JPS59200490A - 配線基板の製造方法 - Google Patents
配線基板の製造方法Info
- Publication number
- JPS59200490A JPS59200490A JP7308183A JP7308183A JPS59200490A JP S59200490 A JPS59200490 A JP S59200490A JP 7308183 A JP7308183 A JP 7308183A JP 7308183 A JP7308183 A JP 7308183A JP S59200490 A JPS59200490 A JP S59200490A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- insulating material
- substrate
- insulating layer
- pattern
- circuit board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、配線基板の製造方法に関し、特に基板表面に
配設される導電パターンの絶縁を図るために被着される
ソルダーレジストの如き絶縁層の形成方法に関する。
配設される導電パターンの絶縁を図るために被着される
ソルダーレジストの如き絶縁層の形成方法に関する。
一般に、配線基板においては、その基板表面に配設され
る導電パターンの所定の部分、例えば部品接続用ラント
部を除いて基板表面がソルダーレジストの如き絶縁層に
よって被覆され、不用意な短絡事故を防止する等、電気
的な絶縁が図られろとともに、上記導電パターンの腐蝕
による劣化等に対する保護が図られている。そして、上
述の絶縁層は、従来、スクリーン印刷の如き印刷手段を
用いて所定のパターンに印刷形成されているか、上記導
電パターンの微細化や高密度化が進むにつれ、種々の欠
点が問題となっている。
る導電パターンの所定の部分、例えば部品接続用ラント
部を除いて基板表面がソルダーレジストの如き絶縁層に
よって被覆され、不用意な短絡事故を防止する等、電気
的な絶縁が図られろとともに、上記導電パターンの腐蝕
による劣化等に対する保護が図られている。そして、上
述の絶縁層は、従来、スクリーン印刷の如き印刷手段を
用いて所定のパターンに印刷形成されているか、上記導
電パターンの微細化や高密度化が進むにつれ、種々の欠
点が問題となっている。
先ず、上述のスクリーン印刷では所定のパターンを精度
良く位置合わせして被着することが著しく困難である。
良く位置合わせして被着することが著しく困難である。
これは、上記スクリーン印刷がスキージの強い印圧力に
より絶縁材料を押し出すものであり、このときのスクリ
ーンの伸び率がスクリーンの場所によって変化するため
、このスクリーンが基板に接触する位置にずれを生ずる
たy)である。
より絶縁材料を押し出すものであり、このときのスクリ
ーンの伸び率がスクリーンの場所によって変化するため
、このスクリーンが基板に接触する位置にずれを生ずる
たy)である。
また、上記スクリーン印刷によれは、液状の絶縁材料を
所定のパターンに印刷し、その後この絶縁材料を硬化し
ているために、この硬化工程に移る前にパターンににじ
みを生じ、特ζこ微小な開口部等を精度良く形成するこ
とは困難である。
所定のパターンに印刷し、その後この絶縁材料を硬化し
ているために、この硬化工程に移る前にパターンににじ
みを生じ、特ζこ微小な開口部等を精度良く形成するこ
とは困難である。
さらに、上記導電パターンが高密度に配設されるさ、ス
キージの移動方向に対して導電パターンの影となる部分
に絶縁材料が入り込ます、絶縁層の被覆が不完全なもの
となってしまう虞れがある。
キージの移動方向に対して導電パターンの影となる部分
に絶縁材料が入り込ます、絶縁層の被覆が不完全なもの
となってしまう虞れがある。
さらにまた、メンシュ状のスクリーンを上記絶縁材料が
通り抜ける際に、この絶縁材料中に気泡が発生し易く、
この気泡に起因するピンホールの発生が多くなり、絶縁
層の信頼性を著しく低下してしまっている。
通り抜ける際に、この絶縁材料中に気泡が発生し易く、
この気泡に起因するピンホールの発生が多くなり、絶縁
層の信頼性を著しく低下してしまっている。
さらにまた、上記スクリーン印刷においては、スキージ
の強い印圧力及び動摩擦や基板との接触によってスクリ
ーンの劣化が著しく、頻繁にこのスクリーンを取り替え
る必要があるので製造コストを増大してしまっている。
の強い印圧力及び動摩擦や基板との接触によってスクリ
ーンの劣化が著しく、頻繁にこのスクリーンを取り替え
る必要があるので製造コストを増大してしまっている。
そこで、さらに従来は、ドライフィルムタイプの絶縁層
が提案されているが、このドライフィルムタイプの絶縁
層は液状ではないので高密度に配設される導電パターン
の間隙に入り込んで絶縁するということができず、また
、高価なものであるのて実用化するに至っていない。
が提案されているが、このドライフィルムタイプの絶縁
層は液状ではないので高密度に配設される導電パターン
の間隙に入り込んで絶縁するということができず、また
、高価なものであるのて実用化するに至っていない。
そこで本発明は、上述の従来の方法の有する欠点を解消
するために提案されたものであり、所定のパターンを有
する絶縁層を精度良く形成することが可能な配線基板の
製造方法を提供することを目的とし、さらに信頼性の高
い絶縁層を形成することが可能な配線基板の製造方法を
提供することを目的とする。
するために提案されたものであり、所定のパターンを有
する絶縁層を精度良く形成することが可能な配線基板の
製造方法を提供することを目的とし、さらに信頼性の高
い絶縁層を形成することが可能な配線基板の製造方法を
提供することを目的とする。
上述の如き目的を達成するために1本発明は、予め導電
パターンが形成されてなる基板表面に液状紫外線硬化型
絶縁材料を塗布する工程と、この紫外線硬化型絶縁材料
に対してパターン露光を施す工程と、上記パターン露光
による未硬化部分を溶解除去する工程とを有してなるも
のである。
パターンが形成されてなる基板表面に液状紫外線硬化型
絶縁材料を塗布する工程と、この紫外線硬化型絶縁材料
に対してパターン露光を施す工程と、上記パターン露光
による未硬化部分を溶解除去する工程とを有してなるも
のである。
以下、本発明の具体的な実施例について、図面を参照し
ながら説明する。
ながら説明する。
第1図ないし第4図は本発明による配線基板の製造方法
の工程順序を示す概略断面図である。
の工程順序を示す概略断面図である。
先ず、第1図に示すよう(乙あらかじめエッチテ
フグ法やアティサイブ法により所定の回路配線パターン
を導電金属で形成してなる導電パターン2を表面に配設
した基板1を用意する。この基板1には、カラスエボギ
シ樹脂基板や紙フエノール樹脂基板、アルミニウム基板
、鉄基板等あらゆる種類の基板を用いることができる。
を導電金属で形成してなる導電パターン2を表面に配設
した基板1を用意する。この基板1には、カラスエボギ
シ樹脂基板や紙フエノール樹脂基板、アルミニウム基板
、鉄基板等あらゆる種類の基板を用いることができる。
次に、この基板1表面に、第2図に示すように紫外線の
照射により重合し、硬化する液状の紫外線硬化型絶縁材
料3を全面に亘って塗布する。この紫外線硬化型絶縁材
料3には、FLEXS−18Ci (77一ルエ業社製
)等のように、エポキシ系やシリコーンゴム系、ポリエ
チレン系、架橋ポリエステル系のへ一スレジンに光重合
開始剤や増粘剤、シリカ等の充填剤を加えた無溶剤タイ
プのフォトレジストが用いられる。
照射により重合し、硬化する液状の紫外線硬化型絶縁材
料3を全面に亘って塗布する。この紫外線硬化型絶縁材
料3には、FLEXS−18Ci (77一ルエ業社製
)等のように、エポキシ系やシリコーンゴム系、ポリエ
チレン系、架橋ポリエステル系のへ一スレジンに光重合
開始剤や増粘剤、シリカ等の充填剤を加えた無溶剤タイ
プのフォトレジストが用いられる。
ところで、上述の絶縁材料3の塗布工程においては、絶
縁材料3の塗布手段としてバーコータによるコーティン
グやロールコーティング、スプレーコーティング、スピ
ナーコーティング、ディップコーティング、スクリーン
印刷による全面印刷等の手段を用いることが可能である
が、この場合に塗布した絶縁材料3が基板1の周囲に刺
着してしまうと、後述のパターン露光時の位置合イ)せ
精度を保障することができす、また、搬送コンベアにこ
の絶縁材料3が付着して固化し、基板1の搬送に支障を
来す虞れもある。
縁材料3の塗布手段としてバーコータによるコーティン
グやロールコーティング、スプレーコーティング、スピ
ナーコーティング、ディップコーティング、スクリーン
印刷による全面印刷等の手段を用いることが可能である
が、この場合に塗布した絶縁材料3が基板1の周囲に刺
着してしまうと、後述のパターン露光時の位置合イ)せ
精度を保障することができす、また、搬送コンベアにこ
の絶縁材料3が付着して固化し、基板1の搬送に支障を
来す虞れもある。
そこで、第5図に示すような非付着性樹脂ライニングロ
ール4を用いて、上記絶縁材オニ13を基板1の外周囲
を除いて塗布する。すなイつち、この非付着性樹脂ライ
ニングロール4には、基板1の形状に対応して絶縁材料
3が付着しないようにシリコンやテフロン等の非付着性
樹脂により処理した非付着性樹脂ライニング部4aが形
成されており、ニップロール5から供給される絶縁材料
3をこのライニング部4a以外の部分にのみ付加して、
基板1の外周囲を除いて絶縁材料3が転写されて塗布さ
れるようになされている。したがって、基板1の周囲に
付着する絶縁材料3による位置合わせ精度への影響や基
板1の搬送に対する障害等の問題を解消することが可能
となっている。
ール4を用いて、上記絶縁材オニ13を基板1の外周囲
を除いて塗布する。すなイつち、この非付着性樹脂ライ
ニングロール4には、基板1の形状に対応して絶縁材料
3が付着しないようにシリコンやテフロン等の非付着性
樹脂により処理した非付着性樹脂ライニング部4aが形
成されており、ニップロール5から供給される絶縁材料
3をこのライニング部4a以外の部分にのみ付加して、
基板1の外周囲を除いて絶縁材料3が転写されて塗布さ
れるようになされている。したがって、基板1の周囲に
付着する絶縁材料3による位置合わせ精度への影響や基
板1の搬送に対する障害等の問題を解消することが可能
となっている。
あるいは、第6図Aに示すように、基板1の全面に塗布
した絶縁材料3を、あらかじめ所定のマスク6を用いて
露光し、第6図B4こ示すように基板1の外周囲部分の
絶縁材料3を硬化し、この硬化部3aにより未硬化部3
bのはみだしを防止してもよい。この場合にも、非付着
性ライニングロール4を用いる場合と同様の効果を得る
ことができる。
した絶縁材料3を、あらかじめ所定のマスク6を用いて
露光し、第6図B4こ示すように基板1の外周囲部分の
絶縁材料3を硬化し、この硬化部3aにより未硬化部3
bのはみだしを防止してもよい。この場合にも、非付着
性ライニングロール4を用いる場合と同様の効果を得る
ことができる。
次に、第3図に示すように、導電パターン2の部品取付
部等、絶縁層を開口する必要がある部分に対向して遮光
層8を設けたガラスあるいは紫外線透過型アクリルのマ
スク7を基板1と20μm〜2mm程度の間隔をもって
配置し、平行光を照射エネルギー量800−J/clr
程度照射して硬化する。
部等、絶縁層を開口する必要がある部分に対向して遮光
層8を設けたガラスあるいは紫外線透過型アクリルのマ
スク7を基板1と20μm〜2mm程度の間隔をもって
配置し、平行光を照射エネルギー量800−J/clr
程度照射して硬化する。
なお、この照射エネルギー量は、絶縁材料3の性能に左
右されるものであり、材料を選択することによりエネル
ギー量を縮少化することも可能である。
右されるものであり、材料を選択することによりエネル
ギー量を縮少化することも可能である。
上記平行光を照射するためには、例えば第7図に示すよ
うな平行光源を用いる。この平光光源(・ま、極間が極
めて狭い黒光′#9て発生する光を楕円ミラー10で集
光し、第1の反射ミラー11(こよt)インチグレーク
ーレンズ群12に導G)で光強度0)分布を一様にした
後、第2の反射ミラー13(こよりコリメークレンズ1
4に導いて平行光を得るというものである。この平行光
の平行度は視角で±3°以内であることが望ましく、平
行度が悪(、Xと位置すれや像の太りを生じて精度良い
〕ぐグーンの)形成が困難となってしまう。例えば、第
8図に模式的に示すように光源からの光に傾斜角ψやひ
ろがり角θl及びθ2があると、マスク7と基板1との
間隔gに応じて δ=g−ψ ・・・・・・・・・・・・・・第
1式なる第1式で表わされる位置ずれδを生じ、また、
r = rl +γ2 =9”(ψ十θ2)−,9’−
ロ(ψ−01)・・・・・・・・・・・・・・・第2式
なる第2式で表イつされる像の太りγを生じてしまう。
うな平行光源を用いる。この平光光源(・ま、極間が極
めて狭い黒光′#9て発生する光を楕円ミラー10で集
光し、第1の反射ミラー11(こよt)インチグレーク
ーレンズ群12に導G)で光強度0)分布を一様にした
後、第2の反射ミラー13(こよりコリメークレンズ1
4に導いて平行光を得るというものである。この平行光
の平行度は視角で±3°以内であることが望ましく、平
行度が悪(、Xと位置すれや像の太りを生じて精度良い
〕ぐグーンの)形成が困難となってしまう。例えば、第
8図に模式的に示すように光源からの光に傾斜角ψやひ
ろがり角θl及びθ2があると、マスク7と基板1との
間隔gに応じて δ=g−ψ ・・・・・・・・・・・・・・第
1式なる第1式で表わされる位置ずれδを生じ、また、
r = rl +γ2 =9”(ψ十θ2)−,9’−
ロ(ψ−01)・・・・・・・・・・・・・・・第2式
なる第2式で表イつされる像の太りγを生じてしまう。
さらに上述の露光による絶縁材料3の硬化は、空気中の
酸素による反応の阻害を防止するために、窒素雰囲気中
や二酸化炭素雰囲気中、水中等で行なうことにより硬化
時間を短縮することも可能である。
酸素による反応の阻害を防止するために、窒素雰囲気中
や二酸化炭素雰囲気中、水中等で行なうことにより硬化
時間を短縮することも可能である。
次に、露光による絶縁材料3の硬化終了後、エチルアル
コール中に上記基板1を浸漬して現像を施し、未露光に
よる未硬化部分を溶解除去して第4図に示すように所定
の開口部16を有する絶縁層15を得る。なお、上記現
像の際に用いる現像液としては、エチルアルコールの他
に、アセトンやメチルエチルケトン、塩化メチレン、n
−ヘキサン等の有機溶剤を用いることも可能である。ま
た、上記現像の方法としては、浸漬法の他に、シャワー
法や超音波洗浄法等を用いることも有効である。さらに
、上述の現像が充分に行なわれた後は、水ジャワ″−に
より現像液を基板1の表面から除去してオーバー現像を
防止する必要がある。
コール中に上記基板1を浸漬して現像を施し、未露光に
よる未硬化部分を溶解除去して第4図に示すように所定
の開口部16を有する絶縁層15を得る。なお、上記現
像の際に用いる現像液としては、エチルアルコールの他
に、アセトンやメチルエチルケトン、塩化メチレン、n
−ヘキサン等の有機溶剤を用いることも可能である。ま
た、上記現像の方法としては、浸漬法の他に、シャワー
法や超音波洗浄法等を用いることも有効である。さらに
、上述の現像が充分に行なわれた後は、水ジャワ″−に
より現像液を基板1の表面から除去してオーバー現像を
防止する必要がある。
そして、このようにして得られる絶縁層15の塗膜強度
を向上させるために、第9図に示すような水銀ランプ1
7と反射鏡18よりなるメタルハい、配線褥板を完成す
る。
を向上させるために、第9図に示すような水銀ランプ1
7と反射鏡18よりなるメタルハい、配線褥板を完成す
る。
このように、上記実施例においては、パターン露光を用
いることにより所定のパターンを有する絶縁層15を形
成しているため、絶縁制料3の粘度や室温、導電パター
ン2表面状態等の影響でにじみが発生する虞れがなく、
また、マスク7と基板1の位置合わせにより所定の位置
精度が得られるので、精度良く絶縁層15を段差のない
平滑面として形成することが可能となっている。
いることにより所定のパターンを有する絶縁層15を形
成しているため、絶縁制料3の粘度や室温、導電パター
ン2表面状態等の影響でにじみが発生する虞れがなく、
また、マスク7と基板1の位置合わせにより所定の位置
精度が得られるので、精度良く絶縁層15を段差のない
平滑面として形成することが可能となっている。
また人液状の絶縁材料3を基板1の全面に塗布している
ので、高密度に配設される導電パターン2の間にもこの
絶縁材料3が入り込み、絶縁の信頼性を高めることが可
能となっている。
ので、高密度に配設される導電パターン2の間にもこの
絶縁材料3が入り込み、絶縁の信頼性を高めることが可
能となっている。
さらに、絶縁材料3をバーコークやロールコータを用い
て全面に塗布しているので、気泡の発生が極めて少なく
なり、また、気泡が発生した場合Oここの気泡が消失す
るまで時間をかけても性能に全く影響しないので、絶縁
層15中にこの気泡に由来するビンボールの発生が極め
て少なくなって塗膜の信頼性が極めて高くなる。
て全面に塗布しているので、気泡の発生が極めて少なく
なり、また、気泡が発生した場合Oここの気泡が消失す
るまで時間をかけても性能に全く影響しないので、絶縁
層15中にこの気泡に由来するビンボールの発生が極め
て少なくなって塗膜の信頼性が極めて高くなる。
さら(こまた、マスク7を基板1に対して非接触状態で
用いているので、上記マスク7の損傷がほとんどなくな
り、半永久的に使用可能となって製造コストを低減する
ことが可能となっている。
用いているので、上記マスク7の損傷がほとんどなくな
り、半永久的に使用可能となって製造コストを低減する
ことが可能となっている。
ところで、本発明は、上述の実施例に限定されるもので
はなく、例えば多層配線基板や両面配線基板等の製造(
こ適用することが可能なこ吉は言うまでもない。
はなく、例えば多層配線基板や両面配線基板等の製造(
こ適用することが可能なこ吉は言うまでもない。
さらに、基材21上に上述の方法により得られる絶縁層
22と、メッキや蒸着等により被着され所定パターンに
形成される導電パターン23とを、交互に複数層積層し
、第10図に示すような多層ハイフリソ1−ICを製造
することも可能である。
22と、メッキや蒸着等により被着され所定パターンに
形成される導電パターン23とを、交互に複数層積層し
、第10図に示すような多層ハイフリソ1−ICを製造
することも可能である。
この場合には、必要な箇所で接続導通される複数の導電
パターン23を有する3次元構造の基板を極めて簡単に
製造することが可能となる。
パターン23を有する3次元構造の基板を極めて簡単に
製造することが可能となる。
上述の実施例の説明からも明らかなように1本発明の方
法によれば、所定のパターンを有する絶縁層を精度良く
形成するこ吉が可能となるとともに、この絶縁層の信頼
性を著しく向上することが可能となる。
法によれば、所定のパターンを有する絶縁層を精度良く
形成するこ吉が可能となるとともに、この絶縁層の信頼
性を著しく向上することが可能となる。
第1図ないし第4図は本発明による配線基板の製造方法
の工程順序を示す要部断面図であり、第1図は導電パタ
ーンが配設される基板を示し、第2図は絶縁材料塗布工
程、第3図はバク=ン露光工程、第4図は現像工程をそ
れぞれ示す。 第5図は絶縁材料塗布方法の一例を示す外観斜視図であ
り、第6図A及び第6図13は絶縁4′:A浩塗布方法
の他の例を示す外観斜視図である。 第7図はパターン露光に用いられる平行光源の概略構成
図、第8図は光源の平行度が悪い場合に像に与える影響
を示す模式図である。 第9図はアフターキュアに用いラレるメタルハライドラ
ンプを示す外観斜視図である。 第10図は本発明を適用して得られる多層ハイソリツド
ICを示す概略断面図である。 1・・・・・・・・・・・基板 2・・・・・・・・・・・・導電パターン3・・・・・
・・・・・紫外線硬化型絶縁材料15・・・・・・・・
絶縁層 % 許出願人 ノニー株式会社 代理人 弁理士 小 池 晃 同 1) 村 榮 − 第6図 第6図(A) 第6図(B) 第7図 第8図 第8図 第10図
の工程順序を示す要部断面図であり、第1図は導電パタ
ーンが配設される基板を示し、第2図は絶縁材料塗布工
程、第3図はバク=ン露光工程、第4図は現像工程をそ
れぞれ示す。 第5図は絶縁材料塗布方法の一例を示す外観斜視図であ
り、第6図A及び第6図13は絶縁4′:A浩塗布方法
の他の例を示す外観斜視図である。 第7図はパターン露光に用いられる平行光源の概略構成
図、第8図は光源の平行度が悪い場合に像に与える影響
を示す模式図である。 第9図はアフターキュアに用いラレるメタルハライドラ
ンプを示す外観斜視図である。 第10図は本発明を適用して得られる多層ハイソリツド
ICを示す概略断面図である。 1・・・・・・・・・・・基板 2・・・・・・・・・・・・導電パターン3・・・・・
・・・・・紫外線硬化型絶縁材料15・・・・・・・・
絶縁層 % 許出願人 ノニー株式会社 代理人 弁理士 小 池 晃 同 1) 村 榮 − 第6図 第6図(A) 第6図(B) 第7図 第8図 第8図 第10図
Claims (1)
- 予め導電パターンが形成されてなる基板表面に液状紫外
線硬化型絶縁材料を塗布する工程と、この紫外線硬化型
絶縁材料に対してパターン露光を施す工程と、上記パタ
ーン露光による未硬化部分を溶解除去する工程とを有し
てなる配線基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7308183A JPS59200490A (ja) | 1983-04-27 | 1983-04-27 | 配線基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7308183A JPS59200490A (ja) | 1983-04-27 | 1983-04-27 | 配線基板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59200490A true JPS59200490A (ja) | 1984-11-13 |
Family
ID=13508021
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7308183A Pending JPS59200490A (ja) | 1983-04-27 | 1983-04-27 | 配線基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59200490A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5482073A (en) * | 1977-11-21 | 1979-06-29 | Ciba Geigy Ag | Method of solder checking mask |
JPS5749893A (en) * | 1980-09-10 | 1982-03-24 | Tokyo Shibaura Electric Co | Nuclear reactor feedwater control device |
-
1983
- 1983-04-27 JP JP7308183A patent/JPS59200490A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5482073A (en) * | 1977-11-21 | 1979-06-29 | Ciba Geigy Ag | Method of solder checking mask |
JPS5749893A (en) * | 1980-09-10 | 1982-03-24 | Tokyo Shibaura Electric Co | Nuclear reactor feedwater control device |
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