KR0125917B1 - Particle asymmetry analysis - Google Patents
Particle asymmetry analysisInfo
- Publication number
- KR0125917B1 KR0125917B1 KR1019890701291A KR890701291A KR0125917B1 KR 0125917 B1 KR0125917 B1 KR 0125917B1 KR 1019890701291 A KR1019890701291 A KR 1019890701291A KR 890701291 A KR890701291 A KR 890701291A KR 0125917 B1 KR0125917 B1 KR 0125917B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- radiation
- particles
- particle
- sample
- collector
- Prior art date
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims description 70
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 45
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 229910052572 stoneware Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 8
- 239000012798 spherical particle Substances 0.000 description 8
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 5
- 239000000443 aerosol Substances 0.000 description 3
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000010076 replication Effects 0.000 description 1
- 230000002459 sustained effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1456—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry without spatial resolution of the texture or inner structure of the particle, e.g. processing of pulse signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1434—Optical arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
- G01N2015/0238—Single particle scatter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N15/1404—Handling flow, e.g. hydrodynamic focusing
- G01N2015/1413—Hydrodynamic focussing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/10—Investigating individual particles
- G01N15/14—Optical investigation techniques, e.g. flow cytometry
- G01N2015/1497—Particle shape
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
없음none
Description
제1도는 구형 입자를 분해하는 입자 분석기 단면의 개략적인 측면도이다.1 is a schematic side view of a cross section of a particle analyzer that breaks down spherical particles.
제2도는 제1도의 X-X 선을 따라 취한 분석기 단면도이다.2 is a cross-sectional view of the analyzer taken along the X-X line of FIG.
제3도는 비대칭 분석 시스템의 단면의 개략적인 측면도이다.3 is a schematic side view of a cross section of an asymmetric analysis system.
본 발명은 유체 생성 입자(fluid borne pontile)의 분석, 특히 이러한 입자의 비대칭성을 고찰하는 기술에 관한 것이다. 예를 들어 에어레졸(aerosol), 에어레졸 확산, 공기 부유 입자 오염 제어의 연구에서는, 어느정도 알고 있는 개별 입자의 기하 형상 및 대칭성과 함께 1 내지 10 미크론 정도의 직경의 입자 크기 분류를 빠르게 결정할 필요성이 있다. 상기 정보는 예를 들어 구형 대칭인 입자를 확인할 수 있어, 비구형의 입자인 다른 고형체를 함유하는 환경에 있는 액체의 작은 물방울의 카운터/모니터 동작을 허용한다. 본원의 명세서에서, 상기 입자는 고형체에 그리고 액체의 낙하에 모두 적용된다.The present invention relates to the analysis of fluid borne pontiles, and in particular to techniques for considering the asymmetry of such particles. For example, in the study of aerosol, aerosol diffusion, and airborne particle contamination control, there is a need to quickly determine particle size classifications on the order of 1 to 10 microns in diameter, together with some known geometry and symmetry of individual particles. have. The information can, for example, identify particles that are spherical symmetric, allowing counter / monitor operation of droplets of liquid in an environment containing other solids that are non-spherical particles. In the present specification, the particles apply both to the solid and to the drop of the liquid.
상기 기술은 샘플내의 구형 및 비구형 입자간의 구별이 가능하고 그리고 각 형태의 카운트 가능한, 통상적인 초당 20,000입자의 비율로 샘플내의 개별입자를 카운트할 수 있어야 한다. 또한, 0.5 내지 15미크론의 직경을 가진 구형 입자의 다수의 크기 밴드로 분류하고, 이러한 분류와 관련하여 비구형에 부합하는 입자도 분류하여, 사이즈 스펙트럼내의 입자를 무시한다.The technique must be able to distinguish between spherical and non-spherical particles in the sample and be able to count individual particles in the sample at a typical rate of 20,000 particles per second, each type of countable. It also classifies into a number of size bands of spherical particles having a diameter of 0.5 to 15 microns, and also classifies particles that conform to non-spherical shapes in connection with this classification, ignoring particles in the size spectrum.
상업적으로 이용가능한 여러 기구를 사용하는 입자 시험용의 통상적인 기술은, 입자에 의해 스캐터링되는 전자기 방사선 분석기와 검출기를 사용한다. 이러한 모든 기구는, 휴대된 입자가 입사 전자기 방사선에 의해 조명되는 장소에서 센싱 볼륨(sensing volume)을 통하는 샘플 공기를 구동하는 기계적 메카니즘을 사용하고 있다. 입자에 의해 스캐터링되는 방사선은, 이로부터 정보가 적절한 전기 회로에 의해 유출될 수 있는 전기 신호로 에너지를 변환하는 한개 이상의 검출기에 의해 수신된다.Conventional techniques for particle testing using several commercially available instruments use electromagnetic radiation analyzers and detectors scattered by particles. All of these instruments use mechanical mechanisms to drive the sample air through the sensing volume where the carried particles are illuminated by incident electromagnetic radiation. The radiation scattered by the particles is received by one or more detectors from which energy is converted into electrical signals from which information can be leaked by a suitable electrical circuit.
상업적으로 허용가능한 제1부류의 기구는, 다량의 입자로부터의 스캐어링되는 방사선의 동시에 허용하고, 가스 또는 공기의 단위 체적량의 미립자 질량에 적합한 평균치 또는 입자체의 통계적 평균 크기를 결정하는데 이러한 정보를 사용한다. 이들 기구는 개별 입자를 시험하는데는 사용할 수 없으며 따라서, 입자형태(morphology)에 대한 정보 또는 정확한 입자 카운트를 산출할 수가 없다.A first class of commercially acceptable instruments allows for the simultaneous acceptance of scattered radiation from a large amount of particles and determining the average or statistical mean size of the particle body suitable for the particulate mass of a unit volume of gas or air. Use information. These instruments cannot be used to test individual particles and therefore cannot calculate information about particle morphology or accurate particle counts.
제2부류의 기구는, 가스내에 층류 특성을 사용하여 보다 작은 센싱 볼륨으로 입자를 한정하여, 임의의 방식의 입사 전자기 방사선을 포커스하여, 입자 카운트를 하고, 대략적 크기 분류를 할 수 있는 개별 입자의 시험을 할 수 있다.The second class of mechanisms utilizes laminar flow characteristics in gas to confine particles to smaller sensing volumes, focusing incident electromagnetic radiation in any manner, counting particles, and approximating the size of individual particles. You can do a test.
그러므로 종래의 기구는, 입자 크기와 입자 카운트에 대한 정보를 어느정도까지는 제공할 수 있지만, 개별 유체 생성 입자의 비대칭에 대한 정보를 줄 수 있는 이용가능한 기구는 전혀 없다.Thus, while conventional instruments can provide information to some extent on particle size and particle count, no instrument is available that can give information about the asymmetry of individual fluid producing particles.
따라서, 개별 유체 생성 입자를 분석할 수 있고 예를 들면 비대칭 요소를 개별 입자로 디스크 라이브하여, 입자의 비대칭성에 대한 정보를 제공할 수 있는 입자 분석기가 필요하다.Accordingly, there is a need for particle analyzers that can analyze individual fluid generating particles and provide information about the asymmetry of the particles, for example, by discretizing asymmetric elements into individual particles.
본 발명의 일 양상에 따르면, 층류 유체 형태의 유체 샘플을 방출시키는 수단과, 상기 샘플을 방사선 비임으로 조명하는 수단과, 스캐터링된 방사선을 광수집기로 방사시켜 방향 설정시키는 수단과, 입자를 묘사하기 위하여 광수집기로부터 데이타를 유출시키는 수단과, 입자 비대칭의 정도를 결정하기 위하여 공지된 형태의 데이타와 상기 데이타를 비교하는 수단을 포함하는 입자 분석기가 제공된다.According to one aspect of the invention, there is provided a means for releasing a fluid sample in the form of a laminar fluid, means for illuminating said sample with a radiation beam, means for radiating and directing scattered radiation to a photocollector, and particles. Particle analyzers are provided that comprise means for extracting data from a photocollector and means for comparing the data with known forms of data to determine the degree of particle asymmetry.
방사선 비임은 레이저에 의해 양호하게 제공되고, 스캐터링된 방사선은, 양호하게 방사선이 방사 수집기쪽으로 향하는 타원형 거울인, 오목 반사경에 의해 반사된다. 저 각도로 스캐터링되는 방사선은, 타원형 거울내의 구멍으로부터, 방사선 수집기에 의해, 스캐터링이되지 않은 비임 둘레에 중앙 집중식으로 정열된 광섬유를 양호하게 유도하는, 제2스캐터링실에서 검출된다. 다음에, 수집된 방사선은 전기 신호로 변환되어, 처리되고, 분석되며, 공지된 입자 형태의 데이타와 비교하여 입자가 비대칭 요소로 된다.The radiation beam is preferably provided by a laser and the scattered radiation is reflected by a concave reflector, which is preferably an elliptical mirror with the radiation directed towards the radiation collector. The scattered radiation at a low angle is detected in the second scattering chamber, from the hole in the elliptical mirror, by the radiation collector, to guide the optically centrally aligned optical fiber around the non-scattered beam. The collected radiation is then converted into an electrical signal, processed, analyzed, and the particles become asymmetrical elements compared to data in the form of known particles.
더우기 비대칭 요소로 부가하여, 입자 크기도 결정될 수 있다. 다수의 입자를 비대칭 요소로 할 수 있고, 상호 상관된 크기의 스펙트럼과 결합된 이러한 동작의 누적의 결과는, 단일 입자만을 취하는 데이타보다 더 많은 값이 되는 환경에서 입자의 지형성 지문(thumb print)을 발생시키는데 사용된다.Furthermore, in addition to the asymmetrical element, the particle size can also be determined. The result of this accumulation of motion, which can be a large number of particles as an asymmetric element and combined with a spectrum of correlated sizes, results in a particle print in the environment in which the value is more than the data taking only a single particle. Used to generate
구형을 보면, 구형 입자 유별 기준은, 임의로 평광된 또는, 원으로 평광된 방사선의 조명 비임의 축에 대한 대칭적인 스캐터링으로서 용이하게 한정된다. 그러므로 다수의 방사선 수집기는 오목 반사경의 반사축에 대하여 방사 대칭적으로 위치한다.Looking at the spherical shape, the spherical particle classification criteria are easily defined as symmetrical scattering about the axis of the illumination beam of radiation that is optionally flattened or circularly flattened. Therefore, the plurality of radiation collectors are radially symmetrical with respect to the reflection axis of the concave reflector.
비대칭의 정도를 보면, 수집기의 정렬이 입자 비대칭 분석용으로 최적한 것이라고 추정할 수는 없다. 스캐터링 챔버의 디자인은 특정하게 요구되는 수집기 구조의 가요성과, 임의로 변화되는 위치를 허용하여야만 한다.The degree of asymmetry does not suggest that the collector alignment is optimal for particle asymmetry analysis. The design of the scattering chamber must allow for the flexibility of the specifically required collector structure and the location of the arbitrarily varying positions.
이러한 기술의 진보는, 기계적으로 극히 어려운 시험인 것과는 달리, 광섬유 수집 광학기를 사용하여 대부분의 스캐터링 범위 둘레의 임의 위치에서 대부분의 수집기를 위치 설정하는 수행을 용이하게 모의 실험할 수 있다는 것이다. 따라서 높은 가요성으로, 다양한 검출 기하 형상이 상기 스캐터링실 자체에 대한 기계적 변경의 필요성없이 시험 가능하다.The advance in this technique is that, unlike mechanically extremely difficult tests, it is easy to simulate the performance of positioning most collectors at any location around most of the scattering range using optical fiber collection optics. Thus, with high flexibility, various detection geometries can be tested without the need for mechanical changes to the scattering chamber itself.
본 발명의 제2양상에 따라서, 유체 생성 입자의 비대칭성을 결정하는 방법은; 유체 샘플을 층류 형태로 제공하는 단계와; 방사선 비임으로 샘플을 조명하는 단계와; 개별입자에 의해 스캐터링된 방사선을 방사선 수집기로 반사하는 단계와; 입자를 디스크라이브(describe)하는 광 수집기로부터 데이타를 유출하는 단계와; 입자 비대칭의 정도를 결정하기 위하여 상기 데이타를 공지된 형태의 데이타와 비교하는 단계를 포함한다.According to a second aspect of the invention, a method of determining asymmetry of a fluid producing particle; Providing a fluid sample in laminar flow form; Illuminating the sample with a radiation beam; Reflecting the radiation scattered by the individual particles to a radiation collector; Extracting data from a light collector that describes the particles; Comparing the data with known types of data to determine the degree of particle asymmetry.
상기 샘플은 에어러졸이다.The sample is an aerosol.
본 발명의 2개의 실시예를 첨부 도면을 참고로 하여 예를 들어 이하에 설명한다.Two embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings, for example.
제1도는 포물선 형태의 오목 반사경(1)의 스캐터링 챔버(2)의 한쪽 단부에 위치되고 구형 입자만이 분석되는 본 발명의 기본 형태를 도시한 도면이다. 반사경의 주축에 있는 스캐터링 챔버(2)와 반사경(1)내의 구멍(5)쪽으로 방사선 비임(4)을 향하게 하는 레이저(3)는 스캐터링 챔버(2)의 다른 단부에 장착되고 반사경(1)의 주축에 정렬된다. 구멍(5)을 통과한 후, 상기 비임(4)은 전형적으로 레일리 호른(Rayleigh horn)인, 비임 덤프(6)로 유입된다.FIG. 1 shows the basic form of the present invention in which only spherical particles are analyzed and located at one end of the scattering chamber 2 of the parabolic
층류 공기의 샘플(7)은 포물선 형태의 반사경(1)의 촛점에서 직각으로 레이저 비임(4)을 차단하기 위하여 스캐터링 챔버(2)내로 향해진다.The
샘플(7)의 입자는, 레이저(3)에 인접한 방사선 수집기(8)쪽으로 주축에 평행하게 반사시키는 반사경(1)쪽으로 비임(4)에서 나오는 방사선을 편향시킨다. 방사선 수집기(8)는 광 배율기 유니트(photo multiplier unit), 상기 유니트로 리드되는 광섬유,광선을 섬유 혹은 유니트로 향해지게 하는 렌즈가 일 수 있다.The particles of the
제2도에 도시된 바와 같이, 3개의 방사선 수집기(8)가 비임(4) 둘레에 방사적으로 배치되어 있다. 이러한 구서에서, 대칭적인 스캐터링은 구형 입자를 확인할 수 있게 방향 설정이 된다. 실제로, 다수개의 방사선 수집기(8)가 방사선 비임(4)에 대해 방사적으로 배치될 수 있다.As shown in FIG. 2, three
제3도는 개별적으로 입자를 분해하여, 비대칭 요소에 속하게 할 수 있는 본 발명에 따른 입자 분석기의 양호한 실시예를 도시한다. 상기 실시예에서는, 레이저(3)는 반사경(1)이 주축에 대해 90°로 스캐터링 챔버(2) 밑에 장착된다. 비임(4)은 축상에 적절히 위치된 플리즘 또는 거울(9)에 의해 반사경의 주축으로 반사된다. 실제로, 레이저(3)는 상기 축상에 적절한 각도의 거울(90)을 가진 스캐터링 챔버(2)에 대해 임의의 장소에 바로 장착된다.3 shows a preferred embodiment of a particle analyzer according to the invention which can decompose particles individually, so that they belong to an asymmetrical element. In this embodiment, the
또한, 제3도는, 타원체의 한 촛점인 샘플(7)과 비임(4)사이에 차단 점을 가진 타원체형 반사경(10)과, 반사된 방사선이 스캐터링 챔버(2) 단부의 방사선 수집기(8)에 평행하도록 제2촛점에 인접 장착된 수집기 렌즈(11)를 구비하는 스캐터링 챔버(2)를 도시한다. 이점에서, 세기 분포는 입자에 의해 대략 0.84의 구내로 스캐터링되는 공간 변경 복제를 나타낸다. 도면은 일정 속도로 공기층을 공급하는 시쓰(sheath) 공기 흡입구(12)에 의해서 층류에 전달되는 유체의 샘플(7)을 나타낸다.FIG. 3 also shows an
상기 비임(4) 방향에 대한 저 각도로 스캐터링되는 방사선을 포획하여 분석하는데 많은 어려움이 있다는 것은 경험으로 공지된 사실이다. 극히 작은 각도(1°내지 3°)에서는, 이들이 지속된 촛점 광으로부터 스캐터링되는 빛에 의해 가라앉게 된다. 이를 해결하기 위하여, 제2스캐터링실(13)이 주 스캐터링 챔버(2)상의 오목반사경(1)의 주축과 동축으로 도입된다. 방사선 수집기(8)는 저각도의 편광들을 수집하도록 스캐터링 챔버내에 적절하게 위치된다.It is known from experience that there are many difficulties in capturing and analyzing scattered radiation at low angles to the beam 4 direction. At extremely small angles (1 ° to 3 °), they are sunk by the light scattered from the sustained focus light. In order to solve this problem, the
제3도는 광섬유(14)가 비임(4) 둘레에 배치되어 있는 제2스캐터링 챔버(13)를 도시한다. 광섬유(14)는 비임(4)주변의 동심의 림에 배치된다. 광섬유(14)는 수집된 방사선을 처리 및 분석을 위한 전기적 신호로 변환시키기 위한 방사선 수집기로서 작용한다.3 shows a
제1도에 도시된 바와 같이, 제2스캐터링 챔버(13)는 제1 또는 근거리 촛점에서 방사선 수집기(15)와, 제2 또는 원거리 촛점으로서의 샘플(7)과 비임(4)의 교점을 가지고, 수직적 타원체인 제2오목 반사경(14)을 달리 가질 수 있다. 따라서 저 각도로 편향되는 방사선은 타원형 반사경에 부딪쳐서 방사선 수집기(15)로 향한다.As shown in FIG. 1, the
방사선수집기(15)는 제1도에 도시된 바와 같이 이러한 방향에 대하여 90°로 위치될 수 있거나, 제1스캐터링 챔버상의 구멍(5)과 면하도록 위치될 수 있다. 90°의 배치는 저 각도 편향의 방사선을 훨씬 더 많이 수집할 수 있지만 수집기의 대향 방향으로만 오직 편향이 기록되므로 전체적으로 더 적게 된다.The
제1도는 샘플 둘레에 공급되어지는 일정한 속도의 여과된 공기 시쓰수단에 의해 층류로 공급되는 샘플(7)을 사용하는 방법을 설명한다. 샘플의 외부는 내부와 동일한 속도로 흐른다. 샘플의 외부는 샘플 흐름뒤에 정체 공기와의 마찰로 인하여, 보다 더 천천히 흐른다. 또한, 보다 중요하게는 시쓰용 공기를 공급하는 동축선 튜브는 입자의 층류를 제공하도록 입자를 샘플에 동적으로 촛점 형성되도록 설계한다. 그래서, 반사경의 촛점상의 입자 흐름은 일렬로 정렬시키기가 용이해진다.1 illustrates a method of using a
비대칭 입자 분석기는 다음과 같이 동작한다. 가스 레이저에 의해 생성되는 레이저 비임은 반사경의 주축에 직각으로 스캐터링 챔버에 유입되어, 반사경의 주축을 따라 90°로 반사된다. 따라서, 비임 축선에 대해 대략 19°내지 145°로 개별 입자에 의해 스캐터링되는 방사선은 상기 스캐터링 챔버의 후방에 있는 비구형 수집 렌즈내로 반사된다. 이러한 렌즈는 유입광을 평행하게 하고, 출력창(output window)을 가로지르는 세기 분배가 입자에 의해 구의 대략 0.84 정도내로 스캐터링되는 공간 변경 리플리커를 나타낸다.The asymmetric particle analyzer works as follows. The laser beam produced by the gas laser enters the scattering chamber at right angles to the major axis of the reflector and is reflected at 90 ° along the major axis of the reflector. Thus, radiation scattered by individual particles at approximately 19 ° to 145 ° with respect to the beam axis is reflected into the non-spherical collection lens at the rear of the scattering chamber. Such lenses exhibit spatially altered replicators where the incoming light is parallel and the intensity distribution across the output window is scattered within approximately 0.84 of the sphere by the particles.
상기 전술된 형태의 수집된 광으로 광분배를 측정하는 광섬유 검출기의 위치는 필요에 따라 변화될 수 있다.The position of the optical fiber detector for measuring light distribution with the collected light of the above-described type can be changed as necessary.
구형 입자를 결정하도록 상기 검출기는 출력창의 축선에 대하여 대칭적으로 배치된다.The detector is arranged symmetrically about the axis of the output window to determine spherical particles.
광섬유 렌즈의 사용으로 전체적으로 스캐터링하는 대부분의 구를 둘러싼 임의의 위치에서 다수의 검출기를 놓는 효과가 용이하게 시험된다.With the use of fiber optic lenses the effect of placing multiple detectors at any location surrounding most of the scattering spheres is easily tested.
공기된 형태의 스캐터링 형태의 실험적 결과와 이론적 모델의 결과에 기초하여, 연산에는 입자를 규명하는데 비대칭 요소가 사용된다.Based on the experimental results of the scattered form of the scattered form and the results of the theoretical model, asymmetrical elements are used in the computation of the particles.
비대칭성을 결정하는 입자로부터의 데이타의 처리는 예를들어 브리티시 인모스 칩 제조회사(the British Inmos chip manufacturers)에 의해 생산되는 트랜스퓨터(transputer)에 의해 조정된다.The processing of data from particles that determine asymmetry is coordinated by, for example, a transporter produced by the British Inmos chip manufacturers.
한 트랜스퓨터가 각각의 검출 채널용으로 사용된다. 이러한 방식에서, 채널로부터 데이타를 일렬로 받아들여 수행되는 시험은 재료 처리 데이타의 대체적인 증가를 동시적으로 제공하는 모든 채널에서 수행된다.One computer is used for each detection channel. In this way, tests performed by taking data in-line from a channel are performed on all channels that simultaneously provide a general increase in material processing data.
본 발명은 상술된 양호한 실시예를 참고로 설명되었지만, 본 발명은 청구범위에 한정되는 본 발명을 벗어나지 않는 범위내에서 다른 변경이 가능하다.Although the present invention has been described with reference to the above-described preferred embodiments, the present invention is capable of other changes without departing from the invention as defined by the claims.
Claims (2)
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB878726304A GB8726304D0 (en) | 1987-11-10 | 1987-11-10 | Particle asymmetry analyser |
GB8726304 | 1987-11-10 | ||
PCT/GB1988/000975 WO1989004471A1 (en) | 1987-11-10 | 1988-11-10 | Particle asymmetry analyser |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR890702013A KR890702013A (en) | 1989-12-22 |
KR0125917B1 true KR0125917B1 (en) | 1997-12-24 |
Family
ID=67742111
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019890701291A KR0125917B1 (en) | 1987-11-10 | 1988-10-11 | Particle asymmetry analysis |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR0125917B1 (en) |
-
1988
- 1988-10-11 KR KR1019890701291A patent/KR0125917B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR890702013A (en) | 1989-12-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0316171B1 (en) | Particle asymmetry analyser | |
US5043591A (en) | Portable particle analysers having plural detectors | |
EP0316190A1 (en) | Bush | |
US4348107A (en) | Orifice inside optical element | |
US4273443A (en) | Method and apparatus for measurement of reradiation in particle flow cell systems | |
JP6016830B2 (en) | Optical device | |
EP0416067B1 (en) | Method and apparatus for particle size analysis | |
US3873204A (en) | Optical extinction photoanalysis apparatus for small particles | |
EP0627073A1 (en) | Analysis of particle characteristics | |
US3462608A (en) | Method and apparatus for detecting suspended particles | |
GB2125181A (en) | Flow cells for particle study | |
KR0125917B1 (en) | Particle asymmetry analysis | |
GB2041516A (en) | Methods and apparatus for measurement of reradiation in particle flow cell systems | |
JPH0220053B2 (en) | ||
KR0125916B1 (en) | Portable particle analyzers | |
CA1183371A (en) | Orifice inside optical element | |
Kaye et al. | Apparatus and Method for the Analysis of Particle Characteristics using Monotonically Scattered light. | |
Ludlow et al. | Particle Asymmetry Analyser | |
Whitehall et al. | Europaisches Patentamt European Patent Office Office europeen des brevets |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20030919 Year of fee payment: 7 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |