JPH03147041A - Error correction system - Google Patents
Error correction systemInfo
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- JPH03147041A JPH03147041A JP1285935A JP28593589A JPH03147041A JP H03147041 A JPH03147041 A JP H03147041A JP 1285935 A JP1285935 A JP 1285935A JP 28593589 A JP28593589 A JP 28593589A JP H03147041 A JPH03147041 A JP H03147041A
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- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明はエラー訂正システムに関し、特に記憶装置から
読出され、固定障害となっているN (Nは自然数)ビ
ットの固定障害ビット及び間欠障害となっている1ビッ
トの間欠障害ビットを含むデータについてのエラー訂正
システムに関する。Detailed Description of the Invention Technical Field The present invention relates to an error correction system, and more particularly, to an error correction system, in which N (N is a natural number) bits with a fixed failure are read from a storage device, and one bit is an intermittent failure. The present invention relates to an error correction system for data containing intermittent faulty bits.
従来技術
従来M、(Mはデータビット数)行XL(Lはアドレス
ワード数)列のメモリ素子行列を有する記憶装置から読
出されたデータについてのエラー訂正方式としては、1
アドレスワード中の少なくとも2データビットのエラー
を検出可能であり、少なくとも1データビットのエラー
を訂正可能であるエラー検出訂正手段、例えばハミング
コード等のエラー訂正コード(ECC:Error C
orrecLIng Code )を利用したエラー訂
正方式が実施されている。Prior Art Conventional error correction methods for data read from a storage device having a memory element matrix of M (M is the number of data bits) rows and XL (L is the number of address words) columns are as follows:
An error detection and correction means capable of detecting an error of at least two data bits and correcting an error of at least one data bit in an address word, such as an error correction code (ECC) such as a Hamming code.
An error correction method using the orrecLing Code) has been implemented.
特に、ハミングコード等、1アドレスワード中の2デー
タビットのエラーを検出可能、かつ1データビットのエ
ラーを訂正可能な(5EC−DIシD:SlngIe
Error Correctlon −Double
Error Dotectlon)コードは比較的容易
に利用でき、一般的なECCとして実施されている。こ
れは、記憶装置におけるデータビットエラーの大部分は
1データビットであるため、5EC−DEDコードを利
用すれば救済することができ、その結果として記憶装置
の信頼性を向上させることができるからである。In particular, it is possible to detect errors in two data bits in one address word, such as Hamming code, and to correct errors in one data bit (5EC-DISID: SlngIe
Error Correctlon-Double
The Error Dotectlon) code is relatively easy to use and is implemented as a common ECC. This is because the majority of data bit errors in storage devices are 1 data bit, so using the 5EC-DED code can be used to correct them, and as a result, the reliability of the storage device can be improved. be.
さらに、記憶装置の信頼性を向上させる目的として1ア
ドレスワード中の2デ一タビット以上のエラーを訂正可
能なECCも考案されているが、実用化するのが比較的
困難であり、実用した場合のハードウェア量がかなり大
きくなるため、記憶装置全体の信頼度を向上させる効果
が乏しく、一般的には実施されていない。Furthermore, ECC that can correct errors of two or more data bits in one address word has been devised for the purpose of improving the reliability of storage devices, but it is relatively difficult to put it into practical use, and it is difficult to put it into practical use. Since the amount of hardware involved is quite large, it has little effect on improving the reliability of the entire storage device, and is therefore not generally implemented.
一方、記憶装置の記憶容量が増大するにつれて、メモリ
障害におけるデータビットエラーの発生比率が高まって
おり、エラー訂正技術の向上が要求され始めている。特
に、半導体メモリ装置においては、メモリ素子のソフト
エラー等の間欠1ビットエラーの発生率が記憶容量と共
に増大してきており、固定障害の発生と重なって2デ一
タビット以上のエラーとなる場合の発生率が増大してい
る。On the other hand, as the storage capacity of storage devices increases, the incidence of data bit errors in memory failures increases, and improvements in error correction technology are beginning to be required. In particular, in semiconductor memory devices, the incidence of intermittent 1-bit errors such as soft errors in memory elements is increasing with storage capacity, and the occurrence of errors of 2 bits or more when combined with the occurrence of fixed failures is increasing. rate is increasing.
しかし、このような2デ一タビット以上のエラを訂正可
能なFCCは上述したように実用化が困難であるという
欠点がある。However, such an FCC capable of correcting errors of 2 data bits or more has the drawback that it is difficult to put it into practical use as described above.
発明の目的
本発明の目的は上述した従来のS IE C−D I7
1)コードを利用したエラー訂正方式と同程度に容易、
かつ1アドレスワード中の固定障害を含む2デ一タビッ
ト以上のエラーを訂正可能とするエラー訂1Lシステム
を提供することである。OBJECT OF THE INVENTION The object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional SIE C-D I7
1) As easy as the error correction method using codes,
Another object of the present invention is to provide an error correction 1L system that can correct errors of 2 data bits or more including fixed faults in one address word.
発明の構成
本発明によるエラー訂正システムは、1紀憶装置から読
出され、固定障害となっているN (Nは自然数)ビッ
トの固定障害ビット及び間欠障害となっている1ビット
の間欠障害ビットを含むデータについてのエラー訂正シ
ステムであって、前記データにかかる全固定障害ビット
についての訂i]ユ情報を保持する保持手段と、前記デ
ータが前記記憶装置から読出されたとき前記保持手段内
の訂正情報をもとに該データを訂正する第1のエラー訂
正手段と、該データについての1ビットの間欠障害ビッ
トを訂正する第2のエラー訂正手段とを有することを特
徴とする。Composition of the Invention The error correction system according to the present invention reads out N bits (N is a natural number) of fixed fault bits that are fixed faults and 1 intermittent fault bit of intermittent faults that are read from a storage device. An error correction system for data comprising: a holding means for holding correction information for all fixed failure bits in the data; and a correction system in the holding means when the data is read from the storage device. The present invention is characterized by comprising a first error correction means for correcting the data based on information, and a second error correction means for correcting a 1-bit intermittent failure bit in the data.
実施例 以F1図面を用いて本発明の詳細な説明する。Example The present invention will be described in detail below using drawing F1.
第1図は、本発明によるエラー訂正システムの一実施例
の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of an error correction system according to the present invention.
図において、メモリ素子行列1は外部から人力されたア
ドレス信号100に対応するデータをデータ信号200
として出力する記憶装置である。登録手段3は人力され
たアドレス信号100に対応する固定障害データビット
信号300を出力するものである。この固定障害データ
ビット信号300はアドレス信号100に対応するデー
タの固定障害ビットの位置等を示している。つまり、メ
モリ素子行列1内の全データについての固定障害ビット
の位置等が固定障害データビット信号300によって示
されることとなる。In the figure, a memory element matrix 1 transfers data corresponding to an address signal 100 manually inputted from the outside into a data signal 200.
This is a storage device that outputs as . The registration means 3 outputs a fixed fault data bit signal 300 corresponding to the manually entered address signal 100. This fixed failure data bit signal 300 indicates the position of the fixed failure bit of the data corresponding to the address signal 100. In other words, the fixed fault data bit signal 300 indicates the position of the fixed fault bit for all data in the memory element matrix 1.
データ信号200は固定障害データビット信号300と
ともに反転訂正手段4に人力され、固定障害データビッ
ト信号300によって示された固定障害データビット位
置が反転訂正された後、データ信号201として出力さ
れる。データ信号201はエラー検出訂正手段2に入力
され、ここでは既に反転訂正された固定障害データビッ
ト以外のエラーすなわち間欠障害の検出または訂正が行
われ、データ信号202として出力される。つまり、固
定障害を訂正した後に、間欠障害を訂inするという2
段階の動作が行われるのである。The data signal 200 is input to the inversion correction means 4 together with the fixed fault data bit signal 300, and after the fixed fault data bit position indicated by the fixed fault data bit signal 300 is inverted and corrected, it is output as a data signal 201. The data signal 201 is input to the error detection and correction means 2, where errors other than fixed fault data bits that have already been inverted corrected, that is, intermittent faults, are detected or corrected and output as a data signal 202. In other words, after correcting the fixed fault, the intermittent fault is corrected.
A step-by-step operation takes place.
さらに第2図を用いて説明する。第2図は本実施例のエ
ラー訂正システムにおけるエラー訂iV、過程の一例を
示した概念図である。This will be further explained with reference to FIG. FIG. 2 is a conceptual diagram showing an example of the error correction process in the error correction system of this embodiment.
図において、(a)は第1図中のメモリ素子行列1から
のデータ信号200、(b)は第1図中の固定障害デー
タビット信号300、(c)は第1図中のデータ信号2
01、(d)は第1図中のデータ信号202の一例を夫
々示している。また、図中には正しいビットが0印、エ
ラービットが×印で示されており、第2ビット目が間欠
障害、第6ビット目が固定障害であるものとする。In the figure, (a) is a data signal 200 from memory element matrix 1 in FIG. 1, (b) is a fixed failure data bit signal 300 in FIG. 1, and (c) is a data signal 2 from memory element matrix 1 in FIG.
01 and (d) respectively show an example of the data signal 202 in FIG. Further, in the figure, correct bits are indicated by a 0 mark, error bits are indicated by an x mark, and it is assumed that the second bit is an intermittent fault and the sixth bit is a fixed fault.
まず、(a)に示されているデータ信号200がメモリ
素子行列]−から出力されると、反転訂正手段4に入力
される。ここでは、(b)の固定障害データビット信号
300が示す第6ビット目のX印のエラービットが反転
されて(C)に示されているデータ信号201となる。First, when the data signal 200 shown in (a) is output from the memory element matrix ]-, it is input to the inversion correction means 4. Here, the error bit marked with an X in the sixth bit of the fixed fault data bit signal 300 shown in (b) is inverted to become the data signal 201 shown in (C).
これによって固定障害が訂正されたこととなる。This means that the fixed fault has been corrected.
データ信号201は第2ビット目のX印のエラーピット
のみの1データビットエラーであるため、従来と同様に
5EC−DEDコード等を利用したエラー検出手段2に
よってエラー検出訂正が可能である。Since the data signal 201 has a single data bit error only in the error pit marked with an X in the second bit, error detection and correction can be performed by the error detection means 2 using a 5EC-DED code or the like as in the conventional case.
よって、このエラー検出訂正手段2によってエラーが検
出訂正されて正しいデータ信号となり、(d)のデータ
信号202として出力される。Therefore, errors are detected and corrected by the error detection and correction means 2, resulting in a correct data signal, which is output as a data signal 202 in (d).
つまり、本実施例では固定障害ビットの位置情報を予め
各アドレスに対応させて登録手段内に保持しておき、そ
の情報を用いて固定障害を訂正し、その後に1ビットの
間欠障害を検出・訂正しているのである。よって、固定
障害については2ビット以上存在していても、それら全
てについて予め登録手段内に位置情報を保持しておけば
、有効に訂正できるのである。なお、間欠障害について
は、従来と同様に5EC−DEDコード等を利用して訂
正するため、最大1ビットエラーまでが訂正可能となる
。すなわち、固定障害と間欠障害とを含めて2ビット以
上の訂正が可能となるのである。In other words, in this embodiment, the position information of the fixed fault bit is stored in advance in the registration means in correspondence with each address, the fixed fault is corrected using that information, and then the intermittent fault of one bit is detected and It is being corrected. Therefore, even if there are two or more bits of fixed faults, if position information for all of them is stored in advance in the registration means, it can be effectively corrected. Note that intermittent errors are corrected using the 5EC-DED code, etc., as in the past, so it is possible to correct up to a maximum of 1-bit error. In other words, it is possible to correct two or more bits, including fixed faults and intermittent faults.
なお、本実施例においては、エラーピットの位置情報の
みを登録手段内に保持しているが、その位置情報及びそ
のビットの正しい値を予め保持しておき、そのビット位
置にその値をセットしても同様の効果が得られることは
明らかである。In this embodiment, only the position information of the error pit is held in the registration means, but the position information and the correct value of the bit are held in advance, and the value is set in the bit position. It is clear that similar effects can be obtained.
発明の詳細
な説明したように本発明によれば、S E C−1)E
Dコードを利用した従来の記憶装置のエラー訂正方式
と同程度の容易さで、1アドレスワード中の固定障害を
含む2デ一タビット以上のエラーが訂正可能となり、従
来の記憶装置のエラー訂正方式における1アドレスワー
ド中の2デ一タビット以上のエラーを訂正可能であるE
CCと同程度のデータビットエラ一対策の効果を得るこ
とができるため、その結果として、従来の記憶装置のエ
ラー訂正方式では望めなかった以上に記憶装置全体の信
頼度を向上させることができるという効果がある。According to the present invention, as described in detail, S E C-1)E
Errors of 2 data bits or more, including fixed faults in one address word, can be corrected with the same ease as the conventional error correction method for storage devices using D codes, making it possible to correct errors of 2 data bits or more, including fixed faults in one address word. E that can correct errors of two or more data bits in one address word in
Since it is possible to obtain the same level of data bit error countermeasure effect as CC, as a result, the reliability of the entire storage device can be improved beyond what could be expected with conventional storage device error correction methods. effective.
特に、半導体メモリ装置においては、メモリ素子のソフ
トエラー等の間欠1ビットエラーの発生率が記憶容量と
ともに増大してきており、固定障害の発生と重なって2
デ一タビット以上のエラーとなる場合の発生率が増大し
ているため、本発明を適用すればその効果は大きい。In particular, in semiconductor memory devices, the incidence of intermittent 1-bit errors such as soft errors in memory elements is increasing with storage capacity, and the occurrence of fixed failures is also increasing.
Since the incidence of errors of one data bit or more is increasing, applying the present invention will have a significant effect.
第1図は本発明の実施例によるエラー訂正システムの構
成を示すブロック図、第2図はエラー訂正過程の一例を
示す概念図である。
主要部分の符号の説明
1・・・・・・メモリ素子行列
2・・・・・・エラー検出訂正手段
3・・・・・・登録手段
4・・・・・・反転訂正手段
第1図
第2図FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an error correction system according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a conceptual diagram showing an example of an error correction process. Explanation of symbols of main parts 1...Memory element matrix 2...Error detection and correction means 3...Registration means 4...Inversion correction means FIG. Figure 2
Claims (1)
(Nは自然数)ビットの固定障害ビット及び間欠障害と
なっている1ビットの間欠障害ビットを含むデータにつ
いてのエラー訂正システムであって、前記データにかか
る全固定障害ビットについての訂正情報を保持する保持
手段と、前記データが前記記憶装置から読出されたとき
前記保持手段内の訂正情報をもとに該データを訂正する
第1のエラー訂正手段と、該データについての1ビット
の間欠障害ビットを訂正する第2のエラー訂正手段とを
有することを特徴とするエラー訂正システム。(1) N that has been read from the storage device and has a fixed failure
(N is a natural number) An error correction system for data including a fixed fault bit and a 1-bit intermittent fault bit that is an intermittent fault, and holds correction information for all fixed fault bits related to the data. holding means; first error correction means for correcting the data based on correction information in the holding means when the data is read from the storage device; and a first error correction means for correcting the data based on correction information in the holding means; An error correction system comprising: second error correction means for correcting errors.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1285935A JPH03147041A (en) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | Error correction system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1285935A JPH03147041A (en) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | Error correction system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03147041A true JPH03147041A (en) | 1991-06-24 |
Family
ID=17697898
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1285935A Pending JPH03147041A (en) | 1989-11-01 | 1989-11-01 | Error correction system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03147041A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010092459A (en) * | 2008-07-17 | 2010-04-22 | Marvell World Trade Ltd | Data recovery in solid state memory device |
US20120123281A1 (en) * | 2009-07-23 | 2012-05-17 | Omron Healthcare Co., Ltd. | Sphygmomanometer |
US8281192B2 (en) | 2005-09-20 | 2012-10-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Storage medium reproducing apparatus, storage medium reproducing method, and computer program product for reading information from storage medium |
KR20160001746A (en) * | 2014-06-26 | 2016-01-07 | 주식회사 인바디 | Apparatus and method for measuring blood pressure |
-
1989
- 1989-11-01 JP JP1285935A patent/JPH03147041A/en active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8281192B2 (en) | 2005-09-20 | 2012-10-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Storage medium reproducing apparatus, storage medium reproducing method, and computer program product for reading information from storage medium |
JP2010092459A (en) * | 2008-07-17 | 2010-04-22 | Marvell World Trade Ltd | Data recovery in solid state memory device |
US20120123281A1 (en) * | 2009-07-23 | 2012-05-17 | Omron Healthcare Co., Ltd. | Sphygmomanometer |
KR20160001746A (en) * | 2014-06-26 | 2016-01-07 | 주식회사 인바디 | Apparatus and method for measuring blood pressure |
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