JP2004303671A - Manufacturing method of electro-optical device, electro-optical device, and electronic equipment - Google Patents

Manufacturing method of electro-optical device, electro-optical device, and electronic equipment Download PDF

Info

Publication number
JP2004303671A
JP2004303671A JP2003097508A JP2003097508A JP2004303671A JP 2004303671 A JP2004303671 A JP 2004303671A JP 2003097508 A JP2003097508 A JP 2003097508A JP 2003097508 A JP2003097508 A JP 2003097508A JP 2004303671 A JP2004303671 A JP 2004303671A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
electro
electrode
optical device
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2003097508A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2004303671A5 (en
Inventor
Kozo Shimokami
耕造 下神
Kenji Hayashi
建二 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2003097508A priority Critical patent/JP2004303671A/en
Publication of JP2004303671A publication Critical patent/JP2004303671A/en
Publication of JP2004303671A5 publication Critical patent/JP2004303671A5/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To form a layer which enhances adhesiveness between an electro-optical layer as an organic matter and an electrode as an inorganic matter without depending on vapor deposition so as to correspond easily to a large substrate, regarding a manufacturing method of an electro-optical device such as an organic EL display device or the like. <P>SOLUTION: As for the manufacturing method of the electro-optical device 1 composed by laminating a first electrode 23, the electro-optical layer 60, and a second electrode 50 on a substrate 20, after the electro-optical layer 60 as an organic matter is formed on the first electrode 23, the surface of this electro-optical layer 60 is reformed by a nitrogen plasma treatment, and the second electrode 50 as an inorganic matter is formed on this reformed film 30. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電気光学装置の製造方法と、この方法により製造された電気光学装置及びこれを備えた電子機器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
複数の層を積層してなる電気光学装置では、各層の密着性がその電気光学特性に大きな影響を与える。例えば、有機エレクトロルミネッセンス(以下、有機ELと略記する)装置では、画素を仕切る樹脂バンクや発光層となる有機EL層の上に金属電極(陰極)が積層されるが、この接触界面における異種材料の密着状態が、後工程で構築される電極部分だけでなく、素子全体の性能及び安定性に大きな影響を与える。
このため、有機物である樹脂バンクや有機EL層と無機物である陰極との間に、これらの密着性を高めるための層(密着付与層)を設ける必要がある。従来、このような密着付与層は、各種金属元素を上記有機材料の上に蒸着することにより形成されていた(例えば、特許文献1)。
【0003】
【特許文献1】
特開2002−280184号公報
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述のように金属薄膜を蒸着する方法では蒸着マスクが必要となり、大型基板に適用することは困難である。
本発明は上記課題に鑑み創案されたものであり、密着付与層を蒸着に依らずに形成できるようにした電気光学装置の製造方法、及び、この方法により製造された電気光学装置、更に、この電気光学装置を備えた電子機器を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の電気光学装置の製造方法は、基板上に第1の電極を形成する工程と、上記第1の電極の上に電気光学層を形成する工程と、窒素プラズマ処理により上記電気光学層の表面改質を行なう工程と、上記電気光学層の上に第2の電極を形成する工程とを備えたことを特徴とする。
本製造方法では、電気光学層を形成した後、窒素プラズマ処理を施すことで、電気光学層の表面に窒化膜を形成している。窒化膜は無機物との間で良好な密着性を有することから、上記窒化膜は、電気光学層と第2の電極との間の密着性を高める密着付与層として機能する。このように本製造方法では、蒸着マスクを用いることなく窒素プラズマ処理を施すのみで、電気光学層表面に密着付与層を形成できるため、大型基板プロセスに対して容易に適用可能となる。
【0006】
なお、上記電気光学層には、液晶やエレクトロルミネッセンス(EL)材料等の種々の電気光学材料を適用することができる。また、電気光学層は、単一の層のみならず、複数の機能層の積層膜として構成することができる。例えば、第1の電極と第2の電極との間に、正孔注入層,正孔輸送層,EL発光層,電子輸送層,電子注入層等の複数の機能層を積層して設けることで、電気光学素子としてEL発光素子を形成することができる。
【0007】
また、本発明の電気光学装置の製造方法は、基板上に第1の電極を複数形成する工程と、上記基板上に上記第1の電極の形成位置に対応した複数の開口部を有するバンク構造体を形成する工程と、上記バンク構造体の各開口部にそれぞれ電気光学層を形成する工程と、窒素プラズマ処理により上記バンク構造体及び上記電気光学層の表面改質を行なう工程と、上記バンク構造体及び上記各電気光学層を覆うように第2の電極を形成する工程とを備えたことを特徴とする。
【0008】
本製造方法は、電気光学素子がバンク構造体により互いに仕切られた状態で基板上に複数設けられた電気光学装置の製造方法である。本製造方法では、窒素プラズマ処理により電気光学層及びバンク構造体の表面が窒素改質され(即ち、窒化膜からなる密着付与層が形成され)、第2の電極との間で良好な密着性が得られる。なお、第2の電極を形成する際に、バンク構造体の外側部が基板に対して垂直又は逆テーパ形状となっていると、ここで上記電極に段切れが生じる虞がある。このため、バンク構造体の外側部を構成する面の、基板表面に対する角度は110°以上であることが好ましい。
【0009】
上記各製造方法では、上記電気光学層と第2の電極との間で良好な密着性が得られるように、上記電気光学層やバンク構造体の表面に形成される改質膜(密着付与層)の膜厚を0.1nm以上とすることが好ましい。一方、改質膜の厚みをあまり厚くすると第2の電極からの電荷注入効率が損なわれるため、上記膜厚は10nm以下であることが好ましい。
【0010】
また、酸素や水分等に対する耐久性を高めるために、上記第2の電極の上にはガスバリア層を形成することが好ましい。この際、無機物である第2の電極との密着性を高めるために、ガスバリア層を酸化珪素,窒化珪素,酸窒化珪素等の珪素化合物で形成することが好ましい。特に、珪素窒化物や珪素酸窒化物は絶縁性に優れることから、ガスバリア層をこのような材料で構成することで、通電時の漏電を防ぐ効果も得られる。
【0011】
また、上記電極や電気光学層等を保護するために、ガスバリア層を形成した後に、このガスバリア層を覆うように保護層を設けることが望ましい。この際、表面側に表面保護層を設けるようにすることが好ましい。このようにすれば、例えば表面保護層として耐圧性や耐摩耗性、光反射防止性、ガスバリア性、紫外線遮断性などの機能を有する層を設けることにより、発光層や電極、さらにはガスバリア層もこの表面保護層によって保護することができ、発光素子の長寿命化をより一層図ることができる。
【0012】
また、本発明の電気光学装置は上述の方法により製造されたことを特徴とする。また、本発明の電子機器は、上述の電気光学装置を備えたことを特徴とする。これにより、高性能且つ信頼性の高い大型の表示部を備えた電子機器を提供することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】
[第1実施形態]
図1〜図7を参照しながら、本発明の第1実施形態に係る電気光学装置について説明する。
まず、本発明の電気光学装置の製造方法を説明するに先立ち、本発明の製造方法が適用される電気光学装置の一例として、有機エレクトロルミネッセンス(EL)材料を用いたEL表示装置について説明する。
本例のEL表示装置の配線構造を、図1を参照して説明する。
図1に示すEL表示装置(電気光学装置)1は、スイッチング素子として薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor、以下ではTFTと略記する)を用いたアクティブマトリクス型のEL表示装置である。
【0014】
このEL表示装置1は、図1に示すように、複数の走査線101…と、各走査線101に対して直角に交差する方向に延びる複数の信号線102…と、各信号線102に並列に延びる複数の電源線103…とがそれぞれ配線された構成を有するとともに、走査線101…と信号線102…の各交点付近に、画素領域X…が設けられている。
信号線102には、シフトレジスタ、レベルシフタ、ビデオライン及びアナログスイッチを備えるデータ線駆動回路100が接続されている。また、走査線101には、シフトレジスタ及びレベルシフタを備える走査線駆動回路80が接続されている。
【0015】
さらに、画素領域X各々には、走査線101を介して走査信号がゲート電極に供給されるスイッチング用TFT112と、このスイッチング用TFT112を介して信号線102から共有される画素信号を保持する保持容量113と、該保持容量113によって保持された画素信号がゲート電極に供給される駆動用TFT123と、この駆動用TFT123を介して電源線103に電気的に接続したときに該電源線103から駆動電流が流れ込む画素電極(電極)23と、この画素電極23と陰極(電極)50との間に挟み込まれた電気光学層110とが設けられている。画素電極23と陰極50と電気光学層110により、発光素子(有機EL素子)が構成されている。
【0016】
このEL表示装置1によれば、走査線101が駆動されてスイッチング用TFT112がオン状態になると、そのときの信号線102の電位が保持容量113に保持され、該保持容量113の状態に応じて、駆動用TFT123のオン・オフ状態が決まる。そして、駆動用TFT123のチャネルを介して、電源線103から画素電極23に電流が流れ、さらに電気光学層110を介して陰極50に電流が流れる。電気光学層110は、これを流れる電流量に応じて発光する。
【0017】
次に、本例のEL表示装置1の具体的な構成を図2〜図5を参照して説明する。
本例のEL表示装置1は、図2に示すように電気絶縁性を備えた基板20と、スイッチング用TFT(図示せず)に接続された画素電極が基板20上にマトリックス状に配置されてなる画素電極域(図示せず)と、画素電極域の周囲に配置されるとともに各画素電極に接続される電源線(図示せず)と、少なくとも画素電極域上に位置する平面視ほぼ矩形の画素部3(図2中一点鎖線枠内)とを具備して構成されたアクティブマトリクス型のものである。なお、本発明においては、基板20と後述するようにこれの上に形成されるスイッチング用TFTや各種回路、及び層間絶縁膜などを含めて、基体と称している。(図3、4中では符号200で示している。)
【0018】
画素部3は、中央部分の実表示領域4(図2中二点鎖線枠内)と、実表示領域4の周囲に配置されたダミー領域5(一点鎖線および二点鎖線の間の領域)とに区画されている。
実表示領域4には、それぞれ画素電極を有する表示領域R、G、BがA−B方向およびC−D方向にそれぞれ離間してマトリックス状に配置されている。
また、実表示領域4の図2中両側には、走査線駆動回路80、80が配置されている。これら走査線駆動回路80、80は、ダミー領域5の下側に配置されたものである。
【0019】
さらに、実表示領域4の図2中上側には、検査回路90が配置されている。この検査回路90は、EL表示装置1の作動状況を検査するための回路であって、例えば検査結果を外部に出力する検査情報出力手段(図示せず)を備え、製造途中や出荷時の表示装置の品質、欠陥の検査を行うことができるように構成されたものである。なお、この検査回路90も、ダミー領域5の下側に配置されたものである。
【0020】
走査線駆動回路80および検査回路90は、その駆動電圧が、所定の電源部から駆動電圧導通部310(図3参照)および駆動電圧導通部340(図4参照)を介して、印加されるよう構成されている。また、これら走査線駆動回路80および検査回路90への駆動制御信号および駆動電圧は、このEL表示装置1の作動制御を行う所定のメインドライバなどから駆動制御信号導通部320(図3参照)および駆動電圧導通部350(図4参照)を介して、送信および印加されるようになっている。なお、この場合の駆動制御信号とは、走査線駆動回路80および検査回路90が信号を出力する際の制御に関連するメインドライバなどからの指令信号である。
【0021】
また、このEL表示装置1は、図3、図4に示すように基体200上に画素電極(第1の電極)23と発光層(電気光学層)60と陰極(第2の電極)50とを備えた発光素子(有機EL素子)を多数形成したものである。
なお、図3,図4では電気光学層として発光層60のみ示したが、このように電気光学層を単一の層として構成する代わりに、複数の層を積層した積層膜として構成することもできる。実際に本実施形態では、後述するように、電気光学層を、正孔注入層,正孔輸送層,電子注入層,電子輸送層などのキャリア注入層又はキャリア輸送層や正孔阻止層(ホールブロッキング層),電子阻止層(エレクトロン阻止層)と、上記発光層との積層膜としている。
【0022】
基体200を構成する基板本体20としては、いわゆるトップエミッション型のEL表示装置の場合、この基板20の対向側である封止缶604側から表示光を取り出す構成であるので、透明基板及び不透明基板のいずれも用いることができる。不透明基板としては、例えばアルミナ等のセラミックス、ステンレススチール等の金属シートに表面酸化などの絶縁処理を施したもの、また熱硬化性樹脂や熱可塑性樹脂、さらにはそのフィルム(プラスチックフィルム)などが挙げられる。
【0023】
また、いわゆるバックエミッション型のEL表示装置の場合には、基板20側から表示光を取り出す構成であるので、基板20としては、透明あるいは半透明のものが採用される。例えば、ガラス、石英、樹脂(プラスチック、プラスチックフィルム)等が挙げられ、特にガラス基板が好適に用いられる。なお、本実施形態では、基板本体20側から発光光を取り出すバックエミッション型としている。
【0024】
また、基板20上には、画素電極23を駆動するための駆動用TFT123などを含む回路部11が形成されており、その上に発光素子(有機EL素子)が多数設けられている。発光素子は、図5に示すように、陽極として機能する画素電極(第1の電極)23と、この画素電極23からの正孔を注入/輸送する正孔輸送層70と、電気光学材料の一つである有機EL物質を備える発光層60と、陰極(第2の電極)50とが順に形成されたことによって構成されたものである。
このような構成のもとに、発光素子はその発光層60において、正孔輸送層70から注入された正孔と陰極50からの電子とが結合することにより、発光光を生じるようになっている。
【0025】
画素電極23は、本例ではバックエミッション型であることから、ITO(インジウム錫酸化物)や酸化インジウム・酸化亜鉛系アモルファス透明導電膜(Indium Zinc Oxide :IZO/アイ・ゼット・オー)(登録商標))(出光興産社製)等の透光性を有する導電材料によって形成されている。
正孔輸送層70の形成材料としては、例えばポリチオフェン誘導体、ポリピロール誘導体など、またはそれらのドーピング体などが用いられる。具体的には、3,4−ポリエチレンジオキシチオフェン/ポリスチレンスルフォン酸(PEDOT/PSS)[商品名;バイトロン−p(Bytron−p):バイエル社製]の分散液、すなわち、分散媒としてのポリスチレンスルフォン酸に3,4−ポリエチレンジオキシチオフェンを分散させ、さらにこれを水に分散させた分散液などが用いられる。
【0026】
発光層60を形成するための材料としては、蛍光あるいは燐光を発光することが可能な公知の発光材料を用いることができる。具体的には、(ポリ)フルオレン誘導体(PF)、(ポリ)パラフェニレンビニレン誘導体(PPV)、ポリフェニレン誘導体(PP)、ポリパラフェニレン誘導体(PPP)、ポリビニルカルバゾール(PVK)、ポリチオフェン誘導体、ポリメチルフェニルシラン(PMPS)などのポリシラン系などが好適に用いられる。
また、これらの高分子材料に、ペリレン系色素、クマリン系色素、ローダミン系色素などの高分子系材料や、ルブレン、ペリレン、9,10−ジフェニルアントラセン、テトラフェニルブタジエン、ナイルレッド、クマリン6、キナクリドン等の低分子材料をドープして用いることもできる。
なお、前記の高分子材料に代えて、従来公知の低分子材料を用いることもできる。また、必要に応じて、このような発光層60の上に電子注入層を形成してもよい。
【0027】
また、図3〜図5に示すように、本実施形態において正孔輸送層70と発光層60とは、親液性制御層25と有機バンク層221とからなるバンク構造体により互いに仕切られた状態で基板200上に配置されている。すなわち、親液性制御層25,有機バンク層221は、基板200上にマトリクス状に配置された各画素電極23に対応する位置に開口部を有し、正孔輸送層70,発光層60は各開口部のそれぞれに設けられている。なお、格子状に形成された親液性制御層25および有機バンク層221にあって、特に最外周を形成する部分、すなわち発光層60の最外周位置のものの外側部を覆った状態でこれを囲む部分が、囲み部材201となっている。そして、この囲み部材201により囲まれた略矩形の領域が実表示領域4となっている。
【0028】
ここで、囲み部材201については、特にその上部を形成する有機バンク層221における、外側部を形成する面201aの基体200表面に対する角度θが、110度以上となっている。このような角度としたのは、後述するようにこの上に形成する陰極50のステップカバレージ性を良好にし、外側部上での陰極の連続性を確保するためである。
【0029】
陰極50は、図3〜図5に示すように、実表示領域4およびダミー領域5の総面積より広い面積を備え、それぞれを覆うように形成されたもので、前記発光層60と有機バンク層221及び囲み部材201の上面、さらには囲み部材201の外側部を形成する面201aを覆った状態で基体200上に形成されたものである。なお、この陰極50は、図4に示すように前記囲み部材201の面201aの外側で基体200の外周部に形成された陰極用配線202に接続されている。この陰極用配線202にはフレキシブル基板203が接続されており、これによって陰極50は、陰極用配線202を介してフレキシブル基板203上の図示しない駆動IC(駆動回路)に接続されたものとなっている。
【0030】
陰極50を形成するための材料としては、本例はバックエミッション型であることから例えばAl(アルミニウム)やAg(銀)等の高反射率の金属材料が用いられている。
なお、発光層60及び陰極50の表面には窒素プラズマ処理による改質膜30が形成されている。このような窒化膜は無機物との間で良好な密着性を有することから、上記改質膜30は、有機物である発光層60やバンク構造体と、無機物である陰極50との間の密着性を高める密着付与層として機能する。この改質膜30は、薄すぎると十分な密着性が得られず、又、厚すぎると陰極50からの電荷注入に支障をきたすため、その膜厚は0.1nm以上10nm以下に設定されている。
【0031】
前記の発光素子の下方には、図5に示したように回路部11が設けられている。この回路部11は、基板20上に形成されて基体200を構成するものである。すなわち、基板20の表面にはSiO を主体とする下地保護層281が下地として形成され、その上にはシリコン層241が形成されている。このシリコン層241の表面には、SiO および/またはSiNを主体とするゲート絶縁層282が形成されている。
【0032】
また、前記シリコン層241のうち、ゲート絶縁層282を挟んでゲート電極242と重なる領域がチャネル領域241aとされている。なお、このゲート電極242は、図示しない走査線101の一部である。一方、シリコン層241を覆い、ゲート電極242を形成したゲート絶縁層282の表面には、SiOを主体とする第1層間絶縁層283が形成されている。
【0033】
また、シリコン層241のうち、チャネル領域241aのソース側には、低濃度ソース領域241bおよび高濃度ソース領域241Sが設けられる一方、チャネル領域241aのドレイン側には低濃度ドレイン領域241cおよび高濃度ドレイン領域241Dが設けられて、いわゆるLDD(Light Doped Drain )構造となっている。これらのうち、高濃度ソース領域241Sは、ゲート絶縁層282と第1層間絶縁層283とにわたって開孔するコンタクトホール243aを介して、ソース電極243に接続されている。このソース電極243は、前述した電源線103(図1参照、図5においてはソース電極243の位置に紙面垂直方向に延在する)の一部として構成されている。一方、高濃度ドレイン領域241Dは、ゲート絶縁層282と第1層間絶縁層283とにわたって開孔するコンタクトホール244aを介して、ソース電極243と同一層からなるドレイン電極244に接続されている。
【0034】
ソース電極243およびドレイン電極244が形成された第1層間絶縁層283の上層は、例えばアクリル系の樹脂成分を主体とする第2層間絶縁層284によって覆われている。この第2層間絶縁層284は、アクリル系の絶縁膜以外の材料、例えば、SiN、SiO などの窒素化合物を用いることもできる。このように第2層間絶縁膜282にガスバリア性の高い窒素化合物を用いると、基板本体20を透湿性の高い樹脂基板とした場合でも、基板側から発光層60へ酸素や水分等が浸入することを防止でき、発光素子の寿命を長くすることができる。
そして、この第2層間絶縁層284の表面上には、ITOからなる画素電極23が形成されるとともに、該第2層間絶縁層284に設けられたコンタクトホール23aを介してドレイン電極244に接続されている。すなわち、画素電極23は、ドレイン電極244を介して、シリコン層241の高濃度ドレイン領域241Dに接続されている。
【0035】
なお、走査線駆動回路80および検査回路90に含まれるTFT(駆動回路用TFT)、すなわち、例えばこれらの駆動回路のうち、シフトレジスタに含まれるインバータを構成するNチャネル型又はPチャネル型のTFTは、画素電極23と接続されていない点を除いて前記駆動用TFT123と同様の構造とされている。
【0036】
画素電極23が形成された第2層間絶縁層284の表面には、画素電極23と、前記した親液性制御層25及び有機バンク層221とからなるバンク構造体が設けられている。親液性制御層25は、例えばSiO などの親液性材料を主体とするものであり、有機バンク層221は、例えばアクリルやポリイミドなどからなるものである。そして、画素電極23の上には、親液性制御層25に設けられた開口部25a、および有機バンク221に囲まれてなる開口部221aの内部に、正孔輸送層70と発光層60とがこの順に積層されている。なお、本例における親液性制御層25の「親液性」とは、少なくとも有機バンク層221を構成するアクリル、ポリイミドなどの材料と比べて親液性が高いことを意味するものとする。
以上に説明した基板20上の第2層間絶縁層284までの層が、回路部11を構成するものとなっている。
【0037】
ここで、本例のEL表示装置1は、カラー表示を行うべく、各発光層60が、その発光波長帯域が光の三原色にそれぞれ対応して形成されている。例えば、発光層60として、発光波長帯域が赤色に対応した赤色用発光層60R、緑色に対応した緑色用発光層60G、青色に対応した青色用有機EL層60Bとをそれぞれに対応する表示領域R、G、Bに設け、これら表示領域R、G、Bをもってカラー表示を行う1画素が構成されている。また、各色表示領域の境界には、金属クロムをスパッタリングなどにて成膜した図示略のBM(ブラックマトリクス)が、例えば有機バンク層221と親液性化制御層25との間に形成されている。
【0038】
このような基板200の表面には、発光層60や陰極50を酸素や水分等から保護するための封止缶604が設けられている。封止缶604は、ガラスや金属からなるもので、基板200の周囲に環状に形成された封止樹脂603を介して基板200に接合されている。また、封止缶603は、その内側にバンク構造体や陰極50等を収納する凹部604aが形成されており、この凹部604aには、酸素や水分を吸収するゲッター材605が貼り付けられている。これにより、封止缶603内部に侵入した水或いは酸素等のガスを吸収し、これらのガスによる素子の劣化を防止している。
【0039】
次に、本発明の一実施形態として、前記EL表示装置1の製造方法の一例を、図6,図7を参照して説明する。なお、本実施形態においては、電気光学装置としてのEL表示装置1が、トップエミッション型である場合について説明する。また、図6,図7に示す各断面図は、図2中のA−B線の断面図に対応した図である。
【0040】
まず、図6(a)に示すように、ガラス等からなる基板本体20の上に公知の方法により各種配線,スイッチング素子,層間絶縁膜等を有する回路部11及び画素電極23を形成する。
【0041】
次いで、図6(b)に示すように、画素電極23上および第2層間絶縁膜282上に絶縁層である親液性制御層25を形成する。なお、画素電極23においては一部が開口する態様にて親液性制御層25を形成し、開口部25a(図3も参照)において画素電極23からの正孔移動が可能とされている。続いて、親液性制御層25において、異なる2つの画素電極23の間に位置して形成された凹状部にBM(図示せず)を形成する。具体的には、親液性制御層25の前記凹状部に対して、金属クロムを用いスパッタリング法にて成膜する。
【0042】
次いで、図6(c)に示すように、親液性制御層25の所定位置、詳しくは前記BMを覆うように有機バンク層221を形成する。具体的な有機バンク層の形成方法としては、例えばアクリル樹脂、ポリイミド樹脂などのレジストを溶媒に溶解したものを、スピンコート法、ディップコート法などの各種塗布法により塗布して有機質層を形成する。なお、有機質層の構成材料は、後述するインクの溶媒に溶解せず、しかもエッチングなどによってパターニングし易いものであればどのようなものでもよい。
【0043】
続いて、有機質層をフォトリソグラフィ技術、エッチング技術を用いてパターニングし、有機質層にバンク開口部221aを形成することにより、開口部221aに壁面を有した有機バンク層221を形成する。ここで、この有機バンク層221にあたっては、特にその最外周を形成する部分、すなわち前述した本発明における囲み部材201の外側部を形成する面201aについて、その基体200表面に対する角度θを110度以上となるように形成するのが好ましい。このような角度に形成することにより、この上に形成する陰極50のステップカバレージ性を良好にすることができる。
【0044】
次いで、有機バンク層221の表面に、親液性を示す領域と、撥液性を示す領域とを形成する。本実施形態においては、プラズマ処理によって各領域を形成するものとする。具体的には、該プラズマ処理を、予備加熱工程と、有機バンク層221の上面および開口部221aの壁面ならびに画素電極23の電極面23c、親液性制御層25の上面をそれぞれ親液性にする親インク化工程と、有機バンク層の上面および開口部の壁面を撥液性にする撥インク化工程と、冷却工程とで構成する。
【0045】
すなわち、基材(バンクなどを含む基板20)を所定温度、例えば70〜80℃程度に加熱し、次いで親インク化工程として大気雰囲気中で酸素を反応ガスとするプラズマ処理(O プラズマ処理)を行う。次いで、撥インク化工程として大気雰囲気中で4フッ化メタンを反応ガスとするプラズマ処理(CF プラズマ処理)を行い、その後、プラズマ処理のために加熱された基材を室温まで冷却することで、親液性および撥液性が所定箇所に付与されることとなる。
【0046】
なお、このCF プラズマ処理においては、画素電極23の電極面23cおよび親液性制御層25についても多少の影響を受けるが、画素電極23の材料であるITOおよび親液性制御層25の構成材料であるSiO 、TiO などはフッ素に対する親和性に乏しいため、親インク化工程で付与された水酸基がフッ素基で置換されることがなく、親液性が保たれる。
【0047】
次いで、正孔輸送層形成工程によって正孔輸送層70の形成を行う。この正孔輸送層形成工程では、例えばインクジェット法等の液滴吐出法や、スピンコート法などにより、正孔輸送層材料を電極面23c上に塗布し、その後、乾燥処理および熱処理を行い、電極23上に正孔輸送層70を形成する。正孔輸送層材料を例えばインクジェット法で選択的に塗布する場合には、まず、インクジェットヘッド(図示略)に正孔輸送層材料を充填し、インクジェットヘッドの吐出ノズルを親液性制御層25に形成された前記開口部25a内に位置する電極面23cに対向させ、インクジェットヘッドと基材(基板20)とを相対移動させながら、吐出ノズルから1滴当たりの液量が制御された液滴を電極面23cに吐出する。次に、吐出後の液滴を乾燥処理し、正孔輸送層材料に含まれる分散媒や溶媒を蒸発させることにより、正孔輸送層70を形成する。
【0048】
ここで、吐出ノズルから吐出された液滴は、親液性処理がなされた電極面23c上にて広がり、親液性制御層25の開口部25a内に満たされる。その一方で、撥インク処理された有機バンク層221の上面では、液滴がはじかれて付着しない。したがって、液滴が所定の吐出位置からはずれて有機バンク層221の上面に吐出されたとしても、該上面が液滴で濡れることがなく、弾かれた液滴が親液性制御層25の開口部25a内に転がり込む。
なお、この正孔輸送層形成工程以降は、正孔輸送層70および発光層60の酸化を防止すべく、窒素雰囲気、アルゴン雰囲気などの不活性ガス雰囲気で行うのが好ましい。
【0049】
次いで、発光層形成工程によって発光層60の形成を行う。この発光層形成工程では、例えば前記のインクジェット法により、発光層形成材料を正孔輸送層70上に吐出し、その後、乾燥処理および熱処理を行うことにより、有機バンク層221に形成された開口部221a内に発光層60を形成する。この発光層形成工程では、正孔輸送層70の再溶解を防止するため、発光層形成材料に用いる溶媒として、正孔輸送層70に対して不溶な無極性溶媒を用いる。
なお、この発光層形成工程では、前記のインクジェット法によって例えば青色(B)の発光層形成材料を青色の表示領域に選択的に塗布し、乾燥処理した後、同様にして緑色(G)、赤色(R)についてもそれぞれその表示領域に選択的に塗布し、乾燥処理する。
また、必要に応じて、前述したようにこのような発光層60の上に電子注入層を形成してもよい。
【0050】
次いで、図7(d)に示すように、常圧下又は減圧下で基板200に窒素プラズマ処理を行ない、有機バンク層221(囲み部材201を含む)及び発光層60の表面に窒素改質膜30を形成する。この改質膜30は、陰極50からの電荷注入効率を損なうことなく十分な密着性を得るために、その膜厚を0.1nm以上10nm以下とする。具体的には、ECRプラズマ、RFプラズマ、容量結合型プラズマおよび誘導結合プラズマなどにより、窒素プラズマを発生させ、発光層に窒素改質膜30を形成する。なお、この表面改質工程では、導入ガスとして上記窒素以外にアルゴンやヘリウム等の不活性ガスを加えてもよい。
【0051】
次に、図7(e)に示すように、陰極層形成工程によって陰極50の形成を行う。この陰極層形成工程では、例えば蒸着法等の物理的気相蒸着法によって減圧下でAl等の高反射率の金属膜を成膜し、陰極50とする。このとき、この陰極50については、前記発光層60と有機バンク層221及び囲み部材201の上面を覆うのはもちろん、囲み部材201の外側部を形成する面201aについてもこれを覆った状態となるように形成する。
【0052】
そして、最後に、封止工程によって、発光素子の形成された基板200の表面を封止する。この封止工程では、例えば、熱硬化型樹脂又は紫外線硬化型樹脂からなる封止樹脂604を基板200の周縁部に塗布し、この封止樹脂604を介して基板200と封止缶603とを接合する。なお、この封止工程は、窒素,アルゴン,ヘリウム等の不活性ガス雰囲気下で行なうことが好ましい。
【0053】
このようなEL表示装置1の製造方法にあっては、有機物である発光層60やバンク構造体の表面を窒素プラズマ処理により窒化した状態で陰極50を形成しているため、上記発光層60,バンク構造体と陰極50との間で良好な密着性が得られる。これにより、陰極50の成膜状態が向上し、電子的機能の長期的な持続が可能となる。なお、この密着付与層としての改質膜30の膜厚は極めて薄いため、電気的特性に支障をきたすことはない。
また、上記改質膜30はプラズマ処理により形成されるため、蒸着法と異なりマスクが不要であり、大型基板に比較的容易に対応できる。
【0054】
[第2実施形態]
次に、図8を参照しながら、本発明の第2実施形態に係る電気光学装置について説明する。
本実施形態の電気光学装置1′は、上記第1実施形態の構成において、基板表面を缶封止する代わりに、陰極50′の上にガスバリア層40を設け、更にこのガスバリア層40の上に保護層204を設けている。なお、本電気光学装置1′は陰極側から発光光を取り出すトップエミッション型のEL表示装置であり、陰極50′,ガスバリア層40,保護層204には透明な部材が用いられている。例えば、陰極50′としてはITOやIZO等の金属酸化物が用いられている。
【0055】
ガスバリア層40は、その内側に酸素や水分等が浸入するのを防止するためのもので、これにより陰極50や発光層60への酸素や水分の浸入を防止し、酸素や水分による陰極50′や発光層60の劣化等を抑えるようにしたものである。このガスバリア層40は、低温プラズマ雰囲気下の減圧気相成長法(スパッタ、プラズマCVD等)によって形成された透光性の無機化合物からなるもので、好ましくは珪素化合物、例えば珪素窒化物や珪素酸窒化物、珪素酸化物などよって形成されている。このようにガスバリア層40を珪素化合物で形成することにより、ガスバリア層が緻密な膜となり、良好なガスバリア性能が得られる。
このガスバリア層40は、陰極50′全体を覆い且つ第2層間絶縁膜282に接触するように形成されている。このような構成において、例えば第2層間絶縁膜282をSiO2やSiN等のガスバリア性能の高い珪素化合物で構成することで、発光素子部分の上層,下層,側部の全てが上記珪素化合物で包まれることとなり、装置の耐湿性や耐酸素性を格段に高めることができる。
【0056】
保護層204は、ガスバリア層40側に設けられた緩衝層205と、この上に設けられた表面保護層206とからなっている。緩衝層205は、前記ガスバリア層40に密着し、かつ外部からの機械的衝撃に対して緩衝機能を有するもので、例えばウレタン系、アクリル系、エポキシ系、ポリオレフィン系などの透明樹脂で、後述する表面保護層206より柔軟でガラス転移点の低い材料からなる接着剤によって形成されたものである。なお、このような接着剤には、シランカップリング剤またはアルコキシシランを添加しておくのが好ましく、このようにすれば、形成される緩衝層205とガスバリア層40との密着性がより良好になり、したがって機械的衝撃に対する緩衝機能が高くなる。また、特にガスバリア層40が珪素化合物で形成されている場合などでは、シランカップリング剤やアルコキシシランによってこのガスバリア層40との密着性を向上させることができ、したがってガスバリア層のガスバリア性を高めることができる。
【0057】
表面保護層206は、緩衝層205上に設けられることにより、保護層204の表面側を構成するものであり、耐圧性や耐摩耗性、外部光反射防止性、ガスバリア性、紫外線遮断性などの機能の少なくとも一つを有してなる透明な層である。具体的には、高分子層(プラスチックフィルム)やDLC(ダイアモンドライクカーボン)層、ガラスなどによって形成されている。
【0058】
このようにガスバリア層40上に保護層204を設ければ、表面保護層206が耐圧性や耐摩耗性、光反射防止性、ガスバリア性、紫外線遮断性などの機能を有していることにより、発光層60や陰極50′、さらにはガスバリア層40もこの表面保護層206によって保護することができ、したがって発光素子の長寿命化を図ることができる。
また、緩衝層205が機械的衝撃に対して緩衝機能を発揮するので、外部から機械的衝撃が加わった場合に、ガスバリア層40やこの内側の発光素子への機械的衝撃を緩和し、この機械的衝撃による発光素子の機能劣化を防止することができる。
【0059】
次に、本発明の電子機器を説明する。本発明の電子機器は、前記のEL表示装置(電気光学装置)を表示部として有したものであり、具体的には図9に示すものが挙げられる。
図9は、携帯電話の一例を示した斜視図である。図9において、符号1000は携帯電話本体を示し、符号1001は前記のEL表示装置を用いた表示部を示している。
図9に示す電子機器は、前記EL表示装置(電気光学装置)を有した表示部を備えているので、電気的性能が高く高品質な表示が得られる。
【0060】
なお、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
例えば、上記第1実施形態ではボトムエミッション型の構成、第2実施形態ではトップエミッション型の構成を採用したが、いずれを採用するかは任意に決めることができる。また、基板本体側及び陰極側の両方から発光光を取り出す構成とすることも可能である。この場合、陽極,陰極の双方に透明導電材料を用いる必要がある。
【0061】
また、各実施形態のEL表示装置では、本発明における第1の電極を陽極として機能させ、第2の電極を陰極として機能させたが、これらを逆にして第1の電極を陰極、第2の電極を陽極としてそれぞれ機能させるよう構成してもよい。ただし、その場合には、発光層60と正孔輸送層70との形成位置を入れ替える必要がある。
さらに、上記各実施形態で示した回路部11の構成はほんの一例であり、これ以外の構成を採用することも勿論可能である。
【0062】
また、前記実施形態では本発明の電気光学装置にEL表示装置1を適用した例を示したが、本発明はこれに限定されず、複数の層が積層されて電気的機能を発現するものであれば、どのようなものでもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施形態に係る電気光学装置の配線構造を示す模式図である。
【図2】同、電気光学装置の構成を模式的に示す平面図である。
【図3】図2のA−B線に沿う断面図である。
【図4】図2のC−D線に沿う断面図である。
【図5】図3の要部拡大断面図である。
【図6】同、電気光学装置の製造方法を工程順に説明する断面図である。
【図7】図6に続く工程を説明するための断面図である。
【図8】本発明の第2実施形態に係る電気光学装置の断面図である。
【図9】本発明の電子機器の一例を示す斜視図である。
【符号の説明】
1,1′…EL表示装置(電気光学装置)、23…画素電極(第1の電極)、30…改質膜、40…ガスバリア層、50,50′…陰極(第2の電極)、60…発光層(電気光学層)、200…基板、204…保護層、205…緩衝層、206…表面保護層、1000…携帯電話(電子機器)
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a method for manufacturing an electro-optical device, an electro-optical device manufactured by the method, and an electronic apparatus including the same.
[0002]
[Prior art]
In an electro-optical device in which a plurality of layers are stacked, the adhesiveness of each layer has a great effect on its electro-optical characteristics. For example, in an organic electroluminescence (hereinafter abbreviated as “organic EL”) device, a metal electrode (cathode) is laminated on a resin bank separating pixels and an organic EL layer serving as a light emitting layer. Has a great effect on the performance and stability of not only the electrode portion constructed in the subsequent process but also the entire device.
For this reason, it is necessary to provide a layer (adhesion-imparting layer) for increasing the adhesion between the organic resin bank or the organic EL layer and the inorganic cathode. Conventionally, such an adhesion-imparting layer has been formed by evaporating various metal elements on the organic material (for example, Patent Document 1).
[0003]
[Patent Document 1]
JP-A-2002-280184
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, the method of depositing a metal thin film as described above requires a deposition mask, and it is difficult to apply the method to a large substrate.
The present invention has been made in view of the above problems, a method for manufacturing an electro-optical device capable of forming an adhesion-imparting layer without relying on vapor deposition, and an electro-optical device manufactured by this method, and furthermore, It is an object to provide an electronic device including an electro-optical device.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, a method of manufacturing an electro-optical device according to the present invention includes a step of forming a first electrode on a substrate; a step of forming an electro-optical layer on the first electrode; A step of performing a surface modification of the electro-optic layer by plasma treatment; and a step of forming a second electrode on the electro-optic layer.
In the present manufacturing method, a nitride film is formed on the surface of the electro-optic layer by performing a nitrogen plasma treatment after forming the electro-optic layer. Since the nitride film has good adhesion with an inorganic substance, the nitride film functions as an adhesion imparting layer that enhances the adhesion between the electro-optic layer and the second electrode. As described above, in the present manufacturing method, the adhesion-imparting layer can be formed on the surface of the electro-optical layer only by performing the nitrogen plasma treatment without using the evaporation mask, so that the method can be easily applied to a large-sized substrate process.
[0006]
Note that various electro-optical materials such as a liquid crystal and an electroluminescent (EL) material can be applied to the electro-optical layer. Further, the electro-optical layer can be configured as a laminated film of not only a single layer but also a plurality of functional layers. For example, a plurality of functional layers such as a hole injection layer, a hole transport layer, an EL light-emitting layer, an electron transport layer, and an electron injection layer are stacked and provided between the first electrode and the second electrode. An EL element can be formed as an electro-optical element.
[0007]
According to the method of manufacturing an electro-optical device of the present invention, there is provided a bank structure having a plurality of first electrodes on a substrate and a plurality of openings on the substrate corresponding to positions where the first electrodes are formed. Forming an electro-optical layer in each opening of the bank structure; performing a surface modification of the bank structure and the electro-optical layer by nitrogen plasma processing; Forming a second electrode so as to cover the structure and each of the electro-optical layers.
[0008]
This manufacturing method is a method for manufacturing an electro-optical device in which a plurality of electro-optical elements are provided on a substrate in a state where the electro-optical elements are separated from each other by a bank structure. In this manufacturing method, the surfaces of the electro-optic layer and the bank structure are nitrogen-modified by a nitrogen plasma treatment (that is, an adhesion-imparting layer made of a nitride film is formed), and good adhesion between the second electrode and the second electrode is obtained. Is obtained. Note that when forming the second electrode, if the outer portion of the bank structure has a vertical or inverted tapered shape with respect to the substrate, the electrode may be disconnected here. For this reason, it is preferable that the angle of the surface constituting the outer portion of the bank structure with respect to the substrate surface is 110 ° or more.
[0009]
In each of the above-described manufacturing methods, the modified film (the adhesion imparting layer) formed on the surface of the electro-optical layer or the bank structure so as to obtain good adhesion between the electro-optical layer and the second electrode. ) Is preferably 0.1 nm or more. On the other hand, if the thickness of the modified film is too large, the efficiency of charge injection from the second electrode is impaired. Therefore, the thickness is preferably 10 nm or less.
[0010]
Further, it is preferable to form a gas barrier layer on the second electrode in order to increase durability against oxygen, moisture, and the like. At this time, it is preferable that the gas barrier layer be formed of a silicon compound such as silicon oxide, silicon nitride, or silicon oxynitride in order to increase the adhesion with the second electrode which is an inorganic substance. In particular, since silicon nitride and silicon oxynitride have excellent insulation properties, the gas barrier layer made of such a material also has an effect of preventing electric leakage during energization.
[0011]
In addition, in order to protect the electrodes, the electro-optical layer, and the like, it is desirable to provide a protective layer so as to cover the gas barrier layer after forming the gas barrier layer. At this time, it is preferable to provide a surface protective layer on the surface side. In this way, for example, by providing a layer having a function such as pressure resistance and abrasion resistance, antireflection properties, gas barrier properties, and ultraviolet blocking properties as a surface protective layer, the light emitting layer and the electrode, and further, the gas barrier layer is also provided. The light-emitting element can be protected by the surface protective layer, and the life of the light-emitting element can be further increased.
[0012]
Further, an electro-optical device according to the present invention is manufactured by the above-described method. According to another aspect of the invention, an electronic apparatus includes the above-described electro-optical device. Accordingly, an electronic device including a large-sized display portion with high performance and high reliability can be provided.
[0013]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
[First Embodiment]
An electro-optical device according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
First, prior to describing the method for manufacturing the electro-optical device of the present invention, an EL display device using an organic electroluminescent (EL) material will be described as an example of the electro-optical device to which the method of the present invention is applied.
The wiring structure of the EL display device of this example will be described with reference to FIG.
An EL display device (electro-optical device) 1 shown in FIG. 1 is an active matrix EL display device using a thin film transistor (hereinafter, abbreviated as TFT) as a switching element.
[0014]
As shown in FIG. 1, the EL display device 1 includes a plurality of scanning lines 101, a plurality of signal lines 102 extending in a direction perpendicular to each scanning line 101, and a plurality of signal lines 102 arranged in parallel with each other. And a plurality of power supply lines 103 extending in the same direction, and a pixel region X is provided near each intersection of the scanning line 101 and the signal line 102.
The data line drive circuit 100 including a shift register, a level shifter, a video line, and an analog switch is connected to the signal line 102. The scanning line 101 is connected to a scanning line driving circuit 80 including a shift register and a level shifter.
[0015]
Further, in each of the pixel regions X, a switching TFT 112 for supplying a scanning signal to a gate electrode via the scanning line 101 and a storage capacitor for holding a pixel signal shared from the signal line 102 via the switching TFT 112 113, a driving TFT 123 in which the pixel signal held by the holding capacitor 113 is supplied to the gate electrode, and a driving current from the power supply line 103 when electrically connected to the power supply line 103 via the driving TFT 123. A pixel electrode (electrode) 23 into which the liquid crystal flows, and an electro-optical layer 110 sandwiched between the pixel electrode 23 and the cathode (electrode) 50 are provided. The pixel electrode 23, the cathode 50, and the electro-optic layer 110 form a light-emitting element (organic EL element).
[0016]
According to the EL display device 1, when the scanning line 101 is driven and the switching TFT 112 is turned on, the potential of the signal line 102 at that time is held in the storage capacitor 113, and according to the state of the storage capacitor 113. The on / off state of the driving TFT 123 is determined. Then, a current flows from the power supply line 103 to the pixel electrode 23 via the channel of the driving TFT 123, and further, a current flows to the cathode 50 via the electro-optic layer 110. The electro-optic layer 110 emits light according to the amount of current flowing therethrough.
[0017]
Next, a specific configuration of the EL display device 1 of the present example will be described with reference to FIGS.
As shown in FIG. 2, the EL display device 1 of the present embodiment includes a substrate 20 having electrical insulation and pixel electrodes connected to switching TFTs (not shown) arranged in a matrix on the substrate 20. A pixel electrode region (not shown), a power supply line (not shown) arranged around the pixel electrode region and connected to each pixel electrode, and a substantially rectangular shape in plan view located at least on the pixel electrode region. It is of an active matrix type including a pixel portion 3 (within a dashed-dotted frame in FIG. 2). In the present invention, the substrate 20 and the switching TFT and various circuits formed thereon, as described later, and the interlayer insulating film are referred to as a substrate. (In FIGS. 3 and 4, it is indicated by reference numeral 200.)
[0018]
The pixel unit 3 includes a central real display area 4 (in a two-dot chain line frame in FIG. 2) and a dummy area 5 (area between the one-dot chain line and the two-dot chain line) arranged around the real display area 4. Is divided into
In the actual display area 4, display areas R, G, and B each having a pixel electrode are arranged in a matrix at a distance from each other in the AB direction and the CD direction.
Further, scanning line driving circuits 80, 80 are arranged on both sides of the actual display area 4 in FIG. These scanning line driving circuits 80 and 80 are arranged below the dummy area 5.
[0019]
Further, an inspection circuit 90 is arranged above the actual display area 4 in FIG. The inspection circuit 90 is a circuit for inspecting the operation status of the EL display device 1 and includes, for example, an inspection information output unit (not shown) for outputting an inspection result to the outside, and displays during manufacturing or shipping. The apparatus is configured so that quality and defect inspection of the apparatus can be performed. The inspection circuit 90 is also arranged below the dummy area 5.
[0020]
The scanning line drive circuit 80 and the inspection circuit 90 are applied with the drive voltage from a predetermined power supply unit via the drive voltage conduction unit 310 (see FIG. 3) and the drive voltage conduction unit 340 (see FIG. 4). It is configured. The drive control signal and the drive voltage to the scanning line drive circuit 80 and the test circuit 90 are supplied from a predetermined main driver or the like that controls the operation of the EL display device 1 to the drive control signal conducting section 320 (see FIG. 3). The data is transmitted and applied via the drive voltage conducting section 350 (see FIG. 4). The drive control signal in this case is a command signal from a main driver or the like related to control when the scanning line drive circuit 80 and the inspection circuit 90 output signals.
[0021]
In addition, as shown in FIGS. 3 and 4, the EL display device 1 includes a pixel electrode (first electrode) 23, a light emitting layer (electro-optical layer) 60, and a cathode (second electrode) 50 on a base 200. A large number of light-emitting elements (organic EL elements) each including
Although only the light emitting layer 60 is shown as the electro-optical layer in FIGS. 3 and 4, instead of forming the electro-optical layer as a single layer as described above, the electro-optical layer may be formed as a stacked film in which a plurality of layers are stacked. it can. In fact, in the present embodiment, as will be described later, the electro-optical layer is formed of a carrier injection layer such as a hole injection layer, a hole transport layer, an electron injection layer, an electron transport layer, or a carrier transport layer or a hole blocking layer (hole). It is a laminated film of a blocking layer), an electron blocking layer (electron blocking layer), and the light emitting layer.
[0022]
In the case of a so-called top emission type EL display device, the substrate main body 20 constituting the base 200 is configured to take out display light from the sealing can 604 side, which is the opposite side of the substrate 20, so that the transparent substrate and the opaque substrate Can be used. Examples of the opaque substrate include ceramics such as alumina, a metal sheet such as stainless steel, which has been subjected to an insulation treatment such as surface oxidation, a thermosetting resin or a thermoplastic resin, and a film (plastic film) thereof. Can be
[0023]
Further, in the case of a so-called back emission type EL display device, since the display light is extracted from the substrate 20 side, a transparent or translucent substrate 20 is employed. For example, glass, quartz, resin (plastic, plastic film) and the like can be mentioned, and a glass substrate is particularly preferably used. In this embodiment, a back emission type in which emitted light is extracted from the substrate body 20 side is employed.
[0024]
Further, a circuit section 11 including a driving TFT 123 for driving the pixel electrode 23 is formed on the substrate 20, and a number of light emitting elements (organic EL elements) are provided thereon. As shown in FIG. 5, the light emitting element includes a pixel electrode (first electrode) 23 functioning as an anode, a hole transport layer 70 for injecting / transporting holes from the pixel electrode 23, and an electro-optical material. The light emitting layer 60 is formed by sequentially forming a light emitting layer 60 including one organic EL material and a cathode (second electrode) 50.
Under such a configuration, the light emitting element emits light by combining the holes injected from the hole transport layer 70 with the electrons from the cathode 50 in the light emitting layer 60 thereof. I have.
[0025]
Since the pixel electrode 23 is a back-emission type in this example, ITO (indium tin oxide) or an indium oxide / zinc oxide-based amorphous transparent conductive film (Indium Zinc Oxide: IZO / I-Z-O) (registered trademark) )) (Made by Idemitsu Kosan Co., Ltd.).
As a material for forming the hole transport layer 70, for example, a polythiophene derivative, a polypyrrole derivative, or a doping material thereof is used. Specifically, a dispersion liquid of 3,4-polyethylenedioxythiophene / polystyrene sulfonic acid (PEDOT / PSS) [trade name; Bytron-p: manufactured by Bayer AG], that is, polystyrene as a dispersion medium A dispersion in which 3,4-polyethylenedioxythiophene is dispersed in sulfonic acid and further dispersed in water is used.
[0026]
As a material for forming the light emitting layer 60, a known light emitting material capable of emitting fluorescence or phosphorescence can be used. Specifically, (poly) fluorene derivative (PF), (poly) paraphenylenevinylene derivative (PPV), polyphenylene derivative (PP), polyparaphenylene derivative (PPP), polyvinylcarbazole (PVK), polythiophene derivative, polymethyl Polysilanes such as phenylsilane (PMPS) are preferably used.
Further, these polymer materials include polymer materials such as perylene dyes, coumarin dyes, and rhodamine dyes, rubrene, perylene, 9,10-diphenylanthracene, tetraphenylbutadiene, nile red, coumarin 6, and quinacridone. , Etc., can be used.
It should be noted that a conventionally known low molecular material can be used instead of the above polymer material. Further, an electron injection layer may be formed on such a light emitting layer 60 as necessary.
[0027]
In addition, as shown in FIGS. 3 to 5, in the present embodiment, the hole transport layer 70 and the light emitting layer 60 are separated from each other by a bank structure including the lyophilic control layer 25 and the organic bank layer 221. It is arranged on the substrate 200 in a state. That is, the lyophilic control layer 25 and the organic bank layer 221 have openings at positions corresponding to the pixel electrodes 23 arranged in a matrix on the substrate 200, and the hole transport layer 70 and the light emitting layer 60 It is provided in each of the openings. In the lyophilic control layer 25 and the organic bank layer 221 formed in a lattice shape, particularly, the outermost portion of the light-emitting layer 60, which is the outermost portion of the light-emitting layer 60, is covered with this. The surrounding part is a surrounding member 201. A substantially rectangular area surrounded by the surrounding member 201 is the actual display area 4.
[0028]
Here, regarding the surrounding member 201, the angle θ of the surface 201a forming the outer portion with respect to the surface of the base 200 in the organic bank layer 221 forming the upper part thereof is 110 degrees or more. The angle is set so as to improve the step coverage of the cathode 50 formed thereon, as described later, and to ensure the continuity of the cathode on the outer portion.
[0029]
As shown in FIGS. 3 to 5, the cathode 50 has an area larger than the total area of the real display area 4 and the dummy area 5 and is formed so as to cover each of the light emitting layer 60 and the organic bank layer. 221 and the upper surface of the surrounding member 201, and further, the surface 201a forming the outer part of the surrounding member 201 is formed on the base 200 in a state of covering the surface 201a. The cathode 50 is connected to a cathode wiring 202 formed on the outer periphery of the base 200 outside the surface 201a of the surrounding member 201 as shown in FIG. A flexible substrate 203 is connected to the cathode wiring 202, whereby the cathode 50 is connected to a drive IC (drive circuit) (not shown) on the flexible substrate 203 via the cathode wiring 202. I have.
[0030]
As a material for forming the cathode 50, a high-reflectance metal material such as Al (aluminum) or Ag (silver) is used because the present example is a back emission type.
The modified film 30 is formed on the surfaces of the light emitting layer 60 and the cathode 50 by a nitrogen plasma treatment. Since such a nitride film has good adhesiveness with an inorganic material, the modified film 30 has good adhesion between the light emitting layer 60 or the bank structure, which is an organic material, and the cathode 50, which is an inorganic material. Function as an adhesion-imparting layer that enhances If the thickness of the modified film 30 is too small, sufficient adhesion cannot be obtained, and if the thickness is too large, charge injection from the cathode 50 is hindered. Therefore, the thickness of the modified film 30 is set to 0.1 nm or more and 10 nm or less. I have.
[0031]
A circuit section 11 is provided below the light emitting element as shown in FIG. The circuit section 11 is formed on the substrate 20 to configure the base 200. That is, the surface of the substrate 20 is made of SiO 2 Is formed as a base, and a silicon layer 241 is formed thereon. On the surface of this silicon layer 241, SiO 2 And / or a gate insulating layer 282 mainly composed of SiN is formed.
[0032]
In the silicon layer 241, a region overlapping with the gate electrode 242 with the gate insulating layer 282 interposed therebetween is a channel region 241a. The gate electrode 242 is a part of the scanning line 101 (not shown). On the other hand, on the surface of the gate insulating layer 282 covering the silicon layer 241 and forming the gate electrode 242, SiO 2 Is formed as a first interlayer insulating layer 283.
[0033]
In the silicon layer 241, a low-concentration source region 241b and a high-concentration source region 241S are provided on the source side of the channel region 241a, while a low-concentration drain region 241c and a high-concentration drain region are provided on the drain side of the channel region 241a. The region 241D is provided to form a so-called LDD (Light Doped Drain) structure. Of these, the high-concentration source region 241S is connected to the source electrode 243 via a contact hole 243a opened over the gate insulating layer 282 and the first interlayer insulating layer 283. The source electrode 243 is configured as a part of the above-described power supply line 103 (see FIG. 1, and extends in the direction perpendicular to the paper of FIG. 5 at the position of the source electrode 243). On the other hand, the high-concentration drain region 241D is connected to a drain electrode 244 made of the same layer as the source electrode 243 via a contact hole 244a opened over the gate insulating layer 282 and the first interlayer insulating layer 283.
[0034]
The upper layer of the first interlayer insulating layer 283 on which the source electrode 243 and the drain electrode 244 are formed is covered with a second interlayer insulating layer 284 mainly composed of, for example, an acrylic resin component. The second interlayer insulating layer 284 is made of a material other than an acrylic insulating film, for example, SiN, SiO 2 A nitrogen compound such as When a nitrogen compound having a high gas barrier property is used for the second interlayer insulating film 282 in this manner, even when the substrate body 20 is a resin substrate having a high moisture permeability, oxygen, moisture, or the like enters the light emitting layer 60 from the substrate side. Can be prevented, and the life of the light emitting element can be prolonged.
The pixel electrode 23 made of ITO is formed on the surface of the second interlayer insulating layer 284, and is connected to the drain electrode 244 via a contact hole 23a provided in the second interlayer insulating layer 284. ing. That is, the pixel electrode 23 is connected to the high-concentration drain region 241D of the silicon layer 241 via the drain electrode 244.
[0035]
Note that TFTs (TFTs for driving circuits) included in the scanning line driving circuit 80 and the inspection circuit 90, that is, N-channel or P-channel TFTs forming an inverter included in a shift register among these driving circuits, for example. Has the same structure as the driving TFT 123 except that it is not connected to the pixel electrode 23.
[0036]
On the surface of the second interlayer insulating layer 284 on which the pixel electrode 23 is formed, a bank structure including the pixel electrode 23, the lyophilic control layer 25, and the organic bank layer 221 is provided. The lyophilic control layer 25 is made of, for example, SiO 2 2 The organic bank layer 221 is made of, for example, acrylic or polyimide. Then, on the pixel electrode 23, the hole transport layer 70 and the light emitting layer 60 are formed inside the opening 25 a provided in the lyophilic control layer 25 and the opening 221 a surrounded by the organic bank 221. Are stacked in this order. The “lyophilicity” of the lyophilicity control layer 25 in the present example means that the lyophilicity is higher than at least the material of the organic bank layer 221 such as acrylic or polyimide.
The layers up to the second interlayer insulating layer 284 on the substrate 20 described above constitute the circuit section 11.
[0037]
Here, in the EL display device 1 of this example, in order to perform color display, each light emitting layer 60 is formed so that its emission wavelength band corresponds to each of the three primary colors of light. For example, as the light-emitting layer 60, a red light-emitting layer 60R corresponding to a light-emitting wavelength band of red, a green light-emitting layer 60G corresponding to green, and a blue organic EL layer 60B corresponding to blue have a display region R corresponding to each. , G, and B, and one pixel for performing color display is constituted by these display regions R, G, and B. A BM (black matrix) (not shown) formed by depositing metal chromium by sputtering or the like is formed between the organic bank layer 221 and the lyophilic control layer 25 at the boundary between the color display regions. I have.
[0038]
On the surface of such a substrate 200, a sealing can 604 for protecting the light emitting layer 60 and the cathode 50 from oxygen, moisture and the like is provided. The sealing can 604 is made of glass or metal, and is joined to the substrate 200 via a sealing resin 603 formed in an annular shape around the substrate 200. Further, the sealing can 603 has a recess 604a for accommodating the bank structure, the cathode 50, and the like inside thereof, and a getter material 605 for absorbing oxygen and moisture is attached to the recess 604a. . Thus, gases such as water or oxygen that have entered the inside of the sealing can 603 are absorbed, and deterioration of the element due to these gases is prevented.
[0039]
Next, as one embodiment of the present invention, an example of a method of manufacturing the EL display device 1 will be described with reference to FIGS. In the present embodiment, a case will be described in which the EL display device 1 as an electro-optical device is of a top emission type. Each of the cross-sectional views shown in FIGS. 6 and 7 corresponds to a cross-sectional view taken along line AB in FIG.
[0040]
First, as shown in FIG. 6A, a circuit portion 11 having various wirings, switching elements, interlayer insulating films and the like, and a pixel electrode 23 are formed on a substrate body 20 made of glass or the like by a known method.
[0041]
Next, as shown in FIG. 6B, a lyophilic control layer 25 as an insulating layer is formed on the pixel electrode 23 and the second interlayer insulating film 282. In the pixel electrode 23, the lyophilic control layer 25 is formed so as to be partially open, and holes can be moved from the pixel electrode 23 in the opening 25a (see also FIG. 3). Subsequently, in the lyophilic control layer 25, a BM (not shown) is formed in a concave portion formed between two different pixel electrodes 23. Specifically, a film is formed on the concave portion of the lyophilic control layer 25 by sputtering using metal chromium.
[0042]
Next, as shown in FIG. 6C, an organic bank layer 221 is formed so as to cover a predetermined position of the lyophilic control layer 25, specifically, the BM. As a specific method of forming an organic bank layer, for example, a solution obtained by dissolving a resist such as an acrylic resin or a polyimide resin in a solvent is applied by various coating methods such as spin coating and dip coating to form an organic layer. . The constituent material of the organic layer may be any material as long as it does not dissolve in the solvent of the ink described below and is easily patterned by etching or the like.
[0043]
Subsequently, the organic layer is patterned using a photolithography technique and an etching technique, and a bank opening 221a is formed in the organic layer, whereby an organic bank layer 221 having a wall surface in the opening 221a is formed. Here, in the organic bank layer 221, the angle θ with respect to the surface of the base 200 is particularly 110 ° or more with respect to the portion forming the outermost periphery, that is, the surface 201 a forming the outer portion of the enclosing member 201 in the present invention. It is preferable to form them so that By forming at such an angle, the step coverage of the cathode 50 formed thereon can be improved.
[0044]
Next, a region showing lyophilicity and a region showing lyophobicity are formed on the surface of the organic bank layer 221. In the present embodiment, each region is formed by plasma processing. Specifically, the plasma treatment is performed by performing a preheating step and making the upper surface of the organic bank layer 221 and the wall surface of the opening 221a, the electrode surface 23c of the pixel electrode 23, and the upper surface of the lyophilic control layer 25 each lyophilic. And a cooling step for making the upper surface of the organic bank layer and the wall surface of the opening lyophobic.
[0045]
That is, a substrate (the substrate 20 including a bank or the like) is heated to a predetermined temperature, for example, about 70 to 80 ° C., and then a plasma treatment (O 2) using oxygen as a reaction gas in an air atmosphere is performed as an ink-philic process. 2 (Plasma treatment). Next, a plasma treatment (CF) using methane tetrafluoride as a reaction gas in an air atmosphere is performed as an ink repellent process. 4 Plasma treatment) is performed, and then the substrate heated for the plasma treatment is cooled to room temperature, whereby lyophilicity and lyophobic properties are imparted to predetermined locations.
[0046]
Note that this CF 4 In the plasma treatment, the electrode surface 23c of the pixel electrode 23 and the lyophilic control layer 25 are somewhat affected, but ITO as the material of the pixel electrode 23 and SiO as the constituent material of the lyophilic control layer 25 are used. 2 , TiO 2 And the like have a poor affinity for fluorine, so that the hydroxyl groups provided in the ink-lyophilization step are not replaced by fluorine groups, and lyophilicity is maintained.
[0047]
Next, the hole transport layer 70 is formed in a hole transport layer forming step. In the hole transport layer forming step, the hole transport layer material is applied on the electrode surface 23c by, for example, a droplet discharge method such as an inkjet method or a spin coating method, and thereafter, a drying process and a heat treatment are performed. A hole transporting layer 70 is formed on 23. When the hole transport layer material is selectively applied by, for example, an inkjet method, first, an inkjet head (not shown) is filled with the hole transport layer material, and the discharge nozzle of the inkjet head is applied to the lyophilic control layer 25. A droplet whose liquid amount per droplet is controlled from an ejection nozzle while moving the inkjet head and the base material (substrate 20) relatively to the electrode surface 23c located in the formed opening 25a. Discharge is performed on the electrode surface 23c. Next, the hole transport layer 70 is formed by subjecting the discharged droplets to a drying treatment and evaporating the dispersion medium and the solvent contained in the hole transport layer material.
[0048]
Here, the droplet discharged from the discharge nozzle spreads on the electrode surface 23 c on which the lyophilic processing has been performed, and fills the opening 25 a of the lyophilic control layer 25. On the other hand, on the upper surface of the organic bank layer 221 subjected to the ink-repellent treatment, the droplet is repelled and does not adhere. Therefore, even if the droplet is displaced from the predetermined ejection position and is ejected onto the upper surface of the organic bank layer 221, the upper surface is not wetted by the droplet, and the ejected droplet is discharged from the opening of the lyophilic control layer 25. Rolls into the part 25a.
Note that, after the hole transport layer forming step, it is preferable to perform the step in an inert gas atmosphere such as a nitrogen atmosphere or an argon atmosphere in order to prevent oxidation of the hole transport layer 70 and the light emitting layer 60.
[0049]
Next, the light emitting layer 60 is formed in a light emitting layer forming step. In this light emitting layer forming step, the light emitting layer forming material is discharged onto the hole transporting layer 70 by, for example, the above-described ink jet method, and thereafter, the drying process and the heat treatment are performed. The light emitting layer 60 is formed in 221a. In this light emitting layer forming step, a non-polar solvent insoluble in the hole transporting layer 70 is used as a solvent for the light emitting layer forming material in order to prevent the hole transporting layer 70 from being redissolved.
In this light-emitting layer forming step, for example, a blue (B) light-emitting layer forming material is selectively applied to the blue display region by the above-described ink-jet method, dried, and then green (G) and red in the same manner. (R) is also selectively applied to its display area and dried.
If necessary, an electron injection layer may be formed on such a light emitting layer 60 as described above.
[0050]
Next, as shown in FIG. 7D, a nitrogen plasma treatment is performed on the substrate 200 under normal pressure or reduced pressure, and the nitrogen-modified film 30 is formed on the surfaces of the organic bank layer 221 (including the surrounding member 201) and the light emitting layer 60. To form In order to obtain sufficient adhesion without impairing the charge injection efficiency from the cathode 50, the thickness of the modified film 30 is set to 0.1 nm or more and 10 nm or less. Specifically, nitrogen plasma is generated by ECR plasma, RF plasma, capacitively-coupled plasma, inductively-coupled plasma, or the like, and the nitrogen modified film 30 is formed on the light emitting layer. In the surface modification step, an inert gas such as argon or helium may be added as the introduced gas in addition to the nitrogen.
[0051]
Next, as shown in FIG. 7E, a cathode 50 is formed by a cathode layer forming step. In this cathode layer forming step, a metal film having a high reflectivity such as Al is formed under reduced pressure by a physical vapor deposition method such as a vapor deposition method to form a cathode 50. At this time, the cathode 50 covers not only the light emitting layer 60, the organic bank layer 221, and the upper surface of the surrounding member 201, but also covers the surface 201 a forming the outer portion of the surrounding member 201. It is formed as follows.
[0052]
Then, finally, the surface of the substrate 200 on which the light emitting element is formed is sealed by a sealing step. In this sealing step, for example, a sealing resin 604 made of a thermosetting resin or an ultraviolet-curing resin is applied to the peripheral portion of the substrate 200, and the substrate 200 and the sealing can 603 are separated via the sealing resin 604. Join. Note that this sealing step is preferably performed in an atmosphere of an inert gas such as nitrogen, argon, or helium.
[0053]
In the method of manufacturing such an EL display device 1, since the cathode 50 is formed in a state where the surface of the organic light emitting layer 60 or the bank structure is nitrided by nitrogen plasma treatment, the light emitting layer 60, Good adhesion is obtained between the bank structure and the cathode 50. Thus, the film formation state of the cathode 50 is improved, and the electronic function can be maintained for a long time. Since the thickness of the modified film 30 as the adhesion-imparting layer is extremely small, it does not affect the electrical characteristics.
Further, since the modified film 30 is formed by the plasma treatment, a mask is not required unlike the vapor deposition method, and it is possible to relatively easily cope with a large substrate.
[0054]
[Second embodiment]
Next, an electro-optical device according to a second embodiment of the invention will be described with reference to FIG.
The electro-optical device 1 ′ of this embodiment is different from the first embodiment in that the gas barrier layer 40 is provided on the cathode 50 ′ instead of sealing the substrate surface with a can. A protective layer 204 is provided. The electro-optical device 1 'is a top emission type EL display device that emits light emitted from the cathode side. Transparent members are used for the cathode 50', the gas barrier layer 40, and the protective layer 204. For example, a metal oxide such as ITO or IZO is used as the cathode 50 '.
[0055]
The gas barrier layer 40 is for preventing oxygen and moisture from entering the inside thereof, thereby preventing oxygen and moisture from entering the cathode 50 and the light emitting layer 60, and the cathode 50 'due to oxygen and moisture. And deterioration of the light emitting layer 60 and the like. The gas barrier layer 40 is made of a light-transmitting inorganic compound formed by a low-pressure vapor deposition method (sputtering, plasma CVD, or the like) in a low-temperature plasma atmosphere, and is preferably a silicon compound such as silicon nitride or silicon oxide. It is formed of nitride, silicon oxide, or the like. By forming the gas barrier layer 40 with a silicon compound in this way, the gas barrier layer becomes a dense film, and good gas barrier performance can be obtained.
The gas barrier layer 40 is formed so as to cover the entire cathode 50 ′ and contact the second interlayer insulating film 282. In such a configuration, for example, by forming the second interlayer insulating film 282 from a silicon compound having a high gas barrier performance such as SiO 2 or SiN, all of the upper layer, the lower layer, and the side portion of the light emitting element portion are covered with the silicon compound. As a result, the moisture resistance and oxygen resistance of the device can be significantly improved.
[0056]
The protection layer 204 includes a buffer layer 205 provided on the gas barrier layer 40 side and a surface protection layer 206 provided thereon. The buffer layer 205 is in close contact with the gas barrier layer 40 and has a buffer function against mechanical shock from the outside. For example, the buffer layer 205 is a transparent resin such as urethane, acrylic, epoxy, or polyolefin, and will be described later. It is formed of an adhesive made of a material that is more flexible than the surface protective layer 206 and has a low glass transition point. It is preferable to add a silane coupling agent or an alkoxysilane to such an adhesive, and in this case, the adhesion between the formed buffer layer 205 and the gas barrier layer 40 can be improved. Therefore, the cushioning function against mechanical shock is enhanced. In particular, when the gas barrier layer 40 is formed of a silicon compound, the adhesion to the gas barrier layer 40 can be improved by the silane coupling agent or the alkoxysilane, and therefore, the gas barrier property of the gas barrier layer can be improved. Can be.
[0057]
The surface protective layer 206 is provided on the buffer layer 205 to constitute the surface side of the protective layer 204, and has a pressure resistance, an abrasion resistance, an external light reflection preventing property, a gas barrier property, an ultraviolet blocking property, and the like. It is a transparent layer having at least one of the functions. Specifically, it is formed of a polymer layer (plastic film), a DLC (diamond-like carbon) layer, glass, or the like.
[0058]
When the protective layer 204 is provided on the gas barrier layer 40 in this manner, the surface protective layer 206 has functions such as pressure resistance, abrasion resistance, light reflection prevention, gas barrier properties, and ultraviolet blocking properties. The light emitting layer 60, the cathode 50 ', and the gas barrier layer 40 can also be protected by the surface protective layer 206, so that the life of the light emitting element can be extended.
Further, since the buffer layer 205 exhibits a buffer function against mechanical shock, when a mechanical shock is applied from the outside, the mechanical shock to the gas barrier layer 40 and the light emitting element inside the gas barrier layer 40 is reduced, and this mechanical It is possible to prevent functional deterioration of the light emitting element due to mechanical shock.
[0059]
Next, the electronic device of the present invention will be described. An electronic apparatus according to an embodiment of the invention includes the above-described EL display device (electro-optical device) as a display unit, and specifically includes an electronic device illustrated in FIG.
FIG. 9 is a perspective view showing an example of a mobile phone. In FIG. 9, reference numeral 1000 denotes a mobile phone main body, and reference numeral 1001 denotes a display unit using the EL display device.
Since the electronic device illustrated in FIG. 9 includes the display unit including the EL display device (electro-optical device), a high-quality display with high electric performance can be obtained.
[0060]
Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be implemented in various modifications without departing from the spirit of the present invention.
For example, in the first embodiment, the bottom emission type configuration is used, and in the second embodiment, the top emission type configuration is adopted. However, which one to adopt can be arbitrarily determined. It is also possible to adopt a configuration in which emitted light is extracted from both the substrate body side and the cathode side. In this case, it is necessary to use a transparent conductive material for both the anode and the cathode.
[0061]
In the EL display device of each embodiment, the first electrode functions as an anode and the second electrode functions as a cathode in the present invention. May be configured to function as the anodes. However, in that case, it is necessary to switch the formation positions of the light emitting layer 60 and the hole transport layer 70.
Furthermore, the configuration of the circuit unit 11 shown in each of the above embodiments is merely an example, and other configurations can of course be employed.
[0062]
Further, in the above-described embodiment, an example in which the EL display device 1 is applied to the electro-optical device of the present invention is described. However, the present invention is not limited to this, and a plurality of layers are stacked to exhibit an electrical function. Anything is acceptable.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic diagram illustrating a wiring structure of an electro-optical device according to a first embodiment of the invention.
FIG. 2 is a plan view schematically showing a configuration of the electro-optical device.
FIG. 3 is a sectional view taken along line AB in FIG. 2;
FIG. 4 is a sectional view taken along line CD of FIG. 2;
FIG. 5 is an enlarged sectional view of a main part of FIG. 3;
FIG. 6 is a sectional view for explaining a method of manufacturing the electro-optical device in the order of steps.
FIG. 7 is a cross-sectional view for explaining a step following the step shown in FIG. 6;
FIG. 8 is a sectional view of an electro-optical device according to a second embodiment of the invention.
FIG. 9 is a perspective view illustrating an example of an electronic apparatus according to the invention.
[Explanation of symbols]
1, 1 'EL display device (electro-optical device), 23 pixel electrode (first electrode), 30 modified film, 40 gas barrier layer, 50, 50' cathode (second electrode), 60 ... Emission layer (electro-optic layer), 200 ... Substrate, 204 ... Protective layer, 205 ... Buffer layer, 206 ... Surface protective layer, 1000 ... Mobile phone (electronic equipment)

Claims (11)

基板上に第1の電極を形成する工程と、
上記第1の電極の上に電気光学層を形成する工程と、
窒素プラズマ処理により上記電気光学層の表面改質を行なう工程と、
上記電気光学層の上に第2の電極を形成する工程とを備えたことを特徴とする、電気光学装置の製造方法。
Forming a first electrode on the substrate;
Forming an electro-optic layer on the first electrode;
Performing a surface modification of the electro-optical layer by a nitrogen plasma treatment;
Forming a second electrode on the electro-optic layer.
上記表面改質の工程により、上記電気光学層の表面に形成される改質膜の膜厚は0.1nm以上10nm以下であることを特徴とする、請求項1記載の電気光学装置の製造方法。2. The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 1, wherein the thickness of the modified film formed on the surface of the electro-optical layer in the surface modification step is 0.1 nm or more and 10 nm or less. . 基板上に第1の電極を複数形成する工程と、
上記基板上に、上記第1の電極の形成位置に対応した複数の開口部を有するバンク構造体を形成する工程と、
上記バンク構造体の各開口部にそれぞれ電気光学層を形成する工程と、
窒素プラズマ処理により上記バンク構造体及び上記電気光学層の表面改質を行なう工程と、
上記バンク構造体及び上記各電気光学層を覆うように第2の電極を形成する工程とを備えたことを特徴とする、電気光学装置の製造方法。
Forming a plurality of first electrodes on the substrate;
Forming a bank structure having a plurality of openings corresponding to the formation position of the first electrode on the substrate;
Forming an electro-optic layer in each opening of the bank structure,
Performing a surface modification of the bank structure and the electro-optical layer by nitrogen plasma processing;
Forming a second electrode so as to cover the bank structure and each of the electro-optical layers.
上記表面改質の工程により、上記電気光学層及び上記バンク構造体の表面に形成される改質膜の膜厚は0.1nm以上10nm以下であることを特徴とする、請求項3記載の電気光学装置の製造方法。4. The electric device according to claim 3, wherein the thickness of the modified film formed on the surfaces of the electro-optical layer and the bank structure by the surface modification step is 0.1 nm or more and 10 nm or less. A method for manufacturing an optical device. 上記バンク構造体の外側部を構成する面の、上記基板表面に対する角度は110°以上であることを特徴とする、請求項3又は4記載の電気光学装置の製造方法。The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 3, wherein an angle of a surface forming an outer portion of the bank structure with respect to the substrate surface is 110 ° or more. 上記第2の電極の上にガスバリア層を形成する工程を備えたことを特徴とする、請求項1〜5のいずれかの項に記載の電気光学装置の製造方法。The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 1, further comprising a step of forming a gas barrier layer on the second electrode. 上記ガスバリア層を珪素化合物で形成することを特徴とする、請求項6記載の電気光学装置の製造方法。7. The method according to claim 6, wherein the gas barrier layer is formed of a silicon compound. 上記ガスバリア層を覆うように保護層を設ける工程を備えたことを特徴とする、請求6又は7記載の電気光学装置の製造方法。8. The method for manufacturing an electro-optical device according to claim 6, further comprising a step of providing a protective layer so as to cover the gas barrier layer. 上記保護層を設ける工程は、その表面側に表面保護層を設ける工程を有することを特徴とする、請求項8記載の電気光学装置の製造方法。9. The method according to claim 8, wherein the step of providing the protective layer includes a step of providing a surface protective layer on the surface side. 請求項1〜9のいずれかの項に記載の方法により製造されたことを特徴とする、電気光学装置。An electro-optical device manufactured by the method according to claim 1. 請求項10記載の電気光学装置を備えたことを特徴とする、電子機器。An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to claim 10.
JP2003097508A 2003-03-31 2003-03-31 Manufacturing method of electro-optical device, electro-optical device, and electronic equipment Withdrawn JP2004303671A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003097508A JP2004303671A (en) 2003-03-31 2003-03-31 Manufacturing method of electro-optical device, electro-optical device, and electronic equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003097508A JP2004303671A (en) 2003-03-31 2003-03-31 Manufacturing method of electro-optical device, electro-optical device, and electronic equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004303671A true JP2004303671A (en) 2004-10-28
JP2004303671A5 JP2004303671A5 (en) 2005-10-20

Family

ID=33409273

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003097508A Withdrawn JP2004303671A (en) 2003-03-31 2003-03-31 Manufacturing method of electro-optical device, electro-optical device, and electronic equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2004303671A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006236819A (en) * 2005-02-25 2006-09-07 Casio Comput Co Ltd Film formation method, organic compound layer and display panel
JP2007095428A (en) * 2005-09-28 2007-04-12 Casio Comput Co Ltd Display device and method of manufacturing same
JP2007200883A (en) * 2006-01-23 2007-08-09 Samsung Sdi Co Ltd Organic electroluminescent display and manufacturing method therefor
JP2009070767A (en) * 2007-09-18 2009-04-02 Casio Comput Co Ltd Method of manufacturing display device
JP2010182700A (en) * 2010-05-26 2010-08-19 Casio Computer Co Ltd Method of forming film, and display panel
WO2012002268A1 (en) * 2010-06-29 2012-01-05 住友化学株式会社 Display device and production method for same

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006236819A (en) * 2005-02-25 2006-09-07 Casio Comput Co Ltd Film formation method, organic compound layer and display panel
JP4622580B2 (en) * 2005-02-25 2011-02-02 カシオ計算機株式会社 Film forming method and organic compound layer
JP2007095428A (en) * 2005-09-28 2007-04-12 Casio Comput Co Ltd Display device and method of manufacturing same
JP2007200883A (en) * 2006-01-23 2007-08-09 Samsung Sdi Co Ltd Organic electroluminescent display and manufacturing method therefor
JP2009070767A (en) * 2007-09-18 2009-04-02 Casio Comput Co Ltd Method of manufacturing display device
JP4497185B2 (en) * 2007-09-18 2010-07-07 カシオ計算機株式会社 Manufacturing method of display device
JP2010182700A (en) * 2010-05-26 2010-08-19 Casio Computer Co Ltd Method of forming film, and display panel
WO2012002268A1 (en) * 2010-06-29 2012-01-05 住友化学株式会社 Display device and production method for same
JP2012014856A (en) * 2010-06-29 2012-01-19 Sumitomo Chemical Co Ltd Display device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4138672B2 (en) Manufacturing method of electro-optical device
JP4561201B2 (en) Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
JP3997888B2 (en) Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
US7737629B2 (en) Light emitting device, method of manufacturing the same, and electronic apparatus
US8928007B2 (en) Electro-optical device, method for manufacturing electro-optical device, and electronic device
JP2006222071A (en) Light emitting device, manufacturing method thereof, and electronic equipment
JP4792717B2 (en) Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
KR100638160B1 (en) Method for manufacturing electro-optic device, electro-optic device, and electronic apparatus
US7535169B2 (en) Organic electroluminescent device, method for producing the same, and electronic appliance
JP2008218423A (en) Electro-optical device, and electronic apparatus
JP4465951B2 (en) Manufacturing method of electro-optical device
JP2004127606A (en) Electrooptical device and electronic apparatus
JP4678124B2 (en) Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
JP4701580B2 (en) ELECTRO-OPTICAL DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND ELECTRONIC DEVICE
JP4470421B2 (en) Manufacturing method of electro-optical device
JP4552390B2 (en) Manufacturing method of organic EL device
JP4428005B2 (en) Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus
JP2004303671A (en) Manufacturing method of electro-optical device, electro-optical device, and electronic equipment
JP4736544B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP5003808B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP4613700B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP2009187962A (en) Electro-optical device, and electronic apparatus
JP2007242998A (en) Light-emitting device, method of manufacturing the same, and electronic equipment
JP4466479B2 (en) Electro-optical device and electronic apparatus
JP2006190715A (en) Organic el device and electronic equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050617

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050617

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20070403

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071218

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071225

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20080205