KR101947167B1 - Apparatus for rotating and transmitting tray and apparatus for testing electronic component - Google Patents

Apparatus for rotating and transmitting tray and apparatus for testing electronic component Download PDF

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Abstract

본 발명은 트레이 회전 이송 장치 및 전자부품 테스트 장치에 관한 것이다. 본 발명의 하나의 실시예에 따라, 검사용 전자부품들의 테스트 공정 이전 단계에서 다수의 수용부에 검사용 전자부품들이 담긴 테스트 트레이를 90°초과하여 기울게 회전시킨 후 다시 역방향으로 수직 직립 위치로 회전시킴으로써 수용부에 고정되지 않은 전자부품들을 낙하시켜 전자부품 테스트 시 고정 불량에 따른 테스트 결과 불량을 미리 방지하기 위한 트레이 회전 이송 장치가 제안된다. 또한, 트레이 직립 회전장치를 포함하는 전자부품 테스트 장치가 제안된다.The present invention relates to a tray rotation transfer device and an electronic component test apparatus. According to one embodiment of the present invention, in a step prior to the test process of electronic components for inspection, a test tray containing test electronic components is rotated at an angle of more than 90 [deg.] To a plurality of receptacles, Thereby dropping the electronic components that are not fixed in the accommodating portion to prevent a test result failure in accordance with a fixing failure in electronic component testing in advance. Further, an electronic component testing apparatus including a tray upright rotating device is proposed.

Figure R1020170055783
Figure R1020170055783

Description

트레이 회전 이송 장치 및 전자부품 테스트 장치{APPARATUS FOR ROTATING AND TRANSMITTING TRAY AND APPARATUS FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a tray rotation transfer device,

본 발명은 트레이 회전 이송 장치 및 전자부품 테스트 장치에 관한 것이다. 구체적으로는, 테스트 챔버에서 직립된 테스트 트레이에 채워진 전자부품들에 대한 테스트가 수행될 수 있도록, 예컨대 트레이 이송 장치로부터 전달받은 수평상태의 테스트 트레이를 수직으로 회전시켜 이송하는 트레이 회전 이송 장치 및 전자부품 테스트 장치에 관한 것이다.
The present invention relates to a tray rotation transfer device and an electronic component test apparatus. Specifically, a tray rotation transfer device and an electronic transfer device for vertically rotating and transferring a test tray in a horizontal state, for example, transferred from a tray transfer device, so that a test can be performed on the electronic parts filled in the test tray upright in the test chamber. And a component testing apparatus.

일반적으로, 집적회로 등의 반도체 소자 등과 같은 전자부품들은 양품 또는 불량품을 가리기 위한 여러 가지 테스트 과정을 거쳐 제조된다. 2. Description of the Related Art In general, electronic components such as semiconductor devices such as integrated circuits are manufactured through various testing processes to cover good products or defective products.

이때, 전자부품을 테스트하는 과정에서 테스트 핸들러라는 장비가 사용된다. 테스트 핸들러 또는 핸들러 시스템은 테스트 챔버에서 테스트 트레이에 적재된 전자부품을 테스트 핀 등의 테스트 장비에 접속시키는 것으로, 테스트 챔버로 검사될 전자부품들이 적재된 테스트 트레이를 이송하고 테스트가 완료된 부품들을 담은 테스트 트레이를 이송시킨다. 이때, 테스트 핸들러 또는 핸들러 시스템은 테스트 결과에 따라 검사 완료된 전자부품들을 분류할 수 있다. At this time, a test handler is used in the process of testing electronic components. The test handler or handler system connects the electronic parts loaded in the test tray to the test equipment such as the test pins in the test chamber. The test handler transfers the test tray with the electronic parts to be inspected to the test chamber, Trays are transported. At this time, the test handler or handler system can classify the tested electronic components according to the test result.

이러한 핸들러 시스템들 중 하나의 방법으로, 전자부품들이 채워진 테스트 트레이를 수직으로 직립시켜 테스트 챔버에서 수평으로 가압함으로써 테스트 트레이에 채워진 전자부품들이 예컨대 테스트 핀 등에 접속되도록 하며 테스트를 수행하는 방식이 있다. 이러한 방식은 전자부품들이 채워진 테스트 트레이를 테스트 챔버로 이송하기 전에 통상 수평상태를 수직상태로 직립시키는 것이 필요하다.In one of these handler systems, there is a method of vertically erecting a test tray filled with electronic components and horizontally pressing the test tray horizontally in the test chamber so that the electronic components filled in the test tray are connected to, for example, test pins and the test is performed. This approach requires that the horizontal position is normally upright in a vertical position before transferring the test tray filled with electronic components to the test chamber.

한편으로, 전자부품들은 예컨대 테스트 소켓 등에 고정시켜 테스트 트레이의 홀들에 적재되어 테스트 챔버에서 수직으로 세워져 테스트가 수행되는데, 이때, 전자부품들이 테스트 소켓 등에 제대로 고정되지 않는 경우에 전자부품들의 단자와 테스트 핀 사이의 접속 불량이 생길 수 있 이에 따라 테스트 결과가 불량으로 나타나게 된다. 즉, 실제 제품의 불량이 아닌 경우에도 테스트 소켓 등의 수용부에 채워진 전자부품들이 불량으로 판정될 수 있다. 나아가, 재검사를 수행하는 경우 그만큼의 시간 및 비용이 낭비되게 된다.
On the other hand, electronic parts are mounted on holes of a test tray, for example, fixed to a test socket or the like, and are vertically erected in a test chamber to be tested. At this time, when the electronic parts are not firmly fixed to a test socket or the like, The connection between the pins may be defective, resulting in a bad test result. That is, even if the actual product is not defective, the electronic parts filled in the receptacle of the test socket or the like can be judged as defective. Further, when re-inspecting, the time and cost are wasted.

대한민국 공개특허공보 제10-2009-0085454호 (2009년 8월 7일 공개)Korean Patent Publication No. 10-2009-0085454 (published on August 7, 2009)

전술한 문제에 따라 테스트 트레이의 수용부들에 채워진 전자부품들이 고정되지 않는 상태로 검사가 수행되지 않도록 테스트 이전 공정에서 고정되지 않은 전자부품들을 미리 수거할 필요가 있다. 이때, 테스트 이전 공정에서 별도의 추가적인 고정여부 검사 공정단계를 마련하지 않고서 기존의 공정 단계에 손쉽게 테스트 트레이의 수용부에 고정되지 않은 전자부품을 미리 제거하고자 한다.It is necessary to preliminarily collect unfixed electronic parts in the pre-test process so that inspection is not performed in a state in which the electronic parts filled in the receptacles of the test tray are not fixed according to the above-described problem. At this time, the electronic parts which are not fixed to the receiving part of the test tray are easily removed in the existing process step without preparing additional additional fixing test step in the pre-test step.

즉, 본 발명에서는, 전술한 문제를 해결하기 위한 것으로, 검사용 전자부품들의 테스트 수행 이전 단계에서 다수의 수용부에 검사용 전자부품들이 담긴 테스트 트레이를 90°초과하여 기울게 회전시킨 후 다시 역방향으로 수직 직립 위치로 회전시킴으로써 수용부에 고정되지 않은 전자부품을 낙하시켜 전자부품 테스트 시 고정 불량에 따른 테스트 결과 불량을 미리 방지할 수 있는 트레이 회전 이송 장치 및 전자부품 테스트 장치를 제안하고자 한다.
That is, in order to solve the above-described problem, in the present invention, the test tray containing the inspection electronic components is rotated at an angle of more than 90 degrees in a plurality of accommodating portions before the testing of the electronic components for inspection, The tray rotation transferring device and the electronic component testing device capable of preventing an electronic part that is not fixed to the accommodating portion from dropping down by rotating it to a vertically upright position to prevent a test result failure due to a fixing failure in an electronic component test in advance.

전술한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 하나의 모습에 따라, 다수의 수용부에 검사용 전자부품들이 담긴 테스트 트레이를 지지 프레임 상으로 당기는 피딩유닛; 피딩유닛에 의해 당겨진 테스트 트레이의 양단부를 지지하는 지지 프레임; 및 적어도 하나 이상의 수용부에 고정되지 않은 적어도 하나 이상의 전자부품이 낙하 가능하도록 테스트 트레이를 90°초과하되 반전되지 않도록 기울게 지지 프레임을 회전시킨 후 다시 역방향으로 지지 프레임을 회전시켜 테스트 트레이를 수직으로 직립시키는 회전유닛;을 포함하고, 피딩유닛은 회전유닛에 의해 수직으로 직립된 테스트 트레이를 하향으로 이송하는 것을 특징으로 하는 트레이 회전 이송 장치가 제안된다.
이때, 회전유닛은 수평상태의 테스트 트레이가 90°초과 회전 후 기울어진 상태로 정지되도록 지지 프레임을 회전 후 정지시키며 회전정지 관성에 의해 수용부에 고정되지 않은 전자부품들을 낙하시킨다.To achieve the above object, according to one aspect of the present invention, there is provided a feeding unit for pulling a test tray containing inspection electronic components in a plurality of receiving portions onto a support frame; A support frame for supporting both ends of a test tray pulled by the feeding unit; And at least one electronic component not fixed to at least one accommodating portion is rotated so that the test tray is inclined so as not to be reversed but the test tray is inverted so that the test frame is rotated in the reverse direction again, Wherein the feeding unit feeds the test tray vertically upright by the rotating unit in a downward direction.
At this time, the rotation unit stops the rotation of the support frame so that the test tray stops in a state tilted after the rotation of the test tray in the horizontal state by more than 90 degrees, and drops the electronic components which are not fixed to the accommodation portion by the rotation stop inertia.

이때, 하나의 예에서, 회전유닛은 피딩유닛에 의해 당겨진 테스트 트레이의 전방측이 상향으로 올라가도록 지지 프레임을 회전시킨다.At this time, in one example, the rotating unit rotates the support frame such that the front side of the test tray pulled by the feeding unit rises upward.

또한, 하나의 예에서, 피딩유닛은 피딩 슬라이더를 구비하고 피딩 슬라이더를 선형 동작시키는 액츄에이터부 및 일측이 피딩 슬라이더에 결합되고 타측은 테스트 트레이에 체결되고 피딩 슬라이더의 선형 슬라이딩에 따라 테스트 트레이를 지지 프레임 상으로 당기고 수직방향 하향으로 미는 피딩 체결부를 포함할 수 있다.Further, in one example, the feeding unit may include an actuator unit having a feeding slider and linearly operating the feeding slider, and an actuator unit having one side coupled to the feeding slider, the other side coupled to the test tray, And a feeding coupling portion that pulls the coupling portion upward and vertically downward.

이때, 또 하나의 예에 따르면, 피딩 체결부는 피딩 슬라이더에 결합된 실린더 액츄에이터 및 일단이 실린더 액츄에이터에 연결되어 승강하고 타단이 테스트 트레이에 체결되는 체결지그를 포함하고, 체결지그는 실린더 액츄에이터의 동작에 따라 테스트 트레이의 전방부에 체결되고 피딩 슬라이더의 전진 슬라이딩에 따라 테스트 트레이를 당겨 지지 프레임 상으로 이송시키고, 테스트 트레이의 하향 이송 시 테스트 트레이의 동일지점에서 하향으로 밀며 테스트 트레이를 하향 이송시킬 수 있다.According to another example, the feeding fastener includes a cylinder actuator coupled to the feeding slider, and a fastening jig having one end connected to the cylinder actuator and the other end elevated and fastened to the test tray, and the fastening jig is connected to the cylinder actuator And the test tray is pulled down on the supporting frame in accordance with the forward sliding of the feeding slider so that the test tray can be transported downward at the same point of the test tray when the test tray is transported downward .

게다가, 또 하나의 예에서, 실린더 액츄에이터는 각각 독립적으로 승강 동작하는 제1 및 제2 실린더 액츄에이터로 이루어지고, 체결지그는 제1 및 제2 실린더 액츄에이터에 연결된 제1 및 제2 체결지그로 이루어지고, 제1 체결지그는 제1 실린더 액츄에이터의 동작에 따라 테스트 트레이의 전방부에 체결되고 피딩 슬라이더의 전진 슬라이딩에 따라 테스트 트레이를 절반 당기고, 제2 체결지그는 피딩 슬라이더의 후진 복귀 후 제2 실린더 액츄에이터의 동작에 따라 테스트 트레이의 전방부에 체결되고 피딩 슬라이더의 재 전진에 따라 테스트 트레이를 나머지 절반만큼 당기고, 테스트 트레이의 하향 이송 시 테스트 트레이의 동일지점에 체결된 제2 체결지그가 절반만큼 하향으로 밀며 테스트 트레이를 하향 이송시킬 수 있다.Further, in another example, the cylinder actuators are composed of the first and second cylinder actuators independently moving up and down, and the fastening jig is composed of the first and second fastening jigs connected to the first and second cylinder actuators The first fastening jig is fastened to the front portion of the test tray according to the operation of the first cylinder actuator and pulls the test tray half in accordance with forward sliding of the feeding slider and the second fastening jig moves backward after returning of the feeding slider, And the second fastening jig fastened at the same point of the test tray is moved downward by half in the downward direction of the test tray when the test tray is transported downward by the remaining half of the test tray in accordance with the re-advancement of the feeding slider The test tray can be pushed downward.

또한 하나의 예에서, 지지 프레임은 테스트 트레이의 측방향 각 단부를 지지하는 가이드레일들을 구비하되, 각 가이드레일은 테스트 트레이의 측방향 단부의 상하방향으로 다수의 롤러를 구비하여 피딩유닛에 의해 이송되는 테스트 트레이를 안내하고 지지할 수 있다.In one example, the support frame has guide rails for supporting the lateral ends of the test tray, each guide rail having a plurality of rollers in the up and down direction of the lateral end of the test tray, Which can guide and support the test tray.

또 하나의 예에 따르면, 회전유닛은 90°초과 각도가 95°이상 115°이하의 범위에 이르도록 지지 프레임을 회전시킬 수 있다.
According to another example, the rotating unit may rotate the support frame such that the angle greater than 90 degrees is in the range of 95 degrees to 115 degrees.

다음으로, 전술한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 다른 하나의 모습에 따라, 전술한 발명의 하나의 모습들 중 어느 하나의 예에 따른 트레이 회전 이송 장치; 트레이 회전 이송 장치의 피딩유닛으로부터 하향 이송된 테스트 트레이를 받아 전자부품들에 대한 테스트를 수행하는 테스트 챔버로 직립상태로 전달하는 트레이 직립 이송 장치; 및 테스트 챔버를 구비하고 테스트 트레이 상의 전자부품들에 대한 전기적 테스트를 수행하는 테스트 유닛;을 포함하여 이루어지는 전자부품 테스트 장치가 제안된다.According to another aspect of the present invention, there is provided a tray rotation transfer device according to any one of the above-described aspects of the invention, A tray upright transporting device for receiving the downwardly transported test tray from the feeding unit of the tray rotary transporting device and delivering the test tray in an upright state to a test chamber for performing tests on the electronic components; And a test unit having a test chamber and performing an electrical test on the electronic components on the test tray.

이때, 하나의 예에서, 전자부품 테스트 장치는 피딩유닛으로부터 트레이 직립 이송 장치로의 테스트 트레이의 전달에 따른 또는 테스트 트레이를 전달받은 트레이 직립 이송 장치의 하향 이송에 따른 테스트 트레이의 하향 이송 시 테스트 트레이의 각 수용부가 채워진 상태인지 빈 상태인지를 감지하는 센싱 장치를 더 포함할 수 있다.At this time, in one example, the electronic component testing apparatus may include a test tray when the test tray is transferred from the feeding unit to the tray upright transporting apparatus, or the downward transport of the test tray due to the downward transport of the tray upright transporting apparatus, And a sensing device for sensing whether each of the receptacles of the receptacle is filled or empty.

또한, 하나의 예에서, 트레이 회전 이송 장치는 회전유닛의 회전에 따라 하측으로 낙하하는 전자부품들을 수용하는 받침 유닛을 구비할 수 있다.
Further, in one example, the tray rotation transfer device may include a supporting unit for accommodating the electronic components falling downwardly in accordance with rotation of the rotation unit.

본 발명의 하나의 실시예에 따라, 검사용 전자부품들의 테스트 수행 이전 단계에서 테스트 트레이의 수용부에 고정되지 않은 전자부품을 낙하시켜 전자부품 테스트 시 고정 불량에 따른 테스트 결과 불량을 미리 방지할 수 있다.
According to one embodiment of the present invention, an electronic component that is not fixed to a receiving portion of a test tray is dropped at a stage prior to the test of electronic components for inspection, so that a defective test result can be prevented in advance have.

본 발명의 다양한 실시예에 따라 직접적으로 언급되지 않은 다양한 효과들이 본 발명의 실시예들에 따른 다양한 구성들로부터 당해 기술분야에서 통상의 지식을 지닌 자에 의해 도출될 수 있음은 자명하다.
It is apparent that various effects not directly referred to in accordance with various embodiments of the present invention can be derived by those of ordinary skill in the art from the various configurations according to the embodiments of the present invention.

도 1은 본 발명의 하나의 실시예에 따른 트레이 회전 이송 장치를 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 또 하나의 실시예에 따른 트레이 회전 이송 장치를 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 또 하나의 실시예에 따른 트레이 회전 이송 장치를 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 또 하나의 실시예에 따른 트레이 회전 이송 장치의 사용상태를 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 하나의 실시예에 따른 전자부품 테스트 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 또 하나의 실시예에 따른 전자부품 테스트 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.1 is a view showing a tray rotation transfer apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a view showing a tray rotation transfer apparatus according to another embodiment of the present invention.
3 is a view showing a tray rotation transfer device according to another embodiment of the present invention.
4 is a view showing a use state of the tray rotation transfer device according to another embodiment of the present invention.
5 is a schematic view of an electronic component testing apparatus according to one embodiment of the present invention.
6 is a view schematically showing an electronic component testing apparatus according to another embodiment of the present invention.

전술한 과제를 달성하기 위한 본 발명의 실시예들이 첨부된 도면을 참조하여 설명될 것이다. 본 설명에 있어서, 동일부호는 동일한 구성을 의미하고, 당해 분야의 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명의 이해를 도모하기 위하여 부차적인 설명은 생략될 수도 있다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a block diagram showing the configuration of a first embodiment of the present invention; Fig. In the description, the same reference numerals denote the same components, and a detailed description may be omitted for the sake of understanding of the present invention to those skilled in the art.

본 명세서에서 하나의 구성요소가 다른 구성요소와 연결, 결합 또는 배치 관계에서 '직접'이라는 한정이 없는 이상, '직접 연결, 결합 또는 배치'되는 형태뿐만 아니라 그들 사이에 또 다른 구성요소가 개재됨으로써 연결, 결합 또는 배치되는 형태로도 존재할 수 있다.As used herein, unless an element is referred to as being 'direct' in connection, combination, or placement with other elements, it is to be understood that not only are there forms of being 'directly connected, They may also be present in the form of being connected, bonded or disposed.

본 명세서에 비록 단수적 표현이 기재되어 있을지라도, 발명의 개념에 반하거나 명백히 다르거나 모순되게 해석되지 않는 이상 복수의 구성 전체를 대표하는 개념으로 사용될 수 있음에 유의하여야 한다. 본 명세서에서 '포함하는', '갖는', '구비하는', '포함하여 이루어지는' 등의 기재는 하나 또는 그 이상의 다른 구성요소 또는 그들의 조합의 존재 또는 부가 가능성이 있는 것으로 이해되어야 한다.It should be noted that, even though a singular expression is described in this specification, it can be used as a concept representing the entire constitution unless it is contrary to, or obviously different from, or inconsistent with the concept of the invention. It is to be understood that the phrases "including", "having", "having", "comprising", etc. in this specification are intended to be additionally or interchangeable with one or more other elements or combinations thereof.

본 명세서에서 참조된 도면들은 본 발명의 실시예를 설명하기 위한 예시로써, 모양, 크기, 두께 등은 기술적 특징의 효과적인 설명을 위해 과장되게 표현될 수 있다.
The drawings referred to in this specification are for illustrating an embodiment of the present invention, and shapes, sizes, thicknesses, and the like may be exaggerated for an effective explanation of technical features.

우선, 본 발명의 하나의 모습에 따른 트레이 회전 이송 장치를 도면을 참조하여 살펴본다.First, a tray rotation transfer device according to one aspect of the present invention will be described with reference to the drawings.

도 1은 본 발명의 하나의 실시예에 따른 트레이 회전 이송 장치를 나타내는 도면이고, 도 2는 본 발명의 또 하나의 실시예에 따른 트레이 회전 이송 장치를 나타내는 도면이고, 도 3은 본 발명의 또 하나의 실시예에 따른 트레이 회전 이송 장치를 나타내는 도면이고, 도 4는 본 발명의 또 하나의 실시예에 따른 트레이 회전 이송 장치의 사용상태를 나타내는 도면이다.
FIG. 1 is a view showing a tray rotation transfer device according to one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a view showing a tray rotation transfer device according to another embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 4 is a view showing a tray rotation transfer device according to another embodiment of the present invention. FIG.

도 1 내지 4를 참조하면, 하나의 예에 따른 트레이 회전 이송 장치(100)는 피딩유닛(10), 지지 프레임(30) 및 회전유닛(50)을 포함하고 있다. 각 구성들을 구체적으로 살펴본다.Referring to FIGS. 1 to 4, a tray rotation transfer apparatus 100 according to one example includes a feeding unit 10, a support frame 30, and a rotation unit 50. Let's look at each configuration in detail.

먼저, 트레이 회전 이송 장치의 피딩유닛(10)을 살펴본다. 피딩유닛(10)은 다수의 수용부에 검사용 전자부품들이 담긴 테스트 트레이(1)를 지지 프레임(30) 상으로 당긴다. 예컨대, 피딩유닛(10)은 도시되지 않았으나 테스트 트레이(1) 상으로 검사용 전자부품들을 로딩시켜 이송하는 트레이 이송장치로부터 테스트 트레이(1)를 제공받을 수 있다. 피딩유닛(10)은 예컨대 테스트 트레이(1)의 전방을 당겨 테스트 트레이(1)를 지지 프레임(30) 상으로 당길 수 있다. 또한, 피딩유닛(10)은 후술되는 회전유닛(50)에 의해 수직으로 직립된 테스트 트레이(1)를 하향으로 이송시킨다. 예컨대, 이때, 피딩유닛(10)에 의해 하향 이송된 테스트 트레이(1)는 트레이 회전 이송 장치(100)의 하부로 전달되어 계속 이송될 수 있다. 예컨대, 도 5 내지 6을 참조하면, 피딩유닛(10)에 의해 하향 이송된 테스트 트레이(1)는 트레이 직립 이송 장치(300)에 의해 테스트 유닛(500)으로 이송될 수 있다.First, the feeding unit 10 of the tray rotation transfer apparatus will be described. The feeding unit (10) pulls the test tray (1) containing inspection electronic components onto the support frame (30) in a plurality of accommodating portions. For example, the feeding unit 10 may be provided with a test tray 1 from a tray transporting device, not shown, that loads and transports inspection electronic components onto the test tray 1. The feeding unit 10 can pull the test tray 1, for example, on the support frame 30 by pulling the front of the test tray 1. Further, the feeding unit 10 feeds the vertically erected test tray 1 downward by the rotation unit 50, which will be described later. For example, at this time, the test tray 1 conveyed downward by the feeding unit 10 can be conveyed to the lower portion of the tray rotation conveying apparatus 100 and can be continuously conveyed. 5 to 6, the test tray 1 transported down by the feeding unit 10 may be transported to the test unit 500 by the tray upright transport apparatus 300.

도 3을 참조하면, 피딩유닛(10)에 의해 체결되어 당겨지는 테스트 트레이(1)는 다수의 수용홀(1a)을 구비한다. 참고로, 도 3에서는 테스트 트레이(1)의 일부 영역에 대해서만 수용홀(1a)이 도시되고 있다. 예컨대, 테스트 트레이(1)의 수용홀(1a)에는 인서트 소켓(도시되지 않음)이 삽입되고 인서트 소켓의 소켓홀에 검사용 전자부품들이 채워질 수 있다. 인서트 소켓(도시되지 않음)은 테스트 트레이(1)의 수용홀(1a)에 삽입되어 낙하되지 않도록 설치되어 있고, 후술되는 회전유닛(50)에 의한 90°초가 회전 시 인서트 소켓(도시되지 않음)의 소켓홀에 채워진 전자부품들 중 고정되지 않은 전자부품들이 낙하하게 된다. 이때, 본 발명에서 언급되는 전자부품들이 채워진 테스트 트레이(1)의 수용부는 테스트 트레이(1)의 수용홀(1a)에 삽입된 인서트 소켓(도시되지 않음)일 수 있고, 또는 테스트 트레이(1)의 수용홀(1a) 자체일 수도 있다.Referring to Fig. 3, the test tray 1 fastened and pulled by the feeding unit 10 has a plurality of receiving holes 1a. 3, the receiving hole 1a is shown only for a part of the area of the test tray 1. As shown in Fig. For example, an insert socket (not shown) may be inserted into the receiving hole 1a of the test tray 1, and test electronic components may be filled in the socket hole of the insert socket. The insert socket (not shown) is inserted into the receiving hole 1a of the test tray 1 so as not to fall down. When the 90 ° second rotation by the rotation unit 50, which will be described later, The unfixed electronic parts among the electronic parts filled in the socket holes of the electronic parts drop. At this time, the receiving portion of the test tray 1 filled with the electronic parts referred to in the present invention may be an insert socket (not shown) inserted into the receiving hole 1a of the test tray 1, It may be the receiving hole 1a itself.

예컨대, 도 1 내지 4를 참조하여 구체적으로 살펴보면, 하나의 예에서, 피딩유닛(10)은 액츄에이터부(11) 및 피딩 체결부(13)를 포함할 수 있다. 이때, 액츄에이터부(11)는 피딩 슬라이더(11c)를 구비하고 피딩 슬라이더(11c)를 선형 동작시킨다. 또한, 피딩 체결부(13)는 일측이 피딩 슬라이더(11c)에 결합되고 타측은 테스트 트레이(1)에 체결되고 피딩 슬라이더(11c)의 선형 슬라이딩에 따라 테스트 트레이(1)를 지지 프레임(30) 상으로 당기고, 후술되는 회전유닛(50)에 의해 직립된 테스트 트레이(1)를 수직방향 하향으로 민다.For example, referring specifically to Figures 1 to 4, in one example, the feeding unit 10 may include an actuator portion 11 and a feeding fastener 13. At this time, the actuator unit 11 has a feeding slider 11c and linearly operates the feeding slider 11c. One end of the feeding coupling part 13 is coupled to the feeding slider 11c and the other side of the feeding coupling part 13 is fastened to the test tray 1 and the test tray 1 is supported by the supporting frame 30 according to the linear sliding of the feeding slider 11c. And pushes the test tray 1 erected vertically downward by the rotation unit 50, which will be described later.

예컨대, 액츄에이터부(11)는 모터(11a) 등과 같은 구동원 및 구동원에 의해 구동되는 피딩 슬라이더(11c)를 포함한다. 또한, 액츄에이터부(11)는 피딩 슬라이더(11c)의 슬라이딩을 가이드하는 리니어모션(LM) 가이드(11d)를 더 구비할 수 있다. 예컨대, 피딩 슬라이더(11c)는 액츄에이터부(11)의 리니어모션(LM) 가이드(11d)를 따라 선형 슬라이딩 동작할 수 있다. 도면을 참조하면, 하나의 예에서, 액츄에이터부(11)는 모터(11a), 모터의 풀리에 연결되어 정역회전하는 벨트(11b), 벨트(11b)와 나란히 설치된 LM 가이드(11d) 및 일측이 벨트(11b)에 고정되고 타측이 LM 가이드(11d)에 의해 안내되며 벨트의 정역회전에 따라 전후진 슬라이딩하는 피딩 슬라이더(11c)를 구비할 수 있다. 또한, 도 3을 참조하면, 액츄에이터부(11)는 LM 가이드(11d)의 말단 측에 형성되어 피딩 슬라이더(11c)의 슬라이딩 범위를 제한하는 스톱퍼(11e)를 더 구비할 수 있다. 도면에 도시된 액츄에이터부(11)는 예시적인 것으로 구성요소를 달리하여 다르게 구현될 수도 있다.For example, the actuator section 11 includes a feeding slider 11c driven by a driving source such as a motor 11a and a driving source. The actuator unit 11 may further include a linear motion (LM) guide 11d for guiding the sliding of the feeding slider 11c. For example, the feeding slider 11c can linearly slide along the linear motion (LM) guide 11d of the actuator section 11. [ Referring to the drawings, in one example, the actuator unit 11 includes a motor 11a, a belt 11b connected to the pulley of the motor and rotating in normal and reverse directions, an LM guide 11d provided side by side with the belt 11b, And a feeding slider 11c which is fixed to the belt 11b and the other side is guided by the LM guide 11d and slides forward and backward in accordance with normal and reverse rotation of the belt. 3, the actuator unit 11 may further include a stopper 11e formed at a distal end of the LM guide 11d to limit the sliding range of the feeding slider 11c. The actuator portion 11 shown in the drawings is illustrative and may be implemented differently in different components.

다음으로, 피딩 체결부(13)를 살펴보면, 하나의 예에서, 피딩 체결부(13)는 실린더 액츄에이터(13a) 및 체결지그(13b)를 포함할 수 있다. 이때, 실린더 액츄에이터(13a)는 피딩 슬라이더(11c)에 결합된다. 체결지그(13b)는 일단이 실린더 액츄에이터(13a)에 연결되어 승강하고 타단이 테스트 트레이(1)에 체결된다. 예컨대, 체결지그(13b)는 타단에 돌기(131b)를 구비하여 테스트 트레이(1)의 예컨대 지그 체결홀(1b)에 끼워져 체결될 수 있다. 이때, 체결지그(13b)는 실린더 액츄에이터(13a)의 동작에 따라 테스트 트레이(1)의 전방부에 체결된다. 예컨대, 체결지그(13b)는 테스트 트레이(1)의 전방부의 상부측에서 하강하며 지그 체결홀(1b)에 끼워질 수 있다. 또는, 도시되지 않았으나, 테스트 트레이(1)의 전방부 하부측에서 상승하며 지그 체결홀(1b)에 끼우는 방식으로 실시될 수도 있다.Next, referring to the feeding fastening portion 13, in one example, the feeding fastening portion 13 may include a cylinder actuator 13a and a fastening jig 13b. At this time, the cylinder actuator 13a is coupled to the feeding slider 11c. One end of the fastening jig 13b is connected to the cylinder actuator 13a and ascends and descends, and the other end is fastened to the test tray 1. For example, the fastening jig 13b may have a protrusion 131b at the other end and may be inserted into and fastened to, for example, a jig fastening hole 1b of the test tray 1. At this time, the fastening jig 13b is fastened to the front portion of the test tray 1 according to the operation of the cylinder actuator 13a. For example, the fastening jig 13b descends from the upper side of the front portion of the test tray 1 and can be fitted into the jig fastening hole 1b. Alternatively, although not shown, it may be carried out in such a manner as to rise from the lower side of the front portion of the test tray 1 and to fit into the jig fastening hole 1b.

또한, 테스트 트레이(1)의 전방부에 체결된 체결지그(13b)는 피딩 슬라이더(11c)의 전진 슬라이딩에 따라 테스트 트레이(1)를 당겨 지지 프레임(30) 상으로 이송시키고, 테스트 트레이(1)의 하향 이송 시 테스트 트레이(1)의 동일지점에서 하향으로 밀며 테스트 트레이(1)를 하향 이송시킬 수 있다. 이때, 트레이 회전 이송 장치의 하부에서, 예컨대 도 5 내지 6을 참조하면 트레이 회전 이송 장치의 하부에 형성된 트레이 직립 이송 장치(300)에서 테스트 트레이(1)를 제공받아 테스트 트레이(1)를 계속 이송시킬 수 있다.The fastening jig 13b fastened to the front portion of the test tray 1 pulls the test tray 1 in accordance with the forward sliding of the feeding slider 11c and feeds the test tray 1 onto the support frame 30, The test tray 1 can be pushed downward at the same point of the test tray 1 to transfer the test tray 1 downward. 5 to 6, the test tray 1 is received by the tray upright conveying apparatus 300 formed at the lower portion of the tray rotation conveying apparatus, and the test tray 1 is continuously conveyed .

예컨대, 하나의 예에서, 실린더 액츄에이터(13a)는 구동원으로서 실린더(131a), 일측이 실린더의 로드에 결합되고 타측이 LM 가이드(135a)를 따라 슬라이딩하는 슬라이더(133a) 및 LM 가이드(135a)를 구비할 수 있다. 이때, 슬라이더(133a)는 실린더(131a)의 구동에 따라 승강하되 LM 가이드(135a)에 의해 선형적으로 안내되며 슬라이딩 될 수 있다. 전술한 실린더 액츄에이터(13a)의 구성은 예시적인 것으로 다른 방식으로도 구현될 수 있다.For example, in one example, the cylinder actuator 13a includes a cylinder 131a as a drive source, a slider 133a having one side connected to the rod of the cylinder and the other side sliding along the LM guide 135a, and an LM guide 135a . At this time, the slider 133a moves up and down according to the driving of the cylinder 131a, and can be linearly guided and slid by the LM guide 135a. The configuration of the above-described cylinder actuator 13a is illustrative and can be implemented in other ways as well.

또한, 하나의 예에서, 실린더 액츄에이터(13a)는 각각 독립적으로 승강 동작하는 제1 및 제2 실린더 액츄에이터(13a)로 이루어질 수 있다. 이때, 체결지그(13b)는 제1 및 제2 실린더 액츄에이터(13a)에 연결된 제1 및 제2 체결지그(13b)로 이루어진다. 예컨대, 제1 및 제2 체결지그(13b)는 각각 타단에 돌기(131b)를 구비하여 테스트 트레이(1)의 예컨대 지그 체결홀(1b)에 끼워져 체결될 수 있다. 예컨대, 테스트 트레이(1)의 지그 체결홀(1b)은 제1 체결지그(13b)의 돌기(131b)가 체결되는 지그 체결홀(1b)과 제2 체결지그(13b)의 돌기(131b)가 체결하는 지그 체결홀(1b)이 따로 2개 구성되어 1쌍을 이룰 수 있다. 예컨대, 제1 및 제2 체결지그(13b)는 각각 돌기(131b)가 2개씩 구비될 수 있고, 이에 따라, 테스트 트레이(1)의 지그 체결홀(1b)은 전방부에 2개씩 2쌍이 구비될 수 있다.Further, in one example, the cylinder actuators 13a may be composed of the first and second cylinder actuators 13a, which are independently raised and lowered. At this time, the fastening jig 13b is composed of first and second fastening jigs 13b connected to the first and second cylinder actuators 13a. For example, each of the first and second fastening jigs 13b may have a projection 131b at the other end thereof and may be inserted into and fastened to, for example, a jig fastening hole 1b of the test tray 1. For example, the jig fastening hole 1b of the test tray 1 has a jig fastening hole 1b for fastening the projection 131b of the first fastening jig 13b and a projection 131b of the second fastening jig 13b There are two jig fastening holes 1b to be fastened and one pair can be formed. For example, each of the first and second fastening jigs 13b may be provided with two protrusions 131b, so that the jig fastening holes 1b of the test tray 1 are provided with two pairs, .

예컨대, 제1 체결지그(13b)는 제1 실린더 액츄에이터(13a)의 동작에 따라 테스트 트레이(1)의 전방부에 체결된다. 제1 체결지그(13b)는 피딩 슬라이더(11c)의 전진 슬라이딩에 따라 테스트 트레이(1)를 절반만큼 당길 수 있다. 또한, 제2 체결지그(13b)는 피딩 슬라이더(11c)의 후진 복귀 후 제2 실린더 액츄에이터(13a)의 동작에 따라 테스트 트레이(1)의 전방부에 체결되며, 피딩 슬라이더(11c)의 재 전진에 따라 테스트 트레이(1)를 나머지 절반만큼 당길 수 있다. 또한, 테스트 트레이(1)의 하향 이송 시, 테스트 트레이(1)의 동일지점에 체결된 제2 체결지그(13b)가 절반만큼 하향으로 밀며 테스트 트레이(1)를 하향 이송시킬 수 있다. 이때, 트레이 회전 이송 장치의 하부에서 테스트 트레이(1)를 제공받아 계속 이송시킬 수 있다.
For example, the first fastening jig 13b is fastened to the front portion of the test tray 1 according to the operation of the first cylinder actuator 13a. The first fastening jig 13b can pull the test tray 1 by half according to the forward sliding of the feeding slider 11c. The second fastening jig 13b is fastened to the front portion of the test tray 1 in accordance with the operation of the second cylinder actuator 13a after the feed slider 11c is returned backward, The other half of the test tray 1 can be pulled. When the test tray 1 is moved downward, the second fastening jig 13b fastened at the same point of the test tray 1 is pushed downward by half and the test tray 1 can be moved downward. At this time, the test tray 1 can be received from the lower portion of the tray rotation conveying apparatus and continuously conveyed.

다음으로, 트레이 회전 이송 장치(100)의 지지 프레임(30)을 살펴본다. 지지 프레임(30)은 피딩유닛(10)에 의해 당겨진 테스트 트레이(1)의 양단부를 지지한다. 이때, 지지 프레임(30)은 피딩유닛(10)에 의해 당겨지는 테스트 트레이(1)를 가이드하고 피딩유닛(10)에 의해 완전히 당겨진 테스트 트레이(1)를 지지하며 후술되는 회전유닛(50)에 의해 지지 프레임(30)이 회전됨에 따라 테스트 트레이(1)가 회전되도록 한다.Next, the support frame 30 of the tray rotation transfer apparatus 100 will be described. The support frame 30 supports both ends of the test tray 1 pulled by the feeding unit 10. At this time, the support frame 30 guides the test tray 1 pulled by the feeding unit 10, supports the test tray 1 completely pulled by the feeding unit 10, So that the test tray 1 is rotated as the support frame 30 is rotated.

예컨대, 하나의 예에서, 지지 프레임(30)은 테스트 트레이(1)의 측방향 각 단부를 지지하는 가이드레일(31)들을 구비한다. 각 가이드레일(31)은 테스트 트레이(1)의 측방향 단부의 상하방향으로 다수의 롤러(31a)를 구비하여 피딩유닛(10)에 의해 이송되는 테스트 트레이(1)를 안내하고 지지할 수 있다. 예컨대, 지지 프레임(30)은 양측에 벽체 프레임(33)이 형성되고, 각 벽체 프레임(33)의 내측 하단부에 가이드레일(31)이 상하로 형성되고 각 벽체 프레임(33)의 내측 상하 가이드레일(31) 사이로 테스트 트레이(1)의 일측방향 단부가 삽입되며 가이드된다. 이때, 상하 가이드레일(31)에는 다수의 롤러(31a)가 구비되어 테스트 트레이(1)의 측방향 단부를 안내하며 지지할 수 있다.For example, in one example, the support frame 30 has guide rails 31 that support the lateral ends of the test tray 1. Each of the guide rails 31 has a plurality of rollers 31a in the vertical direction of the lateral end of the test tray 1 to guide and support the test tray 1 conveyed by the feeding unit 10 . For example, the support frame 30 is provided with a wall frame 33 on both sides thereof, and a guide rail 31 is formed on the inner lower end of each wall frame 33 in the upper and lower directions, (31) is inserted and guided. At this time, the upper and lower guide rails 31 are provided with a plurality of rollers 31a to guide and support the lateral ends of the test tray 1.

또한, 하나의 예에서, 벽체 프레임(33)의 상부로 돌출부(33a)가 형성되고 양측 벽체 프레임(33)의 돌출부(33a) 사이에 후술되는 회전유닛(50)의 회전축(51)이 끼워질 수 있다. 또한, 양측 벽체 프레임(33) 간에는 가이드레일(31) 상부에 형성된 프레이트 프레임(35)으로 연결될 수 있다. 이때, 플레이트 프레임(35) 상에 피딩유닛(10)이 안착될 수 있다. 또한, 플레이트 프레임(35)은 플레이트 프레임(35)의 하부측에 가이드레일(31)을 따라 안내되는 테스트 트레이(1)에 체결된 피딩유닛(10)의 피딩 체결부(13)가 피딩 슬라이더(11c)의 슬라이딩에 따라 전후진 이동할 수 있도록 피딩홀(35a)이 전후진 이동방향을 따라 길게 형성된다. 게다가, 플레이트 프레임(35)은 후술되는 회전유닛(50)에 의해 회전 시 테스트 트레이(1)의 수용부 상에 고정되지 않은 전자부품들이 낙하될 수 있도록 다수의 관통홀들이 형성된다.
In one example, a projecting portion 33a is formed on the upper portion of the wall frame 33 and a rotation shaft 51 of the rotation unit 50, which will be described later, is fitted between the projecting portions 33a of the both side wall frames 33 . In addition, the two side wall frames 33 may be connected to each other by a plate frame 35 formed on the guide rail 31. At this time, the feeding unit 10 can be seated on the plate frame 35. The plate frame 35 is formed so that the feeding engagement portion 13 of the feeding unit 10 fastened to the test tray 1 guided along the guide rail 31 on the lower side of the plate frame 35 is engaged with the feeding slider The feeding holes 35a are elongated along the forward and backward moving directions so that they can move forward and backward in accordance with the sliding of the slider 11c. In addition, the plate frame 35 is formed with a plurality of through holes so that the electronic components that are not fixed on the receiving portion of the test tray 1 when they are rotated by the rotation unit 50 described later can be dropped.

계속하여, 트레이 회전 이송 장치(100)의 회전유닛(50)을 구체적으로 살펴본다. 회전유닛(50)은 테스트 트레이(1)의 적어도 하나 이상의 수용부에 고정되지 않은 적어도 하나 이상의 전자부품이 낙하 가능하도록 테스트 트레이(1)를 90°초과하여 기울게 지지 프레임(30)을 회전시킨 후 다시 역방향으로 지지 프레임(30)을 회전시켜 테스트 트레이(1)를 수직으로 직립시킨다. 예컨대, 회전유닛(50)은 테스트 트레이(1)를 90°초과하되 반전되지 않도록 기울게 지지 프레임(30)을 회전시킨 후 다시 역방향으로 지지 프레임(30)을 회전시킨다. 즉, 회전유닛(50)에 의해 지지 프레임(30)에 고정 지지되는 테스트 트레이(1)가 90°초과하여 기울어지게 되므로, 테스트 트레이(1)의 수용부에 고정되지 않은 전자부품은 하측으로 낙하될 수 있다. 즉, 수평상태의 테스트 트레이(1)가 90°초과하여 반전되지 않도록 기울어진 후 다시 역방향 회전하며 수직상태가 되므로, 테스트 트레이(1)의 수용부에 고정되지 않은 전자부품은 하측으로 낙하될 수 있다. 예컨대, 도 4에 도시된 바와 같이 회전유닛(50)은 테스트 트레이(1)가 90°초과하여 기울어지게 지지 프레임(30)을 회전시킬 수 있다.
이때, 테스트 트레이(1)의 수용부에 고정되지 않은 전자부품은 테스트 트레이(1)가 반전상태로 회전하는 것이 아니므로 테스트 트레이(1)가 90°초과 회전 후 기울어진 상태로 정지됨에 따라 주로 관성에 의해 테스트 트레이(1)로부터 이탈되어 낙하하게 된다. 즉, 회전유닛(50)은 수평상태의 테스트 트레이가 90°초과 회전 후 기울어진 상태로 정지되도록 지지 프레임(30)을 회전 후 정지시키며 회전정지 관성에 의해 수용부에 고정되지 않은 전자부품들을 낙하시킨다.Next, the rotation unit 50 of the tray rotation transfer device 100 will be described in detail. The rotation unit 50 rotates the support frame 30 to tilt the test tray 1 more than 90 degrees so that at least one or more electronic components not fixed to at least one receiving portion of the test tray 1 can fall down The test frame 1 is vertically erected by rotating the support frame 30 in the reverse direction again. For example, the rotation unit 50 rotates the support frame 30 in a reverse direction while tilting the test tray 1 so that the test tray 1 is inclined so as not to be inverted but more than 90 degrees. That is, since the test tray 1 fixedly supported on the support frame 30 by the rotation unit 50 is inclined by more than 90 degrees, the electronic component which is not fixed to the receiving portion of the test tray 1 is dropped downward . That is, since the test tray 1 in a horizontal state is tilted so as not to be inverted by more than 90 degrees and then turned backward in a backward direction, the electronic component which is not fixed to the receiving portion of the test tray 1 can be dropped downward have. For example, as shown in Fig. 4, the rotation unit 50 can rotate the support frame 30 so that the test tray 1 is tilted by more than 90 degrees.
At this time, since the test tray 1 is not rotated in the inverted state, the electronic tray 1 is not fixed to the receiving portion of the test tray 1, The test tray 1 is detached from the test tray 1 due to inertia. That is, the rotation unit 50 rotates and stops the support frame 30 so that the test tray in a horizontal state is stopped after being rotated in an inclined state by more than 90 degrees and stops the electronic components that are not fixed to the accommodating portion by the rotation stop inertia, .

회전유닛(50)을 구체적으로 살펴보면, 예컨대, 회전유닛(50)은 모터(53)와 회전축(51)을 구비한다. 회전축(51)은 전술한 바와 같이 지지 프레임(30), 예컨대 구체적으로 양측 벽체 프레임(33)에 끼워져, 회전축(51)의 회전에 따라 지지 프레임(30)이 회전하게 된다. 이때, 회전유닛(50)의 모터(53)은 감속모터를 구비하여 회전축(51)을 회전시킬 수 있다.Specifically, for example, the rotating unit 50 includes a motor 53 and a rotating shaft 51. The rotating shaft 51 is inserted into the supporting frame 30, for example, specifically the both side wall frames 33 as described above, and the supporting frame 30 is rotated in accordance with the rotation of the rotating shaft 51. At this time, the motor 53 of the rotation unit 50 may include a deceleration motor to rotate the rotation shaft 51.

이때, 회전유닛(50)은 피딩유닛(10)에 의해 당겨진 테스트 트레이(1)의 전방측이 상향으로 올라가도록 지지 프레임(30)을 회전시키되, 테스트 트레이(1)의 90°초과 회전 및 관성에 의해 수용부에 고정되지 않은 전자부품들을 낙하시킬 수 있다.At this time, the rotation unit 50 rotates the support frame 30 so that the front side of the test tray 1 pulled by the feeding unit 10 is lifted upward, It is possible to drop the electronic parts which are not fixed to the accommodating portion.

또한, 하나의 예에서, 회전유닛(50)은 90°초과 각도가 95°이상 115°이하의 범위에 이르도록 지지 프레임(30)을 회전시킬 수 있다. 예컨대, 회전유닛(50)은 테스트 트레이(1)를 100°내외 정도까지 회전되도록 지지 프레임(30)을 회전시킬 수 있다.
Further, in one example, the rotation unit 50 may rotate the support frame 30 such that the angle over 90 [deg.] Is in the range of 95 [deg.] To 115 [deg.]. For example, the rotation unit 50 can rotate the support frame 30 to rotate the test tray 1 to about 100 degrees.

다음으로, 본 발명의 또 하나의 모습에 따른 전자부품 테스트 장치를 도면을 참조하여 살펴본다. 이때, 전술한 하나의 모습에 따른 트레이 회전 이송 장치의 실시예들 및 도 1 내지 4가 참조될 수 있고, 중복되는 설명들은 생략될 수 있다.Next, an electronic device testing apparatus according to another aspect of the present invention will be described with reference to the drawings. At this time, it is possible to refer to the embodiments of the tray rotation transfer device according to one aspect described above and FIGS. 1 to 4, and redundant explanations can be omitted.

도 5는 본 발명의 하나의 실시예에 따른 전자부품 테스트 장치를 개략적으로 나타내는 도면이고, 도 6은 본 발명의 또 하나의 실시예에 따른 전자부품 테스트 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
FIG. 5 is a schematic view of an electronic component testing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a view schematically showing an electronic component testing apparatus according to another embodiment of the present invention.

도 5 내지 6을 참조하면, 하나의 예에 따른 전자부품 테스트 장치는 트레이 회전 이송 장치(100), 트레이 직립 이송 장치(300) 및 테스트 유닛(500)을 포함한다. 또한, 도시되지 않았으나, 전자부품 테스트 장치는 센싱 장치를 더 포함할 수 있다. 각 구성들을 구체적으로 살펴본다.5 to 6, an electronic component testing apparatus according to one example includes a tray rotation transfer apparatus 100, a tray upright transfer apparatus 300, and a test unit 500. Further, although not shown, the electronic component testing apparatus may further include a sensing device. Let's look at each configuration in detail.

이때, 트레이 회전 이송 장치(100)는 전술한 발명의 하나의 모습들 중 어느 하나의 예에 따른 것이므로, 후술되는 설명들을 제외한 부분은 전술한 발명들의 실시예들을 참조하여 이해하기로 한다.Here, since the tray rotation transfer device 100 is according to any one of the aspects of the above-described invention, portions other than those described below will be understood with reference to the embodiments of the present invention described above.

전술한 바와 같이, 트레이 회전 이송 장치(100)는 피딩유닛(10), 지지 프레임(30) 및 회전유닛(50)을 포함하고 있다. 이때, 피딩유닛(10)은 다수의 수용부에 검사용 전자부품들이 담긴 테스트 트레이(1)를 지지 프레임(30) 상으로 당긴다. 이때, 지지 프레임(30)은 피딩유닛(10)에 의해 당겨진 테스트 트레이(1)의 양단부를 지지한다. 회전유닛(50)은 테스트 트레이(1)의 적어도 하나 이상의 수용부에 고정되지 않은 적어도 하나 이상의 전자부품이 낙하 가능하도록 테스트 트레이(1)를 90°초과하되 반전되지 않도록 기울게 지지 프레임(30)을 회전시킨 후 다시 역방향으로 지지 프레임(30)을 회전시켜 테스트 트레이(1)를 수직으로 직립시킨다. 또한, 피딩유닛(10)은 회전유닛(50)에 의해 수직으로 직립된 테스트 트레이(1)를 하향으로 이송시킨다. 각 구성들의 구체적인 설명은 전술한 바를 참조하기 한다.As described above, the tray rotation transfer apparatus 100 includes a feeding unit 10, a support frame 30, and a rotation unit 50. At this time, the feeding unit (10) pulls the test tray (1) containing inspection electronic components onto the support frame (30) in a plurality of accommodating portions. At this time, the support frame 30 supports both ends of the test tray 1 pulled by the feeding unit 10. The rotating unit 50 is configured to rotate the test tray 1 so that at least one or more electronic components that are not fixed to at least one receiving portion of the test tray 1 are allowed to fall, The test tray 1 is vertically uprighted by rotating the support frame 30 in the reverse direction again. Further, the feeding unit 10 feeds the test tray 1 vertically erected by the rotating unit 50 downward. A detailed description of each configuration will be given above.

예컨대, 도 4를 참조하면, 트레이 회전 이송 장치(100)는 하측에 형성된 트레이 이송홀(h)을 통해 테스트 트레이(1)를 후술되는 트레이 직립 이송 장치(300)로 제공한다. 이때, 트레이 직립 이송 장치(300)는 도 4의 도면부호 "u"의 공간에 배치된다.For example, referring to FIG. 4, the tray rotation transfer device 100 provides the test tray 1 to a tray upright transfer device 300, which will be described later, through a tray transfer hole h formed at the lower side. At this time, the tray upright transfer device 300 is disposed in the space of the reference numeral "u"

또한, 하나의 예에서, 도 6을 참조하면, 트레이 회전 이송 장치(100)는 후술되는 트레이 직립 이송 장치(300)로 테스트 트레이(1)를 직립시켜 전달할 뿐만 아니라 후술되는 테스트 유닛(500)에서 테스트 완료 후 트레이 직립 이송 장치(300)를 통해 이송된 직립된 트레이를 다시 수평상태로 회전시켜 이송한다. 즉, 트레이 회전 이송 장치(100)는 테스트 트레이(1)에 대한 90°초과 회전을 수행하고 직립 이송하는 공급측 파트(100a)와 테스트 완료되어 직립 이송된 테스트 트레이(1)를 다시 수평상태로 회전시켜 전달하는 회수측 파트(100b)로 이루어진다. 이때, 회수측 파트(100b)는 도시되지 않았으나 전자부품들의 언로딩을 위해 트레이 이송 장치로 테스트 트레이(1)를 전달할 수 있다.6, the tray rotation transfer apparatus 100 not only transports the test tray 1 upright to the tray upright transfer apparatus 300 described later, but also transfers the test tray 1 to the test unit 500 After the completion of the test, the upright tray conveyed through the tray upright transporting device 300 is again horizontally rotated and transported. That is, the tray rotation conveying apparatus 100 performs a rotation of more than 90 degrees with respect to the test tray 1 and rotates the test tray 1, which has been tested and completed upright, And a recovery-side part 100b for delivering the recovery-side part 100b. At this time, the recovery-side part 100b may transfer the test tray 1 to the tray transfer device for unloading the electronic parts, though it is not shown.

예컨대, 회수측 파트(100b)에서 트레이 회전 이송 장치가 직립된 테스트 트레이(1)를 다시 수평상태로 회전시키는 경우, 전술한 발명의 실시예에 따른 트레이 이송 장치에서의 테스트 트레이(1)의 직립 이송 과정과 반대순으로 진행될 수 있다. 다만, 이때, 공급측 파트(100a)에서 수행되던 90°초과 회전에 대한 역순 공정 없이 회수측 파트(100b)에서는 직립 상태로 트레이 직립 이송 장치(300)로부터 피딩유닛(10)에 의해 당겨진 후 바로 수평상태로 회전하고 수평상태에서 피딩유닛(10)에 의해 예컨대 트레이 이송 장치로 테스트 트레이(1)를 전달할 수 있다.
For example, in the case where the test tray 1 in which the tray rotation transfer device is erected in the recovery-side part 100b is rotated horizontally again, the upright part of the test tray 1 in the tray transfer device according to the above- This can be done in the reverse order of the transfer process. At this time, in the recovery-side part 100b, after being pulled by the feeding unit 10 from the tray upright transporting device 300 in an upright state without a reverse process for the rotation exceeding 90 degrees performed in the supply side part 100a, And the test tray 1 can be conveyed by the feeding unit 10 in a horizontal state, for example, to a tray conveying device.

다음으로, 트레이 직립 이송 장치(300)를 살펴본다. 도 5 내지 6을 참조하면, 트레이 직립 이송 장치(300)는 트레이 회전 이송 장치(100)의 피딩유닛(10)으로부터 하향 이송된 테스트 트레이(1)를 받아 전자부품들에 대한 테스트를 수행하는 후술되는 테스트 유닛(500)의 테스트 챔버로 직립상태로 전달한다. 예컨대, 트레이 직립 이송 장치(300)는 도시되지 않았으나 트레이 회전 이송 장치(100)의 하부에서 테스트 트레이(1)를 전달받아 하향 이송하는 하향 이송 유닛과 하향 이송 유닛으로부터 직립된 테스트 트레이(1)를 제공받아 수평방향으로 이송하는 직립 이송 유닛과 직립 이송 유닛에 의해 이송된 테스트 트레이(1)를 상향 이동시키는 상향 이송 유닛과 상향 이송 유닛에 의해 상향 이송된 테스트 트레이(1)를 테스트 유닛(500)의 테스트 챔버로 제공하는 수평 이송 유닛을 포함하여 이루어질 수 있다. 도시되지 않았으나 전술한 하향 이송 유닛, 직립 이송 유닛, 상향 이송 유닛 및 수평 이송 유닛은 공지된 기술 및 도 5 및 6에 도시된 블럭도를 통해 이해될 수 있다. 즉, 도 5의 블럭도는 측단면으로 도시된 테스트 트레이(1)의 이송과정을 나타내므로, 하향 이송 유닛, 직립 이송 유닛 및 상향 이송 유닛의 동작 과정을 화살표로 도시하고 있다. 또한, 도 6의 블럭도는 평면상에서 도시된 테스트 트레이(1)의 이송과정을 도시하고 있으므로, 직립 이송 유닛 및 수평 이송 유닛의 동작 과정을 화살표로 도시하고 있다.Next, the tray upright transport apparatus 300 will be described. 5 to 6, the tray upright transporting apparatus 300 receives the test tray 1 transported downward from the feeding unit 10 of the tray rotation transporting apparatus 100, and performs a test on the electronic components To the test chamber of the test unit 500 in the upright position. For example, although not shown, the tray upright conveying apparatus 300 includes a downward conveying unit for receiving the test tray 1 from the lower portion of the tray rotation conveying apparatus 100 and conveying the test tray 1 downward and a test tray 1 erected from the downward conveying unit. And the test tray 1 transported upward by the upward transfer unit is transferred to the test unit 500 by the upward transfer unit which upwardly transfers the test tray 1 transferred by the upright transfer unit and the test tray 1 transferred by the upright transfer unit, And a horizontal transfer unit for providing a test chamber of the test apparatus. Although not shown, the above-described downward transfer unit, upright transfer unit, upwards transfer unit and horizontal transfer unit can be understood from the well-known technique and the block diagram shown in Figs. 5 and 6. That is, the block diagram of FIG. 5 shows the process of transferring the test tray 1 shown in the side sectional view, so the operation of the downward transfer unit, the upright transfer unit, and the upward transfer unit is indicated by arrows. Since the block diagram of FIG. 6 shows the transfer process of the test tray 1 shown in the plan view, the operation of the upright transfer unit and the horizontal transfer unit is indicated by an arrow.

또한, 도 6을 참조하면, 하나의 예에서, 트레이 직립 이송 장치(300)는 테스트 유닛(500)으로 테스트 트레이(1)를 이송하는 것뿐만 아니라 테스트 완료된 후 테스트 유닛(500)으로부터 전달받은 테스트 트레이(1)를 전술한 트레이 회전 이송 장치의 회수측 파트(100b)로 테스트 트레이(1)를 이송한다. 이때, 트레이 회전 이송 장치(100)의 회수측 파트(100b)로의 이송은 전술한 트레이 직립 이송 장치(300)의 테스트 유닛(500)으로의 이송과정의 역순으로 수행될 수 있다.
6, in one example, the tray upright transport apparatus 300 not only transports the test tray 1 to the test unit 500, but also transports the test tray 500 from the test unit 500 after the test is completed The tray 1 is conveyed to the recovery-side part 100b of the above-described tray rotation transfer device. At this time, the transfer of the tray rotary transfer apparatus 100 to the recovery-side part 100b can be performed in the reverse order of the transferring process of the tray upright transfer apparatus 300 to the test unit 500 described above.

계속하여, 전자부품 테스트 장치의 테스트 유닛(500)을 살펴본다. 테스트 유닛(500)은 테스트 챔버를 구비하고 테스트 트레이(1) 상의 전자부품들에 대한 전기적 테스트를 수행한다. 예컨대, 테스트 유닛(500)은 테스트 챔버에 로딩된 테스트 트레이(1)의 후방 측에 예컨대 테스트 핀들(도시되지 않음)을 구비하고 테스트 트레이(1)를 후방측으로 가압하여 테스트 트레이(1)에 담긴 전자부품들과 테스트핀들(도시되지 않음)이 접촉되도록 하여 전자부품들의 전기적 특성에 대한 검사를 수행할 수 있다.
Next, the test unit 500 of the electronic component testing apparatus will be described. The test unit 500 has a test chamber and performs electrical tests on the electronic components on the test tray 1. For example, the test unit 500 is provided with test pins (not shown), for example, on the rear side of the test tray 1 loaded in the test chamber, and presses the test tray 1 backward, Electronic components and test pins (not shown) may be brought into contact with each other to perform an inspection of the electrical characteristics of the electronic components.

도시되지 않았으나, 하나의 예에서, 전자부품 테스트 장치는 센싱 장치를 더 포함할 수 있다. 이때, 센싱 장치는 피딩유닛(10)으로부터 트레이 직립 이송 장치(300)로의 테스트 트레이(1)의 전달에 따른 또는 테스트 트레이(1)를 전달받은 트레이 직립 이송 장치(300)의 하향 이송에 따른 테스트 트레이(1)의 하향 이송 시 테스트 트레이(1)의 각 수용부가 전자부품에 의해 채워진 상태인지 빈 상태인지를 감지한다.Although not shown, in one example, the electronic component testing apparatus may further include a sensing device. At this time, the sensing device performs a test according to the transfer of the test tray 1 from the feeding unit 10 to the tray upright transporting apparatus 300 or the downward transport of the tray upright transporting apparatus 300, When the tray 1 is transported downward, each receptacle of the test tray 1 is detected as being filled or empty by the electronic component.

예컨대, 센싱 장치는 트레이 회전 이송 장치(100)의 하부에 형성되며 예컨대 광센서로 이루어질 수 있다. 도 4를 참조하면, 트레이 회전 이송 장치(100)에 의해 테스트 트레이(1)가 트레이 직립 이송 장치(300)로 전달되는 트레이 관통홀(h)의 주위 또는 주위 상부에 도시되지 않았으나 광센서를 장착하여 트레이 회전 이송 장치로부터 트레이 직립 이송 장치(300)로 전달되는 테스트 트레이(1)의 수용부에 대한 채움상태를 감지할 수 있다.For example, the sensing device may be formed at the lower portion of the tray rotation transfer device 100 and may include, for example, an optical sensor. 4, the test tray 1 is not shown around or around the tray through hole h to be conveyed to the tray upright conveyance apparatus 300 by the tray rotation conveying apparatus 100, To detect the filling state of the receiving portion of the test tray 1 that is transferred from the tray rotation transfer device to the tray upright transfer device 300.

또한, 도시되지 않았으나, 하나의 예에서, 트레이 회전 이송 장치(100)는 회전유닛(50)의 회전에 따라 하측으로 낙하하는 전자부품들을 수용하는 받침 유닛을 구비할 수 있다. 예컨대, 도 4를 참조하면, 회전유닛(50)에 의해 테스트 트레이(1)가 90°초과 회전 시 트레이 관통홀(h) 및 그 주위 상에 제공된 받침 유닛(도시되지 않음)으로 낙하되는 전자부품들이 수거될 수 있다. 이때, 받침 유닛(도시되지 않음)은 회전유닛(50)에 의한 테스트 트레이(1)의 역회전 직립 시 트레이 관통홀(h)로부터 벗어나고, 피딩유닛(10)에 의한 테스트 트레이(1)의 하향 시 트레이 관통홀(h)을 통해 트레이 직립 이송 장치(300)로 전달될 수 있다.Further, although not shown, in one example, the tray rotation transfer device 100 may include a supporting unit for receiving the electronic components falling downwardly in accordance with the rotation of the rotation unit 50. For example, referring to FIG. 4, when the test tray 1 is rotated by 90 ° by the rotation unit 50, the electronic component (not shown) dropped onto the tray through hole h and a supporting unit (not shown) Can be collected. At this time, the support unit (not shown) is released from the tray through hole h when the test tray 1 is rotated upside down by the rotation unit 50, and the downward movement of the test tray 1 by the feeding unit 10 Through the tray through hole (h), to the tray upright transport device 300.

또한, 도 4을 참조하면, 하나의 예에서, 트레이 회전 이송 장치(100)는 지지 프레임(30)의 외측에 스톱퍼 유닛(37)을 더 구비할 수 있다. 이때, 스톱퍼 유닛(37)은 회전유닛(50)에 의한 지지 프레임(30)의 회전 범위를 제한할 수 있다. 예컨대, 스톱퍼 유닛(37)은 트레이 회전 이송 장치(100)가 설치되는 프레임에 함께 설치될 수 있다.
4, in one example, the tray rotation transfer device 100 may further include a stopper unit 37 on the outer side of the support frame 30. As shown in FIG. At this time, the stopper unit 37 can restrict the rotation range of the support frame 30 by the rotation unit 50. [ For example, the stopper unit 37 can be installed together with the frame in which the tray rotation transfer device 100 is installed.

이상에서, 전술한 실시예 및 첨부된 도면들은 본 발명의 범주를 제한하는 것이 아니라 본 발명에 대한 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자의 이해를 돕기 위해 예시적으로 설명된 것이다. 또한, 전술한 구성들의 다양한 조합에 따른 실시예들이 앞선 구체적인 설명들로부터 당업자에게 자명하게 구현될 수 있다. 따라서, 본 발명의 다양한 실시예는 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 구현될 수 있고, 본 발명의 범위는 특허청구범위에 기재된 발명에 따라 해석되어야 하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의한 다양한 변경, 대안, 균등물들을 포함하고 있다.
The foregoing embodiments and accompanying drawings are not intended to limit the scope of the present invention but to illustrate the present invention in order to facilitate understanding of the present invention by those skilled in the art. Embodiments in accordance with various combinations of the above-described configurations can also be implemented by those skilled in the art from the foregoing detailed description. Accordingly, various embodiments of the present invention may be embodied in various forms without departing from the essential characteristics thereof, and the scope of the present invention should be construed in accordance with the invention as set forth in the appended claims. Alternatives, and equivalents by those skilled in the art.

1, 1', 1": 테스트 트레이 10: 피딩유닛
11: 액츄에이터부 11a: 모터
11b: 벨트 11c: 피딩 슬라이더
11d: LM가이드 13: 피딩 체결부
13a: 실린더 액츄에이터 13b: 체결지그
30: 지지 프레임 31: 가이드 레일
50: 회전유닛 100: 트레이 회전 이송 장치
300: 트레이 직립 이송 장치 500: 테스트 유닛1, 1 ', 1 ": test tray 10: feeding unit
11: actuator section 11a: motor
11b: Belt 11c: Feeding slider
11d: LM guide 13:
13a: cylinder actuator 13b: fastening jig
30: support frame 31: guide rail
50: rotation unit 100: tray rotation transfer device
300: Tray upright transport device 500: Test unit

Claims (11)

다수의 수용부에 검사용 전자부품들이 담긴 테스트 트레이를 지지 프레임 상으로 당기는 피딩유닛;
상기 피딩유닛에 의해 당겨진 상기 테스트 트레이의 양단부를 지지하는 지지 프레임; 및
적어도 하나 이상의 상기 수용부에 고정되지 않은 적어도 하나 이상의 상기 전자부품이 낙하 가능하도록 상기 테스트 트레이를 90°초과하되 반전되지 않도록 기울게 상기 지지 프레임을 회전시킨 후 다시 역방향으로 상기 지지 프레임을 회전시켜 상기 테스트 트레이를 수직으로 직립시키는 회전유닛;을 포함하고,
상기 피딩유닛은 상기 회전유닛에 의해 수직으로 직립된 상기 테스트 트레이를 하향으로 이송하고,
상기 회전유닛은 수평상태의 상기 테스트 트레이가 90°초과 회전 후 기울어진 상태로 정지되도록 상기 지지 프레임을 회전 후 정지시키며 회전정지 관성에 의해 상기 수용부에 고정되지 않은 상기 전자부품들을 낙하시키는 것을 특징으로 하는 트레이 회전 이송 장치.
A feeding unit for pulling a test tray containing inspection electronic components onto a support frame in a plurality of accommodating portions;
A support frame for supporting both ends of the test tray pulled by the feeding unit; And
Rotating the support frame in a reverse direction so as to tilt the test tray so that at least one or more electronic components not fixed to at least one of the accommodating portions can be dropped, And a rotation unit for vertically erecting the tray,
Wherein the feeding unit feeds down the test tray vertically erected by the rotating unit,
The rotation unit stops rotating the support frame so that the test tray stops in a state in which the test tray is tilted after being rotated by more than 90 degrees and drops the electronic components that are not fixed to the accommodation portion by the rotation stop inertia The tray rotation feed device.
청구항 1에서,
상기 회전유닛은 상기 피딩유닛에 의해 당겨진 상기 테스트 트레이의 전방측이 상향으로 올라가도록 상기 지지 프레임을 회전시키는 것을 특징으로 하는 트레이 회전 이송 장치.
In claim 1,
Wherein the rotating unit rotates the support frame such that a front side of the test tray pulled up by the feeding unit rises upward.
청구항 1에서,
상기 피딩유닛은 피딩 슬라이더를 구비하고 상기 피딩 슬라이더를 선형 동작시키는 액츄에이터부 및 일측이 상기 피딩 슬라이더에 결합되고 타측은 상기 테스트 트레이에 체결되고 상기 피딩 슬라이더의 선형 슬라이딩에 따라 상기 테스트 트레이를 상기 지지 프레임 상으로 당기고 수직방향 하향으로 미는 피딩 체결부를 포함하는 것을 특징으로 하는 트레이 회전 이송 장치.
In claim 1,
Wherein the feeding unit includes an actuator unit having a feeding slider and linearly operating the feeding slider, an actuator unit having one side coupled to the feeding slider and the other side coupled to the test tray, And a feeding coupling part for pulling the recording medium in a vertical direction and pushing it downward.
청구항 3에서,
상기 피딩 체결부는 상기 피딩 슬라이더에 결합된 실린더 액츄에이터 및 일단이 상기 실린더 액츄에이터에 연결되어 승강하고 타단이 상기 테스트 트레이에 체결되는 체결지그를 포함하고,
상기 체결지그는 상기 실린더 액츄에이터의 동작에 따라 상기 테스트 트레이의 전방부에 체결되고 상기 피딩 슬라이더의 전진 슬라이딩에 따라 상기 테스트 트레이를 당겨 상기 지지 프레임 상으로 이송시키고, 상기 테스트 트레이의 하향 이송 시 상기 테스트 트레이의 동일지점에서 하향으로 밀며 상기 테스트 트레이를 하향 이송시키는 것을 특징으로 하는 트레이 회전 이송 장치.
In claim 3,
And the coupling jig includes a cylinder actuator coupled to the feeding slider, and a fastening jig having one end connected to the cylinder actuator and lifted and lowered and the other end fastened to the test tray,
The fastening jig is fastened to the front portion of the test tray according to the operation of the cylinder actuator and pulls the test tray according to forward sliding of the feeding slider to transfer the test tray onto the support frame. And pushes the test tray downward at the same point on the tray.
청구항 4에서,
상기 실린더 액츄에이터는 각각 독립적으로 승강 동작하는 제1 및 제2 실린더 액츄에이터로 이루어지고, 상기 체결지그는 상기 제1 및 제2 실린더 액츄에이터에 연결된 제1 및 제2 체결지그로 이루어지고,
상기 제1 체결지그는 상기 제1 실린더 액츄에이터의 동작에 따라 상기 테스트 트레이의 전방부에 체결되고 상기 피딩 슬라이더의 전진 슬라이딩에 따라 상기 테스트 트레이를 절반 당기고,
상기 제2 체결지그는 상기 피딩 슬라이더의 후진 복귀 후 상기 제2 실린더 액츄에이터의 동작에 따라 상기 테스트 트레이의 전방부에 체결되고 상기 피딩 슬라이더의 재 전진에 따라 상기 테스트 트레이를 나머지 절반만큼 당기고,
상기 테스트 트레이의 하향 이송 시 상기 테스트 트레이의 동일지점에 체결된 상기 제2 체결지그가 절반만큼 하향으로 밀며 상기 테스트 트레이를 하향 이송시키는 것을 특징으로 하는 트레이 회전 이송 장치.
In claim 4,
Wherein the cylinder actuators are composed of first and second cylinder actuators that independently move up and down, and the engaging jigs comprise first and second fastening jigs connected to the first and second cylinder actuators,
The first fastening jig is fastened to the front portion of the test tray according to the operation of the first cylinder actuator and pulls the test tray half in accordance with forward sliding of the feeding slider,
The second fastening jig is fastened to the front portion of the test tray in accordance with the operation of the second cylinder actuator after the feeding slider is retracted backward and pulls the test tray by the remaining half according to the advancement of the feeding slider,
And the second fastening jig fastened at the same point of the test tray is pushed downward by half when the test tray is downwardly conveyed, thereby downwardly transferring the test tray.
청구항 1에서,
상기 지지 프레임은 상기 테스트 트레이의 측방향 각 단부를 지지하는 가이드레일들을 구비하되, 각 가이드레일은 상기 테스트 트레이의 측방향 단부의 상하방향으로 다수의 롤러를 구비하여 상기 피딩유닛에 의해 이송되는 상기 테스트 트레이를 안내하고 지지하는 것을 특징으로 하는 트레이 회전 이송 장치.
In claim 1,
Wherein the support frame includes guide rails for supporting lateral ends of the test tray, wherein each guide rail includes a plurality of rollers in the vertical direction of the lateral end of the test tray, And guides and supports the test tray.
청구항 1 내지 6 중 어느 하나에서,
상기 회전유닛은 90°초과 각도가 95°이상 115°이하의 범위에 이르도록 상기 지지 프레임을 회전시키는 것을 특징으로 하는 트레이 회전 이송 장치.
The method according to any one of claims 1 to 6,
Wherein the rotation unit rotates the support frame such that an angle of more than 90 degrees is in a range of 95 degrees or more and 115 degrees or less.
청구항 1 내지 6 중의 어느 하나에 따른 트레이 회전 이송 장치;
상기 트레이 회전 이송 장치의 상기 피딩유닛으로부터 하향 이송된 상기 테스트 트레이를 받아 상기 전자부품들에 대한 테스트를 수행하는 테스트 챔버로 직립상태로 전달하는 트레이 직립 이송 장치; 및
상기 테스트 챔버를 구비하고 상기 테스트 트레이 상의 상기 전자부품들에 대한 전기적 테스트를 수행하는 테스트 유닛;을 포함하여 이루어지는 전자부품 테스트 장치.
A tray rotation transfer device according to any one of claims 1 to 6;
A tray upright transporting device for receiving the test tray transported downward from the feeding unit of the tray rotation transporting device and delivering the test tray in an upright state to a test chamber for performing a test on the electronic components; And
And a test unit having the test chamber and performing an electrical test on the electronic components on the test tray.
청구항 8에서,
상기 트레이 회전 이송 장치의 상기 회전유닛은 90°초과 각도가 95°이상 115°이하의 범위에 이르도록 상기 지지 프레임을 회전시키는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트 장치.
In claim 8,
Wherein the rotation unit of the tray rotation transfer device rotates the support frame such that an angle of more than 90 degrees is in a range of 95 degrees or more and 115 degrees or less.
청구항 8에서,
상기 피딩유닛으로부터 상기 트레이 직립 이송 장치로의 상기 테스트 트레이의 전달에 따른 또는 상기 테스트 트레이를 전달받은 상기 트레이 직립 이송 장치의 하향 이송에 따른 상기 테스트 트레이의 하향 이송 시 상기 테스트 트레이의 각 수용부가 채워진 상태인지 빈 상태인지를 감지하는 센싱 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트 장치.
In claim 8,
Each receptacle of the test tray being filled when the test tray is transferred from the feeding unit to the tray upright transfer device or when the test tray is downwardly conveyed in accordance with the downward transfer of the tray upright transfer device, Further comprising a sensing device for sensing whether a state is empty or empty.
청구항 8에서,
상기 트레이 회전 이송 장치는 상기 회전유닛의 회전에 따라 하측으로 낙하하는 상기 전자부품들을 수용하는 받침 유닛을 구비하는 것을 특징으로 하는 전자부품 테스트 장치.
In claim 8,
Wherein the tray rotation transfer device comprises a support unit for accommodating the electronic components falling downward in accordance with rotation of the rotation unit.
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