JPH05166682A - Capacitor - Google Patents

Capacitor

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JPH05166682A
JPH05166682A JP35268691A JP35268691A JPH05166682A JP H05166682 A JPH05166682 A JP H05166682A JP 35268691 A JP35268691 A JP 35268691A JP 35268691 A JP35268691 A JP 35268691A JP H05166682 A JPH05166682 A JP H05166682A
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JP
Japan
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capacitor
polymer layer
conductive polymer
elements
laminated
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JP35268691A
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Japanese (ja)
Inventor
Susumu Ando
進 安藤
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Nippon Chemi Con Corp
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Nippon Chemi Con Corp
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Abstract

PURPOSE:To provide a capacitor which has materialized high breakdown strength as well as miniaturization. CONSTITUTION:A dielectric film 8 is made and also a constant voltage element 14 is installed on one side of an electrode plate 2, and besides a conductive polymer layer 10 is overlaid on the dielectric oxide film 8, thus capacitor elements 21 and 22 to be stacked are made, and two or more capacitor elements are stacked through conductive binders 16.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、導電性高分子層を用い
たコンデンサに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a capacitor using a conductive polymer layer.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、固体電解コンデンサは、チップ上
の陽極体を用いて微細化されており、混成集積回路上の
実装等に向けて開発されたものである。この固体電解コ
ンデンサは、例えば、アルミニウム板を陽極体に用いて
その表面にエッチングにより拡面化処理を行い、その表
面に化成処理によって誘電体層を形成し、この誘電体層
の上面に有機半導体層を成長させて固体電解質層を形成
したものであり、この固体電解質層の上には実質的な陰
極を成す導体層を重ねて陰極端子が形成されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, solid electrolytic capacitors have been miniaturized by using an anode body on a chip and have been developed for mounting on a hybrid integrated circuit. In this solid electrolytic capacitor, for example, an aluminum plate is used as an anode body, and its surface is subjected to surface widening treatment by etching, a dielectric layer is formed on the surface by chemical conversion treatment, and an organic semiconductor is formed on the upper surface of the dielectric layer. A solid electrolyte layer is formed by growing layers, and a cathode terminal is formed by stacking a conductor layer that substantially forms a cathode on the solid electrolyte layer.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、この固体電
解コンデンサでは、固体電解質層の劣化防止のため、高
度な気密封止が必要である等、品質管理が厄介であり、
また、耐圧は16WV程度のものが一般的で、需要が最
も多い24Vの電源には不向きである。
By the way, in this solid electrolytic capacitor, quality control is troublesome, such as high degree of hermetic sealing is required to prevent deterioration of the solid electrolyte layer.
In addition, the withstand voltage is generally about 16 WV, which is not suitable for the 24 V power source, which is in the highest demand.

【0004】そこで、本発明は、小型化とともに高耐圧
化を実現したコンデンサを提供することを目的とする。
Therefore, it is an object of the present invention to provide a capacitor which is miniaturized and has a high breakdown voltage.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明のコンデンサは、
電極板(2)の一方の面に、誘電体酸化皮膜(8)を形
成するとともに定電圧素子(14、D1 、D2 )を設置
し、かつ、前記誘電体酸化皮膜の上に導電性高分子層
(10)を被着させて積層すべきコンデンサ素子(2
1、22)とし、2以上の前記コンデンサ素子を導電性
接着剤(16)を介在させて積層させたことを特徴とす
る。
The capacitor of the present invention comprises:
A dielectric oxide film (8) is formed on one surface of the electrode plate (2), constant voltage elements (14, D 1 , D 2 ) are installed, and conductivity is provided on the dielectric oxide film. A capacitor element (2) to be laminated with a polymer layer (10) applied
1, 22), and two or more capacitor elements are laminated with a conductive adhesive (16) interposed.

【0006】また、本発明のコンデンサは、積層した前
記コンデンサ素子の間に導電性高分子層(20)を介在
させたことを特徴とする。
The capacitor of the present invention is characterized in that a conductive polymer layer (20) is interposed between the laminated capacitor elements.

【0007】また、本発明のコンデンサは、前記導電性
高分子層がポリピロール、ポリアニリン、ポリチオフェ
ンの何れかで構成されたことを特徴とする。
Further, the capacitor of the present invention is characterized in that the conductive polymer layer is composed of any one of polypyrrole, polyaniline and polythiophene.

【0008】[0008]

【作用】本発明のコンデンサでは、電極板の一方の面
に、誘電体酸化皮膜を形成するとともに定電圧素子を設
置し、前記誘電体酸化皮膜の上に導電性高分子層を被着
させて積層すべきコンデンサ素子としている。このコン
デンサ素子において、電極板の一方の面に形成された誘
電体酸化皮膜及び導電性高分子層の部分が容量形成に寄
与することになる。しかしながら、各コンデンサ素子毎
に形成された誘電体酸化皮膜及び導電性高分子層は、コ
ンデンサ素子毎に絶縁抵抗が微妙に異なり、各絶縁抵抗
(漏れ抵抗)を均一に形成することは困難であり、積層
されたコンデンサ素子でのバランスを取ることは不可能
である。その結果、各コンデンサ素子毎の分圧値が異な
ってしまい、各コンデンサ素子に絶縁破壊を生じさせる
ことになる。このような不都合を防止するために、各コ
ンデンサ素子毎に並列に定電圧素子を付加したものであ
り、個別に接続されている定電圧素子によって、コンデ
ンサ素子の絶縁破壊を効果的に防止でき、コンデンサ素
子の積層による高耐圧化を実現している。
In the capacitor of the present invention, a dielectric oxide film is formed on one surface of the electrode plate, a constant voltage element is installed, and a conductive polymer layer is deposited on the dielectric oxide film. It is used as a capacitor element to be stacked. In this capacitor element, the portion of the dielectric oxide film and the conductive polymer layer formed on one surface of the electrode plate contributes to the capacity formation. However, the dielectric oxide film and the conductive polymer layer formed for each capacitor element have a slightly different insulation resistance for each capacitor element, and it is difficult to form each insulation resistance (leakage resistance) uniformly. However, it is impossible to balance the stacked capacitor elements. As a result, the voltage division value differs for each capacitor element, causing dielectric breakdown in each capacitor element. In order to prevent such inconvenience, a constant voltage element is added in parallel for each capacitor element, and the individually connected constant voltage elements can effectively prevent the dielectric breakdown of the capacitor element, Higher breakdown voltage is realized by stacking capacitor elements.

【0009】また、本発明のコンデンサは、エッチング
処理した電極板に誘電体酸化皮膜を形成し、その上に導
電性高分子層を被着させてコンデンサ素子とし、このコ
ンデンサ素子を単位として複数層に積層したものであ
る。このように複数のコンデンサ素子を多段に積層して
構成すると、導電性接着剤が実質的な陰極層を構成する
とともに、各コンデンサ素子の接続導体を成し、各コン
デンサ素子は直列に接続された一つのコンデンサを構成
する。したがって、複数のコンデンサ素子からなるコン
デンサの耐電圧は、各コンデンサ素子の耐電圧を加算し
た値となり、その積層段数に応じて高耐圧化することが
できる。
Further, in the capacitor of the present invention, a dielectric oxide film is formed on an etched electrode plate, and a conductive polymer layer is deposited on the dielectric oxide film to form a capacitor element. It is laminated on. When a plurality of capacitor elements are laminated in this way, the conductive adhesive constitutes a substantial cathode layer, and at the same time forms a connection conductor for each capacitor element, and each capacitor element is connected in series. Compose one capacitor. Therefore, the withstand voltage of the capacitor including a plurality of capacitor elements is a value obtained by adding the withstand voltage of each capacitor element, and the withstand voltage can be increased according to the number of stacked layers.

【0010】また、導電性高分子層をポリピロール、ポ
リアニリン、ポリチオフェンの何れかで構成すれば、必
要な特性を備えたコンデンサ素子が得られる。
If the conductive polymer layer is made of polypyrrole, polyaniline or polythiophene, a capacitor element having the required characteristics can be obtained.

【0011】[0011]

【実施例】以下、本発明のコンデンサを図面に示した実
施例を参照して詳細に説明する。
The capacitor of the present invention will be described in detail below with reference to the embodiments shown in the drawings.

【0012】図1、図2及び図3は、本発明のコンデン
サの実施例を示している。このコンデンサには、アルミ
ニウム等の皮膜形成金属で形成されたチップ状の2以上
の電極板2が用いられており、この電極板2には、その
片面に容量形成面4が設定されているとともに、この容
量形成面4と段差を以て平坦面を成す切欠部6が形成さ
れている。容量形成面4にはエッチングによって拡面処
理が施されている。切欠部6の面にもエッチングを施し
てもよい。そして、容量形成面4には化成処理によって
誘電体酸化皮膜8が形成されているとともに、その上に
導電性高分子層10が被着形成されている。この導電性
高分子層10は、例えば、ポリピロール、ポリアニリ
ン、ポリチオフェンの何れかで構成することができる。
また、切欠部6には導電性接着剤12を以て定電圧素子
14が設置されている。この定電圧素子14は、例え
ば、ツェナーダイオードで構成でき、そのカソード側を
電極板2側にして接続するものとする。このような電極
板2、誘電体酸化皮膜8及び導電性高分子層10ととも
に定電圧素子14を以てユニットとしてのコンデンサ素
子21、22が構成される。この場合、定電圧素子14
と容量形成面4との間には絶縁のために絶縁間隔15が
設定されている。
1, 2 and 3 show an embodiment of the capacitor of the present invention. This capacitor uses two or more chip-shaped electrode plates 2 formed of a film-forming metal such as aluminum. The electrode plate 2 has a capacitance forming surface 4 set on one side thereof. A notch 6 that is a flat surface is formed with a step from the capacitance forming surface 4. The capacitance forming surface 4 is subjected to surface expansion processing by etching. The surface of the notch 6 may also be etched. A dielectric oxide film 8 is formed on the capacitance forming surface 4 by chemical conversion treatment, and a conductive polymer layer 10 is formed on the dielectric oxide film 8. The conductive polymer layer 10 can be made of, for example, polypyrrole, polyaniline, or polythiophene.
Further, a constant voltage element 14 is installed in the notch 6 with a conductive adhesive 12. The constant voltage element 14 can be constituted by, for example, a Zener diode, and the cathode side thereof is connected to the electrode plate 2 side. With the electrode plate 2, the dielectric oxide film 8 and the conductive polymer layer 10 as described above, the constant voltage element 14 is used to form the capacitor elements 21 and 22 as a unit. In this case, the constant voltage element 14
An insulation gap 15 is set between the capacitor and the capacitance forming surface 4 for insulation.

【0013】各コンデンサ素子21、22は導電性接着
剤16を以て接着され、この実施例の場合、2つのコン
デンサ素子21、22から成る積層体としてのコンデン
サが構成されている。この実施例では、2つのコンデン
サ素子21、22を積層しているが、3以上のコンデン
サ素子21、22・・・・2nを積層して一つのコンデ
ンサを構成してもよい。
Each of the capacitor elements 21 and 22 is adhered with a conductive adhesive 16, and in the case of this embodiment, a capacitor as a laminated body composed of two capacitor elements 21 and 22 is formed. In this embodiment, two capacitor elements 21 and 22 are laminated, but three or more capacitor elements 21, 22 ... 2n may be laminated to form one capacitor.

【0014】そして、このコンデンサでは、図3に示す
ように、外部端子として陽極端子32及び陰極端子34
が取り付けられており、各陽極端子32及び陰極端子3
4には面実装の便宜から接続面を平坦にする工夫が施さ
れている。即ち、陽極端子32及び陰極端子34はコン
デンサを両端面側から挟み込むようにC字形を成してい
るが、陰極端子34側には接続面側に突部36が形成さ
れている。そして、陽極端子32は、コンデンサ素子2
1の電極板2の上面に導電性接着剤38を以て接続さ
れ、また、陰極端子34はコンデンサ素子22の導電性
高分子層10に導電性接着剤40を以て接続され、陽極
端子32とコンデンサ素子21、22の端面側及び陰極
端子34に重ねられる部分には絶縁性樹脂等で絶縁層4
2が、また、同様に陰極端子34側にはコンデンサ素子
22側の端面及び導電性高分子層10側に絶縁性樹脂等
で絶縁層42が設置され、陽極端子32と導電性高分子
層10との絶縁、陰極端子34と電極板2との絶縁が確
保されているとともに、面実装のための接続面のフラッ
ト化が図られている。
In this capacitor, as shown in FIG. 3, the anode terminal 32 and the cathode terminal 34 are used as external terminals.
Attached, each anode terminal 32 and cathode terminal 3
For convenience of surface mounting, 4 is devised so that the connection surface is flat. That is, the anode terminal 32 and the cathode terminal 34 are C-shaped so as to sandwich the capacitor from both end surfaces, but the projection 36 is formed on the connection surface side on the cathode terminal 34 side. The anode terminal 32 is connected to the capacitor element 2
1 is connected to the upper surface of the electrode plate 2 with a conductive adhesive 38, the cathode terminal 34 is connected to the conductive polymer layer 10 of the capacitor element 22 with a conductive adhesive 40, and the anode terminal 32 and the capacitor element 21 are connected. , 22 on the end face side and on the portion to be overlapped with the cathode terminal 34 with an insulating resin or the like.
Similarly, an insulating layer 42 made of an insulating resin or the like is provided on the end face on the side of the capacitor element 22 on the side of the cathode terminal 34 and on the side of the conductive polymer layer 10 in the same manner. And insulation between the cathode terminal 34 and the electrode plate 2 are ensured, and the connection surface for surface mounting is flattened.

【0015】このように構成すれば、各コンデンサ素子
21、22が積層されて直列に接続されるとともに、定
電圧素子14が各コンデンサ21、22毎に並列に接続
される。したがって、このコンデンサの等価回路は、図
4に示すようになる。
According to this structure, the capacitor elements 21 and 22 are laminated and connected in series, and the constant voltage element 14 is connected in parallel to each of the capacitors 21 and 22. Therefore, the equivalent circuit of this capacitor is as shown in FIG.

【0016】図4において、C1 、C2 は各コンデンサ
素子21、22の静電容量、R1 、R2 は各コンデンサ
素子21、22の絶縁抵抗である。したがって、合成静
電容量Cは、C=C1 ・C2 /(C1 +C2 )=Ci/
2(ただしCi=C1 =C2 とする)となる。
In FIG. 4, C 1 and C 2 are capacitances of the capacitor elements 21 and 22, and R 1 and R 2 are insulation resistances of the capacitor elements 21 and 22. Therefore, the combined capacitance C is C = C 1 · C 2 / (C 1 + C 2 ) = Ci /
2 (where Ci = C 1 = C 2 ).

【0017】また、各コンデンサ素子21、22の耐圧
をE1 、E2 とすると、コンデンサの耐圧Eは、E=E
1 +E2 となり、E1 =E2 =Eiとすると、E=2E
i(=2E1 =2E2 )となり、コンデンサ素子の積層
数nに比例して増強されることになる。したがって、こ
のようにコンデンサ素子21、22を多段構成とすれ
ば、コンデンサ素子21、22・・・の積層段数に応じ
て高耐圧化が図られることになる。
If the breakdown voltage of each capacitor element 21 and 22 is E 1 and E 2 , the breakdown voltage E of the capacitor is E = E
If 1 + E 2 and E 1 = E 2 = Ei, then E = 2E
i (= 2E 1 = 2E 2 ), which is increased in proportion to the number n of laminated capacitor elements. Therefore, if the capacitor elements 21 and 22 have a multi-stage configuration in this way, a high breakdown voltage can be achieved according to the number of stacked layers of the capacitor elements 21, 22 ...

【0018】ところで、各コンデンサ素子21、22の
誘電体酸化皮膜8及び導電性高分子層10で形成される
絶縁抵抗R1 、R2 は微妙に異なり(R1 ≠R2 )、各
絶縁抵抗R1 、R2 を理想的な値として均一化すること
は困難であり、積層されたコンデンサ素子21、22で
のバランスを取ることは不可能である。そして、絶縁抵
抗R1 、R2 が異なる場合には、コンデンサ素子21、
22毎の分圧値E1 、E2 が相違したものとなり、両者
の差が大きい場合には各コンデンサ素子21、22に絶
縁破壊等の不都合を生じさせる。このような不都合を防
止するために、各コンデンサ素子21、22毎に並列に
定電圧素子14を付加したものであり、D1 、D2 は各
コンデンサ素子21、22に付加された定電圧素子14
を示している。このようにコンデンサ素子21、22に
個別に接続されている定電圧素子D1 、D2 によってコ
ンデンサ素子21、22の絶縁破壊が効果的に防止さ
れ、コンデンサ素子21、22の積層による高耐圧化が
実現される。
By the way, the insulation resistances R 1 and R 2 formed by the dielectric oxide film 8 and the conductive polymer layer 10 of the capacitor elements 21 and 22 are slightly different (R 1 ≠ R 2 ), and the insulation resistances are different. It is difficult to make R 1 and R 2 uniform as ideal values, and it is impossible to balance the stacked capacitor elements 21 and 22. When the insulation resistances R 1 and R 2 are different, the capacitor element 21,
The divided voltage values E 1 and E 2 for each 22 are different, and when the difference between the two is large, the capacitor elements 21 and 22 cause inconvenience such as dielectric breakdown. In order to prevent such an inconvenience, a constant voltage element 14 is added in parallel for each capacitor element 21 and 22, and D 1 and D 2 are constant voltage elements added to each capacitor element 21 and 22. 14
Is shown. Thus, the constant voltage elements D 1 and D 2 that are individually connected to the capacitor elements 21 and 22 effectively prevent the dielectric breakdown of the capacitor elements 21 and 22, and increase the breakdown voltage by stacking the capacitor elements 21 and 22. Is realized.

【0019】次に、図5は、本発明のコンデンサの他の
実施例を示している。この実施例では、積層すべきコン
デンサ素子21、22の積層面側、即ち、コンデンサ素
子21の容量形成面4の裏側に導電性高分子層20を被
着させ、その上に導電性接着剤16を設置してコンデン
サ素子22の導電性高分子層10側を積層させたもので
ある。
Next, FIG. 5 shows another embodiment of the capacitor of the present invention. In this embodiment, the conductive polymer layer 20 is applied to the laminated surface side of the capacitor elements 21 and 22 to be laminated, that is, the back surface of the capacitance forming surface 4 of the capacitor element 21, and the conductive adhesive 16 is applied thereon. Is installed and the conductive polymer layer 10 side of the capacitor element 22 is laminated.

【0020】このように各コンデンサ素子21、22の
間に導電性高分子層20を介在させた場合、コンデンサ
の等価回路は図6のようになる。即ち、このコンデンサ
では、この導電性高分子層20による絶縁抵抗Roが加
わることになり、より高耐圧化が図られる。即ち、この
抵抗Roによる分圧値をEoとすると、このコンデンサ
の耐圧Eは、E=E1 +E2 +Eoとなり、E1 =E2
=Eiとすると、E=2Ei(=2E1 =2E2 )+E
oとなり、コンデンサ素子21、22・・・の積層数n
及び導電性高分子層20の介在数に応じて増強され、よ
り高耐圧化が図られることになる。この場合、各コンデ
ンサ素子21、22の合成静電容量Cは、C=C1 ・C
2 /(C1 +C2 )=Ci/2となり、前記実施例と同
様である。
When the conductive polymer layer 20 is interposed between the capacitor elements 21 and 22 as described above, the equivalent circuit of the capacitor is as shown in FIG. That is, in this capacitor, the insulation resistance Ro due to the conductive polymer layer 20 is added, and a higher breakdown voltage is achieved. That is, assuming that the divided voltage value by the resistor Ro is Eo, the withstand voltage E of this capacitor is E = E 1 + E 2 + Eo, and E 1 = E 2
= Ei, E = 2Ei (= 2E 1 = 2E 2 ) + E
o, and the number of stacked capacitor elements 21, 22, ...
In addition, the withstand voltage is increased in accordance with the number of interpositions of the conductive polymer layer 20, and a higher breakdown voltage is achieved. In this case, the combined capacitance C of the capacitor elements 21 and 22 is C = C 1 · C
2 / (C 1 + C 2 ) = Ci / 2, which is the same as in the above embodiment.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
次の効果が得られる。 a.コンデンサ素子を任意の段数だけ積層してコンデン
サ素子の段数に比例した高耐圧化を実現できるととも
に、小型のコンデンサを提供でき、また、積層された各
コンデンサ素子には定電圧素子が並列化されているの
で、各コンデンサ素子の絶縁抵抗の不均等による絶縁破
壊を確実に防止でき、安定した信頼性の高いコンデンサ
を提供できる。 b.積層されたコンデンサ素子の間に導電性高分子層を
介在させれば、その導電性高分子層のよる絶縁抵抗が加
わってより高耐圧化を実現できる。 c.導電性高分子層をポリピロール、ポリアニリン、ポ
リチオフェンの何れかで構成すれば、必要な特性を備
え、かつ信頼性の高いコンデンサを実現することができ
る。
As described above, according to the present invention,
The following effects are obtained. a. The capacitor elements can be stacked in any number of stages to achieve high withstand voltage in proportion to the number of capacitor elements, and a small capacitor can be provided.A constant voltage element is provided in parallel with each stacked capacitor element. Therefore, it is possible to reliably prevent dielectric breakdown due to uneven insulation resistance of each capacitor element, and to provide a stable and highly reliable capacitor. b. If a conductive polymer layer is interposed between the laminated capacitor elements, the insulation resistance of the conductive polymer layer is added, and a higher breakdown voltage can be realized. c. If the conductive polymer layer is made of any one of polypyrrole, polyaniline, and polythiophene, a capacitor having necessary characteristics and high reliability can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のコンデンサの実施例を示す斜視図であ
る。
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a capacitor of the present invention.

【図2】図1に示したコンデンサの縦断面図である。FIG. 2 is a vertical cross-sectional view of the capacitor shown in FIG.

【図3】図1に示したコンデンサに外部端子を取り付け
た縦断面図である。
FIG. 3 is a vertical cross-sectional view in which external terminals are attached to the capacitor shown in FIG.

【図4】図1に示したコンデンサの等価回路を示す回路
図である。
4 is a circuit diagram showing an equivalent circuit of the capacitor shown in FIG.

【図5】本発明のコンデンサの他の実施例を示す縦断面
図である。
FIG. 5 is a vertical sectional view showing another embodiment of the capacitor of the present invention.

【図6】図5に示したコンデンサの等価回路を示す回路
図である。
6 is a circuit diagram showing an equivalent circuit of the capacitor shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 電極板 8 誘電体酸化皮膜 10 導電性高分子層 12 導電性接着剤 14 定電圧素子 20 導電性高分子層 21、22 コンデンサ素子 2 Electrode Plate 8 Dielectric Oxide Film 10 Conductive Polymer Layer 12 Conductive Adhesive 14 Constant Voltage Element 20 Conductive Polymer Layer 21, 22 Capacitor Element

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電極板の一方の面に、誘電体酸化皮膜を
形成するとともに定電圧素子を設置し、かつ、前記誘電
体酸化皮膜の上に導電性高分子層を被着させて積層すべ
きコンデンサ素子とし、2以上の前記コンデンサ素子を
導電性接着剤を介在させて積層させたことを特徴とする
コンデンサ。
1. A dielectric oxide film is formed on one surface of an electrode plate, a constant voltage element is installed, and a conductive polymer layer is deposited on the dielectric oxide film and laminated. A capacitor, wherein the capacitor element is a power element, and two or more of the capacitor elements are laminated with a conductive adhesive interposed.
【請求項2】 積層した前記コンデンサ素子の間に導電
性高分子層を介在させたことを特徴とする請求項1記載
のコンデンサ。
2. The capacitor according to claim 1, wherein a conductive polymer layer is interposed between the laminated capacitor elements.
【請求項3】 前記導電性高分子層は、ポリピロール、
ポリアニリン、ポリチオフェンの何れかで構成したこと
を特徴とする請求項1記載のコンデンサ。
3. The conductive polymer layer is polypyrrole,
The capacitor according to claim 1, wherein the capacitor is made of either polyaniline or polythiophene.
JP35268691A 1991-12-16 1991-12-16 Capacitor Pending JPH05166682A (en)

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