WO2013078695A1 - 一种遮光板的制作方法 - Google Patents

一种遮光板的制作方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2013078695A1
WO2013078695A1 PCT/CN2011/083428 CN2011083428W WO2013078695A1 WO 2013078695 A1 WO2013078695 A1 WO 2013078695A1 CN 2011083428 W CN2011083428 W CN 2011083428W WO 2013078695 A1 WO2013078695 A1 WO 2013078695A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
area
glass substrate
metal film
film layer
baffle
Prior art date
Application number
PCT/CN2011/083428
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
施明宏
林明文
李蒙
林韦呈
Original Assignee
深圳市华星光电技术有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 深圳市华星光电技术有限公司 filed Critical 深圳市华星光电技术有限公司
Priority to US13/380,191 priority Critical patent/US8802359B2/en
Publication of WO2013078695A1 publication Critical patent/WO2013078695A1/zh

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00—Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/54—Absorbers, e.g. of opaque materials

Definitions

  • the present invention relates to the field of liquid crystal display, and more particularly to a method of fabricating a light shielding plate. ⁇ Background technique ⁇
  • UV glass is used for curing the frame of the liquid crystal cell (CELL) process, and the display area (AA) is aligned by the light-shielding pattern on the UV glass.
  • the film (PI) and the liquid crystal region are not affected by the ultraviolet light irradiation, and the frame glue portion is exposed to ultraviolet light to achieve the purpose of curing.
  • the metal film layer at the position where the sealant is exposed is exposed by an array substrate (Array), thereby forming a light-shielding pattern on the glass substrate.
  • Array array substrate
  • the two methods have the following defects:
  • the reticle exposure method because the mask is expensive, especially the large mask of the high-generation line, is not conducive to reducing the production cost of the product; the use of the peripheral exposed machine is not accurate High, the production results often have a large gap with the actual standards to be achieved.
  • the technical problem to be solved by the present invention is to provide a method for fabricating a low-cost, high-precision visor.
  • a method for manufacturing a visor comprising:
  • a baffle is provided on the exposure stage, and the position of the exposed area on the glass substrate is controlled by adjusting the position of the baffle, thereby removing the metal film layer of the light-transmissive area and forming a light-shielding pattern in the area to be shielded.
  • the baffle is a self-contained baffle on the exposure machine.
  • the built-in mask bezel No additional investment is required and the cost is lower.
  • the step A includes:
  • A1 forming an opaque metal film layer on the glass substrate
  • A2 setting a baffle on the exposure stage, forming a pattern of the reserved area on the glass substrate, and removing the metal film layer of other portions of the glass substrate by exposure processing; the pattern of the reserved area is used to form the alignment of the exposure machine Logo, glass number and other patterns.
  • A3 Forming a metal film layer on the glass substrate and applying a photoresist; using a baffle to expose the exposed frame area to remove the metal film layer in the area.
  • the step A2 includes:
  • A2.1 First, the metal film layer corresponding to the corresponding area of the glass frame around the glass substrate is processed by an exposure machine; A2.2: forming a reserved area pattern on the glass substrate, and removing other parts of the glass substrate by exposure processing Metal film layer.
  • the step A3 includes:
  • A3.1 forming a metal film layer on the glass substrate and coating the photoresist; shielding the corresponding area of each liquid crystal cell with a baffle, exposing other areas except the corresponding area of the liquid crystal cell and performing exposure processing;
  • A3.2 Simultaneous development, etching, and photoresist stripping, leaving the light-shielding pattern and the UV mask aligned with the marked metal film layer.
  • the invention adopts a mask baffle, and the baffle can move independently and can be precisely controlled separately, so that the light of the exposure machine can be accurately positioned to produce a standard visor.
  • a light-shielding region is formed on the reticle by a baffle, and then a light-shielding pattern is formed by exposure over the reticle.
  • the present invention does not use a reticle, and directly forms an exposed region by using a baffle, and directly performs an area other than the light-shielding portion.
  • the metal film layer is removed after exposure, thereby saving the design and manufacturing cost of the mask; compared with the peripheral leak detector, the exposure machine has high precision and wide coverage, and the control panel can completely achieve accurate exposure and produce high Quality visor.
  • FIG. 1 is a schematic diagram of step 1 of an embodiment of the present invention
  • step 2 is a schematic diagram of step 2 of an embodiment of the present invention.
  • step 3 is a schematic diagram of step 3 of an embodiment of the present invention.
  • 100 visor; 110, loop seal; 120, reserved area pattern; 121, ultraviolet mask alignment mark; 130, shading pattern.
  • the ultraviolet light shielding plate 100 (UV glass) is used for the curing of the liquid crystal cell (CELL) process section, and the display area is shielded by the light shielding pattern 130 on the ultraviolet light shielding plate 100 (UV glass).
  • the area alignment film (PI) and the liquid crystal area are not affected by the ultraviolet light irradiation, and the frame glue part is exposed to ultraviolet light to achieve the purpose of curing.
  • the present invention discloses a method for fabricating a low-cost, high-precision visor 100. The specific steps are as follows:
  • Embodiment 1 The UV glass production is completed by adjusting the position of the Canon exposure machine mask blade and the free layout exposure.
  • Step 1 As shown in FIG. 1 , firstly, an opaque metal film layer is formed on the glass substrate, and then a normal glass substrate exposure process is completed by a known method, and the glass substrate peripheral loop seal 110 is washed away by a peripheral exposed light machine ( Loop seal) The metal film layer at the position of this step will form a pattern including a UV mask alignment mark 121 (GE mask) on the glass substrate.
  • GE mask UV mask alignment mark
  • Step 2 As shown in Figure 2, without using a reticle, use only the baffle on the mask stage to shield the process mark area around the slab, and the slab after the completion of step one. The double exposure is performed, and then the process of developing, etching, and stripping the photoresist is completed. This step will form the remaining region pattern 120, specifically the mask alignment mark 121 and the glass ID pattern. , at the same time remove all metal film layers in other areas.
  • Step 3 As shown in Figure 4, after step 2 is completed, the large plate is coated again (metal film layer), and the photoresist is applied; without using the mask, only the mask stage is used to shield the mask. Need to be exposed The area is exposed, and the metal film layer at the position of the loop seal 110 on the periphery of the glass substrate and the metal film layer corresponding to the position of the plastic frame around the liquid crystal cell are washed by the peripheral exposed light machine; then, the film is sequentially developed, etched, and The photoresist is peeled off, and the light shielding patterns 130 corresponding to the respective liquid crystal cells are formed. So far, the visor 100 is completed.
  • the above is a further detailed description of the present invention in connection with the specific preferred embodiments. It is not intended that the specific embodiments of the invention are limited to the description.
  • the invention can adopt the baffle plate provided by the exposure machine, or can use other controllable baffles separately; the exposure machine is not limited to the Canon exposure machine, and the exposure machines of Nikon, NSK, HHT and the like can also be selected. It will be apparent to those skilled in the art that the present invention may be practiced without departing from the spirit and scope of the invention.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

一种遮光板（100）的制作方法，其步骤包括：在曝光台上设置挡板，通过调整挡板的位置来控制玻璃基板上的露光区域的位置，从而将需透光区域的膜层移除，并在需要遮蔽的区域形成遮光图案（130）。该挡板可以独立运动，能单独进行精确控制，因此可以对曝光机的光线进行精确定位，制作出符合标准的的遮光板（100）。而且无需专门设计光罩，从而节省了光罩的设计和制作成本，因此可以在保证制作精度的同时，有效节约生产成本。

Description

一种遮光板的制作方法
【技术领域】
本发明涉及液晶显示领域， 更具体的说， 涉及一种遮光板的制作方法。 【背景技术】
目前在 TFT-LCD 业界中， 液晶盒（CELL )制程段进行框胶固化时需使用 紫外线遮光板 ( UV glass ) , 利用紫外线遮光板 ( UV glass )上的遮光图案遮蔽显 示区 （AA ) 区配向膜（PI )及液晶区域， 使其不受紫外光照射之影响， 同时将 框胶部位暴露于紫外光照射下以达到固化之目的。 紫外线遮光板（UV glass )的 制作方法通常有两种， 一种是设计紫外线遮光图案 （UV mask ), 利用光罩曝光 形成具有特定位置遮光图案的紫外线遮光板（UV glass ); 另一种方法是利用阵 列基板（Array ) 周边露光机曝掉框胶所在位置的金属膜层， 从而在玻璃基板 ( glass )上形成遮光图案。 但是这两种方法分别存在如下缺陷： 采用光罩曝光 的方式， 由于光罩价格昂贵， 特别是高世代产线的大光罩， 不利于降低产品生 产成本； 采用周边露光机的方式由于精度不高， 制作结果往往与实际要达到的 标准存在较大差距。
【发明内容】
本发明所要解决的技术问题是提供一种低成本、 高精度的遮光板的制作方 法。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：
一种遮光板的制作方法， 其步骤包括：
A: 在曝光台上设置挡板， 通过调整挡板的位置来控制玻璃基板上的露光区 域的位置， 从而将需透光区域的金属膜层移除， 并在需要遮蔽的区域形成遮光 图案。
优选的， 所述挡板为曝光机台上自带的遮罩挡板。 采用自带的遮罩挡板， 无需额外增加投资， 成本更低。
优选的， 所述步骤 A包括：
A1 : 在玻璃基板上形成不透光的金属膜层；
A2: 在曝光台上设置挡板， 在所述玻璃基板上形成保留区域图案， 并通过 曝光处理， 移除玻璃基板的其他部分的金属膜层； 保留区域的图案用于形成曝 光机的对位标识， 玻璃编号等图案。
A3: 在玻璃基板形成金属膜层、 涂光阻； 采用挡板对需露光的胶框区域进 行曝光处理， 移除该区域的金属膜层。
优选的， 所述步骤 A2包括：
A2.1: 先通过曝光机处理掉玻璃基板四周胶框对应区域的金属膜层； A2.2: 在所述玻璃基板上形成保留区域图案， 并通过曝光处理， 移除玻璃 基板的其他部分的金属膜层。
优选的， 所述步骤 A3包括：
A3.1 : 在玻璃基板形成金属膜层、 涂光阻； 采用挡板遮蔽每个液晶盒对应 区域， 露出除液晶盒对应区域外的其它区域并进行曝光处理；
A3.2: 依序进行显影、 蚀刻、 光阻剥离， 保留遮光图案和紫外线光罩对准 标记的金属膜层。
本发明采用了遮罩挡板， 挡板可以独立运动， 能单独进行精确控制， 因此 可以对曝光机的光线进行精确定位， 制作出符合标准的的遮光板。 而现有技术 是在光罩上通过挡板围绕形成遮光区域， 然后在光罩上方曝光形成遮光图案， 本发明不使用光罩， 直接利用挡板形成曝光区域， 对遮光部分以外的区域进行 直接曝光后移除金属膜层， 从而节省了光罩的设计和制作成本； 跟周边漏光机 相比， 曝光机的精度高、 覆盖范围广， 通过控制挡板， 完全可以实现精确曝光， 制作出高品质的遮光板。
【附图说明】 图 1是本发明实施例步骤一示意图；
图 2是本发明实施例步骤二示意图；
图 3是本发明实施例步骤三示意图；
其中： 100、 遮光板； 110、 环路封条; 120、 保留区域图案； 121、 紫外线 光罩对准标记； 130、 遮光图案。
【具体实施方式】
下面结合附图和较佳的实施例对本发明作进一步说明。
目前在 TFT-LCD业界中， 液晶盒（CELL )制程段进行框胶固化时需使用 紫外线遮光板 100 ( UV glass ) , 利用紫外线遮光板 100 ( UV glass )上的遮光图 案 130遮蔽显示区 （AA ) 区配向膜（PI )及液晶区域， 使其不受紫外光照射之 影响， 同时将框胶部位暴露于紫外光照射下以达到固化之目的。 本发明公开一 种低成本、 高精度的遮光板 100制作方法， 具体步骤如下所述：
实施方案一： 通过调整 Canon曝光机遮罩挡板 (mask blade)位置， 同时搭配 自由配置 (free layout)曝光完成 UV glass制作。
步骤一： 如图 1 所示， 首先在玻璃基板上形成不透光的金属膜层， 然后利 用公知的方法完成正常的玻璃基板曝光过程， 并用周边露光机洗掉玻璃基板周 边环路封条 110 ( loop seal )所在位置的金属膜层一一该步骤将在玻璃基板上形 成包括紫外线光罩对准标记 121 ( GE mask ) 的图案 （ pattern )。
步骤二： 如图 2所示， 不使用光罩， 仅利用掩模台 （mask stage )上的挡板 ( blade )遮蔽大板周边过程标示 （ process mark ) 区域， 对步骤一完成后的大板 进行二次曝光， 然后完成显影、 蚀刻、 剥离光阻之制程一一该步骤将形成保留 区域图案 120, 具体为紫外线光罩对准标记 121 ( mask alignment mark ) 与玻璃 编号图案 （ Glass ID pattern ), 同时将其他区域之金属膜层全部移除。
步骤三： 如图 4所示， 完成步骤二后，再次对大板镀膜 (金属膜层)、涂光阻； 不使用光罩， 仅利用掩模台 （mask stage )上挡板（blade )进行遮蔽， 对需露光 区域进行曝光， 并用周边露光机洗掉玻璃基板周边环路封条 110 ( loop seal )所 在位置的金属膜层， 以及各液晶盒周边胶框对应位置的金属膜层； 然后依序进 行显影、 蚀刻、 光阻剥离， 形成各个液晶盒对应的遮光图案 130。 至此， 遮光板 100制作完成。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明， 不 能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。 本发明可以采用曝光机自带的挡 板， 也可以单独采用其他可控的挡板； 曝光机也不局限于 Canon曝光机， 还可 以选用 Nikon、 NSK、 HHT等品牌的曝光机。 对于本发明所属技术领域的普通 技术人员来说， 在不脱离本发明构思的前提下， 还可以做出若干筒单推演或替 换， 都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims

权利要求
1、 一种遮光板的制作方法， 其步骤包括：
A: 在曝光台上设置挡板，通过调整挡板的位置来控制玻璃基板上的露 光区域的位置， 从而将需透光区域的金属膜层移除， 并在需要遮蔽的区域 形成遮光图案。
2、 如权利要求 1所述的一种遮光板的制作方法， 其特征在于， 所述挡 板为曝光机台上自带的遮罩挡板。
3、 如权利要求 1所述的一种遮光板的制作方法， 其特征在于， 所述步 骤 A包括：
A1 : 在玻璃基板上形成不透光的金属膜层；
A2: 在曝光台上设置挡板， 在所述玻璃基板上形成保留区域图案， 并 通过曝光处理， 移除玻璃基板的其他部分的金属膜层；
A3: 在玻璃基板形成金属膜层、 涂光阻； 采用挡板对需露光的胶框区 域进行曝光处理， 移除该区域的金属膜层。
4、 如权利要求 3所述的一种遮光板的制作方法， 其特征在于， 所述步 骤 A2包括：
A2.1 : 先通过曝光机处理掉玻璃基板四周胶框对应区域的金属膜层； A2.2: 在所述玻璃基板上形成保留区域图案， 并通过曝光处理， 移除 玻璃基板中其他部分的金属膜层。
5、 如权利要求 3所述的一种遮光板的制作方法， 其特征在于， 所述步 骤 A3包括：
A3.1 : 在玻璃基板形成金属膜层、 涂光阻； 采用挡板遮蔽每个液晶盒 对应区域， 露出除液晶盒对应区域外的其它区域并进行曝光处理；
A3.2: 依序进行显影、 蚀刻、 光阻剥离， 保留遮光图案和保留区域图 案的金属膜层。
6、 如权利要求 3所述的一种遮光板的制作方法， 其特征在于， 所述保 区域图案为紫外线光罩对准标记与玻璃编号图案。
PCT/CN2011/083428 2011-11-29 2011-12-04 一种遮光板的制作方法 WO2013078695A1 (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/380,191 US8802359B2 (en) 2011-11-29 2011-12-04 UV glass production method

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110386632.2A CN102520590B (zh) 2011-11-29 2011-11-29 一种遮光板的制作方法
CN201110386632.2 2011-11-29

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2013078695A1 true WO2013078695A1 (zh) 2013-06-06

Family

ID=46291551

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/CN2011/083428 WO2013078695A1 (zh) 2011-11-29 2011-12-04 一种遮光板的制作方法

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN102520590B (zh)
WO (1) WO2013078695A1 (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113290316A (zh) * 2021-05-20 2021-08-24 安徽熙泰智能科技有限公司 一种硅基oled微显示器件膜层去除工艺

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103553362B (zh) * 2013-10-15 2015-07-29 深圳市华星光电技术有限公司 固化框胶用遮光罩的制作方法
CN104503203A (zh) * 2015-01-15 2015-04-08 京东方科技集团股份有限公司 掩膜板及其制备方法和显示面板中封框胶的固化方法
CN104614948B (zh) 2015-02-02 2018-01-23 京东方科技集团股份有限公司 一种紫外线固化掩膜板及其制作方法和显示装置
CN106338892B (zh) * 2016-11-01 2018-05-08 合肥京东方光电科技有限公司 一种曝光机、曝光的方法以及透明对位件的移位控制方法
CN112612178A (zh) * 2020-12-21 2021-04-06 上海华力微电子有限公司 一种监控光刻机遮光片开口精度的标记及其使用方法
CN115216739A (zh) * 2022-08-26 2022-10-21 福建华佳彩有限公司 一种oled蒸镀生产静电消除装置及方法

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1115415A (zh) * 1994-04-01 1996-01-24 现代电子产业株式会社 一种掩模原版及用其测量挡板设定精度的方法
JPH11154639A (ja) * 1997-11-20 1999-06-08 Orc Mfg Co Ltd 周辺露光装置およびその方法
JP2000269122A (ja) * 1999-03-18 2000-09-29 Hiroshima Nippon Denki Kk ダミーパターン形成方法及び半導体製造方法
CN1435715A (zh) * 2002-02-01 2003-08-13 Lg.菲利浦Lcd株式会社 制造液晶显示器件的方法
JP2004310063A (ja) * 2003-03-25 2004-11-04 Sharp Corp 露光用マスク、露光装置、露光方法および液晶表示装置の製造方法
JP2006040915A (ja) * 2004-07-22 2006-02-09 Seiko Epson Corp 半導体装置の製造方法、及びその製造装置、並びに電気光学装置の製造方法
CN101196690A (zh) * 2006-12-05 2008-06-11 上海广电Nec液晶显示器有限公司 一种遮光掩膜板的制造方法及其应用
JP2009141263A (ja) * 2007-12-10 2009-06-25 Toshiba Corp 露光方法、フォトマスクおよびレチクルステージ
JP2010039360A (ja) * 2008-08-07 2010-02-18 Fujinon Corp 液晶封止装置
JP2010249963A (ja) * 2009-04-13 2010-11-04 Ushio Inc 基板貼り合わせ装置
CN101986206A (zh) * 2010-07-30 2011-03-16 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 利用功能掩膜板制造封接胶固化用掩膜基板的方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101520599A (zh) * 2008-02-26 2009-09-02 上海天马微电子有限公司 掩模及其设计方法、和使用该掩模制造阵列基板的方法

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1115415A (zh) * 1994-04-01 1996-01-24 现代电子产业株式会社 一种掩模原版及用其测量挡板设定精度的方法
JPH11154639A (ja) * 1997-11-20 1999-06-08 Orc Mfg Co Ltd 周辺露光装置およびその方法
JP2000269122A (ja) * 1999-03-18 2000-09-29 Hiroshima Nippon Denki Kk ダミーパターン形成方法及び半導体製造方法
CN1435715A (zh) * 2002-02-01 2003-08-13 Lg.菲利浦Lcd株式会社 制造液晶显示器件的方法
JP2004310063A (ja) * 2003-03-25 2004-11-04 Sharp Corp 露光用マスク、露光装置、露光方法および液晶表示装置の製造方法
JP2006040915A (ja) * 2004-07-22 2006-02-09 Seiko Epson Corp 半導体装置の製造方法、及びその製造装置、並びに電気光学装置の製造方法
CN101196690A (zh) * 2006-12-05 2008-06-11 上海广电Nec液晶显示器有限公司 一种遮光掩膜板的制造方法及其应用
JP2009141263A (ja) * 2007-12-10 2009-06-25 Toshiba Corp 露光方法、フォトマスクおよびレチクルステージ
JP2010039360A (ja) * 2008-08-07 2010-02-18 Fujinon Corp 液晶封止装置
JP2010249963A (ja) * 2009-04-13 2010-11-04 Ushio Inc 基板貼り合わせ装置
CN101986206A (zh) * 2010-07-30 2011-03-16 南京中电熊猫液晶显示科技有限公司 利用功能掩膜板制造封接胶固化用掩膜基板的方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113290316A (zh) * 2021-05-20 2021-08-24 安徽熙泰智能科技有限公司 一种硅基oled微显示器件膜层去除工艺

Also Published As

Publication number Publication date
CN102520590B (zh) 2015-05-20
CN102520590A (zh) 2012-06-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2013078695A1 (zh) 一种遮光板的制作方法
WO2016112636A1 (zh) 掩模板及其制备方法和显示面板中封框胶的固化方法
WO2019184694A1 (zh) 基板边缘处理方法、掩膜版
CN101995762B (zh) 掩模版及其制备方法
CN104102094B (zh) 掩模挡板及其制造方法
WO2013044535A1 (zh) 一种专用遮光板及其制作方法、液晶面板的制作方法
CN102236247A (zh) 光掩膜的制作方法
WO2015054905A1 (zh) 固化框胶用遮光罩的制作方法
WO2014190718A1 (zh) 掩模板以及掩模板的制备方法
KR20120050954A (ko) 다계조 포토마스크 및 그 제조 방법과 패턴 전사 방법
CN105759564B (zh) 一种掩膜板及其制作方法
WO2019061556A1 (zh) 一种显示器的基板的制造方法及光罩
TWI435185B (zh) 一種曝光圖案形成之方法
US20150160563A1 (en) Exposure method and exposure device
US20060099521A1 (en) Half tone mask, method for fabricating the same, and flat panel display using the same
US10209573B2 (en) UV curing mask plate and a fabricating method thereof and a display device
JP5015537B2 (ja) フォトマスクの製造方法及びパターンの転写方法
CN101900947B (zh) 一种彩色滤光片曝光的方法
US9977324B2 (en) Phase shift mask and method of forming patterns using the same
WO2018196192A1 (zh) 阵列基板制程和阵列基板
US8802359B2 (en) UV glass production method
TW201245775A (en) Photomask substrate, photomask, photomask manufacturing method, and pattern transfer method
KR20120056925A (ko) 포토마스크의 배면 리페어 방법
KR20120100371A (ko) 글라스윈도우 제조방법 및 이에 의해 제조된 글라스윈도우
CN110764376B (zh) 显示面板及其制作方法

Legal Events

Date Code Title Description
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 13380191

Country of ref document: US

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 11876471

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 11876471

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1