JPH1062359A - 欠陥検査方法およびその装置 - Google Patents

欠陥検査方法およびその装置

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JPH1062359A
JPH1062359A JP22358396A JP22358396A JPH1062359A JP H1062359 A JPH1062359 A JP H1062359A JP 22358396 A JP22358396 A JP 22358396A JP 22358396 A JP22358396 A JP 22358396A JP H1062359 A JPH1062359 A JP H1062359A
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container
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axis
light
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JP22358396A
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Hiroaki Hattanda
博昭 八反田
Satoshi Yoshikawa
聡 吉川
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OJI KOEI KK
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OJI KOEI KK
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ガラス壜の口部分に対するヘアークラックの
存在の有無を迅速かつ低コストにて確実に検出し得えな
い。 【解決手段】 検査領域PC に搬入される光透過性の被
検査容器Wの上方に位置してこの被検査容器Wに照明光
を下向きに投射する光源14と、被検査容器Wの斜め上
方に配置されて被検査容器Wの反射画像を得る撮像光学
系15と、検査領域PC にて被検査容器Wをその軸線C
W 回りに一回転以上させる容器回転手段と、撮像光学系
15からの検出信号に基づいて被検査容器Wの欠陥の有
無を検出する判定手段17とを具える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光透過性の壜口部
の縦方向あるいは円周方向に沿った損傷を光学的に効率
良く検査するするための欠陥検査方法およびその装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】ビールなどの酒類、あるいは醤油などの
液体調味料を貯蔵するガラス壜において、特に王冠など
で密封される口部分は、栓抜きなどによって欠けやひび
などの欠陥が発生する可能性が非常に高い。このため、
このようなガラス壜の再利用に際しては、その口部分に
欠けやひびなどの欠陥がないか否かを検査する必要があ
る。
【0003】通常、このようなガラス壜の欠陥検査を行
うに際しては、その検査結果に対する信頼性が極めて高
いことはもちろん、大量のガラス壜を自動的に処理しな
ければならないことから、各ガラス壜に対する検査時間
は極めて短時間、具体的には300〜500ミリ秒程度
で終了する必要がある。
【0004】近年、ガラス壜の口部に形成されるひび、
すなわちヘアークラックがその検出の困難性から問題と
なっており、このようなヘアークラックを対象とした欠
陥検査装置として、例えば特開昭62−69154号公
報や特開平2−257044号公報の他、特開平3−1
35376号公報などが周知である。
【0005】特開昭62−69154号公報に開示され
た壜口欠陥検査装置は、壜口部の真上から環状照明器に
より照明し、環状照明器の中央上方に配置した撮像装置
により、壜口部の円周方向に沿ったヘアークラックを画
像処理によって検出するようにしたものである。
【0006】また、特開平2−257044号公報に開
示された壜検査装置は、壜口ネジ部に対して斜め上方か
ら一対の光源から照明光を壜口ネジ部に投射し、この壜
口ネジ部の円周方向に沿ったヘアークラックを遮光反射
板を介し、テレビカメラを用いて画像処理により検出す
るようにしたものである。
【0007】さらに、特開平3−135376号公報に
開示されたものは、ガラス壜の口部分に光源からの照明
光を斜めに投光し、この口部分にて屈折する透過光を口
部分の画像としてモニターカメラにて観察し、画像処理
装置を用いてガラス壜の長手方向に沿った口部分のヘア
ークラックの有無を判定するようにしている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】特開昭62−6915
4号公報に開示された壜口欠陥検査装置では、撮像装置
に入射する画像は、その視野の中央部に壜口部に対応し
た環状の光輝部分があるため、ヘアークラックがこの光
輝部分に埋もれてしまい、小さなヘアークラックなどで
は検出することができない虞があった。
【0009】また、中央上方に位置した撮像装置からは
死角になる壜口の内部やくびれ部に存在するヘアークラ
ックは検出できない。さらに、光源と撮像装置が共に壜
の上方に配置されているため、光の反射角の関係から縦
方向に沿ったへアークラックを検出することは困難であ
る。
【0010】また、特開平2−257044号公報に開
示された壜検査装置では、光源を一対用意する必要があ
る上、遮光反射板を用いる必要があるため、設備コスト
が嵩む欠点がある。さらに、遮光反射板を用いて壜口ネ
ジ部の光輝部分を遮蔽しているため、ヘアークラックの
検出領域が実質的に狭くなってしまい、検査時間が長引
いてしまう不具合がある。しかも、一対の光源と壜との
位置関係によって、壜に照射される光量が変化するの
で、ヘアークラックからの反射光量も変動する。従っ
て、へアークラックの回転位置と反射光量との組み合わ
せによっては、へアークラックの検出ができない虞があ
る。さらに、光源と撮像装置とが共に壜の上方に配置さ
れているため、光の反射角の関係から、縦方向に沿った
へアークラックを検出することは困難である。
【0011】一方、特開平3−135376号公報に開
示されたものでは、ガラス壜の口部に存在するヘアーク
ラックからの反射光がモニターカメラに入射するための
相対的な位置関係が限られているため、ガラス壜を高速
で回転させて検査を行うことが困難であり、そのための
処理に多大な時間を要する。このため、一個当たりのガ
ラス壜に対する検査時間が長引いてしまい、高速で大量
に処理をする必要があるガラス壜の欠陥検査装置として
は、実用的とは余り言えなかった。しかも、画像処理装
置に入射する画像は、ガラス壜からの透過光であること
から、視野全体が明るすぎて特開昭62−69154号
公報に開示された壜口欠陥検査装置と同様に、微小なヘ
アークラックを検出することが困難となる虞があった。
また、光源と壜と撮像装置との位置関係は、縦方向に沿
ったへアークラックがその反射光量を撮像装置に向かっ
て最も良く反射するように配置されているため、その結
果として口部の円周方向に沿ったヘアークラックからの
反射光量は、撮像装置にほとんど届かず、口部の円周方
向に沿ったヘアークラックを検出することは困難であ
る。
【0012】
【発明の目的】本発明の目的は、ガラス壜の口部分に対
するヘアークラックの存在の有無を迅速かつ低コストに
て確実に検出し得る欠陥検査方法およびその装置を提供
することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の形態は、
光透過性の被検査容器をその軸線回りに回転するステッ
プと、この被検査容器の真上から照明光を当該被検査容
器に投射するステップと、前記被検査容器の斜め上方か
ら前記被検査容器の反射画像を得るステップと、前記被
検査容器の反射画像に基づいて前記被検査容器の欠陥の
有無を判定するステップとを具えたことを特徴とする欠
陥検査方法にある。
【0014】また、本発明の第2の形態は、検査領域に
搬入される光透過性の被検査容器の上方に位置してこの
被検査容器に照明光を下向きに投射する光源と、前記被
検査容器の斜め上方に配置されて前記被検査容器の反射
画像を得る撮像光学系と、前記検査領域にて前記被検査
容器をその軸線回りに一回転以上させる容器回転手段
と、前記撮像光学系からの反射画像に基づいて前記被検
査容器の欠陥の有無を検出する判定手段とを具えたこと
を特徴とする欠陥検査装置にある。
【0015】本発明によると、検査領域に搬入された被
検査容器は、容器回転手段によってその軸線周りに回転
される。この被検査容器には、光源からの照明光が真下
に照射され、その反射画像が撮像光学系で撮像される。
この撮像光学系で得られた反射画像に基づき、判定手段
は被検査容器の欠陥の有無を検出する。反射画像は、暗
い視野内の所定の領域に被検査容器の反射光が浮き上が
った状態となる。被検査容器に欠陥がある場合には、所
定の領域に浮き上がる反射光以外に、所定の領域以外に
も反射光が浮き上がった状態となる。
【0016】一方、本発明の第3の形態は、光透過性の
被検査容器をその軸線回りに回転するステップと、この
被検査容器の斜め下方から照明光を当該被検査容器に投
射するステップと、前記被検査容器の斜め上方から前記
被検査容器の反射画像を得るステップと、前記被検査容
器の反射画像に基づいて前記被検査容器の欠陥の有無を
判定するステップとを具えたことを特徴とする欠陥検査
方法にある。
【0017】また、本発明の第4の形態は、検査領域に
搬入される光透過性の被検査容器の斜め下方に位置して
この被検査容器に照明光を斜め上向きに投射する光源
と、前記被検査容器の斜め上方に配置されて前記被検査
容器の反射画像を得る撮像光学系と、前記検査領域にて
前記被検査容器をその軸線回りに一回転以上させる容器
回転手段と、前記撮像光学系からの反射画像に基づいて
前記被検査容器の欠陥の有無を検出する判定手段とを具
えたことを特徴とする欠陥検査装置にある。
【0018】本発明によると、検査領域に搬入された被
検査容器は、容器回転手段によってその軸線周りに回転
される。この被検査容器には、光源からの照明光が斜め
上向きに照射され、その反射画像が撮像光学系で撮像さ
れる。この撮像光学系で得られた反射画像に基づき、判
定手段は被検査容器の欠陥の有無を検出する。反射画像
は、暗い視野内の所定の領域に被検査容器の反射光が浮
き上がった状態となる。被検査容器に欠陥がある場合に
は、所定の領域に浮き上がる反射光以外に、所定の領域
以外にも反射光が浮き上がった状態となる。
【0019】
【発明の実施の形態】本発明の第1の形態による欠陥検
査方法において、照明光は、被検査容器の軸線と同軸状
をなす環状の光投射面を有する光源から投射されるもの
であってもよく、被検査容器の欠陥は、その口部の円周
方向に沿って発生するヘアークラックであってもよい。
【0020】本発明の第2の形態による欠陥検査装置に
おいて、光源は、光投射面が被検査容器の軸線と同軸状
の環状をなすものであってもよい。
【0021】本発明の第3の形態による欠陥検査方法に
おいて、被検査容器の軸線と、照明光の軸線と、反射画
像を得るための観察方向の軸線とが同一平面にあること
が望ましく、また、被検査容器の欠陥は、軸線に沿って
その口部に発生するヘアークラックであってもよい。
【0022】本発明の第4の形態による欠陥検査装置に
おいて、被検査容器の軸線と、照明光の軸線と、撮像光
学系の軸線とが同一平面にあることが望ましい。
【0023】
【実施例】本発明による欠陥検査方法を実現し得る本発
明による欠陥検査装置をガラス壜の口部にその周方向に
沿って発生するヘアークラックの検査に応用した実施例
について、図1〜図4を参照しながら詳細に説明する。
【0024】本実施例の概略構成を表す図1およびその
平面構成を表す図2に示すように、図示しない駆動装置
によって間欠的に旋回する旋回テーブル11の外周側に
は、ガラス壜Wの胴部WB に対応した半円弧状の切り欠
き部12が等間隔に形成されている。この旋回テーブル
11には、ガラス壜Wの図示しない搬入位置と検査位置
C と図示しない搬出位置とが設定されており、搬入位
置にある切り欠き部12に検査前のガラス壜Wが図示し
ない搬入コンベヤによって搬入され、検査位置PC を通
り、搬出位置にある切り欠き部12に保持された検査済
みのガラス壜Wが図示しない搬出コンベヤによって搬出
される。また、搬入位置から搬出位置に至る旋回テーブ
ル11の外周側には、この旋回テーブル11の外周に対
して所定の隙間を隔てて対向する図示しない案内部材が
配設されており、ガラス壜Wは、この案内部材と切り欠
き部12との間に挟持された状態で搬入位置から検査位
置PC を介して搬出位置に間欠的に搬送される。
【0025】前記検査位置PC には、ガラス壜Wをその
軸線CW 周りに駆動回転させるための図示しない壜回転
装置が設けられており、この検査位置PC でガラス壜W
はその軸線CW 周りに一回転以上回転される。
【0026】検査位置PC にあるガラス壜Wの上方に
は、環状の光投射面13を有する光源14が配置されて
おり、この光源14の光投射面13は、ガラス壜Wの軸
線CWと同軸状に設定されている。また、検査位置PC
にあるガラス壜Wの斜め上方には、このガラス壜Wの口
部WO を撮像する撮像カメラ15が配置されており、こ
の撮像カメラ15によって撮像される口部WO の反射画
像が画像処理装置16に読み込まれ、欠陥判定装置17
によってヘアークラックの有無が判定される。
【0027】上述した反射画像の一例を模式的に表す図
3に示すように、撮像カメラ15によって撮像される口
部WO の反射画像は、暗い視野中に一対の円弧状をなす
口部WO からの強い反射光が光輝部IP として表れる。
これら一対の光輝部IP は、画像処理装置16にて画像
処理を行う際のガラス壜Wの位置修正情報として利用さ
れる。
【0028】ガラス壜Wの口部WO にその円周方向に沿
ったヘアークラックが存在する場合、このようなガラス
壜Wの口部WO を抽出拡大した図4に示すように、光源
14からの投射光は、ヘアークラックWC の部分にて強
く反射することとなる。このため、撮像カメラ15の視
野内には、一対の光輝部IP の他にガラス壜Wの回転に
伴って移動するヘアークラックWC によるランダムな不
定形光輝部IU が発生する。欠陥判定装置17は、この
不定形光輝部IU の存在を検出した場合には、ガラス壜
Wに欠陥があると判断する。
【0029】本実施例では、環状の光投射面13を有す
る光源14をガラス壜Wの軸線CWと同軸状に配置した
が、光投射面13が均一な光拡散面となった光源14で
あれば、環状以外のものでも何ら問題なく採用すること
ができる。
【0030】また、上述した実施例では、ガラス壜Wの
真上から照明光を投射しているため、図4に示すよう
に、ヘアークラックWC がガラス壜Wの口部WO の円周
方向に沿って存在する場合、ヘアークラックWC から大
きな反射光が発生する可能性が高いものの、ヘアークラ
ックWC がガラス壜Wの口部WO の軸線CW 方向に沿っ
て存在する場合、これを効率よく反射させることが難し
くなる。
【0031】このようなことから、ガラス壜Wの軸線C
W 方向に沿ってヘアークラックWCが存在する場合、こ
れを良好に検出し得る本発明の他の実施例について、図
5〜図8を参照しながら詳細に説明する。
【0032】本実施例の概略構成を表す図5およびその
平面構成を表す図6に示すように、図示しない駆動装置
によって間欠的に旋回する旋回テーブル11の外周側に
は、ガラス壜Wの胴部WB に対応した半円弧状の切り欠
き部12が等間隔に形成されている。この旋回テーブル
11には、ガラス壜Wの搬入位置と検査位置PC と搬出
位置とが設定されており、搬入位置にある切り欠き部1
2に検査前のガラス壜Wが図示しない搬入コンベヤによ
って搬入され、検査位置PC を通り、搬出位置にある切
り欠き部12に保持された検査済みのガラス壜Wが図示
しない搬出コンベヤによって搬出される。また、搬入位
置から搬出位置に至る旋回テーブル11の外周側には、
この旋回テーブル11の外周に対して所定の隙間を隔て
て対向する図示しない案内部材が配設されており、ガラ
ス壜Wは、この案内部材と切り欠き部12との間に挟持
された状態で搬入位置から検査位置PC を介して搬出位
置に間欠的に搬送される。
【0033】前記検査位置PC には、ガラス壜Wをその
軸線CW 周りに駆動回転させるための図示しない壜回転
装置が設けられており、この検査位置PC でガラス壜W
はその軸線CW 周りに一回転以上回転される。
【0034】検査位置PC にあるガラス壜Wの側方に
は、矩形の光投射面13を有する光源14が斜め上向き
に配置されており、光投射面13から均一な拡散光が投
射される光源14の光軸CL は、水平面に対して傾斜し
た状態となっている。また、検査位置PC にあるガラス
壜Wの斜め上方には、このガラス壜Wの口部WO を撮像
する撮像カメラ15が配置されており、この撮像カメラ
15によって撮像される口部WO の反射画像が画像処理
装置16に読み込まれ、欠陥判定装置17によってヘア
ークラックの有無が判定される。なお、検査位置PC
おけるガラス壜Wの軸線CW と、光源14の光軸C
L と、撮像カメラ15の光軸CC とは、すべて同一平面
内に位置するように設定されている。
【0035】上述した反射画像の一例を模式的に表す図
7に示すように、撮像カメラ15によって撮像される口
部WO の反射画像は、暗い視野の中央部に口部WO から
の強い反射光が光輝部IP としてほぼ左右対称に表れ
る。この光輝部IP は、画像処理装置16にて画像処理
を行う際のガラス壜Wの位置修正情報として利用され
る。
【0036】ガラス壜Wの口部WO にその軸線CW 方向
に沿ったヘアークラックWC が存在する場合、このよう
なガラス壜Wの口部WO を抽出拡大した図8に示すよう
に、光源14からの投射光は、ヘアークラックWC の部
分にて強く反射することとなる。このため、撮像カメラ
15の視野内には、先の光輝部IP の他にガラス壜Wの
回転に伴って移動するヘアークラックWC によるランダ
ムな不定形光輝部IUが発生する。欠陥判定装置17
は、この不定形光輝部IU の存在を検出した場合には、
ガラス壜Wに欠陥があると判断する。
【0037】
【発明の効果】本発明の欠陥検査方法によると、光透過
性の被検査容器をその軸線回りに回転させ、この被検査
容器の真上から照明光を投射し、被検査容器の斜め上方
から被検査容器の反射画像を得て被検査容器の欠陥の有
無を判定するようにしたので、被検査容器の円周方向に
沿って発生する欠陥の有無を迅速かつ低コストにて確実
に検出することができる。
【0038】同様に、本発明の欠陥検査方法によると、
光透過性の被検査容器をその軸線回りに回転させ、この
被検査容器の斜め下方から照明光を投射し、被検査容器
の斜め上方から被検査容器の反射画像を得て被検査容器
の欠陥の有無を判定するようにしたので、被検査容器の
軸線方向に沿って発生する欠陥の有無を迅速かつ低コス
トにて確実に検出することができる。
【0039】また、本発明の欠陥検査装置によると、検
査領域に搬入される光透過性の被検査容器の上方から照
明光を下向きに投射する光源と、被検査容器の斜め上方
から被検査容器の反射画像を得る撮像光学系と、検査領
域にて被検査容器をその軸線回りに一回転以上させる容
器回転手段と、撮像光学系からの反射画像に基づいて被
検査容器の欠陥の有無を検出する判定手段とを設けたの
で、被検査容器の円周方向に沿って発生する欠陥の有無
を迅速かつ低コストにて確実に検出することができる。
【0040】同様に、本発明の欠陥検査装置によると、
検査領域に搬入される光透過性の被検査容器の斜め下方
から照明光を投射する光源と、被検査容器の斜め上方か
ら被検査容器の反射画像を得る撮像光学系と、検査領域
にて被検査容器をその軸線回りに一回転以上させる容器
回転手段と、撮像光学系からの反射画像に基づいて被検
査容器の欠陥の有無を検出する判定手段とを設けたの
で、被検査容器の軸線方向に沿って発生する欠陥の有無
を迅速かつ低コストにて確実に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による欠陥検査装置の一実施例の概略構
造を表す概念図である。
【図2】図1に示した実施例の平面図である。
【図3】図1および図2に示した実施例における反射画
像の一例を表す模式図である。
【図4】ガラス壜の口部の抽出拡大図である。
【図5】本発明による欠陥検査装置の他の実施例の概略
構造を表す概念図である。
【図6】図5に示した実施例の平面図である。
【図7】図5および図6に示した実施例における反射画
像の一例を表す模式図である。
【図8】ガラス壜の口部の抽出拡大図である。
【符号の説明】
11 旋回テーブル 12 切り欠き部 13 光投射面 14 光源 15 撮像カメラ 16 画像処理装置 17 欠陥判定装置 W ガラス壜 WB 胴部 WO 口部 WC ヘアークラック PC 検査位置 CW ガラス壜の軸線 CL 光源の光軸 CC 撮像カメラの光軸 IP 光輝部 IU 不定形光輝部

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光透過性の被検査容器をその軸線回りに
    回転するステップと、 この被検査容器の真上から照明光を当該被検査容器に投
    射するステップと、 前記被検査容器の斜め上方から前記被検査容器の反射画
    像を得るステップと、 前記被検査容器の反射画像に基づいて前記被検査容器の
    欠陥の有無を判定するステップとを具えたことを特徴と
    する欠陥検査方法。
  2. 【請求項2】 前記照明光は、前記被検査容器の軸線と
    同軸状をなす環状の光投射面を有する光源から投射され
    るものであることを特徴とする請求項1に記載の欠陥検
    査方法。
  3. 【請求項3】 前記被検査容器の欠陥は、その口部の円
    周方向に沿って発生するヘアークラックであることを特
    徴とする請求項1または請求項2に記載の欠陥検査方
    法。
  4. 【請求項4】 検査領域に搬入される光透過性の被検査
    容器の上方に位置してこの被検査容器に照明光を下向き
    に投射する光源と、 前記被検査容器の斜め上方に配置されて前記被検査容器
    の反射画像を得る撮像光学系と、 前記検査領域にて前記被検査容器をその軸線回りに一回
    転以上させる容器回転手段と、 前記撮像光学系からの反射画像に基づいて前記被検査容
    器の欠陥の有無を検出する判定手段とを具えたことを特
    徴とする欠陥検査装置。
  5. 【請求項5】 前記光源は、光投射面が被検査容器の軸
    線と同軸状の環状をなすことを特徴とする請求項4に記
    載の欠陥検査装置。
  6. 【請求項6】 光透過性の被検査容器をその軸線回りに
    回転するステップと、 この被検査容器の斜め下方から照明光を当該被検査容器
    に投射するステップと、 前記被検査容器の斜め上方から前記被検査容器の反射画
    像を得るステップと、 前記被検査容器の反射画像に基づいて前記被検査容器の
    欠陥の有無を判定するステップとを具えたことを特徴と
    する欠陥検査方法。
  7. 【請求項7】 前記被検査容器の軸線と、前記照明光の
    軸線と、反射画像を得るための観察方向の軸線とが同一
    平面にあることを特徴とする請求項6に記載の欠陥検査
    方法。
  8. 【請求項8】 前記被検査容器の欠陥は、前記軸線に沿
    ってその口部に発生するヘアークラックであることを特
    徴とする請求項6または請求項7に記載の欠陥検査方
    法。
  9. 【請求項9】 検査領域に搬入される光透過性の被検査
    容器の斜め下方に位置してこの被検査容器に照明光を斜
    め上向きに投射する光源と、 前記被検査容器の斜め上方に配置されて前記被検査容器
    の反射画像を得る撮像光学系と、 前記検査領域にて前記被検査容器をその軸線回りに一回
    転以上させる容器回転手段と、 前記撮像光学系からの反射画像に基づいて前記被検査容
    器の欠陥の有無を検出する判定手段とを具えたことを特
    徴とする欠陥検査装置。
  10. 【請求項10】 前記被検査容器の軸線と、前記照明光
    の軸線と、前記撮像光学系の軸線とが同一平面にあるこ
    とを特徴とする請求項9に記載の欠陥検査装置。
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Cited By (5)

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