JP2007227726A - Aggregate substrate processing method - Google Patents
Aggregate substrate processing method Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007227726A JP2007227726A JP2006048192A JP2006048192A JP2007227726A JP 2007227726 A JP2007227726 A JP 2007227726A JP 2006048192 A JP2006048192 A JP 2006048192A JP 2006048192 A JP2006048192 A JP 2006048192A JP 2007227726 A JP2007227726 A JP 2007227726A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- dicing
- collective
- processing method
- sheet
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
Description
本発明は、集合基板を用いて部品実装と個片化の行われた実装済基板を製造する集合基板加工方法に関する。 The present invention relates to a collective substrate processing method for manufacturing a mounted substrate in which component mounting and separation are performed using the collective substrate.
従来から、携帯電話のカメラモジュールなどのように、電子素子や光学素子を小さな基板に実装してモジュール化した部品を製作するに当たり、部品実装用の複数の基板を1枚に集合して一体状態で形成した集合基板を用いる方法が知られている(例えば、特許文献1参照)。 Conventionally, when manufacturing modularized parts by mounting electronic elements and optical elements on a small board, such as a camera module of a mobile phone, a plurality of boards for mounting parts are assembled into a single piece. A method using a collective substrate formed in (1) is known (for example, see Patent Document 1).
上記特許文献1に示される集合基板を用いて実装済基板を形成する方法は、図12(a)(b)、図13(a)(b)に示すように、集合基板1に部品4を実装し、その後、表面に粘着性を有するダイシング用シートに集合基板を保持させた状態で、集合基板1をダイシングして個片化し、個々の個片化基板3に部品4を実装した実装済基板10を形成する。この方法は、部品4の実装から実装済基板10の形成直前までを集合基板1で行うものである。
As shown in FIGS. 12A and 12B and FIGS. 13A and 13B, the method for forming a mounted substrate using the collective substrate disclosed in
また、図14(a)(b)、図15、図16(a)(b)に示すように、個々の個片化基板3を形成するために集合基板1を形成し、集合基板1をダイシングして得た個々の個片化基板3に部品4の実装を行って実装済基板10を形成することも行われる。この方法は、個片化基板3を形成するまでを集合基板1を用いて行い、その後の部品4の実装と実装済基板10の形成は、個々の個片化基板3に対して行うものである。
しかしながら、上述した特許文献1や図12(a)(b)、図13(a)(b)に示されるような集合基板加工方法においては、集合基板1をダイサーやリューターを用いてダイシングする際の切粉が部品実装面に付着するので、製品の信頼性を低下させるという問題がある。また、図14(a)(b)、図15、図16(a)(b)に示されるような集合基板加工方法においては、個片化基板3を個別に扱うので、ハンドリング性が悪く生産性が上がらないという問題がある。
However, in the collective substrate processing method as shown in
本発明は、上記課題を解消するものであって、実装済基板におけるゴミの問題を解消できると共に実装済基板を形成するまでのハンドリング性を確保できる集合基板の加工方法を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems, and to provide a method for processing an aggregate substrate that can solve the problem of dust in a mounted substrate and can ensure handling properties until a mounted substrate is formed. To do.
上記課題を達成するために、請求項1の発明は、部品実装用の複数の基板を1枚に集合して一体状態で形成した集合基板を用いて、前記集合基板を構成する個々の基板毎に部品実装と個片化の行われた実装済基板を製造する集合基板加工方法において、部品実装前の前記集合基板をダイシング用シートに貼り付ける工程と、前記集合基板をダイシングして個片化基板を形成すると共にその個片化基板を前記ダイシング用シートに保持した状態とする工程と、前記個片化してダイシング用シートに保持された個片化基板に部品を実装する工程と、前記部品実装工程の後に、前記ダイシング用シートから部品実装された個片化基板を剥がして前記実装済基板を得る工程と、を備えたものである。
In order to achieve the above-mentioned object, the invention of
請求項2の発明は、請求項1に記載の集合基板加工方法において、前記集合基板は、当該集合基板におけるダイシングライン及びその近傍を避けてレジスト膜が形成されているものである。 A second aspect of the present invention is the collective substrate processing method according to the first aspect, wherein the collective substrate is formed with a resist film avoiding dicing lines and the vicinity thereof in the collective substrate.
請求項3の発明は、請求項1に記載の集合基板加工方法において、前記集合基板は、当該集合基板におけるダイシングライン及びその近傍を避けて銅箔が形成されているものである。 A third aspect of the present invention is the collective substrate processing method according to the first aspect, wherein the collective substrate is formed with a copper foil avoiding dicing lines and the vicinity thereof in the collective substrate.
請求項1の発明によれば、個片化基板をダイシング用シートに保持した状態とする工程と、個片化してダイシング用シートに保持された個片化基板に部品を実装する工程と、を経て実装済基板を形成するので、実装済基板におけるゴミの問題を解消できると共に実装済基板を形成するまでのハンドリング性を確保できる。すなわち、部品実装前にダイシングして個片化を行うので、部品にダイシングの際のゴミが付着することがなく、また、個片化基板をダイシング用シートに保持するので、個片化基板の全体を一体物として扱うことができ、これらを集合基板と同様にハンドリングできる。
According to the invention of
請求項2の発明によれば、ダイシングに際してレジスト膜を加工することがないので、レジスト膜からのゴミの発生がない。ところで、ダイシングに際して、集合基板をフルカットすることと共に、ダイシング用シートは個々の個片化基板を一体物として保持するために極力傷つけないことが必要であり、このため、ダイサーの刃先の切り込み深さが調整される。そこで、ダイサーの刃先が摩耗すると、ダイシング用シートに接している集合基板の表面に切削残りによるバリが発生することになる。ところが、集合基板の表面がレジスト膜を介してダイシング用シートに接している場合に、ダイシングラインとその近傍にレジスト膜厚に相当する空間が形成されるので、ダイサーの刃先の摩耗時においても、このような切削残りやバリの発生を回避できる。従って、後工程における、切削残りやバリの脱落によるゴミの発生を回避できる。 According to the second aspect of the present invention, since the resist film is not processed during dicing, no dust is generated from the resist film. By the way, during dicing, the collective substrate is fully cut and the dicing sheet needs to be not damaged as much as possible in order to hold individual singulated substrates as an integrated object. Is adjusted. Therefore, when the cutting edge of the dicer is worn, burrs are generated due to uncut cutting on the surface of the aggregate substrate in contact with the dicing sheet. However, when the surface of the collective substrate is in contact with the dicing sheet through the resist film, a space corresponding to the resist film thickness is formed in the dicing line and its vicinity, so even when the cutting edge of the dicer is worn, Such cutting residue and burrs can be avoided. Accordingly, it is possible to avoid generation of dust due to cutting residue and burrs falling off in a subsequent process.
請求項3の発明によれば、一般に粘りがあって快削性の低い銅箔がダイシングラインとその近傍に設けられていないので、銅箔の切削残りやバリの発生を回避でき、従って、後工程における、切削残りやバリの脱落によるゴミの発生を回避できる。
According to the invention of
以下、本発明の実施形態に係る集合基板の加工方法、すなわち、部品実装用の複数の基板を1枚に集合して一体状態で形成した集合基板を用いて、集合基板を構成する個々の基板毎に部品実装と個片化の行われた実装済基板を製造する集合基板の加工方法について、図面を参照して説明する。 Hereinafter, a method of processing an aggregate board according to an embodiment of the present invention, that is, individual boards constituting the aggregate board using the aggregate board formed by assembling a plurality of boards for component mounting into one piece A method of processing a collective substrate for manufacturing a mounted substrate that has been mounted with components and separated into pieces will be described with reference to the drawings.
(第1の実施形態)
図1は本発明の第1の実施形態に係る集合基板加工方法についての加工処理のフローチャートを示し、図2(a)(b)は集合基板1をダイシング用シート2に貼り付けた状態を示し、図3(a)(b)はダイシング用シート2に保持された個片化基板3を示し、図4(a)(b)はダイシング用シート2上で部品4を実装された個片化基板3を示し、図5は実装済基板10が得られる様子を示す。
(First embodiment)
FIG. 1 shows a flowchart of processing for the collective substrate processing method according to the first embodiment of the present invention, and FIGS. 2A and 2B show a state in which the
本実施形態の集合基板加工方法は、部品実装前の集合基板1をダイシング用シート2に貼り付ける工程(S1)と、集合基板1をダイシングして個片化基板3を形成すると共にその個片化基板3をダイシング用シート2に保持した状態とする工程(S2)と、個片化してダイシング用シート2に保持された個片化基板3に部品4を実装する工程(S3)と、部品実装工程の後に、ダイシング用シート2から部品実装された個片化基板3を剥がして実装済基板10を得る工程(S4)と、を備えている。以下、各工程を詳述する。
In the collective substrate processing method of this embodiment, the
図2(a)(b)は、上述の工程S1後の、ダイシング用シート2に貼り付けられた集合基板1を示す。この集合基板1は、例えば、プリント配線基板であり、四角形状をしており、4×10=40個の四角形の個片化基板3を集合して一体状態で形成したものである。この集合基板1は、後工程において、縦方向と横方向と複数の点線で示したダイシングライン11に沿ってフルカットされる。集合基板1は、ダイシング用シート2に貼り付けられている。ダイシング用シート2は、集合基板1よりも大きな四角形状であり、外周部に枠体2aを備えている。このダイシング用シート2と枠体2aは、集合基板1を保持して各処理工程に供するためのキャリアを構成する。ダイシング用シート2は、例えば、半導体ウエハのダイシングに用いられる、紫外線の照射によって粘着力を低下させることができる粘着シート、いわゆるUVシートを用いることができる。
2A and 2B show the
図3(a)(b)は、上述の工程S2後の、集合基板1がダイシングにより個片化されてダイシング用シート2に保持された状態を示す。集合基板1は、ダイサーの回転するブレード5によって切断され、ブレード5の幅の切断領域12によって互いに離間した40個の個片化基板3がもとの集合基板1の配置状態でダイシング用シート2上に保持されている。キャリアを構成するダイシング用シート2と枠体2aは、切断された個片化基板3間のピッチ精度を集合基板1の状態に精度よく維持することができる。また、これらの個片化基板3は、ダイシング用シート2に保持された状態で、洗浄され、ダイシング時の砥粒や切断屑が除去される。
3A and 3B show a state in which the
図4(a)(b)は、上述の工程S3後の、ダイシング用シート2上で部品4の実装が行われた個片化基板3を示す。部品4は、ダイサーで切断される前の集合基板1に部品を実装するのと同様に、個片化基板3の上に実装される。
4A and 4B show the singulated
図5は、上述の工程S4に対応しており、実装済基板10が、ダイシング用シート2から剥がし取られる様子を示す。ダイシング用シート2としてUVシートを用いる場合、ダイシング用シート2の下面(個片化基板3のない面)から紫外線6を照射して、ダイシング用シート2の粘着性を弱めて実装済基板10のピックアップが行われる。
FIG. 5 corresponds to the above-described step S <b> 4 and shows a state where the mounted
本実施形態の発明によれば、個片化基板3をダイシング用シート2に保持した状態とする工程と、個片化してダイシング用シート2に保持された個片化基板3に部品を実装する工程と、を経て実装済基板10を形成するので、実装済基板10におけるゴミの問題を解消できると共に実装済基板10を形成するまでのハンドリング性を確保できる。すなわち、部品4の実装前にダイシングして個片化を行うので、部品4にダイシングの際のゴミが付着することがなく、また、個片化基板3をダイシング用シート2に保持するので、個片化基板3の全体を一体物として扱うことができ、これらを集合基板1と同様にハンドリングできる。個片化基板3に実装する部品が、例えば、カメラモジュールのCCD素子などの光学素子の場合、ゴミの発生と付着を抑えることは、実装済基板10の製造にとって特に重要であり、本発明の集合基板加工方法が有効である。
According to the invention of the present embodiment, the process of bringing the singulated
(第2の実施形態)
図6(a)(b)は本発明の第2の実施形態に係る集合基板加工方法により加工する集合基板1を基台2b上のダイシング用シート2に貼り付けた状態を示し、図7(a)(b)はダイシング用シート2に保持された個片化基板3を示し、図8はダイシング用シート2上で部品4を実装された個片化基板3を示し、図9は実装済基板10が得られる様子を示す。
(Second Embodiment)
6 (a) and 6 (b) show a state in which the
この第2の実施形態における集合基板加工方法は、上述の第1の実施形態におけるダイシング用シート2の枠体2aに代えて、ダイシング用シート2の下側(個片化基板3のない側)にキャリア用の基台2bを設けている点が第1の実施形態の集合基板加工方法と異なり、他の点は同様である。この実施形態のダイシング用シート2は、両面に粘着性を有しており、上面の粘着性により、集合基板1及び集合基板1をダイシングして形成した個片化基板3の集合体を保持し、下面の粘着性により、ダイシング用シート2と基台2bとを互いに固定している。
In the collective substrate processing method in the second embodiment, instead of the
基台2bは、ダイシング用シート2とその上の集合基板1や個片化基板3を保持し、保持したこれらを工程間で搬送したり、工程で処理したりするのに用いられる。また、基台2bは、ダイシング用シート2としてUVシートを用いる場合、ダイシング用シート2の下面(個片化基板3のない面)から紫外線6を照射して、ダイシング用シート2の粘着性を弱めて実装済基板10のピックアップができるように、紫外線を透過する材料で形成される。基台2bは、例えば、紫外線の透過率の高いプラスチックやガラスで構成される。
The
本実施形態の集合基板加工方法は、第1の実施形態と同様の効果を奏することに加え、基台2bが集合基板1の全体及び個片化基板3の全体を下面から支えることができるので、個片化基板3の位置をより精度良く保って各工程の処理が行える。
The aggregate substrate processing method of this embodiment has the same effects as those of the first embodiment, and the
(第3の実施形態)
図10は本発明の第3の実施形態に係る集合基板加工方法についてのダイシング加工の様子を示し、図11(a)は一般的なダイシング加工の様子を示し、図11(b)はダイシング加工における不具合発生の様子を示す。
(Third embodiment)
FIG. 10 shows a dicing process for the collective substrate processing method according to the third embodiment of the present invention, FIG. 11 (a) shows a general dicing process, and FIG. 11 (b) shows a dicing process. The state of the occurrence of defects in is shown.
この第3の実施形態における集合基板加工方法は、上述の第1及び第2の実施形態における集合基板加工方法において、ダイシング時のバリの発生やゴミの発生をより低減するものである。このため、本実施形態で用いる集合基板1は、図10に示すように、ダイサーのブレード5によって切断する集合基板1のダイシングライン及びその近傍であって、少なくともダイシング用シート2に相対する側における領域を避けるように、空間P(逃げ)を設けて、銅箔1bとレジスト膜1cとが形成されている。
The collective substrate processing method according to the third embodiment further reduces the generation of burrs and dust during dicing in the collective substrate processing method according to the first and second embodiments described above. For this reason, the
ところで、集合基板1から個片化基板3を形成する場合、図11(a)に示すように、集合基板1はフルカットされるが、ダイシング用シート2は個々の個片化基板を一体物として保持するために極力傷つけないようにされる。このため、ブレード5の刃先の切り込み深さが必要最小限に調整される。そこで、ダイサーの刃先5aが摩耗すると、図11(b)に示すように、ダイシング用シート2に接している集合基板1の表面に切削残りによるバリQが発生することになる。
By the way, when the separated
通常、部品実装に用いられる集合基板1は、図10に示すように、基板コア1aの両側に回路パターン形成用の銅箔1bの層、さらに銅箔1bの層を覆うソルダーレジストなどのレジスト膜1cの層が形成されている。そこで、ダイシング用シートに接している集合基板1のレジスト膜1cにおける切断領域の先端にレジスト膜1cの厚さに相当する空間Pを設けておくことにより、ブレード5の刃先5aの摩耗時においても、レジスト膜1cの切削残りやバリの発生を回避できる。
Normally, as shown in FIG. 10, a
また、ダイシングラインに銅箔1bと基板コア1aやレジスト膜1cなどの有機素材が混在していると、銅箔1bの切削残りによるバリが生じやすいが、同様に、銅箔1bについても逃げを形成しておくことにより、銅箔1bの切削残りやバリの発生を回避できる。従って、後工程における、銅箔1bやレジスト膜1cの切削残りやバリの脱落によるゴミの発生を回避できる。
Moreover, if the
なお、本発明は、上記構成に限られることなく種々の変形が可能である。例えば、集合基板1をプリント配線基板であるとして説明したが、集合基板1は、これに限らず、電子部品や半導体素子を実装する集合基板であれば本発明を適用できる。例えば、半導体基板であるシリコンウエハなどからなる集合基板1が挙げられる。なお、ダイシング用シート2上の個片化基板3に部品を実装する方法として、導電性接着剤を用いたり、ワイヤーボンディングやボールボンディング、シート状接続部材を用いた電気接続などを用いることができる。
The present invention is not limited to the above-described configuration, and various modifications can be made. For example, the
1 集合基板
2 ダイシング用シート
3 個片化基板
4 部品
10 実装済基板
11 ダイシングライン
1b 銅箔
1c レジスト膜
DESCRIPTION OF
Claims (3)
部品実装前の前記集合基板をダイシング用シートに貼り付ける工程と、
前記集合基板をダイシングして個片化基板を形成すると共にその個片化基板を前記ダイシング用シートに保持した状態とする工程と、
前記個片化してダイシング用シートに保持された個片化基板に部品を実装する工程と、
前記部品実装工程の後に、前記ダイシング用シートから部品実装された個片化基板を剥がして前記実装済基板を得る工程と、を備えたことを特徴とする集合基板加工方法。 Using a collective board formed by integrating a plurality of boards for component mounting into one piece, a mounted board that has been mounted and separated into individual parts for each board constituting the collective board In the collective substrate processing method to be manufactured,
A step of attaching the collective substrate before component mounting to a dicing sheet;
Dicing the collective substrate to form an individualized substrate and holding the individualized substrate on the dicing sheet; and
Mounting the components on the singulated substrate held in the sheet for dicing and dicing;
After the component mounting step, there is provided a step of peeling the singulated substrate mounted with the component from the dicing sheet to obtain the mounted substrate.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006048192A JP2007227726A (en) | 2006-02-24 | 2006-02-24 | Aggregate substrate processing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006048192A JP2007227726A (en) | 2006-02-24 | 2006-02-24 | Aggregate substrate processing method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007227726A true JP2007227726A (en) | 2007-09-06 |
Family
ID=38549224
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006048192A Pending JP2007227726A (en) | 2006-02-24 | 2006-02-24 | Aggregate substrate processing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007227726A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009117450A (en) * | 2007-11-02 | 2009-05-28 | Rohm Co Ltd | Module and its manufacturing method |
JP2017168835A (en) * | 2016-03-17 | 2017-09-21 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | Carrier and printed circuit board to be adhered the carrier |
JP2020126911A (en) * | 2019-02-04 | 2020-08-20 | デンカ株式会社 | Method of manufacturing multiple mounting substrates, group of multiple wiring substrates, group of multiple phosphor substrates, group of multiple mounting substrates, and group of multiple light-emitting substrates |
-
2006
- 2006-02-24 JP JP2006048192A patent/JP2007227726A/en active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009117450A (en) * | 2007-11-02 | 2009-05-28 | Rohm Co Ltd | Module and its manufacturing method |
US8302277B2 (en) | 2007-11-02 | 2012-11-06 | Rohm Co., Ltd. | Module and manufacturing method thereof |
JP2017168835A (en) * | 2016-03-17 | 2017-09-21 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | Carrier and printed circuit board to be adhered the carrier |
JP2020126911A (en) * | 2019-02-04 | 2020-08-20 | デンカ株式会社 | Method of manufacturing multiple mounting substrates, group of multiple wiring substrates, group of multiple phosphor substrates, group of multiple mounting substrates, and group of multiple light-emitting substrates |
JP7352358B2 (en) | 2019-02-04 | 2023-09-28 | デンカ株式会社 | Manufacturing method for multiple mounting boards |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI534999B (en) | Image sensor chip package and method for forming the same | |
US20070275543A1 (en) | Manufacturing method of a semiconductor device | |
KR100759687B1 (en) | Method for thinning substrate and method for manufacturing circuit device | |
JP2007250598A (en) | Process for manufacturing semiconductor device | |
US20150206916A1 (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
US20110034007A1 (en) | Dividing method for platelike workpiece | |
US20120043660A1 (en) | Thin foil semiconductor package | |
US20070036932A1 (en) | Methods for releasably attaching support members to microfeature workpieces and microfeature assemblies formed using such methods | |
JP2009533867A (en) | Method of installing a protective cover on an image pickup apparatus and apparatus manufactured by the method | |
US7846776B2 (en) | Methods for releasably attaching sacrificial support members to microfeature workpieces and microfeature devices formed using such methods | |
JP2018041896A (en) | Processing method of laminated wafer | |
JP5197037B2 (en) | Wafer processing method for processing a wafer on which bumps are formed | |
JP2007227726A (en) | Aggregate substrate processing method | |
US9419050B2 (en) | Manufacturing method of semiconductor structure with protein tape | |
JP2018206936A (en) | Substrate processing system and substrate processing method | |
JP2005045023A (en) | Manufacturing method of semiconductor device and manufacturing device for semiconductor | |
US7531432B2 (en) | Block-molded semiconductor device singulation methods and systems | |
JP2007048876A (en) | Manufacturing method for semiconductor device | |
KR101449909B1 (en) | Method for removing the trimmed scrap of adhesive film from a carrier support tape | |
US7262114B2 (en) | Die attaching method of semiconductor chip using warpage prevention material | |
JP2011187747A (en) | Substrate dividing method | |
JP2006196823A (en) | Method of manufacturing semiconductor device | |
JP2009170470A (en) | Method for manufacturing semiconductor device | |
JP2010171240A (en) | Manufacturing method of electronic device | |
JP2008153487A (en) | Manufacturing device and manufacturing method for semiconductor device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090129 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20090129 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20090216 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090224 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20090630 |