JPH0743326B2 - 物体端部の欠陥検査方法及びその装置 - Google Patents
物体端部の欠陥検査方法及びその装置Info
- Publication number
- JPH0743326B2 JPH0743326B2 JP3026729A JP2672991A JPH0743326B2 JP H0743326 B2 JPH0743326 B2 JP H0743326B2 JP 3026729 A JP3026729 A JP 3026729A JP 2672991 A JP2672991 A JP 2672991A JP H0743326 B2 JPH0743326 B2 JP H0743326B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bright line
- image sensor
- defect
- light
- edge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/10—Scanning
- G01N2201/102—Video camera
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Image Processing (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は物体端部の欠陥を検査す
る方法及び装置に関する。
る方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ガラスコップのリップの欠陥を検
査する方法として、例えば特開平１−１２９１１２号公
報に記載のものが知られている。この方法は、リップに
その内外両側から光を投射し、その内外両側からの反射
光を１つの一次元イメージセンサで受光する。このイメ
ージセンサの出力を取り出すと、リップが正常である場
合、内外両側の反射光に対応した２つのパルスが得られ
る。これら２つのパルスの間隔はリップの厚さに応じて
変化し、また各パルスの幅はごく僅かではあるがリップ
の高さに応じて変化する。そこで、この方法では、その
２つのパルスの間隔を基準値と比較することによりリッ
プの厚みの異常を検出し、またパルスの幅を基準値と比
較することによりリップの高さの異常を検出し、さらに
パルスの欠落によりリップに凹凸があることを検出す
る。
査する方法として、例えば特開平１−１２９１１２号公
報に記載のものが知られている。この方法は、リップに
その内外両側から光を投射し、その内外両側からの反射
光を１つの一次元イメージセンサで受光する。このイメ
ージセンサの出力を取り出すと、リップが正常である場
合、内外両側の反射光に対応した２つのパルスが得られ
る。これら２つのパルスの間隔はリップの厚さに応じて
変化し、また各パルスの幅はごく僅かではあるがリップ
の高さに応じて変化する。そこで、この方法では、その
２つのパルスの間隔を基準値と比較することによりリッ
プの厚みの異常を検出し、またパルスの幅を基準値と比
較することによりリップの高さの異常を検出し、さらに
パルスの欠落によりリップに凹凸があることを検出す
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来例による場
合、リップの水平方向の変化に対してはパルスもそれに
ほぼ比例した変化量で変化するので、リップの水平方向
の変形による欠陥に対しては満足した検査結果が得られ
る。しかし、リップの垂直方向の変化に対しては、パル
スの幅が変化するもののその変化量はほんの僅かであ
り、リップの垂直方向の変形による欠陥に対しては満足
した検査結果を得られない。従来でも、リップの大きな
凹凸については、パルスが欠落するので検出は可能では
あるが、いわゆる天波や天傾斜等の垂直方向に連続して
緩やかに変形するような形態の欠陥の検出は非常に困難
である。
合、リップの水平方向の変化に対してはパルスもそれに
ほぼ比例した変化量で変化するので、リップの水平方向
の変形による欠陥に対しては満足した検査結果が得られ
る。しかし、リップの垂直方向の変化に対しては、パル
スの幅が変化するもののその変化量はほんの僅かであ
り、リップの垂直方向の変形による欠陥に対しては満足
した検査結果を得られない。従来でも、リップの大きな
凹凸については、パルスが欠落するので検出は可能では
あるが、いわゆる天波や天傾斜等の垂直方向に連続して
緩やかに変形するような形態の欠陥の検出は非常に困難
である。
【０００４】本発明の目的は、水平方向の変形による欠
陥は勿論のこと、垂直方向の変形による欠陥についても
精度良く検査できるようにすることにある。
陥は勿論のこと、垂直方向の変形による欠陥についても
精度良く検査できるようにすることにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明においては、物体
端部からの光を、相互に所定の角度をもたせて配置した
一次元又は二次元の複数のイメージセンサで受光し、こ
れらイメージセンサの各画素の輝度出力をメモリに記憶
し、物体端部のエッジからの光による輝線を各イメージ
センサごとに検出するとともに、その輝線の位置を各イ
メージセンサごとにその素子配列に沿った画素数からデ
ジタル量として算出し、そのデジタル量をイメージセン
サ間において加算及び減算し、その加算結果及び減算結
果から欠陥を判定する。
端部からの光を、相互に所定の角度をもたせて配置した
一次元又は二次元の複数のイメージセンサで受光し、こ
れらイメージセンサの各画素の輝度出力をメモリに記憶
し、物体端部のエッジからの光による輝線を各イメージ
センサごとに検出するとともに、その輝線の位置を各イ
メージセンサごとにその素子配列に沿った画素数からデ
ジタル量として算出し、そのデジタル量をイメージセン
サ間において加算及び減算し、その加算結果及び減算結
果から欠陥を判定する。
【０００６】
【作用】いま、図１に示すように第１及び第２の２つの
イメージセンサ１，２を、検査対象の物体端部３に対し
てその両側の斜め上方に配置し、物体端部３からの反射
光をこれらイメージセンサ１，２で受光する場合、物体
端部３が水平方向に変化量Ａ、垂直方向に変化量Ｂだけ
変化したとする。そして、第１のイメージセンサ１で検
出された物体端部３の総変化量をＳ１、第２のイメージ
センサ２で検出された物体端部３の総変化量をＳ２とす
る。これら総変化量Ｓ１及びＳ２はそれぞれのイメージ
センサ１，２において画素数から算出できる。Ｓ１及び
Ｓ２はいずれも水平方向の変化と垂直方向の変化とを合
わせたものである。その変化量を第１のイメージセンサ
１については上から下へ、第２のイメージセンサ２につ
いては下から上に画素数を計数して算出すると、両イメ
ージセンサ１，２とも、水平方向の変化量ａについては
絶対値が等しくしかも正負も同じであるが、垂直方向の
変化量ｂについては絶対値は等しいが正負が逆になる。
従ってＳ１＝｛ａ＋（−ｂ）｝＝（ａ−ｂ）、Ｓ２＝
（ａ＋ｂ）と表現できる。
イメージセンサ１，２を、検査対象の物体端部３に対し
てその両側の斜め上方に配置し、物体端部３からの反射
光をこれらイメージセンサ１，２で受光する場合、物体
端部３が水平方向に変化量Ａ、垂直方向に変化量Ｂだけ
変化したとする。そして、第１のイメージセンサ１で検
出された物体端部３の総変化量をＳ１、第２のイメージ
センサ２で検出された物体端部３の総変化量をＳ２とす
る。これら総変化量Ｓ１及びＳ２はそれぞれのイメージ
センサ１，２において画素数から算出できる。Ｓ１及び
Ｓ２はいずれも水平方向の変化と垂直方向の変化とを合
わせたものである。その変化量を第１のイメージセンサ
１については上から下へ、第２のイメージセンサ２につ
いては下から上に画素数を計数して算出すると、両イメ
ージセンサ１，２とも、水平方向の変化量ａについては
絶対値が等しくしかも正負も同じであるが、垂直方向の
変化量ｂについては絶対値は等しいが正負が逆になる。
従ってＳ１＝｛ａ＋（−ｂ）｝＝（ａ−ｂ）、Ｓ２＝
（ａ＋ｂ）と表現できる。
【０００７】そこで、Ｓ１とＳ２とを加算すると、Ｓ１＋Ｓ２＝（ａ−ｂ）＋（ａ＋ｂ）＝２ａ となり、垂直方向の変化分が消去されて水平方向の変化
分だけが残る。一方、Ｓ１とＳ２とを減算すると、Ｓ１−Ｓ２＝（ａ−ｂ）−（ａ＋ｂ）＝−２ｂ となり、その減算結果の絶対値をとれば、水平方向の変
化分が消去されて垂直方向の変化分だけが残る。
分だけが残る。一方、Ｓ１とＳ２とを減算すると、Ｓ１−Ｓ２＝（ａ−ｂ）−（ａ＋ｂ）＝−２ｂ となり、その減算結果の絶対値をとれば、水平方向の変
化分が消去されて垂直方向の変化分だけが残る。
【０００８】つまり、両イメージセンサ１，２について
得られた輝線の位置を表すデジタル量を、両イメージセ
ンサ１，２相互において加算及び減算すれば、物体端部
３のエッジの変化量を水平成分と垂直成分とに分けて取
り出すことができる。従って、物体端部の水平方向の変
形による欠陥ばかりでなく、垂直方向の変形による欠陥
についても精度良く検出できることになる。
得られた輝線の位置を表すデジタル量を、両イメージセ
ンサ１，２相互において加算及び減算すれば、物体端部
３のエッジの変化量を水平成分と垂直成分とに分けて取
り出すことができる。従って、物体端部の水平方向の変
形による欠陥ばかりでなく、垂直方向の変形による欠陥
についても精度良く検出できることになる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図２に、ガラスコップのリップの欠陥を検出する
場合を例にした本発明による方法の概要を示す。検査対
象のガラスコップ３は、図示省略したコンベアにより水
平なターンテーブル４上に１個ずつ搬入され、該ターン
テーブル４により少なくとも１回転される。ターンテー
ブル４の上方には、ガラスコップ３のリップの一部に内
外両側から斜めに光（例えばスポット光）を投射する一
対の光源５が配置され、またその照明個所を撮影する２
台のＣＣＤカメラ６，７が一対の光源５にそれぞれ対応
してその上方に配置されている。これらＣＣＤカメラ
６，７は、その光軸８，９がリップ上面に対して互いに
反対側に同角度（例えば４５度）をなすように傾けられ
ており、第１のＣＣＤカメラ６はリップの照明個所を外
側から斜めに撮影し、第２のＣＣＤカメラ７はリップの
照明個所を内側から斜めに撮影する。図３にこの場合の
光の反射経路を示す。ＣＣＤカメラ６，７は、多数の光
電変換素子を上下に配列した一次元イメージセンサ（ラ
インセンサ）１，２及びレンズ１０，１１をそれぞれ有
し、リップからの反射光をレンズ１０，１１で集光して
イメージセンサ１，２に入光する。これらイメージセン
サ１，２の出力は、ＣＰＵやＲＡＭやＲＯＭ等を含む画
像処理装置１２にデジタルに変換して取り込まれ、該画
像処理装置１２で画像処理してリップの欠陥が検査され
る。
する。図２に、ガラスコップのリップの欠陥を検出する
場合を例にした本発明による方法の概要を示す。検査対
象のガラスコップ３は、図示省略したコンベアにより水
平なターンテーブル４上に１個ずつ搬入され、該ターン
テーブル４により少なくとも１回転される。ターンテー
ブル４の上方には、ガラスコップ３のリップの一部に内
外両側から斜めに光（例えばスポット光）を投射する一
対の光源５が配置され、またその照明個所を撮影する２
台のＣＣＤカメラ６，７が一対の光源５にそれぞれ対応
してその上方に配置されている。これらＣＣＤカメラ
６，７は、その光軸８，９がリップ上面に対して互いに
反対側に同角度（例えば４５度）をなすように傾けられ
ており、第１のＣＣＤカメラ６はリップの照明個所を外
側から斜めに撮影し、第２のＣＣＤカメラ７はリップの
照明個所を内側から斜めに撮影する。図３にこの場合の
光の反射経路を示す。ＣＣＤカメラ６，７は、多数の光
電変換素子を上下に配列した一次元イメージセンサ（ラ
インセンサ）１，２及びレンズ１０，１１をそれぞれ有
し、リップからの反射光をレンズ１０，１１で集光して
イメージセンサ１，２に入光する。これらイメージセン
サ１，２の出力は、ＣＰＵやＲＡＭやＲＯＭ等を含む画
像処理装置１２にデジタルに変換して取り込まれ、該画
像処理装置１２で画像処理してリップの欠陥が検査され
る。
【００１０】リップを反射してＣＣＤカメラ６，７に入
光する光のうち、リップのエッジからの光量が最も大き
い。ガラスコップ３は回転されているため、リップの内
外両側のエッジからの反射光はＣＣＤカメラ６，７に図
５のように２本の輝線として撮影される。この２本の輝
線はリップが正常の場合には両ＣＣＤカメラ６，７共に
ほぼ平行な直線となる。しかし、リップに例えば段部が
ある場合（いわゆる段付き不良）には、図６のように両
ＣＣＤカメラ６，７共に輝線が一部欠落したり輝線に突
部が生ずる。また、リップの上面が波状になっている場
合（いわゆる天波不良）には、図７のように２本の輝線
も波状となる。本発明では、このような輝線の異常を検
出することによりリップの欠陥を検査する。
光する光のうち、リップのエッジからの光量が最も大き
い。ガラスコップ３は回転されているため、リップの内
外両側のエッジからの反射光はＣＣＤカメラ６，７に図
５のように２本の輝線として撮影される。この２本の輝
線はリップが正常の場合には両ＣＣＤカメラ６，７共に
ほぼ平行な直線となる。しかし、リップに例えば段部が
ある場合（いわゆる段付き不良）には、図６のように両
ＣＣＤカメラ６，７共に輝線が一部欠落したり輝線に突
部が生ずる。また、リップの上面が波状になっている場
合（いわゆる天波不良）には、図７のように２本の輝線
も波状となる。本発明では、このような輝線の異常を検
出することによりリップの欠陥を検査する。
【００１１】図４に画像処理装置１２の概要構成を示
し、ＣＰＵによって管理される機能によってその構成を
分けたものである。この画像処理装置１２は、第１及び
第２のイメージセンサ１，２にそれぞれ対応する第１及
び第２のＡ／Ｄコンバータ１３，１４、第１及び第２の
メモリ１５，１６、第１及び第２の輝線検出手段１７，
１８、第１及び第２の輝線位置検出手段１９，２０、第
１及び第２共通のタイミングコントローラ２１、加算手
段２２及び減算手段２３、平均値算出手段２４及び欠陥
判定手段２５とで構成される。
し、ＣＰＵによって管理される機能によってその構成を
分けたものである。この画像処理装置１２は、第１及び
第２のイメージセンサ１，２にそれぞれ対応する第１及
び第２のＡ／Ｄコンバータ１３，１４、第１及び第２の
メモリ１５，１６、第１及び第２の輝線検出手段１７，
１８、第１及び第２の輝線位置検出手段１９，２０、第
１及び第２共通のタイミングコントローラ２１、加算手
段２２及び減算手段２３、平均値算出手段２４及び欠陥
判定手段２５とで構成される。
【００１２】第１及び第２のイメージセンサ１，２のア
ナログ出力は、タイミングコントローラ２１による制御
によってガラスコップ３の回転速度に応じて取り込ま
れ、第１のＡ／Ｄコンバータ１３、第２のＡ／Ｄコンバ
ータ１４でそれぞれデジタルに変換された後、ガラスコ
ップ３の１回転分のデジタルデータが第１及び第２別々
にかつ各画素ごとに分けてメモリ１５，１６に記憶され
る。つまり、リップを外側の斜め上方から見た１周分の
展開像が細分化されて各部分ごとにその輝度レベルが第
１のメモリ１５に記憶され、またリップを内側の斜め上
方から見た１周分の展開像も同様に細分化されて各部分
ごとにその輝度レベルが第２のメモリ１６に記憶される
ことになる。
ナログ出力は、タイミングコントローラ２１による制御
によってガラスコップ３の回転速度に応じて取り込ま
れ、第１のＡ／Ｄコンバータ１３、第２のＡ／Ｄコンバ
ータ１４でそれぞれデジタルに変換された後、ガラスコ
ップ３の１回転分のデジタルデータが第１及び第２別々
にかつ各画素ごとに分けてメモリ１５，１６に記憶され
る。つまり、リップを外側の斜め上方から見た１周分の
展開像が細分化されて各部分ごとにその輝度レベルが第
１のメモリ１５に記憶され、またリップを内側の斜め上
方から見た１周分の展開像も同様に細分化されて各部分
ごとにその輝度レベルが第２のメモリ１６に記憶される
ことになる。
【００１３】第１の輝線検出手段１７は、第１のメモリ
１５に記憶された１回転分の画素データから所定閾値以
上、つまり輝度レベルが所定以上の画素を検出すること
により、リップの内外両側のエッジからの２本の輝線
（輝度が所定以上の連続した画素群）を検出する。同様
に、第２の輝線検出手段１８は、第２のメモリ１６に記
憶された１回転分の画素データから輝度レベルが所定以
上の画素を検出することにより、２本の輝線を検出す
る。なお、輝線は輝度のピークから検出することもでき
る。
１５に記憶された１回転分の画素データから所定閾値以
上、つまり輝度レベルが所定以上の画素を検出すること
により、リップの内外両側のエッジからの２本の輝線
（輝度が所定以上の連続した画素群）を検出する。同様
に、第２の輝線検出手段１８は、第２のメモリ１６に記
憶された１回転分の画素データから輝度レベルが所定以
上の画素を検出することにより、２本の輝線を検出す
る。なお、輝線は輝度のピークから検出することもでき
る。
【００１４】第１及び第２の輝線検出手段１７，１８で
それぞれ輝線を構成するとされた画素の位置は、イメー
ジセンサ１，２の素子配列の例えば上端又は下端を基点
とした場合、この基点との間に含まれる素子数、つまり
画素数によって決めることができる。そこで、第１の輝
線位置検出手段１９は、第１の輝線検出手段１７で検出
された２本の輝線の位置を、上側の基点から下へ向かっ
て数えた画素数から算出し、また第２の輝線位置検出手
段２０は、第２の輝線検出手段１８で検出された２本の
輝線の位置を、第１の場合とは逆に、下側の基点から上
に向かって数えた画素数から算出する。この場合、各輝
線の位置はその多数の点について分けて算出される。従
って、第１の輝線位置検出手段１９で得られるデジタル
量は、リップを外側の斜め上方から見たときの内外両側
のエッジの多数の点の位置を表し、また第２の輝線位置
検出手段２０で得られるデジタル量は、リップを内側の
斜め上方から見たときの内外両側のエッジの多数の点の
位置を表すことになる。
それぞれ輝線を構成するとされた画素の位置は、イメー
ジセンサ１，２の素子配列の例えば上端又は下端を基点
とした場合、この基点との間に含まれる素子数、つまり
画素数によって決めることができる。そこで、第１の輝
線位置検出手段１９は、第１の輝線検出手段１７で検出
された２本の輝線の位置を、上側の基点から下へ向かっ
て数えた画素数から算出し、また第２の輝線位置検出手
段２０は、第２の輝線検出手段１８で検出された２本の
輝線の位置を、第１の場合とは逆に、下側の基点から上
に向かって数えた画素数から算出する。この場合、各輝
線の位置はその多数の点について分けて算出される。従
って、第１の輝線位置検出手段１９で得られるデジタル
量は、リップを外側の斜め上方から見たときの内外両側
のエッジの多数の点の位置を表し、また第２の輝線位置
検出手段２０で得られるデジタル量は、リップを内側の
斜め上方から見たときの内外両側のエッジの多数の点の
位置を表すことになる。
【００１５】加算手段２２は、第１の輝線位置検出手段
１９で得られたデジタル量と第２の輝線位置検出手段２
０で得られたデジタル量とを加算し、また減算手段２３
は、第１の輝線位置検出手段１９で得られたデジタル量
と第２の輝線位置検出手段２０で得られたデジタル量と
を減算する。加算手段２２による加算結果は、図１及び
上記の説明から明らかなようにエッジの水平方向の位置
を表し、減算手段２３による減算結果は垂直方向の位置
を表す。
１９で得られたデジタル量と第２の輝線位置検出手段２
０で得られたデジタル量とを加算し、また減算手段２３
は、第１の輝線位置検出手段１９で得られたデジタル量
と第２の輝線位置検出手段２０で得られたデジタル量と
を減算する。加算手段２２による加算結果は、図１及び
上記の説明から明らかなようにエッジの水平方向の位置
を表し、減算手段２３による減算結果は垂直方向の位置
を表す。
【００１６】平均値算出手段２４は、減算手段２３で得
られる減算結果、つまり多数の点の垂直方向の位置デー
タについて、ガラスコップ３の回転角度にして１８０度
離れた２点の位置データの平均値を算出する。この平均
値算出も輝線の多数の点について行われる。リップの高
さに変化があると輝線の位置も変化する。この輝線の位
置の変化（高さの変化）の周期がコップの回転周期と等
しく規則的であるなら、１８０度離れた２点の位置デー
タの平均値は、その位置変化量が互いに相殺し合い、リ
ップの高さの変化がない場合と同様に一定となる。も
し、位置変化が不規則であったり変化の周期がコップの
回転周期と異なる場合には、２点についての位置変化量
が互いに相殺しないことなるから、平均値は一定でなく
なる。更に、平均値算出手段２４は１８０度離れた２つ
のデータの差も算出する。
られる減算結果、つまり多数の点の垂直方向の位置デー
タについて、ガラスコップ３の回転角度にして１８０度
離れた２点の位置データの平均値を算出する。この平均
値算出も輝線の多数の点について行われる。リップの高
さに変化があると輝線の位置も変化する。この輝線の位
置の変化（高さの変化）の周期がコップの回転周期と等
しく規則的であるなら、１８０度離れた２点の位置デー
タの平均値は、その位置変化量が互いに相殺し合い、リ
ップの高さの変化がない場合と同様に一定となる。も
し、位置変化が不規則であったり変化の周期がコップの
回転周期と異なる場合には、２点についての位置変化量
が互いに相殺しないことなるから、平均値は一定でなく
なる。更に、平均値算出手段２４は１８０度離れた２つ
のデータの差も算出する。
【００１７】欠陥判定手段２５は、加算手段２２で得ら
れた加算結果、減算手段２３で得られた減算結果及び平
均値算出手段２４で得られた平均値の大小から欠陥の有
無や種類や大きさ等を判定する。例えば、減算結果の大
小を判定することにより、リップの上面が内側又は外側
へ傾斜した欠陥である天傾斜の有無とその大小を検査で
きる。また、減算結果の平均値の大小を判定することに
より、リップの上面が波状の凹凸をなす欠陥である天波
の有無とその大きさを検査できる。更に、加算結果の場
合も、減算結果の場合と同様に、その大小を判定するこ
とにより、リップの偏心の有無及び大小を検査できる
し、加算結果の平均値の大小を判定することにより、楕
円形に変形した欠陥である口楕円や不規則に変形した欠
陥である口変形の有無及びその大きさを検査できる。ま
た、加算結果と減算結果の両方の大小を判定することに
より、テイアドロップの有無とその大小を検査できる。
その他、口切り不良や口欠けなどの輝線が欠落する欠陥
については、輝線の欠落の有無とその大きさ又は長さを
判定することにより検査できる。更に、口落粉や口焼き
不良などの欠陥についても、加算結果と減算結果の両方
の大小を判定することにより検査できる。欠陥判定手段
２５は、欠陥有りと判定したとき、ガラスコップ３を搬
送ラインから排除するための排除信号を出力する。
れた加算結果、減算手段２３で得られた減算結果及び平
均値算出手段２４で得られた平均値の大小から欠陥の有
無や種類や大きさ等を判定する。例えば、減算結果の大
小を判定することにより、リップの上面が内側又は外側
へ傾斜した欠陥である天傾斜の有無とその大小を検査で
きる。また、減算結果の平均値の大小を判定することに
より、リップの上面が波状の凹凸をなす欠陥である天波
の有無とその大きさを検査できる。更に、加算結果の場
合も、減算結果の場合と同様に、その大小を判定するこ
とにより、リップの偏心の有無及び大小を検査できる
し、加算結果の平均値の大小を判定することにより、楕
円形に変形した欠陥である口楕円や不規則に変形した欠
陥である口変形の有無及びその大きさを検査できる。ま
た、加算結果と減算結果の両方の大小を判定することに
より、テイアドロップの有無とその大小を検査できる。
その他、口切り不良や口欠けなどの輝線が欠落する欠陥
については、輝線の欠落の有無とその大きさ又は長さを
判定することにより検査できる。更に、口落粉や口焼き
不良などの欠陥についても、加算結果と減算結果の両方
の大小を判定することにより検査できる。欠陥判定手段
２５は、欠陥有りと判定したとき、ガラスコップ３を搬
送ラインから排除するための排除信号を出力する。
【００１８】上記の実施例では２台のＣＣＤカメラ６，
７のそれぞれに対して光源５を別々に用意したが、図８
に示すように１つの光源５をＣＣＤカメラ６，７の中間
に設置し、リップの真上から光を投射するようにしても
良い。図９にこの場合の光の反射経路を示す。また、一
次元のイメージセンサを使用したが、二次元のイメージ
センサ（エリアセンサ）を使用しても良く、さらに３個
以上のイメージセンサを使用して検査することも可能で
ある。また、検査対象物体を例えば直線移動させて検査
することもできる。
７のそれぞれに対して光源５を別々に用意したが、図８
に示すように１つの光源５をＣＣＤカメラ６，７の中間
に設置し、リップの真上から光を投射するようにしても
良い。図９にこの場合の光の反射経路を示す。また、一
次元のイメージセンサを使用したが、二次元のイメージ
センサ（エリアセンサ）を使用しても良く、さらに３個
以上のイメージセンサを使用して検査することも可能で
ある。また、検査対象物体を例えば直線移動させて検査
することもできる。
【００１９】
【発明の効果】本発明によれば、水平方向の変形による
欠陥は勿論のこと、垂直方向の変形による欠陥について
も精度良く検査できる。
欠陥は勿論のこと、垂直方向の変形による欠陥について
も精度良く検査できる。
【００２０】請求項３によれば物体端部の偏心量を検出
できる。
できる。
【図１】 本発明による方法の概念説明図である。
【図２】 本発明の方法の一例の概要図である。
【図３】 図２の場合の光の反射経路を示す図である。
【図４】 本発明による欠陥検査装置の一例のブロック
図である。
図である。
【図５】 ガラスコップのリップが正常の場合にＣＣＤ
カメラにより撮影される輝線の線形図である。
カメラにより撮影される輝線の線形図である。
【図６】 リップに段部がある場合の輝線の線形図であ
る。
る。
【図７】 リップの上面が波状になっている場合の輝線
の線形図である。
の線形図である。
【図８】 本発明の方法の他の例の概要図である。
【図９】 図８の場合の光の反射経路を示す図である。
１ イメージセンサ ２ イメージセンサ ３ ガラスコップ（検査対象物体） ４ ターンテーブル １３ Ａ／Ｄコンバータ １４ Ａ／Ｄコンバータ １５ メモリ １６ メモリ １７ 輝線検出手段 １８ 輝線検出手段 １９ 輝線位置検出手段 ２０ 輝線位置検出手段 ２２ 加算手段 ２３ 減算手段 ２４ 平均値算出手段 ２５ 欠陥判定手段
Claims (4)
- 【請求項１】物体端部からの光を、相互に所定の角度を
もたせて配置した一次元又は二次元の複数のイメージセ
ンサで受光し、これらイメージセンサの各画素の輝度出
力をメモリに記憶し、物体端部のエッジからの光による
輝線を各イメージセンサごとに検出するとともに、その
輝線の位置を各イメージセンサごとにその素子配列に沿
った画素数からデジタル量として算出し、そのデジタル
量をイメージセンサ間において加算及び減算し、その加
算結果及び減算結果から欠陥を判定することを特徴とす
る物体端部の欠陥検査方法。 - 【請求項２】輝度が所定閾値以上の画素を各イメージセ
ンサごとに検出することにより、物体端部のエッジから
の光による輝線を各イメージセンサごとに検出すること
を特徴とする請求項１記載の物体端部の欠陥検査方法。 - 【請求項３】検査対象の物体を回転又は移動させる手段
と、その物体の端部に光を斜めに投射する光源と、物体
端部からの反射光を別角度から受光するため、相互に所
定の角度をもたせて配置される複数の一次元又は二次元
の複数のイメージセンサと、各イメージセンサのアナロ
グ出力をデジタル変換するＡ／Ｄコンバータと、その変
換されたデジタルデータを各画素ごとに分けて記憶する
メモリと、その記憶されたデータから、輝度が所定閾値
以上の画素を各イメージセンサごとに検出することによ
り物体端部のエッジからの光による輝線を各イメージセ
ンサごとに検出する輝線検出手段と、その輝線の位置を
各イメージセンサごとにその素子配列に沿った画素数か
らデジタル量として算出する輝線位置検出手段と、その
デジタル量をイメージセンサ間において加算する加算手
段及び減算する減算手段と、その加算結果及び減算結果
から欠陥を判定する欠陥判定手段とを備えてなることを
特徴とする物体端部の欠陥検査装置。 - 【請求項４】前記減算手段で得られた減算結果につい
て、輝線の長さ方向に離れた２点の平均値を算出する平
均値算出手段を備えたことを特徴とする請求項３記載の
物体端部の欠陥検査装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3026729A JPH0743326B2 (ja) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | 物体端部の欠陥検査方法及びその装置 |
| CA002059220A CA2059220C (en) | 1991-01-29 | 1992-01-13 | Method of and apparatus for inspecting end of object for defect |
| US07/820,975 US5249034A (en) | 1991-01-29 | 1992-01-15 | Method of and apparatus for inspecting end of object for defect |
| AU10297/92A AU649301B2 (en) | 1991-01-29 | 1992-01-16 | Method of and apparatus for inspecting end of object for defect |
| EP92300419A EP0497477B1 (en) | 1991-01-29 | 1992-01-17 | Method of and apparatus for inspecting end of object for defect |
| DE69218812T DE69218812T2 (de) | 1991-01-29 | 1992-01-17 | Verfahren und Vorrichtung zur Inspektion des Endes eines Objektes auf Defekte |
| KR1019920001301A KR0166595B1 (ko) | 1991-01-29 | 1992-01-29 | 물체단부의 결함검사방법 및 그 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3026729A JPH0743326B2 (ja) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | 物体端部の欠陥検査方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04252940A JPH04252940A (ja) | 1992-09-08 |
| JPH0743326B2 true JPH0743326B2 (ja) | 1995-05-15 |
Family
ID=12201407
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3026729A Expired - Fee Related JPH0743326B2 (ja) | 1991-01-29 | 1991-01-29 | 物体端部の欠陥検査方法及びその装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5249034A (ja) |
| EP (1) | EP0497477B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0743326B2 (ja) |
| KR (1) | KR0166595B1 (ja) |
| AU (1) | AU649301B2 (ja) |
| CA (1) | CA2059220C (ja) |
| DE (1) | DE69218812T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013040915A (ja) * | 2011-08-18 | 2013-02-28 | Samsung Corning Precision Materials Co Ltd | ガラス基板の表面不良検査装置および検査方法 |
Families Citing this family (30)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL9201065A (nl) * | 1992-06-16 | 1994-01-17 | Od & Me Bv | Inrichting voor het bewerken van schijfvormige registratiedragers. |
| US5357335A (en) * | 1993-03-31 | 1994-10-18 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Optical detection device for screening magnetic tape |
| EP1383084A3 (en) * | 1993-10-27 | 2004-07-14 | Toshiba Engineering Corporation | Method and apparatus of inspecting surface irregularity of an object article |
| US5489987A (en) * | 1994-04-07 | 1996-02-06 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface inspection |
| US6122048A (en) * | 1994-08-26 | 2000-09-19 | Pressco Technology Inc. | Integral field lens illumination for video inspection |
| US5515159A (en) * | 1995-02-10 | 1996-05-07 | Westinghouse Electric Corporation | Package seal inspection system |
| US5592286A (en) * | 1995-03-08 | 1997-01-07 | Alltrista Corporation | Container flange inspection system using an annular lens |
| US5805279A (en) * | 1996-01-11 | 1998-09-08 | Alltrista Corporation | Method and apparatus for illuminating and imaging a can end coated with sealing material |
| US5896195A (en) * | 1997-05-15 | 1999-04-20 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface area inspection |
| JP3588228B2 (ja) * | 1997-05-28 | 2004-11-10 | アルプス電気株式会社 | 光学式検出装置及びそれを使用した座標入力装置 |
| WO2000043757A1 (fr) * | 1999-01-19 | 2000-07-27 | Visiglas Societe Anonyme | Procede et dispositif pour detecter des glacures dans des pieces en matiere translucide ou transparente |
| DE19930536C2 (de) * | 1999-06-28 | 2001-07-05 | Manfred Kuhnke | Vorrichtung zur Messung eines Dosenfalzquerschnittes |
| US6256095B1 (en) | 2000-01-21 | 2001-07-03 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface area inspection |
| EP1436646A4 (en) * | 2001-09-13 | 2006-09-13 | Anzpac Systems Ltd | METHOD AND DEVICE FOR ARTICLE TESTING |
| KR20030046616A (ko) * | 2001-12-06 | 2003-06-18 | 삼성전자주식회사 | 레이져 광 산란을 이용한 고순도 글래스 튜브의 미세 기포분석 장치 |
| US8483960B2 (en) | 2002-09-20 | 2013-07-09 | Visual Intelligence, LP | Self-calibrated, remote imaging and data processing system |
| US7725258B2 (en) * | 2002-09-20 | 2010-05-25 | M7 Visual Intelligence, L.P. | Vehicle based data collection and processing system and imaging sensor system and methods thereof |
| US7893957B2 (en) * | 2002-08-28 | 2011-02-22 | Visual Intelligence, LP | Retinal array compound camera system |
| US8994822B2 (en) | 2002-08-28 | 2015-03-31 | Visual Intelligence Lp | Infrastructure mapping system and method |
| USRE49105E1 (en) | 2002-09-20 | 2022-06-14 | Vi Technologies, Llc | Self-calibrated, remote imaging and data processing system |
| FR2846423B1 (fr) * | 2002-10-25 | 2005-12-23 | Bsn Glasspack | Procede et dispositif pour detecter des defauts de surface presentes par unr bague d'un recipient de revolution transparent ou translucide |
| JP5159237B2 (ja) * | 2006-10-23 | 2013-03-06 | エムハート・グラス・ソシエテ・アノニム | ガラス容器を検査する装置 |
| US7626158B2 (en) | 2006-10-23 | 2009-12-01 | Emhart Glass S.A. | Machine for inspecting glass containers |
| JP5240980B2 (ja) * | 2007-06-13 | 2013-07-17 | レーザーテック株式会社 | ３次元測定装置及び検査装置 |
| US9157182B2 (en) * | 2010-05-14 | 2015-10-13 | Automated Vision, Llc | Systems, methods and computer program products for processing of coverings such as leather hides and fabrics for furniture and other products |
| US9421692B2 (en) | 2010-05-14 | 2016-08-23 | Automated Vision, Llc | Methods and computer program products for processing of coverings such as leather hides and fabrics for furniture and other products |
| DE102011083377A1 (de) * | 2011-09-26 | 2013-03-28 | Krones Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zum Ausrichten von Behältern |
| JP6184271B2 (ja) * | 2013-09-19 | 2017-08-23 | キヤノン株式会社 | 撮像管理装置、撮像管理システムの制御方法およびプログラム |
| US10012598B2 (en) | 2015-07-17 | 2018-07-03 | Emhart S.A. | Multi-wavelength laser check detection tool |
| GB2618524A (en) * | 2022-05-02 | 2023-11-15 | Imetrum Ltd | Non-contact deformation monitoring system |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4300689A (en) * | 1978-01-16 | 1981-11-17 | Hoffmann-La Roche Inc. | Dual wavelength spectrophotometer for ampoule leak detection and content inspection |
| JPS5546172A (en) * | 1978-09-29 | 1980-03-31 | Kirin Brewery Co Ltd | Detector for foreign material |
| US4343553A (en) * | 1979-09-03 | 1982-08-10 | Hitachi, Ltd. | Shape testing apparatus |
| US4492476A (en) * | 1981-02-20 | 1985-01-08 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Defect detecting method and apparatus |
| US4488648A (en) * | 1982-05-06 | 1984-12-18 | Powers Manufacturing, Inc. | Flaw detector |
| DE3278861D1 (en) * | 1982-05-27 | 1988-09-08 | I2S | Automatic container testing process and device comparing transparency |
| JPS603542A (ja) * | 1983-06-21 | 1985-01-09 | Mitsubishi Electric Corp | ビン検査装置 |
| JPS60159637A (ja) * | 1984-01-31 | 1985-08-21 | Kirin Brewery Co Ltd | 欠陥検出方法および装置 |
| JPS60190841A (ja) * | 1984-03-12 | 1985-09-28 | Inatetsuku:Kk | 鋳造品の表面の巣を検出する装置 |
| JPS61193009A (ja) * | 1985-02-22 | 1986-08-27 | Toyo Glass Kk | 容器の開口天面欠陥検査方法 |
| JPH0711415B2 (ja) * | 1987-11-16 | 1995-02-08 | 東洋製罐株式会社 | 鏡面的光沢のある凸曲面を有する容器口部の形状検査方法と装置 |
| US4945228A (en) * | 1989-03-23 | 1990-07-31 | Owens-Illinois Glass Container Inc. | Inspection of container finish |
-
1991
- 1991-01-29 JP JP3026729A patent/JPH0743326B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-01-13 CA CA002059220A patent/CA2059220C/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-01-15 US US07/820,975 patent/US5249034A/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-01-16 AU AU10297/92A patent/AU649301B2/en not_active Ceased
- 1992-01-17 DE DE69218812T patent/DE69218812T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-01-17 EP EP92300419A patent/EP0497477B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-01-29 KR KR1019920001301A patent/KR0166595B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013040915A (ja) * | 2011-08-18 | 2013-02-28 | Samsung Corning Precision Materials Co Ltd | ガラス基板の表面不良検査装置および検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0497477A2 (en) | 1992-08-05 |
| DE69218812D1 (de) | 1997-05-15 |
| AU649301B2 (en) | 1994-05-19 |
| DE69218812T2 (de) | 1997-07-24 |
| CA2059220C (en) | 2001-07-31 |
| KR920015131A (ko) | 1992-08-26 |
| US5249034A (en) | 1993-09-28 |
| EP0497477B1 (en) | 1997-04-09 |
| CA2059220A1 (en) | 1992-07-30 |
| JPH04252940A (ja) | 1992-09-08 |
| KR0166595B1 (ko) | 1999-05-01 |
| AU1029792A (en) | 1992-08-06 |
| EP0497477A3 (en) | 1993-05-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0743326B2 (ja) | 物体端部の欠陥検査方法及びその装置 | |
| US6369401B1 (en) | Three-dimensional optical volume measurement for objects to be categorized | |
| US5216481A (en) | Method of and apparatus for inspecting transparent object for defect | |
| EP0483966B1 (en) | Method of and apparatus for inspecting a transparent or translucent article such as a bottle | |
| US4803371A (en) | Optical scanning method and apparatus useful for determining the configuration of an object | |
| US7317524B2 (en) | Method and device for detecting surface defects on the neck ring of a transparent or translucent container of revolution | |
| JPH11311510A (ja) | 微小凹凸の検査方法および検査装置 | |
| JPH03140847A (ja) | 傷部形状検出方法 | |
| JP4680640B2 (ja) | 画像入力装置および画像入力方法 | |
| EP0974832B1 (en) | Apparatus and method for detecting light or dark blemishes | |
| KR20240067222A (ko) | 시트 형상물의 요철 측정 장치, 시트 형상물의 요철 측정 방법 | |
| JPH10185830A (ja) | 透明シート検査装置 | |
| JPH0711414B2 (ja) | ガラスびんの偏肉検査方法 | |
| JPH0629705B2 (ja) | 板状体の歪検査方法 | |
| JP3340879B2 (ja) | 表面欠陥検出方法および装置 | |
| JP2001033397A (ja) | 物体表面の欠陥検出方法及び欠陥検出装置 | |
| JP3609136B2 (ja) | 半導体装置の検査方法及び装置 | |
| JP2507093B2 (ja) | 欠陥検出方法 | |
| JP3126282B2 (ja) | 物品有無検出装置 | |
| JPH07234116A (ja) | 板材の反り量測定方法 | |
| JPH07229842A (ja) | Ｉｃの異物検査装置及び方法 | |
| JPH03148051A (ja) | 実装基板検査装置 | |
| JPH09159423A (ja) | 傾斜角判定方法及び装置 | |
| JPH05249046A (ja) | 建材の検査方法 | |
| JP2000348391A (ja) | 光ディスク変形検査装置及び光ディスク変形検査システム |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |