JPH06324787A - タッチパネルの座標検出装置 - Google Patents
タッチパネルの座標検出装置Info
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- JPH06324787A JPH06324787A JP10938993A JP10938993A JPH06324787A JP H06324787 A JPH06324787 A JP H06324787A JP 10938993 A JP10938993 A JP 10938993A JP 10938993 A JP10938993 A JP 10938993A JP H06324787 A JPH06324787 A JP H06324787A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 押圧時に安定接触の場合のみ座標値を入力
し、かつ入力待ちの状態で消費電力が大きくなることの
ないタッチパネルの座標検出装置を提供する。 【構成】 対向配置された一対の抵抗膜１、２と、それ
らの接触点を座標値として検出する手段とを備えたタッ
チパネルの座標検出装置において、入力待機時に、一方
の抵抗膜１の両側の電極３ａ、３ｂをハイレベルに設定
する手段と、他方の抵抗膜２における一側の電極４ｂを
抵抗Ｒを介して接地し、他側の電極４ａの電圧変化を検
出する手段を備え、電圧変化を検出する手段による検出
電圧に適当なしきい値を設定し、そのしきい値より入力
電圧が高くなった時に座標データを測定することによ
り、接触抵抗が大きく不安定な押圧時には測定せず、正
確なデータのみを取り入れる。
し、かつ入力待ちの状態で消費電力が大きくなることの
ないタッチパネルの座標検出装置を提供する。 【構成】 対向配置された一対の抵抗膜１、２と、それ
らの接触点を座標値として検出する手段とを備えたタッ
チパネルの座標検出装置において、入力待機時に、一方
の抵抗膜１の両側の電極３ａ、３ｂをハイレベルに設定
する手段と、他方の抵抗膜２における一側の電極４ｂを
抵抗Ｒを介して接地し、他側の電極４ａの電圧変化を検
出する手段を備え、電圧変化を検出する手段による検出
電圧に適当なしきい値を設定し、そのしきい値より入力
電圧が高くなった時に座標データを測定することによ
り、接触抵抗が大きく不安定な押圧時には測定せず、正
確なデータのみを取り入れる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は抵抗膜方式のタッチパネ
ルの座標検出装置に関し、特に安定した押圧による正確
な座標データのみ検出できるようにしたタッチパネルの
座標検出装置に関する。
ルの座標検出装置に関し、特に安定した押圧による正確
な座標データのみ検出できるようにしたタッチパネルの
座標検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、抵抗膜方式のタッチパネルの座
標検出装置においては、接触位置の検出に際して押圧に
よる抵抗膜間の機械的な接触を利用しているため、チャ
タリングが発生したり、接触が不安定であった場合に誤
入力しないようにし、かつ入力待機時の消費電力が大き
くならないようにすることが重要である。
標検出装置においては、接触位置の検出に際して押圧に
よる抵抗膜間の機械的な接触を利用しているため、チャ
タリングが発生したり、接触が不安定であった場合に誤
入力しないようにし、かつ入力待機時の消費電力が大き
くならないようにすることが重要である。
【０００３】従来の抵抗膜方式のタッチパネルの座標検
出装置は、例えば特開平４−３５２２１９号公報に開示
されているような構成が一般的である。即ち、図７
（ａ）に示すように、一対の矩形状の抵抗膜２１、２２
を対向配置し、一方の抵抗膜２１にはＸ方向の両端に電
極ａ２、ａ３を形成し、他方の抵抗膜２２にはＹ方向の
両端に電極ａ１、ａ４を形成し、電極ａ１、ａ３にはそ
れぞれトランジスタＴr1、Ｔr3を介して一定電圧電源Ｖ
ccを接続し、電極ａ２、ａ４はそれぞれトランジスタＴ
r2、Ｔr4を介して接地するとともにこれらの電極ａ４、
ａ２の電圧変化をそれぞれＸ方向とＹ方向の位置検出信
号ＶX 、ＶY として取り出すように構成されている。更
にこの公報では入力待機時にトランジスタＴr1〜Ｔr4を
すべてオフ状態にして消費電力を少なくするために、電
極ａ１にトランジスタＴr1と並列にダイオードＤを接続
するとともに電極ａ２を抵抗Ｒを介して接地している。
出装置は、例えば特開平４−３５２２１９号公報に開示
されているような構成が一般的である。即ち、図７
（ａ）に示すように、一対の矩形状の抵抗膜２１、２２
を対向配置し、一方の抵抗膜２１にはＸ方向の両端に電
極ａ２、ａ３を形成し、他方の抵抗膜２２にはＹ方向の
両端に電極ａ１、ａ４を形成し、電極ａ１、ａ３にはそ
れぞれトランジスタＴr1、Ｔr3を介して一定電圧電源Ｖ
ccを接続し、電極ａ２、ａ４はそれぞれトランジスタＴ
r2、Ｔr4を介して接地するとともにこれらの電極ａ４、
ａ２の電圧変化をそれぞれＸ方向とＹ方向の位置検出信
号ＶX 、ＶY として取り出すように構成されている。更
にこの公報では入力待機時にトランジスタＴr1〜Ｔr4を
すべてオフ状態にして消費電力を少なくするために、電
極ａ１にトランジスタＴr1と並列にダイオードＤを接続
するとともに電極ａ２を抵抗Ｒを介して接地している。
【０００４】入力待機時には、各トランジスタＴr1〜Ｔ
r4をすべてオフ状態にするとともにダイオードＤのアノ
ード側をハイレベルに設定して、図７（ｂ）に示すよう
な状態にしておき、任意の位置が押圧されて抵抗膜２
１、２２が接触すると抵抗膜２１、２２及び抵抗Ｒを通
ってＧＮＤに微小電流が流れて電極２ａの電圧レベルが
変化することを利用して押圧されたことを検出し、位置
検出動作を開始するようにしている。
r4をすべてオフ状態にするとともにダイオードＤのアノ
ード側をハイレベルに設定して、図７（ｂ）に示すよう
な状態にしておき、任意の位置が押圧されて抵抗膜２
１、２２が接触すると抵抗膜２１、２２及び抵抗Ｒを通
ってＧＮＤに微小電流が流れて電極２ａの電圧レベルが
変化することを利用して押圧されたことを検出し、位置
検出動作を開始するようにしている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、接触位
置検出を行うのに機械的な接触を利用しているため、本
格的に押圧される直前や直後に例えば図８に示すように
リリース状態Ｎとタッチ状態Ｔが頻繁に繰り返されるチ
ャタリングが発生したり、あるいは接触抵抗が大きくて
適正に入力されない場合が発生する等、不安定な入力が
起こることが考えられる。そして、チャタリングが発生
した場合には非接触と判定すべきところを誤って入力検
出してしまうという問題があった。
置検出を行うのに機械的な接触を利用しているため、本
格的に押圧される直前や直後に例えば図８に示すように
リリース状態Ｎとタッチ状態Ｔが頻繁に繰り返されるチ
ャタリングが発生したり、あるいは接触抵抗が大きくて
適正に入力されない場合が発生する等、不安定な入力が
起こることが考えられる。そして、チャタリングが発生
した場合には非接触と判定すべきところを誤って入力検
出してしまうという問題があった。
【０００６】なお、上記公報では図７（ｂ）の状態にお
ける電極２ａの電圧レベル変化によってタッチ検出を行
うようにしているだけであるが、その検出電圧を測定し
て適当に設定されたしきい値より低い場合に適正な入力
と見なさず、座標検出動作に移行しないようにすること
も考えられる。しかし、その場合タッチする位置によっ
て抵抗膜２１、２２による電圧降下が大きく変化するた
め、しきい値を高く設定すると適正なタッチてあっても
不適正なタッチとしてデータ入力ができない場合が生じ
る恐れがあり、逆にしきい値を低く設定すると誤入力を
防止できない恐れがあり、検出精度が低いという問題が
ある。
ける電極２ａの電圧レベル変化によってタッチ検出を行
うようにしているだけであるが、その検出電圧を測定し
て適当に設定されたしきい値より低い場合に適正な入力
と見なさず、座標検出動作に移行しないようにすること
も考えられる。しかし、その場合タッチする位置によっ
て抵抗膜２１、２２による電圧降下が大きく変化するた
め、しきい値を高く設定すると適正なタッチてあっても
不適正なタッチとしてデータ入力ができない場合が生じ
る恐れがあり、逆にしきい値を低く設定すると誤入力を
防止できない恐れがあり、検出精度が低いという問題が
ある。
【０００７】本発明は上記従来の問題点に鑑み、押圧時
に安定接触の場合のみ座標値を入力し、かつ入力待ちの
状態で消費電力が大きくなることのないタッチパネルの
座標検出装置を提供することを目的とする。
に安定接触の場合のみ座標値を入力し、かつ入力待ちの
状態で消費電力が大きくなることのないタッチパネルの
座標検出装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に記載の発明は、対向配置された一対の抵
抗膜と、それらの接触点を座標値として検出する手段と
を備えたタッチパネルの座標検出装置において、入力待
機時に、一方の抵抗膜の両側の電極をハイレベルに設定
する手段と、他方の抵抗膜における一側の電極を抵抗を
介して接地し、他側の電極の電圧変化を検出する手段を
備えたことを特徴とする。
め、請求項１に記載の発明は、対向配置された一対の抵
抗膜と、それらの接触点を座標値として検出する手段と
を備えたタッチパネルの座標検出装置において、入力待
機時に、一方の抵抗膜の両側の電極をハイレベルに設定
する手段と、他方の抵抗膜における一側の電極を抵抗を
介して接地し、他側の電極の電圧変化を検出する手段を
備えたことを特徴とする。
【０００９】
【作用】請求項１に記載の発明によると、電圧変化を検
出する手段による検出電圧に適当なしきい値を設定し、
そのしきい値より入力電圧が高くなった時に座標データ
を測定することにより、接触抵抗が大きく不安定な押圧
時には測定せず、正確なデータのみを取り入れることが
でき、かつ一方の抵抗膜の両側の電極をハイレベルに設
定しているので、一側の電極だけをハイレベルに設定し
た場合にはその電極から押圧位置までの電圧降下の影響
を直接受けるのに対して、押圧位置に大きく影響を受け
ないため、しきい値を高く設定することができ、検出精
度を高くすることができる。しかも入力待ち状態では殆
ど電流が流れないので、消費電力が大きくなることもな
い。
出する手段による検出電圧に適当なしきい値を設定し、
そのしきい値より入力電圧が高くなった時に座標データ
を測定することにより、接触抵抗が大きく不安定な押圧
時には測定せず、正確なデータのみを取り入れることが
でき、かつ一方の抵抗膜の両側の電極をハイレベルに設
定しているので、一側の電極だけをハイレベルに設定し
た場合にはその電極から押圧位置までの電圧降下の影響
を直接受けるのに対して、押圧位置に大きく影響を受け
ないため、しきい値を高く設定することができ、検出精
度を高くすることができる。しかも入力待ち状態では殆
ど電流が流れないので、消費電力が大きくなることもな
い。
【００１０】
【実施例】以下、本発明のタッチパネルの座標検出装置
の一実施例を図１〜図６を参照して説明する。図１にパ
ネル部１０とドライバ部１１の概略構成を示す。パネル
部１０において、１、２はスペーサを介して対向配置さ
れた抵抗膜である。一方の抵抗膜１のＸ軸方向の両端に
電極３ａ、３ｂが形成され、他方の抵抗膜２のＹ軸方向
の両端に電極４ａ、４ｂが形成されている。ドライバ部
１１において、電極３ａ、４ａに対してそれぞれトラン
ジスタ５、６を介して一定電圧源Ｖccが接続されるとと
もに、座標検出時に各抵抗膜１、２の一端の電極３ａ、
４ａからＹ方向検出電圧ＶY とＸ方向検出電圧ＶX をそ
れぞれ出力するように構成されている。各抵抗膜１、２
の他端の電極３ｂ、４ｂはそれぞれスイッチング素子
７、８に接続されている。さらに電極４ｂは抵抗Ｒ及び
トランジスタ９を介して接地されている。
の一実施例を図１〜図６を参照して説明する。図１にパ
ネル部１０とドライバ部１１の概略構成を示す。パネル
部１０において、１、２はスペーサを介して対向配置さ
れた抵抗膜である。一方の抵抗膜１のＸ軸方向の両端に
電極３ａ、３ｂが形成され、他方の抵抗膜２のＹ軸方向
の両端に電極４ａ、４ｂが形成されている。ドライバ部
１１において、電極３ａ、４ａに対してそれぞれトラン
ジスタ５、６を介して一定電圧源Ｖccが接続されるとと
もに、座標検出時に各抵抗膜１、２の一端の電極３ａ、
４ａからＹ方向検出電圧ＶY とＸ方向検出電圧ＶX をそ
れぞれ出力するように構成されている。各抵抗膜１、２
の他端の電極３ｂ、４ｂはそれぞれスイッチング素子
７、８に接続されている。さらに電極４ｂは抵抗Ｒ及び
トランジスタ９を介して接地されている。
【００１１】全体構成を示す図２において、パネル部１
０からの検出電圧ＶX 、ＶY は制御部１２に入力され、
Ａ／Ｄ変換部１３にてデジタル信号に変換されてＣＰＵ
１４に入力されている。又、ドライバ部１１はＣＰＵ１
４にてＩ／Ｏ部１５を介して制御されている。即ち、Ｃ
ＰＵ１４にてトランジスタ５、６、９のベース端子Ａ、
Ｃ、Ｅ、スイッチング素子７、８の入力端子Ｂ、Ｄ及び
切り換え端子ａ、ｂがそれぞれ各動作状態に応じてロー
レベル又はハイレベルに制御される。１６はＲＯＭやＲ
ＡＭにてＣＰＵ１４の制御プログラムやデータを記憶す
るメモリ、１７は外部装置とのデータの入出力を行うＩ
／Ｏ部である。
０からの検出電圧ＶX 、ＶY は制御部１２に入力され、
Ａ／Ｄ変換部１３にてデジタル信号に変換されてＣＰＵ
１４に入力されている。又、ドライバ部１１はＣＰＵ１
４にてＩ／Ｏ部１５を介して制御されている。即ち、Ｃ
ＰＵ１４にてトランジスタ５、６、９のベース端子Ａ、
Ｃ、Ｅ、スイッチング素子７、８の入力端子Ｂ、Ｄ及び
切り換え端子ａ、ｂがそれぞれ各動作状態に応じてロー
レベル又はハイレベルに制御される。１６はＲＯＭやＲ
ＡＭにてＣＰＵ１４の制御プログラムやデータを記憶す
るメモリ、１７は外部装置とのデータの入出力を行うＩ
／Ｏ部である。
【００１２】入力待機時には、端子Ｂ、Ｃ、Ｅ、ａをハ
イレベルに、Ａ、ｂをローレベルに設定することによっ
て図３（ａ）に示す状態となる。即ち、抵抗膜１の両端
の電極３ａ、３ｂがハイレベル（Ｖcc）となり、電極４
ａから検出電圧ＶX が出力し、電極４ｂは抵抗Ｒを介し
て接地された状態となる。この状態で、パネル部１の任
意の位置がタッチされて抵抗膜１、２が破線で示すよう
に接触すると、検出電圧ＶX が出力される。この検出電
圧ＶX は、しっかりした接触のときは後で詳細に説明す
るように、殆どハイレベルになる。この検出電圧ＶX を
メモリ１６に設定されたしきい値と比較することによ
り、ＣＰＵ１４にて適正な接触であるかどうかを判定す
ることができ、検出電圧ＶX がしきい値より高い場合適
正な接触と判定して次のデータ入力段階に進み、不適正
な場合はデータ入力に進まないようにすることによって
正確なデータのみを取り入れることができる。
イレベルに、Ａ、ｂをローレベルに設定することによっ
て図３（ａ）に示す状態となる。即ち、抵抗膜１の両端
の電極３ａ、３ｂがハイレベル（Ｖcc）となり、電極４
ａから検出電圧ＶX が出力し、電極４ｂは抵抗Ｒを介し
て接地された状態となる。この状態で、パネル部１の任
意の位置がタッチされて抵抗膜１、２が破線で示すよう
に接触すると、検出電圧ＶX が出力される。この検出電
圧ＶX は、しっかりした接触のときは後で詳細に説明す
るように、殆どハイレベルになる。この検出電圧ＶX を
メモリ１６に設定されたしきい値と比較することによ
り、ＣＰＵ１４にて適正な接触であるかどうかを判定す
ることができ、検出電圧ＶX がしきい値より高い場合適
正な接触と判定して次のデータ入力段階に進み、不適正
な場合はデータ入力に進まないようにすることによって
正確なデータのみを取り入れることができる。
【００１３】次の座標データの入力時には、まず端子
Ａ、Ｂ、Ｅ、ｂをローレベルに、Ｃ、ａをハイレベルに
設定することによって、図３（ｂ）に示すようにＸ方向
の座標値に対応する検出電圧ＶX を出力する状態とな
る。即ち、抵抗膜１の一端の電極３ａがハイレベル（Ｖ
cc）、他端の電極３ｂがローレベル（接地）となり、抵
抗膜１に電流が流れることによってそのＸ方向に電位勾
配が発生し、接触点のＸ方向位置に対応した電圧が抵抗
膜２とその電極４ａから取り出されて検出電圧ＶXとし
て出力される。
Ａ、Ｂ、Ｅ、ｂをローレベルに、Ｃ、ａをハイレベルに
設定することによって、図３（ｂ）に示すようにＸ方向
の座標値に対応する検出電圧ＶX を出力する状態とな
る。即ち、抵抗膜１の一端の電極３ａがハイレベル（Ｖ
cc）、他端の電極３ｂがローレベル（接地）となり、抵
抗膜１に電流が流れることによってそのＸ方向に電位勾
配が発生し、接触点のＸ方向位置に対応した電圧が抵抗
膜２とその電極４ａから取り出されて検出電圧ＶXとし
て出力される。
【００１４】次に、端子Ａ、ｂをハイレベルに、Ｃ、
Ｄ、ａをローレベルに設定することによって、図３
（ｃ）に示すようにＹ方向の座標値に対応する検出電圧
ＶY を出力する状態となる。即ち、抵抗膜２の一端一端
の電極４ａがハイレベル（Ｖcc）、他端の電極４ｂがロ
ーレベル（接地）となり、抵抗膜２に電流が流れること
によってそのＹ方向に電位勾配が発生し、接触点のＹ方
向位置に対応した電圧が抵抗膜１とその電極３ａから取
り出されて検出電圧ＶY として出力される。
Ｄ、ａをローレベルに設定することによって、図３
（ｃ）に示すようにＹ方向の座標値に対応する検出電圧
ＶY を出力する状態となる。即ち、抵抗膜２の一端一端
の電極４ａがハイレベル（Ｖcc）、他端の電極４ｂがロ
ーレベル（接地）となり、抵抗膜２に電流が流れること
によってそのＹ方向に電位勾配が発生し、接触点のＹ方
向位置に対応した電圧が抵抗膜１とその電極３ａから取
り出されて検出電圧ＶY として出力される。
【００１５】次に、入力待機状態でタッチ入力が行われ
た際の安定入力かどうかの判定について詳しく説明す
る。図３（ａ）に示すようにタッチ入力の有無を常時監
視している状態で、パネル部１がタッチされて抵抗膜
１、２が接触すると、各部分の抵抗を図４（ａ）に示す
ように定義すると、図４（ｂ）に示すような抵抗回路と
なる。Ｒa1とＲa2は抵抗膜１における電極３ａと３ｂか
ら接触点までのそれぞれの抵抗、ｒは抵抗膜１、２間の
接触抵抗、Ｒｂは抵抗膜２における接触点から電極４ｂ
までの抵抗、Ｒは電極４ｂと接地間に介装された抵抗で
ある。このときの接触抵抗ｒと検出電圧ＶX の関係は、
図５に示すような特性となる。この検出電圧値ＶX は、 ＶX ＝((Ｒ＋Ｒｂ）×Ｖcc）／ （Ｒ＋Ｒｂ＋ｒ＋（１／((１／Ｒa1）＋（１／Ｒa2)))) ＝((Ｒ＋Ｒｂ）×Ｖcc）／ （Ｒ＋Ｒｂ＋ｒ＋（Ｒa1×Ｒa2）／（Ｒa1＋Ｒa2)) ・・・ で与えられる。
た際の安定入力かどうかの判定について詳しく説明す
る。図３（ａ）に示すようにタッチ入力の有無を常時監
視している状態で、パネル部１がタッチされて抵抗膜
１、２が接触すると、各部分の抵抗を図４（ａ）に示す
ように定義すると、図４（ｂ）に示すような抵抗回路と
なる。Ｒa1とＲa2は抵抗膜１における電極３ａと３ｂか
ら接触点までのそれぞれの抵抗、ｒは抵抗膜１、２間の
接触抵抗、Ｒｂは抵抗膜２における接触点から電極４ｂ
までの抵抗、Ｒは電極４ｂと接地間に介装された抵抗で
ある。このときの接触抵抗ｒと検出電圧ＶX の関係は、
図５に示すような特性となる。この検出電圧値ＶX は、 ＶX ＝((Ｒ＋Ｒｂ）×Ｖcc）／ （Ｒ＋Ｒｂ＋ｒ＋（１／((１／Ｒa1）＋（１／Ｒa2)))) ＝((Ｒ＋Ｒｂ）×Ｖcc）／ （Ｒ＋Ｒｂ＋ｒ＋（Ｒa1×Ｒa2）／（Ｒa1＋Ｒa2)) ・・・ で与えられる。
【００１６】ここで、Ｒa1、Ｒa2、Ｒｂは、接触位置と
抵抗膜１、２の抵抗値により異なるが、その値は通常０
〜２００Ωほどであり、接触抵抗ｒは０〜１０ＫΩ程度
の値になり、抵抗Ｒを適当な値に設定することによっ
て、検出電圧ＶX に対するしきい値を適当に設定するこ
とにより安定入力かどうかを判定することができる。こ
の抵抗Ｒの抵抗値を適当に設定する方法を次に説明す
る。接触抵抗ｒが０〜１０ＫΩの範囲で変化した時、 係数Ｋ（＝ＶX ／Ｖcc）は、Ｒ’＝Ｒ＋Ｒｂ、Ａ＝Ｒa1
×Ｒa2／（Ｒa1＋Ｒa2）とおくと、 Ｋ＝Ｒ’／（ｒ＋Ｒ’＋Ａ） ・・・ で表される。かくして、 ｒ＝０のとき、 Ｋ＝Ｒ’／（Ｒ’＋Ａ） ・・・ ｒ＝１０Ｋのとき、 Ｋ＝Ｒ’／（Ｒ’＋Ａ＋１００００） ・・・ となり、この式と式の差が最も大きくなるようにＲ
を設定すると、接触抵抗ｒの変化を最も検出し易くな
る。そうすると、理論上は抵抗Ｒ＝０が最適値となる。
ただし、Ｒ＝０にすると、電源がＧＮＤにショートする
恐れがあり、また抵抗膜１、２の寿命の観点から、実際
には１ＫΩに設定している。
抵抗膜１、２の抵抗値により異なるが、その値は通常０
〜２００Ωほどであり、接触抵抗ｒは０〜１０ＫΩ程度
の値になり、抵抗Ｒを適当な値に設定することによっ
て、検出電圧ＶX に対するしきい値を適当に設定するこ
とにより安定入力かどうかを判定することができる。こ
の抵抗Ｒの抵抗値を適当に設定する方法を次に説明す
る。接触抵抗ｒが０〜１０ＫΩの範囲で変化した時、 係数Ｋ（＝ＶX ／Ｖcc）は、Ｒ’＝Ｒ＋Ｒｂ、Ａ＝Ｒa1
×Ｒa2／（Ｒa1＋Ｒa2）とおくと、 Ｋ＝Ｒ’／（ｒ＋Ｒ’＋Ａ） ・・・ で表される。かくして、 ｒ＝０のとき、 Ｋ＝Ｒ’／（Ｒ’＋Ａ） ・・・ ｒ＝１０Ｋのとき、 Ｋ＝Ｒ’／（Ｒ’＋Ａ＋１００００） ・・・ となり、この式と式の差が最も大きくなるようにＲ
を設定すると、接触抵抗ｒの変化を最も検出し易くな
る。そうすると、理論上は抵抗Ｒ＝０が最適値となる。
ただし、Ｒ＝０にすると、電源がＧＮＤにショートする
恐れがあり、また抵抗膜１、２の寿命の観点から、実際
には１ＫΩに設定している。
【００１７】Ｒa1＝１００Ω、Ｒa2＝１００Ω、Ｒｂ＝
１００Ωとし、抵抗Ｒを１０Ω、１０００Ω、２０００
Ω、１００００Ωとした場合の接触抵抗ｒと検出電圧Ｖ
X の関係を図６に示す。図６から明らかなように、抵抗
Ｒを１０００Ωとしてもしきい値電圧を適当な電圧に設
定しておけば不安定な入力を排除できることが分かる。
実際のしきい値として、４．５Ｖ近辺に設定すると、接
触抵抗ｒが数１００Ωになる程度まで押圧されない限り
データ入力されないため、不安定な入力な確実に排除す
ることができる。
１００Ωとし、抵抗Ｒを１０Ω、１０００Ω、２０００
Ω、１００００Ωとした場合の接触抵抗ｒと検出電圧Ｖ
X の関係を図６に示す。図６から明らかなように、抵抗
Ｒを１０００Ωとしてもしきい値電圧を適当な電圧に設
定しておけば不安定な入力を排除できることが分かる。
実際のしきい値として、４．５Ｖ近辺に設定すると、接
触抵抗ｒが数１００Ωになる程度まで押圧されない限り
データ入力されないため、不安定な入力な確実に排除す
ることができる。
【００１８】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば電圧変化
を検出する手段による検出電圧に適当なしきい値を設定
し、そのしきい値より入力電圧が高くなった時に座標デ
ータを測定することにより、接触抵抗が大きく不安定な
押圧時には測定せず、正確なデータのみを取り入れるこ
とができ、かつ一方の抵抗膜の両側の電極をハイレベル
に設定しているので、一側の電極だけをハイレベルに設
定した場合のように電極から押圧位置までの電圧降下の
影響を直接受けず、しきい値を高く設定して検出精度を
高くすることができる。しかも入力待ち状態では殆ど電
流が流れないので、消費電力が大きくなることもない。
を検出する手段による検出電圧に適当なしきい値を設定
し、そのしきい値より入力電圧が高くなった時に座標デ
ータを測定することにより、接触抵抗が大きく不安定な
押圧時には測定せず、正確なデータのみを取り入れるこ
とができ、かつ一方の抵抗膜の両側の電極をハイレベル
に設定しているので、一側の電極だけをハイレベルに設
定した場合のように電極から押圧位置までの電圧降下の
影響を直接受けず、しきい値を高く設定して検出精度を
高くすることができる。しかも入力待ち状態では殆ど電
流が流れないので、消費電力が大きくなることもない。
【図１】本発明のタッチパネルの座標検出装置における
一実施例のパネル部とドライバ部の概略構成図である。
一実施例のパネル部とドライバ部の概略構成図である。
【図２】同実施例の全体構成図である。
【図３】同実施例のタッチパネル部の各状態を示し、
（ａ）はその入力待機状態の説明図、（ｂ）はＸ方向の
入力状態の説明図、（ｃ）はＹ方向の入力状態の説明図
である。
（ａ）はその入力待機状態の説明図、（ｂ）はＸ方向の
入力状態の説明図、（ｃ）はＹ方向の入力状態の説明図
である。
【図４】同実施例の入力待機状態で押圧したときの各部
の抵抗値の説明図である。
の抵抗値の説明図である。
【図５】同実施例の入力待機状態で押圧したときの抵抗
膜間の接触抵抗と検出電圧の関係を示す特性図である。
膜間の接触抵抗と検出電圧の関係を示す特性図である。
【図６】入力待機状態で押圧したときの抵抗膜間の接触
抵抗値と検出電圧の関係を抵抗をパラメータとして示し
た特性図である。
抵抗値と検出電圧の関係を抵抗をパラメータとして示し
た特性図である。
【図７】従来例におけるタッチパネルの座標検出装置を
示し、（ａ）はタッチパネル部の概略構成図、（ｂ）は
その入力待機状態の説明図である。
示し、（ａ）はタッチパネル部の概略構成図、（ｂ）は
その入力待機状態の説明図である。
【図８】 チャタリング時における抵抗膜間の接触抵抗
値の変化を示すグラフである。
値の変化を示すグラフである。
１ 抵抗膜 ２ 抵抗膜 ３ａ 電極 ３ｂ 電極 ４ａ 電極 ４ｂ 電極 ５ トランジスタ ６ トランジスタ ７ スイッチング素子 ８ スイッチング素子 ９ トランジスタ Ｒ 抵抗
Claims (1)
- 【請求項１】 対向配置された一対の抵抗膜と、それら
の接触点を座標値として検出する手段とを備えたタッチ
パネルの座標検出装置において、入力待機時に、一方の
抵抗膜の両側の電極をハイレベルに設定する手段と、他
方の抵抗膜における一側の電極を抵抗を介して接地し、
他側の電極の電圧変化を検出する手段を備えたことを特
徴とするタッチパネルの座標検出装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10938993A JP2955149B2 (ja) | 1993-05-11 | 1993-05-11 | タッチパネルの座標検出装置 |
| TW083103849A TW233355B (en) | 1993-05-11 | 1994-04-28 | Coordinate detecting device |
| US08/238,844 US5496974A (en) | 1993-05-11 | 1994-05-06 | Apparatus for detecting the coordinate position of a contact point on touch panel |
| KR1019940010296A KR100217794B1 (ko) | 1993-05-11 | 1994-05-11 | 터치 패널의 좌표 검출장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10938993A JP2955149B2 (ja) | 1993-05-11 | 1993-05-11 | タッチパネルの座標検出装置 |
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|---|---|
| JPH06324787A true JPH06324787A (ja) | 1994-11-25 |
| JP2955149B2 JP2955149B2 (ja) | 1999-10-04 |
Family
ID=14509003
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10938993A Expired - Lifetime JP2955149B2 (ja) | 1993-05-11 | 1993-05-11 | タッチパネルの座標検出装置 |
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| KR (1) | KR100217794B1 (ja) |
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