JPH0821062B2 - Feature extraction method and feature extraction apparatus - Google Patents
Feature extraction method and feature extraction apparatusInfo
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- JPH0821062B2 JPH0821062B2 JP63014224A JP1422488A JPH0821062B2 JP H0821062 B2 JPH0821062 B2 JP H0821062B2 JP 63014224 A JP63014224 A JP 63014224A JP 1422488 A JP1422488 A JP 1422488A JP H0821062 B2 JPH0821062 B2 JP H0821062B2
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- coordinate
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Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、文字図形の特徴抽出を簡単な手順で高速
かつ安定に行なうための方法及び装置に関する。Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method and apparatus for performing feature extraction of character / graphics at high speed and stably by a simple procedure.
(従来の技術) 従来より、文字図形認識装置において一般に行なわれ
る特徴抽出では、文字図形パタンからストロークを抽出
し、それら抽出されたストロークの位置、長さ、ストロ
ーク間の相互関係等を用いて認識する方法が広く採用さ
れている。その手法は、(1)文字図形の輪郭を追跡す
ることにより検出された輪郭点系列について曲率を計算
し、その曲率の大きな値の点を分割点として輪郭系列を
分割し、分割された系列を組合せることによりストロー
ク(パタンの線素)を抽出するか、(2)文字図形パタ
ンに細線化処理を行なって骨格化し、その骨格化パタン
の連結性及び骨格パタンを追跡して急激な角度の変化点
等を検出してストロークについて幾何学的な特徴等を抽
出して識別を行なっていた。(Prior Art) Conventionally, in feature extraction that is generally performed in a character / graphics recognition device, strokes are extracted from a character / graphics pattern, and recognition is performed using the positions, lengths, mutual relationships between strokes, and the like of the extracted strokes. The method of doing is widely adopted. The method is as follows: (1) The curvature is calculated for the contour point series detected by tracing the contour of the character figure, the contour series is divided with the point having a large curvature value as a division point, and the divided series is The stroke (line element of the pattern) is extracted by combining them, or (2) the character / graphic pattern is thinned to be a skeleton, and the connectivity and the skeleton pattern of the skeletonized pattern are traced to obtain a sharp angle. The change point or the like is detected, and the geometrical feature or the like of the stroke is extracted for identification.
また、認識対象となる文字の数が少ない場合(例えば
数字の認識を行なう場合)の方法として、例えば文献I
「電子計算機入力のための文字・図形の自動認識(電気
学会編)」に開示されるマトリクスマッチング法、
ストローク・アナリシス法及び幾何学的特徴抽出法が
ある。Further, as a method when the number of characters to be recognized is small (for example, when numbers are recognized), for example, a method described in Document I
Matrix matching method disclosed in "Automatic recognition of characters and figures for computer input (edited by The Institute of Electrical Engineers of Japan)",
There are stroke analysis methods and geometric feature extraction methods.
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上述した従来の一般的手法である
(1)の方法は文字パタンが大きくなり、又、文字図形
パタンが複雑化すると、その処理量が増大し処理速度の
低下を招いていた。又、(2)の方法は文字図形パタン
を細線化する必要があり、細線化によるパタンの歪、ヒ
ゲの発生等の問題があり、歪の修正、ヒゲの除去等その
後の処理を複雑なものとしていた。処理が複雑となる結
果、装置構成の規模が大きくなり、また高速な処理が行
なえないという問題点があった。(Problems to be Solved by the Invention) However, in the method of (1), which is the conventional general method described above, when the character pattern becomes large and the character / graphic pattern becomes complicated, the processing amount increases and the processing speed increases. Was in decline. Further, the method (2) requires that the character / graphic pattern be thinned, and there are problems such as the distortion of the pattern due to the thinning and the occurrence of beards, and the subsequent processing such as correction of the distortions and removal of the beards is complicated. I was trying. As a result of complicated processing, there is a problem that the scale of the device configuration becomes large and high-speed processing cannot be performed.
また、文献Iに掲げられるの方法は数字のように10
種程度の文字を認識する場合に処理手順が簡単となると
いう利点があるが印字のしみや欠けなどの雑音に弱く従
って印字品質に影響され易く、さらに印字ずれ、読取り
時の位置決め精度が悪いために生じる文字パタンの傾き
(傾斜)や位置ずれに影響され易いという問題点があっ
た。Also, the method described in Reference I is 10
It has the advantage of simplifying the processing procedure when recognizing several types of characters, but is vulnerable to noise such as print spots and chips, and is therefore easily affected by print quality, and further, print misalignment and positioning accuracy during reading are poor. There is a problem in that it is easily affected by the inclination (inclination) of the character pattern and the positional deviation that occur in the above.
さらに及びの方法は、文字図形パタンからストロ
ークを抽出する必要があるので、上述した(1)及び
(2)の方法と同様の問題が生じ、従って装置規模が大
きく、また高速な処理が行なえないという問題点があっ
た。Further, the methods (1) and (2) require the strokes to be extracted from the character / graphic pattern, and therefore have the same problems as those of the methods (1) and (2) described above. Therefore, the device scale is large and high-speed processing cannot be performed. There was a problem.
この出願の目的は、上述した従来の問題点を解決する
ため、入力文字図形パタンからストロークを抽出する等
の複雑な処理手順を省略し簡単な処理手順で高速に特徴
抽出が行なえ、しかも安定した特徴抽出が行なえる方法
及び装置を提供することにある。The purpose of this application is to solve the above-mentioned conventional problems, omitting a complicated processing procedure such as extracting a stroke from an input character / graphic pattern and performing feature extraction at a high speed with a simple processing procedure, and is stable. It is an object of the present invention to provide a method and apparatus capable of performing feature extraction.
(課題を解決するための手段) この目的の達成を図るため、この出願の方法発明は、 特徴抽出対象となる被抽出パタンを含む量子化画像デ
ータの画素にX座標及びY座標を付与する処理と、 X、Y座標と少なくとも2組の特定のα値及びβ値と
を用いて所定の画素値を有する被抽出パタンの画素に関
する最大及び最小の計算値αX+βYを検出し、これら
最大及び最小計算値を与える画素のX、Y座標を特徴点
座標として検出する処理と、 被抽出パタンの大きさを検出する処理と、 特徴点座標と被抽出パタンの大きさとを用いて被抽出
パタンの正規化された幾何学的特徴量を算出する処理と
を 含むことを特徴とする。(Means for Solving the Problem) In order to achieve this object, the method invention of the present application is a process for giving an X coordinate and a Y coordinate to a pixel of quantized image data including an extracted pattern to be a feature extraction target. And detecting the maximum and minimum calculated values αX + βY regarding the pixels of the extracted pattern having a predetermined pixel value using the X and Y coordinates and at least two sets of specific α and β values, and calculating these maximum and minimum values. A process of detecting the X and Y coordinates of a pixel giving a value as feature point coordinates, a process of detecting the size of the extracted pattern, and a normalization of the extracted pattern using the feature point coordinates and the size of the extracted pattern. And a process of calculating the geometrical feature amount.
この方法発明の実施に当り、被抽出パタンの大きさ
を、当該被抽出パタンの外接方形枠の辺の長さとするの
が好適である。In carrying out this method invention, it is preferable that the size of the extracted pattern is the length of the side of the circumscribed rectangular frame of the extracted pattern.
またこの出願の装置発明は、 特徴抽出対象となる被抽出パタンを含む量子化画像デ
ータの画素にX座標を付与するためのX座標発生手段
と、 量子化画像データの画素にY座標を付与するためのY
座標発生手段と、 X、Y座標と少なくとも2組の特定のα値及びβ値と
を用いて所定の画素値を有する被抽出パタンの画素に関
する最大及び最小の計算値αX+βYを検出し、これら
最大及び最小計算値を与える画素のX、Y座標をそれぞ
れ特徴点座標として検出するための座標検出手段と、 被抽出パタンの大きさを検出するための大きさ検出手
段と、 特徴点座標と被抽出パタンの大きさとを用いて被抽出
パタンの正規化された幾何学的特徴量を算出するための
特徴量算出手段とを 備えて成ることを特徴とする。Further, the apparatus invention of this application includes: an X coordinate generating means for giving an X coordinate to a pixel of quantized image data including an extracted pattern to be a feature extraction target; and a Y coordinate to a pixel of the quantized image data. For Y
Using the coordinate generating means and the X and Y coordinates and at least two sets of specific α and β values, the maximum and minimum calculated values αX + βY regarding the pixels of the extracted pattern having a predetermined pixel value are detected, and these maximum values are detected. And coordinate detection means for detecting the X and Y coordinates of the pixel giving the minimum calculated value as feature point coordinates, size detection means for detecting the size of the extracted pattern, and feature point coordinates and extracted And a feature quantity calculating means for calculating a normalized geometric feature quantity of the extracted pattern using the size of the pattern.
この装置発明の実施に当り、座標検出手段は、計算値
αX+βYを算出する計算手段と、最大計算値を検出す
るための最大値検出手段と、最大計算値を与える画素の
X、Y座標を保存するための最大値座標保存手段と、最
小計算値を検出するための最小値検出手段と、最小計算
値を与える画素のX、Y座標を保存するための最小値座
標保存手段とを備えた構成とするのが好適である。In carrying out this device invention, the coordinate detecting means stores the calculating means for calculating the calculated value αX + βY, the maximum value detecting means for detecting the maximum calculated value, and the X and Y coordinates of the pixel giving the maximum calculated value. And a minimum value detecting means for detecting the minimum calculated value, and a minimum value coordinate storing means for saving the X and Y coordinates of the pixel giving the minimum calculated value. Is preferred.
またこの装置発明の実施に当り、大きさ検出手段は、
被抽出パタンの外接方形枠を規定するためのX、Y座標
として、被抽出パタンの画素に関する最大及び最小のX
座標と被抽出パタンの画素に関する最大及び最小のY座
標とを検出する外接方形枠検出手段と、前記最大及び最
小のX座標と前記最大及び最小のY座標とから被抽出パ
タンの大きさを算出する大きさ算出手段とを備えた構成
とするのが好適である。Further, in carrying out this device invention, the size detecting means is
As the X and Y coordinates for defining the circumscribed rectangular frame of the extracted pattern, the maximum and minimum X of the pixels of the extracted pattern are set.
The size of the extracted pattern is calculated from the circumscribing rectangular frame detection means for detecting the coordinates and the maximum and minimum Y coordinates of the pixels of the extracted pattern, and the maximum and minimum X coordinates and the maximum and minimum Y coordinates. It is preferable to employ a configuration including a size calculating unit that
(作用) 上述した方法及び装置発明によれば、量子化画像デー
タの画素にX座標及びY座標を付与して画像データをX
−Y座標系で表現する。そして、このX−Y座標系で表
現された画像データを利用することによって、所定の画
素値を有する被抽出パタンの画素に関する最大及び最小
の計算値αX+βYを検出し最大及び最小計算値を与え
る画素のX、Y座標を特徴点座標として検出する処理
と、被抽出パタンの大きさを検出する処理とを行なう。
そして、これら処理を並行して或は時間的に相前後して
行なうことによって得た、特徴点座標と被抽出パタンの
大きさとを用いて被抽出パタンの正規化された幾何学的
特徴量を算出する。(Operation) According to the above-described method and apparatus invention, X-coordinates and Y-coordinates are given to the pixels of the quantized image data to convert the image data to X-images.
-It is expressed in the Y coordinate system. Then, by using the image data represented by this XY coordinate system, the maximum and minimum calculated values αX + βY regarding the pixels of the extracted pattern having a predetermined pixel value are detected and the pixels giving the maximum and minimum calculated values are detected. The processing of detecting the X and Y coordinates of the above as the characteristic point coordinates and the processing of detecting the size of the extracted pattern are performed.
Then, the normalized geometric feature amount of the extracted pattern is obtained using the feature point coordinates and the size of the extracted pattern, which are obtained by performing these processes in parallel or in chronological order. calculate.
このようにして特徴量を算出する上述の処理手順にあ
っては、最大及び最小計算値を検出する手順が非常に簡
単な手順であるので、装置構成の簡素化を図れる。さら
に、最大及び最小計算値を検出する手順が簡単であるの
で特徴量の算出を高速に行なえる。In the above-described processing procedure for calculating the feature amount in this way, the procedure for detecting the maximum and minimum calculated values is a very simple procedure, so that the device configuration can be simplified. Further, since the procedure for detecting the maximum and minimum calculated values is simple, the feature amount can be calculated at high speed.
また、被抽出パタンの幾何学的特徴量を正規化するの
で、特徴量の変動(特に被抽出パタンの大きさが変動す
ることによって生ずる特徴量の変動)を低減することが
出来る。In addition, since the geometrical characteristic amount of the extracted pattern is normalized, the variation of the characteristic amount (in particular, the variation of the characteristic amount caused by the variation of the size of the extracted pattern) can be reduced.
(実施例) 以下、図面を参照して、この出願の方法発明及び装置
発明の実施例につき説明する。尚、図面はこれら発明が
理解出来る程度に概略的に示してあるにすぎず、従って
各構成成分の構成、データ、データの流れ及び数値的条
件は必ずしも図示例に限定されるものではない。(Embodiment) An embodiment of a method invention and an apparatus invention of this application will be described below with reference to the drawings. It should be noted that the drawings are only schematically shown to the extent that these inventions can be understood, and therefore the constitution of each component, data, data flow and numerical conditions are not necessarily limited to the illustrated examples.
実施例 <装置発明の実施例の構成> 第1図は装置発明の実施例の構成の説明に供する機能
ブロック図である。Embodiment <Structure of Embodiment of Device Invention> FIG. 1 is a functional block diagram for explaining the structure of an embodiment of the device invention.
同図において、Mは特徴抽出対象となる被抽出パタン
を含む量子化画像データを示す。同図に示すように、こ
の実施例の特徴抽出装置は、特徴抽出に適した一単位の
画像データMを出力する読取処理部8と、画像データM
の画素にX座標を付与するためのX座標発生手段10と、
画像データMの画素にY座標を付与するためのY座標発
生手段12と、X、Y座標が付与された画像データMを利
用して特徴点座標を検出するための特徴点検出手段13
と、被抽出パタンの大きさを検出するための大きさ検出
手段15と、特徴点座標と被抽出パタンの大きさとを用い
て被抽出パタンの正規化された幾何学的特徴量を算出す
るための特徴量算出手段18とを備えている。In the figure, M indicates the quantized image data including the extracted pattern to be the feature extraction target. As shown in the figure, the feature extraction apparatus of this embodiment includes a read processing unit 8 for outputting one unit of image data M suitable for feature extraction, and an image data M.
X coordinate generation means 10 for giving X coordinates to the pixels of
A Y-coordinate generating means 12 for giving a Y coordinate to a pixel of the image data M, and a characteristic point detecting means 13 for detecting a characteristic point coordinate by using the image data M to which the X and Y coordinates are given.
And a size detecting unit 15 for detecting the size of the extracted pattern, and for calculating the normalized geometric feature amount of the extracted pattern using the feature point coordinates and the size of the extracted pattern. And the feature amount calculating means 18 of FIG.
以下、この実施例につきさらに詳しく説明する。 Hereinafter, this embodiment will be described in more detail.
(画像データM) 第4図は被抽出パタンを含む量子化画像データの一例
を示す図である。(Image Data M) FIG. 4 is a diagram showing an example of quantized image data including an extracted pattern.
同図において、M1は被抽出パタン及びM2は被抽出パタ
ンの背景となる背景パタンを示す。量子化画像データM
は、これらパタンM1及びM2から成り、特徴抽出対象であ
る文字一単位或は図形一単位の被抽出パタンM2を含んだ
データとなっている。In the figure, M1 indicates an extracted pattern, and M2 indicates a background pattern which is a background of the extracted pattern. Quantized image data M
Is data consisting of these patterns M1 and M2 and including the extracted pattern M2 of one character or one figure which is the feature extraction target.
この実施例において、パタンM1、M2は、2値のディジ
タル信号で表現されており、被抽出パタンM1を画素値
「1」の黒ビット及び背景パタンM2を画素値「0」の白
ビットとしている。In this embodiment, the patterns M1 and M2 are represented by binary digital signals, and the extracted pattern M1 is a black bit having a pixel value "1" and the background pattern M2 is a white bit having a pixel value "0". .
また、画像データMの画素には、主走査方向(水平右
向き方向)にX軸及び副走査方向(垂直下向き方向)に
Y軸を取り、左上角の画素を原点とするX−Y座標系で
表現され、後述するように、画像データMの画素に対し
X、Y座標が付与される。In addition, the pixels of the image data M have an X axis in the main scanning direction (horizontal rightward direction) and a Y axis in the sub scanning direction (vertical downward direction), and in the XY coordinate system with the pixel at the upper left corner as the origin. As described later, the X and Y coordinates are given to the pixels of the image data M, as will be described later.
尚、第4図に示す被抽出パタンM1は、数字の「4」を
示す文字パタン(文字線)であり、この実施例では、特
徴抽出対象の一例としてE13Bフォントの数文字を用い
る。参考のため第5図にE13Bフォントの「1」〜
「9」、「0」の字形を示した。The extracted pattern M1 shown in FIG. 4 is a character pattern (character line) indicating the number "4", and in this embodiment, several characters of the E13B font are used as an example of the feature extraction target. For reference, the E1B font "1" is shown in Fig. 5 ~.
The character shapes of "9" and "0" are shown.
(読取処理部) 読取処理部8の構成は、特徴抽出に適した一単位の被
抽出パタンを含む画像データMを出力するのであれば、
どのような構成としても良い。この実施例では読取処理
部8を図示せずも、光電変換部及び走査機構(スキャ
ナ)を備える読取部と、読取部からの原画像データを格
納する画像メモリと、帳票、原稿等に記載された文字図
形パタンの記載位置情報に基づき通常行なわれる如く原
画像データから画像データMを切出す切出部とを以って
構成している。(Reading Processing Unit) The reading processing unit 8 has a configuration that outputs image data M including one unit of the extracted pattern suitable for feature extraction.
It may have any configuration. In this embodiment, although the reading processing unit 8 is not shown, it is described in a reading unit including a photoelectric conversion unit and a scanning mechanism (scanner), an image memory for storing original image data from the reading unit, a form, an original, and the like. The image data M is cut out from the original image data as is normally done based on the described position information of the character / graphic pattern.
(特徴点検出手段) 第2図は特徴点検出手段の構成の一例を示す機能ブロ
ック図である。(Feature Point Detection Means) FIG. 2 is a functional block diagram showing an example of the configuration of the feature point detection means.
同図に示すように、特徴点検出手段13は、画像データ
Mの画素のX、Y座標と少なくとも2組の特定のα値及
びβ値とを用いて被抽出パタンの画素に関する最大及び
最小の計算値αX+βYを検出しこれら最大及び最小計
算値を与える画素のX、Y座標をそれぞれ特徴点座標と
して検出するための座標検出手段14と16とを備えてい
る。As shown in the figure, the feature point detecting means 13 uses the X and Y coordinates of the pixel of the image data M and at least two sets of specific α and β values to determine the maximum and minimum of the pixel of the extracted pattern. Coordinate detecting means 14 and 16 are provided for detecting the calculated value αX + βY and detecting the X and Y coordinates of the pixel that gives the maximum and minimum calculated values, respectively, as feature point coordinates.
この実施例の座標検出手段14は、計算値αX+βYを
算出する計算手段141と、最大計算値を検出するための
最大値検出手段142と、最大計算値を与える画素のX、
Y座標を保存するための最大値座標保存手段143と、最
小計算値を検出するための最小値検出手段144と、最小
計算値を与える画素のX、Y座標を保存するための最小
値座標保存手段145とを備えている。座標検出手段16も
またこの座標検出手段14と同様、計算手段161と最大値
検出手段162と最大値座標保存手段163と最小値検出手段
164と最小値座標保存手段165とを備えている。The coordinate detecting means 14 of this embodiment has a calculating means 141 for calculating a calculated value αX + βY, a maximum value detecting means 142 for detecting a maximum calculated value, an X of a pixel giving a maximum calculated value,
Maximum value coordinate storage means 143 for storing the Y coordinate, minimum value detection means 144 for detecting the minimum calculated value, and minimum value coordinate storage for storing the X and Y coordinates of the pixel giving the minimum calculated value. And means 145. Like the coordinate detecting means 14, the coordinate detecting means 16 also has a calculating means 161, a maximum value detecting means 162, a maximum value coordinate storing means 163, and a minimum value detecting means.
164 and minimum value coordinate storage means 165.
この実施例では、特徴点座標検出のために例えば(α
=β=1)及び(α=1、β=−1)の二組のα及びβ
値を用いるので2個の座標検出手段14と16とを備える構
成となっている。座標検出手段14にあっては計算値X+
Yに関する、及び座標検出手段16にあっては計算値X−
Yに関する、最大及び最小計算値を与える画素の座標を
検出する。In this embodiment, for example, (α
= Β = 1) and (α = 1, β = −1) two sets of α and β
Since the value is used, the two coordinate detecting means 14 and 16 are provided. In the coordinate detecting means 14, the calculated value X +
Calculated value X− for Y and for the coordinate detection means 16.
Find the coordinates of the pixels that give the maximum and minimum calculated values for Y.
座標検出手段14、16の構成については、例えば、計算
手段141を加算回路を以って、計算手段161は減算回路を
以って、検出手段142、144、162、164をそれぞれ比較器
及びレジスタを以って、さらに座標保存手段143、145、
163、165をそれぞれレジスタを以って構成することが出
来る。このような構成によれば、座標検出手段14、16の
構成を非常に簡素化出来、延ては特徴抽出装置の構成を
簡素化し、以ってハードウエア規模の縮小化を図れる。Regarding the configuration of the coordinate detecting means 14 and 16, for example, the calculating means 141 includes an adding circuit, the calculating means 161 includes a subtracting circuit, and the detecting means 142, 144, 162 and 164 include comparators and registers, respectively. Therefore, the coordinate storage means 143, 145,
Each of 163 and 165 can be configured with a register. With such a configuration, the configurations of the coordinate detection means 14 and 16 can be greatly simplified, and the configuration of the feature extraction device can be simplified, thereby reducing the scale of hardware.
(大きさ検出手段) 第3図は大きさ検出手段の構成の一例を示す機能ブロ
ック図である。(Size Detection Means) FIG. 3 is a functional block diagram showing an example of the configuration of the size detection means.
この実施例の大きさ検出手段15は、被抽出パタンの外
接方形枠を規定するためのX、Y座標として、被抽出パ
タンの画素に関する最大及び最小のX座標と被抽出パタ
ンの画素に関する最大及び最小のY座標とを検出する外
接方形枠検出手段151と、最大及び最小のX座標と最大
及び最小のY座標とから被抽出パタンの大きさを算出す
る大きさ算出手段152とを備えている。The size detecting means 15 of this embodiment uses the X and Y coordinates for defining the circumscribing rectangular frame of the extracted pattern as the maximum and minimum X coordinates of the pixels of the extracted pattern and the maximum and minimum X coordinates of the pixels of the extracted pattern. A circumscribing rectangular frame detecting means 151 for detecting the minimum Y coordinate and a size calculating means 152 for calculating the size of the extracted pattern from the maximum and minimum X coordinates and the maximum and minimum Y coordinates are provided. .
外接方形枠検出手段151の構成は、被抽出パタンの画
素に関する最大及び最小のX、Y座標を検出出来る任意
好適な構成とすることが出来るが、この例では外接方形
枠検出手段151を、例えば、前記最小のX座標(以下、X
S座標と称す)を検出すためのXS検出手段151aと、前記
最小のY座標(以下、YS座標と称す)を検出するための
YS検出手段151bと、前記最大のX座標(以下、XE座標と
称す)を検出するためのXE検出手段151cと、前記最大の
Y座標(以下、YE座標と称す)を検出するためのYE検出
手段151dとを以って構成する。The configuration of the circumscribing rectangular frame detection means 151 can be any suitable configuration capable of detecting the maximum and minimum X and Y coordinates of the pixels of the extracted pattern. , The minimum X coordinate (hereinafter, X
And X S detector 151a for detecting the referred to as S coordinates), the minimum Y-coordinate (hereinafter referred to as Y S coordinate) for detecting
A Y S detecting unit 151b, an X E detecting unit 151c for detecting the maximum X coordinate (hereinafter referred to as X E coordinate), and a maximum Y coordinate (hereinafter referred to as Y E coordinate). And a Y E detecting means 151d for that purpose.
この外接方形枠検出手段151にあっては、検出手段151
a、151b、151c、151dをそれぞれ比較器及びレジスタを
以って構成出来、その構成を簡素化することが出来る。In this circumscribing rectangular frame detecting means 151, the detecting means 151
Each of a, 151b, 151c and 151d can be configured by a comparator and a register, and the configuration can be simplified.
また大きさ算出手段152は検出されたXS、YS、XE及びY
Eから、被抽出パタンの大きさとして例えば外接方形枠
の辺の長さ(XE−XS)及び(YE−YS)を算出する。Further, the size calculation means 152 detects the detected X S , Y S , X E and Y.
From E , the lengths (X E −X S ) and (Y E −Y S ) of the sides of the circumscribing rectangular frame are calculated as the size of the extracted pattern.
(変形例) 読取処理部の構成は、上述の実施例のものに限定され
ない。(Modification) The configuration of the reading processing unit is not limited to that of the above-described embodiment.
例えば、帳票等に特徴抽出一単位分の文字図形しか記
載されない場合(例えば文字が1文字しか書かれない場
合)には、上述した実施例において画像メモリ及び読取
処理部を省略した構成としても良い。この場合、帳票等
の読取領域を全面走査して読取処理部から出力される画
像データを特徴抽出一単位の被抽出パタンを含む画像デ
ータとして用いれば良い。或は読取処理部を、帳票等に
記載された文字図形の記載位置情報に基づき特徴抽出一
単位分の領域のみを走査するように動作する走査機構
と、光電変換部とからのみ構成するようにしても良い。
この場合、読取領域を部分的に走査して読取処理部から
出力される画像データを特徴抽出一単位の被抽出パタン
を含む画像データとして用いれば良い。For example, in the case where only one unit of character extraction for feature extraction is described on a form (for example, when only one character is written), the image memory and the reading processing unit may be omitted in the above-described embodiment. . In this case, the image data output from the reading processing unit by scanning the entire reading area of the form or the like may be used as the image data including the extracted pattern of one unit of feature extraction. Alternatively, the reading processing unit may be configured only by a scanning mechanism that operates so as to scan only an area for one unit of feature extraction based on the description position information of the character graphic written on the form, and the photoelectric conversion unit. May be.
In this case, the image data output from the reading processing unit by partially scanning the reading area may be used as the image data including the extracted pattern of one unit of feature extraction.
また、座標検出手段の配設個数は特徴量算出のために
何組のα及びβ値を用いるかによって任意好適に変更す
ることが出来、例えばn組のα及びβ値を用いる場合、
n個の座標検出手段を備えた構成としα及び又はβ値を
座標検出手段毎に異なる任意好適な値に設定すれば良
い。In addition, the number of coordinate detecting means provided can be arbitrarily changed depending on how many sets of α and β values are used for calculating the feature amount. For example, when n sets of α and β values are used,
The configuration may be such that n coordinate detecting means are provided, and the α and / or β values may be set to arbitrary and different values that are different for each coordinate detecting means.
また、上述した実施例では、特徴点検出手段と大きさ
検出手段とに対してX座標発生手段及びY座標発生手段
を共通に用いるように設けたが、X及びY座標発生手段
の配設個数は任意好適に変更出来、例えば特徴点検出手
段と大きさ検出手段とに対しそれぞれ個別に設けても良
い。装置構成を簡素化するためには、X及びY座標発生
手段を共通に用いて配設個数を少なくするのが良い。Further, in the above-mentioned embodiment, the X-coordinate generating means and the Y-coordinate generating means are commonly used for the feature point detecting means and the size detecting means. Can be arbitrarily changed, and for example, the feature point detecting means and the size detecting means may be individually provided. In order to simplify the device configuration, it is preferable to use the X and Y coordinate generation means in common and reduce the number of arrangements.
また、外接方形枠検出手段の構成は、XS、YS、XE及び
YEを検出出来る任意好適な構成として良い。The structure of the circumscribing rectangular frame detection means is X S , Y S , X E and
Any suitable configuration that can detect Y E may be used.
また上述した実施例において、大きさ検出手段は被抽
出パタンの大きさとして i)外接方形枠の対角線の長さ ii)外接方形枠の辺の長さの平均 を検出し出力するようにしても良い。Further, in the above-mentioned embodiment, the size detecting means determines the size of the extracted pattern i) the length of the diagonal line of the circumscribing rectangular frame ii) Average side length of circumscribing rectangle May be detected and output.
<方法発明の実施例の説明、及び装置発明の実施例の動
作の説明> (特徴点検出手段に注目した説明) 第6図(A)〜(B)は特徴点検出手段に注目した説
明に供する図である。以下、第6図(A)〜(B)に加
え第1図及び第2図を参照し、この実施例における、特
徴点検出手段の動作、この動作に関連するX、Y座標を
付与する処理及び特徴点座標を検出する処理につき説明
する。<Description of Embodiment of Method Invention and Description of Operation of Embodiment of Apparatus Invention> (Explanation Focusing on Feature Point Detecting Means) FIGS. 6A to 6B show description focusing on the feature point detecting means. It is a figure to offer. Hereinafter, referring to FIG. 1 and FIG. 2 in addition to FIG. 6 (A) and (B), the operation of the feature point detecting means in this embodiment, and the process of giving X and Y coordinates related to this operation Also, the process of detecting the characteristic point coordinates will be described.
尚、被抽出パタンに関する最大計算値及び最小計算値
を検出する方法としては、例えば次の或はの方法が
考えられる。計算手段141及び161において画像データ
Mの全画素につき計算値を算出し、検出手段142、144及
び162、164において手段141、161から入力された計算値
が被抽出パタンの画素値を有する画素のものであるか否
かを判断し被抽出パタンの画素の計算値についてのみ比
較判定を行なうことによって、被抽出パタンの画素に関
する最小及び最大計算値を検出する、計算手段141及
び161において入力された画素のX、Y座標が被抽出パ
タンの画素値を有する画素のものであるか否かを判断し
被抽出パタンの画素についてのみX、Y座標から計算値
を算出し、検出手段142、144及び162、164において手段
141、161から入力された全ての計算値の比較判定を行な
うことによって被抽出パタンの画素に関する最小及び最
大計算値を検出する。方法としては前記及びのいず
れでも良いが、以下に述べる実施例では前記の方法に
よって検出を行なう。As a method of detecting the maximum calculated value and the minimum calculated value regarding the extracted pattern, for example, the following method can be considered. The calculation means 141 and 161 calculate calculation values for all pixels of the image data M, and the detection means 142, 144 and 162, 164 calculate the calculation values input from the means 141, 161 of the pixels having the pixel values of the extracted pattern. Detecting the minimum and maximum calculated values for the pixels of the extracted pattern by determining whether or not the calculated values of the pixels of the extracted pattern, and by inputting in the calculating means 141 and 161. It is determined whether or not the X and Y coordinates of the pixel are those of the pixel having the pixel value of the extracted pattern, and the calculation values are calculated from the X and Y coordinates of only the pixels of the extracted pattern, and the detection means 142, 144 and 162, at 164 means
The minimum and maximum calculated values for the pixels of the extracted pattern are detected by performing comparison and determination of all calculated values input from 141 and 161. The method may be any of the methods described above, and in the embodiments described below, detection is performed by the method described above.
I:座標検出手段14に着目した説明 *ステップ(1)〜(3) 読取処理部8の読取部が文字図形の記されている帳票
の読取り領域の走査を開始すると(ステップ(1))、
帳票上の文字図形パタンの光信号Gが読取処理部8の光
電変換部に入力される。光電変換部は入力された光信号
Gを2値の量子化されたディジタル信号に変換し、この
ディジタル信号から成る原画像データを出力する。そし
て、読取処理部8の切出部によって、特徴抽出一単位の
文字図形パタンを含む画像データMが原画像データから
切出され出力される。I: Description Focusing on Coordinate Detection Means 14 * Steps (1) to (3) When the reading section of the reading processing section 8 starts scanning the reading area of the form in which the character graphic is written (step (1)),
The optical signal G of the character / graphic pattern on the form is input to the photoelectric conversion unit of the reading processing unit 8. The photoelectric conversion unit converts the input optical signal G into a binary quantized digital signal and outputs original image data composed of this digital signal. Then, the cutout unit of the reading processing unit 8 cuts out and outputs the image data M including the character / graphic pattern of one unit of feature extraction from the original image data.
これと共に、X座標発生手段10及びY座標発生手段12
は、画像データMの出力と同期させてこのデータMのそ
れぞれの画素毎に対応付けたX、Y座標を発生する。そ
の結果、これら発生手段10、12によって画像データMに
X、Y座標を付与する処理が行なわれる。そして出力さ
れたX、Y座標は計算手段141、最大値座標保存手段143
及び最小値座標保存手段145に入力される。(ステップ
(2)) 計算手段141はX、Y座標を入力するとこれらX、Y
座標から計算値X+Yを算出し、算出した計算値を最大
値検出手段142及び最小値検出手段144に対し出力する。
(ステップ(3)) ステップ(2)〜(3)によって、最大値検出手段14
2は画像データM及び計算値を、最小値検出手段144は画
像データM及び計算値を、最大値座標保存手段143は
X、Y座標を、最小値座標保存手段145はX、Y座標
を、それぞれ1画素毎に入力する。そして、座標検出手
段14は後述のステップ(4)、(5a)、(5b)或は
(7)の判断を1画素毎に繰り返し行なってその判断結
果に応じた動作を行ない、その結果、座標検出手段14に
よって特徴点座標を検出する処理が行なわれる。Along with this, X coordinate generating means 10 and Y coordinate generating means 12
Generates the X and Y coordinates associated with each pixel of the data M in synchronization with the output of the image data M. As a result, the generation means 10 and 12 carry out the processing of giving the X and Y coordinates to the image data M. The output X and Y coordinates are calculated by the calculation means 141 and the maximum value coordinate storage means 143.
And the minimum value coordinate storage means 145. (Step (2)) When the calculating means 141 inputs the X and Y coordinates, these X and Y coordinates are input.
The calculated value X + Y is calculated from the coordinates and the calculated value is output to the maximum value detecting means 142 and the minimum value detecting means 144.
(Step (3)) By the steps (2) to (3), the maximum value detecting means 14
2 is the image data M and the calculated value, the minimum value detection means 144 is the image data M and the calculated value, the maximum value coordinate storage means 143 is the X and Y coordinates, and the minimum value coordinate storage means 145 is the X and Y coordinates. Input each pixel. Then, the coordinate detecting means 14 repeats the determination of step (4), (5a), (5b) or (7) described later for each pixel and performs an operation according to the determination result, and as a result, the coordinate The detection means 14 performs the process of detecting the coordinates of the characteristic points.
*ステップ(4) 最大値検出手段142及び最小値検出手段144は入力され
た画像データMの画素が被抽出パタンM2の画素であるか
否かを判断する。この判断は、入力された画素の画素値
が被抽出パタンM2を意味する所定の画素値(この実施例
では画素値「1」)であるか否かを判断することによっ
て、行なう。* Step (4) The maximum value detecting means 142 and the minimum value detecting means 144 determine whether the pixels of the input image data M are the pixels of the extracted pattern M2. This judgment is made by judging whether or not the pixel value of the input pixel is a predetermined pixel value (pixel value "1" in this embodiment) meaning the extracted pattern M2.
所定の画素値を有さないとき 最大値検出手段142及び最小値検出手段144は格納して
いる比較値を書換えず、これと共に最大値座標保存手段
143及び最小値座標保存手段145は格納されているX、Y
座標を書換えない。When the pixel value does not have a predetermined pixel value, the maximum value detecting means 142 and the minimum value detecting means 144 do not rewrite the stored comparison value, and together with this, the maximum value coordinate storing means.
143 and the minimum value coordinate storage means 145 are stored in X, Y
Do not rewrite the coordinates.
検出手段142、144はステップ(4)の次にステップ
(7)の判断を行なう。The detecting means 142, 144 make a judgment in step (7) after step (4).
所定の画素値を有するとき 最大値検出手段142はステップ(4)の次に比較値及
び計算値の比較(ステップ(5))を及び、最小値検出
手段144はステップ(4)の次に比較値及び計算値の比
較(ステップ(5b))を行なう。When the pixel value has a predetermined pixel value, the maximum value detecting means 142 carries out the comparison of the comparison value and the calculated value (step (5)) after step (4), and the minimum value detecting means 144 carries out the comparison after step (4). The value and the calculated value are compared (step (5b)).
*ステップ(5a) 計算値が比較値よりも大きいとき 最大値検出手段142は先に格納されている比較値に換
えて、比較値よりも大きい計算値を新たな比較値として
格納し(比較値の書換え)、これと共にセットパルスを
最大値座標保存手段143に対し出力する。セットパルス
を入力した最大値座標保存手段143は格納されている
X、Y座標に換えて、比較値よりも大きな計算値を与え
る画素のX、Y座標を新たに格納する(X、Y座標の書
換え)。(ステップ(6)) 計算値が比較値よりも小さいか或は比較値と等しいと
き 最大値検出手段142は先に格納されている比較値を書
換えずにそのまま格納すると共に、最大値座標保存手段
122は格納されているX、Y座標を書換えない。* Step (5a) When the calculated value is larger than the comparison value, the maximum value detecting means 142 stores the calculated value larger than the comparison value as a new comparison value in place of the previously stored comparison value. Rewriting), and together with this, a set pulse is output to the maximum value coordinate storage means 143. The maximum value coordinate storing means 143 which has input the set pulse newly stores the X and Y coordinates of the pixel which gives a calculated value larger than the comparison value, instead of the stored X and Y coordinates (of the X and Y coordinates). Rewriting). (Step (6)) When the calculated value is smaller than or equal to the comparison value, the maximum value detecting means 142 stores the previously stored comparison value as it is without rewriting, and the maximum value coordinate storing means.
122 does not rewrite the stored X and Y coordinates.
最大値検出手段142は及びのいずれの場合もステ
ップ(5a)の次にステップ(7)の判断を行なう。In any of the above cases, the maximum value detecting means 142 makes the judgment of step (7) after step (5a).
尚、最大値検出手段142に格納される比較値の初期値
としては、例えば計算値αとして取り得る値よりも小さ
な値を用いれば良い。例えばα=β=1であり画像デー
タMをl行m列の画素に分割した(従って0≦X≦m−
1、及び0≦Y≦l−1となる)場合には、例えば−1
を比較値の初期値とすることが出来る。或は比較値の初
期値として最大値検出手段142に一番最初に入力された
計算値αX+βYを用いるようにしても良い。As the initial value of the comparison value stored in the maximum value detecting means 142, for example, a value smaller than the value that can be taken as the calculated value α may be used. For example, α = β = 1 and the image data M is divided into pixels of l rows and m columns (thus, 0 ≦ X ≦ m−
1, and 0 ≦ Y ≦ l−1), for example, −1
Can be set as the initial value of the comparison value. Alternatively, the calculated value αX + βY input first to the maximum value detecting means 142 may be used as the initial value of the comparison value.
また最大値検出手段142が比較値及びX、Y座標の書
換えを計算値αX+βYが比較値よりも大きいとき及び
計算値が比較値と等しいときに行なうようにし、これと
共に計算値が比較値よりも小さいとき比較値及びX、Y
座標の書換えを行なわないようにしても良い。The maximum value detecting means 142 rewrites the comparison value and the X and Y coordinates when the calculated value αX + βY is larger than the comparison value and when the calculated value is equal to the comparison value, and the calculated value is larger than the comparison value. Comparison value and X, Y when small
The coordinates may not be rewritten.
また最大値座標保存手段143のX、Y座標としては任
意好適な数値を用いて良い。Any suitable numerical value may be used as the X and Y coordinates of the maximum value coordinate storage means 143.
*ステップ(5b) 計算値が比較値よりも小さいとき 最小値検出手段144は先に格納されている比較値に換
えて比較値よりも小さい計算値を比較値として新たに格
納する(比較値の書換え)と共に、最小値座標保存手段
145に対しセットパルスを出力する。最小値座標保存手
段145はセットパルスを入力すると、格納されている
X、Y座標を比較値よりも小さな計算値を与える画素の
X、Y座標に書換える(X、Y座標の書換え)。(ステ
ップ(6)) 最小値検出手段144は及びのいずれの場合にもス
テップ(5b)の次にステップ(7)の判断を行なう。* Step (5b) When the calculated value is smaller than the comparison value The minimum value detecting means 144 newly stores the calculated value smaller than the comparison value as the comparison value in place of the previously stored comparison value. Rewriting) and minimum value coordinate storage means
Output a set pulse to 145. When the set pulse is input, the minimum value coordinate storage unit 145 rewrites the stored X and Y coordinates to the X and Y coordinates of the pixel that gives a calculated value smaller than the comparison value (rewriting of the X and Y coordinates). (Step (6)) The minimum value detecting means 144 makes the judgment of the step (7) after the step (5b) in either case.
尚、最小値検出手段144に格納される比較値の初期値
としては、例えば計算値αX+βYとして取り得る値よ
りも大きな値を用いれば良い。例えばα=β=1であり
画像データMをl行m列の画素に分割した(従って0≦
X≦m−1、及び0≦Y≦l−1となる)場合には、例
えばm+n−1を比較値の初期値とすることが出来る。
或は比較値の初期値として最小値検出手段144に一番最
初に入力された計算値αX+βYを用いるようにしても
良い。As the initial value of the comparison value stored in the minimum value detecting means 144, for example, a value larger than the possible values of the calculated value αX + βY may be used. For example, α = β = 1 and the image data M is divided into pixels of 1 row and m column (thus 0 ≦
(X ≦ m−1 and 0 ≦ Y ≦ l−1), for example, m + n−1 can be set as the initial value of the comparison value.
Alternatively, the calculation value αX + βY input first to the minimum value detecting means 144 may be used as the initial value of the comparison value.
また最小値検出手段144は計算値が比較値よりも小さ
いとき及び計算値が比較値と等しいとき比較値及びX、
Y座標の書換えを行ない、これと共に計算値が比較値よ
りも大きいとき比較値及びX、Y座標の書換えを行なわ
ないようにしても良い。Further, the minimum value detecting means 144, when the calculated value is smaller than the comparison value and when the calculated value is equal to the comparison value, the comparison value and X,
The rewriting of the Y coordinate may be performed, and when the calculated value is larger than the comparison value, the rewriting of the comparison value and the X and Y coordinates may not be performed.
また最小値座標保存手段145のX、Y座標としては任
意好適な数値を用いて良い。Further, as the X and Y coordinates of the minimum value coordinate storage means 145, any suitable numerical value may be used.
*ステップ(7) 画像データMの走査を終了したとき 最大値検出手段142及び最小値座標保存手段144は画像
データMの走査が終了しこのデータMの全ての画素につ
き処理が終了すると、X、Y座標の出力信号を最大値座
標保存手段143及び最小値座標保存手段145に対して出力
する。この出力信号を入力した座標保存手段143、145
は、格納しているX、Y座標を特徴点座標として出力す
る。これと共に検出手段142、144は比較値の初期化を行
なう。(ステップ(8)) 全ての画素につき処理を終了した時点で、最大値座標
保存手段143及び最小値座標保存手段145に格納されてい
るX、Y座標が最大及び最小計算値を与える画素のX、
Y座標すなわち特徴点座標となる。* Step (7) When the scanning of the image data M is completed, the maximum value detecting means 142 and the minimum value coordinate storing means 144 are completed when the scanning of the image data M is completed and all the pixels of this data M are processed, X, The output signal of the Y coordinate is output to the maximum value coordinate storage means 143 and the minimum value coordinate storage means 145. Coordinate storage means 143, 145 to which this output signal is input
Outputs the stored X and Y coordinates as feature point coordinates. At the same time, the detecting means 142 and 144 initialize the comparison value. (Step (8)) When the processing is completed for all the pixels, the X and Y coordinates of the pixel which gives the maximum and minimum calculated values of the X and Y coordinates stored in the maximum value coordinate storage means 143 and the minimum value coordinate storage means 145. ,
It is the Y coordinate, that is, the feature point coordinate.
座標検出手段14にあってはα=β=1としたので、処
理終了時点で、例えば第4図に示す被抽出パタンM2の特
徴点BRの座標が最大値座標保存手段143に格納されてお
り、また特徴点TLの座標が最小値座標保存手段145に格
納されている。In the coordinate detecting means 14, since α = β = 1, the coordinates of the feature point BR of the extracted pattern M2 shown in FIG. 4, for example, are stored in the maximum value coordinate storing means 143 at the end of the processing. Further, the coordinates of the feature point TL are stored in the minimum value coordinate storage means 145.
画像データMの走査が終了しないとき 座標検出手段14は、画像データMの走査が終了せず従
ってデータMの全ての画素につき処理が終了していなけ
れば、画像データMの残りの画素につきステップ
(4)、(5a)、(5b)或は(7)の判断を行ない、そ
の判断結果に応じて動作する。When the scanning of the image data M is not completed The coordinate detection means 14 executes the step () for the remaining pixels of the image data M unless the scanning of the image data M is completed and the processing is not completed for all the pixels of the data M. 4), (5a), (5b) or (7) is determined, and the operation is performed according to the determination result.
II:座標検出手段16に着目した説明 座標検出手段16は、上述した座標検出手段14の動作と
並行して座標検出手段14と同様の動作を行なうので、こ
の検出手段16の動作、検出手段16に関連したX、Y座標
を付与する処理及び特徴点座標を検出する処理の説明を
省略する。II: Description Focusing on Coordinate Detection Means 16 Since the coordinate detection means 16 performs the same operation as the coordinate detection means 14 in parallel with the operation of the coordinate detection means 14 described above, the operation of the detection means 16 and the detection means 16 The description of the process of assigning the X and Y coordinates and the process of detecting the feature point coordinates related to the above is omitted.
但し、座標検出手段16にあっては、α=1及びβ=−
1としたので、全ての画素につき処理を終了した時点
で、例えば第4図に示す被抽出パタンM2の特徴点TRの座
標が最大値座標保存手段163に格納されており、また特
徴点BLの座標が最小値座標保存手段165に格納されてい
る。However, in the coordinate detecting means 16, α = 1 and β = −
Since it is set to 1, the coordinates of the feature point TR of the extracted pattern M2 shown in FIG. 4 are stored in the maximum value coordinate storage means 163 when the processing is completed for all the pixels, and the feature point BL The coordinates are stored in the minimum value coordinate storage means 165.
III:特徴点座標検出の原理的説明 第7図は特徴点座標検出の原理的説明に供する図であ
る。以下、第7図を参照して説明するが、この説明で
は、特徴抽出対象となる被抽出パタンM2を矩形パタンと
する。この場合、特徴点は被抽出パタンM2の角点TL、T
R、BL、BRとなる。III: Principle Description of Feature Point Coordinate Detection FIG. 7 is a diagram for explaining the principle of feature point coordinate detection. This will be described below with reference to FIG. 7, but in this description, the extracted pattern M2 that is the feature extraction target is a rectangular pattern. In this case, the feature points are the corner points TL and T of the extracted pattern M2.
R, BL, BR.
特徴点座標検出のため、まず、画像データM上におい
て被抽出パタンM2を通過する直線αX+βYを想定し、
傾きが一定値に固定されCの値が種々の値となる直線群
αX+βY=Cを考える。すると、被抽出パタンM2を通
過する直線を見出すことが出来、このとき特徴点となる
角点を通過する直線のCの値は直線群中、最小の値或は
最大の値となる。In order to detect the feature point coordinates, first, a straight line αX + βY passing through the extracted pattern M2 on the image data M is assumed,
Consider a straight line group αX + βY = C in which the slope is fixed to a constant value and the value of C has various values. Then, a straight line passing through the extracted pattern M2 can be found, and at this time, the value of C of the straight line passing through the corner point which is the characteristic point becomes the minimum value or the maximum value in the straight line group.
従って、被抽出パタンM2の各画素につきCの値すなわ
ち計算値αX+βYを算出し、計算値αX+βYが最大
或は最小となる画素のX、Y座標と特徴点の座標とすれ
ば良いことが理解出来る。矩形パタンの場合であれば、
一組の特定のα及びβ値を用いることによって2つの角
点(特徴点)を検出することが出来る。Therefore, it can be understood that the value of C, that is, the calculated value αX + βY, is calculated for each pixel of the extracted pattern M2, and the X, Y coordinates of the pixel having the maximum or minimum calculated value αX + βY and the coordinates of the characteristic points are used. . In case of rectangular pattern,
Two corner points (feature points) can be detected by using a set of specific α and β values.
例えばα=β=1として被抽出パタンM2の領域を通過
する直線群L:X+Y=C1を考え、C1の値をより小さくし
てゆくと特徴点TLを通過する直線L1が得られることが理
解出来る。またC1の値が最小となるとき特徴点TLを通過
する直線L1が得らえる。またC1の値をより大きくしてゆ
くと特徴点BRにより近い直線が得られC1の値が最大とな
るとき特徴点BRを通過する直線Lnが得られる。従って、
被抽出パタンM2の画素のなかで計算値X+Yの最小値を
与える画素の座標が特徴点TLの及び最大値を与える画素
の座標が特徴点BRの座標となることが理解出来る。For example, considering α = β = 1 and considering a group of straight lines L: X + Y = C 1 passing through the region of the extracted pattern M2, and making the value of C 1 smaller, a straight line L 1 passing through the feature point TL is obtained. I can understand Further, when the value of C 1 is minimum, a straight line L 1 passing through the feature point TL can be obtained. Further, when the value of C 1 is increased, a straight line closer to the feature point BR is obtained, and when the value of C 1 is maximum, a straight line L n passing through the feature point BR is obtained. Therefore,
It can be understood that among the pixels of the extracted pattern M2, the coordinates of the pixel giving the minimum value of the calculated values X + Y are the coordinates of the feature point TL and the coordinates of the pixel giving the maximum value are the coordinates of the feature point BR.
同様にして、例えばα=1及びβ=−1として被抽出
パタンM2の領域を通過する直線群K:X−Y=C2を考える
と、C2の値が最小となるとき特徴点BLを通過する直線Km
が及びC2の値が最大となるとき特徴点TRを通過する直線
K1が得られる。従って、被抽出パタンM2の画素のなかで
計算値X−Yの最小値を与える画素の座標が特徴点BLの
及び最大値を与える画素の座標が特徴点TRの座標とな
る。Similarly, considering a group of straight lines K: X−Y = C 2 that passes through the region of the extracted pattern M2 with α = 1 and β = −1, for example, when the value of C 2 is the minimum, the feature point BL is Passing straight line K m
A straight line passing through the feature point TR when the values of and C 2 are maximum
You get K 1 . Therefore, among the pixels of the extracted pattern M2, the coordinates of the pixel giving the minimum value of the calculated values XY become the coordinates of the feature point BL and the coordinates of the pixel giving the maximum value become the coordinates of the feature point TR.
(大きさ検出手段に注目した説明) 次に、第1図及び第3図を参照して、この実施例にお
ける、大きさ検出手段の動作、この動作に関連するX、
Y座標を付与する処理及び被抽出パタンの大きさを検出
する処理につき説明する。(Explanation Focusing on Size Detecting Means) Next, with reference to FIGS. 1 and 3, the operation of the size detecting means in this embodiment, the X related to this operation,
The process of assigning the Y coordinate and the process of detecting the size of the extracted pattern will be described.
まず、読取処理部8が文字図形の記されている帳票の
読取り領域の走査を開始すると、読取処理部8は特徴抽
出に適した一単位の画像データMを1画素毎に出力し、
これと共に座標発生手段10、12はこの画像データMの出
力と同期させ画像データMの画素毎に対応付けされた
X、Y座標を発生する(座標発生手段10、12によって
X、Y座標を付与する処理が行なわれる)。First, when the reading processing unit 8 starts scanning the reading area of the form in which the character graphic is written, the reading processing unit 8 outputs one unit of image data M suitable for feature extraction for each pixel,
At the same time, the coordinate generating means 10 and 12 generate X and Y coordinates which are synchronized with the output of the image data M and are associated with each pixel of the image data M (the coordinate generating means 10 and 12 give the X and Y coordinates. Processing is done).
その結果、外接方形枠検出手段151のXS検出手段151
a、YS検出手段151b、XE検出手段151c及びYE検出手段151
dは、読取処理部8からの画像データM及び座標発生手
段10、12からのX、Y座標をそれぞれ入力する。As a result, the X S detection means 151 of the circumscribing rectangular frame detection means 151
a, Y S detecting means 151b, X E detecting means 151c and Y E detecting means 151
In d, the image data M from the reading processing unit 8 and the X and Y coordinates from the coordinate generating means 10 and 12 are input.
(1)XS検出手段の動作及びXSの検出 XS検出手段151aは入力された画像データMの画素が被
抽出パタンM2を意味する所定の画素値を有する画素であ
るか否かを判断し(例えば画素値「1」であるか否かを
判断する)、所定の画素値を有する画素であれば、この
画素のX座標を、検出手段151aに格納されているXS座標
と比較する。(1) X S detected X S detection means 151a of operation and X S of the detection means determines whether the pixel of the image data M which has been input is a pixel having a predetermined pixel value which means the extraction pattern M2 (For example, it is determined whether or not the pixel value is "1"), and if the pixel has a predetermined pixel value, the X coordinate of this pixel is compared with the X S coordinate stored in the detection means 151a. .
XS検出手段151aは、格納されているXS座標が入力され
たX座標よりも小さければ、このX座標を新たなXS座標
として格納する(XS座標の書換え)。また格納されてい
るXS座標が入力されたX座標よりも大きいとき及びX座
標と等しいときは、格納されているXS座標を書換えな
い。If the stored X S coordinate is smaller than the input X coordinate, the X S detection means 151a stores this X coordinate as a new X S coordinate (rewriting of the X S coordinate). Further, when the stored X S coordinate is larger than the input X coordinate and equal to the X coordinate, the stored X S coordinate is not rewritten.
このような比較及び比較結果に応じたXS座標の書換え
を、画像データMの全ての画素につき終了した時点で、
XS座標検出手段151aに格納されているXS座標が、被抽出
パタンM2の画素に関する最小のX座標として用いられ
る。When the comparison and the rewriting of the X S coordinates according to the comparison result are completed for all the pixels of the image data M,
X S coordinates stored in the X S coordinate detection means 151a is used as the minimum X coordinates for the pixels of the extracted pattern M2.
(2)YS検出手段及びYSの検出 YS検出手段151bは、XS検出手段151aと同様にして、Y
座標発生手段12から入力されるY座標とこの検出手段15
1bに格納されているYS座標との比較を行ない、この比較
結果に応じたYS座標の書換えを行なう。(2) Detection Y S detection means 151b of Y S detector and Y S, as in the X S detection means 151a, Y
The Y coordinate input from the coordinate generating means 12 and this detecting means 15
The Y S coordinate stored in 1b is compared, and the Y S coordinate is rewritten according to the comparison result.
画像データMのすべての画素につき処理を終了した時
点で、YS検出手段151bに格納されているYS座標が、被抽
出パタンM2の画素に関する最小のY座標として用いられ
る。When the processing is completed for all the pixels of the image data M, the Y S coordinate stored in the Y S detecting means 151b is used as the minimum Y coordinate for the pixel of the extracted pattern M2.
(3)XE検出手段及びXEの検出 XE検出手段151cは入力された画像データMの画素が被
抽出パタンM2を意味する所定の画素値を有する画素か否
かを判断し、所定の画素値を有する画素であれば、この
画素のX座標を検出手段151cに格納されているXE座標と
比較する。(3) X E Detection Unit and X E Detection The X E detection unit 151c determines whether or not the pixel of the input image data M is a pixel having a predetermined pixel value that means the extracted pattern M2, If the pixel has a pixel value, the X coordinate of this pixel is compared with the X E coordinate stored in the detecting means 151c.
XE検出手段151cは、格納されているXE座標が入力され
たX座標よりも小さければ、このX座標を新たなXE座標
として格納する(XE座標の書換え)。また格納されてい
るXE座標が入力されたX座標よりも大きいとき及びX座
標と等しいときは、格納されているXE座標を書換えな
い。If the stored X E coordinate is smaller than the input X coordinate, the X E detecting unit 151c stores this X coordinate as a new X E coordinate (rewriting of the X E coordinate). When the stored X E coordinate is larger than the input X coordinate or equal to the X coordinate, the stored X E coordinate is not rewritten.
このような処理を、画像データMの全ての画素につき
終了した時点でXE座標検出手段151cに格納されているXE
座標が、被抽出パタンM2の画素に関する最大のX座標と
して用いられる。Such processing, upon completion for all the pixels of the image data M X E-coordinate detection unit 151c to the stored and are X E
The coordinate is used as the maximum X coordinate for the pixel of the extracted pattern M2.
(4)YE検出手段及びYEの検出 YE検出手段151dは、XE検出手段151cと同様にして、Y
座標発生手段12から入力されるY座標とこの検出手段15
1dに格納されているYE座標との比較を行ない、この比較
結果に応じたYE座標の書換えを行なう。(4) Y E Detection Means and Y E Detection The Y E detection means 151d is the same as the X E detection means 151c.
The Y coordinate input from the coordinate generating means 12 and this detecting means 15
The Y E coordinate stored in 1d is compared, and the Y E coordinate is rewritten according to the comparison result.
画像データMのすべての画素につき処理を終了した時
点でYE検出手段151dに格納されているYE座標が、被抽出
パタンM2の画素に関する最大のY座標として用いられ
る。The Y E coordinate stored in the Y E detecting means 151d at the time when the processing is completed for all the pixels of the image data M is used as the maximum Y coordinate for the pixel of the extracted pattern M2.
次いで、大きさ検出手段15の大きさ検出手段152は、
外接方形枠検出手段151から被抽出パタンM2の画素に関
する最大及び最小のX、Y座標すなわちXS、YS、XE及び
YE座標を入力し、これら座標から被抽出パタンM2の大き
さとして例えば、(XE−XS)及び(YE−YS)を算出し出
力する。Then, the size detecting means 152 of the size detecting means 15
The maximum and minimum X and Y coordinates of the pixels of the extracted pattern M2 from the circumscribing rectangular frame detection means 151, that is, X S , Y S , X E, and
Enter the Y E coordinates, for example, as the size of the extracted patterns M2 from these coordinates, and outputs the calculated (X E -X S) and (Y E -Y S).
外接方形枠は、第4図に示すように、(XS、YS)、
(XS、YE)、(XE、YS)及び(XE、YE)の4つの点によ
って規定される方形枠すなわちこれら4つの点を角点と
して有する矩形枠となる。The circumscribed rectangular frame is (X S , Y S ), as shown in FIG.
It is a rectangular frame defined by four points (X S , Y E ), (X E , Y S ) and (X E , Y E ), that is, a rectangular frame having these four points as corner points.
(特徴量算出手段に注目した説明) 次に、第1図を参照して、この実施例における、特徴
量算出手段の動作及びこの動作に関連して行なわれる、
被抽出パタンの正規化された幾何学的特徴量を算出する
処理につき説明する。(Explanation Focusing on Feature Quantity Calculating Means) Next, with reference to FIG. 1, the operation of the feature quantity calculating means in this embodiment and the operation related thereto will be performed.
The process of calculating the normalized geometric feature amount of the extracted pattern will be described.
特徴量算出手段18は、特徴点検出手段13からの特徴点
BR、TL、TR、BLの座標と、大きさ検出手段15からの被抽
出パタンM2の大きさとを入力すると、これら特徴点座標
及び被抽出パタンM2の大きさを用いて正規化された幾何
学的特徴量DT、DB、DR、DLを、次式(1)〜(4)に従
って算出し、算出した特徴量DT、DB、DR、DLを出力す
る。尚、式(1)〜(4)において特徴点BR、TL、TR、
BLのX座標をBRX、TLX、TRX、BLXとし及びY座標をBR
Y、TLY、TRY、BLYとして表す。The feature amount calculating means 18 is the feature point from the feature point detecting means 13.
When the coordinates of BR, TL, TR, BL and the size of the extracted pattern M2 from the size detecting means 15 are input, the geometrical pattern normalized using these feature point coordinates and the size of the extracted pattern M2. The characteristic features DT, DB, DR, DL are calculated according to the following equations (1) to (4), and the calculated characteristic amounts DT, DB, DR, DL are output. In addition, in the equations (1) to (4), the feature points BR, TL, TR,
BL X coordinate is BRX, TLX, TRX, BLX and Y coordinate is BR
Represented as Y, TLY, TRY, BLY.
この出願の方法発明及び装置発明は上述した実施例に
のみ限定されるものではなく、装置発明の各構成成分の
構成や動作、また方法発明における処理手順その他を任
意好適に変更することが出来る。 The method invention and apparatus invention of this application are not limited to the above-described embodiments, but the configurations and operations of the respective constituents of the apparatus invention, the processing procedure in the method invention, and the like can be arbitrarily changed.
例えば、特徴抽出のための画像データMとして2値に
処理されたデータのみならず、多値処理されたデータを
用いても良い。多値処理された画像データから特定色の
文字図形パタンの特徴抽出や特定範囲の濃度を有する文
字図形パタンの特徴抽出を行なうことが出来る。特定色
の文字図形パタンの場合には、特定の色を有する画素で
あることを意味する画素値の画素に着目し、この画素に
関する最大及び最小計算値を求めることによって、特徴
点座標を検出出来る。また特定範囲の濃度を有する文字
図形パタンの場合には、特定濃度範囲の画素値を有する
画素に着目して、この画素に関する最大及び最小計算値
を求めることによって、特徴点座標を検出することが出
来る。For example, not only the binary processed data but also the multivalued data may be used as the image data M for the feature extraction. It is possible to perform feature extraction of a character / graphic pattern of a specific color or feature extraction of a character / graphic pattern having a specific range of density from multi-valued image data. In the case of a character / graphic pattern of a specific color, the feature point coordinates can be detected by focusing on a pixel having a pixel value that means that the pixel has a specific color and calculating the maximum and minimum calculated values for this pixel. . In the case of a character / graphic pattern having a density in a specific range, the feature point coordinates can be detected by focusing on a pixel having a pixel value in the specific density range and obtaining the maximum and minimum calculated values for this pixel. I can.
また上述した実施例では、2組のα及びβを用い従っ
て傾きが異なる2つの直線群L、Kを用いて特徴点座標
を検出した場合につき説明したが、例えばほぼ多角形形
状(ほぼn角形形状)の図形パタンに関する特徴点座標
を検出する場合など、3組以上のα及びβを用い従って
傾きが異なる3つ以上の直線群を用いて特徴点座標の検
出を行なうようにしても良い。この場合、それぞれの組
のα及びβ値に関し上述と同様の原理に従って最大及び
最小計算値を求め、これら最大及び最小計算値を与える
画素の座標から文字図形パタンの幾何学的特徴量を求め
ることが出来る。この場合の装置構成は、座標検出手段
の配設個数を、特徴点座標検出のために用いるα及びβ
値の組の個数と同数とする他は、上述した実施例と同様
の構成とすれば良い。In the above-described embodiment, the case where the characteristic point coordinates are detected by using two groups of straight lines L and K having different inclinations by using two sets of α and β has been described. In the case of detecting the characteristic point coordinates related to the (shape) figure pattern, the characteristic point coordinates may be detected by using three or more sets of α and β and thus using three or more straight line groups having different inclinations. In this case, regarding the α and β values of each set, the maximum and minimum calculated values are obtained according to the same principle as described above, and the geometric feature amount of the character / graphic pattern is obtained from the coordinates of the pixels giving these maximum and minimum calculated values. Can be done. In this case, the device configuration is such that the number of coordinate detecting means provided is set to α and β used for detecting the feature point coordinates.
The configuration may be the same as that of the above-described embodiment except that the number of sets of values is the same.
また正規化する前の幾何学的特徴量として、検出され
た特徴点の座標をもとにして得られる種々の幾何学的特
徴量を用いることが出来る。上述した実施例では、特徴
点間の距離を正規化した例につき説明したが、この他例
えば、特徴点を結んで得られる三角形、四角形等の多角
形領域の面積を正規化した幾何学的特徴量その他を用い
て良い。また被抽出パタンの大きさとして、上述の実施
例の他、例えば被抽出パタンM2に外接する外接多角形の
辺の長さ或は対角線の長さや、外接円の半径や、被抽出
パタンの重心まわりの2次モーメントその他を用いるこ
とが出来る。正規化された被抽出パタンの幾何学的特徴
量は、正規化される前の幾何学的特徴量を被抽出パタン
の大きさで割ることによって得られる。そして、種々の
正規化された特徴量を単独で或は種々に組み合せて文字
パタンや図形パタンの認識のために用いることが出来
る。In addition, various geometric feature amounts obtained based on the coordinates of the detected feature points can be used as the geometric feature amount before normalization. In the above-described embodiment, the example in which the distance between the feature points is normalized has been described. However, in addition to this, for example, geometric features obtained by normalizing the area of a polygonal region such as a triangle or a quadrangle obtained by connecting feature points. The amount and the like may be used. Further, as the size of the extracted pattern, in addition to the above-described embodiment, for example, the length of the side of the circumscribed polygon circumscribing the extracted pattern M2 or the length of the diagonal line, the radius of the circumscribed circle, and the center of gravity of the extracted pattern. It is possible to use the second moment around and the like. The normalized geometric feature amount of the extracted pattern is obtained by dividing the geometric feature amount before being normalized by the size of the extracted pattern. Then, various normalized feature quantities can be used alone or in various combinations to recognize a character pattern or a graphic pattern.
また所定の画素値を有する画素に関する最大及び最小
計算値を算出するための手順(アルゴリズム)は、上述
した実施例にのみ限定されず、最大及び最小値を求める
ために従来より用いられている任意好適な手順を用いて
も良い。Further, the procedure (algorithm) for calculating the maximum and minimum calculation values for the pixel having the predetermined pixel value is not limited to the above-described embodiment, and any procedure conventionally used for obtaining the maximum and minimum values. Any suitable procedure may be used.
またこの出願の方法及び装置発明は、特に字形の簡単
な文字例えば数字を認識対象とする文字認識装置に適用
して好適であり、この場合に小型で処理速度の速い文字
認識装置を実現することが出来る。また、これら方法及
び装置発明は文字認識装置、図形認識装置その他の画像
処理装置に広く適用して良い。Further, the method and apparatus invention of this application is particularly suitable for application to a character recognition device that recognizes simple characters, such as numbers, and in this case, realizes a small character recognition device with high processing speed. Can be done. Further, these method and device inventions may be widely applied to a character recognition device, a pattern recognition device and other image processing devices.
(発明の効果) 上述した説明からも明らかなように、この出願の特徴
抽出方法及び特徴抽出装置によれば、量子化画像データ
の画素にX座標及びY座標を付与して画像データをX−
Y座標系で表現する。そして、このX−Y座標系で表現
された画像データを利用することによって、所定の画素
値を有する被抽出パタンの画素に関する最大及び最小の
計算値αX+βYを検出し最大及び最小計算値を与える
画素のX、Y座標を特徴点座標として検出する処理と、
被抽出パタンの大きさを検出する処理とを行なう。そし
て、これら処理を並行して或は時間的に相前後して行な
うことによって得た、特徴点座標と被抽出パタンの大き
さとを用いて被抽出パタンの正規化された幾何学的特徴
量を算出する。(Effect of the Invention) As is clear from the above description, according to the feature extraction method and feature extraction apparatus of this application, the X-coordinate and the Y-coordinate are given to the pixels of the quantized image data to convert the image data to the X-
Expressed in the Y coordinate system. Then, by using the image data represented by this XY coordinate system, the maximum and minimum calculated values αX + βY regarding the pixels of the extracted pattern having a predetermined pixel value are detected and the pixels giving the maximum and minimum calculated values are detected. A process of detecting the X and Y coordinates of the above as feature point coordinates;
Processing for detecting the size of the extracted pattern is performed. Then, the normalized geometric feature amount of the extracted pattern is obtained using the feature point coordinates and the size of the extracted pattern, which are obtained by performing these processes in parallel or in chronological order. calculate.
このようにして特徴量を算出する上述の処理手順にあ
っては、最大及び最小計算値を検出する手順が非常に簡
単な手順であるので、装置構成の簡素化を図れる。さら
に、最大及び最小計算値を検出する手順が簡単であるの
で特徴量の算出を高速に行なえる。特に読取処理部が画
像メモリを有する場合には、特徴点座標を画像メモリの
一回の走査で検出することが出来るので、高速化を効果
的に図れる。In the above-described processing procedure for calculating the feature amount in this way, the procedure for detecting the maximum and minimum calculated values is a very simple procedure, so that the device configuration can be simplified. Further, since the procedure for detecting the maximum and minimum calculated values is simple, the feature amount can be calculated at high speed. In particular, when the reading processing unit has an image memory, the characteristic point coordinates can be detected by one scan of the image memory, so that the speedup can be effectively achieved.
また、被抽出パタンの幾何学的特徴量を正規化するの
で、例えば被抽出パタンの大きさが変動したり印刷精度
が不足したとしても、特徴量が変動するのを低減出来、
従って被抽出パタンの大きさの変動や印刷精度不足等の
影響を受けにくい安定した特徴量を得ることが出来る。
尚、被抽出パタンの大きさの変動は、例えば、分解能が
異なる光電変換部を用いたり、大文字や小文字等異なる
サイズの文字図形を用いたりした場合に生じるものであ
る。Further, since the geometric feature amount of the extracted pattern is normalized, it is possible to reduce the variation of the characteristic amount even if the size of the extracted pattern changes or the printing accuracy is insufficient.
Therefore, it is possible to obtain a stable feature amount that is not easily affected by variations in the size of the extracted pattern and insufficient printing accuracy.
The variation in the size of the extracted pattern occurs when, for example, photoelectric conversion units having different resolutions are used or character figures having different sizes such as uppercase letters and lowercase letters are used.
また、最大及び最小計算値を与える画素の座標を、特
徴点座標とするので、従来のマトリクス・マッチング法
と比較して、帳票、原稿等の傾きや、被抽出パタンの欠
けに影響されにくい安定した特徴量を得られるという利
点がある。In addition, since the coordinates of the pixels that give the maximum and minimum calculated values are the feature point coordinates, compared to the conventional matrix matching method, it is stable and less susceptible to the inclination of the form, original, etc., and the lack of the extracted pattern. There is an advantage that the specified feature amount can be obtained.
第1図は装置発明の実施例の説明に供する機能ブロック
図、 第2図は座標検出手段から構成される特徴点検出手段の
一構成例を示す機能ブロック図、 第3図は大きさ検出手段の一構成例を示す機能ブロック
図、 第4図は特徴抽出のために用いる量子化画像データの一
例を示す図、 第5図は特徴抽出対象として好適な文字パタンの一例を
示す図、 第6図(A)〜(B)は特徴点検出手段に注目した、方
法発明及び装置発明の実施例の説明に供する動作流れ
図、 第7図は特徴点座標検出の原理的説明に供する図であ
る。 8…読取処理部、10…X座標発生手段 12…Y座標発生手段、13…特徴点検出手段 14、16…座標検出手段 141、161…計算手段 142、162…最大値検出手段 143、163…最大値座標保存手段 144、164…最小値検出手段 145、165…最小値座標保存手段 15…大きさ検出手段 151…外接方形枠検出手段 152…大きさ算出手段 18…特徴量算出手段。FIG. 1 is a functional block diagram used to explain an embodiment of the apparatus invention, FIG. 2 is a functional block diagram showing an example of the configuration of a feature point detecting means composed of coordinate detecting means, and FIG. FIG. 4 is a functional block diagram showing one configuration example, FIG. 4 is a diagram showing an example of quantized image data used for feature extraction, FIG. 5 is a diagram showing an example of a character pattern suitable as a feature extraction target, and FIG. (A) and (B) are operation flow charts for explaining the embodiment of the method invention and the apparatus invention, focusing on the feature point detecting means, and FIG. 7 is a diagram for explaining the principle of feature point coordinate detection. 8 ... Read processing section, 10 ... X coordinate generating means 12 ... Y coordinate generating means, 13 ... Feature point detecting means 14, 16 ... Coordinate detecting means 141, 161, ... Calculating means 142, 162 ... Maximum value detecting means 143, 163 ... Maximum value coordinate storage means 144, 164 ... Minimum value detection means 145, 165 ... Minimum value coordinate storage means 15 ... Size detection means 151 ... Enclosing rectangular frame detection means 152 ... Size calculation means 18 ... Feature amount calculation means.
Claims (5)
子化画像データの画素にX座標及びY座標を付与する処
理と、 前記X、Y座標と少なくとも2組の特定のα値及びβ値
とを用いて所定の画素値を有する前記被抽出パタンの画
素に関する最大及び最小の計算値αX+βYを検出し、
これら最大及び最小計算値を与える前記画素のX、Y座
標を特徴点座標として検出する処理と、 前記被抽出パタンの大きさを検出する処理と、 前記特徴点座標と前記被抽出パタンの大きさとを用いて
前記被抽出パタンの正規化された幾何学的特徴量を算出
する処理とを 含むことを特徴とする特徴抽出方法。1. A process of assigning an X coordinate and a Y coordinate to a pixel of quantized image data including an extracted pattern to be a feature extraction target, and the X and Y coordinates and at least two sets of specific α and β values. Detect the maximum and minimum calculated values αX + βY relating to the pixels of the extracted pattern having a predetermined pixel value using
A process of detecting the X and Y coordinates of the pixel giving the maximum and minimum calculated values as feature point coordinates, a process of detecting the size of the extracted pattern, and the feature point coordinates and the size of the extracted pattern. And a process for calculating a normalized geometric feature amount of the extracted pattern using the above.
パタンの外接方形枠の辺の長さとしたことを特徴とする
請求項1に記載の特徴抽出方法。2. The feature extraction method according to claim 1, wherein the size of the extracted pattern is the length of a side of a circumscribing rectangular frame of the extracted pattern.
子化画像データの画素にX座標を付与するためのX座標
発生手段と、 前記量子化画像データの画素にY座標を付与するための
Y座標発生手段と、 前記X、Y座標と少なくとも2組の特定のα値及びβ値
とを用いて所定の画素値を有する前記被抽出パタンの画
素に関する最大及び最小の計算値αX+βYを検出し、
これら最大及び最小計算値を与える前記画素のX、Y座
標をそれぞれ特徴点座標として検出するための座標検出
手段と、 前記被抽出パタンの大きさを検出するための大きさ検出
手段と、 前記特徴点座標と前記被抽出パタンの大きさとを用いて
前記被抽出パタンの正規化された幾何学的特徴量を算出
するための特徴量算出手段とを 備えて成ることを特徴とする特徴抽出装置。3. X-coordinate generating means for giving an X coordinate to a pixel of quantized image data including an extracted pattern to be a feature extraction target, and Y coordinate for giving a pixel to the quantized image data. Using Y coordinate generation means and the X and Y coordinates and at least two sets of specific α and β values, the maximum and minimum calculated values αX + βY regarding the pixels of the extracted pattern having a predetermined pixel value are detected. ,
Coordinate detecting means for detecting the X and Y coordinates of the pixel giving the maximum and minimum calculated values as feature point coordinates, size detecting means for detecting the size of the extracted pattern, and the feature A feature extraction device, comprising: a feature amount calculation means for calculating a normalized geometric feature amount of the extracted pattern using the point coordinates and the size of the extracted pattern.
めの最大値座標保存手段と、 前記最小計算値を検出するための最小値検出手段と、 前記最小計算値を与える画素のX、Y座標を保存するた
めの最小値座標保存手段とを 備えて成ることを特徴とする請求項3に記載の特徴抽出
装置。4. The coordinate detecting means calculates the calculated value αX + βY, maximum value detecting means for detecting the maximum calculated value, and X and Y coordinates of a pixel giving the maximum calculated value. Maximum value coordinate storage means for storing, minimum value detection means for detecting the minimum calculated value, and minimum value coordinate storage means for storing the X and Y coordinates of the pixel giving the minimum calculated value. The feature extraction device according to claim 3, wherein the feature extraction device is provided.
座標として、前記被抽出パタンの画素に関する最大及び
最小のX座標と前記被抽出パタンの画素に関する最大及
び最小のY座標とを検出する外接方形枠検出手段と、 前記最大及び最小のX座標と前記最大及び最小のY座標
とから前記被抽出パタンの大きさを算出する大きさ算出
手段とを 備えて成ることを特徴とする請求項3又は4に記載の特
徴抽出装置。5. The size detecting means includes X and Y for defining a circumscribing rectangular frame of the extracted pattern.
As the coordinates, a circumscribing rectangular frame detecting means for detecting maximum and minimum X coordinates regarding pixels of the extracted pattern and maximum and minimum Y coordinates regarding pixels of the extracted pattern, and the maximum and minimum X coordinates and the above The feature extraction apparatus according to claim 3, further comprising a size calculation unit that calculates the size of the extracted pattern from the maximum and minimum Y coordinates.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63014224A JPH0821062B2 (en) | 1988-01-25 | 1988-01-25 | Feature extraction method and feature extraction apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63014224A JPH0821062B2 (en) | 1988-01-25 | 1988-01-25 | Feature extraction method and feature extraction apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01189787A JPH01189787A (en) | 1989-07-28 |
JPH0821062B2 true JPH0821062B2 (en) | 1996-03-04 |
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ID=11855097
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63014224A Expired - Lifetime JPH0821062B2 (en) | 1988-01-25 | 1988-01-25 | Feature extraction method and feature extraction apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH0821062B2 (en) |
-
1988
- 1988-01-25 JP JP63014224A patent/JPH0821062B2/en not_active Expired - Lifetime
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