JPH0486614A - Illuminating device for microscope - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は顕微鏡の照明装置に係り、特に複数の照明方式
による交互照明または同時照明可能な顕微鏡用照明装置
に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a microscope illumination device, and more particularly to a microscope illumination device capable of alternate illumination or simultaneous illumination using a plurality of illumination methods.
従来より、顕微鏡観察における標本の照明方式として、
標本からの反射光を観察するための落射照明法や標本の
透過光を観察するための透過照明法が知られており、各
照明法は、さらに明視野照明、暗視野照明1位相差照明
、偏向照明、蛍光照明、微分干渉照明等に分類される。Traditionally, as a method for illuminating specimens during microscopic observation,
Epi-illumination methods for observing reflected light from a specimen and transmitted illumination methods for observing transmitted light from a specimen are known, and each illumination method further includes bright-field illumination, dark-field illumination, phase contrast illumination, It is classified into polarized illumination, fluorescent illumination, differential interference illumination, etc.
顕微鏡観察される標本を照明するための照明装置の中に
は、これら複数の照明方式を併用可能にしたものが考え
られている。Some illumination devices for illuminating specimens to be observed under a microscope are capable of using a plurality of these illumination methods in combination.
複数の照明方式を併用する併用照明には、一つの標本に
対して複数の照明法で選択的に交互に観察する場合と、
複数の照明法で同時照明する場合がある。例えば、落射
明視野照明と落射暗視野照明の併用照明を使用する例と
しては、ICウェハの表面検査等があげられる。これは
、ウェハのパターンに応じて落射明視野照明による直接
反射光の観察と、落射暗視野照明による散乱反射光の観
察を使い分けることにより検査精度および検査の作業性
の向上を図ることかできる。また、落射蛍光照明と透過
位相差照明の併用を適用する例としては、培養細胞の観
察が挙げられる。これは、落射蛍光照明によって蛍光色
素に染まった細胞の核を観察し、透過位相差照明によっ
て細胞の輪郭(細胞膜)を明確に観察でき、両者の位置
を明確に分離して観察することができる。Combined illumination that uses multiple illumination methods includes selectively and alternately observing a single specimen using multiple illumination methods;
Simultaneous lighting may be performed using multiple lighting methods. For example, an example of using a combination of epi-illuminated bright-field illumination and epi-illuminated dark-field illumination is surface inspection of an IC wafer. This can improve inspection accuracy and inspection workability by selectively using observation of direct reflected light using epi-illuminated bright-field illumination and observation of scattered reflected light using epi-illuminated dark-field illumination depending on the wafer pattern. Furthermore, an example of applying the combination of epifluorescence illumination and transmitted phase contrast illumination is observation of cultured cells. This allows the observation of cell nuclei stained with fluorescent dyes using epifluorescence illumination, and the clear observation of cell outlines (cell membranes) using transmitted phase contrast illumination, making it possible to clearly separate and observe the positions of both. .
この様な併用照明を可能とした照明装置の光学系を第5
図および第6図に示す。The optical system of the illumination device that enables this kind of combined illumination is the fifth
As shown in FIG.
第5図に示す照明装置は、落射明視野照明と落射暗視野
照明の併用照明を実現した装置である。The illumination device shown in FIG. 5 is an apparatus that realizes combined illumination of epi-illuminated bright-field illumination and epi-illuminated dark-field illumination.
この照明装置は、一つの光源1から放射された光束の中
心付近の光束を明視野照明に用い、周辺のリング状光束
を暗視野照明に用いている。そのため、明視野照明を行
う場合は、光源1から放射された光束を対物レンズ2と
接眼レンズ3との光路上に配置されたハーフミラ−4に
入射させ、ここで反射した光束を、対物レンズ2に入射
させて標本Sを明視野照明する。また、暗視野照明を行
う場合は、中心部に穴が形成されたリング状の穴あきミ
ラー5をハーフミラ−4と切換えて配置し、光源から放
射された光束のうちの中心部付近の光束を透過させて周
辺部の光束のみを反射させて対物レンズ2に入射させ、
標本Sを暗視野照明する。This illumination device uses a luminous flux near the center of a luminous flux emitted from one light source 1 for bright-field illumination, and uses a peripheral ring-shaped luminous flux for dark-field illumination. Therefore, when bright-field illumination is performed, the light beam emitted from the light source 1 is made incident on the half mirror 4 arranged on the optical path between the objective lens 2 and the eyepiece lens 3, and the light beam reflected here is transmitted to the objective lens 2. bright-field illumination of the specimen S. In addition, when performing dark field illumination, a ring-shaped perforated mirror 5 with a hole formed in the center is placed in place of the half mirror 4, and the luminous flux near the center of the luminous flux emitted from the light source is The light beam is transmitted and only the peripheral part of the light beam is reflected and made to enter the objective lens 2.
The specimen S is illuminated with dark field illumination.
ハーフミラ−4と穴あきミラー5の切換えは、別途設け
られる専用の切換機構によって行われる。Switching between the half mirror 4 and the perforated mirror 5 is performed by a dedicated switching mechanism provided separately.
また、落射照明と透過照明を併用可能にした照明装置を
第6図に示す。Further, FIG. 6 shows an illumination device that enables both epi-illumination and transmitted illumination.
この照明装置は、光源1から放射されコレクタレンズ1
0で集光された光束がハーフミラ−11で反射光と透過
光とに分離される。ハーフミラ−11で反射された光束
は、ミラー12で反射されて接眼レンズ13と対物レン
ズ14との光軸上に配置されたハーフミラ−15に入射
される。そして、このハーフミラ−15で反射された光
が対物レンズ14に入射して標本Sを落射照明する。This illumination device emits light from a light source 1 and a collector lens 1.
The light beam focused at 0 is separated by a half mirror 11 into reflected light and transmitted light. The light beam reflected by the half mirror 11 is reflected by the mirror 12 and enters the half mirror 15 arranged on the optical axis of the eyepiece lens 13 and the objective lens 14. The light reflected by this half mirror 15 enters the objective lens 14 to epi-illuminate the sample S.
方、ハーフミラ−11で透過した光束は、ミラー16で
反射されて、標本Sを裏面より透過照射して、その透過
光か対物レンズ14に入射して接眼レンズ13にて観察
される。On the other hand, the light beam transmitted by the half mirror 11 is reflected by the mirror 16 and illuminates the specimen S from the back surface, and the transmitted light enters the objective lens 14 and is observed by the eyepiece lens 13.
しかしながら上述した照明装置のように、照明方式に応
して照明光路を切換えるための切換え機構を必要とする
場合には、構成が複雑なものとなり、コスト高になると
いった問題がある。しがも、切換え機構が必要となる場
合には、切換え機構によって各種照明を同時照明できな
いという不都合が生じる。However, when a switching mechanism is required to switch the illumination optical path according to the lighting method, as in the above-mentioned lighting device, the structure becomes complicated and the cost increases. However, if a switching mechanism is required, there is a problem that the switching mechanism cannot simultaneously illuminate various types of lights.
また、第6図に示すように、複数のハーフミラ−11,
15によって光路分割しているため、十分な照明光量を
得ることができず、良好な顕微鏡観察を行う上で障害と
なる可能性があった。Further, as shown in FIG. 6, a plurality of half mirrors 11,
Since the optical path is divided by 15, it is not possible to obtain a sufficient amount of illumination light, which may become an obstacle to good microscopic observation.
本発明は以上のような実情に鑑みてなされたもので、簡
単な構成で異なる照明方式による交互照明や同時照明を
行うことができ、しがち十分な照明光量を得ることがで
きる顕微鏡用照明装置を提供することを目的とする。The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and provides a microscope illumination device that has a simple configuration, can perform alternate illumination or simultaneous illumination using different illumination methods, and can easily obtain a sufficient amount of illumination light. The purpose is to provide
上記目的を達成する為に本発明における顕微鏡用照明装
置は、顕微鏡観察される標本を、複数の照明方式によっ
て交互照明または同時照明する顕微鏡用照明装置におい
て、使用される複数の照明方式に対応して光源の周囲に
夫々配置された複数の集光部材と、前記各集光部材で集
光された光束をそれぞれ照明光として前記標本まで導く
複数の照明光路と、前記各照明光路を適宜遮光する複数
の光路遮光手段とを具備してなるものである。In order to achieve the above object, a microscope illumination device according to the present invention is compatible with a plurality of illumination methods used in a microscope illumination device that alternately or simultaneously illuminates a specimen to be observed under a microscope using a plurality of illumination methods. a plurality of light condensing members arranged around the light source, a plurality of illumination optical paths each guiding the light beams condensed by the light condensing members to the specimen as illumination light, and each of the illumination light paths being appropriately shielded from light. It is equipped with a plurality of optical path blocking means.
本発明は以上のような手段を講じたことにより、複数の
照明光路の中から任意の照明光路を選択して他の照明光
路は光路遮光手段によって遮光することにより、任意の
照明方式による照明が行われる。また、任意の二つの照
明光路を選択して他の照明光路は遮光することにより同
時照明が可能となる。よって、光源からの光を複数の照
明光路に分割しないため、十分な光量を得ることができ
る。By taking the above measures, the present invention selects an arbitrary illumination optical path from a plurality of illumination optical paths and blocks the other illumination optical paths with the optical path shading means, so that illumination by any illumination method can be performed. It will be done. Furthermore, simultaneous illumination is possible by selecting any two illumination optical paths and blocking the other illumination optical paths. Therefore, since the light from the light source is not divided into a plurality of illumination optical paths, a sufficient amount of light can be obtained.
また、所定の照明光路を遮るだけで、任意の照明方式を
用いることができるので、ハーフミラ−と穴あきミラー
を切換えるための切換え機構が必要なくなり構成が簡略
化される。Further, since any illumination method can be used by simply blocking a predetermined illumination optical path, there is no need for a switching mechanism for switching between a half mirror and a perforated mirror, simplifying the configuration.
以下、本発明の実施例について説明する。 Examples of the present invention will be described below.
本発明の第1実施例として、顕微鏡の落射明視野照明と
落射暗視野照明を併用した照明装置について説明する。As a first embodiment of the present invention, an illumination device that uses both epi-illuminated bright-field illumination and epi-illuminated dark-field illumination of a microscope will be described.
第1図は第1実施例を示す図である。同図に示す符号2
0はランプハウスである。このランプハウス20内には
、例えばハロゲンランプからなる光源21と、この光源
21の周囲に配置された2つのコレクタレンズ22.2
3とが配置されている。さらにランプハウス20には、
遮光手段としてのセクター24が光源21とコレクタレ
ンズ22の間に挿脱可能に設けられ、セクター25か光
源21とコレクタレンズ23との間に挿脱可能に設けら
れている。なお、各セクター24.25が光源20と各
コレクタレンズ24.25との間に挿入された状態では
、各々対応するコレクタレンズ24.25への光の入射
は遮られる。FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment. Code 2 shown in the same figure
0 is the lamp house. Inside the lamp house 20, there is a light source 21 made of, for example, a halogen lamp, and two collector lenses 22.2 arranged around the light source 21.
3 are arranged. Furthermore, in lamp house 20,
A sector 24 serving as a light shielding means is removably installed between the light source 21 and the collector lens 22, and a sector 25 is removably installed between the light source 21 and the collector lens 23. Note that when each sector 24.25 is inserted between the light source 20 and each collector lens 24.25, the incidence of light to each corresponding collector lens 24.25 is blocked.
コレクタレンズ22は明視野照明の照明開口数に必要な
径を有している。このコレクタレンズ22は明視野照明
光路の入射端となっていて、コレクタレンズ22で集光
された光束は、ケーラー照明を実現するための照明レン
ズ群26に入射される。このレンズ群26の出射端には
、ハーフミラ−27が対向配置されている。ハーフミラ
−27は、顕微鏡の明視野コンデンサレンズ28と接眼
レンズ29との光軸上に配置されていて、レンズ群26
からの光束の反射成分が明視野コンデンサレンズ28に
入射するように配置されている。The collector lens 22 has a diameter necessary for the illumination numerical aperture of bright field illumination. This collector lens 22 serves as an incident end of a bright-field illumination optical path, and the light beam condensed by the collector lens 22 is incident on an illumination lens group 26 for realizing Koehler illumination. A half mirror 27 is arranged opposite to the exit end of this lens group 26. The half mirror 27 is arranged on the optical axis of the bright field condenser lens 28 and the eyepiece lens 29 of the microscope, and
The bright field condenser lens 28 is arranged such that a reflected component of the luminous flux from the bright field condenser lens 28 enters the bright field condenser lens 28.
一方、コレクタレンズ23は暗視野照明の照明開口数に
必要な径を有している。このコレクタレンズ23は暗視
野照明光路の入射端となっていて、光源21から放射さ
れる光をライトガイド30の入射端に集光している。ラ
イトガイド30の出射端はリング状に形成されていて、
集光作用のあるリング状レンズ32に対向配置されてい
る。リング状レンズ32は、対物レンズ33の一端に配
置されていて、対物レンズ33内の他端近傍に設けられ
た暗視野ミラー34に暗視野照明光を入射せしめる如く
作用する。暗視野ミラー34は、観察視野と対物レンズ
33の開口数に応じて必要な照明が確保できるように形
成されていて、入射した暗視野照明光が標本S上に投射
されるように調整されている。On the other hand, the collector lens 23 has a diameter necessary for the illumination numerical aperture of dark field illumination. The collector lens 23 serves as the incident end of the dark-field illumination optical path, and focuses the light emitted from the light source 21 onto the incident end of the light guide 30. The output end of the light guide 30 is formed in a ring shape,
It is arranged opposite to a ring-shaped lens 32 that has a light-condensing function. The ring-shaped lens 32 is disposed at one end of the objective lens 33 and acts to cause dark-field illumination light to enter a dark-field mirror 34 provided near the other end within the objective lens 33. The dark field mirror 34 is formed to ensure the necessary illumination according to the observation field and the numerical aperture of the objective lens 33, and is adjusted so that the incident dark field illumination light is projected onto the specimen S. There is.
標本Sの反射光は明視野コンデンサレンズ28を通って
ハーフミラ−27に入射する。ハーフミラ−27を透過
した光は、結像レンズ35.鏡筒プリズム36を介して
接眼レンズ29に導かれる。The reflected light from the sample S passes through the bright field condenser lens 28 and enters the half mirror 27. The light transmitted through the half mirror 27 passes through the imaging lens 35. The light is guided to the eyepiece lens 29 via the barrel prism 36.
次に、この様に構成された照明装置の作用について説明
する。Next, the operation of the lighting device configured in this way will be explained.
落射明視野照明を行う場合は、セクター25を光源21
とコレクタレンズ23との間に挿入して、光源21から
の光が暗視野照明光路に入射するのを遮蔽し、かつセク
ター24を光源21とコレクタレンズ22との間から抜
去する。その結果、光源21から放射された光は落射明
視野照明光路の入射端となるコレクタレンズ22のみに
入射し、ケーラー照明を達成する照明レンズ群26及び
ハーフミラ−27によって、光源21の像が明視野コン
デンサレンズ28の瞳に投影され、標本Sが落射明視野
照明される。When performing epi-illuminated bright field illumination, the sector 25 is connected to the light source 21.
The sector 24 is inserted between the light source 21 and the collector lens 23 to block the light from the light source 21 from entering the dark-field illumination optical path, and the sector 24 is removed from between the light source 21 and the collector lens 22. As a result, the light emitted from the light source 21 enters only the collector lens 22, which is the incident end of the incident bright field illumination optical path, and the image of the light source 21 is brightened by the illumination lens group 26 and half mirror 27 that achieve Koehler illumination. The light is projected onto the pupil of the field condenser lens 28, and the specimen S is illuminated by epi-illuminated bright field illumination.
落射暗視野照明する場合は、セクター24゜25の設定
を落射明視野照明の場合と逆にする。When using epi-illumination dark-field illumination, the settings of sectors 24 and 25 are reversed to those for epi-illumination bright-field illumination.
これによって、光源21の光がコレクタレンズ23で集
光されて、コレクタレンズ23の後ろ偏集光点付近にそ
の入射端が配置されたライトガイド30に入射する。そ
して、このライトガイド30のリング状出射端31より
出射した光はリング状レンズ32で集光されて、暗視野
ミラー34に投射される。この暗視野ミラー34で偏向
され、集光された暗視野照明光によって標本Sが落射暗
視野照明される。As a result, the light from the light source 21 is focused by the collector lens 23 and enters the light guide 30 whose incident end is disposed near the rear polarized light focusing point of the collector lens 23 . The light emitted from the ring-shaped output end 31 of the light guide 30 is condensed by the ring-shaped lens 32 and projected onto the dark field mirror 34. The specimen S is subjected to epi-dark field illumination by the dark field illumination light that is deflected and condensed by the dark field mirror 34 .
前記落射明視野照明では標本Sからの直接反射光が、ま
た落射暗視野照明では散乱光が、各々明視野コンデンサ
レンズ28を通り、ハーフミラ−27、結像レンズ35
.鏡筒プリズム36を通った後、結像されて接眼レンズ
29で観察される。In the epi-illuminated bright-field illumination, the direct reflected light from the specimen S, and in the epi-illuminated dark-field illumination, the scattered light passes through the bright-field condenser lens 28, the half mirror 27, and the imaging lens 35.
.. After passing through the lens barrel prism 36, the image is formed and observed through the eyepiece lens 29.
また、セクター24及び25を同時に抜去することによ
り、同時照明が可能となる。Furthermore, simultaneous illumination is possible by removing sectors 24 and 25 at the same time.
この様に本実施例によれば、光源21から放射された光
を、光源21の周囲に配置されたコレクタレンズ22.
23によって#ヰ直接各照明光路毎に取込んでいるので
、十分な照明光量を得ることができ、特に暗視野照明時
の明るさを大幅に改善でき、顕微鏡の観察能力を向上さ
せることができる。また、セクター22.23を選択的
に挿脱することによって、落射明視野照明と落射暗視野
照明を交互照明および同時照明することができる。As described above, according to this embodiment, the light emitted from the light source 21 is transmitted to the collector lens 22 disposed around the light source 21.
By #23, the illumination is directly taken in for each illumination optical path, so it is possible to obtain a sufficient amount of illumination light, and in particular, the brightness during dark field illumination can be greatly improved, and the observation ability of the microscope can be improved. . Further, by selectively inserting and removing the sectors 22 and 23, epi-illuminated bright-field illumination and epi-illuminated dark-field illumination can be alternately or simultaneously illuminated.
よって、ハーフミラ−と穴あきミラーとを切換えるため
の複雑な切換え機構を設ける必要がなくなり、交互照明
および同時照明を簡単な構成で実現できる。Therefore, there is no need to provide a complicated switching mechanism for switching between the half mirror and the perforated mirror, and alternate illumination and simultaneous illumination can be realized with a simple configuration.
また、半導体検査において、ウェハ像の最適なコントラ
ストを得る照明方式はウェハの回路パターンによってそ
れぞれ異なる。そこで、本実施例を半導体検査装置であ
るプロパーに適用すれば、明視野照明と暗視野照明の交
互照明および同時照明が可能であることから、明視野照
明と暗視野照明を切換えて画像処理することにより最適
な照明方式を選択でき、ウェハの位置出しや表面検査の
処理時間を短縮できる。しかも、明視野照明と暗視野照
明の同時照明か可能であることから、セラミック等の低
反射率標本の表面形状やキズの検出かコントラストよく
観察できる。Furthermore, in semiconductor inspection, the illumination method for obtaining the optimum contrast of a wafer image differs depending on the circuit pattern of the wafer. Therefore, if this embodiment is applied to Proper, which is a semiconductor inspection device, it is possible to perform alternate illumination and simultaneous illumination of bright field illumination and dark field illumination, so image processing can be performed by switching between bright field illumination and dark field illumination. This makes it possible to select the optimal illumination method and shorten processing time for wafer positioning and surface inspection. Furthermore, since simultaneous bright-field and dark-field illumination is possible, it is possible to observe the surface shape and flaws of low-reflectance specimens such as ceramics with good contrast.
尚、上記実施例において、ハーフミラ−27をダイクロ
イックミラーに換えて落射蛍光照明とすることによって
、落射蛍光照明と落射暗視野照明との同時照明が可能と
なる。そのため、半導体ウェハ表面のレジスト汚染検査
の際に、レジストの蛍光像にICパターン部の暗視野像
を重ね合わせて同時観察することができる。よって、従
来、暗い観察視野の中に蛍光像しか見ることのできなか
った不便さを解消することができる。In the above embodiment, by replacing the half mirror 27 with a dichroic mirror and using epi-fluorescent illumination, simultaneous illumination with epi-fluorescent illumination and epi-illuminated dark-field illumination becomes possible. Therefore, when inspecting the resist contamination on the surface of a semiconductor wafer, the fluorescent image of the resist and the dark field image of the IC pattern portion can be superimposed and observed simultaneously. Therefore, it is possible to eliminate the inconvenience of conventionally being able to see only fluorescent images in a dark observation field.
なお、セクター24.25の切換えを電動化することで
、明視野照明と暗視野照明の高速切換えが可能となる。Note that by electrifying the switching of sectors 24 and 25, high-speed switching between bright field illumination and dark field illumination becomes possible.
明視野照明と暗視野照明の電動切換え機構を第2図に示
す。ステッピングモータあるいはロータリエンコーダー
を内蔵したDCモータ40の回転軸41に2枚の回転板
42.43が所定距離離間した状態で対向配置されてい
る。各回転板42゜43には互いに180度ずれた位置
に開口44゜45が形成されていて、両回転板42.4
3間に光源21が配置され、各回転板42.43を挟ん
でコレクタレンズ22.23が位置している。Figure 2 shows the electric switching mechanism between bright field illumination and dark field illumination. Two rotating plates 42 and 43 are disposed facing each other at a predetermined distance from a rotating shaft 41 of a DC motor 40 having a built-in stepping motor or rotary encoder. Openings 44° 45 are formed in each rotary plate 42.4 at positions 180 degrees apart from each other, and both rotary plates 42.4
The light source 21 is placed between the three rotating plates 42, 43, and the collector lenses 22, 23 are placed with each rotary plate 42, 43 in between.
この様な構成において、回転軸41を回転させることに
よって、光源21とコレクタレンズ22゜23間の光路
の開閉が順次切り替えられ、高速切換えが可能となる。In such a configuration, by rotating the rotation shaft 41, the opening and closing of the optical path between the light source 21 and the collector lenses 22 and 23 is sequentially switched, and high-speed switching is possible.
回転軸41に同期した信号により、照明光路の開閉とT
Vカメラへの画像信号の取り込みタイミングを得ること
ができる。A signal synchronized with the rotation axis 41 opens and closes the illumination optical path and
It is possible to obtain the timing for capturing image signals into the V camera.
次に、本発明の第2実施例として、落射明視野照明と透
過明視野照明の併用照明を可能とする照明装置について
説明する。Next, as a second embodiment of the present invention, an illumination device that enables combined illumination of epi-illuminated bright-field illumination and transmitted bright-field illumination will be described.
第3図は第2実施例の照明装置を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a lighting device according to a second embodiment.
なお、第1図に示す装置と同一機能の部分には同一符号
を付している。Note that parts having the same functions as those of the apparatus shown in FIG. 1 are given the same reference numerals.
本実施例における落射明視野照明の光学系は前記第1実
施例と同様であるので、ここでは透過明視野照明のため
の構成についてのみ詳しく説明する。光源21の周囲に
配置された一方のコレクタレンズ23は、透過明視野照
明光路の入射端とされる。コレクタレンズ23で集光さ
れた光束はライトガイド50の一端に入射される。ライ
トガイド50の出射端にはコレクタレンズ51が配置さ
れている。このコレクタレンズ51の出射側には照明レ
ンズ52か配置され、照明レンズ52を通った光束は、
その光軸上に配置されたミラー53によってコンデンサ
レンズ56に入射される。コンデンサレンズ56は光束
を透過明視野照明光として、標本Sの裏面より照明する
。Since the optical system for epi-illuminated bright-field illumination in this embodiment is the same as that in the first embodiment, only the configuration for transmitted bright-field illumination will be described in detail here. One collector lens 23 disposed around the light source 21 serves as an incident end of the transmission bright field illumination optical path. The light beam collected by the collector lens 23 is incident on one end of the light guide 50. A collector lens 51 is arranged at the output end of the light guide 50. An illumination lens 52 is arranged on the output side of the collector lens 51, and the light flux passing through the illumination lens 52 is
The light is incident on a condenser lens 56 by a mirror 53 placed on its optical axis. The condenser lens 56 illuminates the specimen S from the back surface by using the luminous flux as transmitted bright-field illumination light.
この様な本実施例によれば、落射、透過各照明に際して
、各照明の光はそれぞれ光源21から各々直接取込んで
いるため、従来よりある落射明視野照明と透過明視野照
明の併用照明装置のように光源からの光束を分割する必
要がなくなり、十分な照明光量を得ることができる。本
実施例は、十分な照明光量の基で落射明視野照明と透過
明視野照明の同時照明ができることから、組織標本のバ
ックに色付けして写真撮影する場合や、半透過標本をコ
ントラスト良く観察場合に特に効果的である。According to this embodiment, since the light of each illumination is directly taken in from the light source 21 in epi-illumination and transmitted illumination, it is possible to use a conventional illumination device that combines epi-illumination bright field illumination and transmitted bright field illumination. There is no need to divide the luminous flux from the light source as in , and a sufficient amount of illumination light can be obtained. This example enables simultaneous illumination of epi-illuminated bright field illumination and transmitted bright field illumination with sufficient illumination light intensity, so it can be used when photographing tissue specimens with colored backgrounds or when observing semi-transparent specimens with good contrast. It is particularly effective.
なお、上記実施例では透過明視野照明光を標本Sに導く
のにライトガイド50を用いた例を示したが、この様な
光学部材に限定されることなく、例えばミラーやリレー
レンズを組み合わせた構成であっても良い。In addition, in the above embodiment, an example was shown in which the light guide 50 was used to guide the transmitted bright field illumination light to the specimen S, but the light guide 50 is not limited to such an optical member, and for example, a mirror or a relay lens may be combined. It may be a configuration.
次に、本発明の第3実施例として、落射明視野照明と落
射暗視野照明と透過明視野照明による併用照明を可能に
した照明装置について説明する。Next, as a third embodiment of the present invention, an illumination device that enables combined illumination by epi-illuminated bright-field illumination, epi-illuminated dark-field illumination, and transmitted bright-field illumination will be described.
第4図に第3実施例の光学系の構成を示す。なお、第1
図および第3図に示す照明装置と同一機能を有する部分
には同一の符号を付している。本実施例は、落射明視野
照明と落射暗視野照明を第1図に示す構成で実現し、透
過明視野照明のために、光源21の周囲にさらに透過明
視野照明光路の入射端となるコレタフタレンズ60を配
置している。そして、光源21とコレクタレンズ60の
間に挿脱可能なセクター61が設けられている。FIG. 4 shows the configuration of the optical system of the third embodiment. In addition, the first
Components having the same functions as those of the illumination device shown in the figures and FIG. 3 are given the same reference numerals. In this embodiment, epi-illuminated bright-field illumination and epi-illuminated dark-field illumination are realized with the configuration shown in FIG. Taffeta lenses 60 are arranged. A sector 61 that can be inserted and removed is provided between the light source 21 and the collector lens 60.
コレクタレンズ60で集光された光束はライトガイド6
2の入射端に入射される。ライトガイド62の出射端に
は、対物レンズ33の光軸上に配置されたコレクタレン
ズ63が配置されている。The light beam condensed by the collector lens 60 is transmitted to the light guide 6
The light is input to the incident end of No.2. At the output end of the light guide 62, a collector lens 63 is arranged on the optical axis of the objective lens 33.
このコレクタレンズ63の出射側にはコンデンサレンズ
56が配置され、透過明視野照明光が標本Sの裏面から
照明される構成となっている。A condenser lens 56 is disposed on the output side of the collector lens 63, and the specimen S is illuminated from the back side with transmitted bright field illumination light.
この様な本実施例によれば、前記第1.第2実施例と同
様の作用効果を得ることができ、さらに落射明視野照明
と落射暗視野照明と透過明視野照明との3つの照明方式
を任意に組み合わせた交互照明または同時照明が可能と
なる。According to this embodiment, the first. The same effects as in the second embodiment can be obtained, and furthermore, it is possible to perform alternate illumination or simultaneous illumination by arbitrarily combining three illumination methods: epi-illuminated bright-field illumination, epi-illuminated dark-field illumination, and transmitted bright-field illumination. .
なお、前記第1〜第3の各実施例では、ランプハウス2
0に設けたセクター24.25.61で遮蔽板を光源と
コレクタレンズとの間に挿入することによって遮光する
構成のものが示されているが、本発明はこの様な構成に
限定されるものではなく、任意の照明光路を遮光できる
のであれば、光源と標本との間のいずれの箇所に遮光部
材を配置するようにしても良い。In addition, in each of the first to third embodiments, the lamp house 2
Although a configuration is shown in which light is blocked by inserting a shielding plate between the light source and the collector lens in the sector 24.25.61 provided at 0, the present invention is limited to such a configuration. Instead, the light shielding member may be placed anywhere between the light source and the specimen as long as it can shield any illumination optical path.
以上詳記したように本発明によれば、簡単な構成で異な
る照明方式による交互照明や同時照明を行うことができ
、しかも十分な照明光量を得ることかできる顕微鏡用照
明装置を提供できる。As described in detail above, according to the present invention, it is possible to provide a microscope illumination device that can perform alternate illumination or simultaneous illumination using different illumination methods with a simple configuration, and can also obtain a sufficient amount of illumination light.
第1図は本発明の第1実施例の構成図、第2図は電動化
したセクターの構成を示す図、第3図は第2実施例の構
成図、第4図は第3実施例の構成図、第5図は落射明視
野照明と落射暗視野照明を可能とした従来の照明装置の
構成図、第6図は落射明視野照明と透過明視野照明を可
能にした従来の照明装置である。
20・・・ランプハウス、21・・・光源、22゜23
・・・コレクタレンズ、24.25・・・セクター26
・・・照明レンズ群、27・・・ハーフミラ−28・・
・明視野コンデンサレンズ、29・・・接眼レンズ、3
0・・・ライトガイド、31・・・リング状出射端、3
2・・・リング状レンズ、33・・・対物レンズ、34
・・・暗視野ミラ
第2図
ぐ=)
−h:中
○Fig. 1 is a block diagram of the first embodiment of the present invention, Fig. 2 is a diagram showing the structure of an electric sector, Fig. 3 is a block diagram of the second embodiment, and Fig. 4 is a block diagram of the third embodiment. Fig. 5 is a block diagram of a conventional illumination device that enables epi-illuminated bright-field illumination and epi-illuminated dark-field illumination, and Fig. 6 shows a conventional illumination device that enables epi-illuminated bright-field illumination and transmitted bright-field illumination. be. 20...Lamp house, 21...Light source, 22゜23
...Collector lens, 24.25...Sector 26
...Illumination lens group, 27... Half mirror 28...
・Bright field condenser lens, 29...Eyepiece, 3
0...Light guide, 31...Ring-shaped output end, 3
2... Ring-shaped lens, 33... Objective lens, 34
...Dark field mirror 2nd figure =) -h: Medium ○
Claims (1)
照明または同時照明する顕微鏡用照明装置において、 使用される複数の照明方式に対応して光源の周囲に夫々
配置された複数の集光部材と、 前記各集光部材で集光された光束をそれぞれ照明光とし
て前記標本まで導く複数の照明光路と、前記各照明光路
を適宜遮光する複数の光路遮光手段と、 を具備したことを特徴とする顕微鏡用照明装置。[Claims] In a microscope illumination device that alternately or simultaneously illuminates a specimen to be observed under a microscope using a plurality of illumination methods, a plurality of illumination systems arranged around a light source corresponding to the plurality of illumination methods used are provided. a plurality of illumination optical paths each guiding the light beams condensed by the respective condensing members to the specimen as illumination light; and a plurality of optical path shading means for appropriately shielding each of the illumination optical paths. A microscope illumination device characterized by:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20041490A JPH0486614A (en) | 1990-07-27 | 1990-07-27 | Illuminating device for microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20041490A JPH0486614A (en) | 1990-07-27 | 1990-07-27 | Illuminating device for microscope |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0486614A true JPH0486614A (en) | 1992-03-19 |
Family
ID=16423924
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20041490A Pending JPH0486614A (en) | 1990-07-27 | 1990-07-27 | Illuminating device for microscope |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0486614A (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5351169A (en) * | 1992-04-23 | 1994-09-27 | Mitsubishi Kasei Corporation | Lighting device |
US6011647A (en) * | 1993-12-28 | 2000-01-04 | Leica Mikroskopie Systeme Ag | Switchable illumination system for a surgical microscope |
US6181471B1 (en) * | 1997-12-02 | 2001-01-30 | Mitutoyo Corporation | Illuminating system for image processing measuring apparatus |
JP2007509314A (en) * | 2003-09-23 | 2007-04-12 | イアティア イメージング プロプライアタリー リミティド | Method and apparatus for determining sample area or confluence |
JP2007310231A (en) * | 2006-05-19 | 2007-11-29 | Hamamatsu Photonics Kk | Image acquiring device, image acquiring method and image acquiring program |
EP2570840A1 (en) * | 2010-05-10 | 2013-03-20 | Hirox Co., Ltd. | Digital microscope |
-
1990
- 1990-07-27 JP JP20041490A patent/JPH0486614A/en active Pending
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5351169A (en) * | 1992-04-23 | 1994-09-27 | Mitsubishi Kasei Corporation | Lighting device |
US6011647A (en) * | 1993-12-28 | 2000-01-04 | Leica Mikroskopie Systeme Ag | Switchable illumination system for a surgical microscope |
US6181471B1 (en) * | 1997-12-02 | 2001-01-30 | Mitutoyo Corporation | Illuminating system for image processing measuring apparatus |
JP2007509314A (en) * | 2003-09-23 | 2007-04-12 | イアティア イメージング プロプライアタリー リミティド | Method and apparatus for determining sample area or confluence |
JP4662935B2 (en) * | 2003-09-23 | 2011-03-30 | イアティア イメージング プロプライアタリー リミティド | Method and apparatus for determining sample area or confluence |
JP2007310231A (en) * | 2006-05-19 | 2007-11-29 | Hamamatsu Photonics Kk | Image acquiring device, image acquiring method and image acquiring program |
EP2570840A1 (en) * | 2010-05-10 | 2013-03-20 | Hirox Co., Ltd. | Digital microscope |
EP2570840A4 (en) * | 2010-05-10 | 2014-01-15 | Hirox Co Ltd | Digital microscope |
US9766444B2 (en) | 2010-05-10 | 2017-09-19 | Hirox Co., Ltd. | Digital microscope |
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