JP2013033911A - 発光素子搭載用基板及びledパッケージ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】発光素子搭載用基板は、絶縁性を有する基板と、前記基板の一方の面上に形成され、第1の間隔を有して離間する一対の配線パターンと、前記基板を厚さ方向に貫通し、第2の間隔を有して離間する一対の貫通孔が形成され、前記一対の配線パターンに接触するとともに前記基板の前記一方の面と反対側の面に露出するように前記一対の貫通孔に充填された金属からなる一対の充填部と、前記一対の配線パターンを覆うように前記基板の前記一方の面上に形成された光反射性を有する絶縁層とを備える片面配線基板であって、前記一対の充填部のそれぞれの充填部は、前記一対の配線パターンのそれぞれの配線パターンの面積の50%以上の水平投影面積を有し、前記絶縁層は、前記一対の配線パターンがそれぞれ露出する開口を備える。
【選択図】図1A
Description
前記一対の配線パターンは、前記第1の間隔を有する部分に凸部を有し、前記一対の充填部は、前記一対の配線パターンの前記凸部と概略同じ位置であって前記第2の間隔を有する部分に凸部を有する。
前記基板は、半径50mmで曲げてもクラックが発生しない可撓性を有する。
前記配線パターン及び前記充填部は、ともに350W/mk以上の熱伝導率を有する。
前記基板の前記一方の面と反対側の面側に、ソルダーレジスト層を有する。
本実施の形態に係る発光素子搭載用基板は 絶縁性を有する基板と、前記基板の一方の面上に形成され、第1の間隔を有して離間する一対の配線パターンと、前記基板を厚さ方向に貫通し、第2の間隔を有して離間する一対の貫通孔が形成され、前記一対の配線パターンに接触するとともに前記基板の前記一方の面と反対側の面に露出するように前記一対の貫通孔に充填された金属からなる一対の充填部と、前記一対の配線パターンを覆うように前記基板の前記一方の面上に形成された光反射性を有する絶縁層とを備える片面配線基板であって、前記一対の充填部のそれぞれの充填部は、前記一対の配線パターンのそれぞれの配線パターンの面積の50%以上の水平投影面積を有し、前記絶縁層は、前記一対の配線パターンがそれぞれ露出する開口を備えたものである。
図1A(a)は、本発明の第1の実施の形態に係るLEDパッケージの断面図、図1A(b)は、図1A(a)のLEDパッケージから封止樹脂と絶縁層を取り除いたLEDパッケージの平面図である。図1B(c)は、発光素子搭載用基板の平面図である。
(樹脂フィルム)
樹脂フィルム20は、半径50mmで曲げてもクラックが発生しない可撓性(柔軟性)と絶縁性を有するのが好ましい。樹脂フィルム20として、例えばポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエチレンナフタレート、エポキシ、アラミドなどの樹脂単体からなるフィルムを用いることができる。
一対の配線パターン22A、22Bは、搭載領域30の所定の方向に沿う一辺30aの長さ、例えば0.3mm以上の範囲にわたって搭載領域30の所定の方向に直交する方向に沿う他の一辺30bの長さ、例えば50μm以下の第1の間隔d1を有して、対向するように離間する。配線パターンは、半導体パッケージ上面の面積のうち、50%以上存在させるのが望ましい。配線パターンの面積比を大きくすることで、熱伝導率の高い部材の容積・表面積が増加することで、放熱性を向上させることが可能になる。
なお、第1の間隔d1は、例えば、フォトリソグラフィ技術、エッチング処理で作製可能な最小値に設定するのが望ましい。具体的には、30μm〜100μmが好ましい。
また、配線パターン22A、22B間の第1の間隔d1は、配線パターン22A、22Bの厚さをtとしたとき、d1≦(t+10μm)と定めてもよい。配線パターン22A、22Bの厚さtは、30μm以上が好ましい。
一対の充填部23A、23Bは、搭載領域30の所定の方向に沿う一辺30aの長さ、例えば0.3mm以上の範囲にわたって搭載領域30の所定の方向に直交する方向の他の一辺30bの長さ、例えば0.3mm以下の第2の間隔d2を有する。第2の間隔d2としては0.2mm以下が好ましい。また、一対の充填部23A、23Bは、樹脂フィルム20の表面20a側から見たとき、それぞれが搭載領域30の面積よりも広く、かつ、それぞれが配線パターン22A、22Bの面積の50%以上又は75%以上の面積を有するのが好ましい。一対の充填部23A、23Bは、それぞれが配線パターン22A、22Bの面積よりも広い面積を有していてもよい。本実施の形態では、充填部23A、23Bは、配線パターン22A、22Bの面積の80%程度の面積を有する。
充填部は、LEDパッケージにおいて、搭載したLEDチップの下に存在するように配置されている。そのため、熱の伝導経路がLEDチップの下方に向かって最短経路が形成されるので放熱性を向上させることが可能となった。
本実施の形態において、充填部は配線パターンと相似形状に設けられているが、これに限られるものではない。
絶縁層24は、硫酸バリウム(BaSO4)の白色素材を基準とした分光光度計による測定において、波長450〜700nmの範囲の初期全反射率が80%以上を有するのが好ましい。そのような絶縁層24の材料として、例えば白色のレジストを用いることができる。絶縁層24の開口24aは、小さい方が好ましいが、例えば直径0.05mm〜0.3mm(開口面積0.002〜0.071mm2)又は直径0.1〜0.2mm(開口面積0.008〜0.031mm2)としてもよい。本実施の形態では、開口24aを直径0.15mm以下(開口面積0.018mm2以下)とした。なお、絶縁層24の反射率は、配線基板の製造直後、若しくは配線基板の出荷時に、分光光度計で測定した450〜700nmの範囲の各波長での鏡面反射成分を含む反射率を測定したものである。これを、初期全反射率という。
絶縁層24には、開口24aが設けられる。この開口24aは、配線パターン22A、22BとLEDチップ3とを電気的に接続するために設けられたものであり、配線パターン22A、22B共に一部が露出するように形成されている。フリップチップ実装の場合は、LEDチップ3の搭載領域の直下にLEDチップ3の電極31a、31bと同等若しくは大きい穴が形成されていればよく、ワイヤボンディング実装の場合は、ワイヤの接地点にボンディング可能な大きさの開口が形成されていれば良い。このように、開口部を小さく形成することによりLEDチップ側に露出する樹脂フィルム20の露出領域を小さく、若しくは無くすことができる。樹脂フィルム20は、絶縁層24よりも反射効率が劣るのでこの部分を被覆することにより反射効率を向上させることができる。
LEDチップ3は、例えば、0.3〜1.0mm角程度のサイズを有し、底面に一対のアルミニウム等からなる電極31a、31bと、電極31a、31bに形成された金等からなり、一対の配線パターン22A、22Bと電気的に接続される接続材としてのバンプ32a、32bとを有する。なお、LEDチップとして、底面と上面にそれぞれ電極を有し、又は上面に2つの電極を有し、ワイヤによって接続するワイヤボンディング型のLEDチップを用いてもよい。
封止樹脂4Aは、本実施例ではLEDチップ3が発光する光に指向性を持たせるため、表面が球状あるいは曲面を有するが、これに限られない。また、封止樹脂4Aの材料として、シリコーン樹脂等の樹脂を用いることができる。
次に、上記各部に関する数値範囲の意義について説明する。
樹脂フィルム20の半径R=50mmで曲げてもクラックが発生しないようにしたのは、以下の理由による。一般に、エッチングなどの液処理プロセスを大量に効率よく構成する方法としては、ロールtoロールによる方法が効率的である。しかし、ロールtoロールにより、樹脂フィルム20を一直線に搬送して処理時間(処理長さ)を確保しようとすると、搬送スピードが遅くなりすぎたり、製造装置が長くなり過ぎてしまう問題がある。また、ロール状の樹脂フィルム20の交換やジョイントを製造装置を稼動したままで行おうとすると、アキュムレートする機構が必要になる。この問題を解決する方法としては、例えば半径R=100mm以上の固定ローラや可動ローラを用いてワークを上下方向にジグザクに搬送するのが一般的である。半径R=50mmでもクラックが生じない樹脂フィルム20を用いるのはこのためである。
配線パターン22A、22Bの厚さを30μm以上としたのは、以下の理由による。配線パターン22A、22Bの材料として銅箔を用いた場合、銅箔は、18μm、35μm、70μm、105μmという単位で市販されている。経験上18μmの銅箔は、水平方向への熱伝導量が足りないことが多いので、35μm以上の厚さの銅箔を使って製造することが多くなる。そうした場合、表面の化学研磨等によって薄くなっても30μm以上は確保するという理由で配線パターン22A、22Bの厚さを30μm以上とした。
現状のエッチング技術においては、概ね配線パターン22A、22Bの材料として銅箔を用いた場合、銅箔の厚さと同程度の幅でライン/スペースとするのが微細化の限界なので、多少余裕を見て銅箔の厚さ+10μmを配線パターン22A、22B間の第1の間隔d1とした。
充填部23A、23Bは、厚い方が熱を吸収できて、放熱面積も増え、また、実装基板上に印刷されたはんだペーストとも接触しやすくなるが、一方充填部23A、23Bを厚くすることは、コスト的に不利になる。一般的に樹脂フィルム20の厚みは50μm程度なので、その50%である25μm程度は必要という経験から、充填部23A、23Bの厚さを樹脂フィルム20の厚さの1/2以上としたものである。
充填部23A、23B間の第2の間隔d2は、小さいほどよいが、例えば樹脂フィルム20の材料として、50μmの厚さのポリイミドを安定して抜くには、概ね0.15mm幅が限界であるとの経験から、充填部23A、23B間の第2の間隔d2を0.20mm以下とした。
次に、図1に示すLEDパッケージ1の製造方法の一例を説明する。
まず、図3(a)に示すように、接着剤21と樹脂フィルム20からなる電気的絶縁材200を準備する。この電気的絶縁材200は、市販(株式会社巴川製紙所、東レ株式会社、株式会社有沢製作所など)されており、接着剤21は、カバーフィルム(図示せず)で保護されている。この電気的絶縁材200を購入ではなく自ら製造しようとする場合には、樹脂フィルム20として、例えばポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエチレンナフタレート、エポキシ、アラミドのいずれかの樹脂からなるフィルムに、エポキシ系で熱硬化の接着剤シートをラミネートして製造することができる。この電気的絶縁材200は、TABの製造ラインを流すためにロール形態が好適であり、予め所望の幅にスリットしてからラミネートしてもよいし、広い幅でラミネートしてから所望の幅にスリットしてもよい(図示せず)。
次に、図3(b)に示すように、電気的絶縁材200に充填部23A、23Bのための貫通孔20cを打ち抜き金型であける。この加工においては、一対の貫通孔20c間の第2の間隔d2を0.30mm以上の長さにわたって0.20mm以下にする必要があるので、剛性のある高精度の打ち抜き金型が必要になる。具体的には、可動ストリッパー方式の金型で、ダイとストリッパーをワイヤ放電加工機で共加工したり、パンチ、ダイ、ストリッパーの主要な加工精度を±0.002mm以下で加工し、パンチ、ダイ、ストリッパーのそれぞれのクリアランスを微調整するなどの手段を講じる必要がある。また、この貫通孔20cの加工の際に、必要に応じてスプロケット穴103やアライメント用の穴(図示せず)をあけてもよい。
次に、図3(c)に示すように、銅箔220をラミネートする。銅箔220は、電解箔、または圧延箔で、裏面の表面粗さが算術平均粗さRaが概ね3〜5μm以下で35〜105μm程度の厚さのなかから選定すると、後のエッチング工程で、(銅箔の厚さ+10μm)以下の第1の間隔d1を形成するのが比較的容易になる。ラミネートは常圧又は減圧環境下のロールラミネーターを使用するのが好ましいが、ダイヤフラム式、平板プレス式、スチールベルト式のラミネーターでもよい。ラミネート時の条件は、接着剤メーカが示す参考条件を基準に選定することが可能である。多くの熱硬化性接着材の場合はラミネート終了後、例えば150℃以上の高温でポストキュアを行うのが一般的である。この点も接着剤メーカの参考条件を基準に決定する。
次に、図3(d)に示すように、貫通孔20cに電気銅めっきで埋め込みめっきを行って充填部23A、23Bを形成する。埋め込みめっきの方法については、特開2003−124264号公報などでも公開されている。具体的には、銅箔面の給電部を除きめっき用マスキングテープでマスキングして銅めっきを行うわけであるが、銅めっき液の種類やめっき条件を変えることによって、充填部23A、23Bの先端を凸にも凹にも平坦にも形成が可能である。また、充填部23A、23Bの厚さもめっき条件(主にめっき時間)によって調整ができる。銅めっき液とその使用方法の情報については、銅めっき液を販売しているメーカ(荏原ユージライト株式会社、アトテックジャパン株式会社など)から容易に入手可能なので詳細な説明は省略する。
次に、図3(e)に示すように、銅箔220のパターニングを行って配線パターン22A、22Bを形成する。図示はしないが、パターニングについてはフォトリソグラフィを用いるので、銅箔220にレジストを塗工し、露光した後、現像してエッチングし、エッチング後のレジストを剥離するという一連の作業を行って配線パターン22A、22Bを形成する。
次に、図示しないが、埋め込みめっき側のマスキングテープを剥して、配線パターン22A、22B及び充填部23A、23Bの表面に金、銀、パラジウム、ニッケル、すず、銅のいずれかの金属を含むめっきを行う。めっきは、複数の種類、複数の層でもよい。めっきの方法としては、めっき用給電線が不要な無電解めっきが望ましいが、電解めっきでもよい。このとき、銅箔のパターン面と埋め込みめっき面側で交互にマスキングしながら別の種類のめっきをすることでもよい。また、めっきの面積を削減するために、銅箔のパターン面はあらかじめ、めっきが不要な部分をレジストやカバーレイでカバーしてからめっきすることでもよい。
図3(f)に示すように、配線パターン22A、22Bを覆うように絶縁層24を形成する。絶縁層24としては、フォトタイプの白色のレジストを印刷、露光、現像して形成するのがよい。そのような白色のレジストとしては、例えば太陽インキ製造株式会社のPSR-4000がある。作業方法としては、従来からある緑色のPSR-4000シリーズとほぼ同じである。白色のレジストの反射率としてセラミックと同等の80%以上を狙う場合は、白色のレジストの厚さは20μm以上、可能であれば30μmが望ましい。反射率は、例えば株式会社島津製作所の分光光度計UV-3100を用い、BaSO4の白色の反射率を基準に450〜700nmまで2nm間隔で分光反射率を測定する。反射率が80%以上となる場合、この測定値が全ての波長において80%以上となっている。
図3(g)に示すように、絶縁層24に開口24aを形成する。LEDチップ3の下の絶縁層24の面積を増やすためには、開口24aの面積は小さいほどよいので、露光機としては、投影タイプの露光機(例えば、ウシオ電機株式会社製)を用いて開口24aを形成する。白色のレジストの開口24aを例えば直径0.15mm以下、すなわち0.017mm2以下の微小な開口面積に形成するのが望ましい。なお、図示はしないが絶縁層24の搭載領域30から離れた場所にバンプ32a、32b用の開口24a以外の開口を設けてその部分をLEDチップ3を実装するためのアライメントマークやLEDチップ3の極性を示すマークとしてもよい。
次に、完成したテープ基板100を、ブロック102単位で所望の長さに切断して、LEDチップ3をマウンタで搭載領域30上にマウントする。LEDチップ3のバンプ32a、32bの材質(金やはんだ)に合わせて、最適なマウンタを選択するとよい。なお、ワイヤボンディング型のLEDチップについても同様にしてマウントすることができる。マウンタのメーカとして、例えばJUKI株式会社、パナソニック ファクトリーソリューションズ株式会社、株式会社日立ハイテクインスツルメンツ、株式会社新川などがある。
次に、必要に応じて、大気圧のプラズマクリーニングやLEDチップ3のアンダーフィリングを経て、コンプレッションモールド装置と金型によってLEDチップ3を封止樹脂4Aとして、例えばシリコーン樹脂で封止(コンプレッションモールド)する。封止樹脂4Aには、蛍光体を混入させてもよいし、事前に蛍光体の入った樹脂をポッティング封止してから封止してもよい。
LEDパッケージ1をLEDパッケージ単位(1ユニット)に個片化(分割)する。この場合、一般的には回転砥石によって切断するダイシングで行うが、例えばビグ刃と呼ばれるような刃物で押し切りすることでも可能である。以上のようにしてLEDパッケージ1を完成させることができる。
次に、LEDパッケージ1の動作について説明する。LEDパッケージ1は、例えば実装基板に実装され、LEDチップ3が実装基板と電気的に接続される。すなわち、実装基板上には、一対の給電用パターンが形成されており、一対の給電用パターンにLEDパッケージ1の充填部23A、23Bがはんだペーストを介して電気的に接続される。給電用パターンにLEDチップ3を駆動するのに必要な電圧を印加すると、その電圧が充填部23A、23B、配線パターン22A、22B、バンプ32a、32b及び電極31a、31bを介してLEDチップ3に印加される。LEDチップ3は、電圧の印加によって発光し、光を封止樹脂4Aを介して外部に出射する。LEDチップ3の発熱は、電極31a、31b、バンプ32a、32b及び配線パターン22A、22Bを介して充填部23A、23Bに伝達し、実装基板に放熱される。また、LEDチップ3から発生した光のうち下方に出射した光は、光反射性を有する絶縁層24で反射するので、上方への光束が増大する。
本実施の形態によれば、以下の効果を奏する。
(a)樹脂フィルム20の表面20aに配線パターン22A、22Bを形成し、樹脂フィルム20を貫通するように設けた金属からなる充填部23A、23Bを配線パターン22A、22Bに接触させつつ樹脂フィルム20の裏面20bに露出させたので、片面配線基板を用いたフリップチップ実装が可能となる。
(b)充填部23A、23Bの面積を搭載領域30の面積よりも広く、かつ、配線パターン22A、22Bの面積の50%以上とすることにより、充填部23A、23Bの放熱面積が増大し、放熱性に優れたものとなる。
(c)絶縁層24は、開口24aを除きLEDチップ直下やLEDチップ近傍においてもLEDチップからの光を反射するので、光反射性に優れたものとなる。また、めっき面を覆うことで、めっきの光反射性に起因する影響を少なくすることが可能となる。
(d)発光素子搭載用基板としてのデザインの汎用性を高めることができるので、その結果として単位明るさ当たりの価格の安価なLEDパッケージを提供することが可能になる。
(e)放熱性に関しては、主に配線パターンや充填部の厚さと面積と位置を調整することで、熱の伝導・対流・放射の調整が可能になる。
図4(a)は、本発明の第2の実施の形態に係るLEDパッケージを示し、封止樹脂と絶縁層を取り除いたLEDパッケージの平面図、図4(b)は、発光素子搭載用基板の平面図である。
図5(a)は、本発明の第3の実施の形態に係るLEDパッケージを示し、封止樹脂と絶縁層を取り除いたLEDパッケージの平面図、図5(b)は、発光素子搭載用基板の平面図である。
図6(a)は、本発明の第4の実施の形態に係るLEDパッケージを示し、封止樹脂と絶縁層を取り除いたLEDパッケージの平面図、図6(b)は、発光素子搭載用基板の平面図である。
図7(a)は、本発明の第5の実施の形態に係るLEDパッケージの断面図、図7(b)は、図7(a)のLEDパッケージから封止樹脂と絶縁層を取り除いたLEDパッケージの平面図である。
図8(a)は、本発明の第6の実施の形態に係るLEDパッケージの断面図、図8(b)は、図8(a)のLEDパッケージから封止樹脂と絶縁層を取り除いたLEDパッケージの平面図である。
図9は、本発明の第7の実施の形態に係るLEDパッケージの断面図である。
図10は、本発明の第8の実施の形態に係るLEDパッケージの断面図である。
図11(a)は、本発明の第9の実施の形態に係るLEDパッケージの断面図、図11(b)は、図11(a)のLEDパッケージから封止樹脂を取り除いたLEDパッケージの平面図である。
図12は、本発明の第10の実施の形態に係るLEDパッケージの断面図である。
本発明の配線基板の放熱性の確認として図6に類似した実装形態で試験を行った。配線基板の厚さ方向の構成は、樹脂フィルム20としてユーピレックスS(宇部興産株式会社の商品名)の50μm厚さのものを使用し、そこに接着剤21として巴川X(株式会社巴川製紙所の商品名)を12μmラミネートし、配線パターン22A,22Bとして厚さ35μmの銅箔を用いた。評価用の配線基板の配線パターンとしては概略、図6の22B側のパターンのみを用いた。まず配線基板Aとして、その平面サイズは樹脂フィルム20が2.2×1.6mm、パターン22Bが1.6×1.3mm、充填部23Bが1.2×1.0mmで、それぞれが中心をほぼ同じく配置している。また充填部23Bの厚さは60μmで充填部23Bと配線パターン22B表面には、Niめっき0.5μm、金めっき0.5μmが加工されている。比較用の配線基板Bとしては同じ構成・サイズで充填部23Bと貫通穴が無いものを用いた。次に配線基板Aと配線基板BをAu−Snペーストを用いてTO−46ステムに固定し、それぞれパターンの中央付近に2ワイヤタイプの0.5mm角のLEDチップ(日立電線株式会社製)を銀ペーストでダイボンディングし、金ワイヤでTO−46ステムとLEDチップを結線した。加えて比較用に、TO−46ステムに同じLEDチップを銀ペーストでダイボンディングし、金ワイヤでTO−46ステムと結線した。
この3種類のサンプルを過渡熱抵抗測定法(ΔVF法)を用いて熱抵抗とLEDチップ
の温度上昇を推定した。その結果、TO−46ステムの温度上昇の影響が現れる直前でのLEDチップの温度上昇ΔTjは、TO−46ステムに直接ダイボンディングしたものと
充填部がある配線基板AのΔTjはほぼ同一で約20℃となった。一方、充填部の無い配線基板BのΔTjは約40℃となった。これをTO−46ステムまでの熱抵抗Rthで表すとTO−46ステムに直接ダイボンディングしたものと配線基板AのRthは約60℃/W、一方、充填部の無い配線基板BのRthは約140℃/Wとなった。これは、充填部を有する配線基板Aが極めて効率よくTO−46ステムへ熱伝導していることを表している。
Claims (6)
- 絶縁性を有する基板と、前記基板の一方の面上に形成され、第1の間隔を有して離間する一対の配線パターンと、前記基板を厚さ方向に貫通し、第2の間隔を有して離間する一対の貫通孔が形成され、前記一対の配線パターンに接触するとともに前記基板の前記一方の面と反対側の面に露出するように前記一対の貫通孔に充填された金属からなる一対の充填部と、
前記一対の配線パターンを覆うように前記基板の前記一方の面上に形成された光反射性を有する絶縁層とを備える片面配線基板であって、前記一対の充填部のそれぞれの充填部は、前記一対の配線パターンのそれぞれの配線パターンの面積の50%以上の水平投影面積を有し、前記絶縁層は、前記一対の配線パターンがそれぞれ露出する開口を備えた発光素子搭載用基板。 - 前記絶縁層は、硫酸バリウム(BaSO4)の白色を基準とした分光光度計による測定において、波長450〜700nmの範囲の初期全反射率が80%以上を有する請求項1記載の発光素子搭載用基板。
- 前記絶縁層の備える前記開口は、概略0.002mm2以上の面積を有する請求項1又は2に記載の発光素子搭載用基板。
- 前記一対の配線パターンは、それぞれが概略0.1mm2以上の面積を有し、前記第1の間隔は、0.3mm以上の範囲にわたって前記配線パターンの表面において配線厚さの1.5倍以下の間隔となるように前記基板の前記一方の面上に形成され、 前記第2の間隔は、0.3mm以上の範囲にわたって前記基板の前記一方の面側において0.2mm以下の間隔となるように前記基板に設けられた請求項1乃至3のいずれか1項に記載の発光素子搭載用基板。
- 前記配線パターンは、銅又は銅合金から形成され、前記充填部は、前記貫通孔の前記基板の厚さの1/2以上の部分に充填された銅又は銅合金から形成された請求項1乃至4のいずれか1項に記載の発光素子搭載用基板。
- 請求項1乃至5のいずれか1項に記載の発光素子搭載用基板の前記一対の配線パターンを跨ぐように、若しくは一方の配線パターンの上面に前記発光素子としてLEDチップを搭載して前記配線パターンと前記LEDチップとを電気的に接続し、前記LEDチップを封止樹脂で封止した構成のLEDパッケージ。
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