JPH06243471A - Optical information recording and reproducing device - Google Patents
Optical information recording and reproducing deviceInfo
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- JPH06243471A JPH06243471A JP5053079A JP5307993A JPH06243471A JP H06243471 A JPH06243471 A JP H06243471A JP 5053079 A JP5053079 A JP 5053079A JP 5307993 A JP5307993 A JP 5307993A JP H06243471 A JPH06243471 A JP H06243471A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、光ディスクや光カー
ド等を用いる光学的情報記録再生装置で使用するのに好
適な半導体レーザ(レーザダイオード)等の光源の駆動
制御回路に係り、特に、記録条件のテスト時に、低出力
のライトパワーで記録したテストエリアにおいても、デ
ータのリードに必要な同期情報だけは、同期パターンが
完全に抽出できるような通常の発光パワーでライトする
ことによって、テストの信頼性を向上させた光情報記録
再生装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a drive control circuit for a light source such as a semiconductor laser (laser diode) suitable for use in an optical information recording / reproducing apparatus using an optical disk, an optical card, etc. Even in the test area recorded with a low output write power during the condition test, only the synchronization information necessary for reading the data is written with the normal emission power that allows the synchronization pattern to be extracted completely, The present invention relates to an optical information recording / reproducing device with improved reliability.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、半導体レーザ等の光源から出射さ
れる光を使用して、光学的に情報の記録/再生を行う光
ディスク装置が実用化され、大容量の情報記録装置とし
て広く利用されている。この光ディスク装置は、装置内
部に設けられた半導体レーザ等の光源からの出射光を光
ディスク上に集光し、集光点の光学的特性を変化させる
ことによって情報の記録を行い、また、その光学的特性
の変化状態を検出することによって、情報の再生を実現
している。2. Description of the Related Art In recent years, an optical disk device for optically recording / reproducing information using light emitted from a light source such as a semiconductor laser has been put into practical use and widely used as a large-capacity information recording device. There is. This optical disk device collects light emitted from a light source such as a semiconductor laser provided inside the device on an optical disk and records information by changing the optical characteristics of the light condensing point. Information is reproduced by detecting the change state of the dynamic characteristics.
【0003】ところで、この光ディスク装置において
は、ディスク毎に、あるいはディスクの記録位置によっ
て異なる記録感度のバラツキや、半導体レーザ等の光源
を構成する素子自体のビーム強度の変動、さらに、環境
温度による記録感度の変化などにより、記録条件が変動
する、という問題がある。そのため、記録ピットのピッ
ト長やC/N、あるいはジッタなどがバラつくので、再
生信号の信頼性を安定に確保できない、という不都合が
あった。By the way, in this optical disk device, the recording sensitivity varies depending on the disk or the recording position of the disk, the fluctuation of the beam intensity of the element itself constituting the light source such as a semiconductor laser, and the recording due to the ambient temperature. There is a problem that the recording conditions change due to changes in sensitivity. Therefore, the pit length of the recording pit, the C / N, the jitter, and the like vary, so that the reliability of the reproduced signal cannot be stably ensured.
【0004】このような記録条件の変動の影響を取り除
くために、例えば、最適ライトパワーをテストによって
求める方式が提案されている(特開平4−21251号
公報の「光ディスク記録再生装置」)。この方式では、
実際の情報の記録動作に先き立ち、レーザ光のビーム強
度(ライトパワー)を順次可変してテストパルスを記録
しておき、次に、記録された領域部分を再生して再生信
号のパルス幅(すなわち、ピット長)を検出し、最適な
ピット長となるライトパワーを求めるようにしている。In order to eliminate the influence of such fluctuations in the recording conditions, for example, a method of obtaining the optimum write power by a test has been proposed (Japanese Patent Laid-Open No. 4-21251, "Optical Disk Recording / Reproducing Apparatus"). With this method,
Prior to the actual information recording operation, the test pulse is recorded by sequentially changing the beam intensity (write power) of the laser light, and then the recorded area is reproduced to reproduce the pulse width of the reproduction signal. (That is, the pit length) is detected, and the write power for obtaining the optimum pit length is obtained.
【0005】このように、実際の情報の記録に先き立っ
て、テストパルスの記録と、その再生とのテストを行え
ば、最適なライトパワーを求めることができるので、記
録条件の変動に伴う影響を回避することが可能である。
詳しい説明は省略するが、このように、実際の記録動作
に先き立って、ライトパワーを変えながら、最適な記録
条件(したがって、最適な再生条件となる)を求め、以
降は、このテストによって求められた条件に従って、最
適ライトパワーで情報の記録を行うテスト方法は、その
他にも種々の方法が提案されている。As described above, if the test pulse recording and the reproduction thereof are tested prior to the actual recording of the information, the optimum write power can be obtained, so that the recording condition varies. It is possible to avoid the effect.
Although a detailed explanation is omitted, in this way, before the actual recording operation, while changing the write power, the optimum recording condition (and thus the optimum reproduction condition) is obtained, and thereafter, by this test, Various other test methods have been proposed as the test method for recording information with the optimum write power in accordance with the obtained conditions.
【0006】すなわち、この最適な記録条件を求めるテ
スト方法は、それ自体すでに公知であり、記録条件の変
動を除去するために、近年、一般的に実施されている。
次に、このような記録条件テスト機能を備えた光ディス
ク装置について、図面で説明する。That is, the test method for obtaining this optimum recording condition is already known per se, and has been generally carried out in recent years in order to eliminate the fluctuation of the recording condition.
Next, an optical disk device having such a recording condition test function will be described with reference to the drawings.
【0007】図5は、従来の記録条件テスト機能を備え
た光ディスク装置について、その要部構成の一例を示す
機能ブロック図である。図において、1は光学ヘッド、
LDはその半導体レーザ、1aは対物レンズ、1bはフ
ォトディテクタ、2は初段アンプ、3は2値化回路、4
は同期抽出回路、5はエラー訂正器、6はデータバッフ
ァ、7はセクタ検出器、8はライトタイミング制御回
路、9は半導体レーザドライブ回路(LDドライブ回
路)、10はD/Aコンバータ、11はCPU、12は
ディスクを示し、S1は受光出力検出信号、S2はアナ
ログ再生信号、S3はデジタル再生信号、S4はMOリ
ードデータ、S5は訂正済みリードデータ、S6はライ
トデータ、S7はRFリードデータ、S8はRF/MO
切換え信号、S9はID検出信号、S10はライトパル
ス、S11はライトパワーデータ、S12はライトゲー
ト信号、S13はライトパワー制御信号、S14はLD
ドライブ電流を示す。FIG. 5 is a functional block diagram showing an example of the main configuration of an optical disk device having a conventional recording condition test function. In the figure, 1 is an optical head,
LD is its semiconductor laser, 1a is an objective lens, 1b is a photodetector, 2 is a first stage amplifier, 3 is a binarization circuit, 4
Is a sync extraction circuit, 5 is an error corrector, 6 is a data buffer, 7 is a sector detector, 8 is a write timing control circuit, 9 is a semiconductor laser drive circuit (LD drive circuit), 10 is a D / A converter, and 11 is CPU, 12 are disks, S1 is a light reception output detection signal, S2 is an analog reproduction signal, S3 is a digital reproduction signal, S4 is MO read data, S5 is corrected read data, S6 is write data, and S7 is RF read data. , S8 is RF / MO
Switching signal, S9 ID detection signal, S10 write pulse, S11 write power data, S12 write gate signal, S13 write power control signal, S14 LD
Indicates drive current.
【0008】最初に、従来の光ディスク装置の構成と、
基本的な動作を説明し、その後に、最適記録条件を求め
るためのテスト動作について述べる。この図5の光ディ
スク装置において、光学ヘッド1内に設けられた半導体
レーザLD(レーザダイオード)からの出射光は、ディ
スク12上に集光され、その反射光が、フォトディテク
タ1bによって検出される。First, the configuration of the conventional optical disk device,
The basic operation will be described, and then the test operation for obtaining the optimum recording condition will be described. In the optical disk device of FIG. 5, the light emitted from the semiconductor laser LD (laser diode) provided in the optical head 1 is focused on the disk 12, and the reflected light is detected by the photodetector 1b.
【0009】そのため、フォトディテクタ1bからは、
反射光に比例した検出信号が、受光出力検出信号S1と
して出力される。この受光出力検出信号S1は、初段ア
ンプ2によって増幅されて、アナログ再生信号S2とな
り、次の2値化回路3へ入力され、再生方式が選択され
る。Therefore, from the photo detector 1b,
A detection signal proportional to the reflected light is output as the light reception output detection signal S1. The received light output detection signal S1 is amplified by the first-stage amplifier 2 to become an analog reproduction signal S2, which is input to the next binarization circuit 3 to select the reproduction system.
【0010】すなわち、この2値化回路3は、プリフォ
ーマットされた領域のRF信号を再生するか、あるいは
データ領域のMO信号を再生するか、を択一的に指示す
るRF/MO切換え信号S8により、再生方式が選択さ
れて、2値化されたデジタル再生信号S3が、同期抽出
回路4へ出力される。この同期抽出回路4では、入力さ
れたデジタル再生信号S3を同期化して、そのRFリー
ドデータS7をセクタ検出器7へ、また、MOリードデ
ータS4をエラー訂正器5へ、それぞれ出力する。That is, the binarizing circuit 3 selectively outputs an RF / MO switching signal S8 for instructing whether to reproduce the RF signal in the pre-formatted area or the MO signal in the data area. Thus, the reproduction system is selected and the binarized digital reproduction signal S3 is output to the sync extraction circuit 4. The sync extraction circuit 4 synchronizes the input digital reproduction signal S3 and outputs the RF read data S7 to the sector detector 7 and the MO read data S4 to the error corrector 5, respectively.
【0011】セクタ検出器7は、このRFリードデータ
S7に基いて、レーザの集光点がセクタのどの位置を走
査しているかを検知する機能を有しており、リアルタイ
ムなタイミング検出信号として、RF/MO切換え信号
S8と、ID検出信号S9とを出力する。他方、エラー
訂正器5によって、エラーを訂正された訂正済みリード
データS5が、データバッファ6へ送出される。The sector detector 7 has a function of detecting which position of the sector the laser focusing point scans on the basis of the RF read data S7. As a real-time timing detection signal, The RF / MO switching signal S8 and the ID detection signal S9 are output. On the other hand, the corrected read data S5 whose error has been corrected by the error corrector 5 is sent to the data buffer 6.
【0012】このデータバッファ6は、図示されない外
部インターフェースを介して、装置外部との間で、記録
/再生データの授受を行う。さて、データライト時にお
いては、ライトデータS6が、データバッファ6からラ
イトタイミング制御回路8へ送られる。The data buffer 6 exchanges recording / reproducing data with the outside of the apparatus via an external interface (not shown). Now, at the time of data writing, the write data S6 is sent from the data buffer 6 to the write timing control circuit 8.
【0013】このライトタイミング制御回路8では、与
えられたライトデータS6を、先のID検出信号S9の
タイミングに従って処理し、ライトパルスS10を生成
して半導体レーザドライブ回路9へ出力する。この場合
に、データをライトするときの発光パワー、すなわち、
光学ヘッド1内の半導体レーザLDのライトパワーは、
CPU11によって設定することができる。The write timing control circuit 8 processes the supplied write data S6 in accordance with the timing of the ID detection signal S9, generates a write pulse S10, and outputs it to the semiconductor laser drive circuit 9. In this case, the light emission power when writing data, that is,
The write power of the semiconductor laser LD in the optical head 1 is
It can be set by the CPU 11.
【0014】具体的にいえば、CPU11からD/Aコ
ンバータ10に与えられるライトパワーデータS11に
より、D/Aコンバータ10からライトパワーデータS
11に比例したライトパワー制御信号S13が生成され
て、半導体レーザドライブ回路9へ出力される。同時
に、ライトタイミング制御回路8からのライトパルスS
10が、CPU11からのライトゲート信号S12によ
って論理積処理されて、半導体レーザドライブ回路9へ
与えられる。Specifically, according to the write power data S11 given from the CPU 11 to the D / A converter 10, the write power data S from the D / A converter 10 is given.
A write power control signal S13 proportional to 11 is generated and output to the semiconductor laser drive circuit 9. At the same time, the write pulse S from the write timing control circuit 8
10 is logically ANDed by the write gate signal S12 from the CPU 11 and given to the semiconductor laser drive circuit 9.
【0015】したがって、この半導体レーザドライブ回
路9からは、先のライトゲート信号S12により論理積
をとったパルス状のLDドライブ電流S14が出力され
て、光学ヘッド1内の半導体レーザLDが駆動される。
以上が従来の光ディスク装置の構成と、基本的な動作で
ある。Therefore, the semiconductor laser drive circuit 9 outputs a pulsed LD drive current S14 obtained by ANDing the write gate signal S12 to drive the semiconductor laser LD in the optical head 1. .
The above is the configuration of the conventional optical disk device and the basic operation.
【0016】この光ディスク装置では、最適なライトパ
ワーを求めるために、先に述べたようなテストに際し
て、CPU11が、ライトパワーデータS11を変化さ
せてライト動作を行い、再生状態をチェックして実行し
ている。ここで、図5に示した従来の半導体レーザドラ
イブ回路9について、その詳細な構成を説明する。In this optical disk device, in order to obtain the optimum write power, the CPU 11 changes the write power data S11 to perform the write operation in the above-mentioned test, and checks and executes the reproduction state. ing. Here, the detailed configuration of the conventional semiconductor laser drive circuit 9 shown in FIG. 5 will be described.
【0017】図6は、従来の半導体レーザドライブ回路
9について、その詳細な回路構成の一例を示すブロック
図である。図において、LDは半導体レーザ、TR1と
TR2はトランジスタ、U11はアンドゲート回路、U
21はインバータ、WPSはライトパワー定電流源、R
PSはリードパワー定電流源、R1は抵抗器を示し、i
Wはライト電流、iRはリード電流を示す。なお、入力
される信号は、図5と同様で、S10はライトパルス、
S12はライトゲート信号、S13はライトパワー制御
信号を示す。FIG. 6 is a block diagram showing an example of a detailed circuit configuration of the conventional semiconductor laser drive circuit 9. In the figure, LD is a semiconductor laser, TR1 and TR2 are transistors, U11 is an AND gate circuit, U
21 is an inverter, WPS is a write power constant current source, R
PS is a read power constant current source, R1 is a resistor, i
W indicates a write current and iR indicates a read current. The input signal is the same as that in FIG. 5, S10 is a write pulse,
S12 is a write gate signal, and S13 is a write power control signal.
【0018】この図6に示すドライブ回路9において、
ライトパルスS10とライトゲート信号S12は、アン
ドゲート回路U11へ入力されて論理積処理され、その
結果が“1”のとき、トランジスタTR1が駆動され
る。また、先の図5のD/Aコンバータ10を介して、
ライトパワー制御信号S13(CPU11が設定したラ
イトパワー制御電圧)が供給され、ライトパワー定電流
源WPSからライト電流iWが出力される。In the drive circuit 9 shown in FIG. 6,
The write pulse S10 and the write gate signal S12 are input to the AND gate circuit U11 and subjected to logical product processing. When the result is "1", the transistor TR1 is driven. In addition, via the D / A converter 10 shown in FIG.
The write power control signal S13 (write power control voltage set by the CPU 11) is supplied, and the write power constant current source WPS outputs the write current iW.
【0019】このライト電流iWが、トランジスタTR
1を通して、半導体レーザLDへ供給される。この半導
体レーザLDには、常時、リードパワー定電流源RPS
からのリード電流iRが供給されているので、ライト動
作時には、これらの両電流が加算されて、電流(iW+
iR)で駆動されることになる。This write current iW is transferred to the transistor TR.
1 to the semiconductor laser LD. This semiconductor laser LD always has a read power constant current source RPS.
Since the read current iR from the above is supplied, both of these currents are added during the write operation, and the current (iW +
iR).
【0020】他方、アンドゲート回路U11による論理
積の結果が“0”のときは、トランジスタTR2が駆動
され、ライト電流iWはダミー抵抗器R1へ流れるの
で、半導体レーザLDには、リード電流iRだけが流れ
る。従来のライトパワーテスト機能を備えた光ディスク
装置、および半導体レーザドライブ回路におけるライト
パワーとリードパワーの制御動作は、以上のとおりであ
る。On the other hand, when the result of the logical product by the AND gate circuit U11 is "0", the transistor TR2 is driven and the write current iW flows to the dummy resistor R1. Therefore, only the read current iR is supplied to the semiconductor laser LD. Flows. The control operations of the write power and the read power in the conventional optical disk device having the write power test function and the semiconductor laser drive circuit are as described above.
【0021】ところが、従来の光ディスク装置では、最
適なライトパワーを求めるために、先に述べた記録条件
のテストを実行する場合、以下のような問題があった。
このようなテストに際しては、半導体レーザLDのライ
トパワーを変化させながら、テスト用のデータを記録す
る。However, the conventional optical disk device has the following problems when the above-mentioned recording condition test is executed in order to obtain the optimum write power.
In such a test, the test data is recorded while changing the write power of the semiconductor laser LD.
【0022】そして、再生時に、このライトデータ部を
リードするが、データ部には、再生信号の同期情報を得
るための各種同期パターンが挿入されている。すなわ
ち、光磁気ディスク等の光情報記録媒体については、そ
のセクタフォーマットが、ISO標準や日本工業規格等
で定められている。At the time of reproduction, the write data portion is read, and various synchronization patterns for obtaining the synchronization information of the reproduction signal are inserted in the data portion. That is, the sector format of an optical information recording medium such as a magneto-optical disk is defined by the ISO standard, the Japanese Industrial Standard, or the like.
【0023】例えば、“ID”はアドレス、“GAP”
はデータがないギャップ、“VFO3”はPLLロック
用の連続データパターン、“SB”(SYNC BYT
E)はデータ部の同期信号、“DATA”はユーザデー
タ領域、“RS”(RESYNC)は同期用の特殊コー
ド、等が定められている。このように、各セクタには、
“DATA”や“ECC”の他に、“VFO3”パター
ンや、“SB”パターン、“RS”パターン等が挿入さ
れている(後出の図3、参照)。For example, "ID" is an address and "GAP"
Is a gap with no data, "VFO3" is a continuous data pattern for PLL lock, "SB" (SYNC BYT
E) is a sync signal of the data part, "DATA" is a user data area, "RS" (RESSYNC) is a special code for synchronization, and the like. Thus, in each sector,
In addition to "DATA" and "ECC", a "VFO3" pattern, an "SB" pattern, an "RS" pattern, etc. are inserted (see FIG. 3 below).
【0024】そして、データリード時には、これらの
“VFO3”,“SB”,“RS”の各同期パターンか
らの同期情報を抽出することによって、リードデータの
同期化を実現している。この場合に、もし、これらの同
期情報が欠落してしまうと、同期情報が得られないの
で、データリードを実行することは、実事上不可能にな
る。At the time of data reading, the synchronization of the read data is realized by extracting the synchronization information from the respective synchronization patterns of "VFO3", "SB" and "RS". In this case, if these pieces of synchronization information are lost, the synchronization information cannot be obtained, so that it is practically impossible to execute the data read.
【0025】例えば、先の最適記録条件のテストに際し
て、ライトパワーを低出力にして記録したテストエリア
においては、“VFO3”,“SB”,“RS”の同期
パターンも、必然的に低出力で記録される。その結果、
このテストエリアでは、同期パターンの抽出が不完全と
なり、満足なデータリードが行えない。For example, in the test under the optimum recording condition, in the test area where the write power is set to low output, the sync patterns of "VFO3", "SB" and "RS" are necessarily low output. Will be recorded. as a result,
In this test area, the extraction of the synchronization pattern is incomplete, and satisfactory data reading cannot be performed.
【0026】以上のように、このようなテストエリアに
おけるデータのライトと、そのリードによる記録条件の
テストでは、低出力のライトパワーで記録されたデータ
の場合、同期パターンの抽出に問題がある。したがっ
て、従来の記録条件のテストでは、その結果に対する信
頼性に疑問が生じ、テストそれ自体の意味が失なわれか
ねない、という不都合があった。As described above, in the data write in such a test area and the test of the recording condition by the read, there is a problem in the extraction of the synchronization pattern in the case of the data recorded with the low output write power. Therefore, in the conventional test of the recording condition, there is a problem that the reliability of the result may be questioned and the meaning of the test itself may be lost.
【0027】[0027]
【発明が解決しようとする課題】この発明では、従来の
光学的情報記録再生装置で、最適記録条件のテスト時に
生じるこのような不都合を解決し、低出力のライトパワ
ーで記録されたデータのテストエリアにおいても、デー
タのリードに必要な同期情報だけは、通常のライトパワ
ーで記録できるようにして、同期パターンの完全な抽出
を可能にすることにより、テスト結果の信頼性を向上さ
せることを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, in the conventional optical information recording / reproducing apparatus, such inconvenience that occurs during the test of the optimum recording condition is solved, and the test of the data recorded with the low output write power is performed. Even in the area, only the synchronization information necessary for reading data can be recorded with normal write power, and the synchronization pattern can be extracted completely, thereby improving the reliability of test results. And
【0028】[0028]
【課題を解決するための手段】この発明では、第1に、
半導体レーザ等の光源のライトパワーを変化させながら
データをライトし、そのデータをリードして再生状態を
測定する記録条件のテスト機能を有する光情報記録再生
装置において、データライト時に各セクタのデータ部に
おける同期パターン部と、同期パターン以外の部分と
で、ライトパワーを切り換える手段を備え、記録条件の
テストの実行に際して、データライト時に、各セクタの
データ部における同期パターン部と、同期パターン以外
の部分とで、ライトパワーを切り換えてデータをライト
するように構成している。According to the present invention, firstly,
In an optical information recording / reproducing apparatus having a recording condition test function of writing data while changing the write power of a light source such as a semiconductor laser and reading the data to measure the reproduction state, the data portion of each sector at the time of data writing And a portion other than the synchronization pattern, which is provided with a means for switching the write power between the synchronization pattern portion and the portion other than the synchronization pattern. With, the write power is switched to write data.
【0029】第2に、半導体レーザ等の光源のライトパ
ワーを変化させながらデータをライトし、そのデータを
リードして、再生状態を測定するテスト機能を有する光
情報記録再生装置において、セクタのデータ部における
同期パターン部において、通常ライトパワー指示信号を
出力するライトタイミング制御回路と、半導体レーザ等
の光源へ少なくとも2種類の異なったライト電流を供給
するライト電流供給手段と、該ライト電流供給手段から
前記半導体レーザ等の光源へ供給されるライト電流を、
前記通常ライトパワー指示信号によって切り換える手
段、とを備えた構成である。Secondly, in an optical information recording / reproducing apparatus having a test function of writing data while changing the write power of a light source such as a semiconductor laser and reading the data, the sector data is read. In the synchronization pattern section in the section, a write timing control circuit for outputting a normal write power instruction signal, a write current supply means for supplying at least two different write currents to a light source such as a semiconductor laser, and a write current supply means The light current supplied to the light source such as the semiconductor laser is
And a means for switching according to the normal write power instruction signal.
【0030】第3に、上記第2の光情報記録再生装置に
おいて、ライト電流供給手段を制御する全ての信号に対
して、データライトを指示するライトゲート信号との論
理積をとる論理積演算手段を備えた構成である。Thirdly, in the second optical information recording / reproducing apparatus, a logical product calculating means for taking a logical product of all the signals controlling the write current supplying means and the write gate signal instructing the data write. It is a configuration provided with.
【0031】[0031]
【作用】この発明では、テストの信頼性を確保するため
に、ライトパワーを低出力の状態にして記録したテスト
エリアにおいても、データリードに必要な同期情報だけ
は、通常のレーザ発光量でライトできるように制御する
ことによって、同期パターンの完全な抽出を可能にして
いる。すなわち、従来の装置では、ライト動作時には、
リード電流iRとライト電流iWとの両電流が加算され
て供給され、リード動作時には、半導体レーザLDへリ
ード電流iRのみが供給されるが、ライト電流iWが低
出力の場合には、全てのテストデータが低出力で記録さ
れる結果、リード時に検出される同期情報も小さくな
る。According to the present invention, in order to ensure the reliability of the test, even in the test area recorded with the write power in the low output state, only the synchronization information necessary for the data read is written with the normal laser emission amount. By controlling so that the sync pattern can be extracted completely. That is, in the conventional device, during the write operation,
Both the read current iR and the write current iW are added and supplied, and only the read current iR is supplied to the semiconductor laser LD during the read operation, but when the write current iW is low output, all tests are performed. As a result of recording the data at a low output, the synchronization information detected at the time of reading becomes small.
【0032】この発明では、ライト電流iWのレベルと
直接関係なく、データリードに必要な同期情報だけは、
所定レベルのライト電流で記録できるように、テスト時
に各セクタのデータ部における同期パターン部を検出
し、そのタイミングで、通常のライト電流が出力される
ように制御する(請求項1と請求項2の発明)。また、
消費電力を節減するために、ライト電流供給手段を制御
する全ての信号に対して、データライトを指示するライ
トゲート信号との論理積処理を行うことにより、半導体
レーザやダミー抵抗器等のいずれにも電流が供給されな
いようにする(請求項3の発明)。According to the present invention, only the synchronization information required for data read is directly related to the level of the write current iW.
In order to perform recording with a write current of a predetermined level, the sync pattern portion in the data portion of each sector is detected during the test, and control is performed so that the normal write current is output at that timing (claims 1 and 2). Invention). Also,
In order to reduce power consumption, all signals controlling the write current supply means are ANDed with the write gate signal instructing the data write, so that the semiconductor laser, the dummy resistor, etc. Also, the current is not supplied (the invention of claim 3).
【0033】[0033]
【実施例1】次に、この発明の光情報記録再生装置につ
いて、図面を参照しながら、その実施例を詳細に説明す
る。この実施例は、主として、請求項1と請求項2の発
明に対応しているが、最適記録条件のテストの基本動作
は、請求項3の発明にも関連する。Embodiment 1 Next, an optical information recording / reproducing apparatus of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. This embodiment mainly corresponds to the inventions of claims 1 and 2, but the basic operation of the test of the optimum recording condition is also related to the invention of claim 3.
【0034】図1は、この発明の光情報記録再生装置に
ついて、その要部構成の一実施例を示す機能ブロック図
である。図における符号は図5と同様であり、また、S
15は通常ライトパワー指示信号を示す。FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of the main configuration of the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention. Reference numerals in the figure are the same as those in FIG.
Reference numeral 15 indicates a normal write power instruction signal.
【0035】この図1では、この発明の特徴点が理解し
易いように、先の図5について、変更された部分のみを
示している。この図1に示すように、ライトタイミング
制御回路8において、先の図5のライトパルスS10と
共に、通常ライトパワー指示信号S15を新たに発生さ
せ、半導体レーザドライブ回路9へ出力させるように構
成している。In FIG. 1, only the changed parts of FIG. 5 are shown so that the characteristic points of the present invention can be easily understood. As shown in FIG. 1, the write timing control circuit 8 is configured to newly generate the normal write power instruction signal S15 together with the write pulse S10 of FIG. 5 and output it to the semiconductor laser drive circuit 9. There is.
【0036】この場合に、ライトタイミング制御回路8
においては、セクタ検出器7からのID検出信号S9、
すなわち、半導体レーザLDの集光点が、セクタのどこ
を走査しているかを示すリアルタイミング情報が入力さ
れているので、このID検出信号S9に基いて、セクタ
の現在位置を検知することができる。このライトタイミ
ング制御回路8は、基本的には、従来例として説明した
先の図5と同じ機能を有している。In this case, the write timing control circuit 8
, The ID detection signal S9 from the sector detector 7,
That is, since the real timing information indicating where in the sector the converging point of the semiconductor laser LD is scanning is input, the current position of the sector can be detected based on the ID detection signal S9. . The write timing control circuit 8 basically has the same function as that of FIG. 5 described as a conventional example.
【0037】この発明では、このライトタイミング制御
回路8に、セクタ検出器7からのID検出信号S9と同
期して、通常ライトパワー指示信号S15を生成する機
能を付加している。すなわち、ライトタイミング制御回
路8内の制御動作により、データ部のセクタについて、
“VFO3”,“SB”,“RS”の同期パターンが記
録される位置のタイミングにおいてのみ、通常ライトパ
ワー指示信号S15を出力する。In the present invention, the write timing control circuit 8 is provided with the function of generating the normal write power instruction signal S15 in synchronization with the ID detection signal S9 from the sector detector 7. That is, by the control operation in the write timing control circuit 8, with respect to the sector of the data section,
The normal write power instruction signal S15 is output only at the timing of the position where the synchronization patterns of "VFO3", "SB", and "RS" are recorded.
【0038】以上のように、この発明の光情報記録再生
装置では、通常ライトパワー指示信号S15を使用し
て、半導体レーザLDのライトパワーを制御し、同期パ
ターン部のデータをライトする場合には、従来のライト
電流(iR+iW)の代りに、データリードに必要な同
期情報だけは、所定レベルのライト電流(iR+iN)
で記録する点に特徴を有している。その他の構成と動作
は、基本的には、従来例として示した先の図5と同様て
ある。As described above, in the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention, when the write power of the semiconductor laser LD is controlled by using the normal write power instruction signal S15 and the data of the synchronous pattern portion is written, Instead of the conventional write current (iR + iW), only the synchronization information necessary for the data read is the write current (iR + iN) of the predetermined level.
The feature is that it is recorded at. Other configurations and operations are basically the same as those in FIG. 5 described above as a conventional example.
【0039】先の図1では、この発明の光情報記録再生
装置について、要点を説明した。次に、具体的な半導体
レーザドライブ回路の構成について述べる。ここでは、
従来例を示した図6と対応させて説明する。In FIG. 1 described above, the main points of the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention have been described. Next, a specific configuration of the semiconductor laser drive circuit will be described. here,
Description will be made in correspondence with FIG. 6 showing a conventional example.
【0040】図2は、この発明の光情報記録再生装置に
おける半導体レーザドライブ回路について、その詳細な
回路構成の一実施例を示すブロック図である。図におけ
る符号は図6および図1と同様であり、また、TR3と
TR4はトランジスタ、U12とU13はアンドゲート
回路、U22とU23はインバータ、NWPSは通常ラ
イトパワー定電流源、R2は抵抗器、iNは通常ライト
電流を示す。FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment of the detailed circuit configuration of the semiconductor laser drive circuit in the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention. Reference numerals in the figure are the same as those in FIGS. 6 and 1, TR3 and TR4 are transistors, U12 and U13 are AND gate circuits, U22 and U23 are inverters, NWPS is a normal write power constant current source, R2 is a resistor, iN usually indicates a write current.
【0041】この図2の半導体レーザドライブ回路と、
先の図6に示した従来のドライブ回路とを比較すれば明
らかなように、この図2に示す回路では、通常ライトパ
ワー定電流源NWPSが設けられており、通常ライト電
流iNが供給される点が、明確に相違している。この図
2の回路では、最適ライトパワーを求めるテスト時にお
けるライト動作で、ライトタイミング制御回路8から通
常ライトパワー指示信号S15が与えられたとき、リー
ド電流iRと共に、通常ライト電流iNが出力されて、
半導体レーザLDへ両電流が加算されて供給される。The semiconductor laser drive circuit shown in FIG.
As is clear from a comparison with the conventional drive circuit shown in FIG. 6, the circuit shown in FIG. 2 is provided with the normal write power constant current source NWPS and is supplied with the normal write current iN. The points are clearly different. In the circuit of FIG. 2, when the normal write power instruction signal S15 is given from the write timing control circuit 8 in the write operation during the test for obtaining the optimum write power, the normal write current iN is output together with the read current iR. ,
Both currents are added and supplied to the semiconductor laser LD.
【0042】図3は、図1と図2に示した半導体レーザ
ドライブ回路について、データライト時の動作を説明す
るためのタイムチャートである。各波形に付けられた符
号は図1と図2の符号位置に対応しており、セクタフオ
ーマットは日本工業規格の一例である。FIG. 3 is a time chart for explaining the operation of the semiconductor laser drive circuit shown in FIGS. 1 and 2 during data writing. The symbols attached to the waveforms correspond to the symbol positions in FIGS. 1 and 2, and the sector format is an example of the Japanese Industrial Standard.
【0043】この図3のタイムチャートでは、2セクタ
のデータをライトする場合を示している。このライト動
作時には、ライトゲート信号S12は“H”で出力され
ており、図5のセクタ検出器7によってID検出信号S
9が“H”で出力されると、先の図1に示したライトタ
イミング制御回路8から、通常ライトパワー指示信号S
15が生成されて、“H”になる。The time chart of FIG. 3 shows the case of writing data of 2 sectors. At the time of this write operation, the write gate signal S12 is output at "H", and the sector detector 7 of FIG.
9 is output at "H", the write timing control circuit 8 shown in FIG.
15 is generated and becomes “H”.
【0044】このライトタイミング制御回路8からは、
従来と同様のライトパルスS10が出力される。したが
って、図2の半導体レーザドライブ回路には、ライトパ
ルスS10と、通常ライトパワー指示信号S15とが、
ライトタイミング制御回路8から入力され、また、CP
U11からD/Aコンバータ10を介して、ライトパワ
ー制御信号S13が、さらに、CPU11からライトゲ
ート信号S12が入力される。From the write timing control circuit 8,
The write pulse S10 similar to the conventional one is output. Therefore, in the semiconductor laser drive circuit of FIG. 2, the write pulse S10 and the normal write power instruction signal S15 are
Input from the write timing control circuit 8 and CP
A write power control signal S13 is input from U11 via the D / A converter 10, and a write gate signal S12 is further input from the CPU 11.
【0045】この図2において、ライトパワー制御信号
S13は、図5で説明したように、CPU11からD/
Aコンバータ10を介して設定され、ライトパワー定電
流源WPSからのライト電流iWを制御する。一方、新
たに設けられた通常ライトパワー指示信号S15は、デ
ータライトを実行する各セクタにおいて、データ部の
“VFO3”,“SB”,“RS”の同期パターン部の
みで出力される信号である。In FIG. 2, the write power control signal S13 is sent from the CPU 11 to the D /
It is set via the A converter 10 and controls the write current iW from the write power constant current source WPS. On the other hand, the newly provided normal write power instruction signal S15 is a signal output only in the sync pattern part of "VFO3", "SB", "RS" of the data part in each sector which executes data write. .
【0046】また、ライトゲート信号S12は、同じく
図5のCPU11から出力される信号であるが、このラ
イトゲート信号S12は、データライト動作を大まかに
指示する信号であって、半導体レーザLDを発光させる
ためのパルス信号を、ライトタイミング制御回路8から
出力させるように制御する。この図2において、リード
パワー定電流源RPSからのリード電流iRは、常時半
導体レーザLDに供給されている。The write gate signal S12 is also a signal output from the CPU 11 in FIG. 5, and the write gate signal S12 is a signal for roughly instructing the data write operation and emits light from the semiconductor laser LD. The write timing control circuit 8 is controlled to output a pulse signal for this purpose. In FIG. 2, the read current iR from the read power constant current source RPS is constantly supplied to the semiconductor laser LD.
【0047】そして、テスト時には、CPU11からの
指示によって可変制御され、ライト動作を行うためのラ
イト電流iWが、ライトパワー定電流源WPSから供給
される。この場合に、図2では、アンドゲート回路U1
1〜U13と、インバータU21〜U23から構成され
た論理回路によって、次のような動作が行われる。At the time of the test, the write current iW for performing the write operation, which is variably controlled by the instruction from the CPU 11, is supplied from the write power constant current source WPS. In this case, in FIG. 2, the AND gate circuit U1
The following operation is performed by the logic circuit including 1 to U13 and the inverters U21 to U23.
【0048】まず、通常ライトパワー指示信号S15が
出力されていないとき、すなわち、半導体レーザLDか
らの出射光が、データ部のユーザエリアやECCエリア
部等の位置にあって、かつ、ライトパルスS10が出力
されているときは、従来と同様に、半導体レーザLDに
は、トランジスタTR1を介してライト電流iWが供給
される。したがって、この状態では、半導体レーザLD
に、リード電流iRとライト電流iWとが流れ、「iR
+iW」の電流で駆動されて発光する。First, when the normal write power instruction signal S15 is not output, that is, the emitted light from the semiconductor laser LD is in a position such as the user area of the data section or the ECC area section, and the write pulse S10. Is output, the write current iW is supplied to the semiconductor laser LD via the transistor TR1 as in the conventional case. Therefore, in this state, the semiconductor laser LD
Read current iR and write current iW flow to
It is driven by a current of "+ iW" to emit light.
【0049】また、ライトパルスS10が出力されてい
ないときは、ライト電流iWは、トランジスタTR2か
らダミー抵抗器R1へ流れるので、半導体レーザLDに
は、リード電流iRだけが流れる。これに対して、通常
ライトパワー指示信号S15が出力されると、次のよう
な動作が行われる。When the write pulse S10 is not output, the write current iW flows from the transistor TR2 to the dummy resistor R1. Therefore, only the read current iR flows in the semiconductor laser LD. On the other hand, when the normal write power instruction signal S15 is output, the following operation is performed.
【0050】まず、ライトパルスS10が出力されてい
るときは、通常ライトパワー定電流源NWPSから供給
される通常ライト電流iNが、トランジスタTR3から
半導体レーザLDへ流れるので、半導体レーザLDに、
リード電流iRと通常ライト電流iNとが流れ、「iR
+iN」の電流で駆動されて発光する。他方、ライトパ
ルスS10が出力されていないときは、この通常ライト
電流iNは、トランジスタTR4からダミー抵抗器R2
へ流れるので、半導体レーザLDには、リード電流iR
だけが流れる。First, when the write pulse S10 is being output, the normal write current iN supplied from the normal write power constant current source NWPS flows from the transistor TR3 to the semiconductor laser LD.
The read current iR and the normal write current iN flow, and "iR
It is driven by a current of "+ iN" to emit light. On the other hand, when the write pulse S10 is not output, this normal write current iN is transmitted from the transistor TR4 to the dummy resistor R2.
To the semiconductor laser LD, the read current iR
Only flows.
【0051】以上のように、最適記録条件のテストにお
けるデータライト時に、データ部の各セクタにおいて、
同期パターン部では、通常ライトパワー指示信号S15
により、半導体レーザLDへ、リード電流iRと通常ラ
イト電流iNとが流れ、その他のデータ部のユーザデー
タエリアDATAやECCエリア部では、リード電流i
Rとライト電流iWとが流れるので、データのリード時
に、必要な同期パターンを確実に検出することができ
る。したがって、最適記録条件のテストの信頼性を向上
させることができる。As described above, at the time of data writing in the test of the optimum recording condition, in each sector of the data part,
In the sync pattern portion, the normal write power instruction signal S15
As a result, the read current iR and the normal write current iN flow to the semiconductor laser LD, and the read current iR and the read data i in the user data area DATA and ECC area of the other data section.
Since R and the write current iW flow, it is possible to reliably detect a necessary synchronization pattern when reading data. Therefore, the reliability of the test under the optimum recording condition can be improved.
【0052】[0052]
【実施例2】次に、この発明について、第2の実施例を
説明する。この実施例は、主として、請求項3の発明に
対応するが、請求項1や請求項2の発明とも関連してい
る。Second Embodiment Next, a second embodiment of the present invention will be described. This embodiment mainly corresponds to the invention of claim 3, but is also related to the inventions of claim 1 and claim 2.
【0053】先の第1の実施例では、図2で説明したよ
うに、テストライト時に、2種類のライト電流iWとi
Nとを切り換えて、データライトを行ったが、ライトゲ
ート信号S12が出力されていないときは、トランジス
タTR1〜TR4へ電流を供給する必要はない。そこ
で、この第2の実施例では、このような無駄をなくし
て、消費電力を節減する点に特徴を有している。In the first embodiment described above, as described with reference to FIG. 2, two types of write currents iW and iW are used during the test write.
Although data writing is performed by switching N and N, when the write gate signal S12 is not output, it is not necessary to supply current to the transistors TR1 to TR4. Therefore, the second embodiment is characterized in that such waste is eliminated and power consumption is reduced.
【0054】図4は、この発明の光情報記録再生装置に
おける半導体レーザドライブ回路について、その詳細な
回路構成の第2の実施例を示すブロック図である。図に
おける符号は図2と同様であり、また、U14〜U17
はアンドゲート回路、U24とU25はインバータを示
す。FIG. 4 is a block diagram showing a second embodiment of the detailed circuit configuration of the semiconductor laser drive circuit in the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention. Reference numerals in the figure are the same as those in FIG. 2, and U14 to U17
Is an AND gate circuit, and U24 and U25 are inverters.
【0055】この図4に示す第2の実施例でも、各信号
の動作タイミングは、先の図3と同様であるから、詳細
な説明は省略する。図4の回路では、全てのトランジス
タTR1〜TR4が、ライトゲート信号S12によって
ゲートされているので、ダミー抵抗器R1,R2へ駆動
電流(ライト電流iWや通常ライト電流iN)が流れ込
むのは、ライトゲート信号S12が出力されているとき
だけである。Also in the second embodiment shown in FIG. 4, the operation timing of each signal is the same as that in FIG. 3 described above, and therefore detailed description thereof will be omitted. In the circuit of FIG. 4, since all the transistors TR1 to TR4 are gated by the write gate signal S12, the drive current (write current iW or normal write current iN) flows into the dummy resistors R1 and R2. Only when the gate signal S12 is output.
【0056】そして、ライトゲート信号S12が出力さ
れていないとき、すなわち、データライトを行わないと
きには、半導体レーザLDと、ダミー抵抗器R1,R2
のどちらにも電流は供給されない。したがって、非ライ
ト状態において、無駄な電流が生じることが防止され、
第1の実施例と同様の効果に加えて、消費電流の節約が
可能になる、という固有の効果が得られる。When the write gate signal S12 is not output, that is, when the data write is not performed, the semiconductor laser LD and the dummy resistors R1 and R2 are used.
No current is supplied to either. Therefore, it is possible to prevent useless current from being generated in the non-write state,
In addition to the same effect as the first embodiment, the unique effect that the consumption current can be saved can be obtained.
【0057】以上のように、この発明の光情報記録再生
装置では、最適なライトパワーを検知するために、ライ
トパワーを変化させながら、データのライト動作を行
い、そのデータをリードして再生状態をチェックする記
録条件のテストに際して、低出力のライトパワーでライ
トしたテストエリアにおいても、同期パターン部の“V
FO3”,“SB”,“RS”等の同期パターンのみ
は、通常のライトパワーでライトされるようにしてい
る。したがって、このテストエリアのリード時には、同
期パターンの安定な検出が可能になり、同期状態を保持
しながらデータのリードを行うことができる。As described above, in the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention, in order to detect the optimum write power, the data write operation is performed while changing the write power, and the data is read and reproduced. In the test of the recording condition for checking the recording pattern, even in the test area written with the low output write power, the "V
Only the sync patterns such as FO3 "," SB "," RS ", etc. are written with the normal write power.Therefore, when the test area is read, the sync pattern can be detected stably. Data can be read while maintaining the synchronized state.
【0058】その結果、半導体レーザLDの最適ライト
パワーを求めるテストの信頼性を維持することができ
る。なお、以上の実施例では、主として、光ディスク装
置の場合について説明したが、光磁気ディスク装置や、
追記型の光ディスク装置、光カード等についても、同様
に実施することが可能であることは明らかであって、実
施例の場合に限定されるものではない。As a result, the reliability of the test for obtaining the optimum write power of the semiconductor laser LD can be maintained. In the above embodiments, the case of the optical disk device was mainly described, but a magneto-optical disk device,
It is obvious that the write-once type optical disk device, the optical card, and the like can be similarly implemented, and the present invention is not limited to the case of the embodiment.
【0059】[0059]
【発明の効果】請求項1の光情報記録再生装置では、最
適ライトパワーを求めるために、記録条件のテスト、す
なわち、ライトパワーを可変しながらデータをライト/
リードしてテストする際に、ライトパワーが低出力の状
態において記録したテストエリアにおいても、“VFO
3”,“SB”,“RS”等の同期パターンだけは、通
常のライトパワーでライト(記録)するようにしてい
る。したがって、このようなテストエリアをリード(再
生)する場合に、安定した同期状態でのデータリードが
可能となり、テストの信頼性が維持される。According to the optical information recording / reproducing apparatus of the first aspect of the present invention, in order to obtain the optimum write power, a test of recording conditions, that is, data write / write while varying the write power is performed.
Even when the test area recorded in the state where the write power is low is read, the "VFO" is read.
Only sync patterns such as 3 "," SB ", and" RS "are written (recorded) with normal write power. Therefore, when such a test area is read (reproduced), it is stable. Data can be read in the synchronized state, and the reliability of the test is maintained.
【0060】請求項2の光情報記録再生装置では、請求
項1の光情報記録再生装置によるテストの信頼性を維持
するために、ライトタイミング制御回路からの通常ライ
トパワー指示信号によって、ライトパルス出力時に半導
体レーザ等の光源へ供給するライト電流を、同期パター
ン部とユーザデータ、ECC部とで切り換えるように制
御している。したがって、請求項1の光情報記録再生装
置と同様の効果が得られる。In the optical information recording / reproducing apparatus of the second aspect, in order to maintain the reliability of the test by the optical information recording / reproducing apparatus of the first aspect, the write pulse output is performed by the normal write power instruction signal from the write timing control circuit. At the same time, the write current supplied to the light source such as a semiconductor laser is controlled so as to be switched between the synchronization pattern section, the user data and the ECC section. Therefore, the same effect as that of the optical information recording / reproducing apparatus of the first aspect can be obtained.
【0061】請求項3の光情報記録再生装置では、半導
体レーザ等の光源の制御回路内で、各トランジスタを駆
動するための信号を、ライトゲート信号との論理積で生
成している。したがって、ライトゲート信号が出力され
ていない状態では、全てのトランジスタがオフ状態にさ
れるので、無駄な電流が流れることが防止され、請求項
2の光情報記録再生装置の効果に加えて、より省消費電
力化が実現される。In the optical information recording / reproducing apparatus of the third aspect, the signal for driving each transistor is generated by the logical product with the write gate signal in the control circuit of the light source such as the semiconductor laser. Therefore, in the state where the write gate signal is not output, all the transistors are turned off, so that useless current is prevented from flowing, and in addition to the effect of the optical information recording / reproducing apparatus according to claim 2, Power saving is realized.
【図1】この発明の光情報記録再生装置について、その
要部構成の一実施例を示す機能ブロック図である。FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of the main configuration of an optical information recording / reproducing apparatus of the present invention.
【図2】この発明の光情報記録再生装置における半導体
レーザドライブ回路について、その詳細な回路構成の一
実施例を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing an example of a detailed circuit configuration of a semiconductor laser drive circuit in the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention.
【図3】図1と図2に示した半導体レーザドライブ回路
について、データライト時の動作を説明するためのタイ
ムチャートである。FIG. 3 is a time chart for explaining an operation at the time of writing data in the semiconductor laser drive circuit shown in FIGS. 1 and 2.
【図4】この発明の光情報記録再生装置における半導体
レーザドライブ回路について、その詳細な回路構成の第
2の実施例を示すブロック図である。FIG. 4 is a block diagram showing a second embodiment of the detailed circuit configuration of the semiconductor laser drive circuit in the optical information recording / reproducing apparatus of the present invention.
【図5】従来の記録条件テスト機能を備えた光ディスク
装置について、その要部構成の一例を示す機能ブロック
図である。FIG. 5 is a functional block diagram showing an example of a main part configuration of an optical disc device having a conventional recording condition test function.
【図6】従来の半導体レーザドライブ回路9について、
その詳細な回路構成の一例を示すブロック図である。FIG. 6 shows a conventional semiconductor laser drive circuit 9,
It is a block diagram showing an example of the detailed circuit configuration.
1 光学ヘッド LD 半導体レーザ 1a 対物レンズ 1b フォトディテクタ 2 初段アンプ 3 2値化回路 4 同期抽出回路 5 エラー訂正器 6 データバッファ 7 セクタ検出器 8 ライトタイミング制御回路 9 半導体レーザドライブ回路 10 D/Aコンバータ 11 CPU 1 Optical Head LD Semiconductor Laser 1a Objective Lens 1b Photodetector 2 First Stage Amplifier 3 Binarization Circuit 4 Sync Extraction Circuit 5 Error Corrector 6 Data Buffer 7 Sector Detector 8 Write Timing Control Circuit 9 Semiconductor Laser Drive Circuit 10 D / A Converter 11 CPU
Claims (3)
変化させながらデータをライトし、そのデータをリード
して再生状態を測定する記録条件のテスト機能を有する
光情報記録再生装置において、 データライト時に各セクタのデータ部における同期パタ
ーン部と、同期パターン以外の部分とで、ライトパワー
を切り換える手段を備え、 記録条件のテストの実行に際して、データライト時に、
各セクタのデータ部における同期パターン部と、同期パ
ターン以外の部分とで、ライトパワーを切り換えてデー
タをライトすることを特徴とする光情報記録再生装置。1. An optical information recording / reproducing apparatus having a recording condition test function of writing data while changing the write power of a light source such as a semiconductor laser and reading the data to measure a reproduction state, at the time of data writing. A means for switching the write power between the sync pattern part in the data part of each sector and the part other than the sync pattern is provided, and when executing the test of the recording condition, at the time of data write,
An optical information recording / reproducing apparatus, characterized in that the write power is switched between the sync pattern part in the data part of each sector and the part other than the sync pattern to write data.
変化させながらデータをライトし、そのデータをリード
して、再生状態を測定するテスト機能を有する光情報記
録再生装置において、 セクタのデータ部における同期パターン部において、通
常ライトパワー指示信号を出力するライトタイミング制
御回路と、 半導体レーザ等の光源へ少なくとも2種類の異なったラ
イト電流を供給するライト電流供給手段と、 該ライト電流供給手段から前記半導体レーザ等の光源へ
供給されるライト電流を、前記通常ライトパワー指示信
号によって切り換える手段、とを備えたことを特徴とす
る光情報記録再生装置。2. An optical information recording / reproducing apparatus having a test function of writing data while changing the write power of a light source such as a semiconductor laser, reading the data, and measuring a reproduction state, in a data section of a sector. A write timing control circuit that outputs a normal write power instruction signal in the synchronization pattern section, a write current supply unit that supplies at least two different write currents to a light source such as a semiconductor laser, and the semiconductor device from the write current supply unit. An optical information recording / reproducing apparatus comprising: means for switching a write current supplied to a light source such as a laser according to the normal write power instruction signal.
て、 ライト電流供給手段を制御する全ての信号に対して、デ
ータライトを指示するライトゲート信号との論理積をと
る論理積演算手段を備えたことを特徴とする光情報記録
再生装置。3. The optical information recording / reproducing apparatus according to claim 2, further comprising a logical product calculating means for calculating a logical product of all signals controlling the write current supplying means and a write gate signal for instructing data writing. An optical information recording / reproducing apparatus characterized in that
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