JPH11329241A - ランプ用管体の洗浄方法 - Google Patents

ランプ用管体の洗浄方法

Info

Publication number
JPH11329241A
JPH11329241A JP12320498A JP12320498A JPH11329241A JP H11329241 A JPH11329241 A JP H11329241A JP 12320498 A JP12320498 A JP 12320498A JP 12320498 A JP12320498 A JP 12320498A JP H11329241 A JPH11329241 A JP H11329241A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lamp tube
cleaning
cleaning method
tube bodies
plasma discharge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12320498A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Fujii
謙一 藤井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP12320498A priority Critical patent/JPH11329241A/ja
Publication of JPH11329241A publication Critical patent/JPH11329241A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ランプ管体の洗浄の洗浄が、容易で、かつラ
ンプ用管体の表面の白やけの発生を防止し、ミクロな石
英粉、繊維くず、金属くずおよび油脂成分等を除去す
る。 【解決手段】 真空ポンプ1が接続された容器2内のラ
ンプ用管体置台5上にランプ用管体6を載置する。次
に、容器2内にCF4ガスおよびN2ガスを流し込む。そ
して、高周波電源7によって陽極電極板3と陰極電極板
4との間に電圧を印加して、陽極電極板3と陰極電極板
4との間にプラズマ放電を起こさせ、その放電中でラン
プ用管体6をプラズマ放電洗浄する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般照明用、店舗
照明用等に幅広く使用されるランプ用管体の洗浄方法に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、石英ガラス(組成は100%に近
いSiO2 )、ほう珪酸ガラス等からなるランプ用管体
の洗浄方法に関しては、フッ酸水溶液を用いた浸漬洗浄
方法(特開昭54−56270号公報)や超音波洗浄方
法が知られている。
【0003】また、フッ酸水溶液の代わりにアルカリ系
洗剤、有機溶媒系洗剤なども用いられる。
【0004】さらに、ドライエッチング方法の一つであ
るプラズマ放電装置を用いたプラズマ放電洗浄の方法
は、四フッ化炭素(CF4)と酸素(O2)とを含むガス
によるプラズマ放電中でランプ用管体を洗浄している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の洗浄方法では次のような問題があった。すなわち、
フッ酸水溶液を用いる洗浄方法では、フッ酸水溶液が強
酸であるために人体に有害であり、そのためにフッ酸水
溶液使用時には防具を必要とするなど取扱いが難しく、
また廃液が環境に有害となるために廃液処理を必要とす
る。また、アルカリ系洗剤、有機溶媒系洗剤などを用い
る洗浄方法では、フッ酸水溶液を用いた場合よりも取扱
いが容易であるが、洗浄力、特に、ガラス管体の製造工
程で発生するミクロな石英粉(粒径100μm以下)を
除去する洗浄力に欠けるため、フッ酸水溶液を用いる方
法の代替とは成り難い。さらに、CF4とO2を含むガス
によるプラズマ放電を用いる洗浄方法では、ランプ用管
体の表面が白濁する現象(白やけ)が発生し、ランプ用
管体としての透明性が低下するという問題がある。
【0006】本発明はこのような問題を解決するために
なされたもので、フッ酸水溶液を用いる洗浄方法に比べ
て洗浄力が低下せず、かつ取扱いが容易で、またアルカ
リ系洗剤、有機溶媒系洗剤などを用いる洗浄方法に比べ
てミクロな石英粉を除去でき、さらにCF4とO2を含む
ガスによるプラズマ放電を用いる洗浄方法に比べてラン
プ用管体としての透明性が低下しない洗浄処理ができる
ランプ用管体の洗浄方法を提供するものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のランプ用管体の
洗浄方法は、ランプ用管体表面をCF4とN2とを含むガ
スによるプラズマ放電によって洗浄する工程を含む構成
を有している。
【0008】この構成により、ミクロな石英粉等をラン
プ管体表面から洗浄除去でき、ランプ管体表面の白やけ
の発生を防止できる。
【0009】また、本発明のランプ用管体の洗浄方法
は、前記ランプ用管体表面をアルカリ系洗剤を用いて、
洗浄する工程をさらに含む構成を有している。
【0010】この構成により、請求項1記載の洗浄方法
では除去できない繊維くず、金属くずおよび油脂成分等
を除去できる。
【0011】さらに、本発明のランプ用管体の洗浄方法
は、相対向する陽極平板と陰極平板との間に前記ランプ
用管体を配し、前記陽極平板と前記陰極平板との間に電
圧を印加してプラズマ放電を起こさせ、このプラズマ放
電中で前記ランプ用管体を洗浄する構成を有している。
【0012】この構成により、量産に優れたランプ用管
体の洗浄方法を得ることができる。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を用いて説明する。
【0014】本発明の第1の実施の形態のランプ用管体
の洗浄方法を実施する装置は、図1に示すように、真空
ポンプ1が接続された容器2内に陽極電極板3と陰極電
極板4とが互いに平行に複数段配置されている。また、
各々の陽極電極板3と陰極電極板4との間にはランプ用
管体置台5が設置され、その上に複数の細長い円筒状の
ランプ用管体6が載置されている。陽極電極板3には高
周波電源(13.56MHz)7が接続されている。ま
た、容器2には四フッ化炭素(CF4)ガスボンベ8と
窒素(N2)ガスボンベ9がつながれており、CF4とN
2とが容器2に供給できるようになっている。
【0015】次に、このランプ用管体の洗浄方法を説明
する。まず、ランプ用管体置台5上にランプ用管体6を
載置する。次に、容器2内にCF4ガスを100scc
m、N2ガスを300sccm流し込む。容器2内の圧
力は0.8Torrに設定した。そして、高周波電源7
によって陽極電極板3と陰極電極板4との間に高周波電
力が800Wとなるように電圧を印加して、陽極電極板
3と陰極電極板4との間にプラズマ放電を起こさせ、そ
の放電中でランプ用管体6を10分間プラズマ放電洗浄
した。この洗浄方法による洗浄結果を評価するため、洗
浄後のランプ用管体6の表面の白やけの発生程度と、石
英粉、繊維くず、金属くず、および油脂成分等の洗浄残
りの程度を表1に示す。
【0016】
【表1】
【0017】なお、上記実施の形態では、陽極電極板3
と陰極電極板4とが複数段ある場合を説明したが、1段
であってもよく、また陽極電極板3の位置と陰極電極板
4の位置とは逆であってもよい。
【0018】なお、ランプ用管体6が洗浄された後、ラ
ンプ用管体6の表面に赤外多層反射膜等が成膜される。
【0019】本発明の第2の実施の形態のランプ用管体
の洗浄方法は、まず、従来の洗浄方法によりランプ用管
体6を弱アルカリ系洗剤(商品名Siliron-L、ヘンケル
日本(株))の3%希釈水溶液中に浸漬し、28kHz、
600Wの条件で超音波を5分間印加して超音波洗浄を
した。次に、ランプ用管体6を5分間水洗いし、それを
3回行ってランプ用管体6に付着した洗剤をすすぎ落と
した。濡れたランプ用管体6を乾燥機で20分間乾燥さ
せた。弱アルカリ系洗剤で洗浄されたランプ用管体6を
上記第1の実施の形態と同様、プラズマ放電洗浄を行っ
た。この洗浄方法による洗浄結果を評価するため、洗浄
後のランプ用管体6の表面の白やけの発生程度と、石英
粉、繊維くず、金属くず、および油脂成分等の洗浄残り
の程度を表1に示す。
【0020】なお、本発明の第1の実施の形態のプラズ
マ洗浄方法を用いた後、アルカリ系洗剤を用いた洗浄を
行ってもよい。
【0021】なお、本発明の第2の実施の形態の洗浄方
法では、超音波洗浄を用いたが、これに限らず、浸漬洗
浄、高圧ジェット洗浄もしくは機械的こすり洗浄を用い
てもよい。
【0022】なお、ランプ用管体6が洗浄された後、ラ
ンプ用管体6の表面に赤外多層反射膜等が成膜される。
【0023】比較のため、従来の洗浄方法として、本発
明の実施の形態に用いたものと同一構成のランプ用管体
をフッ化水素10%水溶液に5分間浸漬洗浄した。次
に、ランプ用管体を5分間水洗いし、それを3回行って
ランプ用管体についたフッ化水素10%水溶液をすすぎ
落とした。濡れたランプ用管体を乾燥機で20分間乾燥
させた。この洗浄方法による洗浄結果を評価するため、
洗浄後のランプ用管体の表面の白やけの発生程度と、石
英粉、繊維くず、金属くず、および油脂成分等の洗浄残
りの程度を表1に示す。
【0024】さらに、別の従来の洗浄方法として、図1
に示す構造の洗浄装置を用いて、CF4とO2を含むガス
によるプラズマ放電中で本発明の実施の形態に用いたも
のと同一構成のランプ用管体を洗浄した。ただし、本発
明の第1の実施の形態のプラズマ洗浄方法に準じた方法
であり、異なる点はCF4ガス流量を300sccm、O2ガス
流量を100sccmとし、プラズマ放電洗浄の時間を3分間
で行ったことである。この洗浄方法による洗浄結果を評
価するため、洗浄後のランプ用管体の表面の白やけの発
生程度と、石英粉、繊維くず、金属くず、および油脂成
分等の洗浄残りの程度を表1に示す。
【0025】表1に示すように、従来の洗浄方法のラン
プ用管体のフッ化水素10%水溶液による浸漬洗浄で
は、繊維くず、金属くず、および油脂成分等の洗浄残り
が僅かにあることがわかる。また、CF4とO2を含むガ
スによるプラズマ放電中でランプ用管体を洗浄する場合
は、ランプ用管体表面に白やけが発生し、しかもランプ
用管体6の製造工程で発生するミクロな石英粉(粒径1
00μm以下)等や、繊維くず、金属くずおよび油脂成
分等の洗浄残りがあることがわかる。一方、本発明の第
1の実施の形態の洗浄方法のCF4とN2とを含むガスに
よるプラズマ放電中でガラス用管体6を洗浄する場合
は、白やけの発生やミクロな石英粉(粒径100μm以
下)等は全くなく、繊維くず、金属くずおよび油脂成分
等の洗浄残りも実用上、支障のない程度に極僅かに残っ
ているだけであることがわかる。さらに、洗浄品質を高
めるためには、本発明の第2の実施の形態の洗浄方法の
ように予備洗浄として、アルカリ系洗剤による超音波洗
浄を用いれば洗浄残りもすべて除去できることがわか
る。ただし、ランプ用管体6の汚染状態によってはこの
アルカリ系洗剤による超音波洗浄の予備洗浄の必要はな
い。
【0026】さらに、従来の洗浄方法としてフッ化水素
酸水溶液を用いる場合、取り扱いが難しく、廃液処理対
策の手間がかかる。一方、本発明の第1の実施の形態の
洗浄方法によれば、容易でかつ高品質な洗浄ができる。
【0027】なお、本発明の実施の形態では、ランプ用
管体6として石英ガラスを用いたが、ほう珪酸ガラス等
の他のガラスを用いた場合でも上記と同様の効果が得ら
れる。
【0028】また、プラズマ放電に用いるガスとしては
CF4成分を10〜50体積%、残部をN2成分とするこ
とが好ましい。その理由は、CF4成分が10体積%未
満では、洗浄力が低下し、CF4成分50体積%を越え
ると、洗浄力が強すぎて白やけが発生しやすくなるから
である。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、ランプ
用管体表面をCF4とN2を含むガスによるプラズマ放電
中で洗浄するという工程を有することにより、取り扱い
が容易で高品質な洗浄を実現できるランプ用管体の洗浄
方法を提供することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態のランプ用管体の洗浄方法
を実施するための洗浄装置の断面図
【符号の説明】
3 陽極電極板 4 陰極電極板 6 ランプ用管体

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ランプ用管体表面を四フッ化炭素(CF
    4)と窒素(N2)とを含むガスによるプラズマ放電によ
    って洗浄する工程を含むことを特徴とするランプ用管体
    の洗浄方法。
  2. 【請求項2】 前記ガスは、CF410〜50体積%、
    残部N2からなることを特徴とする請求項1記載のラン
    プ用管体の洗浄方法。
  3. 【請求項3】 前記ランプ用管体表面をアルカリ系洗剤
    を用いて、洗浄する工程をさらに含むことを特徴とする
    請求項1記載のランプ用管体の洗浄方法。
  4. 【請求項4】 相対向する陽極平板と陰極平板との間に
    前記ランプ用管体を配し、前記陽極平板と前記陰極平板
    との間に電圧を印加してプラズマ放電を起こさせ、この
    プラズマ放電中で前記ランプ用管体を洗浄することを特
    徴とする請求項1記載のランプ用管体の洗浄方法。
JP12320498A 1998-05-06 1998-05-06 ランプ用管体の洗浄方法 Pending JPH11329241A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12320498A JPH11329241A (ja) 1998-05-06 1998-05-06 ランプ用管体の洗浄方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12320498A JPH11329241A (ja) 1998-05-06 1998-05-06 ランプ用管体の洗浄方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11329241A true JPH11329241A (ja) 1999-11-30

Family

ID=14854783

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12320498A Pending JPH11329241A (ja) 1998-05-06 1998-05-06 ランプ用管体の洗浄方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11329241A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1024001A2 (en) 1999-01-29 2000-08-02 Seiko Epson Corporation Ink jet recording head and method of producing a plate member for an ink jet recording head
WO2005096337A1 (de) * 2004-03-24 2005-10-13 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zum plasmareinigen eines werkstücks und zu dessen durchführung geeignete vorrichtung
KR100529912B1 (ko) * 2003-07-30 2005-11-22 엘지전자 주식회사 브라운관 세정장치 및 그 세정방법
KR100732347B1 (ko) 2005-09-27 2007-06-27 주식회사 에이디피엔지니어링 Eefl용 형광램프 제조방법
JP2009149488A (ja) * 2007-10-05 2009-07-09 Schott Ag 蛍光ランプに使用するランプ用ガラス管の洗浄方法
CN102082052A (zh) * 2010-12-30 2011-06-01 广东泰卓光电科技股份有限公司 无极灯抽气机

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1024001A2 (en) 1999-01-29 2000-08-02 Seiko Epson Corporation Ink jet recording head and method of producing a plate member for an ink jet recording head
KR100529912B1 (ko) * 2003-07-30 2005-11-22 엘지전자 주식회사 브라운관 세정장치 및 그 세정방법
WO2005096337A1 (de) * 2004-03-24 2005-10-13 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zum plasmareinigen eines werkstücks und zu dessen durchführung geeignete vorrichtung
KR100732347B1 (ko) 2005-09-27 2007-06-27 주식회사 에이디피엔지니어링 Eefl용 형광램프 제조방법
JP2009149488A (ja) * 2007-10-05 2009-07-09 Schott Ag 蛍光ランプに使用するランプ用ガラス管の洗浄方法
CN102082052A (zh) * 2010-12-30 2011-06-01 广东泰卓光电科技股份有限公司 无极灯抽气机

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2568371B2 (ja) 真空チャンバ用の新規な蓋および扉、並びにそれに対する前処理
KR100422923B1 (ko) 세정장치및세정방법
JP5324160B2 (ja) 陽極酸化チャンバパーツ再生のためのウェットクリーンプロセス
TWI575594B (zh) 清洗鋁電漿室部件之方法
CN101214485B (zh) 一种多晶硅刻蚀腔室中阳极氧化零件表面的清洗方法
JP2010109384A (ja) スクラバ中の金属を除去する方法
CN110364424B (zh) 半导体处理设备零部件的清洗方法
CN115254766A (zh) 一种半导体设备氧化铝陶瓷喷射器的洗净再生方法
CN111804674A (zh) 一种etch设备中阳极氧化部件面污染物的洗净方法
JPH11329241A (ja) ランプ用管体の洗浄方法
TW201325744A (zh) 具有氧化釔包覆層的工件的污染物的處理方法
JP3175117B2 (ja) ドライクリーニング方法
JP2001151537A (ja) 表面が砂目加工された石英物品及び該物品の洗浄方法
JP4398091B2 (ja) 半導体処理装置の部品の洗浄液及び洗浄方法
JP7020507B2 (ja) 半導体ウェーハの洗浄方法
JPH11102881A (ja) 基板洗浄方法および基板洗浄装置
WO1987006927A1 (en) Method for the application of a polytetrafluoroethylene coating to glass
JPH02268879A (ja) 洗浄方法
JPH06187909A (ja) ブラウン管用ガラスパネルの洗浄方法
CN115029697B (zh) 一种酸蚀液及其应用
JP4142655B2 (ja) 洗浄方法
JPH08213354A (ja) シリコン単結晶ウエーハの洗浄方法および洗浄装置
JPH1190365A (ja) 部品の洗浄方法
CN117393417A (zh) 一种硅片的无水清洗方法
JP2004358338A (ja) 複合導電精密洗浄方法