JPH1010734A - 感放射線性樹脂組成物 - Google Patents
感放射線性樹脂組成物Info
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- JPH1010734A JPH1010734A JP8184047A JP18404796A JPH1010734A JP H1010734 A JPH1010734 A JP H1010734A JP 8184047 A JP8184047 A JP 8184047A JP 18404796 A JP18404796 A JP 18404796A JP H1010734 A JPH1010734 A JP H1010734A
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Abstract
膜が得られる新規な感放射線性樹脂組成物の提供。 【解決手段】 (A) (a-1)不飽和カルボン酸および/ま
たは不飽和カルボン酸無水物と、(a-2)前記以外のラジ
カル重合性化合物をモノマー単位として含む共重合体、
(B) 一般式(1) : −CH2OR1 (1) 〔式中、R1は水素原子またはアルキル基である〕で示さ
れる一価有機基を分子内に有する架橋剤、および(C) 感
放射線性酸発生剤を含有する組成物であって、得られる
硬化膜の比誘電率が3.0以下であることを特徴とす
る、感放射線性樹脂組成物。
Description
成物に関し、詳しくは電子部品の保護膜、特に液晶表示
素子、集積回路素子、固体撮像素子などの層間絶縁膜を
形成するのに好適な低誘電性の感放射線性樹脂組成物に
関する。
素子などの電子部品においては、一般に、電子部品表面
の平坦性を付与するための平坦化膜、劣化または損傷を
防ぐための保護膜、電気絶縁性を保つための絶縁膜など
が該部品上に形成される。さらに、薄膜トランジスタ型
液晶表示素子および集積回路素子においては、層状に配
置された配線の間を絶縁するための層間絶縁膜が設けら
れる。しかし、従来の熱硬化性樹脂を用いて、例えば層
間絶縁膜を形成すると、十分な平坦度を有するものが得
られないという問題がある。また、所望のパターン形状
を有する薄膜を得ようとすると、工程数が多くなるとい
う問題もある。また、前記素子および該素子における配
線は、近年、高密度化される傾向にあるため、低誘電率
の膜を得ることができる樹脂組成物が望まれる。
は、感度および解像度に優れた感放射線性樹脂組成物で
あって、硬化させることにより低誘電率で、平坦度、耐
熱性、耐溶剤性、透明度、絶縁率などに優れる硬化膜が
得られる感放射線性樹脂組成物を提供することである。
題を鋭意検討した結果、特定の感放射線性樹脂組成物を
用いることにより上記の課題を解決できることを見出し
た。
ボン酸無水物と、(a-2)前記以外のラジカル重合性化合
物をモノマー単位として含む共重合体、 (B) 一般式(1) : −CH2OR1 (1) 〔式中、R1は水素原子またはアルキル基である〕で示さ
れる一価有機基を分子内に有する架橋剤、および (C) 感放射線性酸発生剤(以下、「酸発生剤」ともい
う)を含有する組成物であって、該組成物を硬化して得
られる硬化膜の比誘電率が3以下であることを特徴とす
る、感放射線性樹脂組成物を提供するものである。以
下、本発明を詳述する。
は不飽和カルボン酸無水物と前記以外のラジカル重合性
化合物とを、例えば不活性溶媒中でラジカル共重合する
ことにより得られる。(A) 成分は、本発明の組成物のベ
ースポリマーとなる。
飽和カルボン酸無水物 (A) 共重合体の原料となる不飽和カルボン酸および/ま
たは不飽和カルボン酸無水物の具体例としては、メタク
リル酸、アクリル酸、クロトン酸、o−ビニル安息香
酸、m−ビニル安息香酸、p−ビニル安息香酸などのモ
ノカルボン酸;マレイン酸、フマル酸、シトラコン酸、
メサコン酸、イタコン酸、3−ビニルフタル酸、4−ビ
ニルフタル酸などのジカルボン酸および前記ジカルボン
酸の無水物が挙げられる。
ルボン酸無水物の中では、メタクリル酸、アクリル酸お
よびイタコン酸が好ましく、低誘電性の点からメタクリ
ル酸が特に好ましい。また、これらの化合物は、一種単
独でまたは適宜二種以上組み合わせて用いることができ
る。
ボン酸および/または不飽和カルボン酸無水物と共重合
可能なそれ以外のラジカル重合性化合物である。該ラジ
カル重合性化合物の具体例として、o−ビニルベンジル
グリシジルエーテル、m−ビニルベンジルグリシジルエ
ーテル、p−ビニルベンジルグリシジルエーテル、α−
メチル−o−ビニルベンジルグリシジルエーテル、α−
メチル−m−ビニルベンジルグリシジルエーテル、α−
メチル−p−ビニルベンジルグリシジルエーテル、2,
3−ジグリシジルオキシメチルスチレン、2,4−ジグ
リシジルオキシメチルスチレン、2,5−ジグリシジル
オキシメチルスチレン、2,6−ジグリシジルオキシメ
チルスチレン、2,3,4−トリグリシジルオキシメチ
ルスチレン、2,3,5−トリグリシジルオキシメチル
スチレン、2,3,6−トリグリシジルオキシメチルス
チレン、3,4,5−トリグリシジルオキシメチルスチ
レン、2,4,6−トリグリシジルオキシメチルスチレ
ン、(メタ)アクリル酸グリシジル、α−エチル(メ
タ)アクリル酸グリシジル、α−n−プロピル(メタ)
アクリル酸グリシジル、α−n−ブチル(メタ)アクリ
ル酸グリシジル、3,4−エポキシブチル(メタ)アク
リレート、3,4−エポキシヘプチル(メタ)アクリレ
ート、α−エチル−6,7−エポキシヘプチル(メタ)
アクリレート、アリルグリシジルエーテル、ビニルグリ
シジルエーテルなどのエポキシ基含有ラジカル重合性化
合物;スチレン、α−メチルスチレン、o−メチルスチ
レン、m−メチルスチレン、p−メチルスチレン、p−
イソプロピルスチレン、p−tert−ブチルスチレ
ン、p−シクロヘキシルスチレン、p−フェニルスチレ
ン、p−メトキシスチレン、p−メトキシメチルスチレ
ン、p−tert−ブトキシスチレン、クロロメチルス
チレン、2−フルオロスチレン、3−フルオロスチレ
ン、4−フルオロスチレン、2,3−ジフルオロスチレ
ン、2,4−ジフルオロスチレン、2,5−ジフルオロ
スチレン、2,6−ジフルオロスチレン、3,4−ジフ
ルオロスチレン、3,5−ジフルオロスチレン、2−ト
リフルオロメチルスチレン、3−トリフルオロメチルス
チレン、4−トリフルオロメチルスチレン、2,3−ビ
ス(トリフルオロメチル)スチレン、2,4−ビス(ト
リフルオロメチル)スチレン、2,5−ビス(トリフル
オロメチル)スチレン、2,6−ビス(トリフルオロメ
チル)スチレン、3,4−ビス(トリフルオロメチル)
スチレン、3,5−ビス(トリフルオロメチル)スチレ
ン、ペンタフルオロスチレン、ビニルトルエン、ビニル
ナフタレン、ビニルアントラセン、塩化ビニル、塩化ビ
ニリデン、N−ビニルピロリドン、酢酸ビニルなどの芳
香族ビニル化合物;ブタジエン、2,3−ジメチルブタ
ジエン、1,4−ジメチルブタジエン、1,3−ペンタ
ジエン、イソプレンなどの共役ジエン化合物;(メタ)
アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、(メ
タ)アクリル酸−n−プロピル、(メタ)アクリル酸−
i−プロピル、(メタ)アクリル酸−n−ブチル、(メ
タ)アクリル酸−sec−ブチル、(メタ)アクリル酸
−tert−ブチル、(メタ)アクリル酸−2−エチル
ヘキシル、(メタ)アクリル酸ヒドロキシエチル、(メ
タ)アクリル酸ラウリル、(メタ)アクリル酸ドデシ
ル、(メタ)アクリル酸ジシクロペンタニル、(メタ)
アクリル酸イソボロニル、(メタ)アクリル酸シクロヘ
キシル、(メタ)アクリル酸−2−メチルシクロヘキシ
ル、(メタ)アクリル酸ジシクロヘキシル、(メタ)ア
クリル酸アダマンチル、(メタ)アクリル酸アリル、
(メタ)アクリル酸プロバギル、(メタ)アクリル酸フ
ェニル、(メタ)アクリル酸ナフチル、(メタ)アクリ
ル酸アントラセニル、(メタ)アクリル酸シクロペンチ
ル、(メタ)アクリル酸フリル、(メタ)アクリル酸テ
トラヒドロフリル、(メタ)アクリル酸ピラニル、(メ
タ)アクリル酸ベンジル、(メタ)アクリル酸フェネシ
ル、(メタ)アクリル酸クレシル、(メタ)アクリル酸
−1,1,1−トリフルオロエチル、(メタ)アクリル
酸パーフルオロエチル、(メタ)アクリル酸パーフルオ
ロ−n−プロピル、(メタ)アクリル酸パーフルオロ−
i−プロピル、(メタ)アクリル酸トリフェニルメチ
ル、(メタ)アクリル酸クミル、(メタ)アクリル酸−
2−ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸−2−ヒド
ロキシプロピル、(メタ)アクリル酸−アミド、(メ
タ)アクリル酸−N,N−ジメチルアミド、(メタ)ア
クリル酸−N,N−プロピルアミド、(メタ)アクリル
酸−アニリド、(メタ)アクリロニトリル、アクロレイ
ンなどの(メタ)アクリロイル基含有化合物;マレイン
酸ジエチル、フマル酸ジエチル、イタコン酸ジエチルな
どの不飽和ジカルボン酸ジエステルなどが挙げられる。
役ジエン化合物および(メタ)アクリル酸ジシクロペン
タニルが好ましく、特に好ましくはスチレン、p−メチ
ルスチレン、p−tert−ブチルスチレン、ブタジエ
ン、イソプレン、1,3−ペンタジエンおよび(メタ)
アクリル酸ジシクロペンタニルである。これらのラジカ
ル重合性化合物は、一種単独でも適宜二種以上組み合わ
せて用いてもよい。二種以上用いるときは、より低誘電
率の硬化膜を形成する共重合体が得られる点で、芳香族
ビニル化合物および共役ジエン化合物を併用することが
望ましい。なお、(A) 成分の共重合体においては、(a-
1) 不飽和カルボン酸および/または不飽和カルボン酸
無水物に由来するモノマー単位が、通常10〜40重量%で
あることが好ましく、15〜35重量%がより好ましい。共
重合体中の(a-1) 成分が少なすぎると、得られる組成物
を放射線照射に供した後の現像液への溶解性が不足して
パターニングが困難となる場合があり、多すぎると、得
られる組成物から形成される硬化膜の誘電率が高くなり
すぎる場合が
常、重合開始剤の存在下で行われる。本発明における共
重合体は、(a-1) および(a-2) 以外に由来する任意的な
モノマー単位を含んでいてもよいが、通常、(a-1) 不飽
和カルボン酸および/または不飽和カルボン酸無水物に
由来するモノマー単位以外は、(a-2) その他のラジカル
重合性化合物に由来するモノマー単位からなる。
始剤を使用でき、例えば2,2’−アゾビスイソブチロ
ニトリル、2,2’−アゾビス−(2,4−ジメチルバ
レロニトリル)、2,2’−アゾビス−(4−メトキシ
−2,4−ジメチルバレロニトリル)などのアゾ化合
物;ベンゾイルパーオキシド、ラウロイルペルオキシ
ド、t−ブチルペルオキシピバレート、1,1’−ビス
−(t−ブチルペルオキシ)シクロヘキサン、3,5,
5−トリメチルヘキサノイルパーオキシド、t−ブチル
パーオキシ−2−エチルヘキサノエートなどの有機過酸
化物ならびに過酸化水素が挙げられる。これらの中で
は、開始剤にニトリル基を含まない有機過酸化物が、ニ
トリル基を含むものに比べて誘電率がより低い硬化膜を
形成する共重合体を得ることができるので好ましい。な
お、有機過酸化物を使用する場合には、還元剤と組み合
わせたレドックス型開始剤としてもよい。
は、原料モノマーおよび生成する共重合体が溶解し、そ
して重合反応を阻害しないものであれば特に制限なく用
いることができる。具体的には、メタノール、エタノー
ルなどのアルコール類;テトラヒドロフランなどのエー
テル類;エチレングリコールモノメチルエーテル、エチ
レングリコールジメチルエーテル、エチレングリコール
メチルエチルエーテル、エチレングリコールモノエチル
エーテルなどのグリコールエーテル類;メチルセロソル
ブアセテート、エチルセロソルブアセテートなどのエチ
レングリコールアルキルエーテルアセテート類;ジエチ
レングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコ
ールジエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチル
エーテル、ジエチレングリコールエチルメチルエーテ
ル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチ
レングリコールモノブチルエーテルなどのジエチレング
リコール類;プロピレングリコールメチルエーテルアセ
テート、プロピレングリコールエチルエーテルアセテー
トなどのプロピレングリコールアルキルエーテルアセテ
ート類;トルエン、キシレンなどの芳香族炭化水素類;
メチルエチルケトン、メチルアミルケトン、シクロヘキ
サノン、4−ヒドロキシ−4−メチル−2−ペンタノン
などのケトン類;ならびに2−ヒドロキシプロピオン酸
エチル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン酸メチ
ル、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン酸エチル、
エトキシ酢酸エチル、ヒドロキシ酢酸エチル、2−ヒド
ロキシ−2−メチルブタン酸メチル、3−メトキシプロ
ピオン酸メチル、3−メトキシプロピオン酸エチル、3
−エトキシプロピオン酸メチル、3−エトキシプロピオ
ン酸エチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、乳酸メチル、乳
酸エチルなどのエステル類が挙げられる。
で、重合反応時にゲルを発生させない点からグリコール
エーテル類、アルキレングリコールアルキルエーテルア
セテート類およびジエチレングリコールジアルキルエー
テル類が好ましく、特に好ましくは、3―エトキシプロ
ピオン酸エチル、乳酸エチル、プロピレングリコールモ
ノメチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノ
エチルエーテルアセテートおよびメチルアミルケトンで
ある。
モノマーの重合性、開始剤の分解温度などに応じて決め
ればよく、通常、10〜150℃の範囲でよく、好まし
くは50〜120℃の範囲である。また、反応時間は、
通常、0.5〜50時間でよい。
子量は、得られる組成物が適宜用いられる有機溶剤に均
一に溶解することができ、アルカリ性水溶液で現像する
ことができる限り、特に限定されるものではなく、通
常、1000〜20000でよく、好ましくは1000
〜10000である。
6、好ましくは1〜4のアルキル基を表す〕で示される
一価有機基を1分子中に好ましくは2以上有する化合物
であり、好ましくは該一価有機基が窒素原子に結合する
化合物、すなわちN−メチロール基および/またはN−
アルコキシメチル基を含有する化合物である。一分子中
に一般式(1) の有機基が2以上あるときは、それらの基
のR1は同一でも異なってもよい。本発明の組成物におい
ては、一般式(1) で示される有機基が、酸発生剤に由来
する酸の存在下、(A) 成分の共重合体が有するカルボキ
シル基と反応し、架橋構造を形成する。
基、例えば炭素原子数1〜4のアルキル基である〕で示
されるN,N,N,N,N,N-(ヘキサアルコキシメチル)メラミ
ンなどのアルコキシメチル化メラミン、および式(3) :
同じ意味である〕で示されるN,N,N,N-(テトラアルコキ
シメチル)グリコールウリルなどのアルコキシメチル化
グリコールウリルが挙げられる。また、該架橋剤は、尿
素−ホルムアルデヒド樹脂、チオ尿素−ホルムアルデヒ
ド樹脂、メラミン−ホルムアルデヒド樹脂、グアナミン
−ホルムアルデヒド樹脂、ベンゾグアナミン−ホルムア
ルデヒド樹脂およびグリコールウリル−ホルムアルデヒ
ド樹脂、ならびにポリビニルフェノール類に一般式(1)
で示される基を導入した化合物などでもよい。これらの
中では、アルコキシメチル化メラミンおよびアルコキシ
メチル化グリコールウリルが好ましく、中でもアルコキ
シメチル化メラミンが特に好ましい。また、光架橋性、
耐熱性および耐溶剤性のバランスに優れ、低誘電率の硬
化物が得られる点から、アルコキシメチル化メラミン
(I)とアルコキシメチル化グリコールウリル(II)とを混
合して用いるのも特に好ましく、この場合、重量比
〔(I)/(II)〕で5/95〜95/5、より好ましくは
10/90〜90/10で混合されたものである。
00重量部に対して、通常、3〜50重量部でよく、好
ましくは5〜50重量部、特に好ましくは10〜40重
量部である。架橋剤が少なすぎると、組成物から得られ
る硬化物の架橋密度が十分でなくなり、その結果、形成
されるパターンが膨潤し、解像度が低下したり、耐溶剤
性および耐耐熱性に劣るものとなる場合がある。逆に、
多すぎると、放射線の未照射部分においても架橋反応が
進行し、形成されるパターン性状が悪化する場合があ
る。
ニウム塩、トリアリールスルフォニウム塩、フェニルジ
アゾニウム塩などのオニウム化合物、イミドスルフォネ
ート誘導体、トシラート化合物、ベンジル誘導体のカル
ボナート化合物、ならびにトリアジン誘導体のハロゲン
化物などが挙げられる。
(4) : Ar2I+ Y - (4) 〔式中、Arはアリール基であり、Y はアニオンを表す〕
で示されるものである。一般式(4) で示されるジアリー
ルヨードニウム塩中のカチオンとしては、例えばジフェ
ニルヨードニウム、4−メトキシフェニル−フェニルヨ
ードニウム、ビス(4−メトキシフェニル)ヨードニウ
ムおよびビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム
などが挙げられる。また、該アニオン(Y - )は、例え
ばナフタレン−1−スルフォネート、ナフタレン−2−
スルフォネート、2−t−ブチル−ナフタレン−2−ス
ルフォネートなどのナフタレン誘導体;アントラセン−
1−スルフォネート、アントラセン−2−スルフォネー
ト、9−ニトロアントラセン−1−スルフォネート、
5,6−ジクロロアントラセン−3−スルフォネート、
9,10−ジクロロアントラセン−2−スルフォネー
ト、9,10−ジメトキシアントラセン−2−スルフォ
ネート、9,10−ジエトキシアントラセン−2−スル
フォネート、ベンズ(a)アントラセン−4−スルフォネ
ートなどのアントラセン誘導体;フェナンスレン−2−
スルフォネート、ピレン−スルフォネート、トリフェニ
レン−2−スルフォネート、クリセン−2−スルフォネ
ート、アントラキノン−スルフォネートなどのその他の
多環構造を有するアニオン;トリフルオロメタンスルフ
ォネート、ヘキサフルオロアンチモネート、テトラフル
オロボレート、ヘキサフルオロフォスフェート、ベンゼ
ンスルフォネートなどが挙げられ、これらの中では、ア
ントラセン誘導体およびトリフルオロメタンスルフォネ
ートが好ましい。
は、一般式(5) : Ar3S+ Y - (5) 〔式中、ArおよびY は前記と同じ意味である〕で示され
るものである。一般式(5) で示されるトリアリールスル
フォニウム塩中のカチオンとしては、例えばトリフェニ
ルスルフォニウム、メトキシフェニル−ジフェニルスル
フォニウム、ビス(メトキシフェニル)−フェニルスル
フォニウム、トリス(メトキシフェニル)スルフォニウ
ム、4−メチルフェニル−ジフェニルスルフォニウム、
2,4,6−トリメチルフェニル−ジフェニルスルフォ
ニウム、4−t−ブチルフェニル−ジフェニルスルフォ
ニウム、トリス(4−t−ブチルフェニル)−スルフォ
ニウムなどが挙げられる。また、アニオンの具体例は、
前記ジアリールヨードニウム塩で例示したものと同様で
ある。
は、トリフルオロメチルスルフォニルオキシビシクロ
[2,2,1]−ヘプト−5−エン−ジカルボキシイミ
ド、スクシンイミドトリフルオロメチルスルフォネー
ト、フタルイミドトリフルオロメチルスルフォネートな
どが挙げられる。
ンジルトシラート、ニトロベンジルトシラート、ジニト
ロベンジルトシラートなどのベンジルカチオン誘導体が
挙げられる。さらに、前記ベンジル誘導体のカルボナー
ト化合物としては、ベンジルカルボナート、ニトロベン
ジルカルボナート、ジニトロベンジルカルボナートなど
のベンジルカルボナート誘導体が挙げられる。そして、
前記トリアジン誘導体のハロゲン化物としては、2,
4,6−(トリスクロロメチル)−s−トリアジンなど
のトリクロロメチルトリアジン誘導体が挙げられる。
00重量部に対して、通常、0.5〜20重量部でよ
く、好ましくは1〜15重量部、特に好ましくは1〜1
0重量部である。酸発生剤が少なすぎると、放射線照射
による硬化が不十分となる場合があり、その結果、形成
されるパターンが溶解してしまう場合がある。逆に、多
すぎると、放射線未照射部でも架橋反応が進行し、その
結果、形成されるパターンが現像できなくなる場合があ
る。
応じて界面活性剤、密着助剤などの添加剤を含有しても
よい。
る組成物が塗布しやすくなり、得られる膜の平坦度も向
上する。該界面活性剤としては、例えばBM−1000
(BM Chemie社製)、メガファックスF142
D、同F172、同F173および同F183〔大日本
インキ化学工業(株)製〕、フロラードFC−135、
同FC−170C、フロラードFC−430および同F
C−431〔住友スリーエム(株)製〕、サーフロンS
−112、同S−113、同S−131、同S−141
および同S−145〔旭硝子(株)製〕、SH−28P
A、SH−190、SH−193、SZ−6032、S
F−8428、DC−57およびDC−190〔東レシ
リコーン(株)製〕などのフッ素系界面活性剤が挙げら
れる。該界面活性剤の使用割合は、(A) 成分100重量
部に対して、通常、5重量部以下でよく、好ましくは
0.01〜2重量部である。
られる組成物の接着性が向上する。該接着助剤として
は、好ましくは、カルボキシル基、メタクリロイル基、
イソシアナート基、エポキシ基などの反応性置換基を有
するシラン化合物(官能性シランカップリング剤)が挙
げられる。該官能性シランカップリング剤の具体例とし
ては、トリメトキシシリル安息香酸、γ−メタクリロキ
シプロピルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシ
シラン、ビニルトリメトキシシラン、γ−イソシアネー
トプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロ
ピルトリメトキシシラン、β−(3,4−エポキシシク
ロヘキシル)エチルトリメトキシシランなどが挙げられ
る。該接着助剤の使用割合は、(A) 成分100重量部に
対して、通常、20重量部以下でよく、好ましくは0.
05〜10重量部、特に好ましくは1〜10重量部であ
る。
じてその他の添加剤を均一に混合することにより、通常
有機溶剤に溶解して用いられる。
せず、かつ相互に溶解するものであれば特に制限はな
く、好ましくは前記の重合用溶媒として例示したものと
同様のものである。
れる。ろ過の手段としては、例えば孔径1.0〜0.2
μmのミリポアフィルターなどが挙げられる。
であり、例えば以下のようにして、ネガ型感放射線性樹
脂組成物として用いることができる。
ロールコート法、回転塗布法などにより基板表面に塗布
する。その後、該塗布された基板をプリベークして有機
溶剤を除去し、組成物の塗膜を基板の上に形成する。プ
リベークの温度は、組成物の成分、使用割合、有機溶剤
の種類などにより適宜決められばよく、通常、60〜1
10℃、好ましくは、70〜100℃である。また、プ
リベークの時間は、通常、30秒〜15分程度でよい。
介して放射線を照射する。該放射線の照射された部分
が、架橋硬化され、後のアルカリ性水溶液に溶出しなく
なる。放射線のエネルギー量、すなわち放射線の種類
は、所望の解像度、酸発生剤の感応波長などに応じて適
宜決められばよく、通常、g線(波長436nm)、h
線(405nm)、i線(波長365nm)などの紫外
線、KrFエキシマレーザーなどの遠紫外線、シンクロ
トロン放射線などのX線、電子線などの荷電粒子線を用
いることができ、好ましくはg線またはi線が用いられ
る。放射線照射後に、ポストエクスポジュアベーキング
処理(以下、「PEB処理」という)を行う。PEB処
理の条件は、通常、50〜180℃の温度で、時間は、
通常、0.1〜10分間程度でよい。
を用いて現像処理し、放射線の未照射部分を除去する。
こうして、薄膜のパターニングが行われる。現像方法と
しては、液盛り法、ディッピング法、揺動浸漬法などが
挙げられる。また、現像液としては、アルカリ性水溶
液、アルカリ性水溶液と水溶性有機溶媒および/または
界面活性剤との混合液、および本発明の組成物が溶解す
る有機溶剤が挙げられ、好ましくはアルカリ性水溶液と
界面活性剤との混合液である。
としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナ
トリウム、ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、
アンモニア、エチルアミン、n−プロピルアミン、ジエ
チルアミン、ジエチルアミノエタノール、ジ−n−プロ
ピルアミン、トリエチルアミン、メチルジエチルアミ
ン、ジメチルエタノールアミン、トリエタノールアミ
ン、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエ
チルアンモニウムヒドロキシド、ピロール、ピペリジ
ン、1,8−ジアザビシクロ〔5,4,0〕−7−ウン
デセン、1,5−ジアザビシクロ〔4,3,0〕−5−
ノナンが挙げられ、好ましくはテトラメチルアンモニウ
ムヒドロキシドである。また、水溶性有機溶媒として
は、メタノール、エタノール、アセトンなどが挙げられ
る。
理し、圧縮空気、圧縮窒素を用いて風乾する。さらに、
薄膜の透明性を向上するためなどの理由で、必要に応じ
て例えば紫外線などの放射線を該薄膜の表面に照射した
後、ホットプレート、オーブンなどの加熱装置を用いて
ポストベークを行う。ポストベークの条件は、通常、1
50〜250℃の温度で、時間は3分〜1時間でよい。
こうして、硬化膜が基板の上に形成される。
以下、好ましくは2.9以下である。また、該硬化膜
は、高解像度、絶縁性、平坦度、耐熱性、透明度、硬度
などの物性に優れる。したがって、電子部品の保護膜、
平坦化膜、層間絶縁膜などに有用であり、特に、液晶表
示素子、集積回路素子および固体撮像素子の層間絶縁膜
に有用である。
する。
成) ドライアイス/メタノール還流冷却器を具えたフラスコ
の中を窒素で置換した後、重合開始剤として2,2’−
アゾビスイソブチロニトリル9.0gを予め溶解した乳
酸エチル溶液375.0gを、該フラスコ内に仕込ん
だ。次いで、不飽和カルボン酸としてメタクリル酸3
7.5g(全モノマー原料に対して30重量%)、およ
び別のラジカル重合性化合物としてスチレン87.5g
(同70重量%)を仕込んだ後、ゆるやかに攪拌しなが
ら、70℃の温度に加熱し、同温度で8時間保持した。
その後、80℃で1時間加熱した。その後、室温に冷却
して、共重合体溶液(樹脂分24.6重量%)を50
8g得た。
メタクリル酸ジシクロペンタニル共重合体) ドライアイス/メタノール還流冷却器を具えたフラスコ
の中を窒素で置換した後、重合開始剤として3,5,5
−トリメチルヘキサノイルパーオキシド9.0gを予め
溶解した乳酸エチル溶液375.0gを、該フラスコ内
に仕込んだ。次いで、不飽和カルボン酸としてメタクリ
ル酸43.75g(全モノマー原料に対して35重量
%)、そして別のラジカル重合性化合物としてスチレン
75.0gおよびメタクリル酸ジシクロペンタニル6.
25g(同合計65重量%)を仕込んだ後、ゆるやかに
攪拌しながら、70℃まで加熱し、同温度で7時間保持
した。その後、室温に冷却して、共重合体溶液(樹脂
分24.6重量%)を508g得た。
チルスチレン共重合体) ドライアイス/メタノール還流冷却器を具えたフラスコ
の中を窒素で置換した後、重合開始剤として2,2’−
アゾビスイソブチロニトリル9.0gを予め溶解した乳
酸エチル溶液375gを、該フラスコ内に仕込んだ。次
いで、不飽和カルボン酸としてメタクリル酸43.8g
(全モノマー原料に対して35重量%)、別のラジカル
重合性化合物としてp−t−ブチルスチレン81.25
g(同65重量%)を仕込んだ後、ゆるやかに攪拌しな
がら、80℃の温度に加熱し、同温度で5時間保持し、
次いでさらに90℃で1時間加熱した。その後、室温に
冷却して、共重合体溶液(樹脂分24.6重量%)を
508g得た。
スチレン共重合体) ドライアイス/メタノール還流冷却器を具えたフラスコ
の中を窒素で置換した後、重合開始剤として2,2’−
アゾビスイソブチロニトリル9.0gを予め溶解した乳
酸エチル溶液375.0gを、該フラスコ内に仕込ん
だ。次いで、不飽和カルボン酸としてメタクリル酸4
0.0g(全モノマー原料に対して32重量%)、別の
ラジカル重合性化合物としてp−メチルスチレン85.
0g(同68重量%)を仕込んだ後、ゆるやかに攪拌し
ながら、80℃の温度まで加熱し、同温度で5時間保持
し、次いで90℃で1時間加熱した。その後、室温に冷
却して、共重合体溶液(樹脂分24.6重量%)を5
08g得た。
スチレン/イソプレン共重合体) ドライアイス/メタノール還流冷却器を具えたフラスコ
の中を窒素で置換した後、重合開始剤として2,2’−
アゾビスイソブチロニトリル9.0gを予め溶解した乳
酸エチル溶液375.0gを、該フラスコ内に仕込ん
だ。次いで、不飽和カルボン酸としてメタクリル酸4
2.5g(全モノマー原料に対して34重量%)、別の
ラジカル重合性化合物としてp−メチルスチレン70g
(同56重量%)およびイソプレン12.5g(同10
重量%)を仕込んだ後、70℃の温度に加熱し、同温度
で5時間保持し、さらに80℃で3時間保持し、次いで
90℃で1時間加熱した。その後、室温に冷却して、共
重合体溶液(樹脂分24.6重量%)を508g得
た。
リル酸の使用量を62.5g(全モノマー原料に対して
50重量%)、およびスチレンの使用量を62.5g
(同50重量%)に変更した以外は合成例1と同様の操
作にて、共重合体溶液(樹脂分24.6重量%)を5
08g得た。
でろ過して、組成物溶液(I) を調製した。上記で得られ
た組成物溶液(I) を、スピンナーを用いてシリコン基板
上に塗布した後、90℃のホットプレート上で90秒間
プリベークして、膜厚4.0μmの塗膜を形成した。
ンを有するマスクを置き、波長365nm、光強度10
mW/cm2 の紫外線を空気中で100mJ/cm2 の
エネルギー量となるように照射した。照射後、120℃
のホットプレート上で、PEB処理を1分間行った。次
いで、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド1.5重
量%水溶液を用いて、25℃×30秒間の現像処理を行
った。その後、超純水でリンス処理を1分間行った。こ
うして、ネガ型のパターンを有する薄膜を形成した。
射エネルギー量を60〜300mJ/cm2 の間で変更
し、前記と同様のPEB処理および現像処理を行った。
そして、解像度が5.0μm×5.0μm以下で、かつ
200mJ/cm2 以下でもパターニングすることがで
きる感度を有するものを、感光能が良好(○)と評価し
た。また、解像度および/または感度が上記の基準より
劣るものを、感光能が不良(×)と評価した。その結果
を表1に示す。
を、240℃のホットプレート上で、ポストベーク処理
を30分間行い、薄膜を加熱硬化させた(以下、このよ
うに硬化した膜を加熱硬化膜と称する)。
化膜の比誘電率を、室温、1MHzの条件で誘電率測定
装置(ヒューレット・パッカード社製)を用いて測定し
た。その結果を表1に示す。
した後、加熱硬化膜の形成されたシリコン基板を、さら
に240℃のオーブン内で30分間加熱した。そして、
加熱処理後の膜厚を測定し、加熱硬化膜の残膜率を求め
た。加熱による残膜率が95%より優るもの、90〜9
5%のもの、および90%未満のものを、それぞれ、耐
熱性が良好(○)、普通(△)および不良(×)と評価
した。その結果を表1に示す。
たシリコン基板を、温度70℃のジメチルスルフォキシ
ドと水との混合液(体積比90/10)に15分間浸せ
きした後、膜厚を測定した。そして、膜厚変化率が20
%未満のもの、20%以上のもの、および膨潤が大きく
基板から剥がれてしまう状態のものを、それぞれ、耐溶
剤性が良好(○)、普通(△)および不良(×)と評価
した。その結果を表1に示す。
て、シリコン基板の代わりに、表面粗さ1.0μmのシ
リコン酸化膜基板を用いた以外は、(1) 〜(3) と同様の
操作にて、加熱硬化膜をシリコン酸化膜基板の上に形成
した。そして、接触式の膜厚測定器を用いて、該加熱硬
化膜の段差を測定し、段差の最大値が5%未満のもの、
および5%以上のものを、それぞれ、平坦度が良好
(○)および不良(×)と評価した。その結果を表1に
示す。
て、シリコン基板の代わりに、ガラス基板〔商品名:コ
ーニング7059(コーニング社製)〕を用いた以外
は、(1) 〜(3) と同様の操作にて、加熱硬化膜をガラス
基板の上に形成した。そして、得られた加熱硬化膜の透
過率を、分光光度計〔150−20型ダブルビーム(日
立製作所製)〕を用いて、波長400〜800nmで測
定し、最低透過率が90%を超えるもの、85〜90%
のもの、および85%未満のものを、それぞれ、透明度
が良好(○)、普通(△)および不良(×)と評価し
た。その結果を表1に示す。
化膜が形成されたガラス基板を、240℃のオーブン内
で30分間加熱した後、透過率を前記と同様にして測定
し、透過率を求めた。そして、加熱による透過率の変化
率が5%未満のもの、5〜10%のもの、および10%
を超えるものを、それぞれ、耐熱変色性が良好(○)、
普通(△)および不良(×)と評価した。結果を表1に
示す。
成分として表1に示す共重合体溶液〜のいずれか1
つを100g用いた以外は実施例1と同様の操作にて、
それぞれ、組成物溶液(II)〜(V) を調製し、塗膜および
加熱硬化膜の形成ならびに評価を行った。その結果を表
1に併せて示す。
として4−メトキシフェニル−ジフェニルスルフォニウ
ムヘキサフルオロアンチモネート1.25gを用いた以
外は実施例1と同様の操作にて、組成物溶液(VI)を調製
し、塗膜および加熱硬化膜の形成ならびに評価を行っ
た。その結果を表1に併せて示す。
としてヘキサメトキシメチルメラミン5.50gを用い
た以外は実施例1と同様の操作にて、組成物溶液(VII)
を調製し、塗膜および加熱硬化膜の形成ならびに評価を
行った。その結果を表1に併せて示す。
としてトリフルオロメチルスルフォニルオキシビシクロ
[2,2,1]−ヘプト−5−エン−ジカルボキシイミ
ド0.75gおよび増感剤として2−エチル−9,10
−ジメトキシアントラセン0.75gを用いた以外は実
施例7と同様の操作にて、組成物溶液(VIII)を調製し、
塗膜および加熱硬化膜の形成ならびに評価を行った。そ
の結果を表1に併せて示す。
として共重合体溶液を100g用いた以外は実施例1
と同様の操作にて、組成物溶液(i) を調製し、塗膜およ
び加熱硬化膜の形成ならびに評価を行った。その結果を
表2に示す。
としてヘキサメトキシメチルメラミン15gを用いた以
外は実施例1と同様の操作にて、組成物溶液(ii)を調製
し、塗膜および加熱硬化膜の形成ならびに評価を行っ
た。その結果を表2に併せて示す。
としてエポキシ樹脂系架橋剤(油化シェルエポキシ
(株)製、商品名エピコート828)4.25gを用い
た以外は実施例1と同様の操作にて、組成物溶液(iii)
を調製し、塗膜および加熱硬化膜の形成ならびに評価を
行った。その結果を表2に併せて示す。
線性樹脂組成物が得られ、しかも該感放射線性樹脂組成
物を硬化させることにより得られる硬化膜は、低誘電率
で、絶縁性、平坦度、耐熱性、透明度などの物性に優れ
る。特に、周波数1MHzで測定した誘電率が3.0 以下
のものが容易に得られる。したがって、電子部品の保護
膜、平坦化膜および層間絶縁膜に有用であり、特に液晶
子表示素子、集積回路、固体撮像素子などの層間絶縁膜
に有用である。
Claims (1)
- 【請求項1】(A) (a-1) 不飽和カルボン酸および/また
は不飽和カルボン酸無水物と、(a-2)前記以外のラジカ
ル重合性化合物をモノマー単位として含む共重合体、 (B) 一般式(1) : −CH2OR1 (1) 〔式中、R1は水素原子またはアルキル基である〕で示さ
れる一価有機基を分子内に有する架橋剤、および (C) 感放射線性酸発生剤を含有する組成物であって、該
組成物を硬化して得られる硬化膜の比誘電率が3以下で
あることを特徴とする、感放射線性樹脂組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18404796A JP3695490B2 (ja) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | 感放射線性樹脂組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18404796A JP3695490B2 (ja) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | 感放射線性樹脂組成物 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1010734A true JPH1010734A (ja) | 1998-01-16 |
JP3695490B2 JP3695490B2 (ja) | 2005-09-14 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18404796A Expired - Fee Related JP3695490B2 (ja) | 1996-06-25 | 1996-06-25 | 感放射線性樹脂組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3695490B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11176750A (ja) * | 1997-09-18 | 1999-07-02 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 水性塩基現像可能なフォトレジスト組成物およびそれを用いたパターン形成方法 |
-
1996
- 1996-06-25 JP JP18404796A patent/JP3695490B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JPH11176750A (ja) * | 1997-09-18 | 1999-07-02 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 水性塩基現像可能なフォトレジスト組成物およびそれを用いたパターン形成方法 |
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