RU2178219C1 - Method and device for plasmachemical treatment of substrates - Google Patents
Method and device for plasmachemical treatment of substrates Download PDFInfo
- Publication number
- RU2178219C1 RU2178219C1 RU2000128990/28A RU2000128990A RU2178219C1 RU 2178219 C1 RU2178219 C1 RU 2178219C1 RU 2000128990/28 A RU2000128990/28 A RU 2000128990/28A RU 2000128990 A RU2000128990 A RU 2000128990A RU 2178219 C1 RU2178219 C1 RU 2178219C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- discharge
- electrode
- substrate holder
- preparatory
- paragraphs
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32009—Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
- H01J37/32082—Radio frequency generated discharge
- H01J37/32174—Circuits specially adapted for controlling the RF discharge
- H01J37/32183—Matching circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/3266—Magnetic control means
- H01J37/32669—Particular magnets or magnet arrangements for controlling the discharge
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32715—Workpiece holder
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
- C23C16/513—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using plasma jets
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67063—Apparatus for fluid treatment for etching
- H01L21/67069—Apparatus for fluid treatment for etching for drying etching
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к технологии плазмохимической обработки подложек, в частности пластин полупроводникового производства от силовой электроники до микроэлектроники и других заготовок, и может быть использовано в различных электронных и машиностроительных отраслях производства. The invention relates to the technology of plasma-chemical processing of substrates, in particular wafers of semiconductor manufacturing from power electronics to microelectronics and other blanks, and can be used in various electronic and engineering industries.
Известны способы и соответствующие устройства плазмохимической обработки подложек путем подачи рабочего газа в зону обработки и его активации в разряде индукционного типа (см. , например, Данилин Б. С. и Киреев В. Ю. Применение низкотемпературной плазмы для травления и очистки материалов. М. : Энергоатомиздат, 1987, с. 147, рис. 7, 1a). Параметры плазмы, созданной в разряде данного вида, весьма неоднородны в пространстве, что существенно отражается на характере распределения степени активации рабочего газа, вызывая сильно неравномерную обработку подложек. Кроме того, в индукционном разряде отсутствуют области, пронизанные электронными пучками, а именно такие области максимально ответственны за активацию рабочего газа, вступающего далее в гетерогенные химические реакции на поверхности подложек. В этой связи уровень скорости процессов в рамках данной технологии невысок. Known methods and corresponding devices for plasma-chemical processing of substrates by supplying a working gas to the treatment zone and its activation in an induction-type discharge (see, for example, Danilin B. S. and Kireev V. Yu. Use of low-temperature plasma for etching and cleaning materials. M. : Energoatomizdat, 1987, p. 147, Fig. 7, 1a). The parameters of the plasma created in the discharge of this type are very heterogeneous in space, which significantly affects the distribution of the degree of activation of the working gas, causing a very uneven treatment of the substrates. In addition, there are no regions penetrated by electron beams in the induction discharge, namely, such regions are most responsible for the activation of the working gas, which then enters into heterogeneous chemical reactions on the surface of the substrates. In this regard, the level of speed of processes within the framework of this technology is low.
Известны аналогичный способ и устройство, в которых форму индуктора приблизили к геометрии газового потока, направляемого к подложке, а именно индуктор имеет форму конуса, обращенного к подложке своим основанием, а средства подачи газа при этом размещены на вершине данного конуса (авт. свид. СССР 762634 кл. H 01 L 21/00, 1979). Здесь несколько улучшена ситуация с равномерностью обработки, поскольку около вершины конуса весь газовый поток протекает через область плазмы с повышенной степенью ионизации, что помогает выравнять степень активации рабочего газа к моменту достижения им подложки. Однако здесь отсутствуют средства оперативного воздействия на данный параметр, поэтому улучшение оказывается не очень существенным. В отношении скорости процессов положение практически не изменилось. A similar method and device are known in which the shape of the inductor is approximated to the geometry of the gas flow directed to the substrate, namely, the inductor has the shape of a cone facing the substrate with its base, and the gas supply means are placed on top of this cone (ed. Certificate. USSR 762634 C. H 01 L 21/00, 1979). Here, the situation with processing uniformity is somewhat improved, since near the apex of the cone the entire gas stream flows through the plasma region with an increased degree of ionization, which helps to equalize the degree of activation of the working gas by the time it reaches the substrate. However, there are no means of operational impact on this parameter, so the improvement is not very significant. Regarding the speed of processes, the situation has not changed.
Обсуждаемые параметры процессов и оборудования значительно улучшились с переходом к тлеющему ВЧ-емкостному разряду, используемому в промышленных условиях в форме аномального тлеющего разряда, при котором приэлектродные области полностью и относительно равномерно покрывают всю поверхность электродов с образованием около них значительных скачков потенциала, вызывающих появление в плазме пучков вторичных электронов сравнительно высоких энергий (~ 102-103 эВ). Известны способы и устройства для плазмохимической обработки подложек, согласно которым рабочий газ активируют в разряде такого вида (см. , например. Goto H. H. et al. , IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, 1991, v, 4. No. 2, pp. 111-121). Технология приведенного типа оставалась пока на уровне предыдущих технических решений в связи с несогласованностью организации тлеющего ВЧЕ-разряда с газовой динамикой подачи рабочего газа в зону обработки, которая бы учитывала также и физику процессов активации газа.The discussed parameters of processes and equipment improved significantly with the transition to a glow RF capacitive discharge, which is used under industrial conditions in the form of an anomalous glow discharge, in which the near-electrode regions completely and relatively uniformly cover the entire surface of the electrodes with the formation of significant potential jumps around them, causing plasma beams of secondary electrons of relatively high energies (~ 10 2 -10 3 eV). Known methods and devices for plasma-chemical processing of substrates, according to which the working gas is activated in a discharge of this kind (see, for example, Goto HH et al., IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing, 1991, v. 4. No. 2, pp. 111- 121). The technology of this type has remained at the level of previous technical solutions due to the inconsistency of the organization of a smoldering RF discharge with the gas dynamics of the supply of working gas to the treatment zone, which would also take into account the physics of gas activation processes.
Известны также способы и устройства для плазмохимической обработки подложек, согласно которым рабочий газ подают к подложке в виде почти равномерного потока, пропущенного через большинство зон ВЧ-разрядов, ответственных за активацию газа (см. , например, пат. США 6054013, кл. Н 05 Н 1/00 [нац. кл. 156/345] , 25.04.2000г. ). Объявлено о достигнутом повышении равномерности и производительности процессов. Данное техническое решение, как наиболее близкое к заявленному, принято в качестве прототипа в части способа. Соответствующее ему устройство, содержащее внешние антенны-индукторы, внутренние электроды возбуждения ВЧ-емкостного разряда, плоский подложкодержатель, средства подачи рабочего газа в зону обработки и ВЧ-генератор с согласующим устройством на выходе, также принято в качестве прототипа в части заявленного устройства. There are also known methods and devices for plasma-chemical processing of substrates, according to which the working gas is supplied to the substrate in the form of an almost uniform stream passed through most zones of RF discharges responsible for gas activation (see, for example, US Pat. No. 6,054,013, class H 05
Техническая задача новой технологии состоит в дальнейшем повышении поверхностной равномерности плазмохимической обработки подложек и уровня скорости такой обработки. The technical task of the new technology is to further increase the surface uniformity of the plasma-chemical processing of substrates and the level of speed of such processing.
Согласно данному предложению поставленная задача решена тем, что в способе плазмохимической обработки подложек путем подачи рабочего газа в зону обработки и активации его воздействием ВЧ-емкостного разряда указанные операции выполняются и дополнены следующим образом: рабочий газ подают в зону обработки вдоль поверхностей электродов подготовительного ВЧ-емкостного разряда, ориентированного поперек потока рабочего газа, а получаемое на выходе распределение степени его активации регулируют изменением структуры данного разряда. Кроме того, в качестве подготовительного используют электродный разряд коаксиальной геометрии и подбирают его радиальную структуру перераспределением приэлектродных статических скачков потенциала и регулировкой давления газа; радиальную структуру подготовительного разряда изменяют наложением на рабочие поверхности электродов равномерно распределенных пятен с коэффициентом вторичной эмиссии электронов, отличным от данной характеристики материала электрода; на указанный коаксиальный источник плазмы накладывают постоянное или переменное осевое магнитное поле короткого соленоида; магнитное поле короткого соленоида создают двумя встречно включенными его частями; удаление подложки от выходного сечения подготовительного разряда подбирают по времени жизни компонент активированного газа, ответственных за проводимый процесс. Поставленная задача решена также и в плазмохимическом реакторе, содержащем технологическую вакуумную камеру, размещенные в ней электроды возбуждения ВЧ-емкостного разряда, плоский подложкодержатель, средства подачи в камеру рабочего газа и ВЧ-генератор с согласующим устройством на выходе. В отличие от известных устройств электроды реактора образуют подготовительный коаксиальный источник плазмы с электропроводящими рабочими поверхностями электродов и средствами подачи рабочего газа в его глухой торец и далее вдоль электродов к подложкодержателю, причем указанные электроды соединены через фильтр-пробку и реверсивно регулируемый источник постоянного тока и окружены коротким соленоидом, подключенным к источнику постоянного или переменного тока. Кроме того, внешний соленоид реактора может быть разделен на две встречно включенные секции; центральный электрод подготовительного источника плазмы выполнен стержневым с плавно скругленным торцом, обращенным к подложкодержателю; одна или обе поверхности электродов подготовительного источника плазмы выполнены развитыми, например волнистыми; рабочая поверхность одного или обоих электродов подготовительного источника плазмы закрыта перфорированной диэлектрической накладкой; содержит согласующее устройство трансформаторного типа, подложкодержатель подключен к выходу согласующего устройства через разделительный конденсатор, образуя разрядную ветвь, параллельную подготовительному источнику плазмы и имеющую общий внешний цилиндрический электрод, причем подложкодержатель соединен с этим электродом через фильтр-пробку и реверсивно регулируемый источник постоянного тока; электрод-подложкодержатель окружен дополнительным соленоидом; параллельно разделительному конденсатору его подложкодержателя подключены последовательно соединенные индуктивность, переменный резистор и ключ, причем величина индуктивности обеспечивает резонанс на рабочей частоте с минимальной величиной указанного конденсатора, который подключен в свою очередь к проводнику, соединяющему согласующее устройство с разделительным конденсатором подготовительной разрядной ветви; на выходе согласующего устройства ВЧ-генератора установлен разделительный трансформатор; подготовительный источник плазмы окружен одним или несколькими круговыми рядами подобных источников, параллельных центральному, образуя связку независимо регулируемых источников плазмы от одного кругового ряда к другому; все подготовительные разрядные ветви реактора соединены с общим ВЧ-генератором параллельно центральному источнику плазмы, имея в своих цепях питания индивидуально регулируемые разделительные конденсаторы; подложкодержатель выполнен с возможностью осевого перемещения. According to this proposal, the problem is solved in that in the method of plasma-chemical processing of substrates by supplying the working gas to the treatment zone and activating it by exposure to the RF capacitive discharge, these operations are performed and supplemented as follows: the working gas is supplied to the treatment zone along the surfaces of the electrodes of the preparative RF capacitive a discharge oriented across the flow of the working gas, and the distribution of the degree of its activation obtained at the output is regulated by a change in the structure of this discharge. In addition, an electrode discharge of coaxial geometry is used as a preparatory discharge and its radial structure is selected by redistributing the near-electrode static potential jumps and adjusting the gas pressure; the radial structure of the preliminary discharge is changed by applying uniformly distributed spots on the working surfaces of the electrodes with a secondary electron emission coefficient different from this characteristic of the electrode material; on the specified coaxial plasma source impose a constant or alternating axial magnetic field of a short solenoid; the magnetic field of a short solenoid is created by two counter-included parts thereof; the removal of the substrate from the output section of the preparatory discharge is selected according to the lifetime of the activated gas component responsible for the process. The problem was also solved in a plasma-chemical reactor containing a technological vacuum chamber, excitation electrodes of an RF capacitive discharge, a flat substrate holder, means for supplying a working gas to the chamber, and an RF generator with an output matching device. In contrast to the known devices, the reactor electrodes form a preparatory coaxial plasma source with electrically conductive working surfaces of the electrodes and means for supplying the working gas to its blind end and further along the electrodes to the substrate holder, said electrodes being connected through a filter plug and a reversibly regulated direct current source and surrounded by a short a solenoid connected to a direct or alternating current source. In addition, the external reactor solenoid can be divided into two counterclockwise sections; the central electrode of the preparatory plasma source is made rod with a smoothly rounded end facing the substrate holder; one or both surfaces of the electrodes of the preparatory plasma source are made developed, for example, wavy; the working surface of one or both electrodes of the preparatory plasma source is closed by a perforated dielectric pad; contains a transformer-type matching device, the substrate holder is connected to the output of the matching device through an isolation capacitor, forming a discharge branch parallel to the preparation plasma source and having a common external cylindrical electrode, the substrate holder being connected to this electrode through a filter plug and a reversibly regulated DC current source; an electrode-substrate holder is surrounded by an additional solenoid; inductance, a variable resistor and a key are connected in parallel to the isolation capacitor of its substrate holder, and the inductance value provides resonance at the operating frequency with a minimum value of the indicated capacitor, which in turn is connected to a conductor connecting the matching device to the isolation capacitor of the preparatory discharge branch; an output transformer is installed at the output of the RF generator matching device; the preparatory plasma source is surrounded by one or more circular rows of similar sources parallel to the central one, forming a bunch of independently regulated plasma sources from one circular row to another; all preparatory discharge branches of the reactor are connected to a common RF generator parallel to the central plasma source, having individually adjustable isolation capacitors in their power circuits; the substrate holder is made with the possibility of axial movement.
Главным отличием данного предложения от известных является компоновка подготовительного ВЧ-емкостного разряда, возбуждаемого поперек потока рабочего газа. Она позволяет свести задачу достижения равномерности степени активации газа при подходе к подложке к проблеме регулировки структуры такого разряда. Последняя включает в себя множество различных зон, из которых важнейшее значение для технологических приложений имеют области с высокоэнергетическими частицами. Таковыми являются приэлектродные слои объемного заряда, пронизанные быстрыми ионами из плазмы и встречными пучками вторичных электронов, и прилегающие к ним области отрицательного катодного свечения, где вторичные электроны рассеивают свою энергию в процессах столкновений с тяжелыми частицами. Известно, что электронный удар представляет собой основной механизм активации рабочего газа. Повышенную химическую активность по отношению к материалу подложки проявляют возбужденные молекулы и атомы рабочего газа, продукты их диссоциации различных видов и, наконец, ионизованные частицы в виде положительно или отрицательно заряженных ионов. Все эти частицы принято называть активированными. The main difference between this proposal and the known ones is the layout of the preparatory RF capacitive discharge, excited across the flow of the working gas. It allows us to reduce the problem of achieving uniformity in the degree of gas activation when approaching the substrate to the problem of adjusting the structure of such a discharge. The latter includes many different zones, of which areas with high-energy particles are of crucial importance for technological applications. These are the near-electrode layers of the space charge penetrated by fast ions from the plasma and counterpropagating beams of secondary electrons, and the adjacent areas of negative cathode luminescence, where secondary electrons dissipate their energy in collisions with heavy particles. It is known that electron impact is the main mechanism of activation of the working gas. Excited molecules and atoms of the working gas, products of their dissociation of various types and, finally, ionized particles in the form of positively or negatively charged ions show increased chemical activity with respect to the substrate material. All these particles are called activated.
Современное понимание физики ВЧ-емкостного разряда предоставляет множество путей и приемов регулирования структуры разряда данного вида, из которых в рамках данного предложения избраны наиболее эффективные. Учитывая форму подложек в производстве чипов, предложено выполнить подготовительный источник плазмы коаксиальным с регулировкой его радиальной структуры перераспределением приэлектродных статических скачков потенциала и регулировкой давления газа. Первый прием определяет соотношение "дальнобойности" активирующих приэлектродных слоев, а второй - абсолютный размер этих слоев, т. к. толщины структурных слоев ВЧЕ-разряда обратно пропорциональны давлению газа. Предложенная процедура регулирования структуры разряда позволяет увеличить внешний приэлектродный скачок потенциала по сравнению с внутренним, т. е. более интенсивно активировать газовый поток на его периферии. Регулировка давления дает возможность сомкнуть и частично перекрыть две встречные активирующие зоны, т. е. обеспечить плавный профиль активации потока газа такой формы, т. е. предискаженный так, чтобы при подходе к зоне обработки скомпенсировать рассасывающее влияние диффузионных процессов и обеспечить равномерность результирующего плазмохимического процесса на подложке. Указанное перераспределение предложено выполнить с помощью цепи, включенной параллельно ВЧЕ-разряду и содержащей фильтр-пробку с последовательно включенным регулируемым источником постоянного тока (который при необходимости можно реверсировать). Фильтр-пробка отсекает утечку ВЧ-мощности в данную цепь и в то же время не препятствует регулировке постоянного тока, параллельного ВЧЕ-разряду. Очевидно, что данная регулировка возможна только в том случае, когда электроды ВЧЕ-разряда гальванически контактируют с плазмой. Таким образом, подготовительный разряд в заявленном реакторе обязательно должен быть электродного типа, в котором рабочие поверхности электродов являются электрически проводящими. A modern understanding of the physics of the RF capacitive discharge provides many ways and methods of regulating the structure of the discharge of this type, of which the most effective are selected within the framework of this proposal. Given the shape of the substrates in the chip production, it is proposed to make the preparatory plasma source coaxial with the adjustment of its radial structure by redistributing the near-electrode static potential jumps and adjusting the gas pressure. The first method determines the ratio of the "range" of the activating electrode layers, and the second determines the absolute size of these layers, because the thickness of the structural layers of the RF discharge is inversely proportional to the gas pressure. The proposed procedure for regulating the structure of the discharge makes it possible to increase the external near-electrode potential jump as compared to the internal one, i.e., to more actively activate the gas flow at its periphery. Pressure adjustment makes it possible to close and partially overlap two opposing activating zones, i.e., to ensure a smooth profile of activation of a gas stream of this shape, i.e., to be distorted so that when approaching the treatment zone to compensate for the absorbable effect of diffusion processes and to ensure uniformity of the resulting plasma-chemical process on the backing. It is proposed to perform the indicated redistribution using a circuit connected in parallel with an RF discharge and containing a filter plug with an adjustable DC source connected in series (which can be reversed if necessary). The filter plug cuts off the leakage of RF power into this circuit and at the same time does not prevent the adjustment of direct current parallel to the RF discharge. Obviously, this adjustment is possible only if the electrodes of the RF discharge are in galvanic contact with the plasma. Thus, the preparatory discharge in the claimed reactor must be of the electrode type, in which the working surfaces of the electrodes are electrically conductive.
На величину приэлектродного скачка потенциала ВЧЕ-разряда можно также повлиять выбором материала электрода. В частности, известно, что увеличение коэффициента вторичной электронной эмиссии приводит к уменьшению приэлектродного скачка потенциала. Этот факт позволяет наложить, например, на поверхность малого центрального электрода равномерно распределенные пятна из такого вещества, что позволит сохранить электродный характер разряда и уменьшить скачок потенциала около внутреннего электрода, чтобы уменьшить глубину дальнейшей регулировки этого параметра в соответствии с изложенным выше. Той же цели можно достичь, придав, например, центральному электроду волнистую форму, т. е. увеличив площадь его рабочей поверхности. The value of the near-electrode jump in the potential of an RFE discharge can also be affected by the choice of electrode material. In particular, it is known that an increase in the secondary electron emission coefficient leads to a decrease in the near-electrode potential jump. This fact makes it possible to apply, for example, uniformly distributed spots of such a substance to the surface of a small central electrode, which will allow maintaining the electrode character of the discharge and reducing the potential jump near the internal electrode in order to reduce the depth of further adjustment of this parameter in accordance with the above. The same goal can be achieved by giving, for example, a wavy shape to the central electrode, i.e., by increasing the area of its working surface.
Заявленная компоновка подготовительного разряда обеспечивает также общее повышение степени активации рабочего газа в реакторе за счет увеличения времени взаимодействия атомов рабочего газа с высокоэнергетическими частицами разряда. Эта особенность обусловлена подачей газа к подложкам вдоль рабочих поверхностей подготовительного источника плазмы. Следствием является увеличение скоростей проводимых в реакторе технологических процессов. The claimed arrangement of the preparatory discharge also provides a general increase in the degree of activation of the working gas in the reactor by increasing the interaction time of the working gas atoms with high-energy particles of the discharge. This feature is due to the supply of gas to the substrates along the working surfaces of the preparatory plasma source. The consequence is an increase in the rates of the processes carried out in the reactor.
Дальнейшего общего повышения степени активации рабочего газа с акцентом на наружных слоях газового потока предлагается достичь наложением на подготовительный разряд постоянного или переменного осевого магнитного поля короткого соленоида. Такое поле явится поперечным для данного разряда, т. е. при пониженных давлениях, характерных для ВЧЕ-разряда, оно повышает степень ионизации и, следовательно, активации газа до двух порядков величины. Это обстоятельство позволяет еще больше повысить скорости проводимых процессов. Кроме того, поле короткого соленоида (длины не более внутреннего диаметра) характерно увеличением напряженности к периферии его внутреннего пространства. Следовательно, такое поле способствует достижению упомянутого выше предискажения профиля степени активации рабочего газа. Рассечение соленоида на две встречно включенные секции послужит гарантией фиксации разряда в центральной зоне под соленоидом, чтобы не допустить ухода разряда из зоны номинальной напряженности внешнего поля соленоида, возможного в случае энергетической выгоды его поддержания в одной из торцевых зон источника плазмы. Переменное магнитное поле способствует повышению азимутальной однородности степени активации рабочего газа, что соответствует задаче, решаемой данным предложением. Кроме того, сетевое питание соленоида дешевле применения источников постоянного тока, что дополнительно приводит к снижению стоимости технологии. It is proposed to achieve a further general increase in the degree of activation of the working gas with a focus on the outer layers of the gas flow by applying a short solenoid to the preparatory discharge of a constant or variable axial magnetic field. Such a field will be transverse for a given discharge, i.e., at reduced pressures characteristic of an RFE discharge, it increases the degree of ionization and, therefore, gas activation up to two orders of magnitude. This circumstance allows us to further increase the speed of ongoing processes. In addition, the field of a short solenoid (of a length not exceeding the inner diameter) is characterized by an increase in tension to the periphery of its inner space. Therefore, this field contributes to the achievement of the aforementioned predistortion profile of the degree of activation of the working gas. Dissection of the solenoid into two opposed sections will guarantee the fixation of the discharge in the central zone under the solenoid in order to prevent the discharge from leaving the zone of the nominal intensity of the external field of the solenoid, which can be maintained if it is energetically maintained in one of the end zones of the plasma source. An alternating magnetic field increases the azimuthal uniformity of the degree of activation of the working gas, which corresponds to the problem solved by this proposal. In addition, the mains supply of the solenoid is cheaper than the use of direct current sources, which further reduces the cost of the technology.
Схемы вариантов плазмохимического реактора, выполненного согласно заявленному предложению, представлены на фиг. 1-5. Здесь приняты следующие обозначения: 1 - стержневой электрод подготовительного источника плазмы, 2 - внешний цилиндрический электрод подготовительного источника плазмы, 3 - ВЧ-генератор, 4 - согласующее устройство, 5 - ВЧ-трансформатор, 6 - входной параллельный конденсатор, 7 - выходной разделительный конденсатор, 8 - подложкодержатель, 9 - подложка, например кремниевая пластина, 10 - коллектор подачи рабочего газа, 11 - патрубок подачи рабочего газа, 12 - пористая вставка равномерной подачи рабочего газа, 13 - откачной патрубок, 14 - фильтр-пробка, 15 - источник постоянного тока с возможностью реверса его включения в цепь, 16 - соленоид в виде двух секций, 17 - скругленный торец стержневого электрода 2, 18 - поперечное сечение электрода 2 с развитой поверхностью за счет ее рифления, 19 - поперечное сечение электрода 2 с перфорированной накладкой на его рабочей поверхности, например из керамики, 20 - разделительный конденсатор отвода ВЧ-мощности в разряд между подложкодержателем и внешним электродом 3; 21 - дополнительный соленоид, 22 - катушка индуктивности, 23 - переменный резистор, 24 - ключ. Schemes of options for a plasma chemical reactor made in accordance with the claimed proposal are presented in FIG. 1-5. The following notation is used here: 1 - the rod electrode of the preliminary plasma source, 2 - the external cylindrical electrode of the preliminary plasma source, 3 - the RF generator, 4 - the matching device, 5 - the RF transformer, 6 - the input parallel capacitor, 7 - the output isolation capacitor 8 - substrate holder, 9 - substrate, for example a silicon wafer, 10 - working gas supply manifold, 11 - working gas supply pipe, 12 - porous insert for uniform working gas supply, 13 - pumping outlet, 14 - filter plug, 15 - source DC nickname with the possibility of reversing it into the circuit, 16 - a solenoid in the form of two sections, 17 - the rounded end of the
На фиг. 1 представлена схема реактора с подготовительным источником плазмы коаксиального типа. На фиг. 2 и 3 показаны варианты исполнения центрального электрода с развитой рабочей поверхностью за счет ее рифления и с перфорированной накладкой на рабочей поверхности, например, из керамики. На фиг. 4 и 5 представлен вариант подготовительного источника плазмы в виде связки коаксиальных ячеек, подключенных к общему ВЧ-генератору через индивидуальные конденсаторы. In FIG. 1 shows a diagram of a reactor with a coaxial type preparatory plasma source. In FIG. Figures 2 and 3 show versions of the central electrode with a developed working surface due to its corrugation and with a perforated lining on the working surface, for example, made of ceramic. In FIG. Figures 4 and 5 show a variant of a preliminary plasma source in the form of a bunch of coaxial cells connected to a common RF generator through individual capacitors.
Отметим, что скругленная форма торца 17 центрального электрода 2 обеспечивает плавный ход профиля активации рабочего газа в его центральной части. Трансформаторное согласующее устройство 10 позволяет сохранить заземление на генераторе 9, что важно с точки зрения электробезопасности, и локализовать около реактора промежуточный потенциал его общего электрода 3, который может опасно отличаться от потенциала земли. Подключение подложкодержателя ко вторичной обмотке ВЧ-трансформатора согласующего устройства через конденсатор 20 обеспечивает подачу на этот электрод ВЧ-смещения, что необходимо в ряде процессов на подложках. При необходимости уменьшения энергии Еi ионной бомбардировки подложки, например в процессах осаждения, можно уменьшить конденсатор 20 до минимума. Это даст Ei~ 101эВ. Подключение к нему цепи 22-23 (фиг. 1) позволит плавно поднять его потенциал до уровня плавающего, т. е. Еi~ 100 эВ. Далее, подавая источником 15 через фильтр 14 положительный потенциал к подложкодержателю, начиная от нуля, можно полностью выравнять потенциал подложкодержателя с плазмой в зоне обработки. Такая ситуация может быть весьма полезной при мягком осаждении пленки на подложке. Если пленка является диэлектриком, то в процессе ее осаждения потенциал подложкодержателя плавно опустится до плавающего. Возникающая при этом мягкая ионная бомбардировка не сможет ухудшить качества полученной пленки, т. к. граница ее раздела с подложкой к данному времени уже будет сформирована при полном отсутствии такого процесса.Note that the rounded shape of the end face 17 of the
При необходимости обработки очень больших подложек может оказаться, что формирование плавно предыскаженного профиля активации рабочего газа в коаксиальном источнике плазмы с диаметром электрода до 500 мм и больше потребует применения очень низкого давления (см. закономерности, упомянутые выше), которое противоречит сути реализуемого процесса. Тогда может оказаться разумным использование связки коаксиальных источников плазмы согласно фиг. 4 и 5. Каждый из источников при этом может быть настроен на получение примерно однородно активированного потока газа, а кольцевой слой наружных источников при этом может быть настроен на некоторое завышение степени активации для создания нужного предискажения общей активации газа, достигающего большой подложки. На фиг. 5 представлен вариант питания всей связки от одного общего ВЧ-генератора. If it is necessary to process very large substrates, it may turn out that the formation of a smoothly predistorted profile of the working gas activation in a coaxial plasma source with an electrode diameter of up to 500 mm and more will require the use of very low pressure (see the laws mentioned above), which contradicts the essence of the process being implemented. Then it may be reasonable to use a bunch of coaxial plasma sources according to FIG. 4 and 5. In this case, each of the sources can be configured to receive a roughly uniformly activated gas flow, and the annular layer of external sources can be set to some degree of activation degree increase in order to create the necessary prediction of the total gas activation reaching a large substrate. In FIG. Figure 5 shows the option of supplying the entire bundle from one common RF generator.
Работает заявленное устройство следующим образом. Предварительно фиксируют удаление подложкодержателя 8 с подложкой 9 от выхода подготовительного источника плазмы 2, 3 (фиг. 1). Устанавливают выходное напряжение источников 15 согласно рекомендациям технолога. Включают охлаждение электродов 1, 2 и др. элементов при необходимости (не показано), включают откачку полости реактора, затем подачу рабочего газа в патрубок 11 и генератор 3. После поджига разряда включают электропитание соленоидов 16, 21 согласно технологической карте, уточняют давление в зоне обработки, а также подстраивают согласование генератора 3 с разрядом заданного вида конденсаторами 6, 7, 20 (при необходимости включают цепь 22-23) и одновременно уточняют напряжения источников 15. В ходе технологического процесса контролируют скачок статического потенциала и концентрацию ионов плазмы перед подложкой. The claimed device operates as follows. Preliminarily record the removal of the
В качестве базового объекта для сравнения технико-экономической эффективности избран прототип. В нем рабочий газ подается через несколько зон индукционного разряда, характерных невысокой степенью активации газа, как это отмечалось выше, а также через ряд более "жестких" приэлектродных областей дополнительного емкостного разряда, включая зону около подложки, размещенной на нижнем электроде. Можно отметить, что во всех вариантах исполнения реактора-прототипа газ пересекает указанные приэлектродные зоны в направлении нормали к поверхностям электродов, т. е. подвергается лишь кратковременному воздействию вторичных пучков электронов. Исключение составляет область, непосредственно прилегающая к пластине, т. е. к зоне ее обработки. Но здесь активация газа не является предварительной. Кратковременность пребывания газа в зонах активации предопределяет невысокую эффективность данного реактора, препятствующую получению высоких скоростей процессов. Что касается равномерности процессов на подложке, то данный параметр фактически лишь декларируется в описании патента. Реальное достижение нужного качества процесса остается делом искусства технолога и составляет цель трудоемких экспериментов по эмпирическому подбору большого количества операционных параметров различных конкретных процессов, унифицированных технических мер для выравнивания скорости обработки по всей поверхности пластины в изобретении не предложено. Заявленное же техническое решение, основанное на глубоком понимании физики ВЧЕ-разряда, содержит набор планомерных технических операций по регулировке равномерности процессов на подложках больших площадей, а также обеспечивает реальное повышение скоростей процессов. Эти особенности заявленного технического решения и его новизна позволяют рассматривать предложенный реактор как инструмент нового поколения. A prototype was chosen as the base object for comparing technical and economic efficiency. In it, the working gas is supplied through several zones of the induction discharge, characterized by a low degree of gas activation, as noted above, as well as through a number of more “hard” electrode regions of the additional capacitive discharge, including the zone near the substrate located on the lower electrode. It can be noted that in all variants of the prototype reactor, the gas crosses the indicated near-electrode zones in the direction normal to the surfaces of the electrodes, i.e., it is exposed only to short-term effects of secondary electron beams. The exception is the area immediately adjacent to the plate, i.e., to the zone of its processing. But here, gas activation is not preliminary. The short duration of gas in the activation zones predetermines the low efficiency of this reactor, which prevents the obtaining of high process speeds. As for the uniformity of processes on the substrate, this parameter is actually only declared in the patent description. The real achievement of the desired quality of the process remains the work of the technologist’s art and is the goal of laborious experiments on the empirical selection of a large number of operational parameters of various specific processes, unified technical measures to equalize the processing speed over the entire surface of the plate in the invention are not proposed. The claimed technical solution, based on a deep understanding of the physics of the RF discharge, contains a set of systematic technical operations for adjusting the uniformity of processes on substrates of large areas, and also provides a real increase in the speed of processes. These features of the claimed technical solution and its novelty allow us to consider the proposed reactor as a new generation tool.
Claims (18)
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2000128990/28A RU2178219C1 (en) | 2000-11-21 | 2000-11-21 | Method and device for plasmachemical treatment of substrates |
KR10-2001-0072781A KR100391180B1 (en) | 2000-11-21 | 2001-11-21 | Method and apparatus for plasma chemical treatment of a substrate surface |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU2000128990/28A RU2178219C1 (en) | 2000-11-21 | 2000-11-21 | Method and device for plasmachemical treatment of substrates |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU2178219C1 true RU2178219C1 (en) | 2002-01-10 |
Family
ID=20242353
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
RU2000128990/28A RU2178219C1 (en) | 2000-11-21 | 2000-11-21 | Method and device for plasmachemical treatment of substrates |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100391180B1 (en) |
RU (1) | RU2178219C1 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2483501C2 (en) * | 2010-07-30 | 2013-05-27 | Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт точного машиностроения" | Plasma reactor with magnetic system |
RU2601947C2 (en) * | 2015-03-26 | 2016-11-10 | Валентин Анатольевич Рябый | Method of integral diagnostic of hf induction gas-discharge device |
RU2812337C1 (en) * | 2023-11-10 | 2024-01-30 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук | Method for transmitting rf power to plasma source |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100869691B1 (en) * | 2007-06-08 | 2008-11-21 | 전부일 | Cleaning apparatus using plasma |
-
2000
- 2000-11-21 RU RU2000128990/28A patent/RU2178219C1/en active
-
2001
- 2001-11-21 KR KR10-2001-0072781A patent/KR100391180B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2483501C2 (en) * | 2010-07-30 | 2013-05-27 | Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт точного машиностроения" | Plasma reactor with magnetic system |
RU2601947C2 (en) * | 2015-03-26 | 2016-11-10 | Валентин Анатольевич Рябый | Method of integral diagnostic of hf induction gas-discharge device |
RU2812337C1 (en) * | 2023-11-10 | 2024-01-30 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук | Method for transmitting rf power to plasma source |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100391180B1 (en) | 2003-07-12 |
KR20020039638A (en) | 2002-05-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7385621B2 (en) | Ion-ion plasma atomic layer etching process and reactor | |
US8222157B2 (en) | Hybrid RF capacitively and inductively coupled plasma source using multifrequency RF powers and methods of use thereof | |
US8123903B2 (en) | Plasma reactor having multiple antenna structure | |
JP3381916B2 (en) | Low frequency induction type high frequency plasma reactor | |
US9697993B2 (en) | Non-ambipolar plasma ehncanced DC/VHF phasor | |
KR20000077195A (en) | Piasma processing method and apparatus | |
JP2001118834A (en) | High-density plasma tool having adjustable uniformity and statistical electronic overheat and reducing gas cracking | |
JP2021503686A (en) | Ultra-localization and plasma uniformity control in the manufacturing process | |
US6238512B1 (en) | Plasma generation apparatus | |
KR100806522B1 (en) | Inductively coupled plasma reactor | |
KR20100061126A (en) | Compound plasma reactor | |
KR20070112662A (en) | Inductively coupled plasma reactor | |
JP4220316B2 (en) | Plasma processing equipment | |
CN111463094B (en) | Atomic layer etching device and atomic layer etching method | |
RU2178219C1 (en) | Method and device for plasmachemical treatment of substrates | |
KR20080028848A (en) | Inductively coupled plasma reactor for wide area plasma processing | |
KR100845917B1 (en) | Inductively coupled plasma reactor for wide area plasma processing | |
KR102589743B1 (en) | Plasma chamber having gas distribution plate for uniform gas distribution | |
KR20170019321A (en) | Magnetized edge ring for extreme edge control | |
KR20090022564A (en) | Inductively coupled plasma reactor having multi rf antenna | |
KR100753869B1 (en) | Compound plasma reactor | |
KR20090073327A (en) | Apparatus for high density remote plasma processing | |
KR100585198B1 (en) | Plasma generator for processing of wafer edge | |
KR101286710B1 (en) | Apparatus for and method of treating substrate using inductively coupled plasma | |
KR20050008066A (en) | Plasma source manufacturing semiconductor device |