JPS63317931A - 光学ヘッド - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は記録坦体のディスクに対して相対的に移動し
ながら光学的手段により情報の記録再生を行なう光学ヘ
ッド、とくにそのレーザ光源に関するものである。

〔従来の技術〕

第３図は例えば特開昭５９−２１０６８４号に示された
従来の光学ヘッドを示す構成図４第４図は第３図の光学
ヘッドのレーザ光源をなす半導体レーザの部分断面図で
ある。第３図において（１）は記録媒体のディスクであ
ってその記録面にディジタル情報信号がビットの有無に
よるデータ・ビットとして記録されている。（２）は光
学ヘッドのレーザ光源をなす半導体レーザ、（３）は光
学ヘッドを構成する光学系であって上記半導体レーザＦ
２１の射出するレーザ光を成形・集光しまた上記ディス
ク（１）の記録面で変調を受けて反射し再入射した反射
光を再生信号、フォカス信号及びトラッキング信号を検
出するために分離する。また第４図においてａはレーザ
光を放射する直方体の半導体レーザ・チップ、囚はこの
半導体レーザ・チップを取付ける取付台のはこの取付台
を固定するベース、２４１はこのベースに固着され上記
半導本レーザ・チップＱυの後方発光端面から放射する
レーザ光の光量を検出する光検知器、（ハ）は上記ベー
ス（２３）に固定した外囲壁、＠はこの外囲壁に固着さ
れ上記半導体レーザチップＱυの前方発光端面から放射
するレーザ光の射出する射出孔を有するウィンドウであ
る。

従来の光学ヘッドは上記のように構成され半導体レーザ
・チップｃ２］）はベースの、外囲壁（２）、ウィンド
ウ１２６）で囲繞されその前方発光端面から放射するレ
ーザ光はウィンドウ囚）の射出孔から外部に射出すると
共にその後方発光端面から放射するレーザ光の光量を光
検知器はで検出する。ウィンド（支）の射出孔から射出
したレーザ光は光学系（３１で整形集光されディスク（
１）の記録面に焦点を形成する。

ディスク（１）の記録面で反射しその記録面のデータ・
ピットに対応して変調を受げた反射光は再び光学系（３
１に入射して再生信号、フォーカス・エラ信号及びトラ
ッキング・エラ信号を検出するために分離され光検知器
Ｑ４Ｉで検出したレーザ光の光量と共に光学ヘッドを制
御するために利用される。ところでディスク＋１１の記
録面で反射し変調を受けて光学系＋３１　Ｋ再入射した
反射光の一部は光学系（３）を透過して再び半導本レー
ザ（２）に入射するはか光学系＋３１を構成する光学要
素やその組み立ての精度の不備によっても光学系（３；
に入射したレーザ光の一部が反射して再び半導体レーザ
（２）に入射するためこれらの戻り反射光が半導体レー
ザチップ（２１１の放射するレーザ光の光量検出に影響
を及ぼす。したがってこの戻り反射光が変動すると半導
体レーザ（２）から射出するレーザ光の光量も変動する
がこの変動は主に半４体レーザ・チップ（２１１の前方
発光端面とレーザ光の反射するディスク（１）の記録面
との間の光軸距離の変動によることが知られておりまた
光軸距離の変動を生じる原因となるのはディスク（１）
が回転するときの記録面の面振れである。ディスク（１
）は回転すると一１００μ程度の範囲内でその回転軸方
向に而振れをおこす例がある。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記のような従来の光学ヘッドでは光検知器（至）で検
出するレーザ光の光量が半導体レーザｆ２１に入る戻り
反射光の影響を受はで半導体レーザ・チップ２１１の前
方発光端面から放射するレーザ光の光量に正確に対応し
なくなったりまた半導体レーザ＋２１に入る戻り反射光
の変動により半導体レーザ・チップ２１）の前方発光端
面から放射するレーザ光の光量も変動すると言う問題点
がめった。

この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので光検知器で検出するレーザ光の光量が半導本レ
ーザに入る戻り反射光の影響を受けることはなく半導本
レーザの射出するレーザ光の光量に正確に対応すること
のできる光学ヘッドを得ることを目的とする。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明に係る光学ヘッドはレーザ光源から放射するレ
ーザ光の光量を検出すると共にこのレーザ光を光学系に
入射して整形・集光することにより回転駆動されるディ
スクの記録面に焦点を形成し変調を受行て反射し再び光
学系に入射して光学系の焦点制御に使用するトラッキン
グ・エラ・ビームと焦点の記録面での位置決め制御に使
用するトラッキング・エラ・ビームとを分離検出するも
のにおいてレーザ光源と光学系との間にあってレーザ光
源の側から入射するレーザ光を反射及び透過してそれぞ
れ反射レーザ光と透過レーザ光とに分離しかつ透過レー
ザ光を光学系に入射しこの光学系及び記録面で反射して
光学系の側から再入射する戻り反射光を反射レーザ光に
影響のない方向に反射及び透過するビーム・スプリッタ
、反射レーザ光に基づいてレーザ光の光量を検出する光
検知器を備えたものである。

〔作　用〕

この発明においてはビーム・スプリッタがレーザ光源の
側から入射するレーザ光を反射及び透過してそれぞれ反
射レーザ光と透過レーザ光とに分離しかつ透過レーザ光
を光学系に入射しこの光学系及び記録面で反射して光学
系の側から再入射する戻り反射光を反射レーザ光に影響
のない方向に反射及び透過する。

〔発明の実施例〕

第１図はこの発明による光学ヘッドの一実施例を示す構
成図、第２図は第１図に示す実施例の要部をなす半導体
レーザの部分断面図である。すなわち第１〜２図におい
て（１）は上記従来の光学ヘッドと全く同一のものであ
る。０１１は光学ヘッドを構成しレーザ光の射出する半
導体レーザ、　＋Ｉｌｌはレーザ光を放射する半導体レ
ーザ・チップ、（１りはこの半導体レーザ・チップを取
付はる取付台、（１３１はこの取付台を固定するベース
、（１４］は上記半導体レーザ・チップ（１１）の放射
するレーザ光の光址を検出する光検知器、０５）は上記
ベース１３１に固定した外囲壁。

叫は上記半導本レーザ・チップ［１１の放射するレーザ
光の光軸と所定の角度をなして傾斜し上記外囲壁叩に固
着された平板状のビーム・スプリッタ、（１６ａ）（１
６ｂ）はこのビーム・スプリッタのそれぞれ入射面と透
過面であって入射面には薄膜処理が施されている。０′
７１は上記光検知器財を取付けるマウント・ベース、■
はプリズムやレンズなどの光学要素のａｓｈ合わせから
なる光学系、ｔ３１）は上記半導本レーザ（ＩＱＩから
放射したレーザ光を入射させ上記ディスク（１）の記録
面で反射した反射光を分離するプリズム、■はこのプリ
ズムを透過したレーザ光を平行光線に整形するコリメー
タ・レンズ、（２）はこのコリメータ・レンズからの平
行光線を集光し上記ディスク（１）の記録面に焦点を形
成する対物レンズ、（２）は上記プリズムｃ（１）で分
離した上記ディスク（１）の記録面からの反射光を集光
する集光レンズ、（至）はこの集光レンズで集光した反
射光を受けて光学ヘッドの焦点制御または位置決め制御
に使用する制御信号を検出するディテクタである。

上記のように構成された光学ヘッドにおいては半導体レ
ーザ・チップ＋Ｉｌｌから放射するレーザ光がビーム・
スプリッタ叫に入射し入射面（１６ａ）で反射して光検
知器財に入射する反射レーザ光と入射面（Ｌ６ａ）及び
透過面（１６ｂ）を透過する透過レーザ光とに分離され
る。この透過レーザ光は光学系（至）に入射しプリズム
印）、コリメータ・レンズ■及び対物レンズ東で整形集
光され回転駆動されるディスク（１）の記録面に焦点を
形成する。そしてこの記録面のデータ・ビットに対応し
て変調を受けた反射光は光学系■に再入射し対物レンズ
■及びコリメータ・レンズ（３２１を経てプリズム（３
１）でその大部分が光学ヘッドの焦点制御に使用するフ
ォーカス・エラ・ビームまたはデ、イスク（１）の記録
面に形成する焦点の位置決め制御に使用するトラッキン
グ・エラ・ビームとして分離され集光レンズ（財）でデ
ィテクタ（３５１に焦点を形成すると共に残りの一部は
半４体レーザ００）に再入射する戻り反射光となる。こ
の戻り反射光はビーム・スプリッタ（１６１の透過面（
１６ｂ）を経て入射面（１６ａ）で一部が反射され再び
透過面（１６ｂ）を経て放射するが残りの大部分は入射
面（１６ａ）を透過して半導体レーザ・チップＩＩＩニ
逆戻りし光検知器ｕ４１の方向の光路をとらないので半
４体レーザ・チップσＤから放射してビーム・スプリッ
タ０ωの入射面（１６ａ）で反射し光検知器（襖に入射
する反射レーザ光に影響することはない。したがって光
検知器０滲に入射する反射レーザ光の光址を正確に検出
することができこの光皺に対応して半４Ｔレーザ・チッ
プＩｌｌからレーザ光を放射することになる。

なお上記実施例にはビーム・スプリッタ０６１　ハ平板
状であって半導体レーザ・チップ［１１の放射するレー
ザ光の光軸と所定の角度をなして傾斜して外囲壁１５１
に固着するものとしたが同じ作用をするものであれは池
の形状のものであってもよい。

また上記実施例では光学系はプリズムｔ３１）、コリメ
ータ・レンズ０２１．対物レンズ關、集光レンズ（至）
及びディテクターから構成されるものとしたが曲の構成
Ｖこよるものであってもよいことは百う１でもない。

〔発明の効果〕

この発明は以上説明したとおりレーザ光源と光学系との
間にビーム・スプリッタを設はレーザ光源の側から入射
するレーザ光を反射及び透過してそれぞれ反射レーザ光
と透過レーザ光とに分離しかつ透通レーザ光を光学系に
入射しこの光字系及びディスクの記録面で反射して光学
系側から再入射する戻り反射光を反射レーザ光に影響の
ない方向に反射及び透過するので戻り反射光の影響を受
けることなく反射レーザ光に基づいてレーザ光の光献を
正確に検出することができると共に戻り反射光の変動の
影響も受けないと首う効果かめる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明による光学ヘッドの一実施例を示す構
成図、第２図はその光学ヘッドの要部をなす半導体レー
ザの部分断面図、７１Ａ３図は従来の光学ヘッドを示す
構成図、第４図はそのレーザ光源である半導体レーザの
部分断面図である。 図において（１）はディスク、（１０１は半導体レーザ
。 ０υは半導体レーザ・チップに口Φは光検知器、ｏ６）
はビーム・スプリッタ、（１６１Ｘ１６ｂ）はそれぞれ
反射面と透過面、田は光学系、　Ｃ＋Ｕはプリズム、＠
はコリメータ・レンズ、（２）は対物レンズ、（至）は
集光レンズ、（至）はディテクタである。 なお各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 第１図 第２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. レーザ光源から放射するレーザ光の光量を検出すると共
   に上記レーザ光を光学系に入射して整形集光することに
   より回転駆動されるディスクの記録面に焦点を形成し変
   調を受けて反射し再び上記光学系に入射して上記光学系
   の焦点制御に使用するフォーカス・エラ・ビームと上記
   焦点の上記記録面での位置決め制御に使用するトラッキ
   ング・エラ・ビームとを分離検出するものにおいて、上
   記レーザ光源と上記光学系との間にあつて上記レーザ光
   源の側から入射する上記レーザ光を反射及び透過してそ
   れぞれ反射レーザ光と透過レーザ光とに分離し、かつ上
   記透過レーザ光を上記光学系に入射し上記光学系及び上
   記記録面で反射して上記光学系の側から再入射する戻り
   反射光を上記反射レーザ光に影響のない方向に反射及び
   透過するビーム・スプリッタ、上記反射レーザ光に基づ
   いて上記レーザ光の光量を検出する光検知器を備えたこ
   とを特徴とする光学ヘッド。