KR100479073B1 - Apparatus of inspection for back light unit - Google Patents
Apparatus of inspection for back light unit Download PDFInfo
- Publication number
- KR100479073B1 KR100479073B1 KR10-2002-0034369A KR20020034369A KR100479073B1 KR 100479073 B1 KR100479073 B1 KR 100479073B1 KR 20020034369 A KR20020034369 A KR 20020034369A KR 100479073 B1 KR100479073 B1 KR 100479073B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- brightness
- defect
- film
- blu
- light
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
- G02F1/133528—Polarisers
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
- G02F1/1336—Illuminating devices
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
- G02F1/133528—Polarisers
- G02F1/133531—Polarisers characterised by the arrangement of polariser or analyser axes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2203/00—Function characteristic
- G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
본 발명은 백 라이트 유닛 검사 장치에 관한 것으로서, 검사하려는 백 라이트 유닛에 휘도 향상용 필름이 형성되어 있는 경우 증가된 휘도로 인해 상기 백 라이트 유닛의 결함이 검출되지 않는 것을 방지하기 위하여 편광축이 상기 휘도 향상용 필름에 상기 휘도 향상용 필름과 동일하거나 90 도 차이가 나는 편광수단을 형성함으로써, 상기 휘도 향상용 필름과 결함을 통과하는 빛을 선택적으로 투과시켜 상기 결함이 존재하는 부분을 용이하게 검출할 수 있게 되는 효과가 있다.The present invention relates to an apparatus for inspecting a backlight unit, wherein a polarization axis is configured to prevent the defect of the backlight unit from being detected due to an increased luminance when a brightness enhancing film is formed in the backlight unit to be inspected. By forming the polarizing means having the same or different 90 degrees to the brightness enhancing film on the film for enhancement, selectively transmitting the light passing through the brightness improving film and the defect to easily detect the portion where the defect exists. There is an effect that becomes possible.
Description
본 발명은 백 라이트 유닛(Back Light Unit; BLU) 검사 장치에 관한 것으로서, 특히 액정디스플레이(Liquid Crystal Display; LCD)등의 평판 디스플레이(Flat Panel Display; FPD)의 후방에 설치되어 광원을 제공하는 BLU의 결함을 검출할 수 있도록 하는 BLU 검사 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a back light unit (BLU) inspection apparatus, and in particular, a BLU installed behind a flat panel display (FPD) such as a liquid crystal display (LCD) to provide a light source. It relates to a BLU inspection device that can detect a defect of.
최근 들어 LCD등과 같은 FPD의 수요가 점차 증대되고 있으며, 이러한 상황에서 이들 제품의 품질을 관리하는 것은 매우 중요한 문제가 되고 있다. 따라서, 각 디스플레이 제조업체에서는 자동 검사 장치를 만들어 결함을 방지하고 있으며 특히, 상기 FPD 의 후방에 설치되어 광원을 제공하는 BLU는 상기 FPD 제품의 밝기 및 성능에 중요한 영향을 주기 때문에 상기 BLU의 결함을 사전에 검출하여 시판되는 디스플레이 제품의 품질을 향상시키고자 노력하고 있다. Recently, the demand for FPD such as LCD is gradually increasing, and in this situation, managing the quality of these products has become a very important problem. Therefore, each display manufacturer prevents defects by making an automatic inspection device, and in particular, a BLU installed at the rear of the FPD to provide a light source has a significant influence on the brightness and performance of the FPD product, so that the defect of the BLU is prevented. The company is trying to improve the quality of the display products which are detected and marketed.
일반적인 BLU의 구조는 도 1 에 도시된 바와 같이, 선광원을 제공하는 CCFL(Cold Cathode Fluorescent Lamp)(1)과, 상기 CCFL(1)의 선광원을 면광원으로 변환하는 도광판(2)과, 상기 도광판(2)에 의해 변환된 면광원을 확산시켜 균일해질 수 있도록 하는 확산판(3)과, 상기 확산판(3)에 의해 균일해진 면광원이 전방에 모일 수 있도록 하여 휘도가 높아지도록 하는 수직 및 수평 프리즘(4, 5)과, 상기 수직 및 수평 프리즘(4, 5)의 전방에 위치되고 투명재질로 이루어지는 보호판(6)으로 구성된다.As shown in FIG. 1, a general BLU structure includes a Cold Cathode Fluorescent Lamp (CCFL) 1 providing a linear light source, a light guide plate 2 converting the linear light source of the CCFL 1 into a surface light source, and The diffuser plate 3 for diffusing the surface light source converted by the light guide plate 2 and the surface light source uniformed by the diffuser plate 3 and the luminance of the surface light source uniformed by the diffuser plate 3 can be gathered in front. It consists of vertical and horizontal prisms 4 and 5 and a protective plate 6 which is located in front of the vertical and horizontal prisms 4 and 5 and is made of a transparent material.
상기와 같이 구성되는 BLU의 결함을 검출할 수 있는 BLU 검사 장치는 도 2 에 도시된 바와 같이, 렌즈 및 CCD(Charge Coupled Device) 카메라로 이루어지며 BLU(10)의 연직 상방에 위치되어 이물질 검출할 수 있도록 상기 BLU(10)의 표면을 촬상하는 제 1 화상 획득부(21)와, 상기 BLU(10)의 표면 결함을 검출할 수 있도록 상기 BLU(10)에 일정 각도 기울어진 상측에 위치되어 상기 BLU(10)의 표면을 촬상하는 제 2 화상 획득부(22)와, 상기 제 1 및 제 2 화상 획득부(21, 22)에 의해 촬상된 화상을 데이터화하는 화상 처리부(23)와, 상기 화상 처리부(23)에 의해 데이터화된 화상을 통해 상기 BLU(10)의 결함을 검출하는 결함 처리부(24)로 구성된다.As shown in FIG. 2, the BLU inspection apparatus capable of detecting a defect of the BLU configured as described above is composed of a lens and a charge coupled device (CCD) camera, and is located vertically above the BLU 10 to detect foreign substances. The first image acquisition unit 21 for imaging the surface of the BLU (10) so as to be able to detect the surface defects of the BLU (10) so as to be positioned above the inclined angle to the BLU (10) A second image acquisition unit 22 for imaging the surface of the BLU 10, an image processing unit 23 for dataizing the images picked up by the first and second image acquisition units 21, 22, and the image It consists of a defect processing part 24 which detects the defect of the said BLU 10 through the image data processed by the processing part 23. As shown in FIG.
상기와 같이 구성되는 BLU 검사 장치를 이용하여 BLU(10)의 결함을 검출하는 방법은 상기 BLU(10)는 상기 수직 및 수평 프리즘(4, 5)로 인하여 상기 확산판(3)에 의해 균일해진 면광원은 직진성을 가지게 된다. The method of detecting a defect of the BLU 10 using the BLU inspection apparatus configured as described above is that the BLU 10 is made uniform by the diffusion plate 3 due to the vertical and horizontal prisms 4 and 5. The surface light source has a straightness.
이때, 상기 BLU(10)와 일정 각도를 기울어지게 위치되어 상기 BLU(10)의 표면을 촬상하는 제 2 획득부(22)에 의해 촬상된 화상에서 결함이 존재하는 부분이 밝게 나타나게 되어 표면 결함을 검출할 수 있게 되는 것이다.At this time, the portion where the defect exists in the image picked up by the second acquisition unit 22 which is positioned at an angle with the BLU 10 and imaged the surface of the BLU 10 appears brightly. It can be detected.
한편, 최근 디스플레이 시장에서 점차 고휘도의 LCD 가 요구되는 추세에 맞추기 위한 하나의 방법으로써 상기에서 설명된 BLU(10)에서 상기 수직 및 수평 프리즘(4, 5)를 제거하고 DBEF(Dual Brightness Enhancement Film)와 같은 휘도 향상용 필름을 사용함으로써 고휘도를 구현하고 있다.On the other hand, as a way to meet the trend of increasingly high-brightness LCD in the recent display market, the vertical and horizontal prism (4, 5) is removed from the above-described BLU (10) and the Dual Brightness Enhancement Film (DBEF) High brightness is realized by using a film for improving brightness such as.
그러나, 상기 휘도 향상용 필름이 형성된 BLU는 상기 수직 및 수평 프리즘이 없기 때문에 상기 확산판에 의해 확산된 면광원이 직진성이 아닌 산란성을 가지게 되고, 이로 인해 상기 휘도 향상용 필름과 상기 휘도 향상용 필름에 존재하는 결함을 통과한 빛의 휘도의 차이가 발생하지 않아 상기 제 2 화상 획득부에서 촬상한 화상을 이용하여 결함을 검출하기가 어렵다는 문제점이 있다.However, since the BLU on which the brightness enhancement film is formed has no vertical and horizontal prisms, the surface light source diffused by the diffusion plate has scattering property, not linearity, and thus the brightness enhancing film and the brightness enhancing film There is a problem that it is difficult to detect a defect using an image picked up by the second image acquisition unit because a difference in luminance of light passing through a defect existing in the image does not occur.
본 발명은 상기한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 그 목적은 백 라이트 유닛의 휘도를 증가시키기 위하여 향상용 필름을 사용하는 경우 빛의 산란성으로 인해 백 라이트의 결함이 검출되지 않는 것을 방지할 수 있도록 상기 휘도 향상용 필름과 상기 휘도 향상용 필름에 존재하는 결함을 통과하는 빛을 선택적으로 투과시키는 편광 수단을 포함한 백 라이트 유닛의 검사 장치를 제공하는데 있다. The present invention has been made to solve the above-described problems of the prior art, the object of which is that the defect of the backlight is not detected due to the scattering of the light when using the enhancement film to increase the brightness of the backlight unit The present invention provides an inspection apparatus for a backlight unit including polarizing means for selectively transmitting light passing through a defect present in the brightness enhancing film and the brightness improving film so as to be prevented.
상기한 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 백 라이트 유닛 검사 장치의 특징에 따르면, 평판 디스플레이의 후방에서 광원을 제공하며 상기 광원의 휘도를 증가시킬 수 있도록 하는 휘도 향상용 필름이 형성된 백 라이트 유닛의 결함을 화상 획득부를 통해 검출하는 백 라이트 유닛 검사 장치에 있어서, 휘도 향상용 필름을 통해 증가된 휘도로 인해 상기 결함이 검출되지 않는 것이 방지될 수 있도록 상기 휘도 향상용 필름과 상기 화상 획득부 사이에 편광 수단이 구비되고; 상기 편광 수단은 편광축이 상기 휘도 향상용 필름과 수직으로 형성되며, 상기 휘도 향상용 필름에 의한 빛은 차단하고, 상기 결함에 의한 빛은 투과시키는 것을 특징으로 한다.또한, 상기한 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 백 라이트 유닛 검사 장치의 특징에 따르면, 평판 디스플레이의 후방에서 광원을 제공하며 상기 광원의 휘도를 증가시킬 수 있도록 하는 휘도 향상용 필름이 형성된 백 라이트 유닛의 결함을 화상 획득부를 통해 검출하는 백 라이트 유닛 검사 장치에 있어서, 상기 휘도 향상용 필름을 통해 증가된 휘도로 인해 상기 결함이 검출되지 않는 것이 방지될 수 있도록 상기 휘도 향상용 필름과 상기 화상 획득부 사이에 편광 수단이 구비되고; 상기 편광 수단은 편광축이 상기 휘도 향상용 필름과 동일하게 형성되며,상기 휘도 향상용 필름에 의한 빛은 투과시키고, 상기 결함에 의한 빛은 차단하는 것을 특징으로 한다.According to a feature of the backlight unit inspection apparatus according to the present invention for solving the above problems, the backlight unit is provided with a film for improving the brightness to provide a light source from the rear of the flat panel display and to increase the brightness of the light source A backlight unit inspection apparatus for detecting a defect through an image acquisition unit, comprising: between the brightness enhancement film and the image acquisition unit so that the defect is not detected due to the increased brightness through the brightness enhancement film Polarizing means is provided; The polarizing means is characterized in that the polarization axis is formed perpendicular to the brightness enhancement film, the light by the brightness enhancement film is blocked, and the light caused by the defect is transmitted. According to a feature of the back light unit inspection device according to the present invention, a defect of the back light unit provided with a light enhancement film for providing a light source from the rear of the flat panel display and to increase the brightness of the light source through the image acquisition unit In the backlight unit inspection apparatus for detecting, polarization means is provided between the brightness enhancement film and the image acquisition unit so that the defects are not detected due to the increased brightness through the brightness enhancement film. ; The polarizing means has a polarization axis is formed in the same manner as the film for improving brightness, characterized in that the light transmitted by the film for improving brightness is transmitted, and the light caused by the defect is blocked.
이하, 본 발명의 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명에 따른 BLU 검사 장치는 도 4 에 도시된 바와 같이, 휘도를 증가시키기 위하여 DBEF(Dual Brightness Enhancement Film)와 같은 휘도 향상용 필름(35)이 형성된 BLU(30)의 연직 상방에 위치되어 이물질을 검출할 수 있도록 상기 BLU(30)의 표면을 촬상하는 제 1 화상 획득부(21)와, 상기 BLU(30)의 표면 결함(40)을 검출할 수 있도록 상기 BLU(30)와 일정각도 기울어진 상측에 위치되어 상기 BLU(30)의 표면을 촬상하는 제 2 화상 획득부(22)와, 상기 제 1 및 제 2 화상 획득부(21, 22)가 촬상한 화상을 데이터화하는 화상 처리부(23)와 상기 화상 처리부(23)에 의해 데이터화된 화상을 통해 상기 BLU(30)의 결함(40)을 검출하는 결함 처리부(24)와, 상기 휘도 향상용 필름(35) 전방에 형성되어 상기 휘도 향상용 필름(35) 및 결함(40)을 통과하는 빛을 선택적으로 투과시키는 편광수단(50)으로 구성된다.As shown in FIG. 4, the BLU inspection apparatus according to the present invention is located above the BLU 30 in which the brightness enhancing film 35 such as DBEF (Dual Brightness Enhancement Film) is formed so as to increase the brightness. The first image acquisition unit 21 which captures the surface of the BLU 30 so as to detect the surface of the BLU 30, and the BLU 30 is inclined at a predetermined angle so as to detect the surface defects 40 of the BLU 30. A second image acquisition unit 22 positioned at the upper side and imaging the surface of the BLU 30, and an image processing unit 23 for converting the images captured by the first and second image acquisition units 21 and 22 into data. And the defect processing unit 24 for detecting the defect 40 of the BLU 30 through the image data generated by the image processing unit 23 and the brightness enhancing film 35 in front of the brightness enhancement unit. Sphere with polarizing means 50 for selectively transmitting the light passing through the film 35 and the defect 40 It is.
여기서, 상기 도 4 에서 미설명된 참조번호는 상기 도 2 의 도면번호와 동일한 참조번호를 사용한다.Here, reference numerals not described in FIG. 4 use the same reference numerals as those in FIG. 2.
상기와 같이 구성되는 본 발명에 따른 BLU 검사 장치에 적용되는 휘도 향상용 필름이 형성된 BLU(30)를 도 3 을 참고로 하여 보다 상세하게 설명하면, 선광원을 제공하는 CCFL(31)과, 상기 CCFL(31)에 제공된 선광원을 면광원으로 변환하는 도광판(32)과, 상기 도광판(32)에 의해 변환된 면광원을 확산시켜 균일해질 수 있도록 하는 확산판(33)과, 상기 확산판(33)에 의해 균일해진 명광원의 휘도가 증가될 수 있도록 하는 DBEF과 같은 휘도 향상용 필름(35)으로 이루어지게 된다.Referring to the BLU 30 formed with the brightness enhancement film applied to the BLU inspection apparatus according to the present invention configured as described above in more detail with reference to Fig. 3, the CCFL 31 to provide a line light source, and A light guide plate 32 for converting the line light source provided to the CCFL 31 into a surface light source, a diffusion plate 33 for diffusing the surface light source converted by the light guide plate 32 to be uniform, and the diffusion plate ( 33) is made of a brightness improving film 35, such as DBEF, so that the brightness of the light source uniformed by the same can be increased.
이때, 상기 편광 수단(50)는 상기 휘도 향상용 필름(35)과 상기 휘도 향상용 필름(35)에 발생된 결함(40)을 통과하는 빛을 선택적으로 투과시키게 된다. In this case, the polarization means 50 selectively transmits light passing through the defect 40 generated in the brightness enhancing film 35 and the brightness enhancing film 35.
즉, 상기 편광 수단(50)의 편광축을 상기 휘도 향상용 필름(35)과 90 도 차이나도록 형성하게 되면, 도 4 에 도시된 바와 같이, 상기 휘도 향상용 필름(35)을 통해 발산되는 빛은 차단되나, 상기 BLU(30)의 결함(40)으로부터 발생되는 빛은 결함(40)으로 인해 그 위상이 변화하게 된다. That is, when the polarization axis of the polarization means 50 is formed to be 90 degrees different from the brightness enhancement film 35, as shown in FIG. 4, light emitted through the brightness enhancement film 35 is Although blocked, the light generated from the defect 40 of the BLU 30 is changed in phase due to the defect 40.
따라서, 상기 결함(40)으로 발생되는 빛은 상기 편광수단(50)에 의해 완전히 차단되지 않고 투과되어 밝게 나타나게 되기 때문에 상기에서 설명된 BLU 검사 장치의 제 2 화상획득부(22)에서 상기 BLU(30)의 표면을 촬상하였을 경우 결함(40)이 존재하는 부분이 명확하게 나타나는 것이다.Therefore, since the light generated by the defect 40 is not completely blocked by the polarizing means 50, the light is transmitted and appears bright, so that the BLU (at the second image acquisition unit 22 of the BLU inspection apparatus described above) is bright. When imaging the surface of 30), the part where the defect 40 exists is clearly shown.
만일, 상기 편광수단(50)의 편광축을 상기 휘도 향상용 필름(35)과 동일하게 형성하는 경우에는 도 5 에 도시된 바와 같이, 상기 휘도 향상용 필름(35)을 통한 빛은 투과되어 밝게 나타나게 되지만, 상기 결함(35)으로부터 발생되는 빛은 상기 결함(40)에 의해 그 위상이 변화되었기 때문에 상기 편광 수단(50)을 투과하지 못하여 상기 결함(40)이 존재하는 부분은 어둡게 나타나게 되어 결함(40)을 용이하게 검출해낼 수 있는 것이다.If the polarization axis of the polarization means 50 is formed in the same way as the brightness enhancement film 35, as shown in FIG. 5, light through the brightness enhancement film 35 is transmitted to appear bright. However, since the light generated from the defect 35 is changed in phase by the defect 40, the light cannot be transmitted through the polarization means 50, so that the portion where the defect 40 exists appears dark, resulting in a defect ( 40) can be easily detected.
상기 편광 수단(50)을 포함된 본 발명의 상기 BLU 검사 장치를 이용한 BLU(30)의 결함 검출 방법을 설명하면 다음과 같다.The defect detection method of the BLU 30 using the BLU inspection apparatus of the present invention including the polarizing means 50 is as follows.
먼저, 검사하려는 BLU(30)의 휘도 향상용 필름(35)에 편광 수단(50)을 위치시킨다. 즉, 상기 편광 수단(50)의 편광축을 상기 휘도 향상용 필름(35)과 동일하게 형성할것인지 90 도 차이나게 형성할것인지를 결정한다.First, the polarizing means 50 is placed on the brightness-improving film 35 of the BLU 30 to be inspected. That is, it is determined whether to form the polarization axis of the polarization means 50 in the same manner as the brightness enhancement film 35 or 90 degrees.
이때, 상기 편광 수단(50)의 편광축을 상기 휘도 향상용 필름(35)과 동일하게 형성한 경우에는 상기 휘도 향상용 필름(35)을 통과한 빛은 투과되고, 상기 결함(40)을 통과한 빛은 그 위상이 변화되어 상기 편광 수단(50)을 투과하지 못하고 차단된다.At this time, when the polarization axis of the polarization means 50 is formed in the same way as the brightness enhancement film 35, the light passing through the brightness enhancement film 35 is transmitted and passes through the defect 40. The light is changed in phase so that it is not transmitted through the polarization means 50 and is blocked.
한편, 상기 편광 수단(50)의 편광축을 상기 휘도 향상용 필름(35)과 90 도 차이나게 형성한 경우에는 상기 휘도 향상용 필름(35)을 통과한 빛은 차단되고, 상기 결함(40)을 통과한 빛은 완전하게 차단되지 않고 상기 편광 수단(50)을 통과하여 밝게 나타나게 된다.On the other hand, when the polarization axis of the polarization means 50 is formed 90 degrees different from the brightness enhancement film 35, the light passing through the brightness enhancement film 35 is blocked, and the defect 40 is removed. The light passing through is not completely blocked and appears bright through the polarization means 50.
마지막으로 상기에서 설명된 제 2 화상 획득부(4, 5)에서 상기 BLU(30)의 표면을 촬상하게 되고, 그 화상은 상기 화상 처리부(23)에 의해 데이터화되고, 상기 화상 처리부(23)에 의해 데이터화된 상기 화상은 상기 결함 검출부(24)에 의하여 결함이 검출되는 것이다.Finally, the surface of the BLU 30 is imaged by the second image acquisition units 4 and 5 described above, and the image is converted into data by the image processing unit 23, and the image processing unit 23 The defect data is detected by the defect detection unit 24 in the image data.
결국, 본 발명에 따른 BLU 검사 장치는 기존의 BLU 검사 장치에 편광 수단을 사용함으로써, 기존의 BLU뿐만 아니라 휘도 향상용 필름이 형성된 BLU의 결함을 용이하게 검출할 수 있기 때문에 별도의 검사 장치를 제작하지 않고도 결함을 검출할 수 있는 것이다.As a result, the BLU inspection apparatus according to the present invention makes it possible to easily detect defects of the BLU in which the brightness enhancement film is formed, as well as the existing BLU, by using a polarizing means in the existing BLU inspection apparatus. Defects can be detected without
상기와 같이 구성되는 본 발명에 BLU 검사 장치는 검사하려는 BLU에 휘도 향상용 필름이 형성되어 있는 경우 증가된 휘도로 인해 상기 BLU의 결함이 검출되지 않는 것을 방지하기 위하여 편광축이 상기 휘도 향상용 필름에 상기 휘도 향상용 필름과 동일하거나 90 도 차이가 나는 편광수단을 형성함으로써, 상기 휘도 향상용 필름과 결함을 통과하는 빛을 선택적으로 투과시켜 상기 결함이 존재하는 부분을 용이하게 검출할 수 있게 되는 효과가 있다.In the present invention configured as described above, the BLU inspection apparatus has a polarization axis on the brightness enhancement film in order to prevent the defect of the BLU from being detected due to the increased brightness when the brightness enhancement film is formed on the BLU to be inspected. By forming a polarizing means that is the same as or different from the brightness enhancement film by 90 degrees, it is possible to selectively transmit the light passing through the brightness enhancement film and the defect so that the defect is easily detected. There is.
도 1 은 일반적인 백 라이트 유닛의 구조가 도시된 도,1 is a view showing a structure of a general backlight unit;
도 2 는 종래의 기술에 따른 백 라이트 유닛 검사 장치의 구성이 도시된 도,2 is a view showing the configuration of a backlight unit inspection apparatus according to the prior art,
도 3 은 본 발명에 적용되는 휘도 향상용 필름이 형성되는 백 라이트 유닛의 구조가 도시된 도,3 is a view illustrating a structure of a backlight unit in which a film for improving brightness applied to the present invention is formed;
도 4 및 도 5 는 본 발명에 따른 편광 수단을 포함한 백 라이트 유닛 검사 장치에 의해 검출된 결함이 도시된 도이다.4 and 5 are diagrams showing the defects detected by the backlight unit inspection apparatus including the polarizing means according to the present invention.
<도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명><Explanation of symbols on main parts of the drawings>
30: 백 라이트 유닛 35: 휘도 향상용 필름30: backlight unit 35: film for improving brightness
40: 결함 50: 편광 수단40: defect 50: polarization means
Claims (3)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2002-0034369A KR100479073B1 (en) | 2002-06-19 | 2002-06-19 | Apparatus of inspection for back light unit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2002-0034369A KR100479073B1 (en) | 2002-06-19 | 2002-06-19 | Apparatus of inspection for back light unit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20040000004A KR20040000004A (en) | 2004-01-03 |
| KR100479073B1 true KR100479073B1 (en) | 2005-03-25 |
Family
ID=37312061
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR10-2002-0034369A KR100479073B1 (en) | 2002-06-19 | 2002-06-19 | Apparatus of inspection for back light unit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100479073B1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101839563B1 (en) | 2011-03-08 | 2018-03-16 | 엘지전자 주식회사 | Display Apparatus |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100722223B1 (en) * | 2004-12-11 | 2007-05-29 | 주식회사 매크론 | Apparatus for inspecting back light unit |
| KR101142519B1 (en) | 2005-03-31 | 2012-05-08 | 서울반도체 주식회사 | Backlight panel employing white light emitting diode having red phosphor and green phosphor |
| KR100690332B1 (en) * | 2005-04-27 | 2007-03-09 | (주)소닉스 | Checkup apparatus for back light unit |
| US8017961B2 (en) | 2005-05-24 | 2011-09-13 | Seoul Semiconductor Co., Ltd. | Light emitting device and phosphor of alkaline earth sulfide therefor |
| KR100724591B1 (en) | 2005-09-30 | 2007-06-04 | 서울반도체 주식회사 | Light emitting device and LCD backlight using the same |
| WO2007105845A1 (en) | 2006-03-16 | 2007-09-20 | Seoul Semiconductor Co., Ltd. | Fluorescent material and light emitting diode using the same |
| KR101444099B1 (en) * | 2007-11-13 | 2014-09-26 | 삼성전자주식회사 | Method and apparatus for detecting voice activity |
| KR200452394Y1 (en) * | 2008-07-16 | 2011-02-22 | 이봉석 | the construction of lower-post for jib crane |
| KR101008903B1 (en) * | 2010-08-31 | 2011-01-17 | 레이져라이팅(주) | Apparatus for inspecting light guide plate |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08292406A (en) * | 1995-04-24 | 1996-11-05 | Advantest Corp | Lcd panel inspecting device |
-
2002
- 2002-06-19 KR KR10-2002-0034369A patent/KR100479073B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08292406A (en) * | 1995-04-24 | 1996-11-05 | Advantest Corp | Lcd panel inspecting device |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101839563B1 (en) | 2011-03-08 | 2018-03-16 | 엘지전자 주식회사 | Display Apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20040000004A (en) | 2004-01-03 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101326455B1 (en) | Apparatus and method for characterizing defects in a transparent substrate | |
| KR100779135B1 (en) | Apparatus for Inspecting of Liquid Crystal Panel | |
| JP2008045959A (en) | Device and method for inspecting liquid crystal display panel | |
| TW201310023A (en) | Apparatus and method for detecting the surface defect of the glass substrate | |
| KR20130076801A (en) | Film defect inspection device, defect inspection method, and release film | |
| KR100479073B1 (en) | Apparatus of inspection for back light unit | |
| JP2006071284A (en) | Inside and outside discrimination method of flaw of glass substrate | |
| KR100829891B1 (en) | Inspection Method for Liquid Crystal Panel and Image Processing Apparatus | |
| CN100547374C (en) | The detection system and the method that are used for a colored filter | |
| KR20130143226A (en) | Apparatus for inspecting light guide plate | |
| KR101144797B1 (en) | Thin Film Material Testing Apparatus and method for the same | |
| KR102037050B1 (en) | Vision testing system for display device and inspecting method thereof | |
| KR100666468B1 (en) | Method and apparatus for inspecting pattern defect of transparent plate having periodic scattering patterns | |
| JP5040227B2 (en) | Color filter inspection apparatus and color filter inspection method | |
| WO2019245313A1 (en) | Foreign material inspection system of display unit | |
| JPH0868767A (en) | Apparatus for inspecting flaw of body part of bottle | |
| KR101171989B1 (en) | A inspecting apparatus and inspecting method of Backlight unit | |
| JP3149336B2 (en) | Optical member inspection device | |
| JP3231582B2 (en) | Optical member inspection device | |
| JPH08334434A (en) | Optical member inspection device | |
| Yan et al. | Research on an optical system based on multi-camera imaging for TFT-LCD module defect detection | |
| KR100807460B1 (en) | Inspection system and method for a color filter | |
| JP2002014058A (en) | Method and apparatus for checking | |
| JP4517574B2 (en) | Color filter evaluation method | |
| JP3878317B2 (en) | Method and apparatus for inspecting periodic aperture pattern |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20090105 Year of fee payment: 5 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |