SU641333A1 - Differential refractometer - Google Patents

Differential refractometer

Info

Publication number
SU641333A1
SU641333A1 SU721792489A SU1792489A SU641333A1 SU 641333 A1 SU641333 A1 SU 641333A1 SU 721792489 A SU721792489 A SU 721792489A SU 1792489 A SU1792489 A SU 1792489A SU 641333 A1 SU641333 A1 SU 641333A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
scanner
refractometer
working pulses
video signal
sawtooth voltage
Prior art date
Application number
SU721792489A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Павел Иннокентьевич Госьков
Original Assignee
Томский Институт Автоматизированных Систем Управления И Радиоэлектроники
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Томский Институт Автоматизированных Систем Управления И Радиоэлектроники filed Critical Томский Институт Автоматизированных Систем Управления И Радиоэлектроники
Priority to SU721792489A priority Critical patent/SU641333A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU641333A1 publication Critical patent/SU641333A1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

1one

Иасбретение относитс  к рефрактометрии .Ejection refers to refractometry.

Известны рефрактометры, содержащие оптическую часть, фотоприемник и электронную схему l|.Known refractometers containing the optical part, the photodetector and the electronic circuit l |.

Наиболее близким дл  данного технического решени   вл етс  рефрактометр, содержащий оптическую часть с двум  треугольными призматическими кюветами, полупроводниковый координатно-чувствительный фотоприемник и электронную схему 2.The closest to this technical solution is a refractometer containing an optical part with two triangular prismatic cells, a semiconductor coordinate-sensitive photodetector and an electronic circuit 2.

Недостатками известных рефрактометров  вл ютс ; дрейф нулевой точки инверсионной характеристики; зависимость выходного сигнала не только от положени  светового потока на фотоприемнике, но и от его интенсивности, т.е. зависимость выходного сигнала не только от коэффициента преломлени  исследуемой среды, но и от ее оптической плотности; сравнительно узка  рабоча  характеристика; работа по амплитуде выходного сигнала с фотоприемника, а не по временному положению импульсного сигнала, поэтому старение фотоприемника, изменение параметров внешней окружающей среды, нестабильность оптической плотности исследуемой среды значительно вли ют на точность, надежность, чувствительность в стабильность работы рефрактометра.The disadvantages of the known refractometers are; zero point drift of inversion characteristic; the dependence of the output signal not only on the position of the light flux on the photodetector, but also on its intensity, i.e. the dependence of the output signal not only on the refractive index of the medium under study, but also on its optical density; relatively narrow performance; work on the amplitude of the output signal from the photodetector, and not on the temporal position of the pulse signal, therefore the aging of the photodetector, changing the parameters of the external environment, instability of the optical density of the medium under study significantly affect the accuracy, reliability, sensitivity in the stability of the refractometer.

Цель предлагаемого изобретени  - повышение точности, чувствительности, надежн1эсти и стабильности работы рефракт1 метра и расширение диапазона измерени$1.The purpose of the present invention is to improve the accuracy, sensitivity, reliability and stability of the refract 1 meter and the expansion of the measurement range $ 1.

Claims (1)

Поставленна  цель достигаетс  тем, что в дифференциальный рефрактометр введены Источник посто нного напр жени  смешени , дифференцирующий трансформатор , генератор пилообразного напр жени  опроса сканистора, схема выделени  видеосигнала со сканистора, измеритель временных интервалов, а фотоприемник вьшо№нен в виде полупроводникового линейного сканистора, на передний фоточувствитель- ный слой которого раздельно спроектированы световые потоки, прошедшие через эталонную и исследуемую среды, и noitкшочен источник посто нного напр жени  смещени : а к заднему слою - через первичную обмотку дифференцирующего трааоформатора подключен генератор пилообразного напр жени  опроса сканистора, а ко вторичной обмотке трансформатора подсоедввбва схема выделени  видеосигнала со сканистора, к выходу которой подсоединен измеритель временных интервалов, На фи. i показана блок-схема пред nafaeMoro рефрактометра; на фиг. 2 ocuHflnOT-paMMbi напр жений; на фиг. 3 экса@р1ШЕевтальные кривые. Согласно изобретению рв4рактометр состшт ИЗ источника 1 света, создающего два световых потока регулируемой интенсивности} из двух идентичных треуго ь ныл npH3Mai«4ecKHX кювет 2 {проточных или непроточных), в одну из которых помещаетс  эталонна  среда, а в другую исследуема  из линейного попупроводш кового скааистора 3, на передний, фоточувствите ькый слой которого проектируютс  прошедшие сквозь кюветы 2 световые потоки и, кроме того, к его концам с помощью металлических контактов подведено посто нное напр жение смещени  от источника 4, а на весь задний слой с помощью металлической подложки подаетс  пилообразное напр жение от генераTOjpa 5 через первичную обмотку дифферен аирующего трансформатора 6; из схемы выде еваа видеосигнала со сканистора 7} из иам ител  8 временных интервалов. Оредпагаемый дифференциальный рефрактометр работает следующим образом, Сканастор опрашиваетс  пилообразным напр жением и, если на сканистор будут спроектированы два световых потока, то в соответствующих местах будут наблюдатьс  скачки пилообразного напр жени  G (фиг. 2) и к;ледствве этого после вь4делени  видеосигнала со сканистора будут наблюдатьс  импульсы, фиксирующие начало и конец пилообразного напр жени  опросе, и два рабочих кмпульса «Г между ними {фиу. 2). Местоположение рабочих импульсов определ етс  коэффициентами преломлени  эталонной и исследуемой сре соответственно. На измеритель 8 време ных интервалов со схемы 7 подаютс  тол ко оба рабочих импульса и измер етс  временное рассто ние между ними В (фиг. 2) Если в обе кюветы залит эталонный раствор, временное рассто ние . между рабочими импульсами равно {фиг, 2,Ь), а когда в одну из кювет вместо эталонного раствора запиваетс  исслеуемый раствор,, показатель преломлени  оторого отличаетс  на величину д П от оказател  преломлени  эталонного раствоа , то в результате этого временное расто ние между рабочими импульсами измен етс  пропорционально Д П -на величину Af (фиг. 2, г), т.е. &n-kAt, где конкретное значение коэффициента К определ етс  конкретными параметрами кювет и сканистора. На фиг. 3 дл  примера приведены экспериментальные кривые дл  водного растрвора , сн тые с помощью предлагаемого рефрактометра, использующего кремниевый сканистор. В качестве измерител  8 временных интервалов использовалс  цифровой измеритель временных интервалов И2-8. Погрешность измерений экспериментального макета рефрактометра не превышала i 2,5 10 ед. И, так как рассто ние 1 между кюветами и сканиотором равно Ь 2О см, а разрещающа  способность использованнсг о сканистора и перемещени  луча по немуЛХ. ±10сек. ПрнДХ -jjti мк и I, 100 см соот ветственно погрешность не будет превь шать ± О,510 ед. Ц, а интервал измер емых коэффвдиентов преломлени  при длине сканистора SO мм составит ЛП ,05. Поскодьку А п определ етс  по изменецйю только времецного положени  рабочих импульсов, то вследствие этого изменеаив их амплитуд (и( изменени  оптической ПЛОТНОСТИ растворов разной концентрш ии или параметров окружающей среды н т.д.) Вли ни  ва точность измерений практически окааьгвать не будет. Таким образом, применение в предлагаемом рефрактометре в качестве фотоприемника полупроводникового сканистора вместо фотоэлемента с продольным фотоэффектом позвол ет устранить все выщеперечисленные недостатки и в результате этого повысить точность, стабильность, надежность и чувствительность рефрактометра и обеспечить ему достаточно широкую линейную рабочую характеристику. Формула изобретени  Дифференциальный рефрактометр, содержащий оптическую часть с двум  треугольными призматическими кюветами, полупроводниковый координатно-чувствательаый фотоприемник и электронную схему, отThe goal is achieved by introducing a mixing voltage source, a differentiating transformer, a scanner interrogation generator, a scanner interrogation generator, a video signal extraction system from a scanstor, a time interval meter, and a photodetector in the form of a semiconductor line scanner, in front of the differential refractometer. the photosensitive layer of which is separately designed light fluxes that pass through the reference and studied media, and a source of a constant current displacement: a generator of sawtooth scanner sawtooth voltage is connected through the primary winding of the differentiating trauoformator, and a video signal isolation circuit from a scanning star with a time interval meter connected to the secondary winding of the transformer, On phi. i shows a block diagram of a refractometer nafaeMoro; in fig. 2 ocuHflnOT-paMMbi voltages; in fig. 3 Exa @ p1Sheeval curves. According to the invention, a pv4ractometer is composed of a light source 1 that produces two light fluxes of adjustable intensity} from two identical triangles npH3Mai "4ecKHX cuvette 2 {flow-through or non-flowing), one of which is placed into the reference medium, and the other is examined from a linear secondary conductor 3, on the front photosensitive layer of which 2 light fluxes passing through the cuvet are designed and, in addition, a constant bias voltage from the source 4 is applied to its ends using metal contacts, and after hitting the back layer, using a metal substrate, sawtooth voltage is generated from the generator TOJPA 5 through the primary winding of the differentiating transformer 6; 8 time intervals from the scheme of the selection of the video signal from the scanistor 7} from the iam and the cell. The differential differential refractometer works as follows, the Scanastor is interrogated with a sawtooth voltage and, if two luminous fluxes are designed on the scanstor, then the jumps of the sawtooth voltage G (Fig. 2) will be observed in the corresponding places; after this, the video signal from the scanter will be Observe impulses that fix the beginning and end of the sawtooth voltage survey, and two working pulses “T between them {fiu. 2). The location of the working pulses is determined by the refractive indices of the reference and the studied medium, respectively. The time interval meter 8 from the circuit 7 is supplied with both working pulses and the temporal distance between them is measured B (Fig. 2). If a reference solution is poured into both cuvettes, the temporal distance. between the working pulses is equal to (FIG. 2). When the test solution is washed down in one of the cuvette instead of the reference solution, the refractive index differs by the value of dP from the reference solution, the temporary spread between the working pulses varies in proportion to D P - to the value of Af (Fig. 2, d), i.e & nkAt, where the specific value of the coefficient K is determined by the specific parameters of the cuvette and the scanistor. FIG. Figure 3 shows, for example, experimental curves for an aqueous solution, taken using the proposed refractometer using a silicon scanstor. As the meter of 8 time intervals, a digital time interval meter I2-8 was used. The measurement error of the experimental model of the refractometer did not exceed i 2.5 10 units. And, since the distance 1 between the cuvettes and the scanner is H 2 O cm, and the resolution is the ability to use the scanner and the movement of the beam through it. ± 10 sec. PrnDH -jjti mk and I, 100 cm, respectively, the error will not exceed ± 0, 510 units. C, and the interval of measured refractive indices with a length of scanner SO mm will be LP, 05. Since A p is determined by varying only the temporal position of the working pulses, then, as a result, their amplitudes change (and (changes in the optical DENSITY of solutions of different concentrations or environmental parameters, etc.). There will be practically no measurement accuracy. Thus, using the proposed refractometer as a photodetector of a semiconductor scanner instead of a photocell with a longitudinal photoelectric effect allows you to eliminate all the above mentioned drawbacks and, as a result, it precision, stability, reliability and sensitivity of the refractometer and keep a sufficiently wide linear operating characteristics. The claims Differential refractometer comprising optical part having two triangular prismatic cuvettes, a semiconductor jig chuvstvatelay photodetector and an electronic circuit, from
SU721792489A 1972-06-02 1972-06-02 Differential refractometer SU641333A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU721792489A SU641333A1 (en) 1972-06-02 1972-06-02 Differential refractometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU721792489A SU641333A1 (en) 1972-06-02 1972-06-02 Differential refractometer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU641333A1 true SU641333A1 (en) 1979-01-07

Family

ID=20516588

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU721792489A SU641333A1 (en) 1972-06-02 1972-06-02 Differential refractometer

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU641333A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5157454A (en) * 1989-11-30 1992-10-20 Otsuka Electronics Co., Ltd. Differential refractometer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5157454A (en) * 1989-11-30 1992-10-20 Otsuka Electronics Co., Ltd. Differential refractometer

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6466565A (en) Voltage detection
UST102104I4 (en) Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices
SU641333A1 (en) Differential refractometer
JPS6488516A (en) Detector for quantity of fluctuation of optical beam of optical scanner
SU593122A1 (en) Method of measuring refractive index of substance
JPH01277740A (en) Submerged turbidity meter
SU439738A1 (en) Method for measuring radiation intensity loss in homogeneous materials
SU427274A1 (en)
SU449235A1 (en) Optical displacement meter
SU702245A1 (en) Automatic polarimeter
SU1125514A1 (en) Refractometer-calorimeter
RU2039931C1 (en) Method of determination of glass tube diameter and device for its accomplishment
SU1092393A1 (en) Method of detecting oil film on water reservoir surface
SU1551985A1 (en) Photoelectric autocollimator
SU705313A1 (en) Automatic reflectometer
SU772392A1 (en) Method of measuring light pulse duration
SU1560996A1 (en) Meter of atmospheric pressure
SU940236A1 (en) Device for measuring coercive force of magnetic one-axis films
SU603842A1 (en) Photoelectric meter of semiconductor plate deelection
SU1213396A1 (en) Astronomical refractometer
SU1631272A1 (en) Method of measuring linear dimensions
SU1061005A1 (en) Refractometer
SU495526A1 (en) Mirror Brand
SU444053A1 (en) Device for remote measurement of the angles of rotation of objects
SU1290189A1 (en) Method of measuring peak power of r.f.pulse signals