JPH0319143A - Optical pickup - Google Patents
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- JPH0319143A JPH0319143A JP1153662A JP15366289A JPH0319143A JP H0319143 A JPH0319143 A JP H0319143A JP 1153662 A JP1153662 A JP 1153662A JP 15366289 A JP15366289 A JP 15366289A JP H0319143 A JPH0319143 A JP H0319143A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、円板状記録媒体に対して光学的に情報を記録
し若しくは再生するための光学式ピックアップに関する
ものである.
〔従来の技術〕
第3図および第4図に従来例を示す.
この第3図に示す従来例においては、半導体レーザ50
から出射した光束を平行光とするコリメートレンズ51
と、平行光を拡大するビーム整形プリズム52と、この
ビーム整形プリズム52に隣接して配設された断面直角
三角形の長辺に関して対象に接合した二つの偏光ビーム
スプリッタ53A.53Bと、この偏光ビームスプリン
タ53A,53Bのコリメートレンズ5lの光軸に平行
な二つの出射面に各々接合されたλ/4板54A.54
Bと、偏光ビームスプリッタ53Aから出射されたコリ
メートレンズ51の光軸に直角方向の光を円板状記録媒
体55上に集光する対物レンズ56とを有している.そ
して、偏光ビームスプリッタ53Bに接合したλ/4板
54Bに.凹面鏡57を装備し、偏光ビームスプリッタ
53Bに隣接してビームスプリンタ58を配設するとと
もにビームスプリッタ58から出射されたコリメートレ
ンズ5lの光軸方向の光を任意の割合で遮光するナイフ
59とを装備している.また、ナイフ59によって遮光
された残りの光を受ける第1の受光素子60とビームス
プリンタ58から出射される光を受ける第2の受光素子
61とを備えている.次に、この第3図ないし第4図に
示す従来例の動作説明をする.
光源である半導体レーザ50から出射した光束は、コリ
メートレンズ51を通過することによって平行光となる
.この平行光はビーム整形プリズム52によって、半導
体レーザ50のPN接合面と平行な方向に約2.5倍に
拡大されて円形光束となる.拡大された円形光束は、偏
光ビームスプリッタ53Aに入射する.この時、偏光ビ
ームスプリッタ53Aにはコリメートレンズ5lから出
射された光束がS偏光で入射する様に配置されているの
で、偏光ビームスプリッタ53Aに入射した光束はその
誘電体多層膜をコートした接合面により100%反射さ
れる。反射した光束は、λ/4板54Aを通過して円偏
光となり、対物レンズ56により円板状記録媒体55上
に集光される。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an optical pickup for optically recording or reproducing information on or from a disc-shaped recording medium. [Prior art] Figures 3 and 4 show conventional examples. In the conventional example shown in FIG. 3, a semiconductor laser 50
A collimating lens 51 that converts the luminous flux emitted from the
, a beam shaping prism 52 that expands parallel light, and two polarizing beam splitters 53A . 53B, and λ/4 plates 54A. 54
B, and an objective lens 56 that focuses the light emitted from the polarizing beam splitter 53A in a direction perpendicular to the optical axis of the collimating lens 51 onto the disc-shaped recording medium 55. Then, the λ/4 plate 54B is connected to the polarizing beam splitter 53B. It is equipped with a concave mirror 57, a beam splitter 58 is arranged adjacent to the polarizing beam splitter 53B, and a knife 59 that blocks the light emitted from the beam splitter 58 in the optical axis direction of the collimating lens 5l at an arbitrary ratio. are doing. It also includes a first light receiving element 60 that receives the remaining light blocked by the knife 59 and a second light receiving element 61 that receives the light emitted from the beam splinter 58. Next, the operation of the conventional example shown in FIGS. 3 and 4 will be explained. A beam of light emitted from a semiconductor laser 50 serving as a light source becomes parallel light by passing through a collimating lens 51. This parallel light is expanded by about 2.5 times by the beam shaping prism 52 in a direction parallel to the PN junction surface of the semiconductor laser 50, and becomes a circular light beam. The expanded circular beam enters the polarizing beam splitter 53A. At this time, since the polarizing beam splitter 53A is arranged so that the light beam emitted from the collimating lens 5l is incident as S-polarized light, the light beam incident on the polarizing beam splitter 53A is directed to the junction surface coated with the dielectric multilayer film. 100% reflected. The reflected light flux passes through the λ/4 plate 54A, becomes circularly polarized light, and is focused onto the disc-shaped recording medium 55 by the objective lens 56.
この記録媒体55によって反射された光束は、再び対物
レンズ56を透過してλ/4板54Aを透過して、当初
半導体レーザ50から出射された光束に対して90’方
位角がずれた直線偏光となって偏光ビームスブリッタ5
3Aに入射する.この時光束は偏光ビームスプリッタ5
3Aに対してP偏光で入射するため、偏光ビームスプリ
・ンタ53Bを100%透過し、λ/4板54Bを透過
後円偏光となり、凹面鏡57によって集光させながら、
反射して再びλ/4板54Bを透過して、S偏光となり
、偏光ビームスプリッタ53Bの誘電体多層膜をコート
した接合面により100%反射されてビームスプリッタ
58に入射する。ビームスプリッタ58に入射した光束
は、その50%がコリメートレンズ5lの光軸と平行な
方向に透過し、残り50%はそれと直角方向に反射する
。この内、コリメートレンズ51の光軸と平行な方向に
透過した光束は、ナイフ59によりさらに50%が遮光
されて第1の受光素子60によって受光され、その差動
出力によりフォーカシング制御を行う。The light beam reflected by the recording medium 55 is transmitted through the objective lens 56 again and the λ/4 plate 54A, and becomes linearly polarized light whose azimuth is shifted by 90' with respect to the light beam originally emitted from the semiconductor laser 50. As a result, the polarizing beam splitter 5
Injects into 3A. At this time, the luminous flux is polarized beam splitter 5
3A as P-polarized light, it passes 100% through the polarizing beam splitter 53B, becomes circularly polarized light after passing through the λ/4 plate 54B, and is condensed by the concave mirror 57.
It is reflected and transmitted through the λ/4 plate 54B again to become S-polarized light, which is 100% reflected by the dielectric multilayer coated joint surface of the polarizing beam splitter 53B and enters the beam splitter 58. 50% of the light beam incident on the beam splitter 58 is transmitted in a direction parallel to the optical axis of the collimating lens 5l, and the remaining 50% is reflected in a direction perpendicular to it. Among these, 50% of the light beam transmitted in a direction parallel to the optical axis of the collimating lens 51 is blocked by the knife 59 and received by the first light receiving element 60, and focusing control is performed by the differential output thereof.
一方、残りのコリメートレンズ5lの光軸と直交する方
向に出射した光束は、′fJ,2の受光素子6lによっ
て受光されて、トラッキング制御およびRF信号検出を
行う.
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上記従来例においては、偏光ビームスプ
リッタにビームスプリッタが隣接して接合されているた
め、ビーム整形プリズムからフォーカス検出系を構成す
るナイフまでにかなりのスペースを要し、装置全体が大
型化するという欠点があった.また、フォーカス検出系
がプリズム群の長平方向にあるため、コリメートレンズ
とプリズム群との間に光軸のずれを生し易く、またナイ
フの位置決定にばらつきが大きくなって位置決定の精度
が悪くなるという不都合が生していた。On the other hand, the light beam emitted in the direction perpendicular to the optical axis of the remaining collimating lens 5l is received by the light receiving element 6l of 'fJ,2, and is subjected to tracking control and RF signal detection. [Problems to be Solved by the Invention] However, in the above conventional example, since the beam splitter is joined adjacent to the polarizing beam splitter, a considerable amount of space is required from the beam shaping prism to the knife that constitutes the focus detection system. In short, the disadvantage was that the entire device became larger. In addition, since the focus detection system is located in the longitudinal direction of the prism group, it is easy to cause misalignment of the optical axis between the collimating lens and the prism group, and the positioning accuracy of the knife is poor due to large variations in knife positioning. This caused an inconvenience.
〔発明の目的]
本発明の目的は、このような従来例に見られる不都合を
改善し、装置全体の小型軽量化をはかり、ナイフの位置
決め精度および遮光精度の向上をはかる光学式ピックア
ップを提供することにある。[Object of the Invention] An object of the present invention is to provide an optical pickup that improves the disadvantages seen in the conventional example, reduces the size and weight of the entire device, and improves the precision of knife positioning and light shielding. There is a particular thing.
本発明では、半導体レーザから出射した光束を平行光と
するコリメートレンズと、平行光を拡大するビーム整形
プリズムと、このビーム整形プリズムに隣接して配設さ
れたビーム整形プリズムからの光束を光の光軸に直交す
る方向に反射する断面直角三角形の第1の偏光ビームス
ブリツタと、この第1の偏光ビームスプリッタと同じ形
状でその長辺に関して対象に接合した第2の偏光ビーム
スプリッタと、この二つの偏光ビームスブリツタのコリ
メートレンズの光軸に平行な二つの出射面に各々接合さ
れ位相を波長の4分の1すらすλ/4板と、第1の偏光
ビームスプリッタから出射された光の内コリメートレン
ズの光軸に直角方向の光部分を円板状記録媒体上に集光
する対物レンズと、第2の偏光ビームスプリッタから出
射されたコリメートレンズの光軸方向の光を任意の割合
で遮光するナイフと、このナイフに遮光された残りの光
束を受光する第1の受光素子とを有している.そして、
第2の偏光ビームスプリッタに接合されているλ/4板
に.曲面に半透膜をコーティングしたハーフコート平凸
レンズを接合するとともに、このハーフコート平凸レン
ズを透過した光束を受光する第2の受光素子を装備する
という手法を採っている.これによって前述した目的を
達成しようとするものである.
〔作 用〕
光源である半導体レーザから出射した光束は、コリメー
トレンズを通過することによって平行光となる.この平
行光はビーム整形プリズムによって拡大されて円形光束
となる.拡大された円形光束は、第1の偏光ビームスプ
リッタに入射する.入射した光束は第1の偏光ビームス
プリッタのコーティングされた接合面により反射される
。反射した光束は、λ/4板を通過して円偏光となり、
対物レンズにより円板状記録媒体上に集光される。The present invention includes a collimating lens that converts the light beam emitted from a semiconductor laser into parallel light, a beam shaping prism that expands the parallel light, and a beam shaping prism disposed adjacent to the beam shaping prism. a first polarizing beam splitter with a right triangular cross section that reflects in a direction perpendicular to the optical axis; a second polarizing beam splitter having the same shape as the first polarizing beam splitter and joined to the object with respect to its long side; A λ/4 plate is joined to the two exit surfaces parallel to the optical axis of the collimating lenses of the two polarizing beam splitters, and the phase is equal to one-fourth of the wavelength, and the light emitted from the first polarizing beam splitter. An objective lens that condenses the light part perpendicular to the optical axis of the collimating lens onto a disc-shaped recording medium, and an arbitrary ratio of the light in the optical axis direction of the collimating lens emitted from the second polarizing beam splitter. It has a knife that blocks light, and a first light-receiving element that receives the remaining light flux that is blocked by the knife. and,
to the λ/4 plate joined to the second polarizing beam splitter. A method is adopted in which a half-coated plano-convex lens whose curved surface is coated with a semi-transparent film is bonded, and a second light-receiving element is installed to receive the light beam that passes through this half-coated plano-convex lens. This aims to achieve the purpose mentioned above. [Operation] The light beam emitted from the semiconductor laser, which is the light source, becomes parallel light by passing through the collimating lens. This parallel light is expanded by a beam shaping prism and becomes a circular beam. The expanded circular beam enters the first polarizing beam splitter. The incident light beam is reflected by the coated junction surface of the first polarizing beam splitter. The reflected light flux passes through the λ/4 plate and becomes circularly polarized light.
The light is focused onto a disc-shaped recording medium by an objective lens.
この円板状記録媒体によって反射された光束は、再び対
物レンズおよびλ/4板を透過して、第2の偏光ビーム
スプリッタに入射する.入射した光束は第2の偏光ビー
ムスプリッタを透過して反対側にあるλ/4板を透過し
、ハーフコート平凸レンズに入射する.ハーフコート平
凸レンズでは、入射してきた光束の半分が透過し、この
透過した光束を第2の受光素子が受光する.一方、ハー
フコート平凸レンズに入射した残りの光束は、コーティ
ングした曲面によって反射して再びλ/4板を透過して
第2の偏光ビームスプリッタに入射し、コーティングさ
れた接合面により反射されてコリメートレンズの光軸と
平行な方向に出射する。この光束は、ナイフによりさら
に遮光されて、残りの光束が第1の受光素子によって受
光される.〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図および第2図に基づい
て説明する.ここで、前述した従来例と同一の構或部材
については同一の符号を用いることとする.
この第l図に示す実施例においては、半導体レーザ50
から出射した光束を平行光とするコリメートレンズ5l
と、この平行光を半導体レーザ50のPN接合面に平行
な方向に拡大して円形光束とするビーム整形プリズム5
2と、このビーム祭形プリズム52に隣接して配設され
たビーム整形プリズム52からの光束を円板状記録媒体
55の方に反射する断面直角三角形の第1の偏光ビーム
スプリッタ53Aと、この第lの偏光ビームスプリッタ
53Aと同じ形状でその長辺に関して対象に接合した第
2の偏光ビームスプリッタ53Bと、この二つの偏光ビ
ームスプリッタ53A,53Bのコリメートレンズ5l
の光軸に平行な二つの出射面に各々接合された位相を波
長の4分の1すらすλ/4板54A,54Bと、第1の
偏光ビームスブリッタ53Aから出射されたコリメート
レンズ5lの光軸に直角方向の光を円板状記録媒体55
上に集光する対物レンズ56と、第2の偏光ビームスプ
リッタ53Bから出射されたコリメートレンズ5lの光
軸方向の光を任意の割合で遮光するナイフ59と、この
ナイフ59に遮光された残りの光束を受光する第1の受
光素子60とを有している.そして、第2の偏光ビーム
スブリッタ53Bに接合されているλ/4板54Bに.
曲面に半透膜をコーティングしたハーフコート乎凸レン
ズlを接合するとともに、このハーフコート平凸レンズ
1を透過した光束を受光する第2の受光素子2を装備し
ている。The light beam reflected by this disc-shaped recording medium passes through the objective lens and the λ/4 plate again, and enters the second polarizing beam splitter. The incident light beam passes through the second polarizing beam splitter, passes through the λ/4 plate on the opposite side, and enters the half-coated plano-convex lens. In the half-coated plano-convex lens, half of the incident light beam is transmitted, and the second light receiving element receives this transmitted light beam. On the other hand, the remaining light beam incident on the half-coated plano-convex lens is reflected by the coated curved surface, passes through the λ/4 plate again, enters the second polarizing beam splitter, is reflected by the coated cemented surface, and is collimated. Emit light in a direction parallel to the optical axis of the lens. This light beam is further blocked by the knife, and the remaining light beam is received by the first light receiving element. [Embodiment of the Invention] An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 and 2. Here, the same reference numerals are used for the same structures or members as in the conventional example described above. In the embodiment shown in FIG.
Collimating lens 5l that converts the luminous flux emitted from the
and a beam shaping prism 5 that expands this parallel light in a direction parallel to the PN junction surface of the semiconductor laser 50 to form a circular light beam.
2, a first polarizing beam splitter 53A having a right triangular cross section that reflects the light beam from the beam shaping prism 52 disposed adjacent to the beam shaping prism 52 toward the disc-shaped recording medium 55; A second polarizing beam splitter 53B having the same shape as the first polarizing beam splitter 53A and joined symmetrically with respect to its long side, and collimating lenses 5l of these two polarizing beam splitters 53A and 53B.
The light from the collimating lens 5l emitted from the λ/4 plates 54A and 54B, which shift the phase by a quarter of the wavelength, and the first polarizing beam splitter 53A, which are joined to two emission surfaces parallel to the optical axis of the The light in the direction perpendicular to the axis is transmitted to the disc-shaped recording medium 55.
An objective lens 56 that focuses light upward, a knife 59 that blocks the light in the optical axis direction of the collimating lens 5l emitted from the second polarizing beam splitter 53B at an arbitrary ratio, and the remaining light that is blocked by the knife 59. It has a first light receiving element 60 that receives the luminous flux. Then, the λ/4 plate 54B is connected to the second polarizing beam splitter 53B.
A half-coated plano-convex lens l whose curved surface is coated with a semi-transparent film is joined, and a second light-receiving element 2 for receiving the light beam transmitted through this half-coated plano-convex lens 1 is provided.
次に、動作説明をする。Next, the operation will be explained.
光源である半導体レーザ50から出射した光束は、コリ
メートレンズ51を通過することによって平行光となる
。この平行光はビーム整形プリズム52によって半導体
レーザ50のPN接合面に平行の方向に拡大されて円形
光束となる。拡大された円形光束は、第1の偏光ビーム
スプリッタ53Aに入射する。この時、第1の偏光ビー
ムスプリッタ53Aは、コリメートレンズ5l出射後の
光束がS偏光にて入射する様に配置されているので、第
1の偏光ビームスプリッタ53Aに入射した光束は誘電
体多層膜をコーティングした第1の偏光ビームスプリッ
タ53Aの接合面により100%反射される.反射した
光束は、λ/4板54Aを通過して円偏光となり、対物
レンズ56により円板状記録媒体55上に集光される.
この集光された光束はこの円板状記録媒体55によって
反射されて、再び対物レンズ56を透過してλ/4板5
4Aを透過し、半導体レーザ50出射後の光束となす方
位角が90゜となる直線偏光となり、再び第1の偏光ビ
ームスプリッタ53Aに入射する。入射した光束は、今
度は誘電体多層膜をコーティングした接合面を透過する
ため、第2の偏光ビームスプリッタ53Bを真っ直ぐに
透過して反対側にあるλ/4板54Bを透過し、ハーフ
コート平凸レンズ1に入射する。この時、光束の50%
の光量は集光されながら透過し、この透過した光束を第
2の受光素子2が受光し、その差動出力によりトラッキ
ング制御およびRF信号検出を行う.一方、ハーフコー
ト平凸レンズ1に入射した残りの光量は、コーティング
した曲面によって集光されながら反射して再びλ/4板
54Bを透過し、再びS偏光となる為、第2の偏光ビー
ムスプリッタ53Bの誘電体多層膜をコーティングした
接合面で反射されて、コリメートレンズ5lの光軸と平
行な方向に出射する。この光束は、ナイフ59によりさ
らに遮光されて残りの光束が第1の受光素子60によっ
て受光され、その差動出力によりフォーカス制御を行う
。The light beam emitted from the semiconductor laser 50, which is a light source, becomes parallel light by passing through the collimating lens 51. This parallel light is expanded by the beam shaping prism 52 in a direction parallel to the PN junction surface of the semiconductor laser 50, and becomes a circular light beam. The expanded circular beam enters the first polarizing beam splitter 53A. At this time, the first polarizing beam splitter 53A is arranged so that the light beam after exiting from the collimating lens 5l enters as S-polarized light. It is 100% reflected by the junction surface of the first polarizing beam splitter 53A coated with. The reflected light flux passes through the λ/4 plate 54A, becomes circularly polarized light, and is focused onto the disc-shaped recording medium 55 by the objective lens 56.
This condensed light beam is reflected by this disc-shaped recording medium 55, passes through the objective lens 56 again, and passes through the λ/4 plate 55.
4A, it becomes a linearly polarized light having an azimuth angle of 90° with the light beam emitted from the semiconductor laser 50, and enters the first polarizing beam splitter 53A again. The incident light flux then passes through the junction surface coated with a dielectric multilayer film, so it passes straight through the second polarizing beam splitter 53B, passes through the λ/4 plate 54B on the opposite side, and is then split into a half-coated flat panel. The light enters the convex lens 1. At this time, 50% of the luminous flux
The amount of light is transmitted while being condensed, and the second light receiving element 2 receives this transmitted light flux, and its differential output performs tracking control and RF signal detection. On the other hand, the remaining amount of light incident on the half-coated plano-convex lens 1 is reflected while being focused by the coated curved surface, passes through the λ/4 plate 54B again, and becomes S-polarized light again, so it is sent to the second polarizing beam splitter 53B. The light is reflected by the junction surface coated with a dielectric multilayer film and exits in a direction parallel to the optical axis of the collimator lens 5l. This light beam is further blocked by the knife 59, and the remaining light beam is received by the first light receiving element 60, and focus control is performed by its differential output.
以上説明したように、本発明によると、円板状記録媒体
から反射して第1の偏光ビームスプリッタおよび第2の
偏光ビームスプリッタを透過した光束を、第2の偏光ビ
ームスプリッタに接合されたλ/4板にとりつけられて
いる,曲面をコーティングしたハーフコート乎凸レンズ
に入射し、その内の一部をこのハーフコート平凸レンズ
を透過させて第2の受光素子によって受光し、残りの一
部は反射させて第2の偏光ビームスブリツタに入射させ
るとともに、コリメートレンズの光軸と平行な方向に出
射させ、ナイフによって一部遮光されて残りの光束を第
1の受光素子によって受光するという構成を採用したの
で、従来必要とされていたビームスプリッタが不要とな
り、装置全体の小型化を図ることができ、さらに、プリ
ズム群が小型化されることによって、コリメートレンズ
とプリズム群との間の光軸のずれを減少せしめ、またナ
イフの位置決定の精度向上を図り得るという従来にない
優れた光学式ピックアップを提供することができる。As explained above, according to the present invention, the light beam reflected from the disc-shaped recording medium and transmitted through the first polarizing beam splitter and the second polarizing beam splitter is spliced into the second polarizing beam splitter. The light enters a half-coated convex lens with a curved surface coating attached to the /4 plate, a part of which is transmitted through this half-coated plano-convex lens and received by the second light receiving element, and the remaining part is The polarized beam is reflected and incident on the second polarized beam splitter, and is emitted in a direction parallel to the optical axis of the collimating lens. Part of the beam is blocked by the knife, and the remaining beam is received by the first light receiving element. This eliminates the need for a beam splitter, which was previously required, making the entire device more compact.Furthermore, by making the prism group more compact, the optical axis between the collimating lens and the prism group can be reduced. It is possible to provide an unprecedented optical pickup that can reduce the deviation of the knife and improve the accuracy of knife positioning.
第1図は本発明の一実施例を表す構戒図、第2図は第1
図を上面から見た横戒図、第3図は従来例を表す構成図
、第4図は第3図を上面から見た構成図である。
1・・・・・・ハーフコート乎凸レンズ、2・・・・・
・第2の受光素子、50・・・・・・半導体レーザ、5
l・・・・・・コリメートレンズ、52・・・・・・ビ
ーム整理プリズム、53A,53B・・・・・・第1,
第2の偏光ビームスプリッタ、54A.54B・・・・
・・第1,第2のλ/4板、55・・・・・・円板状記
録媒体、56・・・・・・対物レンズ、59・・・・・
・ナイフ、60・・・・・・第1の受光素子。Figure 1 is a composition diagram showing one embodiment of the present invention, and Figure 2 is a diagram showing the first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a block diagram showing a conventional example, and FIG. 4 is a block diagram of FIG. 3 seen from above. 1...half coat to convex lens, 2...
・Second light receiving element, 50... Semiconductor laser, 5
l... Collimating lens, 52... Beam organizing prism, 53A, 53B... First,
second polarizing beam splitter, 54A. 54B...
...First and second λ/4 plates, 55...Disc-shaped recording medium, 56...Objective lens, 59...
- Knife, 60...first light receiving element.
Claims (1)
コリメートレンズと、前記平行光を拡大するビーム整形
プリズムと、このビーム整形プリズムに隣接して配設さ
れた前記ビーム整形プリズムからの光束を光の光軸に直
交する方向に反射する断面直角三角形の第1の偏光ビー
ムスプリッタと、この第1の偏光ビームスプリッタと同
じ形状でその長辺に関して対象に接合した第2の偏光ビ
ームスプリッタと、この二つの偏光ビームスプリッタの
前記コリメートレンズの光軸に平行な二つの出射面に各
々接合され位相を波長の4分の1ずらすλ/4板と、前
記第1の偏光ビームスプリッタから出射された光の内の
前記コリメートレンズの光軸に直角方向の光部分を円板
状記録媒体上に集光する対物レンズと、前記第2の偏光
ビームスプリッタから出射された前記コリメートレンズ
の光軸方向の光を任意の割合で遮光するナイフと、この
ナイフに遮光された残りの光束を受光する第1の受光素
子とを有し、 前記第2の偏光ビームスプリッタに接合されているλ/
4板に、曲面に半透膜をコーティングしたハーフコート
平凸レンズを接合するとともに、このハーフコート平凸
レンズを透過した光束を受光する第2の受光素子を装備
したことを特徴とする光学式ピックアップ。(1) A collimating lens that converts the light beam emitted from the semiconductor laser into parallel light, a beam shaping prism that expands the parallel light, and a collimating lens that converts the light beam from the beam shaping prism arranged adjacent to the beam shaping prism. a first polarizing beam splitter with a right triangular cross section that reflects light in a direction perpendicular to the optical axis; a second polarizing beam splitter that has the same shape as the first polarizing beam splitter and is symmetrically joined with respect to its long side; A λ/4 plate is joined to each of the two exit surfaces parallel to the optical axis of the collimating lens of the two polarizing beam splitters and shifts the phase by a quarter of the wavelength, and the light emitted from the first polarizing beam splitter is an objective lens that focuses a portion of the light in a direction perpendicular to the optical axis of the collimating lens onto a disc-shaped recording medium; It has a knife that blocks light at an arbitrary ratio, and a first light receiving element that receives the remaining light flux blocked by the knife, and is connected to the second polarizing beam splitter.
This optical pickup is characterized in that a half-coated plano-convex lens whose curved surface is coated with a semi-transparent film is bonded to four plates, and a second light-receiving element is provided to receive the light beam transmitted through the half-coated plano-convex lens.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1153662A JPH0319143A (en) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | Optical pickup |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1153662A JPH0319143A (en) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | Optical pickup |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0319143A true JPH0319143A (en) | 1991-01-28 |
Family
ID=15567442
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1153662A Pending JPH0319143A (en) | 1989-06-16 | 1989-06-16 | Optical pickup |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0319143A (en) |
-
1989
- 1989-06-16 JP JP1153662A patent/JPH0319143A/en active Pending
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