JP2001148291A - 表示装置及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
ンス素子を画素としてマトリックス状に配列し表示装置
において、基板の表面側にも光を遮断する構造物として
隔壁が配置される場合に、より高い開口率の実装構造を
実現する。 【解決手段】 表示装置は、基板1と、その上に形成さ
れた複数の画素と、隣り合う画素を互いに隔てる隔壁6
とを有する。各画素は、基板1上に形成された配線X,
Y,Mを含む下層部LLと、有機エレクトロルミネッセ
ンス素子OLEDを含む上層部ULと、下層部LL及び
上層部ULを互いに電気的に絶縁する中層部MLとを含
む。有機エレクトロルミネッセンス素子OLEDは中層
部MLに開口したコンタクトホールCONを介して配線
Mに接続している。隔壁6は、有機エレクトロルミネッ
センス素子OLEDの形成に適さないコンタクトホール
CONを含む領域と重なるように上層部ULに配されて
いる。
Description
ミネッセンス素子を用いた表示装置及びその製造方法に
関する。具体的には、発光を上面の陰極側で取り出す有
機エレクトロルミネッセンス素子を用いた表示装置の高
開口率化技術に関する。
例えばアクティブマトリクス型の表示装置の画素に利用
できる。有機エレクトロルミネッセンス素子を画素とし
た有機エレクトロルミネッセンスディスプレイは、液晶
ディスプレイに変わる次世代フラットパネルディスプレ
イとして有望視されている。図7に、従来の有機エレク
トロルミネッセンス素子の構成を示す。ガラス基板1の
上に透明導電膜からなる陽極Aを形成し、その上に有機
層10を積層したあと、金属からなる陰極Kを形成す
る。これにより、ダイオード構造の有機エレクトロルミ
ネッセンス素子が得られる。陰極Kは例えばアルミニウ
ムやマグネシウムと銀の合金からなりその厚みは例えば
100nm程度である。有機層10は基本的に正孔輸送
層、発光層及び電子輸送層を積層したものである。係る
構成において、陰極K及び陽極Aから夫々電子と正孔を
注入し、電子輸送層及び正孔輸送層を介して、発光層で
電子と正孔が再結合し発光する。この場合、発光はガラ
ス基板1側から取り出されることになり、所謂下面光取
り出し構造となる。このように有機層10を陰極K及び
陽極Aで挟んだ発光素子は有機発光ダイオードでありO
LEDと呼ばれている。
で、表示装置に応用する場合、単純マトリクスによるデ
ューティー駆動も可能である。しかし、画素数が大きく
なって高デューティーになった場合、十分な輝度を確保
するためにはOLEDに対して瞬間的に大電流を供給す
る必要がある。
画素毎に薄膜トランジスタと保持容量を形成し、信号電
圧を保持するので、一フレームの間常に信号電圧に応じ
て駆動電流をOLEDに印加できる。従って、単純マト
リクスのように瞬間的に大電流を供給する必要がなく、
OLEDに対するダメージが少ない。
ランジスタ(TFT)をスイッチング素子に用いたアク
ティブマトリクス方式でパネルを設計する場合、TFT
をガラス基板1の上に集積形成するので、図7に示した
下面光取り出し型の場合OLEDから光を取り出すため
の開口面積がTFTで狭められ、開口率が低下するとい
う問題がある。これを回避するために、ガラス基板1に
対して上側にある陰極Kから発光を取り出す、所謂上面
光取り出し型のデバイス構造が有効であり、これを図8
に示す。図示するように、ガラス基板1の上に反射層1
10を形成しその上に例えばITO等の透明導電膜から
なる陽極Aを形成する。その上に、有機層10を重ねた
あと、金属層11を形成する。この場合、光を透過可能
にするため、金属層11の厚みは例えば10nm以下で
ある。その上に、ITO等からなる透明導電層12を形
成する。発光の取り出しは上部から行われるため、陰極
Kは透過率が高く、且つ電子が効率的に注入できるよう
に、仕事関数の低い金属薄膜が用いられる。例えば、仕
事関数の低いアルミニウムとリチウムの合金或いはマグ
ネシウムと銀の合金を10nm程度に薄く成膜する。更
にその上に、透明導電膜12を例えば100nmの厚み
で成膜しておく。この透明導電膜12は、薄い金属層1
1の保護と、配線抵抗の低抵抗化の役目を果たす。
は、下面光取出し型のデバイス構造に比べ、原理的に画
素の開口率を高くすることができる。しかし、上面光取
出し型のデバイスを画素としてマトリクス状に配列し表
示装置を構成した場合、基板の表面側にも光を遮断する
隔壁等の構造体が配置される場合が多く、より高い開口
率が得られる実装構造の開発が急務になっている。
を解決する為、以下の手段を講じた。即ち、本発明は、
基板と、その上に形成された複数の画素と、隣り合う画
素を互いに隔てる隔壁とを有する表示装置であって、該
画素は、基板上に形成された配線を含む下層部と、有機
エレクトロルミネッセンス素子を含む上層部と、下層部
及び上層部を互いに電気的に絶縁する中層部とを含み、
該有機エレクトロルミネッセンス素子は該中層部に開口
したコンタクトホールを介して該配線に接続しており、
該隔壁は該コンタクトホールを含む領域と重なるように
該上層部に配されていることを特徴とする。具体的に
は、前記有機エレクトロルミネッセンス素子は、該配線
と接続した反射性の陽極と、表面に位置する透明な陰極
と、陽極及び陰極の間に保持された有機層とからなり、
前記有機層は該陽極から供給される正孔と該陰極から供
給される電子との再結合によって発光し、これを表面の
陰極から取り出す。この場合、前記有機層は、該隔壁を
介して基板の上に配されたマスクを用いて選択的に堆積
された積層膜からなる。又、前記下層部は、画素を選択
するための走査配線と、画素を駆動するための輝度情報
を与えるデータ配線と、走査配線によって制御され且つ
データ配線から与えられた輝度情報を画素に書き込む機
能を有する第一の能動素子と、該書き込まれた輝度情報
に応じて該有機エレクトロルミネッセンス素子に電流を
供給しその発光を制御する機能を有する第二の能動素子
とを含む。
の形態を詳細に説明する。図1は、本発明に係る表示装
置の構成を示す部分断面図の一例であり、一画素分を表
わしている。図示する様に、本表示装置は基板1と、そ
の上に形成された画素と、この画素を隣の画素から隔て
る隔壁6とを有する。画素は下から順に下層部LLと中
層部MLと上層部ULに分かれている。下層部LLは基
板1上に形成されたデータ配線Yや接続配線Mなどの配
線を含む。上層部ULは有機エレクトロルミネッセンス
素子OLEDを含む。中層部MLは下層部LL及び上層
部ULを互いに電気的に絶縁するものであり、層間絶縁
膜50からなる。有機エレクトロルミネッセンス素子O
LEDは中層部MLを構成する層間絶縁膜50に開口し
たコンタクトホールCONを介して接続配線Mに電気接
続している。特徴事項として、隔壁6はコンタクトホー
ルCONを含む領域(以下、コンタクト領域)と重なる
様に上層部ULに配されている。このコンタクト領域は
配線が複雑に入り組んでおり起伏が激しくOLEDの形
成に適していない。仮に、ここにOLEDを設けても画
面の表示に有効な発光が得られない。そこで、このコン
タクト領域には元々発光には寄与しない構造物である隔
壁6を設ける様にしている。係る構造により、画素面積
を有効活用することが可能になり従来に比し開口率を改
善することができる。本構造により50%を超える開口
率が達成できる。
ンス素子OLEDは上面光取出し型となっており、配線
Mと接続した反射性の陽極Aと、表面に位置する透明な
陰極Kと、陽極A及び陰極Kの間に保持された有機層1
0とからなる。有機層10は陽極Aから供給される正孔
と陰極Kから供給される電子との再結合によって発光
し、これを表面の陰極Kから取り出す。図示する様に、
有機層10はコンタクト領域を除く比較的平坦な部分に
亘って可能な限り広く形成することで、画素開口率を高
くしている。有機層10の形成に不適当なコンタクト領
域には元々発光に寄与しない隔壁6を設ける様にしてい
る。尚、画素の開口寸法Lは例えば170乃至180μ
mであり、隔壁6の幅寸法Wは例えば30乃至40μm
である。又、隔壁6の高さ寸法Hは例えば3乃至5μm
である。ここで、有機層10は、隔壁6を介して基板1
の上に配されたマスク5を用いて選択的に堆積された積
層膜からなる。換言すると、隔壁6はOLEDを形成す
る際、基板1とマスク5との間のスペーサとしての役割
を果たし、マスク5がOLEDの形成面に誤って接触す
ることを防ぐ為に配されている。本表示装置はアクティ
ブマトリクス型であり、下層部LLには、画素を選択す
る為の走査配線Xと、画素を駆動する為の輝度情報を与
えるデータ配線Yと、走査配線Xによって制御され且つ
データ配線Yから与えられた輝度情報を画素に書き込む
機能を有する第一の能動素子と、書き込まれた輝度情報
に応じ有機エレクトロルミネッセンス素子OLEDに電
流を供給しその発光を制御する機能を有する第二の能動
素子とを含む。図1では、第二の能動素子として基板1
の上に形成された薄膜トランジスタTFTが示されてい
る。このTFTはボトムゲート構造を有し、ゲート電極
Gとその上に形成されたゲート絶縁膜31とその上に形
成された半導体薄膜32とからなる。この半導体薄膜3
2はゲート電極Gと整合するチャネル領域に加え、その
両側にソース領域Sとドレイン領域Dを備えている。係
る構成を有するTFTは層間絶縁膜33によって被覆さ
れており、その上に前述したデータ配線Yや接続配線M
が形成されている。図には表れていないが、データ配線
Yは層間絶縁膜33に開口したコンタクトホールを介し
てTFTのソース領域Sに電気接続している。同様に接
続配線Mも層間絶縁膜33に開口したコンタクトホール
を介してTFTのドレイン領域Dに接続している。係る
構成により、OLEDの陽極Aは接続配線Mを介しTF
Tのドレイン領域Dに電気接続していることになる。
示装置の製造方法を説明する。まず、ガラスなどからな
る基板1の表面に導電材料を成膜した後、所定の形状に
パタニングして画素電極Gを形成する。同一の導電材料
を用いて走査配線Xなども同時に形成する。導電材料と
しては、不純物を高濃度に注入した多結晶シリコン、シ
リサイド又は高融点金属(W、Mo他)などを用いるこ
とができる。続いてCVD法などによりゲート絶縁膜3
1を成膜する。このゲート絶縁膜31としてはSiO2
又はSiNなどを用いることができる。このゲート絶縁
膜31の上に半導体薄膜32を成膜する。例えば、CV
D法で非晶質シリコンを堆積し、固相成長法もしくはレ
ーザアニール法を用いて多結晶シリコンに転換する。こ
の様にして得られた半導体薄膜32に選択的に不純物を
注入してソース領域S及びドレイン領域Dを形成した
後、素子領域の形状に合わせてパタニングする。この様
にして得られたボトムゲート構造の薄膜トランジスタT
FTを被覆する様に、例えばSiO2 からなる層間絶縁
膜33を形成する。この層間絶縁膜33に、TFTのソ
ース領域Sやドレイン領域Dに連通するコンタクトホー
ルを開口する。この後層間絶縁膜33の上に、スパッタ
リングなどで金属薄膜を形成し、所定の形状にパタニン
グしてデータ配線Yや接続配線Mを設ける。金属薄膜と
しては一般にアルミニウムが使用される。場合によって
は、Ti/TiN/Ti/Al/Ti/TiN/Tiの
多層構造もしくはAlSi及びAlCuなどの合金層を
用いることができる。以上により、画素の下層部LLが
形成される。この上に、中層部MLとしてSiO2 など
からなる層間絶縁膜50を成膜する。これにコンタクト
ホールCONをエッチングで開口した後、金属からなる
光反射性の陽極Aを形成する。この陽極Aの上にSiO
2 などからなる絶縁層15を成膜した後、エッチングに
より窓部を開口する。この窓部にOLEDが形成される
ことになる。図から明らかな様に、窓部はコンタクトホ
ールCONを含むコンタクト領域を除外した部分に設け
られている。この段階で、残された絶縁層15の上に隔
壁6を形成する。この隔壁6は有機もしくは無機の絶縁
材料からなる。本実施形態では、SiO2 をスパッタで
3乃至5μmの厚みに堆積して隔壁6を設けた。図から
明らかな様に、隔壁6はコンタクトホールCONを含む
コンタクト領域に形成されている。この後、隔壁6をス
ペーサとしてマスク5を配置し、蒸着により有機層10
を成膜する。この際、隔壁6はマスク5が基板1の表面
に接触しない様にスペーサとしての役割を果たす。有機
層10を蒸着した後、透明な陰極Kを基板1の表面全体
に成膜する。この陰極Kは全ての画素に亘って共通電位
に保持される。以上で各画素の上層部ULが完成する。
平面図の一例である。図示する様に、データ配線Yは画
面の縦方向に配設され、走査配線Xは横方向に配設され
ている。又、上下に隣り合う画素PXLを互いに隔てる
隔壁6も横方向に配設されており、図1で説明した様に
コンタクト領域と重なる部分に設けられている。画素P
XLのハッチングを付した部分がOLEDの形成された
領域であり、有効な発光面積となっている。
対的な位置関係を示す模式的な平面図の一例である。本
例は、基板1にRGB三原色の画素を真空蒸着で形成す
る場合を表している。基板1の表面には予め隔壁6がス
トライプ状に形成されている。この隔壁6は有機若しく
は無機の絶縁物からなり、例えばスクリーン印刷又はス
パッタリングにより基板1の表面に形成できる。ストラ
イプ状に形成された各隔壁6の間に、RGB三原色に分
かれた画素を形成する。このため、マスク5は図示のよ
うなパタン8を有し、ハッチングが施されていない部分
に矩形の開口が開いている。図示の状態では、マスク5
のパタン8は基板1側の画素Rに対応している。この状
態で、真空蒸着を行うことにより、画素Rを構成すべき
有機物質が選択的に蒸着される。このあと、マスク5を
右側に一画素分シフトすることで、パタン8は画素Gの
領域に整合することになる。ここで有機物質を代えて再
び真空蒸着を行うことにより、画素Gを形成することが
できる。同様にして、マスク5を更に右側に一画素分シ
フトし、画素Bを形成する。
300μmに設定されている。これに対し、マスク5に
形成された開口パタン8の寸法は、例えば70×200
μmである。又、マスク5は例えばステンレススチール
からなり、その厚みは例えば50μm程度である。これ
に対し、基板1とマスク5の間隙寸法を規定する隔壁6
の厚みは例えば5μm程度である。
クを用いてガラス基板の上にエレクトロルミネッセンス
素子からなる画素を形成する方法の一例を、具体的に説
明する。先ず(A)に示すように、予めコンタクトホー
ルCONを形成した層間絶縁膜50の上に、クロム(C
r)を膜厚200nmでDCスパッタリングにより成膜
する。尚、層間絶縁膜50よりしたの層は図示を省略し
ている。スパッタガスとしてアルゴン(Ar)を用い
て、圧力を0.2Pa、DC出力を300Wとした。通
常のリソグラフィー技術を用いて、所定の形状にパタニ
ングする。エッチング液としてETCH−1(三洋化成
工業(株)製)を用いて、加工する。所定の形状の陽極
Aが得られる。クロムは前記エッチング液により高精度
かつ再現性よく加工できる。さらに、加工精度が要求さ
れる場合は、ドライエッチングによる加工も可能であ
る。エッチングガスとしては、塩素(C12)と酸素
(O2)の混合ガスを用いることができる。特に、リア
クティブイオンエッチング(RlE)を用いれば、高精
度な加工ができ、かつエッチング面の形状の制御が可能
である。所定の条件でエッチングすれば、テーパー状の
加工が可能で、陰極−陽極間ショートを低減できる。続
いて、クロムが所定のパタンに加工された層間絶縁膜5
0の上に絶縁層15を成膜する。絶縁層15に用いる材
料は特に限定はないが、本実施例では二酸化珪素(Si
O2)を用いている。Si02はスパッタリングにより
膜厚200nmに形成する。成膜方法に、特に限定はな
い。通常のリソグラフィー技術を用いて、クロム上に開
口を設ける様にSi02を加工する。Si02のエッチ
ングには、フッ酸とフッ化アンモニウムの混合液を使う
ことができる。また。ドライエッチングによる加工も可
能である。前記開口部が、有機エレクトロルミネッセン
ス素子の発光部分となる。尚、前記絶縁層15は本発明
に必要不可欠なものでないが、陽極−陰極間ショートを
防ぐためには設置することが望ましい。この後、前記開
口部の両側に隔壁6を、例えばスパッタリングで形成す
る。
層間絶縁膜50の上にマスク5を装着する。尚、マスク
5に形成された開口パタン8は、前述した絶縁層15の
開口部に整合するよう、位置決めされている。このよう
にマスク5を組み込んだ基板を真空蒸着装置に投入し、
有機層10及び陰極Kの金属層11を蒸着により形成す
る。ここで有機層10は、正孔注入層101として4,
4’,4”−トリス(3−メチルフェニルフェニルアミ
ノ)トリフェニルアミン(MTDATA)、正孔輸送層
102としてビス(N−ナフチル)−N−フェニルベン
ジジン(α−NPD)、発光層103として8−キノリ
ノールアルミニウム錯体(Alq)を用いた。陰極Kの
金属層11には、マグネシウムと銀の合金(Mg:A
g)を用いた。有機層10に属する各材料は、それぞれ
0.2gを抵抗加熱用のボートに充填して真空蒸着装置
の所定の電極に取り付ける。金属層11のマグネシウム
は0.1g、銀は0.4gをボートに充填して、真空蒸
着装置の所定の電極に取り付ける。真空チャンバを、
1.0x10−4Paまで減圧した後、各ボートに電圧
を印加し、順次加熱して蒸着させる。蒸着には、蒸着マ
スクを用いることにより所定の部分のみ有機層10およ
びMg:Agからなる金属層11を蒸着させた。所定の
部分とは、クロムが露出している部分である。クロムの
露出している部分だけに高精度に蒸着することは困難で
あるので、クロムの露出している部分全体を覆うように
(絶縁層15の縁にかかるように)蒸着マスクを設計し
た。まず、正孔注入層101としてMTDATAを30
nm、正孔輸送層102としてα−NPDを20nm、
発光層103としてAlqを50nm蒸着した。さら
に、マグネシウムおよび銀の共蒸着を行なうことによ
り、有機層10上に陰極Kの金属層11としてMg:A
gを成膜する。マグネシウムと銀は、成膜速度の比を
9:1としている。Mg:Agの膜厚をl0nmとし
た。
ャンバに移し、同じマスクを通して透明導電層12を成
膜する。成膜にはDCスパッタリングを用いる。本実施
例では、透明導電層12として室温成膜で良好な導電性
を示すIn−Zn−O系の透明導電膜を用いる。成膜条
件は、スパッタガスとしてアルゴンと酸素の混合ガス
(体積比Ar:O2=1000:5)を用い、圧力0.
3Pa、DC出力40Wとした。膜厚200nmで成膜
した。
に示す。画素PXLは有機エレクトロルミネッセンス素
子OLED、第一の能動素子としての薄膜トランジスタ
TFT1、第二の能動素子としての薄膜トランジスタT
FT2及び保持容量Csからなる。有機エレクトロルミ
ネッセンス素子は多くの場合整流性があるため、OLE
D(有機発光ダイオード)と呼ばれることがあり、図で
はダイオードの記号を用いている。図示の例では、TF
T2のソースSを基準電位(接地電位)とし、OLED
の陰極KはVdd(電源電位)に接続される一方、陽極
AはTFT2のドレインDに接続されている。一方、T
FT1のゲートGは走査配線Xに接続され、ソースSは
データ配線Yに接続され、ドレインDは保持容量Cs及
びTFT2のゲートGに接続されている。
線Xを選択状態とし、データ配線Yに輝度情報を表すデ
ータ電位Vdataを印加すると、TFT1が導通し、
保持容量Csが充電又は放電され、TFT2のゲート電
位はデータ電位Vdataに一致する。走査配線Xを非
選択状態とすると、TFT1がオフになり、TFT2は
電気的にデータ配線Yから切り離されるが、TFT2の
ゲート電位は保持容量Csによって安定に保持される。
TFT2を介して有機エレクトロルミネッセンス素子O
LEDに流れる電流は、TFT2のゲート/ソース間電
圧Vgsに応じた値となり、OLEDはTFT2から供
給される電流量に応じた輝度で発光し続ける。
の回路構成では、一度Vdataの書き込みを行えば、
次に書き換えられるまで一フレームの間、OLEDは一
定の輝度で発光を継続する。このような画素PXLを図
6のようにマトリクス状に多数配列すると、アクティブ
マトリクス型表示装置を構成することができる。図6に
示すように、本表示装置は、画素PXLを選択するため
の走査配線X1乃至XNと、画素PXLを駆動するため
の輝度情報(データ電位Vdata)を与えるデータ配
線Yとがマトリクス状に配設されている。走査配線X1
乃至XNは走査配線駆動回路21に接続される一方、デ
ータ配線Yはデータ配線駆動回路22に接続される。走
査配線駆動回路21によって走査配線X1乃至XNを順
次選択しながら、データ配線駆動回路22によってデー
タ配線YからVdataの書き込みを繰り返すことによ
り、所望の画像を表示することができる。単純マトリク
ス型の表示装置では、各画素PXLに含まれる発光素子
は、選択された瞬間にのみ発光するのに対し、図6に示
したアクティブマトリクス型表示装置では、書き込み終
了後も各画素PXLの有機エレクトロルミネッセンス素
子が発光を継続するため、単純マトリクス型に比べ有機
エレクトロルミネッセンス素子のピーク輝度(ピーク電
流)を下げられるなどの点で、とりわけ大型高精細のデ
ィスプレイでは有利となる。
上層部に属するエレクトロルミネッセンス素子と下層部
に属する配線とを接続するコンタクト領域上に隔壁を形
成することで、画素の面積を有効活用可能となり、発光
に寄与する有機エレクトロルミネッセンス素子の領域を
拡大することができる。発光に寄与する領域を拡大する
ことにより、安定な発光特性が得られる。
面図である。
面図である。
ある。
を示す工程図である。
示す回路図である。
である。
例を示す断面図である。
の例を示す断面図である。
・・有機層、15・・・絶縁層、31・・・ゲート絶縁
膜、32・・・半導体薄膜、33・・・層間絶縁膜、5
0・・・層間絶縁膜、UL・・・上層部、ML・・・中
層部、LL・・・下層部、OLED・・・有機エレクト
ロルミネッセンス素子、A・・・陽極、K・・・陰極、
CON・・・コンタクトホール、TFT・・・薄膜トラ
ンジスタ、X・・・走査配線、Y・・・データ配線、M
・・・接続配線、G・・・ゲート電極
Claims (8)
- 【請求項1】 基板と、その上に形成された複数の画素
と、隣り合う画素を互いに隔てる隔壁とを有する表示装
置であって、 該画素は、基板上に形成された配線を含む下層部と、有
機エレクトロルミネッセンス素子を含む上層部と、下層
部及び上層部を互いに電気的に絶縁する中層部とを含
み、 該有機エレクトロルミネッセンス素子は該中層部に開口
したコンタクトホールを介して該配線に接続しており、 該隔壁は該コンタクトホールを含む領域と重なるように
該上層部に配されていることを特徴とする表示装置。 - 【請求項2】 前記有機エレクトロルミネッセンス素子
は、該配線と接続した反射性の陽極と、表面に位置する
透明な陰極と、陽極及び陰極の間に保持された有機層と
からなり、前記有機層は該陽極から供給される正孔と該
陰極から供給される電子との再結合によって発光し、こ
れを表面の陰極から取り出すことを特徴とする請求項1
記載の表示装置。 - 【請求項3】 前記有機層は、該隔壁を介して基板の上
に配されたマスクを用いて選択的に堆積された積層膜か
らなることを特徴とする請求項2記載の表示装置。 - 【請求項4】 前記下層部は、画素を選択するための走
査配線と、画素を駆動するための輝度情報を与えるデー
タ配線と、走査配線によって制御され且つデータ配線か
ら与えられた輝度情報を画素に書き込む機能を有する第
一の能動素子と、該書き込まれた輝度情報に応じて該有
機エレクトロルミネッセンス素子に電流を供給しその発
光を制御する機能を有する第二の能動素子とを含むこと
を特徴とする請求項1記載の表示装置。 - 【請求項5】 基板と、その上に形成された複数の画素
と、隣り合う画素を互いに隔てる隔壁とを有し、該画素
は、基板上に形成された配線を含む下層部と、有機エレ
クトロルミネッセンス素子を含む上層部と、下層部及び
上層部を互いに電気的に絶縁する中層部とを含む表示装
置の製造方法であって、 該基板の上に配線を含む下層部を形成する下層工程と、 該下層部を被覆するように中層部を形成し、これに配線
と連通するコンタクトホールを開口する中層工程と、 該中層部の上に有機エレクトロルミネッセンス素子を形
成して該中層部に開口したコンタクトホールを介し該下
層部の配線に接続する上層工程とを行ない、該上層工程
の中で、該コンタクトホールを含む領域と重なるように
該隔壁を設けることを特徴とする表示装置の製造方法。 - 【請求項6】 前記上層工程は、該配線と接続した反射
性の陽極と、表面に位置する透明な陰極と、陽極及び陰
極の間に保持された有機層とからなる有機エレクトロル
ミネッセンス素子を形成する工程であって、前記有機層
は該陽極から供給される正孔と該陰極から供給される電
子との再結合によって発光し、これを表面の陰極から取
り出すことを特徴とする請求項5記載の表示装置の製造
方法。 - 【請求項7】 前記上層工程は、該隔壁を介して基板の
上に配されたマスクを用いて選択的に積層膜を堆積して
有機層を形成することを特徴とする請求項6記載の表示
装置の製造方法。 - 【請求項8】 前記下層工程は、画素を選択するための
走査配線と、画素を駆動するための輝度情報を与えるデ
ータ配線と、走査配線によって制御され且つデータ配線
から与えられた輝度情報を画素に書き込む機能を有する
第一の能動素子と、該書き込まれた輝度情報に応じて該
有機エレクトロルミネッセンス素子に電流を供給しその
発光を制御する機能を有する第二の能動素子とを形成す
ることを特徴とする請求項5記載の表示装置の製造方
法。
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