (20a) as a rotation axis. When the illumination system 2 (20) and the imaging system 3 (30L, 30R) are arranged at the first rotational position, the imaging system 3 (30L, 30R) is arranged to illuminate a plurality of the anterior ocular segments irradiated with the slit light. Get an image of Furthermore, when the illumination system 2 (20) and the imaging system 3 (30L, 30R) are arranged at the second rotation position different from the first rotation position, the imaging system 3 (30L, 30R) 20) acquires an image of the anterior segment irradiated with the slit light. The image position determination unit 87 determines the relative positions of the multiple images acquired at the first rotation position based on the images acquired at the second rotation position. A three-dimensional image construction unit 86 constructs a three-dimensional image by aligning the plurality of images based on the determined relative positions.

このような構成によれば、第1回転位置において取得された複数の画像の間の位置合わせを、第2回転位置において取得された画像を参照して行うことができるので、3次元画像構築の確度や精度の向上を図ることが可能である。 According to such a configuration, the plurality of images acquired at the first rotation position can be aligned with reference to the image acquired at the second rotation position. It is possible to improve accuracy and precision.

なお、「第1回転位置において取得された複数の画像の相対位置を決定する」は、当該複数の画像自体の相対位置を決定することだけでなく、当該複数の画像からそれぞれ抽出された複数のスリット光照射領域の相対位置を決定することも含む。よって、本実施形態は、当該複数の画像の相対位置を決定した後にスリット光照射領域を抽出する場合と、当該複数の画像からスリット光照射領域を抽出した後にそれらの相対位置を決定する場合との双方を含む。 Note that "determining the relative positions of the plurality of images acquired at the first rotational position" means not only determining the relative positions of the plurality of images themselves, but also determining the relative positions of the plurality of images extracted from the plurality of images. It also includes determining the relative position of the slit light irradiation area. Therefore, in the present embodiment, the slit light irradiation area is extracted after determining the relative positions of the plurality of images, and the relative position is determined after extracting the slit light irradiation area from the plurality of images. includes both

また、本実施形態は、第3実施形態が適用される場合のように、第1回転位置において取得された複数の画像から選択された画像群の相対位置を決定することを含む。更に、本実施形態は、第4実施形態が適用される場合のように、第1回転位置において取得された複数の画像を加工して得られた画像群の相対位置を決定することを含む。よって、本実施形態は、当該複数の画像の相対位置を決定した後に画像の選択又は加工を行う場合と、画像の選択又は加工を行った後に選択画像又は加工画像の相対位置を決定する場合との双方を含む。 This embodiment also includes determining the relative position of a group of images selected from the plurality of images acquired at the first rotational position, as in the case of the third embodiment. Furthermore, this embodiment includes determining relative positions of images obtained by processing a plurality of images acquired at the first rotational position, as in the case of applying the fourth embodiment. Therefore, in the present embodiment, the image is selected or processed after determining the relative positions of the plurality of images, and the relative position of the selected image or the processed image is determined after the image is selected or processed. includes both

〈第7実施形態〉
本実施形態では、第3~第6実施形態などにおいて説明した3次元画像構築について説明する。
<Seventh Embodiment>
In this embodiment, the three-dimensional image construction explained in the third to sixth embodiments will be explained.

図13に示す3次元画像構築部88は、画像領域抽出部89と、画像合成部90とを含む。 The three-dimensional image constructing section 88 shown in FIG. 13 includes an image region extracting section 89 and an image synthesizing section 90 .

第1実施形態の図1に示す構成が適用される場合、画像領域抽出部89は、照明系2及び撮影系3の移動と並行して撮影系3により取得された複数の画像のそれぞれから、照明系2からのスリット光の照射領域に対応する画像領域を抽出する。抽出される画像領域は、2次元画像領域又は3次元画像領域である。 When the configuration shown in FIG. 1 of the first embodiment is applied, the image region extraction unit 89 extracts from each of the plurality of images acquired by the imaging system 3 in parallel with the movement of the illumination system 2 and the imaging system 3, An image area corresponding to the irradiation area of the slit light from the illumination system 2 is extracted. The image regions to be extracted are two-dimensional image regions or three-dimensional image regions.

第2実施形態の図5に示す構成が適用される場合、画像領域抽出部89は、照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rの移動と並行して左撮影系30Lにより取得された複数の画像のそれぞれから、照明系20からのスリット光の照射領域に対応する画像領域を抽出することができる。また、画像領域抽出部89は、照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rの移動と並行して右撮影系30Rにより取得された複数の画像のそれぞれから、照明系20からのスリット光の照射領域に対応する画像領域を抽出することができる。本例においても、抽出される画像領域は、2次元画像領域又は3次元画像領域である。 When the configuration shown in FIG. 5 of the second embodiment is applied, the image region extraction unit 89 extracts the An image region corresponding to the irradiation region of the slit light from the illumination system 20 can be extracted from each of the plurality of images. In addition, the image region extracting unit 89 extracts the slit light from the illumination system 20 from each of the plurality of images acquired by the right imaging system 30R in parallel with the movement of the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R. can extract an image area corresponding to the irradiation area of . Also in this example, the extracted image region is a two-dimensional image region or a three-dimensional image region.

画像領域抽出部89が実行する処理は、例えば、第3実施形態において図3及び図8を参照しつつ説明した、前眼部画像Fnからスリット光照射領域Anを抽出してスリット光照射領域画像Gnを構築する処理と同じ要領で実行される。 The process executed by the image area extracting unit 89 extracts the slit light irradiation area An from the anterior eye segment image Fn and extracts the slit light irradiation area image, for example, as described with reference to FIGS. 3 and 8 in the third embodiment. It is performed in the same manner as the process of building Gn.

画像合成部90は、画像領域抽出部89により複数の画像からそれぞれ抽出された複数の画像領域(複数のスリット光照射領域)を合成して3次元画像を構築する。画像合成部90は、例えば、複数のスリット光照射領域を単一の3次元座標系に埋め込む処理を含み、埋め込まれた複数のスリット光照射領域を加工する処理を更に含んでもよい。複数のスリット光照射領域の加工としては、例えば、ノイズ除去、ノイズ低減、ボクセル化などを実行することが可能である。 The image synthesizing section 90 synthesizes a plurality of image areas (a plurality of slit light irradiation areas) extracted from the plurality of images by the image area extracting section 89 to construct a three-dimensional image. The image synthesizing unit 90 includes, for example, processing for embedding a plurality of slit light irradiation regions in a single three-dimensional coordinate system, and may further include processing for processing the embedded plurality of slit light irradiation regions. For example, noise removal, noise reduction, and voxelization can be performed as the processing of the plurality of slit light irradiation regions.

複数のスリット光照射領域を合成する前に、第6実施形態に係る処理を適用して複数のスリット光照射領域の相対位置を決定してもよい。 Before synthesizing the plurality of slit light irradiation areas, the processing according to the sixth embodiment may be applied to determine the relative positions of the plurality of slit light irradiation areas.

画像領域抽出部89は、複数の画像のそれぞれから、スリット光照射領域及び前眼部の所定部位の双方に対応する画像領域を抽出するように構成されていてよい。前眼部の所定領域は、例えば、角膜前面及び水晶体後面により画成される部位であってよい。 The image region extracting section 89 may be configured to extract image regions corresponding to both the slit light irradiation region and the predetermined portion of the anterior segment from each of the plurality of images. The predetermined region of the anterior segment may be, for example, a region defined by the anterior corneal surface and the posterior surface of the lens.

例えば、画像領域抽出部89は、まず、輝度情報の閾値処理によってスリット光照射領域を特定し、且つ、セグメンテーションによって角膜前面に相当する画像領域と水晶体後面に相当する画像領域とを特定する。 For example, the image area extracting unit 89 first identifies the slit light irradiation area by thresholding the luminance information, and identifies the image area corresponding to the anterior surface of the cornea and the image area corresponding to the posterior surface of the lens by segmentation.

次に、画像領域抽出部89は、角膜前面に相当する画像領域と水晶体後面に相当する画像領域とに基づき、角膜前面及び水晶体後面により画成される部位に対応する画像領域(対象画像領域)を特定する。 Next, based on the image area corresponding to the anterior corneal surface and the image area corresponding to the posterior surface of the lens, the image area extracting unit 89 extracts an image area (target image area) corresponding to the site defined by the anterior corneal surface and the posterior surface of the lens. identify.

続いて、画像領域抽出部89は、スリット光照射領域と対象画像領域との間の共通領域、つまりスリット光照射領域及び対象画像領域の双方に含まれる画像領域、を特定する。これにより、例えば、角膜前面から水晶体後面までの範囲においてスリット光照射領域に相当する、対象画像中の2次元画像領域(断面)又は3次元画像領域(スライス)が特定される。 Subsequently, the image area extraction unit 89 identifies a common area between the slit light irradiation area and the target image area, that is, an image area included in both the slit light irradiation area and the target image area. As a result, for example, a two-dimensional image area (section) or a three-dimensional image area (slice) in the target image corresponding to the slit light irradiation area in the range from the anterior surface of the cornea to the posterior surface of the lens is specified.

本例では、スリット光照射領域の抽出の後に画像合成を行っているが、この逆に、画像合成の後にスリット光照射領域の抽出を行ってもよい。また、抽出される画像領域はスリット光照射領域に限定されず、所定領域は角膜前面から水晶体後面までの部位に限定されない。 In this example, image composition is performed after extraction of the slit light irradiation area, but conversely, extraction of the slit light irradiation area may be performed after image composition. Further, the image area to be extracted is not limited to the slit light irradiation area, and the predetermined area is not limited to the portion from the anterior surface of the cornea to the posterior surface of the lens.

このような構成によれば、スリット光を用いた前眼部スキャンで得られた複数の画像から、前眼部の所望の部位の3次元画像を取得することができる。特に、スリットランプ顕微鏡検査での主要な観察対象であるスリット光照射領域を表す3次元画像を構築することができ、更に、前眼部の主要な観察対象である角膜前面から水晶体後面までの部位を表す3次元画像を構築することができる。 According to such a configuration, it is possible to acquire a three-dimensional image of a desired site of the anterior segment from a plurality of images obtained by scanning the anterior segment using slit light. In particular, it is possible to construct a three-dimensional image representing the slit light irradiation area, which is the main observation target in slit lamp microscopy, and furthermore, the region from the anterior cornea to the posterior surface of the lens, which is the main observation target of the anterior segment. A three-dimensional image representing the can be constructed.

〈第8実施形態〉
本実施形態では、第3~第7実施形態などにおいて構築された3次元画像のレンダリングについて説明する。
<Eighth embodiment>
In this embodiment, rendering of a three-dimensional image constructed in the third to seventh embodiments will be described.

図14に示すデータ処理部8Eは、3次元画像構築部91と、レンダリング部92とを含む。3次元画像構築部91は、例えば、第3実施形態の3次元画像構築部82、第4実施形態の3次元画像構築部84、第5実施形態の3次元画像構築部85、第6実施形態の3次元画像構築部86、及び、第7実施形態の3次元画像構築部88のいずれかであってよい。 The data processing unit 8E shown in FIG. 14 includes a three-dimensional image constructing unit 91 and a rendering unit 92. FIG. The 3D image construction unit 91 includes, for example, the 3D image construction unit 82 of the third embodiment, the 3D image construction unit 84 of the fourth embodiment, the 3D image construction unit 85 of the fifth embodiment, and the 3D image construction unit 85 of the sixth embodiment. or the three-dimensional image construction unit 88 of the seventh embodiment.

レンダリング部92は、3次元画像構築部91により構築された3次元画像をレンダリングすることで新たな画像(レンダリング画像)を構築する。 The rendering unit 92 constructs a new image (rendering image) by rendering the three-dimensional image constructed by the three-dimensional image constructing unit 91 .

レンダリングは任意の処理であってよく、例えば3次元コンピュータグラフィクスを含む。3次元コンピュータグラフィクスは、3次元座標系により定義された3次元空間内の仮想的な立体物(スタックデータ、ボリュームデータなどの3次元画像)を2次元情報に変換することにより立体感のある画像を作成する演算手法である。 Rendering can be any process, including, for example, three-dimensional computer graphics. 3D computer graphics converts a virtual three-dimensional object (three-dimensional image such as stack data or volume data) in a three-dimensional space defined by a three-dimensional coordinate system into two-dimensional information to create a three-dimensional image. is an arithmetic method to create

レンダリングの例として、ボリュームレンダリング、最大値投影(MIP)、最小値投影(MinIP)、サーフェスレンダリング、多断面再構成(MPR)、プロジェクション画像構築、シャドウグラム構築などがある。レンダリングの更なる例として、スリットランプ顕微鏡で得られた断面画像の再現、シャインプルーフ画像の形成などがある。また、レンダリング部92は、このようなレンダリングとともに適用される任意の処理を実行可能であってよい。 Examples of rendering include volume rendering, maximum intensity projection (MIP), minimum intensity projection (MinIP), surface rendering, multiplanar reconstruction (MPR), projection image construction, shadowgram construction, and the like. Further examples of rendering include the reproduction of cross-sectional images obtained with slit lamp microscopy, the formation of Scheimpflug images, and the like. Rendering unit 92 may also be capable of performing any processing that is applied in conjunction with such rendering.

レンダリング部92は、前眼部の3次元画像において所定の部位に相当する領域を特定することができる。例えば、レンダリング部92は、角膜前面に相当する領域、角膜後面に相当する領域、水晶体前面に相当する領域、水晶体後面に相当する領域などを特定することができる。このような画像領域特定には、例えば、セグメンテーション、エッジ検出、閾値処理など、公知の画像処理が適用される。 The rendering unit 92 can specify a region corresponding to a predetermined site in the three-dimensional image of the anterior segment. For example, the rendering unit 92 can specify a region corresponding to the anterior surface of the cornea, a region corresponding to the posterior surface of the cornea, a region corresponding to the anterior surface of the crystalline lens, a region corresponding to the posterior surface of the crystalline lens, and the like. Known image processing such as segmentation, edge detection, and threshold processing is applied to such image region identification.

なお、3次元画像は、典型的にはスタックデータ又はボリュームデータである。3次元画像に対する断面の指定は、手動又は自動で行われる。 Note that the three-dimensional image is typically stack data or volume data. Designation of the cross section for the three-dimensional image is performed manually or automatically.

3次元画像の断面を手動で指定する場合、レンダリング部92は、3次元画像をレンダリングして、手動断面指定のための表示画像を構築する。表示画像は、典型的には観察対象となる部位の全体を表す画像であり、例えば、角膜前面から水晶体後面までの部位を表す。表示画像を構築するためのレンダリングは、典型的には、ボリュームレンダリング又はサーフェスレンダリングである。 When manually designating a cross-section of a three-dimensional image, the rendering unit 92 renders the three-dimensional image to construct a display image for manual cross-section designation. The displayed image is typically an image representing the entire site to be observed, for example, representing the site from the anterior surface of the cornea to the posterior surface of the lens. Renderings for constructing display images are typically volume renderings or surface renderings.

制御部7は、レンダリング部92により構築された表示画像を、図示しない表示デバイスに表示させる。ユーザーは、ポインティングデバイスなどの操作デバイスを用いて、表示画像に対して所望の断面を指定する。表示画像に指定された断面の位置情報がレンダリング部92に入力される。 The control unit 7 causes the display image constructed by the rendering unit 92 to be displayed on a display device (not shown). The user designates a desired cross section on the displayed image using an operation device such as a pointing device. The positional information of the section specified for the display image is input to the rendering section 92 .

表示画像は3次元画像のレンダリング画像であるから、表示画像と3次元画像との間には自明な位置の対応関係がある。この対応関係に基づき、レンダリング部92は、表示画像に指定された断面の位置に対応する、3次元画像における断面の位置を特定する。つまり、レンダリング部92は、3次元画像に対して断面を指定する。 Since the displayed image is a rendered image of a three-dimensional image, there is a clear positional correspondence between the displayed image and the three-dimensional image. Based on this correspondence relationship, the rendering unit 92 identifies the position of the cross section in the three-dimensional image corresponding to the position of the cross section specified in the display image. That is, the rendering unit 92 designates a cross section for the three-dimensional image.

更に、レンダリング部92は、3次元画像を当該断面で切断して3次元部分画像を構築することができる。レンダリング部92は、この3次元部分画像をレンダリングして表示用の画像を構築することができる。このようなレンダリングの例、3次元部分画像の例、3次元部分画像に基づく表示用画像の例などについては、後述する。 Furthermore, the rendering unit 92 can construct a 3D partial image by cutting the 3D image at the cross section. The rendering section 92 can render this three-dimensional partial image to construct an image for display. An example of such rendering, an example of a 3D partial image, an example of a display image based on the 3D partial image, etc. will be described later.

3次元画像の断面を自動で指定する場合、例えば、データ処理部8E(例えばレンダリング部92)は、3次元画像を解析して、前眼部の所定部位に相当する位置又は領域を特定することができる。例えば、角膜前面を特定することや、角膜前面の頂点位置を特定することや、水晶体後面を特定することや、水晶体後面の頂点位置を特定することが可能である。 When automatically specifying a cross section of a three-dimensional image, for example, the data processing unit 8E (for example, the rendering unit 92) analyzes the three-dimensional image and specifies a position or region corresponding to a predetermined site of the anterior segment. can be done. For example, it is possible to identify the anterior corneal surface, identify the vertex position of the anterior corneal surface, identify the posterior surface of the lens, and identify the vertex position of the posterior surface of the lens.

また、データ処理部8E(例えばレンダリング部92)は、3次元画像にセグメンテーションを適用して、所定部位に相当する画像領域を特定することができる。例えば、角膜前面に相当する2次元領域、角膜に相当する3次元領域、水晶体に相当する3次元領域、水晶体後面に相当する3次元領域、前房に相当する3次元領域などを特定することが可能である。 Further, the data processing unit 8E (for example, the rendering unit 92) can apply segmentation to the three-dimensional image to specify an image region corresponding to a predetermined part. For example, a two-dimensional area corresponding to the anterior cornea, a three-dimensional area corresponding to the cornea, a three-dimensional area corresponding to the crystalline lens, a three-dimensional area corresponding to the posterior surface of the crystalline lens, a three-dimensional area corresponding to the anterior chamber, and the like can be specified. It is possible.

データ処理部8E(例えばレンダリング部92)は、このようにして特定された位置や領域に基づいて、3次元画像に対して断面を指定することができる。例えば、角膜前面の頂点位置と水晶体後面の頂点位置とを通過する平面を断面として指定することや、水晶体前面に相当する曲面を断面として指定することが可能である。 The data processing unit 8E (for example, the rendering unit 92) can designate a cross-section for the three-dimensional image based on the positions and regions specified in this way. For example, it is possible to designate a plane passing through the vertex position of the anterior surface of the cornea and the vertex position of the posterior surface of the lens as the section, or designate a curved surface corresponding to the anterior surface of the lens as the section.

3次元画像に対して断面が指定されたときにレンダリング部92が構築できる画像は3次元部分画像に限定されない。例えば、3次元画像に対して断面が指定されたとき、レンダリング部92は、当該断面を表す2次元断面画像を構築することができる。このようなレンダリングの例、2次元断面画像の例、2次元断面画像に基づく表示用画像の例などについては、後述する。 An image that can be constructed by the rendering unit 92 when a slice is specified for a three-dimensional image is not limited to a three-dimensional partial image. For example, when a cross-section is specified for a three-dimensional image, the rendering unit 92 can construct a two-dimensional cross-sectional image representing the cross-section. An example of such rendering, an example of a two-dimensional cross-sectional image, an example of a display image based on the two-dimensional cross-sectional image, etc. will be described later.

3次元画像に対して指定可能な位置情報は、平面状又は曲面状の2次元領域である断面に限定されない。3次元領域に指定可能な位置情報の他の例として、スライスがある。スライスは、所定の厚みを有する3次元領域であり、典型的には、一様な厚みを有する薄片である。 Position information that can be specified for a 3D image is not limited to a cross section that is a planar or curved two-dimensional area. A slice is another example of position information that can be specified for a three-dimensional area. A slice is a three-dimensional region of given thickness, typically a slice of uniform thickness.

3次元画像に対してスライスが指定されたとき、レンダリング部92は、当該スライスに対応する3次元スライス画像を構築することができる。レンダリング部92は、この3次元スライス画像をレンダリングして表示用の画像を構築することができる。このようなレンダリングの例、3次元スライス画像の例、3次元スライス画像に基づく表示用画像の例などについては、後述する。 When a slice is specified for a 3D image, the rendering section 92 can construct a 3D slice image corresponding to the slice. The rendering unit 92 can render this three-dimensional slice image to construct an image for display. An example of such rendering, an example of a three-dimensional slice image, an example of a display image based on the three-dimensional slice image, etc. will be described later.

本実施形態により奏される効果を説明する。 Effects achieved by this embodiment will be described.

本実施形態は、3次元画像構築部91により構築された3次元画像をレンダリングしてレンダリング画像を構築するレンダリング部92を含む。これにより、3次元画像構築部91により構築された3次元画像に基づくレンダリング画像を表示することができ、前眼部の所望の部位を観察することが可能になる。 This embodiment includes a rendering unit 92 that renders the three-dimensional image constructed by the three-dimensional image constructing unit 91 to construct a rendered image. As a result, it is possible to display a rendering image based on the three-dimensional image constructed by the three-dimensional image constructing unit 91, and to observe a desired portion of the anterior segment.

レンダリングの手法は任意である。例えば、3次元画像に対して断面が指定されたとき、レンダリング部92は、この断面で3次元画像を切断して3次元部分画像を構築することができる。これにより、前眼部の所望の断面を観察できるとともに、前眼部の3次元形態を把握することも可能である。 The rendering method is arbitrary. For example, when a cross-section is specified for a 3-dimensional image, the rendering unit 92 can construct a 3-dimensional partial image by cutting the 3-dimensional image at this cross-section. As a result, a desired cross section of the anterior segment can be observed, and the three-dimensional morphology of the anterior segment can also be grasped.

他の例において、3次元画像に対して断面が指定されたとき、レンダリング部92は、当該断面を表す2次元断面画像を構築することができる。これにより、前眼部の所望の断面を観察することが可能である。 In another example, when a cross-section is specified for a three-dimensional image, the rendering unit 92 can construct a two-dimensional cross-sectional image representing that cross-section. This makes it possible to observe a desired cross-section of the anterior segment.

更に他の例において、3次元画像に対してスライスが指定されたとき、レンダリング部92は、当該スライスに対応する3次元スライス画像を構築することができる。これにより、前眼部の所望のスライスを観察することが可能である。 In yet another example, when a slice is specified for a 3D image, the renderer 92 can construct a 3D slice image corresponding to the slice. This makes it possible to observe a desired slice of the anterior segment.

〈第9実施形態〉
第1~第8実施形態に係るスリットランプ顕微鏡では、照明光軸と撮影光軸とが所定の角度をなしており、照明系及び撮影系はシャインプルーフカメラとして機能する。このようなスリットランプ顕微鏡により得られる画像は歪みを伴う。この歪みは、典型的には台形歪みである。
<Ninth Embodiment>
In the slit lamp microscopes according to the first to eighth embodiments, the illumination optical axis and the imaging optical axis form a predetermined angle, and the illumination system and imaging system function as a Scheimpflug camera. Images obtained by such a slit lamp microscope are distorted. This distortion is typically trapezoidal distortion.

本実施形態では歪み補正について説明する。この歪み補正は、典型的には台形補正(キーストーン補正)である。台形補正は周知技術であり、例えば特開2017-163465号公報(米国特許出願公開第2017/0262163号明細書)に開示されている。 Distortion correction will be described in this embodiment. This distortion correction is typically trapezoidal correction (keystone correction). Trapezoidal correction is a well-known technique, and is disclosed, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2017-163465 (US Patent Application Publication No. 2017/0262163).

前述したように、前眼部において(つまり実空間において)、スリット光照射領域はZ方向に広がりを有し、スリット幅を無視すると、典型的にはYZ平面において定義される。一方、撮影系の光軸は、スリット光を照射する照明系の光軸に対してX方向に傾斜している。したがって、前眼部の撮影対象領域は、被検眼の表面に近づくほど大きく描出され、眼底に近づくほど小さく描出される。したがって、(少なくとも)Z方向における台形歪みが生じる。 As described above, in the anterior segment (that is, in real space), the slit light irradiation area spreads in the Z direction, and is typically defined on the YZ plane if the slit width is ignored. On the other hand, the optical axis of the imaging system is tilted in the X direction with respect to the optical axis of the illumination system that irradiates the slit light. Therefore, the imaging target area of the anterior segment of the eye is rendered larger as it approaches the surface of the eye to be inspected, and rendered smaller as it approaches the fundus. Hence, trapezoidal distortion in (at least) the Z direction occurs.

図15に示すデータ処理部8Fは歪み補正部93を含む。歪み補正部93は、第1~第8実施形態のいずれにも組み合わせ可能である。歪み補正部93は、撮影系3(左撮影系30L、右撮影系30R)により取得された前眼部画像に対して歪み補正を適用する。 The data processing section 8F shown in FIG. 15 includes a distortion correction section 93. FIG. The distortion corrector 93 can be combined with any of the first to eighth embodiments. The distortion correction unit 93 applies distortion correction to the anterior segment image acquired by the imaging system 3 (left imaging system 30L, right imaging system 30R).

より具体的には、歪み補正部93は、照明光軸2a(20a)と撮影光軸3a(30La、30Ra)とがなす角度である光軸角度θ(θL、θR)に起因する歪みを補正するための処理(台形補正)を、照明系2(20)及び撮影系3(30L、30R)の移動と並行して撮影系3(30L、30R)により取得された複数の画像のうちの少なくとも1つに適用する。 More specifically, the distortion correction unit 93 corrects distortion caused by the optical axis angle θ (θL, θR), which is the angle between the illumination optical axis 2a (20a) and the imaging optical axis 3a (30La, 30Ra). At least among the plurality of images acquired by the imaging system 3 (30L, 30R) in parallel with the movement of the illumination system 2 (20) and the imaging system 3 (30L, 30R), the process (trapezoidal correction) for Apply to one.

歪み補正が適用される画像は、撮影系3(30L、30R)により取得された前眼部画像自体には限定されず、撮影系3(30L、30R)により取得された前眼部画像から抽出されたスリット光照射領域などであってもよい。よって、前眼部画像の歪みを補正した後にスリット光照射領域を抽出してもよいし、逆に、前眼部画像からスリット光照射領域を抽出した後に、このスリット光照射領域の歪みを補正してもよい。 The image to which distortion correction is applied is not limited to the anterior segment image itself acquired by the imaging system 3 (30L, 30R), but is extracted from the anterior segment image acquired by the imaging system 3 (30L, 30R). It may be a slit light irradiation area or the like. Therefore, the slit light irradiation region may be extracted after correcting the distortion of the anterior segment image, or conversely, after extracting the slit light irradiation region from the anterior segment image, the distortion of the slit light irradiation region may be corrected. You may

また、第3実施形態や第4実施形態における「画像群」のように、撮影系3(30L、30R)により取得された前眼部画像のうちから選択された前眼部画像の歪みを補正することや、撮影系3(30L、30R)により取得された前眼部画像を加工して得られた画像の歪みを補正することも含む。よって、前眼部画像の歪みを補正した後に前眼部画像の選択・加工を行ってもよいし、前眼部画像の選択又は加工を行った後に選択画像又は加工画像の歪みを補正してもよい。 Also, like the "image group" in the third and fourth embodiments, the distortion of the anterior segment image selected from among the anterior segment images acquired by the imaging system 3 (30L, 30R) is corrected. and correcting the distortion of the image obtained by processing the anterior segment image acquired by the imaging system 3 (30L, 30R). Therefore, the anterior segment image may be selected and processed after the distortion of the anterior segment image is corrected, or the distortion of the selected image or the processed image may be corrected after the anterior segment image is selected or processed. good too.

典型的な実施形態において、スリットランプ顕微鏡は、図1又は図5に示す光学系を備え、歪み補正部93によってYZ平面における歪みが補正される。 In a typical embodiment, the slit lamp microscope has the optical system shown in FIG. 1 or 5, and distortion in the YZ plane is corrected by the distortion corrector 93. FIG.

図1に示す例において、撮影光軸3aは、照明光軸2aに対して、照明光軸2aに沿う第1方向(Z方向)及びスリット光の長手方向に沿う第2方向(Y方向)の双方に直交する第3方向(X方向)に傾斜して配置されている。ここで、照明光軸2aと撮影光軸3aとがなす光軸角度は、図1に示す角度θである。歪み補正部93は、第1方向(Z方向)及び第2方向(Y方向)の双方を含む平面(YZ平面)における歪みを補正するための処理を、撮影系3により取得された前眼部画像に適用することができる。 In the example shown in FIG. 1, the imaging optical axis 3a is positioned in a first direction (Z direction) along the illumination optical axis 2a and in a second direction (Y direction) along the longitudinal direction of the slit light with respect to the illumination optical axis 2a. They are arranged to be inclined in a third direction (X direction) orthogonal to both. Here, the optical axis angle formed by the illumination optical axis 2a and the photographing optical axis 3a is the angle θ shown in FIG. The distortion correction unit 93 performs processing for correcting distortion in a plane (YZ plane) including both the first direction (Z direction) and the second direction (Y direction) on the anterior ocular segment acquired by the imaging system 3. Can be applied to images.

図5に示す例において、左撮影光軸30Laは、照明光軸20aに対して、照明光軸20aに沿う第1方向(Z方向)及びスリット光の長手方向に沿う第2方向(Y方向)の双方に直交する第3方向(X方向)に傾斜して配置されている。ここで、照明光軸20aと左撮影光軸30Laとがなす光軸角度は、図5に示す角度θLである。歪み補正部93は、第1方向(Z方向)及び第2方向(Y方向)の双方を含む平面(YZ平面)における歪みを補正するための処理を、左撮影光軸30Laにより取得された前眼部画像に適用することができる。 In the example shown in FIG. 5, the left imaging optical axis 30La is arranged in a first direction (Z direction) along the illumination optical axis 20a and a second direction (Y direction) along the longitudinal direction of the slit light with respect to the illumination optical axis 20a. are inclined in a third direction (X direction) perpendicular to both of the . Here, the optical axis angle formed by the illumination optical axis 20a and the left imaging optical axis 30La is the angle θL shown in FIG. The distortion correction unit 93 performs processing for correcting distortion in a plane (YZ plane) including both the first direction (Z direction) and the second direction (Y direction) on the front surface acquired by the left imaging optical axis 30La. It can be applied to eye images.

同様に、右撮影光軸30Raは、照明光軸20aに対して、照明光軸20aに沿う第1方向(Z方向)及びスリット光の長手方向に沿う第2方向(Y方向)の双方に直交する第3方向(X方向)に傾斜して配置されている。ここで、照明光軸20aと右撮影光軸30Raとがなす光軸角度は、図5に示す角度θRである。歪み補正部93は、第1方向(Z方向)及び第2方向(Y方向)の双方を含む平面(YZ平面)における歪みを補正するための処理を、右撮影光軸30Raにより取得された前眼部画像に適用することができる。 Similarly, the right imaging optical axis 30Ra is perpendicular to both the first direction (Z direction) along the illumination optical axis 20a and the second direction (Y direction) along the longitudinal direction of the slit light with respect to the illumination optical axis 20a. , is arranged to be inclined in the third direction (X direction). Here, the optical axis angle formed by the illumination optical axis 20a and the right imaging optical axis 30Ra is the angle θR shown in FIG. The distortion correction unit 93 performs processing for correcting distortion in a plane (YZ plane) including both the first direction (Z direction) and the second direction (Y direction) on the front surface acquired by the right imaging optical axis 30Ra. It can be applied to eye images.

一般的な台形補正は、矩形を歪ませて台形化した形状を元の矩形に戻すように行われる。本実施形態では、このような標準的な台形補正を適用することも可能であるが、以下に説明するように、他の台形補正を適用することが有効な場合もある。 General trapezoidal correction is performed by distorting a rectangle and returning the trapezoidal shape to the original rectangle. In this embodiment, it is possible to apply such a standard trapezoidal correction, but it may be effective to apply other trapezoidal corrections, as explained below.

一般に、スリットランプ顕微鏡を用いて前眼部の光切片(つまりスリット光照射領域)を観察する際には、照明系の光軸(照明光軸)に対して観察系の光軸(観察光軸)が傾斜される。よって、ユーザーは、Z方向に延びる光切片を斜めから観察する。このとき、照明光軸と観察光軸とがなす角度(観察角度)は、典型的には既定の値である(例えば、17.5度、30度、又は45度)。この既定値を基準角度(α)と呼ぶ。 In general, when observing a light section of the anterior segment (i.e., slit light irradiation area) using a slit lamp microscope, the optical axis of the observation system (observation optical axis ) is tilted. Therefore, the user obliquely observes the optical section extending in the Z direction. At this time, the angle (observation angle) formed by the illumination optical axis and the observation optical axis is typically a predetermined value (for example, 17.5 degrees, 30 degrees, or 45 degrees). This default value is called a reference angle (α).

基準角度αと光軸角度β(θ、θL、θR)とに基づいて、歪み補正(台形補正)の補正係数を設定することができる。少なくとも1つの基準角度αと、少なくとも1つの光軸角度β(θ、θL、θR)とについて、補正係数が設定される。2つ以上の基準角度と1つの光軸角度との組み合わせのそれぞれについて補正係数を設定することや、1つの基準角度と2つ以上の光軸角度との組み合わせのそれぞれについて補正係数を設定することや、2つ以上の基準角度と2つ以上の光軸角度との組み合わせのそれぞれについて補正係数を設定することも可能である。一般に、基準角度α及び光軸角度βの一方又は双方を変数とする離散的又は連続的な補正係数C(α、β)を設定することが可能である。 A correction coefficient for distortion correction (keystone correction) can be set based on the reference angle α and the optical axis angle β (θ, θL, θR). Correction coefficients are set for at least one reference angle α and at least one optical axis angle β (θ, θL, θR). Setting a correction coefficient for each combination of two or more reference angles and one optical axis angle, or setting a correction coefficient for each combination of one reference angle and two or more optical axis angles. Alternatively, it is also possible to set a correction coefficient for each combination of two or more reference angles and two or more optical axis angles. In general, it is possible to set discrete or continuous correction coefficients C(α, β) with one or both of the reference angle α and the optical axis angle β as variables.

このようにして設定された1以上の補正係数C(α、β)は歪み補正部93に格納される。歪み補正部93は、補正係数C(α、β)に基づいて歪みを補正するための処理を実行することができる。 One or more correction coefficients C(α, β) set in this manner are stored in the distortion corrector 93 . The distortion correction unit 93 can execute processing for correcting distortion based on the correction coefficient C(α, β).

補正係数C(α、β)が複数の値を提供する場合、歪み補正部93又はユーザーは、基準角度α及び光軸角度βの一方又は双方を指定する。歪み補正部93は、この指定の結果に応じた補正係数を適用する。このような構成は、例えば、光軸角度βが可変なスリットランプ顕微鏡が適用される場合に適用され、光軸角度ベータの可変範囲における複数の補正係数を示すテーブルやグラフが準備される。 When the correction coefficient C(α, β) provides multiple values, the distortion corrector 93 or the user designates one or both of the reference angle α and the optical axis angle β. The distortion correction unit 93 applies correction coefficients according to the result of this designation. Such a configuration is applied, for example, when a slit lamp microscope in which the optical axis angle β is variable is applied, and tables and graphs showing a plurality of correction coefficients in the variable range of the optical axis angle β are prepared.

補正係数を示す情報を準備する代わりに、次の構成を適用することが可能である。すなわち、本例の歪み補正部は、補正係数を算出するための所定の演算式を予め記憶する。更に、本例の歪み補正部は、基準角度α及び/又は光軸角度βの入力を受け、この入力値を演算式に代入して補正係数を算出する。本例の歪み補正部は、算出された補正係数を用いて歪み補正を実行する。 Instead of preparing information indicating correction factors, it is possible to apply the following arrangement. That is, the distortion correction unit of this example stores in advance a predetermined arithmetic expression for calculating the correction coefficient. Furthermore, the distortion corrector of this example receives input of the reference angle α and/or the optical axis angle β, and calculates the correction coefficient by substituting this input value into the arithmetic expression. The distortion correction unit of this example performs distortion correction using the calculated correction coefficient.

本実施形態により奏される効果を説明する。 Effects achieved by this embodiment will be described.

本実施形態は、歪み補正部93を含む。図1に示す構成において、歪み補正部93は、移動機構6による照明系2及び撮影系3の移動と並行して撮影系3が繰り返し撮影を行うことにより取得した複数の画像のうちの少なくとも1つに対し、照明系2の光軸2aと撮影系3の光軸3aとがなす角度である光軸角度θに起因する歪みを補正するための処理を適用することができる。なお、図5に示す構成や他の構成が採用される場合においても同様である。 This embodiment includes a distortion corrector 93 . In the configuration shown in FIG. 1 , the distortion correction unit 93 performs at least one of a plurality of images acquired by the imaging system 3 repeatedly capturing images in parallel with the movement of the illumination system 2 and the imaging system 3 by the moving mechanism 6 . In contrast, a process for correcting distortion caused by an optical axis angle θ, which is the angle between the optical axis 2a of the illumination system 2 and the optical axis 3a of the imaging system 3, can be applied. The same applies when the configuration shown in FIG. 5 or another configuration is employed.

このような構成によれば、光軸角度θに起因する歪みが補正された好適な画像を提供することが可能になる。 With such a configuration, it is possible to provide a suitable image in which the distortion caused by the optical axis angle θ is corrected.

図1に示す構成において、撮影系3に含まれる光学系4の光軸3aは、照明系2の光軸2aに対して、照明系2の光軸2aに沿う第1方向(Z方向)及びスリット光の長手方向に沿う第2方向(Y方向)の双方に直交する第3方向(X方向)に傾斜して配置されている。歪み補正部93は、第1方向及び第2方向の双方を含む平面(YZ平面)における歪みを補正するための処理を実行することができる。図5に示す構成や他の構成が採用される場合においても同様である。 In the configuration shown in FIG. 1, the optical axis 3a of the optical system 4 included in the imaging system 3 is arranged in a first direction (Z direction) along the optical axis 2a of the illumination system 2 and They are arranged so as to be inclined in a third direction (X direction) perpendicular to both of the second direction (Y direction) along the longitudinal direction of the slit light. The distortion correction unit 93 can perform processing for correcting distortion in a plane (YZ plane) including both the first direction and the second direction. The same applies when the configuration shown in FIG. 5 or another configuration is employed.

このような構成によれば、第1方向及び第2方向の双方を含む平面に台形歪みが発生すが、これを補正することが可能である。 According to such a configuration, trapezoidal distortion occurs in a plane including both the first direction and the second direction, but it is possible to correct this.

図1に示す構成において、歪み補正部93は、所定の基準角度αと光軸角度θとに基づき設定された補正係数Cを予め記憶している。歪み補正部93は、この補正係数Cに基づいて、光軸角度θに起因する歪みを補正するための処理を画像に適用することができる。図5に示す構成や他の構成が採用される場合においても同様である。 In the configuration shown in FIG. 1, the distortion corrector 93 stores in advance a correction coefficient C set based on a predetermined reference angle α and an optical axis angle θ. Based on this correction coefficient C, the distortion correction unit 93 can apply processing to the image for correcting distortion caused by the optical axis angle θ. The same applies when the configuration shown in FIG. 5 or another configuration is employed.

〈第10実施形態〉
スリットランプ顕微鏡検査において、組織のサイズや形状、組織間の位置関係などを参照することがある。本実施形態では、そのための計測について説明する。
<Tenth embodiment>
In slit lamp microscopy, the size and shape of tissues, the positional relationship between tissues, etc. may be referred to. In the present embodiment, measurement for that purpose will be described.

図16に示すデータ処理部8Gは計測部94を含む。計測部94は、第1~第9実施形態のいずれかに組み合わせ可能である。 The data processing unit 8G shown in FIG. 16 includes a measurement unit 94. As shown in FIG. The measurement unit 94 can be combined with any one of the first to ninth embodiments.

第1~第9実施形態に係るスリットランプ顕微鏡に計測部94を組み合わせた場合、計測部94は、スリット光を用いた前眼部スキャンにより取得された前眼部画像を解析することで、所定の計測値を求めることができる。 When the measurement unit 94 is combined with the slit lamp microscopes according to the first to ninth embodiments, the measurement unit 94 analyzes an anterior segment image obtained by scanning the anterior segment using slit light, thereby obtaining a predetermined can be obtained.

3次元画像を構築可能なスリットランプ顕微鏡に計測部94を組み合わせた場合、計測部94は、3次元画像構築部82(84、85、86、88、91)により構築された3次元画像を解析することにより、所定の計測値を求めることができる。 When the measurement unit 94 is combined with a slit lamp microscope capable of constructing a three-dimensional image, the measurement unit 94 analyzes the three-dimensional image constructed by the three-dimensional image construction unit 82 (84, 85, 86, 88, 91). By doing so, a predetermined measurement value can be obtained.

計測は、例えば、組織の形態を示すパラメータ(厚み、径、面積、体積、角度、形状など)、組織間の関係を示すパラメータ(距離、方向など)に関して実行される。計測のための解析は、例えば、組織又はその輪郭を特定するためのセグメンテーションを含む。 Measurement is performed, for example, with respect to parameters indicating tissue morphology (thickness, diameter, area, volume, angle, shape, etc.) and parameters indicating relationships between tissues (distance, direction, etc.). Analysis for metrology includes, for example, segmentation to identify tissue or its contours.

このような本実施形態によれば、前眼部の観察や診断に有効なパラメータについて計測を行うことが可能である。 According to this embodiment, it is possible to measure parameters effective for observation and diagnosis of the anterior segment.

歪み補正を実行可能な第9実施形態に計測部94を組み合わせることで、歪み補正が適用された画像に基づき計測を行うことができる。これにより、計測確度の向上や計測精度の向上を図ることが可能となる。 By combining the measurement unit 94 with the ninth embodiment capable of performing distortion correction, it is possible to perform measurement based on an image to which distortion correction has been applied. This makes it possible to improve the measurement accuracy and the measurement accuracy.

〈第11実施形態〉
第2実施形態の動画撮影系40のように、スリット光を用いた前眼部スキャンと並行して前眼部を固定位置から動画撮影する機能をスリットランプ顕微鏡が備える場合、本実施形態に係る機能を更に付加することができる。
<Eleventh Embodiment>
When the slit lamp microscope has a function of capturing a moving image of the anterior segment from a fixed position in parallel with scanning the anterior segment using slit light, as in the moving image capturing system 40 of the second embodiment, Additional functionality can be added.

本実施形態の制御部7Aは移動制御部71を含み、データ処理部8Hは運動検出部95を含む。また、本実施形態は、動画撮影系40を含む。動画撮影系40は、スリット光を用いた前眼部スキャンと並行して前眼部を固定位置から動画撮影する。 The control section 7A of this embodiment includes a movement control section 71, and the data processing section 8H includes a movement detection section 95. FIG. Further, this embodiment includes a moving image capturing system 40 . The moving image capturing system 40 captures a moving image of the anterior segment from a fixed position in parallel with scanning the anterior segment using slit light.

運動検出部95は、動画撮影系40により取得される動画像を解析して被検眼Eの運動を検出する。この運動検出は、動画撮影系40と並行して実行される。 The motion detection unit 95 detects the motion of the subject's eye E by analyzing the moving image acquired by the moving image capturing system 40 . This motion detection is executed in parallel with the moving image capturing system 40 .

例えば、運動検出部95は、まず、動画撮影系40から逐次に入力されるフレームを解析して所定部位に相当する画像領域を特定する。所定部位は、典型的には、瞳孔の中心、重心、輪郭などであってよい。画像領域特定は、画素に割り当てられた輝度情報に基づき行われる。運動検出部95は、前眼部の画像における低輝度の画像領域を瞳孔領域として特定し、この瞳孔領域の重心又は輪郭を特定することができる。或いは、運動検出部95は、瞳孔領域の近似円又は近似楕円を求め、その中心又は輪郭を特定することが可能である。 For example, the motion detection unit 95 first analyzes frames sequentially input from the moving image capturing system 40 to specify an image region corresponding to a predetermined part. The predetermined site may typically be the center of the pupil, the center of gravity, the outline, or the like. Image region identification is performed based on luminance information assigned to pixels. The motion detection unit 95 can identify a low-brightness image region in the image of the anterior segment as the pupillary region, and identify the center of gravity or contour of the pupillary region. Alternatively, the motion detector 95 can obtain an approximate circle or ellipse of the pupil region and identify its center or contour.

このように、運動検出部95は、動画撮影系40から入力されるフレーム中の特徴点を逐次に求める。更に、運動検出部95は、逐次に特定される特徴点の位置の時間変化を求める。動画撮影系40は固定配置されているので、このような処理により運動検出部95は被検眼Eの運動を(リアルタイムで)検出することが可能である。 In this manner, the motion detection unit 95 sequentially obtains feature points in the frames input from the moving image capturing system 40 . Furthermore, the motion detection unit 95 obtains temporal changes in the positions of the successively specified feature points. Since the moving image capturing system 40 is fixedly arranged, the motion detection unit 95 can detect the motion of the subject's eye E (in real time) through such processing.

移動制御部71は、運動検出部95からの出力に基づいて移動機構6を制御することができる。より具体的に説明すると、運動検出部95は、動画撮影系40から逐次に入力されるフレーム中の特徴点の位置の時間変化を示す情報を、移動制御部71に逐次に入力する。移動制御部71は、運動検出部95から逐次に入力される情報にしたがって移動機構6を制御する。この移動制御は、被検眼Eの運動に起因するアライメント状態の変化を打ち消すように実行される。このような動作はトラッキングを呼ばれる。 The movement control section 71 can control the movement mechanism 6 based on the output from the motion detection section 95 . More specifically, the movement detection unit 95 sequentially inputs to the movement control unit 71 information indicating temporal changes in positions of feature points in frames sequentially input from the moving image capturing system 40 . The movement control section 71 controls the movement mechanism 6 according to information sequentially input from the movement detection section 95 . This movement control is executed so as to cancel out changes in the alignment state caused by the movement of the eye E to be examined. Such behavior is called tracking.

このような本実施形態によれば、スリット光を用いた前眼部スキャン中に被検眼Eが動いたとき、この動きに応じてアライメント状態が自動で補正される。これにより、被検眼の運動の影響を受けることなく、スリット光を用いた前眼部スキャンを行うことが可能である。 According to this embodiment, when the subject's eye E moves during scanning of the anterior segment using slit light, the alignment state is automatically corrected according to this movement. This makes it possible to perform an anterior segment scan using slit light without being affected by the movement of the subject's eye.

〈使用形態〉
実施形態に係るスリットランプ顕微鏡の例示的な使用形態を説明する。ここでは、図5に示す光学系が適用される。テーブル、イス、顎受け台の調整、撮影開始の指示、アライメントなどは、前述した要領で行われる。
<Usage form>
An exemplary usage of the slit lamp microscope according to the embodiment will be described. Here, the optical system shown in FIG. 5 is applied. Adjustment of the table, chair, and chinrest, instruction to start imaging, alignment, etc. are performed in the manner described above.

まず、第6実施形態で説明したように、前眼部に照射されるスリット光の長手方向が左右方向(X方向)に一致するように、制御部7が回転機構62を制御する。左撮影系30L又は右撮影系30Rは、当該向きのスリット光が照射されている前眼部を撮影する。 First, as described in the sixth embodiment, the control unit 7 controls the rotation mechanism 62 so that the longitudinal direction of the slit light irradiated to the anterior segment coincides with the left-right direction (X direction). The left imaging system 30L or the right imaging system 30R images the anterior segment of the eye irradiated with the slit light in that direction.

これにより、図18に示す前眼部画像H0が取得される。前眼部画像H0には、左右方向(X方向)を長手方向とするスリット光が照射されている領域であるスリット光照射領域J0が含まれている。 As a result, the anterior segment image H0 shown in FIG. 18 is acquired. The anterior segment image H0 includes a slit light irradiation region J0, which is a region irradiated with slit light having a longitudinal direction in the horizontal direction (X direction).

なお、左撮影系30L及び右撮影系30Rの双方が前眼部を撮影してもよい。この場合、スリット光照射領域を斜め上方から撮影した画像と、斜め下方から撮影した画像とが得られる。 Both the left imaging system 30L and the right imaging system 30R may image the anterior segment. In this case, an image of the slit light irradiation area photographed obliquely from above and an image photographed obliquely from below are obtained.

次に、前眼部に照射されるスリット光の長手方向が上下方向(Y方向)に一致するように、制御部7が回転機構62を制御する。制御部7は、スリット光を用いた前眼部スキャンを実行するように、照明系20、左撮影系30L、右撮影系30R、及び移動機構6を制御する。すなわち、左撮影系30L及び右撮影系30Rのそれぞれが、移動機構6による照明系20、左撮影系30L及び右撮影系30Rの移動と並行して、被検眼Eの前眼部を繰り返し撮影する。 Next, the control unit 7 controls the rotation mechanism 62 so that the longitudinal direction of the slit light irradiated to the anterior segment coincides with the vertical direction (Y direction). The control unit 7 controls the illumination system 20, the left imaging system 30L, the right imaging system 30R, and the moving mechanism 6 so as to perform an anterior segment scan using slit light. That is, each of the left imaging system 30L and the right imaging system 30R repeatedly photographs the anterior segment of the subject's eye E in parallel with the movement of the illumination system 20, the left imaging system 30L, and the right imaging system 30R by the movement mechanism 6. .

これにより、左撮影系30Lは、図19Aに示すN枚の前眼部画像HL1~HLNを含む第1画像群を取得し、右撮影系30Rは、図19Bに示すN枚の前眼部画像HR1~HRNを含む第2画像群を取得する。左撮影系30Lにより取得された前眼部画像HLnには、斜め左方から撮影されたスリット光照射領域JLnが描出されている(n=1、2、・・・、N)。右撮影系30Rにより取得された前眼部画像HRnには、斜め右方から撮影されたスリット光照射領域JRnが描出されている(n=1、2、・・・、N)。 As a result, the left imaging system 30L acquires the first image group including the N anterior segment images HL1 to HLN shown in FIG. 19A, and the right imaging system 30R acquires the N anterior segment images shown in FIG. 19B. A second set of images containing HR1-HRN is acquired. In the anterior segment image HLn acquired by the left imaging system 30L, slit light irradiation regions JLn photographed obliquely from the left are depicted (n=1, 2, . . . , N). In the anterior segment image HRn acquired by the right imaging system 30R, a slit light irradiation region JRn photographed obliquely from the right is depicted (n=1, 2, . . . , N).

ここで、前述した画像ペアリングにより、前眼部画像HLnと前眼部画像HRnとが互いに対応付けられているものとする(n=1、2、・・・、N)。実際の前眼部スキャンでは、後に構築される3次元画像の解像度を考慮し、左右それぞれの前眼部画像の枚数Nは200以上に設定される。なお、枚数Nは任意である。 Here, it is assumed that the anterior segment image HLn and the anterior segment image HRn are associated with each other by the image pairing described above (n=1, 2, . . . , N). In an actual anterior segment scan, the number N of left and right anterior segment images is set to 200 or more in consideration of the resolution of a three-dimensional image to be constructed later. Note that the number of sheets N is arbitrary.

図20は、実際に行われた前眼部スキャンで取得された前眼部画像を示す。これら前眼部画像のそれぞれには、高輝度で提示されたスリット光照射領域が含まれている。 FIG. 20 shows an anterior segment image acquired in an actual anterior segment scan. Each of these anterior segment images includes a slit light irradiation area presented with high luminance.

続いて、第7実施形態(図13)の画像領域抽出部89が、前眼部画像HLnからスリット光照射領域JLnを抽出し、且つ、前眼部画像HRnからスリット光照射領域JRnを抽出する。図21Aは、複数の前眼部画像HL1~HLNからそれぞれ構築された複数のスリット光照射領域画像KL1~KLNを示す。図21Bは、複数の前眼部画像HR1~HRNからそれぞれ構築された複数のスリット光照射領域画像KR1~KRNを示す。 Subsequently, the image region extraction unit 89 of the seventh embodiment (FIG. 13) extracts the slit light irradiation region JLn from the anterior segment image HLn, and extracts the slit light irradiation region JRn from the anterior segment image HRn. . FIG. 21A shows a plurality of slit light irradiation region images KL1 to KLN respectively constructed from a plurality of anterior segment images HL1 to HLN. FIG. 21B shows a plurality of slit light irradiation region images KR1 to KRN respectively constructed from a plurality of anterior segment images HR1 to HRN.

次に、第3実施形態又は第4実施形態に係る処理を、スリット光照射領域画像KLn及びスリット光照射領域画像KRnに適用することで、アーティファクトを含まない複数のスリット光照射領域画像が得られる。図22に例示する複数のスリット光照射領域画像K1~KNは、いずれもアーティファクトを含まない。スリット光照射領域画像K1~KNは、それぞれ、スリット光照射領域J1~JNを含む。 Next, by applying the processing according to the third embodiment or the fourth embodiment to the slit light irradiation area image KLn and the slit light irradiation area image KRn, a plurality of slit light irradiation area images containing no artifacts can be obtained. . None of the plurality of slit light irradiation area images K1 to KN illustrated in FIG. 22 includes artifacts. The slit light irradiation area images K1 to KN include slit light irradiation areas J1 to JN, respectively.

続いて、スリット光照射領域画像K1~KNのそれぞれに対し、第9実施形態で説明した歪み補正(台形補正)を適用する。これにより、アーティファクトを含まず、且つ、歪みが補正された、複数のスリット光照射領域画像が得られる。図23に例示する複数のスリット光照射領域画像P1~PNは、いずれもアーティファクトを含まない。更に、スリット光照射領域画像P1~PNは、それぞれ、スリット光照射領域Q1~QNを含む。 Subsequently, the distortion correction (keystone correction) described in the ninth embodiment is applied to each of the slit light irradiation area images K1 to KN. As a result, a plurality of slit light irradiation area images free of artifacts and corrected for distortion can be obtained. None of the plurality of slit light irradiation area images P1 to PN illustrated in FIG. 23 includes artifacts. Furthermore, the slit light irradiation area images P1 to PN include slit light irradiation areas Q1 to QN, respectively.

次に、第6実施形態の画像位置決定部87が、図18に示す前眼部画像H0に基づいて、複数のスリット光照射領域画像P1~PNの相対位置を決定する。例えば、画像位置決定部87は、前眼部画像H0に描出された角膜前面に相当する画像領域(スリット光照射領域J0における曲率半径が小さい方のカーブ)に基づいて、スリット光照射領域画像P1~PNを配列する。これにより、角膜前面のカーブに合わせてスリット光照射領域画像P1~PNが配列される。 Next, the image position determination unit 87 of the sixth embodiment determines the relative positions of the plurality of slit light irradiation region images P1 to PN based on the anterior segment image H0 shown in FIG. For example, the image position determining unit 87 determines the slit light irradiation region image P1 based on the image region corresponding to the front surface of the cornea drawn in the anterior segment image H0 (the curve with the smaller curvature radius in the slit light irradiation region J0). Arrange ~PN. As a result, the slit light irradiation area images P1 to PN are arranged in accordance with the curve of the front surface of the cornea.

第6実施形態の3次元画像構築部86は、角膜前面のカーブに合わせて配列された複数のスリット光照射領域画像P1~PNに基づいて3次元画像を構築する。この3次元画像は、アーティファクトを含まず、且つ、その歪みが補正されている。 A three-dimensional image construction unit 86 of the sixth embodiment constructs a three-dimensional image based on a plurality of slit light irradiation area images P1 to PN arranged in accordance with the curve of the anterior surface of the cornea. This three-dimensional image is free of artifacts and corrected for its distortion.

続いて、データ処理部8は、前眼部スキャン時に前眼部に投影されたスリット光の長さ(Y方向の寸法)と、移動機構6によるスリット光の移動距離(X方向の寸法)とに基づいて、3次元画像の縦横比を補正する。これにより、3次元画像のX方向の寸法とY方向の寸法との比率が補正される。 Subsequently, the data processing unit 8 calculates the length of the slit light projected onto the anterior segment during the scanning of the anterior segment (dimension in the Y direction) and the movement distance of the slit light by the moving mechanism 6 (dimension in the X direction). , the aspect ratio of the three-dimensional image is corrected. As a result, the ratio between the dimension in the X direction and the dimension in the Y direction of the three-dimensional image is corrected.

次に、第10実施形態の計測部94が、3次元画像を解析して所定の計測値を求める。計測パラメータの例として、角膜前面曲率、角膜前面曲率半径、角膜後面曲率、角膜後面曲率半径、角膜径、角膜厚、角膜トポグラフィ、前房深度、隅角、水晶体前面曲率、水晶体前面曲率半径、水晶体後面曲率、水晶体後面曲率半径、水晶体厚などがある。 Next, the measurement unit 94 of the tenth embodiment analyzes the three-dimensional image and obtains predetermined measurement values. Examples of measurement parameters include anterior corneal curvature, anterior corneal curvature radius, posterior corneal curvature, posterior corneal curvature radius, corneal diameter, corneal thickness, corneal topography, anterior chamber depth, angle angle, anterior lens curvature, anterior lens curvature radius, lens There are the posterior surface curvature, the posterior surface curvature radius of the lens, and the thickness of the lens.

図24は、実際に取得された3次元画像をボリュームレンダリングして得られた表示画像R0を示す。レンダリングは、第8実施形態のレンダリング部92により実行される。制御部7は、表示画像R0を図示しない表示デバイスに表示させる。表示画像R0は、角膜前面及び水晶体後面により画成された部位を描出している。 FIG. 24 shows a display image R0 obtained by volume rendering an actually obtained three-dimensional image. Rendering is performed by the rendering unit 92 of the eighth embodiment. The control unit 7 displays the display image R0 on a display device (not shown). The display image R0 depicts a region defined by the anterior corneal surface and the posterior surface of the lens.

ユーザーは、表示デバイスに表示された表示画像R0を観察し、図示しない操作デバイスを用いて所望の断面を指定することができる。図25に示す点線は、ユーザーが表示画像R0に対して指定した断面の位置を示す。 The user can observe the display image R0 displayed on the display device and designate a desired cross section using an operation device (not shown). The dotted line shown in FIG. 25 indicates the position of the cross section specified by the user with respect to the display image R0.

レンダリング部92は、ユーザーにより指定された断面で3次元画像を切断することにより3次元部分画像を構築することができる。図26に示す画像R1は、図25に示す断面で3次元画像を切断して得られた3次元部分画像をレンダリングして得られた表示画像である。この表示画像のことも3次元部分画像R1と呼ぶ。3次元部分画像R1は、図25に示す断面を外面の一部とする、前眼部の3次元領域を表す画像である。 The rendering unit 92 can construct a 3D partial image by cutting the 3D image at a cross section designated by the user. An image R1 shown in FIG. 26 is a display image obtained by rendering a three-dimensional partial image obtained by cutting the three-dimensional image along the cross section shown in FIG. This display image is also called a three-dimensional partial image R1. The three-dimensional partial image R1 is an image representing a three-dimensional region of the anterior segment, with the cross section shown in FIG. 25 as a part of the outer surface.

また、レンダリング部92は、ユーザーにより指定された断面を表す2次元断面画像を構築することができる。図27に示す画像R2は、図25に示す断面で3次元画像を切断して得られた2次元断面画像である。 The rendering unit 92 can also construct a two-dimensional cross-sectional image representing a cross-section designated by the user. An image R2 shown in FIG. 27 is a two-dimensional cross-sectional image obtained by cutting the three-dimensional image along the cross section shown in FIG.

ユーザーは、表示デバイスに表示された表示画像R0を観察し、図示しない操作デバイスを用いて所望のスライスを指定することができる。図28に示す2つの点線は、ユーザーが表示画像R0に対して指定したスライスを画成する2つの断面の位置を示す。つまり、これら2つの断面で挟まれた領域が、ユーザーが表示画像R0に対して指定したスライスである。 A user can observe the display image R0 displayed on the display device and designate a desired slice using an operation device (not shown). The two dashed lines shown in FIG. 28 indicate the positions of the two cross-sections that define the slice specified by the user with respect to the display image R0. In other words, the area sandwiched between these two slices is the slice designated by the user for the display image R0.

レンダリング部92は、ユーザーにより指定されたスライスに対応する3次元スライス画像を構築することができる。図29に示す画像R3は、図28に示す断面で3次元画像を切断して得られた3次元スライス画像をレンダリングして得られた表示画像である。この表示画像のことも3次元スライス画像R3と呼ぶ。3次元スライス画像R3は、図28に示す2つの断面を外面の一部とする、前眼部の3次元領域を表す画像である。 The rendering unit 92 can construct a three-dimensional slice image corresponding to the slice specified by the user. An image R3 shown in FIG. 29 is a display image obtained by rendering a three-dimensional slice image obtained by cutting the three-dimensional image at the cross section shown in FIG. This display image is also called a three-dimensional slice image R3. The three-dimensional slice image R3 is an image representing the three-dimensional region of the anterior segment, with the two cross sections shown in FIG. 28 as part of the outer surface.

ユーザーは、3次元画像をレンダリングして前眼部の外面や所望の断面を観察したり、第10実施形態の計測を行ったりすることにより、前眼部の状態を把握することができる。そして、読影レポートを作成することができる。 The user can grasp the state of the anterior segment by rendering a three-dimensional image to observe the outer surface of the anterior segment and a desired cross section, or by performing the measurement of the tenth embodiment. Then, an interpretation report can be created.

〈第12実施形態〉
本実施形態では、眼科撮影装置と情報処理装置とを含む眼科システムについて説明する。眼科撮影装置は、少なくともスリットランプ顕微鏡としての機能を有する。眼科撮影装置に含まれるスリットランプ顕微鏡は、第1~第11実施形態のいずれかのスリットランプ顕微鏡であってよい。以下、第1~第11実施形態で説明した要素や構成や符号を適宜に準用する。
<Twelfth Embodiment>
In this embodiment, an ophthalmologic system including an ophthalmologic imaging device and an information processing device will be described. The ophthalmologic imaging apparatus has at least a function as a slit lamp microscope. The slit lamp microscope included in the ophthalmologic imaging apparatus may be the slit lamp microscope according to any one of the first to eleventh embodiments. Hereinafter, the elements, configurations, and symbols described in the first to eleventh embodiments are applied as appropriate.

図30に例示された眼科システム1000は、眼科撮影が行われるT個の施設(第1施設~第T施設)のそれぞれと、サーバ4000と、遠隔端末5000mとを結ぶ通信路(通信回線)1100を利用して構築されている。 The ophthalmologic system 1000 illustrated in FIG. 30 includes a communication path (communication line) 1100 connecting each of T facilities (first facility to Tth facility) where ophthalmologic imaging is performed, a server 4000, and a remote terminal 5000m. is built using

ここで、眼科撮影は、スリットランプ顕微鏡を用いた前眼部撮影を少なくとも含む。この前眼部撮影は、少なくとも、第1~第11実施形態で説明した、スリット光を用いた前眼部スキャンを含む。 Here, ophthalmologic imaging includes at least anterior segment imaging using a slit lamp microscope. This anterior segment imaging includes at least the anterior segment scanning using slit light, as described in the first to eleventh embodiments.

各施設(第t施設:t=1~T、Tは1以上の整数)には、眼科撮影装置2000-i(i=1~K、Kは1以上の整数)が設置されている。つまり、各施設(第t施設)には、1以上の眼科撮影装置2000-iが設置されている。眼科撮影装置2000-iは、眼科システム1000の一部を構成する。なお、眼科以外の検査を実施可能な検査装置が眼科システム1000に含まれていてもよい。 Each facility (t-th facility: t = 1 to T, T is an integer of 1 or more) has an ophthalmologic imaging device 2000-i t (i t = 1 to K t , K t is an integer of 1 or more). ing. That is, each facility (t-th facility) is equipped with one or more ophthalmologic imaging apparatuses 2000-i t . The ophthalmologic imaging device 2000- it forms part of the ophthalmologic system 1000. FIG. Note that the ophthalmologic system 1000 may include an examination apparatus capable of performing examinations other than ophthalmic examinations.

本例の眼科撮影装置2000-iは、被検眼の撮影を実施する「撮影装置」としての機能と、各種データ処理や外部装置との通信を行う「コンピュータ」としての機能の双方を備えている。他の例において、撮影装置とコンピュータとを別々に設けることが可能である。この場合、撮影装置とコンピュータとは互いに通信可能に構成されてよい。更に、撮影装置の数とコンピュータの数とはそれぞれ任意であり、例えば単一のコンピュータと複数の撮影装置とを設けることができる。 The ophthalmologic imaging apparatus 2000- it of this example has both a function as an "imaging apparatus" that performs imaging of an eye to be examined and a function as a "computer" that performs various data processing and communication with external devices. there is In other examples, the imaging device and the computer can be separate. In this case, the imaging device and the computer may be configured to communicate with each other. Furthermore, the number of imaging devices and the number of computers are arbitrary, and for example, a single computer and a plurality of imaging devices can be provided.

眼科撮影装置2000-iにおける「撮影装置」は、少なくともスリットランプ顕微鏡を含む。このスリットランプ顕微鏡は、第1~第11実施形態のいずれかのスリットランプ顕微鏡であってよく、第1実施形態の構成(図1)又は第2実施形態の構成(図5)を少なくとも含む。 The “imaging device” in the ophthalmic imaging device 2000 -it includes at least a slit lamp microscope. This slit lamp microscope may be any of the slit lamp microscopes of the first to eleventh embodiments, and includes at least the configuration of the first embodiment (FIG. 1) or the configuration of the second embodiment (FIG. 5).

更に、各施設(第t施設)には、補助者や被検者により使用可能な情報処理装置(端末3000-t)が設置されている。端末3000-tは、当該施設において使用されるコンピュータであり、例えば、タブレット端末やスマートフォン等のモバイル端末、当該施設に設置されたサーバなどであってよい。更に、端末3000-tは、無線型イヤフォン等のウェアラブルデバイスを含んでいてもよい。なお、端末3000-tは、当該施設においてその機能を使用可能なコンピュータであれば十分であり、例えば、当該施設の外に設置されたコンピュータ(クラウドサーバ等)であってもよい。 Further, each facility (t-th facility) is equipped with an information processing device (terminal 3000-t) that can be used by assistants and examinees. The terminal 3000-t is a computer used in the facility, and may be, for example, a tablet terminal, a mobile terminal such as a smart phone, or a server installed in the facility. In addition, terminals 3000-t may include wearable devices such as wireless earphones. It should be noted that the terminal 3000-t is sufficient as long as it is a computer whose function can be used in the facility, and for example, it may be a computer (a cloud server or the like) installed outside the facility.

眼科撮影装置2000-iと端末3000-tとは、第t施設内に構築されたネットワーク(施設内LAN等)や、広域ネットワーク(インターネット等)や、近距離通信技術を利用して通信を行えるように構成されてよい。 The ophthalmologic imaging apparatus 2000- it and the terminal 3000-t communicate using a network constructed in the t-th facility (in-facility LAN, etc.), a wide area network (Internet, etc.), or short-distance communication technology. It may be configured to allow

眼科撮影装置2000-iは、サーバ等の通信機器としての機能を備えていてよい。この場合、眼科撮影装置2000-iと端末3000-tとが直接に通信を行うように構成することができる。これにより、サーバ4000と端末3000-tとの間の通信を眼科撮影装置2000-iを介して行うことができるので、端末3000-tとサーバ4000との間で通信を行う機能を設ける必要がなくなる。 The ophthalmologic imaging apparatus 2000 -it may have a function as a communication device such as a server. In this case, the ophthalmologic photographing apparatus 2000- it and the terminal 3000-t can be configured to communicate directly. As a result, communication between the server 4000 and the terminal 3000-t can be performed via the ophthalmologic photographing apparatus 2000- it . disappears.

サーバ4000は、典型的には、第1~第T施設のいずれとも異なる施設に設置され、例えば管理センタに設置されている。サーバ4000は、ネットワーク(LAN、広域ネットワーク等)を介して、遠隔端末5000m(m=1~M、Mは1以上の整数)と通信が可能である。更に、サーバ4000は、第1~第T施設に設置された眼科撮影装置2000-iの少なくとも一部との間で、広域ネットワークを介して通信が可能である。 The server 4000 is typically installed in a facility different from any of the 1st to Tth facilities, such as a management center. The server 4000 can communicate with a remote terminal 5000m (m=1 to M, where M is an integer equal to or greater than 1) via a network (LAN, wide area network, etc.). Furthermore, the server 4000 can communicate with at least some of the ophthalmologic imaging apparatuses 2000-it installed in the first to Tth facilities via a wide area network.

サーバ4000は、例えば、眼科撮影装置2000-iと遠隔端末5000mとの間の通信を中継する機能と、この通信の内容を記録する機能と、眼科撮影装置2000-iにより取得されたデータや情報を記憶する機能と、遠隔端末5000mにより取得されたデータや情報を記憶する機能とを備える。サーバ4000は、データ処理機能を備えてもよい。 The server 4000 has, for example, a function of relaying communication between the ophthalmic imaging device 2000- it and the remote terminal 5000m, a function of recording the content of this communication, and a function of storing data acquired by the ophthalmic imaging device 2000- it . , and a function to store data and information acquired by the remote terminal 5000m. The server 4000 may have data processing capabilities.

遠隔端末5000mは、眼科撮影装置2000-iによって取得された被検眼の画像(複数の前眼部画像、又は、これらに基づく3次元画像のレンダリング画像)の読影と、レポート作成とに使用可能なコンピュータを含む。遠隔端末5000mは、データ処理機能を備えてもよい。 The remote terminal 5000m can be used to interpret images of the subject's eye (a plurality of anterior segment images or three-dimensional rendered images based on these images) acquired by the ophthalmologic imaging device 2000- it and to create reports. computer. Remote terminal 5000m may include data processing capabilities.

サーバ4000について説明する。図31に例示されたサーバ4000は、制御部4010と、通信確立部4100と、通信部4200とを備える。 The server 4000 will be explained. A server 4000 illustrated in FIG. 31 includes a control unit 4010 , a communication establishment unit 4100 and a communication unit 4200 .

制御部4010は、サーバ4000の各部の制御を実行する。制御部4010は、その他の演算処理を実行可能であってよい。制御部4010はプロセッサを含む。制御部4010は、更に、RAM、ROM、ハードディスクドライブ、ソリッドステートドライブなどを含んでいてよい。 A control unit 4010 controls each unit of the server 4000 . Control unit 4010 may be capable of executing other arithmetic processing. Control unit 4010 includes a processor. Controller 4010 may further include RAM, ROM, hard disk drives, solid state drives, and the like.

制御部4010は、通信制御部4011と転送制御部4012とを含む。 Control unit 4010 includes communication control unit 4011 and transfer control unit 4012 .

通信制御部4011は、複数の眼科撮影装置2000-iと複数の端末3000-tと複数の遠隔端末5000mとを含む複数の装置の間における通信の確立に関する制御を実行する。例えば、通信制御部4011は、眼科システム1000に含まれる複数の装置のうちから後述の選択部4120によって選択された2以上の装置のそれぞれに向けて、通信を確立するための制御信号を送る。 The communication control unit 4011 executes control regarding establishment of communication among a plurality of devices including a plurality of ophthalmological imaging devices 2000- it , a plurality of terminals 3000-t, and a plurality of remote terminals 5000m. For example, the communication control unit 4011 sends a control signal for establishing communication to each of two or more devices selected by the selection unit 4120 (to be described later) from among the plurality of devices included in the ophthalmologic system 1000 .

転送制御部4012は、通信確立部4100(及び通信制御部4011)により通信が確立された2以上の装置の間における情報のやりとりに関する制御を行う。例えば、転送制御部4012は、通信確立部4100(及び通信制御部4011)により通信が確立された少なくとも2つの装置のうちの一方の装置から送信された情報を他の装置に転送するように機能する。 The transfer control unit 4012 controls exchange of information between two or more devices with which communication has been established by the communication establishment unit 4100 (and the communication control unit 4011). For example, the transfer control unit 4012 functions to transfer information transmitted from one of at least two devices with which communication has been established by the communication establishment unit 4100 (and the communication control unit 4011) to the other device. do.

具体例として、眼科撮影装置2000-iと遠隔端末5000mとの間の通信が確立された場合、転送制御部4012は、眼科撮影装置2000-iから送信された情報(例えば、スリット光を用いた前眼部スキャンで得られた複数の前眼部画像、又は、これら前眼部画像に基づき構築された3次元画像)を遠隔端末5000mに転送することができる。逆に、転送制御部4012は、遠隔端末5000mから送信された情報(例えば、眼科撮影装置2000-iへの指示、読影レポートなど)を眼科撮影装置2000-iに転送することができる。 As a specific example, when communication is established between the ophthalmic imaging device 2000- it and the remote terminal 5000m, the transfer control unit 4012 receives information (for example, slit light) transmitted from the ophthalmic imaging device 2000- it . A plurality of anterior segment images obtained from the anterior segment scans used, or a three-dimensional image constructed based on these anterior segment images) can be transferred to the remote terminal 5000m. Conversely, the transfer control unit 4012 can transfer information (eg, instructions to the ophthalmic imaging device 2000- it , interpretation reports, etc.) transmitted from the remote terminal 5000m to the ophthalmic imaging device 2000- it .

転送制御部4012は、送信元の装置から受信した情報を加工する機能を有していてもよい。この場合、転送制御部4012は、受信した情報と、加工処理により得られた情報との少なくとも一方を転送先の装置に送信することができる。 The transfer control unit 4012 may have a function of processing the information received from the transmission source device. In this case, the transfer control unit 4012 can transmit at least one of the received information and the information obtained by processing to the transfer destination device.

例えば、転送制御部4012は、眼科撮影装置2000-i等から送信された情報の一部を抽出して遠隔端末5000m等に送信することができる。また、眼科撮影装置2000-i等から送信された情報(例えば、前眼部画像又は3次元画像)をサーバ4000又は他の装置によって解析し、その解析結果(及び元の情報)を遠隔端末5000m等に送信するようにしてもよい。 For example, the transfer control unit 4012 can extract a part of the information transmitted from the ophthalmologic imaging device 2000-it or the like and transmit it to the remote terminal 5000m or the like. In addition, the server 4000 or other device analyzes information (for example, anterior segment image or three-dimensional image) transmitted from the ophthalmic imaging device 2000- it or the like, and the analysis result (and original information) is sent to the remote terminal. It may be transmitted to 5000 m or the like.

眼科撮影装置2000-iから複数の前眼部画像が送信された場合、サーバ4000又は他の装置が、これら前眼部画像から3次元画像(例えば、スタックデータ又はボリュームデータ)を構築し、転送制御部4012が、構築された3次元画像を遠隔端末5000mに送信するように構成することが可能である。 When multiple anterior segment images are transmitted from the ophthalmic imaging device 2000- it , the server 4000 or other device constructs a three-dimensional image (for example, stack data or volume data) from these anterior segment images, Transfer control 4012 can be configured to transmit the constructed 3D image to remote terminal 5000m.

眼科撮影装置2000-iからスタックデータが送信された場合、サーバ4000又は他の装置が、このスタックデータからボリュームデータを構築し、転送制御部4012が、構築されたボリュームデータを遠隔端末5000mに送信するように構成することが可能である。 When stack data is transmitted from the ophthalmologic imaging device 2000- it , the server 4000 or other device constructs volume data from this stack data, and the transfer control unit 4012 transfers the constructed volume data to the remote terminal 5000m. It can be configured to send

サーバ4000又は他の装置により実行可能なデータ加工処理は、上記した例には限定されず、任意のデータ処理を含んでいてよい。例えば、サーバ4000又は他の装置は、3次元画像のレンダリング、アーティファクト除去、歪み補正、計測など、第1~第11実施形態で説明した任意の処理を実行可能であってよい。 Data processing that can be executed by the server 4000 or other devices is not limited to the examples described above, and may include arbitrary data processing. For example, the server 4000 or other device may be capable of performing any of the processes described in the first through eleventh embodiments, such as three-dimensional image rendering, artifact removal, distortion correction, and metrology.

通信確立部4100は、複数の眼科撮影装置2000-iと複数の端末3000-tと複数の遠隔端末5000mとを含む複数の装置のうちから選択された少なくとも2つの装置の間における通信を確立するための処理を実行する。本実施形態において「通信の確立」とは、例えば、(1)通信が切断された状態から一方向通信を確立すること、(2)通信が切断された状態から双方向通信を確立すること、(3)受信のみが可能な状態から送信も可能な状態に切り替えること、(4)送信のみが可能な状態から受信も可能な状態に切り替えること、のうちの少なくとも1つを含む概念である。 The communication establishment unit 4100 establishes communication between at least two devices selected from among a plurality of devices including a plurality of ophthalmic imaging devices 2000- it , a plurality of terminals 3000-t, and a plurality of remote terminals 5000m. Execute the process for "Establishment of communication" in the present embodiment means, for example, (1) establishing one-way communication after communication is disconnected, (2) establishing two-way communication after communication is disconnected, This concept includes at least one of (3) switching from a state in which only reception is possible to a state in which transmission is also possible, and (4) switching from a state in which only transmission is possible to a state in which reception is also possible.

更に、通信確立部4100は、確立されている通信を切断する処理を実行可能である。本実施形態において「通信の切断」とは、例えば、(1)一方向通信が確立された状態から通信を切断すること、(2)双方向通信が確立された状態から通信を切断すること、(3)双方向通信が確立された状態から一方向通信に切り替えること、(4)送信及び受信が可能な状態から受信のみが可能な状態に切り替えること、(5)送信及び受信が可能な状態から送信のみが可能な状態に切り替えること、のうちの少なくとも1つを含む概念である。 Furthermore, the communication establishment unit 4100 can execute processing for disconnecting established communication. In the present embodiment, "communication disconnection" means, for example, (1) disconnecting communication from a state in which one-way communication has been established, (2) disconnecting communication from a state in which two-way communication has been established, (3) switching from a state in which two-way communication is established to one-way communication, (4) switching from a state in which transmission and reception are possible to a state in which only reception is possible, (5) a state in which transmission and reception are possible to a state in which only transmission is possible.

眼科撮影装置2000-i、端末3000-t、及び遠隔端末5000mのそれぞれは、他の装置(そのユーザー)を呼び出すための通信要求(呼び出し要求)と、他の2つの装置の間の通信に割り込むための通信要求(割り込み要求)とのうちの少なくとも一方をサーバ4000に送信することができる。呼び出し要求及び割り込み要求は、手動又は自動で発信される。サーバ4000(通信部4200)は、眼科撮影装置2000-i、端末3000-t、又は遠隔端末5000mから送信された通信要求を受信する。 Each of the ophthalmological imaging device 2000-i t , the terminal 3000-t, and the remote terminal 5000m sends a communication request (call request) for calling another device (its user) and communication between the other two devices. At least one of a communication request for interrupt (interrupt request) can be transmitted to the server 4000 . Call and interrupt requests can be initiated manually or automatically. The server 4000 (communication unit 4200) receives a communication request sent from the ophthalmic imaging device 2000-i t , the terminal 3000-t, or the remote terminal 5000m.

本実施形態において、通信確立部4100は選択部4120を含んでいてよい。選択部4120は、例えば、眼科撮影装置2000-i、端末3000-t、又は遠隔端末5000mから送信された通信要求に基づいて、眼科撮影装置2000-i、端末3000-t、及び遠隔端末5000mのうちから、当該通信要求を送信した装置以外の1以上の装置を選択する。 In this embodiment, the communication establishment section 4100 may include a selection section 4120 . The selection unit 4120 selects, for example, the ophthalmologic imaging device 2000-i t , the terminal 3000- t , or the remote terminal 5000m based on the communication request transmitted from the ophthalmic imaging device 2000-i t , the terminal 3000-t, or the remote terminal 5000m. One or more devices other than the device that transmitted the communication request are selected from among 5000m.

選択部4120が実行する処理の具体例を説明する。眼科撮影装置2000-i又は端末3000-tからの通信要求(例えば、眼科撮影装置2000-iにより取得された画像の読影の要求)を受けた場合、選択部4120は、例えば、複数の遠隔端末5000mのうちのいずれかを選択する。通信確立部4100は、選択された遠隔端末5000mと、眼科撮影装置2000-i及び端末3000-tの少なくとも一方との間の通信を確立する。 A specific example of processing executed by the selection unit 4120 will be described. When receiving a communication request from the ophthalmic imaging device 2000- it or the terminal 3000-t (for example, a request to interpret an image acquired by the ophthalmic imaging device 2000- it ), the selection unit 4120 selects, for example, a plurality of Select any of the remote terminals 5000m. The communication establishment unit 4100 establishes communication between the selected remote terminal 5000m and at least one of the ophthalmic imaging device 2000- it and the terminal 3000-t.

通信要求に応じた装置の選択は、例えば、予め設定された属性に基づいて実行される。この属性の例として、検査の種別(例えば、撮影モダリティの種別、画像の種別、疾患の種別、候補疾患の種別など)や、要求される専門度・熟練度や、言語の種別などがある。本例に係る処理を実現するために、通信確立部4100は、予め作成された属性情報が記憶された記憶部4110を含んでいてよい。属性情報には、遠隔端末5000m及び/又はそのユーザー(医師、オプトメトリスト等)の属性が記録されている。 Selection of the device according to the communication request is performed based on preset attributes, for example. Examples of these attributes include types of examinations (for example, types of imaging modalities, types of images, types of diseases, types of candidate diseases, etc.), required degrees of expertise and proficiency, and types of languages. In order to implement the processing according to this example, the communication establishment unit 4100 may include a storage unit 4110 in which attribute information created in advance is stored. The attribute information records attributes of the remote terminal 5000m and/or its user (doctor, optometrist, etc.).

ユーザーの識別は、事前に割り当てられたユーザーIDによって行われる。また、遠隔端末5000mの識別は、例えば、事前に割り当てられた装置IDやネットワークアドレスによって行われる。典型的な例において、属性情報は、各ユーザーの属性として、専門分野(例えば、診療科、専門とする疾患など)、専門度・熟練度、使用可能な言語の種別などを含む。 User identification is by means of a pre-assigned user ID. Also, the identification of the remote terminal 5000m is performed, for example, by a pre-assigned device ID or network address. In a typical example, the attribute information includes, as attributes of each user, fields of expertise (for example, clinical departments, specialized diseases, etc.), degrees of expertise/proficiency, types of languages that can be used, and the like.

選択部4120が属性情報を参照する場合、眼科撮影装置2000-i、端末3000-t、又は遠隔端末5000mから送信される通信要求は、属性に関する情報を含んでいてよい。例えば、眼科撮影装置2000-iから送信される読影要求(つまり、診断要求)は、次のいずれかの情報を含んでいてよい:(1)撮影モダリティの種別を示す情報;(2)画像の種別を示す情報;(3)疾患名や候補疾患名を示す情報;(4)読影の難易度を示す情報;(5)眼科撮影装置2000-i及び/又は端末3000-tのユーザーの使用言語を示す情報。 When the selector 4120 refers to attribute information, the communication request sent from the ophthalmic imaging device 2000-i t , the terminal 3000-t, or the remote terminal 5000m may include information on attributes. For example, an image interpretation request (that is, a diagnosis request) transmitted from the ophthalmologic imaging apparatus 2000 -it may include any of the following information: (1) information indicating the type of imaging modality; (2) image (3) information indicating the disease name or candidate disease name; (4) information indicating the difficulty level of image interpretation; Information indicating the preferred language.

このような読影要求を受信した場合、選択部4120は、この読影要求と記憶部4110に記憶された属性情報とに基づいて、いずれかの遠隔端末5000mを選択することができる。このとき、選択部4120は、読影要求に含まれる属性に関する情報と、記憶部4110に記憶された属性情報に記録された情報とを照合する。それにより、選択部4120は、例えば、次のいずれかの属性に該当する医師(又はオプトメトリスト)に対応する遠隔端末5000mを選択する:(1)当該撮影モダリティを専門とする医師;(2)当該画像種別を専門とする医師;(3)当該疾患(当該候補疾患)を専門とする医師;(4)当該難易度の読影が可能な医師;(5)当該言語を使用可能な医師。 When receiving such an interpretation request, the selection unit 4120 can select one of the remote terminals 5000m based on this interpretation request and the attribute information stored in the storage unit 4110 . At this time, the selection unit 4120 collates the attribute information included in the interpretation request with the information recorded in the attribute information stored in the storage unit 4110 . Accordingly, the selection unit 4120 selects, for example, the remote terminal 5000m corresponding to a doctor (or optometrist) who has one of the following attributes: (1) a doctor who specializes in the imaging modality; (3) a doctor who specializes in the disease (the candidate disease); (4) a doctor who can interpret an image with the difficulty level; (5) a doctor who can use the language.

なお、医師やオプトメトリストと、遠隔端末5000mとの間の対応付けは、例えば、遠隔端末5000m(又は眼科システム1000)へのログイン時に入力されたユーザーIDによってなされる。 Note that the correspondence between the doctor or optometrist and the remote terminal 5000m is made, for example, by the user ID entered when logging into the remote terminal 5000m (or the ophthalmic system 1000).

通信部4200は、他の装置(例えば、眼科撮影装置2000-i、端末3000-t、及び遠隔端末5000mのいずれか)との間でデータ通信を行う。データ通信の方式や暗号化については、眼科撮影装置2000-iに設けられた通信部(第1実施形態の通信部9)と同様であってよい。 The communication unit 4200 performs data communication with other devices (for example, one of the ophthalmic imaging device 2000-i t , the terminal 3000-t, and the remote terminal 5000m). The data communication method and encryption may be the same as those of the communication unit (communication unit 9 of the first embodiment) provided in the ophthalmologic imaging apparatus 2000- it .

サーバ4000は、データ処理部4300を含む。データ処理部4300は、各種のデータ処理を実行する。データ処理部4300は、眼科撮影装置2000-i(特に、スリットランプ顕微鏡)により取得された複数の前眼部画像又は3次元画像を処理することができる。データ処理部4300は、プロセッサ、主記憶装置、補助記憶装置などを含む。補助記憶装置には、データ処理プログラム等が記憶されている。データ処理部4300の機能は、データ処理プログラム等のソフトウェアと、プロセッサ等のハードウェアとの協働によって実現される。 Server 4000 includes a data processing unit 4300 . The data processing unit 4300 executes various data processing. The data processing unit 4300 can process multiple anterior segment images or three-dimensional images acquired by the ophthalmic imaging device 2000-i t (in particular, a slit lamp microscope). Data processing unit 4300 includes a processor, a main memory device, an auxiliary memory device, and the like. A data processing program and the like are stored in the auxiliary storage device. The functions of the data processing unit 4300 are realized by cooperation between software such as a data processing program and hardware such as a processor.

データ処理部4300は、データ処理部8、データ処理部8A(画像選択部81、3次元画像構築部82)、データ処理部8B(アーティファクト除去部83、3次元画像構築部84)、データ処理部8C(3次元画像構築部85)、データ処理部8D(3次元画像構築部86、画像位置決定部87)、3次元画像構築部88(画像領域抽出部89、画像合成部90)、データ処理部8E(3次元画像構築部91、レンダリング部92)、データ処理部8F(歪み補正部93)、及び、データ処理部8G(計測部94)のうちのいずれか1つ以上を含んでいてよい。 The data processing unit 4300 includes a data processing unit 8, a data processing unit 8A (image selection unit 81, 3D image construction unit 82), a data processing unit 8B (artifact removal unit 83, 3D image construction unit 84), a data processing unit 8C (three-dimensional image constructing unit 85), data processing unit 8D (three-dimensional image constructing unit 86, image position determining unit 87), three-dimensional image constructing unit 88 (image region extracting unit 89, image synthesizing unit 90), data processing Any one or more of the unit 8E (three-dimensional image construction unit 91, rendering unit 92), the data processing unit 8F (distortion correction unit 93), and the data processing unit 8G (measurement unit 94) may be included. .

サーバ4000は、データ処理部4300により得られたデータを他の装置に提供することができる。例えば、データ処理部4300が、眼科撮影装置2000-iにより取得された複数の前眼部画像から3次元画像を構築した場合、サーバ4000は、通信部4200により、この3次元画像を遠隔端末5000mに送信することができる。データ処理部4300が、眼科撮影装置2000-i又はデータ処理部4300により構築された3次元画像をレンダリングした場合、サーバ4000は、通信部4200により、構築されたレンダリング画像を遠隔端末5000mに送信することができる。データ処理部4300が、1以上の前眼部画像又は3次元画像に計測処理を適用した場合、サーバ4000は、通信部4200により、得られた計測データを遠隔端末5000mに送信することができる。データ処理部4300が、1以上の前眼部画像又は3次元画像に歪み補正を適用した場合、サーバ4000は、通信部4200により、補正された画像を遠隔端末5000mに送信することができる。 The server 4000 can provide data obtained by the data processing unit 4300 to other devices. For example, when the data processing unit 4300 constructs a three-dimensional image from a plurality of anterior segment images acquired by the ophthalmologic imaging device 2000- it , the server 4000 transmits this three-dimensional image to the remote terminal through the communication unit 4200. It can transmit to 5000m. When the data processing unit 4300 renders the three-dimensional image constructed by the ophthalmic imaging device 2000- it or the data processing unit 4300, the server 4000 transmits the constructed rendered image to the remote terminal 5000m through the communication unit 4200. can do. When the data processing unit 4300 applies measurement processing to one or more anterior segment images or three-dimensional images, the server 4000 can transmit the obtained measurement data to the remote terminal 5000m through the communication unit 4200. If the data processing unit 4300 applies distortion correction to one or more anterior segment images or 3D images, the server 4000 can transmit the corrected images to the remote terminal 5000m via the communication unit 4200.

続いて、遠隔端末5000mについて説明する。図32に例示された遠隔端末5000mは、制御部5010と、データ処理部5100と、通信部5200と、操作部5300とを備える。 Next, the remote terminal 5000m will be described. A remote terminal 5000m exemplified in FIG.

制御部5010は、遠隔端末5000mの各部の制御を実行する。制御部5010は、その他の演算処理を実行可能であってよい。制御部5010は、プロセッサ、RAM、ROM、ハードディスクドライブ、ソリッドステートドライブなどを含む。 The control unit 5010 executes control of each unit of the remote terminal 5000m. Control unit 5010 may be capable of executing other arithmetic processing. Controller 5010 includes a processor, RAM, ROM, hard disk drive, solid state drive, and the like.

制御部5010は表示制御部5011を含む。表示制御部5011は、表示装置6000mを制御する。表示装置6000mは、遠隔端末5000mに含まれてもよいし、遠隔端末5000mに接続された周辺機器であってもよい。表示制御部5011は、被検眼Eの前眼部の画像を表示装置6000mに表示させる。前眼部の画像の例として、スリット撮影画像、シャインプルーフ撮影画像、3次元画像のレンダリング画像、正面画像、他のモダリティの画像(OCT画像等)、計測結果を表す画像、解析結果を表す画像などがある。 Control unit 5010 includes display control unit 5011 . The display control unit 5011 controls the display device 6000m. The display device 6000m may be included in the remote terminal 5000m or may be a peripheral connected to the remote terminal 5000m. The display control unit 5011 causes the display device 6000m to display an image of the anterior segment of the eye E to be examined. Examples of images of the anterior segment include slit images, Scheimpflug images, rendered 3D images, frontal images, images of other modalities (OCT images, etc.), images representing measurement results, and images representing analysis results. and so on.

制御部5010はレポート作成制御部5012を含む。レポート作成制御部5012は、表示制御部5011により表示された情報に関するレポートを作成するための各種の制御を実行する。例えば、レポート作成制御部5012は、レポートを作成するための画面やグラフィカルユーザーインターフェイス(GUI)を表示装置6000mに表示させる。また、レポート作成制御部5012は、ユーザーが入力した情報や、前眼部の画像や、計測データや、解析データなどを、所定のレポートテンプレートに入力する。 Control unit 5010 includes report generation control unit 5012 . A report creation control unit 5012 executes various controls for creating a report on the information displayed by the display control unit 5011 . For example, the report creation control unit 5012 causes the display device 6000m to display a screen and a graphical user interface (GUI) for creating a report. In addition, the report creation control unit 5012 inputs the information input by the user, the image of the anterior segment, the measurement data, the analysis data, and the like into a predetermined report template.

〈データ処理部5100〉
データ処理部5100は、各種のデータ処理を実行する。データ処理部5100は、眼科撮影装置2000-i(特に、スリットランプ顕微鏡)により取得された複数の前眼部画像又は3次元画像を処理することができる。また、データ処理部5100は、サーバ4000等の他の情報処理装置により構築された3次元画像又はレンダリング画像を処理することができる。データ処理部5100は、プロセッサ、主記憶装置、補助記憶装置などを含む。補助記憶装置には、データ処理プログラム等が記憶されている。データ処理部5100の機能は、データ処理プログラム等のソフトウェアと、プロセッサ等のハードウェアとの協働によって実現される。
<Data processing unit 5100>
The data processing unit 5100 executes various data processing. The data processing unit 5100 can process a plurality of anterior segment images or three-dimensional images acquired by the ophthalmic imaging device 2000-i t (especially a slit lamp microscope). Also, the data processing unit 5100 can process a three-dimensional image or a rendered image constructed by another information processing device such as the server 4000 . Data processing unit 5100 includes a processor, a main memory device, an auxiliary memory device, and the like. A data processing program and the like are stored in the auxiliary storage device. The functions of the data processing unit 5100 are realized by cooperation between software such as a data processing program and hardware such as a processor.

データ処理部5100は、データ処理部8、データ処理部8A(画像選択部81、3次元画像構築部82)、データ処理部8B(アーティファクト除去部83、3次元画像構築部84)、データ処理部8C(3次元画像構築部85)、データ処理部8D(3次元画像構築部86、画像位置決定部87)、3次元画像構築部88(画像領域抽出部89、画像合成部90)、データ処理部8E(3次元画像構築部91、レンダリング部92)、データ処理部8F(歪み補正部93)、及び、データ処理部8G(計測部94)のうちのいずれか1つ以上を含んでいてよい。 The data processing unit 5100 includes a data processing unit 8, a data processing unit 8A (image selection unit 81, 3D image construction unit 82), a data processing unit 8B (artifact removal unit 83, 3D image construction unit 84), a data processing unit 8C (three-dimensional image constructing unit 85), data processing unit 8D (three-dimensional image constructing unit 86, image position determining unit 87), three-dimensional image constructing unit 88 (image region extracting unit 89, image synthesizing unit 90), data processing Any one or more of the unit 8E (three-dimensional image construction unit 91, rendering unit 92), the data processing unit 8F (distortion correction unit 93), and the data processing unit 8G (measurement unit 94) may be included. .

通信部5200は、他の装置(例えば、眼科撮影装置2000-i、端末3000-t、及びサーバ4000のいずれか)との間でデータ通信を行う。データ通信の方式や暗号化については、眼科撮影装置2000-iの通信部と同様であってよい。 The communication unit 5200 performs data communication with other devices (for example, one of the ophthalmic imaging device 2000-i t , the terminal 3000-t, and the server 4000). The data communication method and encryption may be the same as those of the communication unit of the ophthalmologic imaging apparatus 2000- it .

操作部5300は、遠隔端末5000mの操作、遠隔端末5000mへの情報入力などに使用される。本実施形態では、操作部5300はレポートの作成に使用される。操作部5300は、操作デバイスや入力デバイスを含む。操作部5300は、例えば、マウス、キーボード、トラックボール、操作パネル、スイッチ、ボタン、ダイアルなどを含む。操作部5300は、タッチスクリーンを含んでもよい。 The operation unit 5300 is used for operating the remote terminal 5000m, inputting information to the remote terminal 5000m, and the like. In this embodiment, the operation unit 5300 is used for creating reports. An operation unit 5300 includes an operation device and an input device. The operation unit 5300 includes, for example, a mouse, keyboard, trackball, operation panel, switches, buttons, dials, and the like. The operation unit 5300 may include a touch screen.

本実施形態により奏される効果を説明する。 Effects achieved by this embodiment will be described.

眼科システム1000は、1以上のスリットランプ顕微鏡(眼科撮影装置2000-i)と1以上の情報処理装置(サーバ4000及び/又は遠隔端末5000m)とを含む。情報処理装置は、通信回線を介してスリットランプ顕微鏡に接続されており、スリットランプ顕微鏡により取得された被検眼の前眼部の画像を処理する。 The ophthalmic system 1000 includes one or more slit lamp microscopes (ophthalmic imaging devices 2000-i t ) and one or more information processing devices (server 4000 and/or remote terminal 5000m). The information processing device is connected to the slit lamp microscope via a communication line, and processes an image of the anterior segment of the subject's eye obtained by the slit lamp microscope.

スリットランプ顕微鏡(眼科撮影装置2000-i)は、照明系と、撮影系と、移動機構とを含む。照明系は、被検眼の前眼部にスリット光を照射する。撮影系は、スリット光が照射されている前眼部からの光を導く光学系と、光学系により導かれた光を撮像面で受光する撮像素子とを含む。移動機構は、照明系及び撮影系を移動する移動機構とを含む。照明系の光軸に沿う物面と光学系と撮像面とは、シャインプルーフの条件を満足する。撮影系は、移動機構による照明系及び撮影系の移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより前眼部の複数の画像を取得する。 A slit lamp microscope (ophthalmic imaging apparatus 2000-i t ) includes an illumination system, an imaging system, and a movement mechanism. The illumination system irradiates the anterior segment of the eye to be inspected with slit light. The imaging system includes an optical system that guides light from the anterior segment irradiated with slit light, and an imaging device that receives the light guided by the optical system on an imaging surface. The moving mechanism includes a moving mechanism that moves the illumination system and the imaging system. The object plane, the optical system, and the imaging plane along the optical axis of the illumination system satisfy the Scheimpflug condition. The imaging system acquires a plurality of images of the anterior segment by repeatedly performing imaging in parallel with the movement of the illumination system and the imaging system by the moving mechanism.

スリットランプ顕微鏡(眼科撮影装置2000-i)の照明系及び撮影系は、少なくとも角膜前面及び水晶体後面により画成される部位に撮影系のピントが合うように構成されていてもよい。 The illumination system and imaging system of the slit lamp microscope (ophthalmic imaging apparatus 2000-i t ) may be configured such that the imaging system focuses on a region defined by at least the anterior corneal surface and the posterior surface of the lens.

照明系は、被検者の体軸方向を長手方向とするスリット光を前眼部に照射するように構成されていてよい。この場合、移動機構は、体軸方向に直交する方向に照明系及び撮影系を移動するように構成されていてよい。 The illumination system may be configured to irradiate the anterior segment with slit light whose longitudinal direction is the body axis direction of the subject. In this case, the moving mechanism may be configured to move the illumination system and the imaging system in a direction perpendicular to the body axis direction.

スリット光の長さは、体軸方向における角膜径以上に設定されていてよい。加えて、移動機構による照明系及び撮影系の移動距離は、体軸方向に直交する方向における角膜径以上に設定されていてよい。 The length of the slit light may be set to be equal to or longer than the corneal diameter in the body axis direction. In addition, the moving distance of the illumination system and the imaging system by the moving mechanism may be set to be equal to or greater than the corneal diameter in the direction orthogonal to the body axis direction.

このような構成を有する本実施形態によれば、少なくとも、第1実施形態と同様の効果が奏される。また、第1実施形態で説明した構成、要素、機能、作用、効果などの任意の事項を、本実施形態に適用することが可能である。 According to this embodiment having such a configuration, at least the same effects as those of the first embodiment can be obtained. Any items such as the configuration, elements, functions, actions, and effects described in the first embodiment can be applied to the present embodiment.

本実施形態において、スリットランプ顕微鏡(眼科撮影装置2000-i)の撮影系は、第1撮影系と第2撮影系とを含んでいてよい。第1撮影系は、スリット光が照射されている前眼部からの光を導く第1光学系と、第1光学系により導かれた光を第1撮像面で受光する第1撮像素子とを含む。更に、第1撮影系は、照明系及び撮影系の移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより第1画像群を取得する。第2撮影系は、スリット光が照射されている前眼部からの光を導く第2光学系と、第2光学系により導かれた光を第2撮像面で受光する第2撮像素子とを含む。更に、第2撮影系は、照明系及び撮影系の移動と並行して繰り返し撮影を行うことにより第2画像群を取得する。また、第1光学系の光軸と第2光学系の光軸とは、互いに異なる向きに配置されている。加えて、物面と第1光学系と第1撮像面とがシャインプルーフの条件を満足し、且つ、物面と第2光学系と第2撮像面とがシャインプルーフの条件を満足する。 In this embodiment, the imaging system of the slit lamp microscope (ophthalmic imaging apparatus 2000-i t ) may include a first imaging system and a second imaging system. The first imaging system includes a first optical system that guides light from the anterior segment irradiated with the slit light, and a first imaging device that receives the light guided by the first optical system on a first imaging surface. include. Furthermore, the first imaging system acquires the first image group by repeatedly performing imaging in parallel with the movement of the illumination system and the imaging system. The second imaging system includes a second optical system that guides light from the anterior segment irradiated with the slit light, and a second imaging element that receives the light guided by the second optical system on a second imaging surface. include. Furthermore, the second imaging system obtains a second image group by repeatedly performing imaging in parallel with the movement of the illumination system and the imaging system. Also, the optical axis of the first optical system and the optical axis of the second optical system are arranged in different directions. In addition, the object plane, the first optical system, and the first imaging surface satisfy the Scheimpflug condition, and the object surface, the second optical system, and the second imaging surface satisfy the Scheimpflug condition.

撮影系に含まれる光学系は、反射器と、1以上のレンズとを含んでいてよい。反射器は、スリット光が照射されている前眼部からの光であって、照明系の光軸から離れる方向に進行する光を、照明系の光軸に近づく方向に反射するように構成及び配置される。1以上のレンズは、反射器により反射された光を撮像面に結像させるように構成及び配置される。 An optical system included in the imaging system may include a reflector and one or more lenses. The reflector is configured and configured to reflect light from the anterior segment irradiated with the slit light, which travels in a direction away from the optical axis of the illumination system, in a direction approaching the optical axis of the illumination system. placed. One or more lenses are constructed and arranged to image the light reflected by the reflector onto the imaging surface.

このような構成を有する本実施形態によれば、少なくとも、第2実施形態と同様の効果が奏される。また、第2実施形態で説明した構成、要素、機能、作用、効果などの任意の事項を、本実施形態に適用することが可能である。 According to this embodiment having such a configuration, at least the same effects as those of the second embodiment can be obtained. Any items such as the configuration, elements, functions, actions, and effects described in the second embodiment can be applied to the present embodiment.

本実施形態において、第1光学系の光軸と第2光学系の光軸とは、照明系の光軸に対して互いに反対の方向に傾斜して配置されていてよい。更に、情報処理装置(サーバ4000及び/又は遠隔端末5000m)は、第1撮影系及び第2撮影系により実質的に同時に取得された2つの画像のいずれかにアーティファクトが含まれるか判定し、これら2つの画像のうちの一方の画像にアーティファクトが含まれると判定されたときに他方の画像を選択する画像選択部を含んでいてよい。 In this embodiment, the optical axis of the first optical system and the optical axis of the second optical system may be inclined in opposite directions to the optical axis of the illumination system. Furthermore, the information processing device (server 4000 and/or remote terminal 5000m) determines whether any of the two images acquired substantially simultaneously by the first imaging system and the second imaging system contains an artifact, and An image selector may be included for selecting one of the two images when the other image is determined to contain an artifact.

また、情報処理装置(サーバ4000及び/又は遠隔端末5000m)は、画像選択部により第1画像群及び第2画像群から選択された画像を含む画像群に基づいて3次元画像を構築する3次元画像構築部を含んでいてよい。 The information processing device (server 4000 and/or remote terminal 5000m) constructs a three-dimensional image based on an image group including images selected from the first image group and the second image group by the image selection unit. An image builder may be included.

このような構成を有する本実施形態によれば、少なくとも、第3実施形態と同様の効果が奏される。また、第3実施形態で説明した構成、要素、機能、作用、効果などの任意の事項を、本実施形態に適用することが可能である。 According to this embodiment having such a configuration, at least the same effects as those of the third embodiment can be obtained. Any items such as the configuration, elements, functions, actions, and effects described in the third embodiment can be applied to this embodiment.

本実施形態において、情報処理装置(サーバ4000及び/又は遠隔端末5000m)は、第1撮影系及び第2撮影系により実質的に同時に取得された2つの画像を比較することによりこれら2つの画像のいずれかにアーティファクトが含まれるか判定し、これら2つの画像のいずれかにアーティファクトが含まれると判定されたときに当該アーティファクトを除去するアーティファクト除去部を含んでいてよい。 In this embodiment, the information processing apparatus (server 4000 and/or remote terminal 5000m) compares two images acquired substantially simultaneously by the first imaging system and the second imaging system, thereby determining the difference between the two images. An artifact removal unit may be included which determines whether any of the two images contains an artifact and removes the artifact when it is determined that either of the two images contains an artifact.

また、情報処理装置(サーバ4000及び/又は遠隔端末5000m)は、アーティファクト除去部によりアーティファクトが除去された画像を含む画像群に基づいて3次元画像を構築する3次元画像構築部を含んでいてよい。 The information processing device (the server 4000 and/or the remote terminal 5000m) may also include a 3D image constructing unit that constructs a 3D image based on an image group including images from which artifacts have been removed by the artifact removing unit. .

このような構成を有する本実施形態によれば、少なくとも、第4実施形態と同様の効果が奏される。また、第4実施形態で説明した構成、要素、機能、作用、効果などの任意の事項を、本実施形態に適用することが可能である。 According to this embodiment having such a configuration, at least the same effects as those of the fourth embodiment can be obtained. Any items such as the configuration, elements, functions, actions, and effects described in the fourth embodiment can be applied to this embodiment.

本実施形態において、情報処理装置(サーバ4000及び/又は遠隔端末5000m)は、スリットランプ顕微鏡(眼科撮影装置2000-i)により取得された複数の画像に基づいて3次元画像を構築する3次元画像構築部を含んでいてよい。 In this embodiment, the information processing device (server 4000 and/or remote terminal 5000m) constructs a three-dimensional image based on a plurality of images acquired by a slit lamp microscope (ophthalmic imaging device 2000-i t ). An image builder may be included.

このような構成を有する本実施形態によれば、少なくとも、第5実施形態と同様の効果が奏される。また、第5実施形態で説明した構成、要素、機能、作用、効果などの任意の事項を、本実施形態に適用することが可能である。 According to this embodiment having such a configuration, at least the same effects as those of the fifth embodiment can be obtained. Any items such as the configuration, elements, functions, actions, and effects described in the fifth embodiment can be applied to this embodiment.

本実施形態において、移動機構は、照明系の光軸を回転軸として照明系及び撮影系を一体的に回転する回転機構を含んでいてよい。更に、照明系及び撮影系が第1回転位置に配置されているときに撮影系は複数の画像を取得し、且つ、第1回転位置と異なる第2回転位置に照明系及び撮影系が配置されているときに撮影系は照明系によりスリット光が照射されている前眼部の画像を取得することができる。加えて、3次元画像構築部は、第2回転位置において取得された画像に基づいて複数の画像の相対位置を決定する画像位置決定部を含んでいてよい。 In this embodiment, the movement mechanism may include a rotation mechanism that integrally rotates the illumination system and the imaging system about the optical axis of the illumination system. Further, the imaging system acquires a plurality of images when the illumination system and the imaging system are arranged at the first rotational position, and the illumination system and the imaging system are arranged at a second rotational position different from the first rotational position. The imaging system can acquire an image of the anterior segment illuminated by the slit light from the illumination system. Additionally, the 3D image construction unit may include an image position determination unit that determines relative positions of the plurality of images based on the images acquired at the second rotational position.

このような構成を有する本実施形態によれば、少なくとも、第6実施形態と同様の効果が奏される。また、第6実施形態で説明した構成、要素、機能、作用、効果などの任意の事項を、本実施形態に適用することが可能である。 According to this embodiment having such a configuration, at least the same effects as those of the sixth embodiment can be obtained. Any items such as the configuration, elements, functions, actions, and effects described in the sixth embodiment can be applied to this embodiment.

本実施形態において、3次元画像構築部は、スリットランプ顕微鏡(眼科撮影装置2000-i)により取得された複数の画像のそれぞれから、スリット光の照射領域に対応する画像領域を抽出する画像領域抽出部と、画像領域抽出部により複数の画像からそれぞれ抽出された複数の画像領域を合成して3次元画像を構築する画像合成部とを含んでいてよい。 In this embodiment, the three-dimensional image construction unit extracts an image region corresponding to the irradiation region of the slit light from each of a plurality of images acquired by the slit lamp microscope (ophthalmic imaging device 2000-i t ). It may include an extractor and an image synthesizer that constructs a three-dimensional image by synthesizing a plurality of image regions respectively extracted from the plurality of images by the image region extractor.

画像領域抽出部は、スリットランプ顕微鏡(眼科撮影装置2000-i)により取得された複数の画像のそれぞれから、スリット光の照射領域及び前眼部の所定部位の双方に対応する画像領域を抽出するように構成されていてよい。 The image region extraction unit extracts image regions corresponding to both the irradiation region of the slit light and the predetermined part of the anterior segment from each of the plurality of images acquired by the slit lamp microscope (ophthalmic imaging device 2000-i t ). may be configured to

所定部位は、角膜前面及び水晶体後面により画成される部位であってよい。 The predetermined site may be a site defined by the anterior corneal surface and the posterior surface of the lens.

このような構成を有する本実施形態によれば、少なくとも、第7実施形態と同様の効果が奏される。また、第7実施形態で説明した構成、要素、機能、作用、効果などの任意の事項を、本実施形態に適用することが可能である。 According to this embodiment having such a configuration, at least the same effects as those of the seventh embodiment can be obtained. Any items such as the configuration, elements, functions, actions, and effects described in the seventh embodiment can be applied to this embodiment.

本実施形態において、情報処理装置(サーバ4000及び/又は遠隔端末5000m)は、3次元画像をレンダリングしてレンダリング画像を構築するレンダリング部を含んでいてよい。 In this embodiment, the information processing device (server 4000 and/or remote terminal 5000m) may include a rendering unit that renders a three-dimensional image to construct a rendered image.

3次元画像に対して断面が指定されたとき、レンダリング部は、3次元画像を当該断面で切断して3次元部分画像を構築することができる。 When a cross-section is specified for the three-dimensional image, the rendering unit can construct a three-dimensional partial image by cutting the three-dimensional image at the cross-section.

3次元画像に対して断面が指定されたとき、レンダリング部は、当該断面を表す2次元断面画像を構築することができる。 When a cross-section is specified for the three-dimensional image, the rendering unit can construct a two-dimensional cross-sectional image representing the cross-section.

3次元画像に対してスライスが指定されたとき、レンダリング部は、当該スライスに対応する3次元スライス画像を構築することができる。 When a slice is specified for a 3D image, the rendering unit can construct a 3D slice image corresponding to the slice.

このような構成を有する本実施形態によれば、少なくとも、第8実施形態と同様の効果が奏される。また、第8実施形態で説明した構成、要素、機能、作用、効果などの任意の事項を、本実施形態に適用することが可能である。 According to this embodiment having such a configuration, at least the same effects as those of the eighth embodiment can be obtained. Any items such as the configuration, elements, functions, actions, and effects described in the eighth embodiment can be applied to this embodiment.

本実施形態において、情報処理装置(サーバ4000及び/又は遠隔端末5000m)は、照明系の光軸と撮影系の光軸とがなす角度である光軸角度に起因する歪みを補正するための処理を、スリットランプ顕微鏡(眼科撮影装置2000-i)により取得された複数の画像のうちの少なくとも1つに適用する歪み補正部を含んでいてよい。 In this embodiment, the information processing device (server 4000 and/or remote terminal 5000m) performs processing for correcting distortion caused by the optical axis angle, which is the angle between the optical axis of the illumination system and the optical axis of the imaging system. to at least one of the plurality of images acquired by the slit lamp microscope (ophthalmic imager 2000-i t ).

撮影系に含まれる光学系の光軸は、照明系の光軸に対して、照明系の光軸に沿う第1方向及びスリット光の長手方向に沿う第2方向の双方に直交する第3方向に傾斜して配置されていてよい。この場合、歪み補正部は、第1方向及び第2方向の双方を含む平面における歪みを補正するための処理を実行することができる。 The optical axis of the optical system included in the imaging system is a third direction orthogonal to both the first direction along the optical axis of the illumination system and the second direction along the longitudinal direction of the slit light with respect to the optical axis of the illumination system. may be arranged at an angle to the In this case, the distortion corrector can perform processing for correcting distortion in a plane that includes both the first direction and the second direction.

歪み補正部は、所定の基準角度と光軸角度とに基づき設定された補正係数を予め記憶しており、当該補正係数に基づいて歪みを補正するための処理を実行するように構成されていてよい。 The distortion corrector stores in advance a correction coefficient set based on a predetermined reference angle and an optical axis angle, and is configured to execute processing for correcting distortion based on the correction coefficient. good.

このような構成を有する本実施形態によれば、少なくとも、第9実施形態と同様の効果が奏される。また、第9実施形態で説明した構成、要素、機能、作用、効果などの任意の事項を、本実施形態に適用することが可能である。 According to this embodiment having such a configuration, at least the same effects as those of the ninth embodiment can be obtained. Any items such as the configuration, elements, functions, actions, and effects described in the ninth embodiment can be applied to this embodiment.

本実施形態において、情報処理装置(サーバ4000及び/又は遠隔端末5000m)は、スリットランプ顕微鏡(眼科撮影装置2000-i)により取得された複数の画像のうちの少なくとも1つを解析することにより所定の計測値を求める第1計測部を含んでいてよい。 In this embodiment, the information processing device (server 4000 and/or remote terminal 5000m) analyzes at least one of a plurality of images acquired by a slit lamp microscope (ophthalmic imaging device 2000-i t ) A first measurement unit may be included for obtaining a predetermined measurement value.

また、本実施形態において、情報処理装置(サーバ4000及び/又は遠隔端末5000m)は、3次元画像構築部により構築された3次元画像を解析することにより所定の計測値を求める第2計測部を含んでいてよい。 Further, in this embodiment, the information processing device (server 4000 and/or remote terminal 5000m) includes a second measurement unit that obtains a predetermined measurement value by analyzing the three-dimensional image constructed by the three-dimensional image construction unit. may contain.

このような構成を有する本実施形態によれば、少なくとも、第10実施形態と同様の効果が奏される。また、第10実施形態で説明した構成、要素、機能、作用、効果などの任意の事項を、本実施形態に適用することが可能である。 According to this embodiment having such a configuration, at least the same effects as those of the tenth embodiment can be obtained. Any items such as the configuration, elements, functions, actions, and effects described in the tenth embodiment can be applied to this embodiment.

本実施形態において、スリットランプ顕微鏡(眼科撮影装置2000-i)は、撮影系による複数の画像の取得と並行して前眼部を固定位置から動画撮影する動画撮影系を含んでいてよい。 In this embodiment, the slit lamp microscope (ophthalmic imaging device 2000-i t ) may include a moving image capturing system for capturing moving images of the anterior segment from a fixed position in parallel with acquisition of a plurality of images by the imaging system.

更に、スリットランプ顕微鏡(眼科撮影装置2000-i)は、動画撮影系により取得される動画像を解析して被検眼の運動を検出する運動検出部を含んでいてよい。 Furthermore, the slit lamp microscope (ophthalmic imaging apparatus 2000-i t ) may include a motion detection unit that analyzes the moving image acquired by the moving image capturing system and detects the motion of the subject's eye.

加えて、スリットランプ顕微鏡(眼科撮影装置2000-i)は、運動検出部からの出力に基づいて移動機構を制御する移動制御部を含んでいてよい。 Additionally, the slit lamp microscope (ophthalmic imaging device 2000-i t ) may include a movement controller that controls the movement mechanism based on the output from the movement detector.

このような構成を有する本実施形態によれば、少なくとも、第11実施形態と同様の効果が奏される。また、第11実施形態で説明した構成、要素、機能、作用、効果などの任意の事項を、本実施形態に適用することが可能である。 According to this embodiment having such a configuration, at least the same effects as those of the eleventh embodiment can be obtained. Any items such as the configuration, elements, functions, actions, and effects described in the eleventh embodiment can be applied to this embodiment.

〈その他の事項〉
以上に説明した実施形態は本発明の典型的な例示に過ぎない。よって、本発明の要旨の範囲内における任意の変形(省略、置換、付加等)を適宜に施すことが可能である。
<Other matters>
The embodiments described above are merely typical examples of the present invention. Therefore, any modification (omission, substitution, addition, etc.) within the scope of the present invention can be applied as appropriate.

第1~第12実施形態のいずれか1つ又はいずれか2以上の組み合わせに係る処理をコンピュータに実行させるプログラムを構成することが可能である。また、第1~第12実施形態のいずれか1つ又はいずれか2以上の組み合わせに対して本発明の要旨の範囲内における任意の変形を適用することによって実現される処理をコンピュータに実行させるプログラムを構成することが可能である。 It is possible to construct a program that causes a computer to execute processing related to any one or a combination of any two or more of the first to twelfth embodiments. Also, a program that causes a computer to execute a process realized by applying any modification within the scope of the present invention to any one or a combination of any two or more of the first to twelfth embodiments. can be constructed.

更に、このようなプログラムを記録したコンピュータ可読な非一時的記録媒体を作成することが可能である。この非一時的記録媒体は任意の形態であってよく、その例として、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、半導体メモリなどがある。 Furthermore, it is possible to create a computer-readable non-transitory recording medium recording such a program. This non-transitory recording medium may be in any form, examples of which include magnetic disks, optical disks, magneto-optical disks, and semiconductor memories.

本発明は、第1~第12実施形態のいずれか1つ又はいずれか2以上の組み合わせにより実現される方法を含む。また、第1~第12実施形態のいずれか1つ又はいずれか2以上の組み合わせに対して本発明の要旨の範囲内における任意の変形を適用することによって実現される方法も、本発明に含まれる。 The present invention includes a method realized by any one of the first to twelfth embodiments or a combination of any two or more. The present invention also includes a method realized by applying any modification within the scope of the present invention to any one of the first to twelfth embodiments or a combination of two or more of them. be

1 スリットランプ顕微鏡
2 照明系
3 撮影系
4 光学系
5 撮像素子
6 移動機構
7 制御系
8 データ処理部
9 通信部

1 slit lamp microscope 2 illumination system 3 imaging system 4 optical system 5 imaging element 6 moving mechanism 7 control system 8 data processing unit 9 communication unit

Claims (5)

被検眼の前眼部にスリット光を照射する照明系と、
前記スリット光が照射されている前記前眼部からの光を導く光学系と、前記光学系により導かれた前記光を撮像面で受光する撮像素子とを含む撮影系と、
前記前眼部を動画撮影する動画撮影系と、
前記動画撮影系を移動することなく前記照明系及び前記撮影系を移動する移動機構と、
制御部と
を含み、
前記照明系の光軸に沿う物面と前記光学系と前記撮像面とがシャインプルーフの条件を満足し、
前記動画撮影系による固定位置からの前記前眼部の動画撮影と並行して、前記制御部は、前記照明系及び前記撮影系を移動するための前記移動機構の制御と前記前眼部を繰り返し撮影して複数の画像を取得するための前記撮影系の制御とを並行して実行する
ことを特徴とするスリットランプ顕微鏡。
an illumination system that irradiates the anterior segment of the eye to be inspected with slit light;
an imaging system including an optical system that guides light from the anterior segment irradiated with the slit light, and an imaging device that receives the light guided by the optical system on an imaging surface;
a moving image capturing system for capturing a moving image of the anterior segment;
a movement mechanism that moves the illumination system and the imaging system without moving the moving image imaging system;
including a controller and
an object plane along the optical axis of the illumination system, the optical system, and the imaging plane satisfy the Scheimpflug condition;
In parallel with the moving image capturing of the anterior segment from a fixed position by the moving image capturing system, the control unit repeats the control of the moving mechanism for moving the illumination system and the capturing system and the anterior segment. A slit lamp microscope characterized in that control of the photographing system for photographing and obtaining a plurality of images is executed in parallel.
前記移動機構の前記制御及び前記撮影系の前記制御と並行して前記動画撮影系により取得される動画像を解析して前記被検眼の運動を検出する運動検出部を更に含む
ことを特徴とする請求項1に記載のスリットランプ顕微鏡。
a motion detection unit that analyzes moving images acquired by the moving image capturing system in parallel with the control of the moving mechanism and the control of the capturing system to detect motion of the subject's eye. A slit lamp microscope according to claim 1 .
前記制御部は、前記運動検出部からの出力に基づいて前記移動機構の前記制御を実行する
ことを特徴とする請求項2に記載のスリットランプ顕微鏡。
3. The slit lamp microscope according to claim 2, wherein the control section executes the control of the moving mechanism based on an output from the motion detection section.
前記前眼部について取得された画像を情報処理装置に向けて送信する通信部を更に含む
ことを特徴とする請求項1~3のいずれかに記載のスリットランプ顕微鏡。
4. The slit lamp microscope according to any one of claims 1 to 3, further comprising a communication unit that transmits an image acquired of the anterior segment to an information processing device.
スリットランプ顕微鏡と、
通信回線を介して前記スリットランプ顕微鏡に接続されており、前記スリットランプ顕微鏡により取得された被検眼の前眼部の画像を処理する情報処理装置と
を含み、
前記スリットランプ顕微鏡は、
被検眼の前眼部にスリット光を照射する照明系と、
前記スリット光が照射されている前記前眼部からの光を導く光学系と、前記光学系により導かれた前記光を撮像面で受光する撮像素子とを含む撮影系と、
前記前眼部を動画撮影する動画撮影系と、
前記動画撮影系を移動することなく前記照明系及び前記撮影系を移動する移動機構と、
制御部と
を含み、
前記照明系の光軸に沿う物面と前記光学系と前記撮像面とがシャインプルーフの条件を満足し、
前記動画撮影系による固定位置からの前記前眼部の動画撮影と並行して、前記制御部は、前記照明系及び前記撮影系を移動するための前記移動機構の制御と前記前眼部を繰り返し撮影して複数の画像を取得するための前記撮影系の制御とを並行して実行する
ことを特徴とする眼科システム。

a slit lamp microscope;
an information processing device that is connected to the slit lamp microscope via a communication line and processes an image of the anterior segment of the eye to be examined obtained by the slit lamp microscope;
The slit lamp microscope is
an illumination system that irradiates the anterior segment of the eye to be inspected with slit light;
an imaging system including an optical system that guides light from the anterior segment irradiated with the slit light, and an imaging device that receives the light guided by the optical system on an imaging surface;
a moving image capturing system for capturing a moving image of the anterior segment;
a movement mechanism that moves the illumination system and the imaging system without moving the moving image imaging system;
including a controller and
an object plane along the optical axis of the illumination system, the optical system, and the imaging plane satisfy the Scheimpflug condition;
In parallel with the moving image capturing of the anterior segment from a fixed position by the moving image capturing system, the control unit repeats the control of the moving mechanism for moving the illumination system and the capturing system and the anterior segment. An ophthalmologic system characterized by simultaneously executing control of the photographing system for photographing and obtaining a plurality of images.

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