DE2113522A1 - Verfahren zum schnellen beruehrungsfreien Messen eines Oberflaechenprofils - Google Patents
Verfahren zum schnellen beruehrungsfreien Messen eines OberflaechenprofilsInfo
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Description
Verfahren zum schnellen berührungsfreien Messen eines Oberflächenprofils
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum schnellen berührung
sfr ei en Messen eines Oberflächenprofils.
Es ist bereits mehrfach über berührungsfreie Entfernungsmessung
mittels Laserstrahlen berichtet worden. So schreiben z.B. Friedrich Malota (Laser 1 (1969) 4»
S, 49 ff) und Horst Heibig (Ortung und Navigation (1969)
4, S. 13 ff) über eine Satellitenortung mittels Triangulation.
Dabei 'wurde der Satellit vom Boden aus durch Laserblitze beleuchtet und zusammen mit dem Sternenhimmel
als Hintergrund photographiert. Die Entfernung wurde durch
Triangulation bestimmt, da die Aufnahme außer dem Satelliten auch die Stellung des Satelliten zu den bekannten
Sternorten enthielt. Es wird dort auch eine genaue Entfernungsmessung mittels Impulslaufzeitmessung beschrieben.
In einem Artikel von H."W. Sträub, J.M. Arthaber und A.L.
Copeland (Messtechnik 78 (1970) i?. S. 106 ff) wird die
ΐίirkäugBV/eise eines Lasergeodiineters beschrieben. Hier erhält
man die Entfernung zwischen zwo I Punkten aus der Lichtgeschwindigkeit
und der Laufzeit eines hochfrequenzmodulierten Lichtbündels.
Bekannt ist auch ein Artikel von K."W. Bonfig und P. Greis
(Arch.Techn. Messen, Ifg 416 (Sept. 1970) S. 193 ff) über
die Anwendung des Lasers in der Längenmessung. Es wird beschrieben,
daß bei der Längenmessung mit dem Laser der •Laserstrahl moduliert wird und man sich der Lautzeitmethode
bedient.
VPA 9/712/0107b Yffi/Th
-2-
209840/0(HO
Diese bekannten Verfahren sind jedoch in der Durchführung langwierig, da Sender und Empfanger auf die
zu ermessenden Punkte genau nacheinander einjustiert v/erden müssen. Zur Messung eines Oberflächenprofils
sind diese Verfahren daher ungeeignet,
Es besteht also die Aufgabe, ein Verfahren anzugeben,
das es gestattet, ein Oberflächenprofil auszumessen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß über einen oberhalb der zu vermessenden Fläche angeordneten
akustooptischen Lichtablenker von einem Lasersender ausgehende Laserstrahlen auf die Oberfläche zeilenweise
abgelenkt werden, dort diffus reflektiert werden und über eine in einem vorgegebenen Abstand über der Oberfläche angeordnete
ausblendende und fokussierende Optik auf einen Detektor fallen und daß das Oberflächenprofil aus den Abstrahlwinkeln
(^C) bzw. den Empfangswinkeln (ß ) und/oder
den Laufzeiten der Laserstrahlen zwischen Sender und
Empfänger elektronisch schnell bestimmt wird.
Gemäß einer ersten vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung
werden der Lasersender und der Laserdetektor auf einer horizontalen Linie angeordnet, mit der die ausgesandten
Strahlen die Winkelet und mit der die empfangenen
Strahlen die Winkel β bilden und aus diesen ¥inkeln (c/ und
β ) und aus der bekannten Entfernung der Scheitel dieser
Winkel die Abstände der Profiloberfläche von der Bezugslinie bestimmt. Es entstehen dann nämlich Dreiecke aus den
ausgesandten, den zurückgeworfenen Strahlen und der Bezugslinie, wobei die gesuchten Abstände dann die Höhen in den
Dreiecken bilden. Diese Höhen, d.h. die gesuchten Abstände lassen sich elektronisch sehr schnell aus den beiden Winkeln
(.jC und /S ) und dem Abstand der Scheitel der Winkel
bestimmen.· Die Winkelo6 bekommt man nämlich durch Zuordnung
VPA 9/712/01070 -3-
209840/0040 .
der Ablenkrichtung der ausgesandten Strahlen zu den
Schallfrequenzen, mit denen der Ablenkkristall durchstrahlt wird.
Die Winkel /·' zwischen der horizontalen Bezugslinie und
den SmpfangsStrahlrichtungen lassen sich ebenfalls elektronisch
sehr schnell ermitteln, wenn man insbesondere einen Detektor mit einer Eingangsblende und einer flächenhaften
.Anordnung von lichtempfindlichen Elementen verwen- ■ det, wobei der empfangene Laserstrahl auf ein durch die
Strahlrichtung bestimmtes lichtempfindliches Element läuft, das ein die Strahlrichtung kennzeichnendes Signal an eine
elektronische Auswertevorrichtung weiterleitet.
Mittels eines elektronischen Rechners können aus diesen Daten die Abstände eines Profils von einer Bezugslinie für
alle Ausstrahlrichtungen der Laserstrahlen in kürzester Zeit ermittelt v/erden.
Gemäß einer zweiten vorteilhaften Ausführungsform der Erfindung wird tieder ausgesandte Strahl zur Identifizierung
im Detektor gekennzeichnet und werden die Abstände der Profiloberfläche
von der Besugslinie aus diesen Laufzeiten und den Winkeln ;* mittels einer elektronisehen Vorrichtung bestimnt.
Zur Laxif zeitin essung aus den Phasendifferensen ist
es insbesondere nötig, da£ die ausgesandten Laserstrahlen amplitudenmoduliert werden mit einer Hodulationswellenlänge,
die etwa doppelt so groß ist wie die zu messenden Abstände.
Ziir Abstandsmessung aus den Laufseitdifferensen können
zur Identifizierung der Strahlen auch vorteilhafterweise
axial modengekoppelte Laserstrahlen verwendet v/erden.
Die "^rfindttiif; wird anhand der folgenden Zeichnungen noch
näher be schrieb-, η.
YPA 9/7i2/O1O7fe -4-
2C9840/004Ö
Fig.1 zeigt ein Ausführungsbeispiel zur Oberflächenprofilmessung
durch Triangulation,
Pig.2 zeigt eine Anordnung zur Oberflächenprofilmessung durch
Laufzeitmessung von amplitudenmodulierten Laserstrahlen,
Fig.3 zeigt Diagramme zur Amplitudenmodulation und
Fig.4 zeigt eine Anordnung zur Oberflächenprofilmessung
durch Laufzeitmessung von axialmodengekoppelten Laserstrahlen.
In der Fig.1 ist ein Lasersender 1 dargestellt, der einen
Laserosziilator 2 enthält mit einem anschließenden Teleskop
3 zur Strahlaufweitung. Vom Ablenkkristall 4 wird der abgelenkte Strahl über ein weiteres Teleskop 5 vom Punkte 6
aus auf einen Punkt 7 des Oberflächenprofils 8 gelenkt. Ton dort wird der Laserstrahl u.a. in der gezeichneten Richtung
zu einem Detektor 9 gestreut. Der Detektor 9 enthält am Eingang eine Blende 10 mit einer Öffnung 11, durch die der
Laserstrahl hindurchgelangt und von einer optischen Anordnung 12 auf eine rasterförmige Fläche 13 aus lichtempfindlichen
Elementen 14 fokussiert wird, wobei das jeweils getroffene Element einen Stromstoß an eine elektronische Vorrichtung
weiterleitet. Aus dem signalisierenden Element ermittelt die Elektronik dann den Einfallswinkel / ■>
zwischen dem einfallenden Lichtstrahl und einer horizontalen Bezugslinie 15. Der Winkelo6 zwischen der ausgssandten Laserstrahlrichtung
und der gleichen Bezugslinie 15 wird ebenfalls elektronisch festgestellt. Der vom Sender 1 ausgesandte Laserstrahl
wird nämlich von dem akustooptischen Lichtablenker 4 entsprechend einer stufenweise variablen ültraschallfrequenz,
mit der der Ablenkkristall durchstrahlt wird, in berechenbare Richtungen abgelenkt. Ein ausgesandter und empfangener Laserstrahl
bildet zusammen mit der gemeinsamen Bezugslinie 15 ein Dreieck 6, 7, 11 mit den zu bestimmenden Winkeln^ und/3 ,
und der vorgegebenen Länge der Seite 6, 11. Aus diesen drei
VPA 9/712/0107b _5_
209840/OOAO
Daten läßt sich nunmehr elektronisch die Höhe 16 in dem Dreieck 6,' 7, 11 bestimmen. Da der laserstrahl
zeilenweise über die gesamte Oberfläche des Profils 8 abgelenkt wird, erhält man eine Matrix von Abständen
16 von der horizontalen Bezugslinie 15. Infolge der elektronischen Auswertung aller Daten und der raschen
Ablenkung des auagesandten Laserstrahls läßt sich ein Oberflächenprofil innerhalb weniger Millisekunden bestimmen.
In der Fig.2 ist eine ähnliche Anordnung zur Oberflächenprofilmessung
dargestellt. Hier werden allerdings Laufzeiten gemessen.
Es ist wieder ein Lasersender 1 gezeigt, der diesmal einen Laseroszillator 2 enthält und einen darauffolgenden
Amplitudenmodulator 17. Zur Vermeidung von Vieldeutigkeiten bei der Messung darf die Modulationswellenlänge
nicht kleiner sein als der doppelte Maßabstand. Die amplitudenmoduliorte
Laserstrahlung gelangt wieder über ein anschließendes Teleskop 3 auf den akustooptischen Lichtablenker
4 und ein weiteres Teleskop 5 auf einen Punkt 7 der Profiloberfläche 8. Hier wird der Laserstrahl wieder gestreut
und gelangt zu einem Detektor 9, der wiederum eine foloissierende Optik 12 enthält, sowie eine elektrooptische
Vorrichtung 18, die sowohl den Zeitpunkt des Lichtempfangs als auch die Amplitude der Lichtstrahlung genau registriert.
Da der Lasersender 1 und der Empfänger 9 elektrisch, miteinander verbunden sind, läßt sich die Laufzeit des Laserstrahls
zwischen Aussendung und Empfang ermitteln. Über den akustooptlschen Lichtablenker 4 kann wiederum der Winkelt
zwischen Ausstrahlrichtung und einer horizontalen Bezugslinie bestimmt werden. Es ist hier nicht notwendig,
daß der Lasersender und -empfänger auf der gleichen Bezugolinie
liegen. Es genügt, die Laufzeit und den Winkel'-""^-
zu kennen, um den Abstand 16 des Streupunktes 7 auf der Profiloberiläche 8 von der Bezugslinie 15 zu bestimmen. Ss
VPA 9/7.2/01075, 209 840/0040 _g_
ist übrigens auch gleichgültig in welcher Höhe die horizontale Bezugslinie 15 angenommen wird. Wie in dem
in der Fig.1 "beschriebenen Beispiel wird auch hier
der Lichtstrahl zellenförmig über die gesamte Oberfläche abgelenkt» wobei das P3?ofii wieder innerhalb
von wenigen Millisekunden bestimmt werden kann.
Eine plausible Erklärung zur Laufzeitbestinmmng wird
anhand der Fig.3 beschrieben. Sie zeigt zwei Diagramme,
in denen die zeitabhängige Intensität der modulierten Laserstrahlung über der Zeit aufgetragen ist. Dabei bezieht
sich Fig.3a auf amplitudenmodulierte Wellen zum Zeitpunkt der Aussendung und Fig.3b auf die Wellen zum
Zeitpunkt des Empfangs. Es sind jex^eils drei Beispiele
aufgeführt, die durch strichpunktierte Linien voneinander getrennt sind. In der linken Zone ist eine Phasendifferenz
des Modulationssignals zwischen ausgesandter und empfangener Welle von,D γ = 90°, in der mittleren
Zone eine Phasendifferenz von Δ γ =45° und in der rechten
Zone eine Phasendifferenz von 4 -f = 0 angenommen.
Aus diesen Phasendifferenzen lassen sich dann die Laufzeiten der Wellen zwischen Aussendung und Empfang nach
Maßgabe der Amplituden ermitteln.
Die Fig.4 zeigt ein weiteres Beispiel der Profiliaessung
mittels der Laufzeitmethode. Es bedeutet hier wieder 1
der Lasersender, der diesmal aus einem axial inodengekoppelten
Oszillator 2 besteht, aus einem anschließenden "Teleskop
3, einem Ablenker 4 und einem weiteren Teleskop Dieser axial modengekoppelte Laserstrahl wird nun vom
Punkt 6 aus unter einem Winkel o^ , der die Ausstrahlrichtung
gegenüber einer horizontalen Bezugslinie 15 angibt, auf den Punkt 7 der Profiloberfläche S gelenkt, wird dort
wieder ge"streut in Richtung au einem Detektor 9, bestehend aus einer fokussierenden Optik 12 und einer lichtempfind-
VPA 9/712/Ül 07b -7-
209840/0040
lichen Registriereinheit 18. Durch die axiale Modenkopplung des Laserstrahls·läßt sich wiader die Laufzeit
des Laserstrahls zwischen Aussendung und Empfang eindeutig ermitteln- Die Sende- und Empfangssignale werden
wiederum an eine Auswerte elelrtronik we it ergegeben, die
sehr rasch das Oberflächenprofil anzeigt, wenn der Laserstrahl wieder über die gesamte Profiloberfläche zeilenweise
abgelenkt wird.
Die elektronische Ausgabevorrichtung ermöglicht obendrein eine digitale Anzeige. Die angegebenen Verfahren können
z.B. bei rechnergesteuerten !Fertigungsprozessen verwendet werden, bei denen die Standhöhen in Behältern laufend ermittelt
v/erden müssen.
6 Patentansprüche
4 Figuren
4 Figuren
VPA 9/712/0107b -8-
209840/D0
Claims (6)
- -8-Patentansprüche©Verfahren zum berührungsfreien Messen eines Oberflächai- profils, dadurch gekennzeichnet , daß von einem Lasersender ausgehende Laserstrahlen über einen akustooptischen Lichtablenker, der oberhalb der zu vermessenden Fläche angeordnet ist, auf der Oberfläche zeilenweise abgelenkt werden, dori; diffus reflektiert v/erden und über eine in einem vorgegebenen Abstand über der Oberfläche angeordnete ausblendende Lind fokussierende Optik auf einen Detektor fallen, und daß das Oberflächa*- profil aus den Abstrahlwinkeln (,J- ) bzw, den Empfangswinkeln ( j ) und/oder den !aufweiten der Laserstrahlen zwischen Sender und Empfänger elektronisch bestimmt werden.
- 2. Verfahren nach Ymspruch 1, dadurch g e k e η η zeichnet , daß der Lasersender und -detektor auf einer horizontalen Linie angeordnet sind, mit der die ausgesandten Strahlen die Winkel (oC ) und mit der die empfangenen Strahlen die Winkel ( /j ) bilden und daß aus diesen Winkel (--/ und/J ) und aus der bekannten Entfernung der Scheitel dieser Winkel die Abstände der Pro» filoberflache von der Bezugslinie elektronisch bestimmt werden.
- 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch g e k e η η zeichnet , daß die Abstände der Punkte der Profiloberfläche von der1 Pezugslinie aus den Laufzsiteri der Laserstrahlen und den Abstrahlwinkeln C?<^ ) mittels einer elektronischen Vorrichtung bestimmt werden.
- 4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch g e k e η η zeichnet , daß die ausgesandten Laserstrahlen amplitudenmoduliert werden mit einer Modulationsweilenlänge, die etwa doppelt so groß ist wie die zu messenden Abstände.VPA 9/7i2/oiO7b 20 9 840/0040—Q—
- 5. Verfahren nach Anspruch 3 > dadurch g e k e η η zeichnet , daß gepulste Laser, vorzugsweise axial modengekoppelte laser, verwendet verden.
- 6. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen Detektor mit einer Eingangsblende und einer matrixartigen Anordnung von lichtempfindlichen Elementen, v/cbei der empfangene Laserstrahl auf ein durch die Strahlrichtung bestimmtes lichtempfindliches Element läuft, das ein die Strahlrichtung kennzeichnendes Signal an eine elektronische Auowertevcrrichtung weiterleitet.VPA ^/712/01O7b209840/0040
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