JP2017062192A - Linear expansion coefficient measurement method and measurement apparatus for dimension reference device - Google Patents

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JP2017062192A JP2015188093A JP2015188093A JP2017062192A JP 2017062192 A JP2017062192 A JP 2017062192A JP 2015188093 A JP2015188093 A JP 2015188093A JP 2015188093 A JP2015188093 A JP 2015188093A JP 2017062192 A JP2017062192 A JP 2017062192A
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Yuichiro Yokoyama
雄一郎 横山
萩野 健
Takeshi Hagino
健 萩野
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a linear expansion coefficient measurement method and measurement apparatus for a dimension reference device capable of highly accurately and inexpensively measuring a linear expansion coefficient for dimension reference devices of various lengths.SOLUTION: A measurement object (step gauge 10) and a reference gauge (reference block gauge 20) are supported in parallel inside of a thermostat 30. While setting an internal temperature of the thermostat 30 at a first temperature and defining a length from a first reference surface 21 to a second reference surface 22 of the reference gauge as a reference, a length from a first surface 11 to a second surface 12 of the measurement object is comparatively measured. While defining the internal temperature of the thermostat 30 at a second temperature and similarly defining the length from the first reference surface 21 to the second reference surface 22 as a reference, the length from the first surface 11 to the second surface 12 is comparatively measured. A linear expansion coefficient of the measurement object is calculated from the length of the measurement object at the first temperature and the length of the measurement object at the second temperature.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は、寸法基準器の線膨張係数測定方法および測定装置に関する。   The present invention relates to a linear expansion coefficient measuring method and measuring apparatus for a dimension reference device.

三次元測定機などの測定装置においては、検査のために寸法基準器が用いられる。
寸法基準器としては、端面寸法が高精度に校正された各種ブロックゲージが用いられるとともに、複数の長さに対応したステップゲージが用いられている。
ステップゲージは、凸部と凹部とが交互に配置される櫛歯状とされ、凸部の端面間に複数の基準寸法が得られる。このようなステップゲージは、凸部となる測定ブロックと凹部となる間隔ブロックとを交互に配列してホルダに固定することで製造されるほか、単一の部材から櫛歯状に削り出すことで製造される。
In a measuring apparatus such as a three-dimensional measuring machine, a dimension reference device is used for inspection.
As the dimension reference device, various block gauges whose end face dimensions are calibrated with high accuracy are used, and step gauges corresponding to a plurality of lengths are used.
The step gauge has a comb-like shape in which convex portions and concave portions are alternately arranged, and a plurality of reference dimensions are obtained between the end surfaces of the convex portions. Such a step gauge is manufactured by alternately arranging measurement blocks to be convex portions and interval blocks to be concave portions and fixing them to a holder, and by cutting out from a single member into a comb shape. Manufactured.

ステップゲージの端面間の距離の校正値は、特定の温度における長さとして提供され、多くの場合は工業標準温度の20℃における長さである。
三次元測定機の検査において、測定された長さは校正時の温度に換算して用いる必要がある。これを一般に、長さの温度補正と呼んでいる。この時、ステップゲージの線膨張係数を正確に知る必要がある。
The calibration value of the distance between the end faces of the step gauge is provided as a length at a specific temperature, often the length at the industry standard temperature at 20 ° C.
In the inspection of the CMM, the measured length must be converted into the temperature at the time of calibration. This is generally referred to as length temperature correction. At this time, it is necessary to accurately know the linear expansion coefficient of the step gauge.

ステップゲージを含め多くの寸法基準器は、校正証明書あるいは検査成績書に、温度補正に用いる線膨張係数が記載されている。このような線膨張係数は、それぞれ公差を伴って表示される。
三次元測定機の検査にステップゲージを用いる場合には、検査の不確かさを検討する上で、この公差を不確かさの要因として扱う。従って、検査における不確かさを低減する目的で、ステップゲージの線膨張係数を高精度に評価することが要求される。
Many dimensional reference devices including step gauges have a linear expansion coefficient used for temperature correction in a calibration certificate or inspection report. Such linear expansion coefficients are each displayed with a tolerance.
When a step gauge is used for inspection of a CMM, this tolerance is treated as an uncertainty factor in examining the inspection uncertainty. Therefore, it is required to evaluate the linear expansion coefficient of the step gauge with high accuracy in order to reduce the uncertainty in the inspection.

寸法基準器を含めて、物体の線膨張係数は、物体の温度を変化させ、その温度変化による物体の長さの変化量を測定することにより、求められる。
具体的に、線膨張係数αは、基準温度Toにおける物体の長さをLo、現在の温度Tにおける物体の長さをL、温度変化量ΔT=T−To、長さの変化量(熱膨張量)ΔL=L−Loとして、α=(ΔL/L)・(1/ΔT)によって与えられる。
The linear expansion coefficient of the object including the dimension reference device is obtained by changing the temperature of the object and measuring the amount of change in the length of the object due to the temperature change.
Specifically, the linear expansion coefficient α is defined as Lo for the length of the object at the reference temperature To, L for the length of the object at the current temperature T, the amount of temperature change ΔT = T−To, the amount of change in the length (thermal expansion). The quantity is given by α = (ΔL / L) · (1 / ΔT) as ΔL = L−Lo.

ステップゲージなど、寸法基準器では、物体の長さLの大きさは長さの変化量ΔLに対して10の5乗より大きい。このため、一般に、長さLの数値の正確性は、線膨張係数αの数値に対して影響が小さい。
従って、線膨張係数αを高精度に求めるためには、温度変化量ΔT及び長さの変化量ΔLを高精度に測定することが必要である。
In a dimension reference device such as a step gauge, the size of the length L of the object is larger than the fifth power of 10 with respect to the change amount ΔL of the length. For this reason, generally, the accuracy of the numerical value of the length L has little influence on the numerical value of the linear expansion coefficient α.
Therefore, in order to obtain the linear expansion coefficient α with high accuracy, it is necessary to measure the temperature change ΔT and the length change ΔL with high accuracy.

このような線膨張係数αの測定を行うために、光波干渉計を用いた測定方法が提案されている(特許文献1参照)。
特許文献1では、同じ測定軸線で対向する2組の光波干渉計を用い、ブロックゲージなどの被測定物の両端面間の長さを高精度に測定できるようにする。そして、温度制御手段により被測定物の温度を変化させ、異なる温度で長さ測定を行うことで、変温による熱膨張量を取得し、線膨張係数を計算する。
In order to measure such a linear expansion coefficient α, a measurement method using a light wave interferometer has been proposed (see Patent Document 1).
In Patent Document 1, two sets of light wave interferometers facing each other on the same measurement axis are used so that the length between both end faces of an object to be measured such as a block gauge can be measured with high accuracy. Then, the temperature of the object to be measured is changed by the temperature control means, the length is measured at different temperatures, the amount of thermal expansion due to the temperature change is acquired, and the linear expansion coefficient is calculated.

しかし、このような光波干渉計を用いた長さ測定では、光波干渉計が高価であるという問題がある。すなわち、光波干渉計自体が高価であるだけでなく、測定用の光の波長を補正するために空気の屈折率の算出が必要で、これには温度、湿度、気圧、二酸化炭素濃度といった環境の測定機も必要であり、システム全体として高価となるという問題がある。   However, the length measurement using such a light wave interferometer has a problem that the light wave interferometer is expensive. In other words, not only is the optical interferometer itself expensive, but also the calculation of the refractive index of air is necessary to correct the wavelength of the light for measurement, and this includes the environment such as temperature, humidity, atmospheric pressure, and carbon dioxide concentration. A measuring machine is also necessary, and there is a problem that the entire system becomes expensive.

また、光波干渉計を用いた長さ測定では、被測定物の両端面からの反射光を利用するため、測定する長さは測定対象の長さに限定される。つまり、ステップゲージのような櫛歯状の測定面をもつ基準器において、中間部分の凸部どうしの長さの測定には適用が難しいという問題がある。   Further, in the length measurement using the light wave interferometer, since the reflected light from both end faces of the object to be measured is used, the length to be measured is limited to the length of the measurement object. That is, there is a problem that it is difficult to apply to a reference device having a comb-like measurement surface such as a step gauge to measure the length of the convex portions of the intermediate portion.

このような問題に対し、三次元測定機を用いる方法(特許文献2参照)および挟み部と歪みゲージを用いる方法(特許文献3参照)が提案されている。   In order to solve such a problem, a method using a three-dimensional measuring machine (see Patent Document 2) and a method using a clip portion and a strain gauge (see Patent Document 3) have been proposed.

特許文献2の方法では、被測定物であるステップゲージを恒温槽内に配置し、外部の三次元測定機のプローブを恒温槽の開口部から導入し、このプローブによってステップゲージの長さを測定する。そして、恒温槽内の温度設定を変更し、異なる温度で長さ測定を行い、変温の前後の測定長さの差から熱膨張量を計算する。
このような三次元測定機を用いた長さ測定では、光波干渉計を用いる必要がなく、汎用の三次元測定機が使用できる環境であれば十分である。
また、三次元測定機を使用することで、ステップゲージの中間部分の凸部間の長さ測定も行うことができ、中間部分の熱膨張率の均一性についても測定することができる。
In the method of Patent Document 2, a step gauge as an object to be measured is placed in a thermostat, an external CMM probe is introduced from the opening of the thermostat, and the length of the step gauge is measured by this probe. To do. And the temperature setting in a thermostat is changed, length measurement is performed at different temperature, and the amount of thermal expansion is calculated from the difference in measurement length before and after temperature change.
In length measurement using such a three-dimensional measuring machine, it is not necessary to use a light wave interferometer, and an environment where a general-purpose three-dimensional measuring machine can be used is sufficient.
Moreover, by using a three-dimensional measuring machine, the length between the convex parts of the intermediate part of a step gauge can also be measured, and the uniformity of the thermal expansion coefficient of the intermediate part can also be measured.

特許文献3の方法では、ステップゲージの任意の凸部を挟む挟み部を用い、挟み部のステップゲージに接触するチップの一方に歪みゲージを設置しておき、長さ測定する一対の端面を挟み部で挟んだ状態で温度を変化させ、温度変化に伴う熱膨張を歪みゲージで直接検出する。
このような挟み部と歪みゲージを用いた熱膨張の測定では、光波干渉計を用いる必要がなく、挟み部と歪みゲージという簡単かつ安価な構成でよく、ステップゲージの中間部分の凸部間の長さ測定も行うことができる。
In the method of Patent Document 3, a sandwiching part sandwiching an arbitrary convex part of a step gauge is used, a strain gauge is installed on one of the chips that contacts the step gauge of the sandwiching part, and a pair of end faces for measuring the length are sandwiched between them. The temperature is changed while sandwiched between the parts, and the thermal expansion accompanying the temperature change is directly detected by a strain gauge.
In the measurement of thermal expansion using such a sandwiching portion and a strain gauge, it is not necessary to use a light wave interferometer, and a simple and inexpensive configuration of the sandwiching portion and the strain gauge may be used. Length measurements can also be made.

特許第3897655号公報Japanese Patent No. 3897655 特開2004−226369号公報JP 2004-226369 A 特開2005−83920号公報JP 2005-83920 A

ところで、ステップゲージなどの寸法基準器は、検査対象の三次元測定機のサイズに合わせて、様々な寸法のものが用いられる。例えば、ステップゲージの長いものでは、呼び寸法(公称長さ)が1.5mを超えるものもある。
前述した寸法基準器の線膨張係数αの測定は、このような長さLが大きな寸法基準器に対しても適用でき、かつ高精度に測定できることが要求される。
By the way, a dimensional reference device such as a step gauge is used in various dimensions according to the size of the CMM to be inspected. For example, a long step gauge may have a nominal dimension (nominal length) exceeding 1.5 m.
The above-described measurement of the linear expansion coefficient α of the dimension reference device is required to be applicable to such a dimension reference device having a large length L and to be measured with high accuracy.

しかし、前述した特許文献3の方法では、挟み部によって測定長さが固定され、中間部分の長さなど多様な測定ができないという問題がある。また、長尺のステップゲージに対しては、相応の大きさの挟み部を準備する必要があり、実施が制約される。
さらに、歪みゲージの出力にはノイズ成分が含まれるため、長さに変換された量からステップゲージの線膨張係数だけを抽出することが難しいという問題もある。
However, the method of Patent Document 3 described above has a problem that the measurement length is fixed by the sandwiching portion, and various measurements such as the length of the intermediate portion cannot be performed. In addition, for a long step gauge, it is necessary to prepare a pinch portion of an appropriate size, which restricts implementation.
Furthermore, since a noise component is included in the output of the strain gauge, there is a problem that it is difficult to extract only the linear expansion coefficient of the step gauge from the amount converted into the length.

これに対し、前述した特許文献2のように、長さ測定に三次元測定機を利用すれば、様々な長さの寸法基準器に対して、両端面間の長さおよび中間部分の凸部の端面間長さといった多様な測定に対応することができ、異なる温度での測定に基づいて線膨張係数の測定を行うことができる。   On the other hand, if a three-dimensional measuring machine is used for length measurement as in Patent Document 2 described above, the length between both end faces and the convex portion of the intermediate portion with respect to the dimensional reference device of various lengths. It is possible to cope with various measurements such as the length between the end faces of each other, and the linear expansion coefficient can be measured based on the measurement at different temperatures.

しかし、特許文献2の方法のように三次元測定機による長さ測定を用いる場合でも、前述した長さが1.5mを超える大きなステップゲージについては、精度低下などの問題が生じる可能性がある。
すなわち、三次元測定機には、その測定性能を示す指標として最大許容長さ測定誤差が用いられる。最大許容長さ測定誤差は、一般的に一次式で与えられ、測定長さに比例して大きくなる。このことは、測定する長さが大きくなるに従って、精度が低下することを意味する。このような理由で、長いステップゲージについては、線膨張係数を高精度に測定することが難しくなる。
However, even when length measurement by a three-dimensional measuring machine is used as in the method of Patent Document 2, there is a possibility that problems such as a decrease in accuracy may occur for the above-described large step gauge having a length exceeding 1.5 m. .
That is, the maximum allowable length measurement error is used as an index indicating the measurement performance of the coordinate measuring machine. The maximum allowable length measurement error is generally given by a linear expression and increases in proportion to the measurement length. This means that the accuracy decreases as the length to be measured increases. For this reason, it is difficult to measure the linear expansion coefficient with high accuracy for a long step gauge.

本発明の目的は、様々な長さの寸法基準器に対して、線膨張係数の測定を、高精度かつ安価に行える寸法基準器の線膨張係数測定方法および測定装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a linear expansion coefficient measuring method and a measuring apparatus for a linear reference coefficient that can measure the linear expansion coefficient with high accuracy and at low cost for various length reference instruments.

本発明の寸法基準器の線膨張係数測定方法は、寸法基準器を測定対象物として、前記測定対象物の延伸方向に離れた前記測定対象物の第1表面から第2表面までの部分の線膨張係数を測定する寸法基準器の線膨張係数測定方法であって、前記第1表面および前記第2表面に対応する第1基準表面および第2基準表面を有し、かつ前記第1基準表面から前記第2基準表面までの長さが既知である基準ゲージと、前記測定対象物および前記基準ゲージを収容可能、かつ内部温度を調整可能、かつ測定用表面に測定用開口を有する恒温槽と、前記恒温槽の内部に設置されて前記測定対象物を支持する測定対象物支持台と、前記恒温槽の内部に設置されて前記基準ゲージを支持する基準ゲージ支持台と、前記測定用開口から前記恒温槽の内部へ測定プローブを導入可能な三次元測定機と、を準備し、前記恒温槽の内部に、前記測定対象物および前記基準ゲージを平行に支持しておき、前記恒温槽の内部温度を第1温度とし、前記第1基準表面から前記第2基準表面までの長さを基準として、前記第1表面から前記第2表面までの長さを比較測定し、前記恒温槽の内部温度を第2温度とし、前記第1基準表面から前記第2基準表面までの長さを基準として、前記第1表面から前記第2表面までの長さを比較測定し、前記第1温度での前記第1表面から前記第2表面までの長さと前記第2温度での前記第1表面から前記第2表面までの長さとから前記測定対象物の線膨張係数を算出することを特徴とする。   The linear expansion coefficient measuring method of the dimension reference device according to the present invention uses the dimension reference device as a measurement object, and the line of the portion from the first surface to the second surface of the measurement object that is separated in the extending direction of the measurement object. A linear expansion coefficient measuring method for a dimension reference device for measuring an expansion coefficient, the first reference surface and the second reference surface corresponding to the first surface and the second surface, and from the first reference surface A reference gauge whose length to the second reference surface is known, a thermostatic chamber capable of accommodating the measurement object and the reference gauge, adjustable in internal temperature, and having a measurement opening on the measurement surface; A measurement object support that is installed inside the thermostat and supports the measurement object, a reference gauge support that is installed inside the thermostat and supports the reference gauge, and the measurement opening The measurement process inside the thermostat A coordinate measuring machine capable of introducing a probe, supporting the measurement object and the reference gauge in parallel inside the thermostat, and setting the internal temperature of the thermostat as the first temperature. The length from the first surface to the second surface is compared and measured based on the length from the first reference surface to the second reference surface, and the internal temperature of the thermostat is set to the second temperature, Using the length from the first reference surface to the second reference surface as a reference, the length from the first surface to the second surface is comparatively measured, and the first surface at the first temperature is A linear expansion coefficient of the measurement object is calculated from a length up to two surfaces and a length from the first surface to the second surface at the second temperature.

このような本発明では、三次元測定機を用いて測定対象物の長さ測定を行うので、高価な光波干渉計を用いることなく、様々な長さの寸法基準器の線膨張係数を、高精度に測定することができる。
この際、第1表面から第2表面までの長さを測定対象物の長さとして測定することができる。このため、測定対象物の両端面を第1表面および第2表面とすることで、測定対象物の長さおよびその間の線膨張係数を測定できる。また、第1表面および第2表面を測定対象物の中間部分の凸部の端面などに設定することで、この中間部分の長さおよび線膨張係数を測定することもできる。
In the present invention, since the length of the measurement object is measured using a three-dimensional measuring machine, the linear expansion coefficient of the dimensional reference device having various lengths can be increased without using an expensive optical interferometer. It can be measured with high accuracy.
At this time, the length from the first surface to the second surface can be measured as the length of the measurement object. For this reason, the length of a measuring object and the linear expansion coefficient between them can be measured by making the both end surfaces of a measuring object into the 1st surface and the 2nd surface. Moreover, the length and linear expansion coefficient of this intermediate part can also be measured by setting the 1st surface and the 2nd surface to the end surface of the convex part of the intermediate part of a measuring object.

さらに、本発明では、三次元測定機を用いて測定対象物の長さを測定する際に、長さの基準として基準ゲージを用い、この基準ゲージに対する長さの比較測定を行う。このため、長さ測定の結果は、三次元測定機のスケールの精度に依存せず、専ら基準ゲージの精度に依存することになり、測定対象物が長尺化しても高精度を確保できる。   Furthermore, in this invention, when measuring the length of a measuring object using a three-dimensional measuring machine, a reference gauge is used as a reference for the length, and a comparative measurement of the length with respect to this reference gauge is performed. For this reason, the result of the length measurement does not depend on the accuracy of the scale of the coordinate measuring machine, but exclusively depends on the accuracy of the reference gauge, and high accuracy can be ensured even if the measuring object is elongated.

すなわち、本発明では、長さの比較測定において、測定対象物が短尺である場合には、これに応じた短尺の基準ゲージを用い、測定対象物が長尺である場合には、これに応じた長尺の基準ゲージを用いる。
そして、三次元測定機により、基準ゲージの長さ(第1基準表面と第2基準表面との距離)および測定対象物の長さ(第1表面と第2表面との距離)を測定し、基準ゲージの測定長さと測定対象物の測定長さとの差を、基準ゲージについて既知である基準長さに加算し、これにより測定対象物の長さを算出する。
つまり、三次元測定機は、基準ゲージの測定長さと測定対象物の測定長さとの差、具体的には第1表面と第1基準表面との距離と、第2表面と第2基準表面との距離とを測定できればよい。
このため、本発明では、長さの比較測定において、測定対象物が長尺であっても、三次元測定機の測定性能である最大許容長さ測定誤差に影響されることがない。
That is, in the present invention, in the comparative measurement of length, when the measurement object is short, a short reference gauge corresponding to the measurement object is used, and when the measurement object is long, according to this. Use a long reference gauge.
Then, the length of the reference gauge (distance between the first reference surface and the second reference surface) and the length of the measurement object (distance between the first surface and the second surface) are measured by a three-dimensional measuring machine, The difference between the measurement length of the reference gauge and the measurement length of the measurement object is added to the reference length known for the reference gauge, thereby calculating the length of the measurement object.
That is, the CMM measures the difference between the measurement length of the reference gauge and the measurement length of the measurement object, specifically the distance between the first surface and the first reference surface, and the second surface and the second reference surface. It is only necessary to measure the distance.
For this reason, in the present invention, even if the measurement object is long in the comparative measurement of length, it is not affected by the maximum allowable length measurement error which is the measurement performance of the coordinate measuring machine.

以上により、本発明の寸法基準器の線膨張係数測定方法によれば、様々な長さの寸法基準器の線膨張係数の測定を、高精度かつ安価に行うことができる。   As described above, according to the method for measuring the linear expansion coefficient of the dimension reference device of the present invention, the measurement of the linear expansion coefficient of the dimension reference device of various lengths can be performed with high accuracy and at low cost.

本発明の寸法基準器の線膨張係数測定方法において、前記比較測定を行う際に、前記第1基準表面、前記第2基準表面、前記第1表面および前記第2表面の中心座標の計算と、前記基準ゲージおよび前記測定対象物の前記延伸方向に対する傾きの計算と、を含む座標系決定を行うことが望ましい。   In the linear expansion coefficient measuring method of the dimension reference device of the present invention, when performing the comparative measurement, calculation of center coordinates of the first reference surface, the second reference surface, the first surface, and the second surface; It is desirable to perform a coordinate system determination including calculation of an inclination of the reference gauge and the measurement object with respect to the extending direction.

このような本発明では、比較測定を行う際に、基準ゲージおよび測定対象物について、各々の長さ測定の基準となる座標系を決定することができる。
すなわち、基準ゲージの第1基準表面および第2基準表面、測定対象物の第1表面および第2表面が、延伸方向に対して傾いた状態であっても、各表面における三次元測定機の接触位置から中心座標までの距離と、各表面の傾きとから、三次元測定機による検出位置を補正することができる。
そして、基準ゲージおよび測定対象物の現在の状態に即して各々の座標系を決定し、その座標系のもとで長さ測定を行うことで精度を高めることができ、比較測定の精度を高く維持することができる。
In the present invention as described above, when performing comparative measurement, it is possible to determine a coordinate system serving as a reference for measuring each length of the reference gauge and the measurement object.
That is, even if the first reference surface and the second reference surface of the reference gauge and the first surface and the second surface of the measurement object are inclined with respect to the stretching direction, the contact of the CMM on each surface The detection position by the coordinate measuring machine can be corrected from the distance from the position to the center coordinate and the inclination of each surface.
Then, each coordinate system is determined according to the current state of the reference gauge and the object to be measured, and the accuracy can be improved by measuring the length under the coordinate system. Can be kept high.

本発明の寸法基準器の線膨張係数測定方法において、前記基準ゲージ支持台は、前記測定対象物の前記測定用開口に対向する側に前記基準ゲージを支持することが望ましい。
測定対象物の測定用開口に対向する側としては、例えば、測定対象物の上面側、あるいは側面側などとすることができる。
In the method for measuring a linear expansion coefficient of a dimension reference device according to the present invention, it is preferable that the reference gauge support base supports the reference gauge on a side of the measurement object facing the measurement opening.
The side of the measurement object that faces the measurement opening can be, for example, the upper surface side or the side surface side of the measurement object.

このような本発明では、測定対象物の測定対象部位である第1表面および第2表面が測定用開口側に配置され、同側に基準ゲージが配置されることで、比較対象の第1基準表面および第2基準表面を第1表面および第2表面に近接して配置することができ、測定精度の向上とともに測定動作の効率化、迅速化を図ることができる。   In the present invention as described above, the first surface and the second surface, which are the measurement target portions of the measurement object, are arranged on the measurement opening side, and the reference gauge is arranged on the same side, whereby the first reference of the comparison target The surface and the second reference surface can be arranged close to the first surface and the second surface, and the measurement accuracy can be improved and the measurement operation can be made more efficient and faster.

本発明の寸法基準器の線膨張係数測定方法において、前記基準ゲージは、前記延伸方向の長さが、前記測定対象物よりも所定長さ短いことが望ましい。
所定長さとしては、測定対象物の測定用開口側の表面であって第1表面または第2表面に最寄りの表面に、三次元測定機のプローブが接触することができる広さが確保できる程度の長さであればよい。例えば、測定対象物として複数の凸部を有するステップゲージを用いる場合、基準ゲージはステップゲージの長さよりも凸部の1個分だけ短いものとすればよい。
In the method for measuring a linear expansion coefficient of a dimension reference device according to the present invention, it is desirable that the reference gauge has a length in the extension direction shorter than the measurement object by a predetermined length.
The predetermined length is such that the area on the measurement opening side of the measurement object that can be contacted by the probe of the coordinate measuring machine is close to the first surface or the second surface. Any length is acceptable. For example, when a step gauge having a plurality of convex portions is used as the measurement object, the reference gauge may be shorter than the length of the step gauge by one convex portion.

このような本発明では、測定対象物の測定用開口側に基準ゲージが配置されるため、測定対象物の測定用開口側の表面が基準ゲージで覆われる。しかし、測定対象物の端部近傍では、基準ゲージの長さが短い分、表面が測定用開口側に露出する。
従って、前述した座標系決定において、三次元測定機のプローブを、測定対象物の端部の露出した表面に接触させることで、基準ゲージと干渉することなく表面の検出を行うことができる。
In this invention, since the reference gauge is arranged on the measurement opening side of the measurement object, the surface of the measurement object on the measurement opening side is covered with the reference gauge. However, in the vicinity of the end portion of the measurement object, the surface is exposed to the measurement opening side because the length of the reference gauge is short.
Therefore, in the coordinate system determination described above, the surface can be detected without interfering with the reference gauge by bringing the probe of the coordinate measuring machine into contact with the exposed surface of the end of the measurement object.

本発明の寸法基準器の線膨張係数測定方法において、前記比較測定を行う際に、前記第1基準表面と前記第1表面とを同一平面内に配置、または、前記第2基準表面と前記第2表面とを同一平面内に配置することが望ましい。   In the method for measuring a linear expansion coefficient of a dimensional reference device according to the present invention, when the comparative measurement is performed, the first reference surface and the first surface are arranged in the same plane, or the second reference surface and the first surface are measured. It is desirable to arrange the two surfaces in the same plane.

このような本発明では、前述のように基準ゲージを測定対象物よりも所定長さ短くした際に、同一平面とした側とは反対側の端部で、基準ゲージと測定対象物との長さの差が最大となり、三次元測定機のプローブによる表面検出を行う際の余裕を最大にすることができる。   In the present invention, when the reference gauge is made shorter than the measurement object by a predetermined length as described above, the length of the reference gauge and the measurement object at the end opposite to the same plane side. The difference in height is maximized, and the margin when performing surface detection by the probe of the coordinate measuring machine can be maximized.

本発明の寸法基準器の線膨張係数測定方法において、前記測定対象物支持台は、測定対象物第1支持台および測定対象物第2支持台を含み、前記測定対象物第1支持台および前記測定対象物第2支持台は、それぞれ前記延伸方向に交差する2方向の前記測定対象物の変位を規制しかつ前記延伸方向に交差する2方向を中心軸とした前記測定対象物の回動を許容し、前記測定対象物第1支持台および前記測定対象物第2支持台のいずれか一方が前記延伸方向の前記測定対象物の変位を規制しかついずれか他方が前記延伸方向の前記測定対象物の変位を許容し、前記測定対象物第1支持台および前記測定対象物第2支持台のいずれか一方が前記延伸方向を中心軸とした前記測定対象物の回動を規制しかついずれか他方が前記延伸方向を中心軸とした前記測定対象物の回動を許容するとともに、前記基準ゲージ支持台は、基準ゲージ第1支持台および基準ゲージ第2支持台を含み、前記基準ゲージ第1支持台および前記基準ゲージ第2支持台は、それぞれ前記延伸方向に交差する2方向の前記基準ゲージの変位を規制しかつ前記延伸方向に交差する2方向を中心軸とした前記基準ゲージの回動を許容し、前記基準ゲージ第1支持台および前記基準ゲージ第2支持台のいずれか一方が前記延伸方向の前記基準ゲージの変位を規制しかついずれか他方が前記延伸方向の前記基準ゲージの変位を許容し、前記基準ゲージ第1支持台および前記基準ゲージ第2支持台のいずれか一方が前記延伸方向を中心軸とした前記基準ゲージの回動を規制しかついずれか他方が前記延伸方向を中心軸とした前記基準ゲージの回動を許容することが望ましい。   In the method for measuring a linear expansion coefficient of a dimensional reference device according to the present invention, the measurement object support base includes a measurement object first support base and a measurement object second support base, and the measurement object first support base and the measurement target object support base The measurement object second support base regulates the displacement of the measurement object in two directions intersecting with the extending direction and rotates the measurement object with the two directions intersecting the extending direction as a central axis. Allow, one of the measurement object first support base and the measurement object second support base regulates the displacement of the measurement object in the stretching direction, and the other is the measurement object in the stretching direction One of the measurement object first support base and the measurement object second support base regulates rotation of the measurement object with the extending direction as a central axis, and either The other is centered on the stretching direction The measurement object is allowed to rotate, and the reference gauge support base includes a reference gauge first support base and a reference gauge second support base, and the reference gauge first support base and the reference gauge second support base. Restricts the displacement of the reference gauge in two directions intersecting the extending direction, and allows the reference gauge to rotate about the two directions intersecting the extending direction as a central axis. One of the base and the second support base of the reference gauge regulates the displacement of the reference gauge in the extending direction and the other allows the displacement of the reference gauge in the extending direction, and the first support of the reference gauge Either the base or the second reference gauge second support base regulates the rotation of the reference gauge with the extending direction as the central axis, and the other has the extending direction as the central axis. It is desirable to permit rotation of the quasi-gauge.

このような本発明では、測定対象物および基準ゲージを、各々の延伸方向の変位に対して、第1および第2の支持体の一方では変位を規制(位置決め)しつつ、他方で変位を許容することで、測定対象物および基準ゲージの延伸方向の長さの比較測定を正確に行うことができる。さらに、第1および第2の支持体のいずれか一方で延伸方向を中心軸とした回動を規制しつつ、他の軸まわりの回動を許容することで、測定対象物および基準ゲージに曲げ変形などが生じても、これを許容することができる。
本発明では、このような測定対象物支持台および基準ゲージ支持台により、測定対象物および基準ゲージの自由な膨張、姿勢変動に対応できるとともに、測定対象物および基準ゲージを、各々の延伸方向が互いに平行な所期の状態に維持することができる。
In the present invention as described above, the measurement object and the reference gauge are regulated (positioned) on one side of the first and second supports with respect to the displacement in the extending direction, and the displacement is allowed on the other side. By doing so, the comparative measurement of the length of the measuring object and the reference gauge in the extending direction can be accurately performed. Further, either one of the first and second supports is bent to the measurement object and the reference gauge by restricting the rotation about the extending direction as the central axis and allowing the rotation around the other axis. Even if deformation occurs, this can be allowed.
In the present invention, such a measurement object support base and a reference gauge support base can cope with free expansion and change in posture of the measurement object and the reference gauge, and the measurement object and the reference gauge can be extended in each extending direction. It is possible to maintain the desired state parallel to each other.

本発明の寸法基準器の線膨張係数測定方法において、前記測定対象物第1支持台は、前記測定対象物の底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部、V溝と球との接触部のうちいずれか1つまたは2つを有し、前記測定対象物第2支持台は、前記測定対象物の底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部、V溝と球との接触部のうち前記測定対象物第1支持台にない接触部を有することが望ましい。   In the method for measuring a linear expansion coefficient of a dimensional reference device according to the present invention, the first object to be measured is between a contact portion between a conical hole and a sphere and a contact between a plane and the sphere between the bottom surface of the measurement object. Any one or two of the contact portions between the V-groove and the sphere, and the measurement object second support base is between the conical hole and the sphere between the bottom surface of the measurement object. It is desirable to have a contact portion that is not on the first object support base among the contact portion, the contact portion between the flat surface and the sphere, and the contact portion between the V groove and the sphere.

このような本発明では、測定対象物第1支持台および測定対象物第2支持台を含む測定対象物支持台は、測定対象物の底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部、V溝と球との接触部の3点を有するキネマティックマウントを構成することができ、延伸方向およびその交差方向に対する前述した変位規制および回動規制を適切に行うことができる。   In the present invention, the measurement object support base including the measurement object first support base and the measurement object second support base is a contact portion between the conical hole and the sphere between the bottom surface of the measurement object, A kinematic mount having three points, that is, a contact portion between a plane and a sphere and a contact portion between a V groove and a sphere, can be configured, and the above-described displacement restriction and rotation restriction with respect to the extending direction and the intersecting direction are appropriately performed. be able to.

本発明の寸法基準器の線膨張係数測定方法において、前記測定対象物第1支持台は、前記測定対象物の底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部のうちいずれか1つを有し、前記測定対象物第2支持台は、前記測定対象物の底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部のうち前記測定対象物第1支持台にない接触部を有し、前記測定対象物第1支持台または前記測定対象物第2支持台のいずれかは、前記測定対象物の一方の側面と球との接触部と、前記測定対象物の側面を前記球に押圧する押圧手段とを有することが望ましい。   In the method for measuring a linear expansion coefficient of a dimensional reference device according to the present invention, the first object to be measured is between a contact portion between a conical hole and a sphere and a contact between a plane and the sphere between the bottom surface of the measurement object. The measurement object second support base is between the contact portion between the conical hole and the sphere and the contact portion between the plane and the sphere between the bottom surface of the measurement object. The measurement object has a contact portion that is not on the first support base, and either the measurement object first support base or the measurement target object second support base is formed between one side surface of the measurement target object and a sphere. It is desirable to have a contact part and a pressing means for pressing the side surface of the measurement object against the sphere.

このような本発明では、測定対象物第1支持台または測定対象物第2支持台のいずれかにおいて、測定対象物の側面との接触部と押圧手段との組み合わせが、延伸方向の変位を許容しつつ延伸方向に交差する2方向の変位を規制するため、測定対象物の底面に形成されるV溝と球との組み合わせに相当する機能をはたすことになる。その結果、測定対象物第1支持台および測定対象物第2支持台において、前述したキネマティックマウントに相当する機能を得ることができ、延伸方向およびその交差方向に対する前述した変位規制および回動規制を適切に行うことができる。   In such a present invention, in either the measurement object first support base or the measurement object second support base, the combination of the contact portion with the side surface of the measurement object and the pressing means allows displacement in the stretching direction. However, in order to restrict the displacement in the two directions intersecting the stretching direction, a function corresponding to a combination of a V groove and a sphere formed on the bottom surface of the measurement object is performed. As a result, in the measurement object first support base and the measurement object second support base, a function corresponding to the kinematic mount described above can be obtained, and the displacement restriction and rotation restriction described above with respect to the extending direction and the crossing direction thereof. Can be performed appropriately.

本発明の寸法基準器の線膨張係数測定方法において、前記基準ゲージ第1支持台は、前記基準ゲージの底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部、V溝と球との接触部のうちいずれか1つまたは2つを有し、前記基準ゲージ第2支持台は、前記基準ゲージの底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部、V溝と球との接触部のうち前記基準ゲージ第1支持台にない接触部を有することが望ましい。   In the method for measuring a linear expansion coefficient of a dimensional reference device according to the present invention, the reference gauge first support is between a contact portion between a conical hole and a sphere, a contact portion between a plane and a sphere, between the bottom surface of the reference gauge, Any one or two of the contact portions between the V-groove and the sphere are provided, and the reference gauge second support is between the bottom surface of the reference gauge and the contact portion between the conical hole and the sphere, a flat surface. It is desirable to have a contact portion that is not in the reference gauge first support among the contact portion between the sphere and the sphere and the contact portion between the V groove and the sphere.

このような本発明では、基準ゲージ第1支持台および基準ゲージ第2支持台を含む基準ゲージ支持台は、基準ゲージの底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部、V溝と球との接触部の3点を有するキネマティックマウントを構成することができ、延伸方向およびその交差方向に対する前述した変位規制および回動規制を適切に行うことができる。   In the present invention as described above, the reference gauge support base including the reference gauge first support base and the reference gauge second support base includes a contact portion between the conical hole and the sphere, a plane and the sphere between the bottom face of the reference gauge. The kinematic mount having the three contact points, that is, the contact portion between the V groove and the sphere, can be configured, and the above-described displacement restriction and rotation restriction with respect to the extending direction and the crossing direction can be appropriately performed.

本発明の寸法基準器の線膨張係数測定方法において、前記基準ゲージ第1支持台は、前記基準ゲージの底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部のうちいずれか1つを有し、前記基準ゲージ第2支持台は、前記基準ゲージの底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部のうち前記基準ゲージ第1支持台にない接触部を有し、前記基準ゲージ第1支持台または前記基準ゲージ第2支持台のいずれかは、前記基準ゲージの一方の側面と球との接触部と、前記基準ゲージの側面を前記球に押圧する押圧手段とを有することが望ましい。   In the method of measuring a linear expansion coefficient of a dimensional reference device according to the present invention, the reference gauge first support base has a conical hole-sphere contact portion, a plane-sphere contact portion, and a bottom surface of the reference gauge. The reference gauge second support is between the bottom surface of the reference gauge and the reference gauge second of the contact portion between the conical hole and the sphere and the contact portion between the plane and the sphere. 1 has a contact portion not on the support base, and either the reference gauge first support base or the reference gauge second support base has a contact portion between one side surface of the reference gauge and a sphere, and the reference gauge It is desirable to have a pressing means for pressing the side surface against the sphere.

このような本発明では、基準ゲージ第1支持台または基準ゲージ第2支持台のいずれかにおいて、基準ゲージの側面と押圧手段との組み合わせが、延伸方向の変位を許容しつつ延伸方向に交差する2方向の変位を規制するため、基準ゲージの底面に形成されるV溝と球との組み合わせに相当する機能をはたすことになる。その結果、基準ゲージ第1支持台および基準ゲージ第2支持台において、前述したキネマティックマウントに相当する機能を得ることができ、延伸方向およびその交差方向に対する前述した変位規制および回動規制を適切に行うことができる。   In such a present invention, in either the reference gauge first support base or the reference gauge second support base, the combination of the side face of the reference gauge and the pressing means intersects the extending direction while allowing displacement in the extending direction. In order to regulate displacement in two directions, a function corresponding to a combination of a V groove and a sphere formed on the bottom surface of the reference gauge is performed. As a result, in the reference gauge first support base and the reference gauge second support base, a function equivalent to the kinematic mount described above can be obtained, and the displacement restriction and rotation restriction described above with respect to the extending direction and the crossing direction are appropriately performed. Can be done.

本発明の寸法基準器の線膨張係数測定方法において、前記基準ゲージに装着されて前記基準ゲージ支持台に支持される支持アダプタ、または、前記測定対象物に装着されて前記測定対象物支持台に支持される支持アダプタを用いることが望ましい。   In the method for measuring a linear expansion coefficient of a dimensional reference device according to the present invention, a support adapter that is attached to the reference gauge and supported by the reference gauge support base, or a support adapter that is attached to the measurement object and attached to the measurement object support base. It is desirable to use a supported adapter that is supported.

このような本発明では、前述したキネマティックマウントなどによる支持を行う場合でも、支持アダプタに円錐穴やV溝などを形成すればよく、基準ゲージまたは測定対象物に直接形成する必要がなく、実施を容易にすることができる。   In the present invention, even when the above-described kinematic mount or the like is supported, it is only necessary to form a conical hole or a V-groove in the support adapter, and it is not necessary to form directly on the reference gauge or the measurement object. Can be made easier.

本発明の寸法基準器の線膨張係数測定方法において、前記基準ゲージを下向きに与圧する与圧手段を有することが望ましい。   In the method for measuring a linear expansion coefficient of a dimensional reference device according to the present invention, it is desirable to have pressurizing means for pressurizing the reference gauge downward.

このような本発明では、基準ゲージが軽量である場合でも、下向きに与圧することで、基準ゲージ支持台による支持を安定して行うことができる。
なお、測定対象物は一般に基準ゲージよりも重量が大きく、与圧は特に必要がない。ただし、測定対象物が軽量な場合には、同様な与圧を行ってもよい。
In the present invention as described above, even when the reference gauge is light, it is possible to stably support the reference gauge support by applying pressure downward.
Note that the measurement object generally has a larger weight than the reference gauge, and no pressurization is required. However, when the measurement object is light, similar pressurization may be performed.

本発明において、前記基準ゲージは、前記第1温度と前記第2温度との間の温度変化では精度上膨張を無視しうる極低膨張係数ないしゼロ膨張係数の材質から製造されたもの、または、膨張係数が既知である材質から製造されたもの、のいずれかであることが望ましい。   In the present invention, the reference gauge is manufactured from a material having an extremely low expansion coefficient or a zero expansion coefficient that can be accurately ignored in the temperature change between the first temperature and the second temperature, or It is desirable that the material is manufactured from a material having a known expansion coefficient.

このような本発明では、基準ゲージが、極低膨張係数ないしゼロ膨張係数の材質から製造されている場合、第1温度と第2温度との間での基準ゲージの長さの温度補正を省略することができる。一方、基準ゲージが、膨張係数が既知である材質から製造されている場合、第1温度および第2温度において、温度補正により各温度における高精度な基準ゲージの長さを計算することができる。いずれの場合も、各温度における基準ゲージ長さを正確にできるので、第1温度での比較測定と第2温度での比較測定とを高精度に行うことができる。
なお、このような基準ゲージとしては、高精度が確保された既存のブロックゲージが利用できる。
In the present invention, when the reference gauge is manufactured from a material having an extremely low expansion coefficient or zero expansion coefficient, temperature correction of the length of the reference gauge between the first temperature and the second temperature is omitted. can do. On the other hand, when the reference gauge is manufactured from a material having a known expansion coefficient, the length of the reference gauge with high accuracy at each temperature can be calculated by temperature correction at the first temperature and the second temperature. In any case, since the reference gauge length at each temperature can be made accurate, the comparative measurement at the first temperature and the comparative measurement at the second temperature can be performed with high accuracy.
As such a reference gauge, an existing block gauge with high accuracy can be used.

本発明の寸法基準器の線膨張係数測定装置は、寸法基準器を測定対象物として、前記測定対象物の延伸方向に離れた前記測定対象物の第1表面から第2表面までの部分の線膨張係数を測定する寸法基準器の線膨張係数測定装置であって、前記第1表面および前記第2表面に対応する第1基準表面および第2基準表面を有し、かつ前記第1基準表面から前記第2基準表面までの長さが既知である基準ゲージと、前記測定対象物および前記基準ゲージを収容可能、かつ内部温度を調整可能、かつ測定用表面に測定用開口を有する恒温槽と、前記恒温槽の内部に設置されて前記測定対象物を支持する測定対象物支持台と、前記恒温槽の内部に設置されて前記基準ゲージを支持する基準ゲージ支持台と、前記測定用開口から前記恒温槽の内部へ測定プローブを導入可能な三次元測定機と、を有することを特徴とする。   The linear expansion coefficient measuring apparatus for a dimensional reference device according to the present invention uses a dimensional reference device as a measurement object, and is a line of a portion from the first surface to the second surface of the measurement object that is separated in the extending direction of the measurement object. A linear expansion coefficient measuring device for a dimensional reference device for measuring an expansion coefficient, comprising a first reference surface and a second reference surface corresponding to the first surface and the second surface, and from the first reference surface A reference gauge whose length to the second reference surface is known, a thermostatic chamber capable of accommodating the measurement object and the reference gauge, adjustable in internal temperature, and having a measurement opening on the measurement surface; A measurement object support that is installed inside the thermostat and supports the measurement object, a reference gauge support that is installed inside the thermostat and supports the reference gauge, and the measurement opening The measurement process inside the thermostat It characterized by having a a coordinate measuring machine capable of introducing over drive.

このような本発明では、前述した本発明の寸法基準器の線膨張係数測定方法で説明した通りの手順により、同様な作用効果を得ることができる。   In the present invention as described above, a similar effect can be obtained by the procedure as described in the method for measuring the linear expansion coefficient of the dimension reference device of the present invention described above.

本発明によれば、様々な長さの寸法基準器に対して、線膨張係数の測定を、高精度かつ安価に行える寸法基準器の線膨張係数測定方法および測定装置を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the linear expansion coefficient measuring method and measuring apparatus of a dimension reference device which can measure a linear expansion coefficient with high precision and low cost with respect to the dimension reference device of various length can be provided.

本発明の第1実施形態の測定装置を示す斜視図。The perspective view which shows the measuring apparatus of 1st Embodiment of this invention. 前記第1実施形態の測定対象物であるステップゲージを示す斜視図。The perspective view which shows the step gauge which is a measuring object of the said 1st Embodiment. 前記第1実施形態の基準ゲージである基準ブロックゲージを示す斜視図。The perspective view which shows the reference | standard block gauge which is the reference | standard gauge of the said 1st Embodiment. 前記第1実施形態の恒温槽、ステップゲージおよび基準ブロックゲージの配置を示す斜視図。The perspective view which shows arrangement | positioning of the thermostat of the said 1st Embodiment, a step gauge, and a reference | standard block gauge. 前記第1実施形態の測定対象物第1支持台を示す側面図。The side view which shows the measurement object 1st support stand of the said 1st Embodiment. 前記第1実施形態の測定対象物第2支持台を示す側面図。The side view which shows the measurement object 2nd support stand of the said 1st Embodiment. 前記第1実施形態の基準ゲージ第1支持台を示す側面図。The side view which shows the reference | standard gauge 1st support stand of the said 1st Embodiment. 前記第1実施形態の基準ゲージ第2支持台を示す側面図。The side view which shows the reference gauge 2nd support stand of the said 1st Embodiment. 前記第1実施形態の基準ブロックゲージの底面側を示す斜視図。The perspective view which shows the bottom face side of the reference | standard block gauge of the said 1st Embodiment. 前記第1実施形態の測定手順を示すフローチャート。The flowchart which shows the measurement procedure of the said 1st Embodiment. 前記第1実施形態の設置状態を示す側面図。The side view which shows the installation state of the said 1st Embodiment. 前記第1実施形態の測定動作を示す斜視図。The perspective view which shows the measurement operation | movement of the said 1st Embodiment. 本発明の第2実施形態の支持アダプタを示す斜視図。The perspective view which shows the support adapter of 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態の恒温槽を示す斜視図。The perspective view which shows the thermostat of 3rd Embodiment of this invention. 前記第3実施形態の恒温槽、ステップゲージおよび基準ブロックゲージの配置を示す斜視図。The perspective view which shows arrangement | positioning of the thermostat of the said 3rd Embodiment, a step gauge, and a reference | standard block gauge. 本発明の第4実施形態の測定対象物第1支持台を示す側面図。The side view which shows the measurement object 1st support stand of 4th Embodiment of this invention. 前記第4実施形態の測定対象物第2支持台を示す側面図。The side view which shows the measurement object 2nd support stand of the said 4th Embodiment. 本発明の第5実施形態の基準ゲージ第1支持台を示す側面図。The side view which shows the reference | standard gauge 1st support stand of 5th Embodiment of this invention. 前記第5実施形態の基準ゲージ第2支持台を示す側面図。The side view which shows the reference gauge 2nd support stand of the said 5th Embodiment.

以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
〔第1実施形態〕
図1において、本実施形態の線膨張係数測定装置1は、寸法基準器であるステップゲージ10を測定対象物とし、その線膨張係数を高精度に測定するものである。
このために、線膨張係数測定装置1は、ステップゲージ10を収容して所定温度に維持する恒温槽30と、同じく恒温槽30に収容される基準ゲージとしての基準ブロックゲージ20と、基準ブロックゲージ20を基準としてステップゲージ10の長さを比較測定する三次元測定機40と、を備えている。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[First Embodiment]
In FIG. 1, a linear expansion coefficient measuring apparatus 1 according to this embodiment uses a step gauge 10 as a dimension reference device as a measurement object, and measures the linear expansion coefficient with high accuracy.
For this purpose, the linear expansion coefficient measuring apparatus 1 includes a thermostat 30 that houses the step gauge 10 and maintains the step gauge 10, a reference block gauge 20 as a reference gauge that is also housed in the thermostat 30, and a reference block gauge And a three-dimensional measuring machine 40 for comparing and measuring the length of the step gauge 10 with reference to 20.

三次元測定機40は、定盤41を有し、その上面にはコラム42およびクロスバー43によりヘッド44が支持されている。ヘッド44には下方へ延びるラム45が設置され、その先端にはプローブ46が支持されている。
三次元測定機40は、コラム42が定盤41に対してY軸方向に移動自在とされ、ヘッド44がクロスバー43に対してX軸方向に移動自在とされ、ラム45がヘッド44に対してZ軸方向に移動自在とされている。これらの3軸移動により、プローブ46を定盤41に対して三次元移動させることができる。
The three-dimensional measuring machine 40 has a surface plate 41, and a head 44 is supported on the upper surface thereof by a column 42 and a cross bar 43. The head 44 is provided with a ram 45 extending downward, and a probe 46 is supported at the tip thereof.
In the coordinate measuring machine 40, the column 42 is movable in the Y-axis direction with respect to the surface plate 41, the head 44 is movable in the X-axis direction with respect to the cross bar 43, and the ram 45 is moved with respect to the head 44. Thus, it is movable in the Z-axis direction. By these three-axis movements, the probe 46 can be three-dimensionally moved with respect to the surface plate 41.

恒温槽30は、箱状の筐体内部の温度を所望の温度に維持可能な装置であり、定盤41の上面に載置され、その長手方向がY軸方向に沿うように固定されている。
恒温槽30は、上面側を開閉することで、内部にステップゲージ10および基準ブロックゲージ20を収容可能である。
恒温槽30の上面には、開閉式の蓋体を有する測定用開口31が複数形成されている。
The thermostat 30 is a device that can maintain the temperature inside the box-shaped housing at a desired temperature, is placed on the upper surface of the surface plate 41, and is fixed so that its longitudinal direction is along the Y-axis direction. .
The thermostatic chamber 30 can accommodate the step gauge 10 and the reference block gauge 20 inside by opening and closing the upper surface side.
A plurality of measurement openings 31 having an openable / closable lid are formed on the upper surface of the thermostat 30.

恒温槽30の内部において、ステップゲージ10は、その延伸方向LtがY軸方向に沿うように支持されている。また、基準ブロックゲージ20は、ステップゲージ10の上面側(ステップゲージ10の測定用開口31に対向する側)に配置され、その延伸方向LrがY軸方向に沿って、ステップゲージ10と互いに平行に支持されている。   Inside the thermostatic chamber 30, the step gauge 10 is supported so that the extending direction Lt is along the Y-axis direction. The reference block gauge 20 is disposed on the upper surface side of the step gauge 10 (side facing the measurement opening 31 of the step gauge 10), and the extending direction Lr thereof is parallel to the step gauge 10 along the Y-axis direction. It is supported by.

図2に示すように、測定対象物であるステップゲージ10は、延伸方向Ltに延びる角柱状の本体を有し、その上面、底面および各側面は延伸方向Ltに交差する2方向である高さ方向Htおよび幅方向Wtのいずれかに平行とされている。
ステップゲージ10の上面には、ブロックゲージ状の凸部13が複数、延伸方向Ltに配列されている。各凸部13の延伸方向Ltの長さはDp、各凸部13の間の凹部の延伸方向Ltの間隔はDcとされている。
本実施形態では、ステップゲージ10の一方の端部にある凸部13の表面を第1表面11とし、他方の端部にある凸部13の表面を第2表面12とし、これらの第1表面11と第2表面12との距離をステップゲージ10の長さDxとして測定する。
As shown in FIG. 2, the step gauge 10 as the measurement object has a prismatic main body extending in the extending direction Lt, and the upper surface, the bottom surface, and each side surface are two directions that intersect the extending direction Lt. It is parallel to either the direction Ht or the width direction Wt.
A plurality of block gauge-like convex portions 13 are arranged on the upper surface of the step gauge 10 in the extending direction Lt. The length of each protrusion 13 in the extending direction Lt is Dp, and the distance between the protrusions 13 in the extending direction Lt between the protrusions 13 is Dc.
In the present embodiment, the surface of the convex portion 13 at one end of the step gauge 10 is the first surface 11, and the surface of the convex portion 13 at the other end is the second surface 12, and these first surfaces 11 and the second surface 12 are measured as the length Dx of the step gauge 10.

図3に示すように、基準ゲージである基準ブロックゲージ20は、延伸方向Lrに延びるブロックゲージであり、その上面、底面および各側面は延伸方向Lrに交差する2方向である高さ方向Hrおよび幅方向Wrのいずれかに平行とされている。
基準ブロックゲージ20は、延伸方向Lrの両端にあたる一対の端面が第1基準表面21および第2基準表面22とされている。
As shown in FIG. 3, the reference block gauge 20 that is a reference gauge is a block gauge that extends in the extending direction Lr, and has an upper surface, a bottom surface, and each side surface in a height direction Hr that is two directions intersecting the extending direction Lr and It is parallel to one of the width directions Wr.
The reference block gauge 20 has a pair of end faces corresponding to both ends in the extending direction Lr as a first reference surface 21 and a second reference surface 22.

基準ブロックゲージ20は、第1基準表面21と第2基準表面22との距離つまり長さがDrxである。基準ブロックゲージ20は、測定対象物であるステップゲージ10における測定対象の長さDx(公称寸法、呼び寸法)に基づいて、長さDrxが長さDxよりも所定寸法(例えば凸部13の長さDp分)短い寸法となるものが選択されている。
基準ブロックゲージ20は、長さDrxが既知であるだけでなく、線膨張係数が高精度に既知であり、後述する第1温度t1での比較測定および第2温度t2での比較測定の際には、その線膨張係数から各温度t1,t2における長さDrxを高精度に計算することができる。
In the reference block gauge 20, the distance between the first reference surface 21 and the second reference surface 22, that is, the length is Drx. The reference block gauge 20 is based on the length Dx (nominal dimension, nominal dimension) of the measurement target in the step gauge 10 that is the measurement target, and the length Drx is a predetermined dimension (for example, the length of the convex portion 13) than the length Dx. (Dp)) A short dimension is selected.
The reference block gauge 20 not only has a known length Drx but also has a known linear expansion coefficient with high accuracy, and is used for comparative measurement at a first temperature t1 and comparative measurement at a second temperature t2, which will be described later. Can calculate the length Drx at each temperature t1, t2 with high accuracy from the linear expansion coefficient.

図4において、これらのステップゲージ10および基準ブロックゲージ20は、恒温槽30内に平行に設置される。
これらのステップゲージ10および基準ブロックゲージ20を支持するために、恒温槽30内には剛性の高い底板32が設置され、その上面には測定対象物支持台50および基準ゲージ支持台60が設置されている。
In FIG. 4, the step gauge 10 and the reference block gauge 20 are installed in parallel in the thermostatic bath 30.
In order to support the step gauge 10 and the reference block gauge 20, a highly rigid bottom plate 32 is installed in the thermostat 30, and a measurement object support base 50 and a reference gauge support base 60 are installed on the upper surface thereof. ing.

測定対象物支持台50は、第1表面11側の測定対象物第1支持台51と、第2表面12側の測定対象物第2支持台52とで構成されている。
基準ゲージ支持台60は、第1基準表面21側の基準ゲージ第1支持台61と、第2基準表面22側の基準ゲージ第2支持台62とで構成されている。
The measurement object support 50 includes a measurement object first support 51 on the first surface 11 side and a measurement object second support 52 on the second surface 12 side.
The reference gauge support 60 is composed of a reference gauge first support 61 on the first reference surface 21 side and a reference gauge second support 62 on the second reference surface 22 side.

〔測定対象物第1支持台51〕
図5において、測定対象物第1支持台51は、底板32に設置された基部511を有し、その両側縁に沿って起立部512,513が形成されている。ステップゲージ10は、起立部512,513の間の空間に収容され、基部511上に支持される。
基部511には、2組のボール514およびボールホルダ515が幅方向Wtに並べて設置されている。ボールホルダ515は、ボール514に転動する多数の支持ボールを有し、いわゆるフリーボールベアリングあるいはボールキャスタを形成している。
[Measurement Object First Support 51]
In FIG. 5, the measurement object first support base 51 has a base portion 511 installed on the bottom plate 32, and standing portions 512 and 513 are formed along both side edges. The step gauge 10 is accommodated in a space between the upright portions 512 and 513 and supported on the base portion 511.
On the base 511, two sets of balls 514 and a ball holder 515 are arranged side by side in the width direction Wt. The ball holder 515 has a large number of support balls that roll on the ball 514 and forms a so-called free ball bearing or ball caster.

ステップゲージ10の底面は2つのボール514に当接され、これらのボール514およびボールホルダ515により、測定対象物第1支持台51とステップゲージ10の底面との間には、平面と球との接触部502が形成されている。
そして、これら2組の接触部502により、ステップゲージ10の荷重が基部511、底板32を経て恒温槽30に支持されている。
The bottom surface of the step gauge 10 is brought into contact with two balls 514, and these balls 514 and the ball holder 515 allow a flat surface and a sphere to be interposed between the measurement object first support 51 and the bottom surface of the step gauge 10. A contact portion 502 is formed.
The load of the step gauge 10 is supported by the thermostat 30 through the base 511 and the bottom plate 32 by these two sets of contact portions 502.

接触部502においては、ステップゲージ10の底面とボール514とが転動することで、ステップゲージ10は延伸方向Ltおよび幅方向Wtに変位可能、かつ高さ方向Hおよび幅方向Wtを中心軸とした回転(ヨーイングおよびピッチング)が可能である。
ただし、ステップゲージ10の底面とボール514とは当接しており、高さ方向Htへの変位は規制されている。また、ボール514が2組であることで、延伸方向Ltを中心軸とした回転(ローリング)も規制されている。
In the contact portion 502, the bottom surface of the step gauge 10 and the ball 514 roll so that the step gauge 10 can be displaced in the extending direction Lt and the width direction Wt, and the height direction H and the width direction Wt are the central axes. Rotation (yawing and pitching) is possible.
However, the bottom surface of the step gauge 10 and the ball 514 are in contact with each other, and displacement in the height direction Ht is restricted. Further, since there are two pairs of balls 514, rotation (rolling) with the extending direction Lt as the central axis is also restricted.

起立部512とステップゲージ10の側面との間には、基部511との間の接触部502と同様なボール514およびボールホルダ515が設置され、これにより平面と球との接触部504が形成されている。
起立部513とステップゲージ10の側面との間には、基部511との間の接触部502と同様なボール514およびボールホルダ515が設置されている。さらに、ボールホルダ515と起立部513との間には圧縮コイルばね516が設置されている。これらのボール514、ボールホルダ515および圧縮コイルばね516により押圧手段505が形成されている。
Between the standing part 512 and the side surface of the step gauge 10, a ball 514 and a ball holder 515 similar to the contact part 502 between the base part 511 and the contact part 504 between the plane and the sphere are formed. ing.
A ball 514 and a ball holder 515 similar to the contact portion 502 between the upright portion 513 and the side surface of the step gauge 10 are installed. Further, a compression coil spring 516 is installed between the ball holder 515 and the upright portion 513. These balls 514, ball holder 515, and compression coil spring 516 form a pressing means 505.

ステップゲージ10は、押圧手段505により幅方向Wtに沿った押圧を受け、接触部504を介して起立部512に押し付けられ、幅方向Wtには変位を規制される。ただし、押圧手段505および接触部504はボール514を介してステップゲージ10の側面に接触するため、他の方向の変位を規制することはなく、各方向を中心軸とする回動を規制することもない。   The step gauge 10 is pressed along the width direction Wt by the pressing means 505, is pressed against the upright portion 512 via the contact portion 504, and the displacement is restricted in the width direction Wt. However, since the pressing means 505 and the contact portion 504 come into contact with the side surface of the step gauge 10 via the ball 514, the displacement in other directions is not restricted, and the rotation around each direction is restricted. Nor.

従って、測定対象物第1支持台51においては、2組の接触部502でステップゲージ10の荷重を支持しつつ、ステップゲージ10の高さ方向Htに沿った変位が規制されている。また、接触部504および押圧手段505により、ステップゲージ10の幅方向Wtに沿った変位も規制され、これによりステップゲージ10の延伸方向Ltの向きも確定される。
一方、測定対象物第1支持台51においては、延伸方向Ltの変位は許容され、ピッチングおよびヨーイングも許容されており、ステップゲージ10に熱変形が生じた際には延伸方向Ltの伸縮を許容することができる。
Therefore, in the measurement object first support base 51, the displacement along the height direction Ht of the step gauge 10 is regulated while the load of the step gauge 10 is supported by the two sets of contact portions 502. Further, the displacement along the width direction Wt of the step gauge 10 is also restricted by the contact portion 504 and the pressing means 505, thereby determining the direction of the step gauge 10 in the extending direction Lt.
On the other hand, in the measurement object first support base 51, displacement in the stretching direction Lt is allowed, pitching and yawing are allowed, and when the step gauge 10 is thermally deformed, expansion and contraction in the stretching direction Lt is allowed. can do.

〔測定対象物第2支持台52〕
図6において、測定対象物第2支持台52は、底板32に設置された基部521と、ステップゲージ10の下面が載置される支持部522とを有する。
基部521には、ボール524およびボールホルダ525が設置されている。ボールホルダ525は、ボール524に転動する多数の支持ボールを有し、いわゆるフリーボールベアリングあるいはボールキャスタを形成している。
[Measurement object second support base 52]
In FIG. 6, the measurement object second support base 52 includes a base portion 521 installed on the bottom plate 32 and a support portion 522 on which the lower surface of the step gauge 10 is placed.
A ball 524 and a ball holder 525 are installed on the base 521. The ball holder 525 has a large number of support balls that roll on the ball 524 and forms a so-called free ball bearing or ball caster.

支持部522の下面には、円錐穴529が形成され、ボール524は円錐穴529に嵌め込まれている。
これらの円錐穴529およびボール524により、円錐穴と球との接触部501が形成されている。
A conical hole 529 is formed on the lower surface of the support portion 522, and the ball 524 is fitted in the conical hole 529.
The conical hole 529 and the ball 524 form a contact portion 501 between the conical hole and the sphere.

従って、測定対象物第2支持台52においては、接触部501でステップゲージ10の荷重を支持しつつ、ステップゲージ10の高さ方向Htの変位、幅方向Wtの変位および延伸方向Ltの変位が全て規制されている。ただし、接触部501においては、ボール524を中心として、高さ方向Htを中心軸とした回転(ヨーイング)、幅方向Wtを中心軸とした回転(ピッチング)および延伸方向Ltを中心軸とした回転(ローリング)は全て許容されている。   Therefore, in the measurement object second support base 52, while the load of the step gauge 10 is supported by the contact portion 501, the displacement of the step gauge 10 in the height direction Ht, the displacement in the width direction Wt, and the displacement in the extending direction Lt. All are regulated. However, in the contact portion 501, rotation around the ball 524 with the height direction Ht as the central axis (yawing), rotation with the width direction Wt as the central axis (pitching), and rotation with the extending direction Lt as the central axis All (rolling) is allowed.

このように、ステップゲージ10は、測定対象物第1支持台51および測定対象物第2支持台52によって支持される。
これにより、ステップゲージ10は、測定対象物第1支持台51および測定対象物第2支持台52の各々において幅方向Wtの位置を規制され、延伸方向Ltが恒温槽30および三次元測定機40のY軸方向に揃うように支持される。
そして、測定対象物第2支持台52の接触部501において延伸方向Ltの位置を拘束されているが、測定対象物第1支持台51においては延伸方向Ltの変位が許容され、熱変形による伸縮は主に第1表面11側に現れる。
As described above, the step gauge 10 is supported by the measurement object first support base 51 and the measurement object second support base 52.
Thereby, the step gauge 10 is regulated in the position in the width direction Wt in each of the measurement object first support base 51 and the measurement object second support base 52, and the extending direction Lt is the thermostat 30 and the three-dimensional measuring machine 40. Are supported so as to be aligned in the Y-axis direction.
And although the position of the extending direction Lt is restrained in the contact part 501 of the measuring object 2nd support stand 52, in the measuring object 1st support stand 51, the displacement of the extending direction Lt is accept | permitted, and expansion-contraction by a thermal deformation is carried out. Appears mainly on the first surface 11 side.

〔基準ゲージ第1支持台61〕
図7において、基準ゲージ第1支持台61は、底板32の上方に配置される基部611と、基部611の下面に固定された支柱612とを有し、支柱612で底板32に支持されている。
基部611には、2組のボール614およびボールホルダ615が幅方向Wrに並べて設置されている。ボールホルダ515は、ボール514に転動する多数の支持ボールを有し、いわゆるフリーボールベアリングあるいはボールキャスタを形成している。
[Reference gauge first support 61]
In FIG. 7, the reference gauge first support base 61 includes a base 611 disposed above the bottom plate 32 and a column 612 fixed to the lower surface of the base 611, and is supported on the bottom plate 32 by the column 612. .
On the base 611, two sets of balls 614 and a ball holder 615 are installed side by side in the width direction Wr. The ball holder 515 has a large number of support balls that roll on the ball 514 and forms a so-called free ball bearing or ball caster.

2組のボール614およびボールホルダ615のうち、一方の組のボール614は、基準ブロックゲージ20の下面に当接され、これにより平面と球との接触部602が形成されている。
2組のボール614およびボールホルダ615のうち、他の組のボール614は、基準ブロックゲージ20の下面に形成された円錐穴619(図9参照)に嵌め込まれ、これにより円錐穴と球との接触部601が形成されている。
Of the two sets of balls 614 and the ball holder 615, one set of balls 614 is brought into contact with the lower surface of the reference block gauge 20, thereby forming a contact portion 602 between the plane and the sphere.
Of the two sets of balls 614 and the ball holder 615, the other set of balls 614 is fitted into a conical hole 619 (see FIG. 9) formed in the lower surface of the reference block gauge 20, thereby A contact portion 601 is formed.

従って、基準ゲージ第1支持台61においては、幅方向Wrに並んだ平面と球との接触部602および円錐穴と球との接触部601により、基準ブロックゲージ20の荷重が支持されるとともに、高さ方向Hrの変位、幅方向Wrの変位、延伸方向Lrの変位および延伸方向Lrを中心軸とした回転(ローリング)が規制され、高さ方向Hrを中心軸とした回転(ヨーイング)および幅方向Wrを中心軸とした回転(ピッチング)は許容されている。   Therefore, in the reference gauge first support base 61, the load of the reference block gauge 20 is supported by the contact portion 602 between the plane and the sphere aligned in the width direction Wr and the contact portion 601 between the conical hole and the sphere, Displacement in the height direction Hr, displacement in the width direction Wr, displacement in the stretching direction Lr, and rotation (rolling) with the stretching direction Lr as the central axis are restricted, and rotation (yawing) and width with the height direction Hr as the central axis Rotation (pitching) with the direction Wr as the central axis is allowed.

さらに、基部611には起立部610が形成され、起立部610と基準ブロックゲージ20の上面との間には、接触部602と同様なボール614およびボールホルダ615と、これらを基準ブロックゲージ20の上面に向けて付勢する圧縮コイルばね617とが設置され、これらにより基準ブロックゲージ20を下向きに与圧する与圧手段609が形成されている。
このような与圧手段609により、基準ゲージ第1支持台61においては、基準ブロックゲージ20の重量が小さい場合でも、下面側における接触部601,602の接触が確実に維持される。
Further, a standing portion 610 is formed in the base portion 611, and between the standing portion 610 and the upper surface of the reference block gauge 20, a ball 614 and a ball holder 615 similar to the contact portion 602, and these are connected to the reference block gauge 20. A compression coil spring 617 that is urged toward the upper surface is installed, thereby forming a pressurizing means 609 that pressurizes the reference block gauge 20 downward.
By such a pressurizing means 609, in the reference gauge first support base 61, even when the weight of the reference block gauge 20 is small, the contact of the contact portions 601 and 602 on the lower surface side is reliably maintained.

〔基準ゲージ第2支持台62〕
図8において、基準ゲージ第2支持台62は、基準ゲージ第1支持台61と同様な基部621、支柱622、起立部620を有する。そして、ボール624、ボールホルダ625および圧縮コイルばね627により、同様な与圧手段609が構成されている。
一方、基準ゲージ第2支持台62においては、基準ゲージ第1支持台61における平面と球との接触部602および円錐穴と球との接触部601に替えて、V溝と球との接触部603が構成されている。
[Reference gauge second support stand 62]
In FIG. 8, the reference gauge second support base 62 includes a base 621, a column 622, and an upright part 620 similar to the reference gauge first support base 61. The ball 624, the ball holder 625, and the compression coil spring 627 constitute a similar pressurizing unit 609.
On the other hand, in the reference gauge second support base 62, instead of the contact portion 602 between the plane and the sphere and the contact portion 601 between the conical hole and the sphere in the reference gauge first support base 61, a contact portion between the V groove and the sphere. 603 is configured.

基部621の上面には、ボール624およびボールホルダ625が設置されている。対向する基準ブロックゲージ20の下面には、延伸方向Lrに沿ってV溝628が形成されている(図9参照)。このV溝628にボール624が嵌め込まれることで、V溝と球との接触部603が構成されている。   A ball 624 and a ball holder 625 are installed on the upper surface of the base 621. A V-groove 628 is formed along the extending direction Lr on the lower surface of the opposing reference block gauge 20 (see FIG. 9). By fitting the ball 624 into the V groove 628, a contact portion 603 between the V groove and the ball is formed.

従って、基準ゲージ第2支持台62においては、V溝と球との接触部603により、基準ブロックゲージ20の荷重が支持されるとともに、高さ方向Hrの変位および幅方向Wrの変位が規制され、延伸方向Lrの変位、延伸方向Lrを中心軸とした回転(ローリング)、高さ方向Hrを中心軸とした回転(ヨーイング)および幅方向Wrを中心軸とした回転(ピッチング)は許容されている。   Therefore, in the reference gauge second support table 62, the load of the reference block gauge 20 is supported by the contact portion 603 between the V groove and the ball, and the displacement in the height direction Hr and the displacement in the width direction Wr are regulated. Displacement in the stretching direction Lr, rotation around the stretching direction Lr (rolling), rotation around the height direction Hr (yawing), and rotation around the width direction Wr (pitching) are allowed. Yes.

このように、基準ブロックゲージ20は、基準ゲージ第1支持台61および基準ゲージ第2支持台62によって支持される。
これにより、基準ブロックゲージ20は、基準ゲージ第1支持台61および基準ゲージ第2支持台62の各々において幅方向Wrの位置を規制され、延伸方向Lrが恒温槽30および三次元測定機40のY軸方向(すなわちステップゲージ10の延伸方向Lt)に揃うように支持される。
そして、基準ゲージ第1支持台61の接触部601において延伸方向Lrの位置を拘束されているが、基準ゲージ第2支持台62においては延伸方向Lrの変位が許容され、熱変形による伸縮は主に第1基準表面21側に現れる。
As described above, the reference block gauge 20 is supported by the reference gauge first support base 61 and the reference gauge second support base 62.
Thereby, the reference block gauge 20 is regulated in the position in the width direction Wr in each of the reference gauge first support base 61 and the reference gauge second support base 62, and the extending direction Lr is the constant temperature bath 30 and the coordinate measuring machine 40. It is supported so as to be aligned in the Y-axis direction (that is, the extending direction Lt of the step gauge 10).
The position in the extending direction Lr is constrained at the contact portion 601 of the reference gauge first support 61, but the displacement in the extending direction Lr is allowed in the reference gauge second support 62, and expansion and contraction due to thermal deformation is mainly performed. Appear on the first reference surface 21 side.

〔線膨張係数の測定動作〕
図10には、線膨張係数測定装置1を用いてステップゲージ10の線膨張係数を測定する手順が示されている。
測定開始にあたっては、先ず、線膨張係数測定装置1として三次元測定機40に恒温槽30を固定し、恒温槽30の内部にステップゲージ10および基準ブロックゲージ20を設置する(処理S1)。
[Measurement of linear expansion coefficient]
FIG. 10 shows a procedure for measuring the linear expansion coefficient of the step gauge 10 using the linear expansion coefficient measuring apparatus 1.
In starting the measurement, first, the thermostat 30 is fixed to the three-dimensional measuring device 40 as the linear expansion coefficient measuring apparatus 1, and the step gauge 10 and the reference block gauge 20 are installed inside the thermostat 30 (processing S1).

恒温槽30の内部にステップゲージ10および基準ブロックゲージ20を設置する際には、先ず、測定対象物第1支持台51および測定対象物第2支持台52を設置し、これらによりステップゲージ10を支持する。次に、ステップゲージ10を跨ぐように、基準ゲージ第1支持台61および基準ゲージ第2支持台62を設置し、これらにより基準ブロックゲージ20を支持する。   When installing the step gauge 10 and the reference block gauge 20 inside the thermostat 30, first, the measurement object first support base 51 and the measurement object second support base 52 are installed, and the step gauge 10 is thereby installed. To support. Next, the reference gauge first support base 61 and the reference gauge second support base 62 are installed so as to straddle the step gauge 10, and the reference block gauge 20 is supported by these.

図11に示すように、ステップゲージ10および基準ブロックゲージ20を設置する際には、各々の延伸方向Lt,Lrの位置を調整し、各々の第2表面12と第2基準表面22とが同一平面となるようにしておく。
ここで、基準ブロックゲージ20の長さDrxは、ステップゲージ10の長さDxよりも凸部13の長さDx分短く設定されているので、第2基準表面22と第2表面12とを揃えた際には、第1基準表面21は凸部13の長さDx分だけ第1表面11に届かず、第1表面11に最寄りの凸部13は上面側を基準ブロックゲージ20で覆われない状態とされる。
As shown in FIG. 11, when the step gauge 10 and the reference block gauge 20 are installed, the positions of the extending directions Lt and Lr are adjusted so that the second surface 12 and the second reference surface 22 are the same. Keep it flat.
Here, since the length Drx of the reference block gauge 20 is set shorter than the length Dx of the step gauge 10 by the length Dx of the convex portion 13, the second reference surface 22 and the second surface 12 are aligned. In this case, the first reference surface 21 does not reach the first surface 11 by the length Dx of the convex portion 13, and the convex portion 13 closest to the first surface 11 is not covered with the reference block gauge 20 on the upper surface side. State.

ステップゲージ10および基準ブロックゲージ20の設置(処理S1)ができたら、三次元測定機40に測定長さ(ステップゲージ10の長さDx)を入力し(処理S2)、異なる温度でのステップゲージ10の長さの比較測定動作を実行する(処理S3〜S5)。
先ず、測定用開口31を全て閉じた状態で、恒温槽30の内部温度を第1温度t1に設定し、所定時間を待って温度を安定化させる(処理S3)。
When the step gauge 10 and the reference block gauge 20 are installed (process S1), the measurement length (the length Dx of the step gauge 10) is input to the coordinate measuring machine 40 (process S2), and the step gauges at different temperatures are input. A comparative measurement operation with a length of 10 is executed (steps S3 to S5).
First, with all the measurement openings 31 closed, the internal temperature of the thermostatic chamber 30 is set to the first temperature t1, and the temperature is stabilized after waiting for a predetermined time (process S3).

恒温槽30の内部が第1温度t1で安定化したら、ステップゲージ10および基準ブロックゲージ20の座標系決定を行う(処理S4)。
具体的には、第1表面11側の測定用開口31を開き、三次元測定機40のプローブ46を導入する。そして、図12に示すように、ステップゲージ10の第1表面11を3点以上接触して位置および傾きを検出する。さらに、第1表面11が設定された凸部13の上面および一方の側面について、同様に3点以上接触して位置および傾きを検出する。これにより、第1表面11の中心位置の三次元座標と、ステップゲージ10の延伸方向Ltの向きが取得される。
When the inside of the thermostat 30 is stabilized at the first temperature t1, the coordinate systems of the step gauge 10 and the reference block gauge 20 are determined (processing S4).
Specifically, the measurement opening 31 on the first surface 11 side is opened, and the probe 46 of the coordinate measuring machine 40 is introduced. Then, as shown in FIG. 12, the first surface 11 of the step gauge 10 is contacted with three or more points to detect the position and inclination. Furthermore, about the upper surface and one side surface of the convex part 13 in which the 1st surface 11 was set, 3 points or more are similarly contacted, and a position and inclination are detected. Thereby, the three-dimensional coordinates of the center position of the first surface 11 and the direction of the extending direction Lt of the step gauge 10 are acquired.

同様に、プローブ46により基準ブロックゲージ20の第1基準表面21と、隣接する上面および側面の接触検出を行い、第1基準表面21の中心位置の三次元座標と、基準ブロックゲージ20の延伸方向Lrの向きを取得する。
さらに、第2表面12側の測定用開口31を通してプローブ46を導入し、ステップゲージ10の第2表面12および基準ブロックゲージ20の第2基準表面22の測定を行い、第2表面12および第2基準表面22の中心位置の三次元座標を取得しておく。
Similarly, the probe 46 detects the contact between the first reference surface 21 of the reference block gauge 20 and the adjacent upper and side surfaces, and the three-dimensional coordinates of the center position of the first reference surface 21 and the extending direction of the reference block gauge 20. Get the direction of Lr.
Further, the probe 46 is introduced through the measurement opening 31 on the second surface 12 side, the second surface 12 of the step gauge 10 and the second reference surface 22 of the reference block gauge 20 are measured, and the second surface 12 and the second surface 12 are measured. The three-dimensional coordinates of the center position of the reference surface 22 are acquired.

ステップゲージ10および基準ブロックゲージ20の座標系決定(処理S4)ができたら、ステップゲージ10および基準ブロックゲージ20の寸法の比較測定を行い、その際の温度を測定して記録しておく(処理S5)。
具体的には、処理S4による座標系のもとで、第1表面11の中心位置と第1基準表面21の中心位置との距離、第2表面12の中心位置と第2基準表面22の中心位置との距離に基づいて、第1基準表面21と第2基準表面22との距離(基準ブロックゲージ20の長さDrx)から計算を行うことで、第1表面11と第2表面12との距離(長さDxの正確な値)を比較測定することができる。
When the coordinate systems of the step gauge 10 and the reference block gauge 20 are determined (process S4), the dimensions of the step gauge 10 and the reference block gauge 20 are compared and measured, and the temperature at that time is measured and recorded (process). S5).
Specifically, the distance between the center position of the first surface 11 and the center position of the first reference surface 21, the center position of the second surface 12, and the center of the second reference surface 22 under the coordinate system by the process S 4. Based on the distance between the first surface 11 and the second surface 12 by calculating from the distance between the first reference surface 21 and the second reference surface 22 (length Drx of the reference block gauge 20). The distance (exact value of the length Dx) can be measured by comparison.

以上により、第1温度t1での第1表面11と第2表面12との距離の比較測定ができたら、恒温槽30の内部温度を第2温度t2に変更し(処理S6)、前述した比較測定動作(処理S3〜S5)を繰り返す。
これらにより、第1温度t1での長さDx1と、第2温度t2での長さDx2とが得られるので、ステップゲージ10の長さDとして、ステップゲージ10の第1表面11と第2表面12との間の区間の線膨張係数α=[(Dx1−Dx2)/D]/(t1−t2)として計算することができる(処理S7)。なお、長さDは、測定した長さDx1、長さDx2のいずれか、または平均値としてもよく、ステップゲージ10の公称長さであってもよく、いずれの場合も熱変形ΔD=(Dx1−Dx2)に対して十分大きいので線膨張係数αの計算には影響するものではない。
As described above, when the comparative measurement of the distance between the first surface 11 and the second surface 12 at the first temperature t1 is completed, the internal temperature of the thermostatic bath 30 is changed to the second temperature t2 (processing S6), and the comparison described above. The measurement operation (processing S3 to S5) is repeated.
As a result, the length Dx1 at the first temperature t1 and the length Dx2 at the second temperature t2 are obtained, so that the length D of the step gauge 10 is the first surface 11 and the second surface of the step gauge 10. 12 can be calculated as linear expansion coefficient α = [(Dx1−Dx2) / D] / (t1−t2) (step S7). The length D may be either the measured length Dx1, the length Dx2, or an average value, and may be the nominal length of the step gauge 10. In either case, thermal deformation ΔD = (Dx1 Since it is sufficiently large with respect to -Dx2), it does not affect the calculation of the linear expansion coefficient α.

〔第1実施形態の効果〕
このような本実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
三次元測定機40を用いて測定対象物であるステップゲージ10の長さ測定を行うので、高価な光波干渉計を用いることなく、様々な長さのステップゲージ10の線膨張係数を、高精度に測定することができる。
[Effects of First Embodiment]
According to this embodiment, the following effects can be obtained.
Since the length of the step gauge 10 which is a measurement object is measured using the three-dimensional measuring machine 40, the linear expansion coefficient of the step gauge 10 of various lengths can be obtained with high accuracy without using an expensive optical interferometer. Can be measured.

さらに、本実施形態では、三次元測定機40を用いてステップゲージ10の長さを測定する際に、長さの基準として基準ブロックゲージ20を用い、この基準ブロックゲージ20に対する長さの比較測定を行う。このため、長さ測定の結果は、三次元測定機40のスケールの精度に依存せず、専ら基準ブロックゲージ20の精度に依存することになり、ステップゲージ10が長尺化しても高精度を確保できる。   Furthermore, in this embodiment, when measuring the length of the step gauge 10 using the coordinate measuring machine 40, the reference block gauge 20 is used as a reference for the length, and the comparative measurement of the length with respect to the reference block gauge 20 is performed. I do. For this reason, the result of the length measurement does not depend on the accuracy of the scale of the coordinate measuring machine 40, but depends exclusively on the accuracy of the reference block gauge 20. Even if the step gauge 10 is elongated, high accuracy can be obtained. It can be secured.

本実施形態では、比較測定を行う際に、第1基準表面21、第2基準表面22、第1表面11および第2表面12の中心座標の計算と、基準ブロックゲージ20およびステップゲージ10の延伸方向Lr,Ltに対する傾きの計算を含む座標系決定(図11の処理S4)を行うようにした。
このため、基準ブロックゲージ20の第1基準表面21および第2基準表面22、ステップゲージ10の第1表面11および第2表面12が、延伸方向Lr,Ltに対して傾いた状態であっても、各表面におけるプローブ46の接触位置から中心座標までの距離と、各表面の傾きとから、三次元測定機40による検出位置を補正することができる。
そして、基準ブロックゲージ20およびステップゲージ10の現在の状態に即して各々の座標系を決定し、その座標系のもとで長さ測定を行うことで精度を高めることができ、比較測定の精度を高く維持することができる。
In the present embodiment, calculation of the center coordinates of the first reference surface 21, the second reference surface 22, the first surface 11 and the second surface 12 and the extension of the reference block gauge 20 and the step gauge 10 are performed when performing comparative measurement. The coordinate system determination including the calculation of the inclination with respect to the directions Lr and Lt (processing S4 in FIG. 11) is performed.
Therefore, even if the first reference surface 21 and the second reference surface 22 of the reference block gauge 20 and the first surface 11 and the second surface 12 of the step gauge 10 are inclined with respect to the stretching directions Lr and Lt. The detection position by the coordinate measuring machine 40 can be corrected from the distance from the contact position of the probe 46 on each surface to the center coordinates and the inclination of each surface.
Then, each coordinate system is determined according to the current state of the reference block gauge 20 and the step gauge 10, and the length is measured under the coordinate system, so that the accuracy can be improved. High accuracy can be maintained.

本実施形態では、ステップゲージ10の測定対象部位である第1表面11および第2表面12が測定用開口31側に配置され、同側に基準ブロックゲージ20が配置されることで、比較対象の第1基準表面21および第2基準表面22を第1表面11および第2表面12に近接して配置することができ、測定精度の向上とともに測定動作の効率化、迅速化を図ることができる。   In the present embodiment, the first surface 11 and the second surface 12 that are measurement target portions of the step gauge 10 are arranged on the measurement opening 31 side, and the reference block gauge 20 is arranged on the same side, so The first reference surface 21 and the second reference surface 22 can be arranged close to the first surface 11 and the second surface 12, and the measurement accuracy can be improved and the measurement operation can be made more efficient and faster.

本実施形態では、基準ブロックゲージ20の第1基準表面21から第2基準表面22までの長さDrxは、ステップゲージ10の第1表面11から第2表面12までの長さDxよりも、凸部13の1個分の長さDpだけ短く設定した。
このため、ステップゲージ10の測定用開口31側に基準ブロックゲージ20が配置されて、ステップゲージ10の表面が基準ブロックゲージ20で覆われても、第1表面11側の端部近傍では、基準ブロックゲージ20の長さが短い分、ステップゲージ10の表面が測定用開口31側に露出する。従って、前述した座標系決定にあたっては、この露出した表面に三次元測定機40のプローブ46を接触させることで、基準ブロックゲージ20と干渉することなく、ステップゲージ10の表面の検出を行うことができる。
In the present embodiment, the length Drx from the first reference surface 21 to the second reference surface 22 of the reference block gauge 20 is more convex than the length Dx from the first surface 11 to the second surface 12 of the step gauge 10. A length Dp corresponding to one part 13 was set to be short.
For this reason, even if the reference block gauge 20 is disposed on the measurement opening 31 side of the step gauge 10 and the surface of the step gauge 10 is covered with the reference block gauge 20, the reference block gauge 20 is near the end on the first surface 11 side. Since the length of the block gauge 20 is short, the surface of the step gauge 10 is exposed to the measurement opening 31 side. Therefore, in determining the coordinate system described above, the surface of the step gauge 10 can be detected without interfering with the reference block gauge 20 by bringing the probe 46 of the coordinate measuring machine 40 into contact with the exposed surface. it can.

本実施形態においては、第2基準表面22と第2表面12とを同一平面内に配置したので、前述のように基準ブロックゲージ20をステップゲージ10よりも所定長さ短くした際に、同一平面とした側とは反対側の端部(第1表面11と第1基準表面21の側)で、基準ブロックゲージ20とステップゲージ10との長さの差が最大となり、三次元測定機40のプローブ46による表面検出を行う際の余裕を最大にすることができる。   In the present embodiment, since the second reference surface 22 and the second surface 12 are arranged in the same plane, when the reference block gauge 20 is made shorter than the step gauge 10 by a predetermined length as described above, the same plane is used. The difference in length between the reference block gauge 20 and the step gauge 10 is maximized at the opposite end (the first surface 11 and the first reference surface 21 side) of the three-dimensional measuring instrument 40. The margin when performing surface detection by the probe 46 can be maximized.

本実施形態では、測定対象物第1支持台51において、ステップゲージ10の側面との接触部504と押圧手段505との組み合わせが、延伸方向Ltの変位を許容しつつ延伸方向Ltに交差する2方向(高さ方向Ht、幅方向Wt)の変位を規制するため、この組み合わせによりキネマティックマウントのV溝と球との組み合わせに相当する機能が得られる。その結果、測定対象物第1支持台51および測定対象物第2支持台52において、キネマティックマウントに相当する機能を得ることができ、延伸方向Ltおよびその交差方向に対する変位規制および回動規制を適切に行うことができる。   In the present embodiment, in the measurement object first support base 51, the combination of the contact portion 504 with the side surface of the step gauge 10 and the pressing means 505 intersects the stretching direction Lt while allowing displacement in the stretching direction Lt. In order to restrict displacement in the direction (height direction Ht, width direction Wt), this combination provides a function corresponding to the combination of the V-groove and sphere of the kinematic mount. As a result, in the measurement object first support base 51 and the measurement object second support base 52, a function corresponding to a kinematic mount can be obtained, and displacement regulation and rotation regulation with respect to the extending direction Lt and its intersecting direction can be performed. Can be done appropriately.

本実施形態では、基準ゲージ第1支持台61および基準ゲージ第2支持台62で基準ゲージ支持台60を構成し、基準ブロックゲージ20の底面との間に、円錐穴と球との接触部601、平面と球との接触部602、V溝と球との接触部603の3点を有するキネマティックマウントを構成することができ、延伸方向Lrおよびその交差方向(高さ方向Hr、幅方向Wr)に対する変位規制および回動規制を適切に行うことができる。   In this embodiment, the reference gauge first support base 61 and the reference gauge second support base 62 constitute a reference gauge support base 60, and a conical hole and sphere contact portion 601 between the bottom surface of the reference block gauge 20. A kinematic mount having three points of a contact portion 602 between a plane and a sphere and a contact portion 603 between a V groove and a sphere can be formed, and an extending direction Lr and its intersecting direction (height direction Hr, width direction Wr ) Can be appropriately controlled.

本実施形態では、基準ブロックゲージ20を下向きに与圧する与圧手段609を設けたので、基準ブロックゲージ20が軽量である場合でも、下向きに与圧することで、基準ゲージ第1支持台61および基準ゲージ第2支持台62による支持を安定して行うことができる。   In the present embodiment, the pressurizing means 609 that pressurizes the reference block gauge 20 downward is provided. Therefore, even when the reference block gauge 20 is lightweight, by applying the downward pressure, the reference gauge first support base 61 and the reference block The support by the gauge 2nd support stand 62 can be performed stably.

なお、本実施形態は、ステップゲージ10の長さがより短い場合、あるいはステップゲージ10の中間部分の凸部13の間の長さを測定する場合にも、それぞれ対応することができる。
図11において、ステップゲージ10の中間部分の長さを設定する場合、一点鎖線で示すように、中間部分の凸部13に第1表面11を設定し、対応する長さの基準ブロックゲージ20を用いて第1基準表面21を設定し、プローブ46で各々の測定を行えばよい。この際、プローブ46を恒温槽30の内部に導入する際には、複数の測定用開口31のうち最寄りのものを用いればよい。
In addition, this embodiment can each respond | correspond also when measuring the length between the convex parts 13 of the intermediate part of the step gauge 10, when the length of the step gauge 10 is shorter.
In FIG. 11, when setting the length of the intermediate portion of the step gauge 10, the first surface 11 is set on the convex portion 13 of the intermediate portion, and the reference block gauge 20 having a corresponding length is set, as shown by a one-dot chain line. The first reference surface 21 may be set using the probe 46 and each measurement may be performed with the probe 46. At this time, when the probe 46 is introduced into the thermostat 30, the nearest one of the plurality of measurement openings 31 may be used.

〔第2実施形態〕
図13には、本発明の第2実施形態が示されている。
前述した第1実施形態では、基準ブロックゲージ20を基準ゲージ第1支持台61および基準ゲージ第2支持台62で支持する際に、円錐穴619、V溝628を基準ブロックゲージ20の下面に直接形成した。
[Second Embodiment]
FIG. 13 shows a second embodiment of the present invention.
In the first embodiment described above, when the reference block gauge 20 is supported by the reference gauge first support base 61 and the reference gauge second support base 62, the conical hole 619 and the V groove 628 are directly formed on the lower surface of the reference block gauge 20. Formed.

これに対し、第2実施形態では、図13に示すように、基準ブロックゲージ20に支持アダプタ71,72を装着し、各々の下面に円錐穴619、V溝628を形成する。
なお、第2実施形態の構成は、基準ブロックゲージ20の支持部分以外は前述した第1実施形態と同様であるので、重複する説明は省略し、以下には相違部分のみ説明する。
On the other hand, in 2nd Embodiment, as shown in FIG. 13, the support adapters 71 and 72 are attached to the reference | standard block gauge 20, and the conical hole 619 and the V groove 628 are formed in each lower surface.
Note that the configuration of the second embodiment is the same as that of the first embodiment except for the support portion of the reference block gauge 20, and therefore, a duplicate description is omitted, and only different portions will be described below.

支持アダプタ71は、基準ブロックゲージ20の基準ゲージ第1支持台61で支持される位置に設置される。支持アダプタ71は、支持板711と固定部材712とを有し、各々で基準ブロックゲージ20を挟み付けることで基準ブロックゲージ20に固定される。
支持アダプタ72は、基準ブロックゲージ20の基準ゲージ第2支持台62で支持される位置に設置される。支持アダプタ72は、支持板721と固定部材722とを有し、各々で基準ブロックゲージ20を挟み付けることで基準ブロックゲージ20に固定される。
The support adapter 71 is installed at a position supported by the reference gauge first support base 61 of the reference block gauge 20. The support adapter 71 has a support plate 711 and a fixing member 712, and is fixed to the reference block gauge 20 by sandwiching the reference block gauge 20 in each.
The support adapter 72 is installed at a position supported by the reference gauge second support 62 of the reference block gauge 20. The support adapter 72 has a support plate 721 and a fixing member 722, and is fixed to the reference block gauge 20 by sandwiching the reference block gauge 20 in each.

支持板711の下面には円錐穴619が形成され、支持板711の下面にはV溝628が形成されている。
これらを利用して、支持アダプタ71,72と基準ゲージ第1支持台61および基準ゲージ第2支持台62との間には、第1実施形態の基準ブロックゲージ20の下面(図9参照)と同様に、円錐穴と球との接触部601、平面と球との接触部602、およびV溝との接触部603が形成されている。
A conical hole 619 is formed on the lower surface of the support plate 711, and a V-groove 628 is formed on the lower surface of the support plate 711.
Using these, between the support adapters 71 and 72 and the reference gauge first support base 61 and the reference gauge second support base 62, the lower surface of the reference block gauge 20 of the first embodiment (see FIG. 9). Similarly, a contact portion 601 between the conical hole and the sphere, a contact portion 602 between the plane and the sphere, and a contact portion 603 with the V groove are formed.

このような本実施形態では、基準ブロックゲージ20の下面に円錐穴619、V溝628を形成することなしに、前述した第1実施形態の各効果を得ることができる。
基準ブロックゲージ20の下面に円錐穴619、V溝628を形成する必要がないので、支持アダプタ71,72を共用することで、基準ブロックゲージ20として汎用のものを利用でき、様々な寸法への対応を容易に行うことができる。
In this embodiment, the effects of the first embodiment described above can be obtained without forming the conical hole 619 and the V groove 628 on the lower surface of the reference block gauge 20.
Since it is not necessary to form the conical hole 619 and the V-shaped groove 628 on the lower surface of the reference block gauge 20, a common one can be used as the reference block gauge 20 by sharing the support adapters 71 and 72. It can be easily handled.

〔第3実施形態〕
図14および図15には、本発明の第3実施形態が示されている。
前述した第1実施形態では、恒温槽30の上面にプローブ46を導入するための測定用開口31を形成し、恒温槽30の内部では、ステップゲージ10の上面側(測定用開口31がある側)に凸部13を向け、かつ同側に基準ブロックゲージ20を平行に配置した。
[Third Embodiment]
14 and 15 show a third embodiment of the present invention.
In the first embodiment described above, the measurement opening 31 for introducing the probe 46 is formed on the upper surface of the constant temperature bath 30, and inside the constant temperature bath 30, the upper surface side of the step gauge 10 (the side where the measurement opening 31 is present). The reference block gauge 20 is arranged in parallel on the same side with the convex portion 13 facing the surface.

これに対し、第3実施形態では、図14および図15に示すように、恒温槽30Aの側面にプローブ46を導入するための測定用開口31Aを形成し、同側面に沿ってステップゲージ10を配置するとともに、同側面とステップゲージ10との間に基準ブロックゲージ20を平行に配置している。
このような本実施形態においても、前述した第1実施形態と同様な効果を得ることができる。
On the other hand, in 3rd Embodiment, as shown in FIG.14 and FIG.15, the measurement opening 31A for introducing the probe 46 is formed in the side surface of the thermostat 30A, and the step gauge 10 is made along the same side surface. The reference block gauge 20 is arranged in parallel between the side surface and the step gauge 10.
Also in this embodiment, the same effect as that of the first embodiment described above can be obtained.

〔第4実施形態〕
図16および図17には、本発明の第4実施形態が示されている。
前述した第1実施形態では、測定対象物第1支持台51(図5参照)において、ステップゲージ10の下面との間に平面と球との接触部502を2つ形成し、ステップゲージ10を側面から挟むように押圧手段505および接触部504を形成していた。さらに、測定対象物第2支持台52(図6参照)では、ステップゲージ10の下面との間に円錐穴と球との接触部501を形成していた。
[Fourth Embodiment]
16 and 17 show a fourth embodiment of the present invention.
In the first embodiment described above, two contact portions 502 between a flat surface and a sphere are formed between the measurement object first support base 51 (see FIG. 5) and the lower surface of the step gauge 10, and the step gauge 10 is formed. The pressing means 505 and the contact portion 504 are formed so as to be sandwiched from the side. Further, in the measurement object second support base 52 (see FIG. 6), a conical hole-sphere contact portion 501 is formed between the lower surface of the step gauge 10.

これに対し、第4実施形態では、測定対象物第1支持台51A(図16参照)において、ステップゲージ10の下面との間に平面と球との接触部502および円錐穴と球との接触部501(円錐穴519)を形成し、測定対象物第2支持台52A(図17参照)において、ステップゲージ10の下面との間にV溝と球との接触部503(V溝528)を形成している。
このような本実施形態においては、ステップゲージ10と測定対象物第1支持台51Aおよび測定対象物第2支持台52Aとの間に、キネマティックマウントに相当する構成を形成することができる。
On the other hand, in the fourth embodiment, in the measurement object first support base 51A (see FIG. 16), the contact portion 502 between the plane and the sphere and the contact between the conical hole and the sphere between the lower surface of the step gauge 10. A portion 501 (conical hole 519) is formed, and a contact portion 503 (V groove 528) between the V groove and the sphere is formed between the measurement object second support base 52A (see FIG. 17) and the lower surface of the step gauge 10. Forming.
In this embodiment, a configuration corresponding to a kinematic mount can be formed between the step gauge 10, the measurement object first support base 51A, and the measurement object second support base 52A.

なお、測定対象物第1支持台51Aとステップゲージ10との間に円錐穴と球との接触部501を形成し、測定対象物第2支持台52Aとステップゲージ10との間に平面と球との接触部502およびV溝と球との接触部503を形成してもよい。   A conical hole and sphere contact portion 501 is formed between the measurement object first support base 51A and the step gauge 10, and a plane and a sphere are formed between the measurement object second support base 52A and the step gauge 10. The contact portion 502 and the contact portion 503 between the V groove and the sphere may be formed.

〔第5実施形態〕
図18および図19には、本発明の第5実施形態が示されている。
前述した第1実施形態では、基準ゲージ第1支持台61(図7参照)において、基準ブロックゲージ20の下面との間に円錐穴と球との接触部601および平面と球との接触部602を形成し、さらに、基準ゲージ第2支持台62(図8参照)において、基準ブロックゲージ20の下面との間にV溝と球との接触部603を形成していた。
[Fifth Embodiment]
18 and 19 show a fifth embodiment of the present invention.
In the first embodiment described above, in the reference gauge first support base 61 (see FIG. 7), the conical hole / sphere contact portion 601 and the flat surface / sphere contact portion 602 between the lower surface of the reference block gauge 20. Further, in the reference gauge second support base 62 (see FIG. 8), a contact portion 603 between the V groove and the sphere is formed between the lower surface of the reference block gauge 20.

これに対し、第5実施形態では、基準ゲージ第1支持台61A(図18参照)において、基準ブロックゲージ20の下面との間に平面と球との接触部602を2つ形成し、基準ブロックゲージ20を側面から挟むように押圧手段605(ボール614、ボールホルダ615、圧縮コイルばね616)および接触部604(ボール614、ボールホルダ615)を形成している。さらに、基準ゲージ第2支持台62A(図19参照)では、基準ブロックゲージ20の下面との間に円錐穴と球との接触部601(円錐穴629)を形成している。
このような本実施形態においても、基準ブロックゲージ20と基準ゲージ第1支持台61Aおよび基準ゲージ第2支持台62Aとの間に、キネマティックマウントに相当する構成を形成することができる。
On the other hand, in the fifth embodiment, in the reference gauge first support base 61A (see FIG. 18), two contact portions 602 between the plane and the sphere are formed between the lower surface of the reference block gauge 20 and the reference block. Pressing means 605 (ball 614, ball holder 615, compression coil spring 616) and contact portion 604 (ball 614, ball holder 615) are formed so as to sandwich the gauge 20 from the side. Further, in the reference gauge second support base 62A (see FIG. 19), a conical hole-sphere contact portion 601 (conical hole 629) is formed between the lower surface of the reference block gauge 20.
Also in this embodiment, a configuration corresponding to a kinematic mount can be formed between the reference block gauge 20, the reference gauge first support base 61A, and the reference gauge second support base 62A.

なお、基準ゲージ第1支持台61Aと基準ブロックゲージ20との間にV溝と球との接触部603および平面と球との接触部602を形成し、基準ゲージ第2支持台62Aと基準ブロックゲージ20との間におよび円錐穴と球との接触部601を形成してもよい。   In addition, a contact portion 603 between a V groove and a sphere and a contact portion 602 between a plane and a sphere are formed between the reference gauge first support base 61A and the reference block gauge 20, and the reference gauge second support base 62A and the reference block are formed. A contact portion 601 between the gauge 20 and the conical hole and the sphere may be formed.

〔変形例〕
本発明は、前述した各実施形態の構成に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形などは本発明に含まれるものである。
例えば、各実施形態では、基準ゲージ第1支持台61,61Aおよび基準ゲージ第2支持台62,62Aにおいて、与圧手段609により、下面側における接触部601,602,603の接触が確実に維持されるようにしていた。
このような与圧手段609としては、圧縮コイルばね617,627を用いた機械的なものに限らず、流体圧や流体流れ、電磁気力などを利用した非接触の付勢手段などを用いてもよい。
さらに、基準ブロックゲージ20の重量が十分な重さであれば、与圧手段609は省略してもよい。
[Modification]
The present invention is not limited to the configuration of each of the embodiments described above, and modifications and the like within a scope in which the object of the present invention can be achieved are included in the present invention.
For example, in each embodiment, in the reference gauge first support bases 61 and 61A and the reference gauge second support bases 62 and 62A, the pressurizing unit 609 reliably maintains the contact of the contact portions 601, 602, and 603 on the lower surface side. I was supposed to be.
Such a pressurizing unit 609 is not limited to a mechanical unit using the compression coil springs 617 and 627 but may be a non-contact energizing unit utilizing fluid pressure, fluid flow, electromagnetic force, or the like. Good.
Further, the pressurizing means 609 may be omitted if the weight of the reference block gauge 20 is sufficient.

前述した第1実施形態では、第1表面11から第2表面12までの長さDxをステップゲージ10の長さとして測定した。ただし、ステップゲージ10の両端面を第1表面11および第2表面12とすることで、ステップゲージ10の長さおよびその間の線膨張係数を測定できる。また、図10において説明した通り、第1表面11および第2表面12をステップゲージ10の中間部分の凸部13の端面などに設定することで、この中間部分の長さおよび線膨張係数を測定することもできる。   In the first embodiment described above, the length Dx from the first surface 11 to the second surface 12 is measured as the length of the step gauge 10. However, the length of the step gauge 10 and the linear expansion coefficient therebetween can be measured by setting both end faces of the step gauge 10 to the first surface 11 and the second surface 12. Further, as described with reference to FIG. 10, the length and the linear expansion coefficient of the intermediate portion are measured by setting the first surface 11 and the second surface 12 to the end face of the convex portion 13 of the intermediate portion of the step gauge 10. You can also

前述した各実施形態では、ステップゲージ10を測定対象物としていたが、測定対象物としてはブロックゲージあるいは他の寸法基準器であってもよい。
また、基準ゲージとしては、基準ブロックゲージ20に限らず、専用の基準ゲージあるいは測定対象物と同様なステップゲージ10であって高精度に校正されたマスターゲージを用いてもよい。
この際、基準ゲージとしては、第1温度t1と第2温度t2との間の温度変化では精度上膨張を無視しうる極低膨張係数ないしゼロ膨張係数の材質から製造されたもの、または、膨張係数が既知である材質から製造されたもの、のいずれかであることが望ましい。
In each of the above-described embodiments, the step gauge 10 is the measurement object. However, the measurement object may be a block gauge or another dimension reference device.
Further, the reference gauge is not limited to the reference block gauge 20, and a master gauge that is a dedicated reference gauge or a step gauge 10 similar to the measurement object and calibrated with high accuracy may be used.
At this time, the reference gauge is manufactured from a material having an extremely low expansion coefficient or zero expansion coefficient that can be ignored in terms of accuracy when the temperature changes between the first temperature t1 and the second temperature t2, or the expansion of the reference gauge. It is desirable to be one made from a material with a known coefficient.

前記実施形態では、基準ゲージである基準ブロックゲージ20の第2基準表面22と測定対象物であるステップゲージ10の第2表面12とを同一平面に揃えたが、第1基準表面21と第1表面11とを揃えてもよく、あるいは基準ゲージおよび測定対象物の両端を揃えない配置としてもよい。
ただし、いずれかの端部を揃えることにより、同一平面とした側とは反対側の端部で、基準ゲージと測定対象物との長さの差が最大となり、三次元測定機のプローブによる表面検出を行う際の余裕を最大にすることができる。
In the embodiment, the second reference surface 22 of the reference block gauge 20 that is the reference gauge and the second surface 12 of the step gauge 10 that is the measurement object are aligned on the same plane, but the first reference surface 21 and the first surface are the same. The surface 11 may be aligned, or the reference gauge and the measurement object may not be aligned at both ends.
However, by aligning either end, the difference in length between the reference gauge and the object to be measured is maximized at the end opposite to the same plane. The margin when performing detection can be maximized.

本発明は、寸法基準器の線膨張係数測定方法および測定装置に利用できる。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be used for a linear expansion coefficient measuring method and measuring apparatus for a dimensional reference device.

1…線膨張係数測定装置、10…測定対象物であるステップゲージ、11…第1表面、12…第2表面、13…凸部、20…基準ゲージである基準ブロックゲージ、21…第1基準表面、22…第2基準表面、30,30A…恒温槽、31…測定用開口、31A…測定用開口、32…底板、40…三次元測定機、41…定盤、42…コラム、43…クロスバー、44…ヘッド、45…ラム、46…プローブ、50…測定対象物支持台、501…円錐穴と球との接触部、502…平面と球との接触部、503…V溝と球との接触部、504…平面と球との接触部、505…押圧手段、51,51A…測定対象物第1支持台、511…基部、512…起立部、513…起立部、514…ボール、515…ボールホルダ、516…圧縮コイルばね、519…円錐穴、52,52A…測定対象物第2支持台、521…基部、522…支持部、524…ボール、525…ボールホルダ、528…V溝、529…円錐穴、60…基準ゲージ支持台、601…円錐穴と球との接触部、602…平面と球との接触部、603…V溝と球との接触部、604…平面と球との接触部、605…押圧手段、609…与圧手段、61,61A…基準ゲージ第1支持台、610…起立部、611…基部、612…支柱、614…ボール、615…ボールホルダ、616…圧縮コイルばね、617…圧縮コイルばね、619…円錐穴、62,62A…基準ゲージ第2支持台、620…起立部、621…基部、622…支柱、624…ボール、625…ボールホルダ、628…V溝、629…円錐穴、71,72…支持アダプタ、711,721…支持板、712,722…固定部材、Dx…測定対象物の長さ、Drx…基準ゲージの長さ、Hr…基準ゲージの高さ方向、Ht…測定対象物の高さ方向、Lr…基準ゲージの延伸方向、Lt…測定対象物の延伸方向、T…温度、t1…第1温度、t2…第2温度、To…基準温度、Wr…基準ゲージの幅方向、Wt…測定対象物の幅方向、α…線膨張係数、ΔL…長さの変化量。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Linear expansion coefficient measuring apparatus, 10 ... Step gauge which is a measuring object, 11 ... 1st surface, 12 ... 2nd surface, 13 ... Convex part, 20 ... Reference block gauge which is a reference gauge, 21 ... 1st reference | standard Surface 22 ... Second reference surface 30, 30A ... Thermostatic bath 31 ... Measurement opening 31A ... Measurement opening 32 ... Bottom plate 40 ... Three-dimensional measuring machine 41 ... Surface plate 42 ... Column 43 ... Cross bar, 44 ... head, 45 ... ram, 46 ... probe, 50 ... measurement object support base, 501 ... conical hole and sphere contact portion, 502 ... plane and sphere contact portion, 503 ... V groove and sphere 504 ... contact portion between the flat surface and the sphere, 505 ... pressing means, 51 and 51A ... first object support base, 511 ... base, 512 ... standing portion, 513 ... standing portion, 514 ... ball, 515 ... Ball holder, 516 ... Compression coil spring, DESCRIPTION OF SYMBOLS 19 ... Conical hole, 52, 52A ... Measurement object 2nd support stand, 521 ... Base, 522 ... Support part, 524 ... Ball, 525 ... Ball holder, 528 ... V groove, 529 ... Conical hole, 60 ... Reference gauge support 601: Contact portion between conical hole and sphere, 602 ... Contact portion between plane and sphere, 603 ... Contact portion between V groove and sphere, 604 ... Contact portion between plane and sphere, 605 ... Pressing means, 609 ... pressurizing means, 61, 61A ... reference gauge first support, 610 ... standing part, 611 ... base, 612 ... strut, 614 ... ball, 615 ... ball holder, 616 ... compression coil spring, 617 ... compression coil spring, 619 ... Conical hole 62, 62A ... Reference gauge second support, 620 ... Standing part, 621 ... Base, 622 ... Post, 624 ... Ball, 625 ... Ball holder, 628 ... V groove, 629 ... Conical hole, 71, 72 ... Holding adapter, 711, 721 ... support plate, 712, 722 ... fixing member, Dx ... length of measurement object, Drx ... length of reference gauge, Hr ... height direction of reference gauge, Ht ... height of measurement object Direction, Lr ... reference gauge extension direction, Lt ... measurement object extension direction, T ... temperature, t1 ... first temperature, t2 ... second temperature, To ... reference temperature, Wr ... reference gauge width direction, Wt ... the width direction of the measurement object, α ... linear expansion coefficient, ΔL ... the amount of change in length.

Claims (14)

寸法基準器を測定対象物として、前記測定対象物の延伸方向に離れた前記測定対象物の第1表面から第2表面までの部分の線膨張係数を測定する寸法基準器の線膨張係数測定方法であって、
前記第1表面および前記第2表面に対応する第1基準表面および第2基準表面を有し、かつ前記第1基準表面から前記第2基準表面までの長さが既知である基準ゲージと、
前記測定対象物および前記基準ゲージを収容可能、かつ内部温度を調整可能、かつ測定用表面に測定用開口を有する恒温槽と、
前記恒温槽の内部に設置されて前記測定対象物を支持する測定対象物支持台と、
前記恒温槽の内部に設置されて前記基準ゲージを支持する基準ゲージ支持台と、
前記測定用開口から前記恒温槽の内部へ測定プローブを導入可能な三次元測定機と、
を準備し、
前記恒温槽の内部に、前記測定対象物および前記基準ゲージを平行に支持しておき、
前記恒温槽の内部温度を第1温度とし、前記第1基準表面から前記第2基準表面までの長さを基準として、前記第1表面から前記第2表面までの長さを比較測定し、
前記恒温槽の内部温度を第2温度とし、前記第1基準表面から前記第2基準表面までの長さを基準として、前記第1表面から前記第2表面までの長さを比較測定し、
前記第1温度での前記第1表面から前記第2表面までの長さと前記第2温度での前記第1表面から前記第2表面までの長さとから前記測定対象物の線膨張係数を算出することを特徴とする寸法基準器の線膨張係数測定方法。
Method of measuring linear expansion coefficient of dimension reference device, measuring linear expansion coefficient of portion from first surface to second surface of measurement object separated in extending direction of measurement object, using dimension reference device as measurement object Because
A reference gauge having a first reference surface and a second reference surface corresponding to the first surface and the second surface and having a known length from the first reference surface to the second reference surface;
A thermostatic chamber that can accommodate the measurement object and the reference gauge, can adjust the internal temperature, and has a measurement opening on the measurement surface;
A measurement object support that is installed inside the thermostat and supports the measurement object;
A reference gauge support that is installed inside the thermostat and supports the reference gauge;
A three-dimensional measuring machine capable of introducing a measurement probe from the measurement opening into the thermostat;
Prepare
Inside the thermostat, the measurement object and the reference gauge are supported in parallel,
The internal temperature of the thermostat is set as the first temperature, and the length from the first surface to the second surface is compared and measured based on the length from the first reference surface to the second reference surface.
The internal temperature of the thermostat is set as the second temperature, and the length from the first surface to the second surface is compared and measured based on the length from the first reference surface to the second reference surface.
The linear expansion coefficient of the measurement object is calculated from the length from the first surface to the second surface at the first temperature and the length from the first surface to the second surface at the second temperature. A method for measuring a linear expansion coefficient of a dimensional reference device.
請求項1に記載された寸法基準器の線膨張係数測定方法において、
前記比較測定を行う際に、前記第1基準表面、前記第2基準表面、前記第1表面および前記第2表面の中心座標の計算と、前記基準ゲージおよび前記測定対象物の前記延伸方向に対する傾きの計算と、を含む座標系決定を行うことを特徴とする寸法基準器の線膨張係数測定方法。
In the linear expansion coefficient measuring method of the dimension reference device according to claim 1,
When performing the comparative measurement, calculation of the center coordinates of the first reference surface, the second reference surface, the first surface and the second surface, and the inclination of the reference gauge and the measurement object with respect to the extending direction And a linear expansion coefficient measurement method for a dimension reference device, characterized in that a coordinate system determination is performed.
請求項2に記載された寸法基準器の線膨張係数測定方法において、
前記基準ゲージ支持台は、前記測定対象物の前記測定用開口に対向する側に前記基準ゲージを支持することを特徴とする寸法基準器の線膨張係数測定方法。
In the linear expansion coefficient measuring method of the dimension reference device according to claim 2,
The method for measuring a linear expansion coefficient of a dimensional reference device, wherein the reference gauge support base supports the reference gauge on a side of the measurement object facing the measurement opening.
請求項3に記載された寸法基準器の線膨張係数測定方法において、
前記基準ゲージは、前記延伸方向の長さが、前記測定対象物よりも所定長さ短いことを特徴とする寸法基準器の線膨張係数測定方法。
In the linear expansion coefficient measuring method of the dimension reference device according to claim 3,
The method for measuring a linear expansion coefficient of a dimension reference device, wherein the reference gauge has a length in the extending direction shorter than the measurement object by a predetermined length.
請求項4に記載された寸法基準器の線膨張係数測定方法において、
前記比較測定を行う際に、前記第1基準表面と前記第1表面とを同一平面内に配置、または、前記第2基準表面と前記第2表面とを同一平面内に配置することを特徴とする寸法基準器の線膨張係数測定方法。
In the linear expansion coefficient measuring method of the dimension reference | standard device described in Claim 4,
When the comparative measurement is performed, the first reference surface and the first surface are arranged in the same plane, or the second reference surface and the second surface are arranged in the same plane. To measure the linear expansion coefficient of a dimensional standard.
請求項1から請求項5のいずれか一項に記載された寸法基準器の線膨張係数測定方法において、
前記測定対象物支持台は、測定対象物第1支持台および測定対象物第2支持台を含み、
前記測定対象物第1支持台および前記測定対象物第2支持台は、それぞれ前記延伸方向に交差する2方向の前記測定対象物の変位を規制しかつ前記延伸方向に交差する2方向を中心軸とした前記測定対象物の回動を許容し、
前記測定対象物第1支持台および前記測定対象物第2支持台のいずれか一方が前記延伸方向の前記測定対象物の変位を規制しかついずれか他方が前記延伸方向の前記測定対象物の変位を許容し、
前記測定対象物第1支持台および前記測定対象物第2支持台のいずれか一方が前記延伸方向を中心軸とした前記測定対象物の回動を規制しかついずれか他方が前記延伸方向を中心軸とした前記測定対象物の回動を許容するとともに、
前記基準ゲージ支持台は、基準ゲージ第1支持台および基準ゲージ第2支持台を含み、
前記基準ゲージ第1支持台および前記基準ゲージ第2支持台は、それぞれ前記延伸方向に交差する2方向の前記基準ゲージの変位を規制しかつ前記延伸方向に交差する2方向を中心軸とした前記基準ゲージの回動を許容し、
前記基準ゲージ第1支持台および前記基準ゲージ第2支持台のいずれか一方が前記延伸方向の前記基準ゲージの変位を規制しかついずれか他方が前記延伸方向の前記基準ゲージの変位を許容し、
前記基準ゲージ第1支持台および前記基準ゲージ第2支持台のいずれか一方が前記延伸方向を中心軸とした前記基準ゲージの回動を規制しかついずれか他方が前記延伸方向を中心軸とした前記基準ゲージの回動を許容することを特徴とする寸法基準器の線膨張係数測定方法。
In the linear expansion coefficient measuring method of the dimension reference | standard device as described in any one of Claims 1-5,
The measurement object support table includes a measurement object first support table and a measurement object second support table,
The measurement object first support base and the measurement object second support base each regulate the displacement of the measurement object in two directions intersecting with the extending direction and center the two directions intersecting with the extending direction. Allowing the measurement object to rotate,
One of the measurement object first support base and the measurement object second support base regulates the displacement of the measurement object in the extending direction, and the other one displaces the measurement object in the extending direction. Allow
Either one of the first object to be measured and the second object to be measured supports the rotation of the object to be measured with the extending direction as a central axis, and the other is centered on the extending direction. While allowing rotation of the measurement object as an axis,
The reference gauge support includes a reference gauge first support and a reference gauge second support,
The reference gauge first support base and the reference gauge second support base each regulate the displacement of the reference gauge in two directions intersecting the extending direction and have the two directions intersecting the extending direction as a central axis. Allow the reference gauge to rotate,
One of the reference gauge first support base and the reference gauge second support base regulates the displacement of the reference gauge in the extending direction, and the other allows the displacement of the reference gauge in the extending direction,
One of the reference gauge first support base and the reference gauge second support base regulates the rotation of the reference gauge with the extending direction as a central axis, and either one has the extending direction as a central axis. A method for measuring a linear expansion coefficient of a dimension reference device, wherein the reference gauge is allowed to rotate.
請求項6に記載された寸法基準器の線膨張係数測定方法において、
前記測定対象物第1支持台は、前記測定対象物の底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部、V溝と球との接触部のうちいずれか1つまたは2つを有し、
前記測定対象物第2支持台は、前記測定対象物の底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部、V溝と球との接触部のうち前記測定対象物第1支持台にない接触部を有することを特徴とする寸法基準器の線膨張係数測定方法。
In the linear expansion coefficient measuring method of the dimension reference device according to claim 6,
The measurement object first support base is one of a contact portion between a conical hole and a sphere, a contact portion between a flat surface and a sphere, and a contact portion between a V groove and a sphere between the bottom surface of the measurement object. Have one or two,
The measurement object second support is between the bottom surface of the measurement object and the measurement part among a contact portion between a conical hole and a sphere, a contact portion between a plane and a sphere, and a contact portion between a V groove and a sphere. A linear expansion coefficient measuring method for a dimensional reference device, comprising a contact portion that is not on the first support of the object.
請求項6に記載された寸法基準器の線膨張係数測定方法において、
前記測定対象物第1支持台は、前記測定対象物の底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部のうちいずれか1つを有し、
前記測定対象物第2支持台は、前記測定対象物の底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部のうち前記測定対象物第1支持台にない接触部を有し、
前記測定対象物第1支持台または前記測定対象物第2支持台のいずれかは、前記測定対象物の一方の側面と球との接触部と、前記測定対象物の側面を前記球に押圧する押圧手段とを有することを特徴とする寸法基準器の線膨張係数測定方法。
In the linear expansion coefficient measuring method of the dimension reference device according to claim 6,
The measurement object first support base has any one of a contact portion between a conical hole and a sphere and a contact portion between a plane and a sphere between the bottom surface of the measurement object,
The measurement object second support base is not in contact with the measurement object first support base among the contact part between the conical hole and the sphere and the contact part between the flat surface and the sphere between the bottom surface of the measurement object. Part
Either the measurement object first support base or the measurement object second support base presses the contact portion between one side surface of the measurement object and the sphere and the side surface of the measurement object against the sphere. And a linear expansion coefficient measuring method for a dimensional reference device.
請求項6から請求項8のいずれか一項に記載された寸法基準器の線膨張係数測定方法において、
前記基準ゲージ第1支持台は、前記基準ゲージの底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部、V溝と球との接触部のうちいずれか1つまたは2つを有し、
前記基準ゲージ第2支持台は、前記基準ゲージの底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部、V溝と球との接触部のうち前記基準ゲージ第1支持台にない接触部を有することを特徴とする寸法基準器の線膨張係数測定方法。
In the linear expansion coefficient measuring method of the dimension reference device according to any one of claims 6 to 8,
The reference gauge first support base is any one of a contact portion between a conical hole and a sphere, a contact portion between a plane and a sphere, and a contact portion between a V groove and a sphere between the bottom surface of the reference gauge. Or have two,
The reference gauge second support is between the bottom surface of the reference gauge and the reference gauge first of the contact portion between the conical hole and the sphere, the contact portion between the flat surface and the sphere, and the contact portion between the V groove and the sphere. 1. A linear expansion coefficient measuring method for a dimensional reference device, comprising a contact portion not on a support base.
請求項6から請求項8のいずれか一項に記載された寸法基準器の線膨張係数測定方法において、
前記基準ゲージ第1支持台は、前記基準ゲージの底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部のうちいずれか1つを有し、
前記基準ゲージ第2支持台は、前記基準ゲージの底面との間に、円錐穴と球との接触部、平面と球との接触部のうち前記基準ゲージ第1支持台にない接触部を有し、
前記基準ゲージ第1支持台または前記基準ゲージ第2支持台のいずれかは、前記基準ゲージの一方の側面と球との接触部と、前記基準ゲージの側面を前記球に押圧する押圧手段とを有することを特徴とする寸法基準器の線膨張係数測定方法。
In the linear expansion coefficient measuring method of the dimension reference device according to any one of claims 6 to 8,
The reference gauge first support base has any one of a contact portion between a conical hole and a sphere and a contact portion between a plane and a sphere between the bottom surface of the reference gauge,
The reference gauge second support base has a contact portion between the conical hole and the sphere and a contact portion that is not on the reference gauge first support base among the contact portions between the flat hole and the sphere, between the bottom surface of the reference gauge. And
Either the reference gauge first support base or the reference gauge second support base includes a contact portion between one side surface of the reference gauge and a sphere, and a pressing unit that presses the side surface of the reference gauge against the sphere. A linear expansion coefficient measuring method for a dimensional standard device, comprising:
請求項1から請求項10のいずれか一項に記載された寸法基準器の線膨張係数測定方法において、
前記基準ゲージに装着されて前記基準ゲージ支持台に支持される支持アダプタ、または、前記測定対象物に装着されて前記測定対象物支持台に支持される支持アダプタを用いることを特徴とする寸法基準器の線膨張係数測定方法。
In the linear expansion coefficient measuring method of the dimension reference device according to any one of claims 1 to 10,
A dimensional standard using a support adapter attached to the reference gauge and supported by the reference gauge support base, or a support adapter attached to the measurement object and supported by the measurement object support base. For measuring the linear expansion coefficient of a vessel.
請求項1から請求項11のいずれか一項に記載された寸法基準器の線膨張係数測定方法において、
前記基準ゲージを下向きに与圧する与圧手段を有することを特徴とする寸法基準器の線膨張係数測定方法。
In the linear expansion coefficient measuring method of the dimension reference device according to any one of claims 1 to 11,
A linear expansion coefficient measuring method for a dimension reference device, comprising pressurizing means for pressurizing the reference gauge downward.
請求項1から請求項12のいずれか一項に記載された寸法基準器の線膨張係数測定方法において、
前記基準ゲージは、前記第1温度と前記第2温度との間の温度変化では精度上膨張を無視しうる極低膨張係数ないしゼロ膨張係数の材質から製造されたもの、または、膨張係数が既知である材質から製造されたもの、のいずれかであることを特徴とする寸法基準器の線膨張係数測定方法。
In the linear expansion coefficient measuring method of the dimensional standard device according to any one of claims 1 to 12,
The reference gauge is manufactured from a material having an extremely low expansion coefficient or a zero expansion coefficient that can be ignored in terms of accuracy when the temperature changes between the first temperature and the second temperature, or the expansion coefficient is known. A method for measuring a linear expansion coefficient of a dimension reference device, wherein the linear expansion coefficient is manufactured from a material which is
寸法基準器を測定対象物として、前記測定対象物の延伸方向に離れた前記測定対象物の第1表面から第2表面までの部分の線膨張係数を測定する寸法基準器の線膨張係数測定装置であって、
前記第1表面および前記第2表面に対応する第1基準表面および第2基準表面を有し、かつ前記第1基準表面から前記第2基準表面までの長さが既知である基準ゲージと、
前記測定対象物および前記基準ゲージを収容可能、かつ内部温度を調整可能、かつ測定用表面に測定用開口を有する恒温槽と、
前記恒温槽の内部に設置されて前記測定対象物を支持する測定対象物支持台と、
前記恒温槽の内部に設置されて前記基準ゲージを支持する基準ゲージ支持台と、
前記測定用開口から前記恒温槽の内部へ測定プローブを導入可能な三次元測定機と、
を有することを特徴とする寸法基準器の線膨張係数測定装置。
A linear expansion coefficient measuring device for a dimension reference device that measures a linear expansion coefficient of a portion from the first surface to the second surface of the measurement object that is separated in the extending direction of the measurement object, using the dimension reference device as a measurement object. Because
A reference gauge having a first reference surface and a second reference surface corresponding to the first surface and the second surface and having a known length from the first reference surface to the second reference surface;
A thermostatic chamber that can accommodate the measurement object and the reference gauge, can adjust the internal temperature, and has a measurement opening on the measurement surface;
A measurement object support that is installed inside the thermostat and supports the measurement object;
A reference gauge support that is installed inside the thermostat and supports the reference gauge;
A three-dimensional measuring machine capable of introducing a measurement probe from the measurement opening into the thermostat;
A linear expansion coefficient measuring device for a dimensional reference device, characterized by comprising:
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