JPS6041824B2 - Gas chromatograph mass spectrometer - Google Patents
Gas chromatograph mass spectrometerInfo
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- JPS6041824B2 JPS6041824B2 JP55054193A JP5419380A JPS6041824B2 JP S6041824 B2 JPS6041824 B2 JP S6041824B2 JP 55054193 A JP55054193 A JP 55054193A JP 5419380 A JP5419380 A JP 5419380A JP S6041824 B2 JPS6041824 B2 JP S6041824B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はガスクロマトグラフ質量分析装置に係わり特に
溶媒を含む試料の溶媒ピークを検出することのできるガ
スクロマトグラフ質量分析装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a gas chromatograph mass spectrometer, and more particularly to a gas chromatograph mass spectrometer capable of detecting a solvent peak of a sample containing a solvent.
一般にガスクロマトグラフ質量分析装置は第1図に示す
如き構成を有している。Generally, a gas chromatograph mass spectrometer has a configuration as shown in FIG.
すなわち、インジェクション2に接続されているカラム
3にはプレカツトバルブ4が接続されている。このイン
ジェクション2とカラム3によつてガスクロマトグラフ
1が構成されている。またプレカツトバルブ4の出口側
には分子セパレータ7を介してイオンツ ーレ L、ι
、一、゜、j 」L ゛jl6、゛ ゛ブ4の他方の出
口には排気装置5が接続されておりカラム3から排出さ
れてくる溶媒を含んだ試料のうち溶媒だけを排気装置5
によつてプレカツトバルブから排出する′ものである。
また分子セパレータ7にはロータリーポンプ6が接続さ
れている。この分子セパレータ7はガスクロマトグラフ
1のキャリアガスを排出するために用いられているもの
であり、試料のみをイオン源8に送出できるようにする
ためのものである。このイオン源8はイオン飛出口を有
し、試料をイオン化してこの飛出口より出力するもので
ある。イオン源8によつてイオンビーム化されたイオン
は磁場9に送出される。この磁場9はイオンに磁界をか
ける所であり、イオンを質量ごとに分離して検知器10
に送出するものである。このように構成されるクロマト
グラフ質量分析装置を用いた試料の測定は次のように行
なわれる。That is, a pre-cut valve 4 is connected to the column 3 which is connected to the injection 2. The injection 2 and column 3 constitute a gas chromatograph 1. In addition, on the outlet side of the pre-cut valve 4, ion tubes L and ι are connected via a molecular separator 7.
, 1, ゜, j ''L ゛jl6,゛ An exhaust device 5 is connected to the other outlet of the tube 4, and only the solvent of the sample containing the solvent discharged from the column 3 is removed from the exhaust device 5.
It is discharged from the pre-cut valve by
Further, a rotary pump 6 is connected to the molecular separator 7. This molecular separator 7 is used to discharge the carrier gas from the gas chromatograph 1, and allows only the sample to be sent to the ion source 8. The ion source 8 has an ion ejection port, and ionizes the sample and outputs it from the ejection port. Ions converted into an ion beam by the ion source 8 are sent into a magnetic field 9 . This magnetic field 9 is a place where a magnetic field is applied to the ions, and the ions are separated by mass and sent to the detector 10.
It is sent to Measurement of a sample using the chromatograph mass spectrometer configured as described above is performed as follows.
すなわち、測定する試料(溶媒を含む)をガスクロマト
グラフ1のインジェクション2へ注入1すると注入され
た試料はガスクロマトグラフ1のカラム3を通つて分離
され、プレカツトバルブ4へ送出される。このプレカツ
トバルブ4は排気装置5側の弁を開いているときは分子
セパレータ7側の弁は閉じられており逆に分子セパレー
タ7側・の弁が開いているときには排気装置5側の弁は
閉じられているものである。いまプレカットバルブ4が
閉じられていればすなわち分子セパレータ7側の弁が閉
じられていれば排気装置5によりその試料はすべて排気
され、プレカットバルブ4が開いていればすなわち分子
セパレータ7側の弁が開いていればその試料は排気され
ることなく分子セパレータ7へ送出される。この分子セ
パレータ7では、ガスクロマトグラフ1のキャリアガス
として使用されるヘリウムガスをロータリーポンプ6に
よつて排気し、試料のみをイオン源8へ到達させるもの
である。このようにイオン源8内に入つた試料はイオン
化されさらにイオンビームとなつてイオン源8より出射
される。このイオンビームは磁場9によつて質量分散し
、磁場強度に応じてM:質量数e:電荷(電子電荷)
K:定数
B:磁場強度
V:イオン加速電圧
なる式を満足するイオンのみか検知器10に捕獲され、
マススペクトルが得られる。That is, when a sample to be measured (including a solvent) is injected 1 into the injection port 2 of the gas chromatograph 1, the injected sample is separated through the column 3 of the gas chromatograph 1 and sent to the pre-cut valve 4. In this pre-cut valve 4, when the valve on the exhaust device 5 side is open, the valve on the molecular separator 7 side is closed, and conversely, when the valve on the molecular separator 7 side is open, the valve on the exhaust device 5 side is closed. It is closed. If the pre-cut valve 4 is currently closed, that is, if the valve on the molecular separator 7 side is closed, all the sample is exhausted by the exhaust device 5, and if the pre-cut valve 4 is open, that is, the valve on the molecular separator 7 side is closed. If it is open, the sample is sent to the molecular separator 7 without being evacuated. In this molecular separator 7, helium gas used as a carrier gas for the gas chromatograph 1 is evacuated by a rotary pump 6, and only the sample is allowed to reach the ion source 8. The sample that has entered the ion source 8 in this manner is ionized and further emitted from the ion source 8 as an ion beam. The mass of this ion beam is dispersed by the magnetic field 9, and depending on the magnetic field strength, it is detected whether only ions satisfy the following formula: M: mass number e: electric charge (electronic charge) K: constant B: magnetic field strength V: ion acceleration voltage Captured by vessel 10,
A mass spectrum is obtained.
通常の測定に当つては、イオン加速電圧Vは一定に保ち
磁場強度Bを変化させてマススペクトルを得ることは周
知の通りである。It is well known that in normal measurements, the ion accelerating voltage V is kept constant and the magnetic field strength B is varied to obtain a mass spectrum.
前述のように試料中の溶媒を排気装置5によつて排気す
るのは溶媒の量が測定しようとする試料の量より極端に
多いため、溶媒を排気せずにイオン源8内に入れるとイ
オン源8の汚れの原因となり、これは質量分析装置の分
解能の低下、感度の低下を招くことになるからである。As mentioned above, if the solvent in the sample is evacuated by the exhaust device 5, the amount of solvent is extremely larger than the amount of the sample to be measured, so if the solvent is put into the ion source 8 without being evacuated, the ions will This is because it causes contamination of the source 8, which leads to a decrease in resolution and sensitivity of the mass spectrometer.
このプレカットバルブ4によつて溶媒を分離する方法は
、通常クロマトグラフ1のカラム3によつて溶媒が試料
よりも早く分離されプレカットバルブ4に達する.ため
、最初はこのプレカットバルブ4を閉じて(分子セパレ
ータ7側を閉じる)おき、溶媒が排気装置5を介して排
気されてから開け(排気装置5側を閉じ分子セパレータ
7側を開ける)、試料のみをイオン源8に入れる。この
ような溶媒の排気はクロマトグラフ質量分析装置のプレ
カットバルブ排気部の真空度を検出しプレカットバルブ
と排気装置を駆動して行なわれ、その真空度の検出とプ
レカットバルブの駆動は第2図に示す如き回路によつて
行なわれる。In this method of separating the solvent using the pre-cut valve 4, the solvent is usually separated by the column 3 of the chromatograph 1 faster than the sample and reaches the pre-cut valve 4. Therefore, the pre-cut valve 4 is initially closed (the molecular separator 7 side is closed), and after the solvent has been exhausted through the exhaust device 5, it is opened (the exhaust device 5 side is closed and the molecular separator 7 side is opened). into the ion source 8. Such solvent evacuation is performed by detecting the degree of vacuum at the pre-cut valve exhaust part of the chromatograph mass spectrometer and driving the pre-cut valve and exhaust device. The detection of the degree of vacuum and the operation of the pre-cut valve are shown in Figure 2. This is done by a circuit as shown.
通常プレカットバルブ4は閉じており(分子セパレータ
7側が閉じ排気装置5側が開いている)、クロマトグラ
フ1のカラム3からの流出物は全て排気装置5によつて
排気されるように構成されている。そこで、ガスクロマ
トグラフ1に溶媒を含んだ試料3が注入されるとこのク
ロマトグラフ1のカラム3を通つて試料成分と分離され
てガスクロマトグラフ1のカラム3から先に流出してく
る溶ノ媒によつて、当初真空であつたプレカットバルブ
4と排気装置5の間の排気管内の真空度が低下する。こ
の真空度を検出する真空測定素子11が第1図のプレカ
ットバルブ4と排気装置5の間の排気用管内に取付けら
れている。この真空測定素子11には真空測定回路12
が接続されておりこの真空測定回路12の出力端には抵
抗R1を介して差動増幅器14の負入力端子が接続され
ている。またこの差動増幅器14の正入力端子は接地さ
れており、負入力端子には抵抗R4を介してしきい゛値
設定可変抵抗13が接続されている。またこの差動増幅
器14の出力端には抵抗R3を介して差動増幅器15の
負入力端子が接続されている。この差動増幅器14は抵
抗R2を介して負帰環ループが形成されている。また差
動増幅器15の正入力端子は接地されており出力端子は
抵抗R5を介して差動増幅器15の負入力端子に接続さ
れている。またこの差動増幅器15の出力端には抵抗R
5を介してタイマ16の入力端子が接続されている。ま
た抵抗R6とタイマ16の入力端子との接続点にはダイ
オードD1のアノードとダイオードD2のカソードとが
接続されておりこのダイオードD1のカソードには(+
)5■の電圧が常に印加されておりダイオードD2のア
ノードは接地されている。またタイマ16の出力端には
インバータ17を介してトランジスタ1゛r1のベース
が接続されておりこのトランジスタTrlのエミッタは
接地されている。またこのトランジスタTrlのコレク
タには電磁駆動弁であるプレカットバルブ4が接続され
ておりこのプレカットバルブ4には常時(+)24Vの
電圧が印加されている。このプレカットバルブ4の入力
端子と出力端子とはダイオードD3によつて架橋されて
いる。このように構成されるから、真空測定素子11に
よつて真空度を検出し、真空測定回路12によつて増幅
され差動増幅器14へ入力される。Normally, the pre-cut valve 4 is closed (the molecular separator 7 side is closed and the exhaust device 5 side is open), and the configuration is such that all the effluent from the column 3 of the chromatograph 1 is exhausted by the exhaust device 5. . Therefore, when a sample 3 containing a solvent is injected into the gas chromatograph 1, it passes through the column 3 of the chromatograph 1, is separated from the sample components, and becomes the solvent that flows out from the column 3 of the gas chromatograph 1 first. Therefore, the degree of vacuum in the exhaust pipe between the pre-cut valve 4 and the exhaust device 5, which was initially under vacuum, decreases. A vacuum measuring element 11 for detecting the degree of vacuum is installed in the exhaust pipe between the pre-cut valve 4 and the exhaust device 5 shown in FIG. This vacuum measuring element 11 has a vacuum measuring circuit 12.
The negative input terminal of a differential amplifier 14 is connected to the output terminal of the vacuum measurement circuit 12 via a resistor R1. Further, the positive input terminal of this differential amplifier 14 is grounded, and the threshold value setting variable resistor 13 is connected to the negative input terminal via a resistor R4. Further, the negative input terminal of a differential amplifier 15 is connected to the output terminal of the differential amplifier 14 via a resistor R3. A negative feedback loop is formed in this differential amplifier 14 via a resistor R2. Further, the positive input terminal of the differential amplifier 15 is grounded, and the output terminal is connected to the negative input terminal of the differential amplifier 15 via a resistor R5. Also, a resistor R is connected to the output terminal of this differential amplifier 15.
The input terminal of the timer 16 is connected through the terminal 5. Further, the anode of the diode D1 and the cathode of the diode D2 are connected to the connection point between the resistor R6 and the input terminal of the timer 16, and the cathode of the diode D1 is connected to the (+
)5■ is always applied, and the anode of diode D2 is grounded. Further, the output terminal of the timer 16 is connected to the base of a transistor 1'r1 via an inverter 17, and the emitter of this transistor Trl is grounded. Further, a pre-cut valve 4 which is an electromagnetically driven valve is connected to the collector of this transistor Trl, and a voltage of (+) 24 V is always applied to this pre-cut valve 4. The input terminal and output terminal of this pre-cut valve 4 are bridged by a diode D3. With this configuration, the degree of vacuum is detected by the vacuum measurement element 11, amplified by the vacuum measurement circuit 12, and input to the differential amplifier 14.
この差動増幅器14の出力は通常正の値になつているが
、第3図Aに示す如き真空測定回路12の出力があるし
きい値Vref以上になると負の出力に反転する。この
出力が反転するしきい値の設定はしきい値設定可変抵抗
13によつて行なわれる。この差動増幅器14の出力が
、いま、正から負に反転すると差動増幅器15の出力は
負から正に反転した信号が出力され、ダイオードDl,
D2によつて第3図Bに示す如き信号になつてタイマ1
6に入力される。このタイマ16に加えられた信号によ
つてタイマ16は駆動する。このタイマ16は常時ハイ
レベルの信号を出力しており、このタイマ16が駆動す
ると駆動時より第3図Cに示す如き所定時間匡,経過後
ハイレベルであつた出力をローレベルに下げる機能を有
するものである。このタイマ16の出力がローレベルに
なるとインバータ17によつてハイレベルの信号がトラ
ンジスタTrlのベースに供給され、このトランジスタ
Trlはオンする。このTrlのオンによつてプレカッ
トバルブ4が駆動し、プレカットバルブ4は第3図Dに
示す如く開となる。さらに第3図Cに示す如くある時間
匡,を経過するとタイマ16から出力されていたローレ
ベルの出力信号は再びハイレベルとなつてプレカットバ
ルブ4は第3図Dに示す如く閉じられる。ここでTl,
T2の時間はタイマ16によつて任意に設定されるもの
であり、時間T1はクロマトグラフ1のカラム3より溶
媒が流出している時間を示しており、時間T2は試料が
流出している時間をそれぞれ示している。このような従
来のクロマトグラフ質量分析装置にあつてはガスクロマ
トグラフのカラム温度を変更したり、キャリアガスの流
量を変更したりするとプレカットバルブと排気装置の間
の排管内の真空度が変化するため、その度にしきい値設
定可変抵抗器を操作してしきい値を変更しなければなら
ず、特にガスクロマトグラフのカラムの温度を変更して
測定することが多いことからその度ごとにしきい値を設
定しなければならないという欠点を有していた。The output of this differential amplifier 14 is normally a positive value, but when the output of the vacuum measuring circuit 12 as shown in FIG. 3A exceeds a certain threshold value Vref, it is reversed to a negative output. The threshold value at which this output is inverted is set by a threshold setting variable resistor 13. When the output of the differential amplifier 14 is now inverted from positive to negative, the output of the differential amplifier 15 is a signal inverted from negative to positive, and the diode Dl,
D2 causes a signal as shown in FIG. 3B, and timer 1
6 is input. The timer 16 is driven by the signal applied to the timer 16. This timer 16 always outputs a high level signal, and when this timer 16 is activated, it has a function of lowering the output that was at high level to low level after a predetermined period of time has elapsed as shown in FIG. 3C. It is something that you have. When the output of the timer 16 becomes low level, the inverter 17 supplies a high level signal to the base of the transistor Trl, turning on the transistor Trl. By turning on this Trl, the pre-cut valve 4 is driven, and the pre-cut valve 4 is opened as shown in FIG. 3D. Further, after a certain period of time has elapsed as shown in FIG. 3C, the low level output signal from the timer 16 becomes high level again, and the pre-cut valve 4 is closed as shown in FIG. 3D. Here Tl,
The time T2 is arbitrarily set by the timer 16, and the time T1 indicates the time during which the solvent is flowing out from the column 3 of the chromatograph 1, and the time T2 is the time during which the sample is flowing out. are shown respectively. In such conventional chromatograph mass spectrometers, changing the column temperature of the gas chromatograph or changing the carrier gas flow rate changes the degree of vacuum in the exhaust pipe between the pre-cut valve and the exhaust device. , the threshold value must be changed each time by operating a threshold setting variable resistor, and especially since measurements are often made by changing the column temperature of a gas chromatograph, it is necessary to change the threshold value each time. This has the disadvantage that it requires setting.
本発明の目的はガスクロマトグラフのカラム温度の変更
、キャリアガスの流量の変更等により、真空度が変化し
ても適確に溶媒を排気分離することのできるガスクロマ
トグラフ質量分析装置を提供することにある。An object of the present invention is to provide a gas chromatograph mass spectrometer that can accurately exhaust and separate a solvent even if the degree of vacuum changes by changing the column temperature of the gas chromatograph, changing the carrier gas flow rate, etc. be.
以下本発明の実施例について説明する。Examples of the present invention will be described below.
第4図には本発明に係るガスクロマトグラフ質量分析装
置の一実施例を示すプレカットバルブの駆動回路が示さ
れている。FIG. 4 shows a drive circuit for a pre-cut valve showing an embodiment of the gas chromatograph mass spectrometer according to the present invention.
図において第2図図示従来例と同一の符号の付されてい
るものは同一の部品、同一の機能を有するものである。In the drawings, the same reference numerals as in the conventional example shown in FIG. 2 indicate the same parts and have the same functions.
本実施例が第2図図示従来例と異なる点は第2図図示従
来例の差動増幅器14,15の代りに微分回路20、積
分回路30を用いた点である。すなわち第4図において
、真空測定回路12の出力端には抵抗R1を介してコン
デンサC1が接続されておりこのコンデンサC1の他端
には演算増幅器18の負入力端子が接続されている。こ
の演算増幅器18の正入力端子は接地されており出力端
子には抵抗R2を介して負入力端子が接地されている。
コンデンサC1、抵抗R2、演算増幅器18によつて微
分回路20が構成されている。さらにこの演算増幅器1
8の出力端には抵抗R3を介して演算増幅器19の負入
力端子が接続されており、この演算増幅器19の正入力
端子は接地されている。この抵抗RlOlコンデンサC
2、演算増幅器19によつて積分回路30が構成されて
いる。またこの演算増幅器19の出力端にはコンデンサ
C2と抵拍只,。が接続されておりこのコンデンサC2
と抵抗RlOの他端には積分回路30の演算増幅器19
の負入力端子が接続されている。またこの積分回路30
の演算増幅器19の出力端には抵抗R6を介してタイマ
16の入力端子が接続されており、この抵抗R6とタイ
マ16の入力端子との接続部にはダイオードD1のアノ
ードとダイオードD2のカソードが接続されており、こ
のダイオードD1のカソードには(+)5■の電圧が常
時供給されておりダイオードD2のアノードは接地され
ている。またタイマ16の出力端子にはインバータ17
を介してトランジスタTrlのベースが接地されている
。このトランジスタTrlのエミツ書夕は接地されてお
りコレクタにはプレカットバルブ4が接続されている。
このプレカットバルブ4はダイオードD3によつて架橋
されている。またこのプレカットバルブ4には常時(+
)24■の電圧が印加されている。このように構成され
る微分回路20の出力VOdはVi:真空測定回路12
の出力電圧
で表わされ理想的な微分回路とするとこの回路の周波数
ゲイン特性は第5図に示すようになる。This embodiment differs from the conventional example shown in FIG. 2 in that a differentiating circuit 20 and an integrating circuit 30 are used in place of the differential amplifiers 14 and 15 of the conventional example shown in FIG. That is, in FIG. 4, a capacitor C1 is connected to the output end of the vacuum measuring circuit 12 via a resistor R1, and the negative input terminal of an operational amplifier 18 is connected to the other end of the capacitor C1. The positive input terminal of this operational amplifier 18 is grounded, and the negative input terminal is connected to the output terminal via a resistor R2.
A differentiating circuit 20 is constituted by a capacitor C1, a resistor R2, and an operational amplifier 18. Furthermore, this operational amplifier 1
8 is connected to the negative input terminal of an operational amplifier 19 via a resistor R3, and the positive input terminal of this operational amplifier 19 is grounded. This resistance RlOl capacitor C
2. The operational amplifier 19 constitutes an integrating circuit 30. Further, at the output terminal of this operational amplifier 19, there is a capacitor C2 and a resistor. is connected and this capacitor C2
and the operational amplifier 19 of the integrating circuit 30 at the other end of the resistor RlO.
The negative input terminal of is connected. Also, this integration circuit 30
The input terminal of the timer 16 is connected to the output terminal of the operational amplifier 19 via a resistor R6, and the anode of the diode D1 and the cathode of the diode D2 are connected to the connection between the resistor R6 and the input terminal of the timer 16. The cathode of the diode D1 is always supplied with a voltage of (+)5cm, and the anode of the diode D2 is grounded. In addition, the inverter 17 is connected to the output terminal of the timer 16.
The base of the transistor Trl is grounded via. The terminal of this transistor Trl is grounded, and the pre-cut valve 4 is connected to the collector.
This pre-cut valve 4 is bridged by a diode D3. Also, this pre-cut valve 4 always has (+
)24■ voltage is applied. The output VOd of the differential circuit 20 configured in this way is Vi: vacuum measurement circuit 12
If it is an ideal differentiator circuit expressed by the output voltage of , the frequency gain characteristic of this circuit will be as shown in FIG.
また真空測定回路12からの溶媒による真空度変化の信
号が第6図に示す如く変化するとベースラインからピー
クトップまでの高さは非常に小さくガスクロマトグラフ
1への試料注入が1μ′〜2μlで数ミリボルト(約1
7T1.v〜2rn.■)、ベースライン上でのピーク
幅は約0.5から1.@(これはガスクロマトグラフの
カラムの温度によつて異なる)である。この溶媒ピーク
は第5図に示される微分回路の周波数、ゲイン特性で示
すとFHdの周波数より幾分高くなるようコンデンサC
1、抵抗R2が設定されている。またガスクロマトグラ
フ1のカラム3の温度を変化した場合発生する真空度の
変化が第6図に示されており、この変化分の周波数がF
Hdより充分低いため出力■0dとして表われない。次
に積分回路30の出力■。In addition, when the signal from the vacuum measurement circuit 12 indicating the change in vacuum level due to the solvent changes as shown in Figure 6, the height from the baseline to the peak top is very small, and the sample injection into the gas chromatograph 1 is 1 μ' to 2 μl, which is several times. Millivolt (approx. 1
7T1. v~2rn. ■), the peak width on the baseline is about 0.5 to 1. @ (this varies depending on the temperature of the gas chromatograph column). This solvent peak is shown in the frequency and gain characteristics of the differential circuit shown in Figure 5, so that the capacitor C is somewhat higher than the frequency of FHd.
1. Resistor R2 is set. Figure 6 shows the change in the degree of vacuum that occurs when the temperature of column 3 of gas chromatograph 1 is changed, and the frequency of this change is F
Since it is sufficiently lower than Hd, it does not appear as output ■0d. Next is the output ■ of the integrating circuit 30.
,はで表わされこの場合の積分回路の周波数ゲイン特性
が第7図に示されている。, and the frequency gain characteristics of the integrating circuit in this case are shown in FIG.
第(3)式かられかるように■。,の出力は微分回路2
0出力電圧■。d1時間t1抵抗RlOlコンデンサC
2で決定される。微分回路20より出力される溶媒ピー
ク信号は、第7図に示されるFHiの周波数より幾分低
い周波数になるようコンデンサC2、抵抗RlOを設定
しておき、さらに■0dのピーク出現時間(約112×
0.5秒〜112×1秒)によつて、タイマ16を駆動
させるための出力電圧となるよう抵抗RlOlコンデン
サC2が設定されている。こうすることによりFH,よ
り高い周波数の出力信号、たとえばノイズ等の信号はこ
の積分回路30の出力■0,となつて現われずFHi以
下のみの信号が検出される。このようにして実際に測定
してみるとFHiより低い信号は溶媒ピーク信号のみで
ある。このように、微分回路20と積分回路30を直列
に接続しタイマ16を動作させることにより、カラム温
度変化によるベースラインの変動、ノイズは無視するこ
とができ、溶媒ピークのみ検出可能となり、誤りなくタ
イマ16を動作開始させることができる。■As can be seen from equation (3). The output of , is the differentiator circuit 2
0 output voltage■. d1 time t1 resistance RlOl capacitor C
Determined by 2. Capacitor C2 and resistor RlO are set so that the solvent peak signal output from the differentiating circuit 20 has a frequency somewhat lower than the frequency of FHi shown in FIG. ×
The resistor RlOl capacitor C2 is set so that the output voltage for driving the timer 16 is determined by 0.5 seconds to 112×1 seconds). By doing this, output signals of higher frequencies than FH, such as signals such as noise, do not appear as the output (2) of this integrating circuit 30, and only signals below FHi are detected. When actually measured in this manner, the only signal lower than FHi is the solvent peak signal. In this way, by connecting the differentiating circuit 20 and the integrating circuit 30 in series and operating the timer 16, fluctuations in the baseline due to column temperature changes and noise can be ignored, and only the solvent peak can be detected without error. The timer 16 can be started.
したがつてプレカットバルブ4もこれに伴い誤動作なく
開閉することができる。第8図には本発明の他の実施例
が示されている。本実施例は第4図図示実施例が微分回
路と積分回路を別々に設けていたものを1つの回路にて
行なうようにしたものである。すなわち演算増幅器40
の生入力端子が接地されており負入力端子にはコンデン
サC3を介して抵抗Rllが接続させておりまた演算増
幅器20の出力端子と負入力端子間には抵抗Rl2とコ
ンデンサC4の並列回路によつて架橋されている。この
ような微分回路と積分回路を合わせた第8図に示す如き
回路の周波数、ゲイン特性が第9図に示されている。こ
のときのFHD(5fHiはとなり、溶媒によるピーク
信号はこのFHD(5fHiの間に入るように設定され
る。Therefore, the pre-cut valve 4 can also be opened and closed without malfunction. Another embodiment of the invention is shown in FIG. In this embodiment, the differential circuit and the integral circuit are provided separately, whereas the embodiment shown in FIG. 4 is provided with separate circuits. That is, operational amplifier 40
The raw input terminal of the operational amplifier 20 is grounded, a resistor Rll is connected to the negative input terminal via a capacitor C3, and a parallel circuit of a resistor Rl2 and a capacitor C4 is connected between the output terminal and the negative input terminal of the operational amplifier 20. It is cross-linked. FIG. 9 shows the frequency and gain characteristics of the circuit shown in FIG. 8, which is a combination of such a differentiating circuit and an integrating circuit. At this time, FHD(5fHi) is, and the peak signal due to the solvent is set to fall between this FHD(5fHi).
このFHDとFH,の幅はガスクロマトグラフ使用条件
を満足するようなFHD−FHiの幅を設定することが
可能である。なお、第4図図示実施例、第8図図示実施
例において示されている回路において、第6図に示され
るベースラインの単位時間当りの変動が大きい場合、従
来のクロマトグラフ質量分析装置の如きしきい値を設定
する回路を設けておけば誤動作をここで防ぐことができ
る。またさらに、本実施例ではプレカットバルブ4を開
閉させることを目的として説明されているがこれに限ら
ずガスクロマトグラフ1のカラム3のオープン温度の昇
温スタート信号としても効果的である。The width of FHD and FH can be set to the width of FHD-FHi that satisfies the gas chromatograph usage conditions. In addition, in the circuit shown in the illustrated embodiment in FIG. 4 and the illustrated embodiment in FIG. 8, if the fluctuation per unit time of the baseline shown in FIG. If a circuit for setting a threshold value is provided, malfunctions can be prevented here. Further, in this embodiment, although the purpose is to open and close the pre-cut valve 4, the purpose is not limited to this, but it is also effective as a temperature increase start signal for the open temperature of the column 3 of the gas chromatograph 1.
しからば試料を注入するだけで昇温、溶媒の排気、イオ
ン源8への試料の導入が全て自動化することができる。
したがつて本発明の実施例によればカラム温度の設定変
更、キャリアガス流量の変更を行なつても、溶媒ピーク
を検出することができる。Therefore, by simply injecting the sample, heating, evacuation of the solvent, and introduction of the sample into the ion source 8 can all be automated.
Therefore, according to the embodiment of the present invention, a solvent peak can be detected even if the column temperature setting or the carrier gas flow rate is changed.
また本実施例によれば試料の注入のみの操作によつてガ
スクロマトグラフの昇温スタート、溶媒の排気、イオン
源への試料の注入が可能となる。Further, according to this embodiment, it is possible to start raising the temperature of the gas chromatograph, exhaust the solvent, and inject the sample into the ion source by simply injecting the sample.
以上説明したように、本発明によればガスクロマトグラ
フのカラム温度の変更、キャリアガス流量変更等により
、真空度が変化しても適確に溶媒を分離破棄することが
できる。As explained above, according to the present invention, even if the degree of vacuum changes, the solvent can be separated and discarded accurately by changing the column temperature of the gas chromatograph, changing the carrier gas flow rate, etc.
第1図はガスクロマトグラフ質量分析装置の構成図、第
2図は従来のクロマトグラフ質量分析装置のプレカット
バルブ駆動回路、第3図は第2図図示従来例のタイムチ
ャート、第4図は本発明に係るクロマトグラフ質量分析
装置のプレカットバルブ駆動回路図、第5図は第4図図
示微分回路の周波数−ゲイン特性を示す図、第6図はキ
ャリアガスと試料の量に対応する電圧の時間特性図、第
7図は第4図図示積分回路の周波数一ゲイン特性図、第
8図は本発明の他の実施例を示す回路図、第9図は第8
図図示実施例の周波数ゲイン特性図である。
1・・・・・・ガスクロマトグラフ、2・・・・・・イ
ンジェクション、3・・・・・・カラム、4・・・・・
・プレカットバルブ、5・・・・・・排気装置、11・
・・・・・真空測定素子、12・・・・・・真空測定回
路、16・・・・・・タイマ、17・・インバータ、1
8,19,40・・・・演算増幅器、20・・・・・・
微分回路、30・・・・・・積分回路。Figure 1 is a configuration diagram of a gas chromatograph mass spectrometer, Figure 2 is a pre-cut valve drive circuit of a conventional chromatograph mass spectrometer, Figure 3 is a time chart of the conventional example shown in Figure 2, and Figure 4 is the invention of the present invention. 5 is a diagram showing the frequency-gain characteristics of the differential circuit shown in FIG. 4, and FIG. 6 is a diagram showing the time characteristics of the voltage corresponding to the amount of carrier gas and sample. 7 is a frequency-gain characteristic diagram of the integrating circuit shown in FIG. 4, FIG. 8 is a circuit diagram showing another embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 3 is a frequency gain characteristic diagram of the illustrated embodiment. 1... Gas chromatograph, 2... Injection, 3... Column, 4...
・Pre-cut valve, 5... Exhaust device, 11.
... Vacuum measurement element, 12 ... Vacuum measurement circuit, 16 ... Timer, 17 ... Inverter, 1
8, 19, 40... operational amplifier, 20...
Differential circuit, 30...Integrator circuit.
Claims (1)
成分をその中の溶媒をプレカツトバルブと排気装置とを
用いて分離した後に質量分析するガスクロマトグラフ質
量分析装置において、上記カラムの出口と排気装置間の
溶媒の流出状態によつて時間的に変化する真空度を検出
する第1の手段と、前記第1の手段によつて検出された
値の単位時間当りの変化量を検出する第2の手段とを設
け、前記第2の手段からの出力にもとずいて上記プレカ
ツトバルブの開閉を行なうことを特徴とするガスクロマ
トグラフ質量分析装置。1 In a gas chromatograph/mass spectrometer that performs mass analysis on a sample component in the effluent from a gas chromatograph column after separating the solvent therein using a pre-cut valve and an exhaust device, there is a gap between the outlet of the column and the exhaust device. a first means for detecting the degree of vacuum which changes over time depending on the outflow state of the solvent; and a second means for detecting the amount of change per unit time in the value detected by the first means. A gas chromatograph mass spectrometer characterized in that the precut valve is opened and closed based on the output from the second means.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55054193A JPS6041824B2 (en) | 1980-04-25 | 1980-04-25 | Gas chromatograph mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55054193A JPS6041824B2 (en) | 1980-04-25 | 1980-04-25 | Gas chromatograph mass spectrometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56152149A JPS56152149A (en) | 1981-11-25 |
JPS6041824B2 true JPS6041824B2 (en) | 1985-09-19 |
Family
ID=12963697
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP55054193A Expired JPS6041824B2 (en) | 1980-04-25 | 1980-04-25 | Gas chromatograph mass spectrometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6041824B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62155315U (en) * | 1986-03-25 | 1987-10-02 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58161236A (en) * | 1982-03-19 | 1983-09-24 | Hitachi Ltd | Mass spectrometer directly-coupled to gas chromatograph |
JPS63193454A (en) * | 1987-02-03 | 1988-08-10 | Hitachi Ltd | Mass spectrograph |
-
1980
- 1980-04-25 JP JP55054193A patent/JPS6041824B2/en not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62155315U (en) * | 1986-03-25 | 1987-10-02 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS56152149A (en) | 1981-11-25 |
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