KR20080006809A - Checkup apparatus for back light unit - Google Patents
Checkup apparatus for back light unit Download PDFInfo
- Publication number
- KR20080006809A KR20080006809A KR1020060066007A KR20060066007A KR20080006809A KR 20080006809 A KR20080006809 A KR 20080006809A KR 1020060066007 A KR1020060066007 A KR 1020060066007A KR 20060066007 A KR20060066007 A KR 20060066007A KR 20080006809 A KR20080006809 A KR 20080006809A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- camera
- bel
- blu
- unit
- guide
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N2021/0106—General arrangement of respective parts
- G01N2021/0112—Apparatus in one mechanical, optical or electronic block
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Description
도1a는 엘시디 모듈(LCD Module)에 대한 개략적인 분해사시도.1A is a schematic exploded perspective view of an LCD module.
도1b는 도1a의 엘시디 모듈에 구성되는 비엘유에 대한 조립사시도.FIG. 1B is an assembled perspective view of the BEL configured in the LCD module of FIG. 1A; FIG.
도2는 도1b의 비엘유에 구성되는 편광판의 단면도.FIG. 2 is a cross-sectional view of the polarizing plate constructed of the BEL oil of FIG. 1B; FIG.
도3은 종래의 비엘유 검사장치에서 카메라의 촬영각도를 조절하는 일례를 설명하기 위한 도면.Figure 3 is a view for explaining an example of adjusting the photographing angle of the camera in the conventional BEL tester.
도4는 본 발명의 실시예에 따른 비엘유 검사장치를 나타낸 개략적인 평면도.Figure 4 is a schematic plan view showing a BEL inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
도5는 본 발명의 실시예에 따른 비엘유 검사장치에서 촬영각조절장치의 작동을 설명하기 위한 블록도.Figure 5 is a block diagram for explaining the operation of the photographing angle adjustment device in the BEL inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
도6은 본 발명의 실시예에 따른 비엘유 검사장치에 채용된 카메라 및 촬영각조절장치를 나타낸 사시도.Figure 6 is a perspective view showing a camera and a photographing angle adjusting device employed in the BEL inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
도7은 본 발명의 실시예에 따른 비엘유 검사장치에 채용된 카메라 및 촬영각조절장치를 구체적으로 설명하기 위한 도면.Figure 7 is a view for explaining in detail the camera and the shooting angle adjusting device employed in the BEL inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
도8은 본 발명의 실시예에 따른 비엘유 검사장치에 채용된 카메라 및 촬영각조절장치의 작동상태를 설명하기 위한 도면.8 is a view for explaining the operating state of the camera and the photographing angle adjusting device employed in the BEL inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
110:순환레일 120:구동장치110: circulation rail 120: drive device
130:안착지그 141:카메라130: seating jig 141: camera
150:촬영각조절장치150: shooting angle adjustment device
151:알가이드 152:동력장치151: Alguide 152: power unit
160:직선이동장치 170:영상처리장치160: linear transfer device 170: image processing device
180:출력장치180: output device
본 발명은 비엘유 검사장치에 관한 것으로, 더욱 구체적으로는, 비엘유의 이상유무를 카메라를 이용하여 검사하는 기술에 관한 것이다.The present invention relates to a BEL inspection apparatus, and more particularly, to a technique for inspecting the presence or absence of abnormalities of the BL using a camera.
근래에 들어 디스플레이장치로써 활용되고 있는 엘시디(LCD : Liquid Crystal Display)는 1990년대부터 실용화되면서 제품의 우수성으로 인해 그 시장규모가 급격히 팽창하고 있는 실정이다.Recently, LCD (Liquid Crystal Display), which is being used as a display device, has been put into practical use since the 1990s, and its market size is rapidly expanding due to product excellence.
일반적인 엘시디 모듈은 도1a의 분해사시도에 도시된 바와 같이, 셀(10, Cell)과 비엘유(20)로 구성된다.The general LCD module is composed of a
셀(10)은 두개의 유리판(11, 12)과 이 두 개의 유리판(11, 12) 사이에 배치되는 액정(13) 등으로 이루어져 있다.The
또, 비엘유(20)는, 저면에 구성되는 반사판(21), 반사판(21)의 상측에 위치하는 도광판(22), 도광판(22)에 빛을 조사시키기 위한 엘이디(LED)소자(23), 도광판의 상측에 위치하는 제1확산판(24), 제1확산판(24)의 상측에 순서적으로 배치되 며, 상호 직교하는 편광을 가지는 두개의 편광판(25, 26), 두개의 편광판(25, 26)의 상측에 위치하는 제2확산판(29) 및 상기한 구성들의 외곽을 묶어 모듈화시키는 몰드프레임(28) 등으로 구성된다. 도1b는 몰드프레임(28)에 의해 묶여 모듈화된 비엘유(20)의 조립사시도이다.In addition, the BEL 20 includes an LED (23)
도2는 상기한 편광판(25, 26)의 단면을 도시한 것으로, 도2를 참조하면 편광판(25, 26)에는 다수개의 프리즘산(25a, 26a)이 형성되어 있다. 그런데, 이러한 프리즘산(25a, 26a)의 높이는 각 제품에 따라서 차이가 있으며, 이러한 차이에 따라 빛의 굴절이 달라질 수 있다.FIG. 2 is a cross-sectional view of the polarizing
한편, 비엘유(20)와 셀(10)을 결합시키기 이전에 비엘유(20)에 대한 결함을 먼저 검사하여야 하는데, 이 때, 비엘유(20)의 결함으로는 점 결함(흑점, 백점), 선결함(Scratch), 이물, 얼룩 등을 들 수 있다.On the other hand, before combining the
종래에는 비엘유(20)의 결함을 육안관찰에 의해 검사하였으나, 육안관찰은 검사자의 눈을 피로하게 하고, 시력을 떨어뜨리는 점, 시력의 한계에 의한 검사의 부정확성 등의 문제점이 있어왔다. 따라서 근래에는 카메라를 이용하여 비엘유(20)의 영상을 획득하는 기술이 등장하고 있다.Conventionally, the defect of the
종래의 비엘유 검사장치들은, 카메라로 비엘유 표면을 어느 일 각도에서 촬영하여 결함을 찾아내는데, 이때, 검사의 대상이 되는 비엘유에 따라, 카메라가 촬영각도를 달리해야 할 필요가 있으며, 이를 위해 카메라를 이동시킬 수 있도록 하는 장치들이 함께 개시되고 있다.Conventional BLU inspection devices, by using a camera to photograph the surface of the BLU oil at any angle to find a defect, at this time, according to the BEL to be inspected, the camera needs to change the shooting angle, for this purpose Apparatuses for allowing the movement of a camera are disclosed together.
도3은 종래의 비엘유 검사장치에서 카메라의 촬영각도을 조절하는 일례를 설 명하기 위한 도면이다. 도3에 도시된 바와 같이, 종래의 비엘유 검사장치에서는, 카메라(41)를 공간좌표상에서 X축, Y축 및 세타(θ) 방향으로 이동을 하여, 비엘유(20) 검사를 위한 카메라(41)의 촬영각을 변화시킬 수 있었다. 그러나, 이러한 방법으로 촬영각을 변화시키는 것은, 복잡한 이동을 제어하여야하는 장치들이 뒤따라야 하는 문제점이 있고, 또한 촬영각을 조절하기 위한 시간이 많이 소요되는 문제점이 있다.3 is a view for explaining an example of adjusting the photographing angle of the camera in the conventional BEL inspection apparatus. As shown in FIG. 3, in the conventional BEL inspection apparatus, the
또한 카메라(41)의 촬영각을 조절할 때에는, 비엘유(20) 표면의 검사지점을 기준으로 하여 카메라(41)가 일정한 거리상에 유지되도록 하는 것이 중요하다. 그러나 X축, Y축으로 이동한 후, 세타(θ) 방향으로 회전을 하여, 카메라(41)와 비엘유(20)간의 거리가, 이동 전의 거리와 같도록 유지시키는 것은, 그 제어에 있어서 매우 곤란한 면이 있다.In addition, when adjusting the photographing angle of the
본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 비엘유의 표면과 일정한 거리를 유지하며 카메라의 촬영각을 정확하게 조절할 수 있고, 제어가 쉬운 비엘유 검사장치를 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve the problems described above, the object of the present invention to maintain a constant distance from the surface of the BIEL to accurately adjust the photographing angle of the camera, and to provide an easy to control the BRL inspection apparatus.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 비엘유 검사장치는, 임의의 포인트를 기준으로 해당 임의의 포인트가 일정한 순환경로상을 순환하도록 구비되는 순환레일; 상기 순환레일을 구동시키는 구동장치; 상기 순환레일에 고정되어서 상기 일정한 순환경로상을 순환하도록 마련되는 복수의 안착지그; 상기 복수의 안착지그 에 안착된 비엘유가 특정지점에 위치할 시에 해당 특정지점에 위치한 비엘유를 촬영하는 적어도 하나 이상의 카메라; 상기 적어도 하나 이상의 카메라의 촬영각도를 조절하기 위한 촬영각조절장치; 상기 적어도 하나 이상의 카메라에서 촬영된 영상정보를 처리하는 영상처리장치; 및 상기 영상처리장치에서 처리된 영상정보를 출력시키는 출력장치;를 포함하고, 상기 촬영각조절장치는, 상기 적어도 하나 이상의 카메라와 촬영대상인 비엘유의 거리를 일정하게 유지하면서 이동하도록 안내하는 알가이드(R-GUIDE); 및 상기 알가이드를 따라 상기 적어도 하나 이상의 카메라를 이동시키기 위한 적어도 하나 이상의 동력장치;를 포함한다.The BEL inspection apparatus according to the present invention for achieving the above object, the circulation rail provided to circulate a predetermined point on a certain circulation path based on any point; A driving device for driving the circulation rail; A plurality of seating jig fixed to the circulation rail and provided to circulate on the predetermined circulation path; At least one or more cameras photographing the BEL located at the specific point when the BEL seated on the plurality of seating jigs is located at the specific point; A photographing angle adjusting device for adjusting a photographing angle of the at least one camera; An image processing apparatus for processing image information photographed by the at least one camera; And an output device for outputting the image information processed by the image processing apparatus, wherein the photographing angle adjusting device comprises: an guiding guide for moving while maintaining a constant distance between the at least one or more cameras and the target image of the BEL. R-GUIDE); And at least one power unit for moving the at least one camera along the alguide.
여기서, 상기 적어도 하나 이상의 카메라가 비엘유를 라인스캔할 수 있도록 상기 알가이드를 직선 이동시키는 직선이동장치;를 더 포함할 수 있다.Here, the at least one camera may further include a linear movement device for linearly moving the lg guide so as to scan the line.
이하에서는 상술한 본 발명에 대하여 보다 구체적으로 이해할 수 있도록 바람직한 실시예를 들어 설명한다. 도4는 본 발명의 실시예에 따른 비엘유 검사장치를 나타낸 개략적인 평면도, 도5는 본 발명의 실시예에 따른 비엘유 검사장치에서 촬영각조절장치의 작동을 설명하기 위한 블록도, 도6은 본 발명의 실시예에 따른 비엘유 검사장치에 채용된 카메라 및 촬영각조절장치를 나타낸 사시도, 도7은 본 발명의 실시예에 따른 비엘유 검사장치에 채용된 카메라 및 촬영각조절장치를 구체적으로 설명하기 위한 도면이다.Hereinafter, preferred embodiments will be described so that the present invention described above can be understood in more detail. Figure 4 is a schematic plan view showing a BEL inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, Figure 5 is a block diagram for explaining the operation of the photographing angle adjustment device in the BEL inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, Figure 6 Is a perspective view showing a camera and a photographing angle adjusting device employed in the BEL inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a view illustrating a camera and a photographing angle adjusting device employed in the BEL inspection apparatus according to the embodiment of the present invention. It is a figure for explaining.
도4 내지 도8에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 비엘유 검사장치는, 순환레일(110), 구동장치(120), 안착지그(130), 카메라(141), 촬영각조절장 치(150), 영상처리장치(170) 및 출력장치(180)를 포함한다.As shown in Figures 4 to 8, the BEL inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, the
순환레일(110)은, 임의의 포인트를 기준으로 해당 임의의 포인트가 일정한 순환경로상을 순환하도록 구비된다.The
구동장치(120)는 순환레일(110)을 구동시키기 위해 마련된다.The
안착지그(130)는 순환레일(110)에 고정되어서 일정한 순환경로상을 순환하도록 복수개가 마련되며, 각각의 안착지그(130)에는 검사의 대상이 되는 비엘유(20)가 놓여진다. 또한, 안착지그(130)는 비엘유의 LED소자에 전원을 인가하여 LED소자를 발광시킨다.The
카메라(141)는 안착지그(130)에 안착된 비엘유(20)가 특정지점에 위치할 시에 해당 특정지점에 위치한 비엘유(20)를 촬영한다.The
촬영각조절장치(150)는, 카메라(141)의 촬영각도를 조절하기 위해 마련되는데, 본 발명에 따른 비엘유 검사장치에서의 촬영각조절장치(150)는, 알가이드(151) 및 동력장치(152)를 포함한다.The photographing
알가이드(R-GUIDE)(151)는 카메라(141)와 촬영대상인 비엘유(20)의 거리를 일정하게 유지하면서 이동하도록 안내한다.The R-
동력장치(152)는 알가이드(151)를 따라 카메라(141)를 이동시키기 위해 마련된다.The
한편, 도7을 참조하면, 촬영각조절장치(150)의 동력장치(152)는, 모터(152a)에 구비된 피니언 기어를 회전시켜, 알가이드(151)에 형성된 렉기어에 맞물려 카메라(141)를 이동시킬 수 있도록 할 수 있다.Meanwhile, referring to FIG. 7, the
이렇게 알가이드(151)와 동력장치(152)를 이용한 촬영각조절장치(150)를 이용함으로써, 도8에 도시된 바와 같이, 카메라(141)와 비엘유(20) 간의 거리를 일정하게 유지시키며 카메라(141)의 촬영각을 조절할 수 있는 것이며, 그 제어과정 또한 간단해 질 수 있는 것이다.By using the photographing
영상처리장치(170)는 카메라(141)에서 촬영된 영상정보를 처리한다.The
출력장치(180)는 영상처리장치(170)에서 처리된 영상정보를 출력시켜, 작동자가 확인할 수 있도록 한다.The
상술한 본 발명의 실시예에 따른 비엘유 검사장치의 동작을 설명하면, 순환레일(110)상의 일 지점에서 검사의 대상이 되는 비엘유(20)를 안착지그(130)에 올려 놓는다(BLU Loading). 비엘유(20)를 안착지그(130)에 올려 놓는 작업은, 작업자가 손수 확인하며 올려 놓을 수도 있지만, 로딩장치(미도시) 등을 구비하여 자동적으로 비엘유(20)를 올려 놓을 수도 있다. 이후 구동장치(120)가 작동되어, 순환레일(110)이 순환경로를 순환하면, 순환레일(110)에 고정된 안착지그(130)가 움직이면서, 비엘유(20)의 위치도 이동하게 된다. 비엘유(20)가 이동하면서 카메라(141) 하측의 검사위치에 오게 되면, 구동장치(120)는 소정의 검사시간 동안 작동을 멈추게 되며, 카메라(141)는 비엘유(20)를 촬영하여 영상정보를 영상처리장치(170)에 보낸다. 영상처리장치(170)에서 종합 처리된 영상정보는 출력장치(180)를 통해 출력되어 작동자가 확인할 수 있게 된다. 검사를 마친 비엘유(20)는 순환레일(110)이 다시 순환하여 타 지점에서 배출된다(Unloading). 물론 검사를 마친 비엘유(20)의 배출 작업 역시 작업자가 확인 후 수작업으로 빼낼 수도 있지만, 언로딩장치(미도 시) 등을 통해 자동화를 구현할 수도 있는 것이다.Referring to the operation of the BEL inspection apparatus according to the embodiment of the present invention described above, the
또한, 본 발명에 따른 비엘유 검사장치는, 카메라(141)가 비엘유(20)를 라인스캔할 수 있도록 상기 알가이드(151)를 직선이동시키는 직선이동장치(160)를 더 포함하는 것이 바람직하다. 즉, 직선이동장치(160)를 작동시켜, 알가이드(151)를 평행이동시킴으로써, 비엘유(20)의 검사 대상이 되는 지점을 이동하며 라인스캔이 가능한 것이다.In addition, the BEL inspection apparatus according to the present invention preferably further includes a
여기서, 도5의 블록도를 다시 참조하면, 본 발명에 따른 비엘유 검사장치는, 동력장치(152)와 직선이동장치(160)의 동작을 제어하는 제어장치(50)와, 동력장치(152)와 직선이동장치(160)의 동작에 따른 명령을 입력할 수 있는 입력장치(60)를 더 포함할 수 있다.Here, referring back to the block diagram of FIG. 5, the BEL inspection apparatus according to the present invention includes a
이상과 같이, 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시 예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시 예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 등가개념으로 이해되어져야 할 것이다.As described above, the detailed description of the present invention has been made by the embodiments with reference to the accompanying drawings, but the above-described embodiments have been described by way of example only, and thus the present invention is limited to the above embodiments. It should not be understood that the scope of the present invention is to be understood by the claims and equivalent concepts described below.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 발명에 따르면, 알가이드를 이용하여, 간단한 제어과정으로, 비엘유의 표면과 일정한 거리를 유지하며 카메라의 촬영각을 정확하고 빠르게 조절할 수 있다.As described in detail above, according to the present invention, by using the Al-Guide, a simple control process can maintain a constant distance from the surface of the BIEL and accurately and quickly adjust the photographing angle of the camera.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060066007A KR20080006809A (en) | 2006-07-13 | 2006-07-13 | Checkup apparatus for back light unit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060066007A KR20080006809A (en) | 2006-07-13 | 2006-07-13 | Checkup apparatus for back light unit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080006809A true KR20080006809A (en) | 2008-01-17 |
Family
ID=39220423
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060066007A KR20080006809A (en) | 2006-07-13 | 2006-07-13 | Checkup apparatus for back light unit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20080006809A (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017090859A1 (en) * | 2015-11-23 | 2017-06-01 | 한화테크윈 주식회사 | Artillery shell-shaped information gathering device |
CN108871230A (en) * | 2018-05-30 | 2018-11-23 | 重庆大学 | A kind of experimental system and method for the three-dimensional laser scanner for simulation laboratory test |
CN110285042A (en) * | 2019-07-09 | 2019-09-27 | 象山天星汽配有限责任公司 | A kind of integrated-type intelligent water pump the cover |
CN110657946A (en) * | 2018-06-29 | 2020-01-07 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | Screen defect detection system, screen detection line and screen defect detection method |
CN113251958A (en) * | 2021-06-21 | 2021-08-13 | 中南大学 | Annular scanning type steel rail surface roughness testing equipment |
-
2006
- 2006-07-13 KR KR1020060066007A patent/KR20080006809A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017090859A1 (en) * | 2015-11-23 | 2017-06-01 | 한화테크윈 주식회사 | Artillery shell-shaped information gathering device |
US10798272B2 (en) * | 2015-11-23 | 2020-10-06 | Hanwha Defense Co., Ltd. | Artillery shell-shaped information gathering device |
CN108871230A (en) * | 2018-05-30 | 2018-11-23 | 重庆大学 | A kind of experimental system and method for the three-dimensional laser scanner for simulation laboratory test |
CN108871230B (en) * | 2018-05-30 | 2021-01-01 | 重庆大学 | Experiment system and method of three-dimensional laser scanner for indoor simulation test |
CN110657946A (en) * | 2018-06-29 | 2020-01-07 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | Screen defect detection system, screen detection line and screen defect detection method |
CN110657946B (en) * | 2018-06-29 | 2021-09-21 | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 | Screen defect detection system, screen detection line and screen defect detection method |
CN110285042A (en) * | 2019-07-09 | 2019-09-27 | 象山天星汽配有限责任公司 | A kind of integrated-type intelligent water pump the cover |
CN113251958A (en) * | 2021-06-21 | 2021-08-13 | 中南大学 | Annular scanning type steel rail surface roughness testing equipment |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI264532B (en) | Substrate inspection device | |
JP5198535B2 (en) | Glass substrate cut surface inspection system | |
US7113273B2 (en) | Machine and method for inspecting ferrule of optical connector | |
KR20120129547A (en) | Specimen inspecting apparatus using multi-line senser camera and multi-light | |
JP6104016B2 (en) | LCD panel inspection equipment | |
WO2010058759A1 (en) | Transparent body inspecting device | |
KR102286993B1 (en) | Apparatus, method and computer program product for inspection of at least aspects of semiconductor devices | |
KR20080006809A (en) | Checkup apparatus for back light unit | |
CN107064173A (en) | The detection means and detection method of large-scale planar optical elements beauty defects | |
KR100794490B1 (en) | Checkup apparatus for back light unit | |
JP2010151803A (en) | Device and method for inspection of transparent body | |
WO2015174114A1 (en) | Substrate inspection device | |
KR101078296B1 (en) | Light emitting diode inspection apparatus for back light | |
KR100879007B1 (en) | Repair device having a capacity of automated optical inspection | |
JP3944285B2 (en) | Board inspection equipment | |
KR20100121171A (en) | Apparatus and method for inspecting lcd cell | |
KR20080006810A (en) | Checkup apparatus for back light unit | |
KR100795400B1 (en) | Lighting Inspection Apparatus for Display Panel | |
KR20230044505A (en) | Methods and Apparatus for Inspecting Materials | |
KR100690332B1 (en) | Checkup apparatus for back light unit | |
JP3542114B2 (en) | Visual inspection support equipment for industrial products | |
KR20220044741A (en) | Wafer appearance inspection apparatus and method | |
JP2000275594A (en) | Substrate inspecting device | |
KR101391312B1 (en) | Camera assembly for back light unit inspecting apparatus | |
KR100825968B1 (en) | Apparatus for inspecting edge of flat panel display |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
J301 | Trial decision |
Free format text: TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20080125 Effective date: 20081121 |